JP2002187274A - インクジェット記録装置 - Google Patents
インクジェット記録装置Info
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- JP2002187274A JP2002187274A JP2000385433A JP2000385433A JP2002187274A JP 2002187274 A JP2002187274 A JP 2002187274A JP 2000385433 A JP2000385433 A JP 2000385433A JP 2000385433 A JP2000385433 A JP 2000385433A JP 2002187274 A JP2002187274 A JP 2002187274A
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- ink
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/005—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
- B41J2/01—Ink jet
- B41J2/07—Ink jet characterised by jet control
- B41J2/075—Ink jet characterised by jet control for many-valued deflection
- B41J2/08—Ink jet characterised by jet control for many-valued deflection charge-control type
- B41J2/09—Deflection means
Landscapes
- Ink Jet (AREA)
- Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】複数の記録ヘッドモジュールによる記録ドット
群の位置関係を正確に把握し、位置関係を電気的に調整
する事で調整の自動化を容易にし、高品質な画像を高速
に記録可能なインクジェット記録装置を提供する事であ
る。 【解決手段】被記録体に画像を描くインク粒子を噴出す
る複数のノズル孔がほぼ直線的に配列された記録ヘッド
モジュールと、前記被記録体に向かって飛行する前記イ
ンク粒子に前記ノズルの配列方向とほぼ垂直な方向に偏
向を加える荷電偏向手段とを有し、前記記録体を前記記
録ヘッドモジュールに対して相対的に移動させ、該移動
方向に対して前記ノズルの配列方向を傾斜させてなるイ
ンクジェット記録装置において、前記インク粒子と基準
位置との位置ずれ量に応じて前記荷電偏向手段の偏向量
を調整することを特徴とする。
群の位置関係を正確に把握し、位置関係を電気的に調整
する事で調整の自動化を容易にし、高品質な画像を高速
に記録可能なインクジェット記録装置を提供する事であ
る。 【解決手段】被記録体に画像を描くインク粒子を噴出す
る複数のノズル孔がほぼ直線的に配列された記録ヘッド
モジュールと、前記被記録体に向かって飛行する前記イ
ンク粒子に前記ノズルの配列方向とほぼ垂直な方向に偏
向を加える荷電偏向手段とを有し、前記記録体を前記記
録ヘッドモジュールに対して相対的に移動させ、該移動
方向に対して前記ノズルの配列方向を傾斜させてなるイ
ンクジェット記録装置において、前記インク粒子と基準
位置との位置ずれ量に応じて前記荷電偏向手段の偏向量
を調整することを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はインクジェット記録
装置に関し、特に複数の記録ヘッドモジュールにより高
品質な画像を高速で記録することが可能なインクジェッ
ト記録装置に関する。
装置に関し、特に複数の記録ヘッドモジュールにより高
品質な画像を高速で記録することが可能なインクジェッ
ト記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来技術による連続紙向けシリアル走査
型インクジェット記録装置では、連続紙の連続方向と交
差する方向に、インクを噴射しながら記録ヘッドを移動
（主走査）して複数の主走査線からなる一行分の帯状画
像を記録し、その後連続紙の連続方向に記録紙を所定量
紙送り（副走査）し、続いて次の行の帯状画像を主走査
して記録する。この主走査と副走査を繰り返して画像を
記録する。この様なシリアル走査型インクジェット記録
装置において、記録速度を上げるためには主走査一回当
たりに記録できる帯状記録の主走査線数を増やすか、ま
たは、短尺の記録ヘッドモジュールを並べて組み合わせ
る方法が取られている。
型インクジェット記録装置では、連続紙の連続方向と交
差する方向に、インクを噴射しながら記録ヘッドを移動
（主走査）して複数の主走査線からなる一行分の帯状画
像を記録し、その後連続紙の連続方向に記録紙を所定量
紙送り（副走査）し、続いて次の行の帯状画像を主走査
して記録する。この主走査と副走査を繰り返して画像を
記録する。この様なシリアル走査型インクジェット記録
装置において、記録速度を上げるためには主走査一回当
たりに記録できる帯状記録の主走査線数を増やすか、ま
たは、短尺の記録ヘッドモジュールを並べて組み合わせ
る方法が取られている。
【０００３】シリアル走査型インクジェット記録装置に
おいて、記録ヘッドモジュールを精度良く並べる方法と
して、特開平５−３０５７３４に記載されているよう
に、主走査方向に付いては主走査方向と垂直な線分を印
刷し、線分の間隔を測定した後、主走査線方向に印刷デ
ータがずれた分だけシフトして調整する。副走査方向に
おいては、副走査方向と垂直な線分を印刷し、線分の間
隔を測定した後、副走査方向のずれ量だけ、記録ヘッド
モジュールの機械的位置関係を調整している。
おいて、記録ヘッドモジュールを精度良く並べる方法と
して、特開平５−３０５７３４に記載されているよう
に、主走査方向に付いては主走査方向と垂直な線分を印
刷し、線分の間隔を測定した後、主走査線方向に印刷デ
ータがずれた分だけシフトして調整する。副走査方向に
おいては、副走査方向と垂直な線分を印刷し、線分の間
隔を測定した後、副走査方向のずれ量だけ、記録ヘッド
モジュールの機械的位置関係を調整している。
【０００４】さらに高速のインクジェット記録装置で
は、連続記録用紙幅の記録に必要な走査線数分のノズル
孔を配置した長尺のライン記録ヘッドが使用される。
は、連続記録用紙幅の記録に必要な走査線数分のノズル
孔を配置した長尺のライン記録ヘッドが使用される。
【０００５】このような長尺記録ヘッドを実現する方法
としては、多数のノズルをライン状に一度に形成する方
法があるが、この方法では一般に製造上の歩留まりが悪
い。それは、多くのノズルの中に一つでもインク吐出特
性ばらつきを持ったノズルが有ると、これによる記録ド
ットが印刷品質の劣化を引き起こすからである。そこで
長尺記録ヘッドを実現する方法として製造歩留まりの良
い短尺の記録ヘッドモジュールを並べて組み合わせる方
法がある。すなわち、各記録ヘッドモジュールが記録す
る記録ドット群を精度よく組みあわせ、多数のノズルを
ライン状に一度に形成した長尺の記録ヘッドと同等に記
録する。
としては、多数のノズルをライン状に一度に形成する方
法があるが、この方法では一般に製造上の歩留まりが悪
い。それは、多くのノズルの中に一つでもインク吐出特
性ばらつきを持ったノズルが有ると、これによる記録ド
ットが印刷品質の劣化を引き起こすからである。そこで
長尺記録ヘッドを実現する方法として製造歩留まりの良
い短尺の記録ヘッドモジュールを並べて組み合わせる方
法がある。すなわち、各記録ヘッドモジュールが記録す
る記録ドット群を精度よく組みあわせ、多数のノズルを
ライン状に一度に形成した長尺の記録ヘッドと同等に記
録する。
【０００６】この方法の場合、まず複数の記録ヘッドモ
ジュールを精度良く並べる事が必要となる。
ジュールを精度良く並べる事が必要となる。
【０００７】記録ヘッドモジュールを精度良くならべ方
法としては特開平９−２６２９９２に開示されているよ
うに、テストパターン記録専用のノズルを用いて、また
は、記録用ノズルの一部を用いてテストパターンを記録
する。次にテストパターンから記録ヘッドモジュールの
位置関係を得て、これを元に記録ヘッドモジュール自体
の位置関係を機械的な調整機構を用いて調整していた。
また、走査方向には、同じく機械的な調整機構を用いて
ヘッドモジュール自体を調整するか、あるいは、調整記
録データを電気的にシフトしても調整できるのでこの記
録データシフト手段を前記機械的調整手段と組み合わせ
ていた。
法としては特開平９−２６２９９２に開示されているよ
うに、テストパターン記録専用のノズルを用いて、また
は、記録用ノズルの一部を用いてテストパターンを記録
する。次にテストパターンから記録ヘッドモジュールの
位置関係を得て、これを元に記録ヘッドモジュール自体
の位置関係を機械的な調整機構を用いて調整していた。
また、走査方向には、同じく機械的な調整機構を用いて
ヘッドモジュール自体を調整するか、あるいは、調整記
録データを電気的にシフトしても調整できるのでこの記
録データシフト手段を前記機械的調整手段と組み合わせ
ていた。
【０００８】また、テストパターンから記録ヘッド位置
関係を得る手段としては、特開２０００−１２７３７号
公報に開示されているように、調整機構を用いて少しず
つヘッド位置関係をずらしたテストパターンを複数印刷
した後にテストパターンの印刷濃度を光学センサで検出
し、得られた印刷濃度からヘッドモジュールの最適な位
置関係を推定する方法を用いていた。
関係を得る手段としては、特開２０００−１２７３７号
公報に開示されているように、調整機構を用いて少しず
つヘッド位置関係をずらしたテストパターンを複数印刷
した後にテストパターンの印刷濃度を光学センサで検出
し、得られた印刷濃度からヘッドモジュールの最適な位
置関係を推定する方法を用いていた。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の調整
方法では、テストパターン記録専用のノズルを用いて、
または、記録用ノズルの一部のみを用いてテストパター
ンを作成し記録ヘッドモジュールの位置関係を得る為、
ノズル毎のインク飛翔方向・速度インク量のばらつき、
また温度変化などによるノズル特性変化の影響を回避す
ることが困難で、画像全体として位置ずれが発生してし
まい画像を劣化させてしまう。
方法では、テストパターン記録専用のノズルを用いて、
または、記録用ノズルの一部のみを用いてテストパター
ンを作成し記録ヘッドモジュールの位置関係を得る為、
ノズル毎のインク飛翔方向・速度インク量のばらつき、
また温度変化などによるノズル特性変化の影響を回避す
ることが困難で、画像全体として位置ずれが発生してし
まい画像を劣化させてしまう。
【００１０】また、機械的な調整が必要なため調整精度
を上げようとすると調整機構が複雑になり、また調整を
自動化する事が困難であるという問題点があった。
を上げようとすると調整機構が複雑になり、また調整を
自動化する事が困難であるという問題点があった。
【００１１】さらに、従来のテストパターンから記録ヘ
ッド位置関係を得る手段は、各ヘッドモジュールから記
録される記録ドットを、互いにごく近傍または故意に重
ねて印刷する。そのため、印刷濃度などを測定する場
合、印刷雰囲気や記録媒体によって変化するインクのに
じみや、記録媒体による濃度の違いなどの影響を避ける
ことが非常に困難であり、ヘッド位置関係を正確に把握
することも容易ではなかった。
ッド位置関係を得る手段は、各ヘッドモジュールから記
録される記録ドットを、互いにごく近傍または故意に重
ねて印刷する。そのため、印刷濃度などを測定する場
合、印刷雰囲気や記録媒体によって変化するインクのに
じみや、記録媒体による濃度の違いなどの影響を避ける
ことが非常に困難であり、ヘッド位置関係を正確に把握
することも容易ではなかった。
【００１２】本発明は、従来のこのような問題点を解決
するもので、その目的とするところは複数の記録ヘッド
モジュールによる記録ドット群の位置関係を正確に把握
し、位置関係を電気的に調整する事で調整の自動化を容
易にし、高品質な画像を高速に記録可能なインクジェッ
ト記録装置を提供する事である。
するもので、その目的とするところは複数の記録ヘッド
モジュールによる記録ドット群の位置関係を正確に把握
し、位置関係を電気的に調整する事で調整の自動化を容
易にし、高品質な画像を高速に記録可能なインクジェッ
ト記録装置を提供する事である。
【００１３】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、被記録体に画像を描くインク粒子を噴出
する複数のノズル孔がほぼ直線的に配列された記録ヘッ
ドモジュールと、前記被記録体に向かって飛行する前記
インク粒子に前記ノズルの配列方向とほぼ垂直な方向に
偏向を加える荷電偏向手段とを有し、前記記録体を前記
記録ヘッドモジュールに対して相対的に移動させ、該移
動方向に対して前記ノズルの配列方向を傾斜させてなる
インクジェット記録装置において、前記インク粒子と基
準位置との位置ずれ量に応じて前記荷電偏向手段の偏向
量を調整することを特徴とするものである。
に、本発明は、被記録体に画像を描くインク粒子を噴出
する複数のノズル孔がほぼ直線的に配列された記録ヘッ
ドモジュールと、前記被記録体に向かって飛行する前記
インク粒子に前記ノズルの配列方向とほぼ垂直な方向に
偏向を加える荷電偏向手段とを有し、前記記録体を前記
記録ヘッドモジュールに対して相対的に移動させ、該移
動方向に対して前記ノズルの配列方向を傾斜させてなる
インクジェット記録装置において、前記インク粒子と基
準位置との位置ずれ量に応じて前記荷電偏向手段の偏向
量を調整することを特徴とするものである。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例について図
を参照しながら説明する。
を参照しながら説明する。
【００１５】図１は本発明で用いたライン走査型インク
ジェット記録装置の概略構成例を示す図である。このラ
イン走査型インクジェット記録装置は、インク噴射入力
信号に応じてインクを噴射する事により記録を行う事が
でき、かつ、荷電偏向電極への入力信号に応じてインク
の飛行軌道を偏向制御する事が可能である。印刷が開始
すると被記録用紙１００はＢ方向に一定速度で搬送され
る。信号処理部２０１は印刷データ信号３０１から、吐
出データ信号３０４、荷電偏向データ信号３０２と３０
３を作成する。ノズル駆動ドライバ２０４は、吐出デー
タ信号３０４からノズル駆動信号３０８を作成しノズル
列１０４に印加する。それぞれ対応する荷電偏向データ
信号３０２と３０３を受け取った荷電偏向電極ドライバ
２０２及び２０３は、各列毎に共通の荷電電界と偏向電
界を作るための荷電偏向電圧３０９と３１０を出力す
る。その結果、吐出データ信号３０４に応じてノズル列
１０４からインク滴が吐出される。吐出されたインク滴
は、荷電電界によって荷電され、一定電界により飛行方
向を偏向されて記録紙上に着地することで記録画像が得
られる。ヘッドモジュールは、記録紙格子点上に液滴が
着地するよう角度θ傾けて配置されている。
ジェット記録装置の概略構成例を示す図である。このラ
イン走査型インクジェット記録装置は、インク噴射入力
信号に応じてインクを噴射する事により記録を行う事が
でき、かつ、荷電偏向電極への入力信号に応じてインク
の飛行軌道を偏向制御する事が可能である。印刷が開始
すると被記録用紙１００はＢ方向に一定速度で搬送され
る。信号処理部２０１は印刷データ信号３０１から、吐
出データ信号３０４、荷電偏向データ信号３０２と３０
３を作成する。ノズル駆動ドライバ２０４は、吐出デー
タ信号３０４からノズル駆動信号３０８を作成しノズル
列１０４に印加する。それぞれ対応する荷電偏向データ
信号３０２と３０３を受け取った荷電偏向電極ドライバ
２０２及び２０３は、各列毎に共通の荷電電界と偏向電
界を作るための荷電偏向電圧３０９と３１０を出力す
る。その結果、吐出データ信号３０４に応じてノズル列
１０４からインク滴が吐出される。吐出されたインク滴
は、荷電電界によって荷電され、一定電界により飛行方
向を偏向されて記録紙上に着地することで記録画像が得
られる。ヘッドモジュールは、記録紙格子点上に液滴が
着地するよう角度θ傾けて配置されている。
【００１６】上記荷電偏向電極等よりなる荷電偏向手段
は、インク粒子荷電手段および該荷電手段により荷電さ
れた荷電インク粒子を偏向するようにインク粒子の飛行
経路に設けた偏向用静電場形成手段を含む。
は、インク粒子荷電手段および該荷電手段により荷電さ
れた荷電インク粒子を偏向するようにインク粒子の飛行
経路に設けた偏向用静電場形成手段を含む。
【００１７】ヘッドモジュール調整モードの場合、信号
処理部２０１は光学センサ制御信号３０５を同時に出力
し光学センサ１０５を制御する。光学センサ１０５は記
録画像を読み取りディジタルデータとして画像読み取り
データ信号３０６を、信号処理部２０１に出力する。画
像読み取りデータ信号３０６を受け取った信号処理部２
０１は、画像読み取りデータ信号３０６から各ヘッドモ
ジュール１０１の位置を算出し、その結果に応じて吐出
データ信号３０４と荷電偏向データ信号３０２と３０３
を変更する。
処理部２０１は光学センサ制御信号３０５を同時に出力
し光学センサ１０５を制御する。光学センサ１０５は記
録画像を読み取りディジタルデータとして画像読み取り
データ信号３０６を、信号処理部２０１に出力する。画
像読み取りデータ信号３０６を受け取った信号処理部２
０１は、画像読み取りデータ信号３０６から各ヘッドモ
ジュール１０１の位置を算出し、その結果に応じて吐出
データ信号３０４と荷電偏向データ信号３０２と３０３
を変更する。
【００１８】以下、各部について詳細を説明する。図２
は図１中Ｃ−Ｃ‘での断面を示したものである。インク
滴の吐出方法及び、液滴の偏向方法の概略を説明する。
４０１はセラミックなどからなる圧電素子、４０２は振
動板、４０３はリストリクタプレート、４０４はチャン
バプレート、４０５はオリフィスプレートである。例え
ば振動板４０２、リストリクタプレート４０３、チャン
バプレート４０４はステンレスから作られ、オリフィス
プレート４０５はニッケルから作られる。ノズル駆動信
号３０８が印加されると圧電素子４０１は変形し、振動
板４０２を介してインクに圧力を加える。加圧されたイ
ンクはオリフィス４０６からインク滴４０７として吐出
する。吐出したインク滴は、オリフィス４０６から吐出
する直前まで、ノズル列方向と平行に設置された荷電偏
向電極１０２と１０３により荷電界に応じた電荷量だけ
荷電される。吐出分離したインク滴４０７は、荷電偏向
電極１０２と１０３により一定の偏向電圧による電界で
吐出方向を偏向される。その結果、偏向を行わない場合
（上図）のインク飛行方向Ｅに対して、Ｄ１、Ｄ２のよ
うに、インク滴着地位置が荷電電極方向に変化する。偏
向電圧をシフトした場合（下図）、シフト電圧による電
界に応じたｄＤだけ液滴の着地位置全体をシフト移動し
て調整することができる。これにより、ノズル列配置方
向Ａに垂直な方向に液滴の着地位置をシフト(調整)可能
となる。
は図１中Ｃ−Ｃ‘での断面を示したものである。インク
滴の吐出方法及び、液滴の偏向方法の概略を説明する。
４０１はセラミックなどからなる圧電素子、４０２は振
動板、４０３はリストリクタプレート、４０４はチャン
バプレート、４０５はオリフィスプレートである。例え
ば振動板４０２、リストリクタプレート４０３、チャン
バプレート４０４はステンレスから作られ、オリフィス
プレート４０５はニッケルから作られる。ノズル駆動信
号３０８が印加されると圧電素子４０１は変形し、振動
板４０２を介してインクに圧力を加える。加圧されたイ
ンクはオリフィス４０６からインク滴４０７として吐出
する。吐出したインク滴は、オリフィス４０６から吐出
する直前まで、ノズル列方向と平行に設置された荷電偏
向電極１０２と１０３により荷電界に応じた電荷量だけ
荷電される。吐出分離したインク滴４０７は、荷電偏向
電極１０２と１０３により一定の偏向電圧による電界で
吐出方向を偏向される。その結果、偏向を行わない場合
（上図）のインク飛行方向Ｅに対して、Ｄ１、Ｄ２のよ
うに、インク滴着地位置が荷電電極方向に変化する。偏
向電圧をシフトした場合（下図）、シフト電圧による電
界に応じたｄＤだけ液滴の着地位置全体をシフト移動し
て調整することができる。これにより、ノズル列配置方
向Ａに垂直な方向に液滴の着地位置をシフト(調整)可能
となる。
【００１９】図３は荷電偏向電圧信号による電界とノズ
ル駆動信号を簡単に示した例である。例として、４方向
に偏向する場合を示してある。荷電偏向電界は周期的Ａ
Ｃ成分の荷電電圧による電界とＤＣ成分の偏向電圧によ
る電界を加えた電界となっている。ノズル駆動信号は、
圧電素子に印加されてから液滴が吐出するまで遅れを生
じる為、インク滴に適切な荷電を行えるよう、ｄＴ時間
だけ早く印加する。このように各信号を印加して記録を
行った結果の模式図を図４に示す。記録紙１００はＢ方
向に移動している。図３のタイミングＴ４で吐出した液
滴は、荷電電圧が大きい為大きくノズル列配置方向Ａと
垂直な方向に偏向されて格子点上５０１に着地する。タ
イミングＴ５で吐出した液滴は格子点上５０２に着地す
る。タイミングＴ６で吐出した液滴は荷電電荷が逆の
為、５０１、５０２とは逆の方向に飛行して格子点上５
０３に着地する。タイミングＴ７で吐出した液滴は、Ｔ
６よりも荷電量の絶対値が大きい為格子点上５０４に着
地する。このようにして格子点上に液滴を着地すること
ができる。
ル駆動信号を簡単に示した例である。例として、４方向
に偏向する場合を示してある。荷電偏向電界は周期的Ａ
Ｃ成分の荷電電圧による電界とＤＣ成分の偏向電圧によ
る電界を加えた電界となっている。ノズル駆動信号は、
圧電素子に印加されてから液滴が吐出するまで遅れを生
じる為、インク滴に適切な荷電を行えるよう、ｄＴ時間
だけ早く印加する。このように各信号を印加して記録を
行った結果の模式図を図４に示す。記録紙１００はＢ方
向に移動している。図３のタイミングＴ４で吐出した液
滴は、荷電電圧が大きい為大きくノズル列配置方向Ａと
垂直な方向に偏向されて格子点上５０１に着地する。タ
イミングＴ５で吐出した液滴は格子点上５０２に着地す
る。タイミングＴ６で吐出した液滴は荷電電荷が逆の
為、５０１、５０２とは逆の方向に飛行して格子点上５
０３に着地する。タイミングＴ７で吐出した液滴は、Ｔ
６よりも荷電量の絶対値が大きい為格子点上５０４に着
地する。このようにして格子点上に液滴を着地すること
ができる。
【００２０】しかしながら、ヘッドモジュールの取り付
け位置がずれている場合などにより、所望の格子点上に
液滴が着地しない場合も発生する。この場合、図２を用
いて説明した偏向電界シフトと荷電電圧信号とインク滴
吐出信号のタイミングシフトを行うことで解決できる。
図５は、荷電電圧シフト及びタイミングシフトを説明す
る為の荷電偏向信号及びインク吐出信号を示したもので
ある。図６に調整を行った結果の模式図を示す。説明の
ため図６に示すＸ、Ｙの方向に座標を記録紙上にとる。
Ｘは用紙移動方向と平行に、Ｙは用紙移動方向と垂直と
なっている。
け位置がずれている場合などにより、所望の格子点上に
液滴が着地しない場合も発生する。この場合、図２を用
いて説明した偏向電界シフトと荷電電圧信号とインク滴
吐出信号のタイミングシフトを行うことで解決できる。
図５は、荷電電圧シフト及びタイミングシフトを説明す
る為の荷電偏向信号及びインク吐出信号を示したもので
ある。図６に調整を行った結果の模式図を示す。説明の
ため図６に示すＸ、Ｙの方向に座標を記録紙上にとる。
Ｘは用紙移動方向と平行に、Ｙは用紙移動方向と垂直と
なっている。
【００２１】ノズル位置が図６に示す１０４−１に有っ
た場合、ノズル吐出タイミングＴ４、Ｔ５、Ｔ６、Ｔ７
で吐出・偏向された液滴の着地位置は、５０１、５０
２、５０３、５０４になる。このため、目的の格子点上
の着地位置５０１’、５０２’、５０３’、５０４’に
対して、Ｘ方向にｄＸ、Ｙ方向にｄＹだけずれてしま
う。偏向電界シフトによるＡ方向（複数のノズル孔がほ
ぼ直線的に配列された方向）と垂直な方向の着地位置調
整量ｄＤと、ノズル吐出タイミングシフトによるＢ方向
の着地位置調整量ｄＦとのｄＸとｄＹの関係はヘッドモ
ジュール取り付け角度θを用いて、ｄＹ＝ｄＤｓｉｎ
θ、ｄＹ＝ｄＤｃｏｓθ＋ｄＦとなる。よって、図５に
示す偏向電界シフトｄＥｃｓｈｉｆｔはこれによるｄＤ
ｓｉｎθがｄＹになる値となる。また、ノズル吐出タイ
ミングシフトｄＴｓｈｉｆｔは、この時間に記録紙が搬
送される時間からｄＤｃｏｓθ相当分だけ減じた値とな
る。これにより、格子点上からずれた液滴着地位置５０
１、５０２、５０３、５０４からそれぞれに相当する格
子点上５０１’、５０２’、５０３’、５０４’に着地
位置を修正することができる。
た場合、ノズル吐出タイミングＴ４、Ｔ５、Ｔ６、Ｔ７
で吐出・偏向された液滴の着地位置は、５０１、５０
２、５０３、５０４になる。このため、目的の格子点上
の着地位置５０１’、５０２’、５０３’、５０４’に
対して、Ｘ方向にｄＸ、Ｙ方向にｄＹだけずれてしま
う。偏向電界シフトによるＡ方向（複数のノズル孔がほ
ぼ直線的に配列された方向）と垂直な方向の着地位置調
整量ｄＤと、ノズル吐出タイミングシフトによるＢ方向
の着地位置調整量ｄＦとのｄＸとｄＹの関係はヘッドモ
ジュール取り付け角度θを用いて、ｄＹ＝ｄＤｓｉｎ
θ、ｄＹ＝ｄＤｃｏｓθ＋ｄＦとなる。よって、図５に
示す偏向電界シフトｄＥｃｓｈｉｆｔはこれによるｄＤ
ｓｉｎθがｄＹになる値となる。また、ノズル吐出タイ
ミングシフトｄＴｓｈｉｆｔは、この時間に記録紙が搬
送される時間からｄＤｃｏｓθ相当分だけ減じた値とな
る。これにより、格子点上からずれた液滴着地位置５０
１、５０２、５０３、５０４からそれぞれに相当する格
子点上５０１’、５０２’、５０３’、５０４’に着地
位置を修正することができる。
【００２２】以下、着地位置ずれ量を検出、修正する方
法について説明する。図７はヘッドモジュールの簡易図
と各ヘッドモジュールにより作成される着地位置ずれ検
出用テストパターンの簡略図である。図の例では記録紙
移動方向Ｂ方向と垂直及び平行な方向に、ノズルユニッ
ト全体を用いて互いに重ならない複数の線分を記録して
いる。このようにヘッドモジュールのより多くのノズル
を用いてテストパターンを記録する事で、ノズル特性の
ばらつきを吸収できる。また、カラー記録などの様に複
数の液滴を記録紙上の同一の点あるいは決められた相対
位置に着地させる場合、局所ではなく全体の位置合わせ
を行うことができるので、特定のノズル、例えば継ぎ目
部分のノズルだけを用いてテストパターンを作成する場
合に比べ色ずれ等の目立たない、良好な画像を得る事が
出来る。
法について説明する。図７はヘッドモジュールの簡易図
と各ヘッドモジュールにより作成される着地位置ずれ検
出用テストパターンの簡略図である。図の例では記録紙
移動方向Ｂ方向と垂直及び平行な方向に、ノズルユニッ
ト全体を用いて互いに重ならない複数の線分を記録して
いる。このようにヘッドモジュールのより多くのノズル
を用いてテストパターンを記録する事で、ノズル特性の
ばらつきを吸収できる。また、カラー記録などの様に複
数の液滴を記録紙上の同一の点あるいは決められた相対
位置に着地させる場合、局所ではなく全体の位置合わせ
を行うことができるので、特定のノズル、例えば継ぎ目
部分のノズルだけを用いてテストパターンを作成する場
合に比べ色ずれ等の目立たない、良好な画像を得る事が
出来る。
【００２３】説明を簡単にするため、図中に示したＸ、
Ｙの座標を用いる。Ｎ個のヘッドモジュール１０１−
１、１０１−２……１０１−Ｎ各々からテストパターン
を印刷する。テストパターンは大別して、インク滴の偏
向された幅、つまり、荷電電圧の振幅を補正するための
偏向幅測定テストパターン５２０、ヘッドユニットから
吐出されるインク滴のＸ方向の着地位置ずれを検出し補
正するためのＹ方向の複数線分からなるＸ位置検出テス
トパターン５２１、Ｙ方向の着地位置ずれを検出するた
めのＸ方向の複数線分からなるＹ位置検出テストパター
ン５２２からなる。Ｘ位置検出テストパターン５２１は
Ｙ軸方向と水平な線分、また偏向幅測定テストパターン
５２０とＹ位置検出テストパターン５２２はＸ軸と水平
な線分とである。これは、説明を簡略化するためであ
り、それぞれテストパターン毎に座標系に対する一定角
度を持っていてもかまわない。
Ｙの座標を用いる。Ｎ個のヘッドモジュール１０１−
１、１０１−２……１０１−Ｎ各々からテストパターン
を印刷する。テストパターンは大別して、インク滴の偏
向された幅、つまり、荷電電圧の振幅を補正するための
偏向幅測定テストパターン５２０、ヘッドユニットから
吐出されるインク滴のＸ方向の着地位置ずれを検出し補
正するためのＹ方向の複数線分からなるＸ位置検出テス
トパターン５２１、Ｙ方向の着地位置ずれを検出するた
めのＸ方向の複数線分からなるＹ位置検出テストパター
ン５２２からなる。Ｘ位置検出テストパターン５２１は
Ｙ軸方向と水平な線分、また偏向幅測定テストパターン
５２０とＹ位置検出テストパターン５２２はＸ軸と水平
な線分とである。これは、説明を簡略化するためであ
り、それぞれテストパターン毎に座標系に対する一定角
度を持っていてもかまわない。
【００２４】なお、今回の例では、偏向幅測定テストパ
ターン５２０とＹ位置検出テストパターン５２２を別の
テストパターンとしたが、偏向幅測定テストパターン５
２１でＹ位置検出テストパターン５２３を兼用する事も
出来る。
ターン５２０とＹ位置検出テストパターン５２２を別の
テストパターンとしたが、偏向幅測定テストパターン５
２１でＹ位置検出テストパターン５２３を兼用する事も
出来る。
【００２５】この、テストパターンを用いてインク滴着
地位置補正を行う場合のフローチャートを図８に示す。
まずステップ６０１で前記テストパターンを印刷する。
続いて、ステップ６０２において、光学センサ１０５に
よりテストパターンを読み取り、ディジタルイメージデ
ータとしてメモリ等に蓄える。光学センサは例えばＣＣ
Ｄアレイなどを用いる事が出来る。センサ間隔が精度良
く作成されたＣＣＤアレイとレンズ、照明を組み合わせ
る事で高解像度のイメージデータを広範囲に取得でき
る。
地位置補正を行う場合のフローチャートを図８に示す。
まずステップ６０１で前記テストパターンを印刷する。
続いて、ステップ６０２において、光学センサ１０５に
よりテストパターンを読み取り、ディジタルイメージデ
ータとしてメモリ等に蓄える。光学センサは例えばＣＣ
Ｄアレイなどを用いる事が出来る。センサ間隔が精度良
く作成されたＣＣＤアレイとレンズ、照明を組み合わせ
る事で高解像度のイメージデータを広範囲に取得でき
る。
【００２６】ステップ６０３は、蓄えられたイメージデ
ータ上に仮想の空間座標を作成する。仮想空間座標は、
イメージデータを処理するのに都合がよければどのよう
な形でもよいが、本実施例では、印刷サンプルと同様の
Ｘ・Ｙ直行座標系を用いる。以降、着地位置検出及び補
正のステップに入る。
ータ上に仮想の空間座標を作成する。仮想空間座標は、
イメージデータを処理するのに都合がよければどのよう
な形でもよいが、本実施例では、印刷サンプルと同様の
Ｘ・Ｙ直行座標系を用いる。以降、着地位置検出及び補
正のステップに入る。
【００２７】ステップ６０４から６０８は吐出液滴の偏
向振幅幅を検出するステップである。ステップ６０４で
テストパターン５２０について線分のエッジを検出す
る。なお、インク粒子で記録された記録ドットの外周縁
をエッジとして用いる。
向振幅幅を検出するステップである。ステップ６０４で
テストパターン５２０について線分のエッジを検出す
る。なお、インク粒子で記録された記録ドットの外周縁
をエッジとして用いる。
【００２８】ステップ６０５において、検出した線分の
エッジに基づいて近似直線を算出する。エッジの検出方
法及び、近似直線の算出方法を図９に示した。光学セン
サでメモリ等に取り込んだディジタルデータについて、
例えば２×２のマスキングを行い、マスク内の２個又は
３個のデータが取り込んだディジタルデータの境界部と
重なった場合、線分のエッジとみなす。この様にして、
線分に付いて一定間隔毎にエッジを検出したのが、図中
７０５である。そして、その座標を記憶しておく。記憶
した座標のＸ・Ｙデータから近似直線７０６を算出す
る。近似直線は例えば、最小二乗法などを用いて求める
事が出来る。図９左側は、線分の両側のエッジを検出
し、その中心近似直線を求めた例である。検出時間やデ
ータのメモリの制約等からデータの処理量を節約し高速
処理する方法として右図のように片側のエッジを用いる
事も可能である。図８ステップ６０６では偏向振幅を検
出し、荷電電圧の振幅調整を行う。図７の偏向幅測定テ
ストパターン５２０の一部を拡大すると図１０のように
なっている。図１０では４段に偏向した場合を示してお
り、これを用いて検出方法を説明する。まず、図１０左
の図で説明する。図９を用いて説明した方法で、各偏向
段で記録した線分の近似直線７０６−１、７０６−２、
７０６−３、７０６−４を求める。求めた直線に付い
て、仮想空間座標中でＹ軸方向の仮想基準線（基準位
置）７０５との交点を求め、その交点間のＹ方向距離ｄ
Ｗ１、ｄＷ２、ｄＷ３が各偏向段の偏向幅である。７０
６−１〜７０６−４は必ずしも平行ではないので、基準
線（基準位置）との交点を求める必要がある。検出誤差
を少なくするため、仮想基準線７０５は各線分の近くに
設ける事が望ましい。今回の例では、線分のＸ方向長さ
合計のほぼ中心に基準線７０５を設定してある。７０５
−１、７０５、７０５−２などを別途設け、それぞれ、
ｄＷ１、ｄＷ２、ｄＷ３を求める方法もある。図１０右
のように格偏向段の幅を測定せず、４偏向段の幅を測定
する方法を取ると、計測が簡易になる。
エッジに基づいて近似直線を算出する。エッジの検出方
法及び、近似直線の算出方法を図９に示した。光学セン
サでメモリ等に取り込んだディジタルデータについて、
例えば２×２のマスキングを行い、マスク内の２個又は
３個のデータが取り込んだディジタルデータの境界部と
重なった場合、線分のエッジとみなす。この様にして、
線分に付いて一定間隔毎にエッジを検出したのが、図中
７０５である。そして、その座標を記憶しておく。記憶
した座標のＸ・Ｙデータから近似直線７０６を算出す
る。近似直線は例えば、最小二乗法などを用いて求める
事が出来る。図９左側は、線分の両側のエッジを検出
し、その中心近似直線を求めた例である。検出時間やデ
ータのメモリの制約等からデータの処理量を節約し高速
処理する方法として右図のように片側のエッジを用いる
事も可能である。図８ステップ６０６では偏向振幅を検
出し、荷電電圧の振幅調整を行う。図７の偏向幅測定テ
ストパターン５２０の一部を拡大すると図１０のように
なっている。図１０では４段に偏向した場合を示してお
り、これを用いて検出方法を説明する。まず、図１０左
の図で説明する。図９を用いて説明した方法で、各偏向
段で記録した線分の近似直線７０６−１、７０６−２、
７０６−３、７０６−４を求める。求めた直線に付い
て、仮想空間座標中でＹ軸方向の仮想基準線（基準位
置）７０５との交点を求め、その交点間のＹ方向距離ｄ
Ｗ１、ｄＷ２、ｄＷ３が各偏向段の偏向幅である。７０
６−１〜７０６−４は必ずしも平行ではないので、基準
線（基準位置）との交点を求める必要がある。検出誤差
を少なくするため、仮想基準線７０５は各線分の近くに
設ける事が望ましい。今回の例では、線分のＸ方向長さ
合計のほぼ中心に基準線７０５を設定してある。７０５
−１、７０５、７０５−２などを別途設け、それぞれ、
ｄＷ１、ｄＷ２、ｄＷ３を求める方法もある。図１０右
のように格偏向段の幅を測定せず、４偏向段の幅を測定
する方法を取ると、計測が簡易になる。
【００２９】このように求めた偏向幅が設計許容範囲か
どうかステップ６０８で判断する。偏向幅が設計許容値
外の場合ステップ６０９で予め用意した偏向幅と荷電電
圧量の関係から調整量を算出し、ステップ６１８で印刷
パラメータの変更を行い再度ステップ６０１でテストパ
ターンを印刷する。これは、偏向幅が調整されていない
と、Ｙ方向位置に影響を及ぼすからである。ステップ６
０７で偏向幅が設計許容値内と判断された場合、Ｘ・Ｙ
方向位置ずれ検出・調整を行う。
どうかステップ６０８で判断する。偏向幅が設計許容値
外の場合ステップ６０９で予め用意した偏向幅と荷電電
圧量の関係から調整量を算出し、ステップ６１８で印刷
パラメータの変更を行い再度ステップ６０１でテストパ
ターンを印刷する。これは、偏向幅が調整されていない
と、Ｙ方向位置に影響を及ぼすからである。ステップ６
０７で偏向幅が設計許容値内と判断された場合、Ｘ・Ｙ
方向位置ずれ検出・調整を行う。
【００３０】ステップ６１０〜６１２は、Ｙ方向に付い
て、ステップ６１３〜６１５はＸ方向についてのエッジ
検出・近似直線算出・近似直線間隔算出のステップであ
る。前記偏向幅の場合と同様の方法で、Ｙ位置検出パタ
ーン５２２に対して各線分に付いてエッジ検出を行い
（ステップ６１０）、近似直線を求める（ステップ６１
１）。図１１に例を示す。図中７０７−１〜７０７−
４、及び７０８−１〜７０８−４……はそれぞれ１ヘッ
ドモジュールから作成された線分について求めた近似直
線である。さらに、仮想訓間座標中Ｙ軸と平行な複数の
仮想基準線 ７０５−１、７０５−２、７０５−３……
を設ける。
て、ステップ６１３〜６１５はＸ方向についてのエッジ
検出・近似直線算出・近似直線間隔算出のステップであ
る。前記偏向幅の場合と同様の方法で、Ｙ位置検出パタ
ーン５２２に対して各線分に付いてエッジ検出を行い
（ステップ６１０）、近似直線を求める（ステップ６１
１）。図１１に例を示す。図中７０７−１〜７０７−
４、及び７０８−１〜７０８−４……はそれぞれ１ヘッ
ドモジュールから作成された線分について求めた近似直
線である。さらに、仮想訓間座標中Ｙ軸と平行な複数の
仮想基準線 ７０５−１、７０５−２、７０５−３……
を設ける。
【００３１】次に、仮想基準線と近似直線との複数の交
点を求め、求めた交点より平均的な線分の間隔を求める
（ステップ６１２）。ｄＹ１１を例にとって、詳しく説
明する。
点を求め、求めた交点より平均的な線分の間隔を求める
（ステップ６１２）。ｄＹ１１を例にとって、詳しく説
明する。
【００３２】図中Ｙ方向間隔ｄＹ１１を例に説明する。
線分から求めた近似直線７０７−１、７０８−１と仮想
基準線７０５−１と交点を求め、Ｙ方向の距離ｄＹ１１
１を算出する。同様に、７０５−２、７０５−３……に
ついても距離を算出し、その平均をｄＹ１１とする。同
様にして、各近似直線についても計算を行い、各間隔ｄ
Ｙ１２、ｄＹ１３……を求める。各ヘッドモジュール内
で同じ位置のノズルから形成された線分に関して求めた
前記の交点間のＹ成分を求めたのが図中ｄＹ１１〜ｄＹ
２４である。上記のようにして求めた間隔ｄＹに付い
て、本図では４データなので、次のように平均値ｄＹ１
を求める。
線分から求めた近似直線７０７−１、７０８−１と仮想
基準線７０５−１と交点を求め、Ｙ方向の距離ｄＹ１１
１を算出する。同様に、７０５−２、７０５−３……に
ついても距離を算出し、その平均をｄＹ１１とする。同
様にして、各近似直線についても計算を行い、各間隔ｄ
Ｙ１２、ｄＹ１３……を求める。各ヘッドモジュール内
で同じ位置のノズルから形成された線分に関して求めた
前記の交点間のＹ成分を求めたのが図中ｄＹ１１〜ｄＹ
２４である。上記のようにして求めた間隔ｄＹに付い
て、本図では４データなので、次のように平均値ｄＹ１
を求める。
【００３３】ｄＹ１＝（ｄＹ１１＋ｄＹ１２＋ｄＹ１３
＋ｄＹ１４）／４ このｄＹ１とヘッドモジュール間隔設計値とを比較す
る。同様にしてｄＹ２についても、ｄＹ２＝（ｄＹ２１
＋ｄＹ２２＋ｄＹ２３＋ｄＹ２４）／４とし、設計ヘッ
ドモジュール間隔と比較する。比較したモジュール間隔
の誤差分だけＹ方向に調整する必要が有る。
＋ｄＹ１４）／４ このｄＹ１とヘッドモジュール間隔設計値とを比較す
る。同様にしてｄＹ２についても、ｄＹ２＝（ｄＹ２１
＋ｄＹ２２＋ｄＹ２３＋ｄＹ２４）／４とし、設計ヘッ
ドモジュール間隔と比較する。比較したモジュール間隔
の誤差分だけＹ方向に調整する必要が有る。
【００３４】本例では、まず各近似直線間隔を基準線毎
に求めその平均値からヘッドモジュール間隔を求めた
が、基準線毎の近似直線間隔からヘッドモジュール間隔
を求め、その平均値を求めてもかまわない。Ｘ方向に付
いても同様の手順でヘッドモジュール毎の位置誤差を求
める。（ステップ６１３〜ステップ６１５）Ｘ方向の手
順でＹ方向と異なるのは、座標上の角度が９０度回転し
ている事である。
に求めその平均値からヘッドモジュール間隔を求めた
が、基準線毎の近似直線間隔からヘッドモジュール間隔
を求め、その平均値を求めてもかまわない。Ｘ方向に付
いても同様の手順でヘッドモジュール毎の位置誤差を求
める。（ステップ６１３〜ステップ６１５）Ｘ方向の手
順でＹ方向と異なるのは、座標上の角度が９０度回転し
ている事である。
【００３５】この様にして位置誤差を求める場合、注意
しなければならないのは、調整量の積算である。隣接ヘ
ッドモジュール間の誤差だけを常に測定していくとヘッ
ドモジュール数が多いライン型プリンタの場合、場合に
よっては位置調整量が積算され調整範囲を超えてしまう
事がある。調整範囲を大きくすると、装置が複雑になる
のでこれは避けなければならない。したがって、積算誤
差が発生しないような工夫が必要となる。例えば、上記
で求めたように基準となるヘッドモジュールに対する位
置ずれ量を算出する方法がある。この様にすれば、調整
量は積算しない。また似たような方法として、 ｄＹａｖｅ＝（ｄＹ１＋ｄＹ２＋ｄＹ３＋……＋ｄＹ
Ｎ）／Ｎ を求め、調整量を下記のように ｄＹａｖｅ−ｄＹ１ ｄＹａｖｅ−ｄＹ２ ｄＹａｖｅ−ｄＹ３ …… ｄＹａｖｅ−ｄＹＮ とする方法もある。
しなければならないのは、調整量の積算である。隣接ヘ
ッドモジュール間の誤差だけを常に測定していくとヘッ
ドモジュール数が多いライン型プリンタの場合、場合に
よっては位置調整量が積算され調整範囲を超えてしまう
事がある。調整範囲を大きくすると、装置が複雑になる
のでこれは避けなければならない。したがって、積算誤
差が発生しないような工夫が必要となる。例えば、上記
で求めたように基準となるヘッドモジュールに対する位
置ずれ量を算出する方法がある。この様にすれば、調整
量は積算しない。また似たような方法として、 ｄＹａｖｅ＝（ｄＹ１＋ｄＹ２＋ｄＹ３＋……＋ｄＹ
Ｎ）／Ｎ を求め、調整量を下記のように ｄＹａｖｅ−ｄＹ１ ｄＹａｖｅ−ｄＹ２ ｄＹａｖｅ−ｄＹ３ …… ｄＹａｖｅ−ｄＹＮ とする方法もある。
【００３６】以上のようにして求めた各ヘッドモジュー
ルの位置がＸ・Ｙ位置誤差許容範囲内かステップ６１６
で判断する。全て範囲内であった場合調整処理を終了す
る。範囲外であった場合、図５及び図６を用いた説明の
方法詰まり、偏向電圧シフトとインク吐出タイミングシ
フトを用いて補正(調整)するための値をステップ６１７
で求め、ステップ６１８で印刷パラメータを修正し、再
度テストパターンを印刷、設計許容範囲内になるよう収
束させる。
ルの位置がＸ・Ｙ位置誤差許容範囲内かステップ６１６
で判断する。全て範囲内であった場合調整処理を終了す
る。範囲外であった場合、図５及び図６を用いた説明の
方法詰まり、偏向電圧シフトとインク吐出タイミングシ
フトを用いて補正(調整)するための値をステップ６１７
で求め、ステップ６１８で印刷パラメータを修正し、再
度テストパターンを印刷、設計許容範囲内になるよう収
束させる。
【００３７】図１２に更に、高精度ヘッドモジュールの
位置合わせを行うため、異常点を除去して近似直線を取
得する方法の例を示す。図のように、インクが飛び散
り、いわゆるサテライトなどが発生して画像を劣化させ
ている場合、エッジ検出にエラーが生じ近似直線が正確
に算出できない可能性がある。これを避けるため、ま
ず、イメージデータから求めた線分エッジに付いて近似
直線７２１を求める。求めた近似直線に対して、ある信
頼区間で区間推定を行い、近似直線との差が大きなエッ
ジデータに付いては異常点とみなし、近似直線を求める
為のエッジデータから排除する。異常点データを排除し
た新たなエッジデータから再度近似直線７２２を求め
る。この様にして、サテライトなどの画像劣化要因の影
響を軽減し、より高精度な位置補正が可能となる。
位置合わせを行うため、異常点を除去して近似直線を取
得する方法の例を示す。図のように、インクが飛び散
り、いわゆるサテライトなどが発生して画像を劣化させ
ている場合、エッジ検出にエラーが生じ近似直線が正確
に算出できない可能性がある。これを避けるため、ま
ず、イメージデータから求めた線分エッジに付いて近似
直線７２１を求める。求めた近似直線に対して、ある信
頼区間で区間推定を行い、近似直線との差が大きなエッ
ジデータに付いては異常点とみなし、近似直線を求める
為のエッジデータから排除する。異常点データを排除し
た新たなエッジデータから再度近似直線７２２を求め
る。この様にして、サテライトなどの画像劣化要因の影
響を軽減し、より高精度な位置補正が可能となる。
【００３８】
【発明の効果】本発明によれば、複数の記録ヘッドモジ
ュールによる記録ドット群の位置関係を、正確に把握
し、位置関係を電気的に調整する事で調整の自動化を容
易にし、高品質な画像を高速に記録可能なインクジェッ
ト記録装置を提供する事が可能となる。
ュールによる記録ドット群の位置関係を、正確に把握
し、位置関係を電気的に調整する事で調整の自動化を容
易にし、高品質な画像を高速に記録可能なインクジェッ
ト記録装置を提供する事が可能となる。
【図１】本発明の実施形態にかかるもので、ライン走査
型インクジェット記録装置の概略構成を示す図である。
型インクジェット記録装置の概略構成を示す図である。
【図２】本発明の実施形態にかかるもので、荷電偏向電
圧信号とノズル駆動信号を簡単に例示した図である。
圧信号とノズル駆動信号を簡単に例示した図である。
【図３】本発明の実施形態にかかるもので、図１のＣ−
Ｃ‘断面図である。
Ｃ‘断面図である。
【図４】本発明の実施形態にかかるもので、各信号を印
加してインク粒子のドット記録を行った結果の模式図で
ある。
加してインク粒子のドット記録を行った結果の模式図で
ある。
【図５】本発明の実施形態にかかるもので、荷電電圧シ
フト及びタイミングシフトを説明する為の荷電偏向信号
及びインク吐出信号を示した図である。
フト及びタイミングシフトを説明する為の荷電偏向信号
及びインク吐出信号を示した図である。
【図６】本発明の実施形態にかかるもので、調整後の各
信号を印加して記録を行った結果の模式図である。
信号を印加して記録を行った結果の模式図である。
【図７】本発明の実施形態にかかるもので、検出用のテ
ストパターンを例示した図である。
ストパターンを例示した図である。
【図８】本発明の実施形態にかかるもので、着地位置補
正ステップのフローチャートである。
正ステップのフローチャートである。
【図９】本発明の実施形態にかかるもので、インク粒子
のドットで形成する線分の近似直線を求める方法の模式
図である。
のドットで形成する線分の近似直線を求める方法の模式
図である。
【図１０】本発明の実施形態にかかるもので、偏向幅を
求める方法の模式図である。
求める方法の模式図である。
【図１１】本発明の実施形態にかかるもので、ヘッドモ
ジュール間隔を求める方法の模式図である。
ジュール間隔を求める方法の模式図である。
【図１２】本発明の実施形態にかかるもので、近似直線
を求める他の方法を示す模式図である。
を求める他の方法を示す模式図である。
１００…被記録用紙、１０１…ヘッドモジュール、１０
４…ノズル列、１０５…光学センサ、２０１…信号処理
部、２０２，２０３…荷電偏向電極ドライバ、２０４…
ノズル駆動ドライバ、３０１…印刷データ信号、３０
２，３０３…荷電偏向データ信号、３０４…吐出データ
信号、３０５…光学センサ制御信号、３０８…ノズル駆
動信号、３０９，３１０…荷電偏向電圧、３０６…画像
読み取りデータ信号、４０１…セラミックなどからなる
圧電素子、４０２…振動板、４０３…リストリクタプレ
ート、４０４…チャンバプレート、４０５…オリフィス
プレート、４０６…オリフィス、４０７…インク滴、７
０５…近似直線。
４…ノズル列、１０５…光学センサ、２０１…信号処理
部、２０２，２０３…荷電偏向電極ドライバ、２０４…
ノズル駆動ドライバ、３０１…印刷データ信号、３０
２，３０３…荷電偏向データ信号、３０４…吐出データ
信号、３０５…光学センサ制御信号、３０８…ノズル駆
動信号、３０９，３１０…荷電偏向電圧、３０６…画像
読み取りデータ信号、４０１…セラミックなどからなる
圧電素子、４０２…振動板、４０３…リストリクタプレ
ート、４０４…チャンバプレート、４０５…オリフィス
プレート、４０６…オリフィス、４０７…インク滴、７
０５…近似直線。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小林 信也 茨城県ひたちなか市武田1060番地 日立工 機株式会社内 (72)発明者 佐藤 国雄 茨城県ひたちなか市武田1060番地 日立工 機株式会社内 (72)発明者 木田 仁司 茨城県ひたちなか市武田1060番地 日立工 機株式会社内 Ｆターム(参考） 2C056 EA07 EB27 EB36 EC37 EC38 EC77 FA04 FA13 HA10 HA58 2C057 DA09 DB04 DC02 DC10 DD05 DD10 DE04 EA08
Claims (8)
- 【請求項１】 被記録体に画像を描くインク粒子を噴出
する複数のノズル孔がほぼ直線的に配列された記録ヘッ
ドモジュールと、前記被記録体に向かって飛行する前記
インク粒子に前記ノズルの配列方向とほぼ垂直な方向に
偏向を加える荷電偏向手段とを有し、前記記録体を前記
記録ヘッドモジュールに対して相対的に移動させ、該移
動方向に対して前記ノズルの配列方向を傾斜させてなる
インクジェット記録装置において、 前記インク粒子と基準位置との位置ずれ量に応じて前記
荷電偏向手段の偏向量を調整することを特徴とするイン
クジェット記録装置。 - 【請求項２】 被記録体に画像を描くインク粒子を噴出
する複数のノズル孔がほぼ直線的に配列された記録ヘッ
ドモジュールと、前記被記録体に向かって飛行する前記
インク粒子に前記ノズルの配列方向とほぼ垂直な方向に
偏向を加える荷電偏向手段と、噴出する前記インク粒子
に振動を加えるノズル駆動手段とを有し、前記記録体を
前記記録ヘッドモジュールに対して相対的に移動させ、
該移動方向に対して前記ノズルの配列方向を傾斜させて
なるインクジェット記録装置において、 前記インク粒子と基準位置との位置ずれ量に応じて前記
荷電偏向手段の偏向量および前記ノズル駆動手段の駆動
タイミングを調整することを特徴とするインクジェット
記録装置。 - 【請求項３】 被記録体に画像を描くインク粒子を噴出
する複数のノズル孔がほぼ直線的に配列された記録ヘッ
ドモジュールと、前記被記録体に向かって飛行する前記
インク粒子に前記ノズルの配列方向とほぼ垂直な方向に
偏向を加える荷電偏向手段と、噴出する前記インク粒子
に振動を加えるノズル駆動手段とを有し、前記記録体を
前記記録ヘッドモジュールに対して相対的に移動させ、
該移動方向に対して前記ノズルの配列方向を傾斜させて
なるインクジェット記録装置において、 インク粒子が描く検出用テストパターンと基準位置との
位置ずれ量に応じて前記荷電偏向手段の偏向量および前
記ノズル駆動手段の駆動タイミングを調整することを特
徴とするインクジェット記録装置。 - 【請求項４】 被記録体に画像を描くインク粒子を噴出
する複数のノズル孔がほぼ直線的に配列された記録ヘッ
ドモジュールと、前記被記録体に向かって飛行する前記
インク粒子に前記ノズルの配列方向とほぼ垂直な方向に
偏向を加える荷電偏向手段と、噴出する前記インク粒子
に振動を加えるノズル駆動手段とを有し、前記記録体を
前記記録ヘッドモジュールに対して相対的に移動させ、
該移動方向に対して前記ノズルの配列方向を傾斜させて
なるインクジェット記録装置において、 被記録体に描かれた検出用テストパターンを構成してい
る線分を光学センサ等の読み取り手段で読み取り、この
読み取った線分データより近似直線を求め、この近似直
線と基準位置（基準線）との間隔に応じて前記荷電偏向
手段の偏向量および前記ノズル駆動手段の駆動タイミン
グを調整することを特徴とするインクジェット記録装
置。 - 【請求項５】 被記録体に画像を描くインク粒子を噴出
する複数のノズル孔がほぼ直線的に配列された記録ヘッ
ドモジュールと、前記被記録体に向かって飛行する前記
インク粒子に前記ノズルの配列方向とほぼ直交する方向
に偏向を加える荷電偏向手段と、噴出する前記インク粒
子に振動を加えるノズル駆動手段とを有し、前記記録体
を前記記録ヘッドモジュールに対して相対的に移動さ
せ、該移動方向に対して前記ノズルの配列方向を傾斜さ
せてなるインクジェット記録装置において、 被記録体に描かれた検出用テストパターンを構成してい
る線分を光学センサ等の読み取り手段で読み取り、この
読み取った線分データより近似直線を求め、この近似直
線と基準位置（基準線）との間にできる前記相対的な移
動方向に沿った相対移動方向間隔を求め、前記近似直線
と前記基準位置（基準線）との間にできる前記ノズル孔
の配列方向にほぼ垂直な方向に沿った垂直方向間隔を求
め、前記相対移動方向間隔に応じて前記ノズル駆動手段
の駆動タイミングを調整し、前記垂直方向間隔に応じて
前記荷電偏向手段の偏向量を調整することを特徴とする
インクジェット記録装置。 - 【請求項６】 請求項５記載のインクジェット記録装置
において、 前記垂直方向間隔および前記垂直方向間隔は、前記近似
直線と前記基準線との複数の交点から求めることを特徴
とするインクジェット記録装置。 - 【請求項７】 請求項４から６のいずれか一つ一つに記
載されたインクジェット記録装置において、 前記近似直線は、前記各線分データについて求めた近似
直線に基づき各線分データ中の異常点を取り除いたデー
タから、再度各線分について近似直線を求めることを特
徴とするインクジェット記録装置。 - 【請求項８】 請求項１から７のいずれか一つに記載さ
れたインクジェット記録装置において、 前記荷電偏向手段は、インク粒子に電荷を与えるインク
粒子荷電手段、該荷電手段により荷電された荷電インク
粒子を偏向するようにインク粒子の飛行経路に設けた偏
向用静電場形成手段を含むことを特徴とするインクジェ
ット記録装置。
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