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JP2002016041A - 液処理装置 - Google Patents

液処理装置

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Publication number
JP2002016041A
JP2002016041A JP2000198645A JP2000198645A JP2002016041A JP 2002016041 A JP2002016041 A JP 2002016041A JP 2000198645 A JP2000198645 A JP 2000198645A JP 2000198645 A JP2000198645 A JP 2000198645A JP 2002016041 A JP2002016041 A JP 2002016041A
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JP
Japan
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wafer
substrate
processing
liquid
chamber
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JP2000198645A
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English (en)
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Yuji Kamikawa
裕二 上川
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Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
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Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
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Priority to KR1020010036512A priority patent/KR100797435B1/ko
Priority to US09/888,380 priority patent/US6776173B2/en
Priority to TW090115801A priority patent/TW507282B/zh
Priority to EP01114880A priority patent/EP1168421B1/en
Priority to AT01114880T priority patent/ATE459097T1/de
Priority to DE60141374T priority patent/DE60141374D1/de
Priority to CNB011328193A priority patent/CN1290161C/zh
Priority to CNB2005101084715A priority patent/CN100411129C/zh
Priority to US09/933,671 priority patent/US6495805B2/en
Publication of JP2002016041A publication Critical patent/JP2002016041A/ja
Priority to US10/851,335 priority patent/US7284560B2/en
Priority to KR1020070056885A priority patent/KR100825935B1/ko
Application granted granted Critical
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  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板の洗浄等の液処理を効率的に行うことが
可能であり、また、複数枚の基板の処理にも容易に対処
可能であり、さらに、特に大口径の基板の液処理を行う
にあたって生ずる処理装置の大型化を抑制したコンパク
トな液処理装置を提供する。 【解決手段】 基板に所定の処理液を供給して液処理を
行う液処理装置1は、基板(ウエハW)を保持する治具
33が配設されたテーブル31に、ウエハWが面内回転
するようにテーブル31を回転させるモータ32が取り
付けられてなるテーブル回転機構8と、治具33に保持
されたウエハWを垂直状態または水平状態で保持可能な
ようにテーブル回転機構8の姿勢変換を行う姿勢変換機
構9と、テーブル31を収容し、治具33に保持された
ウエハWに所定の液処理を施す処理チャンバ51と、テ
ーブル31が処理チャンバ51に収容されるようにテー
ブル回転機構8と姿勢変換機構9をともにスライドさせ
る移動機構(X軸駆動機構)10と、ウエハWを収納可
能なキャリアCとテーブル31との間でウエハWを水平
状態で搬送するウエハ搬送機構7とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハやL
CD基板等の各種基板に対して所定の液処理や乾燥処理
を施すために用いられる液処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、半導体デバイスの製造工程にお
いては、基板としての半導体ウエハ(ウエハ)を所定の
薬液や純水等の洗浄液によって洗浄し、ウエハからパー
ティクル、有機汚染物、金属不純物等のコンタミネーシ
ョンを除去するウエハ洗浄装置や、Nガス等の不活性
ガスや揮発性および親水性の高いIPA蒸気等によって
ウエハから液滴を取り除いてウエハを乾燥させるウエハ
乾燥装置が使用されている。このような洗浄装置や乾燥
装置としては、複数枚のウエハをウエハ洗浄室やウエハ
乾燥室内に収納してバッチ式に処理するものや、1枚ず
つウエハを処理する枚葉式が知られている。
【0003】このうち枚葉式の洗浄装置としては、例え
ば、ウエハをその周縁部で保持して水平面内で回転させ
つつウエハの表裏面にそれぞれ処理液を吐出し、また、
ブラシ等でウエハの表面を走査するスクラバーと呼ばれ
るものが知られている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このようなウエハを水
平保持して洗浄処理を行った場合には、洗浄処理後にウ
エハを回転させてウエハに付着した処理液を振り切る
際、液切れの状態が必ずしもよいものではないという問
題があった。また、雰囲気制御のために密閉構造とした
場合には、蓋体の開閉機構とウエハの搬送機構の制御等
の制御系が複雑となり、また、一般的に排気量が多くな
ることから、使用する薬液の温度が下がりやすく、高温
の薬液を用いることが困難であった。
【0005】また、近年、半導体デバイスの微細高集積
化や量産化に伴って、ウエハの大きさについては、20
0mmφから300mmφへの大口径化が進んでいる。
従って、従来の洗浄装置の構造をそのまま300mmφ
の大口径ウエハの洗浄装置に適合させると、装置の大型
化は免れないため、ウエハの搬送形態や処理形態を改善
することによって処理装置の大型化を回避し、または大
型化の程度を最小限に抑制することに対する要望は大き
いものと考えられる。
【0006】また、洗浄処理と乾燥処理とを同じ処理装
置で行うことが可能であれば、より好ましいと考えられ
る。加えて、ウエハを水平に載置する場合には、数枚、
例えば、2枚〜5枚といった複数枚のウエハを複数段に
重ねて処理を行うことは困難であるが、ウエハを立設状
態、例えば垂直状態に保持できれば、このような複数枚
の処理も容易となり、処理スピードを上げることが可能
となる。
【0007】本発明は、このような従来技術の問題点に
鑑みてなされたものであり、基板の洗浄等の液処理を効
率的に行うことが可能であり、また、複数枚の基板の処
理にも容易に対処可能であり、さらに、特に大口径の基
板の液処理を行うために生ずる処理装置の大型化を抑制
したコンパクトな液処理装置を提供することを目的とす
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明によれば、基板に所定の処理液を供給して液
処理を行う液処理装置であって、前記基板を1枚または
数枚保持可能な治具が配設されたテーブルに、前記基板
が面内回転するように前記テーブルを回転させる駆動機
構が取り付けられてなるテーブル回転機構と、前記基板
を姿勢変換する機構と、前記治具に保持された立設状態
の基板に所定の液処理を施す処理チャンバと、前記テー
ブルが前記処理チャンバに収容されるように、相対的に
前記処理チャンバと前記テーブルの位置を調節可能な移
動機構と、前記基板を収納するキャリアと前記テーブル
との間で前記基板の搬送を行う基板搬送機構と、を具備
することを特徴とする液処理装置、が提供される。
【0009】また、本発明によれば、基板に所定の処理
液を供給して液処理を行う液処理装置であって、前記基
板を1枚または数枚保持可能な治具が配設されたテーブ
ルに、前記基板が面内回転するように前記テーブルを回
転させる駆動機構が取り付けられてなるテーブル回転機
構と、前記治具に保持された基板を立設状態または水平
状態で保持可能なように前記テーブル回転機構の姿勢変
換を行う姿勢変換機構と、前記テーブルを収容し、前記
治具に保持された基板に所定の液処理を施す処理チャン
バと、前記テーブルが前記処理チャンバに収容されるよ
うに前記テーブル回転機構と前記姿勢変換機構をともに
スライドさせる移動機構と、前記基板を収納可能なキャ
リアと前記テーブルとの間で前記基板を水平状態で搬送
する基板搬送機構と、を具備することを特徴とする液処
理装置、が提供される。
【0010】これら本発明の液処理装置は、基板が収容
されたキャリアと基板に液処理を施す処理チャンバの間
の搬送距離が短く、装置がコンパクト化されている。ま
た、基板の移し替えの回数が少なく、従って、パーティ
クル等の発生が抑制される構造となっている。さらに、
基板を立設状態、例えば垂直状態に保持して液処理が行
われることから、基板に付着した処理液の液切りが容易
となり、しかも、基板の表裏面のいずれについても均一
な液処理が可能であるという特徴を有する。なお、本発
明の液処理装置は、処理チャンバ内の雰囲気制御が容易
であるから、乾燥処理も容易に行うことができる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明の実施の形態について具体的に説明する。本発明の液
処理装置は、各種基板を被処理体とする洗浄処理装置、
乾燥処理装置等に適用できるが、本実施形態では、半導
体ウエハ(ウエハ)の搬入、洗浄、乾燥、搬出を一貫し
て行うように構成された洗浄処理装置として用いた場合
について説明する。
【0012】図1は本実施形態に係る枚葉式の洗浄処理
装置1の斜視図であり、図2はその側面図、図3はその
平面図である。これら図1から図3に示されるように、
洗浄処理装置1は、ウエハWを複数枚、例えば25枚ほ
ど水平状態で収納可能なキャリア(収納容器)Cを載置
するためのキャリアステージ2a・2bと、ウエハWに
洗浄処理を施す洗浄処理ユニット3a〜3cと、キャリ
アステージ2a・2bと洗浄処理ユニット3a〜3cと
の間に設けられ、ウエハWの搬送を行うウエハ搬送ユニ
ット4、液処理のための薬液を貯蔵等する薬液貯蔵ユニ
ット5a〜5cと、洗浄処理装置1内に配設された各種
の電動駆動機構のための電源ユニット6と、から主に構
成されている。
【0013】キャリアステージ2a・2bはキャリアC
を載置する場所であり、キャリアCは、そのウエハWを
搬入出するための搬入出口がウエハ搬送ユニット4の壁
部11に設けられた窓部12a(キャリアステージ2a
側)・12b(キャリアステージ2b側)に対面するよ
うにして、キャリアステージ2a・2b上に載置され
る。
【0014】壁部11の内側(ウエハ搬送ユニット4
側)には、窓部12a・12bを開閉するシャッターと
キャリアCの搬入出口を開閉する蓋体の開閉を行う蓋体
開閉機構とを有する開閉装置14a(キャリアステージ
2a側)・14b(キャリアステージ2b側)が配設さ
れており、キャリアCをキャリアステージ2a・2bに
載置していない状態では、シャッターを閉じた状態とす
る。一方、ウエハWをキャリアCから搬出する際または
キャリアCへ搬入する際にはシャッターおよびキャリア
Cの蓋体が蓋体開閉機構により開かれた状態とされる。
【0015】ウエハ搬送ユニット4内には、開閉装置1
4a・14bに隣接して、キャリアC内のウエハWの枚
数を計測するための検出センサ機構13a(キャリアス
テージ2a側)・13b(キャリアステージ2b側)が
配設されている。検出センサ機構13a・13bは、例
えば、赤外線センサヘッドをZ方向にスキャンさせなが
ら、ウエハWのY方向端の2箇所でウエハWの枚数を検
査する。
【0016】検出センサ機構13a・13bとしてはま
た、ウエハWの枚数の検査と並行して、ウエハWの収納
状態、例えば、キャリアC内にウエハWが所定のピッチ
で平行に1枚ずつ収納されているかどうか、ウエハWが
段差ずれして斜めに収納されていないかどうか、ウエハ
WがキャリアC内の所定位置から飛び出していないか等
を検出するセンサを具備したものを用いることが、より
好ましい。さらに、ウエハWの収納状態を確認した後
に、同センサを用いてウエハWの枚数を検出するように
してもよい。なお、後述するウエハ搬送機構7に検出セ
ンサ機構を取り付けて、ウエハ搬送機構7とともに移動
可能な構造とすれば、検出センサ機構は1箇所のみの配
設で済ませることが可能である。
【0017】ウエハ搬送ユニット4には、キャリアステ
ージ2a・2bに載置されたキャリアCと後述するテー
ブル31に配設された保持治具33との間でウエハWを
水平状態で搬送するウエハ搬送機構7が配設されてい
る。ウエハ搬送機構7は、未処理のウエハWを搬送する
ための搬送アーム21aと、液処理済みのウエハWを搬
送するための搬送アーム21bを有しており、各搬送ア
ーム21a・21bは、それぞれ1枚のウエハWを搬送
することが可能となっている。
【0018】搬送アーム21a・21bを保持する搬送
アーム保持部22は図示しないX軸駆動機構を内在し、
テーブル23に設けられた溝部またはガイドレール等の
案内機構24に沿って、X方向にスライド可能となって
いる。また、搬送アーム保持部22は、X−Y面内のθ
方向に回転可能に構成されている。このθ方向回転を行
う図示しないθ回転駆動機構は、搬送アーム保持部22
に内在させることが可能であるが、後述するZ軸駆動機
構99やテーブル23もともに回転する構造として設け
ることも可能である。
【0019】このようなX軸駆動機構やθ回転駆動機構
を用いれば、例えば、X軸駆動機構を用いて搬送アーム
21aをキャリアC内へ挿入し、キャリアC内のウエハ
Wを搬出した後、θ回転駆動機構を用いて搬送アーム2
1aの向きを180°回転させてウエハWを洗浄処理ユ
ニット3a側へ向け、洗浄処理ユニット3aに配設され
たテーブル31上の保持治具33にウエハWが保持され
るように再びX軸駆動機構を用いて搬送アーム21aを
挿入し、その後に搬送アーム21aを元の位置に戻すこ
とによって、ウエハWをテーブル31上に搬送すること
や、その逆の動作が可能となる。なお、X軸駆動機構に
代えて、またはX軸駆動機構とともに、搬送アーム21
a・21bが、多関節アーム等の伸縮自在な形態を有し
ていることにより、ウエハWをキャリアCとテーブル3
1との間で搬送することが可能な形態とすることも好ま
しい。
【0020】搬送アーム21a・21bおよび搬送アー
ム保持部22ならびにテーブル23は、Z軸駆動機構9
9によりZ方向(垂直方向)に移動可能となっている。
キャリアC内では、ウエハWは異なる高さ位置に収納さ
れていることから、このZ軸駆動機構99を用いて搬送
アーム21aの高さを所定のウエハWの高さ位置に合わ
せる。例えば、キャリアCから所定位置のウエハWを搬
出する際には、所定のウエハWの下側に搬送アーム21
aを挿入することができるように搬送アーム21aの高
さをZ軸駆動機構99を用いて合わせた後、X軸駆動機
構を動作させて搬送アーム21aをキャリアC内に挿入
し、その後にZ軸駆動機構99により搬送アーム21a
を所定高さほど上昇させて搬送アーム21a上にウエハ
Wを保持し、その状態でX軸駆動機構により搬送アーム
21aを元の位置まで退却させることにより、キャリア
Cから所定のウエハWを搬出することができる。
【0021】搬送アーム21a・21bおよび搬送アー
ム保持部22ならびにテーブル23はまた、Y軸駆動機
構98によりガイドレール97に沿ってY方向に移動可
能となっており、ウエハ搬送機構7は、キャリアステー
ジ2a・2bに載置されたキャリアCにいずれにもアク
セス可能となっている。また、ウエハ搬送機構7は、洗
浄処理ユニット3a〜3cに配設されているテーブル3
1のいずれにもアクセス可能となっている。
【0022】ウエハ搬送ユニット4の天井部分には、フ
ィルタファンユニット28aが配設されており、ウエハ
搬送ユニット4内にパーティクルを除去した空気等が送
風されるようになっている。また、ウエハ搬送ユニット
4と洗浄処理ユニット3a〜3cとの境界を形成する壁
部25には、ウエハWをウエハ搬送機構7と洗浄処理ユ
ニット3a〜3cの各テーブル31との間でのウエハW
の搬送を可能とするために、開閉可能な窓部26a〜2
6cが形成されている。なお、窓部26a〜26cに
は、窓部26a〜26cの開閉を行うシャッター27a
〜27cがウエハ搬送ユニット4側に配設されており、
ウエハ搬送ユニット4と洗浄処理ユニット3a〜3cの
雰囲気が分離できるようになっている。シャッター27
a〜27cは洗浄処理ユニット3a〜3c側に設けるこ
ともできる。
【0023】洗浄処理ユニット3a〜3cは、それぞれ
が隔壁で隔てられた構造となっており、洗浄処理ユニッ
ト3a〜3c間の雰囲気が互いに拡散することのない構
造となっている。これにより、各洗浄処理ユニット3a
〜3c毎に異なる処理液を用いて、所定の液処理を行う
ことが可能である。以下、洗浄処理ユニット3a〜3c
は全て同じ構成を有することから、洗浄処理ユニット3
aを例にその構成について説明する。
【0024】洗浄処理ユニット3aの天井部分にも、フ
ィルタファンユニット28bが配設されており、洗浄処
理ユニット3a内にパーティクルを除去した空気等が送
風されるようになっている。洗浄処理ユニット3aは、
テーブル31にテーブル31を回転させるモータ(駆動
機構)32が軸部材37を介して取り付けられてなるテ
ーブル回転機構8を有する。テーブル31の表面にはウ
エハWを保持するための保持治具33が配設されてお
り、ウエハWはその表裏面がテーブル31の表面と平行
となるようにテーブル31上空に、つまりテーブル31
の表面から浮いた状態で保持治具33に保持される。
【0025】保持治具33は、ウエハWを周縁部で保持
できる構造のものであればよく、例えば、ウエハWを保
持するための溝が形成されたピンを挙げることができ
る。図3ではピン状の保持治具33を4箇所に配設した
場合を示しており、この場合には、ウエハWの搬入出を
可能とすべく、保持治具33の窓部26a側の1箇所に
ついては、例えば、ウエハWの搬入出の際にはウエハW
の移動に支障が生じないように転倒させる機構を有し、
かつ、ウエハWを保持している間はロックが掛かってウ
エハWが保持治具33から飛び出すことを防止する構造
のもの等を用いることができる。
【0026】テーブル31とモータ32を連結する軸部
材37は、テーブル31の下側に配置された円盤38の
中心部を貫通している。円盤38は、後述するように、
テーブル31を処理チャンバ51へ挿入したときに、処
理チャンバ51のテーブル挿入口54を閉塞するための
部材であり、回転することはない。従って、軸部材37
が円盤38を貫通する部分は、軸部材37が回転可能で
はあるが、処理チャンバ51からの処理液の漏出が起こ
らないようにシール構造が採られる。
【0027】円盤38には、円盤38とテーブル回転機
構8をY−Z面内で所定角度ほど回転させるために、脚
部34と回転軸35ならびに円盤保持部材36を有する
姿勢変換機構9が取り付けられており、この姿勢変換機
構9により、ウエハWを水平状態と、立設状態例えば垂
直状態(ウエハWの表面と水平方向とのなす角が90°
の場合)との間の任意の状態で保持することができるよ
うになっている。
【0028】姿勢変換機構9の駆動は、モータやアクチ
ュエータ等の駆動装置を用いて行うことができる。円盤
保持部材36は、軸部材37のカバーとしての役割も果
たしており、例えば軸部材37とモータ32全体を取り
囲むような形態とすると、モータ32で発生するパーテ
ィクル等が洗浄処理ユニット3a内の雰囲気を悪化させ
ることを抑制することができる。
【0029】姿勢変換機構9の脚部34は、ガイドレー
ル39上をX方向に移動可能なX軸駆動機構10上に配
設されており、これによりテーブル回転機構8と姿勢変
換機構9は、洗浄処理ユニット3a内をX方向に移動可
能となっている。このX軸駆動機構10を用いて、ウエ
ハWが立設状態で保持されるように姿勢変換されたテー
ブル回転機構8のテーブル31の部分を処理チャンバ5
1に挿入することができる。
【0030】なお、ガイドレール39の下部箱体20a
には、例えば、テーブル回転機構8、姿勢変換機構9、
X軸駆動機構10等の制御装置を収納することができ
る。また、図1から図3には示していないが、ガイドレ
ール39が配設されたスペースと処理チャンバ51が配
設されたスペースとの間に開閉可能なシャッターを設け
て、処理チャンバ51内の雰囲気が洗浄処理ユニット3
全体に拡散しないような構造とすることができる。
【0031】洗浄処理ユニット3aには、テーブル31
上に保持されたウエハWの洗浄処理を行うための処理チ
ャンバ51が配設されている。図4および図5は、テー
ブル31を処理チャンバ51に挿入した状態の一形態を
示す断面図である。ここで、図4および図5において
は、姿勢変換機構9やX軸駆動機構10の記載を省略し
ており、処理チャンバ51については、断面略台形の筒
形の形態を有している外側チャンバ52aと、X方向に
スライド可能な内側チャンバ52bとからなる二重構造
を有するものを示している。
【0032】図4は内側チャンバ52bを図中右側へ待
避させ、外側チャンバ52aを用いて液処理を行う際の
状態を示しており、図5は内側チャンバ52bを外側チ
ャンバ52a内に収納して、内側チャンバ52bによる
液処理を行う状態を示している。なお、外側チャンバ5
2aはメンテナンス等の際に、図4に示される内側チャ
ンバ52bの位置へ待避させることができるようになっ
ている。
【0033】図4に示すように、外側チャンバ52aに
おける洗浄処理は、垂直壁53aと、テーブル挿入口5
4が形成された垂直壁53bと、テーブル挿入口54を
閉塞するテーブル回転機構8の円盤38とにより形成さ
れる処理空間95において行われる。垂直壁53bの上
部には、排気バルブ65と排気管67からなる排気経路
が設けられており、処理空間95の雰囲気の調整が可能
となっている。また、垂直壁53bの下部には、ドレイ
ンバルブ61とドレイン管63からなるドレイン(排液
経路)が形成されており、処理空間95から使用された
洗浄液が排出されるようになっている。
【0034】ここで、外側チャンバ52aは、垂直壁5
3b側が長径側に設定され、また、外側チャンバ52a
の胴部下側面に、垂直壁53b側が下方となるような勾
配が形成されるように固定されているので、使用された
洗浄液は容易にドレインバルブ61からドレイン管63
を通して排出される。
【0035】外側チャンバ52a内の上端近傍部分に
は、複数の吐出口55を有する吐出ノズル56が、吐出
口55が水平方向に並ぶようにして垂直壁53bに取り
付けられている。吐出ノズル56からは、薬液貯蔵ユニ
ット5a内の供給源から供給された純水、IPA等の各
種薬液や、Nガス等の乾燥ガスが吐出可能となってい
る。また、垂直壁53bには、テーブル31の裏面を洗
浄するための吐出ノズル74aが配設されている。この
ような吐出ノズル74aは主に種々の薬液処理後に純水
でテーブル31の裏面の洗浄を行う際に使用される。な
お、吐出ノズル56は、図4および図5中には1本しか
示されていないが、複数本設けることが可能である。
【0036】内側チャンバ52bは、外側チャンバ52
aよりも径が小さい断面略台形の筒状の形態を有し、図
4に示す位置と図5に示す位置との間でX方向に平行移
動(スライド)可能に構成されている。内側チャンバ5
2bは、その短径側の端面にリング部材59bを、長径
側の端面にリング部材59aを有しており、内側チャン
バ52bが外側チャンバ52a内に配置されたときに
は、リング部材59aが垂直壁53aに密着し、また、
リング部材59bが垂直壁53bに密着することで処理
空間96が形成される。なお、リング部材59aと垂直
壁53aの接離部分およびリング部材59bと垂直壁5
3bの接離部分に、図示しないシール部材等を配設する
と、密着性がより向上する。
【0037】なお、内側チャンバ52bを外側チャンバ
52aから待避させたときには、リング部材59bが垂
直壁53aに密着するとともにリング部材59aが垂直
壁53cに密着することによって、外側チャンバ52a
によって形成される処理空間95の雰囲気は、内側チャ
ンバ52b内の雰囲気と隔離される。
【0038】内側チャンバ52b内の上部には、複数の
吐出口57を有する吐出ノズル58が、吐出口57が水
平方向に並ぶようにして取り付けられている。吐出ノズ
ル58からは、薬液貯蔵ユニット5a内の供給源から供
給された各種薬液、純水、IPA等が吐出される。ま
た、内側チャンバ52bの上部内壁には、テーブル31
の表面を洗浄するための処理液の吐出ノズル74bが配
設されており、純水等の洗浄液を吐出可能となってい
る。なお、これら各種の吐出ノズル56・58・74a
・74bからは、超音波が印加された処理液を供給して
もよい。
【0039】リング部材59aの上端部には排気口66
が形成されており、排気管68を通じて、処理空間96
内の雰囲気調整または退避位置での内側チャンバ52b
内の雰囲気調整を行うことが可能となっている。また、
リング部材59aの下端部には処理液排出口46が形成
されており、この処理液排出口46と連通するようにド
レイン誘導部材47が配設されている。
【0040】内側チャンバ52bは、モータ32側を短
径側とし、また下側面に勾配が形成されるようにして配
設されている。つまり、処理液排出口46は内側チャン
バ52bの下側面に形成された勾配の下方側に形成され
ていることから、内側チャンバ52bで使用された処理
液は、容易に処理液排出口46からドレイン誘導部材4
7へ流れ込む。
【0041】ドレイン誘導部材47は下方に伸び、その
先端部48は水平方向を向くように構成されている。一
方、垂直壁53aの下方には別体としてドレイン管49
が配置されており、ドレイン管49の先端には先端部と
してのキャップ部50が形成されている。
【0042】内側チャンバ52bが退避位置にあるとき
は、ドレイン誘導部材47の先端部48とキャップ部5
0とは隔離された状態にあるが、内側チャンバ52bを
ウエハWの洗浄処理等のために外側チャンバ52a内に
収容されるようにスライドさせると、先端部48がキャ
ップ部50に嵌合されて気密にシールされ、これによ
り、ドレイン誘導部材47とドレイン管49とが連通
し、処理液の排液が可能となる構造となっている。他
方、ウエハWの液処理が終了して、内側チャンバ52b
を外側チャンバ52aから退避させる際には、先端部4
8とキャップ部50とは離隔される。
【0043】このような外側チャンバ52aと内側チャ
ンバ52bのX方向の長さ、つまり胴体の長さは、テー
ブル31とウエハWとの距離に応じた長さに設定するこ
とができることから、洗浄処理ユニット3a〜3cでは
小型化が容易である。この場合には、処理雰囲気の制御
も容易となり、排気量を低減できるので、高温の薬液を
用いた場合でもその温度低下が小さく、従って使用する
ことができる薬液の種類の範囲が広がる利点がある。ま
た、処理液は吐出ノズル55・57から直接にウエハW
の表面に向けて吐出され、ブラシ等を用いないことから
チャンバ内の構造が簡単である。
【0044】次に、キャリアCに収納されたウエハWの
洗浄工程について、キャリアステージ2aに載置された
キャリアC内のウエハWを、洗浄処理ユニット3a〜3
cで処理する場合を例として説明する。先ず、複数枚の
ウエハWが所定の間隔で平行に収納されたキャリアC
を、キャリアCにおいてウエハWの出し入れを行う搬入
出口が窓部12と対面するようにキャリアステージ2a
に載置する。
【0045】キャリアC内の所定のウエハWを搬送する
ために、開閉装置14aを用いて窓部12aを閉じてい
るシャッターを開き、また、キャリアCの搬入出口を閉
塞している蓋体を開いて、キャリアCの内部とウエハ搬
送ユニット4の内部が連通する状態とする。その後に、
検出センサ機構13aをZ方向にスキャンさせて、キャ
リアC内のウエハWの枚数および収納状態を確認する。
ここで、異常が検出された場合には処理を中断し、例え
ば、キャリアステージ2bに別のキャリアCが載置され
ていた場合には、その別のキャリアCから同様の処理を
開始する。
【0046】キャリアC内のウエハWに異常が検出され
なかった場合には、搬送アーム21aが搬出する所定の
ウエハWの下側に位置するようにZ軸駆動機構99を動
作させて搬送アーム21aの高さを合わせた後、ウエハ
搬送機構7の有するX軸駆動機構を動作させて、搬送ア
ーム21aをキャリアC内に挿入し、Z軸駆動機構99
を所定高さほど上昇させて搬送アーム21aに所定の1
枚のウエハWを保持させ、再びX軸駆動機構を動作させ
て搬送アーム21aを元の位置へ戻す。その後、次にウ
エハWの搬入出まで、開閉装置14aを動作させて窓部
12aおよびキャリアCの蓋体を閉めておく。
【0047】続いて、搬送アーム21aに保持されたウ
エハWが、ウエハ搬送ユニット4と洗浄処理ユニット3
aとの境界をなす壁部25に形成された窓部26aに対
面するように、ウエハ搬送機構7の有するθ回転駆動機
構を180°回転させる。そして、窓部26aを閉じて
いたシャッター27aを開き、ウエハ搬送機構7のX軸
駆動機構を動作させて、洗浄処理ユニット3aにおいて
窓部26aに対面する位置に待機させていたテーブル3
1上の保持治具33にウエハWが保持されるように搬送
アーム21aを挿入する。
【0048】このとき、ウエハWの搬入出が可能なよう
に、テーブル31上に配設されたウエハWを保持するた
めの保持治具33のうち窓部26a側のものは待避させ
た状態にある。また、搬送アーム21aの高さはウエハ
搬送ユニット4のZ軸駆動機構99によりウエハWが保
持治具33に収納されるように調節されている。
【0049】ウエハWが保持治具33に保持されたら、
ウエハ搬送機構7が有するZ軸駆動機構99を動作させ
て搬送アーム21aの位置を下げ、さらにX軸駆動機構
を動作させて搬送アーム21aを元の位置に戻し、シャ
ッター27aを閉じる。テーブル31においては、保持
治具33を所定の状態として、ウエハWをその周縁部で
確実に保持した状態とする。
【0050】こうして洗浄処理ユニット3aでのウエハ
Wの洗浄処理を開始することができるが、引き続き、ウ
エハ搬送ユニット4においては、キャリアC内の別のウ
エハWを先にキャリアCから洗浄処理ユニット3aに搬
送した方法と同様の方法を用いて洗浄処理ユニット3b
に搬送し、その後にさらにキャリアC内の所定のウエハ
Wを洗浄処理ユニット3cに搬送し、逐次、洗浄処理ユ
ニット3b・3cでの洗浄処理を、後述する洗浄処理ユ
ニット3aにおける洗浄方法と同様にして開始する。な
お、ウエハWの洗浄処理ユニット3b・3cへの搬送に
は、ウエハ搬送機構7が有するY軸駆動機構98を用い
る。
【0051】次に、姿勢変換機構9を用いて、テーブル
31が処理チャンバ51側を向くように、例えば、テー
ブル回転機構8を、例えば90°ほど倒し、テーブル回
転機構8を水平状態に保持する。こうしてウエハWは略
垂直状態に保持されることとなる。そして、X軸駆動機
構10を用いて、テーブル31が外側チャンバ52aに
収容され、また、円盤38により外側チャンバ52aの
テーブル挿入口54が閉塞されるように、テーブル回転
機構8および姿勢変換機構9をスライドさせる。
【0052】処理チャンバ51において、例えば、内側
チャンバ52bでは薬液を用いたポリマー除去等の処理
を、外側チャンバ52aでは純水を用いた処理とその後
の乾燥処理を行うとすると、最初は内側チャンバ52b
を外側チャンバ52a内に配置した状態として、モータ
32によりテーブル31を所定の回転数で回転させなが
ら、吐出ノズル58を用いて所定の薬液をウエハWの表
裏面に向かって吐出する。そして、薬液を用いた処理が
終了した後に吐出ノズル74bから純水を吐出させて、
テーブル31の表面を洗浄する。
【0053】次に、内側チャンバ52bを外側チャンバ
52aから待避させた状態として、テーブル31を所定
の回転数で回転させながら、吐出ノズル56を用いて純
水を吐出してウエハWの洗浄を行い、しかる後に吐出ノ
ズル74aから純水を吐出して、テーブル31の裏面の
洗浄を行う。その後、処理液の吐出を行わずに、所定の
回転数でテーブル31を回転させて、テーブル31やウ
エハWに付着した純水を振り切り、必要に応じて、IP
AやNガス等をウエハWに噴射して乾燥処理を行う。
【0054】液処理および乾燥処理が終了した後には、
X軸駆動機構10を用いて、テーブル31を処理チャン
バ51から搬出するために、テーブル回転機構8を処理
チャンバ51から離れるようにスライドさせ、続いて姿
勢変換機構9を動作させてテーブル回転機構8を垂直状
態に立て直し、テーブル31を窓部26aと対面する位
置へ戻す。ウエハWを保持している保持治具33の位置
をウエハWの搬出が行うことができる適切な位置に合わ
せ、保持治具33の中の可動なもののロックを解除して
待避させる。
【0055】保持治具33からのウエハWの搬出には搬
送アーム21bを用いる。搬送アーム21bが洗浄処理
済みのウエハWを搬出することができるように、ウエハ
搬送機構7のZ軸駆動機構99を動作させて搬送アーム
21bの高さ位置を調節し、シャッター27aを開いて
X軸駆動機構により搬送アーム21bをテーブル31と
ウエハWとの間に挿入し、Z軸駆動機構99を動作させ
て搬送アーム21bによりウエハWを軽く持ち上げ、さ
らにX軸駆動機構により搬送アーム21bを元の位置に
戻すことで、ウエハWをテーブル31上の保持治具33
から搬出することができる。
【0056】シャッター27aを閉じた後に、搬送アー
ム21bがキャリアステージ2a側を向くようにウエハ
搬送機構7のθ回転駆動機構を駆動させ、開閉装置14
aを用いて窓部12aを開くとともにキャリアCの蓋体
を開いて、キャリアCの内部とウエハ搬送ユニット4が
連通した状態とし、ウエハWを戻すべき所定の高さにZ
軸駆動機構99を用いて搬送アーム21bの高さを調節
した後、X軸駆動機構を用いて搬送アーム21bをキャ
リアC内に挿入し、ウエハWを搬入して搬送アーム21
bを元の位置に戻す。このように、洗浄処理前のウエハ
Wを搬送アーム21aで、洗浄処理後のウエハWを搬送
アーム21bで、それぞれ搬送することにより、搬送ア
ーム21bは洗浄処理前のウエハWを保持しないことか
ら、洗浄処理後のウエハWを汚すことがない。
【0057】続いて、キャリアC内に未処理のウエハW
があり、その洗浄処理を行う場合には、ウエハ搬送機構
7のθ回転駆動機構を動作させて搬送アーム21aを窓
部26aに対面させた後、前述した方法により所定のウ
エハWの搬出、テーブル31への搬送、洗浄処理、キャ
リアCへの搬送、といった一連の作業を繰り返す。この
ような作業は、洗浄処理ユニット3b・3cでの処理に
ついても同様に行うことができる。また、キャリアステ
ージ2bにキャリアCを載置しておけば、キャリアステ
ージ2aに載置したキャリアC内のウエハWの処理に引
き続いて、キャリアステージ2bに載置されたキャリア
C内のウエハWの処理を開始することができる。
【0058】上述した洗浄処理方法は、3箇所に配設さ
れた洗浄処理ユニット3a〜3cで全て同じ洗浄処理を
行った場合であるが、洗浄処理装置1を用いた洗浄処理
方法は、このような方法に限定されるものではない。例
えば、キャリアステージ2aに載置されたキャリアC内
のウエハWについては、所定の薬液を使用して洗浄処理
ユニット3aのみを用いて行い、一方、キャリアステー
ジ2bに載置されたキャリアC内のウエハWについて
は、別の薬液を使用して洗浄処理ユニット3b・3cを
用いて行うというように、洗浄処理ユニット3a〜3c
を使用する薬液別に使い分け、または処理内容の違いに
よって使い分けることも可能である。
【0059】ところで、洗浄処理装置1では、ウエハW
を保持するためにテーブル31上に配設された保持治具
33には、1枚のウエハWのみが保持可能であったが、
保持治具33の形態を数枚、例えば、2枚〜5枚程度を
保持可能とすることにより、処理時間の短縮を図ること
ができる。図6は2枚のウエハWを保持する保持治具3
3aをテーブル31上に配設した例を示す断面図および
平面図である。
【0060】ウエハ搬送機構7の搬送アーム21aは1
枚のウエハWを搬送することが可能であるから、搬送ア
ーム21aをテーブル31とキャリアCとの間で2往復
させることにより、2枚のウエハWを保持治具33aに
収納することができ、逆に、搬送アーム21bを2往復
させて保持治具33aからキャリアCに戻すことができ
る。このような複数枚のウエハWの搬送時間よりも通
常、処理チャンバ51内での1回の洗浄処理時間の方が
長いことから、1度に複数枚の洗浄処理を行うことによ
り、処理時間の短縮が図られる。なお、搬送アーム21
a・21bを、それぞれテーブル31に保持されるウエ
ハWの枚数に合わせて複数配設すると、1往復の搬送で
済ませることができ、処理時間の短縮が図られる。
【0061】図7の断面図は、保持治具33aを用いた
場合の外側チャンバ52aと内側チャンバ52bの形態
を図4と同様にして示したものである。図4と比較し
て、図7では、保持治具33aが保持するウエハWの枚
数に応じて吐出ノズル56・58に形成される吐出口5
5・57の数を増やして吐出ノズル56・58のX方向
長さを長くし、また、外側チャンバ52aと内側チャン
バ52bは、吐出ノズル56・58を内部に配設できる
ようにX方向に胴長な形状とされている。但し、ウエハ
Wの保持間隔が狭い場合には、吐出口55・57の数を
増やすことは必要であるが、吐出ノズル56・58のX
方向長さを長くすることは必ずしも必要ではなく、ま
た、外側チャンバ52aと内側チャンバ52bのX方向
長さについても、必ずしも長くする必要はない。
【0062】保持治具33aのように保持するウエハW
の枚数が増えると、モータ32にはより大きな負荷が掛
かるようになることから、モータ32の大型化が必要と
なる場合が考えられる。このようなモータ32の大型化
や処理チャンバ51(外側チャンバ52aと内側チャン
バ52b)の大型化等は、実際の処理にあたって要求さ
れるウエハWの処理効率と対比させながら、好適な条件
に設定すればよい。
【0063】上述した本発明の洗浄処理装置1は、洗浄
処理装置単体として用いる場合以外に、例えば、図8の
平面図に示すように、真空処理部90と組み合わせて1
つのウエハ処理装置100として用いることも可能であ
る。真空処理部90は、例えば、第1ロードロック室9
1、第2ロードロック室92、エッチング処理室93、
アッシング処理室94を有しており、ウエハ搬送機構7
が第1ロードロック室91にアクセス可能な構造となっ
ている。
【0064】第1ロードロック室91と第2ロードロッ
ク室92との間、第2ロードロック室92とエッチング
処理室93との間、第2ロードロック室92とアッシン
グ処理室94との間には、それぞれこれらの間を気密に
シールしかつ開閉可能に構成された図示しないゲートバ
ルブが介装され、エッチング処理室93とアッシング処
理室94では、それぞれ所定のエッチング処理やアッシ
ング処理が行われる。
【0065】こうして、例えば、キャリアC内のウエハ
Wを、先ず、ウエハ搬送機構7を用いて真空処理部90
へ搬送し、エッチング処理室93において所定のエッチ
ング処理を行った後、ウエハWを洗浄処理ユニット3a
〜3cのいずれかへ搬送して所定の洗浄処理を行い、そ
の後にキャリアCへ戻すといった処理が可能となり、逆
に、ウエハWについて洗浄処理ユニット3a〜3cのい
ずれかで、洗浄、乾燥処理を行った後に、ウエハWを真
空処理部90へ搬送して、所定のエッチング処理やアッ
シング処理を行うこともできる。
【0066】以上、本発明の実施の形態について説明し
てきたが、本発明が上記実施の形態に限定されるもので
ないことはいうまでもなく、種々の変形が可能である。
例えば、上記実施の形態では、処理チャンバ51として
外側チャンバ52aおよび内側チャンバ52bからなる
二重構造のものを用いて処理を行う場合について説明し
たが、チャンバは3つ以上であってもよいし、1つであ
ってもよい。また、外側チャンバ52aおよび内側チャ
ンバ52bは、例えば、一方を洗浄に他方を乾燥のみに
用いても構わず、洗浄と乾燥の両方を連続して行う用途
にも用いることができる。
【0067】さらに、上記実施の形態では、テーブル3
1およびウエハWを処理チャンバ51内に収容するため
に、テーブル回転機構8と姿勢変換機構9をX方向にス
ライドさせたが、処理チャンバ51をX方向にスライド
させることによって、テーブル31とウエハWが処理チ
ャンバ51に収容されるように構成してもよい。
【0068】さらにまた、上記実施の形態では、ウエハ
Wを立設状態に保持する形態としてウエハWを垂直状態
に保持する形態を示したが、ウエハWを立設状態に保持
することには、ウエハWの表面と水平方向とのなす角
が、例えば45°〜90°の範囲の任意の角度となるよ
うに、ウエハWを傾斜させた状態として保持することが
含まれる。つまり、姿勢変換機構の傾き角度を任意に設
定して、ウエハWを処理チャンバ51内に収容し、液処
理を行うことが可能である。この場合には、例えば、処
理チャンバ51の配設状態やテーブル挿入口54の形状
をウエハWの傾斜角度に合わせて傾斜させたり、テーブ
ル31と軸部材37との結合部分に傾斜化機能を持たせ
たり、または、上記実施の形態では軸部材37は円盤3
8を垂直に貫通しているが、軸部材37が円盤38を貫
通する角度を変化させる等、適宜、装置部材の形状や配
設の形態を変更すればよい。
【0069】さらに、上記実施の形態では本発明を洗浄
処理に適用した場合について示したが、これに限らず、
所定の塗布液を塗布する塗布処理やエッチング処理等に
適用することも可能である。さらにまた、半導体ウエハ
に適用した場合について示したが、これに限らず、液晶
表示装置(LCD)用基板等、他の基板の処理にも適用
することができる。
【0070】
【発明の効果】本発明の液処理装置は、基板が収容され
るキャリアと液処理を行うために基板を保持するテーブ
ルとの間の搬送経路が短く、装置が小型化されるという
効果を奏する。また、テーブルを方向転換させてテーブ
ルとその上の保持治具に保持された基板を直接に処理チ
ャンバに収容して液処理する構造を採用することによっ
ても装置がコンパクト化されている。さらに基板の移し
替えの回数が少ないことから、基板の移し替えによるパ
ーティクルの発生が抑制されて基板の汚れ発生が防止さ
れるという利点を有する。さらにまた、複数の液処理ユ
ニットが配設されていることから、液処理ユニット毎に
異なる薬液を用いることが可能であり、多目的な液処理
装置として用いることも可能である。なお、本発明の液
処理装置では、液処理チャンバの小型化が容易であるこ
とから、液処理チャンバ内の雰囲気調整が容易であり、
高温の薬液を用いてもその温度の低下が起こり難く、所
定の薬液特性を得ることが容易となる利点もある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の液処理装置の一実施形態に係る洗浄処
理装置を示す斜視図。
【図2】図1記載の洗浄処理装置の側面図。
【図3】図1記載の洗浄処理装置の平面図。
【図4】図1記載の洗浄処理装置に配設される洗浄処理
ユニットの一実施形態を示す断面図。
【図5】図4に示した洗浄処理ユニットを構成する内側
チャンバを外側チャンバ内に配置した状態を示す断面
図。
【図6】本発明の液処理装置における基板保持形態の一
例を示す断面図および平面図。
【図7】図6記載の基板保持形態を用いた場合におい
て、基板を処理チャンバに収容した状態を示す断面図。
【図8】図1記載の洗浄処理装置と真空処理装置と連結
させた処理装置の一実施形態を示す平面図。
【符号の説明】
1;洗浄処理装置 2a・2b;キャリアステージ 3a〜3c;洗浄処理ユニット 4;ウエハ搬送ユニット 5a〜5c;薬液貯蔵ユニット 6;電源ユニット 7;ウエハ搬送機構 8;テーブル回転機構 9;姿勢変換機構 10;X軸駆動機構 21a・21b;搬送アーム 22;搬送アーム保持部 23;テーブル 26a〜26c;窓部 31;テーブル 32;モータ(回転機構) 33;保持治具 51;処理チャンバ 52a;外側チャンバ 52b;内側チャンバ 90;真空処理部 98;Y軸駆動機構 99;Z軸駆動機構 100;ウエハ処理装置 W;半導体ウエハ(基板)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 3B201 AA03 AB23 AB33 AB42 BB22 BB33 BB93 BB94 CB15 CC01 CC13 CD33 5F031 CA02 DA17 FA01 FA11 FA12 FA15 GA47 GA48 GA49 GA50 MA23 NA02 NA09 PA03 5F046 AA28 CD01 HA03

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板に所定の処理液を供給して液処理を
    行う液処理装置であって、 前記基板を1枚または数枚保持可能な治具が配設された
    テーブルに、前記基板が面内回転するように前記テーブ
    ルを回転させる駆動機構が取り付けられてなるテーブル
    回転機構と、 前記基板を姿勢変換する機構と、 前記治具に保持された立設状態の基板に所定の液処理を
    施す処理チャンバと、 前記テーブルが前記処理チャンバに収容されるように、
    相対的に前記処理チャンバと前記テーブルの位置を調節
    可能な移動機構と、 前記基板を収納するキャリアと前記テーブルとの間で前
    記基板の搬送を行う基板搬送機構と、 を具備することを特徴とする液処理装置。
  2. 【請求項2】 基板に所定の処理液を供給して液処理を
    行う液処理装置であって、 前記基板を1枚または数枚保持可能な治具が配設された
    テーブルに、前記基板が面内回転するように前記テーブ
    ルを回転させる駆動機構が取り付けられてなるテーブル
    回転機構と、 前記治具に保持された基板を立設状態または水平状態で
    保持可能なように前記テーブル回転機構の姿勢変換を行
    う姿勢変換機構と、 前記テーブルを収容し、前記治具に保持された基板に所
    定の液処理を施す処理チャンバと、 前記テーブルが前記処理チャンバに収容されるように前
    記テーブル回転機構と前記姿勢変換機構をともにスライ
    ドさせる移動機構と、 前記基板を収納可能なキャリアと前記テーブルとの間で
    前記基板を水平状態で搬送する基板搬送機構と、 を具備することを特徴とする液処理装置。
  3. 【請求項3】 前記基板搬送機構は、未処理の基板を搬
    送するための1個の搬送アームと、液処理済みの基板を
    搬送するための別の1個の搬送アームを有することを特
    徴とする請求項1または請求項2に記載の液処理装置。
  4. 【請求項4】 前記搬送アームおよび前記別の搬送アー
    ムが、それぞれ1枚の基板を搬送することが可能である
    ことを特徴とする請求項3に記載の液処理装置。
  5. 【請求項5】 前記処理チャンバが、外側チャンバと内
    側チャンバとからなる二重構造を有することを特徴とす
    る請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の液処理
    装置。
  6. 【請求項6】 前記処理チャンバが複数配設され、前記
    複数の処理チャンバのそれぞれに前記テーブル回転機構
    が配設されており、かつ、前記基板搬送機構が前記複数
    のテーブル回転機構にアクセスできるように移動機構を
    具備することを特徴とする請求項1から請求項5のいず
    れか1項に記載の液処理装置。
  7. 【請求項7】 前記キャリアを載置するステージが複数
    箇所設けられており、前記基板搬送機構が前記各ステー
    ジに載置されたキャリアとアクセスできるように移動機
    構を具備することを特徴とする請求項1から請求項6の
    いずれか1項に記載の液処理装置。
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