JP2002351430A - 表示装置 - Google Patents
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- G09G3/3611—Control of matrices with row and column drivers
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- G09G3/3677—Details of drivers for scan electrodes suitable for active matrices only
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- G09G3/3611—Control of matrices with row and column drivers
- G09G3/3685—Details of drivers for data electrodes
- G09G3/3688—Details of drivers for data electrodes suitable for active matrices only
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 画素データの保持のための消費電力を低減す
る。 【解決手段】 表示画素マトリクス(1)内に配置され
る画素(PX)の列に対応して配置されるデータ線(D
L,DR)に対し相補信号線(CL,CR)を配置す
る。リフレッシュモード時において、この画素のデータ
を相補信号線CLおよびCRに読出し、センスアンプ
(SA)により差動増幅し、この差動増幅したデータ
を、元の画素に書込む。内部でリフレッシュを行ない、
外部からのメモリに準備されたリフレッシュ用データを
再書込する必要がなく、消費電流が低減される。
る。 【解決手段】 表示画素マトリクス(1)内に配置され
る画素(PX)の列に対応して配置されるデータ線(D
L,DR)に対し相補信号線(CL,CR)を配置す
る。リフレッシュモード時において、この画素のデータ
を相補信号線CLおよびCRに読出し、センスアンプ
(SA)により差動増幅し、この差動増幅したデータ
を、元の画素に書込む。内部でリフレッシュを行ない、
外部からのメモリに準備されたリフレッシュ用データを
再書込する必要がなく、消費電流が低減される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、画像を表示する
ための表示装置に関し、特に、画素に対応して配置され
る画素素子を容量の保持電圧により駆動する表示装置に
関する。
ための表示装置に関し、特に、画素に対応して配置され
る画素素子を容量の保持電圧により駆動する表示装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、表示装置の1つとして、液晶表示
装置(LCD:Liquid Crystal Display)が知られてい
る。LCDにおいては、非晶質シリコン(a−Si)半
導体薄膜または多結晶シリコン(p−Si)半導体薄膜
を素材(活性層)として用い、この活性層にチャネル
部、およびソース部/ドレイン部が形成される薄膜トラ
ンジスタ(TFT:Thin Film Transistor)を用いた薄
膜トランジスタ駆動方式液晶表示装置(TFT−LC
D)が知られている。特に、表示画素に対し映像信号の
スイッチとなるTFTを設けたアクティブマトリクス型
液晶パネルは、このTFTのスイッチ動作により表示画
素素子の駆動電圧が保持されるため、コントラストおよ
び応答速度性等の画質に優れており、静止画像および動
画像を表示するための携帯型パーソナルコンピュータお
よびディスクトップパーソナルコンピュータのモニタま
たは投射型モニタなどに広く利用されている。
装置(LCD:Liquid Crystal Display)が知られてい
る。LCDにおいては、非晶質シリコン(a−Si)半
導体薄膜または多結晶シリコン(p−Si)半導体薄膜
を素材(活性層)として用い、この活性層にチャネル
部、およびソース部/ドレイン部が形成される薄膜トラ
ンジスタ(TFT:Thin Film Transistor)を用いた薄
膜トランジスタ駆動方式液晶表示装置(TFT−LC
D)が知られている。特に、表示画素に対し映像信号の
スイッチとなるTFTを設けたアクティブマトリクス型
液晶パネルは、このTFTのスイッチ動作により表示画
素素子の駆動電圧が保持されるため、コントラストおよ
び応答速度性等の画質に優れており、静止画像および動
画像を表示するための携帯型パーソナルコンピュータお
よびディスクトップパーソナルコンピュータのモニタま
たは投射型モニタなどに広く利用されている。
【0003】図44は、従来のカラー液晶表示装置の構
成を概略的に示す図である。図44において、従来のカ
ラー液晶表示装置は、赤(R)、緑(G)および青
(B)の3色画素を含む単位表示画素1001が行列状
に配列される液晶表示部1002と、この液晶表示部1
002の走査線1010を順次選択する垂直走査回路1
003と、液晶表示部1002の各列に映像信号を伝達
する水平走査回路1006を含む。
成を概略的に示す図である。図44において、従来のカ
ラー液晶表示装置は、赤(R)、緑(G)および青
(B)の3色画素を含む単位表示画素1001が行列状
に配列される液晶表示部1002と、この液晶表示部1
002の走査線1010を順次選択する垂直走査回路1
003と、液晶表示部1002の各列に映像信号を伝達
する水平走査回路1006を含む。
【0004】液晶表示部1002においては、走査線が
1010が液晶表示部1002の各単位表示画素行に対
応して配置され、1本の走査線を選択する事により1行
の単位表示画素1001が同時に選択される。
1010が液晶表示部1002の各単位表示画素行に対
応して配置され、1本の走査線を選択する事により1行
の単位表示画素1001が同時に選択される。
【0005】この液晶表示部1002においては、ま
た、単位表示画素1001の各列に対応してデータ線1
011が配列される。このデータ線1011は、R、G
およびBの3色画素それぞれに対して配置される。
た、単位表示画素1001の各列に対応してデータ線1
011が配列される。このデータ線1011は、R、G
およびBの3色画素それぞれに対して配置される。
【0006】垂直走査回路1003は、液晶表示部10
02の走査線1010を順次選択するための信号を生成
するシフトレジスタ回路1004と、シフトレジスタ回
路1004の出力信号をバッファ処理して、走査線10
10を選択状態へ駆動するバッファ回路1005を含
む。シフトレジスタ回路1004へは、図示しない表示
制御回路から垂直同期信号および水平同期信号が与えら
れ、この水平同期信号に従って走査線1010を垂直方
向に順次走査する。垂直同期信号が与えられると再び先
頭の走査線に戻って順次走査線を駆動する。垂直走査回
路1003が走査線1010を駆動するシーケンスとし
ては、1行おきの走査線を順次選択状態へ駆動するイン
ターレース方式および走査線1010を順次選択状態へ
駆動するノンインターレース方式がある。
02の走査線1010を順次選択するための信号を生成
するシフトレジスタ回路1004と、シフトレジスタ回
路1004の出力信号をバッファ処理して、走査線10
10を選択状態へ駆動するバッファ回路1005を含
む。シフトレジスタ回路1004へは、図示しない表示
制御回路から垂直同期信号および水平同期信号が与えら
れ、この水平同期信号に従って走査線1010を垂直方
向に順次走査する。垂直同期信号が与えられると再び先
頭の走査線に戻って順次走査線を駆動する。垂直走査回
路1003が走査線1010を駆動するシーケンスとし
ては、1行おきの走査線を順次選択状態へ駆動するイン
ターレース方式および走査線1010を順次選択状態へ
駆動するノンインターレース方式がある。
【0007】水平走査回路1006は、水平同期信号を
分周して、この液晶表示部1002のデータ線を順次選
択する信号をシフト動作により生成するシフトレジスタ
回路1007と、シフトレジスタ回路1007の出力信
号をバッファ処理するバッファ回路1008と、バッフ
ァ回路1008からの選択信号に従って導通し、映像処
理部から共通画像データ線1013を介して与えられる
映像信号(データ信号)を対応のデータ線1011に伝
達するスイッチ回路1009を含む。この共通画像デー
タ線1013へは、R、GおよびBの画素それぞれに対
するデータ信号が並列に与えられる。
分周して、この液晶表示部1002のデータ線を順次選
択する信号をシフト動作により生成するシフトレジスタ
回路1007と、シフトレジスタ回路1007の出力信
号をバッファ処理するバッファ回路1008と、バッフ
ァ回路1008からの選択信号に従って導通し、映像処
理部から共通画像データ線1013を介して与えられる
映像信号(データ信号)を対応のデータ線1011に伝
達するスイッチ回路1009を含む。この共通画像デー
タ線1013へは、R、GおよびBの画素それぞれに対
するデータ信号が並列に与えられる。
【0008】スイッチ回路1009も、R、GおよびB
3色画素それぞれに対して配置されるスイッチング素子
SWを含み、バッファ回路1008の出力する選択信号
に従って対応の列のR、GおよびB3色画素それぞれに
対して設けられる信号線1011に対し並列にデータ信
号を伝達する。これにより、単位表示画素1001にお
いて、R、GおよびBの3色画素に対するデータが同時
に書込まれ、そこに含まれる液晶が、この書込まれたデ
ータに従って駆動される。
3色画素それぞれに対して配置されるスイッチング素子
SWを含み、バッファ回路1008の出力する選択信号
に従って対応の列のR、GおよびB3色画素それぞれに
対して設けられる信号線1011に対し並列にデータ信
号を伝達する。これにより、単位表示画素1001にお
いて、R、GおよびBの3色画素に対するデータが同時
に書込まれ、そこに含まれる液晶が、この書込まれたデ
ータに従って駆動される。
【0009】この単位表示画素1001においては、液
晶を駆動するための電圧を保持するためのキャパシタが
設けられており、このキャパシタが共通電極線1012
に結合される。この共通電極線1012は、液晶表示部
1002に含まれる単位表示画素1001に共通に配設
される。
晶を駆動するための電圧を保持するためのキャパシタが
設けられており、このキャパシタが共通電極線1012
に結合される。この共通電極線1012は、液晶表示部
1002に含まれる単位表示画素1001に共通に配設
される。
【0010】図45は、図44に示す単位表示画素10
01の1色の単位色画素に対応する画素素子の構成を概
略的に示す図である。図45において単位表示画素10
01に含まれる単位色画素素子は、液晶素子1102
と、走査線1010の信号に応答して導通し、液晶素子
1102をデータ線1011に結合するサンプリングT
FT1001と、サンプリングTFT1001を介して
電圧保持ノード1106に与えられた電圧を保持するた
めの電圧保持容量素子1103とを含む。この電圧保持
容量素子1103は、共通電極線1012と電圧保持ノ
ード1106の間に接続される。
01の1色の単位色画素に対応する画素素子の構成を概
略的に示す図である。図45において単位表示画素10
01に含まれる単位色画素素子は、液晶素子1102
と、走査線1010の信号に応答して導通し、液晶素子
1102をデータ線1011に結合するサンプリングT
FT1001と、サンプリングTFT1001を介して
電圧保持ノード1106に与えられた電圧を保持するた
めの電圧保持容量素子1103とを含む。この電圧保持
容量素子1103は、共通電極線1012と電圧保持ノ
ード1106の間に接続される。
【0011】液晶素子1102は、電圧保持ノード11
06と対向電極1105の間に接続され、この対向電極
1105と電圧保持ノード1106の間の電圧に応じ
て、その透過度が変化し、応じて、この液晶素子110
2に対して設けられるカラーフィルタの色の輝度を調整
する。この液晶素子1102に対しては、寄生容量11
04が存在する。次に、この図45に示す単位色画素素
子の動作について簡単に説明する。
06と対向電極1105の間に接続され、この対向電極
1105と電圧保持ノード1106の間の電圧に応じ
て、その透過度が変化し、応じて、この液晶素子110
2に対して設けられるカラーフィルタの色の輝度を調整
する。この液晶素子1102に対しては、寄生容量11
04が存在する。次に、この図45に示す単位色画素素
子の動作について簡単に説明する。
【0012】走査線1010上の信号により、サンプリ
ングTFT1101がオン状態となると、信号線101
1に図44に示す共通画像データ線1013を介して与
えられるデータ信号が、このサンプリングTFT110
1を介して電圧保持ノード1106に伝達される。この
電圧保持ノード1106に伝達された電圧に従って電圧
保持容量素子1103および寄生容量1104に電荷が
蓄積される。
ングTFT1101がオン状態となると、信号線101
1に図44に示す共通画像データ線1013を介して与
えられるデータ信号が、このサンプリングTFT110
1を介して電圧保持ノード1106に伝達される。この
電圧保持ノード1106に伝達された電圧に従って電圧
保持容量素子1103および寄生容量1104に電荷が
蓄積される。
【0013】いわゆる点順次駆動の場合には、この走査
線1010に接続される1行の単位画素1001が、図
44に示す水平走査回路1006の出力信号に従って順
次選択され、各選択単位画素素子に、データ信号が書込
まれる。1つの走査線1010における単位画素に対す
るデータ信号の書込が完了すると、図44に示す垂直走
査回路1003により、次の行の走査線1010が選択
状態へ駆動され、次の行の単位画素に対するデータ信号
の書込が行なわれる。
線1010に接続される1行の単位画素1001が、図
44に示す水平走査回路1006の出力信号に従って順
次選択され、各選択単位画素素子に、データ信号が書込
まれる。1つの走査線1010における単位画素に対す
るデータ信号の書込が完了すると、図44に示す垂直走
査回路1003により、次の行の走査線1010が選択
状態へ駆動され、次の行の単位画素に対するデータ信号
の書込が行なわれる。
【0014】非選択状態の走査線1010の電圧は接地
電圧または負電圧レベルであり、非選択状態の走査線1
010に接続されるサンプリングTFT1101は、オ
フ状態を維持する。したがって、この電圧保持ノード1
106に書込まれた電圧は、電圧保持容量素子1103
および寄生容量1104により、垂直走査回路1003
により次に走査されるまで保持される。
電圧または負電圧レベルであり、非選択状態の走査線1
010に接続されるサンプリングTFT1101は、オ
フ状態を維持する。したがって、この電圧保持ノード1
106に書込まれた電圧は、電圧保持容量素子1103
および寄生容量1104により、垂直走査回路1003
により次に走査されるまで保持される。
【0015】垂直走査回路1003が、この液晶表示部
1002におけるすべての行(1フレームと称す)を走
査した後、再び、この走査線1010に正の電圧が印加
され、サンプリングTFT1101が導通状態となり、
液晶素子1102および電圧保持容量素子1103に、
対応のデータ信号線1011からサンプリングTFT1
101を介して電圧が書込まれる。したがって、各単位
表示画素は、1フレームごとに、順次保持電圧の書込が
行なわれる。
1002におけるすべての行(1フレームと称す)を走
査した後、再び、この走査線1010に正の電圧が印加
され、サンプリングTFT1101が導通状態となり、
液晶素子1102および電圧保持容量素子1103に、
対応のデータ信号線1011からサンプリングTFT1
101を介して電圧が書込まれる。したがって、各単位
表示画素は、1フレームごとに、順次保持電圧の書込が
行なわれる。
【0016】液晶素子1102は、直流電圧が印加され
ると特性が劣化するため、液晶素子1102に対して
は、交流駆動が行なわれる。すなわち、単位色画素に対
する書込および電圧保持は、対向電極1105の電圧に
対し正および負の極性の電圧を各フレームごとに交互に
データ信号線1011に対し書込むことにより行なわれ
る。
ると特性が劣化するため、液晶素子1102に対して
は、交流駆動が行なわれる。すなわち、単位色画素に対
する書込および電圧保持は、対向電極1105の電圧に
対し正および負の極性の電圧を各フレームごとに交互に
データ信号線1011に対し書込むことにより行なわれ
る。
【0017】通常、このフレーム周波数は、60ヘルツ
であり、したがって、正および負の極性が反転された電
圧が電圧保持ノード1106に印加されるため、液晶駆
動周波数は、フレーム周波数の1/2倍の周波数とな
り、通常30ヘルツとなる。
であり、したがって、正および負の極性が反転された電
圧が電圧保持ノード1106に印加されるため、液晶駆
動周波数は、フレーム周波数の1/2倍の周波数とな
り、通常30ヘルツとなる。
【0018】この電圧保持ノード1106に書込まれて
保持された電圧と対向電極1105の電圧との電圧差を
時間平均することにより、液晶素子1102に実効的に
印加される電圧Vrmsが決定される。この実効電圧V
rmsに従って液晶素子1102の配向状態が決定さ
れ、その液晶素子の光透過率が制御されて表示の状態が
決定される。
保持された電圧と対向電極1105の電圧との電圧差を
時間平均することにより、液晶素子1102に実効的に
印加される電圧Vrmsが決定される。この実効電圧V
rmsに従って液晶素子1102の配向状態が決定さ
れ、その液晶素子の光透過率が制御されて表示の状態が
決定される。
【0019】30ヘルツの液晶駆動周波数の場合、フリ
ッカと呼ばれるちらつきが表示画面上に現れることにな
り、表示画像品質が低下する。このようなフリッカを抑
制するために、上下左右に隣り合う画素ごとに液晶駆動
電圧の極性を交互に反転させることにより、フリッカを
抑制する方式が従来取られている。
ッカと呼ばれるちらつきが表示画面上に現れることにな
り、表示画像品質が低下する。このようなフリッカを抑
制するために、上下左右に隣り合う画素ごとに液晶駆動
電圧の極性を交互に反転させることにより、フリッカを
抑制する方式が従来取られている。
【0020】この液晶表示装置においては、1つの単位
画素素子にデータ信号が書込まれ、次に再び書込が行な
われるまでの期間、すなわち1フレーム周期の間、液晶
表示素子1102と保持容量素子1103により、書込
まれた電圧を保持することが要求される。液晶表示素子
1102の有限の抵抗率およびサンプリングTFT11
01におけるリーク電流等により、この電圧保持ノード
1106の電圧が低下する。
画素素子にデータ信号が書込まれ、次に再び書込が行な
われるまでの期間、すなわち1フレーム周期の間、液晶
表示素子1102と保持容量素子1103により、書込
まれた電圧を保持することが要求される。液晶表示素子
1102の有限の抵抗率およびサンプリングTFT11
01におけるリーク電流等により、この電圧保持ノード
1106の電圧が低下する。
【0021】図46に示すように、通常の60ヘルツ
(Hz)のフレーム周期で動作させた場合、1つの単位
画素素子は、フレーム周期PF(=1/60秒)に保持
電圧の書換が行なわれるため、その画素ノード(電圧保
持ノード)の電圧の低下がわずかであり、画素の液晶素
子の反射率(輝度)の変化は小さく、フリッカおよびコ
ントラスト低下という表示品質の低下は十分に抑制され
る。ここで、図46において横軸に時間を示し、縦軸に
単位色画素の反射率(輝度)を示す。
(Hz)のフレーム周期で動作させた場合、1つの単位
画素素子は、フレーム周期PF(=1/60秒)に保持
電圧の書換が行なわれるため、その画素ノード(電圧保
持ノード)の電圧の低下がわずかであり、画素の液晶素
子の反射率(輝度)の変化は小さく、フリッカおよびコ
ントラスト低下という表示品質の低下は十分に抑制され
る。ここで、図46において横軸に時間を示し、縦軸に
単位色画素の反射率(輝度)を示す。
【0022】液晶表示装置においては、走査線とデータ
信号線との交差部の容量、および配線(走査線およびデ
ータ信号線)と対向基板上全面に形成された対向電極と
の間の液晶の容量を、サンプリングTFT1101の選
択時間ごとに充放電を行なうために大部分の電流が消費
される。垂直走査回路1003は、フレーム周波数・走
査線数の周波数で動作し、また水平走査回路1006
は、フレーム周波数・走査線数・データ信号線数の周波
数で動作する。したがって、これらの配線間容量および
配線と対向電極との間の容量の充放電がこれらの垂直走
査回路1003および水平走査回路1006の動作周波
数で充放電され、消費電力が大きくなる。この消費電力
を低減するためには、これらの垂直走査回路1003お
よび水平走査回路1006の動作周波数を低減するまた
はこれらの走査回路1003および1006を間欠的に
動作させることが有効な手段と考えられる。
信号線との交差部の容量、および配線(走査線およびデ
ータ信号線)と対向基板上全面に形成された対向電極と
の間の液晶の容量を、サンプリングTFT1101の選
択時間ごとに充放電を行なうために大部分の電流が消費
される。垂直走査回路1003は、フレーム周波数・走
査線数の周波数で動作し、また水平走査回路1006
は、フレーム周波数・走査線数・データ信号線数の周波
数で動作する。したがって、これらの配線間容量および
配線と対向電極との間の容量の充放電がこれらの垂直走
査回路1003および水平走査回路1006の動作周波
数で充放電され、消費電力が大きくなる。この消費電力
を低減するためには、これらの垂直走査回路1003お
よび水平走査回路1006の動作周波数を低減するまた
はこれらの走査回路1003および1006を間欠的に
動作させることが有効な手段と考えられる。
【0023】今、図47に示すように、1つの単位色画
素に対し周期Pfrで書込を行なうように水平および垂
直走査回路1003および1006の動作周波数を低下
させた場合、画素ノード(電圧保持ノード)1106の
電圧低下が極めて大きくなり、反射率(輝度)も大きく
変化する。ここで、図47においても、横軸に時間を示
し、縦軸に、反射率を示す。この反射率は、画素ノード
の蓄積電圧に比例している。このような低速(低周波
数)の書換による表示を行なった場合、画素ノード11
06の電圧が大きく変化し、反射率(輝度)が大きく変
化し、この電圧低下が、表示画面上でのフリッカとして
観測され、表示画像品質が劣化する。また、この液晶素
子に印加される平均電圧が低下し、良好なコントラスト
を得ることができなくなりまた低速書換えによる表示応
答速度も低下するなど表示品質が低下するという問題が
生じる。
素に対し周期Pfrで書込を行なうように水平および垂
直走査回路1003および1006の動作周波数を低下
させた場合、画素ノード(電圧保持ノード)1106の
電圧低下が極めて大きくなり、反射率(輝度)も大きく
変化する。ここで、図47においても、横軸に時間を示
し、縦軸に、反射率を示す。この反射率は、画素ノード
の蓄積電圧に比例している。このような低速(低周波
数)の書換による表示を行なった場合、画素ノード11
06の電圧が大きく変化し、反射率(輝度)が大きく変
化し、この電圧低下が、表示画面上でのフリッカとして
観測され、表示画像品質が劣化する。また、この液晶素
子に印加される平均電圧が低下し、良好なコントラスト
を得ることができなくなりまた低速書換えによる表示応
答速度も低下するなど表示品質が低下するという問題が
生じる。
【0024】上述のような動作周波数の低減による表示
品質の劣化の問題を低減するための手法の1つが、特開
平9−258168号公報に提案されている。
品質の劣化の問題を低減するための手法の1つが、特開
平9−258168号公報に提案されている。
【0025】図48は、従来の液晶表示装置の1画素の
構成を概略的に示す図である。図48において、表示画
素は、走査線1010上の信号Gmに従って選択的に導
通し、導通時データ信号線1011上のデータ信号Di
を内部ノード1133に伝達するサンプリングTFT1
131と、内部ノード1133と共通電極線1121の
間に接続される電圧保持容量素子1132と、内部ノー
ド1133の電圧に応答して選択的に導通し、導通時共
通電極線1121と透明電極1135とを電気的に接続
する画素駆動TFT1134と、対向電極駆動回路11
22からの駆動電圧Vcntを受ける対向電極1136
を含む。
構成を概略的に示す図である。図48において、表示画
素は、走査線1010上の信号Gmに従って選択的に導
通し、導通時データ信号線1011上のデータ信号Di
を内部ノード1133に伝達するサンプリングTFT1
131と、内部ノード1133と共通電極線1121の
間に接続される電圧保持容量素子1132と、内部ノー
ド1133の電圧に応答して選択的に導通し、導通時共
通電極線1121と透明電極1135とを電気的に接続
する画素駆動TFT1134と、対向電極駆動回路11
22からの駆動電圧Vcntを受ける対向電極1136
を含む。
【0026】この図48に示す表示画素が、行および列
方向にマトリクス状に配列される。共通電極線1121
は、この表示部に含まれる表示画素すべてに共通に結合
され、共通電極駆動回路1120からの共通電極電圧V
comを受ける。
方向にマトリクス状に配列される。共通電極線1121
は、この表示部に含まれる表示画素すべてに共通に結合
され、共通電極駆動回路1120からの共通電極電圧V
comを受ける。
【0027】対向電極1136は、表示画素パネル部に
形成される表示画素に共通に、対向基板上全面に形成さ
れる。透明電極1135および対向基板の外部の両側に
偏光板が配置され、また、それらの一方にバックライト
が配置される。この図48に示す表示画素は、1色の表
示画素であり、R、GおよびBの3色それぞれに対応し
てこの図48に示す表示画素が配置される。
形成される表示画素に共通に、対向基板上全面に形成さ
れる。透明電極1135および対向基板の外部の両側に
偏光板が配置され、また、それらの一方にバックライト
が配置される。この図48に示す表示画素は、1色の表
示画素であり、R、GおよびBの3色それぞれに対応し
てこの図48に示す表示画素が配置される。
【0028】次に、図48に示す表示画素の動作順序
を、図49に示す信号波形図を参照して説明する。走査
線選択回路により選択された走査線に、サンプリングT
FT1131のしきい値電圧以上の電圧が走査線101
0上に伝達されると、この走査線1010が選択され、
この走査線1010に接続される1行の画素が同時に選
択される。点順次方式においては、データ書込回路から
順次データ信号線1011上にデータ信号Diが伝達さ
れ、また線順次方式の場合、この走査線1010に接続
される表示画素に同時に、対応のデータ信号Diが伝達
される。
を、図49に示す信号波形図を参照して説明する。走査
線選択回路により選択された走査線に、サンプリングT
FT1131のしきい値電圧以上の電圧が走査線101
0上に伝達されると、この走査線1010が選択され、
この走査線1010に接続される1行の画素が同時に選
択される。点順次方式においては、データ書込回路から
順次データ信号線1011上にデータ信号Diが伝達さ
れ、また線順次方式の場合、この走査線1010に接続
される表示画素に同時に、対応のデータ信号Diが伝達
される。
【0029】データ信号線1011上のデータ信号Di
が、サンプリングTFT1131を介して電圧保持容量
素子1132を充電すると、内部ノード1133の電圧
Vmemが、書込まれたデータ信号Diに応じて変化す
る。図49においては、サンプリング時においてまず論
理Hレベルの書込データ電圧が伝達された場合を示す。
内部ノード1133の電圧レベルが論理Hレベルとなる
と、対応の画素駆動TFT1134が導通状態となり、
透明電極1135が共通電極線1121に結合され、こ
の透明電極1135の電圧Vdpが、共通電極線112
1上の電圧Vcomに等しくなる。
が、サンプリングTFT1131を介して電圧保持容量
素子1132を充電すると、内部ノード1133の電圧
Vmemが、書込まれたデータ信号Diに応じて変化す
る。図49においては、サンプリング時においてまず論
理Hレベルの書込データ電圧が伝達された場合を示す。
内部ノード1133の電圧レベルが論理Hレベルとなる
と、対応の画素駆動TFT1134が導通状態となり、
透明電極1135が共通電極線1121に結合され、こ
の透明電極1135の電圧Vdpが、共通電極線112
1上の電圧Vcomに等しくなる。
【0030】一方、対向電極駆動回路1122から対向
電極線1136へ与えられる対向電極電圧Vcntは、
各サンプリング周期ごとに、その極性が変化する(隣接
行において、信号電圧の極性を反転させ、フリッカの発
生を抑制する)。この対向電極電圧Vcntに従って、
透明電極1135と対向電極1136の間の電圧Vlc
dが変化し、液晶の配向状態が変化し、オン状態とな
る。
電極線1136へ与えられる対向電極電圧Vcntは、
各サンプリング周期ごとに、その極性が変化する(隣接
行において、信号電圧の極性を反転させ、フリッカの発
生を抑制する)。この対向電極電圧Vcntに従って、
透明電極1135と対向電極1136の間の電圧Vlc
dが変化し、液晶の配向状態が変化し、オン状態とな
る。
【0031】一方、サンプリング電圧Vmemが論理L
レベルのときには、画素駆動TFT1134が非導通状
態であり、表示電極となる透明電極1135と共通電極
線1121とが切離され、この対向電極1136上の電
圧(液晶駆動電圧Vcnt)は、液晶に印加されないた
め(液晶の電極間電圧は、論理Lレベルであり、液晶は
非導通状態を維持する)。
レベルのときには、画素駆動TFT1134が非導通状
態であり、表示電極となる透明電極1135と共通電極
線1121とが切離され、この対向電極1136上の電
圧(液晶駆動電圧Vcnt)は、液晶に印加されないた
め(液晶の電極間電圧は、論理Lレベルであり、液晶は
非導通状態を維持する)。
【0032】したがって、この図48に示す表示画素の
構成においては、表示状態を制御するための信号電圧と
して、電圧保持容量素子に印加されるデータ信号Diが
利用される。この電圧保持容量素子1132に一旦蓄積
された電荷は、対応の走査線1010が次に選択される
までの期間(1フレーム期間)において、このサンプリ
ングTFT1131およびサンプリングキャパシタ(電
圧保持容量素子)1132のリーク電流により徐々に減
少する。しかしながら、内部ノード1133の電圧が画
素駆動TFT1134のしきい値電圧を超えて低下する
までは、画素駆動TFT1134は導通状態を維持する
ため、透明電極1135と共通電極1121とは電気的
に結合され、その表示状態は変化しない。
構成においては、表示状態を制御するための信号電圧と
して、電圧保持容量素子に印加されるデータ信号Diが
利用される。この電圧保持容量素子1132に一旦蓄積
された電荷は、対応の走査線1010が次に選択される
までの期間(1フレーム期間)において、このサンプリ
ングTFT1131およびサンプリングキャパシタ(電
圧保持容量素子)1132のリーク電流により徐々に減
少する。しかしながら、内部ノード1133の電圧が画
素駆動TFT1134のしきい値電圧を超えて低下する
までは、画素駆動TFT1134は導通状態を維持する
ため、透明電極1135と共通電極1121とは電気的
に結合され、その表示状態は変化しない。
【0033】この図48に示す構成に従えば、表示内容
を書換える場合にのみ、走査線1010およびデータ信
号線1011を駆動することが要求される。画素素子の
表示状態を変更しない場合には、共通電極線1121お
よび対向電極1136の間にのみ、液晶駆動電圧(Vc
nt)を印加することにより、その表示状態を維持し、
走査線およびデータ信号線を駆動する必要性をなくし、
消費電力を低減することを図る。
を書換える場合にのみ、走査線1010およびデータ信
号線1011を駆動することが要求される。画素素子の
表示状態を変更しない場合には、共通電極線1121お
よび対向電極1136の間にのみ、液晶駆動電圧(Vc
nt)を印加することにより、その表示状態を維持し、
走査線およびデータ信号線を駆動する必要性をなくし、
消費電力を低減することを図る。
【0034】
【発明が解決しようとする課題】この図48に示す表示
画素の構成においては、データ信号(サンプリング電
圧)Vmemは、画素駆動TFT1134、電圧保持容
量素子1132における絶縁リーク電流、およびサンプ
リングTFT1131のオフリーク電流により徐々に低
下する。この内部ノード1133の電圧レベルが低下し
画素駆動TFT1134がオフ状態となると表示状態が
変化するため、その表示を変更しない場合には、周期的
にサンプリング電圧の書換(リフレッシュ)を行なう必
要がある。
画素の構成においては、データ信号(サンプリング電
圧)Vmemは、画素駆動TFT1134、電圧保持容
量素子1132における絶縁リーク電流、およびサンプ
リングTFT1131のオフリーク電流により徐々に低
下する。この内部ノード1133の電圧レベルが低下し
画素駆動TFT1134がオフ状態となると表示状態が
変化するため、その表示を変更しない場合には、周期的
にサンプリング電圧の書換(リフレッシュ)を行なう必
要がある。
【0035】図50は、従来の表示システムの構成の一
例を示す図である。図50において、この表示システム
は、画像の表示を制御するプロセッサ(CPU)120
0と、このプロセッサ1200の制御の下に、図示しな
い画像信号処理部からの画像データを格納しかつ順次格
納した画像データを出力する外部メモリ1202と、こ
の外部メモリ1202からの画像データに従って画像表
示を行なう表示装置1204を含む。
例を示す図である。図50において、この表示システム
は、画像の表示を制御するプロセッサ(CPU)120
0と、このプロセッサ1200の制御の下に、図示しな
い画像信号処理部からの画像データを格納しかつ順次格
納した画像データを出力する外部メモリ1202と、こ
の外部メモリ1202からの画像データに従って画像表
示を行なう表示装置1204を含む。
【0036】表示装置1204は、図48に示す表示画
素で構成される表示パネルを有する。外部メモリ120
2は、たとえばスタティック・ランダム・アクセス・メ
モリ(SRAM)またはビデオメモリで構成され、この
表示装置1204に対する画像データを格納する。表示
装置1204の表示状態が変化しない場合には、この外
部メモリ1202にリフレッシュ用の画像データが格納
されている。したがって、この表示装置1204におい
て、各表示画素のサンプリング電圧(保持電圧)Vme
mをリフレッシュする場合には、外部メモリ1202に
格納されている画像データを読出して表示装置1204
へ与える必要がある。この外部メモリ1202がSRA
Mで構成される場合、そのコストは比較的高く、また、
リフレッシュ時において、外部メモリ1202と表示装
置1204の間で画素データ信号が転送されるため、外
部メモリ1202と表示装置1204の間の配線および
外部メモリ1202内で電力が消費され、リフレッシュ
のための消費電力が大きいという問題が生じる。
素で構成される表示パネルを有する。外部メモリ120
2は、たとえばスタティック・ランダム・アクセス・メ
モリ(SRAM)またはビデオメモリで構成され、この
表示装置1204に対する画像データを格納する。表示
装置1204の表示状態が変化しない場合には、この外
部メモリ1202にリフレッシュ用の画像データが格納
されている。したがって、この表示装置1204におい
て、各表示画素のサンプリング電圧(保持電圧)Vme
mをリフレッシュする場合には、外部メモリ1202に
格納されている画像データを読出して表示装置1204
へ与える必要がある。この外部メモリ1202がSRA
Mで構成される場合、そのコストは比較的高く、また、
リフレッシュ時において、外部メモリ1202と表示装
置1204の間で画素データ信号が転送されるため、外
部メモリ1202と表示装置1204の間の配線および
外部メモリ1202内で電力が消費され、リフレッシュ
のための消費電力が大きいという問題が生じる。
【0037】それゆえ、この発明の目的は、表示品質を
劣化させることなく、消費電力を十分に低減することの
できる表示システムを構築することのできる表示装置を
提供することである。
劣化させることなく、消費電力を十分に低減することの
できる表示システムを構築することのできる表示装置を
提供することである。
【0038】この発明の他の目的は、表示システムのコ
ストおよびサイズを低減することのできる表示装置を提
供することである。
ストおよびサイズを低減することのできる表示装置を提
供することである。
【0039】この発明のさらに他の目的は、長期にわた
って安定に表示画像を維持する事のできる低消費電流の
表示装置を提供する事である。
って安定に表示画像を維持する事のできる低消費電流の
表示装置を提供する事である。
【0040】
【課題を解決するための手段】この発明に係る表示装置
は、行および列に配列される複数の画素素子と、各行に
対応して配置され、各々が対応の行の画素素子に対する
選択信号を伝達する複数の走査線と、画素素子の列に対
応して配置され、各々が対応の列の画素素子に対するデ
ータ信号を伝達する複数のデータ線と、各画素素子に対
応して配置され、各々が対応の走査線の信号に応答して
対応のデータ線のデータ信号を対応の画素素子に伝達す
る複数の選択トランジスタと、各選択トランジスタに対
応して配置され、対応の画素素子に印加される電圧を保
持するための保持容量素子と、リフレッシュ指示に応答
して、保持容量素子の保持電圧を読出し、該読出した保
持電圧信号に従って該保持容量素子の保持電圧をリフレ
ッシュするためのリフレッシュ手段を備える。
は、行および列に配列される複数の画素素子と、各行に
対応して配置され、各々が対応の行の画素素子に対する
選択信号を伝達する複数の走査線と、画素素子の列に対
応して配置され、各々が対応の列の画素素子に対するデ
ータ信号を伝達する複数のデータ線と、各画素素子に対
応して配置され、各々が対応の走査線の信号に応答して
対応のデータ線のデータ信号を対応の画素素子に伝達す
る複数の選択トランジスタと、各選択トランジスタに対
応して配置され、対応の画素素子に印加される電圧を保
持するための保持容量素子と、リフレッシュ指示に応答
して、保持容量素子の保持電圧を読出し、該読出した保
持電圧信号に従って該保持容量素子の保持電圧をリフレ
ッシュするためのリフレッシュ手段を備える。
【0041】好ましくは、リフレッシュ手段は、リフレ
ッシュ指示に応答して、データ線を各列に対応して配置
される相補信号線対に結合するためのデータ線制御回路
と、このリフレッシュ指示に応答して、選択的に活性化
され、活性化時各相補信号線対を所定電圧レベルに設定
する電圧設定手段と、リフレッシュ指示に応答して選択
的に活性化され、活性化時対応の相補信号線対の電圧を
差動増幅する差動増幅手段と、リフレッシュ指示に応答
して、走査線を所定の順序で選択状態に駆動してデータ
線に対応の保持容量素子を結合する行選択手段を備え
る。
ッシュ指示に応答して、データ線を各列に対応して配置
される相補信号線対に結合するためのデータ線制御回路
と、このリフレッシュ指示に応答して、選択的に活性化
され、活性化時各相補信号線対を所定電圧レベルに設定
する電圧設定手段と、リフレッシュ指示に応答して選択
的に活性化され、活性化時対応の相補信号線対の電圧を
差動増幅する差動増幅手段と、リフレッシュ指示に応答
して、走査線を所定の順序で選択状態に駆動してデータ
線に対応の保持容量素子を結合する行選択手段を備え
る。
【0042】これに代えて、好ましくは、リフレッシュ
手段は、所定の周期でリフレッシュ要求をリフレッシュ
指示に応答して生成するリフレッシュ要求手段と、リフ
レッシュ指示に応答してデータ線を選択的に、各列に対
応して配置される相補信号を生成する相補信号線対に結
合するデータ線制御回路と、各相補信号線対に対応して
配置され、活性化時対応の相補信号線対を所定電位レベ
ルに設定する電圧初期設定回路と、活性化時、各相補信
号線対の電位を差動増幅する差動増幅回路と、リフレッ
シュ要求信号に応答して、複数の走査線を所定の順序で
選択して保持容量素子を対応のデータ線に結合する行選
択手段と、リフレッシュ要求信号に応答して、電圧初期
設定手段および差動増幅手段を選択的に活性化するリフ
レッシュ制御回路を備える。
手段は、所定の周期でリフレッシュ要求をリフレッシュ
指示に応答して生成するリフレッシュ要求手段と、リフ
レッシュ指示に応答してデータ線を選択的に、各列に対
応して配置される相補信号を生成する相補信号線対に結
合するデータ線制御回路と、各相補信号線対に対応して
配置され、活性化時対応の相補信号線対を所定電位レベ
ルに設定する電圧初期設定回路と、活性化時、各相補信
号線対の電位を差動増幅する差動増幅回路と、リフレッ
シュ要求信号に応答して、複数の走査線を所定の順序で
選択して保持容量素子を対応のデータ線に結合する行選
択手段と、リフレッシュ要求信号に応答して、電圧初期
設定手段および差動増幅手段を選択的に活性化するリフ
レッシュ制御回路を備える。
【0043】好ましくは、各列に対応して、相補データ
信号が伝達される第1および第2のデータ線の対が配置
され、各前記走査線と前記第1および第2のデータ線の
一方との交差部に対応して前記画素素子が配置される。
このデータ線対に対応して相補信号線対が配置される。
信号が伝達される第1および第2のデータ線の対が配置
され、各前記走査線と前記第1および第2のデータ線の
一方との交差部に対応して前記画素素子が配置される。
このデータ線対に対応して相補信号線対が配置される。
【0044】これに代えて、好ましくは、走査線が、各
行に対応して2本配列され、各行の画素素子は、隣接列
の画素素子が異なる走査線に結合され、隣接列のデータ
線が対をなすように配列される。データ線制御回路は、
対をなすデータ線を前記相補信号線対に結合し、行選択
手段は、リフレッシュ指示の活性化時、選択行において
1本の走査線を選択して、各データ線対において1つの
データ線に保持容量素子を結合し、かつこの行選択手段
は、リフレッシュ指示の非活性化時においては、選択行
において2本の走査線を同時に選択する。
行に対応して2本配列され、各行の画素素子は、隣接列
の画素素子が異なる走査線に結合され、隣接列のデータ
線が対をなすように配列される。データ線制御回路は、
対をなすデータ線を前記相補信号線対に結合し、行選択
手段は、リフレッシュ指示の活性化時、選択行において
1本の走査線を選択して、各データ線対において1つの
データ線に保持容量素子を結合し、かつこの行選択手段
は、リフレッシュ指示の非活性化時においては、選択行
において2本の走査線を同時に選択する。
【0045】好ましくは、各行において、対をなすデー
タ線において画素素子が結合されるデータ線と異なるデ
ータ線に対し、対応の保持容量素子と相補なデータに対
応する電圧を保持する基準容量素子が接続される。
タ線において画素素子が結合されるデータ線と異なるデ
ータ線に対し、対応の保持容量素子と相補なデータに対
応する電圧を保持する基準容量素子が接続される。
【0046】好ましくは、各画素素子は、対応の保持容
量素子の保持電圧に従って選択的に導通し、導通時共通
電極を対応の画素電極に結合する駆動トランジスタと、
この画素電極と対向電極との間に配置される液晶素子と
を備える。
量素子の保持電圧に従って選択的に導通し、導通時共通
電極を対応の画素電極に結合する駆動トランジスタと、
この画素電極と対向電極との間に配置される液晶素子と
を備える。
【0047】また、好ましくは、リフレッシュ手段は、
さらに相補信号線対の差動増幅手段により増幅されたデ
ータ信号を反転して対応の電圧保持容量素子に書き込む
反転書込手段と、画素素子の主電極に印加される電圧の
極性を反転する極性反転手段とを備える。
さらに相補信号線対の差動増幅手段により増幅されたデ
ータ信号を反転して対応の電圧保持容量素子に書き込む
反転書込手段と、画素素子の主電極に印加される電圧の
極性を反転する極性反転手段とを備える。
【0048】好ましくは、このリフレッシュ手段は、画
素素子のすべてについて1回の保持電圧のリフレッシュ
が完了すると、各画素素子の主電極の電圧極性を反転す
る。
素素子のすべてについて1回の保持電圧のリフレッシュ
が完了すると、各画素素子の主電極の電圧極性を反転す
る。
【0049】好ましくは、画素素子は、対応の保持容量
素子の保持電圧を一方電極に受ける液晶素子を含む。
素子の保持電圧を一方電極に受ける液晶素子を含む。
【0050】また、これに代えて、好ましくは、画素素
子は、保持容量素子の保持電圧に従って電流が供給され
て発光する素子を含む。
子は、保持容量素子の保持電圧に従って電流が供給され
て発光する素子を含む。
【0051】好ましくは、複数のデータ線は隣接データ
線が対をなすように配置される。この構成において、リ
フレッシュ手段は、好ましくは、リフレッシュ指示の活
性化時においては対をなすデータ線の一方のデータ線に
保持容量素子を結合し、該一方のデータ線に結合された
保持容量素子の保持電圧をリフレッシュし、かつ通常動
作モード時において、対をなすデータ線の両データ線に
保持容量素子を結合してこれらの保持容量素子にデータ
線に伝達されたデータを書込む。
線が対をなすように配置される。この構成において、リ
フレッシュ手段は、好ましくは、リフレッシュ指示の活
性化時においては対をなすデータ線の一方のデータ線に
保持容量素子を結合し、該一方のデータ線に結合された
保持容量素子の保持電圧をリフレッシュし、かつ通常動
作モード時において、対をなすデータ線の両データ線に
保持容量素子を結合してこれらの保持容量素子にデータ
線に伝達されたデータを書込む。
【0052】好ましくは、テストモード時、対をなすデ
ータ線の電圧信号を外部へ伝達するためのテスト出力回
路がさらに設けられる。
ータ線の電圧信号を外部へ伝達するためのテスト出力回
路がさらに設けられる。
【0053】好ましくは、このテストモード時、対をな
すデータ線に保持容量素子から読み出された電圧信号を
差動増幅してラッチする差動増幅回路がさらに設けられ
る。テスト出力回路は、各対をなすデータ線の増幅電圧
信号を外部に出力する。
すデータ線に保持容量素子から読み出された電圧信号を
差動増幅してラッチする差動増幅回路がさらに設けられ
る。テスト出力回路は、各対をなすデータ線の増幅電圧
信号を外部に出力する。
【0054】表示装置内部において電圧保持容量素子
(サンプリング容量)が保持する電圧を読出し、該読出
した電圧に従って電圧保持容量素子の保持する電圧を復
元(再生)しており、表示装置内部において正確に保持
電圧をリフレッシュすることができ、外部にリフレッシ
ュ用のメモリを設ける必要がなく、消費電力およびシス
テムサイズを低減することができる。
(サンプリング容量)が保持する電圧を読出し、該読出
した電圧に従って電圧保持容量素子の保持する電圧を復
元(再生)しており、表示装置内部において正確に保持
電圧をリフレッシュすることができ、外部にリフレッシ
ュ用のメモリを設ける必要がなく、消費電力およびシス
テムサイズを低減することができる。
【0055】また、通常のDRAM(ダイナミック・ラ
ンダム・アクセス・メモリ)において用いられるリフレ
ッシュ制御回路と同様の構成を利用することにより、複
雑な回路構成を新規に配置する必要がなく、信頼性の高
いリフレッシュ回路を実現することができる。
ンダム・アクセス・メモリ)において用いられるリフレ
ッシュ制御回路と同様の構成を利用することにより、複
雑な回路構成を新規に配置する必要がなく、信頼性の高
いリフレッシュ回路を実現することができる。
【0056】また、表示素子としては、液晶素子、エレ
クトロルミネッセンス素子、および液晶駆動回路付画素
素子のいずれが用いられても、正確に保持電圧のリフレ
ッシュを実行することができる。
クトロルミネッセンス素子、および液晶駆動回路付画素
素子のいずれが用いられても、正確に保持電圧のリフレ
ッシュを実行することができる。
【0057】
【発明の実施の形態】[実施の形態1]
【0058】図1は、この発明の実施の形態1に従う表
示装置の全体の構成を概略的に示す図である。図1にお
いて、表示装置は、行列状に配列される複数の画素素子
を含む表示画素マトリクス1と、この表示画素マトリク
ス1の行を順次選択する垂直走査回路2と、水平クロッ
ク信号HCKに従って、表示画素マトリクス1の列を順
次選択する信号を生成する水平走査回路3と、画像デー
タDを伝達する画像データバス(共通画像データ線)7
の各信号線を水平走査回路3の出力信号に従って表示画
素マトリクス1の列に順次接続する接続制御回路4と、
活性化時表示画素マトリクス1の各表示画素の保持電圧
をリフレッシュするリフレッシュ回路6と、リフレッシ
ュ指示信号SELFに従ってリフレッシュ回路6、接続
制御回路4および垂直走査回路2の動作を制御するリフ
レッシュ制御回路5を含む。
示装置の全体の構成を概略的に示す図である。図1にお
いて、表示装置は、行列状に配列される複数の画素素子
を含む表示画素マトリクス1と、この表示画素マトリク
ス1の行を順次選択する垂直走査回路2と、水平クロッ
ク信号HCKに従って、表示画素マトリクス1の列を順
次選択する信号を生成する水平走査回路3と、画像デー
タDを伝達する画像データバス(共通画像データ線)7
の各信号線を水平走査回路3の出力信号に従って表示画
素マトリクス1の列に順次接続する接続制御回路4と、
活性化時表示画素マトリクス1の各表示画素の保持電圧
をリフレッシュするリフレッシュ回路6と、リフレッシ
ュ指示信号SELFに従ってリフレッシュ回路6、接続
制御回路4および垂直走査回路2の動作を制御するリフ
レッシュ制御回路5を含む。
【0059】水平走査回路3は、水平走査開始指示信号
STHに応答して、水平クロック信号HCKに従ってシ
フト動作を行なう水平シフトレジスタ11と、この水平
シフトレジスタ11の各出力信号を受け、多重選択禁止
信号INHHに従って、選択列が非選択状態となった後
に次の選択列を選択状態へ駆動するバッファ回路12を
含む。
STHに応答して、水平クロック信号HCKに従ってシ
フト動作を行なう水平シフトレジスタ11と、この水平
シフトレジスタ11の各出力信号を受け、多重選択禁止
信号INHHに従って、選択列が非選択状態となった後
に次の選択列を選択状態へ駆動するバッファ回路12を
含む。
【0060】水平シフトレジスタ11は、水平シフトク
ロック信号HCKに従ってシフト動作を行なっている。
したがって、隣接出力ノードが同時に論理Hレベルの選
択状態となる期間が存在する。バッファ回路12は、シ
フト動作時において選択列が変更される場合に隣接出力
ノードが同時に論理Hレベルとなるのを禁止し、表示画
素マトリクス1における列の多重選択を禁止する。水平
走査開始指示信号STHは、水平走査期間ごとに発生さ
れ、この水平走査開始指示信号STHを水平走査シフト
レジスタ11内をシフトする事により列選択信号が生成
され、各選択行において、先頭列からの走査が行われ
る。
ロック信号HCKに従ってシフト動作を行なっている。
したがって、隣接出力ノードが同時に論理Hレベルの選
択状態となる期間が存在する。バッファ回路12は、シ
フト動作時において選択列が変更される場合に隣接出力
ノードが同時に論理Hレベルとなるのを禁止し、表示画
素マトリクス1における列の多重選択を禁止する。水平
走査開始指示信号STHは、水平走査期間ごとに発生さ
れ、この水平走査開始指示信号STHを水平走査シフト
レジスタ11内をシフトする事により列選択信号が生成
され、各選択行において、先頭列からの走査が行われ
る。
【0061】接続制御回路4は、通常動作時において
は、画像データバス(共通画像データ線)7上の画像デ
ータDを、バッファ回路12の列選択信号に従って順次
選択して表示画素マトリクス1の対応の選択列上に伝達
する。一方、リフレッシュモード時においては、この接
続制御回路4は、非導通状態となり、画像データバス7
と表示画素マトリクス1とを切離す。
は、画像データバス(共通画像データ線)7上の画像デ
ータDを、バッファ回路12の列選択信号に従って順次
選択して表示画素マトリクス1の対応の選択列上に伝達
する。一方、リフレッシュモード時においては、この接
続制御回路4は、非導通状態となり、画像データバス7
と表示画素マトリクス1とを切離す。
【0062】リフレッシュ制御回路5は、リフレッシュ
指示信号SELFの活性化時リフレッシュ回路6を活性
化し、表示画素マトリクス1の各表示画素素子の保持電
圧のリフレッシュを実行する。このリフレッシュ制御回
路5は、リフレッシュモード時においては、垂直走査回
路2に対するシフト動作に必要な各種クロック信号を生
成する。これらのリフレッシュ時における垂直走査回路
2の垂直走査を行なうための信号は、リフレッシュ時に
おいても外部から与えられても良い。
指示信号SELFの活性化時リフレッシュ回路6を活性
化し、表示画素マトリクス1の各表示画素素子の保持電
圧のリフレッシュを実行する。このリフレッシュ制御回
路5は、リフレッシュモード時においては、垂直走査回
路2に対するシフト動作に必要な各種クロック信号を生
成する。これらのリフレッシュ時における垂直走査回路
2の垂直走査を行なうための信号は、リフレッシュ時に
おいても外部から与えられても良い。
【0063】シフトクロック切換回路8は、活性状態の
リフレッシュ指示信号SELFに従って、外部からのシ
フトクロック信号に代えてリフレッシュ制御回路5から
のシフトクロック信号を垂直走査回路2へ与える。
リフレッシュ指示信号SELFに従って、外部からのシ
フトクロック信号に代えてリフレッシュ制御回路5から
のシフトクロック信号を垂直走査回路2へ与える。
【0064】この図1に示す表示装置においては、リフ
レッシュ回路6により、表示画素マトリクス1における
画素素子の保持電圧がリフレッシュされるため、外部に
設けられたメモリの記憶するリフレッシュ用のデータを
新たにリフレッシュのために読み出して表示画素マトリ
クス1へ書込む必要がなく、消費電力が低減される(単
に内部動作が行なわれるだけであるため)。また、表示
装置内部において保持電圧をリフレッシュする事ができ
るため、表示画像の変更がない場合において、内部にお
いて長期にわたって保持電圧を保持でき、表示画像の品
質低下が生じるのを防止する事ができる。
レッシュ回路6により、表示画素マトリクス1における
画素素子の保持電圧がリフレッシュされるため、外部に
設けられたメモリの記憶するリフレッシュ用のデータを
新たにリフレッシュのために読み出して表示画素マトリ
クス1へ書込む必要がなく、消費電力が低減される(単
に内部動作が行なわれるだけであるため)。また、表示
装置内部において保持電圧をリフレッシュする事ができ
るため、表示画像の変更がない場合において、内部にお
いて長期にわたって保持電圧を保持でき、表示画像の品
質低下が生じるのを防止する事ができる。
【0065】図2は、図1に示す表示画素マトリクス1
およびリフレッシュ回路6の構成をより具体的に示す図
である。図2において、表示画素マトリクス1において
は、行列状に画素PXが配列される。図2においては、
2行2列に配列される画素PX11,PX12,PX2
1およびPX22を代表的に示す。列方向に整列する画
素PX(画素PX11…を代表的に示す)に対して、相
補データ信号線DLおよびDRが配置される。すなわ
ち、画素PX11およびPX21に対しては、データ信
号線DL1およびDR1が配置され、画素PX12およ
びPX22に対しては、データ信号線DL2およびDR
2が配置される。
およびリフレッシュ回路6の構成をより具体的に示す図
である。図2において、表示画素マトリクス1において
は、行列状に画素PXが配列される。図2においては、
2行2列に配列される画素PX11,PX12,PX2
1およびPX22を代表的に示す。列方向に整列する画
素PX(画素PX11…を代表的に示す)に対して、相
補データ信号線DLおよびDRが配置される。すなわ
ち、画素PX11およびPX21に対しては、データ信
号線DL1およびDR1が配置され、画素PX12およ
びPX22に対しては、データ信号線DL2およびDR
2が配置される。
【0066】これらの画素PXは、各行ごとに、対応の
相補データ線対のデータ線に交互に接続される。すなわ
ち、奇数行に配列される画素PX11およびPX12
は、データ信号線DL1およびDL2にそれぞれ結合さ
れ、偶数行に配列される画素PX21およびPX22
は、データ信号線DR1およびDR2にそれぞれ接続さ
れる。これらの画素PXに対し共通に共通電極線15を
介して共通電極電圧Vcomが与えられる。
相補データ線対のデータ線に交互に接続される。すなわ
ち、奇数行に配列される画素PX11およびPX12
は、データ信号線DL1およびDL2にそれぞれ結合さ
れ、偶数行に配列される画素PX21およびPX22
は、データ信号線DR1およびDR2にそれぞれ接続さ
れる。これらの画素PXに対し共通に共通電極線15を
介して共通電極電圧Vcomが与えられる。
【0067】画素PXは、同一構成を有するため、図2
においては、画素PX11に対してのみ、その構成要素
に参照番号を付す。図2において、画素PX(PX1
1)は、走査線上の走査信号V1に従って導通し、対応
のデータ信号線DL1を内部ノードに結合するサンプリ
ングTFT25と、このサンプリングTFT25を介し
て与えられた電圧信号を保持するための電圧保持容量素
子26と、電圧保持容量素子26により保持された電圧
により内部に含まれた液晶素子を駆動する液晶駆動部2
7を含む。
においては、画素PX11に対してのみ、その構成要素
に参照番号を付す。図2において、画素PX(PX1
1)は、走査線上の走査信号V1に従って導通し、対応
のデータ信号線DL1を内部ノードに結合するサンプリ
ングTFT25と、このサンプリングTFT25を介し
て与えられた電圧信号を保持するための電圧保持容量素
子26と、電圧保持容量素子26により保持された電圧
により内部に含まれた液晶素子を駆動する液晶駆動部2
7を含む。
【0068】電圧保持容量素子26の主電極には、共通
電極線を介して共通電極電圧Vcomが与えられる。
電極線を介して共通電極電圧Vcomが与えられる。
【0069】奇数行に配列される画素PX11、PX1
2においては、サンプリングTFT25が、データ信号
線DL(DL1,DL2)に与えられたデータ信号を取
込み内部ノードに伝達する。一方、偶数行に配列された
画素PX21,PX22においては、サンプリングTF
T25が、データ信号線DR(DR1,DR2)に伝達
されたデータ信号を内部ノードに伝達する。
2においては、サンプリングTFT25が、データ信号
線DL(DL1,DL2)に与えられたデータ信号を取
込み内部ノードに伝達する。一方、偶数行に配列された
画素PX21,PX22においては、サンプリングTF
T25が、データ信号線DR(DR1,DR2)に伝達
されたデータ信号を内部ノードに伝達する。
【0070】画素の各列に対応して相補データ線対を配
置することにより、各画素PXに格納された書込電圧
(保持電圧)を読み出して差動増幅して元の保持電圧を
復元し、各画素PXの保持電圧をリフレッシュする。
置することにより、各画素PXに格納された書込電圧
(保持電圧)を読み出して差動増幅して元の保持電圧を
復元し、各画素PXの保持電圧をリフレッシュする。
【0071】接続制御回路4は、相補データ信号線対D
LおよびDRに対応して設けられる切換回路SG(SG
1,SG2)を含む。切換回路SG1およびSG2へ
は、それぞれ、図1に示すバッファ回路12からの列選
択信号(水平走査信号)H1およびH2がそれぞれ与え
られる。これらの切換回路SG1およびSG2は、選択
走査線に応じて活性化される左イネーブル信号LEと右
イネーブル信号REとに従って共通画像データ線7と相
補データ信号線DLおよびDRの接続を切換える。な
お、画像データバス7においては、3色それぞれに対し
て画像データが転送されるが、図2においては、1色の
画像データに対する構成を示しているため、画像データ
バス7を以下、共通画像データ線7と称す。
LおよびDRに対応して設けられる切換回路SG(SG
1,SG2)を含む。切換回路SG1およびSG2へ
は、それぞれ、図1に示すバッファ回路12からの列選
択信号(水平走査信号)H1およびH2がそれぞれ与え
られる。これらの切換回路SG1およびSG2は、選択
走査線に応じて活性化される左イネーブル信号LEと右
イネーブル信号REとに従って共通画像データ線7と相
補データ信号線DLおよびDRの接続を切換える。な
お、画像データバス7においては、3色それぞれに対し
て画像データが転送されるが、図2においては、1色の
画像データに対する構成を示しているため、画像データ
バス7を以下、共通画像データ線7と称す。
【0072】これらの切換回路SG1およびSG2は、
同一構成を有するため、図2においては、切換回路SG
1に対して、その構成要素に対し参照番号を付す。
同一構成を有するため、図2においては、切換回路SG
1に対して、その構成要素に対し参照番号を付す。
【0073】切換回路SG1は、通常動作モード指示信
号NORMと左イネーブル信号LEと列選択信号H1と
を受けるAND回路21と、AND回路21の出力信号
が論理Hレベルのとき導通し、導通時共通画像データ線
7を内部データ信号線DL1に接続する転送ゲート22
と、通常動作モード指示信号NORMと右イネーブル信
号REと水平走査信号H1とを受けるAND回路23
と、AND回路23の出力信号が論理Hレベルのとき導
通し、導通時共通画像データ線7を内部データ信号線D
R1に接続する転送ゲート24を含む。
号NORMと左イネーブル信号LEと列選択信号H1と
を受けるAND回路21と、AND回路21の出力信号
が論理Hレベルのとき導通し、導通時共通画像データ線
7を内部データ信号線DL1に接続する転送ゲート22
と、通常動作モード指示信号NORMと右イネーブル信
号REと水平走査信号H1とを受けるAND回路23
と、AND回路23の出力信号が論理Hレベルのとき導
通し、導通時共通画像データ線7を内部データ信号線D
R1に接続する転送ゲート24を含む。
【0074】通常動作モード指示信号NORMは、これ
らの画素PXに画素データを書込む通常動作モード時に
活性化され、リフレッシュを行なうリフレッシュモード
時においては、ローレベルに設定される。左イネーブル
信号LEは、奇数行の画素が選択されるときに活性化さ
れ(ハイレベルに設定され)、右イネーブル信号REは
偶数行の画素が選択されるときにハイレベルに設定され
る。これらの右イネーブル信号REおよび左イネーブル
信号LEは、したがって走査線上の行選択信号(垂直走
査信号)V1,V2に従って活性化される。すなわち、
左イネーブル信号LEは、偶数行の走査線上に伝達され
る行選択信号V1(VO)が活性状態のときに活性化さ
れ、右イネーブル信号REは、奇数行の行選択信号V2
(VE)が活性化されるときに活性化される。
らの画素PXに画素データを書込む通常動作モード時に
活性化され、リフレッシュを行なうリフレッシュモード
時においては、ローレベルに設定される。左イネーブル
信号LEは、奇数行の画素が選択されるときに活性化さ
れ(ハイレベルに設定され)、右イネーブル信号REは
偶数行の画素が選択されるときにハイレベルに設定され
る。これらの右イネーブル信号REおよび左イネーブル
信号LEは、したがって走査線上の行選択信号(垂直走
査信号)V1,V2に従って活性化される。すなわち、
左イネーブル信号LEは、偶数行の走査線上に伝達され
る行選択信号V1(VO)が活性状態のときに活性化さ
れ、右イネーブル信号REは、奇数行の行選択信号V2
(VE)が活性化されるときに活性化される。
【0075】これにより、各画素列に対応して相補内部
データ信号線対を配置した場合においても、正確に、垂
直走査信号(行選択信号)Vおよび水平走査信号(列選
択信号)Hに従って各画素に通常動作モード時において
画素データを書込むことができる。
データ信号線対を配置した場合においても、正確に、垂
直走査信号(行選択信号)Vおよび水平走査信号(列選
択信号)Hに従って各画素に通常動作モード時において
画素データを書込むことができる。
【0076】リフレッシュ回路6は、相補データ信号線
DLおよびDRに対応して設けられる相補信号線CLお
よびCRと、リフレッシュ指示信号SELFの活性化時
導通し、相補データ信号線DLおよびDRを相補信号線
CLおよびCRに接続する分離ゲートIG(IG1,I
G2)と、相補信号線CLおよびCRの対それぞれに対
応して設けられ、活性化時対応の相補信号線CLおよび
CRの信号を差動増幅しかつラッチするセンスアンプS
Aと、相補信号線CLおよびCRに対応して設けられ、
活性化時対応の相補信号線CLおよびCRを所定のプリ
チャージ電圧VMにプリチャージしかつイコライズする
プリチャージ/イコライズ回路PEQを含む。
DLおよびDRに対応して設けられる相補信号線CLお
よびCRと、リフレッシュ指示信号SELFの活性化時
導通し、相補データ信号線DLおよびDRを相補信号線
CLおよびCRに接続する分離ゲートIG(IG1,I
G2)と、相補信号線CLおよびCRの対それぞれに対
応して設けられ、活性化時対応の相補信号線CLおよび
CRの信号を差動増幅しかつラッチするセンスアンプS
Aと、相補信号線CLおよびCRに対応して設けられ、
活性化時対応の相補信号線CLおよびCRを所定のプリ
チャージ電圧VMにプリチャージしかつイコライズする
プリチャージ/イコライズ回路PEQを含む。
【0077】分離ゲートIG(IG1,IG2)は、リ
フレッシュ指示信号SELFの活性化時導通し、データ
信号線DLおよびDRを相補信号線CLおよびCRにそ
れぞれ接続する転送ゲート28および29を含む。この
リフレッシュ指示信号SELFは通常動作モード指示信
号NORMと相補な信号であり、通常動作時において
は、このリフレッシュ指示信号SELFは論理論理Lレ
ベルの非活性状態にあり、分離ゲートIG(IG1,I
G2)は、非導通状態にあり、相補信号線CLおよびC
Rは対応の相補データ信号線DLおよびDRから分離さ
れる。
フレッシュ指示信号SELFの活性化時導通し、データ
信号線DLおよびDRを相補信号線CLおよびCRにそ
れぞれ接続する転送ゲート28および29を含む。この
リフレッシュ指示信号SELFは通常動作モード指示信
号NORMと相補な信号であり、通常動作時において
は、このリフレッシュ指示信号SELFは論理論理Lレ
ベルの非活性状態にあり、分離ゲートIG(IG1,I
G2)は、非導通状態にあり、相補信号線CLおよびC
Rは対応の相補データ信号線DLおよびDRから分離さ
れる。
【0078】センスアンプSAは、ゲートおよびドレイ
ンが交差結合されかつそれらの共通ソースにセンスアン
プ駆動信号φPを受けるPチャネルTFT(薄膜トラン
ジスタ)30および31と、そのゲートおよびドレイン
が交差結合されかつ共通ソースにセンスアンプ駆動信号
φNを受けるNチャネルTFT32および33を含む。
TFT30および32がインバータ回路を構成し、TF
T31および33が別のインバータ回路を構成し、この
センスアンプSAは、活性化時、相補信号線CLおよび
CRの電位を差動増幅してラッチする。
ンが交差結合されかつそれらの共通ソースにセンスアン
プ駆動信号φPを受けるPチャネルTFT(薄膜トラン
ジスタ)30および31と、そのゲートおよびドレイン
が交差結合されかつ共通ソースにセンスアンプ駆動信号
φNを受けるNチャネルTFT32および33を含む。
TFT30および32がインバータ回路を構成し、TF
T31および33が別のインバータ回路を構成し、この
センスアンプSAは、活性化時、相補信号線CLおよび
CRの電位を差動増幅してラッチする。
【0079】プリチャージ/イコライズ回路PEQは、
プリチャージ/イコライズ信号φPEの活性化時導通
し、相補信号線CLおよびCRを電気的に短絡するNチ
ャネルMOSトランジスタ34と、プリチャージ/イコ
ライズ指示信号φPEの活性化時導通し、相補信号線C
LおよびCRへそれぞれプリチャージ電圧VMを伝達す
るNチャネルTFT35および36を含む。このプリチ
ャージ電圧VMは、画素PXに書込まれる論理H(ハ
イ)レベル電圧および論理L(ロー)レベル電圧の中間
の電圧レベルに設定される。
プリチャージ/イコライズ信号φPEの活性化時導通
し、相補信号線CLおよびCRを電気的に短絡するNチ
ャネルMOSトランジスタ34と、プリチャージ/イコ
ライズ指示信号φPEの活性化時導通し、相補信号線C
LおよびCRへそれぞれプリチャージ電圧VMを伝達す
るNチャネルTFT35および36を含む。このプリチ
ャージ電圧VMは、画素PXに書込まれる論理H(ハ
イ)レベル電圧および論理L(ロー)レベル電圧の中間
の電圧レベルに設定される。
【0080】内部データ信号線DLおよびDRにおいて
は、ほぼ同数の画素が接続される。通常、走査線は51
2本などの偶数本であり、これらの内部データ信号線D
LおよびDRに、同数の画素PXを接続することがで
き、応じて、これらの内部データ信号線DLおよびDR
の寄生容量の大きさを同じとすることができる。
は、ほぼ同数の画素が接続される。通常、走査線は51
2本などの偶数本であり、これらの内部データ信号線D
LおよびDRに、同数の画素PXを接続することがで
き、応じて、これらの内部データ信号線DLおよびDR
の寄生容量の大きさを同じとすることができる。
【0081】図3は、図2に示す画素PXに含まれる液
晶駆動部27の構成を概略的に示す図である。図3にお
いて、液晶駆動部27は、内部画素ノード27cの電圧
レベルに応答して選択的に導通し、導通時共通電極線1
5を透明電極(画素電極)27bに電気的に接続する画素
駆動トランジスタ(TFT)27aを含む。
晶駆動部27の構成を概略的に示す図である。図3にお
いて、液晶駆動部27は、内部画素ノード27cの電圧
レベルに応答して選択的に導通し、導通時共通電極線1
5を透明電極(画素電極)27bに電気的に接続する画素
駆動トランジスタ(TFT)27aを含む。
【0082】この透明電極27bに対向して対向電極4
0が設けられ、この対向電極40には、液晶駆動電圧V
cntが与えられる。この対向電極40は、表示画素マ
トリクス1の対向基板全面にわたって各画素に対向して
配置される。図3においては、1つの画素の透明電極2
7bに対向して配置される対向電極40の部分を破線で
示す。内部画素ノード27cが電圧保持容量素子26の
電圧保持電極に接続される。
0が設けられ、この対向電極40には、液晶駆動電圧V
cntが与えられる。この対向電極40は、表示画素マ
トリクス1の対向基板全面にわたって各画素に対向して
配置される。図3においては、1つの画素の透明電極2
7bに対向して配置される対向電極40の部分を破線で
示す。内部画素ノード27cが電圧保持容量素子26の
電圧保持電極に接続される。
【0083】図4は、液晶駆動部27の断面構造の1例
を概略的に示す図である。この図4に示す液晶駆動部の
構成は、透過型液晶の構造を示す。しかしながら、他の
反射型液晶構造が用いられてもよい。図4において、液
晶駆動部27は、ガラス基板43上に形成される透明電
極(ITO)27bと、この透明電極27bと同様ガラ
ス基板43上に形成される画素駆動TFT27aと、透
明電極27b上に形成される液晶44と、液晶44上に
各画素に共通に基板全面にわたって形成される対向電極
40と、対向電極40上に形成されるカラーフィルタ4
2を含む。この対向電極40においては、隣接画素を分
離するためのブラックマトリクスを形成する金属層41
が形成される。カラーフィルタ42においては、R、G
およびBの各カラーフィルタが配置される。
を概略的に示す図である。この図4に示す液晶駆動部の
構成は、透過型液晶の構造を示す。しかしながら、他の
反射型液晶構造が用いられてもよい。図4において、液
晶駆動部27は、ガラス基板43上に形成される透明電
極(ITO)27bと、この透明電極27bと同様ガラ
ス基板43上に形成される画素駆動TFT27aと、透
明電極27b上に形成される液晶44と、液晶44上に
各画素に共通に基板全面にわたって形成される対向電極
40と、対向電極40上に形成されるカラーフィルタ4
2を含む。この対向電極40においては、隣接画素を分
離するためのブラックマトリクスを形成する金属層41
が形成される。カラーフィルタ42においては、R、G
およびBの各カラーフィルタが配置される。
【0084】液晶上部および下部に偏光板が配置される
が、図4においては、図面を簡略化するために示してい
ない。また、透過型液晶構造の場合、さらに、図示しな
いバックライトガラス基板下部にが設けられる。
が、図4においては、図面を簡略化するために示してい
ない。また、透過型液晶構造の場合、さらに、図示しな
いバックライトガラス基板下部にが設けられる。
【0085】対向電極40に画素駆動電圧Vcntが与
えられ、透明電極27bに対しては、画素駆動TFT2
7aを介して共通電極電圧Vcomが与えられる。
えられ、透明電極27bに対しては、画素駆動TFT2
7aを介して共通電極電圧Vcomが与えられる。
【0086】したがって、この内部ノード27cにおい
ては論理論理Hレベルおよび論理論理Lレベルの2値の
画素データ信号が保持される。図2に示すセンスアンプ
SAを用いて、この2値レベルの画素データ(保持電
圧)を復元し、その復元したした電圧を元の画素に再書
込する。ここで、以下の説明においては、「リフレッシ
ュ」は、画素PXの保持電圧を読み出してもとの電圧レ
ベルを復元し、この復元した電圧を元の画素PXに再書
込みする動作を示す。
ては論理論理Hレベルおよび論理論理Lレベルの2値の
画素データ信号が保持される。図2に示すセンスアンプ
SAを用いて、この2値レベルの画素データ(保持電
圧)を復元し、その復元したした電圧を元の画素に再書
込する。ここで、以下の説明においては、「リフレッシ
ュ」は、画素PXの保持電圧を読み出してもとの電圧レ
ベルを復元し、この復元した電圧を元の画素PXに再書
込みする動作を示す。
【0087】図5は、図1に示すシフトクロック切換回
路8の構成の一例を示す図である。図5において、シフ
トクロック切換回路8は、通常動作モード指示信号NO
RMとリフレッシュ指示信号SELFに従って通常垂直
走査信号φVNとリフレッシュ垂直走査信号φVSの一
方を選択して垂直走査クロック信号VCKを生成する選
択回路8aと、通常動作モード指示信号NORMとリフ
レッシュ指示信号SELFに従って通常垂直走査開始信
号STVNとリフレッシュ垂直走査開始信号STVSの
一方を選択して垂直走査開始信号STVを生成する選択
回路8bと、通常動作モード指示信号NORMとリフレ
ッシュ指示信号SELFに従って通常禁止信号INHV
Nおよびリフレッシュ禁止信号INHVSの一方を選択
して禁止信号INHVを生成する選択回路8cを含む。
路8の構成の一例を示す図である。図5において、シフ
トクロック切換回路8は、通常動作モード指示信号NO
RMとリフレッシュ指示信号SELFに従って通常垂直
走査信号φVNとリフレッシュ垂直走査信号φVSの一
方を選択して垂直走査クロック信号VCKを生成する選
択回路8aと、通常動作モード指示信号NORMとリフ
レッシュ指示信号SELFに従って通常垂直走査開始信
号STVNとリフレッシュ垂直走査開始信号STVSの
一方を選択して垂直走査開始信号STVを生成する選択
回路8bと、通常動作モード指示信号NORMとリフレ
ッシュ指示信号SELFに従って通常禁止信号INHV
Nおよびリフレッシュ禁止信号INHVSの一方を選択
して禁止信号INHVを生成する選択回路8cを含む。
【0088】選択回路8aは、通常動作モード指示信号
NORMと通常垂直走査信号φVNを受けるAND回路
8aaと、リフレッシュ指示信号SELFとリフレッシ
ュ垂直走査信号φVSを受けるAND回路8abと、A
ND回路8aaおよび8abの出力信号を受けて垂直走
査信号VCKを生成するOR回路8acを含む。
NORMと通常垂直走査信号φVNを受けるAND回路
8aaと、リフレッシュ指示信号SELFとリフレッシ
ュ垂直走査信号φVSを受けるAND回路8abと、A
ND回路8aaおよび8abの出力信号を受けて垂直走
査信号VCKを生成するOR回路8acを含む。
【0089】選択回路8bは通常動作モード指示信号N
ORMと通常垂直走査開始信号STVNを受けるAND
回路8baと、リフレッシュ指示信号SELFとリフレ
ッシュ垂直走査開始信号STVSを受けるAND回路8
bbと、AND回路8baおよび8bbの出力信号を受
けて垂直走査開始信号STVを生成するOR回路8bc
を含む。
ORMと通常垂直走査開始信号STVNを受けるAND
回路8baと、リフレッシュ指示信号SELFとリフレ
ッシュ垂直走査開始信号STVSを受けるAND回路8
bbと、AND回路8baおよび8bbの出力信号を受
けて垂直走査開始信号STVを生成するOR回路8bc
を含む。
【0090】選択回路8cは、通常動作モード指示信号
NORMと通常禁止信号INHVNを受けるAND回路
8caと、リフレッシュ指示信号SELFとリフレッシ
ュ禁止信号INHVSを受けるAND回路8cbと、A
ND回路8caおよび8cbの出力信号を受けて禁止信
号INHVを生成するOR回路8ccを含む。
NORMと通常禁止信号INHVNを受けるAND回路
8caと、リフレッシュ指示信号SELFとリフレッシ
ュ禁止信号INHVSを受けるAND回路8cbと、A
ND回路8caおよび8cbの出力信号を受けて禁止信
号INHVを生成するOR回路8ccを含む。
【0091】この図5に示すシフトクロック切換回路8
の構成において、通常動作モード時においては、通常動
作モード指示信号NORMが論理論理Hレベル、リフレ
ッシュ指示信号SELFが論理論理Lレベルである。し
たがって、外部から与えられる通常垂直走査信号φV
N、通常垂直走査開始信号STVNおよび通常禁止信号
INHVNに従って垂直走査信号VCK、垂直走査開始
信号STVおよび禁止信号INHVが生成される。
の構成において、通常動作モード時においては、通常動
作モード指示信号NORMが論理論理Hレベル、リフレ
ッシュ指示信号SELFが論理論理Lレベルである。し
たがって、外部から与えられる通常垂直走査信号φV
N、通常垂直走査開始信号STVNおよび通常禁止信号
INHVNに従って垂直走査信号VCK、垂直走査開始
信号STVおよび禁止信号INHVが生成される。
【0092】一方、リフレッシュモード時においては、
通常動作モード指示信号NORMが論理論理Lレベル、
リフレッシュ指示信号SELFが論理論理Hレベルであ
り、リフレッシュ垂直走査信号φVS、リフレッシュ垂
直走査開始信号STVSおよびリフレッシュ禁止信号I
NHVSに従って垂直走査信号VCK、垂直走査開始信
号STVおよび禁止信号INHVが生成される。
通常動作モード指示信号NORMが論理論理Lレベル、
リフレッシュ指示信号SELFが論理論理Hレベルであ
り、リフレッシュ垂直走査信号φVS、リフレッシュ垂
直走査開始信号STVSおよびリフレッシュ禁止信号I
NHVSに従って垂直走査信号VCK、垂直走査開始信
号STVおよび禁止信号INHVが生成される。
【0093】この図5に示す構成において、リフレッシ
ュ制御回路5により、リフレッシュモード時、リフレッ
シュ垂直走査信号φVS、リフレッシュ垂直走査開始信
号STVS、および垂直リフレッシュ禁止信号INHV
Sが生成される。この構成については後に詳細に説明す
る。
ュ制御回路5により、リフレッシュモード時、リフレッ
シュ垂直走査信号φVS、リフレッシュ垂直走査開始信
号STVS、および垂直リフレッシュ禁止信号INHV
Sが生成される。この構成については後に詳細に説明す
る。
【0094】図6は、図1に示す垂直走査回路2の構成
を概略的に示す図である。図6において、垂直走査回路
2は、垂直走査開始信号STVに従って、その選択出力
が初期化され、垂直走査信号VCKに従ってシフト動作
を行ない、その出力を順次選択状態へ駆動する垂直シフ
トレジスタ50と、垂直シフトレジスタ50の各出力に
対応して設けられるバッファを含み、禁止信号INHV
に従って、垂直走査信号(行選択信号)V1,V2,…
Vmを順次選択状態へ駆動するバッファ回路51を含
む。
を概略的に示す図である。図6において、垂直走査回路
2は、垂直走査開始信号STVに従って、その選択出力
が初期化され、垂直走査信号VCKに従ってシフト動作
を行ない、その出力を順次選択状態へ駆動する垂直シフ
トレジスタ50と、垂直シフトレジスタ50の各出力に
対応して設けられるバッファを含み、禁止信号INHV
に従って、垂直走査信号(行選択信号)V1,V2,…
Vmを順次選択状態へ駆動するバッファ回路51を含
む。
【0095】このバッファ回路51は、禁止信号INH
Vに従って、垂直走査信号が同時に選択状態に駆動され
るのを禁止する。すなわちこの禁止信号INHVが論理
論理Hレベルの活性状態のときには、垂直シフトレジス
タ50の出力信号にかかわらず、その垂直走査信号(行
選択信号)をすべて非選択状態とし、この禁止信号IN
HVが論理論理Lレベルとなると垂直シフトレジスタ5
0の出力信号に従って垂直走査信号(行選択信号)を選
択状態へ駆動する。次に、この図1から図6に示す表示
装置の動作について説明する。
Vに従って、垂直走査信号が同時に選択状態に駆動され
るのを禁止する。すなわちこの禁止信号INHVが論理
論理Hレベルの活性状態のときには、垂直シフトレジス
タ50の出力信号にかかわらず、その垂直走査信号(行
選択信号)をすべて非選択状態とし、この禁止信号IN
HVが論理論理Lレベルとなると垂直シフトレジスタ5
0の出力信号に従って垂直走査信号(行選択信号)を選
択状態へ駆動する。次に、この図1から図6に示す表示
装置の動作について説明する。
【0096】まず、図7を参照して、通常動作モード時
の画像データの書込について説明する。通常動作モード
時においては、通常動作モード指示信号NORMが論理
Hレベルであり、一方、リフレッシュ指示信号SELF
が論理Lレベルである。この状態においては、図5に示
すシフトクロック切換回路8においては、外部からの垂
直走査信号φVN、垂直走査開始信号STVN、および
通常禁止信号INHVNに従って、垂直走査信号VC
K、垂直走査開始信号STVおよび禁止信号INHVを
生成する。この垂直走査開始信号STVおよびSTVN
に従って、図6に示す垂直シフトレジスタ50において
垂直走査開始信号STVが取込まれ、次の垂直走査信号
VCKに従ってシフト動作により先頭行の選択信号が選
択状態へ駆動される。したがって、この垂直走査開始信
号STVが立上がって次のサイクルにおいて垂直走査信
号V1が選択状態へ駆動され、以降、垂直走査信号VC
Kに従って垂直シフトレジスタ50がシフト動作を行な
い、垂直走査信号V1…Vmが順次選択状態へ駆動され
る。ここで、図7においては、ノンインターレース方式
で、走査線が順次選択されるシーケンスを一例として示
す。しかしながら、インターレース方式で垂直走査線が
走査されても良い。
の画像データの書込について説明する。通常動作モード
時においては、通常動作モード指示信号NORMが論理
Hレベルであり、一方、リフレッシュ指示信号SELF
が論理Lレベルである。この状態においては、図5に示
すシフトクロック切換回路8においては、外部からの垂
直走査信号φVN、垂直走査開始信号STVN、および
通常禁止信号INHVNに従って、垂直走査信号VC
K、垂直走査開始信号STVおよび禁止信号INHVを
生成する。この垂直走査開始信号STVおよびSTVN
に従って、図6に示す垂直シフトレジスタ50において
垂直走査開始信号STVが取込まれ、次の垂直走査信号
VCKに従ってシフト動作により先頭行の選択信号が選
択状態へ駆動される。したがって、この垂直走査開始信
号STVが立上がって次のサイクルにおいて垂直走査信
号V1が選択状態へ駆動され、以降、垂直走査信号VC
Kに従って垂直シフトレジスタ50がシフト動作を行な
い、垂直走査信号V1…Vmが順次選択状態へ駆動され
る。ここで、図7においては、ノンインターレース方式
で、走査線が順次選択されるシーケンスを一例として示
す。しかしながら、インターレース方式で垂直走査線が
走査されても良い。
【0097】垂直走査信号V1が選択状態へ駆動された
ときには、左イネーブル信号LEが同様活性状態へ駆動
され、図2に示す切換回路SG1およびSG2におい
て、AND回路21の出力信号が水平走査信号H1、H
2…に従って順次論理Hレベルへ駆動され、転送ゲート
22がオン状態となり、共通画像データ線7が、水平走
査信号H1、H2に従って順次、左側の内部データ信号
線DL1、DL2、…に順次接続される。画素PX1
1,PX12…において、サンプリングTFT25が順
次オン状態となり、この共通画像データ線7を伝達され
る転送ゲート22が順次オン状態となり、画像データ線
7上を伝達される画像データDに従って、画素PX1
1、PX21…に対し、水平走査信号(列選択信号)H
1、H2に従って順次書込まれる。
ときには、左イネーブル信号LEが同様活性状態へ駆動
され、図2に示す切換回路SG1およびSG2におい
て、AND回路21の出力信号が水平走査信号H1、H
2…に従って順次論理Hレベルへ駆動され、転送ゲート
22がオン状態となり、共通画像データ線7が、水平走
査信号H1、H2に従って順次、左側の内部データ信号
線DL1、DL2、…に順次接続される。画素PX1
1,PX12…において、サンプリングTFT25が順
次オン状態となり、この共通画像データ線7を伝達され
る転送ゲート22が順次オン状態となり、画像データ線
7上を伝達される画像データDに従って、画素PX1
1、PX21…に対し、水平走査信号(列選択信号)H
1、H2に従って順次書込まれる。
【0098】左イネーブル信号LEおよび右イネーブル
信号REは、選択(垂直)走査線に従って論理Hレベル
に駆動される。したがって、偶数行の走査線選択信号
(行選択信号)V2が論理Hレベルとなると右イネーブ
ル信号REが論理Hレベルとなり、水平走査信号H1、
H2に従って、切換回路ST1、ST2…において、A
ND回路23の出力信号に従って転送ゲート24が導通
し、共通画像データ線7上を介して伝達される画像デー
タDが、右側の内部データ信号線DR1、DR2…に伝
達される。この状態において、画素PX21,PX22
…において、サンプリングTFT25に従って、画像デ
ータが取込まれ、電圧保持容量素子26により、取込ま
れた電圧が保持される。
信号REは、選択(垂直)走査線に従って論理Hレベル
に駆動される。したがって、偶数行の走査線選択信号
(行選択信号)V2が論理Hレベルとなると右イネーブ
ル信号REが論理Hレベルとなり、水平走査信号H1、
H2に従って、切換回路ST1、ST2…において、A
ND回路23の出力信号に従って転送ゲート24が導通
し、共通画像データ線7上を介して伝達される画像デー
タDが、右側の内部データ信号線DR1、DR2…に伝
達される。この状態において、画素PX21,PX22
…において、サンプリングTFT25に従って、画像デ
ータが取込まれ、電圧保持容量素子26により、取込ま
れた電圧が保持される。
【0099】この通常動作モード時において、リフレッ
シュ指示信号SELFは論理Lレベルであり、図2に示
す分離ゲートIG1、IG2…は、すべて非導通状態に
ある。リフレッシュ動作は行なわれないため、このリフ
レッシュ回路6は、非活性状態にある。このとき、図2
に示すプリチャージ/イコライズ回路PEQが活性状態
にあり、相補信号線CLおよびCRを、それぞれ中間電
圧V論理Lレベルに保持する構成が用いられてもよい。
しかしながら、このプリチャージ/イコライズ回路PE
Qも非導通状態とすることにより、中間電圧VMを消費
する回路部分がなく、消費電流を低減することができ
る。信号線CLおよびCRは、フローティング状態とな
るものの、分離ゲートIG1、IG2がすべて非導通状
態にあるため、表示画素マトリクス1における画素PX
に対する画素データ信号の書込に対し何ら悪影響を及ぼ
さない。これに代えて、通常動作モード時においては、
相補信号線CLおよびCRが接地電圧レベルに保持され
てもよい。
シュ指示信号SELFは論理Lレベルであり、図2に示
す分離ゲートIG1、IG2…は、すべて非導通状態に
ある。リフレッシュ動作は行なわれないため、このリフ
レッシュ回路6は、非活性状態にある。このとき、図2
に示すプリチャージ/イコライズ回路PEQが活性状態
にあり、相補信号線CLおよびCRを、それぞれ中間電
圧V論理Lレベルに保持する構成が用いられてもよい。
しかしながら、このプリチャージ/イコライズ回路PE
Qも非導通状態とすることにより、中間電圧VMを消費
する回路部分がなく、消費電流を低減することができ
る。信号線CLおよびCRは、フローティング状態とな
るものの、分離ゲートIG1、IG2がすべて非導通状
態にあるため、表示画素マトリクス1における画素PX
に対する画素データ信号の書込に対し何ら悪影響を及ぼ
さない。これに代えて、通常動作モード時においては、
相補信号線CLおよびCRが接地電圧レベルに保持され
てもよい。
【0100】図8は、図6に示す垂直走査回路2におけ
る垂直シフトレジスタ50の出力信号SRとバッファ回
路51の出力信号(垂直走査信号)V1…Vmの関係を
示す図である。図8に示すように、垂直シフトレジスタ
50は、垂直走査クロック信号VCKに従ってシフト動
作を行なう。したがって、垂直シフトレジスタ50の出
力信号SR1、SR2は、垂直走査クロック信号VCK
の1クロックサイクル期間論理Hレベルとなる。
る垂直シフトレジスタ50の出力信号SRとバッファ回
路51の出力信号(垂直走査信号)V1…Vmの関係を
示す図である。図8に示すように、垂直シフトレジスタ
50は、垂直走査クロック信号VCKに従ってシフト動
作を行なう。したがって、垂直シフトレジスタ50の出
力信号SR1、SR2は、垂直走査クロック信号VCK
の1クロックサイクル期間論理Hレベルとなる。
【0101】禁止信号INHVは垂直走査クロック信号
VCKの立上がりに応答して所定期間論理Hレベルとな
り、この間、バッファ回路51の出力信号をすべて論理
Lレベルに保持する。したがって、この禁止信号INH
Vが論理Hレベルの期間、垂直走査信号V1、V2…は
すべて論理Lレベルである。禁止信号INHVが論理L
レベルに立下がると、バッファ回路51は、垂直シフト
レジスタ50の出力信号に従って垂直走査信号V1、V
2…を論理Hレベルに駆動する。したがって、この垂直
走査信号VCKが立上がり、垂直シフトレジスタ50が
シフト動作を行なったときに、その垂直シフトレジスタ
50の出力信号SR1およびSR2がともに論理Hレベ
ルとなる期間が存在しても、この間、禁止信号INHV
が論理Hレベルであり、バッファ回路51からの垂直走
査信号V1、…Vmにおいて多重選択が生じることはな
く、確実に、選択行(走査線)の画素に対し画像データ
を書込むことができる。
VCKの立上がりに応答して所定期間論理Hレベルとな
り、この間、バッファ回路51の出力信号をすべて論理
Lレベルに保持する。したがって、この禁止信号INH
Vが論理Hレベルの期間、垂直走査信号V1、V2…は
すべて論理Lレベルである。禁止信号INHVが論理L
レベルに立下がると、バッファ回路51は、垂直シフト
レジスタ50の出力信号に従って垂直走査信号V1、V
2…を論理Hレベルに駆動する。したがって、この垂直
走査信号VCKが立上がり、垂直シフトレジスタ50が
シフト動作を行なったときに、その垂直シフトレジスタ
50の出力信号SR1およびSR2がともに論理Hレベ
ルとなる期間が存在しても、この間、禁止信号INHV
が論理Hレベルであり、バッファ回路51からの垂直走
査信号V1、…Vmにおいて多重選択が生じることはな
く、確実に、選択行(走査線)の画素に対し画像データ
を書込むことができる。
【0102】なお、この図2に示す構成においては、水
平走査信号H1、H2…に従って点順次方式で、選択行
に接続される画素に対し順次画像データが書込まれてい
る。しかしながら、この点順次方式ではなく、選択行の
画素に対し同時に画素データ信号が書込まれるデータ書
込方式が用いられる場合、水平走査信号H1、H2…に
代えて、書込タイミング信号が与えられ、接続制御回路
4において、切換回路SG(SG1、SG2…)はすべ
て同時に導通状態となる。この場合においても、右イネ
ーブル信号REおよび左イネーブル信号LEは、選択垂
直走査線が偶数行であるか奇数行であるかに応じて活性
化される。
平走査信号H1、H2…に従って点順次方式で、選択行
に接続される画素に対し順次画像データが書込まれてい
る。しかしながら、この点順次方式ではなく、選択行の
画素に対し同時に画素データ信号が書込まれるデータ書
込方式が用いられる場合、水平走査信号H1、H2…に
代えて、書込タイミング信号が与えられ、接続制御回路
4において、切換回路SG(SG1、SG2…)はすべ
て同時に導通状態となる。この場合においても、右イネ
ーブル信号REおよび左イネーブル信号LEは、選択垂
直走査線が偶数行であるか奇数行であるかに応じて活性
化される。
【0103】次に、図9を参照してリフレッシュモード
時の動作について説明する。このリフレッシュモード時
においては、表示画像の書換えは行なわれない。単に、
表示画素マトリクス1において各画素PXの保持電圧の
復元、すなわちリフレッシュが実行される。このリフレ
ッシュモード時においては、リフレッシュ指示信号SE
LFは、論理Hレベルに設定され、通常動作モード指示
信号NORMは論理Lレベルに設定される。したがっ
て、図1に示す接続制御回路4において、切換回路SG
1、SG2はすべて非導通状態となり、画像データ線7
と表示画素マトリクス1とは切り離される。一方、リフ
レッシュ指示信号SELFに従って、図2に示す分離ゲ
ートIG(IG1,IG2…)が導通状態となり、相補
信号線CLおよびCRが、対応の内部データ信号線DL
およびDR(DL1,DR1…)に接続される。シフト
クロック切換回路8は、図6に示すように、内部で発生
されるリフレッシュ走査信号φVS、リフレッシュ走査
開始信号STVSおよびリフレッシュ禁止信号INHV
Sに従って垂直走査信号VCK、垂直走査開始信号ST
Vおよび禁止信号INHVを生成する。
時の動作について説明する。このリフレッシュモード時
においては、表示画像の書換えは行なわれない。単に、
表示画素マトリクス1において各画素PXの保持電圧の
復元、すなわちリフレッシュが実行される。このリフレ
ッシュモード時においては、リフレッシュ指示信号SE
LFは、論理Hレベルに設定され、通常動作モード指示
信号NORMは論理Lレベルに設定される。したがっ
て、図1に示す接続制御回路4において、切換回路SG
1、SG2はすべて非導通状態となり、画像データ線7
と表示画素マトリクス1とは切り離される。一方、リフ
レッシュ指示信号SELFに従って、図2に示す分離ゲ
ートIG(IG1,IG2…)が導通状態となり、相補
信号線CLおよびCRが、対応の内部データ信号線DL
およびDR(DL1,DR1…)に接続される。シフト
クロック切換回路8は、図6に示すように、内部で発生
されるリフレッシュ走査信号φVS、リフレッシュ走査
開始信号STVSおよびリフレッシュ禁止信号INHV
Sに従って垂直走査信号VCK、垂直走査開始信号ST
Vおよび禁止信号INHVを生成する。
【0104】このリフレッシュモード時において、禁止
信号INHVに従ってまずプリチャージ指示信号φPE
をワンショットパルスの形で論理Hレベルに駆動する。
応じて、図2に示すプリチャージ/イコライズ回路PE
QにおいてTFT34−36が導通し、対応の信号線C
LおよびCRを中間電圧VMレベルにプリチャージしか
つイコライズする。この禁止信号INHVに従ってま
た、センスアンプ駆動信号φPおよびφNもそれぞれ、
論理Lレベルおよび論理Hレベルへ駆動され、センスア
ンプSAが非活性化される。これにより、相補信号線C
LおよびCRを介して内部データ信号線DLおよびDR
が、中間電圧VMレベルにプリチャージされかつイコラ
イズされる。
信号INHVに従ってまずプリチャージ指示信号φPE
をワンショットパルスの形で論理Hレベルに駆動する。
応じて、図2に示すプリチャージ/イコライズ回路PE
QにおいてTFT34−36が導通し、対応の信号線C
LおよびCRを中間電圧VMレベルにプリチャージしか
つイコライズする。この禁止信号INHVに従ってま
た、センスアンプ駆動信号φPおよびφNもそれぞれ、
論理Lレベルおよび論理Hレベルへ駆動され、センスア
ンプSAが非活性化される。これにより、相補信号線C
LおよびCRを介して内部データ信号線DLおよびDR
が、中間電圧VMレベルにプリチャージされかつイコラ
イズされる。
【0105】次いで、このプリチャージ動作が完了する
と、垂直走査回路2からの垂直走査信号V(V1)が選
択状態へ駆動され、この垂直走査信号V1に従って、1
行の画素PX(PX11,PX12…)のサンプリング
TFT25が導通し、電圧保持容量素子26に保持され
た電圧が、対応のデータ信号線DLに伝達される。応じ
て、信号線CLの電圧レベルが、プリチャージ電圧VM
レベルから対応の電圧保持素子に蓄積されていた保持電
圧レベルに応じて変化する。ここで、図9においては、
電圧保持容量素子26に記憶される電圧レベルが論理H
レベルおよび論理Lレベルの場合があり、それぞれを併
せて示す。
と、垂直走査回路2からの垂直走査信号V(V1)が選
択状態へ駆動され、この垂直走査信号V1に従って、1
行の画素PX(PX11,PX12…)のサンプリング
TFT25が導通し、電圧保持容量素子26に保持され
た電圧が、対応のデータ信号線DLに伝達される。応じ
て、信号線CLの電圧レベルが、プリチャージ電圧VM
レベルから対応の電圧保持素子に蓄積されていた保持電
圧レベルに応じて変化する。ここで、図9においては、
電圧保持容量素子26に記憶される電圧レベルが論理H
レベルおよび論理Lレベルの場合があり、それぞれを併
せて示す。
【0106】電圧保持容量素子26に論理Hレベルの画
素データ信号が書込まれている場合には、信号線CLの
電圧レベルがプリチャージ電圧VMより高くなり、一
方、電圧保持容量素子26に、論理Lレベルの画素デー
タ信号が書込まれている場合には、信号線CLの電圧レ
ベルは、プリチャージ電圧VMレベルから低下する。一
方、信号線CRに対しては、画素は接続されていないた
め、この信号線CRは、プリチャージ電圧VMレベルを
維持する。信号線CLおよびCRの電圧差が十分に拡大
されると、センスアンプ駆動信号φNおよびφPがそれ
ぞれ論理Lレベルおよび論理Hレベルに駆動され、セン
スアンプSAが活性化され、信号線CLおよびCRの電
位差を差動増幅しかつラッチする。
素データ信号が書込まれている場合には、信号線CLの
電圧レベルがプリチャージ電圧VMより高くなり、一
方、電圧保持容量素子26に、論理Lレベルの画素デー
タ信号が書込まれている場合には、信号線CLの電圧レ
ベルは、プリチャージ電圧VMレベルから低下する。一
方、信号線CRに対しては、画素は接続されていないた
め、この信号線CRは、プリチャージ電圧VMレベルを
維持する。信号線CLおよびCRの電圧差が十分に拡大
されると、センスアンプ駆動信号φNおよびφPがそれ
ぞれ論理Lレベルおよび論理Hレベルに駆動され、セン
スアンプSAが活性化され、信号線CLおよびCRの電
位差を差動増幅しかつラッチする。
【0107】相補信号線CLおよびCRの電圧は、対応
の内部データ信号線DLおよびDR(DL1,DR1、
DL2,DR2…)に伝達され、再び、サンプリングT
FTを介して電圧保持容量素子26に伝達される。した
がって、仮に論理Hレベルの画素データ信号が書込まれ
その電圧レベルが低下した場合においても、センスアン
プSA2のセンス動作により、再び元の論理Hレベルの
データの電圧レベルが再生されて再書込される。このリ
フレッシュ動作時において1行の画素に対し同時に記憶
画素データ信号の再書込が実行されるため、水平走査信
号H1、H2…を順次駆動する必要はない。シフトクロ
ック(垂直走査クロック)信号VCKは所定の、適当な
リフレッシュ周期で生成される。
の内部データ信号線DLおよびDR(DL1,DR1、
DL2,DR2…)に伝達され、再び、サンプリングT
FTを介して電圧保持容量素子26に伝達される。した
がって、仮に論理Hレベルの画素データ信号が書込まれ
その電圧レベルが低下した場合においても、センスアン
プSA2のセンス動作により、再び元の論理Hレベルの
データの電圧レベルが再生されて再書込される。このリ
フレッシュ動作時において1行の画素に対し同時に記憶
画素データ信号の再書込が実行されるため、水平走査信
号H1、H2…を順次駆動する必要はない。シフトクロ
ック(垂直走査クロック)信号VCKは所定の、適当な
リフレッシュ周期で生成される。
【0108】次に、再び、垂直走査クロック信号VCK
が論理Hレベルとなると、禁止信号INHVが再び論理
Hレベルに立上がり、再びセンスアンプ駆動信号φNお
よびφPが非活性状態へ駆動されかつ所定期間プリチャ
ージ動作が実行され、信号線CLおよびCRが中間電圧
VMレベルにプリチャージされかつイコライズされる。
分離ゲートIG(IG1,IG2…)が導通状態にある
ため、内部データ信号線DL(DL1,DL2)および
DR(DR1,DR2)も、中間電圧VMレベルにプリ
チャージされる。
が論理Hレベルとなると、禁止信号INHVが再び論理
Hレベルに立上がり、再びセンスアンプ駆動信号φNお
よびφPが非活性状態へ駆動されかつ所定期間プリチャ
ージ動作が実行され、信号線CLおよびCRが中間電圧
VMレベルにプリチャージされかつイコライズされる。
分離ゲートIG(IG1,IG2…)が導通状態にある
ため、内部データ信号線DL(DL1,DL2)および
DR(DR1,DR2)も、中間電圧VMレベルにプリ
チャージされる。
【0109】次いで、禁止信号INHVが非活性状態と
なり、またプリチャージ指示信号φPEも非活性状態と
なると、バッファ回路からの垂直走査信号に従って、次
の行選択信号V2が論理Hレベルとなり、この垂直走査
信号V2に従って選択される行に対応して配置される画
素PX(PX21,PX22…)の保持電圧のリフレッ
シュが実行される。この場合には、画素PX21,PX
22のサンプリングTFT25は、内部データ信号線D
R(DR1,DR2…)に接続されており、内部データ
信号線DRおよび信号線CRに、対応の画素の保持電圧
が伝達される。このときには、信号線CLおよびデータ
信号線DLは、プリチャージ電圧VMレベルに保持され
ており、センスアンプSAを活性化することにより、画
素PS21、PS22…には、元の書込まれた画素デー
タが再生されて再書込される。
なり、またプリチャージ指示信号φPEも非活性状態と
なると、バッファ回路からの垂直走査信号に従って、次
の行選択信号V2が論理Hレベルとなり、この垂直走査
信号V2に従って選択される行に対応して配置される画
素PX(PX21,PX22…)の保持電圧のリフレッ
シュが実行される。この場合には、画素PX21,PX
22のサンプリングTFT25は、内部データ信号線D
R(DR1,DR2…)に接続されており、内部データ
信号線DRおよび信号線CRに、対応の画素の保持電圧
が伝達される。このときには、信号線CLおよびデータ
信号線DLは、プリチャージ電圧VMレベルに保持され
ており、センスアンプSAを活性化することにより、画
素PS21、PS22…には、元の書込まれた画素デー
タが再生されて再書込される。
【0110】したがって、相補信号CLおよびCRを内
部データ信号線DLおよびDRに結合し、センスアンプ
SAにより、差動増幅を行なう。相補信号線CLおよび
CRの一方にのみ、表示画素の保持電圧が伝達されるた
め、センスアンプSAの差動増幅動作により正確に元の
書込電圧レベルを復元して再書込を行なうことができ
る。
部データ信号線DLおよびDRに結合し、センスアンプ
SAにより、差動増幅を行なう。相補信号線CLおよび
CRの一方にのみ、表示画素の保持電圧が伝達されるた
め、センスアンプSAの差動増幅動作により正確に元の
書込電圧レベルを復元して再書込を行なうことができ
る。
【0111】なお、リフレッシュ動作時においては、右
イネーブル信号REおよび左イネーブル信号LEは、何
ら列選択は行なう必要がないため、論理Lレベルに保持
されていてもよい。
イネーブル信号REおよび左イネーブル信号LEは、何
ら列選択は行なう必要がないため、論理Lレベルに保持
されていてもよい。
【0112】図10は、図1に示すリフレッシュ制御回
路5の垂直走査に関連する部分の構成を概略的に示す図
である。図10において、リフレッシュ制御回路5は、
リフレッシュ指示信号SELFの活性化時発振動作を行
なう発振回路55と、発振回路55の出力信号φVS0
をバッファ処理してリフレッシュ垂直走査信号φVSを
生成するバッファ56と、発振回路55の出力信号φV
S0の立上がりに応答してワンショットのパルス信号を
発生してリフレッシュ禁止信号INHVSを生成するワ
ンショットパルス発生回路57と、発振回路55の出力
信号φVS0の例えば立上がりをカウントするカウンタ
58と、カウンタ58のカウントアップ信号に応答して
ワンショットのパルス信号を発生するワンショットパル
ス発生回路59と、リフレッシュ指示信号SELFの立
上がりに応答してワンショットのパルス信号を発生する
ワンショットパルス発生回路60と、ワンショットパル
ス発生回路59および60の出力パルス信号を受けて垂
直走査開始信号STVSを生成するOR回路61と、リ
フレッシュ指示信号SELFを反転して通常動作モード
指示信号NORMを生成するインバータ62を含む。
路5の垂直走査に関連する部分の構成を概略的に示す図
である。図10において、リフレッシュ制御回路5は、
リフレッシュ指示信号SELFの活性化時発振動作を行
なう発振回路55と、発振回路55の出力信号φVS0
をバッファ処理してリフレッシュ垂直走査信号φVSを
生成するバッファ56と、発振回路55の出力信号φV
S0の立上がりに応答してワンショットのパルス信号を
発生してリフレッシュ禁止信号INHVSを生成するワ
ンショットパルス発生回路57と、発振回路55の出力
信号φVS0の例えば立上がりをカウントするカウンタ
58と、カウンタ58のカウントアップ信号に応答して
ワンショットのパルス信号を発生するワンショットパル
ス発生回路59と、リフレッシュ指示信号SELFの立
上がりに応答してワンショットのパルス信号を発生する
ワンショットパルス発生回路60と、ワンショットパル
ス発生回路59および60の出力パルス信号を受けて垂
直走査開始信号STVSを生成するOR回路61と、リ
フレッシュ指示信号SELFを反転して通常動作モード
指示信号NORMを生成するインバータ62を含む。
【0113】発振回路55は、リフレッシュ指示信号S
ELFの活性化時発振動作を行なうリングオシレータ5
5aと、リングオシレータ55aの出力信号を反転しか
つバッファ処理して出力信号φVS0を生成するインバ
ータ55bを含む。リングオシレータ55aは、リフレ
ッシュ指示信号SELFを第1の入力に受けるNAND
回路NGと、偶数段の縦続接続されるインバータIVを
含む。これらの偶数段のインバータの最終段のインバー
タの出力信号がNAND回路NGの第2の入力に印加さ
れる。
ELFの活性化時発振動作を行なうリングオシレータ5
5aと、リングオシレータ55aの出力信号を反転しか
つバッファ処理して出力信号φVS0を生成するインバ
ータ55bを含む。リングオシレータ55aは、リフレ
ッシュ指示信号SELFを第1の入力に受けるNAND
回路NGと、偶数段の縦続接続されるインバータIVを
含む。これらの偶数段のインバータの最終段のインバー
タの出力信号がNAND回路NGの第2の入力に印加さ
れる。
【0114】図11は、図12に示すリフレッシュ制御
回路の動作を示すタイミングチャート図である。以下、
図11を参照して、図10に示すリフレッシュ制御回路
5の動作について簡単に説明する。
回路の動作を示すタイミングチャート図である。以下、
図11を参照して、図10に示すリフレッシュ制御回路
5の動作について簡単に説明する。
【0115】リフレッシュ指示信号SELFが論理Lレ
ベルのときには、発振回路55は非活性状態にあり、そ
の出力信号φVS0は、論理Lレベルに固定される。し
たがって、このリフレッシュ制御回路5においては、出
力信号φVS、INHVS、およびSTVSはすべて論
理Lレベルを維持する。
ベルのときには、発振回路55は非活性状態にあり、そ
の出力信号φVS0は、論理Lレベルに固定される。し
たがって、このリフレッシュ制御回路5においては、出
力信号φVS、INHVS、およびSTVSはすべて論
理Lレベルを維持する。
【0116】また、インバータ62により、通常動作モ
ード指示信号NORMが論理Hレベルであり、表示画素
マトリクスの画素に対する画素データ信号の書込が実行
される。
ード指示信号NORMが論理Hレベルであり、表示画素
マトリクスの画素に対する画素データ信号の書込が実行
される。
【0117】画像データの保持のみを行なう場合、リフ
レッシュ指示信号SELFが論理Hレベルに駆動され
る。リフレッシュ指示信号SELFが論理Hレベルとな
ると、リングオシレータ55aにおいてNAND回路N
Gがインバータとして動作し、リングオシレータ55a
が発振動作を開始し、応じて発振回路55からの出力信
号φVS0が、リングオシレータ55aの有する所定の
周期で変化する。このリフレッシュ指示信号SELFの
立上がりに応答して、ワンショットパルス発生回路60
がワンショットのパルス信号φ1を生成し、応じてリフ
レッシュ垂直走査開始指示信号STVSが所定期間論理
Hレベルとなる。この垂直走査開始指示信号STVSが
論理Hレベルとなり、次いでバッファ56からのリフレ
ッシュ垂直走査クロック信号φVSが論理Hレベルとな
ると、この垂直走査開始信号STVSが、垂直シフトレ
ジスタ50(図6参照)にセットされる。この状態にお
いては、単に垂直シフトレジスタ50に対し、初期設定
が行なわれただけであり、垂直シフトレジスタ50の出
力信号はすべて論理Lレベルである。
レッシュ指示信号SELFが論理Hレベルに駆動され
る。リフレッシュ指示信号SELFが論理Hレベルとな
ると、リングオシレータ55aにおいてNAND回路N
Gがインバータとして動作し、リングオシレータ55a
が発振動作を開始し、応じて発振回路55からの出力信
号φVS0が、リングオシレータ55aの有する所定の
周期で変化する。このリフレッシュ指示信号SELFの
立上がりに応答して、ワンショットパルス発生回路60
がワンショットのパルス信号φ1を生成し、応じてリフ
レッシュ垂直走査開始指示信号STVSが所定期間論理
Hレベルとなる。この垂直走査開始指示信号STVSが
論理Hレベルとなり、次いでバッファ56からのリフレ
ッシュ垂直走査クロック信号φVSが論理Hレベルとな
ると、この垂直走査開始信号STVSが、垂直シフトレ
ジスタ50(図6参照)にセットされる。この状態にお
いては、単に垂直シフトレジスタ50に対し、初期設定
が行なわれただけであり、垂直シフトレジスタ50の出
力信号はすべて論理Lレベルである。
【0118】バッファ56からのリフレッシュ垂直走査
クロック信号φVSが論理Hレベルに再び立上がると、
図6に示す垂直走査レジスタ50がシフト動作を実行
し、その初段の出力を論理Hレベルに立上げる。一方、
ワンショットパルス発生回路57は、この発振回路55
の出力信号φVS0の立上がりに応答して所定期間論理
Hレベルとなるリフレッシュ禁止信号INHVSを生成
している。このリフレッシュ禁止信号INHVSが論理
Lレベルとなると、垂直走査回路からの垂直走査信号
(行選択信号)V1が論理Hレベルに駆動される。
クロック信号φVSが論理Hレベルに再び立上がると、
図6に示す垂直走査レジスタ50がシフト動作を実行
し、その初段の出力を論理Hレベルに立上げる。一方、
ワンショットパルス発生回路57は、この発振回路55
の出力信号φVS0の立上がりに応答して所定期間論理
Hレベルとなるリフレッシュ禁止信号INHVSを生成
している。このリフレッシュ禁止信号INHVSが論理
Lレベルとなると、垂直走査回路からの垂直走査信号
(行選択信号)V1が論理Hレベルに駆動される。
【0119】カウンタ58はカウント動作を行なってお
り、この垂直走査線の数、m本の垂直走査線に対するm
個の信号φVS0の立上がりをカウントするとカウント
アップ信号を出力する。このカウンタ158のカウント
アップ信号に応答してワンショットパルス発生回路59
がワンショットのパルス信号φ2を生成し、応じて再び
垂直走査開始信号STVSが論理Hレベルに立上げられ
る。次に発振回路55の出力信号φVS0が論理Hレベ
ルに立上がると、このリフレッシュ垂直走査開始信号S
TVSが、垂直走査レジスタにセットされる。この状態
において、垂直走査レジスタにおいては、1フレームの
最終の走査線に対する垂直走査信号Vmが論理Hレベル
に駆動される。
り、この垂直走査線の数、m本の垂直走査線に対するm
個の信号φVS0の立上がりをカウントするとカウント
アップ信号を出力する。このカウンタ158のカウント
アップ信号に応答してワンショットパルス発生回路59
がワンショットのパルス信号φ2を生成し、応じて再び
垂直走査開始信号STVSが論理Hレベルに立上げられ
る。次に発振回路55の出力信号φVS0が論理Hレベ
ルに立上がると、このリフレッシュ垂直走査開始信号S
TVSが、垂直走査レジスタにセットされる。この状態
において、垂直走査レジスタにおいては、1フレームの
最終の走査線に対する垂直走査信号Vmが論理Hレベル
に駆動される。
【0120】次いで、再び発振回路55の出力信号φV
S0が論理Hレベルとなると、この取込んだリフレッシ
ュ垂直走査開始信号に従って再び最初の走査線に対する
垂直走査信号V1が論理Hレベルに立上がる。
S0が論理Hレベルとなると、この取込んだリフレッシ
ュ垂直走査開始信号に従って再び最初の走査線に対する
垂直走査信号V1が論理Hレベルに立上がる。
【0121】したがって、カウンタ58において、発振
回路55の出力信号φVS0をmカウントするごとにワ
ンショットのパルス信号φ2を生成することにより、表
示画素マトリクスにおいて、すべての垂直走査線が走査
された後に、垂直走査開始信号STVSを発生すること
ができる。
回路55の出力信号φVS0をmカウントするごとにワ
ンショットのパルス信号φ2を生成することにより、表
示画素マトリクスにおいて、すべての垂直走査線が走査
された後に、垂直走査開始信号STVSを発生すること
ができる。
【0122】したがって、図10に示す構成を利用する
ことにより、リフレッシュ指示信号SELFに従って、
垂直走査に関連する信号を内部で生成することができ
る。
ことにより、リフレッシュ指示信号SELFに従って、
垂直走査に関連する信号を内部で生成することができ
る。
【0123】なお、水平走査は、このリフレッシュ時に
は必要ではなく、リフレッシュ制御回路5においては水
平走査に関連する信号は生成されない。この状態におい
ては、単に外部からの水平走査に関連する信号HCKお
よびSTHおよびINHHがすべて論理Lレベルに固定
され、水平走査回路の動作は停止され、消費電力が低減
される。
は必要ではなく、リフレッシュ制御回路5においては水
平走査に関連する信号は生成されない。この状態におい
ては、単に外部からの水平走査に関連する信号HCKお
よびSTHおよびINHHがすべて論理Lレベルに固定
され、水平走査回路の動作は停止され、消費電力が低減
される。
【0124】図12は、リフレッシュ制御回路5の、リ
フレッシュ回路を制御する部分の構成を概略的に示す図
である。図12において、リフレッシュ制御回路5は、
発振回路55(図10)の出力信号φVSOの立上がり
に応答して一定の時間幅を有するワンショットのパルス
信号の形でプリチャージ指示信号φPEを生成するワン
ショットパルス発生回路65と、発振信号φVS0の立
上がりに応答してセットされてその出力Qにセンスアン
プ駆動信号φNを生成するエッジトリガ型セット/リセ
ットフリップフロップ66と、センスアンプ駆動信号φ
Nを所定時間遅延してその出力信号をエッジトリガ型セ
ット/リセットフリップフロップ66のリセット入力R
へ与える遅延回路67と、発振信号φVS0の立上がり
に応答してリセットされその出力Qからセンスアンプ駆
動信号φPを出力するエッジトリガ型セット/リセット
フリップフロップ68と、センスアンプ駆動信号φPを
所定時間遅延しかつセンスアンプ駆動信号φPを反転し
て出力する反転遅延回路69を含む。反転遅延回路69
の出力信号はエッジトリガ型セット/リセットフリップ
フロップ68のセット入力Sへ与えられる。
フレッシュ回路を制御する部分の構成を概略的に示す図
である。図12において、リフレッシュ制御回路5は、
発振回路55(図10)の出力信号φVSOの立上がり
に応答して一定の時間幅を有するワンショットのパルス
信号の形でプリチャージ指示信号φPEを生成するワン
ショットパルス発生回路65と、発振信号φVS0の立
上がりに応答してセットされてその出力Qにセンスアン
プ駆動信号φNを生成するエッジトリガ型セット/リセ
ットフリップフロップ66と、センスアンプ駆動信号φ
Nを所定時間遅延してその出力信号をエッジトリガ型セ
ット/リセットフリップフロップ66のリセット入力R
へ与える遅延回路67と、発振信号φVS0の立上がり
に応答してリセットされその出力Qからセンスアンプ駆
動信号φPを出力するエッジトリガ型セット/リセット
フリップフロップ68と、センスアンプ駆動信号φPを
所定時間遅延しかつセンスアンプ駆動信号φPを反転し
て出力する反転遅延回路69を含む。反転遅延回路69
の出力信号はエッジトリガ型セット/リセットフリップ
フロップ68のセット入力Sへ与えられる。
【0125】図13は、図12に示すリフレッシュ制御
回路の動作を示すタイミング図である。以下、簡単に図
12に示すリフレッシュ制御回路の動作を図13に示す
タイミング図を参照して説明する。
回路の動作を示すタイミング図である。以下、簡単に図
12に示すリフレッシュ制御回路の動作を図13に示す
タイミング図を参照して説明する。
【0126】発振信号φVS0が論理Hレベルに立上が
ると、ワンショットパルス発生回路65が、ワンショッ
トのパルス信号を発生し、応じてプリチャージ/イコラ
イズ指示信号φPEが所定時間論理Hレベルとなる。こ
のプリチャージ/イコライズ指示信号φPEの時間幅
は、リフレッシュ禁止信号INHVSの時間幅よりも短
くされる。すなわち、相補信号線および内部データ信号
線のプリチャージ/イコライズ動作完了後、垂直走査信
号(行選択信号)Viを選択状態へ駆動する。
ると、ワンショットパルス発生回路65が、ワンショッ
トのパルス信号を発生し、応じてプリチャージ/イコラ
イズ指示信号φPEが所定時間論理Hレベルとなる。こ
のプリチャージ/イコライズ指示信号φPEの時間幅
は、リフレッシュ禁止信号INHVSの時間幅よりも短
くされる。すなわち、相補信号線および内部データ信号
線のプリチャージ/イコライズ動作完了後、垂直走査信
号(行選択信号)Viを選択状態へ駆動する。
【0127】一方、発振信号φVS0の立上がりに応答
してセット/リセットフリップフロップ66がセットさ
れ、その出力Qからのセンスアンプ駆動信号φNが論理
Hレベルとなる。また、エッジトリガ型セット/リセッ
トフリップフロップ68がリセットされ、その出力Qか
らのセンスアンプ駆動信号φPが論理Lレベルとなる。
これにより、図2に示すセンスアンプSAがともに非活
性状態とされる。
してセット/リセットフリップフロップ66がセットさ
れ、その出力Qからのセンスアンプ駆動信号φNが論理
Hレベルとなる。また、エッジトリガ型セット/リセッ
トフリップフロップ68がリセットされ、その出力Qか
らのセンスアンプ駆動信号φPが論理Lレベルとなる。
これにより、図2に示すセンスアンプSAがともに非活
性状態とされる。
【0128】このセンスアンプ駆動信号φNおよびφP
は、通常、垂直走査信号(行選択信号)Viが活性状態
へ駆動されてから所定期間非活性状態を維持する。セン
スアンプ駆動信号φNおよびφPの非活性期間は、遅延
回路67および69によりそれぞれ決定される。遅延回
路67の有する遅延時間が経過すると、エッジトリガ型
セット/リセットフリップフロップ66がリセットさ
れ、その出力Qからのセンスアンプ駆動信号φNが論理
Lレベルとなり、センスアンプSAに含まれるNチャネ
ルTFTが活性化され、相補信号線(内部データ線)の
低電位の信号線が接地電圧レベルに放電される。
は、通常、垂直走査信号(行選択信号)Viが活性状態
へ駆動されてから所定期間非活性状態を維持する。セン
スアンプ駆動信号φNおよびφPの非活性期間は、遅延
回路67および69によりそれぞれ決定される。遅延回
路67の有する遅延時間が経過すると、エッジトリガ型
セット/リセットフリップフロップ66がリセットさ
れ、その出力Qからのセンスアンプ駆動信号φNが論理
Lレベルとなり、センスアンプSAに含まれるNチャネ
ルTFTが活性化され、相補信号線(内部データ線)の
低電位の信号線が接地電圧レベルに放電される。
【0129】また、反転遅延回路69の有する遅延時間
が経過すると、セット/リセットフリップフロップ68
が、この反転遅延回路69の出力信号の立上がりに応答
してセットされ、出力Qからのセンスアンプ駆動信号φ
Pが論理Hレベルへ駆動される。これにより、図2に示
すセンスアンプSAのPチャネルTFTで構成されるP
センスアンプが活性化され、相補信号線の高電位の信号
線が論理Hレベル(たとえば電源電圧レベル)へ駆動さ
れる。
が経過すると、セット/リセットフリップフロップ68
が、この反転遅延回路69の出力信号の立上がりに応答
してセットされ、出力Qからのセンスアンプ駆動信号φ
Pが論理Hレベルへ駆動される。これにより、図2に示
すセンスアンプSAのPチャネルTFTで構成されるP
センスアンプが活性化され、相補信号線の高電位の信号
線が論理Hレベル(たとえば電源電圧レベル)へ駆動さ
れる。
【0130】この動作が、発振信号φVS0の立上がり
に応答して繰返し実行される。
に応答して繰返し実行される。
【0131】[変更例]
【0132】図14は、この発明の実施の形態1の変更
例の構成を概略的に示す図である。図14において、表
示装置70は、水平走査回路3および垂直走査回路2を
含む。この垂直走査回路2に対しては、外部のコントロ
ーラまたはプロセッサから、垂直走査クロック信号VC
K、垂直走査開始信号STVおよび禁止信号INHV
が、通常動作モードおよびリフレッシュモードにかかわ
らず与えられる。水平走査回路3に対しても、同様、外
部のコントローラまたはプロセッサから、水平走査クロ
ック信号HCK、水平走査開始信号STHHおよび禁止
信号INHHが与えられる。
例の構成を概略的に示す図である。図14において、表
示装置70は、水平走査回路3および垂直走査回路2を
含む。この垂直走査回路2に対しては、外部のコントロ
ーラまたはプロセッサから、垂直走査クロック信号VC
K、垂直走査開始信号STVおよび禁止信号INHV
が、通常動作モードおよびリフレッシュモードにかかわ
らず与えられる。水平走査回路3に対しても、同様、外
部のコントローラまたはプロセッサから、水平走査クロ
ック信号HCK、水平走査開始信号STHHおよび禁止
信号INHHが与えられる。
【0133】水平走査回路3は、リフレッシュモード時
においては、水平走査線を選択する必要がないため、そ
の内部に含まれる水平シフトレジスタのシフト動作を停
止させる。このため、水平走査回路3に対しては、水平
走査クロック信号HCKと通常動作モード指示信号NO
RMを受けるAND回路71が設けられる。このAND
回路71の出力信号が、水平シフトレジスタに対するシ
フトクロックとして与えられる。
においては、水平走査線を選択する必要がないため、そ
の内部に含まれる水平シフトレジスタのシフト動作を停
止させる。このため、水平走査回路3に対しては、水平
走査クロック信号HCKと通常動作モード指示信号NO
RMを受けるAND回路71が設けられる。このAND
回路71の出力信号が、水平シフトレジスタに対するシ
フトクロックとして与えられる。
【0134】外部のロジックまたはプロセッサにおいて
は通常動作モードおよびリフレッシュモードいずれにお
いても、垂直走査クロック信号VCKを生成した場合、
1行の画素の最終画素にまで走査した後に、次の垂直走
査クロック信号VCKが生成されるように、通常、カウ
ンタを用いて、垂直走査および水平走査クロック信号が
相互に関係付けられる。したがって、リフレッシュモー
ドにおいても、外部のコントローラまたはプロセッサを
用いて、垂直走査信号VCKを生成する場合、同様、水
平走査に関連する信号HCK、ST1およびINHHも
同様に生成される。このAND回路71を用いて水平走
査回路3において水平シフトレジスタのシフト動作を停
止させることにより、リフレッシュ時の消費電流を低減
する。
は通常動作モードおよびリフレッシュモードいずれにお
いても、垂直走査クロック信号VCKを生成した場合、
1行の画素の最終画素にまで走査した後に、次の垂直走
査クロック信号VCKが生成されるように、通常、カウ
ンタを用いて、垂直走査および水平走査クロック信号が
相互に関係付けられる。したがって、リフレッシュモー
ドにおいても、外部のコントローラまたはプロセッサを
用いて、垂直走査信号VCKを生成する場合、同様、水
平走査に関連する信号HCK、ST1およびINHHも
同様に生成される。このAND回路71を用いて水平走
査回路3において水平シフトレジスタのシフト動作を停
止させることにより、リフレッシュ時の消費電流を低減
する。
【0135】垂直走査回路2に対し外部からの垂直走査
信号VCK、垂直走査開始信号SAVおよび垂直禁止信
号INHVが与えられるため、図1に示すシフトクロッ
ク切換回路8を設ける必要がなく、回路占有面積を低減
することができる。また、リフレッシュ制御回路におい
ても、リフレッシュ用の垂直走査のための制御信号を発
生する必要がなく、図10に示す回路構成は不要とな
る。外部からのリフレッシュ指示信号SELFに従って
通常動作モード指示信号NORMを生成する事が要求さ
れるだけである。
信号VCK、垂直走査開始信号SAVおよび垂直禁止信
号INHVが与えられるため、図1に示すシフトクロッ
ク切換回路8を設ける必要がなく、回路占有面積を低減
することができる。また、リフレッシュ制御回路におい
ても、リフレッシュ用の垂直走査のための制御信号を発
生する必要がなく、図10に示す回路構成は不要とな
る。外部からのリフレッシュ指示信号SELFに従って
通常動作モード指示信号NORMを生成する事が要求さ
れるだけである。
【0136】[変更例2]
【0137】図15は、この発明の実施の形態1におけ
る変更例2に従う接続制御回路を制御する部分の構成の
一例を示す図である。図15において、接続制御部は、
外部からのノーマル垂直走査開始信号STVNと左イネ
ーブル信号LEとを受けるOR回路80と、外部からの
補の通常垂直走査クロック信号/φVNに従って選択的
に導通し、導通時OR回路80の出力信号を通過させる
転送ゲート81と、転送ゲート81を介して与えられる
信号を反転するインバータ82と、インバータ82の出
力信号を反転してインバータ82の入力へ伝達するイン
バータ83と、インバータ82の出力信号を反転するイ
ンバータ84と、外部からの通常垂直走査クロック信号
φVNに従って導通し、導通時インバータ84の出力信
号を通過させて右イネーブル信号REを生成する転送ゲ
ート85と、転送ゲート85から与えられた信号を反転
して左イネーブル信号LEを生成するインバータ86を
含む。次に、この図15に示す接続制御部の動作を図1
6に示すタイミング図を参照して説明する。
る変更例2に従う接続制御回路を制御する部分の構成の
一例を示す図である。図15において、接続制御部は、
外部からのノーマル垂直走査開始信号STVNと左イネ
ーブル信号LEとを受けるOR回路80と、外部からの
補の通常垂直走査クロック信号/φVNに従って選択的
に導通し、導通時OR回路80の出力信号を通過させる
転送ゲート81と、転送ゲート81を介して与えられる
信号を反転するインバータ82と、インバータ82の出
力信号を反転してインバータ82の入力へ伝達するイン
バータ83と、インバータ82の出力信号を反転するイ
ンバータ84と、外部からの通常垂直走査クロック信号
φVNに従って導通し、導通時インバータ84の出力信
号を通過させて右イネーブル信号REを生成する転送ゲ
ート85と、転送ゲート85から与えられた信号を反転
して左イネーブル信号LEを生成するインバータ86を
含む。次に、この図15に示す接続制御部の動作を図1
6に示すタイミング図を参照して説明する。
【0138】今、走査線Vm−1が、奇数走査線であ
り、対応の画素素子が左側内部データ信号線DLに接続
され、右イネーブル信号REが論理Lレベル、左イネー
ブル信号LEが論理Hレベルの状態を考える。通常垂直
走査クロック信号φVNが論理Lレベルのときには、転
送ゲート85が非導通状態、転送ゲート81が導通状態
となる。この状態において、通常走査開始信号STVN
が論理Hレベルに立上がると、転送ゲート81を介して
OR回路80の出力する論理Hレベルの信号が伝達され
てインバータ82および83によりラッチされる。
り、対応の画素素子が左側内部データ信号線DLに接続
され、右イネーブル信号REが論理Lレベル、左イネー
ブル信号LEが論理Hレベルの状態を考える。通常垂直
走査クロック信号φVNが論理Lレベルのときには、転
送ゲート85が非導通状態、転送ゲート81が導通状態
となる。この状態において、通常走査開始信号STVN
が論理Hレベルに立上がると、転送ゲート81を介して
OR回路80の出力する論理Hレベルの信号が伝達され
てインバータ82および83によりラッチされる。
【0139】次いで、通常垂直走査クロック信号φVN
が論理Hレベルに立上がると、転送ゲート85が導通
し、インバータ84からの論理Hレベル信号が、右イネ
ーブル信号REとして出力され、一方、インバータ86
により、左イネーブル信号LEが論理Lレベルとなる。
したがって、最終走査線Vmが偶数走査線であり、右イ
ネーブル信号REが活性化され、右側内部データ信号線
DRに接続される画素素子に対し画像データが書込まれ
る。
が論理Hレベルに立上がると、転送ゲート85が導通
し、インバータ84からの論理Hレベル信号が、右イネ
ーブル信号REとして出力され、一方、インバータ86
により、左イネーブル信号LEが論理Lレベルとなる。
したがって、最終走査線Vmが偶数走査線であり、右イ
ネーブル信号REが活性化され、右側内部データ信号線
DRに接続される画素素子に対し画像データが書込まれ
る。
【0140】通常垂直走査クロック信号φVNが論理L
レベルとなると、転送ゲート81が導通し、OR回路8
0からの論理Lレベルの信号をインバータ82へ与え
る。この状態において、転送ゲート85は非導通状態に
なり、その出力信号REおよびLEの状態は変化しな
い。
レベルとなると、転送ゲート81が導通し、OR回路8
0からの論理Lレベルの信号をインバータ82へ与え
る。この状態において、転送ゲート85は非導通状態に
なり、その出力信号REおよびLEの状態は変化しな
い。
【0141】続いて、再び通常垂直走査クロック信号φ
VNが論理Hレベルとなると、転送ゲート85が導通
し、インバータ84からの論理Lレベルの信号が、右イ
ネーブル信号REとして出力され、またインバータ86
により、左イネーブル信号LEが論理Hレベルへ駆動さ
れる。この状態において、補の垂直走査信号/φVNは
論理Lレベルであり、転送ゲート81は非導通状態を維
持する。したがって、最初の垂直走査線V1が選択され
るときには、左イネーブル信号LEが論理Hレベル、右
イネーブル信号REが論理Lレベルとなり、選択行に応
じて、内部データ信号線を、選択画素に結合することが
できる。
VNが論理Hレベルとなると、転送ゲート85が導通
し、インバータ84からの論理Lレベルの信号が、右イ
ネーブル信号REとして出力され、またインバータ86
により、左イネーブル信号LEが論理Hレベルへ駆動さ
れる。この状態において、補の垂直走査信号/φVNは
論理Lレベルであり、転送ゲート81は非導通状態を維
持する。したがって、最初の垂直走査線V1が選択され
るときには、左イネーブル信号LEが論理Hレベル、右
イネーブル信号REが論理Lレベルとなり、選択行に応
じて、内部データ信号線を、選択画素に結合することが
できる。
【0142】なお、この図15に示す構成において、外
部からリフレッシュモード時においても、垂直走査クロ
ック信号が与えられる場合には、先の図14に示す構成
と同様、通常動作モード指示信号NORMと外部からの
垂直走査クロック信号VCKを受けるAND回路の出力
信号を転送ゲート85へ与え、一方、転送ゲート81
は、通常動作モード指示信号NORMと補の垂直走査ク
ロック信号/VCKを受けるAND回路の出力信号を与
える。
部からリフレッシュモード時においても、垂直走査クロ
ック信号が与えられる場合には、先の図14に示す構成
と同様、通常動作モード指示信号NORMと外部からの
垂直走査クロック信号VCKを受けるAND回路の出力
信号を転送ゲート85へ与え、一方、転送ゲート81
は、通常動作モード指示信号NORMと補の垂直走査ク
ロック信号/VCKを受けるAND回路の出力信号を与
える。
【0143】なお、これらの右イネーブル信号REおよ
び左イネーブル信号LEも、外部のプロセッサまたはコ
ントローラから通常動作モード時与えられるように構成
されてもよい。この場合には図15に示す回路は不要と
なる。
び左イネーブル信号LEも、外部のプロセッサまたはコ
ントローラから通常動作モード時与えられるように構成
されてもよい。この場合には図15に示す回路は不要と
なる。
【0144】なお、図2に示す配置においては、各画素
列に対応して内部データ信号線対を配置し、各行ごとに
交互にこれらの内部データ信号線対の異なるデータ信号
線に表示画素素子に接続している。しかしながら、図1
7に示すように対をなすデータ信号線DLおよびDR
に、ほぼ同数の画素が接続される構成であればよく、た
とえば、画素群PGAとして上半分の画素がデータ信号
線DLに接続され、画素群PGBとして下半分の画素が
内部データ線DRに接続されてもよい。したがって、こ
の1行おきに、画素が交互に異なるデータ信号線に接続
される構成に限定されず、図17に示すように、データ
信号線対の各データ信号線に同数個の画素が接続される
構成であればよく、2行ごとに画素が異なる内部データ
信号線に接続される構成であっても良い。
列に対応して内部データ信号線対を配置し、各行ごとに
交互にこれらの内部データ信号線対の異なるデータ信号
線に表示画素素子に接続している。しかしながら、図1
7に示すように対をなすデータ信号線DLおよびDR
に、ほぼ同数の画素が接続される構成であればよく、た
とえば、画素群PGAとして上半分の画素がデータ信号
線DLに接続され、画素群PGBとして下半分の画素が
内部データ線DRに接続されてもよい。したがって、こ
の1行おきに、画素が交互に異なるデータ信号線に接続
される構成に限定されず、図17に示すように、データ
信号線対の各データ信号線に同数個の画素が接続される
構成であればよく、2行ごとに画素が異なる内部データ
信号線に接続される構成であっても良い。
【0145】以上のように、この発明の実施の形態1に
従えば、各画素列に対応して相補信号線対を設け、各画
素のデータを信号線対の一方に読出してセンスアンプに
より差動増幅して増幅したデータを元の画素に再書込す
るように構成しており、外部から全画素データ信号を再
書込する必要がなく、システム規模および消費電流をと
もに低減することができる。
従えば、各画素列に対応して相補信号線対を設け、各画
素のデータを信号線対の一方に読出してセンスアンプに
より差動増幅して増幅したデータを元の画素に再書込す
るように構成しており、外部から全画素データ信号を再
書込する必要がなく、システム規模および消費電流をと
もに低減することができる。
【0146】なお、リフレッシュ時の対向電極の画素駆
動電圧Vcntについては、表示画像を変更する必要は
ないため、その電圧極性を特に変化させる必要はない。
動電圧Vcntについては、表示画像を変更する必要は
ないため、その電圧極性を特に変化させる必要はない。
【0147】[実施の形態2]
【0148】図18は、この発明の実施の形態2に従う
表示装置の要部の構成を概略的に示す図である。図18
においては、1列の画素に対応する部分の構成を代表的
に示す。画素列に対応して相補内部データ信号線DLi
およびDRiが配置される。これらの相補内部データ信
号線DLiおよびDRiに対しては、各行ごとに交互に
画素PX1iおよびPX2iが交互に接続される。しか
しながら、この内部データ信号線DLiおよびDRiに
は、同数個の画素が接続される構成であればよく、各行
ごとに交互に、画素がデータ信号線DLiおよびDRi
に接続される必要はない。
表示装置の要部の構成を概略的に示す図である。図18
においては、1列の画素に対応する部分の構成を代表的
に示す。画素列に対応して相補内部データ信号線DLi
およびDRiが配置される。これらの相補内部データ信
号線DLiおよびDRiに対しては、各行ごとに交互に
画素PX1iおよびPX2iが交互に接続される。しか
しながら、この内部データ信号線DLiおよびDRiに
は、同数個の画素が接続される構成であればよく、各行
ごとに交互に、画素がデータ信号線DLiおよびDRi
に接続される必要はない。
【0149】共通画像データバスは、相補画像データD
および/Dを転送するために相補画像データ線97およ
び98を備える。
および/Dを転送するために相補画像データ線97およ
び98を備える。
【0150】接続制御回路4において、切換回路SG1
には、通常動作モード指示信号NORMと水平走査信号
Hiを受けるAND回路90が設けられる。このAND
回路90の出力信号に従って、転送ゲート22および2
4が導通し、内部データ信号線DLiおよびDRiを、
相補画像データ線97および98にそれぞれ結合する。
この内部データ信号線DLiおよびDRiと相補画像デ
ータ線97および98との接続は、他の画素列において
も同様であり、一意的に定められる。
には、通常動作モード指示信号NORMと水平走査信号
Hiを受けるAND回路90が設けられる。このAND
回路90の出力信号に従って、転送ゲート22および2
4が導通し、内部データ信号線DLiおよびDRiを、
相補画像データ線97および98にそれぞれ結合する。
この内部データ信号線DLiおよびDRiと相補画像デ
ータ線97および98との接続は、他の画素列において
も同様であり、一意的に定められる。
【0151】相補画像データ線97および98に相補画
素データ信号Dおよび/Dを生成するために、右イネー
ブル信号REと画素データ信号PDを受けるEXOR回
路95と、EXOR回路95の出力信号を反転するイン
バータ96が設けられる。EXOR回路95が画像デー
タ線97を駆動し、インバータ96が、画像データ線9
8を駆動する。
素データ信号Dおよび/Dを生成するために、右イネー
ブル信号REと画素データ信号PDを受けるEXOR回
路95と、EXOR回路95の出力信号を反転するイン
バータ96が設けられる。EXOR回路95が画像デー
タ線97を駆動し、インバータ96が、画像データ線9
8を駆動する。
【0152】表示画素マトリクス1においては、各画素
PXに対応して基準セルRXが配置される。これらの基
準セルRXは、対応の画素が接続する内部データ線と対
をなす内部データ線に接続される。図18においては、
同一行において画素PX1iに隣接して、基準セルRX
1iが配置され、画素PX2iに対して基準セルRX2
iが配置される。これらの基準セルRX(RX1i,R
X2i)は、対応の画素PX(PX1i,PX2i)の
保持電圧(書込画素データ信号)と相補な電圧信号を格
納する。
PXに対応して基準セルRXが配置される。これらの基
準セルRXは、対応の画素が接続する内部データ線と対
をなす内部データ線に接続される。図18においては、
同一行において画素PX1iに隣接して、基準セルRX
1iが配置され、画素PX2iに対して基準セルRX2
iが配置される。これらの基準セルRX(RX1i,R
X2i)は、対応の画素PX(PX1i,PX2i)の
保持電圧(書込画素データ信号)と相補な電圧信号を格
納する。
【0153】基準セルRX(RX1i,RX2i)は、
対応の垂直走査信号(行選択信号)V(V1,V2)に
応答して導通する基準トランジスタ100と、この基準
トランジスタ(TFT)100を介して与えられた電圧
を保持する基準容量素子101を含む。この基準容量素
子101の他方電極ノードは、共通電極に結合され、共
通電極電圧Vcomを受ける。
対応の垂直走査信号(行選択信号)V(V1,V2)に
応答して導通する基準トランジスタ100と、この基準
トランジスタ(TFT)100を介して与えられた電圧
を保持する基準容量素子101を含む。この基準容量素
子101の他方電極ノードは、共通電極に結合され、共
通電極電圧Vcomを受ける。
【0154】各画素と対をなすように基準セルRXを配
置し、内部データ信号線DLiおよびDRiに、画素P
Xと基準セルRXのデータを読み出す。これらの画素P
Xおよび基準セルRXには相補画素データ信号が格納さ
れるため、リフレッシュ時において、画素PXの保持電
圧だけを読み出す場合に較べて、内部データ信号線DL
iおよびDRiに現われる信号電圧差を大きくすること
ができ、リフレッシュ周期を長くすることができる。
置し、内部データ信号線DLiおよびDRiに、画素P
Xと基準セルRXのデータを読み出す。これらの画素P
Xおよび基準セルRXには相補画素データ信号が格納さ
れるため、リフレッシュ時において、画素PXの保持電
圧だけを読み出す場合に較べて、内部データ信号線DL
iおよびDRiに現われる信号電圧差を大きくすること
ができ、リフレッシュ周期を長くすることができる。
【0155】図18に示す構成において、他の構成は、
図2に示す構成と同じであり、対応する部分には同一参
照番号を付し、その詳細説明は省略する。
図2に示す構成と同じであり、対応する部分には同一参
照番号を付し、その詳細説明は省略する。
【0156】通常動作モード時においては、通常動作モ
ード指示信号NORMが論理Hレベルであり、切換回路
SG1が、水平走査信号(列選択信号)Hiに応答して
導通し、内部データ信号線DLiおよびDRiを共通画
像データ線97および97にそれぞれ結合する。
ード指示信号NORMが論理Hレベルであり、切換回路
SG1が、水平走査信号(列選択信号)Hiに応答して
導通し、内部データ信号線DLiおよびDRiを共通画
像データ線97および97にそれぞれ結合する。
【0157】今、垂直走査信号(行選択信号)V1が選
択状態へ駆動された場合を考える。この場合、右イネー
ブル信号REは論理Lレベルであり、EXOR回路95
は、バッファ回路として動作し、外部からの画素データ
信号PDに従って内部画素データ信号Dを生成する。イ
ンバータ96が、この内部画素データ信号Dを反転し
て、補の画素データ信号/Dを生成する。今、垂直走査
信号V1が選択状態とされているため、切換回路SG1
を介して画素PX1iに対しデータ信号Dが与えられ、
一方、基準セルRX1iに対し、補のデータ信号/Dが
与えられ、これらの容量素子26および101には、相
補な電圧信号が伝達されて格納される。
択状態へ駆動された場合を考える。この場合、右イネー
ブル信号REは論理Lレベルであり、EXOR回路95
は、バッファ回路として動作し、外部からの画素データ
信号PDに従って内部画素データ信号Dを生成する。イ
ンバータ96が、この内部画素データ信号Dを反転し
て、補の画素データ信号/Dを生成する。今、垂直走査
信号V1が選択状態とされているため、切換回路SG1
を介して画素PX1iに対しデータ信号Dが与えられ、
一方、基準セルRX1iに対し、補のデータ信号/Dが
与えられ、これらの容量素子26および101には、相
補な電圧信号が伝達されて格納される。
【0158】一方、垂直走査信号V2が選択状態へ駆動
された場合には、右イネーブル信号REが論理Hレベル
となり、EXOR回路95が、インバータとして動作す
る。したがって、この場合には、共通画素データ信号線
97へは、画素データ信号PDに対し補の画素データ信
号/Dが与えられ、共通画像データ線98には、元の画
素データ信号PDに対応する内部画素データ信号Dが与
えられる。
された場合には、右イネーブル信号REが論理Hレベル
となり、EXOR回路95が、インバータとして動作す
る。したがって、この場合には、共通画素データ信号線
97へは、画素データ信号PDに対し補の画素データ信
号/Dが与えられ、共通画像データ線98には、元の画
素データ信号PDに対応する内部画素データ信号Dが与
えられる。
【0159】この状態において、水平走査信号Hiが選
択状態へ駆動されると、内部データ信号線DLiおよび
DRiに対し画素データ信号/DおよびDが伝達され
る。画素PX2iにおいて、サンプリングTFT25を
介して、その内部の電圧保持容量素子26に、元の画像
データPDに対応する画素データ信号が書込まれ、基準
セルRX2iには、補の画素データ信号/Dが伝達され
て格納される。
択状態へ駆動されると、内部データ信号線DLiおよび
DRiに対し画素データ信号/DおよびDが伝達され
る。画素PX2iにおいて、サンプリングTFT25を
介して、その内部の電圧保持容量素子26に、元の画像
データPDに対応する画素データ信号が書込まれ、基準
セルRX2iには、補の画素データ信号/Dが伝達され
て格納される。
【0160】したがって、選択行の位置に応じて、元画
素データ信号PDの論理を変更することにより、画素P
X(PX1i,PX2i)に対して常に、元画素データ
信号PDに対応する画素データ信号Dを書込むことがで
き、各画素を画素データ信号に応じた状態に設定するこ
とができる。
素データ信号PDの論理を変更することにより、画素P
X(PX1i,PX2i)に対して常に、元画素データ
信号PDに対応する画素データ信号Dを書込むことがで
き、各画素を画素データ信号に応じた状態に設定するこ
とができる。
【0161】リフレッシュモード時においては、通常動
作モード指示信号NORMが論理Lレベルであり、AN
D回路90の出力信号は論理Lレベルとなり、切換回路
SG1が非導通状態となり、内部データ信号線DLiお
よびDRiは、共通画像データ線97および98から分
離される。この状態において、実施の形態1と同様にし
て、リフレッシュ回路6により、リフレッシュが実行さ
れる。
作モード指示信号NORMが論理Lレベルであり、AN
D回路90の出力信号は論理Lレベルとなり、切換回路
SG1が非導通状態となり、内部データ信号線DLiお
よびDRiは、共通画像データ線97および98から分
離される。この状態において、実施の形態1と同様にし
て、リフレッシュ回路6により、リフレッシュが実行さ
れる。
【0162】画素PXおよび基準セルRXの容量26お
よび101は同じ容量値を有しており、書込データは、
論理Hレベルおよび論理Lレベルの2値データである。
したがって、このリフレッシュ時において、中間電圧V
Mレベルにプリチャージされた信号線CLおよびCRに
対し、同じ大きさの読出電圧ΔVが伝達される。単にこ
の読出電圧ΔVの符号が異なる。したがって、図19に
示すように、信号線CLおよびCRの電圧差は2・ΔV
となり、画素のみを内部データ信号線を介して相補信号
線CLまたはCRに接続する構成に比べて、読出電圧を
等価的に大きくすることができ、センスアンプSAのセ
ンスマージンを大きくすることができる。
よび101は同じ容量値を有しており、書込データは、
論理Hレベルおよび論理Lレベルの2値データである。
したがって、このリフレッシュ時において、中間電圧V
Mレベルにプリチャージされた信号線CLおよびCRに
対し、同じ大きさの読出電圧ΔVが伝達される。単にこ
の読出電圧ΔVの符号が異なる。したがって、図19に
示すように、信号線CLおよびCRの電圧差は2・ΔV
となり、画素のみを内部データ信号線を介して相補信号
線CLまたはCRに接続する構成に比べて、読出電圧を
等価的に大きくすることができ、センスアンプSAのセ
ンスマージンを大きくすることができる。
【0163】これは、逆にいえば、リフレッシュ間隔を
長くしても、信号線CLおよびCRの電圧差がΔVとな
るまで安定にセンス動作が行なうことができることを意
味する。画素PXの保持電圧レベルが低下しても、相補
信号線CLおよびRの電圧差は、センスマージン以上で
あれば、センスアンプSAが安定にセンス動作を行なう
ことのできる。したがって、画素の論理Hレベルの保持
電圧が、液晶駆動部27の画素駆動TFTのしきい値電
圧以上である間に、リフレッシュを行なうことにより、
フリッカなどを生じさせることなく確実に、保持電圧を
復元することができる。したがって、リフレッシュ間隔
を十分長くすることができ、単位時間あたりのリフレッ
シュ回数を低減することができ、リフレッシュに要する
消費電流を大幅に低減することができる。
長くしても、信号線CLおよびCRの電圧差がΔVとな
るまで安定にセンス動作が行なうことができることを意
味する。画素PXの保持電圧レベルが低下しても、相補
信号線CLおよびRの電圧差は、センスマージン以上で
あれば、センスアンプSAが安定にセンス動作を行なう
ことのできる。したがって、画素の論理Hレベルの保持
電圧が、液晶駆動部27の画素駆動TFTのしきい値電
圧以上である間に、リフレッシュを行なうことにより、
フリッカなどを生じさせることなく確実に、保持電圧を
復元することができる。したがって、リフレッシュ間隔
を十分長くすることができ、単位時間あたりのリフレッ
シュ回数を低減することができ、リフレッシュに要する
消費電流を大幅に低減することができる。
【0164】なお、この図18に示す構成においても、
選択行の画素が順次、水平走査信号に従って選択され
て、選択画素に対し画素データ信号が書込まれる点順次
方式が示されている。しかしながら、選択行において一
括して、同時に、1行の画素に対し画素データ信号が書
込まれる構成であっても、同様の効果を得ることができ
る。
選択行の画素が順次、水平走査信号に従って選択され
て、選択画素に対し画素データ信号が書込まれる点順次
方式が示されている。しかしながら、選択行において一
括して、同時に、1行の画素に対し画素データ信号が書
込まれる構成であっても、同様の効果を得ることができ
る。
【0165】[変更例]
【0166】図20は、この発明の実施の形態2の変更
例を示す図である。この図20においては、内部画素デ
ータ信号PDおよび/PDを共通画像データ線97およ
び98に伝達する信号切換部の構成を示す。図20にお
いて、切換部は、左イネーブル信号LEの活性化時導通
し、画素データ信号PDおよび/PDを共通画像データ
線97および98にそれぞれ伝達する転送ゲート110
および111と、右イネーブル信号REの活性化時導通
し、導通時、画素データ信号PDおよび/PDを共通画
像データ線98および97へそれぞれ伝達する転送ゲー
ト112および113を含む。
例を示す図である。この図20においては、内部画素デ
ータ信号PDおよび/PDを共通画像データ線97およ
び98に伝達する信号切換部の構成を示す。図20にお
いて、切換部は、左イネーブル信号LEの活性化時導通
し、画素データ信号PDおよび/PDを共通画像データ
線97および98にそれぞれ伝達する転送ゲート110
および111と、右イネーブル信号REの活性化時導通
し、導通時、画素データ信号PDおよび/PDを共通画
像データ線98および97へそれぞれ伝達する転送ゲー
ト112および113を含む。
【0167】この図20に示す構成においては、右イネ
ーブル信号REが活性状態とされたときには、画素デー
タ信号PDが画像データ線98に伝達され、補の画素デ
ータ信号/PDが、画像データ線97に伝達される。し
たがって、偶数行が選択された場合には、この画像デー
タ線98が、右側のデータ信号線DRに接続されるた
め、各画素に、画素データ信号PDを伝達することがで
きる。
ーブル信号REが活性状態とされたときには、画素デー
タ信号PDが画像データ線98に伝達され、補の画素デ
ータ信号/PDが、画像データ線97に伝達される。し
たがって、偶数行が選択された場合には、この画像デー
タ線98が、右側のデータ信号線DRに接続されるた
め、各画素に、画素データ信号PDを伝達することがで
きる。
【0168】一方、奇数行が選択されて、左イネーブル
信号LEが活性状態のときには、画素データ信号PDお
よび/PDは画像データ線97および98にそれぞれ伝
達される。この左イネーブル信号LEの活性化時には、
画像データ線97が、左側データ信号線DLに結合され
て、対応の画素に画素データ信号が伝達される。
信号LEが活性状態のときには、画素データ信号PDお
よび/PDは画像データ線97および98にそれぞれ伝
達される。この左イネーブル信号LEの活性化時には、
画像データ線97が、左側データ信号線DLに結合され
て、対応の画素に画素データ信号が伝達される。
【0169】したがって、このような選択行の位置に応
じて経路切換を行なう構成を利用しても、正確に、各画
素に対し画素データ信号PDを書込み、かつ基準セルR
Xに対し、補の画素データ/PDを書込むことができ
る。
じて経路切換を行なう構成を利用しても、正確に、各画
素に対し画素データ信号PDを書込み、かつ基準セルR
Xに対し、補の画素データ/PDを書込むことができ
る。
【0170】以上のように、この発明の実施の形態2に
従えば、データ信号線対に対し、各画素に対し、補の画
素データ信号を格納する基準セルを対をなすように配置
し、かつ各データ信号線対に相補画素データ信号が伝達
されるように構成しており、リフレッシュ時の信号線に
読出される電圧差を十分大きくすることができ、応じて
リフレッシュ間隔を長くすることができる。
従えば、データ信号線対に対し、各画素に対し、補の画
素データ信号を格納する基準セルを対をなすように配置
し、かつ各データ信号線対に相補画素データ信号が伝達
されるように構成しており、リフレッシュ時の信号線に
読出される電圧差を十分大きくすることができ、応じて
リフレッシュ間隔を長くすることができる。
【0171】[実施の形態3]
【0172】図21は、この発明の実施の形態3に従う
表示装置の要部の構成を概略的に示す図である。図21
においては、1列の画素PXに対する構成を代表的に示
す。この図21に示す構成においては、分離ゲートIG
に対し、テストイネーブル信号TEとリフレッシュ指示
信号SELFを受けるOR回路115の出力信号が与え
られる。すなわち、この分離ゲートIGは、リフレッシ
ュモード時およびテストモード時に導通状態となり、内
部データ信号線DLおよびDRを相補信号線CLおよび
CRにそれぞれ接続する。この信号線CLおよびCRに
対しては、センスアンプSAおよびプリチャージ/イコ
ライズ回路PEQが設けられる。
表示装置の要部の構成を概略的に示す図である。図21
においては、1列の画素PXに対する構成を代表的に示
す。この図21に示す構成においては、分離ゲートIG
に対し、テストイネーブル信号TEとリフレッシュ指示
信号SELFを受けるOR回路115の出力信号が与え
られる。すなわち、この分離ゲートIGは、リフレッシ
ュモード時およびテストモード時に導通状態となり、内
部データ信号線DLおよびDRを相補信号線CLおよび
CRにそれぞれ接続する。この信号線CLおよびCRに
対しては、センスアンプSAおよびプリチャージ/イコ
ライズ回路PEQが設けられる。
【0173】この実施の形態3において、信号線CLお
よびCRに対しさらに、水平走査信号Hiとテストイネ
ーブル信号TEとに従って選択的に活性化され、活性化
時これらの相補信号線CLおよびCRのデータを読出し
て共通データバス122に伝達するリードゲート120
が設けられる。このリードゲート120から共通データ
バス122を介して伝達される信号は、出力回路124
を介して外部へ出力される。
よびCRに対しさらに、水平走査信号Hiとテストイネ
ーブル信号TEとに従って選択的に活性化され、活性化
時これらの相補信号線CLおよびCRのデータを読出し
て共通データバス122に伝達するリードゲート120
が設けられる。このリードゲート120から共通データ
バス122を介して伝達される信号は、出力回路124
を介して外部へ出力される。
【0174】すなわち、センスアンプSAにより増幅さ
れた相補信号線CLおよびCRの信号に従って、リード
ゲート120を駆動して、共通バス122に各画素のデ
ータを内部読出する。出力回路124により、この共通
バス122上のデータをバッファ処理してたとえばCM
OSレベルの信号に変換して外部画素データDoutと
して出力する。したがって、画素PXにおける保持電圧
が小さい場合においても、外部へは、出力回路124を
介してたとえばCMOSレベルの信号Doutを出力す
ることができる。これにより、表示画素の動作の良/不
良を、通常のLSIテスタなどを用いて簡単に判定する
ことができる。
れた相補信号線CLおよびCRの信号に従って、リード
ゲート120を駆動して、共通バス122に各画素のデ
ータを内部読出する。出力回路124により、この共通
バス122上のデータをバッファ処理してたとえばCM
OSレベルの信号に変換して外部画素データDoutと
して出力する。したがって、画素PXにおける保持電圧
が小さい場合においても、外部へは、出力回路124を
介してたとえばCMOSレベルの信号Doutを出力す
ることができる。これにより、表示画素の動作の良/不
良を、通常のLSIテスタなどを用いて簡単に判定する
ことができる。
【0175】図22は、リードゲートの具体的構成の一
例を示す図である。リードゲート120は、相補信号線
CLおよびCRの対それぞれに対応して設けられ、水平
走査信号(列選択信号)Hに従って活性化される(テス
トモード時)。図22においては、相補信号線CLiお
よびCRiに対して設けられるリードゲート120iの
構成要素を具体的に示す。各画素列に対して、このリー
ドゲート120iと同様の構成のリードゲートが配置さ
れる。図22においては、他の列に対する構成として、
信号線CLjおよびCRjに対して配置されるリードゲ
ート120jを代表的に示す。
例を示す図である。リードゲート120は、相補信号線
CLおよびCRの対それぞれに対応して設けられ、水平
走査信号(列選択信号)Hに従って活性化される(テス
トモード時)。図22においては、相補信号線CLiお
よびCRiに対して設けられるリードゲート120iの
構成要素を具体的に示す。各画素列に対して、このリー
ドゲート120iと同様の構成のリードゲートが配置さ
れる。図22においては、他の列に対する構成として、
信号線CLjおよびCRjに対して配置されるリードゲ
ート120jを代表的に示す。
【0176】図22において、リードゲート120i
は、それぞれのゲートが信号線CLiおよびCRiに接
続されるNチャネルTFT130および131と、テス
トイネーブル信号TEと水平走査信号Hiを受けるAN
D回路134と、AND回路134の出力信号が論理H
レベルのとき導通し、TFT130および131をそれ
ぞれ内部共通データ線122aおよび122bにそれぞ
れ結合するNチャネルTFT132および133を含
む。
は、それぞれのゲートが信号線CLiおよびCRiに接
続されるNチャネルTFT130および131と、テス
トイネーブル信号TEと水平走査信号Hiを受けるAN
D回路134と、AND回路134の出力信号が論理H
レベルのとき導通し、TFT130および131をそれ
ぞれ内部共通データ線122aおよび122bにそれぞ
れ結合するNチャネルTFT132および133を含
む。
【0177】共通データ線122aおよび122bに
は、プリチャージ回路125が設けられる。このプリチ
ャージ回路125は、禁止信号INHHが論理Hレベル
のときに活性化され、共通データ線122aおよび12
2bを、電源電圧VCCレベルにそれぞれプリチャージ
する。
は、プリチャージ回路125が設けられる。このプリチ
ャージ回路125は、禁止信号INHHが論理Hレベル
のときに活性化され、共通データ線122aおよび12
2bを、電源電圧VCCレベルにそれぞれプリチャージ
する。
【0178】リードゲート120iにおいては、TFT
130および131が差動ゲートを構成しており、信号
線CLiおよびCRiの電圧レベルに応じて、共通デー
タ線122aおよび122bの一方を、論理Lレベル
(接地電圧レベル)に駆動する。信号線CLiおよびC
Riには、センスアンプSAにより、振幅が電源電圧レ
ベルの相補信号が生成されており、十分に共通データ線
122aおよび122bの電圧レベルを変化させること
ができる。プリチャージ回路125により電源電圧VC
Cレベルにプリチャージされた共通データ線122aお
よび122bの一方を論理Lレベルに駆動することによ
り、内部画素データの読出を行ない、出力回路124に
より、読み出した画素信号をバッファ処理して、たとえ
ばCMOSレベルの信号を出力する。
130および131が差動ゲートを構成しており、信号
線CLiおよびCRiの電圧レベルに応じて、共通デー
タ線122aおよび122bの一方を、論理Lレベル
(接地電圧レベル)に駆動する。信号線CLiおよびC
Riには、センスアンプSAにより、振幅が電源電圧レ
ベルの相補信号が生成されており、十分に共通データ線
122aおよび122bの電圧レベルを変化させること
ができる。プリチャージ回路125により電源電圧VC
Cレベルにプリチャージされた共通データ線122aお
よび122bの一方を論理Lレベルに駆動することによ
り、内部画素データの読出を行ない、出力回路124に
より、読み出した画素信号をバッファ処理して、たとえ
ばCMOSレベルの信号を出力する。
【0179】液晶素子の動作の良否を、液晶の表示状態
を肉眼で目視することにより判定した場合、人間により
良否の判定が行なわれるため、その判定精度のばらつき
が大きくかつ判定に長時間を要する。一方、画素PXに
蓄積された微小電圧を直接読出す場合、低容量のデータ
読出回路を外部に設けて微小電圧を読出す必要があり、
テストコストが増大する。大きな容量の回路により画素
の保持電圧を読み出した場合、電荷の移動により微小電
圧がさらに小さくなり、正確に保持電圧を読み出すこと
ができない。
を肉眼で目視することにより判定した場合、人間により
良否の判定が行なわれるため、その判定精度のばらつき
が大きくかつ判定に長時間を要する。一方、画素PXに
蓄積された微小電圧を直接読出す場合、低容量のデータ
読出回路を外部に設けて微小電圧を読出す必要があり、
テストコストが増大する。大きな容量の回路により画素
の保持電圧を読み出した場合、電荷の移動により微小電
圧がさらに小さくなり、正確に保持電圧を読み出すこと
ができない。
【0180】この図22に示すように、相補データ信号
線のデータをリードゲート120を介して共通データバ
ス122に読出して、出力回路124により増幅して外
部へ出力することにより、通常の論理レベルの出力信号
Doutを外部へ出力することができ、通常のLSIテ
スタなどを用いて簡単に表示画素の良否の判定を行なう
ことができる。
線のデータをリードゲート120を介して共通データバ
ス122に読出して、出力回路124により増幅して外
部へ出力することにより、通常の論理レベルの出力信号
Doutを外部へ出力することができ、通常のLSIテ
スタなどを用いて簡単に表示画素の良否の判定を行なう
ことができる。
【0181】図23は、テスト制御部の構成を概略的に
示す図である。図23においてテスト制御部は、テスト
イネーブル信号TEと外部からの通常垂直走査クロック
信号φVNを受けるAND回路140と、リフレッシュ
制御部で内部発生される発振信号φVSOとAND回路
140の出力信号とを受けるOR回路141と、OR回
路141の出力信号に従ってリフレッシュ制御信号φP
E、φPおよびφNを生成するセンス系リフレッシュ制
御回路142を含む。このセンス系リフレッシュ制御回
路142は、図12に示す構成に対応し、プリチャージ
/イコライズ指示信号φPE、およびセンスアンプ駆動
信号φPおよびφNを生成する。
示す図である。図23においてテスト制御部は、テスト
イネーブル信号TEと外部からの通常垂直走査クロック
信号φVNを受けるAND回路140と、リフレッシュ
制御部で内部発生される発振信号φVSOとAND回路
140の出力信号とを受けるOR回路141と、OR回
路141の出力信号に従ってリフレッシュ制御信号φP
E、φPおよびφNを生成するセンス系リフレッシュ制
御回路142を含む。このセンス系リフレッシュ制御回
路142は、図12に示す構成に対応し、プリチャージ
/イコライズ指示信号φPE、およびセンスアンプ駆動
信号φPおよびφNを生成する。
【0182】テスト動作時において、外部からの垂直走
査クロック信号および水平走査クロック信号に従って画
素の選択が行なわれる。内部で、リフレッシュ制御回路
を用いて画素選択を行なった場合、選択画素の位置を特
定することができないため、この選択画素の位置を特定
するため、外部のテスタなどを用いて、垂直走査クロッ
ク信号φVNおよび水平走査クロック信号φHNが使用
されて画素の選択が行なわれる。
査クロック信号および水平走査クロック信号に従って画
素の選択が行なわれる。内部で、リフレッシュ制御回路
を用いて画素選択を行なった場合、選択画素の位置を特
定することができないため、この選択画素の位置を特定
するため、外部のテスタなどを用いて、垂直走査クロッ
ク信号φVNおよび水平走査クロック信号φHNが使用
されて画素の選択が行なわれる。
【0183】センス系リフレッシュ制御回路142は、
OR回路141の出力信号を、図12に示す発振信号φ
VS0に代えて利用して、所定のタイミングで、プリチ
ャージ/イコライズ信号φPE、センスアンプ駆動信号
φP、およびセンスアンプ駆動信号φNを生成する。
OR回路141の出力信号を、図12に示す発振信号φ
VS0に代えて利用して、所定のタイミングで、プリチ
ャージ/イコライズ信号φPE、センスアンプ駆動信号
φP、およびセンスアンプ駆動信号φNを生成する。
【0184】センスアンプ駆動信号φPおよびφNが活
性状態となった後に、外部のテスタなどにより、水平走
査クロック信号に従って、水平走査信号が順次活性化さ
れて画素データの読出が行なわれる。
性状態となった後に、外部のテスタなどにより、水平走
査クロック信号に従って、水平走査信号が順次活性化さ
れて画素データの読出が行なわれる。
【0185】図24は、このテスト動作時の画素データ
読出時の動作を示すタイミングチャート図である。以
下、図24を参照して、図21および図22に示す回路
の動作について簡単に説明する。
読出時の動作を示すタイミングチャート図である。以
下、図24を参照して、図21および図22に示す回路
の動作について簡単に説明する。
【0186】テストモード時においては、図21に示す
分離ゲートIGが導通し、内部データ信号線DLおよび
DRが相補信号線CLおよびCRに結合される。外部か
らの垂直走査クロック信号φVNに従って、図23に示
すAND回路140の出力信号が変化し、応じて、セン
ス系リフレッシュ制御回路142がそれぞれ所定のタイ
ミングでプリチャージ/イコライズ指示信号φPE、セ
ンスアンプ駆動信号φNおよびφPを非活性/活性化す
る。センスアンプ駆動信号φPおよびφNに従って、図
21および図22に示すセンスアンプSAがセンス動作
を行ない、信号線CLおよびCRの信号電圧をラッチす
る。次いで、水平走査クロック信号が与えられ、水平走
査信号H(Hi,Hj)に従って、列(水平走査線)の
選択動作が行なわれる。水平走査信号Hが非選択状態へ
駆動されると、禁止信号INHHに従ってプリチャージ
回路125が共通データバス122を電源電圧レベルに
プリチャージする。
分離ゲートIGが導通し、内部データ信号線DLおよび
DRが相補信号線CLおよびCRに結合される。外部か
らの垂直走査クロック信号φVNに従って、図23に示
すAND回路140の出力信号が変化し、応じて、セン
ス系リフレッシュ制御回路142がそれぞれ所定のタイ
ミングでプリチャージ/イコライズ指示信号φPE、セ
ンスアンプ駆動信号φNおよびφPを非活性/活性化す
る。センスアンプ駆動信号φPおよびφNに従って、図
21および図22に示すセンスアンプSAがセンス動作
を行ない、信号線CLおよびCRの信号電圧をラッチす
る。次いで、水平走査クロック信号が与えられ、水平走
査信号H(Hi,Hj)に従って、列(水平走査線)の
選択動作が行なわれる。水平走査信号Hが非選択状態へ
駆動されると、禁止信号INHHに従ってプリチャージ
回路125が共通データバス122を電源電圧レベルに
プリチャージする。
【0187】センスアンプSAによりラッチされた1行
の画素データが、水平走査信号H(Hi,Hj)に従っ
て順次共通データ線上にリードゲート120(120
i,120j)を介して読出される。次いで、共通デー
タバス122上の内部読出データが、出力回路124を
介して外部へ出力される。なお、このテスト動作時にお
いては、共通画像データ線に結合される接続制御回路は
非導通状態に保持される。水平走査信号Hi,Hjは、
図1等において示す水平走査回路3から出力される。
の画素データが、水平走査信号H(Hi,Hj)に従っ
て順次共通データ線上にリードゲート120(120
i,120j)を介して読出される。次いで、共通デー
タバス122上の内部読出データが、出力回路124を
介して外部へ出力される。なお、このテスト動作時にお
いては、共通画像データ線に結合される接続制御回路は
非導通状態に保持される。水平走査信号Hi,Hjは、
図1等において示す水平走査回路3から出力される。
【0188】また、プリチャージ回路125に代えて、
電源電圧VCCレベルに共通データ線122aおよび1
22bをそれぞれプルアップするプルアップ回路が用い
られてもよい。
電源電圧VCCレベルに共通データ線122aおよび1
22bをそれぞれプルアップするプルアップ回路が用い
られてもよい。
【0189】[変更例]
【0190】図25は、この発明の実施の形態3の変更
例1の構成を概略的に示す図である。この図25におい
て、内部データ信号線DLおよびDRに対し、相補デー
タを伝達するための内部画像データ線97および98が
設けられる。切換回路SGiおよびSGjは、図18に
示す切換回路と同じ構成を有する。この内部画像データ
線97および98に対し、水平走査クロック信号/HC
Kとテストイネーブル信号TEの論理積に応答して活性
化されて、この内部画像データ線97および98の電圧
を差動増幅するメインアンプ150と、メインアンプ1
50の内部読出データをバッファ処理して外部へ出力す
る出力回路152が設けられる。他の構成は、図18に
示す構成と、分離ゲートIGiおよびIGjが、テスト
イネーブル信号TEに応答して導通状態となる点を除い
て同じである。
例1の構成を概略的に示す図である。この図25におい
て、内部データ信号線DLおよびDRに対し、相補デー
タを伝達するための内部画像データ線97および98が
設けられる。切換回路SGiおよびSGjは、図18に
示す切換回路と同じ構成を有する。この内部画像データ
線97および98に対し、水平走査クロック信号/HC
Kとテストイネーブル信号TEの論理積に応答して活性
化されて、この内部画像データ線97および98の電圧
を差動増幅するメインアンプ150と、メインアンプ1
50の内部読出データをバッファ処理して外部へ出力す
る出力回路152が設けられる。他の構成は、図18に
示す構成と、分離ゲートIGiおよびIGjが、テスト
イネーブル信号TEに応答して導通状態となる点を除い
て同じである。
【0191】この図25に示す構成においては、切換回
路SGiおよびSGjを、テストモード時に水平走査信
号HiおよびHjに応答して導通状態とし共通画像デー
タ線97および98に対し、センスアンプSAにより増
幅されたデータを読出す。メインアンプ150は、水平
走査クロック信号/HCKが論理Lレベルのときにテス
トモード時活性化されて、この内部画像データ線97お
よび98に読出されるデータを増幅して、その増幅した
内部読出データを出力回路152へ与える。
路SGiおよびSGjを、テストモード時に水平走査信
号HiおよびHjに応答して導通状態とし共通画像デー
タ線97および98に対し、センスアンプSAにより増
幅されたデータを読出す。メインアンプ150は、水平
走査クロック信号/HCKが論理Lレベルのときにテス
トモード時活性化されて、この内部画像データ線97お
よび98に読出されるデータを増幅して、その増幅した
内部読出データを出力回路152へ与える。
【0192】センスアンプSAは比較的大きな駆動力を
有しており、内部画像データ線97および98において
比較的大きな電圧差を生成することができる。この内部
画像データ線97および98に生じた電圧差を、メイン
アンプ150で増幅することにより、別にリードゲート
を設けることなく、各画素PXの保持電圧を外部へ読出
すことができる。
有しており、内部画像データ線97および98において
比較的大きな電圧差を生成することができる。この内部
画像データ線97および98に生じた電圧差を、メイン
アンプ150で増幅することにより、別にリードゲート
を設けることなく、各画素PXの保持電圧を外部へ読出
すことができる。
【0193】この図25に示す構成において、テストモ
ード時においてリフレッシュ回路を動作させるための構
成としては、図23に示す構成を利用することができ
る。通常動作モード指示信号NORMが、テストイネー
ブル信号TEの活性化時論理Hレベルの活性状態に設定
されれば、行および列(垂直走査線および水平走査線)
の選択を行なうことができる。
ード時においてリフレッシュ回路を動作させるための構
成としては、図23に示す構成を利用することができ
る。通常動作モード指示信号NORMが、テストイネー
ブル信号TEの活性化時論理Hレベルの活性状態に設定
されれば、行および列(垂直走査線および水平走査線)
の選択を行なうことができる。
【0194】[変更例2]
【0195】図26は、この発明の実施の形態3の変更
例2の構成を概略的に示す図である。この図26におい
ては、切換回路SGiおよびSGjは、図2に示す構成
と同様の構成を有する。テストモード時には、ノーマル
モード指示信号NORMが論理Hレベルの活性状態に保
持され、データ信号線DLおよびDRの一方が内部画像
データ線7に右イネーブル信号REおよび左イネーブル
信号LEに従って結合される。センスアンプSAが活性
状態のとき、これらの内部データ信号線DLおよびDR
は、それぞれ電源電圧または接地電圧レベルに駆動され
ている。したがって、テストモード時、この切換回路S
GiおよびSGjを利用して、水平走査信号Hiおよび
Hjにより対応のセンスアンプSAを、内部画像データ
線7に結合することにより、内部データ線7に比較的大
きな電圧変化を生じさせることができる。
例2の構成を概略的に示す図である。この図26におい
ては、切換回路SGiおよびSGjは、図2に示す構成
と同様の構成を有する。テストモード時には、ノーマル
モード指示信号NORMが論理Hレベルの活性状態に保
持され、データ信号線DLおよびDRの一方が内部画像
データ線7に右イネーブル信号REおよび左イネーブル
信号LEに従って結合される。センスアンプSAが活性
状態のとき、これらの内部データ信号線DLおよびDR
は、それぞれ電源電圧または接地電圧レベルに駆動され
ている。したがって、テストモード時、この切換回路S
GiおよびSGjを利用して、水平走査信号Hiおよび
Hjにより対応のセンスアンプSAを、内部画像データ
線7に結合することにより、内部データ線7に比較的大
きな電圧変化を生じさせることができる。
【0196】メインアンプ154が、基準電圧Vref
と内部画像データ線7上の信号とを比較して該比較結果
に従って内部データを生成して、出力回路152へ与え
る。内部画像データ線7が、テストモード時、電源電圧
VCCレベルにプリチャージされる場合、基準電圧Vr
efとしては、電源電圧VCCよりも少し低い電圧レベ
ルの電圧が用いられる。この内部画像データ線7に、論
理Hレベルおよび論理Lレベルのセンスアンプのラッチ
データが伝達された場合、内部画像データ線7は、基準
電圧Vrefを高い電圧レベルまたは基準電圧Vref
よりも低い電圧レベルとなる。
と内部画像データ線7上の信号とを比較して該比較結果
に従って内部データを生成して、出力回路152へ与え
る。内部画像データ線7が、テストモード時、電源電圧
VCCレベルにプリチャージされる場合、基準電圧Vr
efとしては、電源電圧VCCよりも少し低い電圧レベ
ルの電圧が用いられる。この内部画像データ線7に、論
理Hレベルおよび論理Lレベルのセンスアンプのラッチ
データが伝達された場合、内部画像データ線7は、基準
電圧Vrefを高い電圧レベルまたは基準電圧Vref
よりも低い電圧レベルとなる。
【0197】基準電圧Vrefについては、センスアン
プSAが共通画像データ線7に結合された時この共通画
像データ線7に生じる電圧変化量に応じてその電圧レベ
ルが決定されれば良く、共通画像データ線7の論理Hレ
ベルおよび論理Lレベルの間の電圧であれば良い。
プSAが共通画像データ線7に結合された時この共通画
像データ線7に生じる電圧変化量に応じてその電圧レベ
ルが決定されれば良く、共通画像データ線7の論理Hレ
ベルおよび論理Lレベルの間の電圧であれば良い。
【0198】この図26に示す構成において、他の構成
は、図2に示す構成と同じである。テストモード時にお
いてもリフレッシュ回路によりリフレッシュが実行され
る。
は、図2に示す構成と同じである。テストモード時にお
いてもリフレッシュ回路によりリフレッシュが実行され
る。
【0199】以上のように、この発明の実施の形態3に
従えば、相補データ信号線のセンスアンプによりラッチ
された信号を利用して、内部読出データを生成し、この
内部読出データに従って出力回路を駆動して外部へ読出
すように構成しており、画素PXの微小保持電圧を増幅
して外部へ伝達することができ、正確に、通常のLSI
テスタを利用して、各画素の保持電圧を識別することが
できる。
従えば、相補データ信号線のセンスアンプによりラッチ
された信号を利用して、内部読出データを生成し、この
内部読出データに従って出力回路を駆動して外部へ読出
すように構成しており、画素PXの微小保持電圧を増幅
して外部へ伝達することができ、正確に、通常のLSI
テスタを利用して、各画素の保持電圧を識別することが
できる。
【0200】[実施の形態4]
【0201】図27は、この発明の実施の形態4に従う
表示装置の要部の構成を概略的に示す図である。図27
においては、2行4列に配列される画素を代表的に示
す。画素列それぞれに対応して内部データ信号線D1、
D2、D3、D4…が配置される。これらのデータ信号
線D1−D4それぞれに対応して、選択ゲートTQ1−
TQ4が設けられる。これらの選択ゲートTQ1−T1
4それぞれに対応して、通常動作モード指示信号NOR
Mと対応の水平走査選択信号H1−H4をそれぞれ受け
るAND回路GQ1−GQ4が設けられる。選択ゲート
TQ1−QT4は、対応のAND回路GQ−GQ4の出
力信号が論理Hレベルのとき導通し、導通時対応の内部
データ信号線D1−D4を共通画像データ線7に結合す
る。
表示装置の要部の構成を概略的に示す図である。図27
においては、2行4列に配列される画素を代表的に示
す。画素列それぞれに対応して内部データ信号線D1、
D2、D3、D4…が配置される。これらのデータ信号
線D1−D4それぞれに対応して、選択ゲートTQ1−
TQ4が設けられる。これらの選択ゲートTQ1−T1
4それぞれに対応して、通常動作モード指示信号NOR
Mと対応の水平走査選択信号H1−H4をそれぞれ受け
るAND回路GQ1−GQ4が設けられる。選択ゲート
TQ1−QT4は、対応のAND回路GQ−GQ4の出
力信号が論理Hレベルのとき導通し、導通時対応の内部
データ信号線D1−D4を共通画像データ線7に結合す
る。
【0202】内部データ信号線D1およびD2に対応し
て分離ゲートID1が設けられ、内部データ信号線D3
およびD4に対応して分離ゲートID2が設けられる。
これらの内部データ信号線D1およびD2が、分離ゲー
トID1を介して相補信号線C1およびC2に結合さ
れ、内部データ信号線D3およびD4が、分離ゲートI
G2を介して相補信号線C3およびC4に結合される。
これらの相補信号線C1およびC2に対応してセンスア
ンプSA1が設けられ、相補信号線C3およびC4に対
応してセンスアンプSA2が設けられる。
て分離ゲートID1が設けられ、内部データ信号線D3
およびD4に対応して分離ゲートID2が設けられる。
これらの内部データ信号線D1およびD2が、分離ゲー
トID1を介して相補信号線C1およびC2に結合さ
れ、内部データ信号線D3およびD4が、分離ゲートI
G2を介して相補信号線C3およびC4に結合される。
これらの相補信号線C1およびC2に対応してセンスア
ンプSA1が設けられ、相補信号線C3およびC4に対
応してセンスアンプSA2が設けられる。
【0203】第1行に整列して配置される画素PX11
−PX14に対応して、奇数垂直走査線指示信号VOと
垂直走査信号V1を受けるAND回路GAO1と偶数垂
直走査線指示信号VEと垂直走査信号V1を受けるAN
D回路GAE1が設けられる。AND回路GAO1か
ら、垂直走査信号V1Oが出力され、AND回路GAE
1から垂直走査信号V1Eが出力される。
−PX14に対応して、奇数垂直走査線指示信号VOと
垂直走査信号V1を受けるAND回路GAO1と偶数垂
直走査線指示信号VEと垂直走査信号V1を受けるAN
D回路GAE1が設けられる。AND回路GAO1か
ら、垂直走査信号V1Oが出力され、AND回路GAE
1から垂直走査信号V1Eが出力される。
【0204】奇数列の画素PX11、PX13に対して
は、垂直走査信号V1Oが与えられ、偶数列の画素PX
12,PX14に対し、垂直走査信号V1Eが与えられ
る。
は、垂直走査信号V1Oが与えられ、偶数列の画素PX
12,PX14に対し、垂直走査信号V1Eが与えられ
る。
【0205】第2行に整列して配置される画素PX21
−PX24に対して、垂直走査信号V2と奇数垂直走査
指示信号VOとを受けるAND回路GAO2と、奇数垂
直走査指示信号VEと垂直走査信号V2を受けるAND
回路GAE2が設けられる。AND回路GAO2から、
垂直走査信号V2Oが出力され、AND回路GAE2か
ら垂直走査信号V2Eが出力される。奇数列の画素PX
21、PX23に対して、垂直走査信号V2Oが与えら
れ、偶数列の画素PX22、PX24に対し、垂直走査
信号V2Eが与えられる。
−PX24に対して、垂直走査信号V2と奇数垂直走査
指示信号VOとを受けるAND回路GAO2と、奇数垂
直走査指示信号VEと垂直走査信号V2を受けるAND
回路GAE2が設けられる。AND回路GAO2から、
垂直走査信号V2Oが出力され、AND回路GAE2か
ら垂直走査信号V2Eが出力される。奇数列の画素PX
21、PX23に対して、垂直走査信号V2Oが与えら
れ、偶数列の画素PX22、PX24に対し、垂直走査
信号V2Eが与えられる。
【0206】これらの画素PX11−PX14およびP
X21−PX24においては、それぞれ、内部に配置さ
れたサンプリングTFTが対応の垂直走査信号を受け
る。
X21−PX24においては、それぞれ、内部に配置さ
れたサンプリングTFTが対応の垂直走査信号を受け
る。
【0207】通常動作モード時においては、通常動作モ
ード指示信号NORMが論理Hレベルであり、AND回
路GQ1−GQ4がイネーブルされ、水平走査信号H1
−H4に従って、論理Hレベルの信号を順次出力する
(点順次走査方式の場合)。選択ゲートTQ1−TQ4
は、対応のAND回路GQ1−GQ4の出力信号が論理
Hレベルとなると導通し、対応のデータ信号線D1−D
4を、内部共通画像データ線7に結合する。分離ゲート
IGは、非導通状態を維持する。
ード指示信号NORMが論理Hレベルであり、AND回
路GQ1−GQ4がイネーブルされ、水平走査信号H1
−H4に従って、論理Hレベルの信号を順次出力する
(点順次走査方式の場合)。選択ゲートTQ1−TQ4
は、対応のAND回路GQ1−GQ4の出力信号が論理
Hレベルとなると導通し、対応のデータ信号線D1−D
4を、内部共通画像データ線7に結合する。分離ゲート
IGは、非導通状態を維持する。
【0208】一方、垂直走査指示信号VOおよびVE
は、通常動作モード時にはともに論理Hレベルに設定さ
れる。したがって、垂直走査信号V1が論理Hレベルに
立上げられると、垂直走査信号V1OおよびV1Eがと
もに論理Hレベルとなり、第1行に整列して配置される
画素PX11−PX14におけるサンプリングTFTが
すべて導通し、水平走査信号H1−H4に従って、各画
素に対する画素データ信号の書込が行なわれる。
は、通常動作モード時にはともに論理Hレベルに設定さ
れる。したがって、垂直走査信号V1が論理Hレベルに
立上げられると、垂直走査信号V1OおよびV1Eがと
もに論理Hレベルとなり、第1行に整列して配置される
画素PX11−PX14におけるサンプリングTFTが
すべて導通し、水平走査信号H1−H4に従って、各画
素に対する画素データ信号の書込が行なわれる。
【0209】一方、リフレッシュモード時においては、
通常動作モード指示信号NORMは論理Lレベルであ
り、AND回路GQ1−GQ4の出力信号は論理Lレベ
ルであり、選択ゲートTQ1−TQ4は非導通状態を維
持する。一方、分離ゲートIG1、IG2が導通し、内
部データ信号線D1およびD2が相補信号線C1および
C2に結合され、内部データ信号線D3およびD4が、
相補信号線C3およびC4に結合される。
通常動作モード指示信号NORMは論理Lレベルであ
り、AND回路GQ1−GQ4の出力信号は論理Lレベ
ルであり、選択ゲートTQ1−TQ4は非導通状態を維
持する。一方、分離ゲートIG1、IG2が導通し、内
部データ信号線D1およびD2が相補信号線C1および
C2に結合され、内部データ信号線D3およびD4が、
相補信号線C3およびC4に結合される。
【0210】リフレッシュモード時においては、垂直走
査指示信号VOおよびVEが、択一的に論理Hレベルに
駆動される。したがって、たとえば、垂直走査信号V1
が論理Hレベルに駆動されたとき、垂直走査指示信号V
Oが論理Hレベルであれば、垂直走査信号V1Oが論理
Hレベルとなる。一方、偶数垂直走査指示信号VEが、
論理Lレベルに保持され、垂直走査信号V1Eは論理L
レベルである。したがって、この状態においては、奇数
列の画素PX11およびPX13のサンプリングTFT
が導通し内部の電圧保持容量素子が、内部データ信号線
D1およびD3に結合され、一方、画素PX12および
PX14のサンプリングTFTは非導通状態にある。し
たがって、この状態においては、相補信号線C1および
C3に画素データ信号が伝達されセンスアンプSA1お
よびSA2によりセンス動作が行なわれ、その増幅され
た画素データ信号が対応の画素PX11およびPX13
に再書込される。
査指示信号VOおよびVEが、択一的に論理Hレベルに
駆動される。したがって、たとえば、垂直走査信号V1
が論理Hレベルに駆動されたとき、垂直走査指示信号V
Oが論理Hレベルであれば、垂直走査信号V1Oが論理
Hレベルとなる。一方、偶数垂直走査指示信号VEが、
論理Lレベルに保持され、垂直走査信号V1Eは論理L
レベルである。したがって、この状態においては、奇数
列の画素PX11およびPX13のサンプリングTFT
が導通し内部の電圧保持容量素子が、内部データ信号線
D1およびD3に結合され、一方、画素PX12および
PX14のサンプリングTFTは非導通状態にある。し
たがって、この状態においては、相補信号線C1および
C3に画素データ信号が伝達されセンスアンプSA1お
よびSA2によりセンス動作が行なわれ、その増幅され
た画素データ信号が対応の画素PX11およびPX13
に再書込される。
【0211】一方、偶数走査指示信号VEが論理Hレベ
ルとなると、奇数走査指示信号VOは論理Lレベルとな
り、垂直走査信号V1Eが論理Lレベル、垂直走査信号
V1Oが論理Lレベルとなる。この状態においては、内
部データ信号線D2およびD4に画素PX12およびP
X14の記憶電圧信号が伝達され、一方、内部データ信
号線D1およびD3は、画素PX11およびPX13か
らの内部保持電圧が伝達されず、プリチャージ電圧レベ
ルを維持する。センスアンプSA1およびSA2を活性
化することにより、画素PX12およびPX14の保持
電圧を復元して、再び元の画素PX12およびPX14
へ再書込することができる。
ルとなると、奇数走査指示信号VOは論理Lレベルとな
り、垂直走査信号V1Eが論理Lレベル、垂直走査信号
V1Oが論理Lレベルとなる。この状態においては、内
部データ信号線D2およびD4に画素PX12およびP
X14の記憶電圧信号が伝達され、一方、内部データ信
号線D1およびD3は、画素PX11およびPX13か
らの内部保持電圧が伝達されず、プリチャージ電圧レベ
ルを維持する。センスアンプSA1およびSA2を活性
化することにより、画素PX12およびPX14の保持
電圧を復元して、再び元の画素PX12およびPX14
へ再書込することができる。
【0212】したがって、この図27に示す構成の場
合、画素列に対応して1つの内部データ信号線が配列さ
れるだけであり、各画素列に対応して、内部データ信号
線対を配置する必要はなく、配線レイアウト面積を低減
することができ、表示画素マトリクスの占有面積を低減
することができる。
合、画素列に対応して1つの内部データ信号線が配列さ
れるだけであり、各画素列に対応して、内部データ信号
線対を配置する必要はなく、配線レイアウト面積を低減
することができ、表示画素マトリクスの占有面積を低減
することができる。
【0213】図28は、垂直走査指示信号VOおよびV
Eを発生する部分の構成の一例を示す図である。図28
において、垂直走査指示信号発生部は、リフレッシュ垂
直走査開始信号STVSを、図10に示す発振回路から
の発振信号φVSOを1クロックサイクル期間遅延する
1クロック遅延回路160と、1クロック遅延回路16
0の出力信号に従ってその出力の状態を変化させるTフ
リップフロップ162と、Tフリップフロップ162の
出力Qからの信号と通常動作モード指示信号NORMを
受けて、奇数垂直走査指示信号VOを出力するOR回路
164と、Tフリップフロップ162の出力/Qからの
信号と通常動作モード指示信号NORMとを受けて偶数
垂直走査指示信号VEを生成するOR回路165を含
む。
Eを発生する部分の構成の一例を示す図である。図28
において、垂直走査指示信号発生部は、リフレッシュ垂
直走査開始信号STVSを、図10に示す発振回路から
の発振信号φVSOを1クロックサイクル期間遅延する
1クロック遅延回路160と、1クロック遅延回路16
0の出力信号に従ってその出力の状態を変化させるTフ
リップフロップ162と、Tフリップフロップ162の
出力Qからの信号と通常動作モード指示信号NORMを
受けて、奇数垂直走査指示信号VOを出力するOR回路
164と、Tフリップフロップ162の出力/Qからの
信号と通常動作モード指示信号NORMとを受けて偶数
垂直走査指示信号VEを生成するOR回路165を含
む。
【0214】Tフリップフロップ162は、リセット信
号RSTの立上がりに応答して初期化される。このリセ
ット信号RSTは、電源投入時およびシステムリセット
時に発生されるリセット信号およびリフレッシュ指示信
号SELFの立上がりに応答してワンショットパルスの
形で発生されるリセット信号である。
号RSTの立上がりに応答して初期化される。このリセ
ット信号RSTは、電源投入時およびシステムリセット
時に発生されるリセット信号およびリフレッシュ指示信
号SELFの立上がりに応答してワンショットパルスの
形で発生されるリセット信号である。
【0215】図29は、図28に示す回路の動作を示す
タイミング図である。以下、図29を参照して、図28
に示す回路の動作について簡単に説明する。
タイミング図である。以下、図29を参照して、図28
に示す回路の動作について簡単に説明する。
【0216】リフレッシュ指示信号SELFが論理Hレ
ベルに立上がると、図10に示すリフレッシュ制御回路
に従って、リフレッシュ垂直走査開始信号STVSが論
理Hレベルに立上がり、垂直走査レジスタのセットが行
なわれる。リセット信号RSTが論理Hレベルに立上が
り、Tフリップフロップ162がリセットされ、その出
力Qが論理Lレベル、出力/Qが論理Hレベルに設定さ
れる。
ベルに立上がると、図10に示すリフレッシュ制御回路
に従って、リフレッシュ垂直走査開始信号STVSが論
理Hレベルに立上がり、垂直走査レジスタのセットが行
なわれる。リセット信号RSTが論理Hレベルに立上が
り、Tフリップフロップ162がリセットされ、その出
力Qが論理Lレベル、出力/Qが論理Hレベルに設定さ
れる。
【0217】次いで、1クロック遅延回路160の遅延
出力信号DSが、この垂直走査開始信号STVSより1
クロックサイクル遅れて論理Hレベルとなると、Tフリ
ップフロップ162の出力状態が変化し、出力Qが論理
Hレベル、出力/Qが論理Lレベルとなる。通常動作モ
ード指示信号NORMは、リフレッシュモード時論理L
レベルであり、したがって、奇数垂直走査指示信号VO
が論理Hレベルとなり、偶数垂直走査指示信号VEが論
理Lレベルとなる。垂直走査信号V1が論理Hレベルに
立上がると、奇数垂直走査指示信号VOに従って、垂直
走査信号V1Oが論理Hレベルとなる。
出力信号DSが、この垂直走査開始信号STVSより1
クロックサイクル遅れて論理Hレベルとなると、Tフリ
ップフロップ162の出力状態が変化し、出力Qが論理
Hレベル、出力/Qが論理Lレベルとなる。通常動作モ
ード指示信号NORMは、リフレッシュモード時論理L
レベルであり、したがって、奇数垂直走査指示信号VO
が論理Hレベルとなり、偶数垂直走査指示信号VEが論
理Lレベルとなる。垂直走査信号V1が論理Hレベルに
立上がると、奇数垂直走査指示信号VOに従って、垂直
走査信号V1Oが論理Hレベルとなる。
【0218】次いで内部でカウント動作が行なわれ、そ
れぞれの垂直走査線の走査が完了するまで、この信号V
Oが論理Hレベルを維持し、一方、信号VEが論理Lレ
ベルを維持する。最終の走査線Vmの走査が完了する
と、再び、垂直走査開始信号STVSに従って1クロッ
ク遅延回路160の出力遅延信号DSが論理Hレベルと
なり、Tフリップフロップ162の状態が変化し、奇数
垂直走査指示信号VOが論理Lレベル、偶数垂直走査指
示信号VEが論理Hレベルとなる。したがって、今度
は、垂直走査信号V1に従って、図27に示す垂直走査
信号V1Eが論理Hレベルとなる。
れぞれの垂直走査線の走査が完了するまで、この信号V
Oが論理Hレベルを維持し、一方、信号VEが論理Lレ
ベルを維持する。最終の走査線Vmの走査が完了する
と、再び、垂直走査開始信号STVSに従って1クロッ
ク遅延回路160の出力遅延信号DSが論理Hレベルと
なり、Tフリップフロップ162の状態が変化し、奇数
垂直走査指示信号VOが論理Lレベル、偶数垂直走査指
示信号VEが論理Hレベルとなる。したがって、今度
は、垂直走査信号V1に従って、図27に示す垂直走査
信号V1Eが論理Hレベルとなる。
【0219】したがって、各クロックサイクルにおい
て、1行に整列される画素のうち半数の画素に対するリ
フレッシュが実行され、1フレームの垂直走査線の走査
完了後、次のフレーム期間において残りの半分の画素に
ついてリフレッシュが実行される。リフレッシュ間隔が
1行全体の画素を同時にリフレッシュする構成に較べて
短くなるものの、同時に動作するセンスアンプの数は半
減されるため(2列の画素に対し1つのセンスアン
プ)、リフレッシュ時のピーク電流を低減でき、消費電
流を低減することができる。
て、1行に整列される画素のうち半数の画素に対するリ
フレッシュが実行され、1フレームの垂直走査線の走査
完了後、次のフレーム期間において残りの半分の画素に
ついてリフレッシュが実行される。リフレッシュ間隔が
1行全体の画素を同時にリフレッシュする構成に較べて
短くなるものの、同時に動作するセンスアンプの数は半
減されるため(2列の画素に対し1つのセンスアン
プ)、リフレッシュ時のピーク電流を低減でき、消費電
流を低減することができる。
【0220】[変更例]
【0221】図30は、この発明の実施の形態4のリフ
レッシュ制御回路の変更例を概略的に示す図である。図
30において、リフレッシュ制御回路は、発振信号φV
S0を反転するインバータ170と、発振信号φVS0
の立上がりに応答してワンショットのパルス信号を発生
するワンショットパルス発生回路171と、インバータ
170の出力信号の立上がりに応答してワンショットの
パルス信号を発生するワンショットパルス発生回路17
2と、ワンショットパルス発生回路171および172
の出力信号を受けてリフレッシュ禁止信号INHVSを
生成するOR回路173と、OR回路173の出力信号
の立上がりに応答してセットされてプリチャージ/イコ
ライズ信号φPEをその出力Qから出力するセット/リ
セットフリップフロップ174と、プリチャージ/イコ
ライズ指示信号φPEを所定時間遅延してセット/リセ
ットフリップフロップ174をリセットする遅延回路1
75と、リフレッシュ禁止信号INHVSの立上がりに
応答してセットされかつセンスアンプ駆動信号φNをそ
の出力Qから生成するセット/リセットフリップフロッ
プ176と、センスアンプ駆動信号φNを所定時間遅延
して出力してセット/リセットフリップフロップ176
をリセットする遅延回路177と、リフレッシュ禁止信
号INHVSの立上がりに応答してリセットされ、かつ
その出力Qからセンスアンプ駆動信号φPを出力するセ
ット/リセットフリップフロップ178と、センスアン
プ駆動信号φPを所定時間遅延しかつ反転して出力して
セット/リセットフリップフロップ178セットする反
転遅延回路179を含む。セット/リセットフリップフ
ロップ178は、反転遅延回路179の出力信号の立上
がりに応答してセットされる。
レッシュ制御回路の変更例を概略的に示す図である。図
30において、リフレッシュ制御回路は、発振信号φV
S0を反転するインバータ170と、発振信号φVS0
の立上がりに応答してワンショットのパルス信号を発生
するワンショットパルス発生回路171と、インバータ
170の出力信号の立上がりに応答してワンショットの
パルス信号を発生するワンショットパルス発生回路17
2と、ワンショットパルス発生回路171および172
の出力信号を受けてリフレッシュ禁止信号INHVSを
生成するOR回路173と、OR回路173の出力信号
の立上がりに応答してセットされてプリチャージ/イコ
ライズ信号φPEをその出力Qから出力するセット/リ
セットフリップフロップ174と、プリチャージ/イコ
ライズ指示信号φPEを所定時間遅延してセット/リセ
ットフリップフロップ174をリセットする遅延回路1
75と、リフレッシュ禁止信号INHVSの立上がりに
応答してセットされかつセンスアンプ駆動信号φNをそ
の出力Qから生成するセット/リセットフリップフロッ
プ176と、センスアンプ駆動信号φNを所定時間遅延
して出力してセット/リセットフリップフロップ176
をリセットする遅延回路177と、リフレッシュ禁止信
号INHVSの立上がりに応答してリセットされ、かつ
その出力Qからセンスアンプ駆動信号φPを出力するセ
ット/リセットフリップフロップ178と、センスアン
プ駆動信号φPを所定時間遅延しかつ反転して出力して
セット/リセットフリップフロップ178セットする反
転遅延回路179を含む。セット/リセットフリップフ
ロップ178は、反転遅延回路179の出力信号の立上
がりに応答してセットされる。
【0222】この図30に示すリフレッシュ制御回路の
構成においては、発振信号φVS0の立上がりおよび立
下がりに応答してリフレッシュ禁止信号INHVSが所
定期間活性化される。応じて、プリチャージ/イコライ
ズ指示信号φPEが所定期間活性化され、またセンスア
ンプ駆動信号φNおよびφPが所定期間非活性化され
る。したがって、発振信号φVS0の1サイクル期間内
において、センス動作が2回行なわれる。
構成においては、発振信号φVS0の立上がりおよび立
下がりに応答してリフレッシュ禁止信号INHVSが所
定期間活性化される。応じて、プリチャージ/イコライ
ズ指示信号φPEが所定期間活性化され、またセンスア
ンプ駆動信号φNおよびφPが所定期間非活性化され
る。したがって、発振信号φVS0の1サイクル期間内
において、センス動作が2回行なわれる。
【0223】図31は、奇数および偶数垂直走査指示信
号VOおよびVEを発生する部分の構成を示す図であ
る。図31において、垂直走査指示信号発生部は、発振
信号φVS0を受けるインバータ180と、発振信号φ
VS0と通常動作モード指示信号NORMを受けて偶数
走査指示信号VEを出力するOR回路181と、インバ
ータ180の出力信号と通常動作モード指示信号NOR
Mを受けて偶数走査指示信号VEを生成するOR回路1
82を含む。リフレッシュモード時においては、発振信
号φVS0が論理Hレベルの期間、奇数走査指示信号V
Oが論理Hレベルとなり、一方、発振信号φVS0が論
理Lレベルの期間、偶数走査指示信号VEが論理Hレベ
ルとなる。
号VOおよびVEを発生する部分の構成を示す図であ
る。図31において、垂直走査指示信号発生部は、発振
信号φVS0を受けるインバータ180と、発振信号φ
VS0と通常動作モード指示信号NORMを受けて偶数
走査指示信号VEを出力するOR回路181と、インバ
ータ180の出力信号と通常動作モード指示信号NOR
Mを受けて偶数走査指示信号VEを生成するOR回路1
82を含む。リフレッシュモード時においては、発振信
号φVS0が論理Hレベルの期間、奇数走査指示信号V
Oが論理Hレベルとなり、一方、発振信号φVS0が論
理Lレベルの期間、偶数走査指示信号VEが論理Hレベ
ルとなる。
【0224】次に、図30および図31に示す回路の動
作を図32に示すタイミング図を参照して説明する。
作を図32に示すタイミング図を参照して説明する。
【0225】発振信号φVS0が論理Hレベルに立上が
ると、ワンショットパルス発生回路171がワンショッ
トのパルス信号を発生し、応じてOR回路173からの
リフレッシュ禁止信号INHVSが論理Hレベルとな
る。このリフレッシュ禁止信号INHVSの立上がりに
応答してセット/リセットフリップフロップ174がセ
ットされてプリチャージ/イコライズ指示信号φPEが
所定期間論理Hレベルとなる。また、セット/リセット
フリップフロップ176がセットされて、センスアンプ
駆動信号φNが非活性化され、またセット/リセットフ
リップフロップ178がリセットされ、センスアンプ駆
動信号φPが論理Lレベルに非活性化される。このリフ
レッシュ禁止信号INVHSの立上がりに応答して選択
行の垂直走査信号Viが一旦非選択状態へ駆動される。
ると、ワンショットパルス発生回路171がワンショッ
トのパルス信号を発生し、応じてOR回路173からの
リフレッシュ禁止信号INHVSが論理Hレベルとな
る。このリフレッシュ禁止信号INHVSの立上がりに
応答してセット/リセットフリップフロップ174がセ
ットされてプリチャージ/イコライズ指示信号φPEが
所定期間論理Hレベルとなる。また、セット/リセット
フリップフロップ176がセットされて、センスアンプ
駆動信号φNが非活性化され、またセット/リセットフ
リップフロップ178がリセットされ、センスアンプ駆
動信号φPが論理Lレベルに非活性化される。このリフ
レッシュ禁止信号INVHSの立上がりに応答して選択
行の垂直走査信号Viが一旦非選択状態へ駆動される。
【0226】リフレッシュ禁止信号INHVSが論理L
レベルとなると、垂直走査回路の出力する垂直走査信号
Viが論理Hレベルとなる。一方、既に、この発振信号
φVS0に従って、奇数走査指示信号VOが論理Hレベ
ル、偶数走査指示信号VEが論理Lレベルであり、垂直
走査信号Viの立上がりに応答して、奇数垂直走査信号
ViOが論理Hレベルとなる。次いで、センスアンプ駆
動信号φPが論理Hレベル、センスアンプ駆動信号φN
が論理Lレベルとなり、センスアンプが活性化され、奇
数列の画素の保持電圧のリフレッシュが実行される。
レベルとなると、垂直走査回路の出力する垂直走査信号
Viが論理Hレベルとなる。一方、既に、この発振信号
φVS0に従って、奇数走査指示信号VOが論理Hレベ
ル、偶数走査指示信号VEが論理Lレベルであり、垂直
走査信号Viの立上がりに応答して、奇数垂直走査信号
ViOが論理Hレベルとなる。次いで、センスアンプ駆
動信号φPが論理Hレベル、センスアンプ駆動信号φN
が論理Lレベルとなり、センスアンプが活性化され、奇
数列の画素の保持電圧のリフレッシュが実行される。
【0227】発振信号φVS0が論理Lレベルに立下が
ると、再びリフレッシュ禁止信号INHVSが論理Hレ
ベルとなり、センスアンプ駆動信号φNおよびφPがそ
れぞれ非活性化され、また、プリチャージ/イコライズ
信号φPEが活性化される。これにより、奇数列の画素
のデータが読出されていた内部データ信号線がプリチャ
ージ状態に復帰する。発振信号φVS0の立下がりに応
答して、奇数走査指示信号VOが論理Lレベル、偶数走
査線指示信号VEが論理Hレベルとなる。
ると、再びリフレッシュ禁止信号INHVSが論理Hレ
ベルとなり、センスアンプ駆動信号φNおよびφPがそ
れぞれ非活性化され、また、プリチャージ/イコライズ
信号φPEが活性化される。これにより、奇数列の画素
のデータが読出されていた内部データ信号線がプリチャ
ージ状態に復帰する。発振信号φVS0の立下がりに応
答して、奇数走査指示信号VOが論理Lレベル、偶数走
査線指示信号VEが論理Hレベルとなる。
【0228】この時、垂直走査期間は、発振信号φVS
0の周期に等しく、シフト動作は垂直走査回路において
行なわれていないため、再び、垂直走査信号Viがリフ
レッシュ禁止信号INHVSの立下がりに応答して論理
Hレベルとなり、応じて、偶数垂直走査信号ViEが論
理Hレベルに立上がる。したがって、この垂直走査信号
Viが伝達される垂直走査線に接続される偶数列の画素
のデータが対応の内部データ信号線に読出され、続いて
センスアンプ駆動信号φPおよびφNが活性化されて偶
数列の画素の保持電圧の復元および再書込が行なわれ
る。
0の周期に等しく、シフト動作は垂直走査回路において
行なわれていないため、再び、垂直走査信号Viがリフ
レッシュ禁止信号INHVSの立下がりに応答して論理
Hレベルとなり、応じて、偶数垂直走査信号ViEが論
理Hレベルに立上がる。したがって、この垂直走査信号
Viが伝達される垂直走査線に接続される偶数列の画素
のデータが対応の内部データ信号線に読出され、続いて
センスアンプ駆動信号φPおよびφNが活性化されて偶
数列の画素の保持電圧の復元および再書込が行なわれ
る。
【0229】したがって、この図30および図31に示
す構成の場合、発振信号φVS0の1サイクル内で、1
行の画素のリフレッシュが実行される。この構成の場
合、単に垂直シフトレジスタを発振信号φVS0に従っ
て駆動するだけであり、図10に示すバッファ56から
シフトクロック信号φVSが垂直シフトレジスタへ与え
られ、また、垂直走査開始信号STVSは、図10に示
すOR回路61から出力される。
す構成の場合、発振信号φVS0の1サイクル内で、1
行の画素のリフレッシュが実行される。この構成の場
合、単に垂直シフトレジスタを発振信号φVS0に従っ
て駆動するだけであり、図10に示すバッファ56から
シフトクロック信号φVSが垂直シフトレジスタへ与え
られ、また、垂直走査開始信号STVSは、図10に示
すOR回路61から出力される。
【0230】なお、この図28および図30に示す構成
において、リフレッシュ制御回路内部でこのリフレッシ
ュ制御信号を発生する構成に代えて、外部から、垂直シ
フトクロック信号および禁止信号が与えられてもよい。
この場合、発振信号φVS0に代えて外部からのクロッ
ク信号VSNが与えられ、また外部からの禁止信号IN
HVがこの垂直シフトクロック信号VSNの立上がりお
よび立下がりに応答して活性化される。ここで、リフレ
ッシュ時においてシフトクロック信号が外部から与えら
れる場合においても、リフレッシュ時においては、リフ
レッシュ禁止信号INHVSを、図30に示す構成を利
用して内部で発生するようにしてもよい。
において、リフレッシュ制御回路内部でこのリフレッシ
ュ制御信号を発生する構成に代えて、外部から、垂直シ
フトクロック信号および禁止信号が与えられてもよい。
この場合、発振信号φVS0に代えて外部からのクロッ
ク信号VSNが与えられ、また外部からの禁止信号IN
HVがこの垂直シフトクロック信号VSNの立上がりお
よび立下がりに応答して活性化される。ここで、リフレ
ッシュ時においてシフトクロック信号が外部から与えら
れる場合においても、リフレッシュ時においては、リフ
レッシュ禁止信号INHVSを、図30に示す構成を利
用して内部で発生するようにしてもよい。
【0231】[変更例]
【0232】図33は、この発明の実施の形態4の変更
例を示す図である。図33においては、表示画素マトリ
クスにおいて画素PX11−PX14に対応して、基準
セルRX11、RX12、RX13、およびRX14が
配置される。これらの基準セルRX11−RX14は、
図18に示す構成と同様、画素PX11−PX14に含
まれる電圧保持容量素子と同一容量値を有する基準容量
素子を含む。
例を示す図である。図33においては、表示画素マトリ
クスにおいて画素PX11−PX14に対応して、基準
セルRX11、RX12、RX13、およびRX14が
配置される。これらの基準セルRX11−RX14は、
図18に示す構成と同様、画素PX11−PX14に含
まれる電圧保持容量素子と同一容量値を有する基準容量
素子を含む。
【0233】内部データ信号線D1−D4それぞれに対
応して、導通時対応のデータ信号線D1−D4を補の共
通画像データ線7bに接続する選択ゲートSQ1−SQ
4が設けられる。選択ゲートTQ1−TQ4は、導通時
データ信号線DL1−DL4を、共通画像データ線7a
に結合する。
応して、導通時対応のデータ信号線D1−D4を補の共
通画像データ線7bに接続する選択ゲートSQ1−SQ
4が設けられる。選択ゲートTQ1−TQ4は、導通時
データ信号線DL1−DL4を、共通画像データ線7a
に結合する。
【0234】選択ゲートSQ1はAND回路GQ2の出
力信号の活性化時導通し、選択ゲートSQ2はAND回
路GQ1の出力信号が論理Hレベルのとき導通する。選
択ゲートSQ3は、AND回路GQ4の出力信号が論理
Hレベルのとき導通し、選択ゲートSQ4は、AND回
路GQ3の出力信号が論理Hレベルのとき導通する。す
なわち、隣接するデータ信号線において、一方の選択ゲ
ートTQが導通した場合、対をなす選択ゲートSQが導
通し、画素PXに画素データDを伝達し、一方、基準セ
ルRXに対し、補の画素データ信号/Dを伝達する。
力信号の活性化時導通し、選択ゲートSQ2はAND回
路GQ1の出力信号が論理Hレベルのとき導通する。選
択ゲートSQ3は、AND回路GQ4の出力信号が論理
Hレベルのとき導通し、選択ゲートSQ4は、AND回
路GQ3の出力信号が論理Hレベルのとき導通する。す
なわち、隣接するデータ信号線において、一方の選択ゲ
ートTQが導通した場合、対をなす選択ゲートSQが導
通し、画素PXに画素データDを伝達し、一方、基準セ
ルRXに対し、補の画素データ信号/Dを伝達する。
【0235】基準セルRX11およびRX13は、内部
のサンプリングTFTがAND回路GAE1からの偶数
走査信号V1Eに応答して導通し、それぞれの対応のデ
ータ信号線D1およびD3上の補の画素データ信号をそ
れぞれの基準容量素子に格納する。一方、基準セルRX
12およびRX14は、内部のサンプリングTFTがA
ND回路GAO1からの奇数走査信号V1Oに従って導
通し、内部データ信号線D2およびD4の補の画素デー
タ信号を対応の基準容量素子に格納する。図33に示す
他の構成は、図18に示す構成と同じであり、対応する
部分には同一参照番号を付し、その詳細説明は省略す
る。
のサンプリングTFTがAND回路GAE1からの偶数
走査信号V1Eに応答して導通し、それぞれの対応のデ
ータ信号線D1およびD3上の補の画素データ信号をそ
れぞれの基準容量素子に格納する。一方、基準セルRX
12およびRX14は、内部のサンプリングTFTがA
ND回路GAO1からの奇数走査信号V1Oに従って導
通し、内部データ信号線D2およびD4の補の画素デー
タ信号を対応の基準容量素子に格納する。図33に示す
他の構成は、図18に示す構成と同じであり、対応する
部分には同一参照番号を付し、その詳細説明は省略す
る。
【0236】この図33に示す構成においては、通常動
作モード時においても、奇数および偶数垂直走査線を示
す信号VOおよびVEが活性化される。したがって、各
行において、半分の画素が同時に選択されて、選択画素
に対するデータの書込が行なわれる。
作モード時においても、奇数および偶数垂直走査線を示
す信号VOおよびVEが活性化される。したがって、各
行において、半分の画素が同時に選択されて、選択画素
に対するデータの書込が行なわれる。
【0237】たとえば、奇数垂直走査信号V1Oが選択
状態で、水平走査信号H1が論理Hレベルの状態を考え
る。この状態においては、ゲート回路GQ1の出力信号
が論理Hレベルとなり、選択ゲートTQ1およびSQ2
が導通する。画素PX11および基準セルRX12のサ
ンプリングTFTが導通状態にあるため、この水平走査
信号H1に従って、画素PX11および基準セルRX1
2に対し、それぞれ、画素データ信号Dおよび/Dが格
納される。画素PX12は、偶数垂直走査信号V1Eが
論理Lレベルであるため、内部のサンプリングTFTが
非導通状態であり、画素PX12に対するデータの書込
は行なわれない。順次、奇数水平走査線を選択状態へ駆
動し、奇数列の画素PX11、PX13へ画素データ信
号を書込み、対応の基準セルRX12およびRX14に
対し、補の画素データ信号/Dを書込む。
状態で、水平走査信号H1が論理Hレベルの状態を考え
る。この状態においては、ゲート回路GQ1の出力信号
が論理Hレベルとなり、選択ゲートTQ1およびSQ2
が導通する。画素PX11および基準セルRX12のサ
ンプリングTFTが導通状態にあるため、この水平走査
信号H1に従って、画素PX11および基準セルRX1
2に対し、それぞれ、画素データ信号Dおよび/Dが格
納される。画素PX12は、偶数垂直走査信号V1Eが
論理Lレベルであるため、内部のサンプリングTFTが
非導通状態であり、画素PX12に対するデータの書込
は行なわれない。順次、奇数水平走査線を選択状態へ駆
動し、奇数列の画素PX11、PX13へ画素データ信
号を書込み、対応の基準セルRX12およびRX14に
対し、補の画素データ信号/Dを書込む。
【0238】次いで、この1行の奇数列の画素に対する
画素データの書込が完了すると、偶数垂直走査指示信号
VEが論理Hレベルとなり、応じて、偶数垂直走査信号
V1Eが論理Hレベルとなる。この状態においては画素
PX12およびPX14が選択され、また基準セルRX
11およびRX13が選択される。偶数列に対する水平
走査信号H2、H4が順次選択状態へ駆動され、画素P
X12およびPX14に対し画素データ信号Dが書込ま
れるとき、対応の基準セルRX11およびRX13に対
し補の画素データ信号/Dが格納される。
画素データの書込が完了すると、偶数垂直走査指示信号
VEが論理Hレベルとなり、応じて、偶数垂直走査信号
V1Eが論理Hレベルとなる。この状態においては画素
PX12およびPX14が選択され、また基準セルRX
11およびRX13が選択される。偶数列に対する水平
走査信号H2、H4が順次選択状態へ駆動され、画素P
X12およびPX14に対し画素データ信号Dが書込ま
れるとき、対応の基準セルRX11およびRX13に対
し補の画素データ信号/Dが格納される。
【0239】これにより、1行の画素および基準セルに
対し、内部信号線を増加させることなく、相補画素デー
タ信号を格納することができる。
対し、内部信号線を増加させることなく、相補画素デー
タ信号を格納することができる。
【0240】リフレッシュ時においては、選択ゲートS
Q1−SQ4およびTQ1−TQ4はすべて非導通状態
にある(通常動作モード指示信号NORMは論理Lレベ
ル)。この状態において、先の図18に示す構成と同様
に、奇数垂直走査信号V1Oおよび偶数垂直走査信号V
1Eが選択的に活性化され、応じて対をなすデータ線の
画素および基準セルから相補データ信号が読出されてセ
ンス動作および再書込が行なわれ、リフレッシュが完了
する。この場合においても、信号線を増加させる相補デ
ータ信号を用いてリフレッシュを実行することができ
る。
Q1−SQ4およびTQ1−TQ4はすべて非導通状態
にある(通常動作モード指示信号NORMは論理Lレベ
ル)。この状態において、先の図18に示す構成と同様
に、奇数垂直走査信号V1Oおよび偶数垂直走査信号V
1Eが選択的に活性化され、応じて対をなすデータ線の
画素および基準セルから相補データ信号が読出されてセ
ンス動作および再書込が行なわれ、リフレッシュが完了
する。この場合においても、信号線を増加させる相補デ
ータ信号を用いてリフレッシュを実行することができ
る。
【0241】図34は、垂直走査指示信号VOおよびV
Eを発生する部分の構成の一例を示す図である。奇数お
よび偶数垂直走査指示信号VOおよびVEは通常動作モ
ード時およびリフレッシュモード時において発生され
る。したがって、この図34に示す構成においては、垂
直走査クロック信号VCKに従って奇数走査指示信号V
Oが生成され、一方、垂直走査クロック信号VCKを受
けるインバータ180により偶数垂直走査指示信号VE
が生成される。
Eを発生する部分の構成の一例を示す図である。奇数お
よび偶数垂直走査指示信号VOおよびVEは通常動作モ
ード時およびリフレッシュモード時において発生され
る。したがって、この図34に示す構成においては、垂
直走査クロック信号VCKに従って奇数走査指示信号V
Oが生成され、一方、垂直走査クロック信号VCKを受
けるインバータ180により偶数垂直走査指示信号VE
が生成される。
【0242】したがって、通常動作モード時において
は、この垂直走査クロック信号VCKの1サイクル内に
おいて、1行の画素に対するデータの書込が実行され
る。リフレッシュ時においては、先の図30に示す構成
と同様にして、垂直クロック信号VCKの立上がりおよ
び立下りに応答して、リフレッシュ禁止信号INVHS
が生成される。リフレッシュ制御回路の構成は、先の図
30に示す構成を利用することができる。
は、この垂直走査クロック信号VCKの1サイクル内に
おいて、1行の画素に対するデータの書込が実行され
る。リフレッシュ時においては、先の図30に示す構成
と同様にして、垂直クロック信号VCKの立上がりおよ
び立下りに応答して、リフレッシュ禁止信号INVHS
が生成される。リフレッシュ制御回路の構成は、先の図
30に示す構成を利用することができる。
【0243】図35は、奇数列および偶数列の書込順序
を変更する部分の構成を概略的に示す図である。図35
においては、外部からラスタスキャン順序で印加される
画素データ信号PDはデータ再配置回路185により、
偶数列の画素および奇数列の画素のグループに並べ替え
られる。すなわち、この画素再配置回路185におい
て、1行の画素データPDを格納した後、まず奇数列の
画素データ信号Dを出力し、次いで、偶数列の画素デー
タDを出力する。このデータ再配置回路185は、たと
えば、1行分の画素データを格納するシフトレジスタに
より実現される。
を変更する部分の構成を概略的に示す図である。図35
においては、外部からラスタスキャン順序で印加される
画素データ信号PDはデータ再配置回路185により、
偶数列の画素および奇数列の画素のグループに並べ替え
られる。すなわち、この画素再配置回路185におい
て、1行の画素データPDを格納した後、まず奇数列の
画素データ信号Dを出力し、次いで、偶数列の画素デー
タDを出力する。このデータ再配置回路185は、たと
えば、1行分の画素データを格納するシフトレジスタに
より実現される。
【0244】図36は、この変更例における水平走査回
路3の構成の一例を示す図である。図36において、水
平走査回路3は、水平走査クロック信号HCKと水平走
査開始指示信号STHとに従ってシフト動作を行なう奇
数水平シフトレジスタ190と、この奇数水平シフトレ
ジスタ190の出力信号を受け、次いで、水平クロック
信号HCKに従って順次シフト動作を行なう偶数水平シ
フトレジスタ192と、これらの奇数水平シフトレジス
タ190および偶数水平シフトレジスタ192の出力信
号と禁止信号INHHとを受けて水平走査信号H1…H
fnを出力するバッファ194を含む。ここで、水平走
査信号Hfnは、水平走査における最終列に対する水平
走査信号を示す。このバッファ194は、奇数水平シフ
トレジスタ190の出力信号を受けて奇数列に対する水
平走査信号H1、H3、…を出力するバッファ回路と、
偶数水平シフトレジスタ192の出力信号を受けて偶数
列に対する水平走査信号H2、H4、…を出力するバッ
ファ回路を含む。
路3の構成の一例を示す図である。図36において、水
平走査回路3は、水平走査クロック信号HCKと水平走
査開始指示信号STHとに従ってシフト動作を行なう奇
数水平シフトレジスタ190と、この奇数水平シフトレ
ジスタ190の出力信号を受け、次いで、水平クロック
信号HCKに従って順次シフト動作を行なう偶数水平シ
フトレジスタ192と、これらの奇数水平シフトレジス
タ190および偶数水平シフトレジスタ192の出力信
号と禁止信号INHHとを受けて水平走査信号H1…H
fnを出力するバッファ194を含む。ここで、水平走
査信号Hfnは、水平走査における最終列に対する水平
走査信号を示す。このバッファ194は、奇数水平シフ
トレジスタ190の出力信号を受けて奇数列に対する水
平走査信号H1、H3、…を出力するバッファ回路と、
偶数水平シフトレジスタ192の出力信号を受けて偶数
列に対する水平走査信号H2、H4、…を出力するバッ
ファ回路を含む。
【0245】したがって、この図36に示す構成を利用
することにより、図35に示すデータ再配置回路185
を利用して、奇数列に対する画素データの書込完了後、
偶数列の画素に対するデータの書込を行なうことができ
る。
することにより、図35に示すデータ再配置回路185
を利用して、奇数列に対する画素データの書込完了後、
偶数列の画素に対するデータの書込を行なうことができ
る。
【0246】なお、この点順次走査方式に代えて、デー
タが一括して、1行の画素に同時に書込まれる場合にお
いては、選択された1行の偶数列および奇数列の画素に
対する書込を交互に垂直走査指示信号VOおよびVEに
従って実行することにより、容易に対応することができ
る。
タが一括して、1行の画素に同時に書込まれる場合にお
いては、選択された1行の偶数列および奇数列の画素に
対する書込を交互に垂直走査指示信号VOおよびVEに
従って実行することにより、容易に対応することができ
る。
【0247】以上のように、この発明の実施の形態4に
従えば、隣接列の内部データ信号線を対をなすように相
補信号線対に結合して画素データのリフレッシュを行な
っており、配線占有面積を低減でき、応じて表示画素マ
トリクスの占有面積を低減することができる。またセン
スアンプが2列の画素に対し1つ配置されるだけであ
り、センスアンプの占有面積を低減することができ、ま
た、センス動作時の消費電流を低減することができる。
従えば、隣接列の内部データ信号線を対をなすように相
補信号線対に結合して画素データのリフレッシュを行な
っており、配線占有面積を低減でき、応じて表示画素マ
トリクスの占有面積を低減することができる。またセン
スアンプが2列の画素に対し1つ配置されるだけであ
り、センスアンプの占有面積を低減することができ、ま
た、センス動作時の消費電流を低減することができる。
【0248】[実施の形態5]
【0249】図37は、この発明の実施の形態5に従う
画素の構成の一例を示す図である。図37においては、
画素PXは、走査線205上の信号に応答して導通し、
導通時、内部データ信号線206上のデータ信号Dを取
込むNチャネルMOSトランジスタ(TFT)200
と、MOSトランジスタ(TFT)200を介して与え
られた電圧を保持する電圧保持容量素子201と、電圧
保持容量素子201の充電電圧に従って導通し、電源線
204上の電圧Vddを伝達するNチャネルMOSトラ
ンジスタ202と、このMOSトランジスタ202を介
して与えられる電流に従って発光する有機エレクトロル
ミネッセンス素子(EL)203を含む。
画素の構成の一例を示す図である。図37においては、
画素PXは、走査線205上の信号に応答して導通し、
導通時、内部データ信号線206上のデータ信号Dを取
込むNチャネルMOSトランジスタ(TFT)200
と、MOSトランジスタ(TFT)200を介して与え
られた電圧を保持する電圧保持容量素子201と、電圧
保持容量素子201の充電電圧に従って導通し、電源線
204上の電圧Vddを伝達するNチャネルMOSトラ
ンジスタ202と、このMOSトランジスタ202を介
して与えられる電流に従って発光する有機エレクトロル
ミネッセンス素子(EL)203を含む。
【0250】この電源電圧Vddは、たとえば10Vで
あり、電圧保持容量素子201の電極ノードは接地電圧
または電源電圧Vddレベルに保持される。図37にお
いては、電圧保持容量素子201の主電極が接地ノード
に接続される場合を示す。
あり、電圧保持容量素子201の電極ノードは接地電圧
または電源電圧Vddレベルに保持される。図37にお
いては、電圧保持容量素子201の主電極が接地ノード
に接続される場合を示す。
【0251】この図37に示す画素PXは、有機EL素
子を利用しており、電圧保持容量素子201の充電電圧
に従って、有機EL素子203に対する供給電流が形成
され、その供給電流に従って有機EL素子203の発光
/非発光が決定される。したがって、電圧保持容量素子
201を用いて充電電圧により有機EL素子203を駆
動する構成に対しても、先の実施の形態1から4に示す
構成を利用することができる。
子を利用しており、電圧保持容量素子201の充電電圧
に従って、有機EL素子203に対する供給電流が形成
され、その供給電流に従って有機EL素子203の発光
/非発光が決定される。したがって、電圧保持容量素子
201を用いて充電電圧により有機EL素子203を駆
動する構成に対しても、先の実施の形態1から4に示す
構成を利用することができる。
【0252】なお、この図37に示す構成において、有
機EL素子駆動用のMOSトランジスタ202と有機E
L素子203とは、その位置が交替されてもよい。
機EL素子駆動用のMOSトランジスタ202と有機E
L素子203とは、その位置が交替されてもよい。
【0253】以上のように、この発明の実施の形態5に
従えば画素PXを、有機EL素子で構成しており、高効
率の表示装置を実現することができる。また、リフレッ
シュ動作を行なうことにより、電圧保持容量素子201
の充電電圧を長期にわたって安定に保持することがで
き、この充電電圧保持のための消費電力を低減すること
ができる。
従えば画素PXを、有機EL素子で構成しており、高効
率の表示装置を実現することができる。また、リフレッ
シュ動作を行なうことにより、電圧保持容量素子201
の充電電圧を長期にわたって安定に保持することがで
き、この充電電圧保持のための消費電力を低減すること
ができる。
【0254】[実施の形態6]
【0255】図38は、この発明の実施の形態6の構成
を概略的に示す図である。図38に。図38において、
画素PXは、走査線205上の垂直走査信号Vに応答し
て導通し、データ信号線206上の画素データ信号Dを
サンプリングするサンプリングTFT210と、サンプ
リングTFT211を介して与えられた電圧信号を保持
する電圧保持容量素子211と、この電圧保持容量素子
211の一方電極ノード(電圧保持ノード)215の電
圧と対向電極214の間の電圧差に応じて駆動される液
晶素子212を含む。電圧保持容量素子215の他方電
極ノードは、共通電極ノード213に結合される。
を概略的に示す図である。図38に。図38において、
画素PXは、走査線205上の垂直走査信号Vに応答し
て導通し、データ信号線206上の画素データ信号Dを
サンプリングするサンプリングTFT210と、サンプ
リングTFT211を介して与えられた電圧信号を保持
する電圧保持容量素子211と、この電圧保持容量素子
211の一方電極ノード(電圧保持ノード)215の電
圧と対向電極214の間の電圧差に応じて駆動される液
晶素子212を含む。電圧保持容量素子215の他方電
極ノードは、共通電極ノード213に結合される。
【0256】この図38に示すように、表示画素素子と
して液晶素子212を用いる場合においても、電圧保持
容量素子211の保持する電圧に応じて液晶素子212
を駆動することができる。この液晶素子212は、対向
電極214と電圧保持容量素子211の電圧保持ノード
(画素電極)との電圧差に応じて画素駆動電圧が印加さ
れ、この画素駆動電圧に応じて液晶の配向状態が決定さ
れる。
して液晶素子212を用いる場合においても、電圧保持
容量素子211の保持する電圧に応じて液晶素子212
を駆動することができる。この液晶素子212は、対向
電極214と電圧保持容量素子211の電圧保持ノード
(画素電極)との電圧差に応じて画素駆動電圧が印加さ
れ、この画素駆動電圧に応じて液晶の配向状態が決定さ
れる。
【0257】表示画像が変化せず表示画像の保持が行な
われる場合においては、液晶素子を交流駆動することは
特に要求されず、保持電圧のリフレッシュのみが要求さ
れる場合においては、先の実施の形態1から4の構成を
利用して保持電圧のリフレッシュを実行することができ
る。しかしながら、外部メモリを用いて保持画像データ
の再書込みをする場合においては、通常動作モード時と
同様に、液晶素子は交流駆動される。したがって、この
内部で液晶素子を駆動する保持電圧をリフレッシュする
場合においてもこの外部メモリを利用する場合と同様の
画像品質を維持する場合においては、液晶素子を交流駆
動することが要求される。以下、サンプリングされた保
持電圧に従って液晶素子を直接駆動する場合の構成およ
び動作について説明する。
われる場合においては、液晶素子を交流駆動することは
特に要求されず、保持電圧のリフレッシュのみが要求さ
れる場合においては、先の実施の形態1から4の構成を
利用して保持電圧のリフレッシュを実行することができ
る。しかしながら、外部メモリを用いて保持画像データ
の再書込みをする場合においては、通常動作モード時と
同様に、液晶素子は交流駆動される。したがって、この
内部で液晶素子を駆動する保持電圧をリフレッシュする
場合においてもこの外部メモリを利用する場合と同様の
画像品質を維持する場合においては、液晶素子を交流駆
動することが要求される。以下、サンプリングされた保
持電圧に従って液晶素子を直接駆動する場合の構成およ
び動作について説明する。
【0258】図39は、この発明の実施の形態6に従う
表示装置の要部の構成を概略的に示す図である。図39
においては、1列に配置される画素PXに関連する分の
構成を示す。画素PX11およびPX21は、同一構成
を有するため、図39においては、画素PX11の構成
要素に対し参照番号を付す。画素PX11は、図38に
示す構成と同様、サンプリングTFT210と、電圧保
持容量素子211と、液晶素子212とを含む。
表示装置の要部の構成を概略的に示す図である。図39
においては、1列に配置される画素PXに関連する分の
構成を示す。画素PX11およびPX21は、同一構成
を有するため、図39においては、画素PX11の構成
要素に対し参照番号を付す。画素PX11は、図38に
示す構成と同様、サンプリングTFT210と、電圧保
持容量素子211と、液晶素子212とを含む。
【0259】電圧保持容量素子211の主電極に対して
は共通電極線を介してキャパシタ共通電圧Vcapが印
加される。液晶素子212は、電圧保持容量素子211
の電圧保持ノードの電圧を画素電極に受け、対向電極線
上の電圧Vcntを画素駆動電圧として受ける。
は共通電極線を介してキャパシタ共通電圧Vcapが印
加される。液晶素子212は、電圧保持容量素子211
の電圧保持ノードの電圧を画素電極に受け、対向電極線
上の電圧Vcntを画素駆動電圧として受ける。
【0260】画素列に対応して相補内部データ線DLお
よびDRが配置され、これらの相補内部データ信号線D
LおよびDRは、切換回路SGiを介して共通画像デー
タ線7に結合される。切換回路SGiは、実施の形態1
と同様、水平走査信号Hiと通常動作モード指示信号N
ORMと左イネーブル信号LEとを受けるAND回路2
1と、水平走査信号Hiと通常動作モード指示信号NO
RMと右イネーブル信号REとを受けるAND回路23
と、AND回路21の出力信号に応答して導通し、導通
時内部データ信号線DLを共通画像データ線7に結合す
る転送ゲート22と、AND回路23の出力信号に応答
して導通し、導通時内部データ信号線DRを共通画像デ
ータ線7に結合する転送ゲート24とを含む。
よびDRが配置され、これらの相補内部データ信号線D
LおよびDRは、切換回路SGiを介して共通画像デー
タ線7に結合される。切換回路SGiは、実施の形態1
と同様、水平走査信号Hiと通常動作モード指示信号N
ORMと左イネーブル信号LEとを受けるAND回路2
1と、水平走査信号Hiと通常動作モード指示信号NO
RMと右イネーブル信号REとを受けるAND回路23
と、AND回路21の出力信号に応答して導通し、導通
時内部データ信号線DLを共通画像データ線7に結合す
る転送ゲート22と、AND回路23の出力信号に応答
して導通し、導通時内部データ信号線DRを共通画像デ
ータ線7に結合する転送ゲート24とを含む。
【0261】画素PXは、1行おきに内部データ線DL
およびDRに交互に接続される。しかしながら、この画
素PXの配置については、実施の形態1の場合と同様、
内部データ線DRおよびDLに同数個の画素が接続され
ていればよい。
およびDRに交互に接続される。しかしながら、この画
素PXの配置については、実施の形態1の場合と同様、
内部データ線DRおよびDLに同数個の画素が接続され
ていればよい。
【0262】リフレッシュ回路において、相補信号線C
LおよびCRが、閉込指示信号TRAPに応答して選択
的に導通する転送ゲートTR1およびTR2を介してセ
ンスアンプSAに結合される。さらに、リストア指示信
号φINVに応答して選択的に導通し、センスアンプS
Aのセンス/ラッチ信号を反転して相補信号線CLおよ
びCRに伝達する転送ゲートTR3およびTR4が配置
される。
LおよびCRが、閉込指示信号TRAPに応答して選択
的に導通する転送ゲートTR1およびTR2を介してセ
ンスアンプSAに結合される。さらに、リストア指示信
号φINVに応答して選択的に導通し、センスアンプS
Aのセンス/ラッチ信号を反転して相補信号線CLおよ
びCRに伝達する転送ゲートTR3およびTR4が配置
される。
【0263】相補信号線CLおよびCRに対しては、さ
らに実施の形態1等と同様、リフレッシュ指示信号SE
LFに応答して内部データ信号線DLおよびDRを相補
信号線CLおよびCRに結合する分離ゲートIGi、プ
リチャージ指示信号φPEに応答して相補信号線CLお
よびCRを中間電圧レベルのプリチャージ電圧VMにプ
リチャージしかつイコライズするプリチャージ・イコラ
イズ回路PEQが配置される。
らに実施の形態1等と同様、リフレッシュ指示信号SE
LFに応答して内部データ信号線DLおよびDRを相補
信号線CLおよびCRに結合する分離ゲートIGi、プ
リチャージ指示信号φPEに応答して相補信号線CLお
よびCRを中間電圧レベルのプリチャージ電圧VMにプ
リチャージしかつイコライズするプリチャージ・イコラ
イズ回路PEQが配置される。
【0264】図39に示す構成において、画素PXの配
置として、実施の形態1、2および4と同様の配置が用
いられても良い。すなわち、画素PXの各列に対応して
内部データ信号線を配置し、内部データ信号線の対を相
補信号線対に結合しても良く、また、各画素列に画素に
対応して基準セルが配置されても良い。いずれの配置に
おいても同様の効果を得る事ができる。
置として、実施の形態1、2および4と同様の配置が用
いられても良い。すなわち、画素PXの各列に対応して
内部データ信号線を配置し、内部データ信号線の対を相
補信号線対に結合しても良く、また、各画素列に画素に
対応して基準セルが配置されても良い。いずれの配置に
おいても同様の効果を得る事ができる。
【0265】通常動作モード時の動作は、実施の形態1
と同様であり、垂直走査信号Viに従って、画素PXの
行が選択され、次いで水平走査信号Hiに従って画素列
が選択され、選択列の画素にサンプリングTFTを介し
て画素データ信号が書込まれ、書込まれた画素データ信
号が電圧保持容量素子により保持される。液晶素子21
2は対応の電圧保持容量素子211により保持された電
圧を画素電極に受けて、対向電極の電圧Vcntに従っ
て駆動される。
と同様であり、垂直走査信号Viに従って、画素PXの
行が選択され、次いで水平走査信号Hiに従って画素列
が選択され、選択列の画素にサンプリングTFTを介し
て画素データ信号が書込まれ、書込まれた画素データ信
号が電圧保持容量素子により保持される。液晶素子21
2は対応の電圧保持容量素子211により保持された電
圧を画素電極に受けて、対向電極の電圧Vcntに従っ
て駆動される。
【0266】次にリフレッシュ時の動作について、図4
0(A)に示すタイミングチャート図を参照して説明す
る。リフレッシュモードが指定されると、リフレッシュ
指示信号SELFが活性化され分離ゲートIGが導通
し、対応の内部データ線DLおよびDRを相補信号線C
LおよびCRに結合する。リフレッシュ垂直走査開始信
号STVSが、発生されると、次の垂直走査クロック信
号VCKの立上がりに従って、先頭行の垂直走査信号V
1が選択状態へ駆動され、この選択行の画素PXの保持
電圧のリフレッシュが実行される。このリフレッシュ時
において、各画素PXは、保持電圧の極性が反転され
る。すなわち、論理Hレベルの画素データを格納してい
る画素は、論理Hレベルに対応する電圧レベルから論理
Lレベルの画素データに対応する電圧レベルに、その保
持電圧が変換される。
0(A)に示すタイミングチャート図を参照して説明す
る。リフレッシュモードが指定されると、リフレッシュ
指示信号SELFが活性化され分離ゲートIGが導通
し、対応の内部データ線DLおよびDRを相補信号線C
LおよびCRに結合する。リフレッシュ垂直走査開始信
号STVSが、発生されると、次の垂直走査クロック信
号VCKの立上がりに従って、先頭行の垂直走査信号V
1が選択状態へ駆動され、この選択行の画素PXの保持
電圧のリフレッシュが実行される。このリフレッシュ時
において、各画素PXは、保持電圧の極性が反転され
る。すなわち、論理Hレベルの画素データを格納してい
る画素は、論理Hレベルに対応する電圧レベルから論理
Lレベルの画素データに対応する電圧レベルに、その保
持電圧が変換される。
【0267】1フレームの画素に対するリフレッシュが
終了すると(図40(A)においては最終行に対する垂
直走査信号をVmで示す)、対向電極の電圧Vcntの
極性が反転される。図40(A)においては、この対向
電極電圧Vcntが、論理Hレベルから論理Lレベルに
変換される状態を一例として示す。リフレッシュ時にお
いて各画素の保持画素データは、電圧極性が反転されて
いる。したがって、この対向電極電圧Vcntの極性を
反転することにより、画素PXにおいて、画素電極と対
向電極との間に印加される電圧の大きさは同じであるも
のの、液晶素子212に印加される電圧の極性が反転
し、1フレームの画素のリフレッシュ終了時において、
各液晶素子が交流駆動されることになる。ただし、画素
データは、論理Hレベルおよび論理Lレベルの2値デー
タである。
終了すると(図40(A)においては最終行に対する垂
直走査信号をVmで示す)、対向電極の電圧Vcntの
極性が反転される。図40(A)においては、この対向
電極電圧Vcntが、論理Hレベルから論理Lレベルに
変換される状態を一例として示す。リフレッシュ時にお
いて各画素の保持画素データは、電圧極性が反転されて
いる。したがって、この対向電極電圧Vcntの極性を
反転することにより、画素PXにおいて、画素電極と対
向電極との間に印加される電圧の大きさは同じであるも
のの、液晶素子212に印加される電圧の極性が反転
し、1フレームの画素のリフレッシュ終了時において、
各液晶素子が交流駆動されることになる。ただし、画素
データは、論理Hレベルおよび論理Lレベルの2値デー
タである。
【0268】1フレームの画素のリフレッシュ時におい
て、対向電極電圧Vcntの電圧レベルが反転されるま
で、各画素の保持データの論理レベルは等価的にすべて
反転される。しかしながら、液晶素子の応答時間は、例
えば30ms程度であり、一方、リフレッシュの周期
は、例えば16ms程度であり、保持電圧の論理レベル
が変化してもその液晶素子の応答がリフレッシュ周期よ
りも充分に短いため、表示画像に対する悪影響は生じる
事はなく、画質の劣化などは生じない。
て、対向電極電圧Vcntの電圧レベルが反転されるま
で、各画素の保持データの論理レベルは等価的にすべて
反転される。しかしながら、液晶素子の応答時間は、例
えば30ms程度であり、一方、リフレッシュの周期
は、例えば16ms程度であり、保持電圧の論理レベル
が変化してもその液晶素子の応答がリフレッシュ周期よ
りも充分に短いため、表示画像に対する悪影響は生じる
事はなく、画質の劣化などは生じない。
【0269】これにより、各画素の液晶素子を交流駆動
して保持電圧のリフレッシュを行なうことができる。
して保持電圧のリフレッシュを行なうことができる。
【0270】図40(B)は、対向電極駆動部の構成の
一例を概略的に示す図である。図40(B)において、
対向電極駆動回路230は、垂直走査開始信号STVS
と発振信号φVS0とを受け、対向電極電圧Vcntを
生成する。発振信号φVS0は、図10に示す発振回路
55から出力され、垂直走査クロック信号として利用さ
れる。対向電極駆動回路230は、リフレッシュモード
においては、垂直走査開始信号STVSが発生される
と、次のサイクルにおいて最終行の画素のリフレッシュ
が完了し、リフレッシュ禁止信号が活性化されると、対
向電極電圧Vcntの電圧極性を変更する。これにより
1フレームの画素のリフレッシュ完了時において、対向
電極電圧極性を変更して、リフレッシュ時において各液
晶素子を交流駆動することができる。
一例を概略的に示す図である。図40(B)において、
対向電極駆動回路230は、垂直走査開始信号STVS
と発振信号φVS0とを受け、対向電極電圧Vcntを
生成する。発振信号φVS0は、図10に示す発振回路
55から出力され、垂直走査クロック信号として利用さ
れる。対向電極駆動回路230は、リフレッシュモード
においては、垂直走査開始信号STVSが発生される
と、次のサイクルにおいて最終行の画素のリフレッシュ
が完了し、リフレッシュ禁止信号が活性化されると、対
向電極電圧Vcntの電圧極性を変更する。これにより
1フレームの画素のリフレッシュ完了時において、対向
電極電圧極性を変更して、リフレッシュ時において各液
晶素子を交流駆動することができる。
【0271】なお。この対向電極駆動回路230は、通
常動作モード時においては、垂直走査ごとに対向電極の
電圧Vcntの電圧極性を切換る。従って、この対向電
極駆動回路230に対しては、通常動作モード指示信号
NORMと垂直走査クロック信号VCKと垂直走査開始
信号STVが印加され、動作モードに応じて対向電極電
圧極性の変更サイクルが変更される。
常動作モード時においては、垂直走査ごとに対向電極の
電圧Vcntの電圧極性を切換る。従って、この対向電
極駆動回路230に対しては、通常動作モード指示信号
NORMと垂直走査クロック信号VCKと垂直走査開始
信号STVが印加され、動作モードに応じて対向電極電
圧極性の変更サイクルが変更される。
【0272】図41(A)は、この発明の実施の形態6
のリフレッシュ時の動作を示す信号波形図である。以
下、図41(A)を参照して、図39に示すリフレッシ
ュ回路の動作について説明する。
のリフレッシュ時の動作を示す信号波形図である。以
下、図41(A)を参照して、図39に示すリフレッシ
ュ回路の動作について説明する。
【0273】リフレッシュモード時においては。発振信
号φVS0は、所定の周期で発振動作を行なう。この発
振信号φVS0に従って、垂直走査期間が決定される。
発振信号φVS0が立上がると、まず、図示しないリフ
レッシュ禁止信号INHVSに従って禁止信号INHV
が所定期間論理Hレベルとなり、選択行が非選択状態へ
駆動される。この禁止信号INVHの活性化に応答して
プリチャージ指示信号φPEが活性化され、相補信号線
CLおよびCRが所定電圧VMにプリチャージされ、ま
た、対応の内部データ信号線DLおよびDRが分離ゲー
トIGiを介して相補信号線CLおよびCRに結合され
ており、これらの内部データ信号線DLおよびDRもプ
リチャージ電圧VMレベルにプリチャージされる。セン
スアンプ駆動信号φPおよびφNも、禁止信号INHV
の活性化に応答して非活性化され、センスアンプSAも
応じて非活性化される。
号φVS0は、所定の周期で発振動作を行なう。この発
振信号φVS0に従って、垂直走査期間が決定される。
発振信号φVS0が立上がると、まず、図示しないリフ
レッシュ禁止信号INHVSに従って禁止信号INHV
が所定期間論理Hレベルとなり、選択行が非選択状態へ
駆動される。この禁止信号INVHの活性化に応答して
プリチャージ指示信号φPEが活性化され、相補信号線
CLおよびCRが所定電圧VMにプリチャージされ、ま
た、対応の内部データ信号線DLおよびDRが分離ゲー
トIGiを介して相補信号線CLおよびCRに結合され
ており、これらの内部データ信号線DLおよびDRもプ
リチャージ電圧VMレベルにプリチャージされる。セン
スアンプ駆動信号φPおよびφNも、禁止信号INHV
の活性化に応答して非活性化され、センスアンプSAも
応じて非活性化される。
【0274】禁止信号INVHが非活性化されると、垂
直シフトレジスタの出力信号に従って、次の垂直走査線
に対する垂直走査信号Viが活性化される。閉込め指示
信号φTRAPは、禁止信号INVHの活性化に従って
論理Hレベルにあり、転送ゲートTR1およびTR2は
導通状態にあり、センスアンプSAが相補信号線CLお
よびCRに結合されている。この状態においては、リス
トア指示信号φINVは非活性状態にあり転送ゲートT
R3およびTR4は非導通状態にあり、相補信号線CL
およびCRが、これらの転送ゲートTR1−TR4を介
して電気的に短絡するのは防止される。
直シフトレジスタの出力信号に従って、次の垂直走査線
に対する垂直走査信号Viが活性化される。閉込め指示
信号φTRAPは、禁止信号INVHの活性化に従って
論理Hレベルにあり、転送ゲートTR1およびTR2は
導通状態にあり、センスアンプSAが相補信号線CLお
よびCRに結合されている。この状態においては、リス
トア指示信号φINVは非活性状態にあり転送ゲートT
R3およびTR4は非導通状態にあり、相補信号線CL
およびCRが、これらの転送ゲートTR1−TR4を介
して電気的に短絡するのは防止される。
【0275】行選択信号Viが選択状態へ駆動されてか
ら所定時間が経過すると、閉じ込め指示信号φTRAP
が活性化され、転送ゲートTR1およびTR2が非導通
状態となり、センスアンプSAと相補信号線CLおよび
CRとが切離される。この状態においては、既に内部デ
ータ線DLまたはDRを介して選択画素から読み出され
た電圧はセンスアンプSAに転送されており、転送ゲー
トTR1およびTR2を非導通状態にして、センスアン
プSAと相補信号線CLおよびCRとを切離すことによ
り、選択画素から転送された電圧信号(電荷)をセンス
アンプのセンスノードに閉じ込める事により、センスア
ンプSAのセンスノードの負荷を小さくして高速でセン
ス動作を行なう。
ら所定時間が経過すると、閉じ込め指示信号φTRAP
が活性化され、転送ゲートTR1およびTR2が非導通
状態となり、センスアンプSAと相補信号線CLおよび
CRとが切離される。この状態においては、既に内部デ
ータ線DLまたはDRを介して選択画素から読み出され
た電圧はセンスアンプSAに転送されており、転送ゲー
トTR1およびTR2を非導通状態にして、センスアン
プSAと相補信号線CLおよびCRとを切離すことによ
り、選択画素から転送された電圧信号(電荷)をセンス
アンプのセンスノードに閉じ込める事により、センスア
ンプSAのセンスノードの負荷を小さくして高速でセン
ス動作を行なう。
【0276】センスアンプSAがセンス動作を完了し、
ラッチ状態となると、リストア指示信号φINVが活性
化され、転送ゲートTR3およびTR4が導通し、セン
スアンプSAのセンスノードが逆の状態で相補信号線C
LおよびCRに接続され、内部データ信号線DLおよび
DRに元の読み出された画素データと逆の論理のデータ
信号が伝達される。この内部データ信号線DRまたはD
Lに転送されたデータ信号が選択状態にあるもとの画素
に書込まれる。この状態においては、選択画素に対して
は、論理が反転された画素データ信号が格納される。例
えば、最初に電源電圧レベルの画素データ信号を格納し
ていた画素は、リフレッシュ完了時においては、接地電
圧レベルの画素データ信号を格納している。
ラッチ状態となると、リストア指示信号φINVが活性
化され、転送ゲートTR3およびTR4が導通し、セン
スアンプSAのセンスノードが逆の状態で相補信号線C
LおよびCRに接続され、内部データ信号線DLおよび
DRに元の読み出された画素データと逆の論理のデータ
信号が伝達される。この内部データ信号線DRまたはD
Lに転送されたデータ信号が選択状態にあるもとの画素
に書込まれる。この状態においては、選択画素に対して
は、論理が反転された画素データ信号が格納される。例
えば、最初に電源電圧レベルの画素データ信号を格納し
ていた画素は、リフレッシュ完了時においては、接地電
圧レベルの画素データ信号を格納している。
【0277】発振信号φVS0が再び立上がると、この
選択行の画素に対する保持電圧のリフレッシュが完了
し、内部データ信号線DLおよびDRと相補信号線CL
およびCRがプリチャージ状態に復帰し、センスアンプ
SAが非活性化されまた、プリチャージ/イコライズ回
路PEQが活性化される。転送ゲートTR3およびTR
4が非導通状態となり、また、転送ゲートTR1および
TR2が禁止信号INVHの活性化に従って導通しセン
スアンプSAのセンスノードを相補信号線CLおよびC
Rに接続し、センスアンプSAのセンスノードがプリチ
ャージ電圧VMにプリチャージされる。
選択行の画素に対する保持電圧のリフレッシュが完了
し、内部データ信号線DLおよびDRと相補信号線CL
およびCRがプリチャージ状態に復帰し、センスアンプ
SAが非活性化されまた、プリチャージ/イコライズ回
路PEQが活性化される。転送ゲートTR3およびTR
4が非導通状態となり、また、転送ゲートTR1および
TR2が禁止信号INVHの活性化に従って導通しセン
スアンプSAのセンスノードを相補信号線CLおよびC
Rに接続し、センスアンプSAのセンスノードがプリチ
ャージ電圧VMにプリチャージされる。
【0278】これにより、全画素に対してリフレッシュ
が実行される1つのリフレッシュサイクルにおいて、全
画素に対しデータ信号の論理レベルを反転して再書込み
をする事ができる。
が実行される1つのリフレッシュサイクルにおいて、全
画素に対しデータ信号の論理レベルを反転して再書込み
をする事ができる。
【0279】図41(B)は、画素データ転送制御信号
を発生する部分の構成の一例を示す図である。図41
(B)において、リストア指示信号φINVは、センス
アンプ駆動信号φPを受ける遅延回路240からの遅延
センスアンプ駆動信号の立上がりに応答してセットされ
かつ禁止信号INHVの活性化に応答してリセットされ
るセット/リセットフリップフロップ242から出力さ
れる。遅延回路240の遅延時間は、センスアンプSA
が活性化されて、そのセンス動作が完了してセンスノー
ドの電圧が安定化するまでに要する時間以上の時間であ
る。遅延回路240に対しては、センスアンプ駆動信号
φNが与えられても良い。また、禁止信号INHVが非
活性されてから所定時間経過後にこのリストア指示信号
φINVが活性化されても良い。
を発生する部分の構成の一例を示す図である。図41
(B)において、リストア指示信号φINVは、センス
アンプ駆動信号φPを受ける遅延回路240からの遅延
センスアンプ駆動信号の立上がりに応答してセットされ
かつ禁止信号INHVの活性化に応答してリセットされ
るセット/リセットフリップフロップ242から出力さ
れる。遅延回路240の遅延時間は、センスアンプSA
が活性化されて、そのセンス動作が完了してセンスノー
ドの電圧が安定化するまでに要する時間以上の時間であ
る。遅延回路240に対しては、センスアンプ駆動信号
φNが与えられても良い。また、禁止信号INHVが非
活性されてから所定時間経過後にこのリストア指示信号
φINVが活性化されても良い。
【0280】閉込め指示信号φTRAPは、禁止信号I
NHVの活性化に応答して所定の時間幅を有するワンシ
ョットのパルス信号を生成するワンショットパルス発生
回路244から出力される。このワンショットパルス発
生回路244の発生するパルス信号のパルス幅は、セン
スアンプ駆動信号φNおよびφPが活性化されるまでに
要する時間程度である。センスアンプSAの活性化前に
この閉込め指示信号φTRAPが非活性化されても良
く、またセンスアンプSAの活性化後にこの閉込め指示
信号φTRAPが非活性化されても良い。センスアンプ
SAのセンスノードの負荷がセンス動作時に変化しセン
ス動作を正確に行なうことができなくなる可能性があ
り、好ましくは、センス動作開始前に閉込め指示信号φ
TRAPは非活性化される。
NHVの活性化に応答して所定の時間幅を有するワンシ
ョットのパルス信号を生成するワンショットパルス発生
回路244から出力される。このワンショットパルス発
生回路244の発生するパルス信号のパルス幅は、セン
スアンプ駆動信号φNおよびφPが活性化されるまでに
要する時間程度である。センスアンプSAの活性化前に
この閉込め指示信号φTRAPが非活性化されても良
く、またセンスアンプSAの活性化後にこの閉込め指示
信号φTRAPが非活性化されても良い。センスアンプ
SAのセンスノードの負荷がセンス動作時に変化しセン
ス動作を正確に行なうことができなくなる可能性があ
り、好ましくは、センス動作開始前に閉込め指示信号φ
TRAPは非活性化される。
【0281】この閉込め指示信号φTRAPは、禁止信
号INHVの立上がりに応答してセットされセンスアン
プ駆動信号φPの立上がりに応答してリセットされるセ
ット/リセットフリップフロップの出力Qから生成され
ても良い。
号INHVの立上がりに応答してセットされセンスアン
プ駆動信号φPの立上がりに応答してリセットされるセ
ット/リセットフリップフロップの出力Qから生成され
ても良い。
【0282】なお、対向電極は、全画素に対し共通に配
置されている。しかしながら、この対向電極を垂直走査
線ごとに分割し、対向電極を垂直走査線単位で各リフレ
ッシュ完了時にその電圧極性を反転する状に構成しても
良い。
置されている。しかしながら、この対向電極を垂直走査
線ごとに分割し、対向電極を垂直走査線単位で各リフレ
ッシュ完了時にその電圧極性を反転する状に構成しても
良い。
【0283】以上のように、この発明の実施の形態6に
従えば、液晶素子を保持電圧により直接駆動する場合に
おいて、リフレッシュ時に画素の保持電圧極性を反転し
かつ対向電極の電圧もリフレッシュ完了時にその極性を
反転しており、低消費電流で、安定に表示画像の品質を
低下させることなく、保持電圧のリフレッシュを行なう
ことができる。
従えば、液晶素子を保持電圧により直接駆動する場合に
おいて、リフレッシュ時に画素の保持電圧極性を反転し
かつ対向電極の電圧もリフレッシュ完了時にその極性を
反転しており、低消費電流で、安定に表示画像の品質を
低下させることなく、保持電圧のリフレッシュを行なう
ことができる。
【0284】[実施の形態7]
【0285】図42は、この発明の実施の形態7に従う
表示装置の要部の構成を概略的に示す図である。図42
においては、2行3列に配列される画素PX11−PX
13およびPX21−PX23を代表的に示す。列方向
に整列する画素に対して内部データ信号線DL1−DL
3がそれぞれ配列され、行方向に整列して配置される画
素に対応して、垂直走査線VL1およびVL2が配置さ
れる。
表示装置の要部の構成を概略的に示す図である。図42
においては、2行3列に配列される画素PX11−PX
13およびPX21−PX23を代表的に示す。列方向
に整列する画素に対して内部データ信号線DL1−DL
3がそれぞれ配列され、行方向に整列して配置される画
素に対応して、垂直走査線VL1およびVL2が配置さ
れる。
【0286】内部データ信号線DL1−DL3それぞれ
に対応して、列選択ゲートSGT1−SGT3が設けら
れる。これらの列選択ゲートSGT1−SGT3は、通
常動作モード指示信号NORMと対応の水平走査信号H
(H1−H3)を受けるAND回路GAと、このAND
回路GAの出力信号が論理Hレベルとなると導通し、導
通時対応の内部データ信号線DL(DL1−DL3)を
共通画像データ線CDLに接続する転送ゲートTAを含
む。
に対応して、列選択ゲートSGT1−SGT3が設けら
れる。これらの列選択ゲートSGT1−SGT3は、通
常動作モード指示信号NORMと対応の水平走査信号H
(H1−H3)を受けるAND回路GAと、このAND
回路GAの出力信号が論理Hレベルとなると導通し、導
通時対応の内部データ信号線DL(DL1−DL3)を
共通画像データ線CDLに接続する転送ゲートTAを含
む。
【0287】画素PX11−PX13およびPX21−
PX23の各々は、同一構成を有するため、図42にお
いては、画素PX11の構成を代表的に示す。画素PX
11は、垂直走査線VL1上の垂直走査信号V1に応答
して導通し、内部データ信号DL1上のデータ信号を取
込むサンプリングTFT200と、このサンプリングT
FT200により取込まれた電圧を保持する電圧保持容
量素子201と、電圧保持容量素子とキャパシタ共通電
極線222aの間に接続され、そのゲートにリフレッシ
ュ指示信号REF1を受けるNチャネルMOSトランジ
スタ(TFT)250と、電圧保持容量素子201の充
電電圧に応じて、電源線220から電流を供給するMO
Sトランジスタ202と、MOSトランジスタ202か
ら供給される電流に応じて発光するEL素子203を含
む。このEL素子203の他方電極ノードは接地ノード
に結合される。
PX23の各々は、同一構成を有するため、図42にお
いては、画素PX11の構成を代表的に示す。画素PX
11は、垂直走査線VL1上の垂直走査信号V1に応答
して導通し、内部データ信号DL1上のデータ信号を取
込むサンプリングTFT200と、このサンプリングT
FT200により取込まれた電圧を保持する電圧保持容
量素子201と、電圧保持容量素子とキャパシタ共通電
極線222aの間に接続され、そのゲートにリフレッシ
ュ指示信号REF1を受けるNチャネルMOSトランジ
スタ(TFT)250と、電圧保持容量素子201の充
電電圧に応じて、電源線220から電流を供給するMO
Sトランジスタ202と、MOSトランジスタ202か
ら供給される電流に応じて発光するEL素子203を含
む。このEL素子203の他方電極ノードは接地ノード
に結合される。
【0288】図42においては、電源線220は、各行
それぞれに対応して設けられるように示すが、電源線2
20は全画素に対し、共通に結合される。また、キャパ
シタ電極線222aおよび222bは、各行それぞれに
別々に設けられるように示す。しかしながら、これらの
キャパシタ電極線222aおよび222bは、すべての
画素に対し共通に結合されてもよい。キャパシタ電極線
222aおよび222bの電圧は、接地電圧レベルであ
ってもよく、電源電圧VCCレベルであってもよく、ま
た中間電圧レベルであってもよい。
それぞれに対応して設けられるように示すが、電源線2
20は全画素に対し、共通に結合される。また、キャパ
シタ電極線222aおよび222bは、各行それぞれに
別々に設けられるように示す。しかしながら、これらの
キャパシタ電極線222aおよび222bは、すべての
画素に対し共通に結合されてもよい。キャパシタ電極線
222aおよび222bの電圧は、接地電圧レベルであ
ってもよく、電源電圧VCCレベルであってもよく、ま
た中間電圧レベルであってもよい。
【0289】通常動作モード時においては、通常動作モ
ード指示信号NORMは論理Hレベルであり、またリフ
レッシュ指示信号RF1−RF2はすべて論理Hレベル
である。したがって、画素PX11−PX13およびP
X21−PX23において、MOSトランジスタ230
はすべて導通状態にあり、容量素子201の電極ノード
は、キャパシタ電極線222aおよび222bにそれぞ
れ結合される。垂直走査線VL(VL1またはVL2)
を選択した状態で、水平走査信号H1−H3を順次活性
状態へ駆動することにより、画素PX11−PX13お
よびPX21−PX23に対して、画素データ信号が書
込まれる。
ード指示信号NORMは論理Hレベルであり、またリフ
レッシュ指示信号RF1−RF2はすべて論理Hレベル
である。したがって、画素PX11−PX13およびP
X21−PX23において、MOSトランジスタ230
はすべて導通状態にあり、容量素子201の電極ノード
は、キャパシタ電極線222aおよび222bにそれぞ
れ結合される。垂直走査線VL(VL1またはVL2)
を選択した状態で、水平走査信号H1−H3を順次活性
状態へ駆動することにより、画素PX11−PX13お
よびPX21−PX23に対して、画素データ信号が書
込まれる。
【0290】一方、図43(A)に示すように、画素デ
ータ信号の保持を行なうリフレッシュモード時において
は、通常動作モード指示信号NORMは論理Lレベルに
設定され、列選択ゲートSGT1−SGT3、…はすべ
て非導通状態となり、内部データ信号線DL1−DL3
と共通画像データ線CDLとは切り離される。この状態
で、図43(B)に示すように、リフレッシュ指示信号
RFを、すべて論理Lレベルに一旦設定した後、所定の
間隔で順次所定期間論理Hレベルに立上げる。このリフ
レッシュ指示信号RF(RF1,RF2)が論理Lレベ
ルのときには、画素PX(PX11−PX13およびP
X21−PX23)において、MOSトランジスタ23
0が非導通状態にあり、電圧保持容量素子201の主電
極ノードがフローティング状態となる。この状態で、電
圧保持容量素子201の画素データ保持電極ノード(ス
トレージノード)の電圧がリーク電流に応じて変化した
場合、キャパシタの主電極ノード(セルプレートノード
と称す)の電圧レベルも、容量結合により応じて低下す
る。
ータ信号の保持を行なうリフレッシュモード時において
は、通常動作モード指示信号NORMは論理Lレベルに
設定され、列選択ゲートSGT1−SGT3、…はすべ
て非導通状態となり、内部データ信号線DL1−DL3
と共通画像データ線CDLとは切り離される。この状態
で、図43(B)に示すように、リフレッシュ指示信号
RFを、すべて論理Lレベルに一旦設定した後、所定の
間隔で順次所定期間論理Hレベルに立上げる。このリフ
レッシュ指示信号RF(RF1,RF2)が論理Lレベ
ルのときには、画素PX(PX11−PX13およびP
X21−PX23)において、MOSトランジスタ23
0が非導通状態にあり、電圧保持容量素子201の主電
極ノードがフローティング状態となる。この状態で、電
圧保持容量素子201の画素データ保持電極ノード(ス
トレージノード)の電圧がリーク電流に応じて変化した
場合、キャパシタの主電極ノード(セルプレートノード
と称す)の電圧レベルも、容量結合により応じて低下す
る。
【0291】この状態で、図43(B)に示すように、
電圧保持容量素子201のストレージノードの電圧PV
aが、リーク電流により低下した場合、この電圧保持容
量素子201のセルプレートノードがフローティング状
態にあるため、容量結合によりその電圧レベルも応じて
変化する。リフレッシュ指示信号RF1を論理Hレベル
とし、MOSトランジスタ250を導通状態として、セ
ルプレートノードを、キャパシタ電極線222(222
a,222b)に接続する。これにより、セルプレート
ノードの電圧PVbは、元のプリチャージ電圧レベルに
復帰する。このセルプレートノードの電圧復帰に応じ
て、ストレージノードへ電荷が注入され、ストレージノ
ードの電圧PVaは元の電圧レベルへ復帰する(サンプ
リングTFT200はオフ状態にあり、チャージポンプ
動作を行なって電荷を注入できる)。したがって、この
MOSトランジスタ250をリフレッシュ指示信号RF
に従って導通状態とすることにより、ストレージノード
の流出電荷量に等しい電荷量が再びチャージポンプによ
り流入され、電圧保持容量素子201の保持電圧を元の
電圧レベルに復帰させることができる。これにより、E
L素子203が、その供給電流により発光度が異なる階
調表示であり、電圧保持容量素子201のストレージノ
ードの電圧が、中間電圧レベルの場合であっても、正確
に、元の電圧レベルを復元することができる。
電圧保持容量素子201のストレージノードの電圧PV
aが、リーク電流により低下した場合、この電圧保持容
量素子201のセルプレートノードがフローティング状
態にあるため、容量結合によりその電圧レベルも応じて
変化する。リフレッシュ指示信号RF1を論理Hレベル
とし、MOSトランジスタ250を導通状態として、セ
ルプレートノードを、キャパシタ電極線222(222
a,222b)に接続する。これにより、セルプレート
ノードの電圧PVbは、元のプリチャージ電圧レベルに
復帰する。このセルプレートノードの電圧復帰に応じ
て、ストレージノードへ電荷が注入され、ストレージノ
ードの電圧PVaは元の電圧レベルへ復帰する(サンプ
リングTFT200はオフ状態にあり、チャージポンプ
動作を行なって電荷を注入できる)。したがって、この
MOSトランジスタ250をリフレッシュ指示信号RF
に従って導通状態とすることにより、ストレージノード
の流出電荷量に等しい電荷量が再びチャージポンプによ
り流入され、電圧保持容量素子201の保持電圧を元の
電圧レベルに復帰させることができる。これにより、E
L素子203が、その供給電流により発光度が異なる階
調表示であり、電圧保持容量素子201のストレージノ
ードの電圧が、中間電圧レベルの場合であっても、正確
に、元の電圧レベルを復元することができる。
【0292】リフレッシュ指示信号RF1、RF2は、
垂直走査回路と同様のシフトレジスタを用いてリフレッ
シュモード時、発振回路を発振させ、その発振信号でシ
フトレジスタをシフト動作させることにより容易に生成
することができる(垂直シフトレジスタの構成と同様の
構成を利用すればよい)。
垂直走査回路と同様のシフトレジスタを用いてリフレッ
シュモード時、発振回路を発振させ、その発振信号でシ
フトレジスタをシフト動作させることにより容易に生成
することができる(垂直シフトレジスタの構成と同様の
構成を利用すればよい)。
【0293】したがって、この図42に示す構成の場
合、センスアンプが不要となり、単にキャパシタのチャ
ージポンプ動作により元の電圧レベルを復元することが
でき、有機EL素子を用いて階調表示を行なう場合にお
いても、確実に、保持電圧のリフレッシュを行なうこと
ができる。
合、センスアンプが不要となり、単にキャパシタのチャ
ージポンプ動作により元の電圧レベルを復元することが
でき、有機EL素子を用いて階調表示を行なう場合にお
いても、確実に、保持電圧のリフレッシュを行なうこと
ができる。
【0294】なお、上述の構成においては、リフレッシ
ュ指示信号REFが各行単位で順次活性化されている。
しかしながら、全画素に対し同時にリフレッシュ指示信
号を活性化しても良い。
ュ指示信号REFが各行単位で順次活性化されている。
しかしながら、全画素に対し同時にリフレッシュ指示信
号を活性化しても良い。
【0295】また、この有機EL素子に代えて、液晶素
子が用いられる場合においても、同様の構成を利用する
ことにより、元の電圧レベルを復元することができる。
液晶素子の交流駆動の場合においては、対向電極電圧の
極性を変更する。
子が用いられる場合においても、同様の構成を利用する
ことにより、元の電圧レベルを復元することができる。
液晶素子の交流駆動の場合においては、対向電極電圧の
極性を変更する。
【0296】以上のように、この発明の実施の形態に従
えば、有機EL素子の駆動電圧を保持する容量素子をチ
ャージポンプ動作させるように構成しており、正確に、
中間電圧レベルの電圧を復元することができ、低消費電
力で、階調表示画素データのリフレッシュを行なうこと
ができる。
えば、有機EL素子の駆動電圧を保持する容量素子をチ
ャージポンプ動作させるように構成しており、正確に、
中間電圧レベルの電圧を復元することができ、低消費電
力で、階調表示画素データのリフレッシュを行なうこと
ができる。
【0297】
【発明の効果】以上、この発明に従えば、表示画素を駆
動するための電圧を、内部でリフレッシュするように構
成しており、外部のSRAMまたはビデオメモリからリ
フレッシュ用の画素データ信号を読込む必要がなく、低
消費電流で、表示画素データをリフレッシュすることが
できる。
動するための電圧を、内部でリフレッシュするように構
成しており、外部のSRAMまたはビデオメモリからリ
フレッシュ用の画素データ信号を読込む必要がなく、低
消費電流で、表示画素データをリフレッシュすることが
できる。
【0298】すなわち、表示画素データ信号をサンプリ
ングする選択トランジスタを介して与えられる電圧を保
持する保持容量素子の保持電圧を、リフレッシュ指示に
応答してリフレッシュすることにより、内部で保持電圧
をリフレッシュすることができ、画素データを低消費電
力で長期にわたって安定に保持することができる。
ングする選択トランジスタを介して与えられる電圧を保
持する保持容量素子の保持電圧を、リフレッシュ指示に
応答してリフレッシュすることにより、内部で保持電圧
をリフレッシュすることができ、画素データを低消費電
力で長期にわたって安定に保持することができる。
【0299】また、相補信号線に、画素の保持電圧信号
を読出し、この相補信号線の電圧を差動増幅することに
より、容易に微小保持電圧をも内部で復元してリフレッ
シュすることができる。
を読出し、この相補信号線の電圧を差動増幅することに
より、容易に微小保持電圧をも内部で復元してリフレッ
シュすることができる。
【0300】また、リフレッシュ指示に応答してデータ
線を相補信号線対に結合し、この相補電圧線を所定電圧
レベルに保持した後に行選択回路を選択的に活性化し
て、この相補信号線対に画素データの保持電圧信号を読
出して差動増幅することにより、微小電圧信号を確実に
内部で増幅して元の画素に再書込みすることができ、内
部でリフレッシュ制御をすべて行なうことができ、低消
費電流で、安定に表示画素データを保持することができ
る。
線を相補信号線対に結合し、この相補電圧線を所定電圧
レベルに保持した後に行選択回路を選択的に活性化し
て、この相補信号線対に画素データの保持電圧信号を読
出して差動増幅することにより、微小電圧信号を確実に
内部で増幅して元の画素に再書込みすることができ、内
部でリフレッシュ制御をすべて行なうことができ、低消
費電流で、安定に表示画素データを保持することができ
る。
【0301】、また、内部でリフレッシュ指示に応答し
てリフレッシュ要求を生成して、このリフレッシュ要求
に従って、各列に対応して配置される相補信号線に画素
データ信号を読み出して差動増幅する事により、各画素
の保持する微小電圧信号を内部で読み出して元の画素に
再書込みをして画素データ信号を復元することができ、
低消費電流で画素データ信号を長期にわたって安定に保
持することができる。
てリフレッシュ要求を生成して、このリフレッシュ要求
に従って、各列に対応して配置される相補信号線に画素
データ信号を読み出して差動増幅する事により、各画素
の保持する微小電圧信号を内部で読み出して元の画素に
再書込みをして画素データ信号を復元することができ、
低消費電流で画素データ信号を長期にわたって安定に保
持することができる。
【0302】また、各画素列に対応して相補データ信号
が伝達されるデータ線対を配置し、これらの相補データ
線対の一方に画素を接続することにより、容易にリフレ
ッシュ時に画素データ信号に対し相補信号を生成して画
素データ信号を差動増幅する事ができる。
が伝達されるデータ線対を配置し、これらの相補データ
線対の一方に画素を接続することにより、容易にリフレ
ッシュ時に画素データ信号に対し相補信号を生成して画
素データ信号を差動増幅する事ができる。
【0303】また、隣接列のデータ線が対をなすように
配置し、かつ各行に対応して2本の走査線を配置し、隣
接列の画素素子を互いに異なる走査線に結合することに
より、リフレッシュ時において、画素が結合される内部
データ線対に対し一方のデータ線に画素データ信号を読
み出すことができ、確実に通常動作モードに悪影響を及
ぼすことなく、相補信号線対に画素データに応じた電圧
差を生成して差動増幅することができ、配線レイアウト
面積を増大させることなく元の画素データを復元するこ
とができる。
配置し、かつ各行に対応して2本の走査線を配置し、隣
接列の画素素子を互いに異なる走査線に結合することに
より、リフレッシュ時において、画素が結合される内部
データ線対に対し一方のデータ線に画素データ信号を読
み出すことができ、確実に通常動作モードに悪影響を及
ぼすことなく、相補信号線対に画素データに応じた電圧
差を生成して差動増幅することができ、配線レイアウト
面積を増大させることなく元の画素データを復元するこ
とができる。
【0304】また対をなすデータ線においてさらに、相
補な画素データ信号を伝達する基準セルを接続すること
により、相補信号線に画素および対応の基準セルの相補
データを読み出すことにより、相補信号線対に現われる
電圧差を大きくすることができ、リフレッシュ間隔を長
くすることができ、また安定にセンス動作を行なってリ
フレッシュを行なうことができる。
補な画素データ信号を伝達する基準セルを接続すること
により、相補信号線に画素および対応の基準セルの相補
データを読み出すことにより、相補信号線対に現われる
電圧差を大きくすることができ、リフレッシュ間隔を長
くすることができ、また安定にセンス動作を行なってリ
フレッシュを行なうことができる。
【0305】また、この各画素を、電圧保持容量素子の
保持電圧に従って選択的に導通し、導通時共通電極を対
応の画素電極に結合する駆動トランジスタと、この画素
電極と対向電極の間に配置される液晶素子とで構成する
ことにより、簡易な回路構成で、リフレッシュ時の電圧
極性を考慮することなく確実に、各画素の保持電圧をリ
フレッシュすることができる。
保持電圧に従って選択的に導通し、導通時共通電極を対
応の画素電極に結合する駆動トランジスタと、この画素
電極と対向電極の間に配置される液晶素子とで構成する
ことにより、簡易な回路構成で、リフレッシュ時の電圧
極性を考慮することなく確実に、各画素の保持電圧をリ
フレッシュすることができる。
【0306】また、このリフレッシュ手段として反転増
幅されたデータ信号を元の画素データに書込むとともに
対向電極電圧極性を反転することにより、画素素子とし
て、容量素子の保持電圧により直接駆動される液晶素子
を用いても確実にリフレッシュ時において各液晶画素を
交流駆動することができ、液晶画素のリフレッシュを正
確にかつ確実に行なうことができる。
幅されたデータ信号を元の画素データに書込むとともに
対向電極電圧極性を反転することにより、画素素子とし
て、容量素子の保持電圧により直接駆動される液晶素子
を用いても確実にリフレッシュ時において各液晶画素を
交流駆動することができ、液晶画素のリフレッシュを正
確にかつ確実に行なうことができる。
【0307】また、全画素のリフレッシュ完了後に画素
の主電極の電圧極性を反転することにより、各画素のリ
フレッシュに悪影響を及ぼすことなくまた対向電極(主
電極)を分割構造とする必要がなく、簡易な回路構成で
容易に主電極(対向電極)の電圧極性の反転と画素デー
タの論理反転とにより画素素子を交流駆動することがで
きる。
の主電極の電圧極性を反転することにより、各画素のリ
フレッシュに悪影響を及ぼすことなくまた対向電極(主
電極)を分割構造とする必要がなく、簡易な回路構成で
容易に主電極(対向電極)の電圧極性の反転と画素デー
タの論理反転とにより画素素子を交流駆動することがで
きる。
【0308】画素素子が液晶素子であっても、リフレッ
シュ時において液晶素子を交流駆動することができ、確
実に表示画像品質を低下させることなく、液晶画素の保
持データをリフレッシュすることができる。
シュ時において液晶素子を交流駆動することができ、確
実に表示画像品質を低下させることなく、液晶画素の保
持データをリフレッシュすることができる。
【0309】また、この画素を、保持容量素子の保持電
圧に従って電流が供給されて発光する素子で構成するこ
とにより、容易に、このようなEL素子のような発光素
子を用いる場合においても、発光素子駆動電圧をリフレ
ッシュすることができる。
圧に従って電流が供給されて発光する素子で構成するこ
とにより、容易に、このようなEL素子のような発光素
子を用いる場合においても、発光素子駆動電圧をリフレ
ッシュすることができる。
【0310】また、データ線を対をなして配置し、リフ
レッシュ時においては、対をなすデータ線の一方のデー
タ線に保持容量素子を結合し、かつ通常動作モード時に
おいては、データ線に対応の画素の電圧保持容量素子を
結合し、各データ線に伝達されたデータを書込む構成と
することにより、確実に、通常動作モードに悪影響を及
ぼすことなく、各画素の保持電圧をリフレッシュするこ
とができる。各画素列配置された内部データ線を相補信
号線としてリフレッシュ時に使用することができ、配線
レイアウト面積を低減することができる。
レッシュ時においては、対をなすデータ線の一方のデー
タ線に保持容量素子を結合し、かつ通常動作モード時に
おいては、データ線に対応の画素の電圧保持容量素子を
結合し、各データ線に伝達されたデータを書込む構成と
することにより、確実に、通常動作モードに悪影響を及
ぼすことなく、各画素の保持電圧をリフレッシュするこ
とができる。各画素列配置された内部データ線を相補信
号線としてリフレッシュ時に使用することができ、配線
レイアウト面積を低減することができる。
【0311】また、さらに、テストモード時に、この対
をなすデータ線の電圧信号を外部へ伝達するテスト出力
回路をさらに設けることにより、微小な画素の保持電圧
を外部へ通常の論理レベルに増幅して出力することがで
き、容易に安価なテスト装置を用いて各画素の保持電圧
をテストすることができる。
をなすデータ線の電圧信号を外部へ伝達するテスト出力
回路をさらに設けることにより、微小な画素の保持電圧
を外部へ通常の論理レベルに増幅して出力することがで
き、容易に安価なテスト装置を用いて各画素の保持電圧
をテストすることができる。
【0312】また、このテストモード時において、内部
データ線に読み出された画素信号を差動増幅してテスト
出力回路へ伝達する事により、各画素の微小保持電圧を
確実に外部で検証することができる。これにより、通常
のLSIテスタを用いて画素の動作の良/不良を検出す
ることができる。
データ線に読み出された画素信号を差動増幅してテスト
出力回路へ伝達する事により、各画素の微小保持電圧を
確実に外部で検証することができる。これにより、通常
のLSIテスタを用いて画素の動作の良/不良を検出す
ることができる。
【図1】 この発明に従う表示装置の全体の構成を概略
的に示す図である。
的に示す図である。
【図2】 この発明の実施の形態1に従う表示装置の要
部の構成を概略的に示す図である。
部の構成を概略的に示す図である。
【図3】 図2に示す表示画素の構成を概略的に示す図
である。
である。
【図4】 図3に示す表示画素の断面構造を概略的に示
す図である。
す図である。
【図5】 図1に示すシフトクロック切換回路の構成の
一例を示す図である。
一例を示す図である。
【図6】 図1に示す垂直走査回路の構成を概略的に示
す図である。
す図である。
【図7】 この発明の実施の形態1に従う表示装置の通
常動作モード時の動作を示すタイミング図である。
常動作モード時の動作を示すタイミング図である。
【図8】 図6に示す垂直走査回路の動作を示すタイミ
ング図である。
ング図である。
【図9】 この発明の実施の形態1に従う表示装置のリ
フレッシュモード時の動作を示すタイミング図である。
フレッシュモード時の動作を示すタイミング図である。
【図10】 図1に示すリフレッシュ制御回路の構成の
一例を示す図である。
一例を示す図である。
【図11】 図10に示すリフレッシュ制御回路の動作
を示すタイミング図である。
を示すタイミング図である。
【図12】 図1に示すリフレッシュ制御回路のリフレ
ッシュ回路を制御する部分の構成の一例を示す図であ
る。
ッシュ回路を制御する部分の構成の一例を示す図であ
る。
【図13】 図12に示すリフレッシュ制御回路の動作
を示すタイミング図である。
を示すタイミング図である。
【図14】 この発明の実施の形態1の変更例を示す図
である。
である。
【図15】 図14に示す右/左イネーブル信号を発生
する部分の構成の一例を示す図である。
する部分の構成の一例を示す図である。
【図16】 図15に示す右/左イネーブル信号発生部
の動作を示すタイミング図である。
の動作を示すタイミング図である。
【図17】 この発明の実施の形態1における1列の画
素郡の分割の構成を示す図である。
素郡の分割の構成を示す図である。
【図18】 この発明の実施の形態2に従う表示装置の
要部の構成を示す図である。
要部の構成を示す図である。
【図19】 図18に示す表示画素マトリクスのリフレ
ッシュ時のデータ線読出電圧を示す図である。
ッシュ時のデータ線読出電圧を示す図である。
【図20】 この発明の実施の形態2の変更例の要部の
構成を示す図である。
構成を示す図である。
【図21】 この発明の実施の形態3に従う表示装置の
要部の構成を概略的に示す図である。
要部の構成を概略的に示す図である。
【図22】 この発明の実施の形態3に従う表示装置の
要部の構成をより具体的に示す図である。
要部の構成をより具体的に示す図である。
【図23】 この発明の実施の形態3に従う表示装置の
リフレッシュ制御部の構成の一例を示す図である。
リフレッシュ制御部の構成の一例を示す図である。
【図24】 図22および図23に示す回路の動作を示
すタイミング図である。
すタイミング図である。
【図25】 この発明の実施の形態3の変更例を示す図
である。
である。
【図26】 この発明の実施の形態3の変更例2の構成
を示す図である。
を示す図である。
【図27】 この発明の実施の形態4に従う表示装置の
要部の構成を示す図である。
要部の構成を示す図である。
【図28】 図27に示す奇数/偶数垂直走査指示信号
を発生する部分の構成の一例を示す図である。
を発生する部分の構成の一例を示す図である。
【図29】 図27に示す表示装置の動作を示すタイミ
ング図である。
ング図である。
【図30】 この発明の実施の形態4における表示装置
のリフレッシュ制御部の構成を概略的に示す図である。
のリフレッシュ制御部の構成を概略的に示す図である。
【図31】 この発明の実施の形態4の変更例を示す図
である。
である。
【図32】 図30および図31に示す回路の動作を示
すタイミング図である。
すタイミング図である。
【図33】 この発明の実施の形態4に従う表示装置の
変更例2の要部の構成を概略的に示す図である。
変更例2の要部の構成を概略的に示す図である。
【図34】 図33に示す奇数/偶数垂直走査選択信号
発生部の構成の一例を示す図である。
発生部の構成の一例を示す図である。
【図35】 この発明の実施の形態4におけるデータ書
込部の構成の一例を概略的に示す図である。
込部の構成の一例を概略的に示す図である。
【図36】 この発明の実施の形態4の変更例2におけ
る水平走査回路の構成の一例を概略的に示す図である。
る水平走査回路の構成の一例を概略的に示す図である。
【図37】 この発明の実施の形態5に従う画素の構成
を示す図である。
を示す図である。
【図38】 この発明の実施の形態6に従う画素の構成
を示す図である。
を示す図である。
【図39】 この発明の実施の形態6に従う表示装置の
要部の構成を概略的に示す図である。
要部の構成を概略的に示す図である。
【図40】 (A)は図39に示す表示装置のリフレッ
シュ時の動作を概略的に示す図であり、(B)は、図3
9に示す対向電極を駆動する部分の構成を概略的に示す
図である。
シュ時の動作を概略的に示す図であり、(B)は、図3
9に示す対向電極を駆動する部分の構成を概略的に示す
図である。
【図41】 (A)は、図39に示す表示装置のリフレ
ッシュ時の内部動作を示す信号波形図であり、(B)
は、図39に示すリストア指示信号および閉込め指示信
号を発生する部分の構成の一例を示す図である。
ッシュ時の内部動作を示す信号波形図であり、(B)
は、図39に示すリストア指示信号および閉込め指示信
号を発生する部分の構成の一例を示す図である。
【図42】 この発明の実施の形態7に従う表示装置の
要部の構成を示す図である。
要部の構成を示す図である。
【図43】 (A)は、図42に示す表示装置のリフレ
ッシュ時の動作を示す信号波形図であり、(B)は、リ
フレッシュ時の電圧保持容量素子の電極電圧の変化を示
す図である。
ッシュ時の動作を示す信号波形図であり、(B)は、リ
フレッシュ時の電圧保持容量素子の電極電圧の変化を示
す図である。
【図44】 従来の表示装置の全体の構成を概略的に示
す図である。
す図である。
【図45】 従来の表示装置の画素の構成の一例を示す
図である。
図である。
【図46】 従来の表示装置における保持電圧変化を示
す図である。
す図である。
【図47】 従来の表示装置における駆動電圧の変化を
示す他の例である。
示す他の例である。
【図48】 従来の表示装置の要部の構成を概略的に示
す図である。
す図である。
【図49】 図48に示す表示装置の動作を示すタイミ
ング図である。
ング図である。
【図50】 従来の表示システムの構成の一例を概略的
に示す図である。
に示す図である。
1 表示画素マトリクス、2 垂直走査回路、3 水平
走査回路、4 接続制御回路、5 リフレッシュ制御回
路、6 リフレッシュ回路、7 共通画素データ線、8
シフトクロック切換回路、11 水平シフトレジス
タ、12 バッファ回路、PX,PX11−PX13,
PX21−PX23 画素、SD1,SD2 切換回
路、25 サンプリングTFT、26 電圧保持容量素
子、27 液晶駆動回路、SA センスアンプ、IG,
IG1,IG2 分離ゲート、PEQプリチャージ/イ
コライズ回路、DL1,DR1,DL2,DR2 内部
データ信号線、CL,CR 相補信号線、27a 画素
駆動TFT、27b 透明電極、40 対向電極、50
垂直シフトレジスタ、51 バッファ回路、70表示
装置、71 AND回路、RX,RX1i,RX2i
基準セル、PX1i,PX2i 画素、97,98 共
通画素データ線、120 リードゲート、124 出力
回路、122 共通データ信号線、122a,122b
共通データ信号線、150,154 メインアンプ、
152 出力回路、D1−D4 内部データ信号線、7
a,7b 共通画素データ線、190 奇数水平シフト
レジスタ、192 偶数水平シフトレジスタ、194
バッファ、200,210 サンプリングTFT、20
1,211 電圧保持容量素子、202 画素駆動TF
T、203 EL素子、212 液晶素子、230 M
OSトランジスタ、222a,222b 共通キャパシ
タ電極線、TR1−TR3 転送ゲート。
走査回路、4 接続制御回路、5 リフレッシュ制御回
路、6 リフレッシュ回路、7 共通画素データ線、8
シフトクロック切換回路、11 水平シフトレジス
タ、12 バッファ回路、PX,PX11−PX13,
PX21−PX23 画素、SD1,SD2 切換回
路、25 サンプリングTFT、26 電圧保持容量素
子、27 液晶駆動回路、SA センスアンプ、IG,
IG1,IG2 分離ゲート、PEQプリチャージ/イ
コライズ回路、DL1,DR1,DL2,DR2 内部
データ信号線、CL,CR 相補信号線、27a 画素
駆動TFT、27b 透明電極、40 対向電極、50
垂直シフトレジスタ、51 バッファ回路、70表示
装置、71 AND回路、RX,RX1i,RX2i
基準セル、PX1i,PX2i 画素、97,98 共
通画素データ線、120 リードゲート、124 出力
回路、122 共通データ信号線、122a,122b
共通データ信号線、150,154 メインアンプ、
152 出力回路、D1−D4 内部データ信号線、7
a,7b 共通画素データ線、190 奇数水平シフト
レジスタ、192 偶数水平シフトレジスタ、194
バッファ、200,210 サンプリングTFT、20
1,211 電圧保持容量素子、202 画素駆動TF
T、203 EL素子、212 液晶素子、230 M
OSトランジスタ、222a,222b 共通キャパシ
タ電極線、TR1−TR3 転送ゲート。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G09G 3/20 611 G09G 3/20 611A 624 624B (72)発明者 上里 将史 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 Fターム(参考) 2H093 NA16 NA31 NA43 NC12 NC22 NC26 NC28 NC34 ND10 ND39 5C006 BB16 BC06 BF01 BF25 BF37 FA47 5C080 AA06 AA10 BB05 CC03 DD26 EE30 FF11 FF12 GG13 JJ02 JJ03 JJ04 JJ05 5C094 AA22 BA03 BA43 CA19 CA24 EA04 EA07 FB19
Claims (14)
- 【請求項1】 行および列に配列される複数の画素素
子、 各前記行に対応して配置され、各々が対応の行の画素素
子に対する選択信号を伝達する複数の走査線、 前記列に対応して配置され、各々が対応の列の画素素子
に対するデータ信号を伝達する複数のデータ線、 各々が前記画素素子に対応して配置され、かつ各々が対
応の走査線の信号に応答して対応のデータ線のデータ信
号を対応の画素素子に伝達する複数の選択トランジス
タ、 各前記選択トランジスタに対応して配置され、対応の画
素素子に印加される電圧を保持するための保持容量素
子、およびリフレッシュ指示に応答して、前記保持容量
素子の保持電圧を読出し、該読出した保持電圧信号に従
って前記保持容量素子の保持電圧をリフレッシュするた
めのリフレッシュ手段を備える、表示装置。 - 【請求項2】 前記リフレッシュ手段は、 前記リフレッシュ指示に応答して、前記データ線を各列
に対応して配置される相補信号線対に結合するためのデ
ータ線制御回路と、 前記リフレッシュ指示に応答して、選択的に活性化さ
れ、活性化時前記相補信号線対を所定電圧レベルに設定
する電圧設定手段と、 前記リフレッシュ指示に応答して選択的に活性化され、
活性化時対応の相補信号線対の電圧を差動増幅する差動
増幅手段と、 前記リフレッシュ指示に応答して、前記走査線を所定の
順序で選択状態に駆動してデータ線に対応の保持容量素
子を結合する行選択手段を備える、請求項1記載の表示
装置。 - 【請求項3】 前記リフレッシュ手段は、 所定の周期でリフレッシュ要求を前記リフレッシュ指示
に応答して生成するリフレッシュ要求手段と、 前記リフレッシュ指示に応答して前記データ線を選択的
に、各列に対応して配置される相補信号を生成する相補
信号線対に結合するデータ線制御回路と、 前記相補信号線対に対応して配置され、活性化時対応の
相補信号線対を所定電位レベルに設定する電圧初期設定
回路と、 活性化時、前記相補信号線対の電位を差動増幅する差動
増幅回路と、 前記リフレッシュ要求信号に応答して、前記複数の走査
線を所定の順序で選択して前記保持容量素子を対応のデ
ータ線に結合する行選択手段と、 前記リフレッシュ要求信号に応答して、前記電圧初期設
定手段および前記差動増幅手段を選択的に活性化するリ
フレッシュ制御回路を備える、請求項1記載の表示装
置。 - 【請求項4】 各列に対応して、相補データ信号が伝達
される第1および第2のデータ線の対が配置され、各前
記走査線と前記第1および第2のデータ線の一方との交
差部に対応して前記画素素子が配置され、かつ前記デー
タ線対に対応して前記相補信号線が配置される、請求項
1記載の表示装置。 - 【請求項5】 前記走査線は、各行に対応して2本配列
され、各行の画素素子は、隣接列の画素素子が異なる走
査線に結合され、隣接列のデータ線が対をなすように配
列され、 前記データ線制御回路は、前記対をなすデータ線を前記
相補信号線対に結合し、 前記行選択手段は、前記リフレッシュ指示の活性化時、
選択行において1本の走査線を選択して、各データ線対
において1つのデータ線に保持容量素子が結合され、か
つ前記行選択手段は、前記リフレッシュ指示の非活性化
時においては、選択行において2本の走査線を同時に選
択する、請求項2または3記載の表示装置。 - 【請求項6】 各行において、前記対をなすデータ線に
おいて画素素子が結合されるデータ線と異なるデータ線
に対し接続され、対応の保持容量素子と相補なデータに
対応する電圧を保持する基準容量素子をさらに備える、
請求項5記載の表示装置。 - 【請求項7】 各前記画素素子は、対応の保持容量素子
の保持電圧に従って選択的に導通し、導通時共通電極を
対応の画素電極に結合する駆動トランジスタと、前記画
素電極と対向電極との間に配置される液晶素子とを備え
る、請求項1記載の表示装置。 - 【請求項8】 前記リフレッシュ手段は、さらに前記相
補信号線対の差動増幅手段により増幅されたデータ信号
を反転して対応の電圧保持容量素子に書き込む反転書込
手段と、 前記画素素子の主電極に印加される電圧の極性を反転す
る極性反転手段とを備える、請求項2または3記載の表
示装置。 - 【請求項9】 前記リフレッシュ手段は、前記画素素子
のすべてについて1回の保持電圧のリフレッシュが完了
すると、前記画素素子の主電極の電圧極性を反転する、
請求項8記載の表示装置。 - 【請求項10】 前記画素素子は、対応の保持容量素子
の保持電圧を一方電極に受ける液晶素子を含む、請求項
8記載の表示装置。 - 【請求項11】 前記画素素子は、前記保持容量素子の
保持電圧に従って電流が供給されて発光する素子を含
む、請求項1記載の表示装置。 - 【請求項12】 前記複数のデータ線は隣接データ線が
対をなすように配置され、 前記リフレッシュ手段は、前記リフレッシュ指示の活性
化時においては対をなすデータ線の一方のデータ線に保
持容量素子を結合し、該一方のデータ線に結合された保
持容量素子の保持電圧をリフレッシュし、かつ通常動作
モード時において、対をなすデータ線の両データ線に保
持容量素子を結合してこれらの保持容量素子にデータ線
に伝達されたデータを書込む、請求項1記載の表示装
置。 - 【請求項13】 テストモード時、前記対をなすデータ
線の電圧信号を外部へ伝達するためのテスト出力回路を
さらに備える、請求項12記載の表示装置。 - 【請求項14】 前記テストモード時、対をなすデータ
線に前記電圧保持容量素子から読み出された電圧信号を
差動増幅してラッチする差動増幅回路をさらに備え、 前記テスト出力回路は、各対をなすデータ線の増幅電圧
信号を外部に出力する、請求項13記載の表示装置。
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