JP2002279414A - 信号処理方法、画像読取装置、プログラム及び媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 原稿を読取って得られる可視光画像のゴミ・
キズ除去を行う場合、可視光と非可視光の２度の走査か
ら得られる画像にずれがあっても、正確に、また高速に
ゴミ・キズ位置を検出し、補正する。 【解決手段】 非可視光画像と第一の閾値とにより得ら
れる画像から、可視光画像と非可視光画像のズレ量を検
出する。また、ずらしながら最適なズレ量を検出し、ズ
レ量検出を間引きながら行うことで高速化する。非可視
光画像と第二の閾値とにより得られる画像から、ゴミ・
キズ位置を検出し、可視光画像からゴミ・キズ除去を行
う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、信号処理方法、画
像読取装置プログラムおよび媒体に関し、更に詳しくは
原稿上のゴミやキズによる欠陥部分等を補正する信号処
理方法、画像読取装置、プログラムおよび媒体に関する
ものである。

【０００２】

【従来の技術】従来の例えば透過原稿の画像読取装置に
おける概略構成を図１３に示す。図１３において、原稿
台ガラス１４１上に載置されたポジ、ネガ等の透過原稿
１４２を、さらにその上部に設置された拡散板１４３を
介して透過原稿照明用ランプ１４４で照明し、透過原稿
１４２からの透過光を、ミラー１４７、ハノ字ミラー１
４８、結像レンズ１４９を介してＣＣＤ１５０に送り、
多数の単位個体撮像素子がライン状に配置されたＣＣＤ
１５０にて電気信号に変換することにより主走査方向の
画像を形成する。

【０００３】この場合の副走査方向の画像形成は、透過
原稿１４２に対して透過原稿照明用ランプ１４４、ミラ
ー１４７を同一速度、同一位相を保ったまま、副走査方
向に機械的に移動させ、ハノ字ミラー１４８を同方向に
走査速度２分の１で追従させ、透過原稿１４２からＣＣ
Ｄ１５０までの光路長（共役関係）を一定に保ちながら
行い、主走査と合わせてトータルで２次元の画像を形成
する。

【０００４】また、上記のような透過原稿の画像読取装
置において、不透明の用紙に記載された原稿に光を照射
して前記用紙から反射する光が処理されるタイプの所
謂、反射原稿を読み取ることも可能である。その場合
は、透過原稿１４２の代わりに反射原稿を載置し、透過
原稿照明用ランプ１４４を消灯し、反射原稿照明用ラン
プ１４５を点灯させて反射原稿照明用ランプ１４５によ
る直接光束と反射笠１４６による反射光束とにより照明
し、反射原稿からの反射光をＣＣＤ１５０にて読み取れ
ば、透過原稿の場合と同様に、主走査方向の画像を形成
することができる。

【０００５】特にカラー読み取り方式では、反射原稿照
明用ランプ１４５に白色の分光特性を持つランプを用
い、且つＣＣＤ１５０に、ＲＧＢそれぞれの色のフィル
タを有する３ラインタイプＣＣＤを用いて、１回の走査
にてＲＧＢの各色の画像情報を同時に読み、画像処理回
路上にて、同一ライン上のＲＧＢの各色の信号を重ね合
わせることによってカラー画像を形成する３ラインカラ
ー画像読み取り方式が一般に知られている。

【０００６】ところで、上記のような透過原稿の画像読
取装置において、透過原稿上のゴミ・キズなどによる画
像上の欠陥部分を補正するためには、画像読取後に画像
編集ソフトによりレタッチ修正する以外に有効な方法が
なかった。そのために、欠陥部分の補正には非常に時間
を要していた。

【０００７】近年、このような透過原稿用の画像読取装
置において、透過原稿上に存在する埃などのゴミや、フ
ィルム面の損傷（キズ）を検知し（以下、この検知を
「ゴミ・キズ検知」という）、読み取られた画像から、
これらのゴミやキズの影響を画像処理にて取り除く、い
わゆるゴミ・キズ除去のための機能を備えた画像読取装
置が開発されてきている。

【０００８】図１４は、従来のゴミ・キズ検知用の機能
を有する画像読取装置１を示す図であり、図１３に示し
た画像処理装置と同一の構成部分には同一の参照符号を
付して、その説明を省略する。

【０００９】図１４において、１５１は波長約８８０ｎ
ｍに発光強度のピークを有するＬＥＤから成る赤外光ラ
ンプである。

【００１０】また、図１５は、画像読取装置１により得
られる画像データを用いて、ゴミ・キズ除去を行うゴミ
・キズ除去部２の機能構成を示すブロック図である。図
１５において、２１は画像読み取り装置１により読み込
んだ画像データを入力するためのインターフェース（Ｉ
／Ｆ）、２２は透過原稿照明用ランプ１４４または反射
原稿照明用ランプ１４５を用いて読み込んだ画像（以
下、「普通画像」と呼ぶ。）を記憶するための画像メモ
リ、２３は赤外光ランプ１５１を用いて読み込んだ画像
（以下、「赤外光画像」と呼ぶ。）を記憶するための赤
外光画像メモリ、２４は予め決められた閾値を保持する
閾値保持部、２５はゴミ・キズ検知部、２６はゴミ・キ
ズ補正部である。

【００１１】図１６は、透過原稿照明用ランプ１４４及
び赤外光ランプ１５１の分光強度分布を示す図であり、
各ランプの特性を実線、一点鎖線によってそれぞれ示
す。また、図１７は一般的なネガ、ポジカラーフィルム
のシアン色、イエロー色、マゼンタ色の各色素の分光透
過率特性と、赤外光ランプ１５１の分光強度分布のピー
ク波長（約８８０ｍｍ）を示したものである。図１７に
て明らかなように、一般的なカラーフィルムの場合に
は、どの色素であっても約８８０ｎｍにおける透過率は
非常に高いため、フィルム上の画像によらず赤外光ラン
プの光束はほとんど通過することになる。

【００１２】以下、ゴミ・キズ除去動作を行う場合の透
過原稿読取動作について、図１８に示すフローチャート
に従って詳細に説明する。

【００１３】先ず、ステップＳ１０において、図１４の
反射原稿照明用ランプ１４５及び赤外光ランプ１５１を
消灯し、透過原稿照明用ランプ１４４を点灯させる。こ
のとき透過原稿照明用ランプ１４４の照明光束は拡散板
１４３によって斑なく拡散され、その拡散光束が透過原
稿１４２を透過する。この透過光束がミラー１４７、ハ
ノ字ミラー１４８を通過し、さらに結像レンズ１４９を
通過し、ＣＣＤ１５０に投影される。ＣＣＤ１５０上に
投影された画像は電気信号に変換され、図１５のＩ／Ｆ
２１を介して画像メモリ２２に一時記憶される。ここ
で、透過原稿がネガフィルムの場合には、反転処理でポ
ジ画像を得てから画像メモリ２２に一時記憶される。

【００１４】次に、ステップＳ２０において、図１４の
反射原稿照明用ランプ１４５と透過原稿照明用ランプ１
４４とを消灯し、赤外光ランプ１５１を点灯させる。図
１６に示すような特性を備えた赤外光ランプ１５１の照
明光束は拡散板１４３によって斑なく拡散され、その拡
散光束が透過原稿１４２を透過し、更にミラー１４７、
ハノ字ミラー１４８、結像レンズ１４９を通過した光は
ＣＣＤ１５０に投影される。従って、透過原稿１４２を
透過した赤外光ランプ１５１の照明光束は、図１７に示
すようにネガ、ポジ等の透過原稿１４２の画像（感光
像）によらず透過し、物理的に光路を遮る埃、ゴミ・キ
ズ等の像がＣＣＤ１５０上に蔭として投影される。ＣＣ
Ｄ１５０上に投影された赤外光画像は電気信号に変換さ
れ、図１５のＩ／Ｆ２１を介して赤外光画像メモリ２３
に一時記憶される。

【００１５】次にステップＳ３０以降の工程でゴミ・キ
ズの検出及び補正を行うが、ゴミ・キズ検知の原理につ
いてここで詳しく説明する。

【００１６】図１９は、透過原稿照明用ランプ１４４及
び赤外光ランプ１５１による読取画像の階調レベルを主
走査方向にプロットしたものと、ゴミなどの関係をわか
りやすく図示したものである。図１９（ａ）において、
１８１はポジフィルム、１８２はポジフィルム１８１上
のゴミである。図１９（ｂ）は図１９（ａ）の部分を透
過原稿照明用ランプ１４４で読み取った場合の階調レベ
ルであり、暗い部分ほど階調レベルは低い値を示してお
り、ゴミ１８２の部分の階調レベルは、ポジフィルム上
の画像によらずに当然低くなっている。図１９（ｃ）は
同じく図１９（ａ）の部分を赤外光ランプ１５１で読み
取った場合の階調レベルであり、ゴミ１８２の部分の階
調レベルは赤外光も通過しないために低くなり、ゴミ１
８２以外の部分は赤外光が通過してしまうためにほぼ一
定のレベル１８３となる。そこでレベル１８３よりも低
い階調レベルに閾値１８４を設定し、閾値１８４以下の
部分を抽出することでゴミによる欠陥領域１８５の検出
が可能となる。

【００１７】この閾値１８４は閾値保持部２４に予め保
持されており、従って、ステップＳ３０において、ゴミ
・キズ検知部２５は閾値保持部２４からこの閾値１８４
を読み出し、赤外光画像メモリ２３から赤外光画像デー
タを読み出して、順次赤外光画像データと閾値１８４と
を比較することで、欠陥領域１８５を検出する。

【００１８】赤外光画像データが閾値１８４よりも小さ
い場合は（ステップＳ３０でＮＯ）、ステップＳ４０で
この欠陥領域１８５を欠陥領域１８５の周囲の正常な領
域から補間処理などを行うことにより、ゴミ１８２によ
る影響を軽減する。上記比較動作を全ての赤外光画像デ
ータについて行い、欠陥領域が検出されると、対応する
普通画像のデータに対して補間処理を行う（ステップＳ
５０）。

【００１９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、非可視
光画像を用いてゴミ・キズの検知を行うためには、同じ
原稿を非可視光による走査読取りと可視光による走査読
取りというように2回読まなくてはならない。そのため
に光電変換手段、光学系、及びその処理回路の少なくと
も一部を含む走査部にて原稿を走査する必要がある。す
ると、ゴミ・キズを検出するための非可視光走査読取り
による画像と、実際の画像情報を得るための可視光走査
読取りによる画像との間に走査部の動作精度の問題等に
よるずれが生じ、結果的にゴミ・キズの除去が満足には
出来ないという問題があった。

【００２０】本発明は上記問題点を鑑みてなされたもの
であり、原稿を読み取ってゴミ・キズを補正する場合
に、複数回の走査動作の繰り返しのずれが生じても、適
切なゴミ・キズ検出と補正を安定して行うことを目的と
する。

【００２１】さらに、照明、光センサおよび原稿の波長
特性が必ずしも理想的な特性ではないために非可視光画
像に可視光画像の影響が及ぶことがあり、また、フィル
ムホルダの影が非可視光画像に影響を及ぼすこともあ
り、ゴミ・キズによる欠陥ではない可視光画像を誤って
補正するという問題があった。

【００２２】本発明は、上記問題点を鑑みてなされたも
のであり、波長特性の理想からのずれや、フィルムホル
ダの影等による影響を軽減することを目的とする。

【００２３】また、高い指定解像度で読とられた場合、
画像データが多くなるため、普通画像と赤外光画像のゴ
ミ・キズ位置検出するのに非常に長い時間を要すること
になるという問題があった。

【００２４】本発明はさらに、上記問題点を鑑みてなさ
れたものであり、ゴミ・キズ修復効果を低下させること
なく、ゴミ・キズ除去処理を高速化することを目的とす
る。

【００２５】

【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題点を
解決するためになされたものであり、以下の様に構成さ
れる。

【００２６】［請求項１］ 可視光を照射する可視光照
射手段と、非可視光を照射する非可視光照射手段とによ
りそれぞれ原稿を照射し、原稿の光学像を光電変換して
得られる可視光画像信号および非可視光画像信号を処理
する信号処理方法であって、前記非可視光画像信号から
第一のゴミ・キズ画像信号を生成する工程と、前記可視
光画像信号において、前記第一のゴミ・キズ画像信号と
の相関演算を行うと共に、前記原稿がネガ画像かポジ画
像かに応じて前記相関演算方法を変更する変更工程と、
を有することを特徴とする信号処理方法。

【００２７】［請求項２］前記相関演算は、前記可視光
画像信号において、前記第一のゴミ・キズ画像信号のゴ
ミ・キズ位置に対応する画素を、所定画素ずつずらし
て、各ズレ量毎にゴミ・キズ位置に対応する画素の信号
値の和を算出する算出工程を有することを特徴とする請
求項１に記載の信号処理方法。

【００２８】［請求項３］前記原稿がネガ原稿である場
合に、前記光電変換した信号にネガ／ポジ反転処理を行
い可視光画像信号を得るネガ／ポジ反転工程と、を有す
ることを特徴とする請求項１に記載の信号処理方法。

【００２９】［請求項４］前記変更工程において、前記
原稿がネガ画像である場合には、前記算出工程の和が最
大となるズレ量を、前記原稿がポジ画像である場合に
は、前記算出工程の和が最小となるズレ量を求めるズレ
量検出工程を有することを特徴とする請求項２及び３に
記載の信号処理方法。

【００３０】［請求項５］前記ズレ量と前記非可視光画
像信号を用いて前記可視光画像信号を補正する補正工程
とを有することを特徴とする請求項４に記載の信号処理
方法。

【００３１】［請求項６］前記補正工程は、前記非可視
光画像信号から第二の閾値を用いて第二のゴミ・キズ画
像信号を生成する工程を有し、前記ズレ量と第二のゴミ
・キズ画像信号を用いて前記可視光画像信号を補正する
ことを特徴とする請求項５に記載の信号処理方法。

【００３２】［請求項７］可視光を照射する可視光照射
手段と、非可視光を照射する非可視光照射手段とにより
それぞれ原稿を照射し、原稿の光学像を光電変換して得
られる可視光画像信号および非可視光画像信号を処理す
る信号処理方法であって、前記非可視光画像信号から第
一の閾値を用いて第一のゴミ・キズ画像信号を生成する
工程と、前記非可視光画像信号から第二の閾値を用いて
第二のゴミ・キズ画像信号を生成する工程と、前記可視
光画像信号と第一及び第二のゴミ・キズ画像信号とを用
いて前記可視光画像信号を補正する工程とを有すること
を特徴とする信号処理方法。

【００３３】［請求項８］前記可視光画像信号と第一の
ゴミ・キズ画像信号との位置ずれ量を検出する工程を有
する請求項７に記載の信号処理方法。

【００３４】［請求項９］前記第二の閾値を前記第一の
閾値よりも高く設定する閾値設定工程を有することを特
徴とする請求項６乃至８のいずれかに記載の信号処理方
法。

【００３５】［請求項１０］前記閾値設定工程は、第一
の閾値は非可視光画像のヒストグラム平均値から非可視
光画像の標準偏差のａ倍だけ低い階調レベルに設定し、
第二の閾値は非可視光画像のヒストグラム平均値から非
可視光画像の標準偏差のａよりも小さいｂ倍だけ低いレ
ベルに設定することを特徴とする請求項９に記載の信号
処理方法。

【００３６】［請求項１１］前記閾値設定工程は、前記
標準偏差が所定値を超える場合は所定値と置き換えて、
第一と第二の閾値を設定することを特徴とする請求項１
０に記載の信号処理方法。

【００３７】［請求項１２］前記非可視光画像信号の解
像度は前記可視光画像信号解像度と異なることを特徴と
する請求項１に記載の信号処理方法。

【００３８】［請求項１３］可視光と非可視光を選択的
に照射する照射手段と、前記照射手段によって照射され
た原稿の光学像を光電変換して得られる可視光画像信号
および前記可視光画像信号とは解像度の異なる非可視光
画像信号を処理する信号処理方法であって、前記非可視
光画像信号から第一の閾値を用いて第一のゴミ・キズ画
像信号を生成する工程と、前記可視光画像信号と前記第
一のゴミ・キズ画像信号の解像度をあわせた後、前記可
視光画像信号と前記非可視光画像信号との位置ズレ量を
検出するズレ量検出工程と、前記ズレ量と前記非可視光
画像信号を用いて前記可視光画像信号を補正する補正工
程とを有することを特徴とする信号処理方法。

【００３９】［請求項１４］前記ズレ量算出工程は、前
記可視光画像信号において、前記第一のゴミ・キズ画像
信号のゴミ・キズ位置に対応する画素を、所定画素ずつ
ずらして、各ズレ量毎にゴミ・キズ位置に対応する画素
の信号値の和を算出する算出工程を有し、各ズレ量毎に
算出した和から、前記可視光画像信号と前記非可視光画
像信号との位置ズレ量を検出するズレ量検出工程である
ことを特徴とする請求項１３に記載の信号処理方法。

【００４０】［請求項１５］前記非可視光画像信号を変
倍して前記可視光画像信号と同じ解像度の第二非可視光
画像信号を生成し、第二非可視光画像信号から前記第一
のゴミ・キズ位置画像信号を生成することを特徴とする
請求項１２乃至１４のいずれか１項に記載の信号処理方
法。

【００４１】［請求項１６］前記算出工程における所定
画素は複数画素であることを特徴とする請求項２、４、
５、６、１４または１５に記載の信号処理方法。

【００４２】［請求項１７］前記可視光画像信号が前記
非可視光画像信号のＭ倍の場合に、上記所定画素をＭ画
素とすることを特徴とする請求項１２乃至１６のいずれ
か１項に記載の信号処理方法。

【００４３】［請求項１８］前記算出工程の所定画素を
一画素で行う算出工程と、前記算出工程の所定画素を複
数画素で行うか一画素で行うかを判断する工程とを有す
ることを特徴とする請求項１６または１７に記載の信号
処理方法。

【００４４】［請求項１９］前記判断する工程は、前記
可視光画像信号の解像度が所定解像度よりも高いときに
複数画素毎と判断することを特徴とする請求項１８に記
載の信号処理方法。

【００４５】［請求項２０］可視光と非可視光を選択的
に照射する照射手段と、それぞれの光により原稿を照射
して前記原稿の光学像を結像するための結像光学系とを
有する画像読取装置であって、請求項１乃至１９のいず
れか１項に記載の信号処理方法を実行する制御手段を有
することを特徴とする画像読取装置。

【００４６】［請求項２１］コンピュータに請求項１乃
至１９のいずれかに記載の信号処理方法を実現させるた
めのプログラム。

【００４７】［請求項２２］コンピュータに請求項２１
に記載の信号処理方法を実現させるためのプログラムを
記録した記録媒体。

【００４８】

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の好適な実施の形態を詳細に説明する。

【００４９】＜第一の実施形態＞第一の実施の形態を図
１から図３を用いて説明する。なお、画像読み取り装置
の構成は図１４に示すものと同様であるので、説明を省
略する。また図１は、本第一の実施形態の画像読取装置
１から出力される画像信号に対してゴミ・キズ除去を行
うゴミ・キズ除去部３の機能構成を示すブロック図であ
る。なお、図１では、ゴミ・キズ除去部３は画像読み取
り装置１とは別の装置として示されているが、画像読み
取り装置１内部に構成しても構わない。

【００５０】図１において、２１は画像読み取り装置１
により読み込んだ画像データを入力するためのインター
フェース（Ｉ／Ｆ）、２２は透過原稿照明用ランプ１４
４または反射原稿照明用ランプ１４５を用いて読み込ん
だ画像を記憶するための画像メモリ、２３は赤外光ラン
プ１５１を用いて読み込んだ画像や、ゴミ・キズ位置を
示す画像を記憶するための赤外光画像メモリ、２５はゴ
ミ・キズ検知部、２６はゴミ・キズ補正部、３１はヒス
トグラム生成部、３２は閾値決定・保存部、３３は位置
ずれ量検出部である。

【００５１】次に、図２のフローチャートを参照しなが
ら、本第一の実施形態におけるゴミ・キズ除去動作を行
う場合の透過原稿読取動作について詳細に説明する。

【００５２】先ず、ステップＳ２０１において、図１４
の反射原稿照明用ランプ１４５及び赤外光ランプ１５１
を消灯し、透過原稿照明用ランプ１４４を点灯させる。
このとき透過原稿照明用ランプ１４４の照明光束は拡散
板１４３によって斑なく拡散され、その拡散光束が透過
原稿１４２を透過する。この透過光束がミラー１４７、
ハノ字ミラー１４８を通過し、さらに結像レンズ１４９
を通過し、ＣＣＤ１５０に投影される。ＣＣＤ１５０上
に投影された画像は電気信号に変換され、図１のＩ／Ｆ
２１を介して画像メモリ２２に一時記憶される。ここ
で、透過原稿がネガフィルムの場合、反転処理を行いポ
ジ画像を得てから画像メモリ２２に一時記憶する（以
下、「普通画像」と呼ぶ。）。透過原稿がネガフィルム
であるか、ポジフィルムであるかは、予めユーザが指定
する。

【００５３】次に、ステップＳ２０２において、図１４
の反射原稿照明用ランプ１４５と透過原稿照明用ランプ
１４４とを消灯し、赤外光ランプ１５１を点灯させる。
図１５に示すような特性を備えた赤外光ランプ１５１の
照明光束は拡散板１４３によって斑なく拡散され、その
拡散光束が透過原稿１４２を透過し、更にミラー１４
７、ハノ字ミラー１４８、結像レンズ１４９を通過した
光はＣＣＤ１５０に投影される。従って、透過原稿１４
２を透過した赤外光ランプ１５１の照明光束は、図１６
に示すようにネガ、ポジ等の透過原稿１４２の画像（感
光像）によらず透過し、物理的に光路を遮る埃、ゴミ・
キズ等の像がＣＣＤ１５０上に蔭として投影される。Ｃ
ＣＤ１５０上に投影された赤外光画像は電気信号に変換
され、図１のＩ／Ｆ２１を介して赤外光画像メモリ２３
に一時記憶される（以下、「赤外光画像」と呼ぶ。）。

【００５４】次に、ステップＳ２０３において、赤外光
画像メモリ２３に一時記憶された赤外光画像データを用
いて、３２の閾値決定・保持部にてステップＳ２０４で
用いる閾値Laを算出し、保持する。この算出方法につい
て後程説明する。

【００５５】次に、ステップＳ２０４において、ゴミ・
キズ検知部２５は閾値決定・保持部３２から閾値Ｌaを
読み出し、赤外光画像メモリ２３から赤外光画像データ
を読み出して、順次赤外光画像データと閾値Ｌaとを比
較することで、ゴミ・キズを検出し、第一ゴミ・キズ位
置画像を生成し、赤外光画像メモリ２３に一時追加記憶
する。

【００５６】次にステップＳ２０５において、位置ずれ
量検出部３３は、画像メモリ２２に記憶されている普通
画像と赤外光画像メモリ２３に記憶されている第一ゴミ
・キズ位置画像との位置ずれ量を検出する。検出の詳細
は、後程説明する。

【００５７】次にステップ２０６において、赤外光画像
メモリ２３に一時記憶された赤外光画像データを用い
て、３２の閾値決定・保持部にてステップＳ２０７で用
いる閾値Ｌbを算出し、保持する。このＬｂの算出方法
についても後程説明する。

【００５８】次にステップＳ２０７において、ゴミ・キ
ズ検知部２５は閾値決定・保持部３２から閾値Ｌbを読
み出し、赤外光画像メモリ２３から赤外光画像データを
読み出して、順次赤外光画像データと閾値Ｌbとを比較
することで、ゴミ・キズを検出し、第二ゴミ・キズ位置
画像を生成し、赤外光画像メモリ２３に一時追加記憶す
る。

【００５９】次にステップＳ２０８において、補正部２
６は、赤外光画像メモリ２３に記憶されている第二ゴミ
・キズ位置画像からゴミ・キズ位置を読み出して、ステ
ップ２０５で検出した位置ずれ量だけずらす。このずら
した位置に対応する画像メモリ２２に記憶されている普
通画像の画像データは、ゴミ・キズにより欠損が生じた
欠陥領域のデータであると判断する。この普通画像の欠
陥領域のデータを欠陥領域の周囲の正常な領域から補間
処理などを行うことにより、ゴミ・キズによる影響を軽
減する。第二ゴミ・キズ位置画像のゴミ・キズ位置の全
てに対して、ステップ２０５で検出した位置ずれ量だけ
ずらした位置に対応する普通画像の画像データを補正処
理することにより、ゴミ・キズの影響の軽減された普通
画像を得ることが出来る。

【００６０】＜第二の実施形態＞第二の実施の形態を図
８から図１０を用いて説明する。図８（ａ）は、ポジフ
ィルム１０１上にゴミ１０２がある状態を示し、図８の
（ｂ）は図８（ａ）の部分を図１４に示す透過原稿照明
用ランプ１４４で指定解像度によって読み取った場合の
階調レベルを示す。ゴミ上での階調レベルは、光が透過
しないため下に凸となった階調レベル分布が得られる。
また、図８（ｃ）は同じく図８（ａ）の部分を図１４に
示す赤外光ランプ１５１で読み取った場合の階調レベル
を示し、特に指定解像度より大幅に低解像度で読み取っ
た場合を示している。この場合、ゴミ・キズ情報をより
低解像度で読み取ったために階調レベルが緩やかに変化
する。赤外光画像図８（ｃ）のゴミ・キズの影響を受け
ていない階調レベルＬ１に対して、所定レベルΔＬ12と
して予め設定された閾値（あるいはヒストグラム及び階
調レベル解析によって定められた閾値）だけ差を持つ階
調レベルＬ２を設定し、階調レベルＬ２にて２値化処理
し、ゴミ・キズ検知情報を確定する。図８（ｂ）で、ゴ
ミ・キズによって影響を受けたゴミ・キズ幅をＰ１と
し、図８（ｃ）でゴミ・キズ検知情報として確定された
ゴミ・キズ幅をＰ２とすれば、図８（ｃ）ではより低解
像度で読み取ったためにＰ1より大きいＰ2なる幅で検出
されることになり、正しくゴミ・キズ位置を特定するに
は不十分である場合を意味している。

【００６１】図８（ｄ）は、同じく図８（ａ）の部分を
図１４に示す赤外光ランプ１５１で読み取った場合の階
調レベルを示し、特に指定解像度で読み取った場合を示
している。この場合、ゴミ・キズ情報をより高解像度で
読み取ったために階調レベルが緻密に変化している。こ
の場合のゴミ・キズの影響を受けていない階調レベルＬ
３に対して、赤外光画像を所定レベルΔＬ３４として予
め設定された閾値（あるいはヒストグラム及び階調レベ
ル解析によって定められた閾値）だけ差を持つ階調レベ
ルＬ４を設定し、階調レベルＬ４にて２値化処理し、ゴ
ミ・キズ検知情報を確定する。図８（ｄ）でゴミ・キズ
検知情報として確定されたゴミ・キズ幅をＰ３とすれ
ば、図８（ｄ）では指定解像度で読み取ったためにＰ1
とほぼ等しいＰ３なる幅で検出されることになり、正し
くゴミ・キズ位置を特定することが出来ることを意味し
ている。

【００６２】図８（ｃ）、（ｄ）で説明したように、赤
外光画像で得たい情報は、解像度や階調分布ではなくゴ
ミ・キズ幅である。つまりは、指定解像度より低い解像
度であってもゴミ・キズ幅を特定できれば良いことを意
味しており、例えば指定解像度より約1／2の低い解像度
で読みこんだ場合でも、所定の閾値を設けてやること
で、ほぼ正確にゴミ・キズ幅を特定できる。

【００６３】図８（e）は、同じく図８（ａ）の部分を
図１４に示す赤外光ランプ１５１で読み取った場合の階
調レベルを示し、特に指定解像度の1／2の解像度で読み
取った場合を示している。この場合にも、ゴミ・キズ情
報をより指定解像度で読み取った場合と酷似して階調レ
ベルが緻密に変化している。この場合のゴミ・キズの影
響を受けていない階調レベルＬ５に対して、赤外光画像
を所定レベルΔＬ５６として予め設定された閾値（ある
いはヒストグラム及び階調レベル解析によって定められ
た閾値）だけ差を持つ階調レベルＬ６を設定し、階調レ
ベルＬ６にて２値化処理し、ゴミ・キズ検知情報を確定
する。図８（e）でゴミ・キズ検知情報として確定され
たゴミ・キズ幅をＰ4とすれば、図８（e）では指定解像
度の１／２の解像度で読み取っても、Ｐ1とほぼ等しい
Ｐ4なる幅で検出されることになり、正しくゴミ・キズ
位置を特定することが出来ることを意味している。

【００６４】つまり、図８（e）で赤外光画像を読み取
っても、正しくゴミ・キズ位置を特定できる効果として
は、指定解像度より1／2の解像度で赤外光画像を読みこ
んだ場合でもゴミ・キズ除去性能を低下させることな
く、高速化が図られることになる。

【００６５】図１０に読取り画像の模式図を示す。画像
読取装置１で読み取った画像例として、ゴミ・キズを含
むポジフィルムを読み取った場合の普通画像を図１０
（ａ）、（ｃ）に、赤外光画像を図１０（ｂ），（ｄ）
に示した。図１０（ａ）、（ｂ）は、低解像度で普通画
像と赤外光画像を読取った画像を示す。また、図１０
（ｃ）、（ｄ）は高解像度の2倍の指定解像度で読み取
った場合を示し、画素幅Rv'、副走査画素幅ＲL として
空間的に示した図である。また、図１０（ｄ）は、
（ｂ）を２倍に拡大した図としての説明にも使用する。
図１０（ａ）、（ｃ）の普通画像ではゴミ・キズのある
ところでは暗い濃度レベルの画素情報となり、図１０
（ｂ），（ｄ）の赤外光画像ではゴミ・キズ検出処理に
より2値化されゴミ・キズ位置が明確化されている。

【００６６】以下、ゴミ・キズ除去動作を行う場合の透
過原稿読取動作について、図９に示すフローチャートに
従って詳細に説明する。

【００６７】先ず、ステップＳ３０１において、図１４
の反射原稿照明用ランプ１４５及び赤外光ランプ１５１
を消灯し、透過原稿照明用ランプ１４４を点灯させる。
このとき透過原稿照明用ランプ１４４の照明光束は拡散
板１４３によって斑なく拡散され、その拡散光束が透過
原稿１４２を透過する。この透過光束がミラー１４７、
ハノ字ミラー１４８を通過し、さらに結像レンズ１４９
を通過し、ＣＣＤ１５０に投影される。ＣＣＤ１５０上
に投影された画像は電気信号に変換され、図１５のＩ／
Ｆ２１を介して画像メモリ２２に一時記憶される。この
とき、指定解像度Rsで読み取られた普通画像が得られた
ことになる。

【００６８】次に、ステップＳ３０２において、図１４
の反射原稿照明用ランプ１４５と透過原稿照明用ランプ
１４４とを消灯し、赤外光ランプ１５１を点灯させる。
図１６に示すような特性を備えた赤外光ランプ１５１の
照明光束は拡散板１４３によって斑なく拡散され、その
拡散光束が透過原稿１４２を透過し、更にミラー１４
７、ハノ字ミラー１４８、結像レンズ１４９を通過した
光はＣＣＤ１５０に投影される。従って、透過原稿１４
２を透過した赤外光ランプ１５１の照明光束は、図１７
に示すようにネガ、ポジ等の透過原稿１４２の画像（感
光像）によらず透過し、物理的に光路を遮る埃、ゴミ、
キズ等の像がＣＣＤ１５０上に蔭として投影される。Ｃ
ＣＤ１５０上に投影された赤外線画像は電気信号に変換
され、図１５のＩ／Ｆ２１を介して赤外線画像メモリ２
３に一時記憶される。このときは指定解像度より低い所
定解像度Rnで読み取られた赤外光画像が得られる。

【００６９】次にステップＳ３０３では、ステップS３
０２で得られた赤外光画像を所定解像度Rnから指定解像
度RsにＭ倍の変倍処理を加える。なお Ｍ＝Ｒｓ／Ｒ
ｎ。ここで、赤外光画像は指定解像度と同じ画素単位で
空間距離を扱えるようになる。

【００７０】次にステップS３０４の工程で、ゴミ・キ
ズの普通画像中の位置検出のために、図１２で示すよう
に普通画像と赤外光画像とでＳ３０１とＳ３０２の走査
の精度に伴いゴミ・キズ位置がずれて得られる場合の、
位置ずれ量の検知を普通画像のＭ画素毎に行う。位置ず
れ量検出の詳細は、後程説明する。例えば、図１０
（ｂ）のゴミ・キズ位置画像と図１０（ｄ）の様に変倍
率が2倍であれば、２画素毎にずれ量の検出を行う。Ｍ
画素毎に行ったずれ量検出の総和から画像全体のずれ量
を検出する。

【００７１】次にステップＳ３０５にて、普通画像中の
ゴミ・キズ画像を修復する。ここでは、普通画像におい
て、赤外光画像から得られたゴミ・キズ位置をステップ
Ｓ３０４で得られたズレ量だけずらした位置に対応する
画像のゴミ・キズ画像を修復する。そして、ゴミ・キズ
除去処理を終了する。本フローチャートに従えば、赤外
光画像の読み取り速度を速めることができ、結果として
ゴミ・キズ除去性能を低下させることなく高速化が図れ
ることになる。

【００７２】＜第三の実施形態＞図１０、図１１を用い
て、第三の実施形態を説明する。図１０は第二の実施の
形態で説明した。ゴミ・キズ除去動作を行う場合の透過
原稿読取動作について、図１1に示すフローチャートに
従って詳細に説明する。

【００７３】先ず、ステップＳ１０１、Ｓ１０２は第二
の実施形態で説明したステップＳ３０１、Ｓ３０２と同
様であるが、ステップＳ１０２では、解像度がＳ１０１
と同じＲｓで読取る。ここで、ステップS１０１、S１０
２の解像度が非常に高い場合には、第１の実施形態の図
８で説明した様に、ゴミ・キズ位置を特定するに、ある
解像度以上の高解像度で赤外光画像を読み取らずとも良
い場合がある。普通画像と赤外光画像の位置合わせを行
う際にも同様の効果が得られる。この境の解像度を、予
め定められた所定解像度Rdとして設定しておく。

【００７４】次にステップＳ１０３では、ステップS１
０２で得られた赤外光画像が、予め定められた所定解像
度Rdより低いかどうかを判定し、低い場合にはステップ
S104、ステップS106を経由し、一画素毎にゴミ・キズの
位置ズレ量を検出する。S103で所定解像度Rdと同じ、も
しくは高い解像度であった場合、ステップS105、ステッ
プS106を経由する。このとき、図２で示されるような指
定解像度が非常に高解像度である場合、普通画像と赤外
光画像とではS101とS102のステップに伴うゴミ・キズ位
置がずれて得られる場合の位置ずれ量検出を、Ｍ（＝Rs
／Rn）画素毎にゴミ・キズ位置ずれ量検出を行うことで
高速化することが可能となる。 ステップS106で検出し
た位置ずれ量でゴミ・キズ位置を補正して、普通画像中
のゴミ・キズ画像を修復し、ゴミ・キズ除去処理を終了
する。本フローチャートに従えば、指定解像度が非常に
高解像度である場合、普通画像と赤外光画像のゴミ・キ
ズ位置合わせ処理を速めることができ、結果としてゴミ
・キズ除去性能を低下させることなく高速化が図れるこ
とになる。

【００７５】以下に、本実施形態に共通の、位置ずれ量
検知と閾値Ｌａ、Ｌｂの検出について説明する。

【００７６】＜位置ずれ量検出＞以下、図３、４、５を
参照して、位置ずれ量検出部３３による普通画像と第一
ゴミ・キズ位置画像との位置ずれ量の検出について説明
する。

【００７７】図３に位置ずれ量検出を示すフローチャー
トを示し、図４に本実施形態の位置ずれ補正を説明した
模式図を示す。図４において図示する通り、下方向を副
走査方向、横方向を主走査方向とする。図４において４
０１，４０２は(a)の赤外光画像でゴミ・キズと検出さ
れた画素であり、(b)の普通画像における４０３，４０
４の画素座標はそれぞれ４０１，４０２の座標に対応し
ている。しかし、実際は赤外光画像と普通画像間には前
述の通り位置ずれが発生しており、４０１のゴミ・キズ
画素は４０３の画素の上下数ピクセルにずれている可能
性がある。ゴミ・キズ位置画像データは普通画像におい
て、ポジフィルムの場合はそのまま低い濃度値として、
ネガフィルムの場合は反転されて高い濃度値として普通
画像に表現される。そこで、赤外上のゴミ・キズ座標４
０１に対応する可視上のゴミ・キズ座標４０３から副走
査方向±Npixelの範囲の画素の濃度値を求める。求めた
(2N+1)画素の中でポジフィルムの場合は一番低い濃度
値、ネガフィルムの場合は一番高い濃度値の画素が実際
に普通画像上でゴミ・キズに対応する画素として、普通
画像と赤外光画像のずれ量がわかる（ステップＳ３０
１）。しかし、1つの画素だけで、ずれ量を判定すると
誤った位置ずれ判定をしてゴミ・キズ画素で検出もれが
発生する可能性がある。そこで、ずれ量毎の普通画像に
おける濃度値の合計量を求めることにより位置ずれ判定
の精度を上げる。図5にその例を示す。図５（ａ）はず
れを検出する範囲をN=10とした場合のポジフィルムにお
ける例を表す。画素,,,・・・は赤外光画像にお
いてゴミ・キズと判定された全ての画素であり、各画素
毎に±10pixelの範囲の濃度値を求め、ずれ量毎にその
濃度値の合計を求める（ステップ３０２）。図５（ａ）
の例においては、ずれ量+1pixelの合計値が最小値とな
っているので、この場合は赤外光画像と普通画像のずれ
量を副走査方向+1pixelとして、ゴミ・キズ検出時に補
正を行うことになる（ステップ３０３）。なお、濃度値
の合計値でなく平均値を用いても同様の結果を得ること
が出来る。図３のステップ３０４に示すとおり、主走査
方向に対しても同様のずれ補正量決定を行う。なお、図
５（ｂ）で、赤外光画像においてゴミ・キズと判定され
た全ての画素,,,・・・でのずれ量毎の普通画素
における濃度値の合計量を求めたが、計算時間短縮のた
めに、図５（ｂ）に示すように、画素、、、・・
・のように二画素毎におこなうこともできる。また、第
三の実施形態の図１１のステップＳ１０５で、Ｍが２の
場合、図１０（ｃ）、（ｄ）に示すように２画素毎に位
置ズレ検出を行う。この場合主走査、副走査方向ともに
２画素毎に位置ズレ量を検出するので図５（ｃ）に示す
ような計算を行って、ズレ量を検出する。図５（ｃ）は
図５（ａ）と比べて、計算量が１／４になっている。

【００７８】＜閾値Ｌａ，Ｌｂの算出＞以下、閾値決定
・保存部３２による、赤外光画像からゴミ・キズ位置検
知を行う場合に用いる閾値Ｌａ，Ｌｂの算出について説
明する。

【００７９】赤外光による透過原稿の読取によって、ゴ
ミ・キズの位置を検出する場合、赤外光画像のヒストグ
ラムを用いてそこから閾値を求め、閾値以下の画素をゴ
ミ・キズと判定して、その画素に対応する普通画像中の
画素の補正をする。

【００８０】閾値を決定する方法としては、赤外画像の
ヒストグラムから算出された平均値から、標準偏差の値
をn倍したものを引いた値を閾値とする。式(１)に、こ
の方法を表す。 Threshold = Average - SD x n (１) Threshold ： 閾値 Average ： 赤外画像の平均値 SD ： 赤外画像の標準偏差 n ： 係数n 図１６は可視光、及び赤外光(ピーク波長880nm)の分光
強度分布を示した図であり、図１７は一般的なネガ・ポ
ジカラーフィルムのイエロー色、マゼンダ色、シアン色
の透過率を示した図である。

【００８１】図１７で明らかなように一般的なカラーフ
ィルムの場合、どのような色素であっても赤外光付近の
透過率は非常に高いので、赤外光ランプの光束はほとん
ど透過する。しかし、透過率が高いと言っても100%に達
していない。また、フィルムの成分によっては赤外光付
近の透過率が低いものもある。そのようなフィルムを赤
外光でスキャンした場合など特に上記の理由から、ゴミ
・キズだけでなく、本来可視光で得られる画像情報も赤
外光画像に写り込んでしまう可能性がある。赤外光画像
と普通画像のずれ量を求める時に、普通画像情報まで写
り込んでしまうと、ずれ補正量の計算に誤差の発生をも
たらす。そこで、図２の位置ずれ補正のための第一のゴ
ミ・キズ検出２０４とゴミ・キズ補正のための第二のゴ
ミ・キズ検出２０７とで異なる閾値を用いる。

【００８２】図６は赤外光画像のヒストグラムの例を表
したもので、Ta６０２は第一の閾値を、Tb６０３は第二
の閾値を表す。第一の閾値Taは、ずれ補正量を測定する
ためのものであり、ゴミ・キズ以外の写り込みがないよ
うなレベルに比較的低めに設定する。一方、第二の閾値
Tbは、ずれ補正後に除去すべきゴミ・キズの判定に用い
るためのものであり、そのレベルは写り込みが赤外光画
像に残ったとしても、ゴミ・キズに検出漏れが無いよう
に設定する。

【００８３】前述の式(１)において、係数nの設定によ
りゴミ・キズ検出の強弱を調整することができる。ｎを
大きくしすぎると検出漏れが発生する可能性があり、逆
にｎを小さくすると検出漏れは減るが、写り込みが発生
する可能性が高くなる。

【００８４】ゴミ・キズ検出のための第二の閾値Tbの時
係数nをn=bと設定し、第一の閾値Taの時の係数n=aは、2
つの係数の関係をa>bと設定することにより位置ずれ補
正の閾値が常に一定値低くなるので、写り込みの影響を
少なくすることが可能である。

【００８５】図７は赤外光画像にフィルムホルダの枠が
写り込んだ場合のヒストグラムの例を示す。透過原稿を
画像読取装置に載置する際にフィルムを固定するために
フィルムホルダを使用する。フィルムホルダは通常プラ
スチック等で形成され、赤外光画像を読み込んだ時に読
取領域にフィルムホルダが写り込んでいると、フィルム
ホルダは光を通さないのでフィルムホルダ部(以降ホル
ダシャドウと言う)は通常のゴミ・キズよりも非常に低
い濃度値となる。すると赤外光画像の濃度平均値は図５
の５０１にあるようにホルダシャドウが無い場合よりも
低くなり、同時に標準偏差も大きくなる。すると前記式
(１)は次に示す式(２)のようになるので、Thresholdが
低くなり、第一の閾値Ta'、第二の閾値Tb'も図７の７０
２，７０３のように低くなる。 Threshold(↓↓) = Average(↓) − SD(↑) × n (２) この場合、ホルダシャドウの入りこむ大きさによっては
図７の７０２，７０３のように閾値が下がりすぎてしま
い、ゴミ・キズ判定、及び位置ずれ判定に誤りを及ぼす
恐れがある。また、ホルダシャドウは入っていなくて
も、写り込みが原因で同様の現象が起こる可能性があ
る。そこで標準偏差SDに最大リミット値を設けて計算し
た標準偏差がリミットよりも大きい場合はホルダシャド
ウ、あるいは写り込みの影響があるとして、あらかじめ
設定する固定値に置き換える。

【００８６】〔他の実施形態〕本発明は、複数の機器か
ら構成されるシステムに適用しても、一つの機器からな
る装置に適用してもよい。

【００８７】また、本発明の目的は、前述した実施形態
の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記
録した記憶媒体（または記録媒体）を、システムあるい
は装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュ
ータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒体に格納された
プログラムコードを読み出し実行することによっても、
達成されることは言うまでもない。この場合、記憶媒体
から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施
形態の機能を実現することになり、そのプログラムコー
ドを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。
また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実
行することにより、前述した実施形態の機能が実現され
るだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、
コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステ
ム（ＯＳ）などが実際の処理の一部または全部を行い、
その処理によって前述した実施形態の機能が実現される
場合も含まれることは言うまでもない。

【００８８】さらに、記憶媒体から読み出されたプログ
ラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張カー
ドやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わ
るメモリに書込まれた後、そのプログラムコードの指示
に基づき、その機能拡張カードや機能拡張ユニットに備
わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行い、
その処理によって前述した実施形態の機能が実現される
場合も含まれることは言うまでもない。

【００８９】

【発明の効果】以上説明したように、画像読取装置にお
いて、可視光による可視光画像と非可視光画像に位置ず
れが発生した場合でも、ずれ量の検出をすることにより
ずれ補正を行い、支障無くゴミ・キズ補正を行うことが
可能となる。

【００９０】また、非可視光画像への可視光の影響を除
去し、必要以上の画像補正を防止することが可能とな
る。

【００９１】また、画像読取装置において、可視光にて
読み取った画像の解像度と異なる解像度で非可視光で読
み取った画像にてゴミ・キズ除去を行った場合でもゴミ
・キズ除去性能を低下させることなくゴミ・キズ位置を
特定できるため、非可視光での読み取り速度を最適化で
き、ゴミ・キズ除去機能の高速化が可能となる。

【００９２】また、ゴミ・キズの大きさに対し非常に高
解像度で読み取った場合には、可視光にて読み取った画
像のゴミ・キズ位置を特定するのに、ゴミ・キズ除去性
能を低下させることなく非可視光と可視光で読み取った
画像を処理する画素単位を間引くことができるため、ゴ
ミ・キズ位置の特定処理を早めることができるため、ゴ
ミ・キズ除去機能の高速化が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第一の実施の形態における画像読み取
りシステムの構成を示すブロック図である。

【図２】本発明の第一の実施の形態におけるゴミ・キズ
除去部での処理を示すフローチャートである。

【図３】本発明の第一の実施の形態における位置ずれ量
検出部での処理を示すフローチャートである。

【図４】本発明の第一の実施の形態における位置ずれ量
の検出を説明する図である。

【図５】本発明の第一の実施の形態における位置ずれ量
検出部での位置ずれ検出計算の例を示す図である。

【図６】本発明の第一の実施の形態における閾値決定・
保存部での2つの閾値の設定を表す図である。

【図７】本発明の第一の実施の形態における閾値決定・
保存部でのホルダシャドウが写り込んだ場合のヒストグ
ラム、閾値設定を表す図である。

【図８】本発明の第二の実施の形態を説明する模式図で
ある。

【図９】本発明の第二の実施の形態における画像読取装
置における処理を示すフローチャートである。

【図１０】本発明の第二と第三の実施の形態を説明する
模式図である。

【図１１】本発明の第三の実施の形態における画像読取
装置における処理を示すフローチャートである。

【図１２】本発明の第三の実施の形態における解像度が
低い場合の模式図である。

【図１３】従来の画像読取装置の構成図である。

【図１４】透過原稿上のゴミ・キズによる欠陥領域を検
出する従来の画像読取装置の構成図である。

【図１５】従来の画像読み取りシステムの構成を示すブ
ロック図である。

【図１６】透過原稿照明用ランプと、赤外光ランプの分
光強度分布を示す図である。

【図１７】一般のカラーフィルムにおける３色の色素の
分光透過率特性と、赤外光ランプの分光強度分布のピー
ク波長を示す図である。

【図１８】ゴミ・キズ除去部での従来の処理を示すフロ
ーチャートである。

【図１９】従来例における、フィルム上のゴミと、透過
原稿照明用ランプ及び赤外光ランプによりフィルムを読
み込んで得た階調レベルとの関係を示す図である。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高山 勉 東京都大田区下丸子３丁目30番２号キヤノ ン株式会社内 (72)発明者 柏崎 敦子 東京都大田区下丸子３丁目30番２号キヤノ ン株式会社内 Ｆターム(参考） 5B047 AA01 AA05 BA02 BB02 BC01 CA19 CA21 CB04 CB09 CB12 DA06 DC04 5C072 AA01 CA02 EA05 UA05 UA11 UA20 VA03 5C077 LL02 MM03 PP05 PP43 PQ08 SS01 TT06

Claims (22)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 可視光を照射する可視光照射手段と、非
   可視光を照射する非可視光照射手段とによりそれぞれ原
   稿を照射し、原稿の光学像を光電変換して得られる可視
   光画像信号および非可視光画像信号を処理する信号処理
   方法であって、 前記非可視光画像信号から第一のゴミ・キズ画像信号を
   生成する工程と、 前記可視光画像信号において、前記第一のゴミ・キズ画
   像信号との相関演算を行うと共に、 前記原稿がネガ画像かポジ画像かに応じて前記相関演算
   方法を変更する変更工程と、を有することを特徴とする
   信号処理方法。
2. 【請求項２】 前記相関演算は、前記可視光画像信号に
   おいて、前記第一のゴミ・キズ画像信号のゴミ・キズ位
   置に対応する画素を、所定画素ずつずらして、各ズレ量
   毎にゴミ・キズ位置に対応する画素の信号値の和を算出
   する算出工程を有することを特徴とする請求項１に記載
   の信号処理方法。
3. 【請求項３】 前記原稿がネガ原稿である場合に、前記
   光電変換した信号にネガ／ポジ反転処理を行い可視光画
   像信号を得るネガ／ポジ反転工程と、を有することを特
   徴とする請求項１に記載の信号処理方法。
4. 【請求項４】 前記変更工程において、前記原稿がネガ
   画像である場合には、前記算出工程の和が最大となるズ
   レ量を、前記原稿がポジ画像である場合には、前記算出
   工程の和が最小となるズレ量を求めるズレ量検出工程を
   有することを特徴とする請求項２及び３に記載の信号処
   理方法。
5. 【請求項５】 前記ズレ量と前記非可視光画像信号を用
   いて前記可視光画像信号を補正する補正工程とを有する
   ことを特徴とする請求項４に記載の信号処理方法。
6. 【請求項６】 前記補正工程は、前記非可視光画像信号
   から第二の閾値を用いて第二のゴミ・キズ画像信号を生
   成する工程を有し、前記ズレ量と第二のゴミ・キズ画像
   信号を用いて前記可視光画像信号を補正することを特徴
   とする請求項５に記載の信号処理方法。
7. 【請求項７】 可視光を照射する可視光照射手段と、非
   可視光を照射する非可視光照射手段とによりそれぞれ原
   稿を照射し、原稿の光学像を光電変換して得られる可視
   光画像信号および非可視光画像信号を処理する信号処理
   方法であって、前記非可視光画像信号から第一の閾値を
   用いて第一のゴミ・キズ画像信号を生成する工程と、 前記非可視光画像信号から第二の閾値を用いて第二のゴ
   ミ・キズ画像信号を生成する工程と、 前記可視光画像信号と第一及び第二のゴミ・キズ画像信
   号とを用いて前記可視光画像信号を補正する工程とを有
   することを特徴とする信号処理方法。
8. 【請求項８】 前記可視光画像信号と第一のゴミ・キズ
   画像信号との位置ずれ量を検出する工程を有する請求項
   ７に記載の信号処理方法。
9. 【請求項９】 前記第二の閾値を前記第一の閾値よりも
   高く設定する閾値設定工程を有することを特徴とする請
   求項６乃至８のいずれかに記載の信号処理方法。
10. 【請求項１０】 前記閾値設定工程は、第一の閾値は非
    可視光画像のヒストグラム平均値から非可視光画像の標
    準偏差のａ倍だけ低い階調レベルに設定し、第二の閾値
    は非可視光画像のヒストグラム平均値から非可視光画像
    の標準偏差のａよりも小さいｂ倍だけ低いレベルに設定
    することを特徴とする請求項９に記載の信号処理方法。
11. 【請求項１１】 前記閾値設定工程は、前記標準偏差が
    所定値を超える場合は所定値と置き換えて、第一と第二
    の閾値を設定することを特徴とする請求項１０に記載の
    信号処理方法。
12. 【請求項１２】 前記非可視光画像信号の解像度は前記
    可視光画像信号解像度と異なることを特徴とする請求項
    １に記載の信号処理方法。
13. 【請求項１３】 可視光と非可視光を選択的に照射する
    照射手段と、 前記照射手段によって照射された原稿の光学像を光電変
    換して得られる可視光画像信号および前記可視光画像信
    号とは解像度の異なる非可視光画像信号を処理する信号
    処理方法であって、 前記非可視光画像信号から第一の閾値を用いて第一のゴ
    ミ・キズ画像信号を生成する工程と、 前記可視光画像信号と前記第一のゴミ・キズ画像信号の
    解像度をあわせた後、前記可視光画像信号と前記非可視
    光画像信号との位置ズレ量を検出するズレ量検出工程
    と、 前記ズレ量と前記非可視光画像信号を用いて前記可視光
    画像信号を補正する補正工程とを有することを特徴とす
    る信号処理方法。
14. 【請求項１４】 前記ズレ量算出工程は、前記可視光画
    像信号において、前記第一のゴミ・キズ画像信号のゴミ
    ・キズ位置に対応する画素を、所定画素ずつずらして、
    各ズレ量毎にゴミ・キズ位置に対応する画素の信号値の
    和を算出する算出工程を有し、各ズレ量毎に算出した和
    から、前記可視光画像信号と前記非可視光画像信号との
    位置ズレ量を検出するズレ量検出工程であることを特徴
    とする請求項１３に記載の信号処理方法。
15. 【請求項１５】 前記非可視光画像信号を変倍して前記
    可視光画像信号と同じ解像度の第二非可視光画像信号を
    生成し、第二非可視光画像信号から前記第一のゴミ・キ
    ズ位置画像信号を生成することを特徴とする請求項１２
    乃至１４のいずれか１項に記載の信号処理方法。
16. 【請求項１６】 前記算出工程における所定画素は複数
    画素であることを特徴とする請求項２、４、５、６、１
    ４または１５に記載の信号処理方法。
17. 【請求項１７】 前記可視光画像信号が前記非可視光画
    像信号のＭ倍の場合に、上記所定画素をＭ画素とするこ
    とを特徴とする請求項１２乃至１６のいずれか１項に記
    載の信号処理方法。
18. 【請求項１８】 前記算出工程の所定画素を一画素で行
    う算出工程と、前記算出工程の所定画素を複数画素で行
    うか一画素で行うかを判断する工程とを有することを特
    徴とする請求項１６または１７に記載の信号処理方法。
19. 【請求項１９】 前記判断する工程は、前記可視光画像
    信号の解像度が所定解像度よりも高いときに複数画素毎
    と判断することを特徴とする請求項１８に記載の信号処
    理方法。
20. 【請求項２０】 可視光と非可視光を選択的に照射する
    照射手段と、それぞれの光により原稿を照射して前記原
    稿の光学像を結像するための結像光学系とを有する画像
    読取装置であって、請求項１乃至１９のいずれか１項に
    記載の信号処理方法を実行する制御手段を有することを
    特徴とする画像読取装置。
21. 【請求項２１】 コンピュータに請求項１乃至１９のい
    ずれかに記載の信号処理方法を実現させるためのプログ
    ラム。
22. 【請求項２２】 コンピュータに請求項２１に記載の信
    号処理方法を実現させるためのプログラムを記録した記
    録媒体。