JP2002350485A - Display board inspection equipment - Google Patents
Display board inspection equipmentInfo
- Publication number
- JP2002350485A JP2002350485A JP2001163077A JP2001163077A JP2002350485A JP 2002350485 A JP2002350485 A JP 2002350485A JP 2001163077 A JP2001163077 A JP 2001163077A JP 2001163077 A JP2001163077 A JP 2001163077A JP 2002350485 A JP2002350485 A JP 2002350485A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- moving block
- block
- display substrate
- substrate
- contact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 基板受けをそれに受けられた表示用基板
と平行な面内で移動させることなく、表示用基板を基板
受けに対して着脱することができるようにすることにあ
る。
【解決手段】 検査装置は、基板受けの側方に第1の移
動ブロックを配置し、第2の移動ブロックを駆動機構に
より前記基板受けに対しその側方から前進及び側方に後
退可能に第1の移動ブロックに配置し、複数の接触子を
備える接触子ブロックを第2の移動ブロックに配置し
て、第2の移動ブロックを弾性体により表示用基板に対
して傾斜する方向へ付勢している。第2の移動ブロック
は、第1の移動ブロックの前進後退にともなって弾性体
による付勢方向へ移動され、第1の移動ブロックのスト
ッパ部により前進を制限されて、表示用基板に直角な方
向へ変位し、それにより接触子ユニットを同方向に変位
させる。
(57) Abstract: A display substrate can be attached to and detached from a substrate receiver without moving the substrate receiver in a plane parallel to the display substrate received by the substrate receiver. . An inspection apparatus includes a first moving block disposed on a side of a substrate receiver, and a second moving block movable forward and backward from the side of the substrate receiver by a driving mechanism. The contact block provided with the plurality of contacts is disposed on the second moving block, and the second moving block is biased by the elastic body in a direction inclined with respect to the display substrate. ing. The second moving block is moved in the biasing direction by the elastic body as the first moving block advances and retreats, the forward movement is restricted by the stopper of the first moving block, and the second moving block is moved in a direction perpendicular to the display substrate. , Thereby displacing the contactor unit in the same direction.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネルの
ような表示用基板を検査する装置に関する。The present invention relates to an apparatus for inspecting a display substrate such as a liquid crystal display panel.
【0002】[0002]
【従来の技術】液晶表示パネルのような表示用基板を検
査する装置は、一般に、表示用基板の電極に接触される
複数のプローブすなわち接触子をヘッドプレートや支持
プレート等のベースプレートに組み付け、そのベースプ
レートを装置のフレームに組み付け、表示用基板をフレ
ーム内に配置された基板受けのような検査ステージすな
わち測定テージに載せ、表示用基板を検査ステージによ
りX,Y,Zの三方向へ移動させると共に表示用基板と
直交するZ軸線方向へ移動させ、それにより表示用基板
の電極と接触子とを押圧する構造となっている(例え
ば、特開平1−124740号公報、特開平8−254
677号公報)。2. Description of the Related Art In general, an apparatus for inspecting a display substrate such as a liquid crystal display panel comprises a plurality of probes or contacts which are brought into contact with electrodes of the display substrate, assembled on a base plate such as a head plate or a support plate. The base plate is assembled to the frame of the apparatus, the display substrate is placed on an inspection stage such as a substrate receiver arranged in the frame, that is, a measurement stage, and the display substrate is moved in the X, Y, and Z directions by the inspection stage. It is configured to move in the Z-axis direction orthogonal to the display substrate, thereby pressing the electrodes and the contacts of the display substrate (for example, JP-A-1-124740, JP-A-8-254).
677).
【0003】[0003]
【解決しようとする課題】しかし、そのような検査装置
では、検査ステージのような基板受けをそれに受けられ
た表示用基板と平行な面内で移動させない限り、表示用
基板を検査ステージに対して着脱することができない。However, in such an inspection apparatus, the display substrate is moved relative to the inspection stage unless a substrate receiver such as an inspection stage is moved in a plane parallel to the display substrate received by the inspection stage. Cannot be removed.
【0004】本発明の目的は、基板受けをそれに受けら
れた表示用基板と平行な面内で移動させることなく、表
示用基板を基板受けに対して着脱することができるよう
にすることにある。It is an object of the present invention to enable a display substrate to be attached to and detached from a substrate receiver without moving the substrate receiver in a plane parallel to the display substrate received by the substrate receiver. .
【0005】[0005]
【解決手段、作用、効果】本発明に係る検査装置は、表
示用基板を受ける基板受けと、前記基板受けの側方に配
置された1以上の接触子ユニットとを含む。前記接触子
ユニットは、前記基板受けの側方に配置された支持ブロ
ックであって駆動機構を備える支持ブロックと、前記駆
動機構により前記基板受けに対しその側方から前進され
かつ側方に後退される第1の方向へ移動される第1の移
動ブロックと、前記表示用基板に対して傾斜する第2の
方向へ移動可能に前記第1の移動ブロックに配置された
第2の移動ブロックと、前記表示用基板に接触される複
数の接触子を備えかつ前記第2の移動ブロックに支持さ
れた接触子ブロックと、前記接触子を前記表示用基板の
電極から離すべく前記第2の移動ブロックを前記第2の
方向へ付勢する弾性体とを含む。前記支持ブロックは、
さらに、前記第1の移動ブロックの前進により前記第2
の移動ブロックに当接して前記第2の移動ブロックの前
進を制限するストッパ部を備える。An inspection apparatus according to the present invention includes a substrate receiver for receiving a display substrate, and one or more contact units disposed on a side of the substrate receiver. The contactor unit is a support block disposed on a side of the substrate receiver, the support block including a drive mechanism, and is advanced from the side of the substrate receiver by the drive mechanism and retracted to the side. A first moving block moved in a first direction, a second moving block disposed on the first moving block movably in a second direction inclined with respect to the display substrate, A contact block provided with a plurality of contacts to be brought into contact with the display substrate and supported by the second moving block; and the second moving block for separating the contacts from the electrodes of the display substrate. An elastic body for urging in the second direction. The support block,
Further, the second moving block is moved forward by the first moving block.
And a stopper portion that abuts on the moving block of the second moving block to limit the advance of the second moving block.
【0006】待機時、第1の移動ブロックは、基板受け
から第1の方向へ離れた待機位置に後退されている。こ
のため、第2の移動ブロックは、基板受けに受けられた
表示用基板から第1の方向へ離されていると共に、弾性
体の付勢力によりその表示用基板に垂直な第3の方向に
離されている。この待機状態においては、第1及び第2
の移動ブロック並びに接触子ブロックが基板受けへの表
示用基板の配置領域から離されているから、表示用基板
を基板受けに対し着脱することができる。During standby, the first moving block is retracted to a standby position away from the substrate receiver in a first direction. Therefore, the second moving block is separated from the display substrate received by the substrate receiver in the first direction, and is separated in the third direction perpendicular to the display substrate by the biasing force of the elastic body. Have been. In this standby state, the first and second
Since the moving block and the contact block are separated from the area where the display substrate is placed on the substrate receiver, the display substrate can be attached to and detached from the substrate receiver.
【0007】検査時、第1の移動ブロックが駆動機構に
より基板受けに対し前進され、第2の移動ブロックがス
トッパ部に接触する。これにより、第2の移動ブロック
の前進が阻止され、その状態で第2の移動ブロックが弾
性体の付勢力に抗して第1の移動ブロックに対し第2の
方向に後退される。このとき、第1の移動ブロックが基
板受けに接近すればするほど接触子ブロックが表示用基
板に接近するように、第2の移動ブロックが第3の方向
に変位されるから、接触子は表示用基板に向けて変位さ
れて表示用基板の電極に押圧される。At the time of inspection, the first moving block is advanced with respect to the substrate receiver by the driving mechanism, and the second moving block contacts the stopper. Accordingly, the forward movement of the second moving block is prevented, and in this state, the second moving block is retracted in the second direction with respect to the first moving block against the urging force of the elastic body. At this time, the second moving block is displaced in the third direction so that the closer the first moving block approaches the substrate receiver, the closer the contact block approaches the display substrate. Displaced toward the display substrate and pressed against the electrodes of the display substrate.
【0008】第1の移動ブロックが前進位置から後退さ
れ始めると、第2の移動ブロックが弾性体の付勢力によ
り第1の移動ブロックに対し前進される。このとき、第
1の移動ブロックが基板受けから離れは離れるほど接触
子ブロックが表示用基板から離れるように、第2の移動
ブロックが第3の方向に変位されるから、接触子は表示
用基板から第3の方向に離される。When the first moving block starts to retreat from the advanced position, the second moving block is advanced with respect to the first moving block by the urging force of the elastic body. At this time, the second moving block is displaced in the third direction so that the contact block is separated from the display substrate as the first moving block is further away from the substrate receiver. In a third direction.
【0009】上記のように本発明によれば、基板受けを
移動させることなく、表示用基板を基板受けに対し着脱
することができるし、第1の移動ブロックを第1の方向
へ移動させるだけで、接触子をこれが表示用基板に接触
する位置と表示用基板から離れる位置とに移動させるこ
とができる。それらの結果、表示用基板を基板受けに対
して着脱する時間が短縮する。As described above, according to the present invention, the display substrate can be attached to and detached from the substrate receiver without moving the substrate receiver, and only the first moving block is moved in the first direction. Thus, the contact can be moved to a position where the contact comes into contact with the display substrate and a position away from the display substrate. As a result, the time for attaching and detaching the display substrate to and from the substrate receiver is reduced.
【0010】前記第2の移動ブロックは、前記第2の方
向へ移動可能に前記第1の移動ブロックに配置された傾
斜ブロックと、該傾斜ブロックに組み付けられたアーム
部と、該アーム部に回転可能に配置された1以上の回転
部材であって前記ストッパ部に前記表示用基板と直角の
第3の方向へ移動可能に当接する回転部材とを備えるこ
とができる。そのようにすれば、回転部材がストッパ部
に当接した状態で回転移動するから、第3の方向への第
2の移動ブロックの移動が、安定し、円滑になる。[0010] The second moving block includes an inclined block disposed on the first moving block so as to be movable in the second direction, an arm mounted on the inclined block, and a rotation provided on the arm. One or more rotatable members arranged so as to be able to move and abut on the stopper portion movably in a third direction perpendicular to the display substrate. With this configuration, since the rotating member rotates while being in contact with the stopper, the movement of the second moving block in the third direction is stable and smooth.
【0011】前記第2の移動ブロックは前記第3の方向
に間隔をおいた複数の前記回転部材を備えることができ
る。そのようにすれば、複数の回転部材がストッパ部に
接触しつつ回転移動するから、第3の方向への第2の移
動ブロックの移動が、より安定し、より円滑になる。The second moving block may include a plurality of the rotating members spaced in the third direction. With such a configuration, the plurality of rotating members rotate while contacting the stopper, so that the movement of the second moving block in the third direction is more stable and smoother.
【0012】前記支持ブロックは前記第1の移動ブロッ
クの移動路を間にした一対の前記ストッパ部を備え、前
記第2のブロックは、前記ストッパ部に個々に対応され
た一対の前記アーム部と、前記ストッパ部に個々に対応
された二組の前記回転部材とを備えることができる。そ
のようにすれば、第2の移動ブロックが第1の移動ブロ
ックの移動路を間にした少なくとも2箇所で第1の移動
ブロックに接触するから、第3の方向への第2の移動ブ
ロックの移動が、さらに安定し、さらに円滑になる。The support block includes a pair of the stoppers interposed between the movement paths of the first moving block, and the second block includes a pair of the arm units individually corresponding to the stoppers. And two sets of the rotating members individually corresponding to the stopper portions. With such a configuration, the second moving block contacts the first moving block at least at two places with the moving path of the first moving block therebetween, so that the second moving block moves in the third direction. Movement is more stable and smoother.
【0013】前記支持ブロックは、前記回転部材が前記
ストッパ部に当接して前記表示用基板の側へ移動された
とき、前記回転部材の一部を受け入れる凹所を有するこ
とができる。そのようにすれば、第1の移動ブロックの
後退開始時、回転部材が凹所から脱出する際に第2の移
動ブロックが弾性体の付勢力により第2の方向へ移動さ
れて接触子が表示用基板から第3の方向に離されるか
ら、接触子の先端で表示用基板を擦るおそれがなく、表
示用基板及び接触子を損傷するおそれがない。The support block may have a recess for receiving a part of the rotating member when the rotating member comes into contact with the stopper and is moved toward the display substrate. With this configuration, when the first moving block starts retreating, when the rotating member escapes from the recess, the second moving block is moved in the second direction by the urging force of the elastic body, and the contact is displayed. Since the display substrate is separated from the display substrate in the third direction, there is no risk of rubbing the display substrate with the tip of the contact, and there is no risk of damaging the display substrate and the contact.
【0014】前記支持ブロックは、さらに、前記第1の
移動ブロックの移動を前記第1の方向に案内するガイド
部を備えることができる。そのようにすれば、第1の方
向への第1の移動ブロックの移動が、安定し、円滑にな
る。[0014] The support block may further include a guide portion for guiding the movement of the first moving block in the first direction. By doing so, the movement of the first moving block in the first direction becomes stable and smooth.
【0015】複数の前記接触子ユニットが前記基板受け
の側方に配置されていることができる。そのようにすれ
ば、接触子の先端と表示用基板との平行度の調整を接触
子ユニット毎に行うことができるから、そのような平行
度の調整作業が容易になり、表示用基板と接触子との間
にコンタクトずれが生じるおそれが低減される。[0015] A plurality of the contactor units may be arranged beside the substrate receiver. By doing so, the adjustment of the parallelism between the tip of the contact and the display substrate can be performed for each contact unit, so that such adjustment of the parallelism is facilitated, and the contact with the display substrate can be easily adjusted. It is possible to reduce the possibility that contact misalignment may occur with the child.
【0016】[0016]
【発明の実施の形態】図1〜図6を参照するに、検査装
置10は、矩形をした表示用基板12の検査に用いられ
る。図示の例では、表示用基板12は液晶表示パネルで
あり、したがって検査装置10は液晶表示パネルの点灯
検査に用いられる。しかし、本発明は、液晶表示パネル
用のガラス基板、有機EL表示パネル等、他の表示用パ
ネルの検査装置にも適用することができる。1 to 6, an inspection apparatus 10 is used for inspecting a rectangular display substrate 12. FIG. In the illustrated example, the display substrate 12 is a liquid crystal display panel, and thus the inspection device 10 is used for lighting inspection of the liquid crystal display panel. However, the present invention can also be applied to other display panel inspection devices such as a glass substrate for a liquid crystal display panel and an organic EL display panel.
【0017】検査装置10は、表示用基板12を受ける
基板受け14と、基板受け14の側方に配置された複数
の接触子ユニット16とを含む。The inspection apparatus 10 includes a substrate receiver 14 for receiving the display substrate 12, and a plurality of contact units 16 arranged on the side of the substrate receiver 14.
【0018】基板受け14は、図示の例では、測定ステ
ージすなわち検査ステージに組み付けられた上方に開放
する箱状のチャックトップであり、バックライト18を
収納している。基板受け14の上面は表示用基板12の
受け面とされている。In the example shown in the figure, the substrate receiver 14 is a box-shaped chuck top which is mounted on a measurement stage, that is, an inspection stage, and is open upward, and accommodates a backlight 18. The upper surface of the substrate receiver 14 is a receiving surface of the display substrate 12.
【0019】基板受け14は、複数の位置決めピン20
を基板受け14の隣り合う2つの側壁の上面のそれぞれ
に上方へ突出する状態に備えていると共に、表示用基板
12を位置決めピン20に向けて押すプッシャー22を
他の隣り合う2つの側壁の上面のそれぞれに備えてい
る。The substrate receiver 14 includes a plurality of positioning pins 20.
Is provided on each of the upper surfaces of the two adjacent side walls of the substrate receiver 14, and a pusher 22 that pushes the display substrate 12 toward the positioning pin 20 is pressed by the upper surface of the other two adjacent side walls. Prepare for each.
【0020】接触子ユニット16は、基板受け14の隣
り合う2つの側壁に複数ずつ配置されている。図示の例
では、隣り合う側壁の一方に3つの接触子ユニット16
が配置されていると共に、隣り合う側壁の他方に2つの
接触子ユニット16が配置されている。A plurality of contact units 16 are arranged on two adjacent side walls of the board receiver 14. In the illustrated example, three contactor units 16 are provided on one of the adjacent side walls.
Are arranged, and two contactor units 16 are arranged on the other of the adjacent side walls.
【0021】各接触子ユニット16は、基板受け14の
側方に配置された支持ブロック24と、基板受け14に
対しその側方から前進されかつ側方に後退される方向へ
移動可能に支持ブロック24に支持された第1の移動ブ
ロック26と、基板受け14に受けられた表示用基板1
2に対して傾斜する方向へ移動可能に第1の移動ブロッ
ク26に配置された第2の移動ブロック28と、第2の
移動ブロック28に支持された接触子ブロック30とを
含む。Each contactor unit 16 has a support block 24 disposed on the side of the substrate receiver 14, and a support block movably in a direction of being advanced from the side of the substrate receiver 14 and retracted to the side. 24, the first moving block 26 supported by the display 24, and the display substrate 1 received by the substrate receiver 14.
A second moving block is disposed on the first moving block so as to be movable in a direction inclined with respect to the second moving block, and a contact block supported by the second moving block is included.
【0022】第1の移動ブロック26の移動方向は基板
受け14に受けられた表示用基板12と平行の第1の方
向であり、第2の移動ブロック28の移動方向はその表
示用基板12に対し傾斜して斜め上下方向へ伸びる第2
の方向であり、基板受け14側ほど基板受け14から基
板12と直角の第3の方向(図示の例では、上方)に離
れる方向である。The moving direction of the first moving block 26 is a first direction parallel to the display substrate 12 received by the substrate receiver 14, and the moving direction of the second moving block 28 is The second that is inclined and extends diagonally up and down
And the direction away from the substrate receiver 14 toward the substrate receiver 14 in a third direction (upward in the illustrated example) perpendicular to the substrate 12.
【0023】支持ブロック24は、取付板32を基板受
け14の側面に組み付け、板状のベース34を取付板3
2の上に配置し、第1の移動ブロック26を第1の方向
へ移動させる駆動機構36をベース34の上に組み付
け、第1の移動ブロック26の移動方向を第1の方向に
制限するガイドレール38を駆動機構36の上に配置し
ている。The support block 24 has a mounting plate 32 mounted on the side surface of the substrate receiver 14 and a plate-shaped base 34 mounted on the mounting plate 3.
2 and a drive mechanism 36 for moving the first moving block 26 in the first direction is assembled on the base 34, and a guide for restricting the moving direction of the first moving block 26 to the first direction. The rail 38 is disposed on the drive mechanism 36.
【0024】ベース34は、取付板32に備えられた位
置決めピン(図示せず)を図3に示す位置決め穴40に
受け入れることにより、取付板32及び基板受け14に
対して位置決められ、また図3に示す取付穴42を利用
して複数のボルト(図示せず)により取付板32に組み
付けられている。The base 34 is positioned with respect to the mounting plate 32 and the board receiver 14 by receiving positioning pins (not shown) provided on the mounting plate 32 into positioning holes 40 shown in FIG. Are attached to the mounting plate 32 by a plurality of bolts (not shown) using the mounting holes 42 shown in FIG.
【0025】ベース34の先端部(基板受け14側の端
部)は、ベース34の幅方向に間隔おいて立ち上げられ
た2つのストッパ部44とされている。駆動機構36
は、図示の例では、パイプ46を利用して圧縮空気が給
排出されるエアーシリンダ機構である。しかし、駆動機
構36はジャッキ式の駆動機構のように第1の方向にお
ける第1の移動ブロック26の位置を調整可能のもので
あってもよい。The distal end of the base 34 (the end on the side of the substrate receiver 14) is formed with two stoppers 44 which stand up at intervals in the width direction of the base 34. Drive mechanism 36
Is an air cylinder mechanism which supplies and discharges compressed air using the pipe 46 in the example shown in the figure. However, the drive mechanism 36 may be capable of adjusting the position of the first moving block 26 in the first direction, such as a jack-type drive mechanism.
【0026】取付板32を用いることなく、ベース34
を基板受け14に組み付けてもよいし、ベース34を用
いることなく、駆動機構36を取付板32に組み付けて
もよい。前者の場合、前記した位置決めピンとボルト用
のねじ穴とは基板受け14に形成される。The base 34 can be used without using the mounting plate 32.
May be assembled to the substrate receiver 14, or the drive mechanism 36 may be assembled to the mounting plate 32 without using the base 34. In the former case, the positioning pins and the screw holes for the bolts are formed in the substrate receiver 14.
【0027】第1の移動ブロック26は、駆動機構36
により、図4に示す接触子48が表示用基板12の電極
に接触する前進位置と接触子48が表示用基板12から
離されて後退する待機位置すなわち後退位置とに移動さ
れる。第1の移動ブロック26が前進位置及び後退位置
に移動されたことは、それぞれ、ベース34に配置され
たセンサ50及び52で第1の移動ブロック26の側部
に装着されたシャッタを感知することにより検出され
る。センサ50及び52は、いずれも、送光器と受光器
とを備え、シャッタ54が第1の移動ブロック26と共
に移動することにより、送光器及び受光器間に達するよ
うに配置されている。The first moving block 26 includes a driving mechanism 36
Thereby, the contact 48 shown in FIG. 4 is moved to a forward position where the contact 48 contacts the electrode of the display substrate 12 and to a standby position where the contact 48 is separated from the display substrate 12 and retreats, that is, a retreat position. The fact that the first moving block 26 has been moved to the forward position and the retracted position means that sensors 50 and 52 disposed on the base 34 detect the shutter mounted on the side of the first moving block 26, respectively. Is detected by Each of the sensors 50 and 52 includes a light transmitter and a light receiver, and is arranged so as to reach between the light transmitter and the light receiver by moving the shutter 54 together with the first moving block 26.
【0028】第1の移動ブロック26は、第1の方向へ
の第1の移動ブロック26の移動を円滑にするために、
複数のボール(図示せず)によりガイドレール38に結
合されている。第1の移動ブロック26は、第2の方向
へ伸びるガイドレール56を先端部に有している。The first moving block 26 is provided for facilitating the movement of the first moving block 26 in the first direction.
It is connected to the guide rail 38 by a plurality of balls (not shown). The first moving block 26 has a guide rail 56 at the distal end extending in the second direction.
【0029】第2の移動ブロック28は、ガイド58を
ガイドレール56に第1の方向へ移動可能に組み付け、
傾斜ブロック60をガイド58に組み付け、ストッパア
ーム62を傾斜ブロック60にねじ止めしている。スト
ッパアーム62は、ストッパ部44に個々に対応する2
つのアーム部を有しており、ストッパ部44に接触して
回転しつつ基板受け14上の表示用基板12に直角の第
3の方向へ移動する2つの転動部材すなわち回転部材6
4を各アーム部に上下方向に間隔をおいて組み付けてい
る。The second moving block 28 assembles the guide 58 on the guide rail 56 so as to be movable in the first direction.
The inclined block 60 is assembled to the guide 58, and the stopper arm 62 is screwed to the inclined block 60. The stopper arms 62 correspond to the stopper portions 44 individually.
Two rolling members 6 which move in a third direction perpendicular to the display substrate 12 on the substrate receiver 14 while rotating in contact with the stopper portion 44.
4 is assembled to each arm at intervals in the vertical direction.
【0030】各回転部材64は、図示の例では、第1及
び第3の方向と直角の第4の方向へ伸びる軸線の周りに
回転可能にアーム部に装着されたローラであるが、ボー
ルのような他の部材であってもよい。ガイド58は、第
2の方向への傾斜ブロック60の移動を円滑にするため
に、複数のボール66(図6参照)によりガイドレール
56に結合されている。In the illustrated example, each rotating member 64 is a roller mounted on the arm so as to be rotatable around an axis extending in a fourth direction perpendicular to the first and third directions. Such other members may be used. The guide 58 is connected to the guide rail 56 by a plurality of balls 66 (see FIG. 6) to facilitate the movement of the inclined block 60 in the second direction.
【0031】ベース34は、第1の移動ブロック26が
前進位置に移動されたとき、下側の回転部材64の一部
を受け入れる凹所68を各ストッパ部44の基端部に有
している。The base 34 has a recess 68 at the base end of each stopper 44 for receiving a part of the lower rotating member 64 when the first moving block 26 is moved to the advanced position. .
【0032】各接触子48は、スプリングピンタイプの
プローブであり、接触子ブロック30を貫通して伸びて
いる。接触子48は、表示用基板12の電極の配列と同
じ配列に配置されており、また接触子ブロック30に組
み付けられた配線基板70と、配線基板70に組み付け
られたコネクタ72と、コネクタ72に接続されたフレ
キシブル印刷配線板74(図4参照)とを介して、検査
装置の電気回路に電気的に接続される。Each contact 48 is a spring pin type probe and extends through the contact block 30. The contacts 48 are arranged in the same arrangement as the electrodes of the display substrate 12, and are connected to the wiring board 70 assembled to the contact block 30, the connector 72 assembled to the wiring board 70, and the connector 72. Via the connected flexible printed wiring board 74 (see FIG. 4), it is electrically connected to the electric circuit of the inspection apparatus.
【0033】図7に示すように、第2の移動ブロック2
8は、第1の移動ブロック26及び傾斜ブロック60に
それぞれ形成された穴76及び78に配置された圧縮コ
イルばねのような弾性体80により、第1の移動ブロッ
ク26から離れるように第2の方向へ付勢されている。
弾性体80は、穴76にねじ込まれた止めねじ82によ
り、穴76からの脱落を防止されている。As shown in FIG. 7, the second moving block 2
8 is moved away from the first moving block 26 by an elastic body 80 such as a compression coil spring disposed in holes 76 and 78 formed in the first moving block 26 and the inclined block 60, respectively. Biased in the direction.
The elastic body 80 is prevented from dropping out of the hole 76 by a set screw 82 screwed into the hole 76.
【0034】図8に示すように、第2の方向への第1の
移動ブロック28の最大移動量は、傾斜ブロック60に
形成された穴84を貫通して第1の移動ブロック26に
螺合されたストッパねじ86により制限されている。As shown in FIG. 8, the maximum movement amount of the first moving block 28 in the second direction is screwed into the first moving block 26 through the hole 84 formed in the inclined block 60. Is limited by the stopper screw 86 provided.
【0035】接触子48の先端と表示用基板12との平
行度や高さ位置は、接触子ユニット16毎に調整するこ
とができる。このため、そのような平行度や高さ位置の
調整作業が容易になり、表示用基板と接触子との間にコ
ンタクトずれが生じるおそれが低減される。The degree of parallelism and the height position between the tip of the contact 48 and the display substrate 12 can be adjusted for each contact unit 16. For this reason, such adjustment work of the parallelism and the height position is facilitated, and the possibility that a contact shift occurs between the display substrate and the contact is reduced.
【0036】次に、図9を参照して、検査装置の動作を
説明する。Next, the operation of the inspection apparatus will be described with reference to FIG.
【0037】待機時、第1の移動ブロック26は、図9
(C)に示すように、駆動機構36により基板受け14
から第1の方向へ離れた待機位置に後退されている。こ
のため、第2の移動ブロック28は、基板受け14上の
表示用基板12から第1の方向へ後退されていると共
に、弾性体80によりストッパねじ86に当接した状態
に第2の方向に付勢されて表示用基板12から第3の方
向に離されている。During standby, the first moving block 26 is
As shown in (C), the drive mechanism 36 controls the substrate receiver 14.
Has been retracted to a standby position separated from the camera in a first direction. For this reason, the second moving block 28 is retracted in the first direction from the display substrate 12 on the substrate receiver 14 and is moved in the second direction in a state where the second moving block 28 is in contact with the stopper screw 86 by the elastic body 80. It is urged and separated from the display substrate 12 in the third direction.
【0038】待機状態において、第1及び第2の移動ブ
ロック26,28並びに接触子ブロック30は基板受け
14への表示用基板12の配置領域から第1の方向へ離
されているから、表示用基板12を基板受け14に対し
着脱することができる。In the standby state, the first and second moving blocks 26 and 28 and the contact block 30 are separated in the first direction from the area where the display substrate 12 is disposed on the substrate receiver 14, so that the display block is not used. The substrate 12 can be attached to and detached from the substrate receiver 14.
【0039】プッシャー22は、表示用基板12が基板
受け14に載せられるとき、図1において点線で示す位
置に変位されており、基板12が基板受け14に載せら
れると、図1に実線で示す位置に変位されて基板受け1
4上の表示用基板12を位置決めピン20に押す。これ
により、表示用基板12は基板受け14に対して所定の
状態に位置決めされる。The pusher 22 is displaced to a position shown by a dotted line in FIG. 1 when the display substrate 12 is placed on the substrate receiver 14, and is shown by a solid line in FIG. 1 when the substrate 12 is placed on the substrate receiver 14. Substrate receiver 1 displaced to position
4 is pushed onto the positioning pins 20. As a result, the display substrate 12 is positioned in a predetermined state with respect to the substrate receiver 14.
【0040】検査時、第1の移動ブロック26が駆動機
構36により基板受け14に向けて前進される。図9
(B)に示すように、第1の移動ブロック26の前進の
終期に、第2の移動ブロック28の回転部材64がスト
ッパ部44に接触する。これにより、第2の移動ブロッ
ク28の前進が阻止され、その状態で第1の移動ブロッ
ク26がさらに前進される。At the time of inspection, the first moving block 26 is advanced toward the substrate receiver 14 by the driving mechanism 36. FIG.
As shown in (B), at the end of the advance of the first moving block 26, the rotating member 64 of the second moving block 28 comes into contact with the stopper 44. Thereby, the advance of the second moving block 28 is prevented, and in this state, the first moving block 26 is further advanced.
【0041】第1の移動ブロック26のさらなる前進に
より、第2の移動ブロック28が弾性体80の付勢力に
抗して第1の移動ブロック26に対し第2の方向に後退
される。このとき、第2の移動ブロック28は、第1の
移動ブロック26が基板受け14に接近すればするほど
接触子ブロック30が表示用基板12側に変位するよう
に下降される。このとき、回転部材64は、ストッパ部
44に接触して回転しつつ下降する。When the first moving block 26 is further advanced, the second moving block 28 is retracted in the second direction with respect to the first moving block 26 against the urging force of the elastic body 80. At this time, the second moving block 28 is lowered so that the closer the first moving block 26 approaches the substrate receiver 14, the more the contact block 30 is displaced toward the display substrate 12. At this time, the rotating member 64 descends while rotating while contacting the stopper portion 44.
【0042】図9(A)に示すように、第1の移動ブロ
ック26が所定位置まで前進されると、下側の回転部材
64はその一部を凹所68に受け入れられ、それにより
接触子48は表示用基板12の電極に押圧される。As shown in FIG. 9A, when the first moving block 26 is advanced to a predetermined position, a part of the lower rotating member 64 is received in the recess 68, whereby the contact member 48 is pressed by the electrode of the display substrate 12.
【0043】第1の移動ブロック26の前進終了時、第
2の移動ブロック28が表示用基板12に対して第1の
方向に変位することなく、第3の方向へ変位するから、
接触子48の先端で表示用基板12を擦るおそれがな
く、表示用基板12及び接触子48を損傷するおそれが
ない。At the end of the forward movement of the first moving block 26, the second moving block 28 is displaced in the third direction without displacing in the first direction with respect to the display substrate 12.
There is no risk of rubbing the display substrate 12 with the tip of the contact 48, and there is no risk of damaging the display substrate 12 and the contact 48.
【0044】第1の移動ブロック26が前進位置から後
退され始めると、第2の移動ブロック28が弾性体80
の付勢力により第1の移動ブロック26に対し前進され
る。このとき、第1の移動ブロック26が基板受け14
から離れは離れるほど接触子ブロック40が表示用基板
12から離れるように、第2の移動ブロック28が距離
L1だけ後退されると共に所定量Zだけ第3の方向に変
位されるから、接触子48は図9(B)に示すように表
示用基板12から所定量Zだけ上方に離される。このと
き、回転部材64は、ストッパ部44に接触して回転し
つつ上昇する。When the first moving block 26 starts to retreat from the advanced position, the second moving block 28
Is moved forward with respect to the first moving block 26 by the urging force. At this time, the first moving block 26 is
The second moving block 28 is retracted by the distance L1 and displaced by the predetermined amount Z in the third direction so that the contact block 40 moves away from the display substrate 12 as the distance from the contact 48 increases. Is separated upward from the display substrate 12 by a predetermined amount Z as shown in FIG. At this time, the rotating member 64 comes into contact with the stopper portion 44 and rises while rotating.
【0045】第1の移動ブロック26の後退開始時も、
回転部材64が凹所68から脱出する際に第2の移動ブ
ロック28が弾性体80の付勢力により第2の方向へ移
動されて接触子48が表示用基板12から第3の方向に
離されるから、接触子48の先端で表示用基板12を擦
るおそれがなく、表示用基板12及び接触子48を損傷
するおそれがない。At the start of retreat of the first moving block 26,
When the rotating member 64 escapes from the recess 68, the second moving block 28 is moved in the second direction by the urging force of the elastic body 80, and the contact 48 is separated from the display substrate 12 in the third direction. Therefore, there is no risk of rubbing the display substrate 12 with the tip of the contact 48, and there is no risk of damaging the display substrate 12 and the contact 48.
【0046】その後、第1の移動ブロック26は、さら
に距離L2後退されて後退位置に戻され、第2の移動ブ
ロック28及び接触子ブロック30も後退位置に戻され
る。Thereafter, the first moving block 26 is further retracted by the distance L2 and returned to the retracted position, and the second moving block 28 and the contact block 30 are also returned to the retracted position.
【0047】第1の移動ブロック26の前進終期及び後
退開始時、第1の移動ブロック26の移動路を間にした
二組の回転部材64が組毎にストッパ部44の2箇所に
接触しつつ回転移動するから、第3の方向への第2の移
動ブロックの移動が、安定し、円滑になる。At the end of the forward movement of the first moving block 26 and the start of retreat, the two sets of rotating members 64 sandwiching the moving path of the first moving block 26 are in contact with the two positions of the stopper 44 for each set. Because of the rotational movement, the movement of the second moving block in the third direction is stable and smooth.
【0048】上記のように検査装置10によれば、基板
受け14を移動させることなく、表示用基板12を基板
受け14に対し着脱することができるし、第1の移動ブ
ロック26を第1の方向へ移動させるだけで、接触子4
8をこれが表示用基板12に接触する位置と表示用基板
12から離れる位置とに変位させることができ、それら
の結果表示用基板12を基板受け14に対して着脱する
時間が短縮する。As described above, according to the inspection apparatus 10, the display substrate 12 can be attached to and detached from the substrate receiver 14 without moving the substrate receiver 14, and the first moving block 26 can be connected to the first moving block 26 by the first moving block 26. Just move the contact 4
8 can be displaced to a position where it contacts the display substrate 12 and a position away from the display substrate 12, and as a result, the time for attaching and detaching the display substrate 12 to and from the substrate receiver 14 is reduced.
【0049】また、第1の移動ブロック26は、その前
進時及び後退時のいずれにおいても、ガイド38により
案内されるから、第1の移動ブロック26の前進及び後
退が、安定し、円滑になる。同様に、第2の移動ブロッ
ク28は、第1の移動ブロック26の前進終期及び後退
開始時のいずれにおいても、ガイド58により案内され
るから、第2の移動ブロック28の移動が、安定し、円
滑になる。Since the first moving block 26 is guided by the guide 38 both when the first moving block 26 moves forward and backward, the forward and backward movement of the first moving block 26 becomes stable and smooth. . Similarly, the second moving block 28 is guided by the guide 58 both at the end of the forward movement of the first moving block 26 and at the start of the retreat, so that the movement of the second moving block 28 is stable, Become smooth.
【0050】さらに、接触子ユニット16を基板受け1
4の側面に組み付けているから、基板受け14を検査ス
テージのような適宜なステージに装着して、そのステー
ジにより基板受け14を移動させても、接触子ユニット
16が基板受け14と共に移動し、したがって接触子ユ
ニット16と基板受け14及びこれに受けられた表示用
基板12との位置関係が変化しない。Further, the contactor unit 16 is mounted on the substrate receiver 1.
4, the contact unit 16 moves with the substrate receiver 14 even when the substrate receiver 14 is mounted on an appropriate stage such as an inspection stage and the substrate receiver 14 is moved by the stage. Therefore, the positional relationship between the contactor unit 16 and the substrate receiver 14 and the display substrate 12 received by the same does not change.
【0051】第1の移動ブロック26を前進及び後退さ
せる駆動機構36は、上記したようなエアーシリンダ機
構に代えて、電動機やロータリーアクチュエータ等を駆
動源とする他の機構を用いてもよい。As the driving mechanism 36 for moving the first moving block 26 forward and backward, another mechanism using a motor, a rotary actuator or the like as a driving source may be used instead of the above-described air cylinder mechanism.
【0052】図10に示す検査装置90は、サーボモー
タのように位置制御されるパルスモータ92と、このパ
ルスモータ92により回転されるリードスクリュー94
と、リードスクリュー94と螺合するリードナット(図
示せず)とを駆動機構として用いている。An inspection device 90 shown in FIG. 10 includes a pulse motor 92 whose position is controlled like a servomotor, and a lead screw 94 rotated by the pulse motor 92.
And a lead nut (not shown) screwed to the lead screw 94 are used as a drive mechanism.
【0053】パルスモータ92は台96を介してベース
34に据え付けられており、リードスクリュー94は第
1の移動ブロック26の移動方向へ伸びており、リード
ナットは第1の移動ブロック26に組み込まれている。The pulse motor 92 is mounted on the base 34 via the base 96, the lead screw 94 extends in the direction of movement of the first moving block 26, and the lead nut is incorporated in the first moving block 26. ing.
【0054】検査装置90によれば、エアーシリンダ機
構を用いる場合に比べ、接触子48のZアップ量を微細
にかつ容易に調整することができる。According to the inspection device 90, the Z-up amount of the contact 48 can be finely and easily adjusted as compared with the case where an air cylinder mechanism is used.
【0055】スプリングタイプの接触子48の代わり
に、ニードルタイプ、ブレードタイプ、フィルムタイプ
等他の種類の接触子を用いてもよい。本発明は、表示用
基板を基板受けに水平に配置する装置のみならず、表示
用基板を基板受けに斜めに配置する装置にも適用するこ
とができる。Instead of the spring type contact 48, another type of contact such as a needle type, a blade type, a film type and the like may be used. The present invention can be applied not only to an apparatus for horizontally disposing a display substrate on a substrate receiver, but also to an apparatus for disposing a display substrate obliquely on a substrate receiver.
【0056】本発明は、上記実施例に限定されず、その
趣旨を逸脱しない限り、種々変更することができる。The present invention is not limited to the above embodiment, but can be variously modified without departing from the gist thereof.
【図1】本発明に係る検査装置の一実施例を示す平面図
である。FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of an inspection device according to the present invention.
【図2】図1における2−2線に沿って得た断面図であ
って、(A)は第1の移動ブロックを前進させた図、
(B)は第1の移動ブロックを後退させた図である。FIG. 2 is a sectional view taken along line 2-2 in FIG. 1, wherein (A) is a view in which a first moving block is advanced,
(B) is a diagram in which the first moving block is retracted.
【図3】図1に示す検査装置で用いる接触子ユニットの
一実施例を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing one embodiment of a contact unit used in the inspection device shown in FIG. 1;
【図4】図3に示す接触子ユニットの正面図である。FIG. 4 is a front view of the contact unit shown in FIG. 3;
【図5】図1に示す接触子ユニットの右側面図である。FIG. 5 is a right side view of the contact unit shown in FIG. 1;
【図6】図4における6−6線に沿って見た視図であ
る。FIG. 6 is a view as viewed along line 6-6 in FIG. 4;
【図7】図5における7−7線に沿って得た断面図であ
る。7 is a sectional view taken along line 7-7 in FIG.
【図8】図5における8−8線に沿って得た断面図であ
る。8 is a cross-sectional view taken along line 8-8 in FIG.
【図9】図3に示す接触子ユニットの動作を説明するた
めの図であって、(A)は第1の移動ブロックが前進位
置にあるときの図、(B)は第1の移動ブロックが前進
終了時期及び後退開始時期にあるときの図、(C)は第
1の移動ブロックが後退位置にあるときの図である。9A and 9B are diagrams for explaining the operation of the contactor unit shown in FIG. 3, wherein FIG. 9A is a diagram when the first moving block is at a forward position, and FIG. FIG. 7C is a view when the forward movement end time and the backward movement start time are present, and FIG. 7C is a view when the first moving block is at the backward movement position.
【図10】本発明に係る検査装置の他の実施例を示す平
面図である。FIG. 10 is a plan view showing another embodiment of the inspection apparatus according to the present invention.
10,90 検査装置 12 表示用基板 14 基板受け 16 接触子ユニット 24 支持ブロック 26 第1の移動ブロック 28 第2の移動ブロック 30 接触子ブロック 32 取付板 34 ベース 36 駆動機構 38 ガイドレール 44 ストッパ部 48 接触子 56 ガイドレール 58 ガイド 60 傾斜ブロック 62 ストッパアーム 64 回転部材 68 凹所 70 配線基板 80 弾性体 86 ストッパねじ 92 パルスモータ 94 リードスクリュー 10, 90 Inspection device 12 Display substrate 14 Substrate receiver 16 Contact unit 24 Support block 26 First moving block 28 Second moving block 30 Contact block 32 Mounting plate 34 Base 36 Drive mechanism 38 Guide rail 44 Stopper section 48 Contact 56 Guide rail 58 Guide 60 Inclined block 62 Stopper arm 64 Rotary member 68 Recess 70 Wiring board 80 Elastic body 86 Stopper screw 92 Pulse motor 94 Lead screw
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 安斎 正行 東京都武蔵野市吉祥寺本町2丁目6番8号 株式会社日本マイクロニクス内 Fターム(参考) 2G011 AA15 AB01 AB02 AB05 AB07 AB08 AC01 AC06 AE01 2G014 AA13 AB21 AB59 AC10 2G132 AA20 AB01 AE02 AF02 AF06 AL09 2H088 FA12 FA13 FA30 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Masayuki Ansai 2-6-8 Kichijoji Honcho, Musashino City, Tokyo F-term in Japan Micronics Co., Ltd. (reference) 2G011 AA15 AB01 AB02 AB05 AB07 AB08 AC01 AC06 AE01 2G014 AA13 AB21 AB59 AC10 2G132 AA20 AB01 AE02 AF02 AF06 AL09 2H088 FA12 FA13 FA30
Claims (7)
板受けの側方に配置された1以上の接触子ユニットとを
含み、 前記接触子ユニットは、前記基板受けの側方に配置され
た支持ブロックであって駆動機構を備える支持ブロック
と、前記駆動機構により前記基板受けに対しその側方か
ら前進されかつ側方に後退される第1の方向へ移動され
る第1の移動ブロックと、前記表示用基板に対して傾斜
する第2の方向へ移動可能に前記第1の移動ブロックに
配置された第2の移動ブロックと、前記表示用基板に接
触される複数の接触子を備えかつ前記第2の移動ブロッ
クに支持された接触子ブロックと、前記接触子を前記表
示用基板の電極から離すべく前記第2の移動ブロックを
前記第2の方向へ付勢する弾性体とを含み、 前記支持ブロックは、さらに、前記第1の移動ブロック
の前進により前記第2の移動ブロックに当接して前記第
2の移動ブロックの前進を制限するストッパ部を備え
る、表示用基板の検査装置。1. A substrate receiver for receiving a display substrate, and at least one contact unit disposed on a side of the substrate receiver, wherein the contact unit is disposed on a side of the substrate receiver. A support block including a drive mechanism, the support block including a drive mechanism, a first movement block that is moved in a first direction that is advanced from the side of the substrate receiver and retreated to the side by the drive mechanism, A second moving block disposed on the first moving block so as to be movable in a second direction inclined with respect to the display substrate, and a plurality of contacts that are in contact with the display substrate; A contact block supported by a second moving block, and an elastic body for urging the second moving block in the second direction so as to separate the contact from an electrode of the display substrate; The support block is Et al in, provided with a stopper portion for limiting the advance of contact with the second movable block to the second moving block Advancement of the first moving block, the inspection device for a display substrate.
方向へ移動可能に前記第1の移動ブロックに配置された
傾斜ブロックと、該傾斜ブロックに組み付けられたアー
ム部と、該アーム部に回転可能に配置された1以上の回
転部材であって前記ストッパ部に前記表示用基板と直角
の第3の方向へ移動可能に当接する回転部材とを備え
る、請求項1に記載の検査装置。2. The second moving block includes an inclined block disposed on the first moving block so as to be movable in the second direction, an arm unit assembled to the inclined block, and the arm unit. The inspection apparatus according to claim 1, further comprising at least one rotating member rotatably disposed on the display substrate, the rotating member being movably in contact with the display substrate in a third direction perpendicular to the display substrate. .
向に間隔をおいた複数の前記回転部材を備える、請求項
2に記載の検査装置。3. The inspection apparatus according to claim 2, wherein the second moving block includes a plurality of the rotating members spaced in the third direction.
ックの移動路を間にした一対の前記ストッパ部を備え、
前記第2のブロックは、前記ストッパ部に個々に対応さ
れた一対の前記アーム部と、前記ストッパ部に個々に対
応された二組の前記回転部材とを備える、請求項2又は
3に記載の検査装置。4. The support block includes a pair of the stopper portions that interpose a moving path of the first moving block,
The said 2nd block is provided with a pair of said arm parts each corresponding to the said stopper part, and two sets of said rotating members each corresponding to the said stopper part, The Claim 2 or 3 characterized by the above-mentioned. Inspection equipment.
記ストッパ部に当接して前記表示用基板の側へ移動され
たときに、前記回転部材の一部を受け入れる凹所を有す
る、請求項2から4のいずれか1項に記載の検査装置。5. The support block has a recess for receiving a part of the rotating member when the rotating member comes into contact with the stopper and is moved toward the display substrate. The inspection device according to any one of items 1 to 4, wherein
の移動ブロックの移動を前記第1の方向に案内するガイ
ド部を備える、請求項1から5のいずれか1項に記載の
検査装置。6. The support block further includes the first block.
The inspection apparatus according to any one of claims 1 to 5, further comprising: a guide unit that guides the movement of the moving block in the first direction.
けの側方に配置されている、請求項1から6のいずれか
1項に記載の検査装置。7. The inspection apparatus according to claim 1, wherein a plurality of the contact units are arranged on a side of the substrate receiver.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001163077A JP4582958B2 (en) | 2001-05-30 | 2001-05-30 | Display substrate inspection equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001163077A JP4582958B2 (en) | 2001-05-30 | 2001-05-30 | Display substrate inspection equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002350485A true JP2002350485A (en) | 2002-12-04 |
| JP4582958B2 JP4582958B2 (en) | 2010-11-17 |
Family
ID=19006111
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001163077A Expired - Lifetime JP4582958B2 (en) | 2001-05-30 | 2001-05-30 | Display substrate inspection equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4582958B2 (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006119031A (en) * | 2004-10-22 | 2006-05-11 | Micronics Japan Co Ltd | Electrical connection device used in panel inspection equipment |
| JP2006133099A (en) * | 2004-11-08 | 2006-05-25 | Micronics Japan Co Ltd | Display panel inspection device |
| JP2006138634A (en) * | 2004-10-15 | 2006-06-01 | Micronics Japan Co Ltd | Electrical connection device used in inspection device for display panel |
| JP2007017256A (en) * | 2005-07-07 | 2007-01-25 | Hioki Ee Corp | Circuit board inspection equipment |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62147369A (en) * | 1985-12-20 | 1987-07-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | panel connection device |
| JPH01124740A (en) * | 1987-11-10 | 1989-05-17 | Tokyo Electron Ltd | Inspecting device |
| JPH01143983A (en) * | 1987-11-30 | 1989-06-06 | Teru Kyushu Kk | Probe device |
| JPH022946A (en) * | 1988-06-17 | 1990-01-08 | Kyoei Seigyo Kiki Kk | Conduction detecting method for electronic circuit wire |
| JPH0777560A (en) * | 1993-06-17 | 1995-03-20 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | Multi-electrode device inspection system |
| JPH07294580A (en) * | 1994-04-22 | 1995-11-10 | Sharp Corp | Display panel inspection device |
| JP2000206195A (en) * | 1999-01-11 | 2000-07-28 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Device and method for pressing prober |
| JP2002323529A (en) * | 2001-04-27 | 2002-11-08 | Hitachi Ltd | Probe head for inspection |
-
2001
- 2001-05-30 JP JP2001163077A patent/JP4582958B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62147369A (en) * | 1985-12-20 | 1987-07-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | panel connection device |
| JPH01124740A (en) * | 1987-11-10 | 1989-05-17 | Tokyo Electron Ltd | Inspecting device |
| JPH01143983A (en) * | 1987-11-30 | 1989-06-06 | Teru Kyushu Kk | Probe device |
| JPH022946A (en) * | 1988-06-17 | 1990-01-08 | Kyoei Seigyo Kiki Kk | Conduction detecting method for electronic circuit wire |
| JPH0777560A (en) * | 1993-06-17 | 1995-03-20 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | Multi-electrode device inspection system |
| JPH07294580A (en) * | 1994-04-22 | 1995-11-10 | Sharp Corp | Display panel inspection device |
| JP2000206195A (en) * | 1999-01-11 | 2000-07-28 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Device and method for pressing prober |
| JP2002323529A (en) * | 2001-04-27 | 2002-11-08 | Hitachi Ltd | Probe head for inspection |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006138634A (en) * | 2004-10-15 | 2006-06-01 | Micronics Japan Co Ltd | Electrical connection device used in inspection device for display panel |
| JP2006119031A (en) * | 2004-10-22 | 2006-05-11 | Micronics Japan Co Ltd | Electrical connection device used in panel inspection equipment |
| JP2006133099A (en) * | 2004-11-08 | 2006-05-25 | Micronics Japan Co Ltd | Display panel inspection device |
| JP2007017256A (en) * | 2005-07-07 | 2007-01-25 | Hioki Ee Corp | Circuit board inspection equipment |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4582958B2 (en) | 2010-11-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100709598B1 (en) | Electrical inspection apparatus | |
| JP4570930B2 (en) | Electrical connection device used in panel inspection equipment | |
| KR100784274B1 (en) | Apparatus For Inspecting Of Display Panel | |
| JP5044575B2 (en) | Electronic component testing equipment | |
| JP4490066B2 (en) | Display panel inspection device | |
| JP2002350485A (en) | Display board inspection equipment | |
| JP5406790B2 (en) | Probe unit and test apparatus using the same | |
| JP4163435B2 (en) | Substrate inspection equipment | |
| KR102311432B1 (en) | Electrical inspection device and holding unit | |
| JP2002014047A (en) | Display panel inspection equipment | |
| TW381180B (en) | Scan test machine for densely spaced test sites | |
| CN101520977B (en) | Check apparatus | |
| JP2001074778A (en) | Electrical connection device | |
| JP2008101938A (en) | Inspection device | |
| JP3503798B2 (en) | Display panel inspection equipment | |
| JP2000180807A (en) | LCD substrate inspection equipment | |
| JP2003004588A (en) | Display board inspection equipment | |
| JP4053790B2 (en) | Display board inspection socket | |
| JP2002014627A (en) | Display panel inspection equipment | |
| JPS63302377A (en) | Apparatus for inspecting circuit board | |
| JP2006138634A (en) | Electrical connection device used in inspection device for display panel | |
| KR100562586B1 (en) | Panel test device | |
| JP4209633B2 (en) | Display substrate support unit and support device using the same | |
| JPH0543068B2 (en) | ||
| JP2012177648A (en) | Probe device and method for cleaning test object |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080403 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100716 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100803 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100831 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4582958 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130910 Year of fee payment: 3 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |