JP2002350792A - Ea変調器モジュール - Google Patents
Ea変調器モジュールInfo
- Publication number
- JP2002350792A JP2002350792A JP2001152882A JP2001152882A JP2002350792A JP 2002350792 A JP2002350792 A JP 2002350792A JP 2001152882 A JP2001152882 A JP 2001152882A JP 2001152882 A JP2001152882 A JP 2001152882A JP 2002350792 A JP2002350792 A JP 2002350792A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- modulator
- inductance
- strip line
- drive circuit
- load resistance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Abandoned
Links
Landscapes
- Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 駆動回路とストリップ線路を接続するインダ
クタンス素子のインダクタンス成分及びEA変調器の容
量成分による特性劣化を補償すること。 【解決手段】 印加される電界に応じて吸収係数が変化
し光信号を強度変調する半導体素子であるEA変調器1
1と、EA変調器11の電圧印加端に一端が接続される
第1インダクタンス素子12と、第1インダクタンス素
子12の他端とアースとの間に接続される50Ωの負荷
抵抗素子13と、EA変調器11の電圧印加端に一端が
接続されるストリップ線路14と、ストリップ線路14
の他端とアースとの間に接続される容量素子15と、E
A変調器11を駆動する電圧信号を出力する駆動回路1
6と、駆動回路16の出力端とストリップ線路14の他
端とを接続するワイヤ17とを備えている。
クタンス素子のインダクタンス成分及びEA変調器の容
量成分による特性劣化を補償すること。 【解決手段】 印加される電界に応じて吸収係数が変化
し光信号を強度変調する半導体素子であるEA変調器1
1と、EA変調器11の電圧印加端に一端が接続される
第1インダクタンス素子12と、第1インダクタンス素
子12の他端とアースとの間に接続される50Ωの負荷
抵抗素子13と、EA変調器11の電圧印加端に一端が
接続されるストリップ線路14と、ストリップ線路14
の他端とアースとの間に接続される容量素子15と、E
A変調器11を駆動する電圧信号を出力する駆動回路1
6と、駆動回路16の出力端とストリップ線路14の他
端とを接続するワイヤ17とを備えている。
Description
【0001】この発明は、光通信システムでの光送信器
において光信号を強度変調するのに用いられる電界吸収
型(Electro-Absorption:以下「EA」という)変調器
モジュールに関するものである。
において光信号を強度変調するのに用いられる電界吸収
型(Electro-Absorption:以下「EA」という)変調器
モジュールに関するものである。
【0002】
【従来の技術】EA変調器は、レーザダイオード(以下
「LD」という)と同じpn接合のダブルヘテロ構造を
持った容量素子(ダイオード)であり、負バイアスがか
かると、フランツケルディシュ効果によって吸収係数が
変化することを利用して光信号の強度変調を行うもので
ある。
「LD」という)と同じpn接合のダブルヘテロ構造を
持った容量素子(ダイオード)であり、負バイアスがか
かると、フランツケルディシュ効果によって吸収係数が
変化することを利用して光信号の強度変調を行うもので
ある。
【0003】EA変調器は、LDの発振光を直接変調す
る場合と異なり、変調に際してキャリアの移動を伴わな
いことから、応答性に優れ、高速に駆動・制御すること
が可能である。そのため、近年の光通信分野では、LD
の直接変調に代わってこのEA変調器を用いた外部変調
が用いられるようになってきている。
る場合と異なり、変調に際してキャリアの移動を伴わな
いことから、応答性に優れ、高速に駆動・制御すること
が可能である。そのため、近年の光通信分野では、LD
の直接変調に代わってこのEA変調器を用いた外部変調
が用いられるようになってきている。
【0004】ここに、EA変調器に逆方向に印加する電
圧信号を導入する回路は、EA変調器を高速に駆動する
ため各回路要素をマイクロ波集積回路技術を用いて、基
板上に一体化したEA変調器モジュールとして作成され
る。
圧信号を導入する回路は、EA変調器を高速に駆動する
ため各回路要素をマイクロ波集積回路技術を用いて、基
板上に一体化したEA変調器モジュールとして作成され
る。
【0005】図9は、従来のEA変調器モジュールの電
気的構成例である。図9において、EA変調器モジュー
ル50は、EA変調器51と、EA変調器51に並列に
接続される50Ωの負荷抵抗素子52と、EA変調器5
1の電圧印加端に一端が接続されるストリップ線路53
と、駆動回路54と、駆動回路54の出力端とストリッ
プ線路53の他端とを接続するインダクタンス素子55
とを備えている。
気的構成例である。図9において、EA変調器モジュー
ル50は、EA変調器51と、EA変調器51に並列に
接続される50Ωの負荷抵抗素子52と、EA変調器5
1の電圧印加端に一端が接続されるストリップ線路53
と、駆動回路54と、駆動回路54の出力端とストリッ
プ線路53の他端とを接続するインダクタンス素子55
とを備えている。
【0006】EA変調器51には、連続発振しているL
D61からの連続光が光伝送路62を介して導入され
る。EA変調器モジュール50では、駆動回路54がE
A変調器51を駆動する電圧信号を出力する。駆動回路
54の出力は、インダクタンス素子55及びストリップ
線路53を通してEA変調器51に印加され、EA変調
器51の吸収係数を変化させる操作が行われる。その結
果、EA変調器51では、LD61からの連続光を強度
変調する動作が行われ、光伝送路63から強度変調され
た光信号が出力される。
D61からの連続光が光伝送路62を介して導入され
る。EA変調器モジュール50では、駆動回路54がE
A変調器51を駆動する電圧信号を出力する。駆動回路
54の出力は、インダクタンス素子55及びストリップ
線路53を通してEA変調器51に印加され、EA変調
器51の吸収係数を変化させる操作が行われる。その結
果、EA変調器51では、LD61からの連続光を強度
変調する動作が行われ、光伝送路63から強度変調され
た光信号が出力される。
【0007】図10は、図9に示したEA変調器モジュ
ールの駆動側からEA変調器の負荷抵抗を見たときの特
性を説明する図である。図10(a)は、反射係数S1
1と入力インピーダンスZinとの関係を示すアドミタ
ンスチャートであり、図10(b)は、反射係数S11
の周波数特性を示す図であり、図10(c)は、測定回
路図である。
ールの駆動側からEA変調器の負荷抵抗を見たときの特
性を説明する図である。図10(a)は、反射係数S1
1と入力インピーダンスZinとの関係を示すアドミタ
ンスチャートであり、図10(b)は、反射係数S11
の周波数特性を示す図であり、図10(c)は、測定回
路図である。
【0008】図10(c)に示すように、インダクタン
ス素子55は、ワイヤであるので、そのワイヤインダク
タンス成分がストリップ線路に直列に繋がる構成とな
る。ワイヤインダクタンスは、周波数の増加に伴い増大
する。一方、EA変調器51の容量成分は周波数の増加
に伴い減少する。
ス素子55は、ワイヤであるので、そのワイヤインダク
タンス成分がストリップ線路に直列に繋がる構成とな
る。ワイヤインダクタンスは、周波数の増加に伴い増大
する。一方、EA変調器51の容量成分は周波数の増加
に伴い減少する。
【0009】図10(a)において、測定周波数範囲
は、100.0kHzから100.0GHzである。マ
ークポイントm1での周波数は、31.82GHz、反
射係数S(1,1)は0.578/103.644、イ
ンピーダンスがZ0(0.413+j0.700)であ
る。図10(b)において、横軸は周波数(GHz)、
縦軸は反射係数(dB)である。マークポイントm2で
の周波数は、29.99GHz、反射係数dB{S
(1,1)}は−0.290dBである。
は、100.0kHzから100.0GHzである。マ
ークポイントm1での周波数は、31.82GHz、反
射係数S(1,1)は0.578/103.644、イ
ンピーダンスがZ0(0.413+j0.700)であ
る。図10(b)において、横軸は周波数(GHz)、
縦軸は反射係数(dB)である。マークポイントm2で
の周波数は、29.99GHz、反射係数dB{S
(1,1)}は−0.290dBである。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
EA変調器モジュールでは、EA変調器51の容量成分
とインダクタンス素子55のインダクタンス成分とによ
って、駆動回路54側からEA変調器51を見たときの
インピーダンスが高周波まで50Ω整合が取れず、反射
特性(反射係数S11の周波数特性)が劣化し、駆動回
路54とEA変調器51との間で多重反射が起こるとい
う問題点があった。
EA変調器モジュールでは、EA変調器51の容量成分
とインダクタンス素子55のインダクタンス成分とによ
って、駆動回路54側からEA変調器51を見たときの
インピーダンスが高周波まで50Ω整合が取れず、反射
特性(反射係数S11の周波数特性)が劣化し、駆動回
路54とEA変調器51との間で多重反射が起こるとい
う問題点があった。
【0011】また、従来のEA変調器モジュールでは、
EA変調器51の容量成分と負荷抵抗素子52とが並列
に接続されているため、高周波での順方向伝達特性(順
方向伝達係数S21の周波数特性)が劣化するという問
題点もあった。
EA変調器51の容量成分と負荷抵抗素子52とが並列
に接続されているため、高周波での順方向伝達特性(順
方向伝達係数S21の周波数特性)が劣化するという問
題点もあった。
【0012】この発明は、上記に鑑みてなされたもので
あり、駆動回路とストリップ線路を接続するインダクタ
ンス素子のインダクタンス成分及びEA変調器の容量成
分による特性劣化を補償する構成を有するEA変調器モ
ジュールを得ることを目的とする。
あり、駆動回路とストリップ線路を接続するインダクタ
ンス素子のインダクタンス成分及びEA変調器の容量成
分による特性劣化を補償する構成を有するEA変調器モ
ジュールを得ることを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明にかかるEA変調器モジュールは、印加さ
れる電界に応じて吸収係数が変化し、光信号を強度変調
する半導体素子であるEA変調器と、前記EA変調器の
電圧印加端に一端が接続される第1インダクタンス素子
と、前記第1インダクタンス素子の他端とアースとの間
に接続される50Ωの負荷抵抗素子と、前記EA変調器
の電圧印加端に一端が接続されるストリップ線路と、前
記ストリップ線路の他端とアースとの間に接続される容
量素子と、前記EA変調器を駆動する電圧信号を出力す
る駆動回路と、前記駆動回路の出力端と前記ストリップ
線路の他端とを接続する第2インダクタンス素子とを備
えたことを特徴としている。
め、この発明にかかるEA変調器モジュールは、印加さ
れる電界に応じて吸収係数が変化し、光信号を強度変調
する半導体素子であるEA変調器と、前記EA変調器の
電圧印加端に一端が接続される第1インダクタンス素子
と、前記第1インダクタンス素子の他端とアースとの間
に接続される50Ωの負荷抵抗素子と、前記EA変調器
の電圧印加端に一端が接続されるストリップ線路と、前
記ストリップ線路の他端とアースとの間に接続される容
量素子と、前記EA変調器を駆動する電圧信号を出力す
る駆動回路と、前記駆動回路の出力端と前記ストリップ
線路の他端とを接続する第2インダクタンス素子とを備
えたことを特徴としている。
【0014】この発明によれば、第2インダクタンス素
子のインピーダンスが高周波で増大する特性が、第2イ
ンダクタンス素子とストリップ線路の接続点付近に接続
した容量素子のインピーダンスが減少するという相補的
な特性によって補償され、反射特性が改善される。ま
た、EA変調器の容量成分によるインピーダンスが高周
波で減少する特性が、EA変調器と50Ωの負荷抵抗素
子との間に接続した第1インダクタンス素子のインピー
ダンスが増大するという相補的な特性によって補償さ
れ、順方向伝達特性が改善される。
子のインピーダンスが高周波で増大する特性が、第2イ
ンダクタンス素子とストリップ線路の接続点付近に接続
した容量素子のインピーダンスが減少するという相補的
な特性によって補償され、反射特性が改善される。ま
た、EA変調器の容量成分によるインピーダンスが高周
波で減少する特性が、EA変調器と50Ωの負荷抵抗素
子との間に接続した第1インダクタンス素子のインピー
ダンスが増大するという相補的な特性によって補償さ
れ、順方向伝達特性が改善される。
【0015】つぎの発明にかかるEA変調器モジュール
は、印加される電界に応じて吸収係数が変化し、光信号
を強度変調する半導体素子であるEA変調器と、前記E
A変調器に並列に接続される50Ωよりも小さい抵抗値
を持つ負荷抵抗素子と、前記EA変調器の電圧印加端に
一端が接続されるストリップ線路と、前記EA変調器を
駆動する電圧信号を出力する駆動回路と、前記駆動回路
の出力端と前記ストリップ線路の他端とを接続するイン
ダクタンス素子とを備えたことを特徴としている。
は、印加される電界に応じて吸収係数が変化し、光信号
を強度変調する半導体素子であるEA変調器と、前記E
A変調器に並列に接続される50Ωよりも小さい抵抗値
を持つ負荷抵抗素子と、前記EA変調器の電圧印加端に
一端が接続されるストリップ線路と、前記EA変調器を
駆動する電圧信号を出力する駆動回路と、前記駆動回路
の出力端と前記ストリップ線路の他端とを接続するイン
ダクタンス素子とを備えたことを特徴としている。
【0016】この発明によれば、インダクタンス素子と
負荷抵抗素子とは直列に接続される構成となるが、負荷
抵抗素子が50Ωよりも小さい抵抗値であるので、その
高周波での合成インピーダンスは、インダクタンス素子
のインピーダンスが大きくなることによって50Ωに近
づき整合が取れるようになり、反射特性が改善される。
負荷抵抗素子とは直列に接続される構成となるが、負荷
抵抗素子が50Ωよりも小さい抵抗値であるので、その
高周波での合成インピーダンスは、インダクタンス素子
のインピーダンスが大きくなることによって50Ωに近
づき整合が取れるようになり、反射特性が改善される。
【0017】つぎの発明にかかるEA変調器モジュール
は、印加される電界に応じて吸収係数が変化し光信号を
強度変調する半導体素子であるEA変調器と、前記EA
変調器に並列に接続される50Ωの抵抗値を持つ負荷抵
抗素子と、前記負荷抵抗素子と並列に接続される抵抗素
子及び容量素子による合成回路と、前記EA変調器の電
圧印加端に一端が接続されるストリップ線路と、前記E
A変調器を駆動する電圧信号を出力する駆動回路と、前
記駆動回路の出力端と前記ストリップ線路の他端とを接
続するインダクタンス素子とを備えたことを特徴として
いる。
は、印加される電界に応じて吸収係数が変化し光信号を
強度変調する半導体素子であるEA変調器と、前記EA
変調器に並列に接続される50Ωの抵抗値を持つ負荷抵
抗素子と、前記負荷抵抗素子と並列に接続される抵抗素
子及び容量素子による合成回路と、前記EA変調器の電
圧印加端に一端が接続されるストリップ線路と、前記E
A変調器を駆動する電圧信号を出力する駆動回路と、前
記駆動回路の出力端と前記ストリップ線路の他端とを接
続するインダクタンス素子とを備えたことを特徴として
いる。
【0018】この発明によれば、高周波でインダクタン
ス素子のインピーダンスが増大しようとすると、合成回
路の合成インピーダンスが減少することにより、その増
加を抑制する補償動作が行われ、反射特性が改善され
る。一方、低周波では、合成回路の合成インピーダンス
は無限大となり、インダクタンス素子のインピーダンス
の影響がなくなる。
ス素子のインピーダンスが増大しようとすると、合成回
路の合成インピーダンスが減少することにより、その増
加を抑制する補償動作が行われ、反射特性が改善され
る。一方、低周波では、合成回路の合成インピーダンス
は無限大となり、インダクタンス素子のインピーダンス
の影響がなくなる。
【0019】つぎの発明にかかるEA変調器モジュール
は、前記駆動回路は、分布型増幅器で構成されているこ
とを特徴としている。
は、前記駆動回路は、分布型増幅器で構成されているこ
とを特徴としている。
【0020】この発明によれば、駆動回路からEA変調
器の負荷抵抗素子を見たインピーダンスは50Ωに整合
が取れている。一方、EA変調器の負荷抵抗素子から駆
動回路である分布増幅器を見たインピーダンスは、分布
増幅器における各増幅器を接続する線路のインピーダン
スを合わせ込むことで、高周波まで50Ωに整合を取る
ことができる。
器の負荷抵抗素子を見たインピーダンスは50Ωに整合
が取れている。一方、EA変調器の負荷抵抗素子から駆
動回路である分布増幅器を見たインピーダンスは、分布
増幅器における各増幅器を接続する線路のインピーダン
スを合わせ込むことで、高周波まで50Ωに整合を取る
ことができる。
【0021】つぎの発明にかかるEA変調器モジュール
は、前記第1インダクタンス素子は、ストリップ線路で
構成されていることを特徴としている。
は、前記第1インダクタンス素子は、ストリップ線路で
構成されていることを特徴としている。
【0022】この発明によれば、EA変調器と50Ωの
負荷抵抗素子の間に接続した第1インダクタンス素子の
インダクタンス成分が、ストリップ線路の線路幅、基板
幅を調整することで精度よく制御される。
負荷抵抗素子の間に接続した第1インダクタンス素子の
インダクタンス成分が、ストリップ線路の線路幅、基板
幅を調整することで精度よく制御される。
【0023】つぎの発明にかかるEA変調器モジュール
は、前記第1インダクタンス素子は、コプレナ線路で構
成されていることを特徴としている。
は、前記第1インダクタンス素子は、コプレナ線路で構
成されていることを特徴としている。
【0024】この発明によれば、EA変調器と50Ωの
負荷抵抗素子の間に接続した第1インダクタンス素子の
インダクタンス成分が、コプレナ線路の線路幅、線路と
グランドとの間の距離を調整することで精度よく制御さ
れる。
負荷抵抗素子の間に接続した第1インダクタンス素子の
インダクタンス成分が、コプレナ線路の線路幅、線路と
グランドとの間の距離を調整することで精度よく制御さ
れる。
【0025】
【発明の実施の形態】以下に添付図面を参照して、この
発明にかかるEA変調器モジュールの好適な実施の形態
を詳細に説明する。
発明にかかるEA変調器モジュールの好適な実施の形態
を詳細に説明する。
【0026】実施の形態1.図1は、この発明の実施の
形態1であるEA変調器モジュールの電気的構成を示す
図である。図2は、図1に示したEA変調器モジュール
の駆動側からEA変調器の負荷抵抗を見たときの特性を
説明する図である。図3は、図1に示したEA変調器の
電圧印加端から見た順方向伝達係数S21の周波数特性
を示す図である。
形態1であるEA変調器モジュールの電気的構成を示す
図である。図2は、図1に示したEA変調器モジュール
の駆動側からEA変調器の負荷抵抗を見たときの特性を
説明する図である。図3は、図1に示したEA変調器の
電圧印加端から見た順方向伝達係数S21の周波数特性
を示す図である。
【0027】図1において、EA変調器モジュール10
は、印加される電界に応じて吸収係数が変化し、光信号
を強度変調する半導体素子であるEA変調器11と、E
A変調器11の電圧印加端に一端が接続されるインダク
タンス素子12と、インダクタンス素子12の他端とア
ースとの間に接続される50Ωの負荷抵抗素子13と、
EA変調器11の電圧印加端に一端が接続されるストリ
ップ線路14と、ストリップ線路14の他端とアースと
の間に接続される容量素子15と、EA変調器11を駆
動する電圧信号を出力する駆動回路16と、駆動回路1
6の出力端とストリップ線路14の他端とを接続するイ
ンダクタンス素子としてのワイヤ17とを備えている。
は、印加される電界に応じて吸収係数が変化し、光信号
を強度変調する半導体素子であるEA変調器11と、E
A変調器11の電圧印加端に一端が接続されるインダク
タンス素子12と、インダクタンス素子12の他端とア
ースとの間に接続される50Ωの負荷抵抗素子13と、
EA変調器11の電圧印加端に一端が接続されるストリ
ップ線路14と、ストリップ線路14の他端とアースと
の間に接続される容量素子15と、EA変調器11を駆
動する電圧信号を出力する駆動回路16と、駆動回路1
6の出力端とストリップ線路14の他端とを接続するイ
ンダクタンス素子としてのワイヤ17とを備えている。
【0028】以上の構成において、EA変調器11に
は、連続発振しているLD21からの連続光が光伝送路
22を介して導入される。EA変調器モジュール10で
は、駆動回路16がEA変調器11を駆動する電圧信号
を出力する。駆動回路16の出力は、ワイヤ17及びス
トリップ線路14を通してEA変調器11に印加され、
EA変調器11の吸収係数を変化させる操作が行われ
る。その結果、EA変調器11では、LD21からの連
続光を強度変調する動作が行われ、光伝送路23から強
度変調された光信号が出力される。
は、連続発振しているLD21からの連続光が光伝送路
22を介して導入される。EA変調器モジュール10で
は、駆動回路16がEA変調器11を駆動する電圧信号
を出力する。駆動回路16の出力は、ワイヤ17及びス
トリップ線路14を通してEA変調器11に印加され、
EA変調器11の吸収係数を変化させる操作が行われ
る。その結果、EA変調器11では、LD21からの連
続光を強度変調する動作が行われ、光伝送路23から強
度変調された光信号が出力される。
【0029】ここで、ワイヤ17のインピーダンス(ワ
イヤインダクタンス成分)は、jωLと表せるので周波
数の増加に伴い増加する。一方、ワイヤ17とストリッ
プ線路14の接続点付近に接続した容量素子15のイン
ピーダンス(キャパシタンス成分)は、1/(jωC)
と表せるので、周波数の増加に伴い減少する。したがっ
て、ワイヤ17のワイヤインダクタンス成分の影響が容
量素子15のキャパシタンス成分の減少するという相補
的特性によって補償されるので、駆動回路16の出力か
らEA変調器11の負荷抵抗素子13を見たときのイン
ピーダンスは、高周波まで50Ωに整合が取れた状態と
なり、反射特性(反射係数S11の周波数特性)が改善
される。
イヤインダクタンス成分)は、jωLと表せるので周波
数の増加に伴い増加する。一方、ワイヤ17とストリッ
プ線路14の接続点付近に接続した容量素子15のイン
ピーダンス(キャパシタンス成分)は、1/(jωC)
と表せるので、周波数の増加に伴い減少する。したがっ
て、ワイヤ17のワイヤインダクタンス成分の影響が容
量素子15のキャパシタンス成分の減少するという相補
的特性によって補償されるので、駆動回路16の出力か
らEA変調器11の負荷抵抗素子13を見たときのイン
ピーダンスは、高周波まで50Ωに整合が取れた状態と
なり、反射特性(反射係数S11の周波数特性)が改善
される。
【0030】また、EA変調器11の容量成分(キャパ
シタンス)は、周波数の増加に伴い減少する。一方、E
A変調器11とそれに並列に配置される50Ωの負荷抵
抗素子13との間に設けられるインダクタンス素子12
のインピーダンスは、周波数の増加に伴い増加する。し
たがって、EA変調器11の容量成分(キャパシタン
ス)の影響がインダクタンス素子12のインピーダンス
が増加するという相補的特性によって補償されるので、
高周波での順方向伝達特性(順方向伝達係数S21の周
波数特性)が改善される。
シタンス)は、周波数の増加に伴い減少する。一方、E
A変調器11とそれに並列に配置される50Ωの負荷抵
抗素子13との間に設けられるインダクタンス素子12
のインピーダンスは、周波数の増加に伴い増加する。し
たがって、EA変調器11の容量成分(キャパシタン
ス)の影響がインダクタンス素子12のインピーダンス
が増加するという相補的特性によって補償されるので、
高周波での順方向伝達特性(順方向伝達係数S21の周
波数特性)が改善される。
【0031】以下、図2および図3を用いて具体的に改
善の程度を説明する。図2において、図2(a)は、反
射係数S11と入力インピーダンスZinの関係を示す
アドミタンスチャートであり、図2(b)は、反射係数
S11の周波数特性を示す図であり、図2(c)は、測
定回路図である。
善の程度を説明する。図2において、図2(a)は、反
射係数S11と入力インピーダンスZinの関係を示す
アドミタンスチャートであり、図2(b)は、反射係数
S11の周波数特性を示す図であり、図2(c)は、測
定回路図である。
【0032】図2(c)に示すように、ワイヤインダク
タンス成分とストリップ線路の接続点とアースとの間に
ワイヤインダクタンス補償用キャパシタンスが接続され
ている。また、EA変調器とそれに並列に配置される5
0Ωの負荷抵抗との間に、EA変調器の容量成分(キャ
パシタンス)を補償するインダクタンス成分が設けられ
ている。
タンス成分とストリップ線路の接続点とアースとの間に
ワイヤインダクタンス補償用キャパシタンスが接続され
ている。また、EA変調器とそれに並列に配置される5
0Ωの負荷抵抗との間に、EA変調器の容量成分(キャ
パシタンス)を補償するインダクタンス成分が設けられ
ている。
【0033】図2(a)において、測定周波数範囲は、
100.0kHzから100.0GHzである。マーク
ポイントm1での周波数は、39.81GHz、反射係
数S(1,1)は0.405/104.024、インピ
ーダンスがZ0(0.614+j0.578)である。
図2(b)において、横軸は周波数(GHz)、縦軸は
反射係数(dB)である。マークポイントm2での周波
数は、2.578GHz、反射係数dB{S(1,
1)}は−27.935dBである。
100.0kHzから100.0GHzである。マーク
ポイントm1での周波数は、39.81GHz、反射係
数S(1,1)は0.405/104.024、インピ
ーダンスがZ0(0.614+j0.578)である。
図2(b)において、横軸は周波数(GHz)、縦軸は
反射係数(dB)である。マークポイントm2での周波
数は、2.578GHz、反射係数dB{S(1,
1)}は−27.935dBである。
【0034】補償のない図10(a)と補償のある図2
(a)とのアドミタンスチャートの比較から理解できる
ように、反射係数S11は、振幅が0.578から0.
405に減少し、反射特性(Sパラメータの反射係数S
11の特性)が改善されていることが解る。また、周波
数特性では、図10(b)の場合には55GHz程度ま
でしかカバーできていないが、図2(b)の場合には7
2GHz程度まで伸びていることが示され、周波数特性
が大幅に改善されていることが解る。
(a)とのアドミタンスチャートの比較から理解できる
ように、反射係数S11は、振幅が0.578から0.
405に減少し、反射特性(Sパラメータの反射係数S
11の特性)が改善されていることが解る。また、周波
数特性では、図10(b)の場合には55GHz程度ま
でしかカバーできていないが、図2(b)の場合には7
2GHz程度まで伸びていることが示され、周波数特性
が大幅に改善されていることが解る。
【0035】図3において、特性(1)は、EA変調器
11の容量成分のインピーダンス特性を補償するインダ
クタンス素子12が存在する場合の順方向伝達係数S2
1の周波数特性である。特性(2)は、EA変調器11
の容量成分のインピーダンス特性を補償しない図9に示
す場合の順方向伝達係数S21の周波数特性である。図
3から、30GHzを超える高周波領域において改善さ
れていることが解る。これは、補償用のインダクタンス
成分が加わることで40GHz付近でピーキングがかか
ることによる。
11の容量成分のインピーダンス特性を補償するインダ
クタンス素子12が存在する場合の順方向伝達係数S2
1の周波数特性である。特性(2)は、EA変調器11
の容量成分のインピーダンス特性を補償しない図9に示
す場合の順方向伝達係数S21の周波数特性である。図
3から、30GHzを超える高周波領域において改善さ
れていることが解る。これは、補償用のインダクタンス
成分が加わることで40GHz付近でピーキングがかか
ることによる。
【0036】実施の形態2.図4は、この発明の実施の
形態2であるEA変調器モジュールの電気的構成を示す
図である。なお、図4では、図1で示した回路要素と同
一である要素には、同一符号が付されている。ここで
は、この実施の形態2に関わる部分を中心に説明する。
この点は、以下に示す各実施の形態において同様であ
る。
形態2であるEA変調器モジュールの電気的構成を示す
図である。なお、図4では、図1で示した回路要素と同
一である要素には、同一符号が付されている。ここで
は、この実施の形態2に関わる部分を中心に説明する。
この点は、以下に示す各実施の形態において同様であ
る。
【0037】図4に示すように、この実施の形態2で
は、図1において容量素子15を省略し、またEA変調
器11の容量成分を補償するインダクタンス素子12を
省略してEA変調器11に並列に負荷抵抗素子18が接
続されている。負荷抵抗素子18は、50Ωよりも小さ
い抵抗値を有するものである。
は、図1において容量素子15を省略し、またEA変調
器11の容量成分を補償するインダクタンス素子12を
省略してEA変調器11に並列に負荷抵抗素子18が接
続されている。負荷抵抗素子18は、50Ωよりも小さ
い抵抗値を有するものである。
【0038】以上の構成において、ワイヤ17は、EA
変調器11の負荷抵抗素子18に直列に接続される。ワ
イヤ17のインダクタンス成分は、高周波では増大す
る。一方、EA変調器11容量成分によるインピーダン
スは、高周波では減少する。したがって、駆動回路16
の出力からEA変調器11の負荷抵抗素子18を見たと
きのインピーダンスは、ワイヤ17のインダクタンス成
分の影響が大きく、高周波になると高くなり、反射係数
S11の高周波での周波数特性が劣化する。
変調器11の負荷抵抗素子18に直列に接続される。ワ
イヤ17のインダクタンス成分は、高周波では増大す
る。一方、EA変調器11容量成分によるインピーダン
スは、高周波では減少する。したがって、駆動回路16
の出力からEA変調器11の負荷抵抗素子18を見たと
きのインピーダンスは、ワイヤ17のインダクタンス成
分の影響が大きく、高周波になると高くなり、反射係数
S11の高周波での周波数特性が劣化する。
【0039】ところが、この実施の形態2では、EA変
調器11の負荷抵抗素子18が50Ωよりも小さい抵抗
値を持つものを用いる。そのため、ワイヤ17と負荷抵
抗素子18の直列回路の合成インピーダンスは、高周波
になると50Ωに近づき、駆動回路16の出力からEA
変調器11の負荷抵抗素子18を見たときのインピーダ
ンスが50Ωに整合が取れるようになる。つまり、反射
係数S11の高周波での周波数特性が改善される。勿
論、反射係数S11の低周波での周波数特性は良好であ
る。したがって、周波数特性が向上する。
調器11の負荷抵抗素子18が50Ωよりも小さい抵抗
値を持つものを用いる。そのため、ワイヤ17と負荷抵
抗素子18の直列回路の合成インピーダンスは、高周波
になると50Ωに近づき、駆動回路16の出力からEA
変調器11の負荷抵抗素子18を見たときのインピーダ
ンスが50Ωに整合が取れるようになる。つまり、反射
係数S11の高周波での周波数特性が改善される。勿
論、反射係数S11の低周波での周波数特性は良好であ
る。したがって、周波数特性が向上する。
【0040】実施の形態3.図5は、この発明の実施の
形態3であるEA変調器モジュールの電気的構成を示す
図である。図5に示すように、この実施の形態3では、
図1において容量素子15を省略し、またEA変調器1
1の容量成分を補償するインダクタンス素子12を省略
してEA変調器11に並列に負荷抵抗素子13が接続さ
れ、さらに負荷抵抗素子13に並列に、抵抗素子及び容
量素子の合成回路19が接続されている。
形態3であるEA変調器モジュールの電気的構成を示す
図である。図5に示すように、この実施の形態3では、
図1において容量素子15を省略し、またEA変調器1
1の容量成分を補償するインダクタンス素子12を省略
してEA変調器11に並列に負荷抵抗素子13が接続さ
れ、さらに負荷抵抗素子13に並列に、抵抗素子及び容
量素子の合成回路19が接続されている。
【0041】以上の構成において、合成回路19では、
低周波ではインピーダンスが∞となるので、ワイヤ17
のインダクタンス成分の影響もなくなる。したがって、
駆動回路16の出力からは、負荷抵抗素子13の50Ω
がそのままインピーダンスの値として見える。一方、高
周波になると、ワイヤ17のインダクタンス成分の影響
でインピーダンスが大きくなるが、合成回路19のイン
ピーダンスが小さくなる相補特性を示すので、特性が相
殺され、50Ω整合が得られるようになる。そのため、
低周波から高周波まで良好な反射係数S11の周波数特
性が得られる。
低周波ではインピーダンスが∞となるので、ワイヤ17
のインダクタンス成分の影響もなくなる。したがって、
駆動回路16の出力からは、負荷抵抗素子13の50Ω
がそのままインピーダンスの値として見える。一方、高
周波になると、ワイヤ17のインダクタンス成分の影響
でインピーダンスが大きくなるが、合成回路19のイン
ピーダンスが小さくなる相補特性を示すので、特性が相
殺され、50Ω整合が得られるようになる。そのため、
低周波から高周波まで良好な反射係数S11の周波数特
性が得られる。
【0042】実施の形態4.図6は、この発明の実施の
形態4であるEA変調器モジュールの電気的構成を示す
図である。図6に示すように、この実施の形態4では、
図1において、駆動回路16に代えて分布増幅器20が
設けられている。分布増幅器20の各増幅器が接続され
る線路には、50Ωの負荷抵抗素子が接続されている。
形態4であるEA変調器モジュールの電気的構成を示す
図である。図6に示すように、この実施の形態4では、
図1において、駆動回路16に代えて分布増幅器20が
設けられている。分布増幅器20の各増幅器が接続され
る線路には、50Ωの負荷抵抗素子が接続されている。
【0043】図1の構成では、駆動回路16の出力から
EA変調器11の負荷抵抗素子13を見たときのインピ
ーダンスが高周波まで良好な50Ω整合が得られていて
も、駆動回路16の出力から駆動回路16を見たインピ
ーダンスが高周波まで50Ω整合が得られていないと、
駆動回路16とEA変調器11と間で多重反射が起こ
る。
EA変調器11の負荷抵抗素子13を見たときのインピ
ーダンスが高周波まで良好な50Ω整合が得られていて
も、駆動回路16の出力から駆動回路16を見たインピ
ーダンスが高周波まで50Ω整合が得られていないと、
駆動回路16とEA変調器11と間で多重反射が起こ
る。
【0044】ところが、分布増幅器20では、各増幅器
を接続する線路のインピーダンスを合わせ込むことで高
周波まで良好な反射係数S22の周波数特性が得られ
る。そして、実施の形態4では、分布増幅器20に、ワ
イヤ17のインダクタンス成分を補償する容量素子15
と、EA変調器11の容量成分を補償するインダクタン
ス素子12とを加えることで、分布増幅器20の50Ω
負荷抵抗素子からEA変調器11の50Ω負荷抵抗素子
13までを擬似的にストリップ線路のようにみせること
ができる。そのため、EA変調器11にかかる電圧波形
は、分布増幅器20の出力を分布増幅器20の50Ω負
荷抵抗素子からみたときと同じ良好な波形となる。
を接続する線路のインピーダンスを合わせ込むことで高
周波まで良好な反射係数S22の周波数特性が得られ
る。そして、実施の形態4では、分布増幅器20に、ワ
イヤ17のインダクタンス成分を補償する容量素子15
と、EA変調器11の容量成分を補償するインダクタン
ス素子12とを加えることで、分布増幅器20の50Ω
負荷抵抗素子からEA変調器11の50Ω負荷抵抗素子
13までを擬似的にストリップ線路のようにみせること
ができる。そのため、EA変調器11にかかる電圧波形
は、分布増幅器20の出力を分布増幅器20の50Ω負
荷抵抗素子からみたときと同じ良好な波形となる。
【0045】実施の形態5.実施の形態5であるEA変
調器モジュールは、図1に示したEA変調器モジュール
において、EA変調器11と50Ωの負荷抵抗素子13
との間を接続するインダクタンス素子12がストリップ
線路で構成されている。
調器モジュールは、図1に示したEA変調器モジュール
において、EA変調器11と50Ωの負荷抵抗素子13
との間を接続するインダクタンス素子12がストリップ
線路で構成されている。
【0046】図7は、この発明の実施の形態5であるE
A変調器モジュールにおいてEA変調器の容量成分を補
償するインダクタンス素子として用いるストリップ線路
を示す図である。図7(a)は実装図であり、図7
(b)は、等価回路である。
A変調器モジュールにおいてEA変調器の容量成分を補
償するインダクタンス素子として用いるストリップ線路
を示す図である。図7(a)は実装図であり、図7
(b)は、等価回路である。
【0047】図7において、インダクタンス素子12と
して用いられるストリップ線路31は、一端がEA変調
器11とフリップチップ32によって接続され、他端に
50Ωの負荷抵抗素子13が形成されている。なお、ス
トリップ線路14の一端も同様にフリップチップ33に
よってEA変調器11と接続されている。
して用いられるストリップ線路31は、一端がEA変調
器11とフリップチップ32によって接続され、他端に
50Ωの負荷抵抗素子13が形成されている。なお、ス
トリップ線路14の一端も同様にフリップチップ33に
よってEA変調器11と接続されている。
【0048】ストリップ線路31は、基板幅や線路幅を
変えることで任意のインダクタンス成分と容量成分を持
たせることができる。この実施の形態5では、このスト
リップ線路31の基板幅を厚く、線路幅を狭くすること
で、EA変調器11の容量成分を補償するインダクタン
ス成分としている。
変えることで任意のインダクタンス成分と容量成分を持
たせることができる。この実施の形態5では、このスト
リップ線路31の基板幅を厚く、線路幅を狭くすること
で、EA変調器11の容量成分を補償するインダクタン
ス成分としている。
【0049】実施の形態6.実施の形態6であるEA変
調器モジュールは、図1に示したEA変調器モジュール
において、EA変調器11と50Ωの負荷抵抗素子13
との間を接続するインダクタンス素子12がコプレナ線
路で構成されている。
調器モジュールは、図1に示したEA変調器モジュール
において、EA変調器11と50Ωの負荷抵抗素子13
との間を接続するインダクタンス素子12がコプレナ線
路で構成されている。
【0050】図8は、この発明の実施の形態6であるE
A変調器モジュールにおいてEA変調器の容量成分を補
償するインダクタンス素子として用いるコプレナ線路を
示す図である。図8(a)は、実装図であり、図8
(b)は、等価回路である。
A変調器モジュールにおいてEA変調器の容量成分を補
償するインダクタンス素子として用いるコプレナ線路を
示す図である。図8(a)は、実装図であり、図8
(b)は、等価回路である。
【0051】図8において、インダクタンス素子12と
して用いられるコプレナ線路41は、一端がEA変調器
11とフリップチップ42によって接続され、他端に5
0Ωの負荷抵抗素子13が形成されている線路41a
と、線路41aの両側に配置されるグランド41bとで
構成されている。なお、ストリップ線路14の一端も同
様にフリップチップ42によってEA変調器11と接続
されている。
して用いられるコプレナ線路41は、一端がEA変調器
11とフリップチップ42によって接続され、他端に5
0Ωの負荷抵抗素子13が形成されている線路41a
と、線路41aの両側に配置されるグランド41bとで
構成されている。なお、ストリップ線路14の一端も同
様にフリップチップ42によってEA変調器11と接続
されている。
【0052】コプレナ線路41は、線路41aとグラン
ド41bとの間の距離や、線路幅を調整することで任意
のインダクタンス成分と容量成分を持たせることができ
る。この実施の形態6では、このコプレナ線路41の線
路幅を狭く、線路41aとグランド41bとの間の距離
を長くすることで、EA変調器11の容量成分を補償す
るインダクタンス成分としている。
ド41bとの間の距離や、線路幅を調整することで任意
のインダクタンス成分と容量成分を持たせることができ
る。この実施の形態6では、このコプレナ線路41の線
路幅を狭く、線路41aとグランド41bとの間の距離
を長くすることで、EA変調器11の容量成分を補償す
るインダクタンス成分としている。
【0053】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、第2インダクタンス素子のインピーダンスが高周波
で増大する特性が、第2インダクタンス素子とストリッ
プ線路の接続点付近に接続した容量素子のインピーダン
スが減少するという相補的な特性によって補償され、反
射特性が改善される。EA変調器の容量成分によるイン
ピーダンスが高周波で減少する特性が、EA変調器と5
0Ωの負荷抵抗子との間に接続した第1インダクタンス
素子のインピーダンスが増大するという相補的な特性に
よって補償されるので、順方向伝達特性が改善される。
したがって、高周波まで良好な整合特性が得られ、周波
数特性を向上させることができる。
ば、第2インダクタンス素子のインピーダンスが高周波
で増大する特性が、第2インダクタンス素子とストリッ
プ線路の接続点付近に接続した容量素子のインピーダン
スが減少するという相補的な特性によって補償され、反
射特性が改善される。EA変調器の容量成分によるイン
ピーダンスが高周波で減少する特性が、EA変調器と5
0Ωの負荷抵抗子との間に接続した第1インダクタンス
素子のインピーダンスが増大するという相補的な特性に
よって補償されるので、順方向伝達特性が改善される。
したがって、高周波まで良好な整合特性が得られ、周波
数特性を向上させることができる。
【0054】つぎの発明によれば、負荷抵抗素子の抵抗
値が50Ωよりも小さいので、インダクタンス素子との
合成インピーダンスが、高周波ではインダクタンス素子
のインピーダンスが大きくなることによって50Ωに近
づき整合が取れるようになり、反射特性が改善される。
したがって、良好な整合特性が得られ、、周波数特性を
向上させることができる。
値が50Ωよりも小さいので、インダクタンス素子との
合成インピーダンスが、高周波ではインダクタンス素子
のインピーダンスが大きくなることによって50Ωに近
づき整合が取れるようになり、反射特性が改善される。
したがって、良好な整合特性が得られ、、周波数特性を
向上させることができる。
【0055】つぎの発明によれば、高周波でインダクタ
ンス素子のインピーダンスが増大する特性が、合成回路
の合成インピーダンスが減少する特性により補償される
ので、反射特性が改善される。したがって、高周波まで
良好な整合特性が得られ、周波数特性を向上させること
ができる。
ンス素子のインピーダンスが増大する特性が、合成回路
の合成インピーダンスが減少する特性により補償される
ので、反射特性が改善される。したがって、高周波まで
良好な整合特性が得られ、周波数特性を向上させること
ができる。
【0056】この発明によれば、駆動回路からEA変調
器の負荷抵抗素子を見たインピーダンスは50Ωに整合
が取れているのに加えて、EA変調器の負荷抵抗素子か
ら駆動回路である分布増幅器を見たインピーダンスも、
高周波まで50Ωに整合を取ることができるので、反射
特性と順方向伝達特性の双方を改善することができ、周
波数特性を向上させることができる。
器の負荷抵抗素子を見たインピーダンスは50Ωに整合
が取れているのに加えて、EA変調器の負荷抵抗素子か
ら駆動回路である分布増幅器を見たインピーダンスも、
高周波まで50Ωに整合を取ることができるので、反射
特性と順方向伝達特性の双方を改善することができ、周
波数特性を向上させることができる。
【0057】つぎの発明によれば、EA変調器と50Ω
の負荷抵抗素子の間を接続する第1インダクタンス素子
をストリップ線路で構成するので、線路幅、基板幅を調
整することで精度よくインダクタンス成分を制御するこ
とが可能となり、良好な順方向伝達特性が得られるよう
になる。
の負荷抵抗素子の間を接続する第1インダクタンス素子
をストリップ線路で構成するので、線路幅、基板幅を調
整することで精度よくインダクタンス成分を制御するこ
とが可能となり、良好な順方向伝達特性が得られるよう
になる。
【0058】つぎの発明によれば、EA変調器と50Ω
の負荷抵抗素子の間を接続する第1インダクタンス素子
をコプレナ線路で構成するので、線路幅、線路とグラン
ドとの間の距離を調整することで精度よくインダクタン
ス成分を制御することが可能となり、良好な順方向伝達
特性が得られるようになる。
の負荷抵抗素子の間を接続する第1インダクタンス素子
をコプレナ線路で構成するので、線路幅、線路とグラン
ドとの間の距離を調整することで精度よくインダクタン
ス成分を制御することが可能となり、良好な順方向伝達
特性が得られるようになる。
【図1】 この発明の実施の形態1であるEA変調器モ
ジュールの電気的構成を示す図である。
ジュールの電気的構成を示す図である。
【図2】 図1に示したEA変調器モジュールの駆動側
からEA変調器の負荷抵抗を見たときの特性を説明する
図である。図2(a)は反射係数S11と入力インピー
ダンスZinの関係を示すアドミタンスチャートであ
り、図2(b)は反射係数S11の周波数特性を示す図
であり、図2(c)は測定回路図である。
からEA変調器の負荷抵抗を見たときの特性を説明する
図である。図2(a)は反射係数S11と入力インピー
ダンスZinの関係を示すアドミタンスチャートであ
り、図2(b)は反射係数S11の周波数特性を示す図
であり、図2(c)は測定回路図である。
【図3】 図1に示したEA変調器の電圧印加端から見
た順方向伝達係数S21の周波数特性を示す図である。
た順方向伝達係数S21の周波数特性を示す図である。
【図4】 この発明の実施の形態2であるEA変調器モ
ジュールの電気的構成を示す図である。
ジュールの電気的構成を示す図である。
【図5】 この発明の実施の形態3であるEA変調器モ
ジュールの電気的構成を示す図である。
ジュールの電気的構成を示す図である。
【図6】 この発明の実施の形態4であるEA変調器モ
ジュールの電気的構成を示す図である。
ジュールの電気的構成を示す図である。
【図7】 この発明の実施の形態5であるEA変調器モ
ジュールにおいてEA変調器の容量成分を補償するイン
ダクタンス素子として用いるストリップ線路を示す図で
ある。図7(a)は実装図であり、図7(b)は等価回
路である。
ジュールにおいてEA変調器の容量成分を補償するイン
ダクタンス素子として用いるストリップ線路を示す図で
ある。図7(a)は実装図であり、図7(b)は等価回
路である。
【図8】 この発明の実施の形態6であるEA変調器モ
ジュールにおいてEA変調器の容量成分を補償するイン
ダクタンス素子として用いるコプレナ線路を示す図であ
る。図8(a)は実装図であり、図8(b)は等価回路
である。
ジュールにおいてEA変調器の容量成分を補償するイン
ダクタンス素子として用いるコプレナ線路を示す図であ
る。図8(a)は実装図であり、図8(b)は等価回路
である。
【図9】 従来のEA変調器モジュールの電気的構成を
示す図である。
示す図である。
【図10】 図9に示したEA変調器モジュールの駆動
側からEA変調器の負荷抵抗を見たときの特性を説明す
る図である。図10(a)は反射係数S11と入力イン
ピーダンスZinの関係を示すアドミタンスチャートで
あり、図10(b)は反射係数S11の周波数特性を示
す図であり、図10(c)は測定回路図である。
側からEA変調器の負荷抵抗を見たときの特性を説明す
る図である。図10(a)は反射係数S11と入力イン
ピーダンスZinの関係を示すアドミタンスチャートで
あり、図10(b)は反射係数S11の周波数特性を示
す図であり、図10(c)は測定回路図である。
10 EA変調器モジュール、11 EA変調器、12
インダクタンス素子、13 50Ωの負荷抵抗素子、
14 ストリップ線路、15 容量素子、16駆動回
路、17 ワイヤ、18 50Ωよりも小さい値の負荷
抵抗素子、19抵抗素子と容量素子の合成回路、20
分布増幅器、21 レーザダイオード、22,23 光
伝送路、31 ストリップ線路、32,33,42,4
3 フリップチップ、41 コプレナ線路、41a 線
路、41b グランド。
インダクタンス素子、13 50Ωの負荷抵抗素子、
14 ストリップ線路、15 容量素子、16駆動回
路、17 ワイヤ、18 50Ωよりも小さい値の負荷
抵抗素子、19抵抗素子と容量素子の合成回路、20
分布増幅器、21 レーザダイオード、22,23 光
伝送路、31 ストリップ線路、32,33,42,4
3 フリップチップ、41 コプレナ線路、41a 線
路、41b グランド。
Claims (6)
- 【請求項1】 印加される電界に応じて吸収係数が変化
し、光信号を強度変調する半導体素子であるEA変調器
と、 前記EA変調器の電圧印加端に一端が接続される第1イ
ンダクタンス素子と、 前記第1インダクタンス素子の他端とアースとの間に接
続される50Ωの負荷抵抗素子と、 前記EA変調器の電圧印加端に一端が接続されるストリ
ップ線路と、 前記ストリップ線路の他端とアースとの間に接続される
容量素子と、 前記EA変調器を駆動する電圧信号を出力する駆動回路
と、 前記駆動回路の出力端と前記ストリップ線路の他端とを
接続する第2インダクタンス素子と、 を備えたことを特徴とするEA変調器モジュール。 - 【請求項2】 印加される電界に応じて吸収係数が変化
し、光信号を強度変調する半導体素子であるEA変調器
と、 前記EA変調器に並列に接続される50Ωよりも小さい
抵抗値を持つ負荷抵抗素子と、 前記EA変調器の電圧印加端に一端が接続されるストリ
ップ線路と、 前記EA変調器を駆動する電圧信号を出力する駆動回路
と、 前記駆動回路の出力端と前記ストリップ線路の他端とを
接続するインダクタンス素子と、 を備えたことを特徴とするEA変調器モジュール。 - 【請求項3】 印加される電界に応じて吸収係数が変化
し、光信号を強度変調する半導体素子であるEA変調器
と、 前記EA変調器に並列に接続される50Ωの抵抗値を持
つ負荷抵抗素子と、 前記負荷抵抗素子と並列に接続される抵抗素子及び容量
素子による合成回路と、 前記EA変調器の電圧印加端に一端が接続されるストリ
ップ線路と、 前記EA変調器を駆動する電圧信号を出力する駆動回路
と、 前記駆動回路の出力端と前記ストリップ線路の他端とを
接続するインダクタンス素子と、 を備えたことを特徴とするEA変調器モジュール。 - 【請求項4】 前記駆動回路は、分布型増幅器で構成さ
れていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つ
に記載のEA変調器モジュール。 - 【請求項5】 前記第1インダクタンス素子は、ストリ
ップ線路で構成されていることを特徴とする請求項1に
記載のEA変調器モジュール。 - 【請求項6】 前記第1インダクタンス素子は、コプレ
ナ線路で構成されていることを特徴とする請求項1に記
載のEA変調器モジュール。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001152882A JP2002350792A (ja) | 2001-05-22 | 2001-05-22 | Ea変調器モジュール |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001152882A JP2002350792A (ja) | 2001-05-22 | 2001-05-22 | Ea変調器モジュール |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002350792A true JP2002350792A (ja) | 2002-12-04 |
Family
ID=18997491
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001152882A Abandoned JP2002350792A (ja) | 2001-05-22 | 2001-05-22 | Ea変調器モジュール |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002350792A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7936495B2 (en) | 2008-12-16 | 2011-05-03 | Mitsubishi Electric Corporation | Optical modulation device |
| JP2012088348A (ja) * | 2010-10-15 | 2012-05-10 | Mitsubishi Electric Corp | 光変調装置 |
| WO2012063413A1 (ja) * | 2010-11-10 | 2012-05-18 | 日本電気株式会社 | 光位相変調回路及び光位相変調方法 |
| US20140105605A1 (en) * | 2012-10-11 | 2014-04-17 | Stmicroelectronics S.R.L. | Driver for multi-stage wave guide modulator and method |
| US10656444B2 (en) | 2017-03-21 | 2020-05-19 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Optical modulator |
-
2001
- 2001-05-22 JP JP2001152882A patent/JP2002350792A/ja not_active Abandoned
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7936495B2 (en) | 2008-12-16 | 2011-05-03 | Mitsubishi Electric Corporation | Optical modulation device |
| JP2012088348A (ja) * | 2010-10-15 | 2012-05-10 | Mitsubishi Electric Corp | 光変調装置 |
| CN102455524A (zh) * | 2010-10-15 | 2012-05-16 | 三菱电机株式会社 | 光调制装置 |
| CN102455524B (zh) * | 2010-10-15 | 2015-07-01 | 三菱电机株式会社 | 光调制装置 |
| WO2012063413A1 (ja) * | 2010-11-10 | 2012-05-18 | 日本電気株式会社 | 光位相変調回路及び光位相変調方法 |
| CN103210601A (zh) * | 2010-11-10 | 2013-07-17 | 日本电气株式会社 | 光学相位调制电路和光学相位调制方法 |
| US20140105605A1 (en) * | 2012-10-11 | 2014-04-17 | Stmicroelectronics S.R.L. | Driver for multi-stage wave guide modulator and method |
| US8989601B2 (en) * | 2012-10-11 | 2015-03-24 | Stmicroelectronics S.R.L. | Driver for multi-stage wave guide modulator and method |
| US10656444B2 (en) | 2017-03-21 | 2020-05-19 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Optical modulator |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7130100B2 (en) | Optical module | |
| US6823145B1 (en) | Optical transmitter module | |
| US6437899B1 (en) | Opto-electric conversion semiconductor device | |
| US7010179B2 (en) | Differential drive semiconductor optical modulator | |
| JP3553222B2 (ja) | 光変調器モジュール | |
| US8385752B2 (en) | Laser diode driver with back terminator and optical transmitter providing the same | |
| US7099596B2 (en) | Optical transmitter | |
| WO2016152152A1 (ja) | 高周波伝送線路および光回路 | |
| US20230107837A1 (en) | Electro-optic modulator, optical chip, and integrated chip | |
| US9825709B2 (en) | Traveling wave amplifier for driving optical modulator | |
| WO2020121928A1 (ja) | 光送信機 | |
| US20060008194A1 (en) | Optical module | |
| JP2020043251A (ja) | 半導体装置 | |
| US6831767B2 (en) | Traveling wave optical modular | |
| JP2015125153A (ja) | 光モジュール | |
| US11126017B2 (en) | Driving circuit for optical device | |
| JP2002350792A (ja) | Ea変調器モジュール | |
| US20030193095A1 (en) | Optical module equipped with a wiring plate | |
| JPH0774420A (ja) | 光半導体回路及びそれを構成するための光モジュール及び電源回路 | |
| US5793516A (en) | Optical modulator circuit | |
| KR101818670B1 (ko) | 송신용 광 모듈 | |
| US7030418B2 (en) | Structure of chip carrier for semiconductor optical device, optical module, and optical transmitter and receiver | |
| US20210341812A1 (en) | Optical Modulator Module | |
| JPH05289033A (ja) | 直列導波路型光送受信装置 | |
| US6788447B2 (en) | Off-chip matching circuit for electroabsorption optical modulator |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050413 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070524 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070703 |
|
| A762 | Written abandonment of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762 Effective date: 20070828 |