JP2002243770A - 間欠的電流測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 高価な機器を使用せずに負荷に間欠的に流れ
る微少電流を測定できと共に、容易に機器に組み込みが
可能な間欠的電流測定装置を得る。 【解決手段】 被測定電流路より入力した間欠電流を検
出して電圧変換する電流検出手段１Ａ、この検出した間
欠電流の立ち上がり及び立ち下がり変化を検出する電流
変化判定手段２Ａと、前記電圧変換した間欠電流を、前
記電流変化判定手段２Ａによる間欠電流の立ち上がり判
定時に充電する積分手段３Ａと、この充電された電圧を
前記電流変化判定手段２Ａによる間欠電流の立ち下がり
判定時に計測する電流計測手段３Ｂとを備えている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は負荷に対して間欠
的に流れる微少電流を測定する間欠的電流測定装置に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、間欠に流れる微少電流を測定する
には高精度のシンクロスコープ或いは間欠的な微少電流
を電圧変換して的確に捕捉できるサンプリング信号を発
生し、サンプルホールドできる高増幅率でしかも高入力
インピーダンスの計測装置を必要とした。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
な高性能な測定器は高価であるし、しかも取り扱いが難
しいため、容易に測定現場に持ち込めず、しかも機器に
内蔵するは困難であるという問題点がある。

【０００４】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、高価な機器を使用せずに負荷に
間欠的に流れる微少電流を測定できと共に、容易に機器
に組み込みが可能な間欠的電流測定装置を得ることを目
的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】この発明に係る間欠電流
測定装置は、図１の基本構成図に示すように被測定電流
路より入力した間欠電流を検出して電圧変換する電流検
出手段１Ａ、この検出した間欠電流の立ち上がり及び立
ち下がり変化を検出する電流変化判定手段２Ａと、前記
電圧変換した間欠電流を、前記電流変化判定手段２Ａに
よる間欠電流の立ち上がり判定時に充電する積分手段３
Ａと、この充電された電圧を、前記電流変化判定手段２
Ａによる間欠電流の立ち下がり判定時に計測する電流計
測手段３Ｂとを備えたものである。この発明によれば、
間欠電流を電圧変換し積分手段に積分した値を測定する
ことで、所定の時間毎に間欠に流れる電流を［電流＊時
間］種として求めることができるため、間欠電流を積分
機能を有した高価なオシロスコープを用いずとも測定で
きるという効果がある。

【０００６】この発明に係る間欠電流測定装置の電流計
測手段３Ｂは、電流変化判定手段１Ａによる間欠電流の
立ち下がり判定後、次に間欠電流立ち上がり判定に至る
まで計測動作を停止するものである。この発明によれば
間欠電流の立ち下がり後、次の間欠電流の立ち上がりを
判定するまで計測動作を停止することで、ノイズによる
誤測定を排除しＳ／Ｎを向上させて微少間欠電流を測定
できるという効果がある。

【０００７】この発明に係る間欠電流測定装置の電流変
化判定手段２Ａは間欠電流の立ち下がりを一定時間経過
後に判定するものである。この発明によれば、間欠電流
の瞬時的なレベル低下に拘わらず間欠電流が流れている
間、間欠電流を積分して測定できるため測定精度が向上
するという効果がある。

【０００８】この発明に係る間欠電流測定装置の電流計
測手段３Ｂは、電流計測後、電流変化判定手段２Ａは間
欠電流の立ち下がりを判定するまで計測待機状態とする
ものである。この発明によれば、間欠電流の立ち下がり
を判定するまで計測待機状態とすることで、次の電流計
測への立ち上がりを円滑に行うことができるという効果
がある。

【０００９】

【発明の実施の形態】実施例 以下、本実施例に係る間欠電流測定装置を各添付図面に
沿って説明する。先ず、本実施例に係る間欠電流測定装
置は図２に示すように、被測定電流路より入力した間欠
電流を電圧変換する電流／電圧変換回路１、電圧変換し
た間欠電流の立ち上がり及び立ち下がり変化を検出する
電流変化検出回路２、電流の立ち上がり及び立ち下がり
変化の検出結果に従って電流計測の開始・終了を制御す
る電流計測制御回路４、電流計測制御回路４に対して電
流立ち下がり検出時に、電流計測動作を遮断する電流計
測遮断回路５、電流計測制御回路４の制御の基に、電流
／電圧変換回路１より取り込んだ間欠電流の計測を行う
電流計測回路３より構成される。

【００１０】また、電流計測回路３は、電流／電圧変換
回路１より取り込んだ間欠電流を、電流計測制御回路４
の制御の基に、電流立ち上がり時に充電し、電流立ち下
がり時に放電する積分回路３ａ、積分回路３ａにおいて
充電された電圧をサンプルホールドする電圧保持回路３
ｂ、このホールドされた電圧をデジタル変換するアナロ
グ／デジタル変換回路３ｃ、デジタル変換出力を数値表
示する表示回路３ｄより構成される。

【００１１】これら各回路の詳細な構成は図３乃至図７
に示す。即ち、図３は間欠電流を測定抵抗Ｒ１に流しそ
の際に発生する電圧降下により電圧変換する電流／電圧
変換回路、図４は電圧変換した間欠電流の立ち上がり、
立ち下がりを、予め設定したスレッシュホールド電圧
（Ｖ_TH-H、Ｖ_TH-L）との比較により検出する電流変化検
出回路、図５は電流変化検出回路による電流立ち上がり
検出に伴って電圧変換された間欠電流を充電する積分回
路、充電電圧を保持してアナログ／デジタル変換器に入
力する電圧保持回およびアナログ／デジタル変換器によ
るデジタル変換が終了すると点灯する表示回路より構成
される電流計測回路、図６は間欠電流の立ち上がり、立
ち下がりに同期して電流計測回路における積分回路の充
電、放電動作を制御し、立ち下がり時にアナログ／デジ
タル変換器による変換開始信号を出力する電流計測制御
回路、図７はアナログ／デジタル変換器による変換動作
終了後に電流計測制御回路（図６）を待機状態、および
間欠電流立ち下がり検出後に電流計測制御回路（図６）
を無意とし電流計測回路（図５）のノイズによる誤計測
を防止する電流計測遮断回路である。

【００１２】また、これら回路の周辺回路として、電流
計測回路（図５）における初段の電流増幅用の演算増幅
器Ｑ７にオフセットキャンセル用の基準電圧を発生する
基準電圧発生回路（図８の（ａ））、各回路において遅
延回路を構成するフリップフロップＦ／Ｆにクロック信
号を発生するクロック発生回路（図８の（ｂ））、装置
電源の立ち上がり共に装置を構成するフリップフロップ
Ｆ／Ｆにリセット信号を出力するリセット信号発生回路
（図８の（ｃ））、間欠電流の立ち上がり、立ち下がり
を検出するスレッシュホールド電圧レベル（Ｖ_TH-H，Ｖ
_TH-L）に応じてＬＥＤの輝度が変わるスレッシュホール
ドレベル検出回路（図９の（ａ））、装置電源電圧であ
る±５Ｖ電圧を発生する安定化電源回路（図９の
（ｂ））がある。

【００１３】次に上記各図面に従って本実施例の動作を
説明する。尚、動作説明に当たっては本発明の特徴的な
点に注目して説明する。先ず、装置を動作させる当た
り、図９の（ｂ）に示す安定化電源回路を動作ささせる
ことで、装置の回路に±５Ｖの直流電圧が印加される。
直流電圧の印加と同時にリセット回路を構成するインバ
ータＩＮＶ１３よりＬレベルのＲＳＴ（リセット）信号
が各フリップフロップＦ／Ｆのリセット端子に出され
る。

【００１４】リセット信号発生回路（図８の（ｃ））の
動作としては抵抗Ｒ２９を通してコンデンサＣに一定電
荷が充電されるとインバータＩＮＶ１３はＨレベルのリ
セット信号が出力され、このリセット信号が次段のイン
バータＩＮＶ１３でＬレベルのＲＳＴ信号に反転されて
各Ｆ／Ｆにリセット信号として出力される。

【００１５】更に＋５Ｖの直流電圧は基準電圧回路を構
成する動作抵抗Ｒ２１に印加され、この動作抵抗Ｒ２１
に接続されるツェナ−ダイオードＺＤにより１．２３５
Ｖの基準電圧に安定化される。この基準電圧は演算増幅
器Ｑ１０により＋３．７２５Ｖに増幅され、また演算増
幅器Ｑ１により−１．２３５Ｖの基準電圧に反転され
る。

【００１６】基準電圧＋３．７２５Ｖ，−１．２３５Ｖ
は電流計測回路（図５）における演算増幅Ｑ７の反転入
力に抵抗Ｒ１５を通して摺動端子が接続されたポテンシ
ョンメータＶＲ３の固定子の両端に印加される。このポ
テンションメータＶＲ３を調整することでオフセット調
整電圧が取り出され、演算増幅器Ｑ７のオフセット電圧
分がキャンセルされる。

【００１７】また、スレッシュホールドレベル検出回路
（図９の（ａ））を構成する演算増幅器Ｑ１２の反転入
力端子には、図４に示す電流変化検出回路より入力され
た間欠電流の立ち上がりを検出するスレッシュホールド
電圧Ｖ_TH-Hが入力され、このスレッシュホールド電圧Ｖ
_TH-Hが上がると演算増幅器Ｑ１２のマイナス出力は上昇
してＰＮＰトランジスタＴＲ１に入力されるため、トラ
ンジスタＴＲ１のエミッタを流れる電流が増加し、エミ
ッタに接続されたＬＥＤの輝度が上がる。

【００１８】同じくスレッシュホールドレベル検出回路
を構成する演算増幅器Ｑ１３の反転入力端子には、電流
変化検出回路より入力された間欠電流の立ち上がりを検
出するスレッシュホールド電圧Ｖ_TH-Lが入力され、この
スレッシュホールド電圧Ｖ_{TH -L}が上がると演算増幅器Ｑ
１３のマイナス出力は上昇してＰＮＰトランジスタＴＲ
２に入力されるため、トランジスタＴＲ２のエミッタを
流れる電流が増加し、エミッタに接続されたＬＥＤの輝
度が上がる。従って、ＬＥＤの輝度を調べることでスレ
ッシュホールド電圧Ｖ_THの上昇をチェックできる。

【００１９】クロック発生回路（図８の（ａ））は、水
晶発振器Ｘ−ＴＡＬより発振した基準周波数３２７６８
Ｈｚは分周回路ＰＨにより３２７６８Ｈｚ／２ｎ（ｎ＝
１からＮ）の複数のクロック信号に分周されて、それぞ
れがマルチプレクサＭＰＸに入力され、各デジタル回路
の処理速度に応じたクロック信号φが各フリップフロッ
プＦ／Ｆのクロック端子に入力される。

【００２０】以上のように各周辺回路より電源電圧およ
び初期化用信号が電流／電圧変換回路（図３）、電流変
化検出回路（図４）、電流計測回路（図５）、電流計測
制御回路（図６）および電流計測遮断回路（図７）に入
力された状態で、電流／電圧変換回路は被測定電流路よ
り電流を入力し、被測定電流路中の端子Ｔ１２，Ｔ２間
に接続した電流検出抵抗Ｒ１間に現れた電圧を、ボルテ
ージホロワ回路を構成する演算増幅器Ｑ１，Ｑ２を通し
て後段の差動増幅器Ｑ３に入力して端子間電圧の差分を
得た後に、次段の演算増幅器Ｑ４で所定電圧レベルに増
幅される。この演算増幅器Ｑ４の出力により間欠電流の
入力を判定する。

【００２１】また、差動増幅器Ｑ３の出力は、電流変化
検出回路に入力され、そこで間欠電流の立ち上がりを検
出するために演算増幅器Ｑ５と間欠電流の立ち下がりを
検出するための演算増幅器Ｑ６の非反転入力端子に抵抗
Ｒ１０、Ｒ１２を通して入力される。

【００２２】演算増幅器Ｑ５の反転入力端子には間欠電
流の立ち上がりを検出するスレッシュホールド電圧Ｖ
_TH-HがポテンショメータＶＲ１により設定されている。
演算増幅器Ｑ６の反転入力端子には間欠電流の立ち上が
りを検出するスレッシュホールド電圧Ｖ_TH-Lがポテンシ
ョメータＶＲ２により設定されている。また、演算増幅
器Ｑ５，６の出力端子はそれぞれフリップフロップＦ／
Ｆ１，２のセット端子に入力されている。

【００２３】従って、間欠電流の立ち上がりレベルがス
レッシュホールド電圧Ｖ_TH-Hを越えると演算増幅器Ｑ５
の出力はＨとなるため、フリップフロップＦ／Ｆ１の出
力Ｓ端子ＱはＨレベルとなる。あるいは、間欠電流の立
ち下がりレベルがスレッシュホールド電圧Ｖ_TH-Lを下回
ると演算増幅器Ｑ６の出力はＨレベルとなるためフリッ
プフロップＦ／Ｆ２の出力端子ＱはＨレベルとなる。

【００２４】以下、本実施例の動作を間欠電流の立ち上
がり時について説明する。間欠電流が立ち上がると演算
増幅器Ｑ５の出力はＨとなり、フリップフロップＦ／Ｆ
１の出力端子ＱはＨレベルとなって電流計測制御回路を
構成するＮＡＮＤゲートＮＡ１に入力される。このＮＡ
ＮＤゲートＮＡ１には間欠電流の入力を意味するＨレベ
ル信号が演算増幅器Ｑ４より入力されているため、ＮＡ
ＮＤゲートＮＡ１は電流立ち上がりを示すＬベル信号
（バーＲＩＳＥ）を、インバータＩＮＶ３を通してＨレ
ベルに反転してＮＡＮＤゲートＮＡ３に入力する。

【００２５】このＮＡＮＤゲートＮＡ３には現在Ｈレベ
ルとなっているＡＣＱ信号（間欠電流立ち下がりでＬレ
ベルとなる。）が入力されているため、ＮＡＮＤゲート
ＮＡ３よりＬレベル信号が負論理入力ＯＲゲートＯＲ１
とＮＡＮＤゲートＮＡ４より構成されるフリップフロッ
プ回路中のＯＲゲートＯＲ１に入力される。その結果、
ＯＲゲートＯＲ１よりＨレベルのＣＨＧ（充電）信号と
ＴＨＲ信号が出力され、またＮＡＮＤゲートＮＡ４から
はＨレベルのＴＥＲＭ信号が出力される。

【００２６】ＣＨＧ信号は電流計測回路に入力される。
この回路において、ＣＨＧ信号は、差動増幅器Ｑ３より
出力された差動信号を入力して増幅する演算増幅器Ｑ７
の出力端子と抵抗Ｒ１７とコンデンサＣＳと共に積分回
路を構成する演算増幅器Ｑ８の入力端子との間に直列接
続されたアナログスイッチＡＳＷ２にＯＮ信号として入
力される。

【００２７】ＴＨＲ信号は演算増幅器Ｑ８の出力端子と
サンプルホールド回路を構成する演算増幅器Ｑ９の入力
端子に直列接続されたアナログスイッチＡＳＷ４にＯＮ
信号として入力される。更に、ＴＥＲＭ信号は、積分回
路を構成する演算増幅器Ｑ８の接地された非反転入力端
子と入力抵抗Ｒ１７の電流入力側との間に接続されたア
ナログスイッチＡＳＷ３にＯＦＦ信号として入力され
る。

【００２８】尚、積分回路を構成するコンデンサＣＳに
抵抗Ｒ１８を通して並列接続されたアナログスイッチＡ
ＳＷ１は、電荷充電時はＯＦＦであり、放電時はＲＥＳ
ＥＴ信号によりＯＮとなるためコンデンサＣＳに充電さ
れた電荷はアナログスイッチＡＳＷ１および抵抗Ｒ１８
を通して放電される。

【００２９】以上のようにアナログスイッチＡＳＷ２，
ＡＳＷ４がＯＮ状態、アナログスイッチＡＳＷ１，ＡＳ
Ｗ３がＯＦＦ状態となると、演算増幅器Ｑ７より出力さ
れた電圧変換による間欠電流は積分回路に充電される。
積分回路の出力Ｖ₀はアナログスイッチＡＳＷ４を通
し、抵抗Ｒ１９、コンデンサＣ、演算増幅器Ｑ９により
構成されるサンプルホールド回路で保持されことで、ア
ナログ／デジタル変換器ＡＤＣに保持入力される。

【００３０】このとき、間欠電流の立ち上がりと共に、
ＮＡＮＤゲートＮＡ４より出力されたＨレベルのＴＥＲ
Ｍ信号はフリップフロップＦ／Ｆ３，４とＮＡＮＤゲー
トＮＡ６から構成される遅延回路を通してＣＯＮＶ信号
（変換信号）としてアナログ／デジタル変換器ＡＤＣＳ
Ｔ端子に入力されるが、間欠電流が立ち下がっていない
ため、ＮＡＮＤゲートＮＡ６から出力されるＣＯＮＶ信
号（変換信号）はＨレベルであるためアナログ／デジタ
ル変換器ＡＤＣは変換動作を開始しない。

【００３１】しかし、間欠電流が立ち下がりを開始、ス
レッシュホールド電圧Ｖ_TH-Lを下回ると演算増幅器Ｑ６
の出力はＨレベルとなり、フリップフロップＦ／Ｆ２の
Ｑ端子がＨレベルとなってインバータＩＮＶ２に入力さ
れるため、後続のＮＡＮＤゲートＮＡ２にはインバータ
ＩＮＶ２よりＬレベル信号が入力される。ＮＡＮＤゲー
トＮＡ２にはインバータＩＮＶ１によりＬレベルに反転
された演算増幅器Ｑ４の出力信号が入力されているた
め、ＮＡＮＤゲートＮＡ２からＨレベル信号が出力され
る。

【００３２】更に、このＨレベル信号は電流計測制御回
路４（図２参照）を構成する遅延回路（フリップフロッ
プＦ／Ｆ５〜７，ＮＡＮＤゲートＮＡ７、フリップフロ
ップＦ／Ｆ３，４、ＮＡＮＤゲートＮＡ７）及びゲート
回路（ＮＡＮＤゲートＮＡ５，４）を通してＬレベルの
ＣＯＮＶ信号となってアナログ／デジタル変換器ＡＤＣ
のＳＴ端子に入力される。この結果、アナログ／デジタ
ル変換器ＡＤＣは電圧変換され積分されサンプルホール
ド回路（演算増幅器Ｑ９）に保持された間欠電流のデジ
タル変換を開始する。

【００３３】尚、電圧変換された電圧をＶｃｒとすると
積分回路（演算増幅器Ｑ８）のサミイングポイントから
流れ出す電流は（ｉｓ＝Ｖｃｒ／Ｒｉ）となる。この電
流ｉｓによって積分回路のコンデンサに充電される電圧
Ｖｏの時間積分はインテグラル０からｔＣｓ／ｄｉｓと
なる。従って、電圧Ｖｏを測定することで間欠電流を
（電流＊時間）種として測定することができる。

【００３４】アナログ／デジタル変換器ＡＤＣはデジタ
ル変換したならば、変換終了を意味するＨレベルのＥＮ
Ｄ信号を電流計測遮断回路に入力する。電流計測遮断回
路では、フリップフロップＦ／Ｆ８，９とＮＡＮＤゲー
トＮＡ８より構成される遅延回路を通し、ＯＲゲートＯ
Ｒ２、ＮＡＮＤゲートＮＡ９より構成されるフリップフ
ロップ（ラッチ回路）のＯＲゲートＯＲ２に入力され
る。

【００３５】その結果、ＮＡＤＮゲートＮＡ９よりＬレ
ベルのＥＮＡＢＬＥ信号が、ＬＥＤ表示回路ＬＥにデジ
タル信号をラッチ出力するラッチ／ドライバーＬ／Ｄに
入力される。アナログ／デジタル変換器ＡＤＣでデジタ
ル変換された結果は、ラッチ／ドライバーＬ／Ｄを通し
てＬＥＤ表示回路ＬＥに表示される。尚、デジタル変換
値の表示がエナーブル状態となったならば、Ｌレベルの
ＮＡＤＮゲートＮＡ９の出力端子に、＋５Ｖより抵抗Ｒ
２０、ＬＥＤを通して電流が流れることで、ＬＥＤは点
灯してデジタル変換の終了を示す。

【００３６】ここで、デジタル変換が終了すると、アナ
ログ／デジタル変換器ＡＤＣのＥＮＤ端子より信号が出
される。この信号が遅延回路構成するフリップフロップ
Ｆ／Ｆ８，９よりＮＡＮＤゲートＮＡ８に入力され、Ｎ
ＡＮＤゲートＮＡ８よりインバータＩＮＶ６に送られＬ
レベルに反転された後、インバータＩＮＶ６によりＨレ
ベルのストップ信号となり、フリップフロップＦ／Ｆ１
０，１１のリセット端子に入力される。

【００３７】フリップフロップＦ／Ｆ１０のＱ端子から
はＨレベル信号がＮＡＮＤゲートＮＡ１１よりインバー
タＩＮＶ１１に入力されると、Ｌレベル信号としてフリ
ップフロップＦ／Ｆ１１のセット端子に入力される。こ
の結果、フリップフロップＦ／Ｆ１１のＱ端子よりＨレ
ベルのＡＣＱ信号が、立ち上がり信号が一方の入力端子
に入力されるＮＡＮＤゲートＮＡ３と立ち下がり信号が
一方の入力端子に入力されるＮＡＮＤゲートＮＡ５の他
方の入力端子にそれぞれ入力され計測信号待ちとなる。

【００３８】また、演算増幅器Ｑ６が、設定された立ち
下がり検出用のスレッシュホールド電圧Ｖ_TH-Lと間欠電
流の電圧変換値との比較により立ち下がりを検出する
と、演算増幅器Ｑ６の出力はＨレベルとなってフリップ
フロップＦ／Ｆ２に入力される。フリップフロップＦ／
Ｆ２の出力はインバータＩＮＶ２でＬレベルに反転され
た後にＮＡＮＤゲートＮＡ２に入力される。

【００３９】このＮＡＮＤゲートＮＡ２にはインバータ
ＩＮＶ１でＬレベルに反転された間欠電流検出信号（演
算増幅器Ｑ４の出力信号）が入力されているため、ＮＡ
ＮＤゲートＮＡ２からはＨレベル信号が遅延回路（フリ
ップフロップＦ／Ｆ５，６，７、ＮＡＮＤゲートＮＡ
７）に入力され、ＨレベルのＦＡＬＬ信号（立ち下がり
検出信号）が出力される。

【００４０】ＦＡＬＬ信号は、電流計測遮断回路を構成
するＮＡＮＤゲートＮＡ１１、インバータＩＮＶ１１を
通してフリップフロップＦ／Ｆ１１に入力されること
で、ＬレベルのＡＣＱ信号が電流制御回路のＮＡＮＤゲ
ートＮＡ３，ＮＡ５の他方の入力端子に入力される。

【００４１】ＮＡＮＤゲートＮＡ３，ＮＡ５の他方の入
力端子には立ち上がり検出信号、立ち下がり検出信号の
それぞれが入力される、ＮＡＮＤゲートＮＡ３，ＮＡ５
の一方の入力端子には、計測が終了してＬレベルのＡＣ
Ｑ信号が入力されているため、計測終了以降にノイズの
影響と思われる立ち上がり信号が入力されても電流計測
制御回路を構成するＮＡＮＤゲートＮＡ６よりＬレベル
のＣＯＮＶ信号がアナログ・デジタル変換器ＡＤＣに出
されることはない。従って、Ｓ／Ｎ比を向上させて微少
間欠電流を安価な装置により計測することができる。Ｆ
ＡＬＬ信号が検出されると積分回路のコンデンサＣＳに
充電されていた電荷はスイッチＡＳＷ１，ＡＳＷ３の閉
成により放電し、次に計測における充電の準備に入る。

【００４２】

【発明の効果】この発明によれば、被測定電流路より入
力した間欠電流を検出して電圧変換する電流検出手段１
Ａ、この検出した間欠電流の立ち上がり及び立ち下がり
変化を検出する電流変化判定手段２Ａと、前記電圧変換
した間欠電流を前記電流変化判定手段２Ａによる間欠電
流の立ち上がり時に間欠電流の立ち上がり充電する積分
手段３Ａと、この充電された電圧を前記電流変化判定手
段２Ａによる間欠電流の立ち下がり時に計測する電流計
測手段３Ｂとを備え、間欠電流を電圧変換し積分手段に
積分した値を測定することで、所定の時間毎に間欠に流
れる電流を［電流＊時間］種として求めることができる
ため、積分機能を有した高価なオシロスコープを用いず
とも間欠電流を測定できるという効果がある。

【００４３】この発明によれば間欠電流の立ち下がり
後、次の間欠電流の立ち上がりを判定するまで計測動作
を停止することで、ノイズによる誤測定を排除しＳ／Ｎ
を向上させて微少間欠電流を測定できるという効果があ
る。

【００４４】この発明によれば、間欠電流の瞬時的なレ
ベル低下に拘わらず間欠電流が流れている間、間欠電流
を積分して測定できるため測定精度が向上するという効
果がある。

【００４５】この発明によれば、間欠電流の立ち下がり
を判定するまで計測待機状態とすることで、次に電流計
測への立ち上がりを円滑に行うことができるという効果
がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は本発明に係る間欠電流測定装置の基本構
成図である。

【図２】図２は本実施例による間欠電流測定装置の概略
構成を説明するブロック図である。

【図３】図３は本実施例による電流／電圧変換回路の構
成図である。

【図４】図４は本実施例による電流変化検出回路の構成
図である。

【図５】図５は本実施例による電流計測回路の構成図で
ある。

【図６】図６は本実施例による電流計測制御回路の構成
図である。

【図７】図７は本実施例による電流計測遮断回路の構成
図である。

【図８】図８の（ａ）は本実施例による基準電圧発生回
路の構成図、図８の（ｂ）はクロック発生回路の構成
図、図８の（ｃ）はリセット信号発生回路の構成図であ
る。

【図９】図９の（ａ）はスレッシュホールドレベル検出
回路の構成図、図９の（ｂ）は安定化電源回路の構成図
である

【符号の説明】

１Ａ 電流検出手段 ２Ａ 電流変化判定手段 ３Ａ 積分手段 ３Ｂ 電流計測手段

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被測定電流路より入力した間欠電流を検
   出して電圧変換する電流検出手段と、この検出した間欠
   電流の立ち上がり及び立ち下がり変化を検出する電流変
   化判定手段と、前記電圧変換した間欠電流を、前記電流
   変化判定手段による間欠電流の立ち上がり判定時に充電
   する積分手段と、この充電された電圧を、前記電流変化
   判定手段による間欠電流の立ち下がり判定時に計測する
   電流計測手段とを備えたことを特徴とする間欠電流測定
   装置。
2. 【請求項２】 前記電流計測手段は、電流変化判定手段
   による間欠電流の立ち下がり判定後、次に間欠電流立ち
   上がり判定に至るまで計測動作を停止することを特徴と
   する請求項１に記載の間欠電流測定装置。
3. 【請求項３】 前記電流変化判定手段は間欠電流の立ち
   下がりを一定時間経過後に判定することを特徴とする請
   求項１または３に記載の間欠電流測定装置。
4. 【請求項４】 前記電流計測手段は、電流計測後、電流
   変化判定手段が間欠電流の立ち下がりを判定するまで計
   測待機状態とすることを特徴とする請求項１乃至３の何
   れかに記載の間欠電流測定装置。