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JP2002071548A - Flow type particle image analysis method and apparatus - Google Patents

Flow type particle image analysis method and apparatus

Info

Publication number
JP2002071548A
JP2002071548A JP2000258519A JP2000258519A JP2002071548A JP 2002071548 A JP2002071548 A JP 2002071548A JP 2000258519 A JP2000258519 A JP 2000258519A JP 2000258519 A JP2000258519 A JP 2000258519A JP 2002071548 A JP2002071548 A JP 2002071548A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
particle
particles
measurement mode
image
image analysis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000258519A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideyuki Horiuchi
秀之 堀内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2000258519A priority Critical patent/JP2002071548A/en
Publication of JP2002071548A publication Critical patent/JP2002071548A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】粒子成分に粒子サイズの広がりがあり2つの測
定モードで検出処理しなければならない粒子を含むサン
プルを対象とする場合であっても、粒子濃度を正確に算
出することができるフロー式粒子画像解析方法を実現す
る。 【解決手段】第1の測定モードは主に粒子サイズが小さ
く数の多い粒子成分Aを分析処理し、第2の測定モード
では数が少ないサイズの大きい粒子成分Bを分析処理す
るように設定されている。このため、粒子サイズが広く
分布する粒子成分Cは正確な粒子濃度が測定困難であっ
た。そこで、第1の測定モードを検出レベルCsTH2
領域1と2に分割し、第2の測定モードを検出レベルC
TH2で領域3と4に分割する。これら領域1〜4で検
出した粒子情報を使用し、粒子サイズについて、小のも
のから大のものまでを1つの連続したデータとして処理
することにより、粒子成分Cも正確な粒子濃度が測定可
能となる。
(57) [Summary] [Object] To accurately calculate a particle concentration even in a case of a sample containing particles which have a particle size spread and must be subjected to detection processing in two measurement modes. To realize a flow-type particle image analysis method that can be used. A first measurement mode is set so as to mainly analyze a particle component A having a small number of particles and a large number, and a second measurement mode is set so as to analyze a large number of particle components B having a small number of particles. ing. For this reason, it was difficult to measure an accurate particle concentration of the particle component C having a widely distributed particle size. Therefore, the first measurement mode is divided into regions 1 and 2 by the detection level Cs TH2 , and the second measurement mode is set to the detection level Cs TH2.
s Divide into areas 3 and 4 with TH2 . By using the particle information detected in these regions 1 to 4 and processing the particle size from small to large as one continuous data, it is possible to accurately measure the particle concentration of the particle component C. Become.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、フロー式粒子画像
解析方法及びフロー式粒子画像解析装置に係り、特に、
流れている液体中に懸濁した静止粒子画像を撮像し粒子
解析するフロー式粒子画像解析方法及び装置に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a flow type particle image analysis method and a flow type particle image analysis apparatus.
The present invention relates to a flow type particle image analysis method and apparatus for capturing an image of a stationary particle suspended in a flowing liquid and analyzing the particles.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の粒子画像解析においては、血液中
の細胞や尿中の細胞や粒子を分類解析するには、スライ
ドガラス上に標本を作成し顕微鏡にて観察することで行
われてきた。尿の場合には、尿中の粒子濃度が薄いた
め、サンプルを予め遠心分離器で遠心濃縮してから観察
している。
2. Description of the Related Art In conventional particle image analysis, classification and analysis of cells in blood and cells and particles in urine have been performed by preparing a specimen on a slide glass and observing the specimen with a microscope. . In the case of urine, since the concentration of particles in the urine is low, the sample is observed after being centrifugally concentrated by a centrifuge in advance.

【0003】これらの観察、検査の作業を自動化する方
法または装置においては、血液などのサンプル試料をス
ライドガラス上に塗沫したあと顕微鏡にセットし、顕微
鏡ステージを自動的に走査し、粒子の存在する位置で顕
微鏡ステージを止めて静止粒子画像を撮影し、画像処理
技術による特徴抽出およびパターン認識手法を用い、サ
ンプル試料中にある粒子の分類・解析等を行っている。
In such a method or apparatus for automating the observation and inspection work, a sample such as blood is spread on a slide glass, set on a microscope, the microscope stage is automatically scanned, and the presence of particles is determined. The microscope stage is stopped at a position where a static particle image is captured, and the classification and analysis of particles in the sample sample are performed by using feature extraction and pattern recognition techniques by image processing technology.

【0004】しかし、上記手法では標本作成に時間がか
かること、さらに顕微鏡ステージを機械的に移動しなが
ら粒子を見つけ、粒子を適当な画像取り込み領域へ移動
させる作業が必要である。そのため、解析に時間を要し
たり、機械機構部が複雑になるという欠点がある。
[0004] However, in the above method, it takes a long time to prepare a specimen, and furthermore, it is necessary to find particles while mechanically moving the microscope stage and to move the particles to an appropriate image capturing area. For this reason, there are drawbacks that the analysis requires time and the mechanical mechanism is complicated.

【0005】上記のような塗沫標本を作成しない粒子画
像解析方法または粒子画像解析装置には、サンプル試料
を液体中に懸濁させた状態にてフローセル中に流し、光
学的に解析するフローサイトメータ法が知られている。
A particle image analyzing method or a particle image analyzing apparatus which does not produce a smear as described above includes a flow site in which a sample sample is suspended in a liquid and flown into a flow cell for optical analysis. The meter method is known.

【0006】このフローサイトメータによる方法は、サ
ンプル中の各粒子からの蛍光強度や散乱光強度を観測す
るもので、毎秒数1000個の処理能力を備えている。
[0006] The method using a flow cytometer observes the intensity of fluorescence and the intensity of scattered light from each particle in a sample, and has a processing capacity of several thousands per second.

【0007】しかし、粒子の形態学的特徴を反映する特
徴量を観測することはむずかしく、従来、顕微鏡下で行
われていた形態学的特徴で粒子を分類することができな
い。
However, it is difficult to observe a feature amount reflecting the morphological characteristics of the particles, and the particles cannot be classified by the morphological characteristics conventionally performed under a microscope.

【0008】連続的に流れているサンプル試料中の静止
粒子画像を撮像し、それぞれの静止粒子画像から粒子を
分類、解析する試みとしては、特表昭57−50099
5号公報、特開昭63−94156号公報、特開平4−
72544号公報等に記載された技術が知られている。
As an attempt to take an image of a stationary particle in a continuously flowing sample, classify and analyze the particle from each static particle image, see Japanese Patent Application Laid-Open No. 57-50099.
No. 5, JP-A-63-94156, JP-A-4-94.
A technique described in, for example, Japanese Patent No. 72544 is known.

【0009】上記特表昭57−500995号公報に記
載の技術では、サンプル試料を特別な形状の流路に通し
幅広の撮像領域中に流し、フラッシュランプによる静止
粒子画像を撮影し、その画像を用いて粒子解析する方法
が示されている。
In the technique described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 57-500995, a sample sample is passed through a specially shaped flow path, flows through a wide imaging area, and a static particle image is captured by a flash lamp. The method of particle analysis using the method is shown.

【0010】この方法は、顕微鏡を用いてサンプル粒子
の拡大画像をCCDカメラ上に投影するとき、パルス光
源であるフラッシュランプがCCDカメラの動作に同期
して周期的に発光させる。
In this method, when an enlarged image of sample particles is projected on a CCD camera using a microscope, a flash lamp as a pulse light source emits light periodically in synchronization with the operation of the CCD camera.

【0011】このようにすれば、パルス光源の発光時間
が十分短いので、粒子が連続的に流れていても静止画像
を得ることができ、前記CCDカメラでは、毎秒30枚
の静止画像を撮影することができる。
With this arrangement, since the light emission time of the pulse light source is sufficiently short, a still image can be obtained even when particles are continuously flowing, and the CCD camera shoots 30 still images per second. be able to.

【0012】また、特開昭63−94156号公報に記
載の技術では、静止粒子画像撮像系とは別にサンプル流
れ中の粒子画像撮影領域より上流に粒子検出系を設けて
いる。これは、予め粒子検出系で粒子通過を知り、その
粒子が粒子画像撮像領域に達したとき適当なタイミング
でパルス光源であるフラッシュランプを点灯させる方法
である。
In the technique described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-94156, a particle detection system is provided upstream of a particle image photographing area in a sample flow separately from a still particle image photographing system. This is a method in which a particle detection system detects the passage of particles in advance and turns on a flash lamp, which is a pulse light source, at an appropriate timing when the particles reach a particle image capturing area.

【0013】この方法においては、パルス光源の発光を
周期的に行わず、粒子の通過を検出した場合だけタイミ
ングを合わせて静止粒子画像を撮像することができるの
で、効率的に静止粒子画像が集められ、濃度の小さいサ
ンプル試料の場合でも粒子の存在しない無意味な画像を
撮像・画像処理することはない。
In this method, since the light emission of the pulsed light source is not periodically performed, the static particle images can be taken at the same timing only when the passage of the particles is detected, so that the static particle images can be efficiently collected. Therefore, even in the case of a sample sample having a low concentration, a meaningless image having no particles is not captured and image-processed.

【0014】さらに、特開平5−296915号公報に
記載の技術では、特開昭63−94156号公報に記載
の技術と同じく、静止粒子画像系とは別にサンプル流れ
中の粒子を検出する手段を有し、加えて検出された粒子
画像において画像処理した粒子総数からサンプル粒子中
の実際の粒子数、分類された種類ごとの粒子数を求める
手段について記載している。
Further, in the technique described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-296915, similarly to the technique described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-94156, means for detecting particles in a sample flow separately from a stationary particle image system is provided. Means for obtaining the actual number of particles in the sample particles and the number of particles for each classified type from the total number of particles subjected to image processing in the detected particle image is described.

【0015】また、特開平7−83817号公報及び特
開平9−72842号公報では、特開平5−29691
5号公報で問題になる、検出粒子と検出された粒子画像
の1対1の対応方法について示されている。
In Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 7-83817 and 9-72842, JP-A-5-29691 is disclosed.
No. 5 discloses a one-to-one correspondence method between a detected particle and a detected particle image, which is a problem.

【0016】[0016]

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来技術の
粒子画像解析装置においては、一般的に、連続的に流れ
ているサンプル粒子の静止画像を解析して、サンプル中
の複数種類の粒子数や分類を効率よく行うためには、上
述した公知例で行われているように、静止粒子画像撮像
領域またはその上流に通過粒子を検出する粒子検出系が
必要である。
In the prior art particle image analyzing apparatus, generally, a still image of a continuously flowing sample particle is analyzed to determine the number of particles of a plurality of types in the sample. In order to perform the classification efficiently, a particle detection system that detects passing particles at a still particle image capturing area or upstream thereof is necessary as is performed in the above-described known example.

【0017】すなわち、サンプル粒子が通過したときだ
けパルス光源を点灯させ、サンプル粒子の静止画像を撮
像するように構成する。
That is, the pulse light source is turned on only when the sample particles have passed, and a still image of the sample particles is taken.

【0018】上記方法は、粒子濃度の小さい測定サンプ
ルに対して非常に効率よく処理できるため、測定サンプ
ル量の増大、解析時間の短縮、解析精度の向上を図るこ
とができる。
The above method can process a measurement sample having a low particle concentration very efficiently, so that the amount of the measurement sample can be increased, the analysis time can be shortened, and the analysis accuracy can be improved.

【0019】ところが、このようなフロー式粒子画像解
析装置においては、静止粒子画像撮像領域またはその上
流に通過粒子を検出する粒子検出系と、粒子が通過した
ときだけパルス光源を点灯させ、静止粒子画像を撮像す
る画像撮像系とを有しているが、上記粒子検出系と上記
画像撮像系とは一般的にその測定原理が異なっている。
However, in such a flow type particle image analyzer, a particle detection system for detecting passing particles at or upstream of the stationary particle image capturing area, a pulse light source is turned on only when the particles have passed, Although it has an image capturing system for capturing an image, the particle detection system and the image capturing system generally have different measurement principles.

【0020】上記粒子検出系として、通常、フローセル
中を流れている測定サンプルにレーザ光束を集光して照
射し、このレーザ光束を横切った粒子からの散乱光を検
出する方法が用いられている。
As the above-described particle detection system, a method is generally used in which a measurement sample flowing in a flow cell is focused and irradiated with a laser beam, and scattered light from particles traversing the laser beam is detected. .

【0021】しかし、粒子検出系において、所定の粒子
検出レベル以上を粒子検出の条件としても、実際の画像
撮像系による静止粒子画像には、検出粒子以外に、サイ
ズが小さく、光散乱の大きさが粒子検出レベルに達しな
い粒子も存在することは、しばしば起こることである。
However, in a particle detection system, even if the particle detection condition is equal to or higher than a predetermined particle detection level, a still particle image obtained by an actual image pickup system has a small size and a small light scattering It is often the case that some particles do not reach particle detection levels.

【0022】その結果、粒子検出系で計数される粒子数
と画像処理された粒子数とは、画像取り込みで避けられ
ないデッドタイムによる粒子数え落としを考慮しても一
致せず、粒子解析精度、再現性の低下を引き起す原因と
なる。
As a result, the number of particles counted by the particle detection system and the number of particles subjected to image processing do not agree even if the particle count due to dead time which cannot be avoided in image capturing is considered, and the particle analysis accuracy and This may cause a decrease in reproducibility.

【0023】これらの問題に正しく対応させる方法を提
供するのが、特開平7−83817号公報に記載の技術
である。この特開平7−83817号公報に記載されて
いる方法は、1つの画像に撮像されている粒子と、粒子
検出系で検出された粒子との1対1の対応関係を取るも
のである。
The technique described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-83817 provides a method for properly coping with these problems. The method described in JP-A-7-83817 takes a one-to-one correspondence between particles captured in one image and particles detected by a particle detection system.

【0024】そのために、粒子検出信号の中から、フラ
ッシュランプ光源が点灯した時点で画面に写っている粒
子のうちで検出粒子に相当する粒子を計数する手段と、
この計数値と画像中の粒子のうち検出粒子と対応させる
こと、および検出粒子と見なされない粒子と検出粒子と
を区別する手段を提供するものである。
[0024] To this end, means for counting particles corresponding to detected particles out of particles detected on the screen when the flash lamp light source is turned on from the particle detection signal,
The present invention provides a means for associating the counted value with the detected particles among the particles in the image, and a means for distinguishing the detected particles from the particles not regarded as the detected particles.

【0025】上述した方法では、粒子検出系と画像撮像
系とをそれぞれ具備し、粒子検出系の原理と画像撮像系
の粒子画像識別の原理とが異なるフロー式粒子画像解析
方法およびフロー式粒子画像解析装置において、検出粒
子と静止粒子画像中の粒子とを対応させ、粒子検出系の
検出粒子以外の粒子が画像撮像系の静止粒子画像中に存
在しても、サンプル中の各種類の粒子個数、粒子存在比
率、粒子密度、濃度情報を正しく知ることができ、解析
精度の良好なフロー式粒子画像解析方法およびフロー式
粒子画像解析装置を提供するものである。
In the above-described method, a flow-type particle image analysis method and a flow-type particle image are provided, each including a particle detection system and an image imaging system, wherein the principle of the particle detection system and the principle of particle image identification of the image imaging system are different. In the analyzer, the detection particles correspond to the particles in the still particle image, and even if particles other than the detection particles in the particle detection system are present in the still particle image in the image capturing system, the number of particles of each type in the sample is determined. An object of the present invention is to provide a flow type particle image analysis method and a flow type particle image analysis device which can correctly know the particle abundance ratio, the particle density, and the concentration information and have good analysis accuracy.

【0026】この方法では、撮像した粒子画像毎に検出
粒子と粒子画像中の粒子と1対1の対応をとる必要があ
り、高速で処理を行うには複雑な回路構成を必要とす
る。
In this method, it is necessary to make a one-to-one correspondence between the detected particles and the particles in the particle image for each captured particle image, and a high-speed processing requires a complicated circuit configuration.

【0027】この問題点を軽減する方法として、特開平
9−72842号公報に示されているように、測定終了
後に一括して、検出粒子と粒子画像粒子の対応をとる方
法がある。
As a method of reducing this problem, there is a method of collectively associating the detected particles with the particle image particles after the measurement is completed, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-72842.

【0028】これら2つの検出粒子と粒子画像との対応
方法は、不要粒子画像を捨てることが出来、さらに、画
像撮像系でのデッドタイムに起因する粒子画像の数え落
としが存在しても、正しい粒子の分類比率を求めること
が出来、結果として正しい粒子密度が得られ、人による
顕微鏡検査と相関が良い分析データが得られる特徴があ
る。
The method of correspondence between these two detected particles and the particle image allows the unnecessary particle image to be discarded, and corrects even if the particle image is counted down due to dead time in the image pickup system. The classification ratio of particles can be obtained, and as a result, a correct particle density can be obtained, and analytical data having a good correlation with human microscopy can be obtained.

【0029】しかし、粒子検出による光信号は光検出器
により電気信号に変換されるが、光信号の大きさは、粒
子の光学的な屈折率、吸収、サイズ、粒子の内部状態、
散乱光検出条件や検出レベルなどにより影響を受け、必
ずしも画像処理で用いられる粒子の形態情報、特にサイ
ズ情報である面積、粒子直径、周囲長とは完全に一致し
ない。
However, the optical signal by the particle detection is converted into an electric signal by the photodetector. The magnitude of the optical signal depends on the optical refractive index of the particle, absorption, size, internal state of the particle,
It is affected by the scattered light detection conditions, the detection level, and the like, and does not always completely match the morphological information of the particles used in the image processing, particularly, the area, the particle diameter, and the perimeter as the size information.

【0030】このため、粒子検出条件と画像による粒子
のサイズパラメータとは完全には対応しないから、粒子
検出レベル近傍にある粒子については、正しく対応が取
れている保証は無い。
For this reason, since the particle detection condition does not completely correspond to the particle size parameter based on the image, there is no guarantee that particles in the vicinity of the particle detection level have a correct correspondence.

【0031】十分粒子検出レベルを下げて、全粒子を処
理できる対象であれば問題は生じないが、種々の粒子成
分を含み、広いサイズ分布を有する粒子成分も存在する
サンプルを処理する場合には、粒子検出レベルの設定自
体が難しくなる。
There is no problem as long as the target can sufficiently treat all the particles by sufficiently lowering the particle detection level. However, when processing a sample containing various particle components and also having a particle component having a wide size distribution, However, setting the particle detection level itself becomes difficult.

【0032】さらに、複数の測定モードを有し、異なる
複数の測定条件で複数種類存在するサンプルを対象に、
測定結果を1つのサンプル結果に纏める必要がある場合
には、特に問題が生じる。
Furthermore, for a sample having a plurality of measurement modes and a plurality of types under a plurality of different measurement conditions,
A particular problem arises when it is necessary to combine the measurement results into one sample result.

【0033】すなわち、複数の測定モードでは、粒子検
出条件を別々に設定するから、粒子検出系の粒子検出条
件だけで粒子濃度を求めようとしても、正しくサンプル
粒子濃度を知ることが出来ないことがあるという問題が
生じる。
That is, in a plurality of measurement modes, the particle detection conditions are separately set, so that even if an attempt is made to obtain the particle concentration only with the particle detection conditions of the particle detection system, it is not possible to know the sample particle concentration correctly. There is a problem that there is.

【0034】図2を使ってその問題点を説明する。ここ
で、説明を簡単にするために、2つの測定モードがある
場合について考える。
The problem will be described with reference to FIG. Here, in order to simplify the description, a case where there are two measurement modes will be considered.

【0035】第1の測定モードでは、主に粒子サイズが
小さく、数の多い粒子成分Aを分析する目的で、サンプ
ル流れの流速を落とし、粒子検出レベルを下げて小さい
粒子を検出できるようにする。
In the first measurement mode, the flow rate of the sample flow is reduced and the particle detection level is reduced to detect small particles, mainly for the purpose of analyzing the particle component A having a small particle size and a large number. .

【0036】一方、第2の測定モードでは、数が少ない
サイズの大きい粒子成分Bを処理する目的で、粒子検出
レベルを上げ、かつ、サンプル流速を速くして測定体積
を大きくなるように設定されているものとする。
On the other hand, in the second measurement mode, in order to process a large number of large particle components B, the number of detected particles is increased and the sample flow rate is increased to increase the measurement volume. It is assumed that

【0037】第2の測定モードは対象粒子の個数濃度が
小さいために、測定体積を大きくしている。
In the second measurement mode, the measurement volume is increased because the number concentration of the target particles is low.

【0038】このため、小さな粒子成分Aは第1の測定
モードで処理し、大きな粒子成分Bは第2の測定モード
で問題無く処理することが出来る。
Therefore, the small particle component A can be processed in the first measurement mode, and the large particle component B can be processed in the second measurement mode without any problem.

【0039】しかし、小さい粒子成分Aと大きな粒子成
分Bとの間の大きさの普通のサンプルでは、サイズの分
布に広がりがあって、上で述べた第1および第2の別々
の測定モードでの処理では分析できない場合が生じる。
However, in a normal sample of a size between the small particle component A and the large particle component B, the size distribution has a spread, and the first and second separate measurement modes described above use In some cases, the analysis cannot be performed by the processing of (1).

【0040】すなわち、サイズの小さい方から大きい方
まで広く分布している粒子成分Cでは、第1の測定モー
ドまたは第2の測定モードそれぞれだけでは、正しい粒
子濃度が測定できない。
That is, in the case of the particle components C which are widely distributed from a small size to a large size, a correct particle concentration cannot be measured only in each of the first measurement mode and the second measurement mode.

【0041】第1の測定モードでは、測定体積が第2の
測定モードに比べて小さいため、粒子濃度の測定結果は
統計的にばらつきが大きい結果になる。また、第2の測
定モードでは、検出レベルより小さい粒子成分を検出し
ないようにしているから、元々正しい粒子濃度は測定で
きない。
In the first measurement mode, since the measurement volume is smaller than that in the second measurement mode, the measurement result of the particle concentration has a statistically large variation. In addition, in the second measurement mode, a particle component smaller than the detection level is not detected, so that an originally correct particle concentration cannot be measured.

【0042】また、第2の測定モードでは、粒子の検出
レベルをどこに設定するのが良いか決定することが難し
い。すなわち、検出レベルを下げて小さな粒子をも検出
するようにすると、2つの測定モードを設けることの意
味が薄れてしまう。
In the second measurement mode, it is difficult to determine where to set the particle detection level. That is, if the detection level is lowered to detect even small particles, the significance of providing two measurement modes is diminished.

【0043】第2の測定モードで小さい粒子まで処理す
る場合には、特開平7−83817号公報及び特開平9
−72842号公報に記載されているように、画像取り
込み段階で避けられないデッドタイムによる粒子数え落
とし割合が増加する結果、処理される粒子画像数が減少
し、粒子解析精度、再現性の低下を引き起す原因とな
る。これは、処理する数が多い、小さい粒子成分Aの処
理割合が増え、結果的に大きい粒子成分Bの処理画像数
が減少してしまうからである。
In the case of processing even small particles in the second measurement mode, Japanese Patent Application Laid-Open Nos.
As described in JP-A-72842, the number of particles to be processed is reduced as a result of an increase in the number of particles counted due to dead time unavoidable in the image capturing stage, and the accuracy of particle analysis and reproducibility are reduced. May cause. This is because the processing ratio of the small particle component A, which has a large number to be processed, increases, and as a result, the number of processed images of the large particle component B decreases.

【0044】本発明の目的は、粒子成分に粒子サイズの
広がりがあり、2つの測定モードのどちらでも検出処理
しなければならない粒子を含むサンプルを対象とする場
合であっても、粒子濃度を正確に算出することができる
フロー式粒子画像解析方法及び装置を実現することであ
る。
It is an object of the present invention to accurately determine the particle concentration even when a sample containing particles which must be subjected to detection processing in either of the two measurement modes due to the particle components having a wide particle size. It is an object of the present invention to realize a flow type particle image analysis method and apparatus which can calculate the particle size.

【0045】[0045]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は次のように構成される。 (1)粒子が懸濁する液体サンプルをフローセル中に流
し、粒子検出系による上記液体サンプル中の粒子数を計
数する粒子検出段階と、上記フローセル中の撮像領域を
通過する粒子の静止画像を粒子撮像系により撮像する撮
像段階と、画像解析処理により上記静止画像中の粒子の
形態学的分類を行う解析段階とを有するフロー式粒子画
像解析方法において、粒子検出条件が互いに異なる複数
の測定モードを設定する段階と、各測定モードごとに上
記粒子検出段階で検出された粒子と、画像解析処理し分
類識別された粒子画像との対応をとる段階と、各測定モ
ード毎に得られた分析結果を粒子画像の特徴パラメータ
を使って複数のサイズ領域に分割する段階と、各測定モ
ード毎に、サンプル中の複数粒子成分の粒子濃度を算出
する段階と を備える。
In order to achieve the above object, the present invention is configured as follows. (1) Flowing a liquid sample in which particles are suspended into a flow cell and counting the number of particles in the liquid sample by a particle detection system; and detecting a still image of particles passing through an imaging region in the flow cell. In a flow type particle image analysis method having an imaging step of imaging by an imaging system and an analysis step of performing morphological classification of particles in the still image by image analysis processing, a plurality of measurement modes having different particle detection conditions are set. The setting step, the step of associating the particles detected in the particle detection step for each measurement mode with the particle images classified and identified by performing image analysis processing, and the analysis results obtained for each measurement mode A step of dividing into a plurality of size regions using characteristic parameters of the particle image, and a step of calculating a particle concentration of a plurality of particle components in the sample for each measurement mode. You.

【0046】(2)好ましくは、上記(1)において、
粒子検出条件の異なる複数の測定モードは、2つの測定
モードである。
(2) Preferably, in the above (1),
The plurality of measurement modes having different particle detection conditions are two measurement modes.

【0047】(3)また、好ましくは、上記(2)にお
いて、粒子検出条件の異なる2つの測定モードは、これ
ら2つの測定モードが結合されることにより、第1の粒
子検出条件として、測定対象となる全粒子が検出される
ように粒子検出領域が設定されている。
(3) Also, preferably, in the above (2), the two measurement modes having different particle detection conditions are combined as a first particle detection condition by combining these two measurement modes. The particle detection area is set such that all the particles are detected.

【0048】(4)また、好ましくは、上記(2)にお
いて、粒子検出条件の異なる2つの測定モードは、それ
ぞれ、第2の粒子検出条件として、予め設定された粒子
検出領域を有し、この設定レベル以上の粒子検出信号が
検出された時、それを検出粒子とする。
(4) Preferably, in the above (2), each of the two measurement modes having different particle detection conditions has a particle detection region preset as a second particle detection condition. When a particle detection signal higher than the set level is detected, it is regarded as a detected particle.

【0049】(5)また、好ましくは、上記(2)又は
(3)において、第1の粒子検出条件で処理し、対応づ
けされた粒子画像を複数種類の粒子に分類・識別処理す
る段階と、上記第1の粒子検出条件で粒子検出された粒
子数情報を使って複数領域の各粒子の個数を推定する段
階とを備える。
(5) Preferably, in the above (2) or (3), a step of processing under the first particle detection condition and classifying / identifying the associated particle image into a plurality of types of particles. Estimating the number of particles in a plurality of regions using the information on the number of particles detected under the first particle detection condition.

【0050】(6)また、好ましくは、上記(5)にお
いて、第1の測定モードと、この第1の測定モードによ
り測定される対象の粒子径より大の粒子径を有する粒子
を測定する第2の測定モードとを有し、第1の測定モー
ドで処理された全粒子画像数をNg1、上記複数領域の
第1の領域の第1の粒子成分の粒子画像数をNgA(1)、
第1の領域の第3の粒子成分の粒子画像数をNgC(1)、
第2の領域の第2の粒子成分の粒子画像数をNgB(2)、
第2の領域の第3の粒子成分の粒子画像数をNgC(2)、
粒子検出系で検出した総粒子数をNd1とすると、第1
の測定モードで処理された、第1の領域の第1の粒子成
分の粒子数NA(1)、第1の領域の第3の粒子成分の粒子
数NC(1)、第2の領域の第2の粒子成分の粒子数NB(2)、
第2の領域の第2の粒子成分の粒子数NC(2)を求める計
算式として、次式(1-1)〜(1-4)、 NA(1)=NgA(1)/Ng1×Nd1 ----(1-1) NB(2)=NgB(2)/Ng1×Nd1 ----(1-2) NC(1)=NgC(1)/Ng1×Nd1 ----(1-3) NC(2)=NgC(2)/Ng1×Nd1 ----(1-4)を使用する。
(6) Preferably, in the above (5), a first measurement mode and a second measurement mode for measuring particles having a particle diameter larger than the particle diameter of the object to be measured in the first measurement mode. The number of all particle images processed in the first measurement mode is Ng1, the number of particle images of the first particle component in the first region of the plurality of regions is NgA (1),
The number of particle images of the third particle component in the first area is NgC (1),
The number of particle images of the second particle component in the second region is represented by NgB (2),
The number of particle images of the third particle component in the second area is NgC (2),
Assuming that the total number of particles detected by the particle detection system is Nd1,
The number of particles NA (1) of the first particle component in the first region, the number of particles NC (1) of the third particle component in the first region, and the number of particles NC (1) in the second region The particle number NB (2) of the particle component 2;
The following equations (1-1) to (1-4) are used to calculate the number of particles NC (2) of the second particle component in the second region, NA (1) = NgA (1) / Ng1 × Nd1 ---- (1-1) NB (2) = NgB (2) / Ng1 × Nd1 ---- (1-2) NC (1) = NgC (1) / Ng1 × Nd1 ---- (1 -3) Use NC (2) = NgC (2) / Ng1 × Nd1 ---- (1-4).

【0051】(7)また、好ましくは、上記(4)にお
いて、第2の粒子検出条件で処理した対応づけられた粒
子画像を複数種類の粒子群に分類・識別処理する段階
と、第2の粒子検出条件で粒子検出された粒子数情報を
使って各領域の各粒子の個数を推定する段階とを備え
る。
(7) Preferably, in the above (4), the step of classifying and identifying the associated particle images processed under the second particle detection condition into a plurality of types of particle groups; Estimating the number of particles in each region using information on the number of particles detected under the particle detection conditions.

【0052】(8)また、好ましくは、上記(7)にお
いて、測定モードは、第1の粒子成分を検出するための
第1の測定モードと、この第1の粒子成分より径が大の
第2の粒子成分を検出するための第2の測定モードとか
らなり、第1の測定モードを第1の領域と第2の領域と
に分割し、第2の測定モードを第3の領域と第4の領域
とに分割し、第2の測定モードで処理された全粒子画像
数をNg2、第4の領域の第2の粒子成分の粒子画像数を
NgB(4)、第1の粒子成分の径の一部から第2の粒子成
分の径を含む径を有する第3の粒子成分の粒子画像数を
NgC(4)とし、粒子検出系で検出した総粒子数をNd2
とすると、第4の領域で処理された第2の粒子成分の粒
子数NB(4) 、第3の粒子成分の粒子数NC(4)の推定値
は、次式(2−1)、(2−2)、 NB(4)=NgB(4)/Ng2×Nd2 ----(2-1) NC(4)=NgC(4)/Ng2×Nd2 ----(2-2)を使用して算出す
る。
(8) Preferably, in the above (7), the measurement mode includes a first measurement mode for detecting the first particle component and a second measurement mode having a diameter larger than that of the first particle component. A second measurement mode for detecting the second particle component. The first measurement mode is divided into a first region and a second region, and the second measurement mode is divided into a third region and a third region. 4, the total number of particle images processed in the second measurement mode is Ng2, the number of particle images of the second particle component in the fourth region is NgB (4), and the number of particle images of the first particle component is NgB (4). The number of particle images of the third particle component having a diameter including the diameter of the second particle component from a part of the diameter is defined as NgC (4), and the total number of particles detected by the particle detection system is defined as Nd2.
Then, the estimated values of the number of particles NB (4) of the second particle component and the number of particles NC (4) of the third particle component processed in the fourth region are expressed by the following equations (2-1), (2-1). 2-2), NB (4) = NgB (4) / Ng2 × Nd2 ---- (2-1) NC (4) = NgC (4) / Ng2 × Nd2 ---- (2-2) Use to calculate.

【0053】(9)また、好ましくは、上記(1)又は
(2)において、予め設定されているサイズに関する粒
子画像パラメータを使って、各測定モードごとに複数の
領域に分け、各領域の粒子種類ごとの粒子数を求める段
階を備える。
(9) Preferably, in the above (1) or (2), a plurality of regions are divided for each measurement mode by using a particle image parameter relating to a predetermined size, and particles in each region are divided. A step of determining the number of particles for each type.

【0054】(10)また、好ましくは、上記(9)に
おいて、予め設定されているサイズに関する粒子画像パ
ラメータとして、粒子の直径情報を用いる段階を備え
る。
(10) Preferably, in the above (9), a step of using particle diameter information as a particle image parameter relating to a preset size is provided.

【0055】(11)また、好ましくは、上記(9)に
おいて、予め設定されているサイズに関する粒子画像パ
ラメータとして、粒子の面積情報を用いる段階を備え
る。
(11) Preferably, in the above (9), there is provided a step of using area information of particles as particle image parameters relating to a preset size.

【0056】(12)また、好ましくは、上記(9)に
おいて、予め設定されているサイズに関する粒子画像パ
ラメータとして、粒子の射影長を用いる段階を備える。
(12) Preferably, in the above (9), a step of using the projection length of the particle as a particle image parameter relating to a preset size is provided.

【0057】(13)また、好ましくは、上記(10)
又は(12)において、粒子直径または射影長は、上記
サンプルの流れ方向に沿った長さである。
(13) Preferably, the above (10)
Or in (12), the particle diameter or the projection length is a length along the flow direction of the sample.

【0058】(14)また、好ましくは、上記(5)か
ら(8)において、測定条件情報、複数領域毎に求めた
各粒子成分数及び粒子検出系計数結果を基にして、上記
サンプルに含まれている複数粒子種類の粒子濃度を算出
する段階を備える。
(14) Preferably, in the above (5) to (8), the sample is included in the sample based on the measurement condition information, the number of each particle component obtained for each of a plurality of regions, and the counting result of the particle detection system. Calculating a particle concentration of the plurality of types of particles.

【0059】(15)また、好ましくは、上記(14)
において、第1の測定モードと、この第1の測定モード
により測定される対象の粒子径より大の粒子径を有する
粒子を測定する第2の測定モードとを有し、第1の測定
モードを第1の領域と第2の領域とに分割し、第2の測
定モードを第3の領域と第4の領域とに分割し、第1の
領域の第1の粒子成分の粒子数をNA(1)、第1の領域の
第3の粒子成分の粒子数をNC(1)、第2の領域の第2の
粒子成分の粒子数をNB(2)、第2の領域の第3の粒子成
分の粒子数をNC(2)、第4の領域で処理された第2の粒
子成分の粒子数をNB(4)、第4の領域で処理された第3
の粒子成分の粒子数をNC(4)、第1の測定モード及び第
2の測定モードでのそれぞれのサンプル測定体積をVm1
及びVm2とすると、第1の粒子成分の粒子濃度DA、第
2の粒子成分の粒子濃度DB、第3の粒子成分の粒子濃
度DCは、次式(3−1)〜(3−3)、 DA=NA(1)/Vm1 ----(3-1) DB=(NB(2)+NB(4))/(Vm1+Vm2) ----(3-2) DC=NC(1)/Vm1+(NC(2)+NC(4))/(Vm1+Vm2) ----(3-3)
を使用して算出する。
(15) Preferably, (14)
Has a first measurement mode and a second measurement mode for measuring particles having a particle diameter larger than the particle diameter of an object measured in the first measurement mode, wherein the first measurement mode is The first measurement area is divided into a first area and a second area, the second measurement mode is divided into a third area and a fourth area, and the number of particles of the first particle component in the first area is NA ( 1), the number of particles of the third particle component in the first region is NC (1), the number of particles of the second particle component in the second region is NB (2), and the third particle in the second region is The number of particles of the component is NC (2), the number of particles of the second particle component processed in the fourth region is NB (4), and the number of particles of the third particle processed in the fourth region is NB (4).
The number of particles of the particle component is represented by NC (4), and the volume of each sample measured in the first measurement mode and the second measurement mode is represented by Vm1.
And Vm2, the particle concentration DA of the first particle component, the particle concentration DB of the second particle component, and the particle concentration DC of the third particle component are represented by the following equations (3-1) to (3-3): DA = NA (1) / Vm1 ---- (3-1) DB = (NB (2) + NB (4)) / (Vm1 + Vm2) ---- (3-2) DC = NC (1 ) / Vm1 + (NC (2) + NC (4)) / (Vm1 + Vm2) ---- (3-3)
Calculated using

【0060】(16)また、好ましくは、上記(2)又
は(9)において、予め設定されているサイズに関する
粒子画像パラメータとして、第2の測定モードの粒子検
出領域に相当する画像粒子サイズ情報を使って、第1の
測定データを複数領域に分ける。
(16) Preferably, in the above (2) or (9), image particle size information corresponding to a particle detection area in the second measurement mode is used as a particle image parameter relating to a predetermined size. Used to divide the first measurement data into a plurality of regions.

【0061】(17)また、好ましくは、上記(16)
において、予め設定されているサイズに関する粒子画像
パラメータとして、第2の測定モードの対応する画像パ
ラメータのヒストグラムより決定する段階を有する。
(17) Preferably, the above (16)
And determining as a particle image parameter relating to a preset size from a histogram of corresponding image parameters in the second measurement mode.

【0062】(18)また、好ましくは、上記(17)
において、処理しているサンプル自身の粒子画像パラメ
ータから決定する。
(18) Preferably, the above (17)
In, it is determined from the particle image parameters of the sample being processed.

【0063】(19)また、好ましくは、上記(17)
において、複数のサンプルによる粒子画像パラメータか
ら決定する。
(19) Preferably, the above (17)
In the above, it is determined from the particle image parameters of a plurality of samples.

【0064】(20)また、好ましくは、上記(17)
において、各測定モードの複数領域のそれぞれの粒子濃
度を計算し、測定モード間で粒子濃度の比較する段階に
より、測定系の状態をチェックする。
(20) Further, preferably, (17)
In, the particle concentration in each of the plurality of regions in each measurement mode is calculated, and the state of the measurement system is checked by comparing the particle concentration between the measurement modes.

【0065】(21)また、好ましくは、上記(20)
において、測定状態のチェックにより異常が見つかった
場合、正常と思われる測定モードのデータだけでサンプ
ル中の粒子濃度を計算する。
(21) Preferably, the above (20)
In the above, if an abnormality is found by checking the measurement state, the particle concentration in the sample is calculated using only the data in the measurement mode considered to be normal.

【0066】(22)また、好ましくは、上記(20)
において、測定状態のチェックにより異常が見つかった
場合、2つの測定データのデータの比率を計算し、正常
でない測定モードの粒子濃度の値を推定する段階を有す
る。
(22) Preferably, the above (20)
In the above, when an abnormality is found by checking the measurement state, a step of calculating a ratio of data of two measurement data and estimating a value of a particle concentration in an abnormal measurement mode is included.

【0067】(23)また、好ましくは、上記(1)又
は(2)において、各測定モードでサンプル流れ位置と
粒子画像撮像の不一致による視野ケラレの補正、および
サンプル薄まりの補正を行う。
(23) Preferably, in the above (1) or (2), correction of visual field vignetting due to inconsistency between the sample flow position and the imaging of the particle image and correction of sample thinning are performed in each measurement mode.

【0068】(24)また、好ましくは、上記(1)又
は(2)において、各測定モードの光学系倍率が異なる
場合には、サイズ情報を倍率で換算し直す。
(24) Preferably, in the above (1) or (2), when the optical system magnification of each measurement mode is different, the size information is converted again by the magnification.

【0069】(25)粒子が懸濁する液体サンプルをフ
ローセル中に流し、粒子検出系による上記液体サンプル
中の粒子数を計数する粒子検出手段と、上記フローセル
中の撮像領域を通過する粒子の静止画像を粒子撮像系に
より撮像する撮像手段と、画像解析処理により上記画像
中の粒子の形態学的分類を行う解析手段とを有するフロ
ー式粒子画像解析装置において、粒子検出条件が互いに
異なる複数の測定モードを設定する手段と、各測定モー
ドごとに上記粒子検出手段で検出された粒子と、画像解
析処理し分類識別された粒子画像との対応をとる手段
と、各測定モード毎に得られた分析結果を粒子画像の特
徴パラメータを使って複数のサイズ領域に分割する手段
と、各測定モード毎に、サンプル中の複数粒子成分の粒
子濃度を算出する手段と を備える。
(25) A liquid sample in which particles are suspended flows into a flow cell, and a particle detection means for counting the number of particles in the liquid sample by a particle detection system; and a stationary state of particles passing through an imaging region in the flow cell. In a flow type particle image analyzer having an imaging unit for imaging an image by a particle imaging system and an analysis unit for performing morphological classification of particles in the image by an image analysis process, a plurality of measurements having different particle detection conditions are performed. Means for setting the mode, means for associating the particles detected by the particle detecting means for each measurement mode with the particle images classified and identified by image analysis processing, and analysis obtained for each measurement mode. Means for dividing the result into a plurality of size regions using the characteristic parameters of the particle image, and means for calculating the particle concentration of the plurality of particle components in the sample for each measurement mode. Provided with a door.

【0070】(26)好ましくは、上記(25)におい
て、粒子検出条件の異なる複数の測定モードは、2つの
測定モードである。
(26) Preferably, in the above (25), the plurality of measurement modes having different particle detection conditions are two measurement modes.

【0071】(27)また、好ましくは、上記(26)
において、粒子検出条件の異なる2つの測定モードは、
これら2つの測定モードが結合されることにより、第1
の粒子検出条件として、測定対象となる全粒子が検出さ
れるように粒子検出領域を設定されている。
(27) Preferably, the above (26)
In, two measurement modes with different particle detection conditions are:
By combining these two measurement modes, the first
The particle detection area is set such that all the particles to be measured are detected.

【0072】(28)また、好ましくは、上記(26)
又は(27)において、第1の粒子検出条件で処理した
対応づけされた粒子画像を複数種類の粒子に分類・識別
処理する手段と、第1の粒子検出条件で粒子検出された
粒子数を使って各粒子の個数を推定する手段とを備え
る。
(28) Preferably, (26)
Or in (27), means for classifying and identifying the associated particle image processed under the first particle detection condition into a plurality of types of particles, and using the number of particles detected under the first particle detection condition Means for estimating the number of each particle.

【0073】(29)また、好ましくは、上記(25)
又は(28)において、第2の粒子検出条件で処理し、
対応づけられた粒子画像を複数種類の粒子群に分類・識
別処理する手段と、第2の粒子検出条件で粒子検出され
た粒子数を使って各粒子の個数を推定する手段とを備え
る。
(29) Preferably, the above (25)
Or in (28), processing under the second particle detection condition,
A means for classifying and associating the associated particle images into a plurality of types of particle groups, and a means for estimating the number of each particle using the number of particles detected under the second particle detection condition.

【0074】(30)また、好ましくは、上記(25)
又は(26)において、測定条件と、第2の粒子検出条
件で粒子検出された粒子数および粒子検出系の計数結果
を基にして、サンプルに含まれている複数粒子種類の粒
子濃度を算出する手段を備える。
(30) Preferably, the above (25)
Alternatively, in (26), based on the measurement conditions, the number of particles detected under the second particle detection conditions, and the counting result of the particle detection system, the particle concentration of a plurality of types of particles contained in the sample is calculated. Means.

【0075】(31)また、好ましくは、上記(25)
又は(30)において、予め設定されているサイズに関
する粒子画像パラメータとして、第2の測定モードの粒
子検出領域に相当する画像粒子サイズ情報を使って、第
1の測定モードを複数領域に分ける。
(31) Preferably, the above (25)
Alternatively, in (30), the first measurement mode is divided into a plurality of regions using the image particle size information corresponding to the particle detection region in the second measurement mode as the particle image parameter relating to the preset size.

【0076】(32)また、好ましくは、上記(31)
において、予め設定されているサイズに関する粒子画像
パラメータとして、第2の測定モードの対応する画像パ
ラメータのヒストグラムより決定する手段を備える。
(32) Preferably, the above (31)
And means for determining from the histogram of the corresponding image parameter in the second measurement mode as the particle image parameter relating to the preset size.

【0077】(33)また、好ましくは、上記(31)
において、処理してるサンプル自身の粒子画像パラメー
タから決定する。
(33) Preferably, the above (31)
In, it is determined from the particle image parameters of the sample itself being processed.

【0078】(34)また、好ましくは、上記(31)
において、複数のサンプルによる粒子画像パラメータか
ら決定する。
(34) Preferably, the above (31)
In the above, it is determined from the particle image parameters of a plurality of samples.

【0079】(35)また、好ましくは、上記(31)
において、各測定モードの複数領域それぞれの粒子濃度
を計算し、測定モード間で粒子濃度の比較する手段によ
り、測定系の状態をチェックする。
(35) Preferably, the above (31)
In, the particle concentration of each of the plurality of regions in each measurement mode is calculated, and the state of the measurement system is checked by means for comparing the particle concentration between the measurement modes.

【0080】(36)また、好ましくは、上記(25)
から(35)において、解析対象が生物細胞である。
(36) Preferably, the above (25)
From (35) to (35), the analysis target is a biological cell.

【0081】(37)また、好ましくは、上記(25)
から(35)において、解析対象が血液中に存在する血
球成分である。
(37) Preferably, the above (25)
From (35) to (35), the analysis target is a blood cell component present in blood.

【0082】(38)また、好ましくは、上記(25)
から(35)において、解析対象が尿中に存在する尿沈
渣成分である。
(38) Preferably, the above (25)
From (35) to (35), the analysis target is a urinary sediment component present in urine.

【0083】[0083]

【発明の実施の形態】まず、本発明の原理について図4
を参照して説明する。なお、説明を簡単にするため、粒
子測定モードの数を2つとして説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First, the principle of the present invention will be described with reference to FIG.
This will be described with reference to FIG. Note that, for simplicity, the description will be made assuming that the number of the particle measurement modes is two.

【0084】図4に示すように、測定サンプル中には、
3種類の粒子成分が含まれると仮定する。3種類の粒子
成分は、サイズの小さな粒子成分A、サイズの大きい粒
子成分B、サイズ分布が小さい方から大きい方にかけて
広く分布する粒子成分Cとする。以下、それぞれを、粒
子成分A、粒子成分Bおよび粒子成分Cと呼ぶことにす
る。
As shown in FIG. 4, in the measurement sample,
Assume that three types of particle components are included. The three types of particle components are a particle component A having a small size, a particle component B having a large size, and a particle component C which is widely distributed from a small size to a large size distribution. Hereinafter, these will be referred to as a particle component A, a particle component B, and a particle component C, respectively.

【0085】第1の測定モードの粒子検出領域は、サン
プル中に含まれる全粒子を対象とするため、検出レベル
は粒子成分Aを十分検出できるレベルにあるとする。
Since the particle detection area in the first measurement mode covers all particles contained in the sample, it is assumed that the detection level is at a level that can sufficiently detect the particle component A.

【0086】一方、第2の測定モードでは粒子成分Bを
十分検出できるように検出レベルが定められているが、
粒子成分Cは、図4に示したように一部の粒子しか検出
できない条件に設定されていることとする。
On the other hand, in the second measurement mode, the detection level is determined so that the particle component B can be sufficiently detected.
It is assumed that the particle component C is set under the condition that only a part of the particles can be detected as shown in FIG.

【0087】なお、図4は横軸を粒子画像面積とし、縦
軸を画像パラメータのヒストグラムとして示したもので
あり、横軸は粒子画像面積に関する画像パラメータに限
定されるものではなく、粒子サイズ情報一般と置き換え
て考えて良い。また、図4では、粒子検出領域に幅があ
る表現がされているが、その理由は実際の粒子検出系の
検出原理と粒子画像サイズ情報とが必ずしも一致しない
ためである。しかし、ここでの説明では粒子画像面積の
定数CsTH2より大きい画像粒子を検出された粒子とし
て説明していく。
FIG. 4 shows the particle image area on the horizontal axis and the histogram of the image parameters on the vertical axis. The horizontal axis is not limited to the image parameters related to the particle image area, but the particle size information. You can replace it with the general. In FIG. 4, the particle detection region has a certain width, because the detection principle of the actual particle detection system does not always match the particle image size information. However, in this description, an image particle larger than the particle image area constant Cs TH2 will be described as a detected particle.

【0088】図4に示したように、この第2の測定モー
ドの粒子検出レベルCsTH2を使って、2つの測定モー
ドのそれぞれを2つの領域に分ける。第1の測定条件で
は領域1及び領域2に分け、第2の測定モードでは領域
3及び領域4に分ける。
As shown in FIG. 4, each of the two measurement modes is divided into two regions using the particle detection level Cs TH2 of the second measurement mode. The first measurement condition is divided into the region 1 and the region 2, and the second measurement mode is divided into the region 3 and the region 4.

【0089】領域3は粒子が存在しないと思われがちだ
が、実際には、検出粒子画像以外の小さな粒子が同時に
撮影されることはしばしば発生するが、検出粒子と検出
粒子画像との対応関係をとることで無視できる。この検
出粒子と検出粒子画像の対応操作は、第1の測定モード
でもゴミなどの微小粒子が存在する場合にも発生するも
のであり、どちらの測定モードでも必要な作業である。
Although it is often thought that no particles are present in the region 3, it is often the case that small particles other than the detected particle image are photographed at the same time. It can be ignored by taking. This operation for detecting a detected particle and a detected particle image occurs both in the first measurement mode and when fine particles such as dust are present, and is a necessary operation in either measurement mode.

【0090】この対応関係をとる方法を説明する。この
対応関係を取る方法には2つある。第1の方法は特開平
7−83817号公報に説明されている方法であり、1
つのフレーム画像に撮像されている粒子と、流れが画像
の両端の間を通過する時間に粒子検出系で検出した粒子
との1対1の対応関係を取るものである。
A method for obtaining this correspondence will be described. There are two ways to take this correspondence. The first method is a method described in JP-A-7-83817.
A one-to-one correspondence is established between the particles captured in one frame image and the particles detected by the particle detection system during the time when the flow passes between both ends of the image.

【0091】この時間内に検出した粒子個数と画像中の
粒子画像のサイズ情報とを使って、粒子画像を選別する
必要がある。画像中には、サイズの小さい検出されてい
ない粒子も同時に存在する場合もあるからである。
It is necessary to select a particle image using the number of particles detected within this time and the size information of the particle image in the image. This is because small undetected particles may also be present in the image at the same time.

【0092】そのために、1フレーム中に存在する全粒
子画像のサイズパラメータを大きい方から粒子検出数分
だけが検出粒子とみなす考えを取る。サイズパラメータ
としては、粒子直径情報、画像面積情報、粒子射影情報
を使う。
For this purpose, it is considered that only the number of detected particles from the larger size parameter of all the particle images existing in one frame is regarded as detected particles. As the size parameter, particle diameter information, image area information, and particle projection information are used.

【0093】また、流れによる姿勢制御効果から、長径
方向が流れ方向に整列される傾向があることを考慮し
て、粒子の流れ方向の直径情報を使うのがより良いサイ
ズ情報になる。また、この場合には、粒子検出波形のパ
ルス幅と対応することにもなる。
Further, from the attitude control effect of the flow, considering that the major axis direction tends to be aligned with the flow direction, it is better size information to use the diameter information of the particle in the flow direction. In this case, it also corresponds to the pulse width of the particle detection waveform.

【0094】しかし、この方法では、撮像した粒子画像
毎に検出粒子と粒子画像中の粒子と1対1の対応をとる
必要があり、高速で処理を行うには複雑な回路構成を必
要とする。
However, in this method, it is necessary to establish a one-to-one correspondence between the detected particles and the particles in the particle image for each captured particle image, and a high-speed processing requires a complicated circuit configuration. .

【0095】この問題点を軽減する方法として、特開平
9−72842号公報に示されているように、測定終了
後に一括して、検出粒子と粒子画像粒子との対応をとる
方法がある。すなわち、1画像単位で検出粒子と粒子画
像との対応をとるのではなく、測定終了時に、サンプル
単位で対応を考える方法で、粒子全画像のサイズパラメ
ータの大きい方から所定粒子画像分だけを取り出すもの
である。
As a method of alleviating this problem, there is a method of collectively associating the detection particles with the particle image particles after the measurement is completed, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-72842. That is, instead of taking the correspondence between the detected particles and the particle images in units of one image, at the end of the measurement, by taking into account the correspondence in units of samples, only the predetermined particle image is extracted from the larger size parameter of the whole particle image. Things.

【0096】所定画像数は測定条件と粒子検出系で計数
した検出粒子数から平均粒子画像数を計算することで知
ることが出来る。詳細は、特開平9−72842号公報
に詳述されている。この方法では、平均粒子画像数を計
算する段階があり、1フレーム画像ごとに対応を取るも
のより厳密な対応を取らないが、デッドタイムによる数
え落としによる統計的な変動を考えると、両者の違いは
小さく粒子濃度の推定値としては十分使える。
The predetermined number of images can be known by calculating the average number of particle images from the measurement conditions and the number of detected particles counted by the particle detection system. Details are described in JP-A-9-72842. In this method, there is a step of calculating the average number of particle images, which does not take stricter correspondence than that taking correspondence for each frame image, but considering the statistical fluctuation due to counting down due to dead time, the difference between the two is different. Is small enough to be used as an estimate of particle concentration.

【0097】これら2つの方法は、不要粒子画像を捨て
ることが出来、さらに、画像撮像系でのデッドタイムに
起因する粒子画像の数え落としが存在しても、数え落と
しの分を補正して、正しい粒子の分類比率を求めること
が出来る。その結果として、正しい粒子密度が得られ、
人による顕微鏡検査と相関が良い分析データが得られる
特徴がある。
In these two methods, unnecessary particle images can be discarded, and even if particle images are counted down due to dead time in the image pickup system, the amount of the countdown is corrected by The correct particle classification ratio can be obtained. As a result, the correct particle density is obtained,
There is a characteristic that analytical data having a good correlation with human microscopy can be obtained.

【0098】しかし、粒子成分がサイズの小さいものか
ら大きいものまで広く分布し、粒子検出レベルが、問題
にしている領域に存在する粒子成分Cについては、ある
サイズ以上だけしか検出出来ない第2の測定モードだけ
では、正しい粒子濃度が求められない結果になる。
However, the particle components are widely distributed from small to large in size, and the particle detection level of the particle component C present in the region in question is the second size in which only a certain size or more can be detected. In the measurement mode alone, a correct particle concentration cannot be obtained.

【0099】次に、各測定モードでの各粒子の成分の個
数を推定する段階を説明する。デッドタイムによる粒子
画像数え落としが存在するから、各測定モードでの測定
サンプル中の測定される各粒子成分の粒子数は、処理粒
子画像数とは一致しない。
Next, the steps of estimating the number of components of each particle in each measurement mode will be described. Since there is particle image countdown due to dead time, the number of particles of each particle component measured in the measurement sample in each measurement mode does not match the number of processed particle images.

【0100】そこで、各粒子成分A、B、Cの粒子画像
数と全粒子画像数との比率と、粒子検出系で検出した粒
子数との積を取ることで、各測定モードで処理したサン
プル体積中に存在しているであろう各成分粒子数を推定
する。
Therefore, by taking the product of the ratio of the number of particle images of each particle component A, B, and C to the number of all particle images and the number of particles detected by the particle detection system, the sample processed in each measurement mode is obtained. Estimate the number of each component particle that will be present in the volume.

【0101】第1の測定モードの粒子検出閾値は、全て
の粒子成分を検出できるように設定されている。この検
出閾値に相当する粒子画像のサイズ(面積)はCsTH1
である。また、領域3と領域4とを分ける第2の測定モ
ードで使われる粒子検出閾値はCsTH2とする。
The particle detection threshold in the first measurement mode is set so that all the particle components can be detected. The size (area) of the particle image corresponding to this detection threshold is Cs TH1
It is. Further, the particle detection threshold used in the second measurement mode for separating the region 3 and the region 4 is Cs TH2 .

【0102】第1の測定モードで処理された全粒子画像
数をNg1、領域1の粒子成分Aの粒子画像数をNgA
(1)、領域1の粒子成分Cの粒子画像数をNgC(1)と
し、領域2の粒子成分Bの粒子画像数をNgB(2)、領域
2の粒子成分Cの粒子画像数をNgC(2)とすると、第1
の測定モードで処理された、領域1の粒子成分Aの粒子
数NA(1)、領域1の粒子成分Cの粒子数NC(1)、領域2の
粒子成分Bの粒子数NB(2)、領域2の粒子成分Cの粒子数
NC(2)の推定値は式(1−1)〜(1−4)で表され
る。なお、粒子検出系で検出した総粒子数をNd1とし
ている。
The number of all particle images processed in the first measurement mode is Ng1, and the number of particle images of the particle component A in the area 1 is NgA.
(1) The number of particle images of the particle component C in the region 1 is NgC (1), the number of particle images of the particle component B in the region 2 is NgB (2), and the number of particle images of the particle component C in the region 2 is NgC ( 2)
Processed in the measurement mode, the number of particles NA of the particle component A in the region 1 (1), the number of particles NC of the particle component C in the region 1 (1), the number of particles NB (2) of the particle component B in the region 2, Number of particles of particle component C in region 2
The estimated value of NC (2) is represented by equations (1-1) to (1-4). Note that the total number of particles detected by the particle detection system is Nd1.

【0103】NA(1)=NgA(1)/Ng1×Nd1 ----(1-1) NB(2)=NgB(2)/Ng1×Nd1 ----(1-2) NC(1)=NgC(1)/Ng1×Nd1 ----(1-3) NC(2)=NgC(2)/Ng1×Nd1 ----(1-4) 第1の測定モードと同様に、第2の測定モードでは次の
通りである。
NA (1) = NgA (1) / Ng1 × Nd1 ---- (1-1) NB (2) = NgB (2) / Ng1 × Nd1 ---- (1-2) NC (1 ) = NgC (1) / Ng1 × Nd1 ---- (1-3) NC (2) = NgC (2) / Ng1 × Nd1 ---- (1-4) As in the first measurement mode, The second measurement mode is as follows.

【0104】領域3の粒子は、粒子検出閾値以下である
から元々存在しないし、それに相当するCsTH2以下の
粒子が画像にあっても対応関係を取る段階で捨てられ、
粒子画像は存在しない。
The particles in the region 3 do not exist originally because they are below the particle detection threshold, and are discarded at the stage of establishing a correspondence even if the corresponding particles below Cs TH2 are present in the image.
There is no particle image.

【0105】第2の測定モードで処理された全粒子画像
数をNg2、領域4の粒子成分Bの粒子画像数をNgB
(4)、粒子成分Cの粒子画像数をNgC(4)とすると、領
域4の粒子成分Bの粒子数NB(4)、領域4の粒子成分Cの
粒子数NC(4)の推定値は、式(2−1)、(2−2)で
表される。なお、粒子検出系で検出した総粒子数をNd
2としている。
The number of all particle images processed in the second measurement mode is Ng 2, and the number of particle images of the particle component B in the area 4 is Ng B
(4) Assuming that the number of particle images of the particle component C is NgC (4), the estimated value of the number of particles NB (4) of the particle component B in the region 4 and the estimated number of particles NC (4) of the particle component C in the region 4 are as follows. , And equations (2-1) and (2-2). The total number of particles detected by the particle detection system is expressed as Nd
And 2.

【0106】NB(4)=NgB(4)/Ng2×Nd2 ----(2-1) NC(4)=NgC(4)/Ng2×Nd2 ----(2-2) 先に説明したように、第1の測定モードでは、粒子成分
Aを主に処理することを目的としており、測定されるサ
ンプル体積が小さいため、粒子成分BおよびCは画像数
が少なく、統計的なデータのバラツキが大きい処理モー
ドである。
NB (4) = NgB (4) / Ng2 × Nd2 ---- (2-1) NC (4) = NgC (4) / Ng2 × Nd2 ---- (2-2) As described above, in the first measurement mode, the purpose is to mainly process the particle component A. Since the sample volume to be measured is small, the particle components B and C have a small number of images, and the statistical data This is a processing mode with large variations.

【0107】一方、第2の測定モードでは、サンプル測
定体積を増加する測定条件のため、粒子成分BおよびC
の粒子画像数が多いが、粒子成分Cのように、この粒子
成分Cのうちのサイズの小さな粒子は処理されない結果
になる。
On the other hand, in the second measurement mode, the particle components B and C
However, as in the case of the particle component C, particles having a small size in the particle component C are not processed.

【0108】このような問題点に対処するために、粒子
成分Aは第1の測定モードだけから単位体積当たりの粒
子濃度を計算するが、粒子成分BおよびCについては、
第1の測定モードデータと第2の測定モードデータとを
両方考慮に入れて計算する。
In order to deal with such a problem, the particle component A calculates the particle concentration per unit volume only from the first measurement mode.
The calculation is performed in consideration of both the first measurement mode data and the second measurement mode data.

【0109】粒子成分A、B及びCの粒子濃度DA、D
B、DCは、式(3−1)〜(3−3)で計算する。ここ
で、Vm1とVm2は、第1の測定モード及び第2の測定モ
ードでのそれぞれのサンプル測定体積とする。
The particle concentrations DA, D of the particle components A, B, and C
B and DC are calculated by equations (3-1) to (3-3). Here, Vm1 and Vm2 are the sample measurement volumes in the first measurement mode and the second measurement mode, respectively.

【0110】 DA=NA(1)/Vm1 ----(3-1) DB=(NB(2)+NB(4))/(Vm1+Vm2) ----(3-2) DC=NC(1)/Vm1+(NC(2)+NC(4))/(Vm1+Vm2) ----(3-3) 一般的に、上記式(3−2)、(3−3)において、測
定体積がVm1<<Vm2の条件が成立する場合には、粒子
成分BについてはNB(2)およびVm1を無視しても良い。
同様に、粒子成分Cについても式(3−3)の第2項目
のNC(2)およびVm1を無視しても濃度計算の誤差は小さ
い。
DA = NA (1) / Vm1 ---- (3-1) DB = (NB (2) + NB (4)) / (Vm1 + Vm2) ---- (3-2) DC = NC (1) / Vm1 + (NC (2) + NC (4)) / (Vm1 + Vm2) ---- (3-3) In general, in the above formulas (3-2) and (3-3) When the measurement volume satisfies the condition of Vm1 << Vm2, NB (2) and Vm1 may be ignored for the particle component B.
Similarly, with respect to the particle component C, even if the second item NC (2) and Vm1 in the equation (3-3) are ignored, the error in the concentration calculation is small.

【0111】上述したように、予め設定されているサイ
ズに関する粒子画像パラメータとして、第2の測定モー
ドの粒子検出領域に相当する粒子画像サイズ情報の閾値
Cs TH2を使って、第1の測定モードを複数領域に分け
ることを特徴とする。
As described above, a preset size
The second measurement mode is used as the particle image parameter
Threshold of particle image size information corresponding to the particle detection area
Cs TH2Divides the first measurement mode into multiple areas
It is characterized by that.

【0112】あくまでも、粒子画像サイズ情報を第1の
測定モードおよび第2の測定モードの領域分けを画像パ
ラメータのサイズ情報を基にして行うことを特徴とす
る。
The feature is that the particle image size information is divided into the first measurement mode and the second measurement mode based on the image parameter size information.

【0113】その理由は、粒子画像サイズ情報の閾値C
TH2に相当する粒子検出レベルを使って、粒子検出段
階で2つの領域に分割する方法では、第1の測定モード
の領域を2つに分割することは出来るが、粒子検出信号
と粒子画像サイズ情報とが必ずしも一致するようなこと
が起こらないためである。
The reason is that the threshold value C of the particle image size information
In the method of dividing into two regions at the particle detection stage using the particle detection level corresponding to s TH2 , the region of the first measurement mode can be divided into two, but the particle detection signal and the particle image size This is because information does not always match.

【0114】すなわち、粒子検出信号と粒子画像サイズ
とは近似的には対応するが、粒子検出信号は、粒子の種
類、粒子の光学的な性質の違い(例えば屈折率など)、
およびサンプル流れ条件や光学系調整状態などに大きく
依存するためである。
That is, although the particle detection signal and the particle image size approximately correspond to each other, the particle detection signal indicates the difference between the type of the particle and the optical property of the particle (for example, the refractive index).
This is because it largely depends on sample flow conditions, optical system adjustment state, and the like.

【0115】また、サンプルの流れ条件は各測定モード
で異なり、特に流速の違いは検出系の周波数特性の影響
を受け、粒子検出信号波形も変化する。全ての処理を画
像サイズ情報で統一して扱う方が上述したような問題が
生じないからである。
The flow conditions of the sample differ in each measurement mode. Particularly, the difference in the flow velocity is affected by the frequency characteristic of the detection system, and the waveform of the particle detection signal also changes. This is because the above-described problem does not occur when all processes are handled in a unified manner using image size information.

【0116】粒子画像サイズ情報の閾値CsTH2の決定
は次のように行う。1つは、第2の測定モード条件で予
め大量のサンプルを測定し、図6に示すような粒子画像
のサイズ情報についてのヒストグラムを求める。実際に
得られるヒストグラムは粒子検出領域付近で点線で表し
たようになるはずである。
The determination of the threshold value Cs TH2 of the particle image size information is performed as follows. One is to measure a large number of samples in advance under the second measurement mode condition, and obtain a histogram for the size information of the particle image as shown in FIG. The actually obtained histogram should be as indicated by the dotted line near the particle detection area.

【0117】サイズの小さな粒子は粒子検出されず、本
来のサイズヒストグラムとは異なる分布になる。閾値C
TH2は点線で表した部分の減少しはじめる点を、粒子
画像検出レベルとする。測定される粒子画像数が十分多
い条件ならば、各測定サンプルごとに上述の操作を行っ
て、閾値CsTH2を定めることも可能である。
The small-sized particles are not detected, and have a distribution different from the original size histogram. Threshold C
For s TH2, the point at which the portion represented by the dotted line starts to decrease is defined as the particle image detection level. If the number of particle images to be measured is sufficiently large, the above operation can be performed for each measurement sample to determine the threshold value Cs TH2 .

【0118】この点線で描かれた区間より下に閾値Cs
TH2を設定すると、領域4のヒストグラムの形がおかし
くなり、領域4の粒子濃度の値が正確でなくなる恐れが
あるので注意しなければならない。
The threshold Cs is set below the section drawn by the dotted line.
It should be noted that if TH2 is set, the histogram shape of the region 4 may be incorrect, and the particle concentration value of the region 4 may not be accurate.

【0119】粒子成分Bは、それぞれ第1の測定モード
または第2の測定モードだけで粒子濃度を求めることが
出来る。この事実を使って、統計的な誤差より粒子濃度
に違いがあるかどうかをチェックすることが可能であ
る。同じことは、粒子成分Cについても領域2と領域4
の部分だけの粒子濃度を比較することでもチェックする
ことが出来る。
The particle concentration of the particle component B can be determined only in the first measurement mode or the second measurement mode. Using this fact, it is possible to check if there is a difference in particle concentration from statistical errors. The same applies to the region 2 and the region 4 for the particle component C.
It can also be checked by comparing the particle concentration of only the part.

【0120】また、この事実を使うことにより、正常で
ない方のデータを修正したり、正常な条件での測定モー
ドデータだけで粒子濃度を算出することが出来る。
By using this fact, the abnormal data can be corrected or the particle concentration can be calculated using only the measurement mode data under normal conditions.

【0121】なお、粒子濃度を算出する段階で、サンプ
ル取り扱い処理段階で生じたサンプルの薄まり現象や、
サンプル流れと撮像領域の不一致による粒子検出数と画
像数の対応が十分でない現象が発生する場合がある。こ
れらのデータ補正方法については、特開平11−947
27号公報に記載されている。
At the stage of calculating the particle concentration, the phenomenon of thinning of the sample caused in the sample handling processing stage,
There may be a case where the correspondence between the number of detected particles and the number of images is insufficient due to the mismatch between the sample flow and the imaging region. These data correction methods are described in JP-A-11-947.
27.

【0122】これまでの説明では、2つの測定モードの
測定条件、特に光学的な倍率は暗黙のうちに一定として
仮定してきたが、倍率が異なる場合には、倍率の違いを
補正して粒子サイズ情報を取り扱う必要が生じる。この
ため、本発明によるフロー式粒子画像解析方法は、倍率
の違いを補正する段階をえる備えることもできる。
In the above description, the measurement conditions in the two measurement modes, particularly the optical magnification, have been implicitly assumed to be constant. However, when the magnification is different, the difference in magnification is corrected and the particle size is corrected. Information needs to be handled. Therefore, the flow-type particle image analysis method according to the present invention may include a step of correcting a difference in magnification.

【0123】上述したように、複数の測定モードでの分
析結果を、粒子画像サイズ情報を使うことにより、粒子
サイズについて1つの連続したデータとみなすことが出
来る。その結果、粒子サイズが小さい方から大きい方ま
で広く分布する粒子成分に関して、複数の異なる測定条
件で処理された粒子画像分類結果から、単位体積当たり
の各粒子成分の粒子濃度を、正しく推定することが出来
るようになる。
As described above, the analysis results in a plurality of measurement modes can be regarded as one continuous data on the particle size by using the particle image size information. As a result, for particle components widely distributed from small to large particle sizes, it is necessary to correctly estimate the particle concentration of each particle component per unit volume from the particle image classification results processed under a plurality of different measurement conditions. Can be done.

【0124】次に、本発明の一実施形態を図1、図3及
び図5を参照して説明する。図1は、本発明の一実施形
態に係るフロー式粒子画像解析方法に用いられるフロー
式粒子画像解析装置の概略構成図であり、図3は、図1
の実施形態におけ中央制御/演算処理部の構成を示すブ
ロック図である。また、図5は、図1および図3に示し
た装置及び処理部の粒子数演算動作の処理流れを示すフ
ローチャートである。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1, 3 and 5. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a flow-type particle image analyzer used in a flow-type particle image analysis method according to an embodiment of the present invention, and FIG.
It is a block diagram which shows the structure of a central control / arithmetic processing part in embodiment of FIG. FIG. 5 is a flowchart showing a processing flow of a particle number calculation operation of the apparatus and the processing unit shown in FIGS. 1 and 3.

【0125】図1において、100はフローセル、10
1は画像撮像手段、102は粒子解析手段、103は粒
子検出手段、1はフラッシュランプ、1aはフラッシュ
ランプ駆動回路、2はフィールドレンズ、3は顕微鏡コ
ンデンサレンズ、5は顕微鏡対物レンズ、6は結像位
置、7は投影レンズである。
In FIG. 1, 100 is a flow cell, 10
1 is an image capturing means, 102 is a particle analyzing means, 103 is a particle detecting means, 1 is a flash lamp, 1a is a flash lamp driving circuit, 2 is a field lens, 3 is a microscope condenser lens, 5 is a microscope objective lens, and 6 is a connection lens. An image position 7 is a projection lens.

【0126】また、8はTVカメラ、11は視野絞り、
12は開口絞り、14はレーザ光束、15は半導体レー
ザ、16はコリメータレンズ、17はシリンドリカルレ
ンズ、18は反射鏡、19は微小反射鏡である。
Reference numeral 8 denotes a TV camera, 11 denotes a field stop,
Reference numeral 12 denotes an aperture stop, 14 denotes a laser beam, 15 denotes a semiconductor laser, 16 denotes a collimator lens, 17 denotes a cylindrical lens, 18 denotes a reflecting mirror, and 19 denotes a minute reflecting mirror.

【0127】また、20はビームスプリッタ、21は絞
り、22は光検出回路、23はフラッシュランプ点灯制
御回路、24はAD変換器、25は画像メモリ、26は
画像処理制御回路、27は特徴抽出回路、28は識別回
路、29は中央制御/演算処理部、40は粒子検出処理
部、50は表示部である。
Reference numeral 20 denotes a beam splitter, 21 denotes an aperture, 22 denotes a light detection circuit, 23 denotes a flash lamp lighting control circuit, 24 denotes an AD converter, 25 denotes an image memory, 26 denotes an image processing control circuit, and 27 denotes feature extraction. A circuit, 28 is an identification circuit, 29 is a central control / arithmetic processing unit, 40 is a particle detection processing unit, and 50 is a display unit.

【0128】図1において、本発明の一実施形態に係る
フロー式粒子画像解析方法に用いられるフロー式粒子画
像解析装置は、粒子を懸濁させたサンプル液が供給され
るフローセル100と、このフローセル100中のサン
プル液を撮像する画像撮像手段101と、粒子検出する
粒子検出手段103と、撮像された画像から粒子を解析
する粒子画像解析手段102とを備えている。
Referring to FIG. 1, a flow type particle image analysis apparatus used in a flow type particle image analysis method according to an embodiment of the present invention includes a flow cell 100 to which a sample liquid in which particles are suspended is supplied, The apparatus includes an image capturing unit 101 that captures an image of the sample liquid in the sample 100, a particle detecting unit 103 that detects particles, and a particle image analyzing unit 102 that analyzes particles from a captured image.

【0129】フローセル100は、サンプル液110と
共にシース液111が供給され、サンプル液110がシ
ース液111に包まれる流れを形成する。
The flow cell 100 is supplied with the sheath liquid 111 together with the sample liquid 110, and forms a flow in which the sample liquid 110 is wrapped in the sheath liquid 111.

【0130】そして、サンプル液流れ110は、画像撮
像手段101の顕微鏡光軸9に対して垂直方向に偏平な
断面形状を有する安定した定常流、いわゆるシースフロ
ーとなり、フローセル100の中心を紙面の上方から下
方へ向かって流下する。
The sample liquid flow 110 is a stable steady flow having a flat cross section perpendicular to the optical axis 9 of the microscope of the image pickup means 101, that is, a so-called sheath flow. The center of the flow cell 100 is positioned above the plane of the paper. It flows down from below.

【0131】このサンプル液流れ110の流速は、中央
制御/演算処理部29により制御される。
The flow rate of the sample liquid flow 110 is controlled by the central control / arithmetic processing unit 29.

【0132】画像撮像手段101は、顕微鏡としての機
能を有し、パルス光源であるフラッシュランプ1と、フ
ラッシュランプ1を発光させるフラッシュランプ駆動回
路1aと、フラッシュランプ1からのパルス光束を平行
にするフィールドレンズ2と、フィールドレンズ2から
の平行なパルス光束10をフローセル100内のサンプ
ル液流れ110に集束させる顕微鏡コンデンサレンズ3
と、フローセル100内のサンプル液流れ110に照射
されたパルス光束を集光し結像位置6に結像させる顕微
鏡対物レンズ5と、投影レンズ7を介して投影した結像
位置6の粒子像を、いわゆるインターレース方式により
取り込み電気信号である画像データ信号に変換するTV
カメラ8と、パルス光束10の幅を制限する視野絞り1
1および開口絞り12とを備える。なお、上記TVカメ
ラ8としては、残像の少ないCCDカメラ等が一般に用
いられる。
The image pickup means 101 has a function as a microscope, and a flash lamp 1 as a pulse light source, a flash lamp driving circuit 1a for emitting the flash lamp 1, and a pulse light beam from the flash lamp 1 are made parallel. Field lens 2 and microscope condenser lens 3 for focusing parallel pulsed light beam 10 from field lens 2 to sample liquid flow 110 in flow cell 100
And a microscope objective lens 5 for condensing a pulse light beam applied to the sample liquid flow 110 in the flow cell 100 to form an image at the image forming position 6, and a particle image at the image forming position 6 projected through the projection lens 7. , A TV that converts an image signal into an image data signal, which is an electric signal captured by an interlace method
Camera 8 and field stop 1 for limiting the width of pulsed light beam 10
1 and an aperture stop 12. Note that, as the TV camera 8, a CCD camera or the like having little afterimage is generally used.

【0133】また、粒子検出手段103は、検出光とし
てのレーザ光を発する検出光源である半導体レーザ15
と、半導体レーザ15からのレーザ光を平行なレーザ光
束14にするコリメータレンズ16と、コリメータレン
ズ16からのレーザ光束14の一方向のみを集束させる
シリンドリカルレンズ17と、シリンドリカルレンズ1
7からのレーザ光束14を反射させる反射鏡18と、顕
微鏡コンデンサレンズ3とフローセル100との間に位
置し、前記反射鏡18からのレーザ光束14をサンプル
液流れ110上の画像取り込み領域の上流側近傍に導く
微小反射鏡19とを備えている。
The particle detecting means 103 is a semiconductor laser 15 serving as a detection light source for emitting laser light as detection light.
A collimator lens 16 for converting the laser beam from the semiconductor laser 15 into a parallel laser beam 14, a cylindrical lens 17 for focusing only one direction of the laser beam 14 from the collimator lens 16, and a cylindrical lens 1.
7 is located between the microscope condenser lens 3 and the flow cell 100, and reflects the laser beam 14 from the mirror 18 upstream of the image capturing area on the sample liquid flow 110. And a minute reflecting mirror 19 for guiding to the vicinity.

【0134】さらに、粒子検出手段103は、粒子によ
るレーザ光束14の散乱光を集光する顕微鏡対物レンズ
5(この顕微鏡対物レンズ5は、画像撮像手段101の
結像用の顕微鏡対物レンズ5と共用される)と、顕微鏡
対物レンズ5で集光された散乱光を反射させるビームス
プリッタ20と、このビームスプリッタ20からの散乱
光を絞り21を介して受光し、その強度に基づく電気信
号を出力する光検出回路22と、この光検出回路22か
らの電気信号に基づいてフラッシュランプ駆動回路1a
を作動させるフラッシュランプ発光制御回路23とを備
えている。
Further, the particle detecting means 103 is provided with a microscope objective lens 5 for condensing the scattered light of the laser beam 14 by the particles (this microscope objective lens 5 is shared with the microscope objective lens 5 for image formation of the image pickup means 101). Is performed), a beam splitter 20 that reflects the scattered light condensed by the microscope objective lens 5, and receives the scattered light from the beam splitter 20 via a diaphragm 21 and outputs an electric signal based on the intensity thereof. A light detection circuit 22; and a flash lamp driving circuit 1a based on an electric signal from the light detection circuit 22.
And a flash lamp emission control circuit 23 for operating the flash lamp.

【0135】また、粒子解析手段102は、TVカメラ
8から転送された画像データ信号をデジタル信号に変換
するAD変換器24と、このAD変換器24からの信号
に基づくデータを所定のアドレスに記憶する画像メモリ
25と、この画像メモリ25におけるデータの書き込み
および読み出しの制御を行う画像処理制御回路26と、
画像メモリ25からの信号に基づき画像処理を行い粒子
数や分類を行う特徴抽出回路27と、識別回路28と、
中央制御/演算処理部29と、サンプル液110中の粒
子数を決定し粒子検出系を制御しかつ粒子画像の演算を
行う粒子検出系処理部40と、画像処理の結果である粒
子数や分類結果を表示する表示部50とを備えている。
The particle analyzing means 102 converts the image data signal transferred from the TV camera 8 into a digital signal, and stores the data based on the signal from the AD converter 24 at a predetermined address. An image processing control circuit 26 for controlling writing and reading of data in the image memory 25;
A feature extraction circuit 27 that performs image processing based on a signal from the image memory 25 to perform the particle count and classification, an identification circuit 28,
A central control / arithmetic processing unit 29; a particle detection system processing unit 40 that determines the number of particles in the sample liquid 110, controls the particle detection system, and calculates a particle image; A display unit 50 for displaying the result.

【0136】また、中央制御/演算処理部29は、TV
カメラ8の撮影条件やフローセル100のサンプル液の
流れ条件の設定、画像処理制御回路26の制御、識別回
路28からの画像処理結果の記憶、前記粒子検出処理部
40とのデータの授受、前記表示部50への表示等を行
うように構成されている。
The central control / arithmetic processing unit 29 is provided with a TV
Setting of photographing conditions of the camera 8 and flow conditions of the sample liquid in the flow cell 100, control of the image processing control circuit 26, storage of image processing results from the identification circuit 28, transmission and reception of data with the particle detection processing unit 40, and display The display unit 50 is configured to perform display and the like.

【0137】次に、図3を用いて、中央制御/演算処理
部29および粒子検出処理部40の構成について説明す
る。図3において、図1と同一符号は同等部分であるの
で、詳細な説明を省略する。
Next, the configurations of the central control / arithmetic processing unit 29 and the particle detection processing unit 40 will be described with reference to FIG. 3, the same reference numerals as those in FIG. 1 denote the same parts, and a detailed description thereof will be omitted.

【0138】図3において、粒子検出処理部40は、粒
子計数部51と、粒子画像数計算部52と、粒子検出制
御部53とを備える。また、中央制御/演算処理部29
は、画像対応部54と、領域1粒子処理部55と、領域
2粒子処理部56と、領域3粒子処理部57と、領域4
粒子処理部58と、測定条件設定部59と、粒子濃度計
算60と、中央制御部61とを備える。
In FIG. 3, the particle detection processing section 40 includes a particle counting section 51, a particle image number calculation section 52, and a particle detection control section 53. The central control / arithmetic processing unit 29
Are the image correspondence unit 54, the region 1 particle processing unit 55, the region 2 particle processing unit 56, the region 3 particle processing unit 57, and the region 4
A particle processing unit 58, a measurement condition setting unit 59, a particle concentration calculation 60, and a central control unit 61 are provided.

【0139】次に、上記構成のフロー式粒子画像解析方
法とそれに用いられるフロー式粒子画像解析装置の動作
を説明する。
Next, the operation of the flow type particle image analysis method having the above configuration and the flow type particle image analysis apparatus used for the method will be described.

【0140】まず、画像撮像手段101と、粒子検出手
段103との動作を説明する。半導体レーザ15は、常
時連続的に発振しており、常に、サンプル110中の粒
子が検出領域を通過するのを観測している。
First, the operations of the image pickup means 101 and the particle detection means 103 will be described. The semiconductor laser 15 constantly oscillates continuously, and always observes that particles in the sample 110 pass through the detection region.

【0141】また、半導体レーザ15からのレーザ光束
14は、コリメータレンズ16において平行なレーザ光
束に変換され、シリンドリカルレンズ17において光束
14の一方向のみ集束される。
The laser beam 14 from the semiconductor laser 15 is converted into a parallel laser beam by the collimator lens 16, and the laser beam 14 is focused by the cylindrical lens 17 in only one direction.

【0142】レーザ光束14は、反射鏡18及び微小反
射鏡19で反射され、フローセル100内のサンプル液
流れ110上に照射される。この照射位置は、シリンド
リカルレンズ17によってレーザ光束14が集束する粒
子検出位置であり、サンプル液流れ110上の画像取り
込み領域の上流側近傍の位置である。
The laser beam 14 is reflected by the reflecting mirror 18 and the micro-reflecting mirror 19 and is irradiated onto the sample liquid flow 110 in the flow cell 100. This irradiation position is a particle detection position where the laser beam 14 is focused by the cylindrical lens 17, and is a position near the upstream side of the image capturing area on the sample liquid flow 110.

【0143】解析対象である粒子がレーザ光束14を横
切ると、このレーザ光束14は、粒子により散乱され
る。このレーザ光束14の散乱光は、ビームスプリッタ
20で反射され、光検出回路22において受光され、そ
の強度に基づく電気信号に変換される。
When a particle to be analyzed crosses the laser beam 14, the laser beam 14 is scattered by the particle. The scattered light of the laser beam 14 is reflected by the beam splitter 20, received by the photodetector circuit 22, and converted into an electric signal based on the intensity.

【0144】さらに、光検出回路22からの出力信号
は、粒子検出処理部40に送られ、この送られた信号の
うちの所定のレベル及び所定のパルス幅以上のものを、
検出粒子とみなし、その結果をフラッシュランプ点灯制
御回路23に伝える。
Further, an output signal from the light detection circuit 22 is sent to a particle detection processing section 40, and a signal having a predetermined level and a predetermined pulse width or more of the sent signal is sent to the particle detection processing section 40.
It is regarded as a detected particle, and the result is transmitted to the flash lamp lighting control circuit 23.

【0145】このように、粒子検出がなされると、画像
処理対象粒子が通過したものとして、フラッシュ発光信
号がフラッシュランプ点灯制御回路23からフラッシュ
ランプ駆動回路1aに伝送される。なお、上記所定の遅
延時間は、粒子検出位置と画像取り込み領域との距離及
びサンプル液110の流速等により決定される。
As described above, when the particles are detected, the flash light emission signal is transmitted from the flash lamp lighting control circuit 23 to the flash lamp drive circuit 1a, assuming that the particles to be processed have passed. The predetermined delay time is determined by the distance between the particle detection position and the image capturing area, the flow rate of the sample liquid 110, and the like.

【0146】フラッシュ発光信号がフラッシュランプ駆
動回路1aに伝送されると、このフラッシュランプ駆動
回路1aはフラッシュランプ1を発光させる。フラッシ
ュランプ1より発せられたパルス光は顕微鏡光軸9上を
進み、フィールドレンズ2により平行光となり、顕微鏡
コンデンサレンズ3により集束されてフローセル100
内のサンプル液流れ110上に照射される。
When a flash emission signal is transmitted to the flash lamp drive circuit 1a, the flash lamp drive circuit 1a causes the flash lamp 1 to emit light. The pulse light emitted from the flash lamp 1 travels on the microscope optical axis 9, becomes parallel light by the field lens 2, is focused by the microscope condenser lens 3, and is focused on the flow cell 100.
The sample liquid stream 110 is irradiated on the inside.

【0147】なお、視野絞り11および開口絞り12に
よりパルス光束10の幅が制限される。フローセル10
0内のサンプル液流れ110に照射されたパルス光束1
0は、顕微鏡対物レンズ5で集光され、ビームスプリッ
タ20を通過して、結像位置6に像を結像する。この結
像位置6の像は、投影レンズ7によりTVカメラ8の撮
像面上に投影され、インターレース方式により画像デー
タ信号に変換される。
The width of the pulse light beam 10 is limited by the field stop 11 and the aperture stop 12. Flow cell 10
Pulse light flux 1 applied to sample liquid flow 110 in 0
Numeral 0 is condensed by the microscope objective lens 5, passes through the beam splitter 20, and forms an image at an image forming position 6. The image at the image forming position 6 is projected on the imaging surface of the TV camera 8 by the projection lens 7, and is converted into an image data signal by an interlace method.

【0148】このようにして、サンプル液110内の粒
子の静止粒子画像が撮像されたことになる。
Thus, a static particle image of the particles in the sample liquid 110 has been captured.

【0149】上記TVカメラ8における撮像条件は、中
央制御部29に予め設定されており、この撮像条件によ
って前記TVカメラ8の撮像動作が制御される。
The imaging conditions of the TV camera 8 are preset in the central control unit 29, and the imaging operation of the TV camera 8 is controlled by the imaging conditions.

【0150】次に、粒子解析手段102について説明す
る。TVカメラ8により撮像され、インターレース方式
により変換される画像データ信号は、AD変換器24で
デジタル信号に変換され、これに基づくデータが、画像
メモリ25に出力される。そして、画像メモリ25が画
像処理制御回路26により制御され、上記データは、画
像メモリ25の所定のアドレスに記憶される。
Next, the particle analyzing means 102 will be described. An image data signal imaged by the TV camera 8 and converted by the interlace method is converted into a digital signal by the AD converter 24, and data based on this is output to the image memory 25. Then, the image memory 25 is controlled by the image processing control circuit 26, and the data is stored at a predetermined address of the image memory 25.

【0151】画像メモリ25に記憶されたデータは、画
像処理制御回路26の制御により読み出され、特徴抽出
回路27を介して識別回路28に入力されて画像処理が
行われ、中央制御/演算処理部29にその結果が記憶さ
れる。中央制御/演算処理部29に記憶される内容は、
粒子分類に用いられた粒子識別特徴パラメータと粒子分
類結果データとである。
The data stored in the image memory 25 is read out under the control of the image processing control circuit 26, input to the identification circuit 28 via the feature extraction circuit 27, and is subjected to image processing. The result is stored in the unit 29. The contents stored in the central control / arithmetic processing unit 29 include:
9 shows particle identification feature parameters and particle classification result data used for particle classification.

【0152】粒子の分類識別処理は、通常行われている
パターン認識処理により自動的に行われる。この画像処
理結果と測定条件および画像処理された画像数情報が、
画像処理制御回路26から粒子検出処理部40に送られ
る。
The classification and identification processing of particles is automatically performed by the usual pattern recognition processing. The image processing result, the measurement conditions, and the information on the number of images subjected to the image processing are
It is sent from the image processing control circuit 26 to the particle detection processing section 40.

【0153】中央制御/演算処理部29及び粒子検出処
理部40の動作の詳細は図3を用いて次に述べる。
The details of the operations of the central control / arithmetic processing unit 29 and the particle detection processing unit 40 will be described below with reference to FIG.

【0154】図3において、光検出器22で所定の信号
レベル以上の粒子検出信号を検出する。この粒子検出レ
ベルは粒子検出制御部53で設定されており、この設定
値を超えた電気信号を検出したときのものを検出粒子信
号とする。複数の測定モードを有するので、各測定モー
ド毎に検出レベルは異なり、中央制御部61を介して測
定条件設定部59の指示で検出レベルが指定される。
In FIG. 3, a photodetector 22 detects a particle detection signal having a signal level higher than a predetermined signal level. The particle detection level is set by the particle detection control unit 53, and a signal detected when an electric signal exceeding the set value is detected is set as a detected particle signal. Since there are a plurality of measurement modes, the detection level differs for each measurement mode, and the detection level is designated by the instruction of the measurement condition setting unit 59 via the central control unit 61.

【0155】フローセル100中の粒子検出領域を粒子
が通過すると、その粒子画像を撮像できるかどうか、す
なわち、1つ前に撮像した画像をTVカメラ8で取り込
み中であるか、画像処理中であるか否かを粒子検出制御
部53にて判断する。
When the particles pass through the particle detection area in the flow cell 100, whether the particle image can be captured, that is, the image captured immediately before is being captured by the TV camera 8, or the image processing is being performed. The determination is performed by the particle detection control unit 53.

【0156】そして、画像処理中でなければフラッシュ
ランプ点灯制御部23およびフラッシュランプ駆動回路
1aを介してフラッシュランプ1を点灯させる。この場
合、粒子検出位置と粒子画像撮像位置とは一般に場所が
異なるため、この2点間の距離とサンプル流速から計算
されるランプ点灯までの時間遅れを、測定条件設定部5
9で設定している。
If image processing is not being performed, the flash lamp 1 is turned on via the flash lamp lighting control unit 23 and the flash lamp driving circuit 1a. In this case, since the position of the particle detection position and the position of the particle image imaging are generally different, the time delay until the lamp is turned on calculated from the distance between the two points and the sample flow rate is determined by the measurement condition setting unit 5.
9 is set.

【0157】粒子検出信号は、粒子計数部51に供給さ
れ、供給された粒子検出信号に基づいて、粒子計数部5
1で検出粒子数を数え上げる。測定終了時には、各測定
モードごとの全検出粒子数を数え上げることとなる。こ
の検出粒子数と測定条件であるサンプル流量、流速およ
び測定時間を基にして、撮像されたであろう平均粒子画
像数を計算する。
[0157] The particle detection signal is supplied to the particle counting section 51, and based on the supplied particle detection signal, the particle counting section 5 receives the signal.
In step 1, the number of detected particles is counted. At the end of the measurement, the total number of detected particles in each measurement mode is counted. Based on the number of detected particles and the measurement conditions such as the sample flow rate, the flow velocity, and the measurement time, the average number of particle images that would have been captured is calculated.

【0158】粒子画像数の計算において、フレーム画像
数を検出粒子数から推定・計算する場合と、フラッシュ
ランプ1の点灯回数を使う場合との2つの方法がある
が、フラッシュランプ1の点灯回数を使う方が実際の測
定条件に近い粒子画像数を推定することが出来る。
In calculating the number of particle images, there are two methods of estimating and calculating the number of frame images from the number of detected particles and the method of using the number of lighting of the flash lamp 1. The use can estimate the number of particle images closer to the actual measurement conditions.

【0159】フラッシュランプ1の点灯回数は、粒子検
出制御部53でランプ点灯回数を計数することで知るこ
とが出来る。また、フラッシュランプ1の点灯回数は画
像処理制御回路26で画像処理されたフレーム数を計数
することでも知ることが出来る。
The number of times the flash lamp 1 is turned on can be known by counting the number of times the lamp is turned on by the particle detection control unit 53. The number of times the flash lamp 1 is turned on can also be known by counting the number of frames subjected to image processing by the image processing control circuit 26.

【0160】実際に画像処理された粒子画像数は、上述
のようにして求めた数よりも多いのが普通である。それ
は、画像中には粒子検出されていないが、サイズの小さ
な粒子が多数存在するからである。
Usually, the number of particle images actually processed is larger than the number obtained as described above. This is because no particles are detected in the image, but many small-sized particles are present.

【0161】そのため、画像対応部54で検出された粒
子画像とそうでない画像との選別を行う。ここの粒子画
像は図1に示した特徴抽出回路27および識別回路28
でパターン認識され粒子分類が行われる。特徴抽出回路
27、識別回路28により、各々の粒子画像のサイズパ
ラメータ情報を知ることが出来、このサイズパラメータ
情報を使って次のように粒子検出された画像との対応関
係をとる。粒子のサイズ情報と粒子検出信号の大きさが
対応すると考えるからである。
For this reason, a distinction is made between the particle image detected by the image correspondence unit 54 and the image that is not. The particle image here is obtained by the feature extraction circuit 27 and the identification circuit 28 shown in FIG.
And the particle classification is performed. By the feature extraction circuit 27 and the identification circuit 28, the size parameter information of each particle image can be known. Using this size parameter information, the correspondence with the particle detected image is obtained as follows. This is because it is considered that the size information of the particles corresponds to the size of the particle detection signal.

【0162】そこで、処理した全粒子画像についてサイ
ズパラメータを大きい方から並べ替え処理を実施し、大
きい方から先に計算した粒子画像数計算部52で得られ
た粒子画像数だけ粒子画像から取り出せば検出粒子との
対応が取れることになる。
Therefore, the reordering process is performed for all the processed particle images in descending order of the size parameter, and only the number of the particle images obtained by the particle image number calculation unit 52 calculated earlier from the larger one is extracted from the particle images. Correspondence with detection particles can be taken.

【0163】ここで述べた検出粒子と粒子画像との対応
関係の詳細は特開平9−72842号公報に詳述されて
いる。
The details of the correspondence between the detected particles and the particle images described above are described in detail in JP-A-9-72842.

【0164】上述した検出粒子と粒子画像との対応方法
は、1サンプル全体を一まとめに処理する方法について
述べたが、1フレーム画像単位に検出粒子と粒子画像と
を対応させる方法は特開平7−83817号公報に記載
されている。粒子検出系を有するフロー方式の粒子画像
処理では、このような検出粒子と粒子画像との対応関係
を取る操作が必要である。
In the above-mentioned method of associating the detected particles with the particle images, the method of processing one sample as a whole has been described. No. 83817. In flow-type particle image processing having a particle detection system, an operation for obtaining the correspondence between such detected particles and particle images is required.

【0165】対応が取れた粒子画像から、各測定モード
毎に領域1粒子処理部55、領域2粒子処理部56、ま
たは領域3粒子処理部57、領域4粒子処理部58で各
領域に存在する粒子数を粒子種類毎に数え上げる。粒子
数の推定には、各測定モード毎の検出粒子数、全画像数
および画像処理された各粒子成分の画像数を使って、上
記式(1−1)〜(1−4)または(2−1)、(2−
2)にり計算する。通常は、領域3の粒子は存在しない
ので、始めから0として処理を行わないようにしても良
い。
From the corresponding particle images, the region 1 particle processing unit 55, region 2 particle processing unit 56, or region 3 particle processing unit 57 and region 4 particle processing unit 58 exist in each region for each measurement mode. Count the number of particles for each particle type. The estimation of the number of particles is performed by using the expressions (1-1) to (1-4) or (2) using the number of detected particles in each measurement mode, the total number of images, and the number of images of each particle component subjected to image processing. -1), (2-
2) Calculate the amount. Normally, since the particles in the region 3 do not exist, the process may be set to 0 from the beginning and not performed.

【0166】以上の処理の流れを図5に従って説明す
る。なお、各測定モードでの処理手順は同じであるか
ら、第1の測定モードだけについて説明する。
The flow of the above processing will be described with reference to FIG. Since the processing procedure in each measurement mode is the same, only the first measurement mode will be described.

【0167】第1段階:第1の測定モードでの測定条件
を設定する。測定条件としては、測定時間、サンプル流
れ条件、粒子検出レベルの値が設定される。第1の測定
モードでは、測定対象粒子成分を全て対象としているの
で、粒子検出レベルは十分下げ、小さな粒子も検出され
るようにする。
First step: The measurement conditions in the first measurement mode are set. As the measurement conditions, a measurement time, a sample flow condition, and a value of a particle detection level are set. In the first measurement mode, since all the measurement target particle components are targeted, the particle detection level is sufficiently reduced so that even small particles are detected.

【0168】第2段階:第1の測定モードの終了状態に
達したか否かを判断する段階であり、終了段階に達して
いなければ次ぎの第3段階に進み、終了段階に達してい
るならば第6段階に進む。
Second stage: A stage for determining whether or not the end state of the first measurement mode has been reached. If the end stage has not been reached, the process proceeds to the next third stage, and if the end stage has been reached. If so, proceed to the sixth stage.

【0169】第3段階:粒子検出処理を続け、粒子が検
出されると、一定時間経過後に検出粒子が粒子撮像位置
に達したところで、フラッシュランプ1を点灯させる。
ランプ1が点灯するとTVカメラ8にて粒子画像を撮影
し、パターン認識に必要な粒子画像処理を行う。通常
は、画像の輝度むらの補正、粒子画像を切り出すための
切り出しレベルを決定し、さらに粒子画像の切り出しま
でを行う。
Third stage: The particle detection process is continued, and when the particles are detected, the flash lamp 1 is turned on when the detected particles reach the particle imaging position after a certain period of time.
When the lamp 1 is turned on, a particle image is taken by the TV camera 8 and particle image processing required for pattern recognition is performed. Normally, correction of uneven brightness of an image, a cutout level for cutting out a particle image are determined, and further processing until cutting out of a particle image is performed.

【0170】第4段階:切り出された粒子画像からパタ
ーン認識に必要な特徴パラメータの抽出と、その特徴パ
ラメータを使って粒子画像の自動分類を行う。
Fourth stage: Extraction of characteristic parameters necessary for pattern recognition from the cut-out particle image, and automatic classification of particle images using the characteristic parameters.

【0171】第5段階:第4段階で得られた粒子画像の
特徴パラメータのうち、粒子サイズに関する特徴パラメ
ータのデータをメモリ領域に順次格納する。1フレーム
画像について上述の処理が終了すると、第2段階に戻
る。
Fifth step: Among the characteristic parameters of the particle image obtained in the fourth step, data of characteristic parameters relating to the particle size are sequentially stored in the memory area. When the above processing is completed for one frame image, the process returns to the second stage.

【0172】第6段階:測定終了時点の粒子検出系で検
出した全粒子数を取り出す(検出粒子数のチェック)。
Sixth step: The total number of particles detected by the particle detection system at the end of the measurement is taken out (check of the number of detected particles).

【0173】第7段階:フラッシュランプ1の点灯回数
または粒子画像を撮像した全フレーム画像数を取り出
す。
Seventh step: The number of times the flash lamp 1 has been turned on or the number of all frame images obtained by capturing the particle image is extracted.

【0174】第8段階:第6段階及び第7段階で求めた
データを基に、測定モード全体で処理したであろう全粒
子画像数を計算する。
Eighth step: Based on the data obtained in the sixth and seventh steps, the total number of particle images that would have been processed in the entire measurement mode is calculated.

【0175】第9段階:検出粒子と粒子画像との対応を
行う。第5段階で粒子画像をするたびに格納された粒子
サイズに関するパラメータデータのリストに関し、値の
大きい(サイズの大きい)順に並べ替えを行う。並べ替
えを行ったパラメータリストの、サイズの大きい方か
ら、第8段階で算出した粒子画像数分だけを取り出す。
取り出された粒子画像は粒子検出系で検出粒子に対応す
る。
Ninth step: Correspondence between detected particles and particle images is performed. Every time a particle image is formed in the fifth stage, the list of parameter data relating to the particle size stored therein is rearranged in descending order of value (larger in size). From the rearranged parameter list, only the number of particle images calculated in the eighth step are extracted from the larger size.
The extracted particle image corresponds to a detected particle in a particle detection system.

【0176】第10段階:第9段階で取り出された粒子
画像のうち、粒子画像サイズがCs TH2より小さい粒子
画像を領域1の粒子とし、次ぎの各粒子成分の粒子個数
を算定する。次に、第8段階で求めた全粒子画像数、今
求めた各粒子成分の粒子画像数および第6段階で得た検
出全粒子数から上記式(1−1)及び(1−3)を使っ
て、第1の測定モードで、かつ領域1に属する粒子数を
各粒子成分で毎に算定する。
Step 10: Particles taken out in step 9
Of the images, the particle image size is Cs TH2Smaller particles
Let the image be the particles in region 1, and the number of particles in each of the following particle components
Is calculated. Next, the total number of particle images obtained in the eighth stage,
The obtained number of particle images of each particle component and the inspection obtained in the sixth step
Using the above formulas (1-1) and (1-3) from the total number of emitted particles
In the first measurement mode, the number of particles belonging to the area 1 is calculated.
It is calculated for each particle component.

【0177】第11段階:第10段階と同じ処理を、領
域2について行い、第1の測定モードで、かつ領域2属
する粒子数を上記式(1−2)及び(1−4)を使って
各粒子成分で毎に算定する。これで第1の測定モードで
の処理が終了する。
Eleventh stage: The same process as in the tenth stage is performed for region 2, and in the first measurement mode, the number of particles belonging to region 2 is calculated using the above equations (1-2) and (1-4). It is calculated for each particle component. This completes the processing in the first measurement mode.

【0178】上述した第1の測定モードでの処理と同様
の処理を第2の測定モードについても実施する。この
際、粒子検出レベルはCsTH2になっていること、領域
3には粒子が本来は存在しないこと、領域4の各粒子の
粒子数算定には、上記式(2−1)及び(2−2)を使
用することに注意する。
The same processing as the above-described processing in the first measurement mode is also performed in the second measurement mode. At this time, the particle detection level is set to Cs TH2 , no particles originally exist in the region 3, and the number of particles of each particle in the region 4 is calculated by the above equations (2-1) and (2- Note that 2) is used.

【0179】上述した各測定モードでの各領域の粒子成
分の粒子数を算定したら、最終的に測定サンプルについ
ての粒子濃度の計算処理を粒子濃度計算部60で実施す
る。実際の計算手順は、上述した各測定モードの各領域
毎に求めた粒子数を上記式(3−1)、(3−2)及び
(3−3)に代入して得る。
After calculating the number of particles of the particle components in each region in each of the above-described measurement modes, the particle concentration calculation section 60 finally performs a particle concentration calculation process on the measurement sample. The actual calculation procedure is obtained by substituting the number of particles obtained for each region in each measurement mode described above into the above equations (3-1), (3-2), and (3-3).

【0180】以上の説明では、測定サンプル中には粒子
種類としてA、B及びCの3種類しか存在しない場合に
ついて記述してきた。粒子種類が3種類以外のサンプル
を対象とする場合、例えばA粒子とC粒子の2種類しか
存在しない場合から4種類以上存在するような粒子種類
が多い場合でも、パターン認識による粒子分類が出来る
ならば、上述した本発明の一実施形態を適用することは
可能であり、問題はない。
In the above description, the case where only three types of particles A, B and C exist in the measurement sample has been described. If the target is a sample other than three types of particles, for example, if there are many types of particles such as only two types of A particles and C particles or more than four types, if particle classification by pattern recognition can be performed, For example, it is possible to apply the above-described embodiment of the present invention, and there is no problem.

【0181】さらに、粒子測定モードの数を2つとして
考えてきたが、測定モードの数を増やしても同じ考え方
を使うことが出来る。しかし、測定モードの数を増やす
ことは、処理自体が複雑になり、処理時間も増大するこ
とを考慮する必要がある。
Furthermore, although the number of particle measurement modes has been considered as two, the same concept can be used even if the number of measurement modes is increased. However, it is necessary to consider that increasing the number of measurement modes complicates the processing itself and increases the processing time.

【0182】予め設定されているサイズに関する粒子画
像パラメータとして、第2の測定モードの粒子検出領域
に相当する粒子画像サイズ情報の閾値CsTH2を使っ
て、第1の測定モードを複数領域に分けることが、本発
明の一実施形態における特徴である。
Using the threshold Cs TH2 of the particle image size information corresponding to the particle detection region of the second measurement mode as the particle image parameter relating to the preset size, the first measurement mode is divided into a plurality of regions. Is a feature of the embodiment of the present invention.

【0183】あくまでも、粒子画像サイズ情報におけ
る、第1の測定モードおよび第2の測定モードの領域分
けを、画像パラメータのサイズ情報を基にして行うこと
が特徴である。
The feature is that the division of the first measurement mode and the second measurement mode in the particle image size information is performed based on the size information of the image parameters.

【0184】その理由は、粒子画像サイズ情報の閾値C
TH2に相当する粒子検出レベルで第1の測定モードの
領域を2つに分割することは出来るが、上述したよう
に、粒子検出信号と粒子画像サイズ情報とが必ずしも一
致するようなことが起こらないため、全ての処理を画像
サイズ情報で統一して扱う方が問題が無いからである。
The reason is that the threshold value C of the particle image size information
Although the area of the first measurement mode can be divided into two at the particle detection level corresponding to s TH2 , it may happen that the particle detection signal and the particle image size information do not always match as described above. This is because there is no problem if all processes are handled in a unified manner using image size information.

【0185】また、粒子の検出条件は、測定対象である
粒子の光学的性質やレーザ照射条件、検出系の周波数特
性、回路雑音等の影響を受けるため、光散乱検出電気信
号が常に同一比較対象となり得ないからである。
Since the particle detection conditions are affected by the optical properties of the particles to be measured, the laser irradiation conditions, the frequency characteristics of the detection system, circuit noise, etc., the light scattering detection electric signals are always the same. Because it cannot be.

【0186】一方、粒子画像のサイズパラメータは画像
の焦点調節が正しく動作している限り、比較的安定した
比較対象パラメータである。
On the other hand, the size parameter of the particle image is a comparatively stable comparison target parameter as long as the focus adjustment of the image operates correctly.

【0187】粒子画像サイズ情報の閾値CsTH2の決定
は次のように行う。一つは、第2の測定モード条件で、
予め大量のサンプルを測定し、図6に示すような粒子画
像のサイズ情報についてのヒストグラムを求める。実際
に得られるヒストグラムは粒子検出領域付近で点線で表
したようになるはずである。
The threshold value Cs TH2 of the particle image size information is determined as follows. One is a second measurement mode condition,
A large number of samples are measured in advance, and a histogram for the size information of the particle image as shown in FIG. 6 is obtained. The actually obtained histogram should be as indicated by the dotted line near the particle detection area.

【0188】サイズの小さな粒子の方は、粒子検出され
ず、本来のサイズヒストグラムとは異なる分布になる。
図6において、閾値CsTH2は点線で表した部分の減少
し始める点とし、この点を粒子画像検出レベルとする。
測定される粒子画像数が十分多い条件ならば、測定サン
プルごとに上述の操作を行って、閾値CsTH2を定める
ことも可能である。この点線で描かれた区間で上述した
閾値より下に閾値を設定すると、領域4の粒子濃度の値
が正確でなくなる恐れがあるので注意しなければならな
い。
The smaller size particles are not detected and have a distribution different from the original size histogram.
In FIG. 6, the threshold Cs TH2 is a point where the portion indicated by the dotted line starts to decrease, and this point is set as the particle image detection level.
If the number of particle images to be measured is sufficiently large, the above operation can be performed for each measurement sample to determine the threshold value Cs TH2 . It should be noted that if a threshold value is set below the above-described threshold value in the section drawn by the dotted line, the value of the particle concentration in the area 4 may not be accurate.

【0189】粒子成分Bは、それぞれ、第1の測定モー
ド又は第2の測定モードだけで粒子濃度を求めることが
出来る。この事実を使って、統計的な誤差より粒子濃度
に違いがあるかどうかをチェックすることが可能であ
る。同じことは、粒子成分Cについても領域2と領域4
の部分だけの粒子濃度を比較することでもチェックする
ことが出来る。
The particle concentration of the particle component B can be determined only in the first measurement mode or the second measurement mode. Using this fact, it is possible to check if there is a difference in particle concentration from statistical errors. The same applies to the region 2 and the region 4 for the particle component C.
It can also be checked by comparing the particle concentration of only the part.

【0190】また、この事実を使うことにより、正常で
ない方のデータを修正したり、正常な条件での測定モー
ドデータだけで粒子濃度を算出することが出来る。
By using this fact, the abnormal data can be corrected, and the particle concentration can be calculated using only the measurement mode data under normal conditions.

【0191】サンプルがフローセルを流れる前の段階で
サンプル取り扱いで生じたサンプルの薄まり現象や、サ
ンプル流れと撮像領域との不一致による粒子検出数と画
像数の対応が十分でない現象が発生する場合がある。こ
れらのデータ補正方法については、特開平11−947
27号公報に記載されているため、その記載に基づい
て、データ補正することが可能である。
A sample thinning phenomenon caused by sample handling before the sample flows through the flow cell, or a phenomenon in which the number of detected particles and the number of images are not sufficiently corresponded due to a mismatch between the sample flow and the imaging area may occur. . These data correction methods are described in JP-A-11-947.
Since it is described in Japanese Patent Publication No. 27, data can be corrected based on the description.

【0192】なお、粒子濃度を算出する段階で、これら
のデータ補正を行うことも可能である。
Note that these data can be corrected at the stage of calculating the particle concentration.

【0193】上述した例においては、2つの測定モード
の測定条件、特に光学的な倍率は暗黙のうちに同一とし
てきたが、光学的な倍率が2つの測定モードで互いに異
なる場合には、倍率の違いを補正して粒子サイズ情報を
取り扱う必要が生じる。このため、倍率の違いを補正す
る段階を有するように構成することも可能である。
In the above-described example, the measurement conditions in the two measurement modes, particularly the optical magnifications, have been implicitly assumed to be the same. However, if the optical magnifications are different in the two measurement modes, the magnifications may be different. It is necessary to correct the difference and handle the particle size information. For this reason, it is also possible to configure so as to include a step of correcting a difference in magnification.

【0194】本発明の一実施形態によるフロー式粒子画
像解析方法およびフロー式粒子画像解析装置は、液体中
に懸濁した生物サンプルや細胞、血液中の赤血球や白血
球などの血球成分、または尿中に存在する尿沈渣成分の
分類および分析に有効である。
The flow-type particle image analysis method and the flow-type particle image analysis apparatus according to one embodiment of the present invention can be used for biological samples and cells suspended in a liquid, blood cell components such as red blood cells and white blood cells in blood, or urine. It is effective for the classification and analysis of urinary sediment components present in the soil.

【0195】特に、尿中の尿沈渣成分の粒子数の計数や
粒子の分類においては、サンプルごとに存在する粒子数
は数桁以上違う場合が有るため、粒子検出手段による検
出した粒子に対し画像処理することは、サンプル液中の
粒子数情報を知る上で効果的である。
In particular, in counting and classifying particles of urine sediment components in urine, the number of particles present in each sample may differ by more than several orders of magnitude. The treatment is effective in obtaining information on the number of particles in the sample liquid.

【0196】尿沈渣成分では粒子の種類と大きさが非常
にバラエティに富み、粒子検出系の検出粒子と静止粒子
画像中の粒子との対応を正確に取ることが出来ないが、
本発明の実施形態により、正確な粒子計数、粒子分類、
粒子濃度を解析できる。
In the urine sediment component, the types and sizes of the particles are extremely varied, and it is not possible to accurately correspond the detection particles of the particle detection system to the particles in the still particle image.
According to embodiments of the present invention, accurate particle counting, particle classification,
Particle concentration can be analyzed.

【0197】以上のように、第1の測定モードは主に粒
子サイズが小さく数の多い粒子成分Aを分析処理し、第
2の測定モードでは数が少ないサイズの大きい粒子成分
Bを分析処理するように設定されている。
As described above, in the first measurement mode, the particle component A having a small particle size and a large number is mainly analyzed, and in the second measurement mode, the particle component B having a small number and a large size is analyzed. It is set as follows.

【0198】このため、粒子サイズが広く分布する粒子
成分Cは正確な粒子濃度が測定困難であった。
For this reason, it was difficult to accurately measure the particle concentration of the particle component C in which the particle size was widely distributed.

【0199】そこで、本発明の一実施形態によれば、第
1の測定モードを検出レベルCsTH 2で領域1と2に分
割し、第2の測定モードを検出レベルCsTH2で領域3
と4に分割する。これら領域1〜4で検出した粒子情報
を使用し、粒子サイズについて、小のものから大のもの
までを1つの連続したデータとして処理することによ
り、粒子成分Cも正確な粒子濃度が測定可能となる。
[0199] Therefore, according to one embodiment of the present invention, the first measurement mode is divided regions 1 detection level Cs TH 2 to 2, region 3 and the second measuring mode at detection level Cs TH2
And 4. By using the particle information detected in these regions 1 to 4 and processing the particle size from small to large as one continuous data, it is possible to accurately measure the particle concentration of the particle component C. Become.

【0200】つまり、粒子成分に粒子サイズの広がりが
あり、2つの測定モードのどちらでも検出処理しなけれ
ばならない粒子を含むサンプルを対象とする場合であっ
ても、粒子濃度を正確に算出することができるフロー式
粒子画像解析方法及び装置を実現することができる。
That is to say, even when the target is a sample containing particles which have to be detected in either of the two measurement modes because the particle components have a wide particle size, it is necessary to accurately calculate the particle concentration. And a flow type particle image analysis method and apparatus that can perform the method.

【0201】また、本発明によれば、複数の測定モード
での分析結果を、粒子画像サイズ情報を使うことによ
り、粒子サイズについて1つの連続したデータと考える
ことが出来る。その結果、粒子サイズが小さい方から大
きい方まで広く分布する粒子成分に関して、複数の異な
る測定条件で処理された粒子画像分類結果から、単位体
積当たりの各粒子成分の粒子濃度を、正しく推定するこ
とが出来る。
According to the present invention, the analysis results in a plurality of measurement modes can be considered as one continuous data on the particle size by using the particle image size information. As a result, for particle components widely distributed from small to large particle sizes, it is necessary to correctly estimate the particle concentration of each particle component per unit volume from the particle image classification results processed under a plurality of different measurement conditions. Can be done.

【0202】また、複数の測定モードからの粒子測定デ
ータを有効に利用できる効果もある。
There is also an effect that particle measurement data from a plurality of measurement modes can be used effectively.

【0203】また、このような背景があることから、粒
子検出系の検出レベルの調整や粒子検出用光学系の調整
を厳密に行う必要が無くなる効果が生じる。
[0203] Also, due to such a background, there is an effect that it is not necessary to strictly adjust the detection level of the particle detection system and adjust the optical system for particle detection.

【0204】なお、粒子検出系の粒子検出として、半導
体レーザからのレーザ光束を検出光として用い、粒子で
散乱されたレーザ光束を利用する場合について述べた
が、これに限らず粒子からの蛍光や透過光を利用するこ
ともできる。
[0204] Although the case where the laser beam from the semiconductor laser is used as detection light and the laser beam scattered by the particles is used for the particle detection of the particle detection system has been described, the present invention is not limited to this. Transmitted light can also be used.

【0205】[0205]

【発明の効果】本発明によれば、粒子成分に粒子サイズ
の広がりがあり、2つの測定モードのどちらでも検出処
理しなければならない粒子を含むサンプルを対象とする
場合であっても、粒子濃度を正確に算出することができ
るフロー式粒子画像解析方法及び装置を実現することが
できる。
According to the present invention, even when a particle component has a particle size spread and a sample containing particles that must be subjected to detection processing in either of the two measurement modes is targeted, the particle concentration can be reduced. And a flow-type particle image analysis method and apparatus that can accurately calculate the particle size.

【0206】また、以下のような効果を奏することがで
きる。
Further, the following effects can be obtained.

【0207】1.複数の測定モードでの分析結果を、粒
子画像サイズ情報を使うことにより、粒子サイズについ
て1つの連続したデータと考えることが出来る。
1. The analysis results in a plurality of measurement modes can be considered as one continuous data on the particle size by using the particle image size information.

【0208】2.粒子検出系を有するフロー式粒子画像
処理において、複数の異なる測定条件で処理された粒子
画像分類結果から、単位体積当たりの各粒子成分の粒子
濃度を、正しく推定することが出来るようになる。
2. In flow type particle image processing having a particle detection system, the particle concentration of each particle component per unit volume can be correctly estimated from the particle image classification results processed under a plurality of different measurement conditions.

【0209】3.複数の測定モードからの粒子測定デー
タを有効に利用できる効果も存在する。
[0209] 3. There is also an effect that particle measurement data from a plurality of measurement modes can be effectively used.

【0210】4.粒子画像サイズをベースに考えること
から、粒子検出系の検出レベルの調整を厳密に行う必要
が無くなる。
[0210] 4. Since it is considered based on the particle image size, it is not necessary to strictly adjust the detection level of the particle detection system.

【0211】5.上記4.と同様、光学系の調整を厳密
に調整する必要が無くなる。
[0211] 5. 4 above. Similarly to the above, it is not necessary to strictly adjust the optical system.

【0212】6.複数の測定モード間でデータ比較を行
い、測定系が正常に動作しているかどうかのチェックに
使うことが出来る。
6. Data can be compared between a plurality of measurement modes and used to check whether the measurement system is operating normally.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態によるフロー式粒子画像解
析方法に用いられるフロー式粒子画像解析装置の概略構
成図である。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a flow type particle image analyzer used in a flow type particle image analysis method according to an embodiment of the present invention.

【図2】従来技術における問題点の説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of a problem in the related art.

【図3】図1の例における中央処理/演算処理部の内部
ブロック図である。
FIG. 3 is an internal block diagram of a central processing / arithmetic processing unit in the example of FIG. 1;

【図4】本発明の原理説明図である。FIG. 4 is a diagram illustrating the principle of the present invention.

【図5】本発明の一実施形態における動作フローチャー
トである。
FIG. 5 is an operation flowchart according to the embodiment of the present invention.

【図6】本発明における第2の測定モードの粒子画像検
出レベルの決めかたの説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram of how to determine a particle image detection level in a second measurement mode according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 フラッシュランプ 1a フラッシュランプ駆動回路 2 フィールドレンズ 3 顕微鏡コンデンサレンズ 5 顕微鏡対物レンズ 6 結像位置 7 投影レンズ 8 TVカメラ 11 視野絞り 12 開口絞り 15 半導体レーザ 16 コリメータレンズ 17 シリンドリカルレンズ 18 反射鏡 19 微小反射鏡 20 ビームスプリッタ 21 絞り 22 光検出回路 23 フラッシュランプ点灯制御回路 24 AD変換器 25 画像メモリ 26 画像処理制御回路 27 特徴抽出回路 28 識別回路 29 中央制御/演算処理部 40 粒子検出処理部 51 粒子計数部 52 粒子画像数計算部 53 粒子検出制御部 54 画像対応部 55 領域1粒子処理部 56 領域2粒子処理部 57 領域3粒子処理部 58 領域4粒子処理部 59 測定条件設定部 60 粒子濃度計算部 61 中央制御部 100 フローセル 101 画像撮像手段 102 粒子検出手段 103 粒子解析手段 110 サンプル流れ 111 シース液 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Flash lamp 1a Flash lamp drive circuit 2 Field lens 3 Microscope condenser lens 5 Microscope objective lens 6 Image formation position 7 Projection lens 8 TV camera 11 Field stop 12 Opening stop 15 Semiconductor laser 16 Collimator lens 17 Cylindrical lens 18 Reflecting mirror 19 Micro reflection Mirror 20 Beam splitter 21 Aperture 22 Light detection circuit 23 Flash lamp lighting control circuit 24 A / D converter 25 Image memory 26 Image processing control circuit 27 Feature extraction circuit 28 Identification circuit 29 Central control / arithmetic processing unit 40 Particle detection processing unit 51 Particle counting Unit 52 particle image number calculation unit 53 particle detection control unit 54 image correspondence unit 55 region 1 particle processing unit 56 region 2 particle processing unit 57 region 3 particle processing unit 58 region 4 particle processing unit 59 measurement condition setting unit 60 particle densitometer Part 61 central control unit 100 the flow cell 101 imaging unit 102 particle detection means 103 particle analysis means 110 samples the flow 111 sheath liquid

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA26 AA45 AA58 AA61 BB15 CC00 DD06 FF04 GG06 GG08 HH04 JJ03 JJ15 JJ26 LL04 LL12 LL30 LL46 QQ03 QQ08 QQ24 QQ42 QQ43 2G059 AA01 BB04 CC19 DD12 EE02 FF01 GG01 GG08 GG10 JJ11 JJ13 JJ22 KK04 MM01 MM02 MM03 MM05 MM09 MM10 PP04 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2F065 AA26 AA45 AA58 AA61 BB15 CC00 DD06 FF04 GG06 GG08 HH04 JJ03 JJ15 JJ26 LL04 LL12 LL30 LL46 QQ03 QQ08 QQ24 QQ42 QQ43 2G059 AA01 GG01 JJ01 GG04 JJ01 GG04 JJ01 GG04 JJ01 GG04 GG01 MM01 MM02 MM03 MM05 MM09 MM10 PP04

Claims (38)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】粒子が懸濁する液体サンプルをフローセル
中に流し、粒子検出系による上記液体サンプル中の粒子
数を計数する粒子検出段階と、上記フローセル中の撮像
領域を通過する粒子の静止画像を粒子撮像系により撮像
する撮像段階と、画像解析処理により上記静止画像中の
粒子の形態学的分類を行う解析段階とを有するフロー式
粒子画像解析方法において、 粒子検出条件が互いに異なる複数の測定モードを設定す
る段階と、 各測定モードごとに上記粒子検出段階で検出された粒子
と、画像解析処理し分類識別された粒子画像との対応を
とる段階と、 各測定モード毎に得られた分析結果を粒子画像の特徴パ
ラメータを使って複数のサイズ領域に分割する段階と、 各測定モード毎に、サンプル中の複数粒子成分の粒子濃
度を算出する段階と、 を備えることを特徴とするフロー式粒子画像解析方法。
A liquid sample in which particles are suspended flows into a flow cell, and a particle detection system counts the number of particles in the liquid sample, and a still image of particles passing through an imaging region in the flow cell. A flow-type particle image analysis method having an imaging step of imaging particles by a particle imaging system and an analysis step of performing morphological classification of particles in the still image by image analysis processing, wherein a plurality of measurements having different particle detection conditions are performed. A mode setting step, a step of associating the particles detected in the particle detection step for each measurement mode with a particle image classified and identified by image analysis processing, and an analysis obtained for each measurement mode. Dividing the result into a plurality of size regions using characteristic parameters of the particle image, and calculating a particle concentration of a plurality of particle components in the sample for each measurement mode A flow type particle image analysis method, comprising:
【請求項2】請求項1記載のフロー式粒子画像解析方法
において、粒子検出条件の異なる複数の測定モードは、
2つの測定モードであることを特徴とするフロー式粒子
画像解析方法。
2. The flow type particle image analysis method according to claim 1, wherein the plurality of measurement modes having different particle detection conditions include:
A flow type particle image analysis method, wherein the method is in two measurement modes.
【請求項3】請求項2記載のフロー式粒子画像解析方法
において、粒子検出条件の異なる2つの測定モードは、
これら2つの測定モードが結合されることにより、第1
の粒子検出条件として、測定対象となる全粒子が検出さ
れるように粒子検出領域が設定されていることを特徴と
するフロー式粒子画像解析方法。
3. The flow type particle image analysis method according to claim 2, wherein the two measurement modes having different particle detection conditions include:
By combining these two measurement modes, the first
A particle detection area is set such that all particles to be measured are detected as the particle detection conditions.
【請求項4】請求項2記載のフロー式粒子画像解析方法
において、粒子検出条件の異なる2つの測定モードは、
それぞれ、第2の粒子検出条件として、予め設定された
粒子検出領域を有し、この設定レベル以上の粒子検出信
号が検出された時、それを検出粒子とすることを特徴と
するフロー式粒子画像解析方法。
4. The flow type particle image analysis method according to claim 2, wherein the two measurement modes having different particle detection conditions include:
Flow type particle images, each having a particle detection area set in advance as a second particle detection condition, and detecting a particle detection signal at or above this set level as detected particles. analysis method.
【請求項5】請求項2又は3記載のフロー式粒子画像解
析方法において、第1の粒子検出条件で処理し、対応づ
けされた粒子画像を複数種類の粒子に分類・識別処理す
る段階と、上記第1の粒子検出条件で粒子検出された粒
子数情報を使って複数領域の各粒子の個数を推定する段
階と、を備えることを特徴とするフロー式粒子画像解析
方法。
5. A flow-type particle image analysis method according to claim 2, wherein the particle image is processed under the first particle detection condition, and the associated particle image is classified and classified into a plurality of types of particles. Estimating the number of particles in a plurality of regions using information on the number of particles detected under the first particle detection condition.
【請求項6】請求項5記載のフロー式粒子画像解析方法
において、第1の測定モードと、この第1の測定モード
により測定される対象の粒子径より大の粒子径を有する
粒子を測定する第2の測定モードとを有し、第1の測定
モードで処理された全粒子画像数をNg1、上記複数領
域の第1の領域の第1の粒子成分の粒子画像数をNgA
(1)、第1の領域の第3の粒子成分の粒子画像数をNgC
(1)、第2の領域の第2の粒子成分の粒子画像数をNgB
(2)、第2の領域の第3の粒子成分の粒子画像数をNgC
(2)、粒子検出系で検出した総粒子数をNd1とすると、
第1の測定モードで処理された、第1の領域の第1の粒
子成分の粒子数NA(1)、第1の領域の第3の粒子成分の
粒子数NC(1)、第2の領域の第2の粒子成分の粒子数NB
(2)、第2の領域の第2の粒子成分の粒子数NC(2)を求め
る計算式として、次式(1-1)〜(1-4) NA(1)=NgA(1)/Ng1×Nd1 ----(1-1) NB(2)=NgB(2)/Ng1×Nd1 ----(1-2) NC(1)=NgC(1)/Ng1×Nd1 ----(1-3) NC(2)=NgC(2)/Ng1×Nd1 ----(1-4)を使用することを
特徴とするフロー式粒子画像解析方法。
6. The flow type particle image analysis method according to claim 5, wherein the first measurement mode and particles having a particle diameter larger than the particle diameter of the object measured in the first measurement mode are measured. A second measurement mode, wherein the total number of particle images processed in the first measurement mode is Ng1, and the number of particle images of the first particle component in the first region of the plurality of regions is NgA.
(1) The number of particle images of the third particle component in the first area is represented by NgC
(1) The number of particle images of the second particle component in the second region is NgB
(2) The number of particle images of the third particle component in the second region is represented by NgC
(2) Assuming that the total number of particles detected by the particle detection system is Nd1,
The number of particles NA (1) of the first particle component in the first region, the number of particles NC (1) of the third particle component in the first region, the second region processed in the first measurement mode Particle number NB of the second particle component of
(2), the following formulas (1-1) to (1-4) NA (1) = NgA (1) / Ng1 × Nd1 ---- (1-1) NB (2) = NgB (2) / Ng1 × Nd1 ---- (1-2) NC (1) = NgC (1) / Ng1 × Nd1 --- -(1-3) NC (2) = NgC (2) / Ng1 × Nd1 ---- A flow type particle image analysis method characterized by using (1-4).
【請求項7】請求項4記載のフロー式粒子画像解析方法
において、第2の粒子検出条件で処理した対応づけられ
た粒子画像を複数種類の粒子群に分類・識別処理する段
階と、第2の粒子検出条件で粒子検出された粒子数情報
を使って各領域の各粒子の個数を推定する段階とを備え
ることを特徴とするフロー式粒子画像解析方法。
7. The flow type particle image analysis method according to claim 4, wherein the associated particle images processed under the second particle detection condition are classified and classified into a plurality of types of particle groups. Estimating the number of particles in each region using information on the number of particles detected under the particle detection conditions of (1).
【請求項8】請求項7記載のフロー式粒子画像解析方法
において、測定モードは、第1の粒子成分を検出するた
めの第1の測定モードと、この第1の粒子成分より径が
大の第2の粒子成分を検出するための第2の測定モード
とからなり、第1の測定モードを第1の領域と第2の領
域とに分割し、第2の測定モードを第3の領域と第4の
領域とに分割し、第2の測定モードで処理された全粒子
画像数をNg2、第4の領域の第2の粒子成分の粒子画像
数をNgB(4)、第1の粒子成分の径の一部から第2の粒
子成分の径を含む径を有する第3の粒子成分の粒子画像
数をNgC(4)とし、粒子検出系で検出した総粒子数をN
d2とすると、第4の領域で処理された第2の粒子成分
の粒子数NB(4) 、第3の粒子成分の粒子数NC(4)の推定
値は、次式(2−1)、(2−2) NB(4)=NgB(4)/Ng2×Nd2 ----(2-1) NC(4)=NgC(4)/Ng2×Nd2 ----(2-2)を使用して算出す
ることを特徴とするフロー式粒子画像解析方法。
8. The flow-type particle image analysis method according to claim 7, wherein the measurement mode includes a first measurement mode for detecting the first particle component and a measurement mode having a larger diameter than the first particle component. A second measurement mode for detecting a second particle component, wherein the first measurement mode is divided into a first region and a second region, and the second measurement mode is defined as a third region. The number of all particle images processed in the second measurement mode is divided into Ng2, the number of particle images of the second particle component in the fourth region is NgB (4), and the first particle component is divided into the fourth region. The particle image number of the third particle component having a diameter including the diameter of the second particle component from a part of the diameter of the particle is NgC (4), and the total number of particles detected by the particle detection system is NgC (4).
Assuming that d2, the estimated value of the number of particles NB (4) of the second particle component processed in the fourth region and the estimated number of particles NC (4) of the third particle component are given by the following equation (2-1): (2-2) NB (4) = NgB (4) / Ng2 × Nd2 ---- (2-1) NC (4) = NgC (4) / Ng2 × Nd2 ---- (2-2) A flow type particle image analysis method, wherein the method is used to calculate.
【請求項9】請求項1又は2記載のフロー式粒子画像解
析方法において、予め設定されているサイズに関する粒
子画像パラメータを使って、各測定モードごとに複数の
領域に分け、各領域の粒子種類ごとの粒子数を求める段
階を備えることを特徴とするフロー式粒子画像解析方
法。
9. The flow type particle image analysis method according to claim 1, wherein the particle type is divided into a plurality of regions for each measurement mode using a particle image parameter relating to a predetermined size. A flow type particle image analysis method, comprising a step of calculating the number of particles for each particle.
【請求項10】請求項9記載のフロー式粒子画像解析方
法において、予め設定されているサイズに関する粒子画
像パラメータとして、粒子の直径情報を用いる段階を備
えることを特徴とするフロー式粒子画像解析方法。
10. The flow type particle image analysis method according to claim 9, further comprising the step of using diameter information of particles as particle image parameters relating to a predetermined size. .
【請求項11】請求項9記載のフロー式粒子画像解析方
法において、予め設定されているサイズに関する粒子画
像パラメータとして、粒子の面積情報を用いる段階を備
えることを特徴とするフロー式粒子画像解析方法。
11. A flow-type particle image analysis method according to claim 9, further comprising the step of using area information of the particles as particle image parameters relating to a predetermined size. .
【請求項12】請求項9記載のフロー式粒子画像解析方
法において、予め設定されているサイズに関する粒子画
像パラメータとして、粒子の射影長を用いる段階を備え
ることを特徴とするフロー式粒子画像解析方法。
12. The flow type particle image analysis method according to claim 9, further comprising the step of using a projection length of the particle as a particle image parameter relating to a predetermined size. .
【請求項13】請求項10又は12記載のフロー式粒子
画像解析方法において、粒子直径または射影長は、上記
サンプルの流れ方向に沿った長さであることを特徴とす
るフロー式粒子画像解析方法。
13. The flow type particle image analysis method according to claim 10, wherein the particle diameter or the projection length is a length along a flow direction of the sample. .
【請求項14】請求項5から8のうちのいずれか一項記
載のフロー式粒子画像解析方法において、測定条件情
報、複数領域毎に求めた各粒子成分数及び粒子検出系計
数結果を基にして、上記サンプルに含まれている複数粒
子種類の粒子濃度を算出する段階を備えることを特徴と
するフロー式粒子画像解析方法。
14. The flow-type particle image analysis method according to claim 5, wherein the measurement condition information, the number of each particle component obtained for each of a plurality of regions, and a particle detection system count result are used. And calculating a particle concentration of a plurality of types of particles contained in the sample.
【請求項15】請求項14記載のフロー式粒子画像解析
方法において、第1の測定モードと、この第1の測定モ
ードにより測定される対象の粒子径より大の粒子径を有
する粒子を測定する第2の測定モードとを有し、第1の
測定モードを第1の領域と第2の領域とに分割し、第2
の測定モードを第3の領域と第4の領域とに分割し、第
1の領域の第1の粒子成分の粒子数をNA(1)、第1の領
域の第3の粒子成分の粒子数をNC(1)、第2の領域の第
2の粒子成分の粒子数をNB(2)、第2の領域の第3の粒
子成分の粒子数をNC(2)、第4の領域で処理された第2
の粒子成分の粒子数をNB(4)、第4の領域で処理された
第3の粒子成分の粒子数をNC(4)、第1の測定モード及
び第2の測定モードでのそれぞれのサンプル測定体積を
Vm1及びVm2とすると、第1の粒子成分の粒子濃度D
A、第2の粒子成分の粒子濃度DB、第3の粒子成分の
粒子濃度DCは、次式(3−1)〜(3−3) DA=NA(1)/Vm1 ----(3-1) DB=(NB(2)+NB(4))/(Vm1+Vm2) ----(3-2) DC=NC(1)/Vm1+(NC(2)+NC(4))/(Vm1+Vm2) ----(3-3)
を使用して算出することを特徴とするフロー式粒子画像
解析方法。
15. A flow type particle image analysis method according to claim 14, wherein the first measurement mode and particles having a particle diameter larger than the particle diameter of the object measured by the first measurement mode are measured. A second measurement mode, wherein the first measurement mode is divided into a first area and a second area,
Is divided into a third region and a fourth region, the number of particles of the first particle component in the first region is NA (1), and the number of particles of the third particle component in the first region is Is processed by NC (1), the number of particles of the second particle component in the second region is NB (2), the number of particles of the third particle component in the second region is NC (2), and the fourth region is processed. The second
The number of particles of the particle component of NB (4), the number of particles of the third particle component processed in the fourth region is NC (4), and the respective samples in the first measurement mode and the second measurement mode Assuming that the measured volumes are Vm1 and Vm2, the particle concentration D of the first particle component
A, the particle concentration DB of the second particle component, and the particle concentration DC of the third particle component are represented by the following equations (3-1) to (3-3). DA = NA (1) / Vm1 ---- (3 -1) DB = (NB (2) + NB (4)) / (Vm1 + Vm2) ---- (3-2) DC = NC (1) / Vm1 + (NC (2) + NC (4)) / (Vm1 + Vm2) ---- (3-3)
A flow type particle image analysis method, wherein the method is used to calculate.
【請求項16】請求項2又は9記載のフロー式粒子画像
解析方法において、予め設定されているサイズに関する
粒子画像パラメータとして、第2の測定モードの粒子検
出領域に相当する画像粒子サイズ情報を使って、第1の
測定データを複数領域に分けることを特徴とするフロー
式粒子画像解析方法。
16. The flow type particle image analysis method according to claim 2, wherein image particle size information corresponding to a particle detection area in the second measurement mode is used as a particle image parameter relating to a predetermined size. And dividing the first measurement data into a plurality of regions.
【請求項17】請求項16記載のフロー式粒子画像解析
方法において、予め設定されているサイズに関する粒子
画像パラメータとして、第2の測定モードの対応する画
像パラメータのヒストグラムより決定する段階を有する
ことを特徴とするフロー式粒子画像解析方法。
17. A flow-type particle image analysis method according to claim 16, further comprising the step of determining, as a particle image parameter relating to a predetermined size, from a histogram of a corresponding image parameter in the second measurement mode. Characteristic flow-type particle image analysis method.
【請求項18】請求項17記載のフロー式粒子画像解析
方法において、処理しているサンプル自身の粒子画像パ
ラメータから決定することを特徴とするフロー式粒子画
像解析方法。
18. The flow type particle image analysis method according to claim 17, wherein the flow type particle image analysis method is determined from the particle image parameters of the sample being processed.
【請求項19】請求項17記載のフロー式粒子画像解析
方法において、複数のサンプルによる粒子画像パラメー
タから決定することを特徴とするフロー式粒子画像解析
方法。
19. The flow type particle image analysis method according to claim 17, wherein the flow type particle image analysis method is determined from particle image parameters of a plurality of samples.
【請求項20】請求項17載のフロー式粒子画像解析方
法において、各測定モードの複数領域のそれぞれの粒子
濃度を計算し、測定モード間で粒子濃度の比較する段階
により、測定系の状態をチェックすることを特徴とする
フロー式粒子画像解析方法。
20. The flow-type particle image analysis method according to claim 17, wherein the state of the measurement system is determined by calculating the respective particle concentrations of a plurality of regions in each measurement mode and comparing the particle concentrations between the measurement modes. A flow type particle image analysis method characterized by checking.
【請求項21】請求項20記載のフロー式粒子画像解析
方法において、測定状態のチェックにより異常が見つか
った場合、正常と思われる測定モードのデータだけでサ
ンプル中の粒子濃度を計算することを特徴とするフロー
式粒子画像解析方法。
21. The flow-type particle image analysis method according to claim 20, wherein, when an abnormality is found by checking the measurement state, the particle concentration in the sample is calculated only by the data of the measurement mode considered to be normal. Flow type particle image analysis method.
【請求項22】請求項20記載のフロー式粒子画像解析
方法において、測定状態のチェックにより異常が見つか
った場合、2つの測定データのデータの比率を計算し、
正常でない測定モードの粒子濃度の値を推定する段階を
有することを特徴とするフロー式粒子画像解析方法。
22. The flow-type particle image analysis method according to claim 20, wherein when an abnormality is found by checking the measurement state, a data ratio of the two measurement data is calculated,
A flow type particle image analysis method, comprising the step of estimating a particle concentration value in an abnormal measurement mode.
【請求項23】請求項1又は2記載のフロー式粒子画像
解析方法において、各測定モードでサンプル流れ位置と
粒子画像撮像の不一致による視野ケラレの補正、および
サンプル薄まりの補正を行うことを特徴とするフロー式
粒子画像解析方法。
23. The flow-type particle image analysis method according to claim 1, wherein in each measurement mode, correction of a visual field vignetting due to a mismatch between a sample flow position and imaging of a particle image and correction of a sample thinning are performed. Flow type particle image analysis method.
【請求項24】請求項1又は2記載のフロー式粒子画像
解析方法において、各測定モードの光学系倍率が異なる
場合には、サイズ情報を倍率で換算し直すことを特徴と
するフロー式粒子画像解析方法。
24. The flow type particle image analysis method according to claim 1, wherein when the optical system magnification of each measurement mode is different, the size information is converted back to the magnification. analysis method.
【請求項25】粒子が懸濁する液体サンプルをフローセ
ル中に流し、粒子検出系による上記液体サンプル中の粒
子数を計数する粒子検出手段と、上記フローセル中の撮
像領域を通過する粒子の静止画像を粒子撮像系により撮
像する撮像手段と、画像解析処理により上記画像中の粒
子の形態学的分類を行う解析手段とを有するフロー式粒
子画像解析装置において、 粒子検出条件が互いに異なる複数の測定モードを設定す
る手段と、 各測定モードごとに上記粒子検出手段で検出された粒子
と、画像解析処理し分類識別された粒子画像との対応を
とる手段と、 各測定モード毎に得られた分析結果を粒子画像の特徴パ
ラメータを使って複数のサイズ領域に分割する手段と、 各測定モード毎に、サンプル中の複数粒子成分の粒子濃
度を算出する手段と、 を備えることを特徴とするフロー式粒子画像解析装置。
25. Particle detection means for flowing a liquid sample in which particles are suspended into a flow cell and counting the number of particles in the liquid sample by a particle detection system, and a still image of particles passing through an imaging region in the flow cell. In a flow type particle image analyzer having an imaging unit for imaging the particles by a particle imaging system and an analysis unit for performing morphological classification of particles in the image by image analysis processing, a plurality of measurement modes having different particle detection conditions are provided. Means for setting, the means for associating the particles detected by the particle detecting means for each measurement mode with the particle images classified and identified by image analysis processing, and the analysis results obtained for each measurement mode Means for dividing the particle into a plurality of size regions using the characteristic parameters of the particle image, and means for calculating the particle concentration of the plurality of particle components in the sample for each measurement mode. A flow type particle image analysis device, comprising:
【請求項26】請求項25記載のフロー式粒子画像解析
装置において、粒子検出条件の異なる複数の測定モード
は、2つの測定モードであることを特徴とするフロー式
粒子画像解析装置。
26. The flow-type particle image analyzer according to claim 25, wherein the plurality of measurement modes having different particle detection conditions are two measurement modes.
【請求項27】請求項26記載のフロー式粒子画像解析
装置において、粒子検出条件の異なる2つの測定モード
は、これら2つの測定モードが結合されることにより、
第1の粒子検出条件として、測定対象となる全粒子が検
出されるように粒子検出領域を設定されていることを特
徴とするフロー式粒子画像解析装置。
27. The flow-type particle image analyzer according to claim 26, wherein the two measurement modes having different particle detection conditions are combined by combining these two measurement modes.
A flow type particle image analyzer, wherein a particle detection area is set as a first particle detection condition so that all particles to be measured are detected.
【請求項28】請求項26又は27記載のフロー式粒子
画像解析装置において、第1の粒子検出条件で処理した
対応づけされた粒子画像を複数種類の粒子に分類・識別
処理する手段と、第1の粒子検出条件で粒子検出された
粒子数を使って各粒子の個数を推定する手段とを備える
ことを特徴とするフロー式粒子画像解析装置。
28. A flow type particle image analyzing apparatus according to claim 26, wherein the means for classifying and identifying the associated particle image processed under the first particle detection condition into a plurality of types of particles, Means for estimating the number of each particle using the number of particles detected under one of the particle detection conditions.
【請求項29】請求項25又は28記載のフロー式粒子
画像解析装置において、第2の粒子検出条件で処理し、
対応づけられた粒子画像を複数種類の粒子群に分類・識
別処理する手段と、第2の粒子検出条件で粒子検出され
た粒子数を使って各粒子の個数を推定する手段とを備え
ることを特徴とするフロー式粒子画像解析装置。
29. The flow type particle image analyzer according to claim 25, wherein the processing is performed under the second particle detection condition,
Means for classifying and identifying the associated particle images into a plurality of types of particle groups, and means for estimating the number of each particle using the number of particles detected under the second particle detection condition. Characteristic flow type particle image analyzer.
【請求項30】請求項25又は26記載のフロー式粒子
画像解析装置において、測定条件と、第2の粒子検出条
件で粒子検出された粒子数および粒子検出系の計数結果
を基にして、サンプルに含まれている複数粒子種類の粒
子濃度を算出する手段を備えることを特徴とするフロー
式粒子画像解析装置。
30. A flow-type particle image analyzer according to claim 25, wherein the sample is determined based on the measurement conditions, the number of particles detected under the second particle detection conditions, and the counting result of the particle detection system. A flow type particle image analysis apparatus, comprising: means for calculating the particle concentration of a plurality of particle types included in the above.
【請求項31】請求項25又は30記載のフロー式粒子
画像解析装置において、予め設定されているサイズに関
する粒子画像パラメータとして、第2の測定モードの粒
子検出領域に相当する画像粒子サイズ情報を使って、第
1の測定モードを複数領域に分けることを特徴とするフ
ロー式粒子画像解析装置。
31. The flow type particle image analyzer according to claim 25, wherein image particle size information corresponding to a particle detection area in the second measurement mode is used as a particle image parameter relating to a predetermined size. Wherein the first measurement mode is divided into a plurality of regions.
【請求項32】請求項31記載のフロー式粒子画像解析
装置において、予め設定されているサイズに関する粒子
画像パラメータとして、第2の測定モードの対応する画
像パラメータのヒストグラムより決定する手段を備える
ことを特徴とするフロー式粒子画像解析装置。
32. The flow-type particle image analyzer according to claim 31, further comprising means for determining, as a particle image parameter relating to a predetermined size, from a histogram of a corresponding image parameter in the second measurement mode. Characteristic flow type particle image analyzer.
【請求項33】請求項31記載のフロー式粒子画像解析
装置において、処理してるサンプル自身の粒子画像パラ
メータから決定することを特徴とするフロー式粒子画像
解析装置。
33. A flow type particle image analysis apparatus according to claim 31, wherein the flow type particle image analysis apparatus is determined from the particle image parameters of the sample itself being processed.
【請求項34】請求項31記載のフロー式粒子画像解析
装置において、複数のサンプルによる粒子画像パラメー
タから決定することを特徴とするフロー式粒子画像解析
装置。
34. A flow type particle image analysis apparatus according to claim 31, wherein said flow type particle image analysis apparatus is determined from a particle image parameter of a plurality of samples.
【請求項35】請求項31記載のフロー式粒子画像解析
装置において、各測定モードの複数領域それぞれの粒子
濃度を計算し、測定モード間で粒子濃度の比較する手段
により、測定系の状態をチェックすることを特徴とする
フロー式粒子画像解析装置。
35. The flow type particle image analyzer according to claim 31, wherein the particle concentration in each of a plurality of regions in each measurement mode is calculated, and the state of the measurement system is checked by means for comparing the particle concentration between the measurement modes. A flow type particle image analysis apparatus, comprising:
【請求項36】請求項25から請求項35のうちのいず
れか一項記載のフロー式粒子画像解析装置において、解
析対象が生物細胞であることを特徴とするフロー式粒子
画像解析装置。
36. The flow type particle image analyzer according to claim 25, wherein the analysis target is a living cell.
【請求項37】請求項25から請求項35のうちのいず
れか一項記載のフロー式粒子画像解析装置において、解
析対象が血液中に存在する血球成分であることを特徴と
するフロー式粒子画像解析装置。
37. The flow-type particle image analyzer according to claim 25, wherein the analysis target is a blood cell component present in blood. Analysis device.
【請求項38】請求項25から請求項35のうちのいず
れか一項記載のフロー式粒子画像解析装置において、解
析対象が尿中に存在する尿沈渣成分であることを特徴と
するフロー式粒子画像解析装置。
38. The flow type particle image analyzer according to claim 25, wherein the analysis target is a urinary sediment component present in urine. Image analysis device.
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