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JP2002028568A - 転写ピン、コレット、およびこれらを用いたダイボンダ - Google Patents

転写ピン、コレット、およびこれらを用いたダイボンダ

Info

Publication number
JP2002028568A
JP2002028568A JP2000215712A JP2000215712A JP2002028568A JP 2002028568 A JP2002028568 A JP 2002028568A JP 2000215712 A JP2000215712 A JP 2000215712A JP 2000215712 A JP2000215712 A JP 2000215712A JP 2002028568 A JP2002028568 A JP 2002028568A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
adhesive
collet
suction
semiconductor chip
transfer pin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000215712A
Other languages
English (en)
Inventor
Masataka Tejima
聖貴 手島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koha Co Ltd
Original Assignee
Koha Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koha Co Ltd filed Critical Koha Co Ltd
Priority to JP2000215712A priority Critical patent/JP2002028568A/ja
Publication of JP2002028568A publication Critical patent/JP2002028568A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • H10W72/0113

Landscapes

  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 接着剤の効率的な転写を行うことができ、半
導体チップが基板にフリップチップボンディングされた
半導体装置を歩留まりを低下させることなく移送するこ
とが可能な転写ピン、コレットおよびダイボンダを提供
する。 【解決手段】 転写ピン9の先端部は、収容皿3内の接
着剤2の表面から沈ませる深さより長い高さを有する2
つの凸部を有するので、1回の転写動作で接着剤2を2
個所に転写できる。コレット10の吸引孔は、半導体チ
ップより大きい直径を有するので、ピックアップ時およ
び吸着後の移動停止時に、半導体チップをサブマウント
基板に接続しているバンプに加わる負荷を低減すること
ができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置を回路
基板上に実装するための転写ピン、コレット、およびこ
れらを用いたダイスボンダに関し、特に、接着剤の効率
的な転写を行うことができ、半導体チップが基板上にフ
リップチップボンディングされた半導体装置を歩留まり
を低下させることなく移送することが可能な転写ピン、
コレット、およびこれらを用いたダイボンダに関する。
【0002】
【従来の技術】LEDを含む半導体チップ(ベアチップ
状態のもの)は、少なくとも正負2つ以上の電極を有し
ており、そのうち一極が底面にあり、他の極は上面にあ
るものや、底面には電極がなく、上面にのみ電極を有す
るものが一般的であった。
【0003】図6は、このような半導体チップを基板上
に実装する従来のダイボンダを示す。このダイボンダ1
は、接着剤2を収容する収容皿3と、回路基板4をXお
よびY方向に移動可能に支持する基板支持部5と、複数
の半導体チップ16が粘着シートを介して載置されたト
レー7と、トレー7をXおよびY方向に移動可能に支持
するトレー支持部8と、収容皿3内の接着剤2を回路基
板4上のボンディング位置4aに転写塗布する転写ピン
9と、トレー7上の半導体チップ16を吸着して回路基
板4上の接着剤2が塗布されたボンディング位置4aに
移送して実装するコレット10と、転写ピン9およびコ
レット10を支持するアーム11と、アーム11をX方
向に移動させるXステージ12と、アーム11をZ方向
に移動させるZステージ13とを有する。
【0004】図7は、転写ピン9を示す。転写ピン9
は、先端が略半球状の凸部90aを有する先端部9a
と、装着部9bとを備え、アーム11に取り付けられた
ピンホルダ11aの保持部110bに着脱可能となって
いる。
【0005】図8は、コレット10を示す。コレット1
0は、同図(a)に示すように、先端に設けられた平坦
な吸着面10aと、装着部10cとを備え、アーム11
に取り付けられたコレットホルダ11bの保持部110
bに着脱可能となっている。また、コレット10は、先
端の吸着面10aから後端面10dに渡って吸引孔10
b,10b’が形成されている。吸着面10a側の吸引
孔10bは、半導体チップ16のサイズSよりも小さい
外径Dを有し、後端面10d側の吸引孔10bは、先端
側の吸引孔10bの外径Dより大きい外径D’を有す
る。なお、同図(b)に示すコレットも従来より用いら
れている。このコレット10は、先端に角錐状の吸着面
10aを有し、やはり半導体チップ16のサイズSより
も小さい径の吸引孔10bから真空引きして半導体チッ
プ16を吸着するようになっている。
【0006】図9は、ダイボンダ1の動作を示す。ま
ず、同図(a)に示すように、Xステージ12によって
アーム11をX方向に沿って図6において左側に移動さ
せ、Zステージ13によってアーム11をZ方向に沿っ
て下降させ、転写ピン9の先端部9aの凸部90aを収
容皿3内の接着剤2に沈ませる。次に、同図(b)に示
すように、Zステージ13によってアーム11をZ方向
に沿って上昇させ、Xステージ12によってアーム11
をX方向に沿って図6において右側に移動させ、Zステ
ージ13によってアーム11をZ方向に沿って下降さ
せ、転写ピン9の凸部90aに付着した接着剤2を回路
基板4のボンディング位置4aに転写するとともに、同
図(c)に示すように、コレット10の吸着面10aに
半導体チップ16を吸着する。次に、Zステージ13に
よってアーム11をZ方向に沿って上昇させ、Xステー
ジ12によってアーム11をX方向に沿って図6におい
て左側へ移動させ、Zステージ13によってアーム11
をZ方向に沿って下降させ、同図(d)に示すように、
コレット10の吸着面10aに吸着した半導体チップ1
6を接着剤2が塗布された回路基板4のボンディング位
置4aに移送し半導体チップ16を回路基板4に実装す
る。このとき、転写ピン9の先端部9aの凸部90a
は、収容皿3内の接着剤2に沈み込まれているので、上
記動作を繰り返すことにより接着剤2の転写と半導体チ
ップ16の移送・実装が並行して行われる。これによ
り、複数の半導体チップ16を回路基板4上に効率良く
実装することができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のダイボ
ンダによると、転写ピンは1回の転写動作で1個所にし
か接着剤を転写できないため、多数の半導体チップを実
装する場合は、効率的な転写が行えない。また、コレッ
トは半導体チップ自体を吸着しているため、半導体チッ
プよりサイズの大きいサブマウント基板に金,はんだ等
からなるバンプによって予め半導体チップがフリップチ
ップボンディングされた半導体装置を吸着対象とする場
合は、ピックアップ時にコレットが半導体チップに衝突
したり、粘着シートから半導体装置を引き上げるとき
に、バンプに負荷が加わり、さらに吸着後の移動停止時
に発生するサブマウント基板の慣性力によってもバンプ
に負荷が加わるため、バンプに亀裂等が発生して歩留ま
りの低下を招くおそれがある。
【0008】従って、本発明の目的は、接着剤の効率的
な転写を行うことができる転写ピンを提供することにあ
る。また、本発明の他の目的は、半導体チップが基板上
にフリップチップボンディングされた半導体装置を歩留
まりを低下させることなく移送することが可能なコレッ
トを提供することにある。また、本発明の他の目的は、
接着剤の効率的な転写を行うことができ、半導体チップ
が基板上にフリップチップボンディングされた半導体装
置を歩留まりを低下させることなく移送することが可能
なダイボンダを提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するため、接着剤を先端部に付着させ所定の位置に転
写する転写ピンにおいて、前記先端部は、前記接着剤の
表面から沈ませる深さより長い高さを有し、付着された
前記接着剤を複数の前記位置に転写する複数の凸部を備
えたことを特徴とする転写ピンを提供する。上記構成に
よれば、1回の転写動作で接着剤が複数の個所に転写さ
れる。
【0010】本発明は、上記目的を達成するため、半導
体チップが基板上にフリップチップボンディングされた
半導体装置を吸着して移送するコレットにおいて、前記
半導体装置を吸着したときに前記基板に当接する吸着面
と、前記吸着面に設けられた吸引孔とを備え、前記吸引
孔の少なくとも前記吸着面近傍の部分は、前記半導体装
置を吸着したとき、前記半導体チップを収容し得る大き
さを有することを特徴とするコレットを提供する。上記
構成によれば、吸引孔の少なくとも吸着面近傍の部分
が、半導体チップを収容し得る大きさを有することによ
り、基板が直接吸引される。
【0011】本発明は、上記目的を達成するため、接着
剤を転写ピンの先端部に付着させ回路基板上のボンディ
ング位置に転写し、半導体チップがサブマウント基板上
にフリップチップボンディングされた半導体装置をコレ
ットによって吸着して前記回路基板上の前記接着剤が転
写された前記ボンディング位置に移送して実装するダイ
ボンダにおいて、前記転写ピンの前記先端部は、前記接
着剤の表面から沈ませる深さより長い高さを有し、付着
された前記接着剤を複数の前記位置に転写する複数の凸
部を備え、前記コレットは、前記半導体装置を吸着した
ときに前記基板に当接する吸着面と、前記吸着面に設け
られた吸引孔とを備え、前記吸引孔の少なくとも前記吸
着面近傍の部分は、前記半導体装置を吸着したとき、前
記半導体チップを収容し得る大きさを有することを特徴
とするダイボンダを提供する。
【0012】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の実施の形態に係
るダイボンダを示す。このダイボンダ1は、Agペース
ト等の導電性の接着剤2を収容する収容皿3と、回路基
板4をXおよびY方向に移動可能に支持する基板支持部
5と、複数の半導体装置としてのLED光源6が載置さ
れたトレー7と、トレー7をXおよびY方向に移動可能
に支持するトレー支持部8と、収容皿3内の接着剤2を
回路基板4上の2つのボンディング位置4aに同時に転
写塗布する転写ピン9と、トレー7上のLED光源6を
吸着して回路基板4上の接着剤2が塗布された2つのボ
ンディング位置4aに移送して実装するコレット10
と、転写ピン9およびコレット10を支持するアーム1
1と、アーム11をX方向に移動させるXステージ12
と、アーム11をZ方向に移動させるZステージ13
と、このダイボンダ1の各部を制御する制御部15とを
有する。
【0013】図2(a),(b)は、転写ピン9を示
す。転写ピン9は、先端が断面略半円状の2つの凸部9
0aを有する先端部9aと、装着部9bとを備え、アー
ム11に取り付けられたピンホルダ11aの保持部11
0bに着脱可能となっている。また、転写ピン9は、2
つの凸部90aの間に凹部90bが形成されており、凹
部90bから2つの凸部90aの高さLは、収容皿3内
の接着剤2の表面から沈ませる深さより長い高さを有す
る。また、2つの凸部90aは、例えば、半径R0.2
mm、幅d1.2mm、ピッチP1.2mmを有する。
なお、凸部90aの形状は、接着剤2を塗布する範囲に
応じた形状にしてよく、例えば、略半球状にしてもよ
い。また、凸部90aの数は、必要に応じて3つ以上で
もよい。
【0014】図3(a),(b)は、コレット10を示
す。コレット10は、同図(a)に示すように、先端に
設けられた平坦な吸着面10aと、装着部10cとを備
え、アーム11に取り付けてられたコレットホルダ11
bの保持部110bに着脱可能となっている。また、コ
レット10は、吸着面10aから後端面10dに渡って
同一の直径Dを有する吸引孔10bが形成されており、
この吸引孔10bは、コレットホルダ11bを介して真
空ポンプ等の真空発生源に連通している。吸引孔10b
の直径Dは、LEDチップ14のサイズSよりも大きい
直径を有する。本実施の形態の場合、LEDチップ14
のサイズSは0.34mmであり、吸引孔10bの直径
Dは1.0mmである。なお、吸引孔10bは、本実施
の形態では、円柱状としたが、角柱状としてもよい。ま
た、吸着面10aは、図8(b)に示すように角錐状あ
るいは円錐状にしてもよい。
【0015】図4は、LED光源6を示す。このLED
光源6は、サブマウント基板60と、サブマウント基板
60にFCB実装されたLEDチップ14とからなる。
【0016】LEDチップ14は、透明の絶縁体である
サファイア基板上に窒化ガリウム等の半導体層を積層さ
せ、図2に示すように、チップ14の下面14bとなる
半導体層の表面に正電極140aと負電極140bを形
成したものであり、チップ14の上面14aとなるサフ
ァイア基板の底面が光出射面となる。本実施の形態で
は、例えば、GaN(窒化ガリウム)系の半導体を用い
る。
【0017】サブマウント基板60は、基材61を有
し、この基材61の表面61aに、同図(a)に示すよ
うに、正リード62aおよび負リード62bを形成し、
基材61の裏面61bに、同図(c)に示すように、正
リード63aおよび負リード63bを形成し、表面61
aの正リード62aおよび負リード62bと裏面61b
の正リード63aおよび負リード63bとをスルーホー
ルめっき64a,64bによって各々接続し、表面61
aの正リード62aに正極側であることを表示する正極
性表示部65を延在して形成している。また、表面61
aの正リード62aおよび負リード62bには、表面6
1aのLEDチップ14が搭載される領域以外の領域に
電圧を印加してLEDチップ14の特性を検査するため
の一対の三角形の検査用領域68a,68bを有する。
これらのリード62a,62b,63a,63b、およ
び正極性表示部65は、エッチング法等の通常の半導体
製造技術における電極配線技術を使用して形成され、例
えば、Cu+Ni等の下地金属層にAu等の金属めっき
層を積層して形成される。また、基材61の表面61a
の正リード62aおよび負リード62bの対角線上に、
一対のAuからなる位置認識用メッキバンプ66a,6
6bを形成し、表面61aの正リード62aおよび負リ
ード62bにAuからなる搭載用メッキバンプ67a,
67bを各々形成している。これらのメッキバンプ66
a,66b,67a,67bは、例えば、ホトリソグラ
フィ法等によって一括形成される。なお、表面61aの
LEDチップ14が搭載される領域以外の領域は、一対
の搭載用メッキバンプ67a,67bを介してLEDチ
ップ14が搭載されたサブマウント基板60をハンドリ
ングするための吸着面となる。
【0018】基材61は、LEDチップ14の実装の際
に、変形や強度低下を起こさないように耐熱性と低膨張
係数を有し、さらに、LEDチップ14の発光波長(例
えば、紫外線の波長)に対して高い光反射率と低い光吸
収率を有する材料が好ましい。このような材料として、
例えば、紫外線に対して42%程度の高い光反射率を有
するガラスエポキシ樹脂等を用いることができる。この
他に、要求される特性に応じて他の樹脂やセラミックス
等の絶縁体を用いてもよい。
【0019】図5は、本実施の形態のダイボンダ1の動
作を示す。なお、回路基板4のボンティング位置4aに
は、配線パターンが形成されているものとして説明す
る。まず、同図(a)に示すように、制御部15の制御
の下に、Xステージ12によってアーム11をX方向に
沿って図1において左側に移動させ、Zステージ13に
よってアーム11をZ方向に沿って下降させ、転写ピン
9の先端部9aの2つの凸部90aを凸部90aの高さ
Lより浅く収容皿3内の接着剤2に沈ませる。次に、同
図(b)に示すように、制御部15の制御の下に、Zス
テージ13によってアーム11をZ方向に沿って上昇さ
せ、Xステージ12によってアーム11をX方向に沿っ
て図1において右側に移動させ、Zステージ13によっ
てアーム11をZ方向に沿って下降させ、転写ピン9の
2つの凸部90aに付着した接着剤2を回路基板4の2
つのボンディング位置4aに同時に転写するとともに、
同図(c)に示すように、真空発生源による真空引きに
よってコレット10の吸着面10aにLED光源6を吸
着する。次に、制御部15の制御の下に、Zステージ1
3によってアーム11をZ方向に沿って上昇させ、Xス
テージ12によってアーム11をX方向に沿って図1に
おいて左側へ移動させ、Zステージ13によってアーム
11をZ方向に沿って下降させ、同図(d)に示すよう
に、コレット10の吸着面10aに吸着したLED光源
6を接着剤2が塗布された回路基板4のボンディング位
置4aに移送しLED光源6を回路基板4に実装する。
すなわち、サブマウント基板60の裏面61bに形成さ
れた正リード63a,負リード63bが導線性の接着剤
2を介して回路基板4上の配線パターンに接続される。
このとき、転写ピン9の先端部9aの凸部90aは、収
容皿3内の接着剤2に沈み込んでいるので、上記動作を
繰り返すことにより接着剤2の転写とLED光源6の吸
引・実装が並行して行われる。制御部15は、次に実装
すべきボンディング位置が実装位置にくるように基板支
持部5を制御するとともに、次に吸着すべきLED光源
6が吸着位置にくるようにトレー支持部8を制御する。
これにより、複数のLED光源6を回路基板4上に効率
良く実装することができる。
【0020】上記実施の形態によれば、1回の転写動作
で接着剤2を2つの個所に転写できるので、接着剤2の
効率的な転写を行うことができる。また、吸引孔10b
の直径Dを半導体チップ14のサイズSより大きくする
ことにより、サブマウント基板30を直接吸引できるの
で、ピックアップ時および吸着後の移動停止時にバンプ
67a,67bに加わる負荷を低減することができ、こ
の結果、半導体チップ14がサブマウント基板60上に
フリップチップボンディングされたLED光源6を歩留
まりを低下させることなく移送することができる。ま
た、転写ピンとコレットを本実施の形態のものに交換す
るだけで、従来のダイボンダを使用することが可能とな
る。
【0021】
【発明の効果】以上説明した通り、本発明によれば、1
回の転写動作で接着剤が複数の個所に転写されるので、
接着剤の効率的な転写を行うことができる。また、吸引
孔の少なくとも吸着面近傍の部分が、半導体チップを収
容し得る大きさを有することにより、基板を直接吸引で
きるので、ピックアップ時および吸着後の移動停止時に
バンプに加わる負荷を低減することができ、この結果、
半導体チップが基板上にフリップチップボンディングさ
れた半導体装置を歩留まりを低下させることなく移送す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係るダイボンダの全体構
成を示す図である。
【図2】(a)は本実施の形態の転写ピンを示す図、
(b)は凸部側から見た図である。
【図3】(a)は本実施の形態のコレットの縦断面図、
(b)は(a)におけるA−A線断面図である。
【図4】(a)は本実施の形態のLED光源を示す図、
(b)は(a)におけるB−B線断面図、(c)は底面
図である。
【図5】(a)〜(d)は本実施の形態のダイボンダの
動作を示す図である。
【図6】従来のダイボンダの全体構成を示す図である。
【図7】従来の転写ピンを示す図である。
【図8】(a)は従来のコレットを示す図、(b)は他
の従来のコレットを示す図である。
【図9】(a)〜(d)は従来のダイボンダの動作を示
す図である。
【符号の説明】
1 ダイボンダ 2 接着剤 3 収容皿 4 回路基板 4a ボンディング位置 5 基板支持部 6 LED光源 7 トレー 8 トレー支持部 9 転写ピン 9a 先端部 9b 装着部 10 コレット 10a 吸着面 10b,10b’ 吸引孔 10c 装着部 10d 後端面 11 アーム 11a ピンホルダ 11b コレットホルダ 12 Xステージ 13 Zステージ 14 LEDチップ 14a 上面 14b 下面 16 半導体チップ 60 サブマウント基板 61 基材 61a 表面 61b 裏面 62a 正リード 62b 負リード 63a 正リード 63b 負リード 65 正極性表示部 66a,66b 位置認識用メッキバンプ 67a,67b 搭載用メッキバンプ 68a,68b 検査用領域 110a,110b 保持部 140a 正電極 140b 負電極 D,D’ 直径 L 長さ P ピッチ S サイズ W 幅

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】接着剤を先端部に付着させ所定の位置に転
    写する転写ピンにおいて、 前記先端部は、前記接着剤の表面から沈ませる深さより
    長い高さを有し、付着された前記接着剤を複数の前記位
    置に転写する複数の凸部を備えたことを特徴とする転写
    ピン。
  2. 【請求項2】前記凸部は、断面略半円状を有することを
    特徴とする請求項1記載の転写ピン。
  3. 【請求項3】半導体チップが基板上にフリップチップボ
    ンディングされた半導体装置を吸着して移送するコレッ
    トにおいて、 前記半導体装置を吸着したときに前記基板に当接する吸
    着面と、 前記吸着面に設けられた吸引孔とを備え、 前記吸引孔の少なくとも前記吸着面近傍の部分は、前記
    半導体装置を吸着したとき、前記半導体チップを収容し
    得る大きさを有することを特徴とするコレット。
  4. 【請求項4】前記吸引孔は、後端面から前記吸着面に渡
    って同一の直径を有することを特徴とする請求項3記載
    のコレット。
  5. 【請求項5】接着剤を転写ピンの先端部に付着させ回路
    基板上のボンディング位置に転写し、半導体チップがサ
    ブマウント基板上にフリップチップボンディングされた
    半導体装置をコレットによって吸着して前記回路基板上
    の前記接着剤が転写された前記ボンディング位置に移送
    して実装するダイボンダにおいて、 前記転写ピンの前記先端部は、前記接着剤の表面から沈
    ませる深さより長い高さを有し、付着された前記接着剤
    を複数の前記位置に転写する複数の凸部を備え、 前記コレットは、前記半導体装置を吸着したときに前記
    基板に当接する吸着面と、前記吸着面に設けられた吸引
    孔とを備え、前記吸引孔の少なくとも前記吸着面近傍の
    部分は、前記半導体装置を吸着したとき、前記半導体チ
    ップを収容し得る大きさを有することを特徴とするダイ
    ボンダ。
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