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JP2002008240A - 相変化光ディスクの再生方法とその装置 - Google Patents

相変化光ディスクの再生方法とその装置

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Publication number
JP2002008240A
JP2002008240A JP2000189693A JP2000189693A JP2002008240A JP 2002008240 A JP2002008240 A JP 2002008240A JP 2000189693 A JP2000189693 A JP 2000189693A JP 2000189693 A JP2000189693 A JP 2000189693A JP 2002008240 A JP2002008240 A JP 2002008240A
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JP
Japan
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power
reproduction
optical disk
reproducing
change optical
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Pending
Application number
JP2000189693A
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English (en)
Inventor
Masatsugu Ogawa
雅嗣 小川
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 相変化光ディスクのアーカイバルオーバライ
ト特性の劣化を抑制する。 【解決手段】 記録を行なった後に、通常再生するパワ
ーよりも高い再生パワーで少なくとも1回再生する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、相変化光ディスク
の再生方法とその装置に係わり、特に、アーカイバルオ
ーバライト特性の劣化を抑えた相変化光ディスクの再生
方法とその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、書換え型光ディスクとして、ディ
ジタル・ビデオ・ディスク(DVD)に代表される相変
化型の光ディスクが盛んに研究、開発されており、すで
に一部のものは実用化されている。
【0003】書換え型光ディスクに求められる特性に、
周囲の環境によって光ディスクが変質しない特性、つま
り耐候性がある。耐候性の中にも3種類の特性があり、
それぞれ、アーカイバル特性、シェルフ特性、アーカイ
バルオーバライト特性と呼ばれることが多い。
【0004】アーカイバル特性は、記録したデータの保
存性に関係するもので、一度記録されたデータがどの程
度の期間安定に存在するかを決める特性である。したが
って、アーカイバル特性が劣化すると、記録したデータ
が再生できなくなってしまう。
【0005】シェルフ特性は、まだ未記録の状態の部分
がどの程度の期間変質せずに存在するかを決めるもの
で、シェルフ特性が劣化すると、未記録の部分に記録し
ても良好に記録ができなくなってしまう。
【0006】又、アーカイバルオーバライト特性は、す
でに一度以上記録した部分にどの程度の期間良好にオー
バライト(書換え)ができるかを決めるもので、アーカ
イバルオーバライト特性が劣化すると、良好にオーバラ
イト記録ができなくなってしまう。
【0007】以上のような耐候性を高めるために、従来
では、記録膜に添加物を入れる方法(例えば、特開平5
−124353号公報)や、記録膜をある保護膜で挟む
方法等が盛んに研究されており、それなりの成果を上げ
ている。
【0008】しかしながら、これらの方法を用いた媒体
でも、記録膜は僅かながらでも時々刻々と変化してい
る。そして、近年の高密度化にともなって記録膜の微妙
な変化も許されない状況になりつつある。特に、アーカ
イバルオーバライト特性は、常温でも数年で劣化してし
まう場合もあり、大きな問題となっている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上記
した従来技術の欠点を改良し、特に、相変化光ディスク
のアーカイバルオーバライト特性の劣化を抑えた新規な
相変化光ディスクの再生方法とその装置を提供するもの
である。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は上記した目的を
達成するため、基本的には、以下に記載されたような技
術構成を採用するものである。
【0011】即ち、本発明に係わる相変化光ディスクの
再生方法の第1態様は、相変化光ディスクの再生におい
て、記録した後に、通常の再生パワーPa以上の再生パ
ワーPbで少なくとも一度再生することを特徴とするも
のであり、叉、第2態様は、前記再生パワーPbでの再
生による記録信号のC/N劣化が、0.5dB以内に収
まる再生パワーを、前記再生パワーPbとして使用する
ことを特徴とするものであり、叉、第3態様は、前記再
生パワーPaの1.5〜1.8倍の再生パワーを、前記
再生パワーPbとして使用することを特徴とするもので
あり、叉、第4態様は、前記相変化光ディスクの記録後
ベリファイの際に、通常の再生パワーPa以上の再生パ
ワーPbを用いた記録後ベリファイを行なうことを特徴
とするものである。
【0012】叉、本発明に係わる相変化光ディスクの再
生装置の方法の第1態様は、通常の再生パワーPaで相
変化光ディスクを再生する第1の手段と、前記通常の再
生パワーPa以上の再生パワーPbを用いて、前記相変
化光ディスクを再生する第2の手段と、を少なくとも備
えたことを特徴とするものであり、叉、第2態様は、通
常の再生パワーPaで相変化光ディスクを再生する第1
の手段と、相変化光ディスクの記録後ベリファイの際
に、前記通常の再生パワーPa以上の再生パワーPbを
用いて記録後ベリファイを行なうため、前記相変化光デ
ィスクを再生する第2の手段と、を少なくとも備えたこ
とを特徴とするものであり、叉、第3態様は、前記再生
パワーPbでの再生による記録信号のC/N劣化が、
0.5dB以内に収まる再生パワーを、前記再生パワー
Pbとして使用することを特徴とするものであり、叉、
第4態様は、前記再生パワーPaの1.5〜1.8倍の
再生パワーを、前記再生パワーPbとして使用すること
を特徴とするものである。
【0013】
【発明の実施の形態】図1に、本発明の光ディスクの再
生方法の模式的な流れを示す。特徴的なのは、通常の再
生パワーPaでの再生の前に、通常の再生パワーPaよ
りも高い再生パワーPbで記録データを再生している点
にある。従来の再生方法では、この再生パワーPbによ
る再生の工程がない。再生パワーPbによる再生は、次
回の記録までに行なっておけば良いので、再生パワーP
bでの再生の前に再生パワーPaでの再生が行われても
良いし、交互に再生パワーPaと再生パワーPbとが何
度か繰り返されても良い。
【0014】再生パワーPbで再生を行なう理由は、ア
ーカイバルオーバライト特性を劣化させないためであ
る。
【0015】図2に本発明の原理を実証した実験データ
を示す。図2は、長時間保存した記録マークにオーバラ
イトした場合のノイズが、再生パワーPbの光を当てる
ことによって、どのように変化するかを示したものであ
る。図2の縦軸は、相変化光ディスクに記録を行ない、
その直後にオーバライト記録した場合のノイズレベル
と、それを80℃で30時間放置し、その後オーバライ
ト記録を行なった場合のノイズレベルの差を示してい
る。プラスの方向は、放置後のノイズレベルが高くなっ
たことを意味し、アーカイバルオーバライト特性が劣化
していることを示す。80℃で30時間放置することの
意味は、長時間保存後のオーバライト記録ノイズの変化
を、加速的に試験するためである。横軸は、本発明の再
生パワーPbの照射時間であり、80℃で30時間放置
した記録マークに、再生パワーPbの光をどれだけ当て
たかを意味している。図2では再生パワーPbとして、
1.1mWを使用しており、通常の再生パワーPaは
0.8mWのケースである。
【0016】図2を見るとわかるように、再生パワーP
bでの再生時間が長ければ、ノイズ上昇量が減少してお
り、アーカイバルオーバライト特性が劣化していないこ
とがわかる(図の黒丸を参照)。PBの再生時間が、
「0」のときは、従来の再生方法を意味しており、従来
の再生方法では、アーカイバルオーバライト特性の劣化
を抑えられないこともわかる。
【0017】図2には、80℃で30時間放置した記録
マークを、再生パワーPbで20分再生した後、さらに
80℃で30時間放置した場合のアーカイバルオーバラ
イト特性の実験結果も示しており、黒三角印がそのデー
タである。このデータの意味するところは、一度再生パ
ワーPbで再生し、アーカイバルオーバライト特性が劣
化しない領域に達した記録マークは、その後、アーカイ
バルオーバライト特性が劣化しないということである。
つまり、再生パワーPbでの再生は、次のオーバライト
の前に行なっておけば良く、一度行なっておけば、次の
オーバライトが行われるまで行なう必要がないのであ
る。
【0018】この例の場合は、再生パワーPbを1.1
mWに設定したが、更に高いパワにすればするほど、必
要な再生時間が減少する。それを示したのが図3であ
る。縦軸に、アーカイバルオーバライト特性が劣化しな
くなるのに必要な再生回数、横軸に、再生パワーPbの
値を示している。1.3mW以上では、1回再生すれ
ば、効果が得られるようになってしまい、再生回数が飽
和している。
【0019】一方、再生パワーPbを高く設定すればす
るほど良いと言うものでもなく、高く設定することで問
題となる特性もある。それは再生パワーPbが照射され
ることで、記録マーク自体に消去が起こり、データが消
失してしまうことである。図4に、再生パワーPbと記
録データのC/Nの劣化の関係を示すが、再生パワーを
高くするとC/Nの劣化が激しくなってくることがわか
る。この場合、各再生パワーPbでの再生回数は、図3
の縦軸で示された回数(アーカイバルオーバライト特性
が劣化しなくなる再生回数)である。1回の再生で効果
が得られるようになるパワー以上のパワーでは、アーカ
イバルオーバライト特性の改善に加えて、消去が始まっ
てしまうことがわかる。
【0020】したがって、再生パワーPbの値は、通常
の再生パワーPaの1.5〜1.8倍程度に設定し、設
定に合わせて、再生回数を調整するのが望ましい。実際
は、1回の再生で効果が得られ、かつ消去が少ない再生
パワーに設定するのが効率的であろう。
【0021】上記の実験事実に基づいた発明が、本発明
の相変化光ディスクの再生方法であり、本発明を使用す
れば、アーカイバルオーバライト特性を劣化させないこ
とができるのである。
【0022】パソコンの外部記憶装置として使用されて
いる相変化光ディスク装置では、記録の後に記録が正常
に行なわれているかどうかを判断するために、一度記録
データを再生して確認するという作業をするものも多
い。この作業をベリファイと呼んでいるが、このベリフ
ァイ時に本発明の再生パワーPbでの再生を行なってし
まうと、非常に効率が良い。つまり、ベリファイと同時
にアーカイバルオーバライト特性の劣化を止める処理も
してしまうので、1石2鳥なのである。これが、本発明
の相変化光ディスク装置である。
【0023】
【実施例】(実施例1)以下に、本発明の第1の実施例
について説明する。
【0024】相変化記録媒体としては、図5に示したも
のを使用した。基板14と誘電体膜とで挟まれた記録膜
11とで成り立っている。図5中では、基板14の上に
二つの誘電体膜12、13と記録膜11しか示されてい
ないが、記録膜11のうえの誘電体膜(基板から最も遠
い誘電体膜)の上に反射膜等を形成してもかまわない。
記録膜としては、カルコゲナイド系材料であるGeSbTe
系、InSbTe系、InSe系、InTe系、AsTeGe系、TeOx-GeSn
系、TeSeSn系、SbSeBi系、BiSeGe系、AgInSbTe系の相
変化材料が使用される。また、反射膜としてはAl、A
lTi等が望ましい。
【0025】基板の材質としては、ポリカーボネイト、
アクリル等の合成樹脂、ガラスなどが使用でき、これら
には樹脂等が被覆されているものを用いてもよい。基板
の形状としては、ディスク状のものやカード状のものを
用いる。
【0026】基板14として、直径120mm、トラッ
クピッチ0.58μm、基板厚0.6mmのポリカーボ
ネイト基板を用い、基板14に、干渉膜12としてZn
s−SiO膜を170nm、記録膜11としてGe
SbTe膜を14nm、保護膜13としてZns−
SiO膜20nmを順次成膜した。また、今回は保護
膜13の上にAlTi膜を100nm成膜している。
【0027】通常の再生パワーPaとして0.8mW、
再生パワーPbとして、1.3mWを使用した。
【0028】まず、最初に上記した相変化光ディスクに
記録を行ない、通常の再生パワーPaで再生を行ないな
がら記録データのエラーレートを測定したところ、1.
0×10−6程度の良好なエラーレートが得られた。そ
の後、記録したデータを再生パワーPbで1度再生し、
その後、通常の再生パワーPaでエラーレートを測定し
たところ、同等のエラーレートが得られた。再生パワー
Pbによる再生が、C/Nレベルでどの程度影響がある
かを確かめるために、上記の記録とは別に、単一周期の
信号を記録し、再生パワーPbで再生したところ、C/
Nの劣化は0.2dB程度であった。再生パワーPbに
よる再生によって記録データの劣化は存在するが、エラ
ーレート的には問題がないレベルであることが確かめら
れた。
【0029】上記の処理を行なった記録済みの相変化光
ディスクを環境試験機に投入し、80℃の環境で100
時間放置した。その後、上記相変化光ディスクの既記録
データ上にオーバライトを行ない、オーバライト後のエ
ラーレートを再生パワーPaで測定したところ、1.0
×10−6程度のエラーレートが得られた。つまり、ア
ーカイバルオーバライト特性の劣化を抑制することに成
功した。
【0030】(実施例2)実施例1と同じ相変化光ディ
スクを用い、通常の再生パワーPaとして、0.8 m
W、再生パワーPbとして、1.5mWを使用した場合
の実験を行なった。
【0031】まず、最初に上記した相変化光ディスクに
記録を行ない、通常の再生パワーPaで再生を行ないな
がら記録データのエラーレートを測定したところ、1.
0×10−6程度の良好なエラーレートが得られた。そ
の後、記録したデータを再生パワーPbで1度再生し、
その後、通常の再生パワーPaでエラーレートを測定し
たところ、1.0×10−5程度までエラーレートが劣
化していた。このままでは、アーカイバルオーバライト
特性は改善されたとしても、実用上問題が生じてしま
う。再生パワーPbによる再生が、C/Nレベルでどの
程度影響があるかを確かめるために、上記の記録とは別
に単一周期の信号を記録し、再生パワーPbで再生した
ところ、C/Nの劣化は0.6dB程度であった。再生
パワーPbによる再生でのC/N劣化は0.5dB以内
に抑えるのが望ましい。
【0032】(実施例3)実施例1と同じ相変化光ディ
スクを用い、通常の再生パワーPaとして0.8mW、
再生パワーPbとして、1.2mWを使用した場合の実
験を行なった。
【0033】まず、最初に上記した相変化光ディスクに
記録を行ない、通常の再生パワーPaで再生を行ないな
がら記録データのエラーレートを測定したところ、1.
0×10−6程度の良好なエラーレートが得られた。そ
の後、記録したデータを再生パワーPbで再生し(その
際、再生回数はいろいろと変化させた)、環境試験機に
投入、アーカイバルオーバライト特性の劣化の実施例1
と同様に行なったところ、再生パワーPbによる再生が
100回以上になると、アーカイバルオーバライト特性
の劣化を防ぐことができた。100回程度の再生は、同
一トラックを数秒程度再生することに相当し、装置が特
に動作しなくて良い待ち時間に本発明のの処理を行なう
ことができる。したがって、実施例2と考え合わせる
と、再生パワーPbの範囲は、再生パワーPaの1.5
〜1.8倍程度が望ましい。
【0034】(実施例4)実施例1と同じ相変化光ディ
スクを用い、記録後ベリファイを行なう相変化光ディス
ク装置を作製し、ベリファイ用の再生パワーを1.3m
Wとした場合のアーカイバルオーバライト特性実験を行
なった。通常の再生パワーPaとしては、0.8mWを
使用している。
【0035】上記装置で記録を行なったところ、記録デ
ータのベリファイ時に問題はないと判断された。その
後、上記装置で記録を行なった相変化光ディスクを環境
試験機に投入し、80℃の環境で100時間放置した。
その後、上記装置を使用して、上記相変化光ディスクの
既記録データ上にオーバライトを行なったところ、ベリ
ファイ時に問題はないと判断された。つまり、アーカイ
バルオーバライト特性の劣化を抑制することに成功し
た。
【0036】(実施例5)実施例1と同じ相変化光ディ
スクと、実施例4と同じ装置で、ベリファイ用の再生パ
ワーを1.5mWとした場合のアーカイバルオーバライ
ト特性実験を行なった。通常の再生パワーPaとしては
0.8mWを使用している。
【0037】上記装置で記録を行なったところ、記録デ
ータのベリファイ時に問題が指摘され、ベリファイ用の
再生パワーが高すぎることがわかった。実施例2と考え
合わせると、やはり、上記相変化光ディスク装置のベリ
ファイ用の再生パワーは、ベリファイ用の再生パワーに
よる再生でのC/N劣化は0.5dB以内に抑えるのが
望ましい。
【0038】(比較例1)上記実施例と同じ相変化光デ
ィスクを用いて、従来の再生方法を実施した。
【0039】まず、最初に上記相変化光ディスクに記録
を行ない、通常の再生パワーPaで再生を行ないなが
ら、記録データのエラーレートを測定したところ、1.
0×10−6程度の良好なエラーレートが得られた。そ
の後、記録済みの相変化光ディスクを環境試験機に投入
し、80℃の環境で100時間放置した。その後、上記
相変化光ディスクの既記録データ上にオーバライトを行
ない、オーバライト後のエラーレートを再生パワーPa
で測定したところ、1.0×10−4程度までエラーレ
ートが悪化した。つまり、従来の再生方法では、アーカ
イバルオーバライト特性の劣化を抑制できない。
【0040】(比較例2)上記実施例と同じ相変化光デ
ィスクを用いて、通常の再生パワーPaで記録後ベリフ
ァイを行なう装置のアーカイバルオーバライト特性を調
べた。
【0041】上記装置で記録を行なったところ、記録デ
ータのベリファイ時に問題はないと判断された。その
後、上記装置で記録を行なった相変化光ディスクを環境
試験機に投入し、80℃の環境で100時間放置した。
その後、上記装置を使用して、上記相変化光ディスクの
既記録データ上にオーバライトを行なったところ、ベリ
ファイ時に問題が発生した。つまり、通常の再生パワー
Paでベリファイを行なう装置では、アーカイバルオー
バライト特性の劣化を抑制することはできない。
【0042】
【発明の効果】本発明により、アーカイバルオーバライ
ト特性の劣化を抑制することができ、光ディスクの高密
度化および信頼性の向上に大きく寄与することができ
る。
【0043】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の相変化光ディスクの再生方法のプロセ
スを示す図である。
【図2】本発明の相変化光ディスクの再生方法の検証実
験を示すグラフである。
【図3】再生パワーPbと必要再生回数の関係を示すグ
ラフである。
【図4】再生パワーPbと記録データC/N劣化の関係
を示すグラフである。
【図5】相変化記録媒体の構成を示す図である。
【符号の説明】
11 記録膜 12 干渉膜 13 保護膜 14 基板

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 相変化光ディスクの再生において、記録
    した後に、通常の再生パワーPa以上の再生パワーPb
    で少なくとも一度再生することを特徴とする相変化光デ
    ィスクの再生方法。
  2. 【請求項2】 前記再生パワーPbでの再生による記録
    信号のC/N劣化が、0.5dB以内に収まる再生パワ
    ーを、前記再生パワーPbとして使用することを特徴と
    する請求項1記載の相変化光ディスクの再生方法。
  3. 【請求項3】 前記再生パワーPaの1.5〜1.8倍
    の再生パワーを、前記再生パワーPbとして使用するこ
    とを特徴とする請求項1記載の相変化光ディスクの再生
    方法。
  4. 【請求項4】 前記相変化光ディスクの記録後ベリファ
    イの際に、通常の再生パワーPa以上の再生パワーPb
    を用いた記録後ベリファイを行なうことを特徴とする請
    求項1乃至3のいずれかに記載の相変化光ディスクの再
    生方法。
  5. 【請求項5】 通常の再生パワーPaで相変化光ディス
    クを再生する第1の手段と、 前記通常の再生パワーPa以上の再生パワーPbを用い
    て、前記相変化光ディスクを再生する第2の手段と、 を少なくとも備えたことを特徴とする相変化光ディスク
    の再生装置。
  6. 【請求項6】 通常の再生パワーPaで相変化光ディス
    クを再生する第1の手段と、 相変化光ディスクの記録後ベリファイの際に、前記通常
    の再生パワーPa以上の再生パワーPbを用いて記録後
    ベリファイを行なうため、前記相変化光ディスクを再生
    する第2の手段と、 を少なくとも備えたことを特徴とする相変化光ディスク
    の再生装置。
  7. 【請求項7】 前記再生パワーPbでの再生による記録
    信号のC/N劣化が、0.5dB以内に収まる再生パワ
    ーを、前記再生パワーPbとして使用することを特徴と
    する請求項5又は6記載の相変化光ディスクの再生装
    置。
  8. 【請求項8】 前記再生パワーPaの1.5〜1.8倍
    の再生パワーを、前記再生パワーPbとして使用するこ
    とを特徴とする請求項5又は6記載の相変化光ディスク
    の再生装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005024825A1 (ja) * 2003-09-05 2005-03-17 Fujitsu Limited 光磁気ディスク装置および光磁気ディスクに対するデータ書き込み方法
JP2007109287A (ja) * 2005-10-12 2007-04-26 Hitachi Ltd 光ディスク装置およびレーザー制御方法
WO2008062536A1 (en) * 2006-11-24 2008-05-29 Pioneer Corporation Information recording device and method, and computer program

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