JP2002260524A - 冷陰極電子源とそれを用いて構成した撮像装置、表示装置 - Google Patents
冷陰極電子源とそれを用いて構成した撮像装置、表示装置Info
- Publication number
- JP2002260524A JP2002260524A JP2001061844A JP2001061844A JP2002260524A JP 2002260524 A JP2002260524 A JP 2002260524A JP 2001061844 A JP2001061844 A JP 2001061844A JP 2001061844 A JP2001061844 A JP 2001061844A JP 2002260524 A JP2002260524 A JP 2002260524A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- cold cathode
- upper electrode
- electron source
- lower electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
- Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
- Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
Abstract
の冷陰極電子源においては、上部電極とは異なる電圧を
印加する集束電極を必要としているため、集束電極用の
配線が新たに必要となり、配線のレイアウトが複雑にな
るという解決すべき課題があった。 【課題】 絶縁基板1上に下部電極2a、絶縁層4およ
び上部電極5が順次に形成されるとともに、その上部電
極5から前記絶縁層4までが部分的に除去され、除去さ
れた部分に円錐状でかつ下部電極2aと同電位の電子放
出部3が設けられ、上部電極5が下部電極2aに対して
高電位となるように両電極間に電圧を印加して真空中で
電子放出を行わせる冷陰極電子源において、電子放出部
3の少なくとも1個を含む領域の外側の領域では、下部
電極2b上に前記絶縁層4および上部電極5が順次に形
成されていないように構成した。
Description
ビームを放出する冷陰極電子源に係り、特に、集束機能
をもたせた冷陰極電子源とそれを用いて構成した撮像装
置、表示装置に関する。
とつとして提案されているFED(Field Emission Dis
play)に使用される代表的な冷陰極電子源として、従来
から知られているものにスピント(Spindt)型がある。
このスピント型冷陰極電子源は、真空中に保持した円錐
状の電子放出部とそれを取り巻くように配置した上部電
極とを有し、電子放出部の先端近傍と上部電極間の電界
強度を強め、これにより電界放出を起こさせ、電子放出
部の先端から電子が放出されるようにしたものである。
図にて示している。図12において、1は絶縁基板、2
は下部電極、3は電子放出部、4は絶縁層、5は上部電
極、および6は開口である。この構造のものにおいて、
電子放出に必要な電界は、上部電極5に電子放出部3よ
り高い電圧を印加することによって作り出される。しか
し、この冷陰極電子源から放出される電子ビームの発散
角は20〜30°と大きいことが知られている。
電子ビームの発散角を抑え、高精細な電子ビームを作り
出す手段として、さらに、集束電極を付加した冷陰極電
子源が、特開平10-199400 号公報、および論文W.D.Kesl
ing et al.“ BEAM FOCUSINGFOR FIELD EMISSION FLAT
PANEL DISPLAYS " Proceedings of the 7th Internatio
nal Vacuum Microelectronics Conference,Grenoble,Fr
ance,4-7July,1994,pp.135-138 に記載されている。
冷陰極電子源を示している。この冷陰極電子源は、図1
2に示す冷陰極電子源において、上部電極5上に第二絶
縁層7を堆積し、さらに、その第二絶縁層上に集束電極
8を形成したものである。この場合においても、図12
に示す冷陰極電子源と同様、上部電極5に電子放出部3
より高い電圧を印加することによって電子ビームを放出
させる。また、集束電極8には、上部電極5よりも低い
電圧を印加することでその間(集束電極8と上部電極5
との間)に集束電界を形成し、電子放出部3から放出さ
れる電子ビームの集束を行っている。
載の冷陰極電子源を示している。この冷陰極電子源は、
図12に示す冷陰極電子源の上部電極5と同一平面上
に、上部電極5を取り囲むように集束電極9を形成した
もものである。図12に示す冷陰極電子源と同様、上部
電極5に電子放出部3より高い電圧を印加することによ
って電子ビームを放出させる。また、集束電極9には、
上部電極5より低い電圧を印加することでその間(集束
電極9と上部電極5との間)に集束電界を形成し、電子
放出部3から放出される電子ビームの集束を行ってい
る。
子ビームの発散角を抑え、高精細な電子ビームを作り出
すという目的に対しては、上述した図13および図14
に示す冷陰極電子源は、相当程度の効果がある。しか
し、図13に示す冷陰極電子源は、第二絶縁層7と集束
電極8の形成のため、それぞれの材料堆積および形状加
工の工程が必要になる。特に、開口部6の大きさを制御
するためには、工程が複雑になり、製造コストの上昇、
および歩留まりの低下が起こってしまうという解決すべ
き課題があった。
は、集束電極8の電位が、電子放出部3と上部電極5の
間に影響を及ぼして電子の引き出し電界を弱めるため、
放出電子が減ってしまうのみならず、集束電極8は放出
電子の軌道上に位置するため、電子ビームに対して集束
電極8が影になり、最終的に放出される電子ビームの量
が減少してしまうという解決すべき課題があった。
電極5と集束電極9が同一平面上に存在するため、上部
電極5の形状加工の際に、同時に集束電極9を形成でき
るため製作工程は簡単になる。しかし、同一平面上で集
束電極9に上部電極5とは異なる電圧を与えるための配
線が必要となり、従って、集束電極9を設けることは配
線の引き回しが複雑になるとともに、絶縁用のギャップ
を考慮すると集積密度を上げることが難しくなるという
解決すべき課題があった。
子源では、上部電極5とは異なる電圧を印加する集束電
極8,9をそれぞれ付加するため、それら集束電極用の
配線が新たに必要となり、冷陰極電子源を多数並べた構
造の冷陰極電子源マトリクスアレイを製作しようとする
と、配線のレイアウトが複雑になるとともに、絶縁部分
からリークを起こす要因が増え、信頼性が低下するとい
う解決すべき課題があった。
を解決するべく、電子ビームの量を減少させることな
く、配線数の増加を必要とせず、また、配線の引き回し
による電子放出部の集束密度の低下をなくし、それによ
り製作を容易にし、歩留まりを向上させた冷陰極電子源
とそれを用いた撮像装置、表示装置を提供することにあ
る。
に、本発明冷陰極電子源は、絶縁基板上に下部電極、絶
縁層および上部電極が順次に形成されるとともに、前記
上部電極から前記絶縁層までが部分的に除去され、該除
去された部分に円錐状でかつ前記下部電極と同電位の電
子放出部が設けられ、前記上部電極が前記下部電極に対
して高電位となるように両電極間に電圧を印加して真空
中で電子放出を行わせる冷陰極電子源において、前記電
子放出部の少なくとも1個を含む領域の外側の領域で
は、前記下部電極上に前記絶縁層および前記上部電極が
順次に形成されていないようにしたことを特徴とするも
のである。
出部の少なくとも1個を含む領域においては、前記下部
電極が前記外側の領域におけるよりも低くなっているこ
とを特徴とするものである。
極と前記絶縁層との間に高抵抗層が介挿されていること
を特徴とするものである。
陰極電子源を用いて構成したことを特徴とするものであ
る。
陰極電子源を用いて構成したことを特徴とするものであ
る。
実施の形態に基づいて本発明を詳細に説明する。 実施形態1 図1(a)および(b)は、本発明の第1の実施形態に
なる冷陰極電子源をそれぞれ断面図および平面図にて示
している。図1において、1は絶縁基板、2aは下部電
極、2bは集束電極、3は電子放出部、4は絶縁層、5
は上部電極、および6は開口である。
(a))を図12に示す従来の冷陰極電子源と比較すれ
ば明らかなように、電子放出部3が1つあるか3つある
かの違いは別として、図12においては、下部電極2の
すべての領域で、下部電極2上に絶縁層4と上部電極5
が形成されているのに対し、本実施形態である図1
(a)においては(本実施形態以外の本発明による冷陰
極電子源も皆そうであるが)、電子放出部3の少なくと
も1個を含む領域の外側の領域では、下部電極2上に絶
縁層4と上部電極5が形成されていない点で異なってい
る。
ない領域の下部電極2のことを、当該電極が電子ビーム
を集束する作用を有することから、これを集束電極2b
として下部電極2と区別する。また、本発明では、下部
電極も従来の下部電極2と区別する意味で下部電極2a
とする。下部電極2aと集束電極2bとは絶縁基板上に
一体に形成されていて、勿論同電位である。
になる冷陰極電子源の製造方法について説明する。ま
ず、絶縁基板1としては、例えば、石英ガラス、サファ
イアガラス、ホウ珪酸ガラス、鉛ガラス、ソーダライム
ガラス、あるいは真性のシリコンなどからなる所定の厚
さの基板が用いられる。そして、絶縁基板1の一方の表
面に、Mo,Cr,Nb,Ti,Al,W,Auおよび
Cuの少なくとも1種からなる導電材料を、スバッタ
法、真空蒸着法、あるいはめっき法などにより200n
m程度の一様な厚さに堆積させ、次いでフォトリソグラ
フイ法やイオンエッチング法などを用いて所望の形状に
することにより下部電極2aと集束電極2bを形成す
る。例えば、本実施形態の場合、帯状に形成する。
された絶縁基板1の表面に、SiO 2 ,SiOx などの
シリコン酸化物やSi3 N4 などのシリコン窒化物から
なる絶縁層4を、真空蒸着法、スパック法、あるいは化
学気相成長法などを用いて1μm程度の厚さに形成す
る。さらに、この絶縁層4の表面に、Mo,Nb,Ti
およびWの少なくとも1種からなる導電性の高い高融点
金属で構成される上部電極5を、スパッタ法や真空蒸着
法などを用いて400nm程度の一様な厚さに堆積させ
て形成する。
る穴を形成し、その中に電子放出部3を形成する工程に
ついて説明する。まず、上述のようにして形成した上部
電極5に、フォトリソグラフイ法で直径1μm程度の開
口6を形成する。次に、反応性イオンエッチングなどの
異方性ドライエッチングで、残された上部電極5をマス
クとし、絶縁層4を下部電極2aに向かってほぼ垂直に
方向性よくエッチングし、引き続き、ウェット方式のエ
ッチングを行い、等方性にエッチングして、下部電極2
aを露出させ電子放出部3形成用の穴を形成する。
電極5の表面にのみ、リフトオフ用Al層を300乃至
700nm程度の厚さに形成する。この斜め方向蒸着法
によってリフトオフ層の材料(Al)が上部電極5に対
して浅い角度で入射するようにしているため、開口6の
絶縁層4部分の壁面や、開口6の底面となる下部電極2
aにはAl層は形成されない。このようにして形成され
たリフトオフ層(Al層)の表面に、Mo,Nb,T
i,W,AuおよびPtの少なくとも1種からなる導電
性の高い高融点金属層を真空蒸着法やスパッタ法により
1,000nm程度の厚さに蒸著すると、開口6の下に
設けられた穴の中に円錐状の電子放出部3が形成され
る。
ングによってリフトオフすることにより、電子放出部
3、上部電極5を表面に露出させる。その後、フォトリ
ソグラフイ法で、上部電極5を、マスクを用いて所望の
形状(例えば、図1(b)に示す形状)に形成するとと
もに、さらにそのマスクを用い、ドライエッチング等で
絶縁層4を下部電極に向かってエッチングし、下部電極
を露出させることにより集束電極2bを形成する。この
とき、上部電極5の形状によって露出される集束電極2
bの形状が決まる。
源において、真空中で、上部電極5に下部電極2aより
高い電圧を印加すると、下部電極2aと同電位にある電
子放出部3の先端と上部電極5との間の強い電界によっ
て電子放出部3の先端から電子が放出される。このとき
同時に、下部電極2a同電位にある集束電極2bの電位
と上部電極5の電位との相互作用による電界分布が上部
電極5の周辺部に作られる。この作られた電界によっ
て、電子放出部3の先端から放出された電子のうち発散
角の大きいものはその軌道を上部電極5の中心方向に修
正されるため、放出された電子ビームの広がりが抑えら
れる。
部電極5と集束電極2bとの間に付与するだけで、電子
ビームの集束を行うことができるため、電子ビーム集束
のための新たな配線や電圧の印加を不要にし、従来技術
と比較して構造の簡略化、駆動の簡略化に寄与し、従っ
て、製造コストの低減、歩留まり率、信頼性を向上させ
ることができる。また、上部電極5と集束電極2bとが
同一平面上に存在する従来ものに比べ、本実施形態(第
1の実施形態)によるものは、上部電極5と集束電極2
bとの間の距離が離れていることによって絶縁耐圧も向
上し、さらに歩留まりが上がる。なお、電子ビームの放
出を行うための電界は、上部電極5と下部電極2aとの
間の電位差が大きければ大きいほど強くなるため、放出
させる電子ビームの量を増やすためには、上部電極5と
下部電極2aとの間に高い電位差の電圧を印加すればよ
い。
なる冷陰極電子源をそれぞれ断面図および平面図にて示
している。図2において、1は絶縁基板、2aは下部電
極、2bは集束電極、3は電子放出部、4は絶縁層、5
は上部電極、および6は開口である。
施形態との違いについてのみ説明する。第1の実施形態
においては、マトリクスアレイを構成する複数の電子放
出部3全体を下部電極を露出させた集束電極2bが取り
囲んでいるが、本実施形態では、各電子放出部3毎に下
部電極を露出した部分を形成し、これを集束電極2bと
したものである。本実施形態の冷陰極電子源も、第1の
実施形態の冷陰極電子源と同様の工程で製造することが
できる。
断面図にて示している。図3において、1は絶縁基板、
2aは下部電極、2bは集束電極、4は絶縁層、および
5は上部電極である。本実施形態の冷陰極電子源も、上
述した第1および第2の実施形態の冷陰極電子源と同等
の効果が得られる。
になる冷陰極電子源の製造方法について説明する。ま
ず、第1の実施形態で用いたのと同じ材料からなる絶縁
基板1上に、Au,Ag,Al,Ta,Ti,Zr,P
t,Nb,Ni,CuおよびZnの少なくとも1種から
なる導電性の高い金属材料を、スパッタ法、真空蒸着
法、あるいはめっき法などを用いて50乃至150nm
程度の一様な厚さに堆積させることにより下部電極2a
と集束電極2bを形成する。
電極2aと集束電極2bの表面に絶縁層4を10乃至
1,000nm程度の厚さに形成する。この絶縁層4
は、SiO,SiO2 ,SiOx ,A12 O3 ,ZrO
2 ,TiO2 ,Ta2 O3 ,Ta2 O5 およびNb2 O
5 の少なくとも1種からなる酸化物、ZnSやCdSな
どの硫化物、あるいはCaF2 やMgF2 などのフツ化
物を真空蒸着法、スパッタ法、化学気相成長法、あるい
は塗布法などにより形成したももの、シリコンナノクリ
スタルを堆積し急速熱酸化させたもの、あるいはシリコ
ンなどの高分子であってもよい。なお、図3に示す実施
形態においては、絶縁層4は1層であるが、これは、異
なる材料からなる2層以上のものであってもよい。ま
た、多層の場合、下部電極2a側の層をSiなどの半導
体に置き換えてもよい。
l,Ta,Ti,Zr,Pt,W,NbおよびZnの少
なくとも1種からなる導電性の高い金属材料を、スパッ
タ法、真空蒸着法、めっき法、あるいは塗布法などによ
り、10乃至150nmの一様な厚さに堆積させ、上部
電極5を形成する。次に、得られた上部電極5を所望の
形状に形成するに際して、上部電極5の不要な部分のエ
ッチングともに絶縁層4もエッチングし、集束電極2b
を露出させるようにして本実施形態(第3の実施形態)
の冷陰極電子源を製作することができる。
では、下部電極2aに対して上部電極5に高い電位を与
えると上部電極から一様に電子が放出され、その発散角
は小さいといわれているが、実際には、電子放出面であ
る上部電極5のエッジ付近から放出される電子の発散角
は大きくなる。しかし、本実施形態(第3の実施形態)
によれば、露出した集束電極2bと上部電極5との間に
形成される電界により電子が広がるのを抑えることがで
きる。
実施形態においても、集束電極2bは上部電極5より下
面に位置し、放出された電子ビームに対して集束電極2
bが遮蔽物になっていないため、電子の反射や捕獲によ
って電子ビームの軌道が乱されることはない。また、集
束電極2baの電位が上部電極5と電子放出部3と間の
電界に影響を及ぼし、そのため電子ビームの量が減少す
るなどのこともないので、これらの実施形態において効
率的に電子ビームの集束を行うことができる。
る冷陰極電子源を断面図にて示している。図4におい
て、1は絶縁基板、2aは下部電極、2bは集束電極、
3は電子放出部、4は絶縁層、5は上部電極、および6
は開口である。また、図5において、1は絶縁基板、2
aは下部電極、2bは集束電極、4は絶縁層、および5
は上部電極である。
aと集束電極2bを形成するに先立って、図示のよう
に、下部電極2aが集束電極2bよりも低くなるように
基板1の一方の表面に高低差を設けることによって、下
部電極2aと上部電極5の間に挟まれる絶縁層4の厚さ
とは無関係に、集束電極2bと上部電極5の高さ方向の
距離を近づける構造としており、これにより、上述した
第1乃至第3の実施形態よりも集束電界を強めることが
できる。
になる冷陰極電子源の製造方法について説明する。ま
ず、絶縁基板1の表面にフォトリソ法などの方法でマス
クを形成し、下部電極2aとなる領域を反応性イオンエ
ッチングなどのドライエッチングや、ウェットエッチン
グなどを用いて基板の厚さ方向に掘り下げ絶縁基板1に
段差を形成する。図6(a)は、このようにして段差が
形成された絶縁基板1を示している。図中、ハッチの部
分がマスクである。
ように、段差が形成された絶縁基板1上に下部電極2
a、絶縁層4および上部電5を順次形成し、得られた層
構造のものについて、上部電極5から下部電極2aに向
かって穴を開け、その穴の中に電子放出部3を形成した
状態を示している。引き続き、上部電極2上の集束電極
2bとなる部分以外の領域にフォトリソ法などを用いて
マスク形成し、集束電極2bとなる部分の上部電極5と
絶縁層4をエッチングして除去すると、図4に示す構造
の冷陰極電子源を製作することができる。
最初に絶縁基板1に施す段差の高低差によって集束電極
2aと上部電極5との相対的な高さが決まるので、電子
放出部3に関しては従来の設計および製作工程を用いる
ことができ、なおかつ、電子放出部3の絶縁耐圧、電子
放出特性などに関与するディメンションの設計は、自由
に選択できる利点を有している。
する方法として、エッチングなどによって掘り下げるも
のとしたが、これは、マスクを使った真空蒸着法、スパ
ッタリング法、CVD法、あるいは塗布法などによって
部分的に絶縁物、導電物、半導体を堆積する方法によっ
ても形成することができる。また、絶縁基板1をシリコ
ン基板として、例えば、図7に示すように、LOCOS
法などの部分的酸化法を用いて形成するようにしてもよ
い。
断面図にて示している。図8において、2bは集束電
極、3は電子放出部、4は絶縁層、5は上部電極、およ
び10は導電性基板である。
施形態中、それぞれの実施形態において使用した絶縁基
板1に代えて、金属や高濃度の不純物をドープした半導
体などの導電性の高い導電性基板10を使用したもので
あり、導電性基板10自体を下部電極2aおよび集束電
極2bとして用いることができる。
断面図にて示している。図9において、1は絶縁基板、
2aは下部電極、2bは集束電極、3は電子放出部、4
は絶縁層、5は上部電極、6は開口、および11は抵抗
層である。
aの間にアモルフアスシリコンなどの抵抗層11を形成
したものである。本実施形態によれば、電子ビーム放出
時に流れる電流によって抵抗層11内で、例えば、3V
の電圧降下が起こると、電子放出部3の電位に対して、
下部電極2aの電位も3V低くなるため、相対的に集束
電界を強めることになり、集束効果を増大することがで
きる。なお、図9に示す構成は、上述した第1の実施形
態において、電子放出部3と下部電極2aとの間に抵抗
層11を形成したものであるが、これは、第1の実施形
態に限られることなく、上述した第2乃至第5の実施形
態にも同様に適用可能である。
を平面図にて示している。図10において、1は絶縁基
板、2aは下部電極、2bは集束電極、5は上部電極、
12は電子放出領域、13はXアドレス選択駆動回路、
および14はYアドレス選択駆動回路である。
おいて、下部電極2aを形成する工程と上部電極5を形
成する工程で、これら両電極2a,5を互いに直交する
細い帯状に分割形成し、X−Yマトリクスアレイ化した
ものであるる。本実施形態によれば、多数並べられた細
い帯状の下部電極2aと上部電極5のうちから任意に選
択したマトリクの交点に、例えば、下部電極2aに0
V、上部電極5に20乃至100Vの電圧を印加するこ
とにより、その交点の電子放出領域12から電子を放出
させることができ、また同時に、電子放出領域の周囲に
露出している集束電極2bによって電子ビームを効果的
に集束させることができる。
13とYアドレス選択駆動回路14により、マトリクの
交点を順次切り替えていけば、多数並べられた電子放出
領域のうちからそれら交点に対応する位置の電子を順次
放出させることができる。なお、本実施形態は、上述し
た第1乃至第6のすべての実施形態に対して適用するこ
とができ、すべての場合に製造も容易であり、また効果
も同じである。
いて構成した本発明撮像装置を概念図にて示している。
図11において、13はXアドレス選択駆動回路、14
はYアドレス選択駆動回路、15は電子源マトリクスア
レイ、16は光電変換部、17はフエースプレート、1
8は透明電極、19は光導電膜、および20は信号電極
である。
イ15(例えば、図10に示したもの)と光電変換部1
6とが真空容器内(図示しない)で所定の間隔に対向支
持された構造のものである。ここに、光電変換部16
は、ガラスあるいは石英からなるフエースプレート17
と、そのフエースプレートの裏面(電子源マトリクスア
レイ15に近い側の面)に形成されSnO2 やInなど
からなる透明電極18と、さらに透明電極に接してフエ
ースプレート17とは反対側に形成され、例えば、Se
−As−Te,Sb2 S3 ,PbOあるいはCdSeな
どからなる光導電膜19とで構成されている。そして、
フエースプレート17には、透明電極18から撮像出力
信号を取り出すための信号電極20が貫通している。
しない)を用い、フエースプレート17を通して光導電
膜19に光学像が結ばれると、この光学像が正の二次元
電荷像に変換されて電荷が光導電膜の走査面側に蓄積さ
れる。一方、電子源マトリクスアレイ15のX−Yマト
リクスの各交点に対応する電子放出領域12(図10参
照)が、Xアドレス選択駆動回路13とYアドレス選択
駆動回路14により順次選択される。選択された電子放
出領域から放出された電子ビームによって光導電膜19
の走査面が電子放出部の電位と平衡状態にリセットされ
る。このリセットに際し、信号電極20から空間電荷分
布に対応する時系列の電気信号が撮像出力信号として取
り出される。
一部を真空容器内に露出させた下部電極が上部電極に対
して常に負となる集束電極の役割を果たすため、電子ビ
ームの広がりを抑え、それにより、光電膜19(図11
参照)の近隣画素の走査面上の電荷を読み取ることを防
ぐことができ、撮像装置の解像度が向上する。
ビーム集束用の電源を設ける必要がなく、通常の走査駆
動を行わせるための電圧を印加するだけで、電子ビーム
の電流密度を減らすことなく、高精細で高ダイナミツク
レンジの撮像装置を得ることができる。
いて本発明撮像装置を構成した場合について説明した
が、図11に示す撮像装置の光導電膜に代えて蛍光体を
用いることで表示装置や、あるいはまた、光導電膜の代
わりに金属板を用いることで進行波管のような高周波真
空管などにも容易に適用できることは言うまでもない。
容器内に露出させるような構造にしたことで、それ自体
(露出している下部電極の部分)が集束機能を有するよ
うになり、従って、新たに電子ビーム集束用電極や集束
用電源を設ける必要がなく、また、電子ビームの広がり
が少ない高電流密度の電子ビームを放出する冷陰極電子
源を提供することができる
予め基板に高低差を設けることで、真空容器内に露出し
ている下部電極(集束電極)の高さを上部電極の高さに
対して任意に決めることができるため、電子ビームの広
がりを一層抑えることのできる電子源を提供することが
できる。
極電子源を陰極線管に適用することで、ダイナミツクレ
ンジの広い高精細撮像装置や高輝度の表示装置を実現す
ることができ、さらには、マイクロ真空管などの実現に
も大いに貢献することができる。
をそれぞれ断面図および平面図にて示している。
をそれぞれ断面図および平面図にて示している。
を断面図にて示している。
を断面図にて示している。
を断面図にて示している。
法を示している。
OCOS法などの部分的酸化法を用いた場合を示してい
る。
を断面図にて示している。
を断面図にて示している。
源を平面図にて示している。
た本発明撮像装置を概念図にて示している。
している。
源を示している。
電子源を示している。
Claims (5)
- 【請求項1】 絶縁基板上に下部電極、絶縁層および上
部電極が順次に形成されるとともに、前記上部電極から
前記絶縁層までが部分的に除去され、該除去された部分
に円錐状でかつ前記下部電極と同電位の電子放出部が設
けられ、前記上部電極が前記下部電極に対して高電位と
なるように両電極間に電圧を印加して真空中で電子放出
を行わせる冷陰極電子源において、前記電子放出部の少
なくとも1個を含む領域の外側の領域では、前記下部電
極上に前記絶縁層および前記上部電極が順次に形成され
ていないようにしたことを特徴とする冷陰極電子源。 - 【請求項2】 請求項1記載の冷陰極電子源において、
前記電子放出部の少なくとも1個を含む領域において
は、前記下部電極が前記外側の領域におけるよりも低く
なっていることを特徴とする冷陰極電子源。 - 【請求項3】 請求項1または2記載の冷陰極電子源に
おいて、前記下部電極と前記絶縁層との間に高抵抗層が
介挿されていることを特徴とする冷陰極電子源。 - 【請求項4】 請求項1乃至3のいずれか1項記載の冷
陰極電子源を用いて構成したことを特徴とする撮像装
置。 - 【請求項5】 請求項1乃至3のいずれか1項記載の冷
陰極電子源を用いて構成したことを特徴とする表示装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001061844A JP2002260524A (ja) | 2001-03-06 | 2001-03-06 | 冷陰極電子源とそれを用いて構成した撮像装置、表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001061844A JP2002260524A (ja) | 2001-03-06 | 2001-03-06 | 冷陰極電子源とそれを用いて構成した撮像装置、表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002260524A true JP2002260524A (ja) | 2002-09-13 |
Family
ID=18921067
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001061844A Pending JP2002260524A (ja) | 2001-03-06 | 2001-03-06 | 冷陰極電子源とそれを用いて構成した撮像装置、表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002260524A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005183388A (ja) * | 2003-12-22 | 2005-07-07 | Samsung Sdi Co Ltd | 電界放出素子、それを適用した表示素子及びその製造方法 |
| JP2006049322A (ja) * | 2004-08-04 | 2006-02-16 | Samsung Sdi Co Ltd | 電界放出素子及びそれを適用した電界放出表示素子 |
| JP2008235221A (ja) * | 2007-03-23 | 2008-10-02 | Mt Picture Display Co Ltd | 撮像装置 |
| JP2011210641A (ja) * | 2010-03-30 | 2011-10-20 | Nippon Hoso Kyokai <Nhk> | 電子放出源アレイ、撮像装置、及び表示装置 |
| JP2013149628A (ja) * | 2005-04-25 | 2013-08-01 | Smoltek Ab | ナノ構造体の基板上への制御下の成長およびそれに基づく電子放出デバイス |
| KR20150043354A (ko) * | 2012-08-16 | 2015-04-22 | 나녹스 이미징 피엘씨 | 영상 캡처 장치 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0620592A (ja) * | 1992-05-06 | 1994-01-28 | Fujitsu Ltd | 電界放出陰極装置及びその製造方法 |
| JPH06283092A (ja) * | 1993-03-26 | 1994-10-07 | Olympus Optical Co Ltd | 電子ビーム発生装置 |
| JPH07296717A (ja) * | 1994-04-26 | 1995-11-10 | Nec Corp | 電界放出型冷陰極 |
| JPH08115654A (ja) * | 1994-10-14 | 1996-05-07 | Sony Corp | 粒子放出装置、電界放出型装置及びこれらの製造方法 |
| JPH10125215A (ja) * | 1996-10-18 | 1998-05-15 | Nec Corp | 電界放射薄膜冷陰極及びこれを用いた表示装置 |
| WO1999023679A1 (en) * | 1997-10-31 | 1999-05-14 | Candescent Technologies Corporation | Patterned resistor suitable for electron-emitting device, and associated fabrication method |
| JP2001052599A (ja) * | 1999-08-05 | 2001-02-23 | Hitachi Denshi Ltd | 冷陰極アレイ素子の製造方法と構造および冷陰極アレイ撮像素子 |
-
2001
- 2001-03-06 JP JP2001061844A patent/JP2002260524A/ja active Pending
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0620592A (ja) * | 1992-05-06 | 1994-01-28 | Fujitsu Ltd | 電界放出陰極装置及びその製造方法 |
| JPH06283092A (ja) * | 1993-03-26 | 1994-10-07 | Olympus Optical Co Ltd | 電子ビーム発生装置 |
| JPH07296717A (ja) * | 1994-04-26 | 1995-11-10 | Nec Corp | 電界放出型冷陰極 |
| JPH08115654A (ja) * | 1994-10-14 | 1996-05-07 | Sony Corp | 粒子放出装置、電界放出型装置及びこれらの製造方法 |
| JPH10125215A (ja) * | 1996-10-18 | 1998-05-15 | Nec Corp | 電界放射薄膜冷陰極及びこれを用いた表示装置 |
| WO1999023679A1 (en) * | 1997-10-31 | 1999-05-14 | Candescent Technologies Corporation | Patterned resistor suitable for electron-emitting device, and associated fabrication method |
| JP2003520386A (ja) * | 1997-10-31 | 2003-07-02 | キャンデセント・テクノロジーズ・コーポレイション | 電子放出デバイスに適したパターン形成された抵抗体およびその製造方法 |
| JP2001052599A (ja) * | 1999-08-05 | 2001-02-23 | Hitachi Denshi Ltd | 冷陰極アレイ素子の製造方法と構造および冷陰極アレイ撮像素子 |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005183388A (ja) * | 2003-12-22 | 2005-07-07 | Samsung Sdi Co Ltd | 電界放出素子、それを適用した表示素子及びその製造方法 |
| JP2006049322A (ja) * | 2004-08-04 | 2006-02-16 | Samsung Sdi Co Ltd | 電界放出素子及びそれを適用した電界放出表示素子 |
| JP2013149628A (ja) * | 2005-04-25 | 2013-08-01 | Smoltek Ab | ナノ構造体の基板上への制御下の成長およびそれに基づく電子放出デバイス |
| JP2008235221A (ja) * | 2007-03-23 | 2008-10-02 | Mt Picture Display Co Ltd | 撮像装置 |
| JP2011210641A (ja) * | 2010-03-30 | 2011-10-20 | Nippon Hoso Kyokai <Nhk> | 電子放出源アレイ、撮像装置、及び表示装置 |
| KR20150043354A (ko) * | 2012-08-16 | 2015-04-22 | 나녹스 이미징 피엘씨 | 영상 캡처 장치 |
| JP2015530706A (ja) * | 2012-08-16 | 2015-10-15 | ナノックス イメージング ピーエルシー | 撮像装置 |
| KR102025970B1 (ko) | 2012-08-16 | 2019-09-26 | 나녹스 이미징 피엘씨 | 영상 캡처 장치 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6422907B2 (en) | Electrode structures, display devices containing the same, and methods for making the same | |
| US5243252A (en) | Electron field emission device | |
| JPH05242794A (ja) | 集積化された静電界レンズを有する電界放出デバイス | |
| US5378182A (en) | Self-aligned process for gated field emitters | |
| KR950008758B1 (ko) | 실리콘 전계방출 소자 및 그의 제조방법 | |
| KR100242038B1 (ko) | 전계 방출 냉음극과 이를 이용한 표시 장치 | |
| JP2812356B2 (ja) | 電界放出型電子銃 | |
| JP2002260524A (ja) | 冷陰極電子源とそれを用いて構成した撮像装置、表示装置 | |
| JPH05159696A (ja) | 電界放出型電子素子 | |
| JP2002520770A (ja) | 電界放射素子 | |
| US6824698B2 (en) | Uniform emitter array for display devices, etch mask for the same, and methods for making the same | |
| JP3608291B2 (ja) | 電子源及びそれを用いた陰極線管 | |
| US5889359A (en) | Field-emission type cold cathode with enhanced electron beam axis symmetry | |
| JP2697538B2 (ja) | 冷陰極 | |
| US6319082B1 (en) | Method of making an electron emission device by anode oxidation | |
| JP2000331596A (ja) | 冷陰極電界電子放出素子及び冷陰極電界電子放出表示装置 | |
| US20070029919A1 (en) | Electron emission device having a focus electrode and a fabrication method therefor | |
| JP2856672B2 (ja) | 電界電子放出素子及びその製造方法 | |
| KR100278502B1 (ko) | 더블 게이트를 갖는 화산형 금속 fea 제조방법 | |
| JP2001006526A (ja) | 冷陰極電子源 | |
| JP2000268703A (ja) | 電界放出デバイス | |
| KR960010426B1 (ko) | 디스크-엣지형 전계 전자 방출 소자 및 그 제조방법 | |
| JPH1167057A (ja) | 微小冷陰極 | |
| Luo et al. | Double-gate-driving field emission display panel with stacked-metalized-aperture structure | |
| JPH04118829A (ja) | 電子放出素子 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080226 |
|
| RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20080226 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100624 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100629 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20101026 |