JP2001311800A - Electron beam irradiation target - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば火力発電所
から排出される排ガスの処理等に使用される電子線照射
装置、又は例えば樹脂の架橋等の物質の改質に用いられ
る大電流照射用の電子線照射装置等の試験に用いて好適
な電子線照射用ターゲットに関する。具体的には、電子
取出し用の窓箔から電子線を走査しつつ大気中に放出す
る電子線照射装置を試験するに際して、電子線を照射す
る電子線照射用ターゲットに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electron beam irradiation apparatus used for treating exhaust gas discharged from a thermal power plant, for example, or a large current irradiation apparatus used for modifying a substance such as resin cross-linking. The present invention relates to an electron beam irradiation target suitable for use in a test of an electron beam irradiation apparatus or the like. Specifically, the present invention relates to an electron beam irradiation target that irradiates an electron beam when testing an electron beam irradiation apparatus that emits an electron beam into the atmosphere while scanning the electron beam from a window foil for taking out electrons.
【0002】[0002]
【従来の技術】現在、世界的に問題となっている大気汚
染による地球の温暖化や酸性雨等は、例えば火力発電所
等から排出される燃焼排ガス中に存在する、SOx、N
Ox等の成分に起因していると考えられる。これらのS
Ox、NOx等の有害成分を除去する方法として、燃焼
排ガスに電子線を照射することによって、脱硫・脱硝
(SOx、NOx等の有害成分の除去)を行うことが実
施されている。このような電子線照射装置は、真空中で
高速に加速した大電流の電子線をなるべく広範囲に走査
しつつ大気中に放出する必要がある。このため、電子線
の取出しには高速電子に対して高い透過効率を有するチ
タン等の薄膜からなる窓箔が一般に使用されている。そ
して、電子線の照射は例えば3m×0.6mの範囲に電
子線を走査することが行われている。2. Description of the Related Art At present, global warming and acid rain caused by air pollution, which have become a problem worldwide, are present in combustion exhaust gas discharged from, for example, thermal power plants.
It is thought to be due to components such as Ox. These S
As a method for removing harmful components such as Ox and NOx, desulfurization and denitration (removal of harmful components such as SOx and NOx) are performed by irradiating combustion exhaust gas with an electron beam. In such an electron beam irradiation apparatus, it is necessary to emit a high-current electron beam accelerated in a vacuum at a high speed into the atmosphere while scanning as widely as possible. For this reason, a window foil made of a thin film of titanium or the like having a high transmission efficiency for high-speed electrons is generally used for extracting an electron beam. In the irradiation of the electron beam, for example, the electron beam is scanned in a range of 3 m × 0.6 m.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】かかる電子線照射装置
の試験においては、高電圧大電流の電子線が走査されつ
つ窓枠から大気中に放出されるが、この電子線の照射を
受けるターゲットを電子線の照射面に配置する必要があ
る。仮に、電子線の被照射物が存在しない状態で電子線
を放出すると、例えば被照射物を収納する部材に電子線
が照射されることになり好ましくない影響が生じるから
である。このような電子線照射用ターゲットとしては、
電子線を完全に遮蔽することができるように、内部に冷
却液を流通する金属管を多数配列して用いるのが一般的
である。これにより、電子線照射により生じる熱が金属
管内部に流通する水等の冷却液により除去され、電子線
の照射による発熱等を処理しつつ電子線照射装置の試験
を行うことができる。In a test of such an electron beam irradiation apparatus, an electron beam of a high voltage and a large current is emitted into the atmosphere from a window frame while being scanned. It is necessary to arrange on the irradiation surface of the electron beam. This is because, if the electron beam is emitted in a state where the object to be irradiated with the electron beam does not exist, for example, the member that stores the object to be irradiated is irradiated with the electron beam, which has an undesirable effect. As such an electron beam irradiation target,
In general, a large number of metal tubes through which a coolant flows are arranged and used so that the electron beam can be completely shielded. Thereby, the heat generated by the electron beam irradiation is removed by the cooling liquid such as water flowing inside the metal tube, and the test of the electron beam irradiation apparatus can be performed while processing the heat generated by the electron beam irradiation.
【0004】しかしながら、電子線の照射は例えば上述
したように3m×0.6mの照射面を略矩形状に走査す
ることが行われている。その走査した電子線の照射密度
が高い部分があり、その部分での電子線照射用ターゲッ
トの発熱が大きくなるという問題がある。このように電
子線の照射密度が高い部分で発熱が大きくなると、その
部分で金属管の熱膨張が大きくなるため、金属管が座屈
し易くなるという問題がある。また、冷却水中のCaイ
オンが飽和限界に達し、Ca化合物(例えばCaC
O3)となり析出する。Ca化合物が析出すると、その
部分で熱伝達率が急激に悪化して温度が更に上昇し、加
速度的に析出が進行し、金属管はその温度上昇で破損
し、冷却液漏れ等の問題が生じることになる。[0004] However, as for the irradiation of the electron beam, for example, as described above, the irradiation surface of 3m x 0.6m is scanned in a substantially rectangular shape. There is a portion where the irradiation density of the scanned electron beam is high, and there is a problem that heat generation of the electron beam irradiation target in that portion increases. If the heat generation increases in a portion where the electron beam irradiation density is high as described above, there is a problem that the metal tube easily buckles because the thermal expansion of the metal tube increases in that portion. In addition, Ca ions in the cooling water reach the saturation limit, and Ca compounds (eg, CaC
O 3 ) and precipitate. When the Ca compound precipitates, the heat transfer coefficient deteriorates abruptly at that part, the temperature further rises, the precipitation proceeds at an accelerated rate, and the metal tube breaks due to the temperature rise, causing problems such as coolant leakage. Will be.
【0005】本発明は上述した事情に鑑みて為されたも
ので、電子線の照射により局部的な発熱等の問題が生じ
ても容易に交換可能な電子線照射用ターゲットを提供す
ることを目的とする。又、広範囲に角度を有して走査さ
れる電子線に対して、その照射を均一に受け、且つ発熱
を均一に生じさせることができる電子線照射用ターゲッ
トを提供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide an electron beam irradiation target that can be easily replaced even when a problem such as local heat generation due to electron beam irradiation occurs. And It is another object of the present invention to provide an electron beam irradiation target capable of uniformly receiving irradiation of an electron beam scanned at an angle over a wide range and generating heat uniformly.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、高電圧大電流の電子線を走査して照射するターゲッ
トであって、内部に冷却液を流通する多数の金属管を前
記電子線の照射面に沿って配列し、該金属管の配列を複
数の区画に分割したことを特徴とする電子線照射用ター
ゲットである。According to a first aspect of the present invention, there is provided a target for scanning and irradiating an electron beam having a high voltage and a large current, wherein a plurality of metal tubes through which a cooling liquid flows are connected to the electron tube. An electron beam irradiation target characterized by being arranged along a line irradiation surface and dividing the arrangement of the metal tubes into a plurality of sections.
【0007】これにより、電子線照射装置の試験に当た
り、電子線照射が局部的に集中し、その部分で発熱が大
きいような場合にも金属管の配列を複数の区画に分割し
てあるので、その部分のみを交換することができる。従
って、電子線照射装置の試験を安全且つ確実に行うこと
ができる。In this way, in the test of the electron beam irradiation apparatus, the arrangement of the metal tubes is divided into a plurality of sections even when the electron beam irradiation is locally concentrated and the portion generates a large amount of heat. Only that part can be replaced. Therefore, the test of the electron beam irradiation device can be performed safely and reliably.
【0008】請求項2に記載の発明は、前記金属管の配
列は少なくとも2層であり、第1層の金属管の配列間の
隙間を通して照射される電子線が第2層に配列に配列し
た金属管を照射するように、第1層の金属管と第2層の
金属管とをずらして配置したことを特徴とする電子線照
射用ターゲットである。In the invention according to claim 2, the arrangement of the metal tubes is at least two layers, and the electron beams irradiated through the gaps between the arrangement of the first layers of metal tubes are arranged in the second layer. An electron beam irradiation target, wherein the metal tube of the first layer and the metal tube of the second layer are staggered so as to irradiate the metal tube.
【0009】これにより、電子線照射装置から照射され
る電子線の全てが金属管に照射されるので、照射用ター
ゲットを通過して電子線が周辺部を照射するという問題
がなくなる。又、第1層側の金属管と第2層側の金属管
の双方に電子線が照射されるので、その両者間での発熱
が分散される。従って、金属管損耗及び金属管内のCa
析出を低減し、長期間の使用に耐える電子線照射用ター
ゲットとすることができる。Thus, since all of the electron beams irradiated from the electron beam irradiation device are irradiated on the metal tube, the problem that the electron beam passes through the irradiation target and irradiates the peripheral portion is eliminated. In addition, since the electron beam is applied to both the first layer side metal tube and the second layer side metal tube, heat generated between the two layers is dispersed. Therefore, metal tube wear and Ca in the metal tube
A target for electron beam irradiation that can reduce precipitation and can be used for a long time can be obtained.
【0010】請求項3に記載の発明は、高電圧大電流の
電子線を走査して照射するターゲットであって、内部に
冷却液を流通する多数の金属管を前記電子線の照射面に
沿って配列し、前記金属管の配列は少なくとも2層であ
り、第1層の金属管の配列間の隙間を通して照射される
電子線が第2層に配列した金属管を照射するように、第
1層の金属管と第2層の金属管とをずらして配置し、該
金属管の配列を複数の区画に分割したことを特徴とする
電子線照射用ターゲットである。According to a third aspect of the present invention, there is provided a target for scanning and irradiating an electron beam having a high voltage and a large current, wherein a number of metal tubes through which a cooling liquid flows are formed along the irradiation surface of the electron beam. The metal tubes are arranged in at least two layers, and the first tube is arranged such that the electron beam irradiated through the gap between the arrays of the metal tubes in the first layer irradiates the metal tubes arranged in the second layer. An electron beam irradiation target, wherein a metal tube of a layer and a metal tube of a second layer are arranged so as to be shifted from each other, and the arrangement of the metal tubes is divided into a plurality of sections.
【0011】[0011]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
図1乃至図4を参照しながら説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.
【0012】図1(a)は本発明の電子線照射装置とそ
の試験に用いられる照射用ターゲットの配置を示す。こ
の電子線照射装置は燃焼排ガスの処理に用いられるもの
で、直流高電圧を発生する電源装置10と、電子線を燃
焼排ガスに照射する電子線照射装置11と、その装置1
1の電子線の照射出口である窓箔15に沿って設けられ
た燃焼排ガスの流路19とから主として構成されてい
る。例えばTi等の薄板からなる窓箔15から外部に放
出された電子線は、燃焼排ガス中の酸素(O2)、水蒸
気(H2O)などの分子を照射することにより、これら
は非常に酸化力の強い、OH、O、HO2等のラジカル
となる。そしてこれらのラジカルが、SOx及びNOx
等の有害成分を酸化し、中間生成物である硫酸と硝酸と
を生成する。これらの中間生成物は、あらかじめ投入し
ておいたアンモニアガス(NH3)と反応し、硫安及び
硝安となり、肥料の原料として回収される。従って、こ
のような排ガス処理システムにおいては、燃焼排ガス中
から有害なSOx、NOx等の成分を除去することがで
きると共に、その副生品として有用な硫安・硝安等の肥
料の原料として回収することができる。FIG. 1A shows an electron beam irradiation apparatus according to the present invention and an arrangement of irradiation targets used for the test. This electron beam irradiation apparatus is used for treating combustion exhaust gas, and includes a power supply device 10 for generating a DC high voltage, an electron beam irradiation apparatus 11 for irradiating an electron beam to the combustion exhaust gas,
It mainly comprises a flue gas flow path 19 provided along the window foil 15 which is an electron beam irradiation outlet. For example, the electron beam emitted to the outside from the window foil 15 made of a thin plate of Ti or the like is extremely oxidized by irradiating molecules such as oxygen (O 2 ) and water vapor (H 2 O) in the combustion exhaust gas. It becomes a strong radical such as OH, O, and HO 2 . And these radicals form SOx and NOx
Oxidizes harmful components such as sulfuric acid and nitric acid as intermediate products. These intermediate products react with ammonia gas (NH 3 ) charged in advance, become ammonium sulfate and ammonium nitrate, and are collected as raw materials for fertilizer. Therefore, in such an exhaust gas treatment system, it is possible to remove harmful components such as SOx and NOx from the combustion exhaust gas and to collect them as raw materials for fertilizers such as ammonium sulfate and ammonium nitrate which are useful as by-products. Can be.
【0013】ここで、電子線照射装置11は、熱電子フ
ィラメント等の熱電子発生源12と、その熱電子発生源
12より放出された電子を加速する加速管13と、その
加速管にて形成された高エネルギーの電子線に磁界を印
加することでそのビーム径を制御すると共に方形波電流
により磁界を印加することで電子線を短手方向に偏向す
る偏向用コイル(電磁石)16と、そのビーム径が制御
された電子線に磁界を印加することで電子線を長手方向
に走査する走査用コイル(電磁石)17とから主に構成
されている。これらのうち、電子線の発生源、加速用電
極、偏向走査用磁極等は、外囲器(真空容器)18a,
18b内に収納され、外囲器内は10− 6Pa程度の高
真空雰囲気下に保持される。形成された高エネルギーの
電子線は、偏向用コイル16及び走査用コイル17にそ
れぞれ電源21,22より電流を供給して電磁石により
磁界を形成することで、偏向、走査されつつ、照射窓
(窓箔)15より排ガスの流路19の所定の範囲に出射
される。Here, the electron beam irradiation device 11 is formed by a thermionic electron source 12 such as a thermionic filament, an accelerating tube 13 for accelerating the electrons emitted from the thermionic electron source 12, and the accelerating tube. A deflection coil (electromagnet) 16 for controlling the beam diameter by applying a magnetic field to the high-energy electron beam and applying a magnetic field by a square-wave current to deflect the electron beam in the lateral direction; It mainly includes a scanning coil (electromagnet) 17 that scans the electron beam in the longitudinal direction by applying a magnetic field to the electron beam whose beam diameter is controlled. Among them, the source of the electron beam, the electrode for acceleration, the magnetic pole for deflection scanning, and the like are provided in the envelope (vacuum container) 18a,
It housed within 18b, inside the envelope 10 - are maintained under high vacuum atmosphere of about 6 Pa. The formed high-energy electron beam is deflected and scanned by supplying current from the power sources 21 and 22 to the deflection coil 16 and the scanning coil 17 to form a magnetic field by the electromagnet, thereby irradiating the irradiation window (window). The exhaust gas is emitted from the foil 15 into a predetermined range of the flow path 19 of the exhaust gas.
【0014】このような電子線照射装置は、真空中で高
速に加速した電子線を上述したように大気中に取出す必
要がある。このため、電子線の取出しには、電子の高い
透過効率を達成するため、厚さが数十μmの純チタン膜
やチタン合金膜製の窓箔15が一般に使用されている。
係る電子線照射装置における電子線の照射は、比較的大
きな面積を有する窓箔から万遍なく電子線を放出するよ
うに、上述したように偏向用コイル16で短手方向に偏
向すると共に走査用コイル17で長手方向に走査する。
走査用コイル17には、三角波電流が三角波発生電源2
2から供給され、これにより電子線を図1(b)に示す
ように長手方向(Y方向)に走査する。一方で、偏向用
コイル16には、台形状の電流が方形波発生電源21か
ら供給され、これにより電子線は短手方向(X方向)に
走査される。三角波電流と方形波電流とは同期してお
り、この場合三角波のピークが方形波の立上がりの中点
に一致するように同期している。従って、偏向用コイル
16及び走査用コイル17により走査された電子線の軌
道は、図1(b)に符号31で示すような長六角形状と
なる。In such an electron beam irradiation apparatus, it is necessary to extract an electron beam accelerated at high speed in a vacuum to the atmosphere as described above. For this reason, a window foil 15 made of a pure titanium film or a titanium alloy film having a thickness of several tens of μm is generally used for extracting an electron beam in order to achieve high electron transmission efficiency.
Irradiation of the electron beam in such an electron beam irradiation apparatus is performed by deflecting in the transverse direction by the deflecting coil 16 and scanning as described above so that the electron beam is uniformly emitted from the window foil having a relatively large area. Scanning is performed in the longitudinal direction by the coil 17.
A triangular wave current is supplied to the scanning coil 17 by the triangular wave generating power supply 2.
2 to scan the electron beam in the longitudinal direction (Y direction) as shown in FIG. On the other hand, a trapezoidal current is supplied to the deflection coil 16 from the square wave generation power supply 21, whereby the electron beam is scanned in the short direction (X direction). The triangular wave current and the square wave current are synchronized. In this case, the triangular wave is synchronized so that the peak of the triangle wave coincides with the midpoint of the rising of the square wave. Accordingly, the trajectory of the electron beam scanned by the deflecting coil 16 and the scanning coil 17 has a long hexagonal shape as indicated by reference numeral 31 in FIG.
【0015】電子線照射装置11の試験運転時において
は、流路19には電子線の照射対象物である排ガス等が
存在していない。このため、電子線照射装置の試験運転
時に高電圧大電流の電子線が窓箔15より放出される
と、この電子線はそのまま流路19の周辺部に到達し、
これを加熱し流路の周辺部そのものを改質してしまう等
の問題が生じる。このため、電子線照射装置の試験運転
時にはターゲット30を配置し、これに電子線が照射さ
れ、流路の周辺部を遮蔽するようにしている。尚、図1
(a)では電子線照射用ターゲット30を流路19が塞
がれる位置に配置したが、この位置は適宜変更が可能で
ある。At the time of the test operation of the electron beam irradiation apparatus 11, there is no exhaust gas or the like to be irradiated with the electron beam in the flow path 19. For this reason, when the electron beam of high voltage and large current is emitted from the window foil 15 during the test operation of the electron beam irradiation device, the electron beam reaches the periphery of the flow path 19 as it is,
There is a problem in that this is heated to reform the periphery of the flow path itself. For this reason, during the test operation of the electron beam irradiation device, the target 30 is arranged, and the target 30 is irradiated with the electron beam to shield the peripheral portion of the flow path. FIG.
In (a), the electron beam irradiation target 30 is arranged at a position where the flow path 19 is closed, but this position can be changed as appropriate.
【0016】電子線照射用ターゲット30は、図1
(b)に示すように、5個のブロックに分割されてい
る。各ブロックのターゲットは後述するように多数の内
部に冷却水を流通する金属管から構成されている。図中
符号31は、電子線の中心部の走査軌跡を示し、図示す
るように電子線の中心部は長六角形の軌道に走査され
る。長手方向の走査において図中A,A′の部分は、電
子線が停滞したり、部分的に発熱密度が高くなる。従っ
て、この部分で電子線の照射により金属管内部に電子線
照射密度が高くなる部分では、Caが析出し更に高温に
なるため金属管が破損する傾向がある。このため、ター
ゲット30を複数のブロックに分割し、水漏れ等の事故
発生前に交換可能とすることで損耗の著しいブロックを
交換することができる。The electron beam irradiation target 30 is shown in FIG.
As shown in (b), it is divided into five blocks. The target of each block is composed of a large number of metal tubes through which cooling water flows, as described later. Numeral 31 in the figure indicates a scanning trajectory of the center of the electron beam. As shown, the center of the electron beam is scanned along a long hexagonal trajectory. In the scanning in the longitudinal direction, the portions A and A 'in the figure have the electron beam stagnation or have a partially high heat generation density. Therefore, in this portion where the electron beam irradiation density is high inside the metal tube due to the irradiation of the electron beam, Ca precipitates and becomes higher in temperature, so that the metal tube tends to be damaged. For this reason, the target 30 is divided into a plurality of blocks and can be replaced before an accident such as water leakage occurs, so that a block that is significantly worn can be replaced.
【0017】図2(a)(b)(c)は、ターゲット3
0の全体構成を示し、図3(a)(b)(c)はターゲ
ットの位置A,B,Cにおける長手方向拡大断面を示
し、図4はターゲットの短手方向の拡大断面をそれぞれ
示している。図示するようにターゲット30は冷却水を
流通する金属管32,33が多数配列されたものであ
る。そして、金属管32,33は上層及び下層の2層に
配列されている。金属管32,33の両側にはヘッダ3
4,35が配置され、ヘッダにはそれぞれ給排水管3
6,37がそれぞれ接続されている。従って、一方の給
排水管36より水がヘッダ34内に流れ、ヘッダ34か
ら多数の金属管32,33を通して他方のヘッダ35に
冷却水が流れ、その冷却水は更に給排水管37を介して
外部に排出される。給排水管36,37の端部には、O
リングタイプの配管シール部材38,39が配置され、
外部からの冷却水配管と接続するようにしている。従っ
て、ターゲット30のブロックの交換に当たっては、こ
の配管シール部材を緩め、容易に給排水管36,37を
取り外し及び再装着することができる。FIGS. 2A, 2B and 2C show a target 3
3A, 3B, and 3C show enlarged cross sections in the longitudinal direction at positions A, B, and C of the target, and FIG. 4 shows enlarged cross sections in the lateral direction of the target. I have. As shown in the figure, the target 30 has a large number of metal tubes 32 and 33 through which cooling water flows. The metal tubes 32 and 33 are arranged in two layers, an upper layer and a lower layer. Headers 3 on both sides of metal tubes 32 and 33
4 and 35 are arranged, and the water supply and drainage pipe 3
6, 37 are connected respectively. Therefore, water flows into the header 34 from one of the water supply / drain pipes 36, and cooling water flows from the header 34 to the other header 35 through a number of metal pipes 32, 33, and the cooling water further flows to the outside through the water supply / drain pipe 37. Is discharged. At the ends of the plumbing pipes 36 and 37, O
Ring type pipe seal members 38 and 39 are arranged,
It is connected to an external cooling water pipe. Therefore, when the block of the target 30 is replaced, the pipe seal member is loosened, and the water supply / drain pipes 36 and 37 can be easily removed and reattached.
【0018】図3(a)(b)(c)は、それぞれ図2
におけるA,B,C部の金属管の配置関係を示してい
る。 図3(a)(b)(c)において、それぞれ矢印
は電子線の照射方向を示す。即ち、図1に示すように電
子線の照射にあたり、電子線はその長手方向に沿ってか
なり大きな角度で偏向走査される。このため電子線の照
射方向は、図2におけるターゲット30の端部に近い部
分Aにおいては、電子線が斜め方向に入射する。これに
対して、より中央部に近いB部においては電子線はやや
垂直に近い斜め方向から入射する。そして、より中央部
に近いC部においては電子線は垂直に近い方向から入射
する。従って、この電子線の照射方向にあわせて上層の
金属管32の配置と、下層の金属管33との配置との間
に適当なずれを設けることで電子線が全てターゲットに
より遮蔽されるように配置することができる。FIGS. 3 (a), 3 (b), and 3 (c) are respectively shown in FIG.
2 shows the arrangement relationship of the metal tubes of the A, B, and C portions. 3 (a), 3 (b) and 3 (c), each arrow indicates the direction of irradiation of the electron beam. That is, as shown in FIG. 1, upon irradiation with an electron beam, the electron beam is deflected and scanned at a considerably large angle along its longitudinal direction. Therefore, the irradiation direction of the electron beam is oblique to the part A near the end of the target 30 in FIG. On the other hand, in the part B closer to the center, the electron beam enters from an oblique direction that is slightly vertical. Then, in the portion C closer to the center, the electron beam enters from a direction nearly perpendicular. Accordingly, by providing an appropriate shift between the arrangement of the upper metal tube 32 and the arrangement of the lower metal tube 33 in accordance with the irradiation direction of the electron beam, all the electron beams are shielded by the target. Can be arranged.
【0019】即ち、端部に近いA部では2層の金属管3
2,33を略垂直方向に並べて配置する。これにより斜
め方向から入射する電子線が金属管間の隙間を通過する
ことなくその全てを遮蔽することができる。同様にB部
においては、上層の金属管32と下層の金属管33との
間を垂直方向から少しずらす。これにより図3(b)に
示す矢印方向の電子線の入射に対して、この全てを金属
管32,33で遮蔽することができる。更に、ターゲッ
ト30の中央部に近いC部においては、上層の金属管3
2に対して、下方の金属管33を千鳥状に近い状態でず
らして配置している。これにより垂直方向に近い矢印方
向の電子線の入射に対してその全てを遮蔽することがで
きる。このようにして、電子線の全てが遮蔽できるよう
に上層側の金属管32と下層側の金属管33との配置関
係を調整することで、電子線が金属管の間を通り、その
周辺部に漏洩することを防止できるとともに、上層の金
属管と下層の金属管に電子線を効率よく照射することが
でき、熱放散及び熱吸収を均一に近くすることができる
ため、金属管32,33の間で温度差が少なくなるの
で、金属管32,33の熱膨張が等しくなり、座屈が生
じにくくなる。That is, in part A near the end, a two-layer metal tube 3
2, 33 are arranged in a substantially vertical direction. This makes it possible to shield all the electron beams incident from oblique directions without passing through the gap between the metal tubes. Similarly, in the portion B, the space between the upper metal tube 32 and the lower metal tube 33 is slightly shifted from the vertical direction. Thereby, all of the electron beams in the direction of the arrow shown in FIG. 3B can be shielded by the metal tubes 32 and 33. Further, in the portion C near the center of the target 30, the upper metal tube 3
2, the lower metal tube 33 is displaced in a staggered manner. This makes it possible to shield all of the electron beams incident in the direction of the arrow close to the vertical direction. In this way, by adjusting the positional relationship between the upper metal tube 32 and the lower metal tube 33 so that all of the electron beams can be shielded, the electron beam passes between the metal tubes and the peripheral portion thereof. To the upper metal tube and the lower metal tube can be efficiently irradiated with an electron beam, and the heat dissipation and heat absorption can be made nearly uniform. , The thermal expansion of the metal tubes 32 and 33 becomes equal, and buckling is less likely to occur.
【0020】次にこの電子線照射用ターゲットの使用方
法について説明する。電子線照射装置の試験に際して
は、電子が放出される部分にこのターゲット30を配置
する。このターゲットは、上述したようにブロック30
a,30b,30c,30d,30eと分割されている
ので、これらを個別に電子線の照射予定部分に搬入して
適当な枠体等を用いて配置する。そして、外部より給排
水用のパイプをそれぞれ配管シール部材38,39を用
いて給排水管36,37に接続する。そして、外部より
冷却水を流通しつつ、電子線照射装置の運転試験を行
う。この時各ブロックの上層と下層の金属管32,33
の配置関係は、上述したように電子線の入射角度に対応
してずれを持たせている。これにより広角に走査される
電子線がターゲット30により完全に遮蔽され、周辺部
にターゲット30を通して漏出することがない。そし
て、上層及び下層の金属管32,33の双方に均一に電
子線が照射され、熱放散を均一化することができる。電
子線照射装置の試験において電子線の走査の過程で、上
述したように長手方向走査の端部A,A′で電子線が停
滞しその部分で局部的に過熱されることがあったり、部
分的に電子線の密度の高くなる部分がある。このような
場合には、その部分で金属管32,33が損耗するが、
このような場合には水漏れ等の事故に到る前にそのブロ
ックを交換することができる。交換は、配管シール部材
38,39を外して、同形のブロックに置き換え、再び
外部給排水間と接続するようにすればよい。これにより
容易に試験を続行することができる。電子線照射装置の
試験の終了後は、それぞれのブロック及び外部よりの給
排水管を除去することで、容易にターゲット30を撤去
することができる。Next, a method of using the electron beam irradiation target will be described. In the test of the electron beam irradiation apparatus, the target 30 is arranged at a portion from which electrons are emitted. This target is stored in block 30 as described above.
Since they are divided into a, 30b, 30c, 30d, and 30e, they are individually carried into a portion to be irradiated with an electron beam and arranged using a suitable frame or the like. Then, pipes for water supply and drainage are connected to the water supply and drainage pipes 36 and 37 from outside using pipe seal members 38 and 39, respectively. Then, an operation test of the electron beam irradiation apparatus is performed while cooling water is circulated from the outside. At this time, the upper and lower metal tubes 32 and 33 of each block are used.
Are shifted according to the incident angle of the electron beam as described above. Thereby, the electron beam scanned at a wide angle is completely shielded by the target 30 and does not leak through the target 30 to the peripheral portion. Then, both the upper and lower metal tubes 32 and 33 are uniformly irradiated with the electron beam, and the heat dissipation can be made uniform. In the test of the electron beam irradiation apparatus, during the scanning of the electron beam, the electron beam may stagnate at the ends A and A 'of the longitudinal scanning as described above, and the portion may be locally heated, There is a portion where the electron beam density becomes high. In such a case, the metal tubes 32 and 33 are worn at that portion,
In such a case, the block can be replaced before an accident such as water leakage occurs. For replacement, the pipe seal members 38 and 39 may be removed, replaced with a block of the same shape, and connected to the external water supply / drainage again. As a result, the test can be easily continued. After the test of the electron beam irradiation apparatus is completed, the target 30 can be easily removed by removing each block and the water supply / drainage pipe from outside.
【0021】尚、上述した説明においてはターゲット3
0をブロック30a,30b,30c,30d,30e
の5分割により構成したが、この分割数は使用現場等の
状況に合わせて適宜変更できることは勿論である。又、
上述した実施形態においては、金属配管を上層と下層の
2層に配置する例について示したが、3層以上に配置す
るようにしてもよい。しかしながら各層の熱放散を均一
にするという観点からは2層とすることが好ましい。
又、冷却水として水を使用する場合を述べたが、その他
の冷却媒体を使用しても良いことも勿論である。In the above description, the target 3
0 to blocks 30a, 30b, 30c, 30d, 30e
However, it is needless to say that the number of divisions can be appropriately changed according to the situation of the use site or the like. or,
In the above-described embodiment, an example has been described in which the metal pipes are arranged in two layers, the upper layer and the lower layer. However, the metal pipes may be arranged in three or more layers. However, from the viewpoint of uniform heat dissipation of each layer, it is preferable to use two layers.
In addition, although the case where water is used as the cooling water has been described, it is a matter of course that another cooling medium may be used.
【0022】[0022]
【発明の効果】以上説明したように、本発明の電子線照
射用ターゲットによれば、これを複数のブロックに分割
したので、その交換が容易であり、これにより水漏れ等
の問題を生じることなく安定に電子線照射装置の試験を
行うことができる。又、ターゲットにおいて上層の金属
管と下層の金属管の間に電子線照射方向に対応したずれ
を持たせることで、上層と下層のそれぞれの金属管に均
一に電子線が照射するようにでき、これにより電子線の
集中による金属管の損耗を低減することができる。As described above, according to the electron beam irradiation target of the present invention, since the target is divided into a plurality of blocks, it is easy to replace the target, thereby causing a problem such as water leakage. The test of the electron beam irradiation device can be stably performed without any problem. In addition, by giving a shift corresponding to the electron beam irradiation direction between the upper metal tube and the lower metal tube in the target, the upper and lower metal tubes can be uniformly irradiated with the electron beam, Thereby, the wear of the metal tube due to the concentration of the electron beam can be reduced.
【図1】(a)は電子線照射装置とターゲットの配置関
係を示す図であり、(b)は電子線照射用ターゲットに
おける電子線の走査軌跡例を示す図である。FIG. 1A is a diagram illustrating an arrangement relationship between an electron beam irradiation device and a target, and FIG. 1B is a diagram illustrating an example of an electron beam scanning locus on an electron beam irradiation target.
【図2】電子線照射用ターゲットの全体構成を示す図で
あり、(a)はその平面図、(b)はその長手方向に沿
った断面図、(c)はその短手方向に沿った断面図であ
る。FIGS. 2A and 2B are views showing the overall configuration of an electron beam irradiation target, wherein FIG. 2A is a plan view, FIG. 2B is a cross-sectional view along a longitudinal direction, and FIG. It is sectional drawing.
【図3】(a)は図2(a)のA部における金属管の配
置を示す図であり、(b)は図2(a)のB部における
金属管の配置を示す図であり、(c)は図2(a)のC
部における金属管の配置を示す図である。3A is a diagram showing an arrangement of a metal tube in a portion A of FIG. 2A, FIG. 3B is a diagram showing an arrangement of a metal tube in a portion B of FIG. 2A, (C) is C in FIG.
It is a figure showing arrangement of a metal tube in a part.
【図4】ターゲットの短手方向に沿った拡大断面図であ
る。FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view of a target along a lateral direction.
11 電子線照射装置 15 窓箔 16 偏向用コイル(電磁石) 17 走査用コイル(電磁石) 19 流路 21 方形波発生電源 22 三角波発生電源 30 電子線照射用ターゲット 31 電子線走査軌跡 32 上層(第一層)側の金属管 33 下層(第二層)側の金属管 34,35 ヘッダ 36,37 給排水管 38,39 配管シール部材 A,A′ 電子線軌道の折り返し点 REFERENCE SIGNS LIST 11 electron beam irradiation device 15 window foil 16 deflection coil (electromagnet) 17 scanning coil (electromagnet) 19 flow path 21 square wave generation power supply 22 triangular wave generation power supply 30 electron beam irradiation target 31 electron beam scanning locus 32 upper layer (first layer) Layer) side metal pipe 33 Lower layer (second layer) side metal pipe 34, 35 Header 36, 37 Water supply / drainage pipe 38, 39 Piping seal member A, A 'Turning point of electron beam orbit
Claims (3)
るターゲットであって、内部に冷却液を流通する多数の
金属管を前記電子線の照射面に沿って配列し、該金属管
の配列を複数の区画に分割したことを特徴とする電子線
照射用ターゲット。1. A target for scanning and irradiating an electron beam having a high voltage and a large current, wherein a plurality of metal tubes through which a cooling liquid flows are arranged along an irradiation surface of the electron beam. An electron beam irradiation target characterized by dividing the array of a plurality of sections.
るターゲットであって、内部に冷却液を流通する多数の
金属管を前記電子線の照射面に沿って配列し、前記金属
管の配列は少なくとも2層であり、第1層の金属管の配
列間の隙間を通過して照射される電子線が第2層に配列
した金属管を照射するように、第1層の金属管と第2層
の金属管とをずらして配置したことを特徴とする電子線
照射用ターゲット。2. A target for scanning and irradiating an electron beam having a high voltage and a large current, wherein a plurality of metal tubes through which a cooling liquid flows are arranged along an irradiation surface of the electron beam. Are arranged in at least two layers, and the first layer of metal tubes is arranged such that the electron beam irradiated through the gap between the arrays of the first layer of metal tubes irradiates the metal tubes arranged in the second layer. A target for electron beam irradiation, wherein the target and the metal tube of the second layer are displaced from each other.
るターゲットであって、内部に冷却液を流通する多数の
金属管を前記電子線の照射面に沿って配列し、前記金属
管の配列は少なくとも2層であり、第1層の金属管の配
列間の隙間を通過して照射される電子線が第2層に配列
した金属管を照射するように、第1層の金属管と第2層
の金属管とをずらして配置し、該金属管の配列を複数の
区画に分割したことを特徴とする電子線照射用ターゲッ
ト。3. A target for scanning and irradiating an electron beam having a high voltage and a large current, wherein a plurality of metal tubes through which a cooling liquid flows are arranged along an irradiation surface of the electron beam. Are arranged in at least two layers, and the first layer of metal tubes is arranged such that the electron beam irradiated through the gap between the arrays of the first layer of metal tubes irradiates the metal tubes arranged in the second layer. And a metal tube of the second layer being displaced from each other, and the arrangement of the metal tubes is divided into a plurality of sections.
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000131676A JP2001311800A (en) | 2000-04-28 | 2000-04-28 | Electron beam irradiation target |
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| JP2001311800A true JP2001311800A (en) | 2001-11-09 |
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| JP (1) | JP2001311800A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3122385B1 (en) | 2014-03-24 | 2018-11-14 | Tetra Laval Holdings & Finance SA | Electron beam emitter |
-
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- 2000-04-28 JP JP2000131676A patent/JP2001311800A/en active Pending
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