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JP2002231668A - Slurry transfer device - Google Patents

Slurry transfer device

Info

Publication number
JP2002231668A
JP2002231668A JP2001024836A JP2001024836A JP2002231668A JP 2002231668 A JP2002231668 A JP 2002231668A JP 2001024836 A JP2001024836 A JP 2001024836A JP 2001024836 A JP2001024836 A JP 2001024836A JP 2002231668 A JP2002231668 A JP 2002231668A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
slurry
valve
sleeve
flow path
transfer device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001024836A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Seishi Harada
晴司 原田
Tadashi Denda
正 伝田
Yoshiki Kobayashi
小林  芳樹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ZEBIOSU KK
Mitsubishi Materials Silicon Corp
Original Assignee
ZEBIOSU KK
Mitsubishi Materials Silicon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ZEBIOSU KK, Mitsubishi Materials Silicon Corp filed Critical ZEBIOSU KK
Priority to JP2001024836A priority Critical patent/JP2002231668A/en
Publication of JP2002231668A publication Critical patent/JP2002231668A/en
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Pipe Accessories (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent cogging in a valve due to the deposition of liberation abrasive grain by a slurry transfer device, and to enhance durability in the valve. SOLUTION: Pinch valves V1 and V2 are arranged in the slurry channel. Even if the slurry containing the liberation abrasive grain flows, liquid cannot be collected easily in the inner channel of the valve casing, thus preventing clogging in the valve due to the deposition of the liberation abrasive grain in the liquid reservoir or the like. Especially, since the sleeve of the pinch valve is made of a copolymerization elastomer of tetrafluoroethylene resin and silicone rubber, the liberation abrasive grain cannot easily adhere onto the inner- periphery surface, even if the slurry is made to flow. Additionally, durability of the sleeve is superior, thus prolonging the life time of the valve, and enabling the slurry transfer device to be applied to a slurry supply pipe for the polishing device of a semiconductor wafer, CMP, a substrate-polishing device for liquid crystal, or the like.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明はスラリー移送装
置、詳しくはウェーハ研磨などに使用される粘性が高い
スラリーを移送する際、バルブ部分でスラリーの詰まり
が発生しにくいスラリー移送装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a slurry transfer device, and more particularly, to a slurry transfer device which is less likely to cause clogging in a valve portion when transferring highly viscous slurry used for wafer polishing or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】エッチングされたシリコンウェーハは、
次のポリッシング工程にて、その表面に機械的化学的研
磨が施される。ここでは研磨装置を使用し、そのウェー
ハ表面を平滑で無歪の鏡面に仕上げる。従来、研磨装置
の1種として、シリコンウェーハを1枚ずつ表面研磨す
る枚葉式のウェーハ研磨装置が知られている。この枚葉
式のウェーハ研磨装置は、上面に研磨布が展張された研
磨定盤と、研磨定盤の上方に対向配置された研磨ヘッド
と、研磨ヘッドに着脱自在に取り付けられ、下面に1枚
のシリコンウェーハが貼着される円盤状のキャリアプレ
ートとを備えている。シリコンウェーハの枚葉研磨時に
は、ノズルを介して、研磨布上にコロイダルシリカ(シ
リカゾル)などの遊離砥粒を含む研磨剤(スラリー)を
スラリー供給装置により供給しながら、研磨布とシリコ
ンウェーハとの間に所定の荷重および相対速度を与え
て、1枚のシリコンウェーハを研磨する。
2. Description of the Related Art Etched silicon wafers are:
In the next polishing step, the surface is subjected to mechanical and chemical polishing. Here, a polishing apparatus is used to finish the surface of the wafer to a smooth and non-distorted mirror surface. 2. Description of the Related Art Conventionally, as one type of polishing apparatus, a single wafer type wafer polishing apparatus for polishing a surface of a silicon wafer one by one has been known. This single wafer type wafer polishing apparatus has a polishing platen on which a polishing cloth is spread on an upper surface, a polishing head arranged opposite to and above the polishing platen, and is detachably attached to the polishing head. And a disc-shaped carrier plate to which the silicon wafer is attached. At the time of single wafer polishing of a silicon wafer, an abrasive (slurry) containing free abrasive grains such as colloidal silica (silica sol) is supplied onto a polishing cloth through a nozzle by a slurry supply device, and the polishing cloth and the silicon wafer are separated. One silicon wafer is polished by applying a predetermined load and a relative speed therebetween.

【0003】スラリー供給装置に配備された循環タンク
中の研磨剤は、スラリー供給管に連結されたスラリーポ
ンプの作動により、上記ノズルに圧送される。このスラ
リー供給管の途中部には、通常、スラリー供給管の流路
を開閉するためのバルブが設けられている。従来のバル
ブは、弾性を有するゴム製のダイヤフラム(弁体)によ
って、弁箱の内部に形成された内部流路を閉ざすダイヤ
フラム式バルブであった。この内部流路は、一般的に流
入側の部分流路と、開口部が形成された弁座を介して、
この流入側の部分流路の下流部に、略直角に連通された
流出側の部分流路とに2分割される。スラリー供給管の
閉弁時には、弁箱の上部に回動自在に軸支された弁軸を
回転し、この弁軸によってダイヤフラムの中央部を弾性
復帰自在に押し下げ、この押し下げられたダイヤフラム
の中央部で弁座の開口部を塞ぐことにより、この内部流
路が閉じる。
[0003] The abrasive in the circulation tank provided in the slurry supply device is pressure-fed to the nozzle by the operation of a slurry pump connected to a slurry supply pipe. Usually, a valve for opening and closing the flow path of the slurry supply pipe is provided in the middle of the slurry supply pipe. A conventional valve is a diaphragm type valve in which an internal flow path formed inside a valve box is closed by an elastic rubber diaphragm (valve element). This internal flow path is generally formed through a partial flow path on the inflow side and a valve seat having an opening formed therein.
The downstream portion of the inflow-side partial flow path is divided into two outflow-side partial flow paths that are communicated at substantially right angles. When the slurry supply pipe is closed, the valve shaft rotatably supported on the upper part of the valve box is rotated, and the center of the diaphragm is elastically returned by the valve shaft so as to be elastically returned. By closing the opening of the valve seat with, this internal flow path is closed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来のスラ
リー供給装置では、スラリー供給管の流路を閉じるため
の弁としてダイヤフラムバルブが採用されていた。その
ため、以下に示す問題点があった。すなわち、ダイヤフ
ラムバルブの場合には、内部流路の形状が複雑で、この
内部流路の途中に研磨剤の液溜まりが現出されやすかっ
た。その結果、このような液溜まり部で研磨剤に含まれ
る遊離砥粒が堆積し、それが固化してバルブが詰まると
いう懸念があった。
By the way, in a conventional slurry supply apparatus, a diaphragm valve is employed as a valve for closing a flow path of a slurry supply pipe. Therefore, there were the following problems. That is, in the case of the diaphragm valve, the shape of the internal flow path is complicated, and the liquid pool of the abrasive tends to appear in the middle of the internal flow path. As a result, there is a concern that free abrasive grains contained in the abrasive are deposited in such a liquid pool portion and solidified to block the valve.

【0005】そこで、発明者は、鋭意研究の結果、ダイ
ヤフラムバルブに代えてピンチバルブを採用すれば、弁
箱に収納されたスリーブが略ストレートな管材であるた
め、このスリーブに粘性が高い研磨剤を流しても、ダイ
ヤフラムバルブのときのような液溜まりが現出されにく
いことを知見し、この発明を完成させた。しかも、この
スリーブの素材に、剥離性および耐久性が良い四フッ化
エチレン樹脂とシリコンゴムとの共重合エラストマーを
採用すれば、スリーブの内周面に遊離砥粒が付着しにく
くなり、閉弁時におけるバルブの高い密閉性を長期にわ
たって維持することができ、さらにスリーブの寿命、ひ
いてはピンチバルブの寿命も長くなることを知見し、こ
の発明を完成させた。
Therefore, the inventor of the present invention has conducted intensive studies and found that if a pinch valve is used instead of a diaphragm valve, the sleeve housed in the valve box is a substantially straight tube material, and this sleeve has a highly viscous abrasive. The present inventors have found that even if the liquid is flowed, it is difficult for the liquid pool to appear as in the case of the diaphragm valve, and completed the present invention. Furthermore, if a copolymer elastomer of ethylene tetrafluoride resin and silicone rubber, which has good releasability and durability, is adopted as the material of this sleeve, free abrasive grains are less likely to adhere to the inner peripheral surface of the sleeve, and the valve is closed. The present inventors have found that the high hermeticity of the valve at the time can be maintained for a long period of time, and that the life of the sleeve and, consequently, the life of the pinch valve are prolonged, and thus the present invention has been completed.

【0006】[0006]

【発明の目的】この発明は、内部流路に液溜まりが現出
されにくく、このため遊離砥粒の堆積によるバルブの詰
まりを防止することができるスラリー移送装置を提供す
ることを、その目的としている。また、この発明は、ス
リーブの内周面に遊離砥粒が付着しにくく、スリーブの
耐久性も高まるスラリー移送装置を提供することを、そ
の目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a slurry transfer device in which a liquid pool is less likely to appear in an internal flow path, and therefore, a valve can be prevented from being clogged due to the accumulation of free abrasive grains. I have. It is another object of the present invention to provide a slurry transfer device in which loose abrasive grains are less likely to adhere to the inner peripheral surface of the sleeve and the durability of the sleeve is enhanced.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、スラリーを使用する設備に対して、遊離砥粒を含む
スラリーを移送する複数のスラリー管と、隣り合うスラ
リー管とスラリー管との間に配設され、それらのスラリ
ー管の内部に形成されたスラリーの流路を開閉するピン
チバルブと、上記スラリーの流路を介してスラリーを移
送するスラリー移送手段とを備えたスラリー移送装置で
ある。
According to the first aspect of the present invention, a plurality of slurry pipes for transferring a slurry containing free abrasive grains, an adjacent slurry pipe and a slurry pipe are provided to a facility using the slurry. And a slurry transfer device provided with a pinch valve for opening and closing a flow path of the slurry formed inside the slurry pipe, and a slurry transfer means for transferring the slurry through the flow path of the slurry. It is.

【0008】スラリーを使用する設備としては、例えば
半導体ウェーハの製造装置、ガラス基板・石英基板など
の製造設備、各種のハードディスク製造設備などがあ
る。より具体的には、ワイヤソーなどのインゴット切断
装置、半導体ウェーハのラップ装置、半導体ウェーハの
外周部の面取り面を研磨するPCR加工装置、半導体ウ
ェーハの表面を研削する研削装置、半導体ウェーハの表
面を鏡面研磨する研磨装置、CMPなどである。スラリ
ー管は、スラリーを所定の半導体ウェーハの研磨装置な
どへ供給するスラリー供給管でもよく、この装置から使
用後のスラリーを排出するスラリー排出管でもよい。ス
ラリーの種類は限定されない。通常、スラリー管が連通
される半導体ウェーハの製造装置によって、スラリーの
種類およびスラリーを構成する各種の成分の配合比が決
定される。例えば、半導体ウェーハの研磨装置の場合
は、スラリーは研磨剤となる。研磨剤としては、例えば
焼成シリカやコロイダルシリカ(遊離砥粒)、アミン
(加工促進材)および有機高分子(ヘイズ抑制材)など
を混合したものを採用することができる(ロデールニッ
タ社製RODEL2398など)。
[0008] Examples of equipment using the slurry include equipment for manufacturing semiconductor wafers, equipment for manufacturing glass substrates and quartz substrates, and various hard disk manufacturing equipment. More specifically, an ingot cutting device such as a wire saw, a semiconductor wafer wrapping device, a PCR processing device for polishing a chamfered surface of an outer peripheral portion of a semiconductor wafer, a grinding device for grinding a surface of a semiconductor wafer, a mirror surface for a semiconductor wafer A polishing apparatus for polishing, CMP, or the like. The slurry pipe may be a slurry supply pipe for supplying the slurry to a predetermined semiconductor wafer polishing apparatus or the like, or a slurry discharge pipe for discharging used slurry from the apparatus. The type of slurry is not limited. Usually, the type of slurry and the mixing ratio of various components constituting the slurry are determined by the semiconductor wafer manufacturing apparatus to which the slurry tube is connected. For example, in the case of a semiconductor wafer polishing apparatus, the slurry becomes an abrasive. As the abrasive, for example, a mixture of calcined silica, colloidal silica (free abrasive), amine (processing accelerator), organic polymer (haze suppressor), and the like can be used (eg, RODEL2398 manufactured by Rodel Nitta). .

【0009】ピンチバルブの構造は限定されない。要
は、スラリーの流路に連通する内部流路を有する弁箱
と、この内部流路に、内部流路の軸線にその軸線を揃え
て収納された弾性素材からなるスリーブと、弁箱にスリ
ーブの半径方向へ移動自在に支持され、スリーブをこの
半径方向外方から弾性復帰自在に押しつぶすことで、内
部流路を閉ざす弁軸とを備えていればよい。弁箱の素
材、大きさ、形状などは限定されない。要は、その内部
に流体の内部流路が形成され、しかもこの内部流路にス
リーブを収納することができればよい。スリーブはピン
チバルブの弁体を構成する。その直径、長さなどは限定
されない。スリーブの素材は限定されない。例えばゴ
ム、発泡性合成樹脂といった金属などの剛体よりも弾性
を有する素材であれば限定されない。また、これら以外
の弾性素材としては、例えば四フッ化エチレン樹脂とシ
リコンゴムとの共重合エラストマーなどを採用すること
ができる。要は、弁箱の内部流路に収納可能な筒体で、
弁軸の突出により、その半径方向外方から弾性復帰自在
に押しつぶすことができればよい。
The structure of the pinch valve is not limited. In short, a valve box having an internal flow path communicating with the slurry flow path, a sleeve made of an elastic material housed in this internal flow path with its axis aligned with the axis of the internal flow path, and a sleeve in the valve box And a valve shaft that closes the internal flow path by squeezing the sleeve from the outside in the radial direction so as to be able to return elastically. The material, size, shape, and the like of the valve box are not limited. In short, it is only necessary that an internal flow path for the fluid is formed therein, and that the sleeve can be housed in this internal flow path. The sleeve forms the valve body of the pinch valve. The diameter, length, etc. are not limited. The material of the sleeve is not limited. For example, the material is not limited as long as the material is more elastic than a rigid body such as a metal such as rubber or foamable synthetic resin. Further, as the elastic material other than these, for example, a copolymer elastomer of ethylene tetrafluoride resin and silicone rubber can be used. In short, a cylinder that can be stored in the internal flow path of the valve box.
It is only required that the valve shaft can be squeezed elastically from the outside in the radial direction by the protrusion of the valve shaft.

【0010】弁軸の素材、断面形状、太さなどは限定さ
れない。この弁軸の断面形状は、通常、円形である。そ
の他にも、例えば楕円形、三角形以上の矩形状などであ
ってもよい。この弁軸の弁箱に対する支持構造は限定さ
れない。例えば、螺合構造などが挙げられる。要は、こ
の弁箱にスリーブの半径方向へ移動自在に支持され、ス
リーブをその半径方向外方から押しつぶすことができれ
ばよい。なお、このピンチバルブは、スラリー管だけで
なく、例えば半導体ウェーハ製造設備のエッチング装置
に連結されたエッチング液の移送管に設けてもよい。そ
の他、半導体ウェーハの露出面を洗浄する洗浄装置に連
結された洗浄液の移送管に設けたり、半導体ウェーハの
露出面にレジスト膜を形成するレジスト膜形成装置に連
結されたレジスト液の移送管に設けてもよい。
The material, sectional shape, thickness, etc. of the valve shaft are not limited. The cross-sectional shape of this valve stem is usually circular. In addition, the shape may be, for example, an elliptical shape, a triangular or more rectangular shape, or the like. The support structure of the valve shaft for the valve box is not limited. For example, a screw structure may be used. The point is that the valve box is supported so as to be movable in the radial direction of the sleeve so that the sleeve can be crushed from the outside in the radial direction. The pinch valve may be provided not only in the slurry tube but also in, for example, an etchant transfer tube connected to an etching apparatus of a semiconductor wafer manufacturing facility. In addition, it is provided on a transfer pipe of a cleaning liquid connected to a cleaning device for cleaning an exposed surface of a semiconductor wafer, or provided on a transfer pipe of a resist liquid connected to a resist film forming apparatus for forming a resist film on an exposed surface of a semiconductor wafer. You may.

【0011】また、上記スラリー移送手段の種類は限定
されない。通常は、スラリー管の上流側から下流側に向
かってスラリーを圧送するスラリーポンプである。スラ
リーポンプの種類は限定されない。例えば、弁箱の内部
で回転翼を回転させ、スラリーを連続的に移送するタイ
プでもよい。その他、シリンダ内でピストンを直線運動
させ、スラリーを間欠的に移送するタイプでもよい。ス
ラリーポンプ以外のスラリーの移送手段として、例えば
負圧力によりスラリー管の下流側からスラリーを吸引す
るスラリー吸引移送装置などを採用することもできる。
The type of the slurry transfer means is not limited. Usually, it is a slurry pump that pumps the slurry from the upstream side to the downstream side of the slurry pipe. The type of the slurry pump is not limited. For example, a type in which the rotor is rotated inside the valve box to continuously transfer the slurry may be used. In addition, a type in which a piston is linearly moved in a cylinder to transfer slurry intermittently may be used. As a means for transferring the slurry other than the slurry pump, for example, a slurry suction transfer device for sucking the slurry from the downstream side of the slurry pipe by a negative pressure may be employed.

【0012】また、請求項2の発明は、上記スラリー管
が、スラリーを半導体ウェーハの研磨装置へ供給するス
ラリー供給管である請求項1に記載の半導体ウェーハ製
造設備のスラリー移送装置である。
Further, the invention according to claim 2 is the slurry transfer device of a semiconductor wafer manufacturing facility according to claim 1, wherein the slurry tube is a slurry supply tube for supplying a slurry to a semiconductor wafer polishing apparatus.

【0013】請求項3の発明は、上記ピンチバルブが、
上記スラリーの流路に連通する内部流路を有する弁箱
と、上記内部流路に、この内部流路の軸線にその軸線を
揃えて収納された弾性素材からなるスリーブと、上記弁
箱にスリーブの半径方向へ移動自在に支持され、このス
リーブをスリーブの半径方向外方から弾性復帰自在に押
しつぶすことで、上記内部流路を閉ざす弁軸とを備え、
上記スリーブの弾性素材が、四フッ化エチレン樹脂とシ
リコンゴムとの共重合エラストマーである請求項1また
は請求項2に記載のスラリー移送装置である。スリーブ
の素材は、四フッ化エチレン樹脂とシリコンゴムとの共
重合エラストマーである。
According to a third aspect of the present invention, the pinch valve includes:
A valve box having an internal flow path communicating with the slurry flow path, a sleeve made of an elastic material housed in the internal flow path with its axis aligned with the axis of the internal flow path, and a sleeve in the valve box. And a valve shaft that closes the internal flow path by squeezing this sleeve elastically from the outside in the radial direction of the sleeve so as to be able to return elastically.
3. The slurry transfer device according to claim 1, wherein the elastic material of the sleeve is a copolymer elastomer of tetrafluoroethylene resin and silicone rubber. 4. The material of the sleeve is a copolymer elastomer of ethylene tetrafluoride resin and silicone rubber.

【0014】[0014]

【作用】この発明によれば、スラリー移送手段によりス
ラリーの流路を移送中のスラリーは、ピンチバルブを閉
弁することで流れが絶たれる。具体的には、弁箱に収納
されたスリーブを、その半径方向外方から弾性復帰自在
に押しつぶす。スリーブは、屈曲していない略ストレー
トな弾性素材からなる筒体である。したがって、スリー
ブに遊離砥粒を含むスラリーを流しても、従来のダイヤ
フラムバルブのように、弁箱の内部流路に液溜まりが現
出されにくい。その結果、この液溜まりなどでの遊離砥
粒の堆積によるバルブの詰まりを防止することができ
る。
According to the present invention, the flow of the slurry being transferred in the slurry flow path by the slurry transfer means is cut off by closing the pinch valve. Specifically, the sleeve accommodated in the valve box is crushed from the outside in the radial direction so as to be able to return elastically. The sleeve is a cylindrical body made of a substantially straight elastic material that is not bent. Therefore, even when the slurry containing the free abrasive grains flows through the sleeve, unlike the conventional diaphragm valve, a liquid pool hardly appears in the internal flow path of the valve box. As a result, clogging of the valve due to the accumulation of free abrasive grains in the liquid pool or the like can be prevented.

【0015】特に、請求項3の発明によれば、スリーブ
が、四フッ化エチレン樹脂とシリコンゴムとの共重合エ
ラストマー製であるので、スリーブ自体がスラリーに対
して良好な剥離性を有している。したがって、スラリー
の流路にスラリーを流しても、スリーブの内周面に遊離
砥粒が付着してバルブが詰まるおそれが少ない。しか
も、四フッ化エチレン樹脂とシリコンゴムとの共重合エ
ラストマーは、耐久性も優れている。したがって、スリ
ーブが損傷しにくく、スリーブの寿命、ひいてはピンチ
バルブの寿命を長くすることができる。
According to the third aspect of the present invention, since the sleeve is made of a copolymer elastomer of tetrafluoroethylene resin and silicone rubber, the sleeve itself has good releasability from slurry. I have. Therefore, even if the slurry flows in the slurry flow path, there is little possibility that loose abrasive grains adhere to the inner peripheral surface of the sleeve and the valve is clogged. Moreover, the copolymer elastomer of the tetrafluoroethylene resin and the silicone rubber has excellent durability. Therefore, the sleeve is less likely to be damaged, and the life of the sleeve and, consequently, the life of the pinch valve can be extended.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、この発明の一実施例を図面
を参照して説明する。図1は、この発明の一実施例に係
るスラリー移送装置の概略構成図である。図2は、この
発明の一実施例に係る半導体ウェーハ製造設備のスラリ
ー移送装置の一部を構成するピンチバルブの縦断面図で
ある。図3は、この発明の一実施例に係るスラリー移送
装置の一部を構成するピンチバルブの一部断面図を含む
正面図である。図1において、10は半導体ウェーハ製
造設備のスラリー移送装置(以下、スラリー移送装置)
であり、このスラリー移送装置10は、シリコンウェー
ハWの表面を1枚ずつ表面研磨する枚葉式のウェーハ研
磨装置11にスラリーを連続的に供給する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a slurry transfer device according to one embodiment of the present invention. FIG. 2 is a longitudinal sectional view of a pinch valve constituting a part of a slurry transfer device of a semiconductor wafer manufacturing facility according to one embodiment of the present invention. FIG. 3 is a front view including a partial cross-sectional view of a pinch valve constituting a part of the slurry transfer device according to one embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 10 denotes a slurry transfer device of a semiconductor wafer manufacturing facility (hereinafter, slurry transfer device).
The slurry transfer device 10 continuously supplies the slurry to a single wafer type wafer polishing device 11 for polishing the surface of the silicon wafer W one by one.

【0017】以下、このスラリー移送装置10の構成を
詳細に説明する。このスラリー移送装置10は、研磨剤
を調合する調合槽12と、調合された研磨剤を第1のス
ラリー供給管13A,第2のスラリー供給管13Bを介
していったん貯液する循環タンク14と、第1のスラリ
ー供給管13Aと第2のスラリー供給管13Bとの間に
配設され、それらのスラリー供給管13A,13Bの内
部に形成されたスラリーの流路を開閉するピンチバルブ
V1と、この循環タンク14に貯液された研磨剤を、第
3のスラリー供給管15A,第4のスラリー供給管15
Bを介して、ウェーハ研磨装置11の一部を構成する研
磨定盤16の上面に展張された研磨布17に供給するノ
ズル18と、第3のスラリー供給管15Aと第4のスラ
リー供給管15Bとの間に配設され、それらのスラリー
供給管15A,15Bの内部に形成されたスラリーの流
路を開閉するピンチバルブV2と、この第3のスラリー
供給管15Aの上流側の端部に設けられ、循環タンク1
4内の研磨剤をウェーハ研磨装置11側へ圧送するスラ
リーポンプ(スラリー移送手段)20と、第3のスラリ
ー供給管15Aのスラリーポンプ20よりも下流部に設
けられ、循環タンク14から排出された研磨剤中の異物
を除去するフィルタ21と、第3のスラリー供給管15
Aのフィルタ21よりも下流部に設けられ、異物をろ過
した研磨剤を任意の加熱媒体との熱交換により昇温する
熱交換器22とを備えている。
Hereinafter, the configuration of the slurry transfer device 10 will be described in detail. The slurry transfer device 10 includes a mixing tank 12 for mixing the abrasive, a circulation tank 14 for temporarily storing the mixed abrasive via a first slurry supply pipe 13A and a second slurry supply pipe 13B, A pinch valve V1 disposed between the first slurry supply pipe 13A and the second slurry supply pipe 13B to open and close a slurry flow path formed inside the slurry supply pipes 13A and 13B; The polishing slurry stored in the circulation tank 14 is supplied to the third slurry supply pipe 15A and the fourth slurry supply pipe 15A.
B, a nozzle 18 for supplying a polishing cloth 17 spread on an upper surface of a polishing platen 16 constituting a part of the wafer polishing apparatus 11, a third slurry supply pipe 15A and a fourth slurry supply pipe 15B. And a pinch valve V2 that opens and closes a slurry flow path formed inside the slurry supply pipes 15A and 15B, and is provided at an upstream end of the third slurry supply pipe 15A. Circulating tank 1
A slurry pump (slurry transfer means) 20 for pumping the abrasive in the wafer 4 toward the wafer polishing apparatus 11 and a third slurry supply pipe 15A are provided downstream of the slurry pump 20 and discharged from the circulation tank 14. A filter 21 for removing foreign matter in the abrasive, and a third slurry supply pipe 15
A heat exchanger 22 is provided downstream of the filter 21 of A and heats the abrasive, which has filtered foreign substances, by heat exchange with an arbitrary heating medium.

【0018】上記調合槽12では研磨剤の作製が行なわ
れる。具体的には、調合槽12に50リットルの「RO
DEL2398」を入れ、10倍程度に希釈する。循環
タンク14には、50リットル程度の研磨剤が貯液され
ている。研磨剤の液面下には、濃度計24の濃度検出部
が浸漬されている。
In the mixing tank 12, an abrasive is produced. Specifically, 50 liters of “RO”
DEL2398 "and dilute about 10-fold. Around 50 liters of abrasive is stored in the circulation tank 14. Below the liquid level of the abrasive, the concentration detecting section of the densitometer 24 is immersed.

【0019】また、このスラリー移送装置10では、研
磨後の研磨カスなどを含むスラリーを回収し、これを循
環タンク14に戻して再利用するようにしている。すな
わち、研磨定盤16の下方に、使用後の研磨剤を受ける
受液槽23を配置し、この受液槽23に溜まった使用済
みの研磨剤を、受液槽23の底部に形成された排出口か
ら、スラリー戻し管25を介して循環タンク14に戻
す。スラリー戻し管25の上流部には、使用済みの研磨
剤を圧送するスラリーポンプ26が連結されている。
The slurry transfer device 10 collects the slurry containing the polishing residue after polishing and returns the slurry to the circulation tank 14 for reuse. That is, a liquid receiving tank 23 for receiving the used abrasive is disposed below the polishing platen 16, and the used abrasive collected in the liquid receiving tank 23 is formed on the bottom of the liquid receiving tank 23. From the outlet, it is returned to the circulation tank 14 via the slurry return pipe 25. A slurry pump 26 for pumping the used abrasive under pressure is connected to an upstream portion of the slurry return pipe 25.

【0020】ここで、上記枚葉式のウェーハ研磨装置1
1の構成を簡単に説明する。研磨定盤16の上方には、
研磨ヘッド27が配置されている。この研磨ヘッド27
の下面には、キャリアプレート28を介して、シリコン
ウェーハWがワックス貼着されている。ウェーハ枚葉研
磨時には、ノズル18から研磨剤を供給しながら、所定
速度で回転中の研磨ヘッド27を下降させ、キャリアプ
レート28に貼着されたシリコンウェーハWの表面(下
面)を、研磨定盤16とともに所定速度で回転中の研磨
布17の研磨作用面(上面)に押し付けて、1枚ずつ研
磨する。
Here, the above single wafer polishing apparatus 1
The configuration of No. 1 will be briefly described. Above the polishing platen 16,
A polishing head 27 is provided. This polishing head 27
A silicon wafer W is adhered to a lower surface of the substrate via a carrier plate 28 by wax. At the time of single wafer polishing, the polishing head 27 being rotated at a predetermined speed is lowered while supplying the polishing agent from the nozzle 18, and the surface (lower surface) of the silicon wafer W attached to the carrier plate 28 is polished. 16 is pressed against the polishing surface (upper surface) of the rotating polishing pad 17 at a predetermined speed together with the polishing pad 16 to polish one by one.

【0021】次に、図2および図3を参照して、上記ピ
ンチバルブV1,V2を詳細に説明する。なお、両ピン
チバルブV1,V2は同じ構成を有している。そのた
め、ここではピンチバルブV2を例に説明する。ピンチ
バルブV2は、バルブ内への圧縮空気の給排により、第
3のスラリー供給管15Aと第4のスラリー供給管15
Bとの内部に形成された研磨剤の流路を開閉する全自動
弁である。このピンチバルブV2は、主に、第3のスラ
リー供給管15Aと第4のスラリー供給管15Bとの流
路に連通可能な内部流路30aを有する弁箱30と、内
部流路30aの軸線にその軸線を揃えてこの内部流路3
0aに収納された弾性素材からなるスリーブ31と、弁
箱30に取り付けられ、スリーブ31をこのスリーブ3
1の半径方向外方から弾性復帰自在に押しつぶすことに
より、内部流路30aを閉ざす弁軸32とを有してい
る。
Next, the pinch valves V1 and V2 will be described in detail with reference to FIGS. Note that both pinch valves V1 and V2 have the same configuration. Therefore, the pinch valve V2 will be described here as an example. The pinch valve V2 supplies the third slurry supply pipe 15A and the fourth slurry supply pipe 15A by supplying and discharging compressed air into the valve.
B is a fully automatic valve that opens and closes the flow path of the abrasive formed inside B. The pinch valve V2 mainly includes a valve box 30 having an internal flow passage 30a that can communicate with a flow passage between the third slurry supply pipe 15A and the fourth slurry supply pipe 15B, and an axial line of the internal flow passage 30a. The internal flow path 3
And a sleeve 31 made of an elastic material housed in the sleeve 3a.
1 has a valve shaft 32 that closes the internal flow passage 30a by being crushed elastically from outside in the radial direction.

【0022】弁箱30は、平面視して四角形の縦長な角
柱である。ここでは設計の都合上、弁箱30の底部を別
体で形成している。ピンチバルブV2の組み立て時、こ
の底部は弁箱30の本体部分に一体的に固着される。内
部流路30aは断面矩形状で、弁箱30の下部内に、こ
の弁箱30の前面と後面とを貫通して形成されている。
また、この弁箱30の下部の前面部と後面部とには、1
対の断面円形状を有する短尺なゴム製の連結用プラグ3
3,33がそれぞれ取り付けられている。両連結用プラ
グ33,33の元部には、それぞれ固定用のフランジ3
3a,33aが一体形成されている。これらの固定用の
フランジ33a,33aを、それぞれ対応する、内部流
路30aの前端部の形成部に形成された環状の掛止溝3
0b、または、内部流路30aの後端部の形成部に形成
された環状の掛止溝30bに掛止することで、両連結用
プラグ33,33が、弁箱30にしっかりと固定され
る。また、各連結用プラグ33,33の外周面には、そ
れぞれ外ねじが形成されている。
The valve box 30 is a vertically long rectangular prism in plan view. Here, the bottom of the valve box 30 is formed separately for the sake of design. At the time of assembling the pinch valve V2, this bottom is integrally fixed to the main body of the valve box 30. The internal flow passage 30a has a rectangular cross section and is formed in a lower portion of the valve box 30 so as to penetrate the front and rear surfaces of the valve box 30.
The front and rear lower portions of the valve box 30 have a
Short rubber connecting plug 3 having a pair of circular cross sections
3, 33 are attached respectively. At the base of both connecting plugs 33, 33, fixing flanges 3 are provided, respectively.
3a and 33a are integrally formed. These fixing flanges 33a, 33a are respectively formed in annular catching grooves 3 formed in the corresponding formation portions of the front end of the internal flow passage 30a.
Ob, or by engaging in an annular engaging groove 30b formed in the rear end forming portion of the internal flow path 30a, the two connecting plugs 33, 33 are firmly fixed to the valve box 30. . External threads are formed on the outer peripheral surfaces of the connecting plugs 33, 33, respectively.

【0023】上記スリーブ31は、四フッ化エチレン樹
脂とシリコンゴムとの共重合エラストマー製である。こ
のスリーブ31は断面円形状で、その軸線方向の両端部
が内部流路30aからそれぞれ外方へ突出している。こ
のスリーブ31の両端部が、両連結用プラグ33,33
の内部空間にそれぞれ挿入されている。また、スリーブ
31の両端部には、円筒形状を有する1対のインサート
プッシュ34,34の各小径な元部がそれぞれ嵌入され
ている。一方、両インサードプッシュ34,34の大径
な先部には内ねじがそれぞれ形成されている。これに対
して、第3のスラリー供給管15Aの下流側の端部と、
第4のスラリー供給管15Bの上流側の端部とには、そ
れぞれ外ねじが形成されている。したがって、上流側の
インサードプッシュ34には、対応する内ねじと外ねじ
とを介して、第3のスラリー供給管15Aの下流側の端
部がねじ込まれている。また、下流側のインサードプッ
シュ34には、対応する内ねじと外ねじを介して、第4
のスラリー供給管15Bの上流側の端部がねじ込まれて
いる。そして、各連結用プラグ33,33には、上記外
ねじを介して、それぞれのインサードプッシュ34,3
4を外方から包み込むように、ナット35,35が螺合
されている。こうして、ピンチバルブV2が、第3のス
ラリー供給管15Aと第4のスラリー供給管15Bとの
間にしっかりと連結される。
The sleeve 31 is made of a copolymer elastomer of tetrafluoroethylene resin and silicone rubber. The sleeve 31 has a circular cross section, and both ends in the axial direction protrude outward from the internal flow path 30a. Both ends of the sleeve 31 are connected to both connecting plugs 33, 33.
Each is inserted into the internal space of. The small-diameter base portions of a pair of cylindrical insert pushes 34, 34 are fitted into both ends of the sleeve 31, respectively. On the other hand, inner threads are formed at large-diameter ends of both the inside pushes 34, 34, respectively. On the other hand, the downstream end of the third slurry supply pipe 15A,
External threads are formed at the upstream end of the fourth slurry supply pipe 15B. Accordingly, the downstream end of the third slurry supply pipe 15A is screwed into the upstream inside push 34 via the corresponding internal screw and external screw. Also, the downstream inside push 34 is connected to the fourth push through the corresponding internal screw and external screw.
The end on the upstream side of the slurry supply pipe 15B is screwed. Then, the respective inside plugs 34, 3 are connected to the respective connecting plugs 33, 33 via the external screws.
Nuts 35, 35 are screwed together so as to enclose 4 from outside. Thus, the pinch valve V2 is firmly connected between the third slurry supply pipe 15A and the fourth slurry supply pipe 15B.

【0024】一方、この弁箱30の略上半分には、圧縮
空気の導入または排出によって、弁軸32をスリーブ3
1の半径方向外方から内部流路30aに抜き差しするア
クチュエータ部36が一体的に設けられている。このア
クチュエータ部36は、主に、上端面が開口されたシリ
ンダ37と、シリンダ37に収納されたピストン38
と、シリンダ37のスリーブ31側(下側)とは反対側
(上側)の上室に収納され、ピストン38を常にスリー
ブ31側へ付勢するスプリング39と、シリンダ37の
スリーブ31側の下室に、ピストン38を押し上げる圧
縮空気を供給したり、この下室内から圧縮空気を排出す
る空気給排部40とを備えている。
On the other hand, the valve shaft 32 is attached to the upper half of the valve box 30 by introducing or discharging compressed air.
An actuator portion 36 is provided integrally with the internal flow passage 30a from outside in the radial direction. The actuator section 36 mainly includes a cylinder 37 having an open upper end surface, and a piston 38 housed in the cylinder 37.
And a spring 39 which is housed in an upper chamber (upper side) of the cylinder 37 opposite to the sleeve 31 side (lower side) and constantly urges the piston 38 toward the sleeve 31 side, and a lower chamber of the cylinder 37 on the sleeve 31 side. And an air supply / discharge unit 40 for supplying compressed air that pushes up the piston 38 and discharging compressed air from the lower chamber.

【0025】ピストン38の外周面には、1本のOリン
グ38aが外挿されている。また、このピストン38の
スリーブ31側の面(下面)の中央部には、円筒突起3
8bが垂設されている。この円筒突起38bは、弁箱3
0の内部流路30aの上面形成部の中央部に形成され
た、内部流路30aの軸線と直交する上下方向へ延びる
弁軸孔30cに遊挿されている。弁軸孔30cの上端部
の内周面の形成部には、小径な1本のOリング30dが
内挿されている。また、この弁軸孔30cの下部は、後
述するゴムキャップ41を収納できるように、横長な矩
形状を有している。円筒突起38bの内部空間には、上
記弁軸32が挿入されている。この弁軸32の下端部
は、円筒突起38bの先端面から下方へ突出している。
この突出部分には外ねじが形成され、この外ねじを介し
て、弁軸32の下端部に横長なゴムキャップ41が螺合
されている。ゴムキャップ41は、スプリング39のば
ね力で弁軸32が内部流路30aへ突出したとき、上記
スリーブ31を上方から押しつぶす。
One O-ring 38a is externally inserted on the outer peripheral surface of the piston 38. A cylindrical projection 3 is provided at the center of the surface (lower surface) of the piston 38 on the sleeve 31 side.
8b is provided vertically. The cylindrical projection 38b is provided in the valve box 3
The internal passage 30a is loosely inserted into a valve shaft hole 30c formed in the center of the upper surface forming portion of the internal passage 30a and extending in the vertical direction orthogonal to the axis of the internal passage 30a. One small-diameter O-ring 30d is inserted into the formation of the inner peripheral surface at the upper end of the valve shaft hole 30c. The lower portion of the valve shaft hole 30c has a horizontally long rectangular shape so that a rubber cap 41 described later can be stored. The valve shaft 32 is inserted into the internal space of the cylindrical projection 38b. The lower end of the valve shaft 32 projects downward from the distal end surface of the cylindrical projection 38b.
An external thread is formed on the protruding portion, and a laterally long rubber cap 41 is screwed to the lower end of the valve shaft 32 via the external thread. The rubber cap 41 crushes the sleeve 31 from above when the valve shaft 32 projects into the internal flow passage 30a by the spring force of the spring 39.

【0026】上記空気給排部40は、シリンダ37の下
端部の外周面の一部分に突設されており、図示しない圧
縮空気発生装置から延びた圧縮空気の供給ホースの先端
部が連結されている。これらの空気給排部40内の流路
とシリンダ37の下室とは、シリンダ37の下端に形成
された細孔により連通されている。したがって、圧縮空
気発生装置からの圧縮空気は、連結ホース、空気給排部
40、細孔を経て下室へ供給される。図2および図3に
おいて、42はシリンダ37の蓋体である。
The air supply / discharge unit 40 is provided so as to protrude from a part of the outer peripheral surface at the lower end of the cylinder 37, and is connected to a distal end of a compressed air supply hose extending from a compressed air generator (not shown). . The flow path in the air supply / discharge unit 40 and the lower chamber of the cylinder 37 are communicated by a small hole formed at the lower end of the cylinder 37. Therefore, the compressed air from the compressed air generator is supplied to the lower chamber via the connecting hose, the air supply / discharge unit 40, and the pores. 2 and 3, reference numeral 42 denotes a lid of the cylinder 37.

【0027】次に、この一実施例に係るスラリー移送装
置10の作動を説明する。図1に示すように、まず調合
槽12の内部で、遊離砥粒を含む研磨剤(RODEL2
398)を調合する。こうして得た研磨剤は、ピンチバ
ルブV1を開弁することで、第1のスラリー供給管13
A,第2のスラリー供給管13Bを経て、いったん循環
タンク14に貯液される。その後、ピンチバルブV2を
開弁し、スラリーポンプ20を作動する。これにより、
循環タンク14の底部から第3のスラリー供給管15A
内に圧送された研磨剤は、フィルタ21による異物の除
去、熱交換器22による約30℃の昇温後、ピンチバル
ブV2の内部流路30aを通過し、第4のスラリー供給
管15Bを介して、上記ノズル18から研磨布17の中
央部の上面へ1リットル/分で供給される。研磨布17
は研磨定盤16と一体的に回転しており、この研磨布1
7の研磨作用面(上面)に回転中の研磨ヘッド27を押
し当てる。こうして、シリコンウェーハWの表面が所定
の研磨レートで研磨される。この研磨時、研磨カスを含
む使用済みの研磨剤は、受液槽23に溜まる。この溜ま
った研磨剤の廃液は、スラリーポンプ26によって、受
液槽23の排出口からスラリー戻し管25を経て循環タ
ンク14に戻される。
Next, the operation of the slurry transfer device 10 according to this embodiment will be described. As shown in FIG. 1, first, an abrasive (RODEL2) containing free abrasive grains is provided inside the preparation tank 12.
398). The abrasive thus obtained is supplied to the first slurry supply pipe 13 by opening the pinch valve V1.
A, the liquid is temporarily stored in the circulation tank 14 via the second slurry supply pipe 13B. Thereafter, the pinch valve V2 is opened, and the slurry pump 20 is operated. This allows
From the bottom of the circulation tank 14, a third slurry supply pipe 15A
The abrasive pumped into the inside passes through the internal flow path 30a of the pinch valve V2 after removing foreign matter by the filter 21 and raising the temperature by about 30 ° C. by the heat exchanger 22, and through the fourth slurry supply pipe 15B. Then, the liquid is supplied from the nozzle 18 to the upper surface of the central portion of the polishing pad 17 at a rate of 1 liter / minute. Polishing cloth 17
Is rotated integrally with the polishing platen 16, and this polishing cloth 1
The rotating polishing head 27 is pressed against the polishing surface (upper surface) 7. Thus, the surface of the silicon wafer W is polished at a predetermined polishing rate. At the time of this polishing, the used abrasive containing the polishing residue accumulates in the liquid receiving tank 23. The waste liquid of the accumulated abrasive is returned to the circulation tank 14 from the outlet of the liquid receiving tank 23 through the slurry return pipe 25 by the slurry pump 26.

【0028】ここで、図2および図3を参照して、ピン
チバルブV1,V2の作動を説明する。なお、ここでも
ピンチバルブV2を例に説明する。開弁時には、圧縮空
気発生装置からの圧縮空気を、空気給排部40から細孔
を介してシリンダ37の下室に供給する。すると、スプ
リング39のばね力に抗して、ピストン38がシリンダ
37内で押し上げられる。それに伴い、弁軸32がピス
トン38と一体的に引き上げられ、ゴムキャップ41が
弁軸孔30cの下部の矩形状の孔部分に収納される。こ
れにより、スリーブ31内の流路、すなわち弁箱30の
内部流路30aが開く。
The operation of the pinch valves V1 and V2 will now be described with reference to FIGS. Here, the pinch valve V2 will be described as an example. When the valve is opened, the compressed air from the compressed air generator is supplied from the air supply / discharge unit 40 to the lower chamber of the cylinder 37 via the small hole. Then, the piston 38 is pushed up in the cylinder 37 against the spring force of the spring 39. Accordingly, the valve shaft 32 is pulled up integrally with the piston 38, and the rubber cap 41 is housed in the rectangular hole below the valve shaft hole 30c. Thereby, the flow path in the sleeve 31, that is, the internal flow path 30a of the valve box 30 is opened.

【0029】一方、閉弁時には、上記下室への圧縮空気
の供給を停止する。これにより、スプリング39のばね
力によりピストン38が押し下げられ、この下室内の空
気が細孔から外部へ排出される。それと同時に、弁軸孔
30c内を円筒突起38bとともに弁軸32が下降す
る。これにより、ゴムキャップ41がスリーブ31の中
間部の上部に当接される。この下降がさらに進むこと
で、スリーブ31がその半径方向外方(上方)から押し
つぶされる。そして、最終的にこの押しつぶされた部分
が、スリーブ31の中間部の下部に強い力で圧着され
る。この結果、スリーブ31内の流路、すなわち弁箱3
0の内部流路30aが閉じる。なお、上記ピンチバルブ
V1も同様の作動となる。
On the other hand, when the valve is closed, the supply of compressed air to the lower chamber is stopped. Accordingly, the piston 38 is pushed down by the spring force of the spring 39, and the air in the lower chamber is discharged to the outside through the small holes. At the same time, the valve shaft 32 descends along with the cylindrical projection 38b in the valve shaft hole 30c. As a result, the rubber cap 41 comes into contact with the upper portion of the intermediate portion of the sleeve 31. As the descent proceeds further, the sleeve 31 is crushed from the outside in the radial direction (above). Finally, the crushed portion is pressed against the lower portion of the intermediate portion of the sleeve 31 with a strong force. As a result, the flow path in the sleeve 31, that is, the valve box 3
0 internal flow path 30a is closed. The operation of the pinch valve V1 is the same.

【0030】このように、この実施例では、スリーブ3
1の素材として、高い剥離性を有する四フッ化エチレン
樹脂とシリコンゴムとの共重合エラストマーを採用し
た。そのため、第1〜第4のスラリー供給管13A,1
3B,15A,15Bに遊離砥粒を含む研磨剤を流して
も、スリーブ31の内周面に研磨剤の遊離砥粒が付着し
にくい。また、この四フッ化エチレン樹脂とシリコンゴ
ムとの共重合エラストマーは、耐久性に対しても優れて
いる。そのため、スリーブ31が損傷しにくく、スリー
ブ31の寿命、ひいてはピンチバルブV1,V2の寿命
も長くなる。よって、例えば1年間に行なわれるピンチ
バルブV1,V2のメンテナンスの回数を減らすことも
できる。
As described above, in this embodiment, the sleeve 3
As a material for (1), a copolymer elastomer of tetrafluoroethylene resin having high releasability and silicone rubber was employed. Therefore, the first to fourth slurry supply pipes 13A, 13A, 1
Even when the abrasive containing free abrasive particles flows through 3B, 15A, and 15B, the free abrasive particles of the abrasive hardly adhere to the inner peripheral surface of sleeve 31. In addition, the copolymer elastomer of the ethylene tetrafluoride resin and the silicone rubber has excellent durability. Therefore, the sleeve 31 is less likely to be damaged, and the life of the sleeve 31 and, consequently, the life of the pinch valves V1 and V2 are prolonged. Therefore, for example, the number of times of maintenance of the pinch valves V1 and V2 performed in one year can be reduced.

【0031】[0031]

【発明の効果】この発明によれば、スラリー管とスラリ
ー管との間にピンチバルブを設けたので、ピンチバルブ
の内部流路に液溜まりが現出されにくく、遊離砥粒の堆
積によるバルブの詰まりを防止することができる。
According to the present invention, since the pinch valve is provided between the slurry pipes, the liquid pool is less likely to appear in the internal flow path of the pinch valve, and the valve is prevented from accumulating by the free abrasive grains. Clogging can be prevented.

【0032】特に、請求項3の発明によれば、スリーブ
の素材に、剥離性の高い四フッ化エチレン樹脂とシリコ
ンゴムとの共重合エラストマーを採用したので、スラリ
ーの流路にスラリーを流した際、スリーブの内周面に遊
離砥粒が付着してバルブが詰りにくい。しかも、この四
フッ化エチレン樹脂とシリコンゴムとの共重合エラスト
マーは耐久性に優れているので、スリーブの寿命、ひい
てはピンチバルブの寿命を長くすることができる。
In particular, according to the invention of claim 3, since the copolymer elastomer of the highly releasable tetrafluoroethylene resin and silicone rubber is used as the material of the sleeve, the slurry is flowed through the slurry flow path. At this time, loose abrasive grains adhere to the inner peripheral surface of the sleeve, and the valve is hardly clogged. In addition, since the copolymer elastomer of the tetrafluoroethylene resin and the silicone rubber has excellent durability, the service life of the sleeve and the service life of the pinch valve can be extended.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施例に係る半導体ウェーハ製造
設備のスラリー移送装置の概略構成図である。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a slurry transfer device of a semiconductor wafer manufacturing facility according to one embodiment of the present invention.

【図2】この発明の一実施例に係る半導体ウェーハ製造
設備のスラリー移送装置の一部を構成するピンチバルブ
の縦断面図である。
FIG. 2 is a longitudinal sectional view of a pinch valve constituting a part of a slurry transfer device of a semiconductor wafer manufacturing facility according to one embodiment of the present invention.

【図3】この発明の一実施例に係る半導体ウェーハ製造
設備のスラリー移送装置の一部を構成するピンチバルブ
の一部断面図を含む正面図である。
FIG. 3 is a front view including a partial cross-sectional view of a pinch valve constituting a part of a slurry transfer device of a semiconductor wafer manufacturing facility according to one embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 半導体ウェーハ製造設備のスラリー移送装置、 11 ウェーハ研磨装置(半導体ウェーハの製造装
置)、 13A 第1のスラリー供給管、 13B 第2のスラリー供給管、 15A 第3のスラリー供給管、 15B 第4のスラリー供給管、 20 スラリーポンプ(スラリー移送手段)、 30a 内部流路、 30 弁箱、 31 スリーブ、 32 弁軸 V1,V2 ピンチバルブ、 W 半導体ウェーハ。
Reference Signs List 10 slurry transfer equipment of semiconductor wafer manufacturing equipment, 11 wafer polishing equipment (semiconductor wafer manufacturing equipment), 13A first slurry supply pipe, 13B second slurry supply pipe, 15A third slurry supply pipe, 15B fourth Slurry supply pipe, 20 slurry pump (slurry transfer means), 30a internal flow path, 30 valve box, 31 sleeve, 32 valve shaft V1, V2 pinch valve, W semiconductor wafer.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) // B24B 37/00 F16L 55/00 M (72)発明者 伝田 正 東京都千代田区大手町1丁目5番1号 三 菱マテリアルシリコン株式会社内 (72)発明者 小林 芳樹 埼玉県入間市中神508−2 株式会社ゼビ オス内 Fターム(参考) 3C047 GG00 3C058 AA07 AC01 AC04 CB06 DA02 DA17 3H025 BA21 BB05 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI theme coat ゛ (Reference) // B24B 37/00 F16L 55/00 M (72) Inventor Tadashi Tadashi 1-5 Otemachi, Chiyoda-ku, Tokyo No. 1 Mitsubishi Materials Silicon Co., Ltd. (72) Inventor Yoshiki Kobayashi 508-2 Nakagami, Iruma-shi, Saitama Xevi Male Co., Ltd. F-term (reference) 3C047 GG00 3C058 AA07 AC01 AC04 CB06 DA02 DA17 3H025 BA21 BB05

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 スラリーを使用する設備に対して、遊離
砥粒を含むスラリーを移送する複数のスラリー管と、 隣り合うスラリー管とスラリー管との間に配設され、そ
れらのスラリー管の内部に形成されたスラリーの流路を
開閉するピンチバルブと、 上記スラリーの流路を介してスラリーを移送するスラリ
ー移送手段とを備えたスラリー移送装置。
1. A plurality of slurry pipes for transferring slurry containing free abrasive grains to equipment using the slurry, and a plurality of slurry pipes disposed between adjacent slurry pipes and inside of the slurry pipes. A slurry transfer device comprising: a pinch valve for opening and closing a slurry flow path formed in the slurry; and a slurry transfer means for transferring the slurry through the slurry flow path.
【請求項2】 上記スラリー管が、スラリーを半導体ウ
ェーハの研磨装置へ供給するスラリー供給管である請求
項1に記載のスラリー移送装置。
2. The slurry transfer device according to claim 1, wherein the slurry tube is a slurry supply tube for supplying a slurry to a semiconductor wafer polishing apparatus.
【請求項3】 上記ピンチバルブが、 上記スラリーの流路に連通する内部流路を有する弁箱
と、 上記内部流路に、この内部流路の軸線にその軸線を揃え
て収納された弾性素材からなるスリーブと、 上記弁箱にスリーブの半径方向へ移動自在に支持され、
このスリーブをスリーブの半径方向外方から弾性復帰自
在に押しつぶすことで、上記内部流路を閉ざす弁軸とを
備え、 上記スリーブの弾性素材が、四フッ化エチレン樹脂とシ
リコンゴムとの共重合エラストマーである請求項1また
は請求項2に記載のスラリー移送装置。
3. A valve box in which the pinch valve has an internal flow path communicating with the flow path of the slurry, and an elastic material stored in the internal flow path with its axis aligned with the axis of the internal flow path. And the valve case is supported by the valve box so as to be movable in the radial direction of the sleeve,
A valve shaft that closes the internal flow path by crushing the sleeve from the radial outside of the sleeve so as to be able to elastically return, and wherein the elastic material of the sleeve is a copolymer elastomer of ethylene tetrafluoride resin and silicone rubber. The slurry transfer device according to claim 1 or 2, wherein
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007537413A (en) * 2004-05-14 2007-12-20 ユナイテッド・ステイツ・ジプサム・カンパニー Slurry mixer shrink valve
JP2017505717A (en) * 2014-01-26 2017-02-23 東京エレクトロン株式会社 Inline dispense capacitor
US10354872B2 (en) 2016-08-11 2019-07-16 Tokyo Electron Limited High-precision dispense system with meniscus control
US10403501B2 (en) 2016-08-11 2019-09-03 Tokyo Electron Limited High-purity dispense system
WO2019230918A1 (en) * 2018-05-31 2019-12-05 旭有機材株式会社 Pinch valve
JP2019210964A (en) * 2018-05-31 2019-12-12 旭有機材株式会社 Pinch valve
US10537863B2 (en) 2015-12-31 2020-01-21 United States Gypsum Company Constrictor valve with webbing, cementitious slurry mixing and dispensing assembly, and method for making cementitious product
US10712663B2 (en) 2016-08-11 2020-07-14 Tokyo Electron Limited High-purity dispense unit

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011106676A (en) * 2004-05-14 2011-06-02 Usg Corp Constrictor valve and gypsum slurry mixing and dispensing system with the same
JP2007537413A (en) * 2004-05-14 2007-12-20 ユナイテッド・ステイツ・ジプサム・カンパニー Slurry mixer shrink valve
JP2017505717A (en) * 2014-01-26 2017-02-23 東京エレクトロン株式会社 Inline dispense capacitor
US10537863B2 (en) 2015-12-31 2020-01-21 United States Gypsum Company Constrictor valve with webbing, cementitious slurry mixing and dispensing assembly, and method for making cementitious product
US10354872B2 (en) 2016-08-11 2019-07-16 Tokyo Electron Limited High-precision dispense system with meniscus control
US10403501B2 (en) 2016-08-11 2019-09-03 Tokyo Electron Limited High-purity dispense system
US10712663B2 (en) 2016-08-11 2020-07-14 Tokyo Electron Limited High-purity dispense unit
JP2019210964A (en) * 2018-05-31 2019-12-12 旭有機材株式会社 Pinch valve
WO2019230918A1 (en) * 2018-05-31 2019-12-05 旭有機材株式会社 Pinch valve
CN112204280A (en) * 2018-05-31 2021-01-08 旭有机材株式会社 Pinch valve
KR20210015764A (en) * 2018-05-31 2021-02-10 아사히 유키자이 가부시키가이샤 Pinch valve
JP7202081B2 (en) 2018-05-31 2023-01-11 旭有機材株式会社 pinch valve
KR102718914B1 (en) * 2018-05-31 2024-10-18 아사히 유키자이 가부시키가이샤 Pinch valve

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