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JP2002270565A - Mounting substrate surface treatment method and equipment - Google Patents

Mounting substrate surface treatment method and equipment

Info

Publication number
JP2002270565A
JP2002270565A JP2001065979A JP2001065979A JP2002270565A JP 2002270565 A JP2002270565 A JP 2002270565A JP 2001065979 A JP2001065979 A JP 2001065979A JP 2001065979 A JP2001065979 A JP 2001065979A JP 2002270565 A JP2002270565 A JP 2002270565A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mounting substrate
gas
plasma
reaction chamber
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001065979A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Naoki Suzuki
直樹 鈴木
Kazuyuki Tomita
和之 冨田
Kazuto Nishida
一人 西田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2001065979A priority Critical patent/JP2002270565A/en
Publication of JP2002270565A publication Critical patent/JP2002270565A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • H10W72/90
    • H10W72/283

Landscapes

  • Plasma Technology (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 処理後実装基板を大気中に晒しても電極が腐
食することなく、かつ短時間で処理できる実装基板表面
処理方法及び装置を提供する。 【解決手段】 反応室1を排気しながら反応ガスを導入
し、反応室1内の高周波電極5とそれに対向する対向電
極6との間に高周波電力を印加してプラズマを生成し、
高周波電極5上に実装基板10を載置してプラズマ処理
する実装基板表面処理方法において、最初にアルゴンガ
スを導入してプラズマ処理した後、酸素ガスを短時間導
入してプラズマ処理し、再付着したBrを除去して電極
の腐食を防止するようにした。また、最初に酸素ガスを
導入してプラズマ処理し、実装基板上に付着している油
分、有機物を事前に除去した後、アルゴンガスを導入し
てプラズマ処理し、短時間で処理できるようにした。
(57) [Problem] To provide a mounting substrate surface treatment method and apparatus capable of performing processing in a short time without corroding electrodes even after exposing the mounting substrate to the atmosphere after processing. SOLUTION: A reaction gas is introduced while exhausting a reaction chamber 1, and a high-frequency power is applied between a high-frequency electrode 5 in the reaction chamber 1 and a counter electrode 6 opposed thereto to generate plasma,
In the mounting substrate surface treatment method in which the mounting substrate 10 is mounted on the high-frequency electrode 5 and subjected to plasma processing, first, argon gas is introduced and plasma processing is performed, and then oxygen gas is introduced for a short time to perform plasma processing and redeposition. The Br was removed to prevent electrode corrosion. In addition, an oxygen gas is first introduced to perform a plasma treatment, and oils and organic substances adhering to a mounting substrate are removed in advance, and then an argon gas is introduced to perform a plasma treatment, so that the treatment can be performed in a short time. .

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、実装基板の表面の
洗浄や改質などの処理をプラズマにて行う実装基板表面
処理方法及び装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for treating a surface of a mounting substrate, wherein the surface of the mounting substrate is cleaned or modified by plasma.

【0002】[0002]

【従来の技術】実装技術の分野において、電子機器の小
型化・高機能化に伴い、高密度な実装が要求されてい
る。そのため、実装基板への素子の接続は微細化され、
より信頼性の高い実装が必要とされている。
2. Description of the Related Art In the field of mounting technology, high-density mounting is required as electronic devices become smaller and more sophisticated. Therefore, the connection of the element to the mounting board is miniaturized,
There is a need for a more reliable implementation.

【0003】信頼性を確保する方法の一つとして、プラ
ズマによる実装基板表面の改質方法が知られている。例
えば、プラズマ処理にて表面に付着した有機物汚染を除
去することにより、ワイヤボンディングのボンデイング
強度を向上でき、また濡れ性を改善することによって基
板と封止樹脂との密着性を向上することができる。
[0003] As one of methods for ensuring reliability, a method of modifying the surface of a mounting substrate by plasma is known. For example, by removing organic contaminants attached to the surface by plasma treatment, the bonding strength of wire bonding can be improved, and the adhesion between the substrate and the sealing resin can be improved by improving the wettability. .

【0004】また、プリント基板上の銅、ニッケル、金
(ボンディング接合面)の3層からなる電極面上に析出
した水酸化ニッケルなどの無機物をアルゴンプラズマに
よるスパッタ作用で除去することにより、ワイヤボンデ
ィングにおける金電極とのボンディング強度を向上する
ことができる。
Further, wire bonding is performed by removing inorganic substances such as nickel hydroxide deposited on the electrode surface composed of three layers of copper, nickel, and gold (bonding bonding surface) on a printed circuit board by sputtering using argon plasma. In this case, the bonding strength with the gold electrode can be improved.

【0005】従来のアルゴンガスを用いたプラズマ処理
の一例を、図4を参照して説明する。図4において、2
1は反応室で、真空排気口22と反応ガス導入口23を
備えており、接地されている。反応室21内には反応室
21との間に絶縁リング24を介して高周波電極25が
配設され、実装基板29を載置するように構成されてい
る。また、反応室21内には高周波電極25に対向する
とともに接地された対向電極26が配設されている。高
周波電極25には、マッチングチューナ(図示せず)、
高周波電力供給部を通して高周波電源27にて高周波電
力を印加するように構成されている。高周波電極25と
絶縁リング24と反応室21の間にはOリング(図示せ
ず)が介装されて反応室21の真空が保たれており、か
つOリングが200℃以上に加熱されないように冷却水
を流す冷却溝28が設けられている。
An example of a conventional plasma process using an argon gas will be described with reference to FIG. In FIG. 4, 2
Reference numeral 1 denotes a reaction chamber, which has a vacuum exhaust port 22 and a reaction gas inlet 23 and is grounded. In the reaction chamber 21, a high-frequency electrode 25 is provided between the reaction chamber 21 and the reaction chamber 21 via an insulating ring 24, and is configured to mount a mounting board 29 thereon. Further, a counter electrode 26 which is opposed to the high-frequency electrode 25 and grounded is provided in the reaction chamber 21. The high-frequency electrode 25 has a matching tuner (not shown),
The high-frequency power supply 27 applies high-frequency power through a high-frequency power supply unit. An O-ring (not shown) is interposed between the high-frequency electrode 25, the insulating ring 24, and the reaction chamber 21, so that the vacuum of the reaction chamber 21 is maintained, and the O-ring is not heated to 200 ° C. or more. A cooling groove 28 through which cooling water flows is provided.

【0006】以上の構成による実装基板の表面処理方法
について説明する。反応ガス導入口23からアルゴンガ
スを50sccm導入しながら、反応室21内の真空度
を30Paに保った状態で、高周波電極25に200W
の高周波電力を印加すると、プラズマが発生する。プラ
ズマ中に晒された実装基板29の表面上には、プラズマ
中にあるアルゴンイオンが照射される。実装基板29の
材質はガラスエポキシで、図5に示すように、その表面
の電極30は、銅31(膜厚35μm)、ニッケル32
(膜厚3μm)、金33(膜厚0.05μm)の3層に
構成されており、熱工程などを経ることにより金33の
表面上に下地のニッケル32が表面に移動して水酸化ニ
ッケルなどが析出している。この水酸化ニッケルがアル
ゴンイオンの照射によりスパッタ除去され、金33の表
面が清浄化される。
[0006] A method for treating the surface of a mounting board with the above configuration will be described. While introducing 50 sccm of argon gas from the reaction gas inlet 23, 200 W was applied to the high-frequency electrode 25 while maintaining the degree of vacuum in the reaction chamber 21 at 30 Pa.
When high-frequency power is applied, plasma is generated. The surface of the mounting substrate 29 exposed to the plasma is irradiated with argon ions present in the plasma. The material of the mounting substrate 29 is glass epoxy, and as shown in FIG. 5, the electrodes 30 on the surface are made of copper 31 (thickness 35 μm), nickel 32
(Thickness: 3 μm) and gold 33 (thickness: 0.05 μm), and the underlying nickel 32 is transferred to the surface of the gold 33 by a heat process, etc. Etc. are precipitated. This nickel hydroxide is removed by sputtering with irradiation of argon ions, and the surface of the gold 33 is cleaned.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記方
法でプラズマ処理した場合、アルゴンイオンで実装基板
29も同時にスパッタされるため、実装基板29の材質
がガラスエポキシ基板である場合、実装基板29中に含
まれるBr(臭素)が電極30の表面に再付着する。実
装基板29上の電極30にBrが付着した場合、大気中
に晒されると、このBrと空気中の水分が反応して、H
OBrやHBrになり、これが電極30の腐食の原因に
なるという問題があった。
However, when the plasma treatment is performed by the above method, the mounting substrate 29 is also sputtered simultaneously with argon ions. Therefore, when the material of the mounting substrate 29 is a glass epoxy substrate, The contained Br (bromine) adheres again to the surface of the electrode 30. When Br adheres to the electrode 30 on the mounting board 29, when exposed to the atmosphere, the Br reacts with the moisture in the air to produce H.
OBr and HBr occur, which causes a problem of corrosion of the electrode 30.

【0008】また、半田印刷された実装基板29が熱工
程を通る場合、半田中に含まれるフラックスが実装基板
29の電極30上に堆積する。電極30上に油分や有機
物が堆積している場合、水酸化ニッケルを除去する前
に、油分や有機物を除去しなければならない。しかし、
アルゴンスパッタによる高分子の除去速度は遅く、除去
時間が長くなるという問題があった。
When the solder-printed mounting board 29 passes through a heat process, the flux contained in the solder deposits on the electrodes 30 of the mounting board 29. When oil or organic matter is deposited on the electrode 30, the oil or organic matter must be removed before nickel hydroxide is removed. But,
There was a problem that the removal rate of the polymer by argon sputtering was slow and the removal time was long.

【0009】本発明は、上記従来の問題に鑑み、処理後
実装基板を大気中に晒しても電極が腐食することなく、
また短時間で処理できる実装基板表面処理方法及び装置
を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above-described conventional problems, and does not corrode electrodes even when a mounted substrate is exposed to the air after processing.
It is another object of the present invention to provide a method and an apparatus for treating the surface of a mounting substrate which can be processed in a short time.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明の実装基板表面処
理方法は、反応室を排気しながら反応ガスを導入し、反
応室内の高周波電極とそれに対向する対向電極との間に
高周波電力を印加してプラズマを生成し、高周波電極上
に実装基板を載置してプラズマ処理する実装基板表面処
理方法において、最初にアルゴンガスを導入してプラズ
マ処理した後、酸素ガスを短時間導入してプラズマ処理
するものである。
According to the method of the present invention, a reactive gas is introduced into a reaction chamber while exhausting the reaction chamber, and high-frequency power is applied between a high-frequency electrode in the reaction chamber and a counter electrode opposed thereto. In the mounting substrate surface treatment method in which a plasma is generated by placing a mounting substrate on a high-frequency electrode, plasma treatment is performed by first introducing argon gas, and then introducing oxygen gas for a short time. To be processed.

【0011】このようにアルゴンガスで実装基板表面を
スパッタすることにより実装基板表面の水酸化ニッケル
などの無機物を除去でき、またそのアルゴンスパッタで
放出されたBrが再付着しても、酸素ガスで短時間処理
することにより酸素プラズマに晒され、Brが酸素ラジ
カルと反応し、Br2 OやBrO2 などが形成されて反
応室の排気とともに排出される。かくして、実装基板を
大気中に晒しても、実装基板表面の電極が腐食されるこ
とはない。
As described above, by spattering the surface of the mounting substrate with argon gas, inorganic substances such as nickel hydroxide on the surface of the mounting substrate can be removed. By performing the treatment for a short time, the substrate is exposed to oxygen plasma, and Br reacts with oxygen radicals to form Br 2 O, BrO 2 and the like, which are discharged together with the exhaust gas from the reaction chamber. Thus, even if the mounting substrate is exposed to the atmosphere, the electrodes on the mounting substrate surface are not corroded.

【0012】また、最初に酸素ガスを導入してプラズマ
処理した後、アルゴンガスを導入してプラズマ処理する
と、実装基板上に油分や有機物が堆積している場合に、
油分や有機物が酸素ラジカルによりCO2 、CO、H2
Oなどに分解され、アルゴンスパッタによる除去速度に
比べて高速で除去することができ、その後アルゴンスパ
ッタで除去することにより、処理時間の短縮を図ること
ができる。
In addition, when an oxygen gas is first introduced and plasma treatment is performed, and then an argon gas is introduced and plasma treatment is performed, when oil and organic substances are deposited on the mounting substrate,
Oil and organic matter are converted to CO 2 , CO, H 2 by oxygen radicals.
It is decomposed into O and the like, and can be removed at a higher speed than the removal rate by argon sputtering. Thereafter, by removing with argon sputtering, the processing time can be shortened.

【0013】更に、アルゴンガスを導入してプラズマ処
理した後、酸素ガスを短時間導入してプラズマ処理する
と、上記のようにアルゴンスパッタで放出されて再付着
したBrを除去でき、実装基板表面の電極が腐食される
ことはない。
Further, when plasma treatment is performed by introducing an oxygen gas for a short time after the plasma treatment by introducing an argon gas, it is possible to remove Br which has been released by the argon sputtering and adhered again as described above. The electrodes are not corroded.

【0014】また、本発明の実装基板表面処理装置は、
真空排気口と反応ガス導入口を備えた反応室と、実装基
板を載置するように反応室内に配設された高周波電極
と、高周波電極に対向配置されるとともに接地された対
向電極と、高周波電極と対向電極間に高周波電力を印加
する高周波電源と、反応ガス導入口にアルゴンガスと酸
素ガスを選択的に供給するガス供給手段とを備えたもの
であり、上記表面処理方法を実施してその効果を奏する
ことができる。
Also, the mounting substrate surface treatment apparatus of the present invention is
A reaction chamber having a vacuum exhaust port and a reaction gas introduction port, a high-frequency electrode disposed in the reaction chamber so as to mount the mounting substrate, a counter electrode disposed opposite to the high-frequency electrode and grounded; A high-frequency power supply for applying high-frequency power between the electrode and the counter electrode, and a gas supply means for selectively supplying an argon gas and an oxygen gas to a reaction gas inlet, and performing the surface treatment method. The effect can be obtained.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実装基板表面処理
方法及び装置の第1の実施形態について、図1〜図3を
参照して説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A first embodiment of a method and an apparatus for treating a surface of a mounting board according to the present invention will be described below with reference to FIGS.

【0016】図1において、1は反応室で、真空排気口
2と反応ガス導入口3を備えており、接地されている。
反応室1内には反応室1との間に絶縁リング4を介して
高周波電極5が配設され、実装基板10を載置するよう
に構成されている。また、反応室1内には高周波電極5
に対向するとともに接地された対向電極6が配設されて
いる。高周波電極5には、マッチングチューナ(図示せ
ず)、高周波電力供給部を通して高周波電源7にて高周
波電力を印加するように構成されている。高周波電極5
と絶縁リング4と反応室1の間にはOリング(図示せ
ず)が介装されて反応室1の真空が保たれており、かつ
Oリングが200℃以上に加熱されないように冷却水を
流す冷却溝8が設けられている。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a reaction chamber, which is provided with a vacuum exhaust port 2 and a reaction gas inlet 3 and is grounded.
A high-frequency electrode 5 is provided in the reaction chamber 1 between the reaction chamber 1 and the reaction chamber 1 via an insulating ring 4 so that the mounting substrate 10 is placed thereon. In the reaction chamber 1, a high-frequency electrode 5 is provided.
And a grounded counter electrode 6 is provided. The high-frequency electrode 5 is configured to apply high-frequency power from a high-frequency power supply 7 through a matching tuner (not shown) and a high-frequency power supply unit. High frequency electrode 5
An O-ring (not shown) is interposed between the insulating ring 4 and the reaction chamber 1 to maintain a vacuum in the reaction chamber 1 and to supply cooling water so that the O-ring is not heated to 200 ° C. or more. A cooling groove 8 for flowing is provided.

【0017】11は反応ガス導入口3に反応ガスを供給
するガス供給手段であり、アルゴンガス源12とマスフ
ローコントローラ13と切換弁14から成るアルゴンガ
ス供給ライン15と、酸素ガス源16とマスフローコン
トローラ17と切換弁18から成る酸素ガス供給ライン
19と、開閉弁20にて構成され、所定流量のアルゴン
ガスと酸素ガスを選択的に供給するように構成されてい
る。
Reference numeral 11 denotes gas supply means for supplying a reaction gas to the reaction gas inlet 3. The argon gas supply line 15 includes an argon gas source 12, a mass flow controller 13, and a switching valve 14, an oxygen gas source 16 and a mass flow controller. An oxygen gas supply line 19 comprising a switching valve 17 and a switching valve 18 and an on-off valve 20 are provided so as to selectively supply a predetermined flow rate of argon gas and oxygen gas.

【0018】次に、以上の構成による実装基板の表面処
理動作を、図1と図2を参照して説明する。反応ガス導
入口3からアルゴンガスを50sccm導入しながら、
反応室1内の真空度を30Paに保った状態で、高周波
電極5に200Wの高周波電力を印加し、プラズマを発
生させ、20秒間処理する。プラズマ中に晒された実装
基板10の表面上には、プラズマ中にあるアルゴンイオ
ンが照射され、熱工程などを経て実装基板10の電極上
の金上に析出した水酸化ニッケルなどがアルゴンイオン
の照射によりスパッタ作用で除去され、金の表面が清浄
となる。
Next, the surface treatment operation of the mounting substrate having the above configuration will be described with reference to FIGS. While introducing 50 sccm of argon gas from the reaction gas inlet 3,
While maintaining the degree of vacuum in the reaction chamber 1 at 30 Pa, high-frequency power of 200 W is applied to the high-frequency electrode 5 to generate plasma and perform processing for 20 seconds. Argon ions in the plasma are irradiated on the surface of the mounting substrate 10 exposed to the plasma, and nickel hydroxide and the like deposited on gold on the electrodes of the mounting substrate 10 through a heat process and the like are converted to argon ions. Irradiation removes the surface of the gold by sputtering, and the surface of the gold is cleaned.

【0019】その際に、基板10も同時にスパッタされ
るため、基板10の材質がガラスエポキシである場合、
基板10中に含まれるBr(臭素)が再付着する。
At this time, since the substrate 10 is also sputtered at the same time, if the material of the substrate 10 is glass epoxy,
Br (bromine) contained in the substrate 10 is reattached.

【0020】そこで、アルゴンプラズマ処理した後、酸
素ガスを50sccm導入しながら、反応室1内の真空
度を90Paに保った状態で、高周波電極5に200W
の高周波電力を印加し、プラズマを発生させ、実装基板
10を5秒間酸素プラズマに晒す。酸素プラズマに晒す
ことにより、Brは酸素ラジカルと反応し、Br2 Oや
BrO2 などが形成される。反応室1は真空排気されて
いるため、これらの物質は排気とともに排出される。か
くして、実装基板10を大気中に晒しても、実装基板表
面の電極が腐食されることはない。
Then, after the argon plasma treatment, the high-frequency electrode 5 was supplied with 200 W while maintaining the degree of vacuum in the reaction chamber 1 at 90 Pa while introducing 50 sccm of oxygen gas.
Is applied to generate plasma, and the mounting substrate 10 is exposed to oxygen plasma for 5 seconds. By exposure to oxygen plasma, Br reacts with oxygen radicals to form Br 2 O, BrO 2 and the like. Since the reaction chamber 1 is evacuated, these substances are discharged together with the evacuation. Thus, even if the mounting substrate 10 is exposed to the atmosphere, the electrodes on the mounting substrate surface will not be corroded.

【0021】以上のように、本実施形態によれば、実装
基板10をアルゴンプラズマスパッタ処理した後、短時
間酸素プラズマに晒すことにより、アルゴンのスパッタ
作用で実装基板中に含有されるBrが実装基板10の表
面電極上に再付着しても、酸素プラズマ中の酸素ラジカ
ルとの反応により、Br2 OやBrO2 などが形成さ
れ、真空排気とともに容易に排出できる。結果として、
実装基板10を大気中に晒してもHBrやHOBrが形
成されることがないため、基板上の電極が腐食すること
がない。
As described above, according to the present embodiment, after the mounting substrate 10 is subjected to argon plasma sputtering and then exposed to oxygen plasma for a short time, Br contained in the mounting substrate is mounted by the sputtering action of argon. Even if it is re-adhered on the surface electrode of the substrate 10, it reacts with oxygen radicals in the oxygen plasma to form Br 2 O, BrO 2, etc., and can be easily exhausted together with evacuation. as a result,
Since HBr and HOBr are not formed even when the mounting substrate 10 is exposed to the atmosphere, the electrodes on the substrate do not corrode.

【0022】次に、実装基板の表面処理方法の第2の実
施形態について、図1と図3を参照して説明する。な
お、装置構成は図1を参照して説明した第1の実施形態
と同一であるので説明を省略し、処理動作を説明する。
Next, a second embodiment of a method for treating the surface of a mounting substrate will be described with reference to FIGS. The configuration of the apparatus is the same as that of the first embodiment described with reference to FIG. 1, and thus the description thereof will be omitted, and the processing operation will be described.

【0023】まず、ガス導入口3から酸素ガスを50s
ccm導入しながら、反応室1内の真空度を反応性を高
めるために90Pa(一般的に反応性を高めるためには
圧力を高くし、スパッタ性を高めるためには圧力を低く
する)に保った状態で、高周波電極5に200Wの高周
波電力を印加し、プラズマを発生させ、実装基板10を
5秒間酸素プラズマに晒す。この酸素プラズマ処理で実
装基板10の表面上の油分や有機物が除去される。
First, oxygen gas is supplied from the gas inlet 3 for 50 seconds.
While introducing ccm, the degree of vacuum in the reaction chamber 1 was kept at 90 Pa to increase the reactivity (generally, the pressure was increased to increase the reactivity, and the pressure was decreased to increase the sputterability). In this state, high-frequency power of 200 W is applied to the high-frequency electrode 5 to generate plasma, and the mounting substrate 10 is exposed to oxygen plasma for 5 seconds. Oil and organic substances on the surface of the mounting substrate 10 are removed by this oxygen plasma treatment.

【0024】次に、ガス導入口3からアルゴンガスを5
0sccm導入しながら、反応室1内の真空度を30P
aに保った状態で、高周波電極5に200Wの高周波電
力を印加し、プラズマを発生させ、5秒間処理する。ア
ルゴンプラズマ中に晒された実装基板10の表面上に
は、プラズマ中にあるアルゴンイオンが照射され、熱工
程などを経て実装基板10の電極上の金上に析出した水
酸化ニッケルなどがアルゴンイオンの照射によりスパッ
タ作用で除去され、金の表面が清浄となる。その結果、
例えばワイヤボンディングした場合の接合強度が向上す
る。
Next, 5 argon gas is supplied from the gas inlet 3.
While introducing 0 sccm, the degree of vacuum in the reaction chamber 1 is set to 30P.
In the state maintained at a, high-frequency power of 200 W is applied to the high-frequency electrode 5 to generate plasma and process for 5 seconds. Argon ions in the plasma are irradiated onto the surface of the mounting substrate 10 exposed to the argon plasma, and nickel hydroxide or the like deposited on gold on the electrodes of the mounting substrate 10 through a heat process or the like is irradiated with argon ions. Irradiation removes the surface of the gold by sputtering, and the surface of the gold is cleaned. as a result,
For example, the bonding strength when wire bonding is performed is improved.

【0025】実際、アルゴンプラズマ処理を単独で20
秒間処理した実装基板10と、酸素プラズマ処理を5秒
間処理した後アルゴンプラズマ処理を5秒間処理した実
装基板10について、ワイヤボンディングして接合強度
を比較した場合、同等の強度が得られ、処理時間の短縮
を図ることができた。
In practice, the argon plasma treatment alone is used for 20 times.
When the bonding strength is compared by wire bonding between the mounting substrate 10 that has been processed for 5 seconds and the mounting substrate 10 that has been subjected to oxygen plasma processing for 5 seconds and then argon plasma processing for 5 seconds, the same strength is obtained. Was able to be shortened.

【0026】このように最初に実装基板10の表面上に
付着している油分、有機物を酸素プラズマで除去した後
アルゴンプラズマで水酸化ニッケルなどの無機物をスパ
ッタ除去することにより、処理時間の短縮を図ることが
できる。
As described above, the oil and organic substances adhering to the surface of the mounting substrate 10 are first removed by oxygen plasma, and then the inorganic substances such as nickel hydroxide are removed by sputtering with argon plasma, thereby shortening the processing time. Can be planned.

【0027】さらに、必要に応じてその後酸素ガスを5
0sccm導入しながら、反応室1内の真空度を90P
aに保った状態で、高周波電極5に200Wの高周波電
力を印加し、プラズマを発生させ、実装基板10を5秒
間酸素プラズマに晒す。このように酸素プラズマに晒す
ことにより、Brは酸素ラジカルと反応し、Br2 Oや
BrO2 などが形成され、これらの物質が排気とともに
排出される。かくして、実装基板10を大気中に晒して
も、実装基板表面の電極が腐食されることはない。
Further, if necessary, 5 g of oxygen gas is then added.
While introducing 0 sccm, the degree of vacuum in the reaction chamber 1 was increased to 90P.
In the state maintained at a, high-frequency power of 200 W is applied to the high-frequency electrode 5 to generate plasma, and the mounting substrate 10 is exposed to oxygen plasma for 5 seconds. By exposure to oxygen plasma in this manner, Br reacts with oxygen radicals to form Br 2 O, BrO 2, and the like, and these substances are discharged together with the exhaust gas. Thus, even if the mounting substrate 10 is exposed to the atmosphere, the electrodes on the mounting substrate surface will not be corroded.

【0028】なお、第1、第2の実施形態において、実
装基板10を5秒間酸素プラズマ処理したが、Brが電
極に付着する量はアルゴンプラズマによるスパッタ時間
に依存するため、時間は特に限定されないが、短時間処
理でも効果はある。
In the first and second embodiments, the mounting substrate 10 is subjected to oxygen plasma treatment for 5 seconds. However, the amount of Br adhering to the electrode depends on the sputtering time by the argon plasma, so that the time is not particularly limited. However, short-time processing is also effective.

【0029】また、第2の実施形態において、最初の酸
素プラズマ処理を5秒間としたが、実装基板10上の油
分、有機物の析出量により処理時間を変える必要があ
り、処理時間は特に限定されない。
In the second embodiment, the first oxygen plasma treatment is performed for 5 seconds. However, the treatment time must be changed according to the amount of oil and organic substances deposited on the mounting board 10, and the treatment time is not particularly limited. .

【0030】また、上記実施形態では接地された対向電
極6を配設したが、場合によっては接地された反応室1
自体を対向電極として機能させ、反応室1を対向電極6
としてもよい。
Although the grounded counter electrode 6 is provided in the above embodiment, the grounded reaction chamber 1 may be provided in some cases.
The reaction chamber 1 is made to function as a counter electrode,
It may be.

【0031】[0031]

【発明の効果】本発明の実装基板表面処理方法及び装置
によれば、以上のように最初にアルゴンガスを導入して
プラズマ処理した後、酸素ガスを短時間導入してプラズ
マ処理するので、アルゴンガスで実装基板表面をスパッ
タすることにより実装基板表面の水酸化ニッケルなどの
無機物を除去でき、その後酸素ガスで短時間処理するこ
とによりアルゴンスパッタで再付着したBrを酸素ラジ
カルと反応させてガス化して排気とともに排出でき、か
くして実装基板を大気中に晒しても、実装基板表面の電
極が腐食されることはない。
According to the method and apparatus for treating the surface of a mounting substrate according to the present invention, as described above, after the plasma treatment is performed by first introducing argon gas, the plasma treatment is performed by introducing oxygen gas for a short time. Inorganic substances such as nickel hydroxide on the surface of the mounting substrate can be removed by sputtering the surface of the mounting substrate with a gas, and then treated with oxygen gas for a short time to react the Br attached again by argon sputtering with oxygen radicals and gasify it. As a result, the electrodes on the surface of the mounting substrate are not corroded even when the mounting substrate is exposed to the air.

【0032】また、最初に酸素ガスを導入してプラズマ
処理した後、アルゴンガスを導入してプラズマ処理する
と、実装基板上に油分や有機物が堆積している場合に、
油分や有機物が酸素ラジカルによりガスに分解され、ア
ルゴンスパッタによる除去速度に比べて高速で除去する
ことができ、その後アルゴンスパッタで無機物を除去す
ることにより、処理時間の短縮を図ることができる。
Further, when plasma treatment is performed by first introducing oxygen gas and then performing plasma treatment by introducing argon gas, when oil and organic substances are deposited on the mounting substrate,
Oils and organic substances are decomposed into gas by oxygen radicals, and can be removed at a higher speed than the removal rate by argon sputtering. Then, by removing inorganic substances by argon sputtering, the processing time can be shortened.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態の実装基板表面処理装
置の概略構成図である。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a mounting substrate surface treatment apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】同実施形態の処理工程図である。FIG. 2 is a processing step diagram of the embodiment.

【図3】本発明の第2の実施形態の実装基板表面処理方
法の処理工程図である。
FIG. 3 is a process diagram of a method for treating a surface of a mounting board according to a second embodiment of the present invention.

【図4】従来例の実装基板表面処理装置の概略構成図で
ある。
FIG. 4 is a schematic configuration diagram of a conventional mounting substrate surface treatment apparatus.

【図5】実装基板の構成を模式的に示す縦断面図であ
る。
FIG. 5 is a longitudinal sectional view schematically showing a configuration of a mounting board.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 反応室 2 真空排気口 3 反応ガス導入口 5 高周波電極 6 対向電極 7 高周波電源 11 ガス供給手段 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Reaction chamber 2 Vacuum exhaust port 3 Reaction gas inlet 5 High frequency electrode 6 Counter electrode 7 High frequency power supply 11 Gas supply means

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西田 一人 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5F004 AA14 BA04 DA23 DA26 DB00 5F044 EE13  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Hitoshi Nishida 1006 Kadoma, Kazuma, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. F-term (reference) 5F004 AA14 BA04 DA23 DA26 DB00 5F044 EE13

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 反応室を排気しながら反応ガスを導入
し、反応室内の高周波電極とそれに対向する対向電極と
の間に高周波電力を印加してプラズマを生成し、高周波
電極上に実装基板を載置してプラズマ処理する実装基板
表面処理方法において、最初にアルゴンガスを導入して
プラズマ処理した後、酸素ガスを短時間導入してプラズ
マ処理することを特徴とする実装基板表面処理方法。
1. A reaction gas is introduced while exhausting a reaction chamber, a high-frequency power is applied between a high-frequency electrode in the reaction chamber and a counter electrode facing the reaction gas to generate plasma, and a mounting substrate is mounted on the high-frequency electrode. A mounting substrate surface treatment method for mounting and performing a plasma treatment, wherein plasma treatment is performed by first introducing an argon gas and then performing a plasma treatment by introducing an oxygen gas for a short time.
【請求項2】 反応室を排気しながら反応ガスを導入
し、反応室内の高周波電極とそれに対向する対向電極と
の間に高周波電力を印加してプラズマを生成し、高周波
電極上に実装基板を載置してプラズマ処理する実装基板
表面処理方法において、最初に酸素ガスを導入してプラ
ズマ処理した後、アルゴンガスを導入してプラズマ処理
することを特徴とする実装基板表面処理方法。
2. A reaction gas is introduced while evacuating the reaction chamber, and a high-frequency power is applied between a high-frequency electrode in the reaction chamber and a counter electrode facing the high-frequency electrode to generate plasma, and a mounting substrate is placed on the high-frequency electrode A mounting substrate surface treatment method for mounting and performing a plasma treatment, comprising first introducing an oxygen gas to perform a plasma treatment, and then introducing an argon gas to perform a plasma treatment.
【請求項3】 アルゴンガスを導入してプラズマ処理し
た後、酸素ガスを短時間導入してプラズマ処理すること
を特徴とする請求項2記載の実装基板表面処理方法。
3. The method according to claim 2, wherein the plasma treatment is performed by introducing an argon gas for a short time after the plasma treatment is performed by introducing an argon gas.
【請求項4】 真空排気口と反応ガス導入口を備えた反
応室と、実装基板を載置するように反応室内に配設され
た高周波電極と、高周波電極に対向配置されるとともに
接地された対向電極と、高周波電極と対向電極間に高周
波電力を印加する高周波電源と、反応ガス導入口にアル
ゴンガスと酸素ガスを選択的に供給するガス供給手段と
を備えたことを特徴とする実装基板表面処理装置。
4. A reaction chamber having a vacuum exhaust port and a reaction gas introduction port, a high-frequency electrode disposed in the reaction chamber so as to mount a mounting substrate, and a high-frequency electrode opposed to the high-frequency electrode and grounded. A mounting substrate, comprising: a counter electrode; a high-frequency power source for applying high-frequency power between the high-frequency electrode and the counter electrode; and gas supply means for selectively supplying argon gas and oxygen gas to a reaction gas inlet. Surface treatment equipment.
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