JP2002030440A - 傾斜材料およびその合成、加工方法 - Google Patents
傾斜材料およびその合成、加工方法Info
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Abstract
方性であれ、エッチングの性状はそれらの材料が本質的
にもつ性質に依存してしまい、所望する種々の形状を実
現するには限界があった。 【解決手段】特定の化学物質によるエッチング速度が、
最表面から内部にいくにしたがって連続的あるいは段階
的に変化している傾斜材料を提供する。この傾斜材料は
主体となる材料にそのエッチング速度を変えうる添加物
を加え、その添加濃度を連続的あるいは段階的に変化さ
せてある。とくに、主体となる材料を、SiO2を主成
分とするガラス材料とし、添加物をフッ素とすることに
より、フッ酸水溶液によるエッチング速度が深さ方向に
変化した傾斜材料を得ることができる。
Description
深さ方向に変化する傾斜材料、およびその合成方法並び
に加工方法に関する。
は知られており、活発にその開発が行われている。例え
ば、特開平5−345977号公報には、その材料構
造、製造装置が開示されているが、それによると、「傾
斜機能材料は内部における組成分布が連続的に変化する
材料」であると定義されている。このような組成分布が
連続的に変化している材料に期待できる効果として、耐
熱強度を高めることがあげられ、この観点での開発が多
く行われてきた。特に、宇宙環境分野では極端な温度変
化に対応できる材料として注目を集めている。
分布が傾斜的に変化する材料が絶縁層の形成に対して有
効であることが、特開平5−18316号公報に開示さ
れている。
ている。特開平8−231248号公報には、屈折率が
傾斜的に変化する材料をガラス基板などの上に作製し、
反射防止膜とすることが開示されている。この例では、
屈折率が1.5程度のガラス基板表面に薄膜を形成し、
その薄膜の基板近傍での屈折率が2.0程度であり、膜
の最表面に近づくにしたがって徐々に屈折率を減じ、最
表面においては1.55程度になる構造が提案されてい
る。
を示すガラス表面において、このような薄膜を形成する
と反射率が1.5%以下にできることを教示している。
従来、このような反射防止膜は、高屈折率材料と低屈折
率材料を、交互に堆積することにより実現するのが一般
的である。ここで開示された方法は、より簡便に、また
広範な波長範囲で反射防止機能を実現できる技術として
期待される。
多数の分野で注目される材料である。しかしながら、そ
の応用は、組成分布が傾斜していることにより発揮され
る特性を利用するという範疇に入るものが大部分であ
る。
いものがあり、特に半導体加工技術における進歩は著し
く、1μm以下の加工を可能としてきた。主となる技術
は、ホトリソグラフィである。微細加工技術は、半導体
のみならず、光学分野でも幅広く用いられている。特
に、従来のレンズに比べて非常に小さい直径1mm以下
のレンズ、1μm前後の凹凸構造を持つ回折格子などは
微細加工の技術を用いて作製される。このような微小な
光学素子を扱う分野を近年、微小光学と呼ぶことが多い
が、N.F.Borrelliが著した、Microoptics Technology
(1999年 Maecel Dekker, Inc 発行)に一般的製法、
得られる光学素子全般にわたる概説がなされている。
クのモールド、ガラスのモールドなどの他に、ホトリソ
グラフィと反応性エッチングの技術を組み合わせて微細
なレンズ、回折格子、回折レンズなどを作製する場合が
多い。このように、特定の光学特性を得るためには、3
次元的な膨らみ(レンズ)、溝(回折光学素子)が必要
である。最も簡便に用いることができる、溶液中で材料
を化学的にエッチングする手法(湿式エッチング)を用
いるものとして特開平11−123771号公報には、
エッチングによるマイクロレンズアレイ用スタンパの形
成が開示されている。この技術は球状の凹部を形成する
のであるが、ガラスなどの等方的な材料をエッチングし
た場合、エッチングの等方性に起因した球面を持つ形状
が得られる。
結晶などは、結晶の対称性に起因したエッチング形状を
実現できる。異方性エッチングの代表的な例として、S
i単結晶を利用したV字形状の溝の作製があげられる。
この場合は、特定の方向に特定の角度での形状ができ、
光ファイバーの固定溝などとして利用されている。
例示した均質材料においては、それらが等方性であれ異
方性であれ、エッチングの性状はそれらの材料が本質的
にもつ性質に依存してしまい、所望する種々の形状を実
現するには限界があった。例えば、レンズであれば非球
面のレンズは本質的に形成できない。また、V溝をもつ
回折格子は溝の角度を種々変えることにより、利用時の
自由度を確保できるが、材料の性質に依存したエッチン
グでは限定された角度しか形成できず大幅にその自由度
が制限される。
なされたものであり、傾斜材料を用いることによって、
エッチングによって得られる形状の制限を大幅に緩和す
ることを目的とする。
の化学物質によるエッチング速度が、最表面から内部に
いくにしたがって連続的あるいは段階的に変化している
傾斜材料を提供する。このような傾斜材料は主体となる
材料にそのエッチング速度を変えうる添加物を加え、そ
の添加濃度を連続的あるいは段階的に変化させてある。
成分とするガラス材料とし、添加物をフッ素とすること
により、フッ酸水溶液によるエッチング速度が深さ方向
に変化した傾斜材料を得ることができる。その合成は、
基板上にSiO2膜の成膜を行いながらフッ素を混入す
る方法によって行う。具体的方法として、化学的気相成
長法を用い、成長槽内にSiO2原料ガスの流量に対す
るフッ素原料ガスの流量の比を経時的に変化させること
によって傾斜材料を合成することができる。
的な材料を用い、エッチング速度を内部方向に変化させ
ることにより、異方性なエッチングを実現させた点にあ
る。また、異方性も単結晶のようにあらかじめ決められ
たものではなく、任意に設定できる点にあり、実現しよ
うとする形状を精密に制御したり、従来では不可能であ
った形状を、湿式のエッチングという従来から良く知ら
れている技術で実現できる点にある。
する。本発明の実施においては、プラズマ化学気相成長
法(以下PCVD法と略記)を採用した。PCVD法は
一般に確立された手法であり、本発明の主たる部分を占
める技術ではないが、本発明が意図するエッチング速度
が内部方向に対して、傾斜的に変化するという材料を合
成するには適している。他の方法、例えば真空蒸着法、
スパッタリング法なども本発明の趣旨を実現するために
用いることができる。
1に示した。主に積層する材料はSiO2であり、エッ
チング速度を変化させる添加物(ドーパント)はフッ素
(F)である。SiO2の原料としてはTEOS(テト
ラエトキシシラン:Si(OCH2CH 3)4)、Fの原料は4フッ
化炭素(CF4)を用いた。TEOSは常温で液体であ
るが、加熱することにより必要な蒸気圧を得ることがで
き、蒸気として反応容器10内に導入した。CF4はガ
スであるので、そのまま導入した。また、TEOSを分
解しSiO2を得るために、酸素を混合し導入した。こ
れらの原料ガスの導入にあたっては、マスフローコント
ローラ20,21、22でそれぞれの流量を制御した。
1が備えられ、一方の電極30に基板40を設置するこ
とが可能になっている。また、原料は他方の電極31近
傍から反応容器10内に入るようにし、よりプラズマ化
しやすく、面内の均一性も高められるように工夫した。
高周波電源50から電極に供給する高周波(RF)の周
波数は13.4MHzを用いた。基板温度はヒータ60
により加熱し、約400℃とした。本発明の趣旨では、
成膜を行うにあたって、連続して流量比を変えていく必
要がある。そのため、反応容器10内の圧力が絶えず変
化する。これを自動的に補正するために、反応容器10
内の圧力測定値を常時マスフローコントローラ20,2
1,22にフィードバックし、圧力を一定に保ち、安定
した成膜状態が保たれるように工夫した。成膜にあたっ
て基板は特に限定することはないが、Si単結晶ウエ
ハ、ガラス基板などを用いた。
を混合した膜を連続して作製し、そのエッチング速度を
比較した。なお、成膜にあたっては、TEOS流量:7
sccm, O2流量:233sccm, RFパワー:2
50W、基板温度400℃を基本とした。ある一定の厚
さまで、CF4を供給せず、その後50sccmに段階
的に変化させた。すなわち、最初の成膜はSiO2のみ
で膜厚約2μmの膜を堆積し、その後CF4を50sc
cm混合して成膜し、膜厚約4.5μmの膜を得た。な
お、この場合の成膜中の圧力は53.3Paに固定して
成膜した。成膜速度はSiO2のみの場合は54nm/分
でCF4を50sccm混合した場合は41nm/分であ
った。
ッチング速度分布を調べた。エッチングは5%のフッ酸
水溶液を用いた。エッチングに用いた試料は、あらかじ
めマスクをして成膜し、膜のない領域と膜が付いている
領域がある試料を用いた。基板はシリコン単結晶ウエハ
を用いた。エッチングは所定の時間行い、膜が無かった
領域との段差を触針式の段差計で測定し、エッチング後
の膜の厚さを求めた。なお、シリコンはフッ酸には侵さ
れないので、マスクした領域は基準高さとして扱った。
を示す。エッチング時間が短い表面近くではエッチング
速度が250nm/分であるが、エッチングが内部に進
むとエッチング速度は62nm/分に低下し、明らかに
エッチング速度が表面付近と内部とで異なる材料が得ら
れている。
た。実施例1では階段的にエッチング速度が変化する材
料を得たが、本実施例では連続的に変化する材料を作製
した。成膜にあたっては、TEOS流量:7sccm,
O2流量:233sccm, RFパワー:250W、基
板温度400℃を基本とし、CF4の流量は成膜スター
ト時に0sccmで成膜終了時点で50sccmになる
ように連続的に変化させ、約6μmの膜を得た。
グ深さとエッチング時間の関係を求めた。その結果を図
3に示す。膜内部でもエッチング速度が一定であれば直
線であるが、明らかに曲線となり、傾斜的にエッチング
速度が変化していることを示している。以上のように、
エッチング速度が傾斜的に変化する材料が得られること
がわかった。
材料の作製から加工に至る工程の流れ図を図4に示す。
実施例1と同様の、階段型の膜構成であるが、成膜初期
にフッ素をドープし、成膜後半にはSiO2のみの膜を
作製した。すなわち、基板42近傍ではエッチング速度
が速く、表面44近傍はそれに比較してエッチング速度
が遅い傾斜材料を作製した。このような傾斜材料膜80
の表面に金属Cr膜82をスパッタリング法で成膜し、
さらにホトレジスト84を塗布した後、レーザ露光装置
で露光を行うことにより、ホトレジスト84に格子状の
パターン90を形成した。さらに、レジストをマスクと
して、Cr膜82をエッチングし、格子状のパターンで
膜面が露出するようにした。この膜を、リアクテイブ・
イオン・エッチング(反応性イオンエッチング=RI
E)装置でエッチングを行い、開口部92を掘り下げ
た。この状態で傾斜材料膜80をフッ酸によってエッチ
ングし、最後にCr膜82を除去した。
写真を図5に示す。上に傘がついた3次元形状が作製で
きた。これは、上の部分がエッチング速度が遅く、下の
部分がエッチング速度が速いために形成されたものであ
る。ここでは極端な場合を示したが、ドープの仕方によ
り、任意の側面形状が得られることがわかる。本実施例
では、数μmの範囲に限定したが、その厚さは本質的な
問題ではなく、厚い膜でも適用が可能である。
り3次元形状を任意に作製することのできる材料を容易
に得ることができる。すなわち、本発明の趣旨に則り、
エッチング速度を材料の深さ方向に変えた傾斜材料を創
製することにより、従来の等方的な材料や結晶材料の範
囲を超えて加工形状を制御することが可能となる。
係を示す図である。
の関係を示す図である。
る。
子顕微鏡写真である。
Claims (6)
- 【請求項1】特定の化学物質によるエッチング速度が、
最表面から内部に向かって連続的あるいは段階的に変化
していることを特徴とする傾斜材料。 - 【請求項2】主体となる材料に添加した少なくとも一種
類の添加物の濃度を、前記主体となる材料の最表面から
内部へ向かって連続的あるいは段階的に変化させたこと
を特徴とする請求項1に記載の傾斜材料。 - 【請求項3】前記主体となる材料が、SiO2を主成分
とするガラス材料であり、前記添加物がフッ素であり、
前記エッチングに用いる化学物質がフッ酸水溶液である
ことを特徴とする請求項1または2に記載の傾斜材料。 - 【請求項4】基板上に主体となる材料からなる薄膜を形
成する過程で添加物を加えることを特徴とする、特定の
化学物質によるエッチング速度が最表面から内部に向か
って連続的あるいは段階的に変化している傾斜材料の合
成方法。 - 【請求項5】化学気相成長法において、成長槽内に供給
するSiO2原料ガスの流量に対するフッ素原料ガスの
流量の比を経時的に変化させることにより請求項3に記
載の傾斜材料の合成方法。 - 【請求項6】請求項1に記載の傾斜材料の表面の一部を
エッチングに用いる特定の化学物質に対して化学的耐性
のあるマスクで覆った後、前記化学物質によりエッチン
グを行うことを特徴とする前記傾斜材料の加工方法。
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004078667A1 (ja) * | 2003-03-03 | 2004-09-16 | Olympus Corporation | ガラス基材の加工方法、加工ガラス製品及び応力印加装置 |
| JP2017197789A (ja) * | 2016-04-25 | 2017-11-02 | Sppテクノロジーズ株式会社 | シリコン酸化膜の製造方法及びシリコン酸化膜 |
| JP2024050384A (ja) * | 2022-09-29 | 2024-04-10 | 采▲ぎょく▼科技股▲ふん▼有限公司 | 格子装置の形成方法 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1329432A1 (en) * | 2002-01-18 | 2003-07-23 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Method for producing aspherical structure, and aspherical lens array molding tool and aspherical lens array produced by the same method |
| US8481417B2 (en) | 2007-08-03 | 2013-07-09 | Micron Technology, Inc. | Semiconductor structures including tight pitch contacts and methods to form same |
| US7723240B2 (en) * | 2008-05-15 | 2010-05-25 | Macronix International Co., Ltd. | Methods of low temperature oxidation |
| US20110223385A1 (en) * | 2010-03-15 | 2011-09-15 | Ming Liang Shiao | Roofing granules with high solar reflectance, roofing products with high solar reflectance, and process for preparing same |
| US8673427B2 (en) | 2011-08-18 | 2014-03-18 | Certainteed Corporation | System, method and apparatus for increasing average reflectance of a roofing product for sloped roof |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63131542A (ja) * | 1986-11-20 | 1988-06-03 | Nec Kansai Ltd | 半導体装置の製造方法 |
| JPH10335322A (ja) * | 1997-06-03 | 1998-12-18 | Nec Corp | 絶縁膜の形成方法 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01232744A (ja) * | 1988-03-14 | 1989-09-18 | Matsushita Electron Corp | 半導体装置の製造方法 |
| US5200024A (en) * | 1990-02-28 | 1993-04-06 | At&T Bell Laboratories | Wet chemical etching technique for optical fibers |
| US5357165A (en) * | 1990-09-13 | 1994-10-18 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Glass front-panel |
| JP3180921B2 (ja) | 1991-07-11 | 2001-07-03 | トヨタ自動車株式会社 | アルコール系燃料を使用する内燃機関用のシリンダ |
| JPH05345977A (ja) | 1991-09-12 | 1993-12-27 | Toshio Hirai | 傾斜機能材料の製造方法及び製造装置 |
| US5811191A (en) | 1994-12-27 | 1998-09-22 | Ppg Industries, Inc. | Multilayer antireflective coating with a graded base layer |
| JPH11217237A (ja) * | 1996-03-25 | 1999-08-10 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | レーザ加工用ガラス基材及びレーザ加工方法 |
| JP2873937B2 (ja) * | 1996-05-24 | 1999-03-24 | 工業技術院長 | ガラスの光微細加工方法 |
| TW335511B (en) * | 1996-08-02 | 1998-07-01 | Applied Materials Inc | Stress control by fluorination of silica film |
| JPH10154712A (ja) * | 1996-11-25 | 1998-06-09 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の製造方法 |
| KR100236970B1 (ko) * | 1997-08-13 | 2000-01-15 | 정선종 | 완만한 경사를 갖는 산화막 패턴 형성을 위한 반도체 소자제조 방법 |
| JPH11123771A (ja) | 1997-10-22 | 1999-05-11 | Micro Opt:Kk | 平板型マイクロレンズアレイ製造用スタンパ及び平板型マイクロレンズアレイの製造方法 |
-
2000
- 2000-07-18 JP JP2000216824A patent/JP2002030440A/ja active Pending
-
2001
- 2001-07-16 EP EP01948029A patent/EP1306464A4/en not_active Withdrawn
- 2001-07-16 WO PCT/JP2001/006138 patent/WO2002006560A1/ja not_active Ceased
- 2001-07-16 US US10/333,206 patent/US6984436B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63131542A (ja) * | 1986-11-20 | 1988-06-03 | Nec Kansai Ltd | 半導体装置の製造方法 |
| JPH10335322A (ja) * | 1997-06-03 | 1998-12-18 | Nec Corp | 絶縁膜の形成方法 |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004078667A1 (ja) * | 2003-03-03 | 2004-09-16 | Olympus Corporation | ガラス基材の加工方法、加工ガラス製品及び応力印加装置 |
| JPWO2004078667A1 (ja) * | 2003-03-03 | 2006-06-08 | オリンパス株式会社 | ガラス基材の加工方法、加工ガラス製品及び応力印加装置 |
| US7354526B2 (en) | 2003-03-03 | 2008-04-08 | Olympus Corporation | Processing method for glass substrate, processed glass product and stress applying apparatus |
| JP2017197789A (ja) * | 2016-04-25 | 2017-11-02 | Sppテクノロジーズ株式会社 | シリコン酸化膜の製造方法及びシリコン酸化膜 |
| JP2024050384A (ja) * | 2022-09-29 | 2024-04-10 | 采▲ぎょく▼科技股▲ふん▼有限公司 | 格子装置の形成方法 |
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