JP2002248571A - レーザ照射アークスタート制御方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 レーザ７を被溶接物２に照射してアーク３を
発生させるレーザ照射アークスタート制御方法におい
て、溶接開始時にワイヤ先端・被溶接物間距離が短い場
合、レーザ照射によって十分なプラズマ存在空間７ａが
形成される前に、溶接ワイヤ１が被溶接物２に直ぐに接
触してしまい、この接触解除のために大電流を通電して
ワイヤ突出し部を溶断しアークを発生させるために、ア
ークスタート時に大粒のスパッタが飛散して不良なビー
ド外観となる。 【解決手段】 本発明では、十分なプラズマ存在空間７
ａを形成するためにレーザ７を予め定めた先行照射時間
Ｔｐ（時刻ｔ１〜ｔ２）だけ先行照射した後に、溶接ワ
イヤの送給Ｆｃ及び溶接電圧Ｖｗの出力を開始する。こ
れによって、ワイヤ先端・被溶接物間距離が短い場合で
も、スパッタの飛散しない円滑なアークスタートを行う
ことができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、被溶接物上の溶接
狙い位置又はその周辺部にレーザを照射すると共に溶接
ワイヤの送給及び溶接電圧の出力を開始し、溶接ワイヤ
と被溶接物との間にアークを発生させるレーザ照射アー
クスタート制御方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＹＡＧレーザ、炭酸ガスレーザ、半導体
レーザ等によるレーザ照射と消耗電極ガスシールドアー
ク溶接とを併用する複合型のレーザ照射アーク溶接方法
が知られている。この溶接方法は、アーク発生部に高密
度エネルギーのレーザを照射することによって、２〜５
［ｍ／分］の超高速溶接を行うことができる。また、こ
の溶接方法は、溶接開始時に被溶接物上の溶接狙い位置
又はその周辺部にレーザを照射すると共に、同時に溶接
ワイヤの送給及び溶接電圧の出力を開始することによっ
て、円滑にアークを発生させることができる。以下、従
来技術としてこのレーザ照射アーク溶接方法について、
特にそのアークスタート制御方法について説明する。

【０００３】図２は、従来技術のレーザ照射アーク溶接
方法を実施するための溶接装置の構成図である。以下、
同図を参照して説明する。レーザ発振装置９は、ＹＡＧ
レーザ、炭酸ガスレーザ、半導体レーザ等の発振装置で
あり、レーザ用トーチ８を介して被溶接物２へレーザ７
を出力値Ｐｗで照射する。溶接電源装置６は、ワイヤ送
給装置の送給ロール５の回転を制御して溶接ワイヤ１を
溶接トーチ４を通して送給すると共に、溶接ワイヤ１と
被溶接物２との間にアーク３を発生させるための溶接電
圧Ｖｗを出力して溶接電流Ｉｗを通電する。溶接開始信
号Ｓｔは、上記のレーザ発振装置９及び溶接電源装置６
に対して、同時に入力される。したがって、溶接開始信
号Ｓｔが入力（Ｈｉｇｈレベル）されると、レーザ７の
出力、溶接ワイヤ１の送給及び溶接電圧Ｖｗの出力が同
時に開始される。

【０００４】また、レーザ７を照射する位置は、被溶接
物２上の溶接狙い位置又はその周辺部であればよく、溶
接方向を基準として溶接狙い位置Ｗｐの前方、後方、右
横又は左横のいずれの位置でもよい。溶接狙い位置Ｗｐ
とは、同図に示すように、溶接ワイヤ１の送給方向を示
す直線Ｌと被溶接物表面とが交差する位置である。

【０００５】図３は、上述した溶接電源装置６のブロッ
ク図である。以下、同図を参照して、各回路ブロックに
ついて説明する。

【０００６】電圧検出回路ＶＤは、溶接ワイヤ１と被溶
接物２との間の溶接電圧Ｖｗを検出して、電圧検出信号
Ｖｄを出力する。アーク判別回路ＡＤは、上記の電圧検
出信号Ｖｄを入力としてその電圧値によってアーク発生
を判別して、アーク判別信号Ａｄを出力する。

【０００７】定常の送給速度設定回路ＷＳは、定常の送
給速度設定信号Ｗｓを出力する。送給制御回路ＦＣは、
外部から溶接開始信号Ｓｔが入力（Ｈｉｇｈレベル）さ
れると、溶接ワイヤを予め定めた初期送給速度Ｗｉで送
給し、上記のアーク判別信号Ａｄが入力（Ｈｉｇｈレベ
ル）されると溶接ワイヤを上記の定常の送給速度設定信
号Ｗｓに相当する送給速度で送給するための送給制御信
号Ｆｃを出力する。ワイヤ送給モータＷＭは、上記の送
給制御信号Ｆｃに従って溶接ワイヤを送給する。

【０００８】電圧設定回路ＶＳは、上記の溶接電圧Ｖｗ
を設定するための電圧設定信号Ｖｓを出力する。出力制
御回路ＩＮＶは、外部から溶接開始信号Ｓｔが入力（Ｈ
ｉｇｈレベル）されると、商用交流電源（通常は３相２
００Ｖ）を入力として、インバータ制御、サイリスタ位
相制御等によって、アーク３を安定に維持するために適
した溶接電圧Ｖｗを出力し、溶接電流Ｉｗが通電する。

【０００９】図４は、前述したレーザ発振装置９のブロ
ック図である。以下、同図を参照して説明する。出力値
設定回路ＰＳは、レーザの出力値Ｐｗ［Ｗ］を設定する
ための出力値設定信号Ｐｓを出力する。レーザ出力制御
回路ＬＯＣは、外部から溶接開始信号Ｓｔが入力（Ｈｉ
ｇｈレベル）されと、上記の出力値設定信号Ｐｓに相当
する出力値Ｐｗでレーザを被溶接物へ照射する。

【００１０】図５は、上述した溶接装置の各信号のタイ
ミングチャートである。同図（Ａ）は溶接開始信号Ｓｔ
の時間変化を示し、同図（Ｂ）はレーザの出力値Ｐｗの
時間変化を示し、同図（Ｃ）は送給制御信号Ｆｃの時間
変化を示し、同図（Ｄ）はアーク判別信号Ａｄの時間変
化を示し、同図（Ｅ）は溶接電圧Ｖｗの時間変化を示
し、同図（Ｆ）は溶接電流Ｉｗの時間変化を示し、同図
（Ｇ１）〜（Ｇ２）は各時刻におけるレーザ照射部の状
態及びアーク発生状態を示す。以下、同図を参照して説
明する。

【００１１】 時刻ｔ１〜ｔ２の期間 時刻ｔ１において、同図（Ａ）に示すように、溶接開始
信号Ｓｔが外部から入力（Ｈｉｇｈレベル）されると、
同図（Ｂ）に示すように、レーザの出力Ｐｗが開始して
被溶接物へレーザが照射される。同時に、同図（Ｃ）に
示すように、送給制御信号Ｆｃは初期送給速度設定値Ｗ
ｉとなり、溶接ワイヤは初期送給速度Ｗｉで送給される
と共に、同図（Ｅ）に示すように、溶接電圧Ｖｗが出力
される。この期間中は、同図（Ｇ１）に示すように、ア
ークが発生していないために溶接ワイヤ１と被溶接物２
との間は無負荷状態であるために、上記の溶接電圧Ｖｗ
は無負荷電圧Ｖnlとなる。また、同図（Ｇ１）に示すよ
うに、溶接狙い位置Ｗｐへのレーザ７の照射によって、
照射部周辺にプラズマが発生して電離イオンの存在する
空間（以下、プラズマ存在空間７ａという）が形成され
る。このプラズマ存在空間７ａは、レーザ照射の時間経
過と共に次第にその広さは拡大する。

【００１２】 時刻ｔ２〜ｔ３の期間 時刻ｔ２において、同図（Ｇ２）に示すように、送給に
よって溶接ワイヤ１の先端が前述したプラズマ存在空間
７ａの中に入ると、プラズマ存在空間７ａに溶接電圧Ｖ
ｗが印加されるので、溶接ワイヤ１と被溶接物２とは接
触することなく両者間にアーク３が発生する。アーク３
が発生すると、同図（Ｄ）に示すように、アーク判別信
号Ａｄが出力（Ｈｉｇｈレベル）される。これに応じ
て、同図（Ｃ）に示すように、送給制御信号Ｆｃは定常
の送給速度設定信号Ｗｓとなり、溶接ワイヤは定常の送
給速度Ｗｓで送給される。また、同図（Ｅ）に示すよう
に、溶接電圧Ｖｗは電圧設定信号Ｖｓに相当する値にな
り、同図（Ｆ）に示すように、溶接電流Ｉｗは定常の送
給速度Ｗｓに対応した定常の溶接電流Ｉｃとなる。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】図６は、従来技術の解
決課題を説明するための上述した図５に相当するタイミ
ングチャートである。上述した図５と同様に、同図
（Ａ）は溶接開始信号Ｓｔの時間変化を示し、同図
（Ｂ）はレーザの出力値Ｐｗの時間変化を示し、同図
（Ｃ）は送給制御信号Ｆｃの時間変化を示し、同図
（Ｄ）はアーク判別信号Ａｄの時間変化を示し、同図
（Ｅ）は溶接電圧Ｖｗの時間変化を示し、同図（Ｆ）は
溶接電流Ｉｗの時間変化を示し、同図（Ｇ１）〜（Ｇ
３）は各時刻におけるレーザ照射部の状態及びアーク発
生状態を示す。同図は、溶接開始時のワイヤ先端・被溶
接物間距離が短い場合である。また、同図における時刻
ｔ１〜ｔ２の期間は上述した図５と同様であるので説明
は省略し、時刻ｔ２以降について同図を参照して説明す
る。

【００１４】 時刻ｔ２〜ｔ３の期間 溶接開始時のワイヤ先端・被溶接物間距離が短いため
に、時刻ｔ１〜ｔ２の期間も短くなる。このために、時
刻ｔ２の直前においても、前述したプラズマ存在空間７
ａは小さな空間のままであり、送給によって溶接ワイヤ
の先端がこの小さなプラズマ存在空間７ａの中に入った
直後の時刻ｔ２において、同図（Ｇ２）に示すように、
アークが発生しないうちに溶接ワイヤ１は被溶接物２に
接触する。

【００１５】時刻ｔ２〜ｔ３の期間中はこの接触状態の
ままであるために、同図（Ｃ）に示すように、送給制御
信号Ｆｃは初期送給速度設定値Ｗｉのままであり、同図
（Ｅ）に示すように、溶接電圧Ｖｗは数［Ｖ］程度の低
い値であり、同図（Ｆ）に示すように、溶接電流Ｉｗは
負荷が接触状態にあるために６００［Ａ］程度の大電流
値の短絡電流Ｉｐが通電する。この大電流値の短絡電流
Ｉｐの通電によって、ワイヤ突出し部は抵抗加熱されて
温度が上昇し、次第に柔らかくなる。それに加えて、こ
の間も溶接ワイヤの送給は継続しているために、柔らか
くなったワイヤ突出し部は次第に変形する。

【００１６】 時刻ｔ３以降の期間 上述したワイヤ突出し部の変形が進行して、同図（Ｇ
３）に示すように、時刻ｔ３においてワイヤ突出し部の
途中で溶断して、溶断部からアーク３が発生する（以
下、この現象を接触溶断アークスタートという）。この
ときに、溶断した溶接ワイヤ１の一部が大粒のスパッタ
として飛散して被溶接物２に付着づるために、不良なビ
ード外観となる。

【００１７】時刻ｔ３においてアーク３が発生すると、
同図（Ｄ）に示すように、アーク判別信号Ａｄが出力
（Ｈｉｇｈレベル）される。これに応じて、同図（Ｃ）
に示すように、送給制御信号Ｆｃは定常の送給速度設定
信号Ｗｓになり、溶接ワイヤは定常の送給速度Ｗｓで送
給される。また、同図（Ｅ）に示すように、溶接電圧Ｖ
ｗは、前述した図５に示す電圧設定信号Ｖｓに相当する
値となり、同図（Ｆ）に示すように、溶接電流Ｉｗは定
常の溶接電流Ｉｃとなる。

【００１８】上述したように、接触溶断アークスタート
になると、大粒のスパッタの付着する不良なビード外観
となる。この接触溶断アークスタートは、溶接開始時の
ワイヤ先端・被溶接物間距離が短い場合において、溶接
ワイヤが被溶接物に接触する短時間の間に十分なプラズ
マ存在空間を形成することができないことが原因となっ
て発生する。

【００１９】ところで、トーチ・被溶接物間距離は溶接
ワイヤの材質及び直径、溶接電流値、被溶接物の形状及
び溶接個所等に対応して、溶接状態が良好になるように
適正値に設定する必要がある。このために、上記のトー
チ・被溶接物間距離を短く設定する場合も多く、それに
応じてワイヤ先端・被溶接物間距離も短くなる。さら
に、溶接開始時のワイヤ先端・被溶接物間距離は、前回
の溶接終了時におけるアークによるワイヤ先端の燃え上
がり長さによって影響される。通常、この燃え上がり長
さは、溶接終了時の溶接電圧値を適正値にすることであ
る程度のバラツキ幅に抑制することができる。しかし、
溶接ワイヤの材質、溶接姿勢、シールドガスの種類等に
よっては、そのバラツキ幅は大きくなり、その結果、溶
接開始時のワイヤ先端・被溶接物間距離も大きくばらつ
くことになる。このために、溶接開始時のワイヤ先端・
被溶接物間距離が短くなることも多い。

【００２０】したがって、従来技術のレーザ照射アーク
スタート制御方法では、溶接開始時のワイヤ先端・被溶
接物間距離が短い場合に発生する接触溶断アークスター
トを防止することができなかった。そこで、本発明で
は、溶接開始時時のワイヤ先端・被溶接物間距離に影響
されることなく、接触溶断アークスタートを防止して、
常に良好なアークスタートを行うことができるレーザ照
射アークスタート制御方法を提供する。

【００２１】

【課題を解決するための手段】出願時の請求項１の発明
は、図７〜８に示すように、被溶接物２上の溶接狙い位
置Ｗｐ又はその周辺部にレーザ７を照射すると共に溶接
ワイヤ１の送給及び溶接電圧Ｖｗの出力を開始し、上記
溶接ワイヤ１と上記被溶接物２との間にアーク３を発生
させるレーザ照射アークスタート制御方法において、上
記レーザ７を予め定めた先行照射時間Ｔｐだけ照射した
後に、上記溶接ワイヤ１の送給及び溶接電圧Ｖｗの出力
を開始することによって円滑にアーク３を発生させるレ
ーザ照射アークスタート制御方法である。

【００２２】出願時の請求項２の発明は、図９に示すよ
うに、被溶接物の材質、シールドガスの種類又は溶接ワ
イヤの種類の少なくとも一つ以上の設定の変更に対応し
て、出願時の請求項１に記載する先行照射時間Ｔｐの時
間長さを変化させる出願時の請求項１のレーザ照射アー
クスタート制御方法である。

【００２３】出願時の請求項３の発明は、図１０〜１２
に示すように、被溶接物２上の溶接狙い位置Ｗｐ又はそ
の周辺部にレーザ７を照射すると共に溶接ワイヤ１の送
給及び溶接電圧Ｖｗの出力を開始し、上記溶接ワイヤ１
と上記被溶接物２との間にアーク３を発生させるレーザ
照射アークスタート制御方法において、上記レーザ７の
照射を停止したままで上記溶接ワイヤ１の送給及び溶接
電圧Ｖｗの出力を開始し、この送給によって上記溶接ワ
イヤ１と上記被溶接物２とが接触すると上記溶接ワイヤ
１の送給を停止して予め定めた初期電流Ｉｓを通電する
と共に上記レーザ７の照射を開始し、このレーザ照射に
よって上記初期電流Ｉｓが通電する初期アーク３ａが発
生した後に上記溶接ワイヤ１の再送給を開始すると共に
定常の溶接電流Ｉｃを通電することによって上記初期ア
ーク発生状態３ａから定常のアーク発生状態３ｂへと円
滑に移行させるレーザ照射アークスタート制御方法であ
る。

【００２４】出願時の請求項４の発明は、図１３〜１４
に示すように、出願時の請求項３に記載する初期アーク
３ａを予め定めた初期アーク継続時間Ｔｉの間発生させ
た後に、溶接ワイヤ１の再送給を開始すると共に定常の
溶接電流Ｉｃを通電する出願時の請求項３のレーザ照射
アークスタート制御方法である。

【００２５】

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態の一例は、図
１（図８と同一の図）に示すように、被溶接物２上の溶
接狙い位置Ｗｐ又はその周辺部にレーザ７を照射すると
共に溶接ワイヤ１の送給及び溶接電圧Ｖｗの出力を開始
し、上記溶接ワイヤ１と上記被溶接物２との間にアーク
３を発生させるレーザ照射アークスタート制御方法にお
いて、上記レーザ７を予め定めた同図の時刻ｔ１〜ｔ２
に示す先行照射時間Ｔｐだけ照射した後に、同図（Ｄ）
に示す溶接ワイヤの送給Ｆｃ及び同図（Ｆ）に示す溶接
電圧Ｖｗの出力を開始することによって、同図（Ｈ３）
に示すように、円滑にアーク３を発生させるレーザ照射
アークスタート制御方法である。

【００２６】

【実施例】［実施例１］以下に説明する実施例１の発明
は、出願時の請求項１の発明に対応する。前述した従来
技術では、外部からの溶接開始信号Ｓｔの入力と同時
に、レーザの照射、溶接ワイヤの送給及び溶接電圧Ｖｗ
の出力を開始するが、実施例１の発明では、レーザを予
め定めた先行照射時間Ｔｐだけ照射した後に、溶接ワイ
ヤの送給及び溶接電圧Ｖｗの出力を開始することによっ
て円滑にアークを発生させるレーザ照射アークスタート
制御方法である。以下、図７〜８を参照して、実施例１
の発明について説明する。

【００２７】実施例１の発明を実施するための溶接装置
の構成は、前述した図２の構成において溶接電源装置６
を以下に説明する遅延出力溶接電源装置６１に置換した
構成となる。以下、この遅延出力溶接電源装置６１につ
いて説明する。図７は、上記の遅延出力溶接電源装置６
１のブロック図である。同図において、前述した図３と
同一回路ブロックには同一の符号を付し、それらの説明
は省略する。以下、点線で示す図３とは異なる回路ブロ
ックである先行照射時間タイマ回路ＴＰ、送給制御回路
ＦＣ及び出力制御回路ＩＮＶについて、同図を参照して
説明する。

【００２８】先行照射時間タイマ回路ＴＰは、外部から
溶接開始信号Ｓｔが入力（Ｈｉｇｈレベル）されると、
その立上りを予め定めた先行照射時間Ｔｐだけオンディ
レイした出力開始信号Ｏｎを出力する。実施例１の送給
制御回路ＦＣは、図３の送給制御回路ＦＣの入力信号を
溶接開始信号Ｓｔから上記の出力開始信号Ｏｎに置換し
た回路であり、上記の出力開始信号Ｏｎが入力（Ｈｉｇ
ｈレベル）されると、溶接ワイヤを予め定めた初期送給
速度Ｗｉで送給し、前述したアーク判別信号Ａｄが入力
（Ｈｉｇｈレベル）されると溶接ワイヤを定常の送給速
度Ｗｓで送給するための送給制御信号Ｆｃを出力する。

【００２９】実施例１の出力制御回路ＩＮＶは、図３の
出力制御回路ＩＮＶの入力信号を溶接開始信号Ｓｔから
上記の出力開始信号Ｏｎに置換した回路であり、上記の
出力開始信号Ｏｎが入力（Ｈｉｇｈレベル）されると、
商用交流電源をインバータ制御、サイリスタ位相制御等
によって出力制御して、前述した電圧設定信号Ｖｓに相
当する溶接電圧Ｖｗを出力する。

【００３０】図８は、上述した実施例１の溶接装置の各
信号のタイミングチャートである。同図（Ａ）は溶接開
始信号Ｓｔの時間変化を示し、同図（Ｂ）は出力開始信
号Ｏｎの時間変化を示し、同図（Ｃ）はレーザの出力値
Ｐｗの時間変化を示し、同図（Ｄ）は送給制御信号Ｆｃ
の時間変化を示し、同図（Ｅ）はアーク判別信号Ａｄの
時間変化を示し、同図（Ｆ）は溶接電圧Ｖｗの時間変化
を示し、同図（Ｇ）は溶接電流Ｉｗの時間変化を示し、
同図（Ｈ１）〜（Ｈ３）は各時刻におけるレーザ照射部
の状態及びアーク発生状態を示す。以下、同図を参照し
て説明する。

【００３１】 時刻ｔ１〜ｔ２の期間 時刻ｔ１において、同図（Ａ）に示すように、溶接開始
信号Ｓｔが外部から入力（Ｈｉｇｈレベル）されると、
同図（Ｃ）に示すように、レーザの出力Ｐｗが開始して
被溶接物へレーザが照射される。同時に、上記の溶接開
始信号Ｓｔの立上りは先行照射時間Ｔｐだけオンディレ
イされるために、同図（Ｂ）に示すように、出力開始信
号ＯｎはＬｏｗレベルのままである。この先行照射時間
Ｔｐの間のレーザ７の照射によって、同図（Ｈ１）に示
すように、時刻ｔ１からプラズマ存在空間７ａが形成さ
れて、同図（Ｈ２）に示すように、時刻ｔ２に至るまで
そのプラズマ存在空間７ａは次第に拡大する。

【００３２】 時刻ｔ２〜ｔ３の期間 時刻ｔ２において、同図（Ｂ）に示すように、先行照射
時間Ｔｐが経過すると、出力開始信号Ｏｎが出力（Ｈｉ
ｇｈレベル）される。これに応じて、同図（Ｄ）に示す
ように、送給制御信号Ｆｃは初期送給速度設定値Ｗｉに
なり、溶接ワイヤは初期送給速度Ｗｉで送給される。同
時に、同図（Ｆ）に示すように、溶接電圧Ｖｗが出力さ
れる。なお、この期間中、溶接ワイヤと被溶接物との間
は無負荷状態であるために、溶接電圧Ｖｗの値は無負荷
電圧Ｖnlとなる。

【００３３】 時刻ｔ３以降の期間 時刻ｔ１〜ｔ３までのレーザ照射によってプラズマ存在
空間７ａがワイヤ先端の周辺まで形成されており、時刻
ｔ２に溶接電圧Ｖｗが出力されると、その直後の時刻ｔ
３において、同図（Ｈ３）に示すように、アーク３が発
生する。アーク３が発生すると、同図（Ｅ）に示すよう
に、アーク判別信号Ａｄが出力（Ｈｉｇｈレベル）され
る。これに応じて、同図（Ｄ）に示すように、送給制御
信号Ｆｃは定常の送給速度設定信号Ｗｓになり、溶接ワ
イヤは定常の送給速度Ｗｓで送給される。また、同図
（Ｆ）に示すように、溶接電圧Ｖｗは電圧設定信号Ｖｓ
に相当する値となり、同図（Ｇ）に示すように、溶接電
流Ｉｗは定常の溶接電流Ｉｃが通電する。

【００３４】上述したように、実施例１の発明では、溶
接ワイヤの送給を停止したままでレーザを先行照射して
ワイヤ先端の周辺部までプラズマ存在空間を形成した後
に、溶接ワイヤの送給及び溶接電圧Ｖｗの出力を開始す
るので、溶接開始時のワイヤ先端・被溶接物間距離が短
い場合でも、溶接ワイヤが被溶接物に接触することなく
円滑なアークスタートを行うことができる。上述した先
行照射時間Ｔｐの時間長さは、適正なプラズマ存在空間
が形成される時間よりも長く、レーザ照射によって被溶
接物が変形、溶け落ち等を生じない程度に短く設定す
る。

【００３５】［実施例２］以下に説明する実施例２の発
明は、出願時の請求項２の発明に対応する。実施例２の
発明は、前述した実施例１の発明において、被溶接物の
材質、シールドガスの種類又は溶接ワイヤの種類の少な
くとも一つ以上の設定の変更に対応して、実施例１で前
述した先行照射時間Ｔｐの時間長さを変化させるレーザ
照射アークスタート制御方法である。以下、図９を参照
して、実施例２の発明について説明する。

【００３６】実施例２の発明を実施するための溶接装置
の構成は、前述した図７における先行照射時間タイマ回
路ＴＰを以下に説明する図９の回路に置換した構成であ
り、それ以外は実施例１と同様の構成である。図９は、
実施例２の先行照射時間タイマ回路ＴＰのブロック図で
ある。実施例２の先行照射時間タイマ回路ＴＰは、外部
から溶接開始信号Ｓｔが入力（Ｈｉｇｈレベル）される
と、その立上りを、被溶接物の材質、シールドガスの種
類又は溶接ワイヤの種類に応じて定まる先行照射時間Ｔ
ｐだけオンディレイした出力開始信号Ｏｎを出力する。

【００３７】先行照射時間Ｔｐの時間長さを被溶接物の
材質、シールドガスの種類又は溶接ワイヤの種類によっ
て変化させる理由は以下のとおりである。すなわち、こ
れらの設定の変更によってプラズマ存在空間の形成状態
が変化する。このために、常に同一のプラズマ存在空間
を形成するためには、先行照射時間Ｔｐの時間長さを適
正値に設定する必要があるためである。

【００３８】［実施例３］以下に説明する実施例３の発
明は、出願時の請求項３に対応する。実施例３の発明
は、レーザの照射を停止したままで溶接ワイヤの送給及
び溶接電圧Ｖｗの出力を開始し、溶接ワイヤと被溶接物
とが接触すると溶接ワイヤの送給を停止して予め定めた
初期電流Ｉｓを通電すると共にレーザの照射を開始し、
このレーザ照射によって上記の初期電流Ｉｓが通電する
初期アークが発生した後に、溶接ワイヤの再送給を開始
すると共に定常の溶接電流Ｉｃを通電することによって
初期アーク発生状態から定常のアーク発生状態へと円滑
に移行させるレーザ照射アークスタート制御方法であ
る。以下、図１０〜図１２を参照して、実施例３の発明
について説明する。

【００３９】図１０は、実施例３の発明を実施するため
の溶接装置の構成図である。同図の構成は、前述した図
２とは、点線で示す断続送給溶接電源装置６２が異な
り、かつ、溶接開始信号Ｓｔに代えてレーザ出力開始信
号Ｌstがレーザ発振装置９へ入力される点が異なってお
り、それ以外の構成は同様である。以下、この断続送給
溶接電源装置６２について、図１１〜１２を参照して説
明する。

【００４０】図１１は、上述した断続送給溶接電源装置
６２のブロック図である。同図において、前述した図７
と同一の回路ブロックには同一符号を付し、それらの説
明は省略する。以下、図７とは異なる点線で示す短絡／
アーク判別回路ＳＡ、フリップフロップ回路ＦＦ、送給
制御回路ＦＣ、初期電流設定回路ＩＳ及び出力制御回路
ＩＮＶについて説明する。

【００４１】短絡／アーク判別回路ＳＡは、電圧検出信
号Ｖｄを入力として、その電圧値によって判別して、溶
接ワイヤと被溶接物との間が接触（短絡）状態のときに
は短絡信号（Ｈｉｇｈレベル）を、両者間がアーク発生
状態又は無負荷状態のときにはアーク発生信号（Ｌｏｗ
レベル）を、短絡／アーク判別信号Ｓａとして出力す
る。フリップフロップ回路ＦＦは、上記の短絡／アーク
判別信号Ｓａが短絡信号（Ｈｉｇｈレベル）に変化する
とセット（Ｈｉｇｈレベル）され、外部からの溶接開始
信号Ｓｔの入力が終了（Ｌｏｗレベル）するとリセット
（Ｌｏｗレベル）されるレーザ出力開始信号Ｌstを出力
する。このレーザ出力開始信号Ｌstは、図１０に示すレ
ーザ発振装置９へ出力されて、その値がＨｉｇｈレベル
のときはレーザが出力される。

【００４２】実施例３の送給制御回路ＦＣは、外部から
溶接開始信号Ｓｔが入力（Ｈｉｇｈレベル）されると溶
接ワイヤを予め定めた初期送給速度Ｗｉで送給し、上記
の短絡／アーク判別Ｓａが短絡信号（Ｈｉｇｈレベル）
に変化すると溶接ワイヤの送給を停止し、上記の短絡／
アーク判別Ｓａがアーク発生信号（Ｌｏｗレベル）に変
化すると溶接ワイヤを定常の送給速度Ｗｓで再送給し、
溶接開始信号Ｓｔの入力が終了（Ｌｏｗレベル）すると
溶接ワイヤの送給を停止するための送給制御信号Ｆｃを
出力する。

【００４３】初期電流設定回路ＩＳは、初期電流設定信
号Ｉｓを出力する。この初期電流設定信号Ｉｓは、接触
時は抵抗加熱によって、アーク発生時はアーク熱によっ
て、送給を停止している溶接ワイヤの先端部を溶融する
ために、数十〜数百［Ａ］の範囲内で適正値に設定され
る。また、この初期電流設定信号Ｉｓは、溶接ワイヤの
直径及び材質、シールドガスの種類、定常の送給速度設
定信号Ｗｓの値等に応じて、そのれぞれの適正値に設定
される。実施例３の出力制御回路ＩＮＶは、溶接開始信
号Ｓｔが入力（Ｈｉｇｈレベル）されると、上記の初期
電流設定信号Ｉｓに相当する電流を通電するための定電
流特性又は垂下特性（以下、両者をまとめて略定電流特
性という）を形成して出力し、短絡／アーク判別信号Ｓ
ａがアーク発生信号（Ｌｏｗレベル）に変化すると電圧
設定信号Ｖｓに相当する電圧を印加するための略定電圧
特性を形成して出力し、溶接開始信号Ｓｔの入力が終了
（Ｌｏｗレベル）すると出力を停止する。

【００４４】図１２は、上述した実施例３の溶接装置の
各信号のタイミングチャートである。同図（Ａ）は溶接
開始信号Ｓｔの時間変化を示し、同図（Ｂ）は図８とは
異なりレーザ出力開始信号Ｌstの時間変化を示し、同図
（Ｃ）はレーザの出力値Ｐｗの時間変化を示し、同図
（Ｄ）は送給制御信号Ｆｃの時間変化を示し、同図
（Ｅ）は図８とは異なり短絡／アーク判別信号Ｓａの時
間変化を示し、同図（Ｆ）は溶接電圧Ｖｗの時間変化を
示し、同図（Ｇ）は溶接電流Ｉｗの時間変化を示し、同
図（Ｈ１）〜（Ｈ４）は各時刻におけるレーザ照射部の
状態及びアーク発生状態を示す。以下、同図を参照して
説明する。

【００４５】 時刻ｔ１〜ｔ２の期間 時刻ｔ１において、同図（Ａ）に示すように、溶接開始
信号Ｓｔが外部から入力（Ｈｉｇｈレベル）されると、
同図（Ｄ）に示すように、送給制御信号Ｆｃは初期送給
速度設定値Ｗｉとなり、溶接ワイヤは初期送給速度Ｗｉ
で送給される。同時に、図１１の説明の項で前述したよ
うに、出力制御回路ＩＮＶは初期電流設定信号Ｉｓに相
当する電流を通電するための略定電流特性を形成して出
力するが、溶接ワイヤと被溶接物との間が無負荷状態で
あるために、同図（Ｆ）に示すように、溶接電圧Ｖｗは
無負荷電圧Ｖnlとなる。この期間中は、同図（Ｈ１）に
示すように、レーザの照射は停止したままで、溶接ワイ
ヤ１が送給され、溶接電圧Ｖｗが出力される。

【００４６】 時刻ｔ２〜ｔ３の期間 時刻ｔ２において、送給によって溶接ワイヤが被溶接物
に接触すると、同図（Ｇ）に示すように、項で前述し
た略定電流特性によって初期電流Ｉｓが通電し、同図
（Ｆ）に示すように、溶接電圧Ｖｗは溶接ワイヤと被溶
接物とが接触しているために数［Ｖ］程度の低い値とな
る。この溶接電圧Ｖｗが低い値に変化すると、同図
（Ｅ）に示すように、短絡／アーク判別信号Ｓａは短絡
信号（Ｈｉｇｈレベル）に変化する。これに応じて、同
図（Ｂ）に示すように、レーザ出力開始信号Ｌstがセッ
ト（Ｈｉｇｈレベル）されて、同図（Ｃ）に示すよう
に、レーザの出力Ｐｗが開始する。同時に、上記の短絡
／アーク判別信号Ｓａが短絡信号（Ｈｉｇｈレベル）に
変化すると、同図（Ｄ）に示すように、送給制御信号Ｆ
ｃは零となり、溶接ワイヤの送給は停止する。この期間
中は、同図（Ｈ２）に示すように、溶接ワイヤ１の先端
粒の一部が被溶接物２と接触している状態で、レーザ７
が照射され、初期電流Ｉｓが通電する。そして、時間経
過に伴い、レーザ照射によってプラズマ存在空間７ａが
形成されると共に、初期電流Ｉｓの通電によって送給が
停止している溶接ワイヤ１の先端部が溶融して被溶接物
２から離れると、同図（Ｈ３）に示すように、初期アー
ク３ａが発生する。時刻ｔ２〜ｔ３の期間中は、溶接ワ
イヤの送給は停止しているので、初期アーク３ａの発生
時に再接触して初期アーク３ａが消滅することはほとん
どない。

【００４７】 時刻ｔ３以降の期間 時刻ｔ３において、初期アーク３ａが発生すると、同図
（Ｆ）に示すように、溶接電圧Ｖｗはアーク発生状態に
対応した数十［Ｖ］程度の値となり、この電圧値の変化
を判別して、同図（Ｅ）に示すように、短絡／アーク判
別信号Ｓａはアーク発生信号（Ｌｏｗレベル）に変化す
る。この変化に応じて、同図（Ｄ）に示すように、送給
制御信号Ｆｃは定常の送給速度設定信号Ｗｓとなり、溶
接ワイヤは定常の送給速度Ｗｓで送給される。同時に、
図１１の説明の項で前述したように、出力制御回路ＩＮ
Ｖは電圧設定信号Ｖｓに相当する電圧を印加するための
略定電圧特性を形成して出力するので、同図（Ｆ）に示
すように、溶接電圧Ｖｗは電圧設定信号Ｖｓに相当する
値となる。また、同図（Ｇ）に示すように、上記の定常
の送給速度Ｗｓに対応した定常の溶接電流Ｉｃが通電す
る。

【００４８】時刻ｔ３から数百［ms］〜数［ｓ］程度経
過した時刻において、同図（Ｈ４）に示すように、溶接
ワイヤ１が定常の送給速度Ｗｓで送給され、定常の溶接
電流Ｉｃが通電する定常のアーク３ｂが発生する。

【００４９】上述したように、実施例３の発明では、溶
接ワイヤが被溶接物に接触すると送給を停止し、レーザ
の照射及び初期電流Ｉｓの通電によって初期アークを発
生させた後に再送給を開始するので、前述した接触溶断
アークスタートを防止することができる。さらに、実施
例３の発明では、前述した実施例１及び２とは異なり、
レーザを先行照射時間Ｔｐだけ先行照射する必要がない
ので、被溶接物が薄板である場合でもレーザの先行照射
によって溶け落ち等の溶接不良が発生しない。

【００５０】［実施例４］以下に説明する実施例４の発
明は、出願時の請求項４に対応する。実施例４の発明
は、上述した実施例３の発明における初期アークを予め
定めた初期アーク継続時間Ｔｉの間発生させた後に、溶
接ワイヤの再送給を開始すると共に、定常の溶接電流Ｉ
ｃを通電するレーザ照射アークスタート制御方法であ
る。以下、図１３〜１４を参照して、実施例４の発明に
ついて説明する。

【００５１】実施例４の発明を実施するための溶接装置
の構成は、前述した図１０において、断続送給溶接電源
装置６２を図１３で後述する初期アーク継続溶接電源装
置６３に置換した構成となり、それ以外は同様である。
図１３は、上記の初期アーク継続溶接電源装置６３のブ
ロック図である。同図において、前述した図１１と同一
の回路ブロックには同一符号を付し、それらの説明は省
略する。以下、図１１とは異なる点線で示す初期アーク
継続時間タイマ回路ＴＩ、送給制御回路ＦＣ及び出力制
御回路ＩＮＶについて説明する。

【００５２】初期アーク継続時間タイマ回路ＴＩは、短
絡／アーク判別信号Ｓａが短絡信号（Ｈｉｇｈレベル）
からアーク発生信号（Ｌｏｗレベル）へと変化する時点
を、予め定めた初期アーク継続時間Ｔｉだけオフディレ
イした初期アーク継続信号Ｔｉを出力する。

【００５３】実施例４の送給制御回路ＦＣは、前述した
図１１における短絡／アーク判別信号Ｓａに代えて上記
の初期アーク継続信号Ｔｉを入力信号としており、外部
から溶接開始信号Ｓｔが入力（Ｈｉｇｈレベル）される
と溶接ワイヤを予め定めた初期送給速度Ｗｉで送給し、
上記の初期アーク継続信号ＴｉがＨｉｇｈレベル（短
絡）に変化すると溶接ワイヤの送給を停止し、上記の初
期アーク継続信号ＴｉがＬｏｗレベルに変化すると溶接
ワイヤを定常の送給速度Ｗｓで再送給し、溶接開始信号
Ｓｔの入力が終了（Ｌｏｗレベル）すると溶接ワイヤの
送給を停止するための送給制御信号Ｆｃを出力する。

【００５４】実施例４の出力制御回路ＩＮＶは、前述し
た図１１における短絡／アーク判別信号Ｓａに代えて上
記の初期アーク継続信号Ｔｉを入力信号としており、溶
接開始信号Ｓｔが入力（Ｈｉｇｈレベル）されると初期
電流設定信号Ｉｓに相当する電流を通電するための略定
電流特性を形成して出力し、上記の初期アーク継続信号
ＴｉがＬｏｗレベルに変化すると電圧設定信号Ｖｓに相
当する電圧を印加するための略定電圧特性を形成して出
力し、溶接開始信号Ｓｔの入力が終了（Ｌｏｗレベル）
すると出力を停止する。

【００５５】図１４は、上述した実施例４の溶接装置の
各信号のタイミングチャートである。同図（Ａ）は溶接
開始信号Ｓｔの時間変化を示し、同図（Ｂ）はレーザ出
力開始信号Ｌstの時間変化を示し、同図（Ｃ）はレーザ
の出力値Ｐｗの時間変化を示し、同図（Ｄ）は送給制御
信号Ｆｃの時間変化を示し、同図（Ｅ）は図１２とは異
なり初期アーク継続信号Ｔｉの時間変化を示し、同図
（Ｆ）は溶接電圧Ｖｗの時間変化を示し、同図（Ｇ）は
溶接電流Ｉｗの時間変化を示し、同図（Ｈ１）〜（Ｈ
５）は各時刻におけるレーザ照射部の状態及びアーク発
生状態を示す。同図において、時刻ｔ１〜ｔ３の期間の
動作は前述した図１２のときと同様であるので、それら
の期間の説明は省略する。以下、図１２のときとは異な
る動作となる時刻ｔ３以降について、同図を参照して説
明する。

【００５６】 時刻ｔ３〜ｔ４の期間 時刻ｔ３において、初期アーク３ａが発生すると、同図
（Ｆ）に示すように、溶接電圧Ｖｗはアーク発生状態に
対応した数十［Ｖ］程度の値となり、この電圧値の変化
を判別して、図示しない短絡／アーク判別信号Ｓａはア
ーク発生信号（Ｌｏｗレベル）に変化する。しかし、図
１３の説明の項で前述したように、この変化時点から初
期アーク継続時間Ｔｉが経過する時刻ｔ４までは、同図
（Ｅ）に示すように、初期アーク継続信号ＴｉはＨｉｇ
ｈレベルのままである。したがって、この期間中は、同
図（Ｃ）に示すように、レーザが引き続き照射され、同
図（Ｄ）に示すように、溶接ワイヤの送給は停止したま
まであり、同図（Ｆ）に示すように、溶接電圧Ｖｗは初
期アークのアーク長に比例した数十［Ｖ］の値となり、
同図（Ｇ）に示すように、初期電流Ｉｓが引き続き通電
する。このように、溶接ワイヤの送給は停止したまま
で、レーザを照射して初期電流Ｉｓを通電するので、同
図（Ｈ３）に示すように、ワイヤ先端が溶融して初期ア
ーク３ａが発生する。その後、同図（Ｈ４）に示すよう
に、時間の経過と共に初期アーク３ａのアーク長は次第
に長くなる。

【００５７】 時刻ｔ４以降の期間 時刻ｔ４において、同図（Ｅ）に示すように、初期アー
ク継続時間Ｔｉが経過すると、初期アーク継続信号Ｔｉ
はＬｏｗレベルに変化する。この変化に応じて、同図
（Ｄ）に示すように、送給制御信号Ｆｃは定常の送給速
度設定信号Ｗｓとなり、溶接ワイヤは定常の送給速度Ｗ
ｓで送給される。同時に、図１３の説明の項で前述した
ように、出力制御回路ＩＮＶは電圧設定信号Ｖｓに相当
する電圧を印加するための略定電圧特性を形成して出力
するので、同図（Ｆ）に示すように、溶接電圧Ｖｗは電
圧設定信号Ｖｓに相当する値となる。また、同図（Ｇ）
に示すように、上記の定常の送給速度Ｗｓに対応した定
常の溶接電流Ｉｃが通電する。

【００５８】時刻ｔ４から数百［ms］〜数［ｓ］程度経
過した時刻において、同図（Ｈ５）に示すように、溶接
ワイヤ１が定常の送給速度Ｗｓで送給され、定常の溶接
電流Ｉｃが通電する定常のアーク３ｂが発生する。

【００５９】上述したように、実施例４の発明では、時
刻ｔ３〜ｔ４の初期アーク継続時間Ｔｉを設けることに
よって、初期アークが発生した後に十分なアーク長にな
るまで溶接ワイヤを再送給しないので、初期アークの発
生直後に再接触して初期アークが消滅することがなく、
良好なアークスタートを行うことができる。

【００６０】［効果］図１５は、本発明の効果の一例を
示すアークスタート成功率比較図である。同図の溶接条
件は以下のとおりである。溶接ワイヤには直径１．６
［mm］のアルミニウム・シリコン合金（ＪＩＳ Ａ４０
４３）を使用し、被溶接物には板厚２［mm］の純アルミ
ニウム板（ＪＩＳ Ａ１０５０）を使用し、溶接電流６
０［Ａ］及び溶接電圧１９［Ｖ］で、ミグ溶接を行った
場合である。一方、レーザにはＹＡＧレーザを使用し、
その出力値は１［ｋＷ］で照射した場合である。試験方
法として、従来技術、実施例１及び実施例３のそれぞれ
のレーザ照射アークスタート制御方法ごとに、ワイヤ先
端・被溶接物間距離を約５［mm］に設定して１００回の
アークスタートを行い、アークスタート時にスパッタが
発生しない成功率を測定した結果である。

【００６１】同図から明らかなように、従来技術では３
０［％］のアークスタート成功率であるのに対して、実
施例１では９７［％］、実施例３では９５［％］のアー
クスタート成功率であり、スパッタの発生しないアーク
スタート成功率が大幅に改善されていることが分かる。

【００６２】

【発明の効果】実施例１の発明では、溶接ワイヤの送給
を停止したままでレーザを先行照射してワイヤ先端の周
辺部までプラズマ存在空間を形成した後に、溶接ワイヤ
の送給及び溶接電圧の出力を開始するので、溶接開始時
のワイヤ先端・被溶接物間距離が短い場合でも、溶接ワ
イヤが被溶接物に接触することなくスパッタの発生しな
い円滑なアークスタートを行うことができる。実施例２
の発明では、レーザの先行照射時間Ｔｐを被溶接物の材
質、シールドガスの種類又は溶接ワイヤの種類に対応し
て変化させることによって、プラズマ存在空間の形成状
態を適正化することができるので、被溶接物の材質、シ
ールドガスの種類又は溶接ワイヤの種類が変更されても
常に上述した実施例１の発明の効果を有する。

【００６３】実施例３の発明では、溶接ワイヤが被溶接
物に接触すると一旦送給を停止し、レーザの照射及び初
期電流Ｉｓの通電によって初期アークを発生させた後
に、溶接ワイヤの再送給及び定常の溶接電流Ｉｃの通電
によって定常のアークへと円滑に移行させるので、上述
した実施例１の発明と同様の効果を有する。さらに、実
施例３の発明では、レーザを先行照射する必要がないの
で、被溶接物が薄板の場合てもレーザの先行照射によっ
て溶け落ち等の溶接不良が発生しない。実施例４の発明
は、上記実施例３の発明において、初期アークを初期ア
ーク継続時間Ｔｉの間発生させてアーク長を長くした後
に、溶接ワイヤの再送給及び定常の溶接電流Ｉｃの通電
を開始するので、初期アークの発生直後に再接触して初
期アークが消滅することがなく、常に良好なアークスタ
ートを行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態を例示する溶接装置のタイ
ミングチャート

【図２】従来技術の溶接装置の構成図

【図３】従来技術の溶接電源装置６のブロック図

【図４】従来技術のレーザ発振装置９のブロック図

【図５】従来技術の溶接装置のタイミングチャート

【図６】従来技術の解決課題を説明するタイミングチャ
ート

【図７】実施例１の溶接電源装置６１のブロック図

【図８】実施例１の溶接装置のタイミングチャート

【図９】実施例２の先行照射時間タイマ回路ＴＰのブロ
ック図

【図１０】実施例３の溶接装置の構成図

【図１１】実施例３の溶接電源装置６２のブロック図

【図１２】実施例３の溶接装置のタイミングチャート

【図１３】実施例４の溶接電源装置６３のブロック図

【図１４】実施例４の溶接装置のタイミングチャート

【図１５】本発明の効果を示すアークスタート成功率比
較図

【符号の説明】

１ 溶接ワイヤ ２ 被溶接物 ３ アーク ３ａ 初期アーク ３ｂ 定常のアーク ４ 溶接トーチ ４ａ コンタクトチップ ５ ワイヤ送給装置の送給ロール ６ 溶接電源装置 ６１ 遅延出力溶接電源装置 ６２ 断続送給溶接電源装置 ６３ 初期アーク継続溶接電源装置 ７ レーザ ７ａ プラズマ存在空間 ８ レーザ用トーチ ９ レーザ発振装置 ＡＤ アーク判別回路 Ａｄ アーク判別信号 ＦＣ 送給制御回路 Ｆｃ 送給制御信号 ＦＦ フリップフロップ回路 Ｉｃ 定常の溶接電流 ＩＮＶ 出力制御回路 Ｉｐ 短絡電流 ＩＳ 初期電流設定回路 Ｉｓ 初期電流（設定信号） Ｉｗ 溶接電流 ＬＯＣ レーザ出力制御回路 Ｌst レーザ出力開始信号 Ｏｎ 出力開始信号 ＰＳ 出力値設定回路 Ｐｓ 出力値設定信号 Ｐｗ レーザ出力値 ＳＡ 短絡／アーク判別回路 Ｓａ 短絡／アーク判別信号 Ｓｔ 溶接開始信号 ＴＩ 初期アーク継続時間タイマ回路 Ｔｉ 初期アーク継続（時間／信号） ＴＰ 先行照射時間タイマ回路 Ｔｐ 先行照射時間 ＶＤ 電圧検出回路 Ｖｄ 電圧検出信号 Ｖnl 無負荷電圧 ＶＳ 電圧設定回路 Ｖｓ 電圧設定信号 Ｖｗ 溶接電圧 Ｗｉ 初期送給速度（設定値） ＷＭ ワイヤ送給モータ Ｗｐ 溶接狙い位置 ＷＳ 定常の送給速度設定回路 Ｗｓ 定常の送給速度（設定信号）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中田 一博 大阪府大阪市阿倍野区昭和町１丁目13番22 号 Ｆターム(参考） 4E082 AA01 EA02 EB01 EF30

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被溶接物上の溶接狙い位置又はその周辺
   部にレーザを照射すると共に溶接ワイヤの送給及び溶接
   電圧の出力を開始し、前記溶接ワイヤと前記被溶接物と
   の間にアークを発生させるレーザ照射アークスタート制
   御方法において、 前記レーザを予め定めた先行照射時間だけ照射した後
   に、前記溶接ワイヤの送給及び溶接電圧の出力を開始す
   ることによって円滑にアークを発生させるレーザ照射ア
   ークスタート制御方法。
2. 【請求項２】 被溶接物の材質、シールドガスの種類又
   は溶接ワイヤの種類の少なくとも一つ以上の設定の変更
   に対応して、先行照射時間の時間長さを変化させる請求
   項１のレーザ照射アークスタート制御方法。
3. 【請求項３】 被溶接物上の溶接狙い位置又はその周辺
   部にレーザを照射すると共に溶接ワイヤの送給及び溶接
   電圧の出力を開始し、前記溶接ワイヤと前記被溶接物と
   の間にアークを発生させるレーザ照射アークスタート制
   御方法において、 前記レーザの照射を停止したままで前記溶接ワイヤの送
   給及び溶接電圧の出力を開始し、この送給によって前記
   溶接ワイヤと前記被溶接物とが接触すると前記溶接ワイ
   ヤの送給を停止して予め定めた初期電流を通電すると共
   に前記レーザの照射を開始し、このレーザ照射によって
   前記初期電流が通電する初期アークが発生した後に前記
   溶接ワイヤの再送給を開始すると共に定常の溶接電流を
   通電することによって前記初期アーク発生状態から定常
   のアーク発生状態へと円滑に移行させるレーザ照射アー
   クスタート制御方法。
4. 【請求項４】 初期アークを予め定めた初期アーク継続
   時間の間発生させた後に、溶接ワイヤの再送給を開始す
   ると共に定常の溶接電流を通電する請求項３のレーザ照
   射アークスタート制御方法。