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JP2002328094A - Led ring lighting and image inspecting device with it - Google Patents

Led ring lighting and image inspecting device with it

Info

Publication number
JP2002328094A
JP2002328094A JP2001134799A JP2001134799A JP2002328094A JP 2002328094 A JP2002328094 A JP 2002328094A JP 2001134799 A JP2001134799 A JP 2001134799A JP 2001134799 A JP2001134799 A JP 2001134799A JP 2002328094 A JP2002328094 A JP 2002328094A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
image
led
work
circle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001134799A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yukio Yoshikawa
幸男 吉川
Kazunori Noso
千典 農宗
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
KOA RABO KK
Nidec Powertrain Systems Corp
Original Assignee
KOA RABO KK
Nidec Tosok Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by KOA RABO KK, Nidec Tosok Corp filed Critical KOA RABO KK
Priority to JP2001134799A priority Critical patent/JP2002328094A/en
Publication of JP2002328094A publication Critical patent/JP2002328094A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection image which is picked up with a definite shade for radial flaw/wrinkle inspection, fold-line inspection, and rough inspection on a plane, as well as vertical flaw inspection on a side surface and vertical rough inspection of a tall work. SOLUTION: An LED ring lighting 1 comprises multiple LEDs 3 arrayed concentrically and projects an inspection beam to a work at image inspection. All the LEDs 3 on the same circle are fitted aslope to a main body vessel 2 so that they are tangentially tilted by almost the same fitting angle θ. If the extension direction of rough such as flaw, chap, fold-line, etc., present on the surface of work facing the LED ring lighting 1 is radial, or if the extension direction of rough present on the peripheral surface of he work equals to height direction, the optical axis direction of inspection beam crosses the extension direction to present a definite shade at the rough.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばビンやペッ
トボトルのキャップや口元等、円筒状物体の側面の傷や
裂け目や凹凸マーク等を、あるいは、円盤上のワークに
おいて放射状に延びる傷や折り目・裂け目等を、画像処
理によって画像検査する際に用いられるLED照明、及
びそれを用いた画像検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to scratches or crevices on a side surface of a cylindrical object such as a cap or a mouth of a bottle or plastic bottle, or scratches or folds extending radially on a work on a disk. The present invention relates to an LED illumination used for image inspection of a crack or the like by image processing, and an image inspection device using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、例えば円筒状や円盤状のワークの
画像検査においては、検査画像の撮像に際しリング型の
照明を用いるのが一般的であった。リング型の照明の種
類としては、リング蛍光灯や、LEDリング照明があ
る。
2. Description of the Related Art Heretofore, in image inspection of a cylindrical or disk-shaped work, for example, a ring-shaped illumination has been generally used for capturing an inspection image. Ring-type illumination includes a ring fluorescent lamp and an LED ring illumination.

【0003】図13に、従来のLEDリング照明101
の概要を示す。このLEDリング照明101は、同図
(a)に示すように、薄い円筒ドーナツ状の本体容器1
02の中に多数のLED103を同心円上に配列したも
のである。また、各LED103は、同図(a)のイ矢
視図である同図(b)、及びロ矢視図である同図(c)
に示したように、円の中心O方向に角度を持って配置さ
れており、円筒状や円盤状といったワークに対し、その
上面及び周面に検査光が照射できるようになっている。
FIG. 13 shows a conventional LED ring light 101.
The outline of is shown. As shown in FIG. 1A, the LED ring illumination 101 is a thin cylindrical donut-shaped main body container 1.
In this example, a large number of LEDs 103 are arranged in concentric circles in a circle 02. Further, each LED 103 is the same as FIG. (A) as viewed in the direction indicated by the arrow A, FIG. (B), and FIG.
As shown in (2), they are arranged at an angle in the direction of the center O of the circle, so that inspection light can be applied to the upper surface and the peripheral surface of a cylindrical or disk-shaped work.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記L
EDリング照明101においては、検査光の照射方向が
リングの中心を向いているため、つまり、LEDリング
照明の各LED103の光軸がリングの内側・リング中
心O方向に傾斜している。このため、円盤状のワークの
同心円状の傷検査には有用であるが、放射状の傷の検査
には適さず、また、ペットボトルやビンのキャップ等の
円筒状のワークの側面傷検査や側面の裂け目検査におい
ても、縦方向の傷がはっきりと検出できなかった。
However, the above L
In the ED ring illumination 101, since the irradiation direction of the inspection light is directed to the center of the ring, that is, the optical axis of each LED 103 of the LED ring illumination is inclined inside the ring and in the direction of the ring center O. For this reason, it is useful for concentric scratch inspection of disk-shaped work, but not suitable for radial scratch inspection. No cracks in the longitudinal direction could be clearly detected in the crack inspection.

【0005】これは、撮像された検査画像においては、
傷や凹凸が、斜めに照射される光の陰の部分(黒くうつ
る)や、ちょうど正反射する部分(白く映る)として検
出されるが、照明が真上から照射されると陰や傷による
正反射部分が少なくなり、傷として検出できなくなるた
めである。
[0005] This is because, in a captured inspection image,
Scratches and irregularities are detected as shaded parts of the light illuminated obliquely (blackish contours) or just specularly reflected parts (appearing white). This is because the number of reflection portions is reduced, and it cannot be detected as a flaw.

【0006】すなわち、図14に示したように、例えば
円板状のワークW1の表面(上面)W1aにおける同心
円状の傷A1の検査に際しては、傷方向に対して直交方
向から光が照射するため、陰が検出しやすいが、放射状
の傷A2の場合は、傷と同方向からの照射となるため、
傷に対して真上からの照明と同じような照明になり、し
たがって、陰ができにくくなる。
That is, as shown in FIG. 14, for example, when inspecting a concentric flaw A1 on the surface (upper surface) W1a of a disc-shaped work W1, light is irradiated from a direction perpendicular to the flaw direction. , And shadows are easy to detect, but in the case of a radial wound A2, irradiation is performed in the same direction as the wound,
The wound will be illuminated in a manner similar to illumination from directly above, thus making shadowing less likely.

【0007】また、図15に示したように、側面円筒状
のワークW2の側面W2bにおいても同様で、ワークW
2の上側にLEDリング照明101をおいた場合、図1
6に示すように、ワークWを上方から見たとき、検査光
は外周側からワークWの中心に向かう方向の光となる。
このため、横方向の傷A3は陰影が出やすいものの、縦
方向の傷A4(や縦方向の凹凸)については、傷Dの真
上から照射される場合と原理的に等価となり、陰影がで
ない。
[0007] As shown in FIG. 15, the same applies to the side surface W2b of the cylindrical work W2.
When the LED ring light 101 is placed on the upper side of FIG.
As shown in FIG. 6, when the work W is viewed from above, the inspection light is light in a direction from the outer peripheral side toward the center of the work W.
For this reason, although the shadow A3 in the horizontal direction is apt to produce shadows, the wound A4 in the vertical direction (or unevenness in the vertical direction) is in principle equivalent to the case where the laser beam is irradiated from directly above the scratch D, and no shadow is generated. .

【0008】かかることから、従来のLEDリング照明
においては、画像処理において適切な結果が得られない
という問題点があった。
Therefore, the conventional LED ring illumination has a problem that an appropriate result cannot be obtained in image processing.

【0009】本発明は、かかる従来の課題に鑑みてなさ
れたものであり、平面の放射状の傷・皺検査や折り目検
査や凹凸検査、あるいは、高さを有するワークの側面の
縦傷検査や縦方向の凹凸検査に際して、撮像される検査
画像に陰影をはっきりつけることができるLEDリング
照明及びそれを備えた画像検査装置を提供することを目
的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and has been made in consideration of a flat radial scratch / wrinkle inspection, a fold inspection, an unevenness inspection, or a vertical flaw inspection and a vertical inspection of a side surface of a work having a height. It is an object of the present invention to provide an LED ring illumination capable of clearly adding a shadow to an inspection image to be taken at the time of inspection for unevenness in a direction, and an image inspection apparatus having the same.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に請求項1のLEDリング照明にあっては、中央に設け
られた開口部の周囲に多数のLEDが同心円状に配列さ
れるとともに、画像処理技術を用いた画像検査に際しワ
ークに検査光を照射するLEDリング照明において、同
一の円上にある全てのLEDが、その光軸が円の接線方
向に略同一の取付角度をもつよう傾斜して取り付けられ
たものとした。
In order to solve the above-mentioned problems, in the LED ring illumination according to the present invention, a large number of LEDs are arranged concentrically around an opening provided in the center. In the LED ring illumination that irradiates the work with inspection light during image inspection using image processing technology, all the LEDs on the same circle are inclined so that their optical axes have substantially the same mounting angle in the tangential direction of the circle. It was attached.

【0011】かかる構成においては、ワークのLEDリ
ング照明に対向する表面に存在する傷や裂け目、折り目
などの凹凸の延在方向が放射方向である場合、また、ワ
ークの周面に存在する凹凸の延在方向が高さ方向である
場合、多数のLEDの各々から照射される検査光の光軸
方向は、その延在方向と交差する方向となる。したがっ
て、前記凹凸に顕著な陰影をつけることができる。
[0011] In such a configuration, the extending direction of the unevenness such as a scratch, a crack, or a fold existing on the surface of the work facing the LED ring illumination is in the radial direction. When the extending direction is the height direction, the optical axis direction of the inspection light emitted from each of the multiple LEDs is a direction intersecting the extending direction. Therefore, a noticeable shadow can be added to the unevenness.

【0012】また、請求項2のLEDリング照明にあっ
ては、中央に設けられた開口部の周囲に多数のLEDが
同心円状に配列されるとともに、画像処理技術を用いた
画像検査に際しワークに検査光を照射するLEDリング
照明において、同一の円上にある全てのLEDが、その
光軸が円の接線方向に略同一の取付角度をもつよう傾斜
して取り付けられ、かつ互いに隣接する円の双方のLE
Dにおける接線方向の傾き方向が逆であるものとした。
According to the LED ring illumination of the present invention, a large number of LEDs are arranged concentrically around an opening provided in the center, and the LED ring illumination is applied to a workpiece when performing image inspection using image processing technology. In the LED ring illumination that irradiates the inspection light, all the LEDs on the same circle are mounted so that their optical axes are inclined so as to have substantially the same mounting angle in the tangential direction of the circle, and the LEDs of the circles adjacent to each other are mounted. Both LEs
It is assumed that the inclination direction of the tangential direction in D is opposite.

【0013】かかる構成においては、ワークのLEDリ
ング照明に対向する表面に存在する傷や裂け目、折り目
などの凹凸の延在方向が放射方向である場合、また、ワ
ークの周面に存在する凹凸の延在方向が高さ方向である
場合、多数のLEDの各々から照射される検査光の光軸
方向は、その延在方向と交差する方向となる。したがっ
て、前記凹凸に顕著な陰影をつけることができる。しか
も、上記凹凸の両側に対称の陰影をつけることができ
る。
[0013] In such a configuration, the extending direction of the irregularities such as scratches, crevices, and folds existing on the surface of the work facing the LED ring illumination is in the radial direction. When the extending direction is the height direction, the optical axis direction of the inspection light emitted from each of the multiple LEDs is a direction intersecting the extending direction. Therefore, a noticeable shadow can be added to the unevenness. In addition, symmetrical shadows can be provided on both sides of the irregularities.

【0014】また、請求項3のLEDリング照明にあっ
ては、中央に設けられた開口部の周囲に多数のLEDが
同心円状に配列されるとともに、画像処理技術を用いた
画像検査に際しワークに検査光を照射するLEDリング
照明において、同一の円上にある全てのLEDが、その
光軸が円の接線方向に交互に向きを変えながら略同一の
取付角度をもつよう傾斜して取り付けられたものとし
た。
In the LED ring illumination according to the third aspect, a large number of LEDs are arranged concentrically around an opening provided at the center, and the LED ring illumination is applied to a workpiece when performing image inspection using image processing technology. In the LED ring illumination for irradiating the inspection light, all the LEDs on the same circle were inclined and mounted such that their optical axes alternately turned in the tangential direction of the circle and had substantially the same mounting angle. It was taken.

【0015】かかる構成においても、ワークのLEDリ
ング照明に対向する表面に存在する傷や裂け目、折り目
などの凹凸の延在方向が放射方向である場合、また、ワ
ークの周面に存在する凹凸の延在方向が高さ方向である
場合、多数のLEDの各々から照射される検査光の光軸
方向は、その延在方向と交差する方向となる。したがっ
て、前記凹凸に顕著な陰影をつけることができる。しか
も、上記凹凸の両側に対称の陰影をつけることができ
る。
[0015] In such a configuration as well, when the extending direction of the irregularities such as scratches, crevices, and folds present on the surface of the work facing the LED ring illumination is in the radial direction, or when the irregularities existing on the peripheral surface of the work are present. When the extending direction is the height direction, the optical axis direction of the inspection light emitted from each of the multiple LEDs is a direction intersecting the extending direction. Therefore, a noticeable shadow can be added to the unevenness. In addition, symmetrical shadows can be provided on both sides of the irregularities.

【0016】また、請求項4のLEDリング照明にあっ
ては、前記ワークが回転体形状であって、その回転の軸
が前記円の中心を通る請求項1,2又は3記載のLED
リング照明において、前記ワークの側面の検査部位から
LED面までの距離をE、前記検査部位における半径を
r、前記円の中心から各LEDまでの半径距離をpとし
たとき、前記取付角度が、tanθ=r(p−r)
1/2/Epとなる角度に設定されたものとした。な
お、本発明において、前記回転体形状とは、厳密な意味
での回転体に限らず、回転体を基本形状とする他の形状
を含むものとする。
In the LED ring illumination of the fourth aspect, the work is a rotating body, and the axis of rotation passes through the center of the circle.
In the ring illumination, when the distance from the inspection site on the side surface of the work to the LED surface is E, the radius at the inspection site is r, and the radial distance from the center of the circle to each LED is p, the mounting angle is tanθ = r (p 2 -r 2 )
The angle was set to 1/2 / Ep. In the present invention, the shape of the rotating body is not limited to the rotating body in a strict sense, and includes other shapes having the rotating body as a basic shape.

【0017】また、請求項5の画像検査装置にあって
は、請求項1〜4のいずれか1項に記載のLEDリング
照明と、該LEDリング照明の開口部を介してワークを
撮像するカメラと、このカメラにより撮像された検査画
像を処理し、前記ワークの表面に関する所定の検査を行
う画像処理手段とを備えたものとした。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided an image inspection apparatus, wherein the LED ring illumination according to any one of the first to fourth aspects and a camera for imaging a workpiece through an opening of the LED ring illumination. And image processing means for processing an inspection image captured by the camera and performing a predetermined inspection on the surface of the work.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を図
にしたがって説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0019】(第1の実施の形態)図1は、本発明に係
るLEDリング照明1を示す図である。LEDリング照
明1は、従来と同様、中央に開口部2aを有する薄い円
筒ドーナツ状の本体容器2の中に多数のLED3を同心
円上に配列したものである。LEDリング照明1を上ま
たは下から見た場合の各LEDの取付け位置は、従来例
と同様である。なお、図1には、2つの同心円上にLE
D3を配列したものを示したが、必要に応じて円の数は
増減しても構わない。
(First Embodiment) FIG. 1 is a view showing an LED ring illumination 1 according to the present invention. The LED ring illumination 1 has a large number of LEDs 3 arranged concentrically in a thin cylindrical donut-shaped main body container 2 having an opening 2a in the center, as in the prior art. The mounting position of each LED when the LED ring illumination 1 is viewed from above or below is the same as in the conventional example. In FIG. 1, the LEs are drawn on two concentric circles.
Although the arrangement of D3 is shown, the number of circles may be increased or decreased as necessary.

【0020】各LED3は、それらの放射状の断面で、
LEDリング照明1を横から見たとき、同図(a)のイ
矢視図である同図(b)のように、光軸がやや内側を向
くように設置されている。以下、この角度を放射方向の
取付角φ(0°の場合真下を向く)とする。
Each LED 3 has in its radial cross section:
When the LED ring illumination 1 is viewed from the side, it is installed so that the optical axis faces slightly inward as shown in FIG. Hereinafter, this angle is referred to as a mounting angle φ in the radial direction (in the case of 0 °, it faces directly below).

【0021】また、各LED3は、ある同心円上のLE
D3を接線方向の断面で見たとき、同図(a)のロ矢視
図である同図(c)に示したように、一定の傾きで斜め
に設置されている。以下、この角度を接線方向の取付角
(本発明の取付角度)θ(0°の場合真下を向く)とす
る。
Each LED 3 has an LE on a certain concentric circle.
When D3 is viewed in a cross section in the tangential direction, it is installed obliquely with a constant inclination as shown in FIG. Hereinafter, this angle is referred to as a tangential mounting angle (the mounting angle of the present invention) θ (directly downward when 0 °).

【0022】すなわち、従来例では、放射方向の取付角
φ≧0、接線方向の取付角θ=0°であるが、本実施の
形態では、接線方向の取付角θ>0°となっている。
That is, in the conventional example, the radial mounting angle φ ≧ 0 and the tangential mounting angle θ = 0 °, but in the present embodiment, the tangential mounting angle θ> 0 °. .

【0023】そして、以上の構成からなるLEDリング
照明1は、従来と同様、例えば図2に示しような平板状
のワークW1の上面(表面)W1aに対する各種の検査
を行う際には、ワークW1の上方に、その中心位置Oを
ワークW1の中心と合わせて設置される。なお、その場
合、平板ワークW1の検査画像は、LEDリング照明1
の中央の開口部2aを通してカメラで撮像される。また
検査項目としては、例えばワークW1の上面W1aにお
ける放射状の傷や割れ等の有無や、あるいは折り目が設
けられている場合に、それが正しい位置にあるか否かな
どの検査である。
The LED ring illumination 1 having the above-described structure is used for performing various inspections on the upper surface (front surface) W1a of a flat work W1 as shown in FIG. The center position O of the work W1 is aligned with the center of the work W1. In this case, the inspection image of the flat work W1 is the LED ring illumination 1
Is imaged by the camera through the central opening 2a of the camera. Inspection items include, for example, inspection for the presence or absence of radial scratches and cracks on the upper surface W1a of the work W1, and whether a fold is provided at a correct position if provided.

【0024】ここで、前記検査に際して、ワークW1の
上面W1aに放射状に延在する傷や割れ等の凹凸A2が
ある場合、LEDリング照明1により検査光を照射する
と、光線の方向Pが上面W1aの中央に向くのではな
く、上面W1aの放射線に直交する方向に向くこととな
る。つまり、一つ一つのLED3からの光は、検出すべ
き放射状の凹凸A2に直交する方向から照射される。し
たがって、陰影ができやすくなり、検査検出が行いやす
い画像が得られる。このような応用例の場合、放射方向
の取付角φは0近辺で負(外側を向く)でも構わない。
接線方向の取付角θは15°から80°程度が適する。
接線方向の取付角θが大きいほど陰影は、はっきりしや
すくなる。よって、LEDリング照明1を用いることに
より、平面の放射状の傷・皺検査や折り目検査さや凹凸
検査を行う際の検査の成績を向上させることができる。
When the inspection W is performed by the LED ring illumination 1, when the inspection light is radiated by the LED ring illumination 1, if the upper surface W1a of the work W1 has irregularities A2 such as a flaw or a crack extending radially during the inspection, the direction P of the light is changed to the upper surface W1a. , But in a direction orthogonal to the radiation on the upper surface W1a. That is, the light from each LED 3 is emitted from a direction orthogonal to the radial unevenness A2 to be detected. Therefore, an image is easily obtained in which shadows are easily formed and inspection and detection can be easily performed. In the case of such an application example, the attachment angle φ in the radial direction may be negative near 0 (outward).
The mounting angle θ in the tangential direction is suitably about 15 ° to 80 °.
The larger the tangential mounting angle θ, the more distinct the shadow becomes. Therefore, by using the LED ring illumination 1, it is possible to improve the inspection results when performing a flat radial flaw / wrinkle inspection, a fold inspection, or an unevenness inspection.

【0025】図3は、円筒状表面を有するワークW2の
側面W2bに関する検査への応用例を示す図である。ワ
ークW2としては、例えば、ペットボトルのキャップや
ビンのキャップ等であり、縦方向の凹凸(位置マークや
傷・裂けなど)を検出することが目的である。この場合
も、LEDリング照明1は、ワークW2の上方に配置す
る。また、ワークW2の側面W2bの検査画像は、ワー
クW2の正面方向(外周方向)から、または、レンズや
ミラーを介して上方からワーク側面をカメラで撮像する
(具体例については後述する)。
FIG. 3 is a diagram showing an example of application to inspection of a side surface W2b of a work W2 having a cylindrical surface. The work W2 is, for example, a cap of a plastic bottle, a cap of a bottle, or the like, and its purpose is to detect vertical irregularities (position marks, scratches, tears, etc.). Also in this case, the LED ring illumination 1 is arranged above the work W2. In addition, the inspection image of the side surface W2b of the work W2 is obtained by capturing the work side surface with a camera from the front (outer circumferential direction) of the work W2 or from above through a lens or a mirror (a specific example will be described later).

【0026】かかる場合においては、ワークW2の側面
W2bに縦方向(高さ方向)に延在する凹凸A4がある
場合、LEDリング照明1により検査光を照射すると、
光線の方向Pが側面W2bに対して縦方向に向くのでは
なく、側面W2bの縦方向と交差する方向(直交する成
分を有する方向)に向くこととなる(図4参照)。つま
り、一つ一つのLED3からの光は、検出すべき放射状
の凹凸A4に交差する方向から照射される。したがっ
て、陰影ができやすくなり、検査検出が行いやすい画像
が得られる。よって、LEDリング照明1を用いること
により、円筒状表面を有するワークW2の側面W2bの
縦傷検査や縦方向の凹凸検査を行う際の検査の成績を向
上させることが可能となる。
In such a case, when the side surface W2b of the work W2 has unevenness A4 extending in the vertical direction (height direction), when the inspection light is irradiated by the LED ring illumination 1,
The direction P of the light beam does not point in the vertical direction with respect to the side surface W2b, but points in the direction intersecting with the vertical direction of the side surface W2b (direction having orthogonal components) (see FIG. 4). That is, the light from each LED 3 is emitted from a direction intersecting the radial unevenness A4 to be detected. Therefore, an image is easily obtained in which shadows are easily formed and inspection and detection can be easily performed. Therefore, by using the LED ring illumination 1, it is possible to improve the result of the inspection when performing the vertical flaw inspection and the vertical unevenness inspection of the side surface W2b of the work W2 having the cylindrical surface.

【0027】なお、この例の場合、ワーク直径よりLE
Dリング照明1の直径の方が大きくないといけないの
で、放射方向の取付角φを正にする。接線方向の取付角
θを15°から80°程度に適切にとれば、検出すべき
縦方向の傷に対して、接線方向の取付角θだけ角度のつ
いた照射方向になるので、凹凸に陰影をつけることがで
きる。
In the case of this example, LE is calculated from the work diameter.
Since the diameter of the D-ring illumination 1 must be larger, the mounting angle φ in the radial direction is made positive. If the tangential mounting angle θ is appropriately set to about 15 ° to 80 °, the irradiation direction is angled by the tangential mounting angle θ for the vertical scratches to be detected. Can be attached.

【0028】一方、LEDリング照明1にあっては、以
下のようにして、LED3における接線方向の取付角θ
の最適値を求めることができる。
On the other hand, in the LED ring illumination 1, the tangential mounting angle θ of the LED 3 is as follows.
Can be determined.

【0029】すなわち、図5のように、ワークW2の直
径をD、検出すべき凹凸部Qまでの垂直距離をE、LE
D配列の(ある同心円の)直径をCとすると、 ・r=D/2 ・p=C/2 とおいて、 ・sinψ=r/p ・tanθ=rcosψ/E=r(p−r)1/2/Ep ・tanφ=(p−rsinψ)/E=(p−r)/Ep という関係式からθとφを決定すればよい。
That is, as shown in FIG. 5, the diameter of the work W2 is D, the vertical distance to the uneven portion Q to be detected is E, LE
Assuming that the diameter (of a certain concentric circle) of the D array is C: r = D / 2 p = C / 2: sinψ = r / p tanθ = rcosψ / E = r (p 2 −r 2 ) Θ and φ may be determined from the relational expression of 1/2 / Ep · tan φ = (p−rsinψ) / E = (p 2 −r 2 ) / Ep.

【0030】例えば、D=30mm、C=70mm、E
=30mmの場合、θ=24°、φ=44°程度が最適
である。この場合、縦方向の凹凸に対して24°の方向
から光が照射される。もっと深い角度で光を照射するに
は、Cを大きくすればよい。
For example, D = 30 mm, C = 70 mm, E
In the case of = 30 mm, it is optimal that θ = 24 ° and φ = 44 °. In this case, light is irradiated from the direction of 24 ° to the vertical unevenness. To irradiate light at a deeper angle, C may be increased.

【0031】なお、主として円筒状表面を有するワーク
W2について説明したが、これ以外にもワークW2が、
回転体を基本形状とする他の形状である場合であって
も、同様の効果が得られる。
The work W2 having a cylindrical surface has been mainly described.
The same effect can be obtained even in the case of another shape having the rotating body as the basic shape.

【0032】(第2の実施の形態)図6は、本発明の第
2の実施の形態における他のLEDリング照明11を示
す、図1に対応した図である。以下、第1の実施の形態
と異なる構成についてのみ説明し、同一の部分について
は同一の符号を付すことにより説明を省略する。
(Second Embodiment) FIG. 6 is a view corresponding to FIG. 1 and shows another LED ring illumination 11 according to a second embodiment of the present invention. Hereinafter, only the configuration different from that of the first embodiment will be described, and the same portions will be denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.

【0033】すなわち、本実施の形態のLEDリング照
明11においては、同図(a)のハ矢視図である同図
(d)に示したように、2つの円の内側の円に沿って配
列された全てのLED13(以下、第2のLED)の光
線方向を、外側の円に沿って配列されたLED3(以
下、第1のLED)と逆の傾き、すなわち、前述した接
線方向の取付角である、第2のLED13の角度θ2
と、第1のLED3の角度θ1との関係をθ2≒−θ1
としたものである。なお、前述した放射方向の取付角φ
についてはほぼ等しくする。
That is, in the LED ring illumination 11 of the present embodiment, as shown in FIG. 3D, which is a view taken in the direction of arrow C in FIG. The light beam directions of all the arranged LEDs 13 (hereinafter, referred to as second LEDs) have the opposite inclination to the LEDs 3 (hereinafter, referred to as first LEDs) arranged along the outer circle, that is, the tangential mounting described above. The angle θ2 of the second LED 13 which is an angle
And the relationship between the angle θ1 of the first LED 3 and θ2 ≒ −θ1
It is what it was. The mounting angle φ in the radial direction described above
About the same.

【0034】かかる構成からなるLEDリング照明11
によれば、例えば図2で説明した平板状のワークW1の
上面(表面)W1aに存在する放射状の凹凸や、図3及
び図4で説明した円筒状のワーク側面W2a等に縦に存
在する凹凸A4に、接線方向の一方側と他方側との双方
の向きを有する光線をワークW2に照射することができ
る。したがって、凹凸A4等に左右対称の陰影をつける
ことが可能となる。また、特に長さを有していない例え
ば半球状の部分的な突起に対しても同様である。
The LED ring illumination 11 having such a configuration
According to this, for example, radial unevenness existing on the upper surface (front surface) W1a of the flat work W1 described in FIG. 2 and unevenness vertically existing on the cylindrical work side surface W2a illustrated in FIG. 3 and FIG. A4 can irradiate the work W2 with light rays having both directions of one side and the other side in the tangential direction. Therefore, it is possible to provide a bilaterally symmetric shadow on the unevenness A4 and the like. The same applies to a partial projection having no length, for example, a hemispherical projection.

【0035】したがって、マーカ等のエッジの強度や長
さに基づいて傷の有無を検査する場合に無論のこと、凹
凸A4(皺や折り目、位置基準等を示すマーカー)の位
置計測を目的とする場合には、検査画像に対する画像処
理においては凹凸A4部分の濃淡変化に基づき、左右方
向の中央点を高精度に検出することができる。その結
果、エッジ部の位置に基づいて凹凸の規則性や位置の正
確性を、検査精度よく検査することができる。
Therefore, when inspecting for the presence or absence of a flaw based on the strength or length of the edge of a marker or the like, the purpose is to measure the position of the irregularities A4 (markers indicating wrinkles, folds, position references, etc.). In this case, in the image processing for the inspection image, the center point in the left-right direction can be detected with high accuracy based on the change in shading of the concavo-convex A4 portion. As a result, it is possible to inspect the regularity of irregularities and the accuracy of the position with high inspection accuracy based on the position of the edge portion.

【0036】なお、図6においては、2つの同心円上の
各々に第1及び第2のLED3,13を配列したものを
示したが、円の数を増やす場合には、互いに隣接する円
のLED同士の接線方向の取付角をθ1とθ2とに交互
に設定すればよい。また、本実施の形態における前述し
た効果については、特に図示しないが、同一の円周上に
配列させるLEDについて、その接線方向の取付角をθ
1とθ2とに交互に設定することによっても、同様に得
ることができることはいうまでもない。
FIG. 6 shows an arrangement in which the first and second LEDs 3 and 13 are arranged on two concentric circles, respectively. The mounting angles in the tangential direction between them may be set alternately to θ1 and θ2. Although the effects of the present embodiment described above are not particularly shown, for the LEDs arranged on the same circumference, the mounting angle in the tangential direction is θ.
It goes without saying that the same can be obtained by alternately setting 1 and θ2.

【0037】(第3の実施の形態)図7は、前述したL
EDリング照明1(11)を用いた画像検査装置51の
具体例を示す図である。この図は、ペットボトルやビン
等の容器100のキャップWの上面Waや周面Wb、或
いは平板ワークの表面における裂けAや上面の割れ・傷
の有無の検査、あるいは凹凸の位置マークの検出などの
画像検査に使用されるものである。なお、画像検査装置
51には、前述したLEDリング照明1,11のどちら
でも使用できるが、便宜上第2の実施の形態のLEDリ
ング照明11を備えているものとする。
(Third Embodiment) FIG.
It is a figure showing the example of image inspection device 51 using ED ring lighting 1 (11). This figure shows the inspection of the upper surface Wa and the peripheral surface Wb of the cap W of the container 100 such as a PET bottle or a bottle, or the presence or absence of a crack A on the surface of the flat work, the crack or scratch on the upper surface, or the detection of an uneven position mark. Is used for the image inspection. Although the image inspection apparatus 51 can use either of the above-described LED ring illuminations 1 and 11, it is assumed that the image inspection apparatus 51 includes the LED ring illumination 11 of the second embodiment for convenience.

【0038】図に示した例において、画像検査装置51
は、あたかもキャップ上面Waを撮像するかのように容
器100の上方に設置されたカメラ52と、キャップW
とカメラ52との間に設置された凸レンズ53、凸レン
ズ53の外側に配設されたLEDリング照明11、カメ
ラ52が撮像した検査画像が入力される画像処理装置
(画像処理手段)54とを備えている。
In the example shown in FIG.
A camera 52 installed above the container 100 as if capturing an image of the upper surface Wa of the cap, and a cap W
Lens 53 provided between the camera and the camera 52, an LED ring illumination 11 provided outside the convex lens 53, and an image processing device (image processing means) 54 to which an inspection image captured by the camera 52 is input. ing.

【0039】凸レンズ53は、キャップ周面Wbからの
光を周辺部で屈折させ、(虫メガネのごとく)像を拡大
してカメラ52のレンズに結像させることにより、1台
のカメラ52によって、キャップWの上面Waと周面W
bとを同時に撮像可能とするものである。なお、凸レン
ズ53については、その直径とキャップWまでの距離と
が以下のように設定されている。
The convex lens 53 refracts the light from the cap peripheral surface Wb at the peripheral portion, enlarges the image (like a magnifying glass), and forms an image on the lens of the camera 52. Upper surface Wa of cap W and peripheral surface W
b can be imaged at the same time. The diameter of the convex lens 53 and the distance to the cap W are set as follows.

【0040】すなわち、図8に示したように、キャップ
Wの直径をD、観測したい周面Wbの下部位置と上面W
aとの距離(キャップWの高さ)をE、キャップ上面W
aから凸レンズ53までの距離をG、凸レンズ53の直
径をC、その焦点距離をFとしたとき、 ・F>(G+E)かつC>F・D/(F−G−E) となるよう設定されている。
That is, as shown in FIG. 8, the diameter of the cap W is D, the lower position of the peripheral surface Wb to be observed and the upper surface W
E is the distance (a height of the cap W) from a, and the top surface W of the cap is
When the distance from a to the convex lens 53 is G, the diameter of the convex lens 53 is C, and the focal length is F, setting is made such that F> (G + E) and C> FDD / (FGE). Have been.

【0041】Fが短いほど上面Waの拡大率が小さく、
周面Wbの拡大率が大きくなり、Gが小さいほど上面W
aの拡大率が小さく、周面Wbの拡大率が大きくなる。
例えば、D=30(mm)、E=30、G=30、とす
ると、F=100mmの時、Cは75mm以上必要であ
る。D=5(mm)、E=30、G=10mmで、周面
を重点的に検査する場合、Cを80mmとすると、Fは
45mm以上必要である。本実施の形態では、FとCは
同程度の大きさで、Dの3倍程度となっている。
The smaller the F, the smaller the magnification of the upper surface Wa.
The enlarging rate of the peripheral surface Wb increases, and the smaller the G, the higher the upper surface W
a is small, and the magnification of the peripheral surface Wb is large.
For example, if D = 30 (mm), E = 30, and G = 30, when F = 100 mm, C needs to be 75 mm or more. When D = 5 (mm), E = 30, and G = 10 mm, and the peripheral surface is focused on, if C is 80 mm, F needs to be 45 mm or more. In the present embodiment, F and C are approximately the same size and approximately three times D.

【0042】また、周面Wbを見る角度をαとすると、 ・tanα=C/F であり、 ・α=15°の時、C/F>0.27、 ・α=30°の時、C/F>0.58、 ・α=45°の時、C/F>1、 ・α=30°の時、C/F>1.73 といった関係式となるため、 ・C/F>0.27 に設定されている。When the angle at which the peripheral surface Wb is viewed is α, tan α = C / F, when α = 15 °, C / F> 0.27, when α = 30 °, C When α = 45 °, C / F> 1, and when α = 30 °, C / F> 1.73. C / F> 0. 27.

【0043】これにより、前記カメラ1によって、例え
ば、図9(a)や図10に示したように、キャップ上面
Waの画像の外側に、キャップ周面Wbの上部、中央
部、下部の画像が、さらに外側に容器100の上部の画
像が、そして最外周に凸レンズ53の外周部53aが映
し出された検査画像G1,G2が撮像可能となってい
る。
Thus, as shown in FIG. 9A and FIG. 10, for example, as shown in FIG. 9A and FIG. 10, images of the upper part, the central part, and the lower part of the cap peripheral surface Wb are outside the image of the cap upper surface Wa. Further, inspection images G1 and G2 in which an image of the upper portion of the container 100 is projected further outward and an outer peripheral portion 53a of the convex lens 53 is projected on the outermost periphery can be captured.

【0044】また、画像処理装置54においては、例え
ばキャップWの上面Waと周面Wbとについての傷検査
を行う場合、上記検査画像G1が入力されると、図9
(a)に示したように、入力した検査画像G1において
最も内側の円200を検出して円200の中心Oを求め
る。最も内側の円200とはキャップWの上面Waと周
面Wbとの境界部である。次に、円中心Oを中心として
極座標展開によって、ドーナツ状の画像を図9(b)に
示したように長方形の画像に変換する。ここでは、変換
後の画像の横軸xが角度に対応し、縦軸yが円中心Oか
らの距離に対応する。
In the image processing device 54, for example, when a flaw inspection is performed on the upper surface Wa and the peripheral surface Wb of the cap W, when the inspection image G1 is input, the image processing device 54 shown in FIG.
As shown in (a), the center O of the circle 200 is obtained by detecting the innermost circle 200 in the input inspection image G1. The innermost circle 200 is a boundary between the upper surface Wa of the cap W and the peripheral surface Wb. Next, the donut-shaped image is converted into a rectangular image as shown in FIG. 9B by polar coordinate development centered on the center O of the circle. Here, the horizontal axis x of the converted image corresponds to the angle, and the vertical axis y corresponds to the distance from the center O of the circle.

【0045】しかる後、長方形画像から縦方向に延びる
エッジ(A4)を検出することにより、円筒周面の縦方
向に延びる傷やマークの有無を検査する。なお、図10
の検査画像G2は、キャップWの周面Wbに高さ方向に
延在する溝Bが存在する場合の例を示したものであり、
係る溝Bの検出に際しても、上記と同様の処理により溝
Bの有無や本数、溝幅などの検査を行う。
Thereafter, by detecting the edge (A4) extending in the vertical direction from the rectangular image, the presence or absence of a scratch or mark extending in the vertical direction on the peripheral surface of the cylinder is inspected. Note that FIG.
Inspection image G2 shows an example in which a groove B extending in the height direction exists on the peripheral surface Wb of the cap W,
When detecting such a groove B, inspections such as the presence or absence, the number, and the groove width of the groove B are performed by the same processing as described above.

【0046】したがって、以上の画像検査装置51にお
いては、前述したLEDリング照明11を備えることに
より、キャップW等に対する前述した検査が可能である
とともに、それを精度よく行うことができる。
Therefore, in the above-described image inspection apparatus 51, by providing the above-described LED ring illumination 11, the above-described inspection of the cap W and the like can be performed, and the inspection can be accurately performed.

【0047】なお、本実施の形態の画像処理装置54に
よれば、キャップW以外にも、図9(a)に示した検査
画像G1に基づき、第1の実施の形態で図2をもって説
明した平板ワークの表面W1aにおける放射状の裂けA
や割れ・傷の有無の検査等を行うこともできる。また、
画像処理装置54が平板ワークの表面W1aに対する検
査のみを行うものである場合にはレンズ53は不要であ
る。従って、図7に示した構成においてレンズ53を取
り除き、カメラ52によって平板ワークを直接撮像する
構成としてもよい。その場合であっても、前述したLE
Dリング照明1,11を備えることにより、撮像した検
査画像に基づき、平板ワークの表面における放射状の裂
けや割れ・傷の有無の検査等を精度よく行うことが可能
である。
According to the image processing apparatus 54 of the present embodiment, the first embodiment has been described with reference to FIG. 2 based on the inspection image G1 shown in FIG. Radial tear A on the surface W1a of a flat work
Inspection for cracks and scratches can also be performed. Also,
When the image processing device 54 performs only the inspection on the surface W1a of the flat work, the lens 53 is unnecessary. Therefore, the lens 53 may be removed from the configuration shown in FIG. Even in that case, the above-mentioned LE
By providing the D-ring illuminations 1 and 11, it is possible to accurately inspect the surface of the flat work for the presence or absence of radial tearing, cracking, and flaws based on the captured inspection image.

【0048】(他の画像検査装置)なお、前述したLE
Dリング照明1,11を使用する画像検査装置は、上記
以外にも、例えば図11や図12に示した構成のもので
あってもよい。すなわち、図11の画像検査装置61
は、図7に示したものと同様にキャップWの上方に配置
されたカメラ52を有するものであって、カメラ52と
キャップW間に凹面状のミラー62を設置することによ
り、ミラー62を介してキャップWの上面Waの外周
に、周面Wbが映し出された検査画像を撮像するもので
ある。但し、図7に示したものとは異なり、撮像される
検査画像に映し出される上面Waと周面Wbとは不連続
となる。この場合、図示したように、LEDリング照明
1,11はミラー62による像の反射を阻害しない位置
に配置する必要がある。これ以外の構成については、図
7に示したものと同様である。
(Other Image Inspection Apparatus) The above-mentioned LE
The image inspection apparatus using the D-ring illuminations 1 and 11 may have, for example, the configuration shown in FIGS. 11 and 12 in addition to the above. That is, the image inspection device 61 of FIG.
Has a camera 52 disposed above the cap W in the same manner as that shown in FIG. 7. By installing a concave mirror 62 between the camera 52 and the cap W, This is to capture an inspection image in which the peripheral surface Wb is projected on the outer periphery of the upper surface Wa of the cap W. However, unlike the one shown in FIG. 7, the upper surface Wa and the peripheral surface Wb shown in the captured inspection image are discontinuous. In this case, as shown, the LED ring illuminations 1 and 11 need to be arranged at positions where the reflection of the image by the mirror 62 is not hindered. Other configurations are the same as those shown in FIG.

【0049】また、図12の画像検査装置71は、キャ
ップWの上方に配置された1台のカメラ52と、キャッ
プWの周囲に配置された3台以上のカメラ52とを備
え、各カメラ52で複数の検査画像を撮像するものであ
る。この場合、LEDリング照明1,11は、各カメラ
52による検査画像の撮像を妨げない位置に配置すれば
足りる。これ以外の構成については、図7に示したもの
と同様である。
The image inspection apparatus 71 shown in FIG. 12 includes one camera 52 arranged above the cap W and three or more cameras 52 arranged around the cap W. Is used to capture a plurality of inspection images. In this case, it is sufficient that the LED ring illuminations 1 and 11 are arranged at positions where the imaging of the inspection image by each camera 52 is not hindered. Other configurations are the same as those shown in FIG.

【0050】[0050]

【発明の効果】以上説明したように請求項1〜請求項4
のLEDリング照明においては、ワークの表面に存在す
る凹凸の延在方向が放射方向であったり、ワークの周面
に存在する凹凸の延在方向が高さ方向である場合、検査
光の光軸方向が、それらの延在方向と交差する方向とな
ることにより、前記凹凸に顕著な陰影をつけることがで
きるようにした。よって、本発明のLEDリング照明を
用いることにより、平面の放射状の傷・皺検査や折り目
検査さや凹凸検査、あるいは、高さを有するワークの側
面の縦傷検査や縦方向の凹凸検査を行う際の検査の成績
を向上させることが可能となる。
As described above, claims 1 to 4 are described.
In the LED ring illumination of the above, when the extending direction of the unevenness existing on the surface of the work is the radiation direction or the extending direction of the unevenness existing on the peripheral surface of the work is the height direction, the optical axis of the inspection light By making the direction intersect with the direction in which they extend, a noticeable shadow can be added to the irregularities. Therefore, by using the LED ring illumination of the present invention, when performing a flat radial scratch / wrinkle inspection, a fold inspection or unevenness inspection, or a vertical scratch inspection or a vertical unevenness inspection on a side surface of a work having a height. It is possible to improve the results of the test.

【0051】さらに、請求項2〜請求項4のLEDリン
グ照明においては、前述した凹凸の両側に対称の陰影を
つけることができるようにした。よって、画像検査に際
して凹凸の位置を算出する場合の精度を向上させること
が可能となる。また、特に長さを有していない凹凸につ
いても、同様の効果が得られる。
Further, in the LED ring illumination of the second to fourth aspects, symmetrical shadows can be formed on both sides of the above-mentioned irregularities. Therefore, it is possible to improve the accuracy in calculating the position of the unevenness during the image inspection. In addition, the same effect can be obtained particularly for irregularities having no length.

【0052】また、請求項5の画像検査装置において
は、前述したLEDリング照明を備えることにより、平
面の放射状の傷・皺検査や折り目検査さや凹凸検査、あ
るいは、高さを有するワークの側面の縦傷検査や縦方向
の凹凸検査を行う際の検査精度が向上する。
Further, in the image inspection apparatus according to the fifth aspect, by providing the above-mentioned LED ring illumination, it is possible to inspect a flat radial scratch / wrinkle, a fold inspection, an unevenness inspection, or a side surface of a work having a height. Inspection accuracy when performing a vertical flaw inspection and a vertical unevenness inspection is improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態を示す図であって、
(a)はLEDリング照明の平面図、(b)は(a)の
イ矢視図、(c)は(a)のロ矢視図である。
FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment of the present invention,
(A) is a plan view of the LED ring illumination, (b) is a view as viewed from the arrow (a), and (c) is a view as viewed from the arrow (a).

【図2】同実施の形態において、ワーク上面に対する検
査光の向きを示す模式図である。
FIG. 2 is a schematic diagram showing a direction of inspection light with respect to a work upper surface in the embodiment.

【図3】同実施の形態において、ワーク側面における検
査光の向きを示す模式図である。
FIG. 3 is a schematic diagram showing a direction of inspection light on a side surface of a work in the embodiment.

【図4】同実施の形態において、ワークを上方から見た
ときのワーク側面における検査光の向きを示す模式図で
ある。
FIG. 4 is a schematic diagram showing a direction of inspection light on a side surface of the work when the work is viewed from above in the embodiment.

【図5】同LEDリング照明におけるLEDの接線方向
の取付角度に関する説明図である。
FIG. 5 is a diagram illustrating a mounting angle of a tangential direction of an LED in the LED ring illumination.

【図6】本発明の第2の実施の形態における図1に対応
する図であって、(a)は平面図、(b)は(a)のイ
矢視図、(c)は(a)のロ矢視図、(d)は(a)の
ハ矢視図である。
FIGS. 6A and 6B are views corresponding to FIG. 1 in a second embodiment of the present invention, wherein FIG. 6A is a plan view, FIG. FIG. 2B is a view as viewed in the direction of the arrow B, and FIG.

【図7】本発明の第3の実施の形態を示す画像検査装置
の模式図である。
FIG. 7 is a schematic diagram of an image inspection apparatus according to a third embodiment of the present invention.

【図8】同実施の形態における光学系の諸元を示す図で
ある。
FIG. 8 is a diagram showing specifications of an optical system according to the embodiment.

【図9】検査画像及びそれを用いた画像処理の一例を示
す図である。
FIG. 9 is a diagram illustrating an example of an inspection image and image processing using the inspection image.

【図10】他の検査画像を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing another inspection image.

【図11】本発明の他の画像検査装置を示す模式図であ
る。
FIG. 11 is a schematic view showing another image inspection apparatus of the present invention.

【図12】本発明のその他の画像検査装置を示す模式図
である。
FIG. 12 is a schematic diagram showing another image inspection apparatus of the present invention.

【図13】従来のLEDリング照明を示す図であって、
(a)は平面図、(b)は(a)のイ矢視図、(c)は
(a)のロ矢視図である。
FIG. 13 is a view showing a conventional LED ring illumination,
(A) is a plan view, (b) is a view as viewed from an arrow (a), and (c) is a view as viewed from an arrow (b).

【図14】ワーク上面における検査光の向きを示す模式
図である。
FIG. 14 is a schematic diagram showing the direction of inspection light on the upper surface of a work.

【図15】ワーク側面における検査光の向きを示す模式
図である。
FIG. 15 is a schematic diagram showing directions of inspection light on a side surface of a work.

【図16】ワークを上方から見たときのワーク側面にお
ける検査光の向きを示す模式図である。
FIG. 16 is a schematic diagram showing directions of inspection light on a side surface of the work when the work is viewed from above.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 LEDリング照明 2 本体容器 2a 開口部 3 (第1の)LED 11 LEDリング照明 13 (第2の)LED 51 画像検査装置 52 カメラ 53 凸レンズ 54 画像処理装置 61 画像検査装置 62 ミラー 71 画像検査装置 A2 ワーク上面に放射状に延在する凹凸 A4 ワーク側面に縦方向に延在する凹凸 O LEDリング照明の円中心 θ1 第1のLEDの接線方向の取付角(取付角度) θ2 第2のLEDの接線方向の取付角(取付角度) DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 LED ring illumination 2 Main body container 2a Opening part 3 (1st) LED 11 LED ring illumination 13 (2nd) LED 51 Image inspection device 52 Camera 53 Convex lens 54 Image processing device 61 Image inspection device 62 Mirror 71 Image inspection device A2 Irregularities extending radially on the upper surface of the work A4 Irregularities extending in the vertical direction on the side of the work O Circle center of LED ring illumination θ1 Mounting angle in the tangential direction of the first LED (mounting angle) θ2 Tangent line of the second LED Direction mounting angle (mounting angle)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 農宗 千典 神奈川県横浜市港南区下永谷2丁目27番4 −605 Fターム(参考) 2F065 AA03 AA49 BB06 BB08 DD04 FF04 GG07 HH12 JJ03 JJ19 JJ26 2G051 AA12 AA71 AB07 BA02 BB02 BB11 CA04 CB01  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing from the front page (72) Inventor Chinori Norimune 2-27-4-605 Shimonagaya, Konan-ku, Yokohama-shi, Kanagawa F-term (reference) 2F065 AA03 AA49 BB06 BB08 DD04 FF04 GG07 HH12 JJ03 JJ19 JJ26 2G051 AA12 AA71 AB07 BA02 BB02 BB11 CA04 CB01

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 中央に設けられた開口部の周囲に多数の
LEDが同心円状に配列されるとともに、画像処理技術
を用いた画像検査に際しワークに検査光を照射するLE
Dリング照明において、 同一の円上にある全てのLEDが、円の接線方向に略同
一の取付角度をもつよう傾斜して取り付けられたことを
特徴とするLEDリング照明。
1. An LED in which a large number of LEDs are arranged concentrically around an opening provided in the center, and which irradiates inspection light onto a workpiece when performing image inspection using an image processing technique.
An LED ring lighting device comprising: a D-ring lighting device, wherein all the LEDs on the same circle are mounted to be inclined so as to have substantially the same mounting angle in the tangential direction of the circle.
【請求項2】 中央に設けられた開口部の周囲に多数の
LEDが同心円状に配列されるとともに、画像処理技術
を用いた画像検査に際しワークに検査光を照射するLE
Dリング照明において、 同一の円上にある全てのLEDが、その光軸が円の接線
方向に略同一の取付角度をもつよう傾斜して取り付けら
れ、かつ互いに隣接する円の双方のLEDにおける接線
方向の傾き方向が逆であることを特徴とするLEDリン
グ照明。
2. A plurality of LEDs are arranged concentrically around an opening provided at the center, and an LE for irradiating inspection light to a workpiece at the time of image inspection using image processing technology.
In the D-ring illumination, all the LEDs on the same circle are tilted and mounted so that their optical axes have substantially the same mounting angle in the tangential direction of the circle, and the tangents of both LEDs of the circle adjacent to each other An LED ring lighting device characterized in that the direction of inclination is reversed.
【請求項3】 中央に設けられた開口部の周囲に多数の
LEDが同心円状に配列されるとともに、画像処理技術
を用いた画像検査に際しワークに検査光を照射するLE
Dリング照明において、 同一の円上にある全てのLEDが、その光軸が円の接線
方向に交互に向きを変えながら略同一の取付角度をもつ
よう傾斜して取り付けられたことを特徴とするLEDリ
ング照明。
3. A plurality of LEDs arranged concentrically around an opening provided in the center, and an LE for irradiating inspection light onto a workpiece when performing image inspection using an image processing technique.
In the D-ring illumination, all the LEDs on the same circle are mounted so as to be inclined such that their optical axes have substantially the same mounting angle while alternately turning in the tangential direction of the circle. LED ring lighting.
【請求項4】 前記ワークが回転体形状であって、その
回転の軸が前記円の中心を通る請求項1,2又は3記載
のLEDリング照明において、 前記ワークの側面の検査部位からLED面までの距離を
E、前記検査部位における半径をr、前記円の中心から
各LEDまでの半径距離をpとしたとき、前記取付角度
θが、 ・tanθ=r(p−r)1/2/Ep となる角度に設定されたことを特徴とするLEDリング
照明。
4. The LED ring illumination according to claim 1, wherein the workpiece has a rotating body shape, and an axis of rotation of the workpiece passes through the center of the circle. Where E is the distance to the inspection site, r is the radius at the inspection site, and p is the radius distance from the center of the circle to each LED, the mounting angle θ is: tan θ = r (p 2 −r 2 ) 1 / An LED ring illumination, which is set at an angle of 2 / Ep.
【請求項5】 請求項1〜4のいずれか1項に記載のL
EDリング照明と、 該LEDリング照明の開口部を介してワークを撮像する
カメラと、 このカメラにより撮像された検査画像を処理し、前記ワ
ークの表面に関する所定の検査を行う画像処理手段とを
備えたことを特徴とする画像検査装置。
5. L according to any one of claims 1 to 4,
ED ring illumination; a camera for imaging a workpiece through an opening of the LED ring illumination; and image processing means for processing an inspection image captured by the camera and performing a predetermined inspection on the surface of the workpiece. An image inspection apparatus, characterized in that:
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