JP2002318197A - 撮像システム - Google Patents
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 穀粒の品質評価を短時間で行う。
【解決手段】 可視光を発する第1の光源は穀粒例えば
配列された米粒の例えば下側から照らしその反射光で第
1の撮像装置で撮像する。同時に、第2の光源は赤外光
を米粒の上側から照らし米粒を透過した光で第2の撮像
装置で撮像する。このとき、前記第1の撮像装置又は第
2の撮像装置のいずれか一方の前方に置かれたフィルタ
は、前記第2の光源からの赤外光を透過する。従って、
第1の撮像装置は反射光を撮像し、第2の撮像装置は透
過光を撮像する。
配列された米粒の例えば下側から照らしその反射光で第
1の撮像装置で撮像する。同時に、第2の光源は赤外光
を米粒の上側から照らし米粒を透過した光で第2の撮像
装置で撮像する。このとき、前記第1の撮像装置又は第
2の撮像装置のいずれか一方の前方に置かれたフィルタ
は、前記第2の光源からの赤外光を透過する。従って、
第1の撮像装置は反射光を撮像し、第2の撮像装置は透
過光を撮像する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、穀粒の品質をその外
観像を解析することにより客観的に評価するために用い
る撮像システムに関するものである。
観像を解析することにより客観的に評価するために用い
る撮像システムに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、穀粒例えば米の品質等級を決定す
るためには、検査官が一定の基準に基づいて目視により
判定していた。しかし、従来のように検査官の目視によ
る場合は、検査官に多大な負担となっており、機械化が
望まれていた。
るためには、検査官が一定の基準に基づいて目視により
判定していた。しかし、従来のように検査官の目視によ
る場合は、検査官に多大な負担となっており、機械化が
望まれていた。
【0003】本願出願人は、この要望に応じて、図2に
示すようなシステムを検討した。図2において、201
は品質を評価されるため所定の行列(m行×n列)に配
列された穀粒としての米粒、202は前記米粒を所定の
行列に配列させるトレイである。203は第1の光源で
あり、配列された前記米粒201を2分する仮定面(ト
レイ202内にそれと平行に仮定することができる)の
一方の側すなわち下方に位置し、前記トレイ202の1
行分(又は1列分)の長さを有し、行方向に移動可能に
構成され、可視光を発する。204は第2の光源であ
り、配列された前記米粒201を2分する仮定面すなわ
ち前記トレイ202の他方の側すなわち上方に位置し、
前記トレイ202の1行分(又は1列分)の長さを有
し、行方向に移動可能に構成され、赤外光を発する。2
05は第1の撮像装置であり、前記トレイ202の下方
に位置し、前記第1の光源203に照らされ米粒201
で反射した光を撮像するように、1行分の各列毎(1行
にn個)に撮像機器を配列する。206は第2の撮像装
置であり、前記トレイ202の下方に位置し、前記第2
の光源204に照らされ米粒201を透過した光を撮像
するように、1行分の各列毎(1行にn個)に撮像機器
を配列する。207は記録手段であり、前記第1の撮像
装置205及び第2の撮像装置206による撮像画像を
記録する。208は解析手段であり、前記記録手段20
7からの記録画像を解析し、解析結果に基づき当該米粒
201に対して品質表示をし、若しくは当該米粒201
を予め定められた区分に区分けし、評価する。209は
解析結果又は解析画像をモニタするためのモニタ装置で
ある。
示すようなシステムを検討した。図2において、201
は品質を評価されるため所定の行列(m行×n列)に配
列された穀粒としての米粒、202は前記米粒を所定の
行列に配列させるトレイである。203は第1の光源で
あり、配列された前記米粒201を2分する仮定面(ト
レイ202内にそれと平行に仮定することができる)の
一方の側すなわち下方に位置し、前記トレイ202の1
行分(又は1列分)の長さを有し、行方向に移動可能に
構成され、可視光を発する。204は第2の光源であ
り、配列された前記米粒201を2分する仮定面すなわ
ち前記トレイ202の他方の側すなわち上方に位置し、
前記トレイ202の1行分(又は1列分)の長さを有
し、行方向に移動可能に構成され、赤外光を発する。2
05は第1の撮像装置であり、前記トレイ202の下方
に位置し、前記第1の光源203に照らされ米粒201
で反射した光を撮像するように、1行分の各列毎(1行
にn個)に撮像機器を配列する。206は第2の撮像装
置であり、前記トレイ202の下方に位置し、前記第2
の光源204に照らされ米粒201を透過した光を撮像
するように、1行分の各列毎(1行にn個)に撮像機器
を配列する。207は記録手段であり、前記第1の撮像
装置205及び第2の撮像装置206による撮像画像を
記録する。208は解析手段であり、前記記録手段20
7からの記録画像を解析し、解析結果に基づき当該米粒
201に対して品質表示をし、若しくは当該米粒201
を予め定められた区分に区分けし、評価する。209は
解析結果又は解析画像をモニタするためのモニタ装置で
ある。
【0004】まず、米粒201の反射画像を第1の撮像
装置205により撮像するため、第1の光源203を作
動させ、米粒201を複数行の内1行分だけ照らす。第
1の光源203と第1の撮像装置205とを同時に同じ
速度で順次行方向に移動させる。このとき、第2の光源
204と第2の撮像装置206も同時に同じ速度で順次
行方向に移動させるが、照明及び撮像する状態としな
い。第1の光源203は順次1行分毎の米粒201を照
らしていき、第1の撮像装置205で一行分毎に順次
(全部でm行分)撮像していく。この反射画像は、記録
手段207で記録される。解析手段208は各米粒20
1の画像データを所定の基準データを用いて各米粒20
1毎に解析する。
装置205により撮像するため、第1の光源203を作
動させ、米粒201を複数行の内1行分だけ照らす。第
1の光源203と第1の撮像装置205とを同時に同じ
速度で順次行方向に移動させる。このとき、第2の光源
204と第2の撮像装置206も同時に同じ速度で順次
行方向に移動させるが、照明及び撮像する状態としな
い。第1の光源203は順次1行分毎の米粒201を照
らしていき、第1の撮像装置205で一行分毎に順次
(全部でm行分)撮像していく。この反射画像は、記録
手段207で記録される。解析手段208は各米粒20
1の画像データを所定の基準データを用いて各米粒20
1毎に解析する。
【0005】上記撮像は、米粒の外観からみた品質を評
価するために、反射光による画像を得ていたが、米粒2
01がその内部に亀裂を有する胴割粒である場合は、米
粒内部を通る透過光により評価する必要がある。そのた
め、第2の光源204からの光を斜めから米粒201に
あて、斜めの透過光を第2の撮像装置206で受けるよ
うに配置する。そして、米粒201の透過画像を第2の
撮像装置206により撮像するため、第2の光源204
を作動させ、米粒201を複数行の内1行分だけ照ら
す。第2の撮像装置206は1行分の米粒201の透過
光による画像を撮像する。第2の光源204と第2の撮
像装置206とを同時に同じ速度で順次行方向に移動さ
せる。このとき、第1の光源203と第1の撮像装置2
05とは、照明及び撮像状態にはないが、同時に同じ速
度で順次行方向に移動させる。第2の光源204は順次
1行分毎の米粒201を照らしていき、第2の撮像装置
206で一行分毎に順次(全部でm行分)撮像してい
く。米粒201が胴割粒である場合は、図3に示すよう
に亀裂301部分で透過光が乱反射し、不良部分のない
整粒の場合に比較して場合に比較して暗くなる。この透
過画像は、記録手段207で記録される。解析手段20
8は各米粒201の画像データを所定の基準データを用
いて各米粒201毎に解析する。
価するために、反射光による画像を得ていたが、米粒2
01がその内部に亀裂を有する胴割粒である場合は、米
粒内部を通る透過光により評価する必要がある。そのた
め、第2の光源204からの光を斜めから米粒201に
あて、斜めの透過光を第2の撮像装置206で受けるよ
うに配置する。そして、米粒201の透過画像を第2の
撮像装置206により撮像するため、第2の光源204
を作動させ、米粒201を複数行の内1行分だけ照ら
す。第2の撮像装置206は1行分の米粒201の透過
光による画像を撮像する。第2の光源204と第2の撮
像装置206とを同時に同じ速度で順次行方向に移動さ
せる。このとき、第1の光源203と第1の撮像装置2
05とは、照明及び撮像状態にはないが、同時に同じ速
度で順次行方向に移動させる。第2の光源204は順次
1行分毎の米粒201を照らしていき、第2の撮像装置
206で一行分毎に順次(全部でm行分)撮像してい
く。米粒201が胴割粒である場合は、図3に示すよう
に亀裂301部分で透過光が乱反射し、不良部分のない
整粒の場合に比較して場合に比較して暗くなる。この透
過画像は、記録手段207で記録される。解析手段20
8は各米粒201の画像データを所定の基準データを用
いて各米粒201毎に解析する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来のように構成した
評価装置は、米粒を自動的に評価できるものであるが、
評価を反射光と透過光とを同時に用いると、第1の光源
203から反射光が第1の撮像装置205だけでなく第
2の撮像装置206にも入射し、また、第2の光源20
4からの透過光が第2の撮像装置206だけでなく第1
の撮像装置205にも入射してしまい、反射光と透過光
とをそれぞれ他の影響なしに単独で解析することができ
ない。そこで、第1の光源203と第1の撮像装置20
5との組と、第2の光源204と第2の撮像装置206
との組を、それぞれ別々に作動させなければならず、評
価のための時間が多く必要となっていた。
評価装置は、米粒を自動的に評価できるものであるが、
評価を反射光と透過光とを同時に用いると、第1の光源
203から反射光が第1の撮像装置205だけでなく第
2の撮像装置206にも入射し、また、第2の光源20
4からの透過光が第2の撮像装置206だけでなく第1
の撮像装置205にも入射してしまい、反射光と透過光
とをそれぞれ他の影響なしに単独で解析することができ
ない。そこで、第1の光源203と第1の撮像装置20
5との組と、第2の光源204と第2の撮像装置206
との組を、それぞれ別々に作動させなければならず、評
価のための時間が多く必要となっていた。
【0007】本発明は上記問題点を鑑みてなされたもの
であり、穀粒の品質評価を短時間で行える撮像システム
を提供することを目的とする。
であり、穀粒の品質評価を短時間で行える撮像システム
を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
請求項1に係る撮像システムは、穀粒をその外観に基づ
き評価するための撮像システムであって、穀粒を2分す
る仮定面の一方の側に位置する第1の光源と、前記仮定
面の他方の側に位置して所定長以上の波長の光を前記第
1の光源よりも多く発する第2の光源と、前記第1又は
第2の光源による前記穀粒に対する反射光を撮像する第
1の撮像装置と、前記第2又は第1の光源による前記穀
粒に対する透過光を撮像する第2の撮像装置と、前記第
1の撮像装置又は第2の撮像装置のいずれか一方の前方
に前記所定長以上の波長の光を透過するフィルタを前置
するものである。
請求項1に係る撮像システムは、穀粒をその外観に基づ
き評価するための撮像システムであって、穀粒を2分す
る仮定面の一方の側に位置する第1の光源と、前記仮定
面の他方の側に位置して所定長以上の波長の光を前記第
1の光源よりも多く発する第2の光源と、前記第1又は
第2の光源による前記穀粒に対する反射光を撮像する第
1の撮像装置と、前記第2又は第1の光源による前記穀
粒に対する透過光を撮像する第2の撮像装置と、前記第
1の撮像装置又は第2の撮像装置のいずれか一方の前方
に前記所定長以上の波長の光を透過するフィルタを前置
するものである。
【0009】また、請求項2に係る撮像システムは、請
求項1において、所定長以上の波長の光が赤外光である
ものである。
求項1において、所定長以上の波長の光が赤外光である
ものである。
【0010】また、請求項3に係る撮像システムは、穀
粒をその外観に基づき評価するための撮像システムにお
いて、穀粒を2分する仮定面の一方の側に位置して可視
光を発する第1の光源と、前記仮定面の他方の側に位置
して赤外光を発する第2の光源と、前記第1の光源によ
る前記穀粒に対する反射光を撮像する第1の撮像装置
と、前記第2の光源による前記穀粒に対する透過光を撮
像する第2の撮像装置と、前記第2の撮像装置の前方に
前記赤外光を透過するフィルタを前置するものである。
粒をその外観に基づき評価するための撮像システムにお
いて、穀粒を2分する仮定面の一方の側に位置して可視
光を発する第1の光源と、前記仮定面の他方の側に位置
して赤外光を発する第2の光源と、前記第1の光源によ
る前記穀粒に対する反射光を撮像する第1の撮像装置
と、前記第2の光源による前記穀粒に対する透過光を撮
像する第2の撮像装置と、前記第2の撮像装置の前方に
前記赤外光を透過するフィルタを前置するものである。
【0011】
【作用】請求項1及び請求項2に係る撮像システムにお
いて次のように作用する。第1の光源は穀粒例えば配列
された米粒の例えば下側から照らしその反射光で第1の
撮像装置で撮像する。同時に、第2の光源は第1の光源
に比較して長い波長の光を米粒の上側から照らし米粒を
透過した光で第2の撮像装置で撮像する。このとき、前
記第1の撮像装置又は第2の撮像装置のいずれか一方の
前方に置かれたフィルタは、前記第2の光源からの光を
透過する。従って、第1の撮像装置は反射光を撮像し、
第2の撮像装置は透過光を撮像する。第2の光源は赤外
光を発するようにすることができる。
いて次のように作用する。第1の光源は穀粒例えば配列
された米粒の例えば下側から照らしその反射光で第1の
撮像装置で撮像する。同時に、第2の光源は第1の光源
に比較して長い波長の光を米粒の上側から照らし米粒を
透過した光で第2の撮像装置で撮像する。このとき、前
記第1の撮像装置又は第2の撮像装置のいずれか一方の
前方に置かれたフィルタは、前記第2の光源からの光を
透過する。従って、第1の撮像装置は反射光を撮像し、
第2の撮像装置は透過光を撮像する。第2の光源は赤外
光を発するようにすることができる。
【0012】請求項3に係る撮像システムは次のように
作用する。可視光を発する第1の光源は穀粒例えば配列
された米粒の例えば下側から照らしその反射光で第1の
撮像装置で撮像する。同時に、第2の光源は赤外光を米
粒の上側から照らし米粒を透過した光で第2の撮像装置
で撮像する。このとき、前記第1の撮像装置又は第2の
撮像装置のいずれか一方の前方に置かれたフィルタは、
前記第2の光源からの赤外光を透過する。従って、第1
の撮像装置は反射光を撮像し、第2の撮像装置は透過光
を撮像する。
作用する。可視光を発する第1の光源は穀粒例えば配列
された米粒の例えば下側から照らしその反射光で第1の
撮像装置で撮像する。同時に、第2の光源は赤外光を米
粒の上側から照らし米粒を透過した光で第2の撮像装置
で撮像する。このとき、前記第1の撮像装置又は第2の
撮像装置のいずれか一方の前方に置かれたフィルタは、
前記第2の光源からの赤外光を透過する。従って、第1
の撮像装置は反射光を撮像し、第2の撮像装置は透過光
を撮像する。
【0013】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図を参照し
て説明する。図1は一実施例を説明する構成図である。
図1において、101は品質を評価されるため所定の行
列(m行×n列)に配列された穀粒としての米粒、10
2は前記米粒を所定の行列に配列させるトレイである。
103は第1の光源であり、配列された前記米粒101
を2分する仮定面(トレイ102内にそれと平行に仮定
することができる)の一方の側すなわち下方に位置し、
前記トレイ102の1行分(又は1列分)の長さを有
し、行方向に移動可能に構成され、可視光線を発する。
104は第2の光源であり、配列された前記米粒101
を2分する仮定面すなわち前記トレイ102の他方の側
すなわち上方に位置し、前記トレイ102の1行分(又
は1列分)の長さを有し、行方向に移動可能に構成さ
れ、赤外光を発する。105は第1の撮像装置であり、
前記トレイ102の下方に位置し、前記第1の光源10
3に照らされ米粒101で反射した光を撮像するよう
に、1行分の各列毎(1行にn個)に撮像機器を配列す
る。106は第2の撮像装置であり、前記トレイ102
の下方に位置し、前記第2の光源104に照らされ米粒
101を透過した光を撮像するように、1行分の各列毎
(1行にn個)に撮像機器を配列する。107は赤外光
を透過し、可視光を遮断するフィルタであり、前記第2
の撮像装置106のレンズの前に取り付ける。108は
記録手段であり、前記第1の撮像装置105及び第2の
撮像装置106による撮像画像を記録する。109は解
析手段であり、前記記録手段108からの記録画像を解
析し、解析結果に基づき当該穀粒101に対して品質表
示をし、若しくは当該穀粒101を予め定められた区分
に区分けし、評価する。110は解析結果又は解析画像
をモニタするためのモニタ装置である。
て説明する。図1は一実施例を説明する構成図である。
図1において、101は品質を評価されるため所定の行
列(m行×n列)に配列された穀粒としての米粒、10
2は前記米粒を所定の行列に配列させるトレイである。
103は第1の光源であり、配列された前記米粒101
を2分する仮定面(トレイ102内にそれと平行に仮定
することができる)の一方の側すなわち下方に位置し、
前記トレイ102の1行分(又は1列分)の長さを有
し、行方向に移動可能に構成され、可視光線を発する。
104は第2の光源であり、配列された前記米粒101
を2分する仮定面すなわち前記トレイ102の他方の側
すなわち上方に位置し、前記トレイ102の1行分(又
は1列分)の長さを有し、行方向に移動可能に構成さ
れ、赤外光を発する。105は第1の撮像装置であり、
前記トレイ102の下方に位置し、前記第1の光源10
3に照らされ米粒101で反射した光を撮像するよう
に、1行分の各列毎(1行にn個)に撮像機器を配列す
る。106は第2の撮像装置であり、前記トレイ102
の下方に位置し、前記第2の光源104に照らされ米粒
101を透過した光を撮像するように、1行分の各列毎
(1行にn個)に撮像機器を配列する。107は赤外光
を透過し、可視光を遮断するフィルタであり、前記第2
の撮像装置106のレンズの前に取り付ける。108は
記録手段であり、前記第1の撮像装置105及び第2の
撮像装置106による撮像画像を記録する。109は解
析手段であり、前記記録手段108からの記録画像を解
析し、解析結果に基づき当該穀粒101に対して品質表
示をし、若しくは当該穀粒101を予め定められた区分
に区分けし、評価する。110は解析結果又は解析画像
をモニタするためのモニタ装置である。
【0014】まず、米粒101の反射画像を第1の撮像
装置105により撮像するため、第1の光源103を作
動させ、米粒101を複数行の内1行分だけ照らす。第
1の光源103と第1の撮像装置105とを同時に同じ
速度で順次行方向に移動させる。このとき、第2の光源
104と第2の撮像装置106も同時に同じ速度で順次
行方向に移動させる。第1の光源103は順次1行分毎
の米粒101を照らしていき、反射光を第1の撮像装置
105で一行分毎に順次(全部でm行分)撮像してい
く。この反射光は米粒101で乱反射したものであり、
第2の撮像装置106の方向にも行くが、フィルタ10
7により遮断され、撮像されない。
装置105により撮像するため、第1の光源103を作
動させ、米粒101を複数行の内1行分だけ照らす。第
1の光源103と第1の撮像装置105とを同時に同じ
速度で順次行方向に移動させる。このとき、第2の光源
104と第2の撮像装置106も同時に同じ速度で順次
行方向に移動させる。第1の光源103は順次1行分毎
の米粒101を照らしていき、反射光を第1の撮像装置
105で一行分毎に順次(全部でm行分)撮像してい
く。この反射光は米粒101で乱反射したものであり、
第2の撮像装置106の方向にも行くが、フィルタ10
7により遮断され、撮像されない。
【0015】一方、第2の光源104と第2の撮像装置
106も同じ速度で順次行方向に移動させているが、こ
れらも第1の光源103と第1の撮像装置105が照明
撮影していると同時に、米粒101の透過画像を第2の
撮像装置106により撮像するため、第2の光源104
で、米粒101を上側から複数行の内1行分だけ赤外光
で照らす。第2の光源104は順次1行分毎の米粒10
1を照らしていき、フィルタを通過した透過光を第2の
撮像装置106で一行分毎に順次(全部でm行分)撮像
していく。第1の撮像装置105はこの赤外透過光を感
知しない。
106も同じ速度で順次行方向に移動させているが、こ
れらも第1の光源103と第1の撮像装置105が照明
撮影していると同時に、米粒101の透過画像を第2の
撮像装置106により撮像するため、第2の光源104
で、米粒101を上側から複数行の内1行分だけ赤外光
で照らす。第2の光源104は順次1行分毎の米粒10
1を照らしていき、フィルタを通過した透過光を第2の
撮像装置106で一行分毎に順次(全部でm行分)撮像
していく。第1の撮像装置105はこの赤外透過光を感
知しない。
【0016】第1の撮像装置105で撮像された米粒1
01の表面からの反射光による画像と、第2の撮像装置
106で撮像された米粒101の内部を通過し透過光に
よる画像とは、記録手段108で記録される。解析手段
109は各米粒101の画像データを所定の基準データ
を用いて各米粒101毎に解析する。
01の表面からの反射光による画像と、第2の撮像装置
106で撮像された米粒101の内部を通過し透過光に
よる画像とは、記録手段108で記録される。解析手段
109は各米粒101の画像データを所定の基準データ
を用いて各米粒101毎に解析する。
【0017】透過光による画像は、米粒101が胴割粒
である場合に、米粒内部を通る透過光が内部の亀裂によ
り散乱し、亀裂より先の部分が不良部分のない整粒の場
合に比較して場合に比較して暗くなる。基準データと比
較したときに暗い部分と判定される部分があるか否かに
より評価する。
である場合に、米粒内部を通る透過光が内部の亀裂によ
り散乱し、亀裂より先の部分が不良部分のない整粒の場
合に比較して場合に比較して暗くなる。基準データと比
較したときに暗い部分と判定される部分があるか否かに
より評価する。
【0018】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、穀
粒に対する反射光と透過光との同時に撮像でき、評価の
ための時間を短縮することができる。
粒に対する反射光と透過光との同時に撮像でき、評価の
ための時間を短縮することができる。
【図1】 本発明の一実施例を説明する構成図である。
【図2】 本発明の前提となるシステムを説明する構成
図である。
図である。
【図3】 胴割粒による光の散乱を説明する図である。
101…米粒、102…トレイ、103…第1の光源、
104…第2の光源、105…第1の撮像装置、106
…第2の撮像装置、107…フィルタ、108…記録手
段、109…解析手段、110…モニタ装置。
104…第2の光源、105…第1の撮像装置、106
…第2の撮像装置、107…フィルタ、108…記録手
段、109…解析手段、110…モニタ装置。
Claims (3)
- 【請求項1】 穀粒をその外観に基づき評価するための
撮像システムにおいて、穀粒を2分する仮定面の一方の
側に位置する第1の光源と、前記仮定面の他方の側に位
置して所定長以上の波長の光を前記第1の光源よりも多
く発する第2の光源と、前記第1又は第2の光源による
前記穀粒に対する反射光を撮像する第1の撮像装置と、
前記第2又は第1の光源による前記穀粒に対する透過光
を撮像する第2の撮像装置と、前記第1の撮像装置又は
第2の撮像装置のいずれか一方の前方に前記所定長以上
の波長の光を透過するフィルタを前置することを特徴と
する撮像システム。 - 【請求項2】 所定長以上の波長の光が赤外光であるこ
とを特徴とする請求項1記載の撮像システム。 - 【請求項3】 穀粒をその外観に基づき評価するための
撮像システムにおいて、穀粒を2分する仮定面の一方の
側に位置して可視光を発する第1の光源と、前記仮定面
の他方の側に位置して赤外光を発する第2の光源と、前
記第1の光源による前記穀粒に対する反射光を撮像する
第1の撮像装置と、前記第2の光源による前記穀粒に対
する透過光を撮像する第2の撮像装置と、前記第2の撮
像装置の前方に前記赤外光を透過するフィルタを前置す
ることを特徴とする撮像システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001123048A JP2002318197A (ja) | 2001-04-20 | 2001-04-20 | 撮像システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001123048A JP2002318197A (ja) | 2001-04-20 | 2001-04-20 | 撮像システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002318197A true JP2002318197A (ja) | 2002-10-31 |
Family
ID=18972661
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001123048A Pending JP2002318197A (ja) | 2001-04-20 | 2001-04-20 | 撮像システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002318197A (ja) |
-
2001
- 2001-04-20 JP JP2001123048A patent/JP2002318197A/ja active Pending
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