JP2002050869A - 多層配線基板の製造方法 - Google Patents
多層配線基板の製造方法Info
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Abstract
層配線基板の製造方法を提供する。 【解決手段】ガラス粉末とセラミック粉末とを含有する
グリーンシート1表面に配線回路層3を形成してグリー
ンシート1を複数積層するとともに、グリーンシート1
の積層体の少なくとも一方の表面に、難焼結性セラミッ
ク材料を主体とし、非晶質成分を0.5〜15体積%含
有する拘束シート8を積層した後、該積層体を配線回路
層3の融点以下の温度で焼成してガラスセラミック絶縁
基板10の表面および/または内部に配線回路層3を形
成してなる多層配線基板Aの製造方法において、ガラス
セラミック絶縁基板10と拘束シート8との40〜40
0℃における平均熱膨張係数差を3×10-6/℃以下と
する。
Description
半導体素子収納用パッケージなどに適した多層配線基板
の製造方法に関するものである。
納するパッケージに使用される多層配線基板として、比
較的高密度の配線が可能な多層セラミック配線基板が多
用されている。この多層セラミック配線基板は、アルミ
ナやガラスセラミックなどの絶縁基板と、その表面に形
成されたWやMo、Cu、Ag等の金属からなる配線導
体とから構成されるもので、この絶縁基板の一部にキャ
ビティが形成され、このキャビティ内に半導体素子が収
納され、蓋体によってキャビティを気密に封止されるも
のである。
導体素子を搭載する半導体素子収納用パッケージや、各
種電子部品が搭載される混成集積回路装置等に適用され
る配線基板においては、高密度化、低抵抗化、小型軽量
化が要求されており、アルミナ系セラミック材料に比較
して低い誘電率が得られ、配線回路層としてCu等の低
抵抗金属を用いることができることから、焼成温度が1
000℃以下のいわゆるガラスセラミック配線基板が一
層注目されている。
線基板において、配線回路層を形成する手法としては、
Cu、Ag等の金属からなる配線導体を主成分とするメ
タライズペーストを、スクリーン印刷法等によって絶縁
基板上に印刷する。しかし、このような手法を用いた場
合、配線幅100μm以下を形成するのが困難であり、
今後必要とされる更なる高密度化、小型軽量化の達成を
阻む原因であった。電気抵抗についてもペーストで配線
回路層を形成させるために空隙が多く存在し、低抵抗化
が困難という問題があった。
セラミックグリーンシートにおける配線回路層を、エッ
チングした金属箔によって形成する手法が知られている
(特開昭63−14493号公報)。しかし、金属箔と
ガラスセラミックを同時焼成すると、金属箔が収縮しな
いために、基板に反り、クラックが発生し、実用化が困
難という問題があった。
に、該配線基板の焼成温度では焼結しない無機組成物の
層からなる拘束シートを形成した後、同時焼成し、該配
線基板における平面方向の収縮を抑制することで、金属
箔とガラスセラミックの同時焼成を可能とする方法が提
案されている(特開平7−86743号公報)。
用いて焼成する方法において、ガラスセラミックグリー
ンシートと拘束シートは、それらのシート内に含有され
ている有機バインダー等の有機成分によって密着される
が、焼成によって前記有機成分が分解した後は、拘束シ
ートとガラスセラミック絶縁基板とは摩擦力のみによっ
て拘束され、ガラスセラミック絶縁基板の焼成後の収縮
が抑制されることになる。
ガラスセラミック絶縁基板を拘束し、収縮を抑制するた
め、グリーンシートの表面状態や、積層条件の影響を受
け易く、場合によっては、拘束シートの拘束力が低下し
てガラスセラミック絶縁基板から剥離したり、反りや変
形が発生するという問題があった。
添加し、拘束シートとガラスセラミック絶縁基板とを前
記非晶質成分にて接合して、両者間の密着性を高めるこ
とによって、拘束シートの拘束力を高め、より安定して
平面方向の収縮を抑制する方法が挙げられる。しかしな
がら、この場合でも、焼成時にガラスセラミック絶縁基
板と拘束シートが反応することで強固に接合されること
により、焼成後の冷却の際、両者間に熱応力が発生し、
ガラスセラミック絶縁基板内または絶縁基板の拘束シー
ト接着面付近にクラック等が発生するという問題があっ
た。
縁基板とし、該絶縁基板積層体の表面に難焼結性拘束シ
ートを積層して焼成する多層配線基板の製造方法におい
て、拘束シートの剥離やガラスセラミック絶縁基板内に
クラック等が発生することなく、安定的に平面方向の収
縮を制御できる多層配線基板の製造方法を提供すること
にある。
について検討した結果、拘束シート内に所定量のガラス
成分を添加するとともに、ガラスセラミック絶縁基板と
拘束シートとの熱膨張係数を所定範囲に近似させること
によって、拘束シートの剥離やガラスセラミック絶縁基
板へのクラックの発生等を抑制でき、拘束シートによっ
て効果的にガラスセラミック絶縁基板の収縮を抑制する
ことができることを見いだした。
は、ガラス粉末とセラミック粉末とを含有するグリーン
シート表面に配線回路層を形成して該グリーンシートを
複数積層するとともに、該積層体の少なくとも一方の表
面に、難焼結性セラミック材料を主体とし、非晶質成分
を0.5〜15体積%含有する拘束シートを積層した
後、該積層体を前記配線回路層の融点以下の温度で焼成
してガラスセラミック絶縁基板の表面および/または内
部に配線回路層を形成してなるものであって、前記ガラ
スセラミック絶縁基板と前記拘束シートとの40〜40
0℃における平均熱膨張係数差を3×10-6/℃以下と
することを特徴とするものである。
Al2O3、SiO2、MgO、ZrO2、BN、TiO2
の群から選ばれる少なくとも1種および/またはこれら
の複合酸化物を主体とすることが望ましく、前記拘束シ
ート中に含まれる非晶質成分の軟化点が、焼成温度以下
であることが望ましい。
ことが望ましく、前記金属箔がCu、Ag、Al、A
u、Ni、Pt、Pdから選ばれる少なくとも1種から
なることが望ましい。
前記グリーンシート表面から内部へ埋設されてなること
が望ましい。
造方法について、図1の本発明の多層配線基板の製造方
法についての一例を示す工程図を基に説明する。まず、
例えば、平均粒径0.5〜10μm、特に1〜5μmの
ガラス粉末と平均粒径0.5〜10μm、特に平均粒径
1〜5μmのセラミック粉末とを準備する。用いられる
ガラス成分としては、少なくともSiO2を含み、Al2
O3、B2O3、ZnO、PbO、アルカリ土類金属酸化
物、アルカリ金属酸化物のうちの少なくとも1種以上を
含有したものであって、例えば、SiO2−B2O3系、
SiO2−B2O3−Al2O3−MO系(但し、MはC
a、Sr、Mg、BaまたはZnを示す)等のホウケイ
酸ガラス、アルカリ珪酸ガラス、Ba系ガラス、Pb系
ガラス、Bi系ガラス等が挙げられる。
ても非晶質ガラスであるもの、また焼成処理によって、
アルカリ金属シリケート、クォーツ、クリストバライ
ト、コージェライト、ムライト、エンスタタイト、アノ
ーサイト、セルジアン、スピネル、ガーナイト、ディオ
プサイド、イルメナイト、ウイレマイト、ドロマイト、
ペタライトやその置換誘導体の結晶を少なくとも1種を
析出するものが用いられる。
ーツ、クリストバライト等のSiO 2や、Al2O3、Z
rO2、ムライト、フォルステライト、エンスタタイ
ト、スピネル、マグネシアの群から選ばれる少なくとも
1種が好適に用いられる。
に、ガラス成分10〜90体積%、特に50〜80体積
%と、セラミックフィラー成分10〜90体積%、特に
20〜50体積%の割合で混合する。その混合物に有機
バインダー等を加えた後、ドクターブレード法、圧延
法、プレス法などによりシート状に成形して厚さ約50
〜500μmのグリーンシート1を作製する。
マイクロドリル、パンチングなどにより、直径80〜2
00μmの貫通孔を形成し、その内部に導体ペーストを
充填してビアホール導体2を形成する。導体ペースト中
には、Cu、Ag、等の金属成分と、それ以外にアクリ
ル樹脂などからなる有機バインダー、トルエン、イソプ
ロピルアルコール、アセトンなどの有機溶剤とを混合し
て形成される。有機バインダーは金属成分100重量部
に対して0.5〜15.0重量部、有機溶剤は固形成分
及び有機バインダー100重量部に対して5〜100重
量部の割合で混合されることが望ましい。なお、この導
体ペースト中には若干のガラス成分等を添加してもよ
い。
線回路層3を形成する。配線回路層3としては、上述の
ビアホール導体2を形成するための金属導体粉末を含有
する導体ペーストを用いて印刷法等により形成すること
もできるが、特に配線回路層3の幅が75μm以下、特
に50μm以下、かつ配線回路層3のピッチが150μ
m以下、特に100μm以下の微細配線化する上では、
金属箔を使用することが望ましい。金属箔としては、特
に純度99重量%以上のCu、Ag、Al、Au、N
i、Pt、Pdの群から選ばれる少なくとも1種の高純
度金属からなることが望ましい。
は、グリーンシートの表面に金属箔を接着した後に周知
のフォトエッチング法等の手法によって所望の回路を形
成する方法が知られているが、かかる方法ではエッチン
グ液によってグリーンシートを変質させてしまうため、
転写法にて形成することが望ましい。
ては、まず、高分子材料からなる転写フィルム5上に高
純度金属導体、特に金属箔を接着した後、この金属導体
の表面に鏡像のレジストを回路パターン状に塗布した
後、エッチング処理およびレジスト除去を行う方法が好
適である。
写フィルム5を前記ビアホール導体2が形成されたグリ
ーンシート1の表面に位置合わせして積層圧着した後、
転写フィルム5を剥がすことにより、ビアホール導体2
を接続した配線回路層3を具備する一単位のグリーンシ
ート1を形成することができる。
ト1表面に積層圧着する場合、例えば50〜80℃、加
圧圧力10〜20MPaにて熱圧着することによって配
線回路層(金属箔)3をグリーンシート1表面から内部
へ強制的に埋設することが望ましく、これによって、グ
リーンシート1を焼成したガラスセラミック絶縁基板1
0と配線回路層(金属箔)3との熱膨張差、および後述
の拘束シート8と配線回路層3との熱膨張差に起因する
界面での剥離やクラックの発生を防止することができ
る。また、金属箔からなる剛性の高い配線回路層3の厚
みによって、配線回路層3端部における拘束シート8と
グリーンシート1との界面に隙間が発生し、その部分に
おける拘束シート8とグリーンシート1との接着力が低
下してしまう結果、焼成時に配線回路層3の端部が剥が
れることを防止できる。
伝送するためのグランド層等、グリーンシート表面の面
積に対する配線回路層の面積比率が50%以上を占める
配線回路層6を形成する場合、特に配線回路層6の主成
分金属の熱膨張係数が例えば16〜17×10-6/℃と
高い場合には、配線回路層6とガラスセラミック絶縁基
板および拘束シートとの平均熱膨張係数差に起因する剥
離やクラックを防止するために、上述した導体ペースト
を用いて印刷法により形成することが望ましい。
ンシート1a〜1dを積層圧着して積層体を形成する。
グリーンシート1の積層には、積み重ねられたグリーン
シート1に熱と圧力を加えて熱圧着する方法、有機バイ
ンダー、可塑剤、溶剤等からなる接着剤をシート間に塗
布して熱圧着する方法等が採用可能である。
リーンシート1a〜1dの積層体の焼成温度で難焼結性
のセラミック材料を主成分とする拘束シート8をガラス
セラミックグリーンシート1a〜1dの積層体の両面又
は片面に加圧積層して積層体を作製する。
ンシート1を焼成したガラスセラミック絶縁基板10と
拘束シート8との40〜400℃における平均熱膨張係
数差(以下、単に平均熱膨張係数差と略す。)が3×1
0-6/℃以下、特に2×10 -6/℃以下であることが大
きな特徴であり、これによって焼成後の冷却時にガラス
セラミック絶縁基板10の拘束シート8接着面付近に発
生するクラックや剥離、またはガラスセラミック絶縁基
板10内に発生するクラックを防止することができる。
縁基板10としては、プリント基板等の外部回路基板と
の平均熱膨張係数差を小さくして実装信頼性を高める上
で、ガラスセラミック絶縁基板の熱膨張係数が8×10
-6/℃以上、特に9〜17×10-6/℃以上であること
が望ましい。また、ガラスセラミック絶縁基板10の表
面(主平面)における焼成収縮を小さくする点では、拘
束シート8の熱膨張係数がガラスセラミック絶縁基板1
0の熱膨張係数以下であることが望ましく、ガラスセラ
ミック絶縁基板10内に熱膨張差に伴う引張り応力を残
存させない点では、拘束シート8の熱膨張係数がガラス
セラミック絶縁基板10の熱膨張係数以上であることが
望ましい。特に、拘束シート8の熱膨張係数がガラスセ
ラミック絶縁基板10の熱膨張係数以下であることが望
ましい。
材料を主体とし、ガラスを0.5〜15重量%添加した
無機成分に、有機バインダー、可塑剤、溶剤等を加えた
スラリーをシート状に成形して得られる。難焼結性セラ
ミック材料としては、具体的には1000℃以下の温度
で緻密化しないようなセラミック組成物から構成され、
具体的には平均粒径1〜20μm、特に3〜10μmの
Al2O3、SiO2、MgO、ZrO2、BN、TiO2
の群から選ばれる少なくとも1種および/またはこれら
の複合酸化物、特にフォルステライト(Mg2Si
O4)、エンスタタイト(MgSiO3)等の粉末が挙げ
られる。また、有機バインダー、可塑剤及び溶剤として
はガラスセラミックグリーンシートを形成するものと同
じ材料、具体的にはアクリル系バインダー、DBP等の
可塑剤、IPA、アセトン、トルエン等の溶剤等が好適
に使用できる。
ラス成分、言い換えれば非晶質成分を0.5〜15体積
%含有することが重要である。これはガラス量が0.5
体積%よりも少ないと、拘束シート8によるガラスセラ
ミックグリーンシート1の焼成収縮の拘束力が小さく、
また焼成工程でガラスセラミックグリーンシート1から
のガラス成分が拘束シート8側に毛細管現象によって拡
散、移動してしまう結果、焼結後のガラスセラミック配
線基板10の表面にボイドが多数発生してしまう。逆
に、ガラス量が15体積%より多いと、拘束シート8自
身の焼結が開始し焼結によって収縮してしまう結果、ガ
ラスセラミックグリーンシート1の収縮を抑制すること
が困難となるとともに、焼結後、拘束シート8をガラス
セラミック配線基板10から除去することが困難となる
ためである。拘束シート8の好適なガラス量は1〜12
体積%、最も好適な範囲は3〜10体積%であることが
望ましい。
分としては、ガラスセラミックグリーンシート1からの
有機成分を容易に除去するため、およびガラスセラミッ
ク絶縁基板10と拘束シート8との接着性を高める上
で、軟化点がガラスセラミックグリーンシート1a〜1
dの積層体の焼成温度以下で、かつ拘束シート8中の有
機成分の分解揮散温度よりも高いことが望ましい。具体
的には、拘束シート8中のガラスの軟化点は450〜1
100℃程度であることが好ましい。さらに、上記ガラ
スは1〜20μmの粉末であることが望ましい。
成分は、ガラスセラミックグリーンシート1中に含まれ
るガラス成分と異なるものであっても良いが、ガラスセ
ラミックグリーンシート1中のガラスの拡散を防止する
うえでは同一のガラスを用いることが望ましい。
ック材料およびガラスの種類および粉末の粒径等を変え
ることによって拘束シート8の熱膨張係数を調整するこ
とができる。
dの積層体に積層される拘束シート8の厚さは、拘束力
を高めるとともに有機成分の揮散を容易にしかつガラス
セラミック絶縁基板10からの拘束シート8の除去性を
考慮すれば、ガラスセラミックグリーンシート1a〜1
dの積層体の厚さに対して10〜200%であることが
よい。なお、上記拘束シート8の厚さは、一方の表面に
積層される拘束シート8の厚みを指す。
に400〜750℃の酸化性または弱酸化性雰囲気中で
加熱処理してグリーンシート1内やビアホール導体ペー
スト中の有機成分を分解除去した後、800〜1100
℃の酸化性または非酸化性雰囲気中で同時焼成する。ま
た、配線回路層としてCu導体等の熱処理によって酸化
しない導体を用いる場合、焼成雰囲気は非酸化性雰囲気
で行う必要があり、配線回路層としてAg導体等の熱処
理によって酸化しない導体を用いる場合、焼成雰囲気は
大気中等の酸化性雰囲気で行うことができる。
が早すぎると、絶縁基板10と配線回路層3、拘束シー
ト8の温度差および熱膨張差によってクラックが発生す
るために、冷却速度は400℃/hr以下であることが
望ましい。
層体上面に重しを載せる等して荷重をかけてもよい。荷
重は50Pa〜1MPaが適当である。
波洗浄、研磨、ウォータージェット、ケミカルブラス
ト、サンドブラスト、ウェットブラスト等で除去するこ
とによって本発明の多層配線基板Aを作製することがで
きる。
は、焼成時の収縮が拘束シート8によって厚さ方向だけ
に抑えられているので、その積層体面内の収縮を、例え
ば、積層体が矩形形状の場合には、一辺の長さの収縮率
が0.5%以下に抑えることが可能となり、しかもガラ
スセラミックグリーンシート1は拘束シート8によって
全面にわたって均一にかつ確実に結合されているので、
拘束シート8の一部剥離等によって反りや変形が起こる
のを防止することができる。
一例についての概略断面図を図2に示す。図2の多層配
線基板Aによれば、絶縁基板10は、厚み50〜250
μmの複数のガラスセラミック絶縁層10a〜10dを
積層してなる積層体から構成され、その絶縁層10a〜
10d間および絶縁基板10表面には、厚みが9〜18
μm程度の高純度金属箔からなる配線回路層3が被着形
成されている。さらに、各ガラスセラミック絶縁層10
a〜10dの厚み方向を貫くように形成された直径が8
0〜200μmのビアホール導体2が形成され、これに
より、配線回路層3間を接続し所定回路を達成するため
の回路網が形成される。また配線回路層3の表面には半
導体素子等の電子部品Bが実装搭載される。
は、ICチップなどの各種電子部品Bを搭載するための
パッドとして、シールド用導体膜として、さらには、外
部回路と接続する端子電極として用いられ、電子部品B
が配線回路層3に半田や導電性接着剤などを介して接合
される。尚、図示していないが、必要に応じて、多層配
線基板Aの表面には、さらに珪化タンタル、珪化モリブ
デンなどの厚膜抵抗体膜や配線保護膜などを形成しても
構わない。
10dの内部に上述した導体ペーストを印刷して形成さ
れたグランド層をなす配線回路層が形成されている。
フィラーとを秤量し、これにバインダーとしてアクリル
樹脂、可塑剤としてDBP(ジブチルフタレート)、溶
媒としてトルエンとイソプロピルアルコールを加えて混
合、調製したスラリーを用いて、ドクターブレード法に
より厚さ500μmのグリーンシートを作製した。な
お、表1には上記グリーンシートを後述する焼成条件
(窒素中、950℃にて1時間)焼成することによって
得られるガラスセラミックスの40〜400℃における
熱膨張係数を示した。
て、フィラー成分としてSiO2粉末を8重量%と、こ
れら無機成分に対して有機バインダーとしてアクリル樹
脂を2重量部と、溶媒としてアセトンを75重量部との
比率で添加混練し、ペースト状のビアホール導体用ペー
ストを作製した。そして、グリーンシートの所定個所に
ビアホールを形成し、そのビアホール内に上記ビアホー
ル用ペーストを充填した。
以上の表1に示す金属箔を接着し、エッチングを行って
配線回路層を形成し、転写シートを作製した。配線幅は
50μm、配線層ピッチ100μmとしたが、エッチン
グによる形成のため従来のスクリーン印刷法と比較し
て、非常に微細な配線回路層を形成することができた。
表面に上記グリーンシート形成用として用いた有機物成
分からなる接着剤をスクリーン印刷によって塗布した
後、ビアホールが形成されたグリーンシートにビアホー
ルの位置にあわせながら転写シートを積層し、60℃、
15MPaで熱圧着して配線回路層をグリーンシート表
面から内部へ埋設した。その後、転写シートを剥がすこ
とにより、ビアホール導体を接続した配線回路層を具備
する一単位の配線層を形成した。また、これら任意の一
単位のグリーンシートを5枚積層し、積層体を形成し
た。
ック粉末と平均粒径5μmのガラス粉末の組成物からな
る厚さ250μmの拘束シートを作製した。なおシート
作製時の有機バインダー、可塑剤、溶媒等はグリーンシ
ートと同じ配合量とし、後述する焼成後における40〜
400℃での平均熱膨張係数を表2に示した。この拘束
シートをグリーンシート積層体の両面に60℃、20M
Paで加圧積層して積層体を得た。
に載置して有機バインダー等の有機成分を分解除去する
ために、水蒸気含有窒素雰囲気中、700℃に加熱し、
さらに窒素雰囲気中、950℃で1時間焼成を行った。
なお、焼成後の冷却速度は300℃/hrとした。その
後、拘束シート(焼結しない無機組成物)をブラスト処
理によって除去し、多層配線基板を作製した。
を行い、変形、クラックの有無を確認した。また、この
多層配線基板を用いて配線回路層の導通抵抗の評価を行
った。評価については、銅箔からなる配線回路層(幅5
0μm)の両端にて配線抵抗をテスターにて測定し、こ
の配線回路層の断面を走査型電子顕微鏡(SEM)、銅
配線の長さを顕微鏡を用いて測定し、得られた配線回路
層の形状から比抵抗を算出した。
よる収縮率を、絶縁基板の焼成前後の一辺の長さを測定
して(l1、l2)、収縮率((l1−l2)/l1×10
0%)を算出した。結果は表3に示した。
シート中のガラス含有量が0.5体積%以下の試料N
o.1では、拘束シートがガラスセラミック絶縁基板か
ら剥離してしまい、絶縁基板の収縮率が大きいものであ
った。また、拘束シート中のガラス含有量が15体積%
を越える試料No.5では、拘束シート自体が収縮して
絶縁基板の収縮率が大きくなった。
束シートとの平均熱膨張係数差が3×10-6/℃を越え
る試料No.7、12、13では、いずれもガラスセラ
ミック絶縁基板内にクラックが生じてしまった。
中に0.5〜15体積%のガラスを添加するとともに、
拘束シートとガラスセラミック絶縁基板との平均熱膨張
係数差を3×10-6/℃以下とした試料No.2〜4、
6、8〜11、14〜19では、いずれも拘束シートの
剥離やガラスセラミック絶縁基板へのクラックの発生が
なく、ガラスセラミック絶縁基板の収縮率が0.5%以
下、配線回路層2.2μΩ・cm以下の優れた特性を有
するものであった。
拘束シート内に所定量のガラス成分を添加するととも
に、ガラスセラミック絶縁基板と拘束シートとの熱膨張
係数を近似させることによって、拘束シートの剥離やガ
ラスセラミック絶縁基板へのクラックの発生等を抑制で
き、拘束シートによって効果的にガラスセラミック絶縁
基板の収縮を抑制することができる。
使用し、転写法によって形成することによって、低抵抗
で、微細配線化が可能な高寸法精度の多層配線基板を提
供することができる。
めの工程図である。
れる多層配線基板の概略断面図である。
Claims (6)
- 【請求項1】ガラス粉末とセラミック粉末とを含有する
グリーンシート表面に配線回路層を形成して該グリーン
シートを複数積層するとともに、該積層体の少なくとも
一方の表面に、難焼結性セラミック材料を主体とし、非
晶質成分を0.5〜15体積%含有する拘束シートを積
層した後、該積層体を前記配線回路層の融点以下の温度
で焼成してガラスセラミック絶縁基板の表面および/ま
たは内部に配線回路層を形成してなる多層配線基板の製
造方法において、前記ガラスセラミック絶縁基板と前記
拘束シートとの40〜400℃における平均熱膨張係数
差を3×10-6/℃以下とすることを特徴とする多層配
線基板の製造方法。 - 【請求項2】前記難焼結性セラミック材料が、Al
2O3、SiO2、MgO、ZrO2、BN、TiO2の群
から選ばれる少なくとも1種および/またはこれらの複
合酸化物を主体とすることを特徴とする請求項1記載の
多層配線基板の製造方法。 - 【請求項3】前記拘束シート中に含まれる非晶質成分の
軟化点が、焼成温度以下であることを特徴とする請求項
1または2記載の多層配線基板の製造方法。 - 【請求項4】前記配線回路層が、金属箔からなることを
特徴とする請求項1記載の多層配線基板の製造方法。 - 【請求項5】前記金属箔がCu、Ag、Al、Au、N
i、Pt、Pdから選ばれる少なくとも1種からなるこ
とを特徴とする請求項4記載の多層配線基板の製造方
法。 - 【請求項6】前記金属箔からなる配線回路層が前記グリ
ーンシート表面から内部へ埋設されてなることを特徴と
する請求項4または5記載の多層配線基板の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000230913A JP4535576B2 (ja) | 2000-07-31 | 2000-07-31 | 多層配線基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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