JP2001308804A - 冗長性をもったインターリーブ方法と、それを利用したa/d変換器と、d/a変換器、トラック・ホールド回路 - Google Patents
冗長性をもったインターリーブ方法と、それを利用したa/d変換器と、d/a変換器、トラック・ホールド回路Info
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- Theoretical Computer Science (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Transmission Systems Not Characterized By The Medium Used For Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 インターリーブ動作を行う電子回路のスプリ
アスを抑制する。 【解決手段】 複数の実質的に同一の電子回路101,
102,103を並列に並べてインターリーブ動作を行
うインターリーブ方法において、該電子回路のそれぞれ
の作動周波数がfであるときに、インターリーブ動作の
結果、Nfの作動周波数(図1ではNは2)を得るため
にNより大きい数(図1では3)の該電子回路を並列に
並べて使用し、少なくとも擬似的にランダムに電子回路
101,102,103を作動させることを特徴とする
冗長性を持ったインターリーブ方法。
アスを抑制する。 【解決手段】 複数の実質的に同一の電子回路101,
102,103を並列に並べてインターリーブ動作を行
うインターリーブ方法において、該電子回路のそれぞれ
の作動周波数がfであるときに、インターリーブ動作の
結果、Nfの作動周波数(図1ではNは2)を得るため
にNより大きい数(図1では3)の該電子回路を並列に
並べて使用し、少なくとも擬似的にランダムに電子回路
101,102,103を作動させることを特徴とする
冗長性を持ったインターリーブ方法。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の変換器を並
列に使用する冗長性をもったインターリーブ方法と、そ
れを利用したA/D変換器(アナログ・デジタル変換
器)とD/A変換器(デジタル・アナログ変換器)とト
ラック・ホールド回路に関する。より具体的には、本発
明は、1台の変換器では達成困難な高速、高精度のアナ
ログとデジタルの間の変換に適したインターリーブ方法
と、それを利用した高速で高精度のA/D変換器と、D
/A変換器、トラック・ホールド回路に関する。
列に使用する冗長性をもったインターリーブ方法と、そ
れを利用したA/D変換器(アナログ・デジタル変換
器)とD/A変換器(デジタル・アナログ変換器)とト
ラック・ホールド回路に関する。より具体的には、本発
明は、1台の変換器では達成困難な高速、高精度のアナ
ログとデジタルの間の変換に適したインターリーブ方法
と、それを利用した高速で高精度のA/D変換器と、D
/A変換器、トラック・ホールド回路に関する。
【0002】
【従来の技術】多くの電子回路がそうであるように、A
/D変換回路、D/A変換回路、トラック・ホールド回
路などのデータ変換に用いられる回路もより高い速度と
より高い精度が求められている。そのような要求に応え
るための方策はいくつか提案されている。
/D変換回路、D/A変換回路、トラック・ホールド回
路などのデータ変換に用いられる回路もより高い速度と
より高い精度が求められている。そのような要求に応え
るための方策はいくつか提案されている。
【0003】例えば、そのような方策の一つとしては、
複数の変換回路を並列に並べてインターリーブ動作させ
ることがある。インターリーブ動作とは、クロック入力
を持ちアナログ量を扱う装置において、等価的な動作ク
ロック周波数を上げる目的で、複数個の同じ回路を順次
切り換えて動作させることをいう。そのような従来例の
ブロック図を図11に示す(特開平9−252251号
公報参照)。図11において、4個のA/D変換回路
1,2,3,4を用いている。これらのA/D変換回路
1〜4は、同じ特性を有することが前提となる。各A/
D変換回路の動作レートをfとすると、クロック信号発
生器5では、周期T=1/fの4相のクロック信号CK
1〜CK4が生成され、そのクロック信号が、A/D変
換回路1〜4及びその出力を受け入れA/D変換器のデ
ジタル出力とする多重化器6をクロックする。
複数の変換回路を並列に並べてインターリーブ動作させ
ることがある。インターリーブ動作とは、クロック入力
を持ちアナログ量を扱う装置において、等価的な動作ク
ロック周波数を上げる目的で、複数個の同じ回路を順次
切り換えて動作させることをいう。そのような従来例の
ブロック図を図11に示す(特開平9−252251号
公報参照)。図11において、4個のA/D変換回路
1,2,3,4を用いている。これらのA/D変換回路
1〜4は、同じ特性を有することが前提となる。各A/
D変換回路の動作レートをfとすると、クロック信号発
生器5では、周期T=1/fの4相のクロック信号CK
1〜CK4が生成され、そのクロック信号が、A/D変
換回路1〜4及びその出力を受け入れA/D変換器のデ
ジタル出力とする多重化器6をクロックする。
【0004】すなわち、図12のタイミングチャートに
示すように、A/D変換回路1は、クロック信号CK1
のタイミングでサンプル・ホールドおよびアナログ・デ
ジタル変換を行う。A/D変換回路2は、クロック信号
CK2のタイミングでサンプル・ホールドおよびアナロ
グ・デジタル変換を行う。A/D変換回路3は、クロッ
ク信号CK3のタイミングでサンプル・ホールドおよび
アナログ・デジタル変換を行う。サンプル・ホールド回
路4およびアナログ・デジタル変換回路14は、クロッ
ク信号CK4のタイミングでサンプル・ホールドおよび
アナログ・デジタル変換を行う。そして、後段の多重化
器6で、各A/D変換回路1〜4の出力を適切に選択す
れば、全体としてサンプリング・レート4fのA/D変
換器が実現できる。このような方式により、一般にサン
プリング・レートfのA/D変換回路N個をインターリ
ーブ動作させることにより、より高いサンプリング・レ
ートNfを実現できる。
示すように、A/D変換回路1は、クロック信号CK1
のタイミングでサンプル・ホールドおよびアナログ・デ
ジタル変換を行う。A/D変換回路2は、クロック信号
CK2のタイミングでサンプル・ホールドおよびアナロ
グ・デジタル変換を行う。A/D変換回路3は、クロッ
ク信号CK3のタイミングでサンプル・ホールドおよび
アナログ・デジタル変換を行う。サンプル・ホールド回
路4およびアナログ・デジタル変換回路14は、クロッ
ク信号CK4のタイミングでサンプル・ホールドおよび
アナログ・デジタル変換を行う。そして、後段の多重化
器6で、各A/D変換回路1〜4の出力を適切に選択す
れば、全体としてサンプリング・レート4fのA/D変
換器が実現できる。このような方式により、一般にサン
プリング・レートfのA/D変換回路N個をインターリ
ーブ動作させることにより、より高いサンプリング・レ
ートNfを実現できる。
【0005】なお、この従来例のインターリーブ方式の
A/D変換器は、各A/D変換回路をインターリーブす
る順番が固定である。例えば、図11の装置では、図1
2からも分かるように、A/D変換回路1→2→3→4
→1→2→…という順番でインターリーブさせている。
A/D変換器は、各A/D変換回路をインターリーブす
る順番が固定である。例えば、図11の装置では、図1
2からも分かるように、A/D変換回路1→2→3→4
→1→2→…という順番でインターリーブさせている。
【0006】このようなインターリーブ動作を行うため
の複数の装置のアナログ性能には、その大小は別にして
も、不可避的にばらつきがあり(例えば、オフセット、
ゲイン差、クロックのスキューによるAM変調あるいは
FM変調など)、装置の切り換えにつれて誤差が生じ
る。例えば、N=4のインターリーブ動作中のA/D変
換器にfinのサイン波が入力された場合を考えると、f
inの周波数をもった成分以外に、個々のA/D変換回路
のゲイン差の分がインターリーブ動作により入力クロッ
ク周波数fCLK(fCLK=4f)の1/4の周波数(f
CLK/4)でAM変調されて出力に現れる。したがって、
fCLK/4−finの周波数付近において大きなスプリアス
が発生する。このようなスプリアスは周波数依存性が高
い故に、計測器などにおいては重大な問題となる。そし
て、例えば、直流的なオフセットについてはアナログ的
な補正が不可能ではないが、ゲインの差は通常周波数依
存性であるので補正はきわめて困難である。
の複数の装置のアナログ性能には、その大小は別にして
も、不可避的にばらつきがあり(例えば、オフセット、
ゲイン差、クロックのスキューによるAM変調あるいは
FM変調など)、装置の切り換えにつれて誤差が生じ
る。例えば、N=4のインターリーブ動作中のA/D変
換器にfinのサイン波が入力された場合を考えると、f
inの周波数をもった成分以外に、個々のA/D変換回路
のゲイン差の分がインターリーブ動作により入力クロッ
ク周波数fCLK(fCLK=4f)の1/4の周波数(f
CLK/4)でAM変調されて出力に現れる。したがって、
fCLK/4−finの周波数付近において大きなスプリアス
が発生する。このようなスプリアスは周波数依存性が高
い故に、計測器などにおいては重大な問題となる。そし
て、例えば、直流的なオフセットについてはアナログ的
な補正が不可能ではないが、ゲインの差は通常周波数依
存性であるので補正はきわめて困難である。
【0007】このような切り換え動作される回路間のア
ナログ性能の差の問題に対応するために、例えば、特開
平9−252251号公報や、特開平11−19598
8号公報に記載されている方式が知られている。
ナログ性能の差の問題に対応するために、例えば、特開
平9−252251号公報や、特開平11−19598
8号公報に記載されている方式が知られている。
【0008】特開平9−252251号公報によれば、
A/D変換器を実現するために、サンプル・ホールド回
路とアナログ・デジタル変換回路のセットを複数並列に
並べてインターリーブ動作させる。このとき、例えば利
得の周波数依存性、オフセットのズレなどの動作特性の
各回路間のばらつきによる全体的な変換特性の劣化を和
らげるために、インターリーブの順序を可変にして、全
体的な特性が最適になるインターリーブ順序を採用し、
その順序に固定するものである。この方式では、A/D
変換器が稼働する際には固定されたインターリーブ順序
が使用されるため、一定の周期で特性の違う回路に変換
動作が回ってくることになる。したがって、全周波数域
の平均ではともかく、個々の周波数で見ると、やはり大
きなスプリアスが発生する周波数がある。そのような周
波数依存性のスプリアスが特に測定機器のような高精度
で均一な特性が求められるような用途には好ましくない
のは上述の通りである。
A/D変換器を実現するために、サンプル・ホールド回
路とアナログ・デジタル変換回路のセットを複数並列に
並べてインターリーブ動作させる。このとき、例えば利
得の周波数依存性、オフセットのズレなどの動作特性の
各回路間のばらつきによる全体的な変換特性の劣化を和
らげるために、インターリーブの順序を可変にして、全
体的な特性が最適になるインターリーブ順序を採用し、
その順序に固定するものである。この方式では、A/D
変換器が稼働する際には固定されたインターリーブ順序
が使用されるため、一定の周期で特性の違う回路に変換
動作が回ってくることになる。したがって、全周波数域
の平均ではともかく、個々の周波数で見ると、やはり大
きなスプリアスが発生する周波数がある。そのような周
波数依存性のスプリアスが特に測定機器のような高精度
で均一な特性が求められるような用途には好ましくない
のは上述の通りである。
【0009】特開平11−195988号公報には、A
/D変換回路を複数並列に使用してインターリーブ動作
させるとともに、並列に動作している個々のA/D変換
回路に対する異なるクロック信号の自動調節を可能にし
ている。このような方式においても、複数のA/D変換
回路は周期的に動作しているため、完全には同一でない
A/D変換回路間の特性の相違が、周期的に反映して、
周波数依存性のスプリアスが現れることは避けることが
できないことが問題となる。
/D変換回路を複数並列に使用してインターリーブ動作
させるとともに、並列に動作している個々のA/D変換
回路に対する異なるクロック信号の自動調節を可能にし
ている。このような方式においても、複数のA/D変換
回路は周期的に動作しているため、完全には同一でない
A/D変換回路間の特性の相違が、周期的に反映して、
周波数依存性のスプリアスが現れることは避けることが
できないことが問題となる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、以上のよう
な従来技術の持つ問題点に鑑み、A/D変換器に限らず
インターリーブ動作を行う各種の回路に関して、周波数
依存性のスプリアスの発生を防止し、より高精度で高速
の動作を可能にすることを目的とする。
な従来技術の持つ問題点に鑑み、A/D変換器に限らず
インターリーブ動作を行う各種の回路に関して、周波数
依存性のスプリアスの発生を防止し、より高精度で高速
の動作を可能にすることを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、複数の電子回
路に冗長な回路を加えて、それらの回路間でのインター
リーブ動作を行うことにより、周波数依存性のスプリア
スを抑制するものである。また、本発明によれば、休止
状態におく回路を少なくとも擬似的にランダムに選択す
ることにより、周波数依存性のスプリアスを抑制する。
路に冗長な回路を加えて、それらの回路間でのインター
リーブ動作を行うことにより、周波数依存性のスプリア
スを抑制するものである。また、本発明によれば、休止
状態におく回路を少なくとも擬似的にランダムに選択す
ることにより、周波数依存性のスプリアスを抑制する。
【0012】本発明によれば、複数の実質的に同一の電
子回路を並列に並べてインターリーブ動作を行うインタ
ーリーブ方法において、該電子回路のそれぞれの作動周
波数がfであるときに、インターリーブ動作の結果、N
fの作動周波数(ここで、Nは2以上の整数である)を
得るためにNより大きい数(N+J、Jはここで冗長数
と呼ぶ正の整数である)の該電子回路を並列に並べて使
用することを特徴とする冗長性を持ったインターリーブ
方法が提供される。このとき、冗長性があるので、複数
の電子回路のうちのある1個を選択して出力用に採用す
ることができる。その選択にはある程度の複雑性を有す
る確定したパターンによるものなどを含めいくつかの方
法が考えられるが、N+J個の並列に並べた電子回路の
うち、次に出力を採用する電子回路を、現在の出力から
N−2回前までの出力に採用された電子回路を除いた、
J+1個の電子回路から少なくとも擬似的にランダムに
選択することが好ましい。そして、このようなインター
リーブ方法は、A/D変換器や、D/A変換器、トラッ
ク・ホールド回路などのほか、各種のインターリーブ動
作をする電子回路または装置に採用することができる。
子回路を並列に並べてインターリーブ動作を行うインタ
ーリーブ方法において、該電子回路のそれぞれの作動周
波数がfであるときに、インターリーブ動作の結果、N
fの作動周波数(ここで、Nは2以上の整数である)を
得るためにNより大きい数(N+J、Jはここで冗長数
と呼ぶ正の整数である)の該電子回路を並列に並べて使
用することを特徴とする冗長性を持ったインターリーブ
方法が提供される。このとき、冗長性があるので、複数
の電子回路のうちのある1個を選択して出力用に採用す
ることができる。その選択にはある程度の複雑性を有す
る確定したパターンによるものなどを含めいくつかの方
法が考えられるが、N+J個の並列に並べた電子回路の
うち、次に出力を採用する電子回路を、現在の出力から
N−2回前までの出力に採用された電子回路を除いた、
J+1個の電子回路から少なくとも擬似的にランダムに
選択することが好ましい。そして、このようなインター
リーブ方法は、A/D変換器や、D/A変換器、トラッ
ク・ホールド回路などのほか、各種のインターリーブ動
作をする電子回路または装置に採用することができる。
【0013】ここでは、「擬似的にランダム」、「疑似
乱数」といった表現を用いるのは、第一義的には、数学
的に完全な乱数やランダム性を得ることは不可能である
ためである。したがって、ここでいう「ランダム」や
「乱数」という表現は、通常の技術的手段を用いてさほ
どの困難なく達成できる程度のランダムさや乱数を意味
するものである。しかし、以下の説明から明らかなよう
に、本発明においては、周波数依存性のノイズのエネル
ギーを異なるいくつかの周波数あるいは周波数域に分散
することができる程度のランダムさがあればよく、本明
細書においては、「ランダム」という用語は極めて非限
定的な意味で用いられている。なお、周波数依存性のス
プリアスのエネルギーの周波数空間における分散を目的
とする本発明においては、「ランダム」さは必須の要件
ではないことに留意されたい。
乱数」といった表現を用いるのは、第一義的には、数学
的に完全な乱数やランダム性を得ることは不可能である
ためである。したがって、ここでいう「ランダム」や
「乱数」という表現は、通常の技術的手段を用いてさほ
どの困難なく達成できる程度のランダムさや乱数を意味
するものである。しかし、以下の説明から明らかなよう
に、本発明においては、周波数依存性のノイズのエネル
ギーを異なるいくつかの周波数あるいは周波数域に分散
することができる程度のランダムさがあればよく、本明
細書においては、「ランダム」という用語は極めて非限
定的な意味で用いられている。なお、周波数依存性のス
プリアスのエネルギーの周波数空間における分散を目的
とする本発明においては、「ランダム」さは必須の要件
ではないことに留意されたい。
【0014】本発明はさらに、入力に対して直接または
間接的に並列に接続された3個以上の複数のA/D変換
回路と、該A/D変換回路の出力に接続され、接続され
た出力のうちの1個を選択して出力する出力選択回路
と、該A/D変換回路と出力選択回路にクロック信号を
送るためのクロック信号発生装置とを含んでなり、該ク
ロック信号発生装置からのクロック信号により上記複数
のA/D変換回路のうちの少なくとも1個を出力として
採用し、インターリーブ動作をさせることを特徴とする
A/D変換器を提供する。
間接的に並列に接続された3個以上の複数のA/D変換
回路と、該A/D変換回路の出力に接続され、接続され
た出力のうちの1個を選択して出力する出力選択回路
と、該A/D変換回路と出力選択回路にクロック信号を
送るためのクロック信号発生装置とを含んでなり、該ク
ロック信号発生装置からのクロック信号により上記複数
のA/D変換回路のうちの少なくとも1個を出力として
採用し、インターリーブ動作をさせることを特徴とする
A/D変換器を提供する。
【0015】このとき、A/D変換回路と出力選択回路
との間に各A/D変換回路に直列にメモリを配設するこ
とにより、パイプライン構成のA/D変換回路にも対応
することができる。この各メモリもクロック信号発生装
置から得られるクロック信号により駆動する。
との間に各A/D変換回路に直列にメモリを配設するこ
とにより、パイプライン構成のA/D変換回路にも対応
することができる。この各メモリもクロック信号発生装
置から得られるクロック信号により駆動する。
【0016】また、必要に応じて、入力とA/D変換回
路との間に入力選択回路を配設することができる。そし
て、冗長性をもってインターリーブ動作するトラック・
ホールド回路を単一あるいは複数のA/D変換回路に接
続してA/D変換器とすることもできる。
路との間に入力選択回路を配設することができる。そし
て、冗長性をもってインターリーブ動作するトラック・
ホールド回路を単一あるいは複数のA/D変換回路に接
続してA/D変換器とすることもできる。
【0017】本発明はさらに、入力に対して直接または
間接的に並列に接続された3個以上の複数のD/A変換
回路と、該D/A変換回路の出力に接続され、接続され
た出力のうちの1個を選択して出力する出力選択回路
と、該D/A変換回路と出力選択回路にクロック信号を
送るためのクロック信号発生装置とを含んでなり、該ク
ロック信号発生装置からのクロック信号により上記複数
のD/A変換回路のうちの少なくとも1個を休止あるい
は待機状態にして、インターリーブ動作をさせることを
特徴とするD/A変換器を提供する。
間接的に並列に接続された3個以上の複数のD/A変換
回路と、該D/A変換回路の出力に接続され、接続され
た出力のうちの1個を選択して出力する出力選択回路
と、該D/A変換回路と出力選択回路にクロック信号を
送るためのクロック信号発生装置とを含んでなり、該ク
ロック信号発生装置からのクロック信号により上記複数
のD/A変換回路のうちの少なくとも1個を休止あるい
は待機状態にして、インターリーブ動作をさせることを
特徴とするD/A変換器を提供する。
【0018】必要に応じて、入力と複数のD/A変換回
路との間に各D/A変換回路に直列にメモリを配設する
ことができ、入力と複数のD/A変換回路との間に入力
切り換え回路を配設することができる。
路との間に各D/A変換回路に直列にメモリを配設する
ことができ、入力と複数のD/A変換回路との間に入力
切り換え回路を配設することができる。
【0019】
【発明を実施するための形態】図1に、3個のA/D変
換回路を用いたA/D変換器に関する第1の実施形態例
を示す。これは、従来、2個のA/D変換回路を用いて
それらをインターリーブ動作させて達成していたA/D
変換器を、冗長性を持たせるため、1個余分のA/D変
換回路を加えて3個のA/D変換回路を用いて実現する
ものである。
換回路を用いたA/D変換器に関する第1の実施形態例
を示す。これは、従来、2個のA/D変換回路を用いて
それらをインターリーブ動作させて達成していたA/D
変換器を、冗長性を持たせるため、1個余分のA/D変
換回路を加えて3個のA/D変換回路を用いて実現する
ものである。
【0020】図1に示すように、本実施形態は、一つの
アナログ入力に対して3個の並列に接続されたA/D変
換回路1(101)、A/D変換回路2(102)、A
/D変換回路3(103)の出力が選択回路(105)
に入力している。これらのA/D変換回路101,10
2,103と選択回路105は、同一のクロック信号発
生器104によりクロックされている。このクロック信
号発生器104は、疑似乱数発生回路を含んでおり、図
2に示すようなランダムなクロック出力CK1,CK
2,CK3を各A/D変換回路と選択回路105に出力
する。
アナログ入力に対して3個の並列に接続されたA/D変
換回路1(101)、A/D変換回路2(102)、A
/D変換回路3(103)の出力が選択回路(105)
に入力している。これらのA/D変換回路101,10
2,103と選択回路105は、同一のクロック信号発
生器104によりクロックされている。このクロック信
号発生器104は、疑似乱数発生回路を含んでおり、図
2に示すようなランダムなクロック出力CK1,CK
2,CK3を各A/D変換回路と選択回路105に出力
する。
【0021】疑似乱数発生回路の発生する疑似乱数に基
づいて、3個のA/D変換の出力の内のいずれかの出力
がこのA/D変換器のデジタル出力として選択回路10
5において選択されることになる。常に2個のA/D変
換回路が動作中(動作周波数での通常のデータ取得動作
中)であり、1個のA/D変換回路は待機中(アイドル
状態)であるので、あるA/D変換回路の出力がA/D
変換器全体としての出力として採用されたときに、次に
出力を採用するA/D変換器(新たにデータ取得動作を
するA/D変換回路)を残りの2個のA/D変換回路の
中から選ぶことができる。このとき同じA/D変換回路
を2回以上続けて用いることは避ける必要がある。たと
えば、A/D変換回路1がある瞬間に用いられたとする
と、次のクロックにおいては、A/D変換回路2かA/
D変換回路3が用いられるようにする必要がある。も
し、A/D変換回路2が選ばれたならば、さらに次のク
ロックにおいては、A/D変換回路1または3のいずれ
かが選ばれる、と続いて行く。
づいて、3個のA/D変換の出力の内のいずれかの出力
がこのA/D変換器のデジタル出力として選択回路10
5において選択されることになる。常に2個のA/D変
換回路が動作中(動作周波数での通常のデータ取得動作
中)であり、1個のA/D変換回路は待機中(アイドル
状態)であるので、あるA/D変換回路の出力がA/D
変換器全体としての出力として採用されたときに、次に
出力を採用するA/D変換器(新たにデータ取得動作を
するA/D変換回路)を残りの2個のA/D変換回路の
中から選ぶことができる。このとき同じA/D変換回路
を2回以上続けて用いることは避ける必要がある。たと
えば、A/D変換回路1がある瞬間に用いられたとする
と、次のクロックにおいては、A/D変換回路2かA/
D変換回路3が用いられるようにする必要がある。も
し、A/D変換回路2が選ばれたならば、さらに次のク
ロックにおいては、A/D変換回路1または3のいずれ
かが選ばれる、と続いて行く。
【0022】この実施形態において用いることができる
クロック信号発生回路104の一例を図3に示す。この
クロック信号発生回路104には外部からCKのクロッ
ク信号が入力される。上記のように、同じA/D変換回
路が2回続けて選ばれることは避ける必要があるので、
前回どのA/D変換回路が選択されたかを記憶しておく
必要がある。そのためにレジスタ1,2,3(201,
202,203)とセレクタ1,2(204,205)
を組み合わせて用いる。疑似乱数発生回路206は、
0,1のいずれかを(完全ではないとしても)ランダム
に出力するものである。
クロック信号発生回路104の一例を図3に示す。この
クロック信号発生回路104には外部からCKのクロッ
ク信号が入力される。上記のように、同じA/D変換回
路が2回続けて選ばれることは避ける必要があるので、
前回どのA/D変換回路が選択されたかを記憶しておく
必要がある。そのためにレジスタ1,2,3(201,
202,203)とセレクタ1,2(204,205)
を組み合わせて用いる。疑似乱数発生回路206は、
0,1のいずれかを(完全ではないとしても)ランダム
に出力するものである。
【0023】レジスタ1が現在のA/D変換回路を記憶
する役割を果たし、レジスタ2が前回使用されたA/D
変換回路を記憶し、レジスタ3は現在および前回で使用
されなかったA/D変換回路を記憶する。2回続けて同
じA/D変換回路を使用できないという制約により、次
回のA/D変換回路は、レジスタ2またはレジスタ3か
ら疑似乱数発生回路206の出力に応じて選択される。
する役割を果たし、レジスタ2が前回使用されたA/D
変換回路を記憶し、レジスタ3は現在および前回で使用
されなかったA/D変換回路を記憶する。2回続けて同
じA/D変換回路を使用できないという制約により、次
回のA/D変換回路は、レジスタ2またはレジスタ3か
ら疑似乱数発生回路206の出力に応じて選択される。
【0024】疑似乱数発生回路206の出力が0の場合
はレジスタ2のA/D変換回路が次回使用される。レジ
スタ2の内容はセレクタ1を介してレジスタ1に転送さ
れ、レジスタ1の内容はレジスタ2に転送され、レジス
タ3の内容は、セレクタ2を介してレジスタ3に転送さ
れ、結果としてレジスタ3にそのまま保持される。疑似
乱数発生回路206の出力が1の場合には、レジスタ3
のA/D変換回路が次回使用される。レジスタ3の内容
は、セレクタ2およびセレクタ1を介してレジスタ1に
転送され、レジスタ1の内容はレジスタ2に転送され、
レジスタ2の内容はセレクタ2を介してレジスタ3に転
送される。いずれの場合も、使用されるA/D変換回路
はレジスタ1に記憶されているため次回の選択から外さ
れ、連続して選択されることはない。
はレジスタ2のA/D変換回路が次回使用される。レジ
スタ2の内容はセレクタ1を介してレジスタ1に転送さ
れ、レジスタ1の内容はレジスタ2に転送され、レジス
タ3の内容は、セレクタ2を介してレジスタ3に転送さ
れ、結果としてレジスタ3にそのまま保持される。疑似
乱数発生回路206の出力が1の場合には、レジスタ3
のA/D変換回路が次回使用される。レジスタ3の内容
は、セレクタ2およびセレクタ1を介してレジスタ1に
転送され、レジスタ1の内容はレジスタ2に転送され、
レジスタ2の内容はセレクタ2を介してレジスタ3に転
送される。いずれの場合も、使用されるA/D変換回路
はレジスタ1に記憶されているため次回の選択から外さ
れ、連続して選択されることはない。
【0025】この実施形態では、3個のA/D変換回路
で2倍のサンプリングを実現しているが、同様の構成で
様々な場合に対応することができる。例えば、5個のA
/D変換回路で4倍のサンプリングを行う場合には、図
3のレジスタ1の代わりに3段のシフトレジスタに相当
するものを用意することにより2倍以上のサンプリング
レートにも対応することが可能となる。
で2倍のサンプリングを実現しているが、同様の構成で
様々な場合に対応することができる。例えば、5個のA
/D変換回路で4倍のサンプリングを行う場合には、図
3のレジスタ1の代わりに3段のシフトレジスタに相当
するものを用意することにより2倍以上のサンプリング
レートにも対応することが可能となる。
【0026】セレクタ1からの出力はデコーダ207に
入力され、クロックで駆動されている3個のフリップ・
フロップ回路208,209,210と、その各々に直
列に接続された可変遅延回路211,212,213を
通って、3個のクロック信号CK1,CK2,CK3と
して出力される。
入力され、クロックで駆動されている3個のフリップ・
フロップ回路208,209,210と、その各々に直
列に接続された可変遅延回路211,212,213を
通って、3個のクロック信号CK1,CK2,CK3と
して出力される。
【0027】選択回路105は、単に、クロック信号C
K1,CK2,CK3に対応して、A/D変換回路10
1,102,103からの出力を選択的にA/D変換器
の出力とするものである。
K1,CK2,CK3に対応して、A/D変換回路10
1,102,103からの出力を選択的にA/D変換器
の出力とするものである。
【0028】例えば、本実施形態において、個々のA/
D変換回路101〜103の最大周波数が100MHz
であるとすると、インターリーブ方式A/D変換器とし
て得られる最大サンプリング周波数は200MHzとな
る。上記のクロック信号発生回路104は、200MH
zのクロックを受けて、図2のタイミングチャートに示
すようなランダム性をもった最高周波数が100MHz
のクロック信号を発生し、各A/D変換回路101,1
02、103は最高周波数が100MHzであるこのク
ロック信号により駆動され、選択回路105は最高周波
数200MHzで駆動されることとなる。
D変換回路101〜103の最大周波数が100MHz
であるとすると、インターリーブ方式A/D変換器とし
て得られる最大サンプリング周波数は200MHzとな
る。上記のクロック信号発生回路104は、200MH
zのクロックを受けて、図2のタイミングチャートに示
すようなランダム性をもった最高周波数が100MHz
のクロック信号を発生し、各A/D変換回路101,1
02、103は最高周波数が100MHzであるこのク
ロック信号により駆動され、選択回路105は最高周波
数200MHzで駆動されることとなる。
【0029】同様のA/D変換回路を用いて並列に並べ
るA/D変換回路の個数を5個に増やせば、最大サンプ
リング周波数を400MHzにまで高めることができ
る。このような場合には、2クロック前までに選ばれた
A/D変換回路を記憶しておき、現在のA/D変換回路
とその2クロック前までに選ばれた回路を除いた2個の
A/D変換回路からランダムに次のA/D変換回路を選
択する必要がある。
るA/D変換回路の個数を5個に増やせば、最大サンプ
リング周波数を400MHzにまで高めることができ
る。このような場合には、2クロック前までに選ばれた
A/D変換回路を記憶しておき、現在のA/D変換回路
とその2クロック前までに選ばれた回路を除いた2個の
A/D変換回路からランダムに次のA/D変換回路を選
択する必要がある。
【0030】このように、ランダムにA/D変換回路を
選択して使用して行くことにより、個々のA/D変換回
路が周期的に動作することを防ぐことができ、特定周波
数において発生する強いスプリアスを抑制することがで
きる。本発明によれば、スプリアスのパワーを減らすこ
とができるわけではないが、そのパワーを広い周波数帯
域に広げてしまうことにより、スプリアスの強い周波数
依存性を消すことができる。したがって、上記の特定周
波数以外の周波数における誤差はほんのわずか増加する
ことになるが、その量は極めて僅かであり、全体として
は問題の特定周波数のスプリアスを取り除くことができ
るメリットの方が遙かに大きい。
選択して使用して行くことにより、個々のA/D変換回
路が周期的に動作することを防ぐことができ、特定周波
数において発生する強いスプリアスを抑制することがで
きる。本発明によれば、スプリアスのパワーを減らすこ
とができるわけではないが、そのパワーを広い周波数帯
域に広げてしまうことにより、スプリアスの強い周波数
依存性を消すことができる。したがって、上記の特定周
波数以外の周波数における誤差はほんのわずか増加する
ことになるが、その量は極めて僅かであり、全体として
は問題の特定周波数のスプリアスを取り除くことができ
るメリットの方が遙かに大きい。
【0031】図4に本発明の第2の実施形態例を示す。
高速なA/D変換器はパイプライン構成を採用すること
が多い。そのような場合には、図4に示すように、A/
D変換回路1,2,3(301,302,303)の出
力にそれぞれ直列に接続するメモリ306,307,3
08を設ける。図5にこの実施形態の場合のタイミング
チャートの例を示す。クロック入力は第1の実施形態の
場合と基本的に同じであるが、パイプラインがあるため
A/D変換器の出力が遅れる。従来技術によるインター
リーブ法では、クロックが規則的にはいるため、測定順
にデータが出てくるが、本発明の場合には疑似的にラン
ダムなクロック信号を用いているため、データがA/D
変換器から出てくるまでの時間がデータによって異な
る。この時間差を吸収するためにA/D変換器の出力に
メモリ306,307,308が必要となる。ここで
は、2ポートのメモリ(FIFO)を使用し、A/D変
換回路301,302,303からのデータを書き込む
と同時にデータを読み出すような構成になっている。こ
れらのA/D変換回路、メモリ、選択回路は、クロック
信号発生器304からのクロック信号により駆動されて
いる。
高速なA/D変換器はパイプライン構成を採用すること
が多い。そのような場合には、図4に示すように、A/
D変換回路1,2,3(301,302,303)の出
力にそれぞれ直列に接続するメモリ306,307,3
08を設ける。図5にこの実施形態の場合のタイミング
チャートの例を示す。クロック入力は第1の実施形態の
場合と基本的に同じであるが、パイプラインがあるため
A/D変換器の出力が遅れる。従来技術によるインター
リーブ法では、クロックが規則的にはいるため、測定順
にデータが出てくるが、本発明の場合には疑似的にラン
ダムなクロック信号を用いているため、データがA/D
変換器から出てくるまでの時間がデータによって異な
る。この時間差を吸収するためにA/D変換器の出力に
メモリ306,307,308が必要となる。ここで
は、2ポートのメモリ(FIFO)を使用し、A/D変
換回路301,302,303からのデータを書き込む
と同時にデータを読み出すような構成になっている。こ
れらのA/D変換回路、メモリ、選択回路は、クロック
信号発生器304からのクロック信号により駆動されて
いる。
【0032】ここでは、インターリーブ動作させる二つ
の出力から読み出しているので、データの読み出しのた
めの選択回路はA/D変換回路と同等の早さをもつもの
で足りる。一般的に、A/D変換器としての出力をイン
ターリーブ動作またはバンクにすることにより、A/D
変換器の出力の数をM(Mは2以上の整数)にすると、
サンプリング周波数のM分の1の周波数で選択回路を駆
動すれば済むので、より簡易な回路を採用することがで
きる利点がある。
の出力から読み出しているので、データの読み出しのた
めの選択回路はA/D変換回路と同等の早さをもつもの
で足りる。一般的に、A/D変換器としての出力をイン
ターリーブ動作またはバンクにすることにより、A/D
変換器の出力の数をM(Mは2以上の整数)にすると、
サンプリング周波数のM分の1の周波数で選択回路を駆
動すれば済むので、より簡易な回路を採用することがで
きる利点がある。
【0033】なお、2ポートのメモリは、一般に、高価
で容量が小さいものであるので、1ポートメモリを用い
て、測定終了後に読み出すときに並び替えたり、読み出
したあとにソフトウエアにより並び替えるようにするこ
とも可能である。また、クロック信号発生回路と複数の
A/D変換回路と選択回路を一つの集積回路とし、各ス
テージのクロック信号を変えることにより、A/D変換
回路がパイプライン構成を採用したものであっても、各
ステージのクロックを変えることにより、出力データの
並び替えのためのメモリを省略することができる。
で容量が小さいものであるので、1ポートメモリを用い
て、測定終了後に読み出すときに並び替えたり、読み出
したあとにソフトウエアにより並び替えるようにするこ
とも可能である。また、クロック信号発生回路と複数の
A/D変換回路と選択回路を一つの集積回路とし、各ス
テージのクロック信号を変えることにより、A/D変換
回路がパイプライン構成を採用したものであっても、各
ステージのクロックを変えることにより、出力データの
並び替えのためのメモリを省略することができる。
【0034】図6に、本発明を冗長なトラック・ホール
ド回路を含んだA/D変換装置に適用した第3の実施形
態例を示す。アナログ入力は、並列に接続されている3
個のトラック・ホールド回路351,352,353
(T/H回路1,2,3)に接続されている。トラック
・ホールド回路351,352,353の出力はそれら
の出力から一つの出力を選択する選択回路354に接続
されている。選択回路からの出力は、A/D変換回路3
55に接続されており、デジタル出力が得られる。これ
らの回路全体を駆動するために、クロック信号発生回路
356があるのは上記の例と同様である。
ド回路を含んだA/D変換装置に適用した第3の実施形
態例を示す。アナログ入力は、並列に接続されている3
個のトラック・ホールド回路351,352,353
(T/H回路1,2,3)に接続されている。トラック
・ホールド回路351,352,353の出力はそれら
の出力から一つの出力を選択する選択回路354に接続
されている。選択回路からの出力は、A/D変換回路3
55に接続されており、デジタル出力が得られる。これ
らの回路全体を駆動するために、クロック信号発生回路
356があるのは上記の例と同様である。
【0035】図7に、本発明をD/A変換器に適用した
第4の実施形態例を示す。図7に示すように、入力側に
は、デジタル信号の入力切換器401があり、出力側に
は、アナログ信号の出力切換器402が設けられてお
り、それぞれ、D/A変換回路403,404,405
とともに、クロック信号発生器406により生成される
クロック信号により駆動される。インターリーブ動作お
よび冗長性については、図1などを参照してA/D変換
器の実施形態例について説明したものと同様であるの
で、ここでは説明を繰り返さない。
第4の実施形態例を示す。図7に示すように、入力側に
は、デジタル信号の入力切換器401があり、出力側に
は、アナログ信号の出力切換器402が設けられてお
り、それぞれ、D/A変換回路403,404,405
とともに、クロック信号発生器406により生成される
クロック信号により駆動される。インターリーブ動作お
よび冗長性については、図1などを参照してA/D変換
器の実施形態例について説明したものと同様であるの
で、ここでは説明を繰り返さない。
【0036】なお、D/A変換回路にクロックが入らな
いと入力が取り込まれないタイプの回路を用いた場合、
入力切換器401を省略することができる。したがっ
て、入力をD/A変換回路に直接接続し、動作させるこ
とができる。また、図8に示すような本発明の第5の実
施形態例の構成も可能である。図8においては、図7の
入力切換器401に代えて、各D/A変換回路403,
404,405と入力の間に直列にメモリ407,40
8,409を挿入する。D/A変換回路をインターリー
ブ動作させる場合、D/A変換回路を切り換える順序
は、疑似ランダムであるが、前もって知ることができる
ような機構にすることはできる。その順序に従って、各
D/A変換回路に接続しているメモリにデータを書き込
んでおくことにより、入力切換器を省略できる。
いと入力が取り込まれないタイプの回路を用いた場合、
入力切換器401を省略することができる。したがっ
て、入力をD/A変換回路に直接接続し、動作させるこ
とができる。また、図8に示すような本発明の第5の実
施形態例の構成も可能である。図8においては、図7の
入力切換器401に代えて、各D/A変換回路403,
404,405と入力の間に直列にメモリ407,40
8,409を挿入する。D/A変換回路をインターリー
ブ動作させる場合、D/A変換回路を切り換える順序
は、疑似ランダムであるが、前もって知ることができる
ような機構にすることはできる。その順序に従って、各
D/A変換回路に接続しているメモリにデータを書き込
んでおくことにより、入力切換器を省略できる。
【0037】
【実施例】[実施例1]図11に示す従来技術による回
路構成を採用した場合と図1に示す回路構成を採用して
A/D変換器を実現した場合との12ビットで量子化ノ
イズを加えたシミュレーション結果を、それぞれ図9と
図10に示す。図1に示す回路構成においては1個のA
/D変換回路が冗長になっており、任意の時点におい
て、3個のA/D変換回路のうち2個は作動している
が、1個のA/D変換回路は待機状態にあるものであ
る。
路構成を採用した場合と図1に示す回路構成を採用して
A/D変換器を実現した場合との12ビットで量子化ノ
イズを加えたシミュレーション結果を、それぞれ図9と
図10に示す。図1に示す回路構成においては1個のA
/D変換回路が冗長になっており、任意の時点におい
て、3個のA/D変換回路のうち2個は作動している
が、1個のA/D変換回路は待機状態にあるものであ
る。
【0038】信号周波数は、25MHzであり、1個の
A/D変換回路あたりのサンプリング周波数は100M
Hzであるとした。従って、A/D変換器としての等価
サンプリング周波数は100MHz×2=200MHz
となる。サンプルの点数は1024点とした。各A/D
変換回路間のゲインのミスマッチはピーク対ピーク比で
0.05%とした。図9(従来例)と図10(本願発
明)から容易に看取できるように、従来例による最悪の
スプリアスは75MHzにあり、スプリアスフリーダイ
ナミックレンジ(SFDR)は−71.7dBである
が、このスプリアスが図10では、ほぼ消滅しており、
SFDRは−88.1dBとなっている。S/N比は、
図9の結果で69.8dB、図10の例では67.8d
Bであった。
A/D変換回路あたりのサンプリング周波数は100M
Hzであるとした。従って、A/D変換器としての等価
サンプリング周波数は100MHz×2=200MHz
となる。サンプルの点数は1024点とした。各A/D
変換回路間のゲインのミスマッチはピーク対ピーク比で
0.05%とした。図9(従来例)と図10(本願発
明)から容易に看取できるように、従来例による最悪の
スプリアスは75MHzにあり、スプリアスフリーダイ
ナミックレンジ(SFDR)は−71.7dBである
が、このスプリアスが図10では、ほぼ消滅しており、
SFDRは−88.1dBとなっている。S/N比は、
図9の結果で69.8dB、図10の例では67.8d
Bであった。
【0039】
【発明の効果】以上見てきたように、本発明によれば、
並列に接続した複数の回路をインターリーブ動作させる
際に、冗長の回路を設け、これらの回路の中から何らか
の順序(好ましくは疑似乱数的な順序)で回路を選んで
作動させることにより、特定の周波数に集中するスプリ
アスのエネルギーを広い周波数に拡散させることがで
き、スプリアスフリーダイナミックレンジ(SFDR)
を大幅に改善することができる。
並列に接続した複数の回路をインターリーブ動作させる
際に、冗長の回路を設け、これらの回路の中から何らか
の順序(好ましくは疑似乱数的な順序)で回路を選んで
作動させることにより、特定の周波数に集中するスプリ
アスのエネルギーを広い周波数に拡散させることがで
き、スプリアスフリーダイナミックレンジ(SFDR)
を大幅に改善することができる。
【図1】本発明の第1の実施形態例を示すブロック図で
ある。
ある。
【図2】本発明の第1実施形態例のためのタイミングチ
ャートである。
ャートである。
【図3】本発明の第1実施形態例のためのクロック信号
発生回路の1例を示すブロック図である。
発生回路の1例を示すブロック図である。
【図4】本発明の第2実施形態例を示すブロック図であ
る。
る。
【図5】本発明の第2実施形態例のためのタイミングチ
ャートである
ャートである
【図6】本発明の第3実施形態例であるインターリーブ
動作するトラック・ホールド回路を含むA/D変換器を
示すブロック図である。
動作するトラック・ホールド回路を含むA/D変換器を
示すブロック図である。
【図7】本発明の第4実施形態例であるD/A変換器を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図8】本発明の第5実施形態例であるD/A変換器を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図9】従来のA/D変換回路による信号スペクトラム
を示すグラフである。
を示すグラフである。
【図10】本発明のA/D変換回路による信号スペクト
ラムを示すグラフである。
ラムを示すグラフである。
【図11】A/D変換回路の従来例を示すブロックダイ
アグラムである。
アグラムである。
【図12】従来例のタイミングチャートである
101,102,103 A/D変換回路 104 クロック信号発生器 105 選択回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 丹波 守 東京都八王子市高倉町9番1号 アジレン ト・テクノロジー株式会社内 (72)発明者 宗像 秀治 東京都八王子市高倉町9番1号 アジレン ト・テクノロジー株式会社内 Fターム(参考) 5J022 AA01 AB01 BA01 BA05 CA10 CD02 CE01 CE04 5K041 AA02 FF31 HH32
Claims (15)
- 【請求項1】 複数の実質的に同一の電子回路を並列に
並べてインターリーブ動作を行うインターリーブ方法に
おいて、該電子回路のそれぞれの作動周波数がfである
ときに、インターリーブ動作の結果、Nfの作動周波数
(ここで、Nは2以上の整数である)を得るためにNよ
り大きい数の該電子回路を並列に並べて使用すること特
徴とする冗長性を持ったインターリーブ方法。 - 【請求項2】 上記電子回路のうち現在からN−2回前
までの出力に採用された電子回路を除いた残りの電子回
路である、並列に並べられた電子回路の全数からN−1
を引いた個数の電子回路から、次に出力を採用する電子
回路を少なくとも擬似的にランダムに選択することを特
徴とする請求項1記載のインターリーブ方法。 - 【請求項3】 2個以上の上記電子回路の出力をインタ
ーリーブ動作させて出力として採用することを特徴とす
る請求項1または2記載のインターリーブ方法。 - 【請求項4】 請求項1〜3のいずれか一記載のインタ
ーリーブ方法を実施することを特徴とするA/D変換
器。 - 【請求項5】 請求項1〜3のいずれか一記載のインタ
ーリーブ方法を実施することを特徴とするD/A変換
器。 - 【請求項6】 請求項1〜3のいずれか一記載のインタ
ーリーブ方法を実施することを特徴とするトラック・ホ
ールド回路。 - 【請求項7】 入力に対して直接または間接的に並列に
接続された3個以上のA/D変換回路と、該A/D変換
回路の出力に接続され、接続された出力のうちの1個を
選択して出力する出力選択回路と、該A/D変換回路と
出力選択回路にクロック信号を送るためのクロック信号
発生装置とを含んでなり、該クロック信号発生装置から
のクロック信号により上記複数のA/D変換回路のうち
の少なくとも1個を待機状態にして、インターリーブ動
作をさせることを特徴とするA/D変換器。 - 【請求項8】 前記A/D変換回路を周波数fで作動さ
せつつ、インターリーブ動作によりA/D変換器として
Nfの作動周波数を得るとき、上記A/D変換回路のう
ち現在からN−2回前までの出力に採用されたものを除
いた残りのA/D変換回路である、Nより大きな数の並
列に並べられたA/D変換回路の全数からN−1を引い
た個数のA/D変換回路から、待機状態にするA/D変
換回路を少なくとも疑似的にランダムに選択することを
特徴とする請求項7記載のA/D変換器。 - 【請求項9】 上記A/D変換回路と上記出力選択回路
との間に各A/D変換回路に直列にメモリを配設したこ
とを特徴とする請求項7または8記載のA/D変換回
路。 - 【請求項10】 上記入力と上記A/D変換回路との間
に入力選択回路を配設したことを特徴とする請求項7〜
9のいずれか一記載のA/D変換回路。 - 【請求項11】 請求項1〜3のいずれか一記載のイン
ターリーブ方法を実施する並列に接続された複数のトラ
ック・ホールド回路と、その出力に接続された選択回路
と、該選択回路の出力に接続された少なくとも1個のA
/D変換回路とを含んでなるA/D変換器。 - 【請求項12】 入力に対して直接または間接的に並列
に接続された3個以上の複数のD/A変換回路と、該D
/A変換回路の出力に接続され、接続された出力のうち
の1個を選択して出力する出力選択回路と、該D/A変
換回路と出力選択回路にクロック信号を送るためのクロ
ック信号発生装置とを含んでなり、該クロック信号発生
装置からのクロック信号により上記複数のD/A変換回
路のうちの少なくとも1個を待機状態にして、インター
リーブ動作をさせることを特徴とするD/A変換器。 - 【請求項13】 前記D/A変換回路を周波数fで作動
させつつ、インターリーブ動作によりD/A変換器とし
てNfの作動周波数を得るとき、上記D/A変換回路の
うち現在からN−2回前までの出力に採用されたD/A
変換回路を除いた残りのD/A変換回路である、Nより
大きな数の並列に並べられたD/A変換回路の全数から
N−1を引いた個数のD/A変換回路から、待機状態に
するD/A変換回路を少なくとも疑似的にランダムに選
択することを特徴とする請求項12記載のD/A変換
器。 - 【請求項14】 上記入力と上記複数のD/A変換回路
との間に各D/A変換回路に直列にメモリを配設したこ
とを特徴とする請求項12または13記載のD/A変換
器。 - 【請求項15】 上記入力と上記複数のD/A変換回路
との間に入力切り換え回路を配設したことを特徴とする
請求項12または13記載のD/A変換器。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000127104A JP2001308804A (ja) | 2000-04-27 | 2000-04-27 | 冗長性をもったインターリーブ方法と、それを利用したa/d変換器と、d/a変換器、トラック・ホールド回路 |
| US09/841,860 US20010052864A1 (en) | 2000-04-27 | 2001-04-25 | Method of interleaving with redundancy, and A/D converter, D/A converter and track-hold circuit using such method |
| DE10120792A DE10120792A1 (de) | 2000-04-27 | 2001-04-27 | Verfahren zum Verschränken mit Redundanz sowie A/D-Wandler, D/A-Wandler und Folge-Halte-Schaltung, die dieses Verfahren verwenden |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000127104A JP2001308804A (ja) | 2000-04-27 | 2000-04-27 | 冗長性をもったインターリーブ方法と、それを利用したa/d変換器と、d/a変換器、トラック・ホールド回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001308804A true JP2001308804A (ja) | 2001-11-02 |
Family
ID=18636760
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000127104A Pending JP2001308804A (ja) | 2000-04-27 | 2000-04-27 | 冗長性をもったインターリーブ方法と、それを利用したa/d変換器と、d/a変換器、トラック・ホールド回路 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20010052864A1 (ja) |
| JP (1) | JP2001308804A (ja) |
| DE (1) | DE10120792A1 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20010052864A1 (en) | 2001-12-20 |
| DE10120792A1 (de) | 2001-12-20 |
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