JP2002340930A - 導電性接触子用支持体 - Google Patents
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- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 claims abstract description 81
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 claims abstract description 81
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 claims abstract description 45
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 39
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 26
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 26
- 239000004745 nonwoven fabric Substances 0.000 claims abstract description 25
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 claims abstract description 15
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 8
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 22
- 239000000835 fiber Substances 0.000 abstract description 11
- 239000012779 reinforcing material Substances 0.000 abstract description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 28
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 20
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 16
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 12
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 9
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 8
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 8
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 229920000106 Liquid crystal polymer Polymers 0.000 description 5
- 239000004977 Liquid-crystal polymers (LCPs) Substances 0.000 description 5
- 239000004695 Polyether sulfone Substances 0.000 description 5
- 239000004697 Polyetherimide Substances 0.000 description 5
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 5
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 5
- 229920001601 polyetherimide Polymers 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- 239000004962 Polyamide-imide Substances 0.000 description 4
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 229920002312 polyamide-imide Polymers 0.000 description 4
- 229910001374 Invar Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004734 Polyphenylene sulfide Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 229920000069 polyphenylene sulfide Polymers 0.000 description 2
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 2
- 229920000049 Carbon (fiber) Polymers 0.000 description 1
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- 239000004917 carbon fiber Substances 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- -1 for example Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 238000009940 knitting Methods 0.000 description 1
- 229910000833 kovar Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
- G01R1/06722—Spring-loaded
-
- G—PHYSICS
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
- G01R1/07378—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
- Braking Arrangements (AREA)
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Abstract
低廉化する。 【解決手段】 補強板3が埋設された状態の合成樹脂層
体6を3枚重ね合わせ、さらに加熱して一体化し、補強
板の各開口3aに対応する部分に各ホルダ孔2の加工を
行って支持体1を形成する。これにより、補強材により
支持体全体の強度を高めることができると共に、補強板
を複数枚重なり合うように設けることから、各補強板に
薄肉のものを用いることができるため複数の孔開き形状
における桟が細い場合の加工も容易に行うことができ、
そのような形状に対する加工コストを低廉化し得る。ま
た、合成樹脂層体を、不織布に熱硬化性樹脂を含浸させ
た合成樹脂材により形成することにより、不織布の繊維
が細かくかつ短いため、工具による加工性が向上し、加
工コストを低減し得る。
Description
検査工程で使用される導電性接触子用支持体において、
特にウェハ・レベル・テストに適する導電性接触子用支
持体に関するものである。
高温雰囲気(約150度)下で電圧を印加して長時間
(数時間〜数十時間)テストするバーンインテストが行
われているが、パッケージ・レベルでのバーンインテス
トでは歩留まりが悪く、ウェハ・レベル(例えば直径2
00mmのウェハ)でのバーンインテストの実施により
歩留まりを高めることが要求されるようになってきた。
したがって、ウェハ・レベルのバーンインテストに使用
される多点同時測定可能な導電性接触子ユニット(コン
タクトプローブユニット)にあっては、特にその導電性
接触子用支持体の耐熱性や熱膨張率が重要になる。
クトプローブユニットとしては、各導電性針状体を被接
触体に弾発的に接触させてウェハ上の対象となる各電極
間の高さばらつきを許容する構造にすると良く、その一
例を図10に示す。図10にあって、板状支持体21に
厚さ方向に貫通する段付き孔形状のホルダ孔2が形成さ
れており、そのホルダ孔2の小径孔2aにより導電性針
状体23が出没自在に受容され、その大径孔2bに導電
性コイルばね14が受容されている。導電性針状体23
は、大径孔2b内に受容された外向フランジ部23aを
有し、さらに大径孔2b内で導電性針状体23の外向フ
ランジ部23aから延出する軸部23bに一方のコイル
端部が巻き付けられたコイルばね24により弾発付勢さ
れている。なお、コイルばね24の他方のコイル端部
は、支持体21に積層された配線板25の各端子25a
に弾発的に接触している。これらの端子25aは図示さ
れないテスターの電気回路に接続されている。
るように支持体21に並列に配設して多点同時測定可能
なコンタクトプローブユニットが構成される。そして、
被接触体としてのウェハ26(検査対象)の各電極26
aに導電性針状体23の針先を弾発的に押し当てて、電
気的検査を実施する。
26の各電極26aに対する多点同時測定のためには、
ウェハ26上の多数の電極26aと同数の導電性接触子
を支持体21に配設しなければならず、支持体21に設
ける多数のホルダ孔2を精密孔加工する必要がある。さ
らに、バーンインテストでは例えば125〜150度の
高温雰囲気が数十時間持続されるため、コンタクトプロ
ーブユニットにあっては耐熱性や低熱膨張率が重要視さ
れる。
熱性や低熱膨張率を有する材料として、シリコンを含め
て例えばセラミックスやガラスあるいはインバーなどの
低熱膨張金属があるが、シリコンにあっては加工速度が
遅いばかりでなく絶縁加工が必要であり、セラミックス
は難削材であり、ガラスにあっては加工精度のばらつき
が大きいため歩留まりが悪く、低熱膨張金属は難削材か
つ絶縁加工を必要とする。そのため、支持体にそれらの
材質のものを使用して多数の精密孔を加工した場合に
は、生産性が極めて低く、生産コストが高騰化するとい
う問題があった。
成樹脂材などが好適であるが、板状支持体に多数の導電
性接触子を高密度に配設したコンタクトプローブユニッ
トにあっては、多数の導電性接触子による集中した圧力
により支持体が反るおそれがあり、また熱膨張により導
電性接触子(導電性針状体)の位置がずれるおそれもあ
り、そのような場合には接触ポイントがずれてしまうと
いう問題がある。
上記高温下でのテストに限られず、例えば約80度(こ
れを高温とみなすことも考えられる)で行う場合や、W
LT(ウェハ・レベル・テスト)でシリコンウェハ上の
パターンに対して検査する際には一括コンタクトが困難
で、各パターンを個々に検査するには非常に高精度な位
置決めが要求されるために常温(通常の生活温度)で行
う場合があり、このような場合でも上記接触ポイントの
ずれを防止するために高精度な導電性接触子用支持体を
用いることが望まれる。
るために、本発明は、ウェハ・レベル・テストに応じた
多点同時測定用導電性接触子用支持体をテスト条件に応
じて高精度かつ低コスト化し得ることを目的とする。
触させる複数の導電性接触子を並列に配設した状態で支
持するための導電性接触子用支持体であって、前記支持
体が、その厚さ方向に重なり合うように配設された複数
の補強板を埋設した合成樹脂材により形成されているも
のとした。これによれば、補強板により支持体全体の強
度を高めることができると共に、補強板を複数枚重なり
合うように設けることから、各補強板に薄肉のものを用
いることができるため複数の孔開き形状における桟が細
い場合の加工も容易に行うことができ、そのような形状
に対する加工コストを低廉化し得る。
された合成樹脂層体を複数枚積層して形成されているこ
とにより、各合成樹脂層体を薄板状に形成することがで
き、各層の寸法精度の高精度化により積層後の精度を高
精度化し易いばかりでなく、合成樹脂層体が1枚では十
分な厚みを確保できない場合でも積層により必要な厚さ
にすることができる。
化性樹脂を含浸させたものであることによれば、その合
成樹脂材を加熱しまたは加熱かつ加圧して支持体を形成
することができ、その支持体に導電性接触子を組み付け
るホルダ孔を形成する際に、例えばプリプレグやガラス
エポキシ樹脂で形成した部材に加工する場合に比べて不
織布の繊維が細かくかつ短いため、工具による加工性が
向上し、加工コストを低減し得る。
数枚の合成樹脂板を積層して形成され、前記合成樹脂層
体同士が加熱・加圧により一体化されていることによ
り、合成樹脂層体を、より一層薄い合成樹脂板を補強板
に複数枚積層して形成することから、精度良くかつ容易
に成形することができる。
化性樹脂を含浸させて形成されていることによれば、支
持体に導電性接触子を組み付けるホルダ孔を形成する際
に上記と同様に工具による加工性が向上し、加工コスト
を低減し得る。
電性接触子を並列に配設した状態で支持するための導電
性接触子用支持体であって、前記支持体が、前記導電性
接触子のホルダ孔を形成する部分に設けられた合成樹脂
体と、前記合成樹脂体の最外周に接着固定された環状補
強部材とからなるものとした。これによれば、補強部材
を環状に形成するという簡単な形状で良く、したがって
簡単な構造で支持体の強度を確保することができる。
電性接触子を並列に配設した状態で支持するための導電
性接触子用支持体であって、前記支持体が、不織布に熱
硬化性樹脂を含浸させて形成されていること、または前
記支持体が、複数の部材を互いに重ね合わせて形成さ
れ、かつ前記複数の部材の少なくとも1つが不織布に熱
硬化性樹脂を含浸させて形成されているものとした。こ
れによれば、不織布に熱硬化性樹脂を含浸させて形成し
た部材にあっては、それに導電性接触子を組み付けるホ
ルダ孔を形成する際に、例えばプリプレグやガラスエポ
キシ樹脂で形成した部材に加工する場合に比べて不織布
の繊維が細かくかつ短いため、工具による加工性が向上
し、加工コストを低減し得る。そして、複数の部材の他
のものを例えばセラミックスやガラスウェハ、あるいは
LCP(液晶ポリマー)、PES(ポリ・エーテル・サ
ルフォン)、PEI(ポリ・エーテル・イミド)、PP
S(ポリ・フェミニレン・サルファイド)、PAI(ポ
リ・アミド・イミド)などの合成樹脂材とすることによ
り、雰囲気温度の違い(常温〜約150度)や導電性接
触子のピッチの大きさ(要求される精度の違い)に合わ
せて最適な組合せによる支持体を構成することができ
る。
例に基づいて本発明の実施の形態について詳細に説明す
る。
ユニットに用いられる支持体1の平面図であり、図2は
図1の矢印II−II線に沿って見た要部拡大側断面図であ
る。図では、支持体1に組み合わされる導電性針状体及
びコイルばねの図示を省略しているが、導電性接触子は
従来例と同様であって良い。
には、本支持体1の大きさは、直径8インチ(約200
mm)前後の図に示されるような円形板状であって良
い。また8インチ・ウェハの場合には、その面積の中に
数十個〜数百個の半導体チップが形成されている。さら
に、12インチ・ウェハの場合には数千個の半導体チッ
プが形成される。
には、被接触体である図示されないウェハに形成された
複数のチップの各電極(従来例で示したものと同様であ
って良い)に対応するように複数の導電性接触子用のホ
ルダ孔2が設けられている。また、ホルダ孔2の形状は
従来例で示したものと同じであって良い。図1に示され
るように各ホルダ孔2はチップ単位に集まっており、そ
れら集合部分毎に外囲する開口を有しかつ支持体1の外
周面近傍に至る全体として円板形状をなす補強板3が支
持体1内に埋設状態に一体化されている。
板3にインバーやコバールなどの耐熱性を有する低熱膨
張金属をエッチングやレーザー、プレスあるいは他の機
械加工によりチップ単位の開口3aを複数有するプレー
ト状に形成したものを用いることができる。そして、図
2に示されるように、支持体1を構成するべく互いに重
ね合わされた複数枚(図示例では3枚)の合成樹脂層体
6のそれぞれに補強板3が埋設された状態の構造になっ
ており、そのようにして支持体1の厚さ方向に複数枚配
設された補強板3を一体化してなる支持体1が形成され
ている。また、ホルダ孔2を設ける部分である上記開口
3aを埋めるように設けられた合成樹脂材に対してホル
ダ孔2が加工されている。
孔2の加工容易な材質としてのPPS(ポリ・フェニレ
ン・サルファイド)・LCP・PES・PEIなどの合
成樹脂材にすることにより、孔加工を容易に行うことが
できると共に高精度化し得るため、ウェハ・レベルに対
応可能な狭ピッチかつ高精度なホルダ孔加工を行うこと
ができる。
り樹脂を用いると良い。プリプレグの場合には、高剛性
・高強度・低熱膨張・高寿命になり、ガラス入り樹脂の
場合には、高温・高圧に耐え耐食性も良い。なお、ガラ
ス入り樹脂には、微細なガラス棒を樹脂材と混ぜ合わせ
たものや、ガラスエポキシ樹脂などがある。これらプリ
プレグやガラス入り樹脂を用いた場合には、樹脂の伸び
が低減されるため、雰囲気が変わってもホルダ孔2間の
ピッチ精度を確保でき、ウェハ・レベルのバーンインテ
ストなどに特に有効である。
3及び図4を参照して以下に示す。図3(a)に示され
るように、厚さが0.15〜0.5mm程度の補強板3
の図における上下の各面に対して、例えば3枚ずつの薄
板状(例えば厚さ0.18mm)の合成樹脂板4a・4
b・4c及び5a・5b・5cを矢印に示されるように
それぞれ積層する。その積層状態のものを加熱・加圧
し、図3(b)に示されるように補強板3をインサート
モールドなどにより合成樹脂材中に埋設した状態に一体
化して、1部材となる合成樹脂層体6を形成する。
5cの材質は、上記したようにプリプレグやガラス入り
樹脂、または不織布を含む合成樹脂であると良い。この
場合に、ガラス繊維などにできるだけ細いものを用いる
ことにより、合成樹脂板4a〜4c・5a〜5cの厚さ
を薄くすることができ、合成樹脂層体6をより一層高精
度にかつ容易に成形することができる。また、ガラス繊
維を細くすることにより、プリプレグやガラス入り樹脂
などにおけるガラス繊維の密度を高めることができ、そ
れによりガラス繊維間に樹脂が流れ込む隙間が小さくな
り、樹脂の溶け込み量の低減により樹脂密度が低下する
ため、耐熱膨張を好適に抑えることができる。なお、合
成樹脂層体6にあっては、図3(b)に示されるように
補強板3の開口3a内に、上記加熱・加圧加工により合
成樹脂板4a〜4c・5a〜5cの一部が溶け込んで埋
まっている。
を図4(a)に示されるように例えば3枚重ね合わせ、
接着または加熱して図4(b)に示されるように一体化
し、各開口3aに対応する部分に各ホルダ孔2の加工を
行うことにより、図2に示されるように支持体1が形成
される。
より、1部材の厚板構造から加工して形成するよりも薄
板構造のため各合成樹脂層体6の寸法精度を高めること
ができ、それらの積層後の精度を出し易いため、支持体
1として形成されたものにおける仕上がり寸法を容易に
高精度化し得る。なお、使用状態においては、補強板3
により支持体1の熱変形が防止されるため、多数の導電
性接触子を用いるウェハ・レベルのバーンインテスト用
導電性接触子ユニットの支持体に好適であり、シリコン
を含めたセラミックスやガラスあるいはインバーなどの
低熱膨張金属などの単一材を用いて孔加工した場合に対
して加工コストを低廉化し得ると共に、寸法精度に対す
るコストパフォーマンスが良い。
す。なお、図5において上記図示例と同様の部分につい
ては同一の符号を付してその詳しい説明を省略する。こ
の第2の例にあっては、補強板3の一面(図における下
面)を露出させるように一体化(インサートモールドな
ど)された3枚の合成樹脂層体7a・7b・7cを重ね
合わせ、最下面に露出する補強板3を覆うべく1枚の合
成樹脂材のみからなる合成樹脂層体7dをさらに重ね合
わせて、上記第1の例と同様の支持体1を形成してい
る。このようにしても、上記と同様の作用効果を奏し得
る。
の図6にあっても、上記図示例と同様の部分については
同一の符号を付してその詳しい説明を省略する。この第
3の例にあっては、例えば5枚の補強板3を予め互いに
接触した状態に重ね合わせ、その上下に複数枚ずつの合
成樹脂板4a〜4c・5a〜5cを積層し、上記図示例
と同様にして一体化されて形成されている。この場合に
は、1枚ずつの補強板3を上記各図示例のものに対して
より一層薄く形成することができるため、板厚が厚い場
合には形成困難な例えば各開口3a間の桟に相当する部
分が細い場合に好適に対処し得る。
す。この第4の例における支持体1にあっては、各ホル
ダ孔2を形成する部分には厚板状の合成樹脂体7が設け
られ、その合成樹脂体7を外囲するように形成された環
状補強部材8を耐熱性接着材9により合成樹脂体7の外
周面に固着して形成されている。このようにすることに
より、合成樹脂体7に前記各図示例における補強板3を
インサートモールドなどする必要が無く、加工が容易で
ありかつ安価に製作することができる。また、補強部材
8を合成樹脂体7に接着材9により固着して一体化する
ことから、製造工程も簡略化され、製造コストを低コス
ト化し得る。
す。この第6の例における支持体1にあっては各部材の
構成は上記各例と同様であって良く、図8には、その代
表例として第1の例における図2に対応するものを示
す。したがって、図2と同様の部分については同一の符
号を付してその詳しい説明を省略する。
は、不織布に熱硬化性樹脂を含浸させた合成樹脂材を用
い、その合成樹脂材中に第1の例と同様に補強板3を埋
設し、その状態で加熱または加熱しかつ加圧して板状体
に形成されたものである。この不織布に含まれる繊維に
あっては、例えばガラス繊維の他に、炭素繊維やシリカ
などが、使用条件などに応じて適用可能である。いずれ
にしても、プリプレグやガラスエポキシ樹脂(長いガラ
ス繊維を束にして撚ったものを縦緯糸として編んだもを
基材とし、エポキシ樹脂を含浸したもの)に比べて細か
く短い繊維となる。なお、温度の高さや強度(反り防止
/補強板の開口間部分の変形防止)面からガラス繊維が
適当である。
されるように合成樹脂層体11を積層したものに対し
て、図の右側に示されるようにホルダ孔2を例えばドリ
ルにより加工する場合に、孔明け対象の各合成樹脂層体
11に含まれる不織布が、プリプレグやガラスエポキシ
樹脂に比べて細かく短い繊維からなることから、ドリル
先端が繊維に当たって位置がずれてしまうことを防止す
ることができる。これは、不織布の繊維が上記したガラ
ス繊維などの場合に特に有効である。したがって、上記
プリプレグやガラスエポキシ樹脂を用いた場合に対し
て、何ら劣ることがない強度を確保し、かつ加工精度を
高めることができるため導電性接触子のピッチの高精度
化に容易に対応でき、半導体関連部品の検査において精
度を必要とする場合に有効であり、それが高温下で行わ
れる場合であっても何ら問題がない。
す。この第6の例における支持体12にあっては、図に
示されるように2部材12a・12bを互いに重ね合わ
せて形成されている。なお、これら2部材12a・12
bは、メンテナンス時に分解できるように互いにビス止
めされている。
する段付き孔形状のホルダ孔13が形成されており、図
に示されるように両部材12a・12bを重ね合わせた
状態で、ホルダ孔13の各小径孔13aが支持体12の
厚さ方向両外面に臨み、ホルダ孔13の各大径孔13b
が整合するようになっている。その小径孔13aにより
導電性針状体14の針状部14aが出没自在に支持され
て良く、その大径孔13bに導電性コイルばね15があ
る程度たわむことができる程度に受容されている。
拡径されかつ大径孔13bに受容される外向フランジ部
14bと、その外向フランジ部14bから針状部14a
とは相反する向きに突設された小径のボス部14cと、
そのボス部14cより縮径されかつボス部14cに突設
された状態の軸部14dとが、針状部14aと同軸的に
かつそれぞれ円形断面形状にて設けられている。なお、
図における上側(ウェハ26の各電極26aに接触させ
る側)の導電性針状体14の軸部14dが長く形成さ
れ、下側の導電性針状体14の軸部14dが短く形成さ
れている。
されていて良く、その一方のコイル端側に粗巻き部が、
他方のコイル端側に密着巻き部がそれぞれ所定長設けら
れており、各コイル端部が、各導電性針状体14のボス
部14cにそれぞれ嵌合している。この嵌合状態は、コ
イルばね15の巻き締め力により、コイルばね15と両
導電性針状体14とが仮組み付け状態で一体的に結合さ
れた状態になる程度であって良い。このようにすること
により、組み付け時の取り扱い性が良いと共に、メンテ
ナンス時にも導電性針状体14を導電性コイルばね15
に対してその巻き締め力を緩める方向に回すことにより
簡単に外すことができる。
は互いに対称形をなしているがこれに限定されるもので
はない。また、図示例では2部材12a・12bを重ね
合わせたものが示されているが、例えば2部材12a・
12b間に中間部材を挟持した三層構造であっても良
く、3部材以上であって良い。
が構成され、両導電性針状体14は、その外向フランジ
部14bが小径孔13aと大径孔13bとの間の肩部に
当たって抜け止めされ、その状態で導電性コイルばね1
5が所定量圧縮されて、両導電性針状体14には初期荷
重が発生するようになっている。なお、図における下側
の導電性針状体14の針状部14aは、使用状態では従
来例と同様に支持体12に積層される配線板25の各端
子25aに弾発的に接触する。
性コイルばね15がたわむことから、図示例では、上側
導電性針状体14の軸部14dの突出端部が導電性コイ
ルばね15の密着巻き部の端部に接触するようにそれぞ
れの長さが設定されている。このようにすることによ
り、公差の違いなどで相手電極26aの高さが不揃いの
ため没入深さが浅い導電性針状体14が生じる場合であ
っても必ず密着巻き部を介して電流を流すことができ、
常に電流がコイル状に流れることが無く、導通抵抗を低
くかつ安定させることができる。なお、配線板25を組
み付けた状態で上記接触状態になるようにしても良い。
ずしも同じである必要はなく、上記不織布に熱硬化性樹
脂を含浸させた合成樹脂材により形成したものと、例え
ばセラミックやガラスウェハやLCP・PES・PEI
・PAIなどの合成樹脂材により形成したものとを組み
合わせることができる。このようにすることにより、使
用環境(例えば常温のみならず約80度、さらに約15
0度など)や電極26aのピッチが違うものに対応させ
て、最適な組合せにすることができる。なお、上記80
度及び150度は一例であり、その温度を限定するもの
ではなく、常温から約150度に至る任意の温度による
テストに対して適用可能である。
の場合について以下に示す。温度が約150度の場合に
は、ウェハ側(図示例では12a)をセラミックス製と
し、配線板側(図示例では12b)をガラス繊維または
充填材(短冊状の繊維やビーズ状のもの)を含む合成樹
脂材に補強板を設けたもの(例えば第1の例の構造)と
すると良い。このようにすることにより、高温側のウェ
ハ側を熱に強い材質として高温かつ狭ピッチに対応でき
ようにし、配線板側を高温に対して強度を保持し得る補
強板を含む上記した構造としかつ加工容易性を確保する
ことができる。
ラス繊維または充填材を含む合成樹脂材に補強板を設け
たものとし、配線板側をガラス繊維または充填材を含む
合成樹脂材で形成し補強板を含めなくても良いものとす
ることができる。この構成であっても、温度変化に対し
て精度維持を充分耐えることができ、上記セラミックス
を用いた場合の製造コストを90とすると35程度まで
下げることができる。
樹脂材のみで形成し、配線板側をガラス繊維または充填
材を含む合成樹脂材で形成し補強板を含めなくても良い
ものとすることができる。この場合には上記セラミック
スを用いた場合の製造コストの90に対して20程度ま
で下げることができる。
触子ピッチの細かさにより組合せは多く、適宜選択可能
である。
り支持体全体の強度を高めることができると共に、補強
板を複数枚重なり合うように設けることから、各補強板
に薄肉のものを用いることができるため複数の孔開き形
状における桟が細い場合の加工も容易に行うことがで
き、そのような形状に対する加工コストを低廉化し得
る。
を複数枚積層して支持体を形成することにより、各合成
樹脂層体を薄板状に形成することができ、各層の寸法精
度の高精度化により積層後の精度を高精度化し易いばか
りでなく、合成樹脂層体が1枚では十分な厚みを確保で
きない場合でも積層により必要な厚さにすることができ
る。さらに、合成樹脂層体を前記補強板に複数枚の合成
樹脂板を積層して形成し、合成樹脂層体同士を加熱・加
圧により一体化することにより、合成樹脂層体を、より
一層薄い合成樹脂板を積層して形成することから高精度
にかつ容易に成形することができ、また任意の厚さのも
のを容易に製作できる。
を含浸させたものとすることにより、その合成樹脂材を
加熱しまたは加熱かつ加圧して支持体を形成することが
でき、その支持体に導電性接触子を組み付けるホルダ孔
を形成する際に、例えばプリプレグやガラスエポキシ樹
脂で形成した部材に加工する場合に比べて不織布の繊維
が細かくかつ短いため、工具による加工性が向上し、加
工コストを低減し得ると共に、ドリル先端が繊維に当た
って位置がずれてしまうことを防止することができ、容
易に強度の高い支持体における高精度な孔加工をするこ
とができるため、半導体関連部品の電極がより一層ファ
インピッチ化されても対応可能である。
する部分に合成樹脂体を設け、合成樹脂体の最外周に環
状補強部材を接着固定することにより、簡単な構造で支
持体の強度を確保することができる。
を含浸させて形成されていること、または不織布に熱硬
化性樹脂を含浸させて形成された部材を有する複数の部
材を互いに重ね合わせて支持体を形成することにより、
補強部材を設けることなく、支持体自身の強度を高める
ことができ、かつ導電性接触子のホルダ孔を形成する際
に上記と同様の効果を奏し得ると共に、複数の部材の他
のものを例えばセラミックスやガラスウェハやLCP・
PES・PEI・PAIなどの合成樹脂材とすることに
より、雰囲気温度の違い(常温〜約150度)や導電性
接触子のピッチの精度(テスト対象品の端子ピッチに対
する許容位置ずれ量の大きさ)に合わせて最適な組合せ
による支持体を構成することができる。
いられる支持体の平面図。
図。
大側断面図であり、(b)は合成樹脂層体を示す要部拡
大側断面図である。
面図であり、(b)はホルダ孔加工前の支持体を示す要
部拡大側断面図である。
を破断して示す側断面図。
して示す側断面図。
ス部、14d 軸部 15 導電性コイルばね 21 支持体 23 導電性針状体、23a 外向フランジ部、23b
軸部 24 コイルばね 25 配線板、25a 端子 26 ウェハ、26a 電極
Claims (8)
- 【請求項1】 被接触体に接触させる複数の導電性接触
子を並列に配設した状態で支持するための導電性接触子
用支持体であって、 前記支持体が、その厚さ方向に重なり合うように配設さ
れた複数の補強板を埋設した合成樹脂材により形成され
ていることを特徴とする導電性接触子用支持体。 - 【請求項2】 前記支持体が、前記補強板が一体化され
た合成樹脂層体を複数枚積層して形成されていることを
特徴とする請求項1に記載の導電性接触子用支持体。 - 【請求項3】 前記合成樹脂材が、不織布に熱硬化性樹
脂を含浸させたものであることを特徴とする請求項1若
しくは請求項2に記載の導電性接触子用支持体。 - 【請求項4】 前記合成樹脂層体が前記補強板に複数枚
の合成樹脂板を積層して形成され、前記合成樹脂層体同
士が加熱・加圧により一体化されていることを特徴とす
る請求項2に記載の導電性接触子用支持体。 - 【請求項5】 前記合成樹脂板が、不織布に熱硬化性樹
脂を含浸させて形成されていることを特徴とする請求項
4に記載の導電性接触子用支持体。 - 【請求項6】 被接触体に接触させる複数の導電性接触
子を並列に配設した状態で支持するための導電性接触子
用支持体であって、 前記支持体が、前記導電性接触子のホルダ孔を形成する
部分に設けられた合成樹脂体と、前記合成樹脂体の最外
周に接着固定された環状補強部材とからなることを特徴
とする導電性接触子用支持体。 - 【請求項7】 被接触体に接触させる複数の導電性接触
子を並列に配設した状態で支持するための導電性接触子
用支持体であって、 前記支持体が、不織布に熱硬化性樹脂を含浸させて形成
されていることを特徴とする導電性接触子用支持体。 - 【請求項8】 被接触体に接触させる複数の導電性接触
子を並列に配設した状態で支持するための導電性接触子
用支持体であって、 前記支持体が、複数の部材を互いに重ね合わせて形成さ
れ、かつ前記複数の部材の少なくとも1つが不織布に熱
硬化性樹脂を含浸させて形成されていることを特徴とす
る導電性接触子用支持体。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001244702A JP5075309B2 (ja) | 2001-03-16 | 2001-08-10 | 導電性接触子用支持体 |
| MYPI20020926A MY135404A (en) | 2001-03-16 | 2002-03-14 | Support member assembly for electroconductive contact members |
| TW091104979A TWI275799B (en) | 2001-03-16 | 2002-03-15 | Support member assembly for electroconductive contact members |
| US10/472,315 US7053635B2 (en) | 2001-03-16 | 2002-03-15 | Support member assembly for electroconductive contact members |
| PCT/JP2002/002497 WO2002075329A2 (en) | 2001-03-16 | 2002-03-15 | Support member assembly for electroconductive contact members |
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001076833 | 2001-03-16 | ||
| JP2001076833 | 2001-03-16 | ||
| JP2001-76833 | 2001-03-16 | ||
| JP2001244702A JP5075309B2 (ja) | 2001-03-16 | 2001-08-10 | 導電性接触子用支持体 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2011157322A Division JP2011252916A (ja) | 2001-03-16 | 2011-07-18 | 導電性接触子用支持体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002340930A true JP2002340930A (ja) | 2002-11-27 |
| JP5075309B2 JP5075309B2 (ja) | 2012-11-21 |
Family
ID=26611468
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001244702A Expired - Lifetime JP5075309B2 (ja) | 2001-03-16 | 2001-08-10 | 導電性接触子用支持体 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7053635B2 (ja) |
| JP (1) | JP5075309B2 (ja) |
| MY (1) | MY135404A (ja) |
| TW (1) | TWI275799B (ja) |
| WO (1) | WO2002075329A2 (ja) |
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| KR102664541B1 (ko) | 2021-11-10 | 2024-05-09 | 주식회사 티에프이 | 반도체 소자 테스트용 러버 소켓 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TWI275799B (en) | 2007-03-11 |
| US7053635B2 (en) | 2006-05-30 |
| US20040157475A1 (en) | 2004-08-12 |
| MY135404A (en) | 2008-04-30 |
| WO2002075329A2 (en) | 2002-09-26 |
| WO2002075329A3 (en) | 2003-07-03 |
| JP5075309B2 (ja) | 2012-11-21 |
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