[go: up one dir, main page]

JP2002071654A - Scanner - Google Patents

Scanner

Info

Publication number
JP2002071654A
JP2002071654A JP2000259234A JP2000259234A JP2002071654A JP 2002071654 A JP2002071654 A JP 2002071654A JP 2000259234 A JP2000259234 A JP 2000259234A JP 2000259234 A JP2000259234 A JP 2000259234A JP 2002071654 A JP2002071654 A JP 2002071654A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ultrasonic probe
head
scanning
probe
scanning device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000259234A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takao Natori
孝夫 名取
Takefumi Inoue
武文 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Just R & D Co Ltd
Original Assignee
Just R & D Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Just R & D Co Ltd filed Critical Just R & D Co Ltd
Priority to JP2000259234A priority Critical patent/JP2002071654A/en
Publication of JP2002071654A publication Critical patent/JP2002071654A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily align a scan head in a scanner (a non-destructive inspection device for flaw detection) constituted to allow the scan head to scan along the surface of an inspected body. SOLUTION: The scan head 12 comprises an ultrasonic probe 88 disposed in proximity to the surface of the inspected body 2; a rotor mounting plate 98 for supporting the ultrasonic probe 88 rotatably around a point P together with a probe housing 90 and a probe holder 92; a bolt 108 for fixing the ultrasonic probe 88 in a specified angle attitude to the rotor mounting plate 98; and a space adjusting mechanism 100 for adjusting a space between the lower face of the ultrasonic probe 88 and the surface of the inspected body 2. The lower end face 88a of the ultrasonic probe 88 is brought into close contact with the surface of the inspected body 2 and fixed in this state to the rotor mounting plate 98 by the bolt 108 together with the ultrasonic probe 88. The ultrasonic probe 88 is then displaced upward by a specified quantity by the space adjusting mechanism 100. The lower end face 88a of the ultrasonic probe 88 can thereby be easily positioned in the parallel position relation to the surface of the inspected body 2.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本願発明は、被走査体の表面に沿
って走査ヘッドを走査させるように構成された走査装置
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a scanning device configured to scan a scanning head along a surface of a scanned object.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、探傷用非破壊検査装置において
は、超音波探触子を被検査体に近接するように配置し、
この超音波探触子を支持する走査ヘッドを被検査体の表
面に沿って走査させるように構成されている。その際、
超音波探触子と被検査体との平行度を十分に確保した状
態で走査ヘッドを走査させることが、検査を精度よく行
う上で肝要である。
2. Description of the Related Art In general, in a nondestructive inspection device for flaw detection, an ultrasonic probe is arranged so as to be close to an object to be inspected.
The scanning head supporting the ultrasonic probe is configured to scan along the surface of the inspection object. that time,
It is important for the scanning head to scan with a sufficient degree of parallelism between the ultrasonic probe and the object to be inspected in order to perform the inspection with high accuracy.

【0003】このため、従来の探傷用非破壊検査装置に
おいては、図15に示すような走査ヘッドを備えた構造
となっている。
For this reason, a conventional nondestructive inspection device for flaw detection has a structure provided with a scanning head as shown in FIG.

【0004】図示の走査ヘッド200は超音波探触子2
02を収容支持しているが、この収容支持は、超音波探
触子202の下端面202aを走査ヘッド200の下端
面200aから僅かに下方へ突出させるようにして行わ
れている。また、走査ヘッド200の下端面200aの
四隅には、下方へ突出する突起部204aを有する調整
ネジ204が取り付けられている。そして、超音波探触
子202の下端面202aと被検査体2の表面とが所定
の微小間隔で平行に対向するよう、4つの調整ネジ20
4のうちいくつかを回してその突起部204aの突出量
を調整することにより、走査ヘッド200のアライメン
トを行うようになっている。
The illustrated scanning head 200 is an ultrasonic probe 2.
02 is supported and supported such that the lower end surface 202a of the ultrasonic probe 202 projects slightly downward from the lower end surface 200a of the scanning head 200. At the four corners of the lower end surface 200a of the scanning head 200, adjustment screws 204 having projections 204a projecting downward are attached. Then, the four adjusting screws 20 are set so that the lower end surface 202a of the ultrasonic probe 202 and the surface of the device under test 2 face each other in parallel at a predetermined minute interval.
By adjusting some of the protrusions 204a by turning some of the four, the alignment of the scanning head 200 is performed.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の探傷用非破壊検査装置において、超音波探触子20
2の下端面202aと被検査体2の表面との平行度を所
要レベルにまで高めるためには、調整ネジ204の調整
作業を何度も繰り返して行う必要があるので、走査ヘッ
ド200のアライメントが非常に面倒なものとなってし
まうという問題がある。
However, in the above-mentioned conventional nondestructive inspection apparatus for flaw detection, the ultrasonic probe 20
In order to increase the parallelism between the lower end surface 202a of the test piece 2 and the surface of the test object 2 to a required level, it is necessary to repeat the adjustment work of the adjustment screw 204 many times. There is a problem that it becomes very troublesome.

【0006】このような問題は、探傷用非破壊検査装置
の場合のみならず、被走査体の表面に沿って走査ヘッド
を走査させるように構成された走査装置一般において同
様に生じ得る問題である。
Such a problem can occur not only in the case of a nondestructive inspection device for flaw detection but also in the case of a scanning device generally configured to scan a scanning head along the surface of a scanned object. .

【0007】本願発明は、このような事情に鑑みてなさ
れたものであって、被走査体の表面に沿って走査ヘッド
を走査させるように構成された走査装置において、走査
ヘッドのアライメントを容易に行うことができる走査装
置を提供することを目的とするものである。
The present invention has been made in view of such circumstances, and in a scanning apparatus configured to scan a scanning head along a surface of a scanned body, alignment of the scanning head is easily performed. It is an object of the present invention to provide a scanning device that can perform the scanning.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本願発明は、ヘッド本体
の支持構造に工夫を施すことにより上記目的達成を図る
ようにしたものである。すなわち、本願発明に係る走査
装置は、被走査体の表面に沿って走査ヘッドを走査させ
るように構成された走査装置において、上記走査ヘッド
が、上記被走査体の表面に近接配置されるヘッド本体
と、このヘッド本体を所定点回りに回動可能に支持する
本体支持部材と、上記ヘッド本体を所定の角度姿勢で上
記本体支持部材に固定する本体固定手段と、上記ヘッド
本体の先端面と上記被走査体の表面との間隔を調整する
間隔調整手段とを備えてなる、ことを特徴とするもので
ある。
According to the present invention, the above object is achieved by devising a support structure for a head body. That is, a scanning device according to the present invention is a scanning device configured to scan a scanning head along a surface of a scanned object, wherein the scanning head is disposed in proximity to the surface of the scanned object. A body support member that supports the head body so as to be rotatable about a predetermined point, a body fixing unit that fixes the head body to the body support member at a predetermined angle, and a tip end surface of the head body. Interval adjusting means for adjusting the interval with the surface of the object to be scanned.

【0009】上記「走査装置」は、被走査体の表面に沿
って走査ヘッドを走査させるように構成されたものであ
れば、その用途は特に限定されるものではなく、例え
ば、探傷用非破壊検査装置、プロッタ、イメージスキャ
ナ、レーザ加工装置等を用途とするものが採用可能であ
る。上記「間隔調整手段」は、ヘッド本体の先端面と被
走査体の表面との間隔を調整可能なものであれば、その
具体的構成は特に限定されるものではない。
The use of the "scanning device" is not particularly limited as long as it is configured to scan the scanning head along the surface of the object to be scanned. An inspection apparatus, a plotter, an image scanner, a laser processing apparatus, or the like can be used. The specific configuration of the “interval adjusting unit” is not particularly limited as long as the interval between the tip surface of the head main body and the surface of the scanned object can be adjusted.

【0010】[0010]

【発明の作用効果】上記構成に示すように、本願発明に
係る走査装置は、その走査ヘッドが、被走査体の表面に
近接配置されるヘッド本体と、このヘッド本体を所定点
回りに回動可能に支持する本体支持部材と、ヘッド本体
を所定の角度姿勢で本体支持部材に固定する本体固定手
段と、ヘッド本体の先端面と被走査体の表面との間隔を
調整する間隔調整手段とを備えているので、次のような
作用効果を得ることができる。
As described above, in the scanning apparatus according to the present invention, the scanning head has a head main body arranged close to the surface of the object to be scanned, and the head main body is rotated around a predetermined point. A main body supporting member for supporting the main body, a main body fixing means for fixing the head main body to the main body supporting member at a predetermined angular posture, and an interval adjusting means for adjusting an interval between the tip end surface of the head main body and the surface of the scanned object. With the provision, the following operation and effect can be obtained.

【0011】すなわち、ヘッド本体の先端面を被走査体
の表面に当接させ(例えばヘッド本体の先端面を被走査
体の表面に密着させ)、本体固定手段によりこのときの
角度姿勢でヘッド本体を本体支持部材に固定し、その
後、間隔調整手段によりヘッド本体を所定量上方へ変位
させるようにすれば、ヘッド本体を被走査体に対して所
定の位置関係に位置決めすること(例えばヘッド本体の
先端面を被走査体の表面に対して平行な位置関係に位置
決めすること)が容易に可能となる。
That is, the front end surface of the head main body is brought into contact with the surface of the object to be scanned (for example, the front end surface of the head main body is brought into close contact with the surface of the object to be scanned), and the main body fixing means holds the head main body in this angular posture Is fixed to the main body support member, and thereafter the head main body is displaced upward by a predetermined amount by the interval adjusting means, so that the head main body is positioned in a predetermined positional relationship with respect to the scanned object (for example, (Positioning the leading end surface in a positional relationship parallel to the surface of the scanned object) can be easily performed.

【0012】したがって本願発明によれば、被走査体の
表面に沿って走査ヘッドを走査させるように構成された
走査装置において、走査ヘッドのアライメントを容易に
行うことができる。
Therefore, according to the present invention, alignment of the scanning head can be easily performed in the scanning device configured to scan the scanning head along the surface of the object to be scanned.

【0013】上記構成において、上記間隔調整手段を、
被走査体の表面と当接するボールと、このボールを回転
可能に支持するボール支持部材と、このボール支持部材
をヘッド本体に対して上下方向に変位させる上下変位機
構とを備えてなる構成とすれば、簡単な構成によりヘッ
ド本体の先端面と被走査体の表面との間隔を正確に調整
することができる。
[0013] In the above configuration, the interval adjusting means may include:
The configuration may include a ball in contact with the surface of the scanned object, a ball support member rotatably supporting the ball, and a vertical displacement mechanism for vertically displacing the ball support member with respect to the head body. For example, the distance between the tip end surface of the head main body and the surface of the scanned object can be accurately adjusted with a simple configuration.

【0014】ところでこのようにした場合には、走査ヘ
ッドの走査に伴い上記ボールが被走査体の表面を転動す
ることとなるが、走査ヘッドの走査方向や走査装置の用
途によっては、このボールの転動軌跡が走査装置の性能
を最大限に発揮させる上で支障になる場合もあり得る。
そこで、上記ボールを複数個設けるようにすれば、その
配置を適宜調整することにより、上記支障が生じてしま
うのを回避することが容易に可能となる。
In such a case, the ball rolls on the surface of the object to be scanned with the scanning of the scanning head. The rolling trajectory may hinder the maximum performance of the scanning device.
Therefore, if a plurality of the balls are provided, it is possible to easily prevent the above-mentioned trouble from occurring by appropriately adjusting the arrangement.

【0015】本願発明に係る走査装置の用途が特に限定
されないことは上述したとおりであるが、該走査装置が
超音波探触子を備えた探傷用非破壊検査装置である場合
には、ヘッド本体と被走査体との位置関係を正確に維持
することが検査精度を高める上で極めて重要であるの
で、上記構成を採用することが特に効果的である。
As described above, the use of the scanning device according to the present invention is not particularly limited. However, when the scanning device is a non-destructive inspection device for flaw detection equipped with an ultrasonic probe, It is particularly effective to employ the above-described configuration, since maintaining the positional relationship between the scanning target and the scanning target accurately is extremely important for improving the inspection accuracy.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、本願発明の実施の形態につ
いて説明する。
Embodiments of the present invention will be described below.

【0017】図1は、本願発明の一実施形態に係る走査
装置を示す正面図であり、図2は、その平面図である。
また、図3および4は、図1および2のIII 部およびIV
部詳細図であり、図5および6は、上記走査装置を示す
左側面詳細図および右側面詳細図である。
FIG. 1 is a front view showing a scanning device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view thereof.
FIGS. 3 and 4 show parts III and IV of FIGS.
5 and 6 are a left side detailed view and a right side detailed view showing the scanning device.

【0018】これらの図に示すように、本実施形態に係
る走査装置10は、鋼鈑等の強磁性体からなる被検査体
2の表面や内部の傷あるいは肉厚等を検査する探傷用非
破壊検査装置であって、超音波探触子(これについては
後述する)を有する走査ヘッド12を被検査体2の表面
に沿って走査させるように構成されている。
As shown in these figures, a scanning device 10 according to the present embodiment is a flaw detector for inspecting the surface or inside of a test object 2 made of a ferromagnetic material such as a steel plate for a flaw or thickness. This is a destructive inspection device, and is configured to scan a scanning head 12 having an ultrasonic probe (which will be described later) along the surface of the inspection object 2.

【0019】この走査装置10は、所定間隔をおいて互
いに平行に配置された前後1対のシャフト14と、これ
ら各シャフト14の左右両端部に固定された前後2対の
マグネットローラ16と、両シャフト14を回転させる
シャフト駆動手段18と、走査ヘッド12を支持した状
態で両シャフト14に支持され、該両シャフト14の軸
線Ax方向に移動可能とされたスライダ20と、このス
ライダ20を軸線Ax方向に移動させるスライダ駆動手
段22とを備えてなっている。
The scanning device 10 includes a pair of front and rear shafts 14 arranged parallel to each other at a predetermined interval, and two pairs of front and rear magnet rollers 16 fixed to both left and right ends of each of the shafts 14. Shaft driving means 18 for rotating the shaft 14, a slider 20 supported by the shafts 14 while supporting the scanning head 12, and movable in the direction of the axis Ax of the shafts 14; And a slider driving means 22 for moving the slider in the direction.

【0020】上記前後1対のシャフト14の左右両端部
近傍部位には、これらシャフト14を支持するブラケッ
ト24A、24Bが各々設けられており、これら各ブラ
ケット24A、24Bの上部には、該ブラケット24
A、24Bを手で掴むための把持部24Aa、24Ba
が形成されている。
Brackets 24A and 24B for supporting the shafts 14 are provided near the left and right ends of the pair of front and rear shafts 14, respectively. The brackets 24A and 24B are provided above the brackets 24A and 24B, respectively.
A, 24Ba for grasping A, 24B by hand
Are formed.

【0021】また、前方側(手前側)のシャフト14の
上方近傍には、軸線Ax方向に延びるスライドガイド2
6が設けられている。このスライドガイド26は、その
左端部においてガイドホルダ28Aを介してシャフト駆
動手段18のギヤボックス40に固定されており、また
右端部においてガイドホルダ28Bを介して右側のブラ
ケット24Bに固定されている。一方、後方側(奥側)
のシャフト14の上方近傍には、軸線Ax方向に延びる
ラックホルダ30が設けられている。このラックホルダ
30は、その左右両端部においてブラケット24A、2
4Bに固定されている。そして、このラックホルダ30
の前面には、軸線Ax方向に延びるラック32が固定さ
れており、またラックホルダ30の左右両端部近傍部位
には、近接ドグ70(これについては後述する)が各々
取り付けられている。図7は、上記シャフト駆動手段1
8を詳細に示す、図5のVII-VII 線断面図である。
A slide guide 2 extending in the direction of the axis Ax is provided near the upper side of the shaft 14 on the front side (front side).
6 are provided. The slide guide 26 is fixed at its left end to a gear box 40 of the shaft drive means 18 via a guide holder 28A, and at its right end to a right bracket 24B via a guide holder 28B. On the other hand, the back side (back side)
A rack holder 30 extending in the direction of the axis Ax is provided near the upper part of the shaft 14. The rack holder 30 has brackets 24A, 2
4B. And this rack holder 30
A rack 32 extending in the direction of the axis Ax is fixed to a front surface of the rack holder 30. Proximity dogs 70 (which will be described later) are attached to portions near both right and left ends of the rack holder 30. FIG. 7 shows the shaft driving means 1.
FIG. 7 is a sectional view taken along line VII-VII of FIG.

【0022】同図および図5に示すように、このシャフ
ト駆動手段18は、パルスモータ34と、ギヤユニット
36と、ロータリエンコーダ38とを備えてなり、左側
のブラケット24Aに取り付けられている。
As shown in FIGS. 5 and 5, the shaft driving means 18 includes a pulse motor 34, a gear unit 36, and a rotary encoder 38, and is mounted on the left bracket 24A.

【0023】ギヤユニット36は、ギヤボックス40内
に複数のギヤ42、44、46、48および50が収容
されてなっている。そして、このシャフト駆動手段18
においては、パルスモータ34の駆動力を、その出力軸
34aに連結されたギヤ42、44、46および48か
らなる減速ギヤ列を介して両シャフト14に伝達するよ
うになっている。
The gear unit 36 has a plurality of gears 42, 44, 46, 48 and 50 housed in a gear box 40. And this shaft driving means 18
, The driving force of the pulse motor 34 is transmitted to both shafts 14 via a reduction gear train composed of gears 42, 44, 46 and 48 connected to the output shaft 34a.

【0024】上記各シャフト14は、その左端部が小径
部14aとして形成されており、該小径部14aの2箇
所においてギヤボックス40およびブラケット24Aに
ベアリング52を介して回転可能に支持されている。そ
して、この小径部14aの先端部に上記マグネットロー
ラ16がアルミニウム製のアウタシャフト54を介して
固定されている。この固定は、アウタシャフト54と螺
合するネジ56を小径部14aに形成された凹部平面に
当接させて締め付けることにより行われており、これに
よりマグネットローラ16およびアウタシャフト54を
ユニットとして着脱交換し得るようになっている。
Each of the shafts 14 has a left end formed as a small diameter portion 14a, and is rotatably supported by a gear box 40 and a bracket 24A via a bearing 52 at two places of the small diameter portion 14a. The magnet roller 16 is fixed to the distal end of the small diameter portion 14a via an aluminum outer shaft 54. This fixation is performed by affixing a screw 56 screwed into the outer shaft 54 to a concave flat surface formed in the small-diameter portion 14a and tightening the same, whereby the magnet roller 16 and the outer shaft 54 are detachably attached and replaced as a unit. It is possible to do.

【0025】上記マグネットローラ16は、円筒状のマ
グネット(永久磁石)16Aと、このマグネット16A
の両側に設けられた該マグネット16Aよりも大径の1
対の鋼製の強磁性体リング16Bとからなり、アウタシ
ャフト54に圧入固定されている。なお、他の位置のマ
グネットローラ16も、同様にアウタシャフト54を介
してシャフト14の端部の小径部14aにネジ締め固定
されている。
The magnet roller 16 includes a cylindrical magnet (permanent magnet) 16A and the magnet 16A.
1 having a larger diameter than the magnet 16A provided on both sides of
A pair of ferromagnetic rings 16B made of steel are fixed to the outer shaft 54 by press fitting. The other positions of the magnet roller 16 are also screwed and fixed to the small diameter portion 14a at the end of the shaft 14 via the outer shaft 54.

【0026】上記パルスモータ34の回転量は、ギヤ5
0を介してロータリエンコーダ38により検出されるよ
うになっており、その検出結果に応じてパルスモータ3
4の回転に伴う走査ヘッド12の前後方向の送りピッチ
が制御されるようになっている。図8および9は、上記
スライダ20およびスライダ駆動手段22を詳細に示す
正面図および平面図であり、図10は、図9のX-X 線
断面図である。
The rotation amount of the pulse motor 34 is
0, and is detected by the rotary encoder 38, and according to the detection result, the pulse motor 3
The feed pitch of the scanning head 12 in the front-rear direction in accordance with the rotation of No. 4 is controlled. 8 and 9 are a front view and a plan view showing the slider 20 and the slider driving means 22 in detail, and FIG. 10 is a sectional view taken along line XX of FIG.

【0027】これらの図に示すように、スライダ20お
よびスライダ駆動手段22は、前後1対のシャフト14
の間に配置されている。
As shown in these figures, the slider 20 and the slider driving means 22 are provided with a pair of front and rear shafts 14.
It is located between.

【0028】上記スライダ20は、スライドガイド26
に対して軸線Ax方向にスライド可能に係合するボール
スライダ58と、このボールスライダ58の後面部に固
定されたスライダブロック60と、このスライダブロッ
ク60の右側面部に固定されたヘッドホルダ62とを備
えてなり、ヘッドホルダ62において上記走査ヘッド1
2を支持するようになっている。
The slider 20 includes a slide guide 26
, A ball slider 58 slidably engaged in the direction of the axis Ax, a slider block 60 fixed to the rear surface of the ball slider 58, and a head holder 62 fixed to the right side of the slider block 60. The scanning head 1 in the head holder 62.
2 is supported.

【0029】上記スライダブロック60の上端面部には
プランジャホルダ64が固定されており、このプランジ
ャホルダ64には、ヘッドホルダ62を上方から弾性的
に押圧して走査ヘッド12が不用意に浮き上がってしま
うのを防止するプランジャ66が支持されている。
A plunger holder 64 is fixed to the upper end surface of the slider block 60. The plunger holder 64 elastically presses the head holder 62 from above, so that the scanning head 12 inadvertently floats. Is supported.

【0030】また、上記ヘッドホルダ62には、後方へ
突出する近接スイッチ68が取り付けられている。この
近接スイッチ68は、スライダ20が軸線Ax方向に近
接ドグ70(図2および4参照)と対向する位置まで移
動したとき、磁気的に位置検出を行ってスライダ駆動手
段22の駆動を停止させ、これによりスライダ20が軸
線Ax方向方向に必要以上に移動してしまうのを防止す
るようになっている。
A proximity switch 68 projecting rearward is attached to the head holder 62. When the slider 20 moves to a position facing the proximity dog 70 (see FIGS. 2 and 4) in the direction of the axis Ax, the proximity switch 68 magnetically detects the position and stops the driving of the slider driving means 22. This prevents the slider 20 from moving more than necessary in the direction of the axis Ax.

【0031】一方、上記スライダ駆動手段22は、モー
タユニット72と、このモータユニット72を、その出
力軸72aが下向きとなるように支持した状態で、スラ
イダブロック60の左側面部に固定されたモータブラケ
ット74と、モータユニット72の出力軸72aに取り
付けられ、上記ラック32と噛合するピニオン76と、
モータユニット72を電磁的にシールドするシールドカ
バー78およびシールドキャップ80とを備えてなって
いる。上記モータユニット72は、DCモータ82と、
減速歯車列84と、ロータリエンコーダ86とを備えて
なっている。図11および12は、上記走査ヘッド12
を詳細に示す正面一部断面図および平面図であり、図1
3は、その右側面図である。
On the other hand, the slider driving means 22 includes a motor unit 72 and a motor bracket fixed to the left side surface of the slider block 60 in a state where the motor unit 72 is supported so that its output shaft 72a faces downward. 74, a pinion 76 attached to the output shaft 72a of the motor unit 72 and meshing with the rack 32;
A shield cover 78 and a shield cap 80 for electromagnetically shielding the motor unit 72 are provided. The motor unit 72 includes a DC motor 82,
A reduction gear train 84 and a rotary encoder 86 are provided. FIG. 11 and FIG.
FIG. 1 is a front partial cross-sectional view and a plan view showing
3 is a right side view thereof.

【0032】これらの図に示すように、走査ヘッド12
は、被検査体2の表面に近接配置された状態で該被検査
体2に対して右斜め下方へ向けて超音波を送信する斜入
射型の超音波探触子88(ヘッド本体)と、この超音波
探触子88を、その下端面88a(先端面)が露出する
ようにして収容支持する探触子ハウジング90と、この
探触子ハウジング90を固定支持する探触子ホルダ92
と、この探触子ホルダ92を、回転子94および回転子
ホルダ96を介して点P(所定点)回りに全方向回動可
能に支持する回転子取付板98(本体支持部材)と、超
音波探触子88の下端面88aと被検査体2の表面との
間隔を調整する間隔調整機構100(間隔調整手段)と
を備えてなり、回転子取付板98の左端部において上記
スライダ20のヘッドホルダ62に固定されている。な
お、上記超音波探触子88は、その下端面88aが探触
子ハウジング90の下端面と面一となるようにして該探
触子ハウジング90に組み込まれている。
As shown in these figures, the scanning head 12
Is an oblique incidence type ultrasonic probe 88 (head body) that transmits an ultrasonic wave obliquely downward and rightward to the inspected object 2 in a state where the ultrasonic probe 88 is disposed close to the surface of the inspected object 2; A probe housing 90 for accommodating and supporting the ultrasonic probe 88 with its lower end surface 88a (tip surface) exposed, and a probe holder 92 for fixedly supporting the probe housing 90.
A rotor mounting plate 98 (body supporting member) that supports the probe holder 92 so as to be rotatable in all directions around a point P (predetermined point) via a rotor 94 and a rotor holder 96; An interval adjusting mechanism 100 (interval adjusting means) for adjusting the interval between the lower end surface 88a of the ultrasonic probe 88 and the surface of the device under test 2 is provided, and the slider 20 is provided at the left end of the rotor mounting plate 98. It is fixed to the head holder 62. The ultrasonic probe 88 is incorporated in the probe housing 90 such that the lower end surface 88 a thereof is flush with the lower end surface of the probe housing 90.

【0033】上記探触子ハウジング90の前後両側に
は、探触子ホルダ92が被検査体2の表面の凹凸等によ
って不用意に損傷してしまうのを防止するための1対の
ガイドプレート102が取り付けられている。すなわ
ち、これら各ガイドプレート102の右下端部には、下
端面が斜め上向きに傾斜したウェッジ部102aが形成
されており、走査ヘッド12が軸線Axに沿って右方向
に移動する際、被検査体2の表面に万一凸部が存在して
いたような場合であっても、該凸部に上記ウェッジ部1
02aを乗り上げさせることにより超音波探触子88が
損傷してしまうのを未然に防止するようになっている。
A pair of guide plates 102 are provided on both front and rear sides of the probe housing 90 to prevent the probe holder 92 from being inadvertently damaged by irregularities on the surface of the device under test 2. Is attached. That is, a wedge portion 102a having a lower end surface inclined obliquely upward is formed at the lower right end portion of each of the guide plates 102, and when the scanning head 12 moves rightward along the axis Ax, the object to be inspected is moved. Even if a convex portion exists on the surface of the wedge portion 1, the wedge portion 1
The ultrasonic probe 88 is prevented from being damaged by riding the 02a.

【0034】上記各ガイドプレート102の上部には、
その左右方向3箇所に縦長の長孔102bが形成されて
おり、これら3箇所の長孔102bにおいて各ガイドプ
レート102がボルト104により探触子ハウジング9
0に固定されている。そしてこれにより、各ガイドプレ
ート102は、その下端面102cの上下位置および左
右傾斜角が調整可能とされている。
At the top of each of the guide plates 102,
Vertically elongated holes 102b are formed at three positions in the left-right direction, and each guide plate 102 is connected to the probe housing 9 by a bolt 104 in these three long holes 102b.
It is fixed to 0. Thus, each guide plate 102 can adjust the vertical position and the horizontal inclination angle of the lower end surface 102c.

【0035】上記探触子ハウジング90は、その上端面
4箇所において探触子ホルダ92にネジ止め固定されて
おり、また、この探触子ホルダ92は、ボルト106に
より回転子94に固定されている。
The probe housing 90 is screwed and fixed to the probe holder 92 at four positions on the upper end surface thereof. The probe holder 92 is fixed to the rotor 94 by bolts 106. I have.

【0036】上記回転子取付板98は、右端部が前後2
つのアーム部98aに分かれており、また回転子ホルダ
96は、回転子94の球面形状に沿った前後2つの部材
からなっている。そして、これら回転子ホルダ96は、
回転子94を挟んだ状態で回転子取付板98の両アーム
部98a間のスペースに上方から挿入され、該回転子取
付板98にボルト締めにより固定されている。
The right end of the rotor mounting plate 98 has two front and rear parts.
And the rotor holder 96 is made up of two front and rear members along the spherical shape of the rotor 94. And these rotor holders 96
The rotor 94 is inserted from above into the space between both arms 98a of the rotor mounting plate 98 with the rotor 94 interposed therebetween, and is fixed to the rotor mounting plate 98 by bolting.

【0037】上記回転子取付板98の右端部には、後方
側のアーム部98aに後方から挿入されて前方側のアー
ム部98aと螺合するボルト108(本体固定手段)が
設けられている。そして、このボルト108を緩めるこ
とにより、回転子取付板98に対する探触子ホルダ92
の回動(すなわち回転子ホルダ96に対する回転子94
の回動)を許容するとともに、上記ボルト108を締め
付けることにより、回転子取付板98に対して探触子ホ
ルダ92を固定するようになっている。
At the right end of the rotor mounting plate 98, there is provided a bolt 108 (main body fixing means) which is inserted from the rear into the rear arm 98a and is screwed with the front arm 98a. By loosening the bolt 108, the probe holder 92 with respect to the rotor mounting plate 98 is
(That is, the rotor 94 with respect to the rotor holder 96)
The rotation of the probe holder 92 is allowed, and the probe holder 92 is fixed to the rotor mounting plate 98 by tightening the bolt 108.

【0038】上記間隔調整機構100は、超音波探触子
88の左方近傍において被検査体2の表面と当接するボ
ール110と、このボール110を全方向回転可能に支
持するフリーベアリング112(ボール支持部材)と、
このフリーベアリング112の上端部に固定されて上方
へ延び、探触子ホルダ92と螺合する調整ネジ114
(上下変位機構)と、この調整ネジ114を囲むように
してフリーベアリング112と探触子ホルダ92との間
に介装された複数の皿バネ116と、探触子ホルダ92
と螺合するように設けられ、調整ネジ114に対して前
方側から当接して該調整ネジ114の回転を阻止するス
トッパネジ118とからなっている。上記調整ネジ11
4の上端部には、マイナスドライバと係合するための係
合溝114aが形成されている。
The distance adjusting mechanism 100 includes a ball 110 that contacts the surface of the device under test 2 near the left side of the ultrasonic probe 88 and a free bearing 112 (ball) that supports the ball 110 so that it can rotate in all directions. Support member),
An adjusting screw 114 fixed to the upper end of the free bearing 112, extending upward, and screwing with the probe holder 92.
(Vertical displacement mechanism), a plurality of disc springs 116 interposed between the free bearing 112 and the probe holder 92 so as to surround the adjustment screw 114, and the probe holder 92.
And a stopper screw 118 which comes into contact with the adjusting screw 114 from the front side to prevent the adjusting screw 114 from rotating. Adjustment screw 11
An engagement groove 114a for engaging with a flathead screwdriver is formed at the upper end of the fourth screwdriver.

【0039】なお、上記回転子取付板98には、調整ネ
ジ114の上端部を露出させるための調整用開口部98
bが形成されており、また、該回転子取付板98および
探触子ホルダ92には、超音波探触子88に接続される
コード(図示せず)を挿通させるためのコード挿通用開
口部98cおよび92aが形成されている。
The rotor mounting plate 98 has an adjusting opening 98 for exposing the upper end of the adjusting screw 114.
In addition, a cord insertion opening for allowing a cord (not shown) connected to the ultrasonic probe 88 to pass through the rotor mounting plate 98 and the probe holder 92. 98c and 92a are formed.

【0040】上記走査ヘッド12においては、超音波探
触子88の下端面88aが被検査体2の表面に対して微
小間隔(例えば0.15〜0.20mm程度)をおいて
正対するようアライメントが行われるようになってい
る。
In the scanning head 12, the lower end surface 88 a of the ultrasonic probe 88 is aligned with the surface of the test object 2 at a minute interval (for example, about 0.15 to 0.20 mm). Is performed.

【0041】このアライメントは、超音波探触子88の
下端面88aを被検査体2の表面に密着させた後、超音
波探触子88を僅かに上方へ変位させることにより行わ
れるようになっている。
This alignment is performed by bringing the lower end face 88a of the ultrasonic probe 88 into close contact with the surface of the device under test 2, and then displacing the ultrasonic probe 88 slightly upward. ing.

【0042】この超音波探触子88の下端面88aを被
検査体2の表面に密着させる操作は、間隔調整機構10
0の調整ネジ114を回してボール110を十分上方へ
移動させるとともに、回転子取付板98のボルト108
を緩めた状態で、回転子取付板98に対して探触子ホル
ダ92を点P回りに回動させることにより行う。このと
き、各ガイドプレート102を探触子ハウジング90に
固定するボルト104は緩めておき、両ガイドプレート
102の下端面102cも検査体2の表面に密着させる
ようにする。
The operation of bringing the lower end face 88a of the ultrasonic probe 88 into close contact with the surface of the device under test 2 is performed by the interval adjusting mechanism 10
Rotating the ball 110 sufficiently upward by turning the adjustment screw 114 of the
This is performed by rotating the probe holder 92 about the point P with respect to the rotor mounting plate 98 in a state where is loosened. At this time, the bolts 104 for fixing each guide plate 102 to the probe housing 90 are loosened, and the lower end surfaces 102c of both guide plates 102 are also brought into close contact with the surface of the test object 2.

【0043】そして、超音波探触子88の下端面88a
を被検査体2の表面に密着させた後、ボルト104を締
め付けて各ガイドプレート102を探触子ハウジング9
0に固定するとともに、ボルト108を締め付けて回転
子取付板98に対して探触子ホルダ92を固定する。
Then, the lower end face 88a of the ultrasonic probe 88
Are brought into close contact with the surface of the test object 2, and then the bolts 104 are tightened so that each guide plate 102 is moved to the probe housing 9.
And the probe holder 92 is fixed to the rotor mounting plate 98 by tightening the bolts 108.

【0044】その後、間隔調整機構100の調整ネジ1
14を回してボール110をフリーベアリング112と
共に下降させ、ボール110を被検査体2の表面に当接
させた後、さらに所定量調整ネジ114を回すことによ
り、超音波探触子88の下端面88aを被検査体2の表
面から僅かに浮かせる。そしてこれにより、超音波探触
子88の下端面88aを被検査体2の表面に対して微小
間隔をおいて正対させた後、調整ネジ114にストッパ
ネジ118を当接させて該調整ネジ114が不用意に回
転するのを防止する。本実施形態においては、次のよう
にして走査ヘッド12の走査が行われるようになってい
る。
After that, the adjusting screw 1 of the interval adjusting mechanism 100
14 to lower the ball 110 together with the free bearing 112 to bring the ball 110 into contact with the surface of the device 2 to be inspected. 88a is slightly lifted from the surface of the device under test 2. Then, after the lower end surface 88a of the ultrasonic probe 88 is directly opposed to the surface of the device under test 2 with a small interval, the stopper screw 118 is brought into contact with the adjusting screw 114 to thereby adjust the adjusting screw 114. To prevent accidental rotation. In the present embodiment, the scanning of the scanning head 12 is performed as follows.

【0045】すなわち、図1および2に示すように、ま
ず、被検査体2の表面に走査装置10をセットする。そ
の際、被検査体2の表面における走査ヘッド12の走査
対象領域に接触媒質を塗布しておき、被検査体2の表面
と超音波探触子88の下端面88aとの間の微小空間が
上記接触媒質で充填されるようにする。
That is, as shown in FIGS. 1 and 2, first, the scanning device 10 is set on the surface of the inspection object 2. At this time, a couplant is applied to the scanning target area of the scanning head 12 on the surface of the inspection object 2 so that a minute space between the surface of the inspection object 2 and the lower end surface 88 a of the ultrasonic probe 88 is formed. The couplant is filled with the couplant.

【0046】そしてこの状態で、スライダ駆動手段22
によりスライダ20を軸線Ax方向に所定ストロークで
往復動させることにより左右方向の走査を行うととも
に、シャフト駆動手段18により両シャフト14および
マグネットローラ16を間欠回転させることにより走査
装置10を前方へ微小送りピッチ(例えば1mmピッチ
あるいは2mmピッチ)で移動させる。
In this state, the slider driving means 22
The scanning in the left and right direction is performed by reciprocating the slider 20 at a predetermined stroke in the direction of the axis Ax, and the scanning device 10 is minutely fed forward by intermittently rotating the shafts 14 and the magnet roller 16 by the shaft driving means 18. It is moved at a pitch (for example, 1 mm pitch or 2 mm pitch).

【0047】上記スライダ駆動手段22およびシャフト
駆動手段18の駆動は、これらに接続された制御手段
(図示せず)により行う。なお、この制御手段によりシ
ャフト駆動手段18を逆方向に駆動すれば、走査装置1
0を後方へ移動させることも可能である。
The slider driving means 22 and the shaft driving means 18 are driven by control means (not shown) connected thereto. When the shaft driving means 18 is driven in the reverse direction by this control means, the scanning device 1
It is also possible to move 0 backward.

【0048】以上詳述したように、本実施形態に係る走
査装置10は、探傷用非破壊検査装置であって、その走
査ヘッド12が、被検査体2の表面に近接配置される超
音波探触子88と、この超音波探触子88を探触子ハウ
ジング90および探触子ホルダ92と共に点P回りに回
動可能に支持する回転子取付板98と、超音波探触子8
8を所定の角度姿勢で回転子取付板98に固定するボル
ト108と、超音波探触子88の下端面88aと被検査
体2の表面との間隔を調整する間隔調整機構100とを
備えているので、次のような作用効果を得ることができ
る。
As described in detail above, the scanning device 10 according to the present embodiment is a non-destructive inspection device for flaw detection, and the scanning head 12 of the scanning device 10 is disposed close to the surface of the inspection object 2. A probe 88; a rotor mounting plate 98 for supporting the ultrasonic probe 88 so as to be rotatable about a point P together with a probe housing 90 and a probe holder 92;
A bolt 108 for fixing the probe 8 to the rotor mounting plate 98 at a predetermined angular orientation, and a spacing adjusting mechanism 100 for adjusting the spacing between the lower end face 88a of the ultrasonic probe 88 and the surface of the device under test 2 are provided. Therefore, the following operation and effect can be obtained.

【0049】すなわち、超音波探触子88の下端面88
aを被検査体2の表面に密着させ、この状態でボルト1
08により超音波探触子88を探触子ハウジング90と
共に回転子取付板98に固定し、その後、間隔調整機構
100により超音波探触子88を所定量上方へ変位させ
るようにすれば、超音波探触子88の下端面88aを被
検査体2の表面に対して平行な位置関係に位置決めする
ことが容易に可能となる。
That is, the lower end face 88 of the ultrasonic probe 88
a is brought into close contact with the surface of the test object 2 and the bolt 1
08, the ultrasonic probe 88 is fixed to the rotor mounting plate 98 together with the probe housing 90, and then the ultrasonic probe 88 is displaced upward by a predetermined amount by the interval adjusting mechanism 100. It is possible to easily position the lower end face 88 a of the acoustic probe 88 in a positional relationship parallel to the surface of the device under test 2.

【0050】したがって本実施形態によれば、被検査体
の表面に沿って走査ヘッドを走査させるように構成され
た走査装置において、走査ヘッドのアライメントを容易
に行うことができる。
Therefore, according to the present embodiment, the alignment of the scanning head can be easily performed in the scanning device configured to scan the scanning head along the surface of the inspection object.

【0051】特に、本実施形態に係る走査装置10は超
音波探触子88を備えた探傷用非破壊検査装置であるの
で、超音波探触子88の下端面88aを被検査体2の表
面に対して平行な位置関係に正確に位置決めすることが
できることにより、検査精度を十分に高めることができ
る。
In particular, since the scanning device 10 according to the present embodiment is a nondestructive inspection device for flaw detection having an ultrasonic probe 88, the lower end surface 88a of the ultrasonic probe 88 is Inspection accuracy can be sufficiently improved by being able to accurately position in a parallel positional relationship with respect to.

【0052】しかも本実施形態においては、上記間隔調
整機構100が、被検査体2の表面と当接するボール1
10と、このボール100を回転可能に支持するフリー
ベアリング112と、このフリーベアリング112を探
触子ホルダ92に対して上下方向に変位させる調整ネジ
114とを備えているので、簡単な構成により超音波探
触子88の下端面88aと被検査体2の表面との間隔を
正確に調整することができる。図14は、上記実施形態
の変形例を示す、図13と同様の図である。
Further, in the present embodiment, the distance adjusting mechanism 100 is provided so that the ball 1 in contact with the surface of the test object 2
10, a free bearing 112 for rotatably supporting the ball 100, and an adjusting screw 114 for vertically displacing the free bearing 112 with respect to the probe holder 92. The distance between the lower end surface 88a of the acoustic probe 88 and the surface of the device under test 2 can be accurately adjusted. FIG. 14 is a view similar to FIG. 13 showing a modification of the above embodiment.

【0053】本変形例に係る走査ヘッド12は、上記実
施形態のように単一のボール110ではなく、超音波探
触子88の前後方向中央部を跨ぐようにして前後方向に
所定間隔をおいて配置された1対のボール110を備え
ている。そしてこのような構成を採用することにより、
次のような作用効果を得ることができる。
The scanning head 12 according to the present modification is not a single ball 110 as in the above-described embodiment, but is arranged at a predetermined interval in the front-rear direction so as to straddle the center of the ultrasonic probe 88 in the front-rear direction. And a pair of balls 110 that are arranged. And by adopting such a configuration,
The following operational effects can be obtained.

【0054】すなわち、上記超音波探触子88は、その
前後方向中央部において超音波の送信および受信を行う
ようになっているので、上記実施形態のようにボール1
10が超音波探触子88の左方近傍における前後方向中
央部に配置されている場合には、走査ヘッド12が軸線
Axに沿って左方向へ移動する際には、ボール110の
転動軌跡上において超音波探触子88による超音波の送
信および受信が行われることとなる。この場合、被検査
体2の表面におけるボール110の転動軌跡上は接触媒
質が前後両側に掻き分けられてしまうので、検査を正確
に行う上で必ずしも十分でない。
That is, since the ultrasonic probe 88 transmits and receives ultrasonic waves at the central portion in the front-rear direction, the ball 1 can be used as in the above embodiment.
When the scanning head 12 moves leftward along the axis Ax when the scanning probe 12 is disposed at the center in the front-rear direction near the left side of the ultrasonic probe 88, the rolling locus of the ball 110 Above, transmission and reception of ultrasonic waves by the ultrasonic probe 88 are performed. In this case, the couplant is swept to the front and rear sides on the rolling trajectory of the ball 110 on the surface of the test object 2, which is not always sufficient for performing the test accurately.

【0055】そこで本変形例のように、前後方向に所定
間隔をおいて1対のボール110を設け、これらを超音
波探触子88の前後方向中央部を跨ぐようにして配置す
れば、被検査体2の表面において超音波の送信および受
信が行われる部位の接触媒質が前後両側に掻き分けられ
てしまうのを未然に防止することができ、これにより検
査精度を高めることができる。
Therefore, as in this modification, a pair of balls 110 are provided at a predetermined interval in the front-rear direction, and these are arranged so as to straddle the center of the ultrasonic probe 88 in the front-rear direction. It is possible to prevent the couplant at the part where the transmission and reception of the ultrasonic wave is performed on the surface of the inspection object 2 from being swept away to the front and rear sides, thereby improving the inspection accuracy.

【0056】なお、上記実施形態においても、ボール1
10を超音波探触子88の左方近傍における前後方向中
央部から前方あるいは後方にある程度ずれた位置に配置
すれば、ボール110の転動軌跡上において超音波探触
子88による超音波の送信および受信が行われてしまう
のを防止することが可能である。
In the above embodiment, the ball 1
If the ultrasonic probe 88 is disposed at a position slightly shifted forward or backward from the center in the front-rear direction in the vicinity of the left side of the ultrasonic probe 88, the ultrasonic probe 88 transmits the ultrasonic wave on the rolling trajectory of the ball 110. In addition, it is possible to prevent reception from being performed.

【0057】ところで、上記実施形態および変形例にお
いては、探触子ハウジング90の前後両側に1対のガイ
ドプレート102が取り付けられており、これにより探
触子ホルダ92が被検査体2の表面の凹凸等によって不
用意に損傷してしまうのを防止する構成となっている
が、これらガイドプレート102は、被検査体2の表面
に有害な凹凸等が存在しないことが明らかな場合には必
ずしも必要ではない。そして、これらガイドプレート1
02を廃止した場合には、走査ヘッド12の小型化を図
ることができ、これにより走査装置10の一層の小型化
を図ることができる。
In the above-described embodiment and the modified example, a pair of guide plates 102 are mounted on both front and rear sides of the probe housing 90, so that the probe holder 92 is formed on the surface of the device under test 2. The guide plate 102 is configured to prevent careless damage due to irregularities or the like. However, these guide plates 102 are not necessarily required when it is clear that no harmful irregularities or the like exist on the surface of the test object 2. is not. And these guide plates 1
When the 02 is abolished, the size of the scanning head 12 can be reduced, and the size of the scanning device 10 can be further reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本願発明の一実施形態に係る走査装置を示す正
面図
FIG. 1 is a front view showing a scanning device according to an embodiment of the present invention.

【図2】上記走査装置を示す平面図FIG. 2 is a plan view showing the scanning device.

【図3】図1のIII 部詳細図FIG. 3 is a detailed view of a part III in FIG. 1;

【図4】図2のIV部詳細図FIG. 4 is a detailed view of an IV section in FIG. 2;

【図5】上記走査装置を示す左側面詳細図FIG. 5 is a detailed left side view showing the scanning device.

【図6】上記走査装置を示す右側面詳細図FIG. 6 is a detailed right side view showing the scanning device.

【図7】上記走査装置のシャフト駆動手段を詳細に示
す、図5のVII-VII 線断面図
FIG. 7 is a cross-sectional view taken along the line VII-VII of FIG. 5, showing the shaft driving means of the scanning device in detail

【図8】上記走査装置のスライダおよびスライダ駆動手
段を詳細に示す正面図
FIG. 8 is a front view showing the slider and the slider driving means of the scanning device in detail.

【図9】上記スライダおよびスライダ駆動手段を詳細に
示す平面図
FIG. 9 is a plan view showing the slider and the slider driving means in detail.

【図10】図9のX-X 線断面図FIG. 10 is a sectional view taken along line XX of FIG. 9;

【図11】上記走査装置の走査ヘッドを詳細に示す正面
一部断面図
FIG. 11 is a partial front sectional view showing a scanning head of the scanning device in detail.

【図12】上記走査ヘッドを詳細に示す平面図FIG. 12 is a plan view showing the scanning head in detail.

【図13】上記走査ヘッドを詳細に示す右側面図FIG. 13 is a right side view showing the scanning head in detail.

【図14】上記実施形態の変形例を示す、図13と同様
の図
FIG. 14 is a view similar to FIG. 13, showing a modification of the embodiment.

【図15】従来例を示す正面図および下方斜視図FIG. 15 is a front view and a lower perspective view showing a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 被検査体(被走査体) 10 走査装置(探傷用非破壊検査装置) 12 走査ヘッド 14 シャフト 14a 小径部 16 マグネットローラ 16A マグネット 16B 強磁性体リング 18 シャフト駆動手段 20 スライダ 22 スライダ駆動手段 24A、24B ブラケット 24Aa、24Ba 把持部 26 スライドガイド 28A、28B ガイドホルダ 30 ラックホルダ 32 ラック 34 パルスモータ 36 ギヤユニット 38 ロータリエンコーダ 40 ギヤボックス 42、44、46、48、50 ギヤ 52 ベアリング 54 アウタシャフト 56 ネジ 58 ボールスライダ 60 スライダブロック 62 ヘッドホルダ 64 プランジャホルダ 66 プランジャ 68 近接スイッチ 70 近接ドグ 72 モータユニット 72a 出力軸 74 モータブラケット 76 ピニオン 78 シールドカバー 80 シールドキャップ 82 DCモータ 84 減速歯車列 86 ロータリエンコーダ 88 超音波探触子(ヘッド本体) 88a 下端面(先端面) 90 探触子ハウジング 92 探触子ホルダ 92a コード挿通用開口部 94 回転子 96 回転子ホルダ 98 回転子取付板(本体支持部材) 98a アーム部 98b 調整用開口部 98c コード挿通用開口部 100 間隔調整機構(間隔調整手段) 102 ガイドプレート 102a ウェッジ部 102b 長孔 102c 下端面 104、106 ボルト 108 ボルト(本体固定手段) 110 ボール 112 フリーベアリング(ボール支持部材) 114 調整ネジ(上下変位機構) 114a 係合溝 116 皿バネ 118 ストッパネジ Ax 軸線 P 点(所定点) 2 Inspection object (scanning object) 10 Scanning device (non-destructive inspection device for flaw detection) 12 Scan head 14 Shaft 14a Small diameter portion 16 Magnet roller 16A Magnet 16B Ferromagnetic ring 18 Shaft driving means 20 Slider 22 Slider driving means 24A, 24B Bracket 24Aa, 24Ba Gripping part 26 Slide guide 28A, 28B Guide holder 30 Rack holder 32 Rack 34 Pulse motor 36 Gear unit 38 Rotary encoder 40 Gear box 42, 44, 46, 48, 50 Gear 52 Bearing 54 Outer shaft 56 Screw 58 Ball slider 60 Slider block 62 Head holder 64 Plunger holder 66 Plunger 68 Proximity switch 70 Proximity dog 72 Motor unit 72a Output shaft 74 Motor Racket 76 Pinion 78 Shield cover 80 Shield cap 82 DC motor 84 Reduction gear train 86 Rotary encoder 88 Ultrasonic probe (head body) 88a Lower end surface (tip surface) 90 Probe housing 92 Probe holder 92a Code insertion Opening 94 Rotor 96 Rotor holder 98 Rotor mounting plate (main body support member) 98a Arm 98b Adjustment opening 98c Cord insertion opening 100 Interval adjustment mechanism (interval adjustment means) 102 Guide plate 102a Wedge 102b Length Hole 102c Lower end surface 104, 106 Bolt 108 Bolt (body fixing means) 110 Ball 112 Free bearing (Ball support member) 114 Adjusting screw (Vertical displacement mechanism) 114a Engagement groove 116 Disc spring 118 Stopper screw Ax Axis P point (place) Point)

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被走査体の表面に沿って走査ヘッドを走
査させるように構成された走査装置において、 上記走査ヘッドが、上記被走査体の表面に近接配置され
るヘッド本体と、このヘッド本体を所定点回りに回動可
能に支持する本体支持部材と、上記ヘッド本体を所定の
角度姿勢で上記本体支持部材に固定する本体固定手段
と、上記ヘッド本体の先端面と上記被走査体の表面との
間隔を調整する間隔調整手段とを備えてなる、ことを特
徴とする走査装置。
1. A scanning device configured to scan a scanning head along a surface of an object to be scanned, wherein the scanning head is arranged near the surface of the object to be scanned; A main body supporting member for rotatably supporting the main body around a predetermined point, a main body fixing means for fixing the head main body to the main body supporting member at a predetermined angular posture, a tip end surface of the head main body, and a surface of the scanned object. And a distance adjusting means for adjusting the distance between the scanning device and the scanning device.
【請求項2】 上記間隔調整手段が、上記被走査体の表
面と当接するボールと、このボールを回転可能に支持す
るボール支持部材と、このボール支持部材を上記ヘッド
本体に対して上下方向に変位させる上下変位機構とを備
えてなる、ことを特徴とする請求項1記載の走査装置。
2. The apparatus according to claim 1, wherein the distance adjusting means includes a ball in contact with the surface of the object to be scanned, a ball supporting member for rotatably supporting the ball, and a vertically moving ball supporting member with respect to the head body. The scanning device according to claim 1, further comprising a vertical displacement mechanism for displacing.
【請求項3】 上記ボールが所定配置で複数個設けられ
てなる、ことを特徴とする請求項2記載の走査装置。
3. The scanning device according to claim 2, wherein a plurality of said balls are provided in a predetermined arrangement.
【請求項4】 上記走査装置が、超音波探触子を備えた
探傷用非破壊検査装置である、ことを特徴とする請求項
1〜3いずれか記載の走査装置。
4. The scanning device according to claim 1, wherein the scanning device is a flaw detection non-destructive inspection device including an ultrasonic probe.
JP2000259234A 2000-08-29 2000-08-29 Scanner Pending JP2002071654A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000259234A JP2002071654A (en) 2000-08-29 2000-08-29 Scanner

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000259234A JP2002071654A (en) 2000-08-29 2000-08-29 Scanner

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002071654A true JP2002071654A (en) 2002-03-12

Family

ID=18747433

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000259234A Pending JP2002071654A (en) 2000-08-29 2000-08-29 Scanner

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002071654A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015145798A (en) * 2014-01-31 2015-08-13 三菱重工業株式会社 Ultrasonic test apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015145798A (en) * 2014-01-31 2015-08-13 三菱重工業株式会社 Ultrasonic test apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7950298B2 (en) Motorized bracelet assembly for moving sensor modules around a pipe
JP2997615B2 (en) Inspection device
US20090126493A1 (en) Nondestructive inspection heads for components having limited surrounding space
JP2603405B2 (en) Non-destructive inspection method and apparatus for penetrating part
KR102606272B1 (en) Turbine blade dovetail non-destructive testing conveying device using phased array ultrasonic detection method
JP2002071654A (en) Scanner
JPH04215061A (en) Ultrasonic inspecting apparatus of head screw which is screwed into component
JP2007132667A (en) Non-destructive inspection equipment for pipe welds
JP2002071656A (en) Scanner
JPH05107236A (en) Ultrasonic probe scanning device
JP2001330426A (en) Measuring apparatus for cross-sectional shape
JPH112627A (en) Equipment and method for inspecting spot welding
JP6128635B2 (en) Machined hole position measuring device
JP4201271B2 (en) Sample holding device and X-ray diffractometer using the same
JP3751436B2 (en) Turbine blade surface automatic inspection system
JP2007003400A (en) Control rod through hole member inspection device
JPH07294400A (en) Sample retention device for x-ray diffraction device
JPH0234609Y2 (en)
JP2637553B2 (en) Ultrasonic flaw detector
JPS6256856A (en) Ultrasonic test equipment
CN220671335U (en) Ball stud detection device
JPH0735728A (en) Curved surface flaw detection test jig and its test method
JPH0555062U (en) Ultrasonic probe holding mechanism
CN210720272U (en) TOFD detector for nondestructive inspection
JP2566194B2 (en) Manual ultrasonic flaw detector