JP2002010274A - カラー画像処理装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 メモリをもたずに連続的に情報を取り出して
リアルタイムに画素欠陥を検出し補正を行うカラー画像
処理装置を提供する。 【解決手段】 注目被判定画素Ｇn とその斜め方向両隣
の画素Ｇn-１，Ｇn+１の連続した同色の斜め方向の３画
素の出力の平均値Ａを求め、各画素の出力と平均値とを
比較し〔Ａ＞Ｇn-１，Ａ＞Ｇn+１，Ａ＜Ｇn 〕又は〔Ａ
＜Ｇn-１，Ａ＜Ｇn+１，Ａ＞Ｇn 〕の要件を満たしてい
るか否かを判定し、要件をみたしているとき、｜（Ｇn-
１＋Ｇn+１）／２−Ｇn ｜が閾値ａより大きいか否かを
判定し、ａより大きいとき注目画素Ｇn を欠陥画素と判
定し、（Ｇn-１＋Ｇn+１）／２＝Ｂで置き換え、補正す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、カラー画像処理
装置に関し、特に単板カラーセンサ画像もしくはそれに
類した異色画素配列で構成されたカラー画像に好適な、
画素欠陥の検出及び補正を行うカラー画像処理装置に関
する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、多画素を有する固体撮像素子を
用いた高精細なカメラなどのような画像入力装置におい
ては、不良画素すなわち欠陥画素の発生頻度が高くな
り、これを検出し補正するための技術が必須となってい
る。これら欠陥画素に代表される特異点画素を補正する
ことによって、固体撮像素子の歩留まりは向上し、装置
価格を大幅に低減することが可能となる。

【０００３】かかる欠陥画素の補正を電気的に行う技術
としては、次のような手法が知られている。すなわち、
例えば特開平５−２３６３５８号公報、特開平７−１６
２７５７号公報、特開平１０−３２２６０３号公報に
は、固体撮像素子製造時に各素子固有に発生する欠陥画
素の位置を予め保持するメモリを作成し、これをカメラ
等の画像入力装置に搭載することにより、そのメモリか
らの出力信号を常に監視しながら、所定位置の欠陥画素
を隣接画素からの平均値等により補完する手法が開示さ
れている。

【０００４】また、特開平６−２０５３０２号公報や特
開平６−２４５１４８号公報には、メモリをもたずに画
素からの信号の読み出し中にリアルタイムで欠陥を検出
し補正する手法、具体的には注目画素とその近傍の連続
する４画素を用い、注目画素が周辺画素信号に対して一
定値以上突出し、且つ隣接する前後の画素信号が一定の
レベル以上であるときに、注目画素を欠陥と判定し、こ
れを補正する手法が開示されている。

【０００５】また、特開平６−２８４３４６号公報に
は、補色モザイク配列のカラーフィルタを用いた固体撮
像装置において、同色の画素信号のレベル差の検出出力
信号と閾値との比較結果を複数フィールドに亘ってメモ
リに記憶し、このメモリの記憶情報により欠陥画素を判
定し、エッジ成分があっても精度よく欠陥画素を検出で
きるようにすると共に、周辺の異色画素を用いて同色の
補正処理を行うようにしたものについて開示がなされて
いる。

【０００６】更にまた、特開平１０−１２６７９５号公
報には、輝度信号については欠陥画素の信号をその画素
の色にかかわらず隣接する画素で補正し、色信号につい
ては同じ色の近傍の画素の信号で補正し、輝度の欠陥と
共に色の相違による欠陥が目立たないようにしたカラー
撮像素子の欠陥補正装置について開示がなされている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記特開平
５−２３６３５８号公報、特開平７−１６２７５７号公
報及び特開平１０−３２２６０３号公報開示のものは、
センサ１個毎つまりカメラ毎に専用のメモリを必要と
し、カメラ間で流用ができない。またカメラ出荷後の経
時変化により発生する欠陥には対応できず、更に画像の
高精細化に伴う多画素化に比例して、欠陥位置記憶のメ
モリの容量も巨大化し、価格及び消費電力が共に大きく
なってしまうという問題点がある。

【０００８】一方、特開平６−２０５３０２号公報や特
開平６−２４５１４８号公報開示のものは、欠陥位置を
記憶したメモリは必要としないが、連続画素を用いて欠
陥画素を検出することを前提としているために、白黒セ
ンサには対応できるが、カラーセンサあるいは同一色が
連続しない画像に対して適用すると、隣接する異色画素
間では特定色に対する感度に差があるため、誤検出を発
生させてしまうという問題点があり、これを避けるため
に同色画素を用いて欠陥画素を検出しようとすると、同
一色が非連続なカラーセンサにおいては検出単位ブロッ
クの空間が巨大化し、且つ空間的に連続しない画素から
の相関性は薄くなるため、やはり誤検出が発生しやすい
という問題点が発生する。

【０００９】また、特開平６−２８４３４６号公報開示
のものにおいては、エッジ成分があっても精度よく欠陥
画素を検出することができるが、そのためにはレベル差
と閾値との比較結果を複数フィールドに亘って記憶する
メモリを必要とし、リアルタイムで欠陥検出を行うこと
ができない。また周辺の異色画素の演算により同色の欠
陥補正処理を行うようになっているが、補色モザイクフ
ィルタを搭載したセンサに限定されるという問題点があ
る。また、特開平１０−１２６７９５号公報開示のもの
においては、色信号に関しては結局１画素以上離れた非
連続の同色画素による相関をとって欠陥を検出するよう
にしているので、隣接画素の相関は得られず、欠陥の誤
検出が発生しやすいという問題点がある。

【００１０】本発明は、従来のイメージセンサの画素欠
陥並びに補正の手法における上記問題点を解消するため
になされたもので、カラーセンサに対応でき、且つメモ
リをもたず連続的に情報を取り出してリアルタイムに画
素欠陥を検出し、補正を行えるようにしたカラー画像処
理装置を提供することを目的とする。

【００１１】請求項毎の目的を述べると、請求項１に係
る発明は、小さな範囲の画素信号で効率的に欠陥画素が
検出でき、またエリアメモリなどを必要とせずリアルタ
イムで補正処理を行うことが可能なカラー画像処理装置
を提供することを目的とする。請求項２に係る発明は、
請求項１に係るカラー画像処理装置において、極めて容
易に小さな範囲の画素信号で欠陥画素の検出を効率的に
行えるようにすることを目的とする。請求項３に係る発
明は、請求項１に係るカラー画像処理装置において、空
間的に連続した同一色画素が直接的に存在しない場合に
おいても、比較的小さな範囲の画素信号で欠陥画素の検
出を効率的に行えるようにすることを目的とする。請求
項４に係る発明は、請求項１に係るカラー画像処理装置
において、誤検出が少ない順で、小さな範囲の画素信号
で効率的に欠陥検出を行えるようにすることを目的とす
る。請求項５に係る発明は、請求項４に係るカラー画像
処理装置において、第２の欠陥画素の検出を効率よく実
行できるようにすることを目的とする。請求項６に係る
発明は、異色の複数画素で演算により同一色の複数の画
素群を生成して、欠陥画素の検出を容易に行えるように
したカラー画像処理装置を提供することを目的とする。
請求項７に係る発明は、請求項１〜６のいずれか１項に
係るカラー画像処理装置において、欠陥検出手段専用の
ラインメモリを必要とせず欠陥検出を行えるようにする
ことを目的とする。

【００１２】

【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
め、請求項１に係る発明は、それぞれ所定の色の複数の
フィルタ素子からなる色フィルタの各フィルタ素子をそ
れぞれ対応させて配置した複数の画素からなるカラー撮
像素子における欠陥画素を検出し補正処理するカラー画
像処理装置において、同色の色が連続する配列に沿っ
て、画素信号間で相関をとって欠陥画素を検出する手段
と、検出された欠陥画素に対応する画素信号を補正する
手段とを備えていることを特徴とするものである。

【００１３】このように同色の色が連続する配列に沿っ
て、画素信号間で相関をとって欠陥画素を検出し補正す
るようにしているので、小さな範囲で効率的に欠陥画素
を検出することができ、またエリアメモリなどを必要と
せず、リアルタイムで欠陥画素の補正を行うことが可能
となる。

【００１４】請求項２に係る発明は、請求項１に係るカ
ラー画像処理装置において、前記検出手段は、空間的に
連続する同色のフィルタ素子の配列に沿って、画素信号
間で相関をとって欠陥画素を検出するように構成されて
いることを特徴とするものである。色フィルタにおい
て、同色のフィルタ素子が、例えばベイヤ型配列カラー
フィルタ上のＧ（グリーン）画素のように斜め方向に連
続配列しているものを用いることにより、その連続配列
を利用することによって極めて容易に小さな範囲の画素
信号で欠陥画素の検出を行うことができる。

【００１５】請求項３に係る発明は、請求項１に係るカ
ラー画像処理装置において、前記検出手段は、隣接する
非同一色の複数のフィルタ素子に対応する複数の画素の
画素信号間で演算を行って複数の画素に亘る演算生成色
を生成し、同色の演算生成色が空間的に連続する配列に
沿って、画素信号間で相関をとって欠陥画素を検出する
ように構成したことを特徴とするものである。

【００１６】このように構成することにより、空間的に
連続した同一色画素が直接的に存在しない場合には、隣
接する非同一色画素との演算により連続した同一色を生
成し、その連続する方向から画素信号レベルの相関をと
って欠陥検出を行うことができ、空間的に連続した同一
色画素がない場合においても、比較的少ない範囲の画素
信号で効率的に欠陥画素を検出することができる。

【００１７】請求項４に係る発明は、請求項１に係るカ
ラー画像処理装置において、前記検出手段は、空間的に
連続する同色のフィルタ素子の配列に沿った画素信号間
で相関をとって第１の欠陥画素を検出した後、更に隣接
する非同一色の複数のフィルタ素子に対応する複数の画
素の画素信号間で演算を行って演算生成色を生成し、同
色の演算生成色が空間的に連続する配列に沿った画素信
号間で相関をとって第２の欠陥画素を検出するように構
成されていることを特徴とするものである。

【００１８】一般に欠陥画素の検出においては、情報量
が多いほど、つまりカラー画像においては対応する同色
の画素が多いほど誤検出が少なくなる。したがって、上
記のように構成した請求項４に係る発明においては、先
に行われる第１の欠陥画素の検出手法には直接的な同一
色の画素数の多いもの適用しやすい手法が用いられてい
るため、誤検出の少ない順で効率的に欠陥画素の検出を
行うことができる。

【００１９】請求項５に係る発明は、請求項４に係るカ
ラー画像処理装置において、前記検出手段は、第１の欠
陥画素を第２の欠陥画素の検出時における検出処理の対
象情報から省くように構成されていることを特徴とする
ものである。

【００２０】請求項４に係るカラー画像処理装置におい
て、第２の欠陥画素の検出に適用する欠陥検出手法にお
いては、検出処理に適用する画素数が少なく欠陥検出精
度が低下するが、先行して行われた第１の欠陥画素を、
第２の欠陥画素の検出処理時に用いる対象情報から省く
ことにより、検出時の条件選択等を容易にすることがで
き、効率のよい欠陥検出処理を行うことが可能となる。

【００２１】請求項６に係る発明は、それぞれ所定の色
の複数のフィルタ素子からなる色フィルタの各フィルタ
素子をそれぞれ対応させて配置した複数の画素からなる
カラー撮像素子における欠陥画素を検出し補正処理する
カラー画像処理装置において、注目画素と該注目画素に
隣接する非同一色のフィルタ素子が被覆された複数の画
素との間で、注目画素を含む複数画素の組み合わせの異
なる複数の画素群パターンを形成し、各画素群パターン
を構成する各画素から得られる信号に基づいて各画素群
パターンが同一色を得る演算を行い、同一色を得る演算
により得られた各画素群パターンの信号の相関を各画素
群パターン間でとって、欠陥画素を含む画素群パターン
を検出する手段を備えていることを特徴とするものであ
る。

【００２２】このように、注目画素を含む複数画素の組
み合わせの異なる複数の画素群パターンを形成し、同一
色を得る演算により得られた各画素群パターンの信号の
相関をとることにより、欠陥画素を含む画素群パターン
を容易に検出することが可能なる。

【００２３】請求項７に係る発明は、請求項１〜６のい
ずれか１項に係るカラー画像処理装置において、前記カ
ラー撮像素子からの画像信号に基づいて所定の色画像信
号を得るための色生成処理回路を備え、前記欠陥画素検
出手段は、前記色生成処理回路用ラインメモリを欠陥画
素検出回路用ラインメモリとして共用するように構成さ
れていることを特徴とするものである。このように、色
生成処理回路用ラインメモリを欠陥画素検出回路用ライ
ンメモリとして共用することにより、欠陥画素検出手段
専用のラインメモリを必要とせず欠陥検出を行うことが
でき、ハード規模や消費電力を低減することが可能とな
る。

【００２４】

【発明の実施の形態】次に、実施の形態について説明す
る。図１は、本発明に係るカラー画像処理装置を適用し
た単板カラーセンサを用いた単板カラーカメラの概略構
成を示す図である。図１において、１は被写体光を入射
させるためのレンズ、２は被写体光を電気信号に変換す
るための、例えばベイヤ型配列のカラーフィルタを備え
た単板カラーセンサ、３は該単板カラーセンサ２の前段
に配置された、単板カラーセンサ２の画素間の光学的な
干渉をなくすための光学ＬＰＦ、４は単板カラーセンサ
２から出力される画像信号をデジタル信号に変換するた
めのＡ／Ｄ変換回路、５はデジタル画像信号から欠陥画
素を検出する欠陥検出部、６は欠陥検出部５で検出され
た欠陥画素を補正処理する欠陥補正部である。

【００２５】そして、このように構成した単板カラーカ
メラにおいては、単板カラーセンサ２で得られた被写体
像の電気信号は、Ａ／Ｄ変換回路４でデジタル信号に変
換され、欠陥検出部５で欠陥検出が行われ、欠陥補正部
６で欠陥補正処理がなされて、後段の他の画像処理部な
どへ送られるようになっている。

【００２６】次に、上記のように構成されている単板カ
ラーカメラにおける欠陥検出部及び欠陥補正部の具体的
な実施の形態について説明する。まず、それらの第１の
実施の形態について説明する。この第１の実施の形態
は、請求項１及び２に係る発明に対応するものである。
ベイヤ型配列のカラーフィルタを備えた単板カラーセン
サでは、図２に示すようにＧフィルタ素子が斜めの方向
に途切れなく連続して配置されているため、対応する斜
め方向の同色の隣接画素（Ｇ画素）の相関を利用して欠
陥画素を検出することができる。

【００２７】この場合、図３に示すように欠陥検出を行
う注目画素Ｇa に関して、斜め２方向（Ｉ方向及びＱ方
向）からの欠陥検出を同時に行い、両方向における欠陥
検出において、いずれも欠陥と判定された場合のみ、最
終的にＧa 画素が欠陥画素として判定される。

【００２８】このように斜め２方向における欠陥検出を
行うようにすることで、被写体が斜め方向に相関のある
斜線の場合における誤検出を回避することができる。つ
まり、おおよそ１画素幅の斜線を被写体とした場合、そ
の斜線に対する垂直方向からの相関をとった欠陥検出で
は、注目画素は欠陥画素と判定されてしまうが、斜線方
向には相関があるため斜線に沿った斜め方向の欠陥検出
では正常画素と判定され、誤検出が回避される。

【００２９】次に、連続して配列されている同色３画素
の相関から欠陥検出を行い補正を行う具体的な手法を、
図４のフローチャートに示すアルゴリズムに基づいて説
明する。連続して配列された斜め方向の３つのＧ画素と
して、図５に示すように、注目する被判定画素Ｇn ，そ
の斜め方向両隣の画素をＧn-１，Ｇn+１としたとき、ま
ず、３画素の出力の平均値Ａを次式（１）で求める（ス
テップＳ１）。 Ａ＝（Ｇn+１＋Ｇn ＋Ｇn+１）／３ ・・・・・・・・・・・・・（１）

【００３０】次に、各画素の出力と平均値Ａとを比較し
て、次式（２）で示す要件を満たしているか否かを判定
する（ステップＳ２）。 〔Ａ＞Ｇn-１，Ａ＞Ｇn+１，Ａ＜Ｇn 〕又は 〔Ａ＜Ｇn-１，Ａ＜Ｇn+１，Ａ＞Ｇn 〕 ・・・・・・・・・・・（２）

【００３１】そして、上記（２）式で示す要件を満たし
ているときに、更に次式（３）の要件を満たすか否かを
判定する（ステップＳ３）。 ｜（Ｇn-１＋Ｇn+１）／２−Ｇn ｜＞ａ ・・・・・・・・・・・（３） ここで、ａは正の可変パラメータである。

【００３２】上記（３）式で示す要件を満たす場合、注
目画素Ｇn を欠陥画素と判定する。そして、欠陥画素と
判定されたＧn の値を、（Ｇn-１＋Ｇn+１）／２＝Ｂで
置き換え、補間する（ステップＳ４）。

【００３３】次に、図４のフローチャートで示した欠陥
検出及び補正を行う手法を実施する欠陥検出補正部のハ
ード構成の構成例を、図６に基づいて説明する。図６に
おいて、101 はＩ方向の斜め配列画素の画素信号のライ
ンを合わせ且つタイミングを合わせるための画素並べ替
え部であり、２つの１ライン遅延用のラインメモリ11，
12と、１画素分の遅延用のフリップフロップ13，14，15
とで構成されている。102 はＩ方向欠陥検出部で、Ｇn-
１，Ｇn ，Ｇn+１の３画素信号を加算して平均値（除算
するハード構成は規模が大となるため、加算したもので
前記（１）式による平均値Ａに対応させている）を求め
る第１の加算器21と、３つの各画素信号をそれぞれ３倍
する乗算器22−１，22−２，22−３と、第１の加算器21
の出力と各乗算器22−１，22−２，22−３の各出力とを
比較する第１の比較回路23と、注目画素Ｇn の両隣の画
素Ｇn-１，Ｇn+１の画素信号を加算する第２の加算器24
と、該加算器24の出力を１／２にして平均を求めるＬＳ
Ｂカット回路25と、該ＬＳＢカット回路25の出力信号
（２画素平均値Ｂ）から注目画素Ｇn の画素信号を差し
引くための減算器26と、該減算器26の出力と閾値ａとを
比較する第２の比較回路27と、第１及び第２の比較回路
23，27の比較結果から注目画素Ｇn のＩ方向における欠
陥を判定するエンコーダ28とから構成されている。

【００３４】同じく図６において、201 はＩ方向画素並
べ替え部101 と同様な構成のＱ方向画素並べ替え部で、
202 はＩ方向欠陥検出部102 と同様な構成のＱ方向欠陥
検出部である。301 は欠陥補正部で、前記Ｉ方向欠陥検
出部102 とＱ方向欠陥検出部202 の各エンコーダからの
欠陥判定信号を入力して、最終的に注目画素Ｇn が欠陥
画素であるか否かを判定するエンコーダ31と、該エンコ
ーダ31の出力に基づいて、注目画素Ｇn の画素信号ある
いは隣接画素の平均値Ｂを選択出力するセレクタ32とか
ら構成されている。

【００３５】次に、このように構成されている欠陥検出
補正部の動作について説明する。まず、Ｉ方向画素並べ
替え部101 において、斜め隣接画素Ｇn-１の画素信号を
２つのラインメモリ11，12と２つのフリップフロップ1
4，15を介して２ラインと２画素分遅延させて、Ｉ方向
欠陥検出部102 の第１の加算器21へ入力し、注目画素Ｇ
n の画素信号を１つのラインメモリ11と１つのフリップ
フロップ13を介して１ラインと１画素分遅延させて、同
じく第１の加算器21へ入力し、斜め隣接画素Ｇn+１の画
素信号は直接第１の加算器21へ入力させる。そして、第
１の加算器21において、これらの入力画素信号Ｇn-１，
Ｇn ，Ｇn+１を加算して、（１）式のＡに対応する平均
値（３Ａ）を算出する。

【００３６】一方、第１の加算器21へ入力される画素信
号Ｇn-１，Ｇn ，Ｇn+１は、それぞれ乗算器22−１，22
−２，22−３へも入力され、３Ｇn-１，３Ｇn ，３Ｇn+
１が算出される。そして、各乗算器により３倍にされた
３Ｇn-１，３Ｇn ，３Ｇn+１の画素信号と第１の加算器
21の出力３Ａとが第１の比較回路23に入力されて比較さ
れ、前記（２）式に示された条件、すなわち（Ａ＞Ｇn-
１，Ａ＞Ｇn+１，Ａ＜Ｇn ）又は（Ａ＜Ｇn-１，Ａ＜Ｇ
n+１，Ａ＞Ｇn ）の条件を満たしているか否かの判定が
行われる。

【００３７】また、第１の加算器21へ入力される３つの
画素信号の中の隣接画素信号Ｇn-１，Ｇn+１を第２の加
算器24へ入力して加算し、その加算出力をＬＳＢカット
回路25へ入力して、最下位１ビット（ＬＳＢ）を切り捨
てることで１／２にし、隣接画素信号の平均値〔Ｂ＝
（Ｇn-１＋Ｇn+１）／２〕を求める。次いで、減算器26
において、隣接２画素信号の平均値Ｂと注目画素Ｇn の
画素信号の減算を行い、その減算結果と、外部から設定
されるデジタル可変閾値ａとを第２の比較回路27で比較
し、前記（３）式で示した条件、すなわち、｜（Ｇn-１
＋Ｇn+１）／２−Ｇn ｜＞ａ，を満たしているか否かの
判定を行う。そして、第１の比較回路23及び第２の比較
回路27における条件判定において、いずれの条件も満た
している場合、エンコーダ28において注目画素Ｇn がＩ
方向において欠陥であると判定する。

【００３８】第１及び第２の比較回路23，27において、
条件を満たしているか否かの判定は、例えば条件を示す
各不等式を満たせば、それぞれデジタル値“Ｈ”を出力
し、それ以外は“Ｌ”を出力させ、条件を示す全不等式
出力を論理値表化し、エンコーダでコード化するなどし
て判定すればよい。

【００３９】また、同様にして注目画素Ｇn を含むＱ方
向の斜め３画素の画素信号をＱ方向画素並べ替え部201
及びＱ方向欠陥検出部202 により、同様に欠陥検出処理
を行う。そして、Ｉ方向欠陥検出部102 の検出出力とＱ
方向欠陥検出部202 の検出出力を、欠陥補正部301 のエ
ンコーダ31へ入力し、エンコーダ31においては、Ｉ方向
とＱ方向のいずれの方向においても注目画素Ｇn が欠陥
と判定されている場合のみ、最終的に注目画素Ｇn を欠
陥画素と判定し、前記エンコーダ31の出力に基づいて、
セレクタ32により注目画素の画素信号Ｇn に代えて隣接
画素の平均値Ｂを補正信号として出力させ、それ以外の
場合には、注目画素Ｇn は正常画素と判定して、注目画
素の画素信号Ｇn をそのまま出力させる。

【００４０】以上述べた欠陥検出補正手法はカメラ形態
の画像入力装置からの画像にとどまらず、異色の画素パ
ターンで構成される全ての画像ソースに対して実施する
ことが可能である。

【００４１】次に、欠陥検出部及び欠陥補正部による欠
陥検出補正手法の第２の実施の形態について説明する。
この第２の実施の形態は、請求項１及び３に係る発明に
対応するものである。上記第１の実施の形態では、同色
の連続した配列の画素がある場合に、その連続した配列
の同色画素の相関をとって欠陥検出を行い補正する手法
を示したが、本実施の形態は、連続した同色画素が存在
しない場合における欠陥検出並びに補正手法に関するも
のである。

【００４２】ベイヤ型配列のカラー撮像素子では、Ｒ画
素あるいはＢ画素の配列は、水平及び垂直共に１画素お
きである。しかし、このような連続しないＲ画素に対し
てはＧ及びＢ画素が必ず隣接して存在しており、またＢ
画素に対してはＧ及びＲ画素が必ず隣接して存在してい
る。そこで、本実施の形態では、Ｒ，Ｇ，Ｂの３画素群
を１単位（以下Ｃg 単位という）として、演算処理を行
うことによって、Ｃg単位において擬似的にＲ，Ｇ，Ｂ
の補色であるCy(Cyan)，Ma(Magenta），Ye(Yellow)を生
成し、空間的に連続して配列されたこれら補色間の相関
をとって欠陥を検出し、補正するものである。

【００４３】すなわち、図７に示すようにベイヤ型配列
のカラー撮像素子において、Ｒx を注目画素としたと
き、この注目画素Ｒx をＲ画素として含む隣接するＲ，
Ｇ，Ｂ３画素群からなるＣg 単位のパターンとしては、
例えば図８の（Ａ）〜（Ｈ）に示すＣg パターンPt１〜
Pt８があり、この同形状のＣg パターンが規則的に連続
する方向の３つの隣接Ｃg 単位において相関をとり、欠
陥を検出する。なお、同形状のＣg パターンの規則的に
連続する３つの隣接Ｃg 単位の取り方を例示すると、図
９の（Ａ）〜（Ｊ）に示すような形態があるが、この例
示した以外にも様々な形態がある。

【００４４】３画素の一群のＣg 単位からは、対応する
３種の補色Ｃy ，Ｍa ，Ｙe 全てが算出可能である。例
えば、Ｃg 単位としてＣg パターンPt４を用いた場合に
は、図10の（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）に示すように、３種
の補色画素パターンが算出され、注目補色画素Ｃya，Ｍ
aa，Ｙeaに対する隣接補色画素の相関をとって、注目補
色画素の欠陥検出を行うことができる。

【００４５】次に、補色画素の生成について説明する。
一般に、カラー画像は互いに独立な３刺激値（３原色）
画像を加法混色すれば得ることができ、カラーカメラで
は、この３原色に所定のＲ，Ｇ，Ｂを用いている。一
方、このＲ，Ｇ，Ｂ３原色に対して対局にある色が存在
し、Ｒ，Ｇ，Ｂ３原色に対しては、Ｃy ，Ｍa ，Ｙe が
補色として対応する。

【００４６】原色と補色の関係を、簡易的な色空間で表
すと、図11に示すように表される。すなわち、原色に対
して補色は正負の関係にあり、Ｒ，Ｇ，Ｂを３原色とし
て全色空間を表現しようとした場合、理想的には例えば
Ｒ画素であれば、Ｒの補色であるＣy 被写体には感度を
もたず、Ｙe 被写体とＭa 被写体に感度をもたなければ
ならない。

【００４７】換言すると、例えばＢの補色Ｙe はＲ成分
とＧ成分のみで生成され、逆にＢとは正負の関係にある
ため、Ｂ成分をもたないものと近似できる。同様にＲの
補色Ｃy はＧ成分とＢ成分のみで生成され、Ｇの補色Ｍ
a はＲ成分とＢ成分のみで生成される。このようにし
て、３原色の相関により３補色を簡易的に抽出すること
ができる。

【００４８】例えば、図12の（Ａ）に示すようなＲ，
Ｇ，Ｂ，Ｃy ，Ｍa ，Ｙe で構成されるカラーバーを被
写体にした場合、図12の（Ｂ），（Ｃ），（Ｄ）のＲ，
Ｇ，Ｂ画素レベルに示すように、Ｒ，Ｇ，Ｂの各画素が
感度をもつ色は決まっているため、各原色の差分（Ｒ−
Ｇ，Ｇ−Ｂ，Ｂ−Ｒなど）の演算値の大小関係から各色
を抽出することができる。例えば、補色Ｃy を抽出する
場合、（Ｂ−Ｒ）と（Ｇ−Ｒ）の最小値を演算すればよ
い。すなわち、図11の（Ｅ），（Ｆ）に示すように、
（Ｇ−Ｒ）の信号レベルｋと（Ｂ−Ｒ）の信号レベルｔ
を算出し、差信号レベルｋ，ｔの最小値を演算して求め
ることにより、図11の（Ｇ）に示すように、Ｃy のみを
抽出することができる。なお、差信号レベルｋ，ｔの最
小値を求める際、差信号レベルｋ，ｔにおける負成分は
信号レベルとして存在しないため、負成分を０に置き換
えて演算する。

【００４９】次に、Ｒ，Ｇ，Ｂ３原色信号より補色Ｃy
信号を抽出する演算回路の構成を図13に基づいて説明す
る。このＣy 演算回路は、（Ｇ−Ｒ）算出用加算器41
と、（Ｂ−Ｒ）算出用加算器42と、加算器41の出力信号
の負の値を零クリップするための第１のコンパレータ43
と、加算器42の出力信号の負の値を零クリップするため
の第２のコンパレータ44と、第１のコンパレータ43と第
２のコンパレータ44の出力信号を比較して最小値を選択
出力する第３のコンパレータ45とから構成されている。

【００５０】そして、このような構成のＣy 演算回路に
Ｒ，Ｇ，Ｂ信号を入力し、（Ｇ−Ｒ）算出用加算器41で
Ｇ信号よりＲ信号を減算し、（Ｂ−Ｒ）算出用加算器42
でＢ信号よりＲ信号を減算し、これらの減算結果の負の
値を第１のコンパレータ43及び第２のコンパレータ44で
それぞれ零クリップし、その後第３のコンパレータ45で
零クリップした（Ｇ−Ｒ）信号及び（Ｂ−Ｒ）信号の最
小値選択を行って、Ｃy 信号を抽出する。

【００５１】このように隣接するＲ，Ｇ，Ｂ３画素か
ら、Ｒ，Ｇ，Ｂ３原色の補色であるＣy ，Ｍa ，Ｙe を
生成し、空間的に連続して配列した同色の演算生成補色
間の相関をとることで、補色画素の欠陥を検出すること
ができるが、この場合の欠陥検出手法は、第１の実施の
形態で示した、同色の連続して配列した画素がある場合
の欠陥検出手法と変わらない。すなわち、図10に示した
方向のＣg 単位パターンの隣接配列による欠陥検出の場
合は、第１の実施の形態のＧ欠陥検出におけるＩ方向の
欠陥検出と全く同じ構成の欠陥検出手段を用い同じ処理
手順で、Ｃg 単位の欠陥検出を行うことができる。

【００５２】このようにしてＣg 単位で補色化演算によ
り生成した補色を用いて欠陥検出処理を行う際に、例え
ばＣy のみの単一補色だけではなく、他の補色、つまり
Ｍa，Ｙe についても同様に欠陥検出を行えば、単一補
色の被写体についても欠陥検出を行うことが可能とな
る。すなわち、例えばＹe 単一色の被写体であれば、Ｍ
a やＣy により相関をとって欠陥検出を行うことは不可
能であり、Ｙe による相関をとることにより欠陥検出が
可能であるから、上記のように全ての補色による欠陥検
出を行えば、単一補色の被写体の場合も欠陥検出を行う
ことができる。

【００５３】更にＣg 単位の配列方向を図10に示した方
向以外の、例えば図９に示すような他の方向における相
関を用いることによっても欠陥検出が可能であり、欠陥
検出手段の回路規模を無視すれば、欠陥判定のための配
列方向に基づく相関パターンが多いほど、正確な欠陥検
出が可能となる。

【００５４】ところで、３画素からなるＣg 単位の同色
補色画素の隣接配列の相関に基づく欠陥検出により、補
色画素を構成する各Ｃg 単位の欠陥の有無がわかるが、
欠陥ありと判定された場合に、そのＣg 単位を構成する
Ｒ，Ｇ，Ｂ３画素中のいずれの画素が欠陥であるかは直
ちには判定できない。

【００５５】そこで、次にＣg 単位内の欠陥画素の判定
手法について説明する。Ｃg 単位内の欠陥画素を検出す
るには、特定注目画素を含む異なる画素群からなる各Ｃ
g 単位パターンで同様の欠陥検出を行う。

【００５６】例えば、図14の（Ａ）に示すように、ベイ
ヤ型配列のカラー撮像素子の画素欠陥を判定するには、
Ｒa 画素（注目画素）を含む３画素群からなるＣg 単位
パターンを考える。Ｒa 画素を含む３画素群からなるＣ
g 単位パターンには、図14の（Ｂ）〜（Ｉ）に示すよう
に、Pt１〜Pt８の８種類のパターンがあり、この８種類
のＣg 単位パターンについて全てのＣg 単位パターンPt
１〜Pt８が欠陥であると判定された場合には、注目画素
たるＲa 画素が欠陥であると判定される。一方、Ｃg 単
位パターンPt１において欠陥でないと判定されれば、注
目画素Ｒa はもはや欠陥でないことが判明する。

【００５７】しかしながら、この場合、８つの全てのＣ
g 単位パターンPt１〜Pt８について検出操作を行う必要
はない。すなわち、カラー撮像素子の画素の読み出し操
作を行って欠陥検出を行う場合、順次欠陥判定がなされ
て行くため、Ｃg 単位パターンの中には既に欠陥の有無
が判明している画素が存在する。欠陥検出処理中にこれ
らの欠陥の有無が判明している画素を除外してゆくと、
欠陥画素判定のために用いるＣg 単位パターン数を削減
することができる。

【００５８】すなわち、図14の（Ａ）に示したベイヤ型
配列のカラー撮像素子において、左上画素から順次読み
出し操作を行い、欠陥画素を検出する場合には、Ｒa 画
素の欠陥を判定する段階では、既にＢa ，Ｇb ，Ｂb ，
Ｇa 画素の欠陥判定が終了しているので、これらの画素
がいずれも欠陥画素でないことが判明しているときは、
図14の（Ｂ）に示すＣg 単位パターンPt１が欠陥と判定
された場合には、Ｒa画素が欠陥であると判断すること
ができる。

【００５９】ベイヤ型配列のカラー撮像素子ではＧ画素
が一番多く、Ｃg 単位の補色化演算なしで、連続配列の
Ｇ画素に基づいてＧ画素の欠陥検出が可能である。した
がって、補色化演算を行って得られる第２の実施の形態
におけるＣg 単位の補色による欠陥検出において、この
Ｇ画素欠陥検出結果をもとにして、Ｒ，Ｂ画素の欠陥判
定を行うようにすれば、実際の欠陥検出のために必要と
するＣg 単位パターンのパターン数を削減することがで
き、より小規模の欠陥検出回路を構成することができ
る。

【００６０】ここで、既に知られている欠陥判定結果を
利用する場合は、エリアメモリにその判定結果を記憶さ
せておいて、アドレスを指定して参照するのが一般的で
あるが、本発明においては、Ｇ画素の欠陥判定結果を保
持するための専用のエリアメモリをもつ必要がなく、
Ｒ，Ｂ画素の欠陥判定に必要な演算処理時間分だけ、Ｇ
画素の欠陥フラグをフリップフロップやラインメモリ等
を用いて遅らせて、時系列に処理できるようにしてい
る。

【００６１】次に、このように専用のエリアメモリをも
たずに、前ライン、同一ラインの欠陥判定済みの画素の
判定結果を参照して、欠陥検出・補正を行う回路構成を
図15に基づいて説明する。図15に示す欠陥画素検出補正
回路は、フリップフロップ53とラインメモリ54とを備
え、欠陥検出部51により検出された先行画素、例えばＧ
画素の欠陥検出結果を、フリップフロップ53とラインメ
モリ54を用いて、所定の補色化Ｃg 単位でそのＧ画素に
関する欠陥検出データを使いたいタイミングに合わせ
て、欠陥検出部51へ再送出してやるように構成してい
る。なお、52は欠陥補正部である。

【００６２】このように構成することにより、先に得ら
れた例えばＧ画素の欠陥判定データを専用のエリアメモ
リに保持しておかなくても、リアルタイムで該Ｇ画素の
欠陥判定データをフィードバックして、これを参照して
欠陥判定処理をすることができる。

【００６３】具体的には、欠陥検出部51の判定結果は、
例えば、欠陥ならば“Ｈ”、正常ならば“Ｌ”として、
カラー撮像素子の画素並び順にラインメモリ54へ記録さ
れるか、又はフリップフロップ53により所定クロック分
だけ遅延されて、再度欠陥検出部51へ入力される。この
ときのタイミングは、例えば、図14の（Ｂ）に示したＣ
g 単位パターンPt１の欠陥判定を行う際には、Ｂa ，Ｇ
a の欠陥判定結果が参照できるタイミングで入力すれば
よい。つまり、欠陥検出処理されるＲa 画素信号が来
て、なお且つこの画素が欠陥検出される演算が行われる
タイミングで、参照欠陥判定結果がフィードバックされ
る。欠陥判定処理は、カラー撮像素子上の画素の読み出
しと同じ流れでリアルタイムに行われるため、タイミン
グを上記のように固定しておけば、欠陥画素のカラー撮
像素子上のアドレスを認識しておく必要はない。

【００６４】また、例えばその過程で、補色化Ｃg 単位
の各パターンPt１〜Pt８による欠陥検出を行う場合に、
Ｇa が欠陥であると判明していた場合には、Ｇa が関わ
るＣg 単位パターンであるパターンPt１，Pt８を排除
し、他のＣg 単位パターンPt２〜Pt７のみで欠陥検出操
作を実行すれば、より迅速な処理を行うことができる。

【００６５】先の第２の実施の形態において述べた、補
色化演算を行ったＣg 単位に基づいて欠陥検出を行う場
合、特定の注目画素を含む複数のＣg 単位パターンは、
空間的に極めて近距離にある画素から構成されているた
め、各Ｃg 単位パターン間の相関は強いものと考えてよ
く、それらの信号レベルには大差がないものと考えられ
る。

【００６６】次に、このような概念を利用した欠陥検出
手法について説明する。この欠陥検出手法は、複数のＣ
g 単位パターンの信号レベルの平均値を求め、その平均
値に対して所定の閾値以上乖離しているＣg 単位パター
ンは、欠陥画素を含んでいるものとして判定する手法で
ある。

【００６７】例えば、図14の（Ｂ）〜（Ｉ）に示した８
つのＣg 単位パターンの信号レベルの平均値を求め、そ
の平均値に対して閾値ｂ以上乖離しているＣg 単位パタ
ーンは欠陥画素を含んでいるものと判定するもので、例
えばＣg 単位パターンPt３に関して、次式（４）が成立
する場合は、Ｃg 単位パターンPt３には欠陥画素が含ま
れているものと判定する。 ｜Pt３−ΣPtｎ（ｎ＝１〜８）／８｜＞ｂ ・・・・・・・・・・（４） これにより、隣接する複数のパターンPt３のＣg 単位に
よる欠陥検出処理を省略することができる。

【００６８】この欠陥検出手法は、図14の（Ｂ）〜
（Ｉ）に示したＣg 単位パターンだけでなく、種々パタ
ーンでの欠陥検出が可能であり、システムに応じて最適
な欠陥検出装置を構築することができる。

【００６９】ところで、単板カラー撮像素子において、
その出力を最終画像にするには、同一カラー撮像素子上
にある複数色画素で構成される画像を、周囲の同色画素
から補間して、複数の色画像を生成している。ベイヤ型
の単板カラー撮像素子においては、図16に示すように、
一般的に基準となる原色であるＲ，Ｇ，Ｂ画像を生成す
る。

【００７０】ベイヤ画像からＲ画像を画素補間して生成
しようとする場合は、例えば図16においてＲ画像のＲx
の存在する前後１ラインの本来センサ上に存在するＲ
１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４から、Ｒx ＝ΣＲn(ｎ＝１〜４）
／４という演算処理を行って生成する。

【００７１】このような補間画素の色信号生成のための
演算回路は、図17に示すように、１ライン遅延用の２つ
のラインメモリ61，62と、１画素遅延用の４つのフリッ
プフロップ63，64，65，66と演算器67とで構成され、２
個のラインメモリを必要とする。

【００７２】このように単板カラー画像素子では、色補
間生成処理において垂直方向からの演算を行うためにラ
インメモリを使用するが、この色補間生成処理用のライ
ンメモリを、本発明における欠陥検出補正部で必要とす
るラインメモリと兼用させることが可能であり、新たに
欠陥検出補正部専用のラインメモリを配置することな
く、斜め方向等に連続する画素又は画素ブロック間の相
関による欠陥検出を行うことができる。また本発明によ
る欠陥検出補正処理において、補間色生成演算処理と並
行に行ったり、更には、求める演算結果を共用できるも
のは共用することにより、よりハード規模や消費電力を
低減することが可能となる。

【００７３】上記第２の実施の形態においては、Ｒ，
Ｇ，Ｂの３画素群をＣg 単位とし、擬似的に補色を生成
して、空間的に連続して配列された補色間の相関をとっ
て欠陥を検出し、補正するものを示した。しかしなが
ら、より簡易的なＣg 単位としては、図18（Ａ）に示す
ベイヤ型配列のカラー撮像素子において、Ｒx を注目画
素としたとき、この注目画素Ｒx をＲ画素として含む隣
接する２画素で構成してもよい。

【００７４】この２画素（Ｒ，Ｇの２原色）からなるＣ
g 単位パターンとしては、図18の（Ｂ）〜（Ｅ）に示す
Ｃg 単位パターンPt１′〜Pt４′がある。この２画素
（Ｒ，Ｇの２原色）からなるＣg 単位で生成される補色
（Ｙe)は、図11で示した便宜上の色空間において、隣接
する２原色（Ｒ，Ｇ）からの加算平均により抽出する。
この抽出処理は、例えば、図19に示すように、加算器71
とＬＳＢカット回路72とで構成された演算回路で行われ
る。

【００７５】そして、相関による欠陥検出を行うための
同形状のＣg 単位パターンの規則的に連続する３つの隣
接Ｃg 単位の取り方を例示すると、図20の（Ａ）〜
（Ｆ）に示すような形態があるが、この例示した以外に
も様々な形態がある。欠陥検出手法は、上記各実施の形
態と同様に行えばよい。

【００７６】このようにＣg 単位を２画素で構成し補色
を抽出することにより、欠陥検出精度は若干低下する
が、回路規模を削減することができ、また演算速度の向
上を図ることができる。更に２画素によるＣg 単位は３
画素によるＣg 単位よりもパターンの選択性が多く、よ
り自由度の高い欠陥検出を行うことができる。

【００７７】

【発明の効果】以上実施の形態に基づいて説明したよう
に、請求項１に係る発明によれば、小さな範囲の画素信
号で効率的に欠陥画素を検出でき、またエリアメモリな
どのメモリを必要とせずリアルリイムで補正処理を行う
ことが可能なカラー画像処理装置を提供することができ
る。請求項２に係る発明によれば、請求項１に係るカラ
ー画像処理装置において、小さな範囲の画素信号で欠陥
画素の検出を、極めて容易に効率的に行うことができ
る。請求項３に係る発明によれば、請求項１に係るカラ
ー画像処理装置において、空間的に連続した同一色画素
が直接的に存在しない場合においても、比較的小さな範
囲の画素信号で欠陥画素の検出を効率的に行うことがで
きる。請求項４に係る発明によれば、請求項１に係るカ
ラー画像処理装置において、誤検出が少ない順で小さな
範囲の画素信号により効率的に欠陥検出を行うことがで
きる。請求項５に係る発明によれば、請求項４に係るカ
ラー画像処理装置において、第１の欠陥画素の検出処理
後に行われる第２の欠陥画素の検出を効率よく実行する
ことができる。請求項６に係る発明によれば、異色の複
数画素で演算により同一色の複数の画素群を生成して、
欠陥画素の検出を容易に行えるようにしたカラー画像処
理装置を提供することができる。請求項７に係る発明に
よれば、請求項１〜６のいずれか１項に係るカラー画像
処理装置において、欠陥検出手段専用のラインメモリを
必要とせず欠陥検出を行うことができ、ハード規模や消
費電力を低減することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るカラー画像処理装置を適用した単
板カラーセンサを用いたカラーカメラの概略構成を示す
図である。

【図２】ベイヤ型配列のカラーフィルタを示す図であ
る。

【図３】ベイヤ型配列のカラーセンサにおけるＧ画素の
相関を利用した欠陥画素の検出態様を示す図である。

【図４】同色３画素の相関からの欠陥検出及びその補正
手順を説明するためのフローチャートである。

【図５】同色３画素の相関からの欠陥検出を行う際の３
画素の配列態様を示す図である。

【図６】図４のフローチャートに示した欠陥検出及び補
正手法を実行する欠陥検出補正部の構成例を示す図であ
る。

【図７】ベイヤ型配列のカラーセンサにおいてＲx を注
目画素としたときの画素配列を示す図である。

【図８】図７に示した画素配列において、注目画素Ｒx
をＲ画素として含む隣接するＲ，Ｇ，Ｂ画素群からなる
Ｃg 単位の異なる組み合わせの８つのパターンを示す図
である。

【図９】同形状のＣg 単位パターンの規則的に連続する
３つの隣接Ｃg 単位の取り方を例示した図である。

【図10】Ｃg 単位において演算生成された補色画素の隣
接接続配置態様を示す図である。

【図11】Ｒ，Ｇ，Ｂ３原色に対する補色の色空間的関係
を示す図である。

【図12】Ｒ，Ｇ，Ｂ３原色信号から補色Ｃy を抽出する
態様を示すタイミングチャートである。

【図13】Ｒ，Ｇ，Ｂ３原色信号からＣy 信号を抽出する
演算回路を示すブロック構成図である。

【図14】ベイヤ型配列カラーセンサ及びＲa 注目画素を
含む異なる３画素群からなるＣg 単位パターンを示す図
である。

【図15】専用のエリアメモリをもたず、前ライン及び同
一ラインの欠陥判定済みの画素の判定結果を参照して欠
陥検出・補正を行う、欠陥検出補正回路の構成を示すブ
ロック構成図である。

【図16】ベイヤ型配列のカラー画像からＲ，Ｇ，Ｂ画像
を生成する態様を示す概略図である。

【図17】ベイヤ型配列のカラー画像からＲ画像を補間生
成するための色生成演算回路を示すブロック構成図であ
る。

【図18】ベイヤ型配列カラーセンサ及び注目画素Ｒx を
含む２画素群からなるＣg 単位パターンを示す図であ
る。

【図19】Ｒ，Ｇ２原色信号から補色Ｃy 信号を抽出する
演算回路を示すブロック構成図である。

【図20】図18に示したＣg 単位パターンの規則的に連続
する３つの隣接Ｃg 単位の取り方を例示した図である。

【符号の説明】

１ レンズ ２ 単板カラーセンサ ３ 光学ＬＰＦ ４ Ａ／Ｄ変換回路 ５ 欠陥検出部 ６ 欠陥補正部 11，12 ラインメモリ 13，14，15 フリップフロップ 21 第１の加算器 22−１，22−２，22−３ 乗算器 23 第１の比較回路 24 第２の加算器 25 ＬＳＢカット回路 26 減算器 27 第２の比較回路 28 エンコーダ 31 エンコーダ 32 セレクタ 41 （Ｇ−Ｒ）算出用加算器 42 （Ｂ−Ｒ）算出用加算器 43 第１のコンパレータ 44 第２のコンパレータ 45 第３のコンパレータ 51 欠陥検出部 52 欠陥補正部 53 フリップフロップ 54 ラインメモリ 61，62 ラインメモリ 63，64，65，66 フリップフロップ 67 演算器 71 加算器 72 ＬＳＢカット回路 101 Ｉ方向画素並べ替え部 102 Ｉ方向欠陥検出部 201 Ｑ方向画素並べ替え部 202 Ｑ方向欠陥検出部 301 欠陥補正部

フロントページの続き Ｆターム(参考） 5B047 AB04 BB04 BC07 DA06 DC11 5C065 BB23 DD17 EE05 EE06 GG13 GG17 5C077 LL01 MM03 MP08 PP10 PP32 PP43 PQ18 PQ20 PQ22 5C079 HB01 JA13 LA01 LA12 MA03 MA11 NA10 NA11 NA13 NA27

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 それぞれ所定の色の複数のフィルタ素子
   からなる色フィルタの各フィルタ素子をそれぞれ対応さ
   せて配置した複数の画素からなるカラー撮像素子におけ
   る欠陥画素を検出し補正処理するカラー画像処理装置に
   おいて、同色の色が連続する配列に沿って、画素信号間
   で相関をとって欠陥画素を検出する手段と、検出された
   欠陥画素に対応する画素信号を補正する手段とを備えて
   いることを特徴とするカラー画像処理装置。
2. 【請求項２】 前記検出手段は、空間的に連続する同色
   のフィルタ素子の配列に沿って、画素信号間で相関をと
   って欠陥画素を検出するように構成されていることを特
   徴とする請求項１に係るカラー画像処理装置。
3. 【請求項３】 前記検出手段は、隣接する非同一色の複
   数のフィルタ素子に対応する複数の画素の画素信号間で
   演算を行って複数の画素に亘る演算生成色を生成し、同
   色の演算生成色が空間的に連続する配列に沿って、画素
   信号間で相関をとって欠陥画素を検出するように構成し
   たことを特徴とする請求項１に係るカラー画像処理装
   置。
4. 【請求項４】 前記検出手段は、空間的に連続する同色
   のフィルタ素子の配列に沿った画素信号間で相関をとっ
   て第１の欠陥画素を検出した後、更に隣接する非同一色
   の複数のフィルタ素子に対応する複数の画素の画素信号
   間で演算を行って演算生成色を生成し、同色の演算生成
   色が空間的に連続する配列に沿った画素信号間で相関を
   とって第２の欠陥画素を検出するように構成されている
   ことを特徴とする請求項１に係るカラー画像処理装置。
5. 【請求項５】 前記検出手段は、第１の欠陥画素を第２
   の欠陥画素の検出時における検出処理の対象情報から省
   くように構成されていることを特徴とする請求項４に係
   るカラー画像処理装置。
6. 【請求項６】 それぞれ所定の色の複数のフィルタ素子
   からなる色フィルタの各フィルタ素子をそれぞれ対応さ
   せて配置した複数の画素からなるカラー撮像素子におけ
   る欠陥画素を検出し補正処理するカラー画像処理装置に
   おいて、注目画素と該注目画素に隣接する非同一色のフ
   ィルタ素子が配置された複数の画素との間で、注目画素
   を含む複数画素の組み合わせの異なる複数の画素群パタ
   ーンを形成し、各画素群パターンを構成する各画素から
   得られる信号に基づいて各画素群パターンが同一色を得
   る演算を行い、同一色を得る演算により得られた各画素
   群パターンの信号の相関を各画素群パターン間でとっ
   て、欠陥画素を含む画素群パターンを検出する手段を備
   えていることを特徴とするカラー画像処理装置。
7. 【請求項７】 前記カラー撮像素子からの画像信号に基
   づいて所定の色画像信号を得るための色生成処理回路を
   備え、前記欠陥画素検出手段は、前記色生成処理回路用
   ラインメモリを欠陥画素検出回路用ラインメモリとして
   共用するように構成されていることを特徴とする請求項
   １〜６のいずれか１項に係るカラー画像処理装置。