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JP2001525605A - 低劣化性のuv光学系 - Google Patents

低劣化性のuv光学系

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JP2001525605A
JP2001525605A JP2000523584A JP2000523584A JP2001525605A JP 2001525605 A JP2001525605 A JP 2001525605A JP 2000523584 A JP2000523584 A JP 2000523584A JP 2000523584 A JP2000523584 A JP 2000523584A JP 2001525605 A JP2001525605 A JP 2001525605A
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optical system
optical
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optical element
light source
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JP2000523584A
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English (en)
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ゲルリンガー,ハーマン
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カール・ツアイス・シュティフテュング・ハンデルンド・アルス・カール・ツアイス
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Publication date
Application filed by カール・ツアイス・シュティフテュング・ハンデルンド・アルス・カール・ツアイス filed Critical カール・ツアイス・シュティフテュング・ハンデルンド・アルス・カール・ツアイス
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Abstract

(57)【要約】 紫外線光源(1)と少なくとも1つの屈折光学素子(2,3,4,6,8)とを有し、特に、屈折光学素子(4)を含む少なくとも1つの系部分(11)が100℃以上の温度に耐えるよう構成されたマイクロリソグラフィーの投影露光系として構成された光学系。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 技術分野 本発明は、紫外線光源と少なくとも1つの屈折光学素子、即ち、レンズまたは
プリズムを有する光学系に関する。
【0002】 この場合、特に、光源として主としてエキシマレーザを使用する、Hg−I線
の下方のDUV範囲のマイクロリソグラフィー投影露光系が対象となるが、他の
用途分野のエキシマレーザ用光学系も考えられる。
【0003】 背景技術 この種の光学系は、例えば、本出願の部分をなす本出願人の特許出願EP06
87956A1,EP0658810A1およびDE19520563Aに記載
されている。
【0004】 適切な透明な媒体においても、DUVにおける高い光子エネルギによって、吸
収を増加する長時間障害が現れる。即ち、石英の場合、色中心の生成という障害
が現れる。更に、“コンパクション(Compaction)”として知られる材料圧密が
起きる。
【0005】 石英部材の製造時、170−200nmの範囲の石英の透過率を500℃以上
における加圧・加熱処理によって改善できるということは、日本公開JP−A7
/061828から公知である。
【0006】 ヨーロッパ特許EP0532236Aには、同期放射系またはエキシマレーザ
を使用し、形状変化を補償するため、UV光下の加熱によって光学素子、特に、
マスクを昇温する系が記載されている。温度が90℃以下に保持され(図6)、
従って、加熱を行わずにUV光のみで達成される最高温度を有意には越えない加
熱屈折素子を含む例が示されているに過ぎない(例えば、図2,4参照)。
【0007】 特に、半導体エレクトロニクスにおいて知られているように、高い運転温度は
、劣化プロセスを加速することになる。
【0008】 高いUV線量によって色中心に起因する上記の高い吸収を示す石英ガラス部材
は、約350℃まで加熱することによって、本来の透過率を取りもどすというこ
とが判明している。
【0009】 更に、石英の昇温を招く高い平均出力(高いパルス周波数)の入射UV線量(
248nmエキシマレーザ)による吸収増はゆっくり進行するということが判っ
ている。
【0010】 ヨーロッパ特許EP0375534B1には、フォトマスクおよびUV露光(
例えば、波長248nmのCaF2における露光)による色中心形成によってマ スク構造を製造する製造法が記載されている。加熱によって、構造を再び除去で
きる。
【0011】 米国特許US5621843には、波長325nm以下のUVで使用するため
の石英ガラス製光伝送繊維が記載されている。光伝送繊維を200℃−400℃
の温度レベルに保持し、かくして、色中心の再結合および発生を最低濃度におい
て平衡させることを意図する。各種の加熱法が提示されている。
【0012】 Pianoら、SPIE Microlitography 1997,p8
73〜には、高温によって圧密にもプラスの影響が与えられることが記載されて
いる。
【0013】 発明の開示 本発明の課題は、UV光に対して高い耐光性を有する上述の種類の光学系を提
供することにある。
【0014】 この課題は、少なくとも1つの光学素子が100℃以上の運転温度にあるとい
う請求項1の特徴記載部分に開示の特徴を有する光学系によって解決される。1
00℃以上の耐熱性を定めた請求項10についても同様のことが云える。即ち、
本発明にもとづき、製造時および使用時にできる限り一貫して常温の近傍に光学
系を保持することは、完全に普及している慣行とは異なる。
【0015】 米国特許US5621843には、高温によって色中心形成を安定化できるこ
とが示されている。従来の光学素子に現れる熱膨張などの問題は、人工衛星搭載
の光学系について知られている如き取付技術によって解決できる。
【0016】 光学的デザインによって、光学計算において運転温度の高い場合の形状を決定
でき、従来の温度における生産のために、熱膨張にもとづき変更された形状パラ
メータを決定できる。
【0017】 石英ガラスと金属ホルダとの間の結合手段としてのパテは、全部を金属技術に
よって、例えば、東独特許DD204320に記載の電気めっきによって置換え
ることができる。もちろん、完全な金属リングとする必要はなく複数の局部的ラ
グでもよい。
【0018】 熱膨張の異なる部材を無応力状態で結合するための高精度の懸架部材は、例え
ば、本出願人のドイツ実用新案DE29603024U1およびこの新案に提示
されている先行技術に記載されている。
【0019】 最大UV光の負荷を受ける光学系の部分には、即ち、照明系には、請求項2に
もとづき高い運転温度を適用するのが好ましい。
【0020】 請求項3にもとづき、好ましい光源はエキシマレーザである。なぜならば、こ
の場合、短い波長(特に、248nm,193nm,157nm)において高い
放射出力密度が達成されるからである。
【0021】 本発明の好ましい適用分野は、請求項4に記載のマイクロリソグラフィー用投
影露光系である。なぜならば、これは、寿命の向上および光学的性質の安定化に
極めて大きい経済的意味がある極めて高価な光学系であるからである。
【0022】 投影露光装置(例えば、上述の装置)の若干の照明系に光混合素子(カレイド
スコープ)として使用されるガラスロッドは、特に、高い運転温度において使用
される(請求項5)。これは、放射強度が高く且つ光路が大きい、即ち、吸収長
さが大きい光源の極めて近くにある素子である。
【0023】 上記素子は、例えば、公知のレーザポンプ装置と類似の、楕円形シリンダミラ
ーを有する平行に配置されたIR光源によって加熱できる。
【0024】 他の部材、レンズおよびレンズ群、特に、全照明光学系も加熱できる。しかし
ながら、投影露光装置の全光学系(レチクルも含む)も加熱できる。
【0025】 色中心形成の補償のために、石英ガラス部材の正確な温度は、あまり重要では
ない。なぜならば、熱力学的効果が重要であるからである。しかしながら、光学
的作用のために、正確で安定な温度調節が必要である。熱応力を避けるため、ゆ
っくり加熱する。
【0026】 請求項6にもとづき、石英ガラス素子またはフッ化カルシウム素子に本発明を
適用するのが好ましい。
【0027】 対応する方法は、請求項7−9の対象である。
【0028】 運転温度は、− 約100℃以上 −熱的変形などにもとづき、できる限り低く
保持する。UV照明中、色中心数は増加することになる。なぜならば、エキシマ
レーザのパルス休止期間によって且つ運転休止時(例えば、ステッパの位置変更
時またはウエファ交換時)のレーザ光のフェードアウトによって、補償のための
純粋な再結合の時間が与えられるからである。
【0029】 更に、停止時間においても、加熱を行うことができる。この場合、高温におい
て、光学的仕様が損なわれることになる。この場合、色中心総数が減少する。
【0030】 図面を参照して本発明を詳細に説明する。
【0031】 発明を実施するための最良の形態 図1の投影露光装置は、ウエファステッパおよびウエファスキャナとして知ら
れている態様で、低UV(真空)の、例えば、波長248nmまたは193nm
のエキシマレーザ1と、光束拡張系2と、ズームおよびアキシコンを含む調整光
学系3と、光の混合および均質化を行うガラスロッド4と、レチクル付マスキン
グ絞り5と、REMAレンズ6と、レチクル7と、投影レンズ8と、露光される
ウエファ9とからなる。
【0032】 この場合、本発明にもとづき、ガラスロッド4は、ホルダ12とともに、楕円
形シリンダミラー11の1つの焦点を通る線に沿って配置されている。第2の焦
点を通る線に沿って、IR放射器が設けてある。最も簡単な場合、これは、電気
的加熱ワイヤである。他の系は、場合による若干のフッ化カルシウム製素子を除
いて他の伝送光学コンポーネントと同様、例えば、DUV放射に適した特に最適
化された石英ガラス(例えば、ヨーロッパ特許EP0401845参照)からな
るガラスロッド4の特定の吸収帯域に適切に同調されている。
【0033】 ガラスロッド4は、運転温度において系の光軸Aに心合わせされ、室温(貯蔵
温度)から運転温度までのすべての温度において最小の応力を受け、従って、ホ
ルダ12は、その構造および材料選択が、特に、有害な応力複屈折が現れないよ
うに設計されている。
【0034】 給電ユニット13は、1つまたは複数の温度センサ15およびシステムコンピ
ュータ14と共働して、IR放射器10を制御、調節し、かくして、選択された
運転温度が安定に保持される。運転温度は、150℃−250℃にあれば好まし
く、構造および放射負荷に応じて個々に定める。
【0035】 楕円形シリンダミラー11の端部スクリーン11a,11bは、熱放射に対し
て隣接の構造群3,5,6を遮蔽するのに役立つ。ガラスロッド4の端面および
/またはレンズ群3,6の隣接面に、同一の目的のため、二色層を設けることが
できる。
【0036】 他の好ましくは加熱される光学素子は、エキシマレーザ1の出口窓1aおよび
構造群2または3のすべてまたは一部である。
【0037】 図2に、図1の装置のガラスロッド4の範囲の横断面図を示した。フラッシュ
ランプによって励起されるレーザロッドのポンピング光学系において知られてい
る装置において、1つの焦点を通る線の範囲からIR放射器10によって放射さ
れたIR光は、もちろん近似形状であってもよい楕円形シリンダミラー11によ
って、第2焦点を通る線のまわりに中心を合わせたガラスロッド4へ屈折され、
このガラスロッドに吸収される。この場合、全面から十分に均一な加熱が行われ
る。
【0038】 図3に、第2実施形態を示した。この場合、例えば図1の構造群2−6を含む
全照明装置20は、主コンピュータ14の監視下で加熱素子22および調節ユニ
ット23によって安定な高い運転温度を確保するスリーブ21内に設置され、加
熱される。レチクル7,投影レンズ8およびウエファ9は、通常温度にある。ウ
エファ9のみは、通常、100℃以上の高温に加熱できない。なぜならば、さも
ないと、ウエファ内に破壊プロセスが進行するからである。しかしながら、レチ
クル7および投影レンズ8は、基本的に加熱でき、上述の利点が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 放射加熱されるガラスロッドを有するマイクロリソグラフィー投影露光装置の
略図である。
【図2】 ガラスロッドの放射加熱状態を示す略横断面図である。
【図3】 照明系を加熱する形式の投影露光装置の略図である。
【手続補正書】特許協力条約第34条補正の翻訳文提出書
【提出日】平成11年10月22日(1999.10.22)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 紫外線光源(1)と少なくとも1つの屈折光学素子(2,3
    ,4,6,8)とを有する光学系において、光学素子(4)の運転温度が、10
    0℃以上(特に、150℃−250℃)であることを特徴とする光学系。
  2. 【請求項2】 該光学系が、照明系(20)および結像系(8)を含み、運
    転温度の高い光学素子が、照明系(20)に設けてあることを特徴とする請求の
    範囲第1項記載の光学系。
  3. 【請求項3】 光源(1)が、エキシマレーザであることを特徴とする請求
    の範囲第1項または第2項記載の光学系。
  4. 【請求項4】 マイクロリソグラフィーのための投影露光系として構成され
    ていることを特徴とする請求の範囲第1−3項の少なくとも1つに記載の光学系
  5. 【請求項5】 該光学系が、光混合素子としてガラスロッド(4)を含み、
    上記ガラスロッド(4)が、高い運転温度を有することを特徴とする請求の範囲
    第4項記載の光学系。
  6. 【請求項6】 石英ガラスまたはフッ化カルシウムからなる光学素子が、高
    い温度を有することを特徴とする請求の範囲第1−5項の少なくとも1つに記載
    の光学系。
  7. 【請求項7】 紫外線光源(1)と、少なくとも1つの屈折光学素子(2,
    3,4,6,8)とを有する光学系の運転法において、紫外線光源(1)の放射
    によらずに少なくとも1つの光学素子(4)を加熱し、100℃以上の温度に保
    持することを特徴とする方法。
  8. 【請求項8】 素子(4)の温度を150℃−250℃の範囲の数値に保持
    することを特徴とする請求の範囲第7項記載の光学系。
  9. 【請求項9】 光学素子(4)を放射で加熱することを特徴とする請求の範
    囲第7項または第8項記載の光学系。
  10. 【請求項10】 紫外線光源(1)と少なくとも1つの屈折光学素子(2,
    3,4,6,8)とを有し、特に、マイクロリソグラフィーの投影露光系として
    構成された光学系において、屈折光学素子を含む少なくとも1つの系部分が、1
    00℃以上の温度に耐えるよう構成されていることを特徴とする光学系。
JP2000523584A 1997-11-28 1998-11-17 低劣化性のuv光学系 Pending JP2001525605A (ja)

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DE19752713.2 1997-11-28
DE19752713A DE19752713A1 (de) 1997-11-28 1997-11-28 UV-Optisches System mit reduzierter Alterung
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JP2000523584A Pending JP2001525605A (ja) 1997-11-28 1998-11-17 低劣化性のuv光学系

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JP (1) JP2001525605A (ja)
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DE (2) DE19752713A1 (ja)
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EP1034456B1 (de) 2003-05-07
EP1034456A1 (de) 2000-09-13
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