[go: up one dir, main page]

JP2002341376A - Liquid crystal display device, semiconductor element, substrate for semiconductor element, and coated metal particles for semiconductor element wiring - Google Patents

Liquid crystal display device, semiconductor element, substrate for semiconductor element, and coated metal particles for semiconductor element wiring

Info

Publication number
JP2002341376A
JP2002341376A JP2001142916A JP2001142916A JP2002341376A JP 2002341376 A JP2002341376 A JP 2002341376A JP 2001142916 A JP2001142916 A JP 2001142916A JP 2001142916 A JP2001142916 A JP 2001142916A JP 2002341376 A JP2002341376 A JP 2002341376A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
metal particles
semiconductor element
coated metal
coated
wiring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001142916A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuyoshi Inoue
一吉 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Idemitsu Kosan Co Ltd
Original Assignee
Idemitsu Kosan Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Idemitsu Kosan Co Ltd filed Critical Idemitsu Kosan Co Ltd
Priority to JP2001142916A priority Critical patent/JP2002341376A/en
Publication of JP2002341376A publication Critical patent/JP2002341376A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a liquid crystal display device in which wastefulness of materials is small and which can be manufactured efficiently, a semiconductor element, a substrate for semiconductor element, a coated metal grain for wiring semiconductor element. SOLUTION: In a semiconductor element 30 which includes a gate electrode 33, a gate insulating film 35, a semiconductor layer 37, a source and drain electrode 39 and a transparent electrode (pixel electrode) 43 on a transparent substrate 31, the gate electrode 33 is formed with printing by an electrophotographic method. Moreover, metal grains coated with thermoplastic resin are used as toner in the electrophotographic method.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置、半
導体素子、半導体素子用基板及び半導体素子配線用被覆
金属粒子に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display, a semiconductor device, a substrate for a semiconductor device, and coated metal particles for a semiconductor device wiring.

【0002】[0002]

【従来の技術】TFT−LCDは、表示性能及び省エネ
ルギー等の点から、携帯用パソコン、ラップトップパソ
コン及びテレビ等の表示機として主流を占めるに至って
いる。
2. Description of the Related Art TFT-LCDs have become the mainstream display devices for portable personal computers, laptop personal computers, televisions, and the like in view of display performance and energy saving.

【0003】TFT−LCDの製造に関しては、様々な
方法が検討されているが、半導体素子であるTFTアレ
イの製造工程は複雑であり、真空装置(スパッタ装置)
を用いて電極用の各種金属や金属酸化物を成膜するスパ
ッタリング工程や、フォトリソグラフィー法により電極
パターンをパターニングするパターン加工工程等が行な
われている。
Various methods have been studied for the manufacture of a TFT-LCD, but the manufacturing process of a TFT array as a semiconductor element is complicated, and a vacuum apparatus (sputtering apparatus) is used.
A sputtering process of forming various kinds of metals and metal oxides for electrodes by using a method, a pattern processing process of patterning an electrode pattern by a photolithography method, and the like are performed.

【0004】また、従来のTFTアレイの製造工程で
は、ゲート電極やソース・ドレイン電極に、CrやTa
W等の金属加工しやすい金属や、電気抵抗の低いアルミ
ニウムを主体とする配線を用いるTFTが提案されてお
り、その形成工程として、上記のスパッタリング工程や
パターン加工工程等が行なわれている。
In the conventional manufacturing process of a TFT array, the gate electrode and the source / drain electrodes are made of Cr or Ta.
A TFT using a metal mainly made of metal such as W which is easy to be metal-processed or a wiring mainly made of aluminum having a low electric resistance has been proposed, and the above-described sputtering process, pattern processing process, and the like are performed as a forming process thereof.

【0005】しかし、これらの各工程はいずれも複雑な
工程を経て行なわれるものであり、特にパターン加工工
程では、レジスト塗布、露光、エッチング、レジスト剥
離といった工程を繰り返し行なう必要があった。したが
って、TFTアレイの製造工程では、これらの工程の簡
略化が求められていた。
However, each of these steps is performed through complicated steps, and in particular, in the pattern processing step, it is necessary to repeatedly perform steps such as resist coating, exposure, etching, and resist peeling. Therefore, in the manufacturing process of the TFT array, simplification of these processes has been required.

【0006】また、これらの各工程では、真空装置を使
用したり、加熱や冷却を繰り返すため、エネルギー消費
量が多く、また、エッチング工程で材料のほとんどが溶
解除去されてしまい、材料の利用効率が非常に低かった
ため、材料利用効率に優れるとともに、エネルギー消費
量を低減したTFTアレイの製造工程が求められてい
た。したがって、安価に省エネルギーで、材料の利用効
率の高いTFTアレイ及びこのようなTFTアレイを有
するTFT−LCDのより効率的な製造が望まれてい
た。
Further, in each of these steps, a vacuum device is used, and heating and cooling are repeated, so that a large amount of energy is consumed, and most of the material is dissolved and removed in the etching step, so that the utilization efficiency of the material is increased. Therefore, there has been a demand for a process of manufacturing a TFT array which has excellent material use efficiency and reduced energy consumption. Therefore, it has been desired to manufacture a TFT array that is inexpensive, energy-saving, and has a high material utilization efficiency, and a TFT-LCD having such a TFT array more efficiently.

【0007】一方、特開昭59−189617号公報、
特開昭59−202682号公報、特開昭60−137
886号公報及び特開昭60−160690号公報に
は、電子写真法により導体粒子の電極パターンを形成
し、これを焼成することが記載されている。しかし、上
記公報で用いる導体粒子は、抵抗が低く電荷がリークし
易いため、高精度の電極パターンの印刷が困難であり、
結果として確実な導通路の作成が困難であるという問題
があった。
On the other hand, JP-A-59-189617,
JP-A-59-202682, JP-A-60-137
886 and JP-A-60-160690 describe that an electrode pattern of conductive particles is formed by electrophotography and then fired. However, since the conductive particles used in the above publication have low resistance and charge is likely to leak, it is difficult to print a highly accurate electrode pattern,
As a result, there is a problem that it is difficult to form a reliable conduction path.

【0008】そこで、上記の問題点を解決するため、特
開平10−041066号公報では、キャリア粒子と、
絶縁化表面処理金属粒子とからなる現像剤を用いて、電
子写真法によりセラミックグリーンシート上に導体パタ
ーンを形成する方法が開示されている。しかし、上記公
報では、セラミックグリーンシート以外の材料、例えば
半導体素子に使用するガラス基板上に導体パターンを形
成することについては何等開示されていなかった。
In order to solve the above problems, Japanese Patent Application Laid-Open No. H10-041066 discloses that carrier particles are
A method of forming a conductive pattern on a ceramic green sheet by electrophotography using a developer comprising insulated surface-treated metal particles is disclosed. However, the above publication does not disclose anything about forming a conductive pattern on a material other than the ceramic green sheet, for example, a glass substrate used for a semiconductor element.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】そこで、鋭意研究した
結果、透明基板上に、熱可塑性樹脂で被覆された導電性
金属粒子を用いて、電子写真方式による印刷により電極
配線パターンを形成し、その後、特定の温度で加熱する
ことで熱可塑性樹脂を熱分解により蒸発させ、配線部分
に導電性を発現させることにより、上述した課題が解決
できることを見出した。
Accordingly, as a result of diligent research, an electrode wiring pattern was formed on a transparent substrate by electrophotographic printing using conductive metal particles coated with a thermoplastic resin. The present inventors have found that the above-described problems can be solved by heating the thermoplastic resin at a specific temperature to evaporate the thermoplastic resin by thermal decomposition and expressing conductivity in the wiring portion.

【0010】すなわち、本発明は、材料の無駄が少なく
効率的に製造できる液晶表示装置、半導体素子、半導体
素子用基板及び半導体素子配線用被覆金属粒子を提供す
ることを目的とする。
That is, an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device, a semiconductor element, a substrate for a semiconductor element, and a coated metal particle for a semiconductor element wiring which can be manufactured efficiently with little waste of material.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、透明基
板上に、ゲート電極が電子写真法による印刷で形成され
ている半導体素子を含むことを特徴とする液晶表示装置
が提供される。
According to the present invention, there is provided a liquid crystal display device including a semiconductor element having a gate electrode formed on a transparent substrate by electrophotographic printing.

【0012】本発明の別の態様によれば、透明基板上
に、ゲート電極が電子写真法による印刷で形成されてい
ることを特徴とする半導体素子が提供される。
According to another aspect of the present invention, there is provided a semiconductor device wherein a gate electrode is formed on a transparent substrate by electrophotographic printing.

【0013】本発明のさらに別の態様によれば、透明基
板上に、ゲート電極が電子写真法による印刷で形成され
ていることを特徴とする半導体素子用基板が提供され
る。
According to still another aspect of the present invention, there is provided a substrate for a semiconductor device, wherein a gate electrode is formed on a transparent substrate by electrophotographic printing.

【0014】上記の液晶表示装置、半導体素子、半導体
素子用基板において、ゲート電極を電子写真法による印
刷で形成することにより、目的とする、例えば、幅が3
〜50μm程度、好ましくは、5〜30μm程度で、厚
さが0.05〜1μm程度の細かい配線を正確に形成で
きる。従って、半導体素子の高精密化、狭ピッチ化に対
応できる。また、電子写真法による印刷では、材料の無
駄が少なく、多大な労力を必要としない。さらに、少量
多品種に対応できる。
In the above-described liquid crystal display device, semiconductor element, and semiconductor element substrate, the gate electrode is formed by printing by electrophotography, so that the gate electrode has a target width of, for example, three.
Fine wiring having a thickness of about 50 μm to about 50 μm, preferably about 5 to 30 μm, and a thickness of about 0.05 to 1 μm can be accurately formed. Therefore, it is possible to cope with higher precision and narrower pitch of the semiconductor element. In addition, in the printing by the electrophotographic method, the waste of the material is small and a large amount of labor is not required. Furthermore, it is possible to cope with many kinds of small quantities.

【0015】本発明のさらに別の態様によれば、電子写
真法に用いる、粒径が0.1〜20μmの金属粒子の表
面に熱可塑製樹脂を被覆したことを特徴とする半導体素
子配線用被覆金属粒子が提供される。金属粒子を熱可塑
性樹脂で被覆することにより、被覆金属粒子を絶縁にす
ることができ、電子写真法にトナーとして用いることが
可能となる。
According to still another aspect of the present invention, there is provided a semiconductor device wiring for use in electrophotography, wherein a surface of a metal particle having a particle size of 0.1 to 20 μm is coated with a thermoplastic resin. A coated metal particle is provided. By coating the metal particles with a thermoplastic resin, the coated metal particles can be insulated and can be used as a toner in electrophotography.

【0016】また、本発明の半導体素子配線用被覆金属
粒子において、前記熱可塑性樹脂が、ポリオレフィン系
樹脂であることが好ましい。熱可塑性樹脂をポリオレフ
ィン系樹脂とすることにより、現像機内での付着やキャ
リヤのスペント化を防ぐことができる。
Further, in the coated metal particles for semiconductor element wiring of the present invention, it is preferable that the thermoplastic resin is a polyolefin resin. When the thermoplastic resin is a polyolefin-based resin, it is possible to prevent adhesion in a developing machine and spent carrier.

【0017】また、本発明の半導体素子配線用被覆金属
粒子において、前記熱可塑製樹脂が、前記金属粒子の表
面に触媒を担持し、直接オレフィンモノマーを重合する
ことにより形成されていることが好ましい。熱可塑性樹
脂を直接重合で形成することにより、金属粒子を均一に
被覆することが可能となる。さらに、その被覆層の厚み
を任意に変えることが可能となる。
In the coated metal particles for semiconductor element wiring according to the present invention, it is preferable that the thermoplastic resin is formed by carrying a catalyst on the surface of the metal particles and directly polymerizing an olefin monomer. . By forming the thermoplastic resin by direct polymerization, it is possible to uniformly coat the metal particles. Further, the thickness of the coating layer can be arbitrarily changed.

【0018】また、本発明の半導体素子配線用被覆金属
粒子において、前記金属粒子が、Sn、Ag、Pb、B
i、Cu、In、Ni、Zn、W、Ta、Mo、Al、
Au及びCrから選択される一種の元素からなる金属又
は二種以上の元素からなる合金であることが好ましい。
このような金属又は合金は、抵抗値、加工性、コスト等
の観点から好ましく、特に、Ag及びCuが好ましい。
Further, in the coated metal particles for semiconductor element wiring of the present invention, the metal particles may be composed of Sn, Ag, Pb, B
i, Cu, In, Ni, Zn, W, Ta, Mo, Al,
It is preferable that the metal is a metal composed of one kind of element selected from Au and Cr or an alloy composed of two or more kinds of elements.
Such a metal or alloy is preferable in terms of resistance, workability, cost, and the like, and particularly, Ag and Cu are preferable.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下、本発明の半導体素子配線用
被覆金属粒子(以下、被覆金属粒子と称する)及びそれ
を用いた液晶表示装置等についてさらに説明する。本発
明の被覆金属粒子は、金属粒子と、その表面を被覆する
熱可塑性樹脂(樹脂被覆層)とを含む。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The coated metal particles for semiconductor element wiring (hereinafter referred to as coated metal particles) of the present invention and a liquid crystal display device using the same will be further described below. The coated metal particles of the present invention include metal particles and a thermoplastic resin (resin coating layer) that covers the surface of the metal particles.

【0020】1.金属粒子 (1)種類 金属粒子の種類としては、導電性を有していれば特に制
限されない。このような例としては、Sn、Ag、P
b、Bi、Cu、In、Ni、Zn、W、Ta、Mo、
Al、Au及びCrから選択される一種の元素からなる
金属又は二種以上の元素からなる合金が挙げられる。こ
れらのうち、一種の元素からなる金属としては、Sn、
Ag、Pb、Cu、W、Ta及びMoがより好ましく、
Ag及びCuがさらに好ましい。また、二種以上の元素
からなる合金としては、WTa、MoW等のW合金、A
l合金、はんだ及びPbフリーはんだ等の合金が好まし
い。
1. Metal particles (1) Type The type of metal particles is not particularly limited as long as it has conductivity. Such examples include Sn, Ag, P
b, Bi, Cu, In, Ni, Zn, W, Ta, Mo,
Examples include a metal composed of one kind of element selected from Al, Au and Cr, or an alloy composed of two or more kinds of elements. Among these, metals composed of one kind of element include Sn,
Ag, Pb, Cu, W, Ta and Mo are more preferred,
Ag and Cu are more preferred. Examples of alloys composed of two or more elements include W alloys such as WTa and MoW,
Alloys such as alloys, solders and Pb-free solders are preferred.

【0021】(2)形状及び粒径 金属粒子の形状については、特に制限されず、球形及び
不定形等のいずれであってもよい。これらの形状のう
ち、球形(例えは、均一な真球)が好ましい。金属粒子
の粒径は、0.1〜20μmが好ましい。この理由は、
粒径が0.1μm未満になると、熱可塑性樹脂を被覆す
るときに金属粒子の凝集が起こりやすくなる場合や、被
覆金属粒子を電子写真用トナーに用いて印刷したときに
トナーの飛散が発生しやすくなり、印刷画像の画質の低
下を招く場合があるためである。また、粒径が20μm
を超えると、電子写真用トナーとして用いることが困難
となるため、印刷画像の画質の低下をきたし、電極配線
を精度よく製造することができなくなる場合があるため
である。また、このような理由により、金属粒子の粒径
を0.2〜10μmとするのがより好ましく、3〜6μ
mとするのが特に好ましい。
(2) Shape and Particle Size The shape of the metal particles is not particularly limited, and may be any of a spherical shape and an irregular shape. Among these shapes, a spherical shape (for example, a uniform true sphere) is preferable. The particle size of the metal particles is preferably 0.1 to 20 μm. The reason for this is
When the particle size is less than 0.1 μm, aggregation of metal particles is likely to occur when coating the thermoplastic resin, and toner scattering occurs when printing is performed using the coated metal particles as an electrophotographic toner. This is because it is easy to cause the deterioration of the print image quality. In addition, the particle size is 20 μm
If the ratio exceeds the above range, it becomes difficult to use the toner as an electrophotographic toner, so that the image quality of a printed image deteriorates, and it may become impossible to manufacture electrode wirings with high accuracy. Further, for such a reason, the particle size of the metal particles is more preferably 0.2 to 10 μm, and 3 to 6 μm.
m is particularly preferable.

【0022】(3)組成割合 金属粒子の組成割合を、被覆金属粒子の全体を100重
量%としたときに80重量%以上とすることが好まし
い。この理由は、組成割合が80重量%未満になると、
被覆層が厚くなり過ぎ、実際に電極配線を印刷しても、
金属粒子の充填性に欠けるため、加熱による樹脂除去後
の導通が十分取れない場合があるためである。また、嵩
密度の増大に伴い流動性が低下するため、キャリアと混
合して得られた現像剤においても同様に流動性が低下す
る結果、現像時の安定性が著しく損なわれる場合がある
ためである。また、このような理由により、金属粒子の
組成割合を、被覆金属粒子の全体を100重量%とした
ときに、90重量%以上とすることがより好ましい。
(3) Composition Ratio It is preferable that the composition ratio of the metal particles is 80% by weight or more when the whole of the coated metal particles is 100% by weight. The reason is that when the composition ratio is less than 80% by weight,
Even if the coating layer is too thick and the electrode wiring is actually printed,
This is because there is a case where conduction after removing the resin by heating cannot be sufficiently obtained due to lack of filling properties of the metal particles. Further, since the fluidity decreases with an increase in the bulk density, the fluidity of the developer obtained by mixing with the carrier similarly decreases, and the stability during development may be significantly impaired. is there. Further, for such a reason, it is more preferable that the composition ratio of the metal particles is 90% by weight or more when the whole of the coated metal particles is 100% by weight.

【0023】なお、金属粒子の組成割合の上限について
は、樹脂被覆層が金属粒子の表面を完全に覆うことがで
きれば特に制限されない。金属粒子の割合が多すぎて樹
脂被覆層が金属粒子の表面を完全に覆うことができない
場合、絶縁不良が発生し、印刷画像が悪化するため好ま
しくない。なお、組成割合の上限は、使用する金属粒子
の比重及び表面形状等の物性や粒径等により異なる。ま
た、この組成割合は、本発明の被覆金属粒子における樹
脂被覆層の厚さを間接的に規定する。
The upper limit of the composition ratio of the metal particles is not particularly limited as long as the resin coating layer can completely cover the surface of the metal particles. If the ratio of the metal particles is too large, the resin coating layer cannot completely cover the surface of the metal particles, which is not preferable because insulation failure occurs and a printed image deteriorates. The upper limit of the composition ratio varies depending on the specific gravity of the metal particles used, physical properties such as surface shape, particle size, and the like. Further, this composition ratio indirectly defines the thickness of the resin coating layer in the coated metal particles of the present invention.

【0024】2.熱可塑性樹脂 (1)種類 熱可塑性樹脂の種類は特に制限されない。このような例
として、アクリル系樹脂、ポリオレフィン系樹脂等が挙
げられる。これらのうち、ポリオレフィン系樹脂が特に
好ましく、上記金属粒子の表面で直接重合できるポリエ
チレン樹脂がさらに好ましい。これらの熱可塑性樹脂
は、電極配線印刷後の焼成過程において、熱分解して消
滅するため、焼成後の電極配線には導電性が付与され
る。
2. Thermoplastic resin (1) Type The type of thermoplastic resin is not particularly limited. Examples of such a resin include an acrylic resin and a polyolefin resin. Among these, a polyolefin resin is particularly preferred, and a polyethylene resin which can be directly polymerized on the surface of the metal particles is more preferred. These thermoplastic resins are thermally decomposed and disappear in the firing process after printing the electrode wiring, so that the electrode wiring after firing is given conductivity.

【0025】(2)分子量 熱可塑性樹脂がポリオレフィン系樹脂であるとき、好ま
しくは、ポリオレフィン系樹脂層は、高分子量ポリオレ
フィンを金属粒子の表面に直接重合して形成する。この
高分子量ポリオレフィンは、分子量範囲が、数平均分子
量として2,000以上、重量平均分子量として10,
000以上のものが好ましい。これは、低分子量ポリエ
チレンとして知られているポリエチレンワックス(三井
ハイワックス(三井石油化学社製)、サンワックス(三
洋化成社製)、ポリレッツ(チュウセイワックス・ポリ
マー社製)、ダイヤレン30(三菱化学社製)、日石レ
クスポール(日本石油社製)、ネオワックス(ヤスハラ
ケミカル社製)、ACポリエチレン(アライド・ケミカ
ル社製)、エポレン(イーストマン・コダック社製)、
ヘキストワックス(ヘキスト社製)、A-Wax(BA
SF社製)、ポリワックス(ペトロライト社製)、エス
コマー(エクソンケミカル社製)等)とは区別される。
ポリエチレンワックスは、熱トルエン等に溶解すること
により、通常の浸漬法、スプレー法により被覆すること
が可能であるが、樹脂の機械的強度が弱いため印刷時の
現像機内のシェア等により被覆金属粒子表面から剥がれ
てしまうため、本発明に用いられるポリオレフィン樹脂
層とは区別される。
(2) Molecular Weight When the thermoplastic resin is a polyolefin resin, the polyolefin resin layer is preferably formed by directly polymerizing a high molecular weight polyolefin on the surface of metal particles. This high molecular weight polyolefin has a molecular weight range of 2,000 or more as a number average molecular weight and 10,10 as a weight average molecular weight.
000 or more are preferred. These are polyethylene wax (Mitsui High Wax (manufactured by Mitsui Petrochemical), Sunwax (manufactured by Sanyo Chemical), Polylet (manufactured by Chusei Wax Polymer Co.), and Dialen 30 (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), which are known as low molecular weight polyethylene. Nippon Oil Co., Ltd., Neowax (Yasuhara Chemical Co., Ltd.), AC polyethylene (Allied Chemical Co., Ltd.), Epolen (Eastman Kodak Co., Ltd.),
Hoechst wax (manufactured by Hoechst), A-Wax (BA
SF), polywax (Petrolite), and Escomer (Exxon Chemical).
Polyethylene wax can be coated by ordinary dipping or spraying by dissolving it in hot toluene, etc. Since it is peeled off from the surface, it is distinguished from the polyolefin resin layer used in the present invention.

【0026】(3)被覆量 熱可塑性樹脂の被覆量は、重量比で[金属粒子]/[熱
可塑性樹脂]=99/1〜80/20となるように形成
することが好ましく、より好ましくは97/3〜90/
10である。
(3) Coating Amount The coating amount of the thermoplastic resin is preferably such that the weight ratio is [metal particles] / [thermoplastic resin] = 99/1 to 80/20, more preferably 97 / 3-90 /
It is 10.

【0027】3.被覆金属粒子の製造方法 (1)熱可塑性樹脂の金属粒子への重合方法 樹脂被覆層は、例えば、上記金属粒子の表面をオレフィ
ン重合触媒で処理し、表面上で直接オレフィンモノマー
を重合(生成)することにより形成される。このような
重合方法の例として、特開昭60−106808号公報
及び特開昭60−106810号公報に記載の方法が挙
げられる。即ち、ポリオレフィン樹脂被覆層は、チタン
及び/またはジルコニウムを含有するとともに炭化水素
溶媒(例えば、へキサン、ヘプタン等)に可溶な高活性
触媒成分と、上記金属粒子とを予め接触処理して得られ
る生成物及び有機アルミニウム化合物を前記炭化水素溶
媒に懸濁させ、これにオレフィンモノマーを供給し、金
属粒子表面で直接重合させることにより形成することが
できる。この製造方法は、金属粒子の表面上で直接樹脂
被覆層を形成するため、得られる被膜は強度に優れる。
また、直接重合により樹脂被覆層を形成すると、被覆層
が均一となり、導入するオレフィン量を変えることによ
り、膜厚を任意に変えることができる。
3. Method for Producing Coated Metal Particles (1) Method for Polymerizing Thermoplastic Resin into Metal Particles The resin coating layer is obtained, for example, by treating the surface of the metal particles with an olefin polymerization catalyst and polymerizing (forming) olefin monomers directly on the surface. It is formed by doing. Examples of such a polymerization method include the methods described in JP-A-60-106808 and JP-A-60-106810. That is, the polyolefin resin coating layer is obtained by previously contacting a highly active catalyst component containing titanium and / or zirconium and soluble in a hydrocarbon solvent (eg, hexane, heptane, etc.) with the metal particles. The resulting product and the organoaluminum compound can be formed by suspending in the above-mentioned hydrocarbon solvent, supplying an olefin monomer thereto, and directly polymerizing on the surface of the metal particles. According to this production method, the resin coating layer is formed directly on the surface of the metal particles, so that the resulting coating has excellent strength.
Further, when the resin coating layer is formed by direct polymerization, the coating layer becomes uniform, and the film thickness can be arbitrarily changed by changing the amount of olefin to be introduced.

【0028】(2)平滑化処理 印刷時に配線部の充填率を向上させるため、本発明の被
覆金属粒子に対して、嵩密度を向上させるための平滑化
処理を施すことができる。この方法として、下記の方法
のうち最適な方法を選択することができる。
(2) Smoothing Treatment In order to improve the filling rate of the wiring portion during printing, the coated metal particles of the present invention can be subjected to a smoothing treatment for improving the bulk density. As this method, an optimal method can be selected from the following methods.

【0029】(a)ボールミル処理による平滑化処理 例えば、500mlのポリ容器中に適量の被覆金属粒子
を入れ、同時に直径が10倍程度のセラミックボールも
入れ数十分間ボールミル機で回転する。処理後、目開き
がセラミックボールの直径よりも十分に小さい篩を用い
てセラミックボールを除去すると同時に平滑化処理され
た被覆金属粒子を得る。
(A) Smoothing treatment by ball milling For example, an appropriate amount of coated metal particles is put in a 500 ml plastic container, and at the same time, a ceramic ball having a diameter of about 10 times is put and rotated by a ball mill for several tens of minutes. After the treatment, the ceramic balls are removed by using a sieve whose opening is sufficiently smaller than the diameter of the ceramic balls, and at the same time, coated metal particles which have been smoothed are obtained.

【0030】(b)ミキサ処理による平滑化処理 例えば、ヘンシェルミキサ(三井鉱山社製)やメカノミ
ル(岡田精工社製)等のミキサを用い、被覆金属粒子が
変形しない程度の回転数により数十分間処理することで
平滑化処理された被覆金属粒子を得る。
(B) Smoothing by Mixer Treatment For example, using a mixer such as a Henschel mixer (Mitsui Mining Co., Ltd.) or a mechanomill (Okada Seiko Co., Ltd.), the number of rotations is set to several tens of minutes so that the coated metal particles are not deformed. By performing the intermediate treatment, the coated metal particles subjected to the smoothing treatment are obtained.

【0031】(c)加熱処理による平滑化処理 例えば、熱球形化機(熱球形化機、ホソカワミクロン社
製)を用い、気流中に分散させた状態でポリエチレンの
融点以上の温度に急加熱、急冷却することにより、被覆
金属粒子を凝集させることなく平滑化する。
(C) Smoothing treatment by heat treatment For example, using a thermal sphering machine (thermal sphering machine, manufactured by Hosokawa Micron Co., Ltd.), rapid heating to a temperature higher than the melting point of polyethylene in a state of being dispersed in an air stream, By cooling, the coated metal particles are smoothed without agglomeration.

【0032】(d)衝突による平滑化処理 例えば、ジェットミル(カウンタージェットミル、ホソ
カワミクロン社製)やハイブリダイザー(ハイブリダイ
ゼーション、奈良機械製作所社製)を用い、被覆金属粒
子同士の衝突あるいは回転翼への衝突により平滑化処理
された被覆金属粒子を得る。
(D) Smoothing treatment by collision For example, using a jet mill (counter-jet mill, manufactured by Hosokawa Micron) or a hybridizer (hybridization, manufactured by Nara Machinery Co., Ltd.), the coated metal particles collide with each other or rotate. To obtain coated metal particles that have been smoothed.

【0033】(3)凝集体の解砕方法 表面直接重合により製造された被覆金属粒子は、ろ過、
乾燥時に非常に弱い凝集体(指により解砕可能)を形成
する。この凝集体の解砕方法としては、上記平滑化処理
の他、目開き125μm以下の篩を用いた振動篩法等を
用いることができる。また、これら以外にもリボンミキ
サやナウターミキサなど粒子にシェア(剪断応力等)を
加えられる方法であれば特に制限はない。
(3) Method for crushing aggregates The coated metal particles produced by direct surface polymerization are filtered,
Form very weak agglomerates (disintegrable with fingers) on drying. As a method of crushing the aggregates, in addition to the above-described smoothing treatment, a vibration sieve method using a sieve having an opening of 125 μm or less can be used. Other than these, there is no particular limitation as long as a method such as a ribbon mixer or a Nauter mixer can apply a shear (such as shear stress) to the particles.

【0034】4.被覆金属粒子の絶縁特性及び嵩密度特
性 (1)絶縁特性 本発明の被覆金属粒子を用いて現像剤を形成し、電子写
真方式により電極配線を印刷するため、被覆金属粒子は
所定の帯電量を有することが必要となる。本発明では、
金属粒子は完全に被覆されている。また、被覆する熱可
塑性樹脂の量を増すことによって絶縁性を向上させるこ
とができる。
4. Insulation Characteristics and Bulk Density Characteristics of Coated Metal Particles (1) Insulation Characteristics In order to form a developer using the coated metal particles of the present invention and print electrode wiring by an electrophotographic method, the coated metal particles have a predetermined charge amount. It is necessary to have. In the present invention,
The metal particles are completely covered. Further, the insulating property can be improved by increasing the amount of the thermoplastic resin to be coated.

【0035】上記方法で製造された被覆金属粒子の抵抗
値は、通常の粉体抵抗測定法では測定できないレベルで
ある。抵抗値の測定方法は、電極面積5cm、荷重1
kgに0.5cmの厚さの被覆金属粒子層を設け、上下
の電極に、1〜500Vの電圧を印加し、底に流れる電
流値を測定し、換算して求めた。電流計の測定限界が1
pAであり、これより少ない電流値は測定不可となる。
本発明での被覆金属粒子は全て測定不可であった。
The resistance value of the coated metal particles produced by the above method is at a level that cannot be measured by ordinary powder resistance measurement methods. The measuring method of the resistance value is as follows: electrode area 5 cm 2 , load 1
A coated metal particle layer having a thickness of 0.5 cm was provided for each kg, a voltage of 1 to 500 V was applied to the upper and lower electrodes, and a current value flowing to the bottom was measured and converted. Ammeter measurement limit is 1
pA, and a current value smaller than this cannot be measured.
All of the coated metal particles in the present invention could not be measured.

【0036】(2)嵩密度 電子写真法により電極配線を印刷し、その後加熱焼成に
より熱可塑性樹脂の分解及び焼結を行ないプラズマディ
スプレイ用基板を作製するため、印刷された被覆金属粒
子が密に充填することが必要となる。また、印刷後の仮
定着時に、表面に存在する被覆樹脂がバインダーとなっ
て定着されるため、粒径等によってその必要量は変化す
るが適量の樹脂が必要となる。
(2) Bulk Density The electrode wiring is printed by electrophotography, and then the thermoplastic resin is decomposed and sintered by heating and baking to produce a plasma display substrate. Filling is required. In addition, at the time of temporary attachment after printing, since the coating resin existing on the surface is fixed as a binder, the required amount varies depending on the particle size and the like, but an appropriate amount of resin is required.

【0037】本発明で得られた被覆金属粒子の嵩密度
は、1.0〜8.5g/cc程度であり、粒径、金属種に
より異なる。この嵩密度は、前記平滑化処理を施すこと
により更に向上させることが可能である。嵩密度は流動
性と密接な関係にあり、嵩密度を向上させることによ
り、現像剤とした場合の流動性も向上する。
The bulk density of the coated metal particles obtained in the present invention is about 1.0 to 8.5 g / cc, and varies depending on the particle size and the type of metal. This bulk density can be further improved by performing the smoothing treatment. Bulk density is closely related to fluidity, and improving the bulk density also improves fluidity when used as a developer.

【0038】5.被覆金属粒子含有現像剤 (1)現像剤に用いるキャリア 電極配線を電子写真法で印刷する場合、1成分方式、
1.5成分方式及び2成分方式のいずれの方式でも用い
ることができる。しかし、帯電特性や現像性の面からキ
ャリアと混合して現像剤を構成する2成分方式がより好
ましい。この時に用いられるキャリアとしては、一般的
に知られているフェライト、マグネタイト、鉄粉等の磁
性粉の他、これらを樹脂でコートした樹脂被覆キャリ
ア、また樹脂に磁性粉が添加されたバインダー型キャリ
ア、磁性粉表面で直接重合を行なった重合被覆キャリア
等のいずれでも好適に用いることができる。
5. Coated metal particle-containing developer (1) Carrier used for developer When printing electrode wiring by electrophotography, one-component system
Either the 1.5-component system or the two-component system can be used. However, from the viewpoint of charging characteristics and developability, a two-component system in which the developer is mixed with a carrier is more preferable. As the carrier used at this time, in addition to generally known magnetic powders such as ferrite, magnetite, and iron powder, a resin-coated carrier obtained by coating these with a resin, or a binder-type carrier obtained by adding a magnetic powder to a resin. Any of polymer-coated carriers obtained by directly polymerizing on the surface of a magnetic powder can be suitably used.

【0039】(2)現像剤の組成比 本発明の被覆金属粒子を2成分現像剤として用いた場合
の組成比としては、この被覆金属粒子の密度がコピーや
プリンタに用いられる一般的なトナーに比べて、5〜1
0倍程度であるため、通常のトナーとキャリアの組成比
2〜40重量%に対して、10〜400重量%の組成比
で混合する必要がある。
(2) Composition Ratio of Developer When the coated metal particles of the present invention are used as a two-component developer, the composition ratio of the coated metal particles is determined by the density of the coated metal particles in a general toner used for copying and printers. 5-1
Since it is about 0 times, it is necessary to mix the toner and the carrier at a composition ratio of 10 to 400% by weight with respect to a composition ratio of 2 to 40% by weight.

【0040】6.印刷機器及び印刷方法 (1)印刷機器 本発明の被覆金属粒子により電極配線を印刷する場合、
現像剤は前記方法により調製する必要があるが、印刷を
行なう機器は特に制限がなく、市販のプリンタ及びコピ
ー機の他、オンデマンド印刷機等の電子写真方式で画像
が得られる全ての機器を使用することができる。このと
き、機器のシステムがアモルファスシリコン感光体ある
いは有機感光体等の違いにより、トナー(被覆金属粒
子)に求められる極性が正帯電あるいは負帯電と変化す
るが、用いるキャリアの仕様を選択したり、帯電ローラ
の種類を選択することで使用できる。また、ガラス基板
の厚さ等により転写時のスペースを確保するなどの改良
を加える必要がある。更に、ガラス基板の搬送システム
についても表面が汚れない方法や搬送時に歪みが発生し
ないようにする必要がある。
6. Printing equipment and printing method (1) Printing equipment When printing electrode wiring with the coated metal particles of the present invention,
The developer must be prepared by the above-described method, but the equipment for printing is not particularly limited. In addition to commercially available printers and copiers, all equipment capable of obtaining images by an electrophotographic method such as an on-demand printing machine can be used. Can be used. At this time, the polarity of the toner (coated metal particles) changes to positive charge or negative charge depending on the difference between the amorphous silicon photoreceptor and the organic photoreceptor in the equipment system. It can be used by selecting the type of charging roller. Further, it is necessary to make improvements such as securing a space at the time of transfer depending on the thickness of the glass substrate and the like. Furthermore, it is necessary to prevent the surface of the glass substrate transfer system from being soiled and to prevent distortion during transfer.

【0041】(2)印刷方法 印刷方法としては、電子写真方式であれば前記したよう
に1成分現像方式、1.5成分現像方式、2成分現像方
式のいずれの方法も用いることができる。また、プリン
タ等のようにコンピュータから直接データを送り印刷す
る場合は、事前にコンピュータを用いて電極配線図を作
成し、必要な部数だけ印刷すればよい。この方法を選択
することで、常に同様の金属配線を得ることができる。
フォトレジスト法により製造したときのように、コスト
高(フォトレジスト工程やスクリーン印刷作製ではスク
リーンの製作等に多大な費用がかかる)や安定性といっ
た問題が発生しない。
(2) Printing Method As the printing method, any of the one-component developing method, the 1.5-component developing method, and the two-component developing method can be used as described above in the case of an electrophotographic method. When data is sent directly from a computer and printed, such as with a printer, an electrode wiring diagram may be created using a computer in advance, and the required number of copies may be printed. By selecting this method, the same metal wiring can always be obtained.
As in the case of manufacturing by a photoresist method, problems such as high cost (a large cost is required for manufacturing a screen in a photoresist process and screen printing) and stability do not occur.

【0042】7.液晶表示装置及び半導体素子 本発明の液晶表示装置及び半導体素子は、ゲート電極は
電子写真法による印刷で形成するが、それ以外の構成部
分は特に限定されず、通常の構成及び材料で、通常の方
法で形成できる。
7. Liquid crystal display device and semiconductor element In the liquid crystal display device and the semiconductor element of the present invention, the gate electrode is formed by printing by electrophotography, but the other components are not particularly limited, and have a normal configuration and material. It can be formed by a method.

【0043】[実施形態1]図1は、本発明の液晶表示
装置の一実施形態を示す模式図である。液晶表示装置1
は、液晶層(図示せず)を挟む2枚のガラスパネル(図
示せず)に、それぞれX電極とY電極を設けている。X
電極とY電極の交点に、駆動用半導体素子10と画素1
2がある。図2は、図1の液晶表示装置に用いる半導体
素子の一実施形態を示す断面図である。半導体素子30
において、ガラス基板31の上に、ゲート電極33、ゲ
ート絶縁膜35、第一及び第二の半導体層37、ソース
・ドレイン電極39、ソース・ドレイン絶縁膜41及び
透明電極(画素電極)43が配設されている。この半導
体素子30の製造方法について説明すると、まず、後述
するように、ガラス基板31に電子写真法でゲート電極
33を印刷する。その後、このゲート電極ガラス基板を
500〜600℃に加熱し、被覆樹脂の分解除去、金属
電極の焼結を行なう。次に、ゲート絶縁膜35を積層
し、第一及び第二の半導体層37を積層する。更に、ソ
ース・ドレイン配線電極39を積層後、ゲート電極上部
部分をエッチング除去する。ソース・ドレイン絶縁膜4
1を積層後、透明電極43を設けて半導体素子が構成さ
れる。
[Embodiment 1] FIG. 1 is a schematic view showing an embodiment of the liquid crystal display device of the present invention. Liquid crystal display device 1
Has an X electrode and a Y electrode provided on two glass panels (not shown) sandwiching a liquid crystal layer (not shown). X
At the intersection of the electrode and the Y electrode, the driving semiconductor element 10 and the pixel 1
There are two. FIG. 2 is a cross-sectional view showing one embodiment of a semiconductor element used in the liquid crystal display device of FIG. Semiconductor element 30
In the above, a gate electrode 33, a gate insulating film 35, first and second semiconductor layers 37, a source / drain electrode 39, a source / drain insulating film 41, and a transparent electrode (pixel electrode) 43 are disposed on a glass substrate 31. Has been established. A method of manufacturing the semiconductor element 30 will be described. First, a gate electrode 33 is printed on a glass substrate 31 by electrophotography, as described later. Thereafter, the gate electrode glass substrate is heated to 500 to 600 ° C. to decompose and remove the coating resin and sinter the metal electrode. Next, the gate insulating film 35 is stacked, and the first and second semiconductor layers 37 are stacked. Further, after stacking the source / drain wiring electrodes 39, the upper portion of the gate electrode is removed by etching. Source / drain insulating film 4
After laminating 1, the transparent electrode 43 is provided to form a semiconductor element.

【0044】次に、電子写真法によるゲート電極26の
形成方法について説明する。図3は、被覆金属粒子を用
いてゲート電極33を形成する電子写真装置50の概要
を示す図である。この電子写真装置50は、通常の電子
写真装置であり、感光体ドラム52の周辺に、帯電機5
4、画像信号露光機56、現像機58、転写ロール6
0、クリーニングブレード64及び全面露光機66が配
設されている。感光体ドラム52と転写ロール60の間
に、基板62がある。まず、回転する感光体ドラム52
上に、帯電機54および画像信号露光機56を用いて静
電潜像を得る。次いで、この静電潜像に対応して現像機
58から被覆金属粒子を供給して電極配線画像を形成す
る。さらに、転写ロール60を用いて、形成された電極
配線画像を基板62上に転写する。その後、加熱するこ
とにより、仮定着電極配線を形成する。更に、昇温焼結
することにより、熱可塑性樹脂が分解、被覆金属粒子が
焼結される。なお、基板62に転写されなかった被覆金
属粒子は、クリーニングブレード64を用いて除去され
る。
Next, a method of forming the gate electrode 26 by electrophotography will be described. FIG. 3 is a diagram showing an outline of an electrophotographic apparatus 50 for forming a gate electrode 33 using coated metal particles. The electrophotographic apparatus 50 is a normal electrophotographic apparatus, and a charging device 5 is provided around a photosensitive drum 52.
4. Image signal exposure device 56, developing device 58, transfer roll 6
0, a cleaning blade 64 and an overall exposure machine 66 are provided. There is a substrate 62 between the photosensitive drum 52 and the transfer roll 60. First, the rotating photosensitive drum 52
On top, an electrostatic latent image is obtained by using the charging device 54 and the image signal exposure device 56. Next, the coating metal particles are supplied from the developing device 58 in accordance with the electrostatic latent image to form an electrode wiring image. Further, the formed electrode wiring image is transferred onto the substrate 62 by using the transfer roll 60. After that, by heating, the assumed electrode wiring is formed. Further, the thermoplastic resin is decomposed by the elevated temperature sintering, and the coated metal particles are sintered. The coated metal particles that have not been transferred to the substrate 62 are removed using the cleaning blade 64.

【0045】[0045]

【実施例】まず、熱可塑性樹脂を金属粒子に重合させる
ときに用いる触媒を製造した。 [製造例1] (1)チタン含有触媒成分の調製 アルゴン置換した内容積500mlのフラスコに、室温
にて脱水n−ヘプタン200ml及び予め120℃で減
圧(2mmHg)脱水したステアリン酸マグネシウム1
5g(25ミリモル)を入れてスラリー化した。攪拌下
に四塩化チタン0.44g(2.3ミリモル)を滴下後、
昇温を開始し、還流下にて1時間反応させ、粘性を有す
る透明なチタン含有触媒(活性触媒)の溶液を得た。
EXAMPLES First, a catalyst used for polymerizing a thermoplastic resin into metal particles was produced. [Production Example 1] (1) Preparation of titanium-containing catalyst component 200 ml of dehydrated n-heptane at room temperature and magnesium stearate 1 which had been previously depressurized (2 mmHg) at 120 ° C in a 500-ml flask purged with argon.
5 g (25 mmol) was added to form a slurry. After stirring, 0.44 g (2.3 mmol) of titanium tetrachloride was added dropwise.
The temperature was raised and the reaction was carried out under reflux for 1 hour to obtain a viscous transparent titanium-containing catalyst (active catalyst) solution.

【0046】(2)チタン含有触媒成分の活性評価 アルゴン置換した内容積1リットルのオートクレーブに
脱水ヘキサン400ml、トリエチルアルミニウム0.
8ミリモル、ジエチルアルミニウムクロリド0.8ミリ
モル及び上記(1)で得られたチタン含有触媒をチタン
原子として0.004ミリモルを採取して投入し、90
℃に昇温した。このとき、系内圧は1.5kg/cm
Gであった。次いで水素を供給し、5.5kg/cm
Gに昇圧した後、全圧が9.5kg/cmGに保たれ
るようにエチレンを連続的に供給し、1時間重合を行な
い70gのポリマーを得た。重合活性は、365kg/
g・Ti/Hrであり、得られたポリマーのMFR(1
90℃、荷重2.16kgにおける溶融流れ性;JIS
K 7210)は40であった。
(2) Evaluation of activity of titanium-containing catalyst component 400 ml of dehydrated hexane and 0.1 ml of triethylaluminum were placed in a 1-liter autoclave purged with argon.
8 mmol, 0.8 mmol of diethylaluminum chloride and 0.004 mmol of the titanium-containing catalyst obtained in the above (1) as titanium atoms were sampled and charged.
The temperature was raised to ° C. At this time, the internal pressure of the system was 1.5 kg / cm 2
G. Then, hydrogen was supplied and 5.5 kg / cm 2
After the pressure was increased to G, ethylene was continuously supplied so that the total pressure was maintained at 9.5 kg / cm 2 G, and polymerization was carried out for 1 hour to obtain 70 g of a polymer. The polymerization activity is 365 kg /
g · Ti / Hr, and the MFR (1
Melt flowability at 90 ° C and load of 2.16 kg; JIS
K 7210) was 40.

【0047】次に、製造例1で製造した触媒を用いて被
覆金属粒子を製造した。 [実施例1]アルゴン置換した内容積2リットルのオー
トクレーブに銀微粒子(同和鉱業社製、平均粒径3μ
m)250gを入れ、80℃まで昇温し1時間減圧(1
0mmHg)乾燥を行なった。その後40℃まで降温し
て脱水ヘキサン800mlを入れ攪拌を開始した。次い
でジエチルアルミニウムクロリド2.5ミリモル及び製
造例1で製造したチタン含有触媒成分をチタン原子とし
て0.025ミリモルを添加して30分間反応を行なっ
た。その後、90℃まで昇温し、系内圧を4.3kg/
cmGに保つようにエチレンを連続的に供給しながら
10分間(系内にエチレンが合計で13.2g導入され
た時点で導入停止)重合を行ない、全量263.2gの
ポリエチレン被覆銀微粒子を得た。乾燥した微粉末は均
一に灰色を呈し、電子顕微鏡により、銀微粒子表面に薄
くポリエチレンが被覆していることが観察された。な
お、この組成物をTGA(熱天秤)により測定したとこ
ろ、銀微粒子、ポリエチレンの組成比は95:5であっ
た。ろ過、乾燥後の組成物を目開き53μmの振動篩で
処理して被覆金属粒子Aを得た。
Next, coated metal particles were produced using the catalyst produced in Production Example 1. [Example 1] Silver fine particles (manufactured by Dowa Mining Co., average particle size 3 µ
m) Add 250 g, raise the temperature to 80 ° C., and reduce the pressure for 1 hour (1
(0 mmHg) Drying was performed. Thereafter, the temperature was lowered to 40 ° C., 800 ml of dehydrated hexane was added, and stirring was started. Next, 2.5 mmol of diethylaluminum chloride and 0.025 mmol of the titanium-containing catalyst component produced in Production Example 1 as titanium atoms were added, and the reaction was carried out for 30 minutes. Thereafter, the temperature was raised to 90 ° C., and the internal pressure of the system was set to 4.3 kg /
Polymerization was carried out for 10 minutes (introduction stopped when 13.2 g of ethylene was introduced into the system in total) while continuously supplying ethylene so as to maintain the cm 2 G, and a total amount of 263.2 g of polyethylene-coated silver fine particles was obtained. Obtained. The dried fine powder uniformly appeared gray, and it was observed by an electron microscope that the surface of the silver fine particles was thinly coated with polyethylene. When this composition was measured by TGA (thermal balance), the composition ratio of silver fine particles and polyethylene was 95: 5. The composition after filtration and drying was treated with a vibrating sieve having openings of 53 μm to obtain coated metal particles A.

【0048】[実施例2]銀微粒子を銅微粒子(同和鉱
業社製、3μm)に変えた以外は、実施例1と同様にし
て、被覆金属粒子Bを得た。
Example 2 Coated metal particles B were obtained in the same manner as in Example 1 except that the silver fine particles were changed to copper fine particles (3 μm, manufactured by Dowa Mining Co., Ltd.).

【0049】[実施例3]銅微粒子の粒径を3μmから
6μmに変えた以外は、実施例2と同様にして、被覆金
属粒子Cを得た。
Example 3 Coated metal particles C were obtained in the same manner as in Example 2, except that the particle size of the copper fine particles was changed from 3 μm to 6 μm.

【0050】[実施例4]銀微粒子をIn/Ag合金微
粒子(真空冶金社製、2μm)に変えた以外は、実施例
1と同様にして、被覆金属粒子Dを得た。
Example 4 Coated metal particles D were obtained in the same manner as in Example 1 except that the silver fine particles were changed to In / Ag alloy fine particles (2 μm, manufactured by Vacuum Metallurgy Co., Ltd.).

【0051】[実施例5]被覆金属粒子Aを熱球形化機
(ホソカワミクロン社製:熱球形化機)により、200
℃加熱、急冷処理を行ない平滑化被覆金属粒子Eを得
た。
[Example 5] The coated metal particles A were subjected to thermal sphering (Hosokawa Micron Co., Ltd .: thermal sphering machine) for 200 hours.
After heating and quenching at ℃, smooth coated metal particles E were obtained.

【0052】[実施例6]被覆金属粒子Aをハイブリダ
イザー(奈良機械工業社製:ハイブリダイゼーションシ
ステム)により、12000rpm、10分間処理を行
ない平滑化被覆金属粒子Fを得た。
Example 6 The coated metal particles A were treated with a hybridizer (Nara Machinery Co., Ltd .: hybridization system) at 12,000 rpm for 10 minutes to obtain smooth coated metal particles F.

【0053】[実施例7]万能混合攪拌機(ダルトン社
製)に銀微粒子(同和鉱業社製、平均粒径3μm)25
0gを入れ、更にアセトン溶媒500mlおよびスチレ
ン/アクリル系樹脂(MP5000、総研化学社製)
2.53gを入れ、アセトン溶媒が蒸発するまで攪拌を
行なった。その後、ハイブリダイザーにより粉砕、53
μm篩による分級を実施し、被覆金属粒子Gを得た。
Example 7 Silver fine particles (manufactured by Dowa Mining Co., average particle size 3 μm) were placed in a universal mixing stirrer (manufactured by Dalton) 25
0 g, further add acetone solvent 500 ml and styrene / acrylic resin (MP5000, manufactured by Soken Chemical Co., Ltd.)
2.53 g was added, and the mixture was stirred until the acetone solvent was evaporated. Then, pulverized by a hybridizer, 53
Classification with a μm sieve was performed to obtain coated metal particles G.

【0054】[比較例1]樹脂および溶媒を熱硬化性樹
脂のフェノール樹脂(旭有機材社製)およびメチルアル
コールに変えた以外は、実施例7と同様にして、被覆金
属粒子Hを得た。
[Comparative Example 1] Coated metal particles H were obtained in the same manner as in Example 7 except that the resin and the solvent were changed to a phenol resin of thermosetting resin (manufactured by Asahi Organic Materials Co., Ltd.) and methyl alcohol. .

【0055】[比較例2]銅微粒子の粒径を3μmから
25μmに変えた以外は、実施例2と同様にして、被覆
金属粒子Iを得た。
Comparative Example 2 Coated metal particles I were obtained in the same manner as in Example 2, except that the particle size of the copper fine particles was changed from 3 μm to 25 μm.

【0056】[試験例1]被覆金属粒子A〜Iと樹脂被
覆キャリアを20:100の重量混合比で混ぜ、更に被
覆金属粒子の重量に対して0.7wt%の疎水性シリカを
添加、混合して現像剤を調製した。この現像剤を市販の
プリンタ(FS600、京セラ社製)の現像剤と入れ替
え、紙、PETフィルム、ガラス、ポリイミドの基材の
上に印刷を行ない、背景かぶりの状態、印刷部分の濃
度、定着安定性、細線部分の鮮明度を評価した。背景か
ぶり評価は、印刷面の無地部分(印刷していない部分)
の濃度をマクベスで測定した。また、印刷部分の濃度も
同様に測定した。また、定着安定性は、印刷、定着後に
手で擦ったときの印刷部分の剥がれ度合いを5段階(全
くはがれない場合を5、完全に剥がれてしまった場合を
1とした)で評価した。また、細線鮮明度は、テストパ
ターンで行なった。本発明の被覆金属粒子A〜Gについ
てはいずれの基材でも良好に印刷されたが、紙について
の評価結果を表1に示す。
Test Example 1 The coated metal particles A to I and the resin-coated carrier were mixed at a weight mixing ratio of 20: 100, and 0.7 wt% of hydrophobic silica was added to the weight of the coated metal particles and mixed. Thus, a developer was prepared. This developer is replaced with a commercially available printer (FS600, Kyocera Corporation) and printed on paper, PET film, glass, or polyimide base material, background fogging state, print density, fixing stability. And the sharpness of the fine line portion were evaluated. For background fog evaluation, the solid part of the print surface (the part that is not printed)
Was measured by Macbeth. The density of the printed portion was measured in the same manner. The fixing stability was evaluated in terms of the degree of peeling of the printed portion when rubbed by hand after printing and fixing in five stages (5 when peeling was not performed at all, and 1 when completely peeled). The fine line definition was measured using a test pattern. With respect to the coated metal particles A to G of the present invention, all of the substrates printed well, and the evaluation results for paper are shown in Table 1.

【0057】[0057]

【表1】 [Table 1]

【0058】※1:○:かぶり発生が全く見られない。
(目視で識別不可、測定値が白紙と同等) △:若干のかぶりが見られる。(目視で識別不可、測定
値が白紙の10%以上増加) ×:かぶりの発生が見られる。(目視で識別可能) ※2:○:濃度差が全く見られない。 ×:濃度差が見られる。 ※3:○:100μm間隔の細線が鮮明である。 ×:100μm間隔の細線が不鮮明であり、接触する部
分が認められる。
* 1: ○: No fogging is observed at all.
(Indistinguishable visually, measured value is equivalent to blank paper) Δ: Slight fog is observed. (Indistinguishable visually, measured value increased by 10% or more of blank paper) x: Fogging is observed. (It can be visually identified.) * 2: ○: No difference in density is observed. X: A density difference is observed. * 3: :: Fine lines at 100 μm intervals are clear. ×: Fine lines at 100 μm intervals are unclear, and a contact portion is observed.

【0059】[試験例2]被覆金属粒子A〜Iと樹脂被
覆キャリアを20:100の重量混合比で混ぜ、更に被
覆金属粒子の重量に対して0.7wt%の疎水性シリカを
添加、混合して現像剤を調製した。この現像剤を市販の
プリンタ(FS600、京セラ社製)の現像剤と入れ替
え、ガラス上に幅100μmの細線印刷を行なった後、
180℃で仮定着、600℃で焼結し導通を確認した。
Test Example 2 The coated metal particles A to I and the resin-coated carrier were mixed at a weight mixing ratio of 20: 100, and 0.7 wt% of hydrophobic silica was added to the weight of the coated metal particles and mixed. Thus, a developer was prepared. After replacing this developer with a developer of a commercially available printer (FS600, manufactured by Kyocera Corporation), and printing a fine line of 100 μm width on glass,
It was assumed to be worn at 180 ° C., sintered at 600 ° C., and conduction was confirmed.

【0060】[0060]

【表2】 [Table 2]

【0061】 ○:導通を確認 △:導通はあるものの著しい抵抗増加 ×:導通なし:: Confirmed continuity △: Significant increase in resistance although there was continuity ×: No continuity

【0062】[0062]

【発明の効果】本発明によれば、材料の無駄が少なく効
率的に製造できる液晶表示装置、半導体素子、半導体素
子用基板及び半導体素子配線用被覆金属粒子を提供でき
る。
According to the present invention, it is possible to provide a liquid crystal display device, a semiconductor element, a substrate for a semiconductor element, and coated metal particles for a semiconductor element wiring which can be manufactured efficiently with little waste of material.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の液晶表示装置の一実施形態を示す模式
図である。
FIG. 1 is a schematic view showing one embodiment of a liquid crystal display device of the present invention.

【図2】本発明の半導体素子の一実施形態を示す断面図
である。
FIG. 2 is a sectional view showing one embodiment of a semiconductor device of the present invention.

【図3】本発明の被覆金属粒子を用いて、ゲート電極を
形成する電子写真装置の概要を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing an outline of an electrophotographic apparatus for forming a gate electrode using the coated metal particles of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 液晶表示装置 30 半導体素子 31 ガラス基板(透明基板) 33 ゲート電極 62 基板 Reference Signs List 1 liquid crystal display device 30 semiconductor element 31 glass substrate (transparent substrate) 33 gate electrode 62 substrate

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H092 JA37 KA15 MA13 NA27 PA06 4M104 AA09 BB02 BB04 BB05 BB08 BB09 BB13 BB16 BB17 BB18 CC05 DD31 DD78 GG20 HH20 5C094 AA43 AA44 BA03 BA43 CA19 DB01 DB04 EA04 EA05 EA10 EB02 FA01 FA02 FB12 FB14 FB15 GB10 JA08  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2H092 JA37 KA15 MA13 NA27 PA06 4M104 AA09 BB02 BB04 BB05 BB08 BB09 BB13 BB16 BB17 BB18 CC05 DD31 DD78 GG20 HH20 5C094 AA43 AA44 BA03 BA43 CA19 DB01 FA04 EA04 EB04 EA04 EB04 FB15 GB10 JA08

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 透明基板上に、ゲート電極が電子写真法
による印刷で形成されている半導体素子を含むことを特
徴とする液晶表示装置。
1. A liquid crystal display device comprising a semiconductor element in which a gate electrode is formed by electrophotography on a transparent substrate.
【請求項2】 透明基板上に、ゲート電極が電子写真法
による印刷で形成されていることを特徴とする半導体素
子。
2. A semiconductor element, wherein a gate electrode is formed on a transparent substrate by electrophotographic printing.
【請求項3】 透明基板上に、ゲート電極が電子写真法
による印刷で形成されていることを特徴とする半導体素
子用基板。
3. A substrate for a semiconductor device, wherein a gate electrode is formed on a transparent substrate by electrophotographic printing.
【請求項4】 電子写真法に用いる、粒径が0.1〜2
0μmの金属粒子の表面を熱可塑性樹脂で被覆したこと
を特徴とする半導体素子配線用被覆金属粒子。
4. A particle size of 0.1 to 2 used in electrophotography.
A coated metal particle for a semiconductor element wiring, wherein a surface of a metal particle of 0 μm is coated with a thermoplastic resin.
【請求項5】 前記熱可塑性樹脂が、ポリオレフィン系
樹脂であることを特徴とする請求項4に記載の半導体素
子配線用被覆金属粒子。
5. The coated metal particles for semiconductor element wiring according to claim 4, wherein the thermoplastic resin is a polyolefin resin.
【請求項6】 前記熱可塑製樹脂が、前記金属粒子の表
面に触媒を担持し、直接オレフィンモノマーを重合する
ことにより形成されていることを特徴とする請求項5に
記載の半導体素子配線用被覆金属粒子。
6. The wiring according to claim 5, wherein the thermoplastic resin is formed by supporting a catalyst on the surface of the metal particles and directly polymerizing an olefin monomer. Coated metal particles.
【請求項7】 前記金属粒子が、Sn、Ag、Pb、B
i、Cu、In、Ni、Zn、W、Ta、Mo、Al、
Au、Crから選択される一種の元素からなる金属又は
二種以上の元素からなる合金であることを特徴とする請
求項4〜6のいずれか一項に記載の半導体素子配線用被
覆金属粒子。
7. The method according to claim 1, wherein the metal particles are Sn, Ag, Pb, B
i, Cu, In, Ni, Zn, W, Ta, Mo, Al,
The coated metal particle for a semiconductor element wiring according to any one of claims 4 to 6, wherein the metal is a metal composed of one kind of element selected from Au and Cr or an alloy composed of two or more kinds of elements.
JP2001142916A 2001-05-14 2001-05-14 Liquid crystal display device, semiconductor element, substrate for semiconductor element, and coated metal particles for semiconductor element wiring Pending JP2002341376A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001142916A JP2002341376A (en) 2001-05-14 2001-05-14 Liquid crystal display device, semiconductor element, substrate for semiconductor element, and coated metal particles for semiconductor element wiring

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001142916A JP2002341376A (en) 2001-05-14 2001-05-14 Liquid crystal display device, semiconductor element, substrate for semiconductor element, and coated metal particles for semiconductor element wiring

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002341376A true JP2002341376A (en) 2002-11-27

Family

ID=18989137

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001142916A Pending JP2002341376A (en) 2001-05-14 2001-05-14 Liquid crystal display device, semiconductor element, substrate for semiconductor element, and coated metal particles for semiconductor element wiring

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002341376A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005173048A (en) * 2003-12-09 2005-06-30 Ricoh Co Ltd Toner, semiconductor pattern forming method, semiconductor pattern forming apparatus, electronic element, electronic element array, display device, electronic apparatus
US7718346B2 (en) 2004-08-02 2010-05-18 Nec Lcd Technologies, Ltd. Method of forming wiring pattern and method of manufacturing TFT substrate using the same

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03166526A (en) * 1989-11-24 1991-07-18 Toppan Printing Co Ltd Production of active matrix substrate for liquid crystal display device
JPH03187948A (en) * 1989-08-31 1991-08-15 Dainippon Printing Co Ltd Composition for forming a conductive pattern and method for forming a conductive pattern
JPH0416857A (en) * 1990-05-11 1992-01-21 Nec Corp Manufacture of functional toner for forming circuit pattern
JPH0470850A (en) * 1990-07-12 1992-03-05 Minolta Camera Co Ltd Fine particles for constituting developer

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03187948A (en) * 1989-08-31 1991-08-15 Dainippon Printing Co Ltd Composition for forming a conductive pattern and method for forming a conductive pattern
JPH03166526A (en) * 1989-11-24 1991-07-18 Toppan Printing Co Ltd Production of active matrix substrate for liquid crystal display device
JPH0416857A (en) * 1990-05-11 1992-01-21 Nec Corp Manufacture of functional toner for forming circuit pattern
JPH0470850A (en) * 1990-07-12 1992-03-05 Minolta Camera Co Ltd Fine particles for constituting developer

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005173048A (en) * 2003-12-09 2005-06-30 Ricoh Co Ltd Toner, semiconductor pattern forming method, semiconductor pattern forming apparatus, electronic element, electronic element array, display device, electronic apparatus
US7718346B2 (en) 2004-08-02 2010-05-18 Nec Lcd Technologies, Ltd. Method of forming wiring pattern and method of manufacturing TFT substrate using the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002343235A (en) Plasma display panel, back substrate and front substrate for plasma display panel, and coated metal particles for wiring of plasma display panel
EP0829770B1 (en) Electrophotographic carrier and electrophotographic developer using same
JP3930873B2 (en) Two-component developer and two-component developing apparatus using the same
JP4207224B2 (en) Image forming method
JP3890292B2 (en) Circuit forming developer and circuit forming method using the same
JP2002341376A (en) Liquid crystal display device, semiconductor element, substrate for semiconductor element, and coated metal particles for semiconductor element wiring
JP2018189833A (en) Electrostatic latent image developing carrier and manufacturing method thereof
JP2005215397A (en) Electrophotographic carrier and two-component developer
JP2003209352A (en) Coating sintering aid and electrode pattern forming method using the same
WO1998026332A1 (en) Carrier for electrophotography and developer using the carrier
JP6221508B2 (en) Storage liquid supply device for coating liquid for carrier coating, carrier, developer, developer for replenishment, and process cartridge
JP3535082B2 (en) Electrostatic image developing toner and image forming method
WO1997003383A1 (en) Carrier for electrophotography and developing material for electrophotography using same
JPH08254857A (en) Carrier for development of electrostatic latent image and electrostatic latent image developer
JP3926937B2 (en) Electrophotographic carrier, method for producing electrophotographic carrier, and electrophotographic developer using electrophotographic carrier
JP3232280B2 (en) Metallic toner for forming conductive pattern, method for producing metallic toner for forming conductive pattern, and method of using metallic toner for forming conductive pattern
JP4174441B2 (en) Method for manufacturing magnetic material-dispersed resin carrier core, method for manufacturing magnetic material-dispersed resin carrier, magnetic material-dispersed resin carrier, and image forming method
JPH0470858A (en) Electrostatic latent image developing method
KR100548884B1 (en) A carrier for electrophotography and method thereof, and a developing agent for electrophotography using same
JP2005316306A (en) Two-component developer for electrophotography
JP2002244342A (en) Electrostatic image developer and method of forming conductive wiring pattern using the same
JPH09304974A (en) Carrier for developing electrostatic charge image, developer and developing method
JPH0213972A (en) Electrostatic image developing carrier
JP2003086926A (en) Chargeable particles, bonding material, electronic circuit board, their manufacturing method, bonding pattern forming method and apparatus therefor
JPH0470854A (en) Developer

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071106

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20101208

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110118

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20120207