JP2002006930A - Manufacturing history tracking system - Google Patents
Manufacturing history tracking systemInfo
- Publication number
- JP2002006930A JP2002006930A JP2000189723A JP2000189723A JP2002006930A JP 2002006930 A JP2002006930 A JP 2002006930A JP 2000189723 A JP2000189723 A JP 2000189723A JP 2000189723 A JP2000189723 A JP 2000189723A JP 2002006930 A JP2002006930 A JP 2002006930A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- manufacturing
- product
- management means
- collecting
- progress
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing
Landscapes
- General Factory Administration (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】製品が各工程でどのような製造条件を用いて製
造されてきたかを追跡する必要があるが、製品の進捗状
況とプロセス変更や設備保全の条件およびその時期が同
期されていないため、そのような追跡をすることが困難
である。
【解決手段】収集した検査結果や進行管理情報と製造設
備の稼働実績を収集する手段と製造条件実績を重ね合わ
せるできる手段を有し、それらの実績情報を同一の出力
装置に表示する出力手段を備えるシステム。
(57) [Summary] [Problem] It is necessary to track under what kind of manufacturing conditions a product has been manufactured in each process, but the progress status of the product and the conditions and timing of process changes and equipment maintenance are required. Such tracking is difficult because they are not synchronized. The present invention includes means for collecting collected inspection results and progress management information and operation results of manufacturing equipment, and means for superimposing manufacturing condition results, and an output means for displaying the result information on the same output device. Prepare system.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、ディスク装置用磁
気ヘッド製造プロセスなどの薄膜製造プロセスにおいて
不良の原因となる工程および装置を特定したり、段取り
作業や製造条件の変更をするための製造来歴追跡技術に
関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a manufacturing history for specifying a process and an apparatus causing a defect in a thin film manufacturing process such as a magnetic head manufacturing process for a disk drive, and for performing a setup operation and changing manufacturing conditions. It is about tracking technology.
【0002】[0002]
【従来の技術】ディスク装置用磁気ヘッド製造をはじめ
として、複数の設備を用いて多数の工程での処理を必要
とするような製造ラインにおいては、工程毎の作業実績
を収集し製品の進行実績を管理/把握する進行管理シス
テムや、製品の出来映えや評価検査結果を管理/評価す
る検査結果管理システムなどを構築している。2. Description of the Related Art In a manufacturing line that requires processing in a number of processes using a plurality of facilities, such as manufacturing a magnetic head for a disk drive, work results for each process are collected and the progress of a product is performed. We have built a progress management system that manages / understands the results, and an inspection result management system that manages / evaluates product workmanship and evaluation inspection results.
【0003】工場ではこれらのシステムを用いて工場内
の製品の物流や検査を管理している。The factory uses these systems to manage the distribution and inspection of products in the factory.
【0004】例えば、ディスク装置用磁気ヘッド製造や
半導体製造においては、製品の進捗状況を製品の投入か
ら払出までの工程を縦軸に着工日を横軸にとった製品進
行グラフを作成し、製品の進行実績状況を管理/把握し
ている。For example, in the manufacture of a magnetic head for a disk drive or the manufacture of a semiconductor, a product progress graph is prepared by plotting the progress of a product on the vertical axis with the process from product introduction to withdrawal on the vertical axis and the start date on the horizontal axis. Manages / understands the progress status of
【0005】更にこれらのラインにおいては、プロセス
安定および歩留り向上を図るため、これらを阻害する要
因を特定することを実施しており、要因特定を実現する
管理システムや手法がいくつか開発されている。Further, in these lines, in order to improve the process stability and the yield, the factors which hinder these processes are specified, and some management systems and methods for realizing the factors have been developed. .
【0006】例えば半導体製造プロセスを対象にしたも
のとしては、特開平05−160239号公報、特開平
10−326816号公報が挙げられる。For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 05-160239 and Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-326816 are cited as those for a semiconductor manufacturing process.
【0007】特開平05−160239号公報では、製
品の検査結果から同一不良製品を選定し、これらの製品
の各工程に対する着工日の関係を示す進行グラフを作成
し、そのグラフの交点および進度差から所望の製品の不
良原因となる工程を特定することを特徴としている。In Japanese Patent Application Laid-Open No. 05-160239, the same defective products are selected from the inspection results of the products, a progress graph showing the relationship between the start dates of the respective processes of these products is created, and the intersection points and the difference in progress of the graphs are produced. , A process which causes a defect of a desired product is specified.
【0008】また、特開平10−326816号公報で
は、製品の各工程の作業実績情報と製品の出来映え検査
結果に演算処理により得られた画像情報を用いて不良原
因となる工程を特定している。In Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 10-326816, a process which causes a defect is specified by using image information obtained by performing an arithmetic process on operation result information of each process of a product and a result of workmanship inspection of the product. .
【0009】[0009]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
技術では、不良発生原因工程と判明しても工程のプロセ
スが原因なのか設備が原因なのか特定できないことがあ
り、たとえ設備起因による不良発生工程が特定できて
も、設備のどの部分の不具合か推定できないため、設備
改善や不良対策に多大な時間を要することとなる。However, in the above prior art, even if it is determined that the process is a cause of failure, it may not be possible to specify whether the process is caused by a process or equipment. Even if it can be specified, since it is not possible to estimate which part of the equipment is defective, it takes a lot of time to improve the equipment and take measures against defects.
【0010】また検査結果を任意の製品単位で製品の位
置毎に重ね合わせたり、良/不良の区分別に位置毎の相
対頻度を表し、歩留り阻害要因の抽出を図っているが、
各工程のプロセスが頻繁に変更されるような製品では、
製造された製品の出来映えの検査のみで単純に良/不良
の区分別に分類してもプロセス安定・歩留り向上を阻害
する設備の特定は簡単にいかないといえる。[0010] In addition, the inspection results are superimposed for each product position in an arbitrary product unit, and the relative frequency of each position is displayed for each of good / bad classifications to extract a factor inhibiting yield.
For products where the process of each step changes frequently,
It can be said that it is not easy to identify the equipment that hinders the process stability and the improvement of the yield even if the classification is simply made into good / defective only by inspecting the quality of the manufactured product.
【0011】このような製品においては、プロセス安定
・歩留り向上阻害要因を特定するために、製品が各工程
でどのような製造条件を用いて製造されてきたかを追跡
する必要があるが、上記従来技術ではそのような追跡を
することが困難である。In such a product, it is necessary to track under what manufacturing conditions the product has been manufactured in each process in order to identify the factors that hinder process stability and yield improvement. Such tracking is difficult with technology.
【0012】さらに、これら従来技術においては、製品
の進捗状況とプロセス変更や設備保全の条件およびその
時期が同期されていないため、プロセス変更のタイミン
グにより対象製品の進捗を妨げたり、また不必要なプロ
セス変更や設備保全をしてしまい、不良を作り込む原因
となっていることが発生している。Furthermore, in these prior arts, the progress of the product is not synchronized with the process change and equipment maintenance conditions and the timing thereof. Therefore, the progress of the target product is hindered by the timing of the process change, and unnecessary progress is prevented. Process changes and equipment maintenance have been performed, causing defects.
【0013】[0013]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明では、収集した検査結果や進行管理情報と製造
設備の稼働実績を収集する手段と製造条件実績を重ね合
わせるできる手段を有し、それらの実績情報を同一の出
力装置に表示する出力手段を備えている。In order to solve the above-mentioned problems, the present invention has a means for collecting collected inspection results and progress management information and operation results of manufacturing equipment, and a means for superimposing manufacturing condition results. And output means for displaying the result information on the same output device.
【0014】すなわち製品の製造・検査来歴を追跡する
製造来歴追跡システムであって、製品のできばえを評価
するための検査結果や製品の特性を収集する検査結果収
集手段と、製造ラインの作業実績を収集する進行管理手
段と、製品の製造条件実績を収集する製造条件管理手段
と製造設備の稼働実績を収集する稼働実績管理手段と不
良発生原因を推定するための演算を実施する原因推定手
段とこれらの管理手段からの情報を同一の出力装置に表
示する出力手段を備え、製造プロセスにおける不良原因
となる工程を摘出することを特徴とする製造来歴追跡シ
ステムである。前記構成により、本発明におけるシステ
ムは、作業実績、製造条件実績、設備の稼働実績を同一
の出力画面に表示することができ、これから製品の不良
原因を迅速に容易にかつ確実に特定することが可能とな
る。That is, a manufacturing history tracking system for tracking a manufacturing / inspection history of a product, an inspection result collecting means for collecting inspection results for evaluating the quality of the product and characteristics of the product, and an operation of a manufacturing line. Progress management means for collecting results, manufacturing condition management means for collecting product manufacturing condition results, operation result management means for collecting operation results of manufacturing equipment, and cause estimating means for performing calculations for estimating the cause of failure And an output unit for displaying information from the management unit on the same output device, and extracting a step causing a defect in the manufacturing process. With the above configuration, the system according to the present invention can display work results, production condition results, and equipment operation results on the same output screen, and from now on, the cause of a product defect can be quickly, easily, and reliably identified. It becomes possible.
【0015】さらに、製品の進行予測値を算出する手段
を有することで、製造設備の段取り作業の開始や製造条
件の変更を作業者に指示することが可能となり、製造条
件設定の不具合・不整合による不良製品の製造を未然に
防止することができ、製造プロセス設計支援に効果があ
る。Further, the provision of the means for calculating the predicted value of the progress of the product makes it possible to instruct the operator to start the setup work of the manufacturing equipment and to change the manufacturing conditions, thereby making the setting of the manufacturing conditions inconsistent or inconsistent. As a result, the production of defective products can be prevented beforehand, which is effective in supporting the production process design.
【0016】[0016]
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実現形態につい
て説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described.
【0017】図1は本発明の実施形態にかかる製造来歴
追跡システムの構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram of a manufacturing history tracking system according to an embodiment of the present invention.
【0018】図1において、11は製品のできばえを評
価するための検査結果や製品の特性を収集する検査結果
収集手段、12は製造ラインの作業実績を収集する進行
管理手段13は製品の製造条件実績を収集する製造条件
管理手段、14は製造設備の稼働実績を収集する稼働実
績管理手段、15は不良発生原因を推定するための演算
を実施する原因推定手段、16は出力手段であり、ネッ
トワーク17を介してすべての管理手段が有機的に結合
されている。In FIG. 1, reference numeral 11 denotes inspection result collecting means for collecting inspection results for evaluating the quality of the product and characteristics of the product, 12 denotes progress management means for collecting the operation results of the production line, and Manufacturing condition management means for collecting manufacturing condition results, operation result management means for collecting operation results of manufacturing equipment, cause estimation means for performing an operation for estimating the cause of failure, and output means for output. , All management means are organically connected via a network 17.
【0019】検査結果収集手段は各検査設備または入力
端末から不良内容・不良発生率・歩留りなどの検査結果
を収集するものである。The inspection result collecting means collects inspection results such as the content of failure, the defect occurrence rate, and the yield from each inspection facility or input terminal.
【0020】進行管理手段は各製造設備、検査設備また
は入力端末から製品番号(ロット番号)工程名称(工程
番号)、設備名称(設備番号)を収集するものである。The progress managing means collects a product number (lot number), a process name (process number), and a facility name (facility number) from each manufacturing facility, inspection facility or input terminal.
【0021】製造条件管理手段は各製造設備または入力
端末から製造条件名称(製造条件番号)、設備名称(設
備番号)を収集するものである。The manufacturing condition management means collects the manufacturing condition name (manufacturing condition number) and the equipment name (equipment number) from each manufacturing facility or input terminal.
【0022】稼働実績管理手段は各検査設備または入力
端末から製品の着工情報・故障・メンテナンスといった
実績情報を収集するものである。The operation record management means collects record information such as start information, failure, and maintenance of the product from each inspection facility or input terminal.
【0023】原因推定手段は各管理手段から情報を取得
し、不良原因を調査するものである。The cause estimating means obtains information from each managing means and investigates the cause of the defect.
【0024】出力手段は各管理手段から情報を取得し、
原因推定が可能なように情報を出力するものである。The output means obtains information from each management means,
The information is output so that the cause can be estimated.
【0025】以上のように構成された製造来歴追跡シス
テムについて、図2に基づいて以下にその動作を説明す
る。The operation of the manufacturing history tracking system configured as described above will be described below with reference to FIG.
【0026】まず、検査結果収集用手段11から不良発
生率とロット番号などの検査結果情報を不良原因推定手
段15に取り込む(ステップ21)。First, inspection result information such as a defect occurrence rate and a lot number is taken into the defect cause estimating means 15 from the inspection result collecting means 11 (step 21).
【0027】さらに、進行管理情報手段12からロット
番号と工程名称または工程番号、設備番号などの進行管
理情報を不良原因推定手段15に取り込む(ステップ2
2)。Further, progress management information such as a lot number, a process name or a process number, and a facility number is fetched from the progress management information means 12 into the defect cause estimating means 15 (step 2).
2).
【0028】そして、不良発生率の高いロットを選定す
る(ステップ23)。Then, a lot having a high defect occurrence rate is selected (step 23).
【0029】次に選定されたロットのロット番号を進行
管理情報手段に照合し(ステップ24)、進行管理情報
を取得する。更に設備番号を稼働実績情報手段に照合
し、稼働実績情報を取得する(ステップ25)。更にロ
ット番号を製造条件情報手段に照合し、製造条件情報を
取得する(ステップ26)。取り込んだ各情報を基に同
一製造条件で稼働実績が一致するロットを抽出すること
で不良原因となる工程、製造条件、設備を摘出すること
が可能となる(ステップ27)。Next, the lot number of the selected lot is compared with the progress management information means (step 24) to obtain the progress management information. Further, the equipment number is collated with the operation result information means to obtain operation result information (step 25). Further, the lot number is checked against the manufacturing condition information means to obtain the manufacturing condition information (step 26). By extracting lots whose operation results match under the same manufacturing conditions based on the acquired information, it is possible to extract the process, manufacturing conditions, and equipment that cause the defect (step 27).
【0030】この場合、各々抽出されたデータは図3の
ような不良原因抽出テーブルにて管理される。本テーブ
ルは、ロット番号31をキーとして、工程名称32・製
造条件33・製造設備34・稼働状況35を決められた
期間36の間で抽出している。In this case, each extracted data is managed in a defect cause extraction table as shown in FIG. In this table, the process name 32, the manufacturing condition 33, the manufacturing equipment 34, and the operation status 35 are extracted for a predetermined period 36 using the lot number 31 as a key.
【0031】この例では、ロット1001とロット10
10が同一工程Aを同一製造条件・同一設備で処理して
おり、更に製造設備の稼働状況も同一である。従って、
これから工程Aを処理する製造設備Aでは、故障発生後
で、更に「スパッタ時間1時間」という製造条件の時に
不良が発生していることが推測できる。In this example, lot 1001 and lot 10
10 processes the same process A under the same manufacturing conditions and the same equipment, and the operating status of the manufacturing equipment is also the same. Therefore,
From this, it can be inferred that, in the manufacturing equipment A that processes the process A, a defect occurs after the occurrence of a failure and under the manufacturing conditions of “sputtering time of one hour”.
【0032】次に製造プロセス設計支援としての実現機
能について説明する。Next, a description will be given of a function implemented as a manufacturing process design support.
【0033】選定されたロットのロット番号を進行管理
情報手段に照合し、進行管理情報を取得する。次に設備
番号を稼働実績情報手段に照合し、稼働実績情報を取得
する。The lot number of the selected lot is compared with the progress management information means to obtain the progress management information. Next, the equipment number is collated with the operation result information means to obtain operation result information.
【0034】更にロット番号を製造条件情報手段に照合
し、製造条件情報を取得する。Further, the lot number is collated with the manufacturing condition information means to obtain the manufacturing condition information.
【0035】取り込んだ各情報を基に進行グラフを出力
手段に出力する。The progress graph is output to the output means based on each information taken.
【0036】図4に出力手段に出力する進行グラフを示
す。FIG. 4 shows a progress graph output to the output means.
【0037】この進行グラフ41は縦軸に工程番号を工
程順に横軸にとったもので、各ロットの進行状況を表
し、縦軸に各ロットの製造条件42を横軸に各設備の稼
働実績43を付加したものである。In the progress graph 41, the process numbers are plotted on the horizontal axis on the vertical axis, and the horizontal axis represents the progress of each lot. The vertical axis represents the manufacturing conditions 42 of each lot, and the horizontal axis represents the operation results of each facility. 43 is added.
【0038】このグラフからスタッフの業務状態は製造
条件42や稼働実績43の処理時間や設定回数から推測
することができる。例えば、ロット1の進行グラフ44
を選択すると、矢印線45とロット1の製造条件42が
表示される。矢印線45の先に製造条件の表示がなけれ
ば、ロットの進捗より製造条件42の設定が遅延してい
ることを意味し、スタッフの製造に必要な業務が遅れて
いるということになる。反対にロットの進捗と製造条件
の更新が同期している場合にはスタッフの業務がロット
の進捗に基づいて行われているいることを意味してい
る。From this graph, the operation status of the staff can be inferred from the processing time and the set number of times of the manufacturing conditions 42 and the operation results 43. For example, progress graph 44 of lot 1
Is selected, the arrow line 45 and the manufacturing conditions 42 of the lot 1 are displayed. If the production conditions are not displayed before the arrow 45, it means that the setting of the production conditions 42 is delayed due to the progress of the lot, and that the work required for the staff production is delayed. Conversely, if the progress of the lot and the update of the manufacturing conditions are synchronized, this means that the work of the staff is being performed based on the progress of the lot.
【0039】一方、ロットの進行状況が把握できるた
め、予め設定してある製品の製造時間を累積し、現在の
進行実績値に加えることで進行予測値を表示することが
可能となる。これによりロットの進行が予測できる。更
に当該ロットの進行グラフを選択することで、そのロッ
トの製造条件32が縦軸に設備段取りの指示33を横軸
に表示できるようになる。このグラフを利用すること
で、製造条件の変更指示や製造設備の段取り作業の開始
を現場に指示することが可能となる。On the other hand, since the progress of the lot can be grasped, it is possible to display the predicted progress value by accumulating the preset manufacturing time of the product and adding it to the current progress actual value. Thereby, the progress of the lot can be predicted. Further, by selecting the progress graph of the lot, the manufacturing conditions 32 of the lot can be displayed on the vertical axis and the equipment setup instruction 33 can be displayed on the horizontal axis. By using this graph, it is possible to instruct the site to change the manufacturing conditions and to start the setup work of the manufacturing equipment.
【0040】また、この進行グラフから製造現場のおけ
る業務状態を製造条件の設定や製造設備の段取り作業の
設定をしているスタッフへ提供することが可能となる。Further, from the progress graph, it is possible to provide the business status at the manufacturing site to the staff who sets the manufacturing conditions and sets up the setup work of the manufacturing equipment.
【0041】例えば、製造現場の状態は以下の方法で推
測できる(図5)。すなわち、スタッフが対象としてい
るロットの進行グラフ52を選択するとそのロットの予
定進行グラフ51が同時に表示される。スタッフが設定
している製造時間よりも長時間掛かっている場合には、
例えば、プロセストラブル・設備トラブルが発生してい
るために当該工程の処理時間が長くなったと推測でき
る。本グラフ上でその工程を選択すると、その時の製造
条件53や各設備の稼働実績54へ矢印線55、56が
表示され、容易に突き合わせることができる。これによ
りスタッフのどのような処理が製造現場に影響を及ぼし
ているかを判断する事が可能となる。例えば、ロット1
は設備1の保全直前に工程を通過しており、そのことか
ら設備の製造状態が不安定だったと推測可能となる。For example, the state of the manufacturing site can be estimated by the following method (FIG. 5). That is, when the staff selects the progress graph 52 of the target lot, the planned progress graph 51 of the lot is displayed at the same time. If it takes longer than the production time set by the staff,
For example, it can be presumed that the processing time of the process has been prolonged due to the occurrence of a process trouble or equipment trouble. When the process is selected on this graph, the arrow lines 55 and 56 are displayed on the manufacturing conditions 53 and the operation results 54 of each facility at that time, and it is possible to easily match them. This makes it possible to determine what kind of processing by the staff is affecting the manufacturing site. For example, lot 1
Has passed through the process immediately before the maintenance of the equipment 1, and it can be inferred from this that the manufacturing state of the equipment was unstable.
【0042】[0042]
【発明の効果】以上のように本発明によれば、作業実
績、製造条件実績、設備の稼働実績から製品の不良原因
を迅速に容易にかつ確実に特定することが可能となる。
さらに製造条件設定の不具合・不整合による不良製品の
製造を未然に防止することができ、製造プロセス設計支
援に役立つことが可能となるAs described above, according to the present invention, the cause of a product failure can be quickly, easily, and reliably specified from the operation results, production condition results, and equipment operation results.
Furthermore, it is possible to prevent the production of defective products due to defects and inconsistencies in the setting of production conditions, which can be useful for designing the production process.
【図1】本発明の一実現形態の構成を示すシステム図。FIG. 1 is a system diagram showing a configuration of one embodiment of the present invention.
【図2】同一製造条件、同一稼働実績ロットの抽出方法
を示すフロー図。FIG. 2 is a flowchart showing a method for extracting the same production conditions and the same operation result lot.
【図3】本発明の一実現形態である不良要因の抽出をす
るために用いる図。FIG. 3 is a diagram used for extracting a failure factor, which is one embodiment of the present invention.
【図4】本発明の一実現形態であるスタッフの業務状態
を推測するために用いる進行グラフの図。FIG. 4 is a diagram of a progress graph used for estimating a work state of a staff according to an embodiment of the present invention.
【図5】本発明の一実現形態である製造現場の業務状態
を推測するために用いる進行グラフの図。FIG. 5 is a diagram of a progress graph used for estimating a business state of a manufacturing site, which is one embodiment of the present invention.
11…検査結果管理手段のための情報収集用端末、12
…進行管理手段のための情報収集用端末、13…稼働実
績管理手段のための情報収集用端末、14…製造条件管
理手段のための情報収集用端末、15…不良原因推定手
段のための情報収集用端末、16…出力装置、17…ネ
ットワーク、31…ロットNo.フィールド、32…工程
名フィールド、33…製造条件フィールド、34…製造
設備フィールド、35…稼働状況フィールド、41…ロ
ット進行グラフ、42…製造条件一覧、43…設備稼働
実績一覧、44…任意のロットの進行実績を示すグラ
フ、45…ロットと製造条件を関連づける矢印線、51
…ロット進行予定グラフ、52…ロット進行実績グラ
フ、53…製造条件一覧、54…設備稼働実績一覧、5
5…ロットと設備稼働実績一覧を関連づける矢印線、5
6…ロットと製造条件を関連づける矢印線。11 ... Information collection terminal for inspection result management means, 12
... Information collecting terminal for progress management means 13 Information collecting terminal for operation result managing means 14 Information collecting terminal for manufacturing condition managing means 15 Information for failure cause estimating means Collection terminal, 16 output device, 17 network, 31 lot number field, 32 process name field, 33 manufacturing condition field, 34 manufacturing equipment field, 35 operating status field, 41 progress chart, 42: list of production conditions, 43: list of operation results of equipment, 44: graph showing progress of an arbitrary lot, 45: arrow line for associating lots with production conditions, 51
... lot progress schedule graph, 52 ... lot progress result graph, 53 ... production condition list, 54 ... equipment operation result list, 5
5 Arrow line linking the lot with the list of equipment operation results 5
6 Arrow line linking the lot with the manufacturing conditions.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 関 尚文 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 Fターム(参考) 4M106 AA20 BA20 DH01 DH60 DJ20 DJ23 DJ38 5B049 AA06 BB07 EE56 EE59 FF03 GG04 GG07 GG09 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Naofumi Seki 292 Yoshida-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture F-term in Hitachi, Ltd. Production Technology Research Laboratories F-term (reference) 4M106 AA20 BA20 DH01 DH60 DJ20 DJ23 DJ38 5B049 AA06 BB07 EE56 EE59 FF03 GG04 GG07 GG09
Claims (5)
歴追跡システムであって、 製品のできばえを評価するための検査結果や製品の特性
を収集する検査結果収集手段と、製造ラインの作業実績
を収集する進行管理手段と、製品の製造条件実績を収集
する製造条件管理手段と製造設備の稼働実績を収集する
稼働実績管理手段と、 不良発生原因を推定するための演算を実施する原因推定
手段とこれらの管理手段からの情報を同一の出力装置に
表示する出力手段を備え、 製造プロセスにおける不良原因となる工程を摘出するこ
とを特徴とする製造来歴追跡システム。1. A manufacturing history tracking system for tracking the manufacturing / inspection history of a product, comprising: an inspection result collecting means for collecting inspection results for evaluating the performance of the product and characteristics of the product; Progress management means to collect work results, manufacturing condition management means to collect product manufacturing condition results, operation result management means to collect operation results of manufacturing equipment, and causes for performing calculations for estimating the cause of failure A manufacturing history tracking system, comprising: an estimating unit and an output unit for displaying information from the managing unit on the same output device, and extracting a step causing a defect in the manufacturing process.
歴追跡システムであって、製造ラインの作業実績を収集
する進行管理手段と、製品の製造条件実績を収集する製
造条件管理手段と製造設備の稼働実績を収集する稼働実
績管理手段と、製品の進行予測値を算出する手段とこれ
らの管理手段からの情報を同一の出力装置に表示する出
力手段を備え、 製造設備の段取り作業の開始を指示することで製造プロ
セス設計の支援を特徴とする製造来歴追跡システム。2. A manufacturing history tracking system for tracking the manufacturing / inspection history of a product, comprising: a progress management means for collecting the performance of the manufacturing line; a manufacturing condition management means for collecting the performance of the product; Operation management means for collecting the operation results of the equipment, means for calculating the predicted value of product progress, and output means for displaying the information from these management means on the same output device. Manufacturing history tracking system characterized by supporting manufacturing process design by giving instructions.
歴追跡システムであって、 製造ラインの作業実績を収集する進行管理手段と、製品
の製造条件実績を収集する製造条件管理手段と製造設備
の稼働実績を収集する稼働実績管理手段と、製品の進行
予測値を算出する手段とこれらの管理手段からの情報を
同一の出力装置に表示する出力手段を備え、 製造条件の変更指示をすることで製造プロセス設計の支
援を特徴とする製造来歴追跡システム。3. A manufacturing history tracking system for tracking the manufacturing / inspection history of a product, comprising: a progress management means for collecting the actual performance of the manufacturing line; a manufacturing condition management means and a manufacturing facility for collecting the actual manufacturing conditions of the product. Operation results management means for collecting the operation results of the products, means for calculating the predicted value of product progress, and output means for displaying information from these management means on the same output device, and instructing to change manufacturing conditions. A manufacturing history tracking system characterized by support for manufacturing process design.
歴追跡システムであって、 製造ラインの作業実績を収集する進行管理手段と、製品
の製造条件実績を収集する製造条件管理手段と製造設備
の稼働実績を収集する稼働実績管理手段と、製品の進行
予測値を算出する手段とこれらの管理手段からの情報を
同一の出力装置に表示する出力手段を備え、 製造設備の製造条件変更指示および製造設備の段取り作
業情報から製品の進行予測値を変更することで製造プロ
セス設計の支援を特徴とする製造来歴追跡システム。4. A manufacturing history tracking system for tracking the manufacturing / inspection history of a product, comprising: a progress management means for collecting performance results of a manufacturing line; a manufacturing condition management means for collecting performance results of a product; and a manufacturing facility. Operation result management means for collecting the operation results of the apparatus, means for calculating the predicted value of product progress, and output means for displaying the information from these management means on the same output device, A manufacturing history tracking system characterized by supporting manufacturing process design by changing the predicted value of product progress from setup work information of manufacturing equipment.
場の作業とスタッフの作業を同期させることで製造プロ
セス設計を実現することを特徴とする製品製造方法。5. A product manufacturing method using the system described above to realize a manufacturing process design by synchronizing work on site and work by staff.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000189723A JP2002006930A (en) | 2000-06-20 | 2000-06-20 | Manufacturing history tracking system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000189723A JP2002006930A (en) | 2000-06-20 | 2000-06-20 | Manufacturing history tracking system |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002006930A true JP2002006930A (en) | 2002-01-11 |
Family
ID=18689316
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000189723A Pending JP2002006930A (en) | 2000-06-20 | 2000-06-20 | Manufacturing history tracking system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002006930A (en) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006146459A (en) * | 2004-11-18 | 2006-06-08 | Renesas Technology Corp | Method and system for manufacturing semiconductor device |
| JP2006252342A (en) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Nippon Steel Corp | Quality analysis method, quality analysis apparatus, computer program, and computer-readable storage medium |
| JPWO2015075776A1 (en) * | 2013-11-19 | 2017-03-16 | 富士機械製造株式会社 | Inspection device |
| CN109416533A (en) * | 2016-06-24 | 2019-03-01 | 罗伯特·博世有限公司 | Visual diagnostic/analysis system and method for intelligence manufacture assembly line performance |
| JPWO2022059183A1 (en) * | 2020-09-18 | 2022-03-24 | ||
| WO2026018371A1 (en) * | 2024-07-18 | 2026-01-22 | 株式会社日立ハイテク | Progress management system, server, and progress management method |
-
2000
- 2000-06-20 JP JP2000189723A patent/JP2002006930A/en active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006146459A (en) * | 2004-11-18 | 2006-06-08 | Renesas Technology Corp | Method and system for manufacturing semiconductor device |
| JP2006252342A (en) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Nippon Steel Corp | Quality analysis method, quality analysis apparatus, computer program, and computer-readable storage medium |
| JPWO2015075776A1 (en) * | 2013-11-19 | 2017-03-16 | 富士機械製造株式会社 | Inspection device |
| CN109416533A (en) * | 2016-06-24 | 2019-03-01 | 罗伯特·博世有限公司 | Visual diagnostic/analysis system and method for intelligence manufacture assembly line performance |
| JP2019525297A (en) * | 2016-06-24 | 2019-09-05 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツングRobert Bosch Gmbh | Visual diagnostic / analysis system and method for smart manufacturing assembly line performance |
| CN109416533B (en) * | 2016-06-24 | 2022-07-19 | 罗伯特·博世有限公司 | Visual analysis system |
| JPWO2022059183A1 (en) * | 2020-09-18 | 2022-03-24 | ||
| WO2022059183A1 (en) * | 2020-09-18 | 2022-03-24 | 三菱電機株式会社 | Information processing device, information processing method, and information processing program |
| WO2026018371A1 (en) * | 2024-07-18 | 2026-01-22 | 株式会社日立ハイテク | Progress management system, server, and progress management method |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPWO2002023480A1 (en) | Image data file management system and method | |
| JP2018156346A5 (en) | ||
| CN105940776A (en) | Substrate production monitoring device and substrate production monitoring method | |
| JP2004318273A (en) | Data analysis device and its control method, and computer program, and computer readable storage medium | |
| JP2002006930A (en) | Manufacturing history tracking system | |
| JP2000330627A (en) | Apparatus chart management evaluation apparatus and apparatus chart management evaluation method using the apparatus | |
| TW201908998A (en) | Quality analysis device and quality analysis method | |
| CN114116286B (en) | Offline fault diagnosis method, device and electronic equipment for Internet of Things equipment | |
| JP6192455B2 (en) | Log data collection device, log data management method, and program | |
| JP2006331346A (en) | Process management device, process management program, recording medium recording process management program, and process management method | |
| JP2009217457A (en) | Apparatus for locating cause of malfunction and method for locating cause of malfunction | |
| JP2000198051A (en) | Equipment flow abnormality extraction device, equipment flow abnormality extraction method, and storage medium storing equipment flow abnormality extraction program | |
| CN1873645B (en) | Information processing apparatus and information processing method | |
| JP2001155979A (en) | Manufacturing information management system | |
| US7123975B2 (en) | Manufacturing management system and method | |
| CN115359341B (en) | Model updating method, device, equipment and medium | |
| JP2002223293A (en) | Network maintenance management method and device | |
| JPH10326816A (en) | Method and system for estimating yield-reduction factor | |
| JP2007025823A (en) | Simulation program and simulation method | |
| TW201939381A (en) | Report generating system and program | |
| JPH0535745A (en) | Data analysis system | |
| JPH10320038A (en) | Plant report processing system | |
| JPH1049585A (en) | Product quality control method | |
| JP2000353729A (en) | Method and device for estimating factor of yield inhibition | |
| JPH064543A (en) | Equipment checking schedule preparing device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20041224 |