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JP2001356090A - Infrared spectrometer calibration device and infrared spectrometer calibration method - Google Patents

Infrared spectrometer calibration device and infrared spectrometer calibration method

Info

Publication number
JP2001356090A
JP2001356090A JP2000184544A JP2000184544A JP2001356090A JP 2001356090 A JP2001356090 A JP 2001356090A JP 2000184544 A JP2000184544 A JP 2000184544A JP 2000184544 A JP2000184544 A JP 2000184544A JP 2001356090 A JP2001356090 A JP 2001356090A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
infrared
calibration
infrared spectrometer
plastic
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000184544A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yutaka Hara
豊 原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2000184544A priority Critical patent/JP2001356090A/en
Publication of JP2001356090A publication Critical patent/JP2001356090A/en
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 プラスチックの種類の判別を行う際に、赤外
線分光装置の校正を正確にかつ簡単に行うことができる
赤外線分光装置の校正装置および赤外線分光装置の校正
方法を提供すること。 【解決手段】 赤外線分光装置14が、一定の雰囲気を
保つプロテクター4000内に配置された状態で、被判
別対象物260に赤外線を照射してその反射光を受光す
ることでプラスチックの種類を正確に分析するために赤
外線分光装置14を校正するための校正装置5060で
あり、被判別対象物260を搭載する搭載部5030
と、搭載部5030に着脱自在に配置されて、プロテク
ター4000内の赤外線分光装置14の赤外線照射部5
020に密着されて赤外線照射部5020からの赤外線
を反射して赤外線分光装置14側に戻す校正用ユニット
5000を備える。
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a calibration device for an infrared spectrometer and a method for calibrating an infrared spectrometer which can accurately and easily perform calibration of an infrared spectrometer when discriminating a type of plastic. thing. SOLUTION: In a state where an infrared spectroscopy device 14 is disposed in a protector 4000 that maintains a certain atmosphere, an object 260 to be discriminated is irradiated with infrared rays and reflected light thereof is received to accurately determine the type of plastic. A calibrating device 5060 for calibrating the infrared spectroscopy device 14 for analysis, and a mounting unit 5030 for mounting the object 260 to be determined.
And the infrared irradiator 5 of the infrared spectroscope 14 in the protector 4000
A calibration unit 5000 that is in close contact with the infrared spectroscopy 020 and reflects infrared light from the infrared irradiation unit 5020 and returns the infrared light to the infrared spectroscopic device 14 side.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、被判別対象物のプ
ラスチックの種類の判別を行うプラスチックの判別装置
に設けられる赤外線分光装置が一定雰囲気を保つプロテ
クター内に配置された状態で被判別対象物に赤外線を照
射してその反射光を受光することで、プラスチックの種
類を正確に分析するために赤外線分光装置を校正するた
めの校正装置および赤外線分光装置の校正方法に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a plastic discriminating apparatus for discriminating the type of plastic of a discriminated object, and an infrared spectroscopy device provided in a protector that maintains a constant atmosphere. The present invention relates to a calibration device for calibrating an infrared spectrometer for accurately analyzing the type of plastic by irradiating infrared rays to the device and receiving reflected light thereof, and a calibration method for the infrared spectrometer.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、家電製品、自動車その他プラスチ
ックを使用した商品の廃棄処理が問題となっている中
で、それらに使用されている材料の再利用や部品のリサ
イクルが大きな課題となっている。各商品に使われてい
るプラスチック材をリサイクルするためには、プラスチ
ックの材質の種類が正確に判別された上で、プラスチッ
クを分別しなければならない。
2. Description of the Related Art In recent years, while the disposal of home appliances, automobiles, and other products using plastics has become a problem, the reuse of materials used for them and the recycling of parts have become major issues. . In order to recycle the plastic material used for each product, the plastic material must be accurately identified and then separated.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】プラスチックの材質の
種類を判別する装置は従来からあるが、必ずしも十分に
は判別できずたとえば黒色系で難燃剤及び難燃剤の含有
量を特定できる装置は今だ無く、またより判別の精度を
上げるためには、プラスチックの表面に付着している付
着物を除去しなければならない。このようなプラスチッ
クの判別を行うために、本発明者は被判別対象物のプラ
スチックの種類の判別を行うプラスチックの判別装置を
提案している。この判別装置は赤外線分光装置を備えて
おり、この赤外線分光装置が一定の雰囲気を保つプロテ
クター内に配置された状態で、被判別対象物に赤外線を
照射してその反射光を受光することでプラスチックの種
類を正確に分析するものである。
Devices for discriminating the type of plastic material have been known in the past, but devices which cannot always be discriminated sufficiently and which can specify the flame retardant and the content of the flame retardant in black, for example, are still available. In order to further improve the accuracy of the discrimination, it is necessary to remove the adhering substances adhering to the surface of the plastic. In order to perform such plastic discrimination, the present inventor has proposed a plastic discriminating apparatus for discriminating the type of plastic of a discriminated object. This discriminating device is equipped with an infrared spectrometer, and the infrared spectrometer is placed in a protector that keeps a certain atmosphere. Is to accurately analyze the types.

【0004】ところでこの種の赤外線分光装置(FTI
R)の校正方法(Calibration方法、検定方
法ともいう)に際し、たとえば周囲温度の変化や気圧/
温度の変化に対し、非常にデリケートな為に、赤外線分
光装置は外部からの温度や湿度に影響されない除湿され
た一定の雰囲気下に保たなければならない。このために
赤外線分光装置はこのような一定の雰囲気下を保つため
のプロテクターの中に収める必要がある。すなわち、赤
外線分光装置(FTIR)は、設置場所での温度変化/
湿度変化/微振動に依ってデリケートに影響され、分析
結果に大きく支障をきたす。依ってこの赤外線分光装置
は、通常定温、定湿された環境下の部屋の中にと大きな
質量からできている置き台に載せる様な設置場所が必要
である。しかしリサイクル事業を行う場所(リサイクル
プラント)では、一般的に外気温と同じ環境下である
為、赤外線分光装置を組込んだプラスチック判別装置は
特別完全空調された部屋に設置するしかない。依って作
業レイアウトの制限や、設備投資の増大が起こる。
Incidentally, this type of infrared spectrometer (FTI)
R), the calibration method (also referred to as a calibration method or a verification method) includes, for example, a change in ambient temperature or an atmospheric pressure / pressure.
Because it is very sensitive to changes in temperature, the infrared spectrometer must be kept under a constant dehumidified atmosphere that is not affected by external temperature or humidity. For this reason, the infrared spectrometer needs to be housed in a protector for maintaining such a constant atmosphere. That is, the infrared spectroscopy (FTIR) detects the temperature change /
Sensitive to changes due to humidity changes / micro-vibrations, which greatly hinders analysis results. Therefore, the infrared spectrometer usually requires an installation place such as to be placed in a room under a constant temperature and constant humidity environment and on a table made of a large mass. However, in a place where a recycling business is carried out (recycling plant), the environment is generally the same as the outside temperature, and therefore, a plastic discriminating device incorporating an infrared spectroscopic device must be installed in a specially air-conditioned room. This limits the work layout and increases capital investment.

【0005】赤外線分光装置の校正を行う場合には、た
とえば赤外線分光装置に対して金蒸着を施したミラー器
を直接固定するために、赤外線分光装置を校正する度
に、赤外線分光装置をプロテクターの扉を開けてプロテ
クターの中から取り出す必要がある。このために赤外線
分光装置が外部環境の高い温度や湿度の影響を受けるこ
とや、校正の度に赤外線分光装置をプロテクターの中か
ら取り出す作業が必要であるために、プラスチックの判
別を行う場合の作業性の低下や、赤外線分光によるプラ
スチックの種類の判別の信頼性に影響が出る可能性があ
る。そこで本発明は上記課題を解消し、プラスチックの
種類の判別を行う際に、赤外線分光装置の校正を正確に
かつ簡単に行うことができる赤外線分光装置の校正装置
および赤外線分光装置の校正方法を提供することを目的
としている。
When calibrating an infrared spectrometer, for example, in order to directly fix a mirror device on which gold is deposited on the infrared spectrometer, every time the infrared spectrometer is calibrated, the infrared spectrometer is connected to a protector. You need to open the door and take it out of the protector. For this reason, the infrared spectrometer is affected by the high temperature and humidity of the external environment, and it is necessary to take out the infrared spectrometer from the protector every time calibration is performed. This may affect the reliability of the plastic type determination by infrared spectroscopy. Therefore, the present invention solves the above-mentioned problems, and provides a calibration device for an infrared spectrometer and a method for calibrating an infrared spectrometer, which can accurately and easily perform calibration of the infrared spectrometer when determining the type of plastic. It is intended to be.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、被判
別対象物のプラスチックの種類の判別を行うプラスチッ
クの判別装置に設けられる赤外線分光装置であり、前記
赤外線分光装置が、一定の雰囲気を保つプロテクター内
に配置された状態で、前記被判別対象物に赤外線を照射
してその反射光を受光することで前記プラスチックの種
類を正確に分析するために前記赤外線分光装置を校正す
るための校正装置であり、前記被判別対象物を搭載する
搭載部と、前記搭載部に着脱自在に配置されて、前記プ
ロテクター内の前記赤外線分光装置の赤外線照射部に密
着されて前記赤外線照射部からの赤外線を反射して前記
赤外線分光装置側に戻す校正用ユニットと、を備えるこ
とを特徴とする赤外線分光装置の校正装置である。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an infrared spectrometer provided in a plastic discriminating apparatus for discriminating the type of plastic of an object to be discriminated. In a state where the infrared spectroscopy apparatus is calibrated to accurately analyze the type of the plastic by irradiating the object to be discriminated with infrared rays and receiving the reflected light while being placed in the protector for keeping A calibration device, a mounting portion for mounting the object to be discriminated, and removably disposed on the mounting portion, and closely attached to the infrared irradiating portion of the infrared spectroscopic device in the protector, from the infrared irradiating portion. A calibration unit that reflects infrared light and returns it to the infrared spectrometer side.

【0007】請求項1では、被判別対象物を搭載するた
めの搭載部に対して校正用のユニットを着脱可能に配置
する。この校正用ユニットは、プロテクター内の赤外線
分光装置の赤外線照射部に密着されて赤外線照射部から
の赤外線を反射するものである。これにより、赤外線分
光装置をプロテクターの中から取り出さずに、プロテク
ターの中に収めた状態で、校正用ユニットが赤外線照射
部からの赤外線を反射して赤外線分光装置側に戻すこと
ができる。このようにして赤外線分光装置はプロテクタ
ー内に収められているので赤外線分光装置は一定の雰囲
気内で校正を正確にかつ簡単に行うことができる。
According to the first aspect, a calibration unit is removably disposed on a mounting portion for mounting an object to be determined. This calibration unit is in close contact with the infrared irradiator of the infrared spectrometer in the protector and reflects infrared rays from the infrared irradiator. This allows the calibration unit to reflect the infrared light from the infrared irradiator and return the infrared light to the infrared spectrometer while the infrared spectrometer is housed in the protector without being taken out of the protector. Since the infrared spectrometer is thus housed in the protector, the infrared spectrometer can accurately and easily perform calibration in a certain atmosphere.

【0008】請求項2の発明は、請求項1に記載の赤外
線分光装置の校正装置において、前記校正用ユニット
は、本体と、前記赤外線照射部からの赤外線を反射する
金蒸着ミラーと、前記本体内に移動自在に配置され、前
記金蒸着ミラーを保持する保持部と、前記赤外線分光装
置の前記赤外線照射部を前記金蒸着ミラーに密着する際
に、密着性を確保するために、前記保持部と前記本体の
間に配置されて前記保持部の移動を受けるための付勢部
材と、を有する。請求項2では、赤外線分光装置の赤外
線照射部を金蒸着ミラーに密着する際に、密着性を確保
するために、付勢部材が保持部の移動操作を受けるよう
になっている。これにより赤外線照射部と金蒸着ミラー
の密着性を確保できるばかりでなく、金蒸着ミラーに加
わる衝撃等を緩和させることができるとともに、赤外線
照射部と金蒸着ミラーのそれぞれの寸法誤差や設定誤差
を吸収することができる。
According to a second aspect of the present invention, in the calibration apparatus for an infrared spectrometer according to the first aspect, the calibration unit includes a main body, a gold vapor deposition mirror that reflects infrared rays from the infrared irradiation section, and the main body. And a holding unit movably disposed in the holding unit, for holding the gold vapor deposition mirror, and when the infrared irradiating unit of the infrared spectroscopy device is brought into close contact with the gold vapor deposition mirror, the holding unit is used to ensure adhesion. And a biasing member disposed between the main body and receiving the movement of the holding portion. According to the second aspect, when the infrared irradiating section of the infrared spectroscopy device is brought into close contact with the gold vapor deposition mirror, the urging member is subjected to a moving operation of the holding section in order to ensure close contact. This not only ensures the adhesion between the infrared irradiator and the gold-deposited mirror, but also alleviates the shock applied to the gold-deposited mirror and reduces the dimensional and setting errors of the infrared irradiator and the gold-deposited mirror. Can be absorbed.

【0009】請求項3の発明は、請求項2に記載の赤外
線分光装置の校正装置において、前記本体は、前記搭載
部の開口部内に前記金蒸着ミラーを配置した状態で前記
本体を前記搭載部に固定するためのフランジ部を有す
る。請求項3では、本体のフランジ部が搭載部に対して
固定されるようになっている。
According to a third aspect of the present invention, in the calibration apparatus for an infrared spectrometer according to the second aspect, the main body is mounted on the mounting portion in a state where the gold vapor deposition mirror is disposed in an opening of the mounting portion. It has a flange part for fixing to. According to the third aspect, the flange portion of the main body is fixed to the mounting portion.

【0010】請求項4の発明は、請求項3に記載の赤外
線分光装置の校正装置において、前記搭載部は、前記搭
載部に対して前記本体を着脱自在にクランプするための
クランプを有する。請求項4では、搭載部のクランプが
本体を着脱可能にクランプすることができる。
According to a fourth aspect of the present invention, in the calibration device for an infrared spectrometer according to the third aspect, the mounting portion has a clamp for detachably clamping the main body with respect to the mounting portion. According to the fourth aspect, the clamp of the mounting portion can detachably clamp the main body.

【0011】請求項5の発明は、請求項3に記載の赤外
線分光装置の校正装置において、前記本体は、前記搭載
部に対してねじにより着脱自在に固定される。請求項5
では、本体はねじにより搭載部に対して着脱可能に固定
することができる。
According to a fifth aspect of the present invention, in the infrared spectrometer calibration apparatus according to the third aspect, the main body is detachably fixed to the mounting portion with a screw. Claim 5
Then, the main body can be detachably fixed to the mounting portion by screws.

【0012】請求項6の発明は、請求項1に記載の赤外
線分光装置の校正装置において、前記プロテクターは、
前記赤外線分光装置を収納する密閉構造のスペースを有
し、前記スペースには温度と湿度をコントロールするた
めのエアーが供給される。請求項6では、プロテクター
のスペースに収納した赤外線分光装置を、外部の温度や
湿度に影響されずにプラスチックの判別を行う現場にお
いても設置することができる。
According to a sixth aspect of the present invention, in the calibration apparatus for an infrared spectrometer according to the first aspect, the protector comprises:
It has a space with a closed structure for accommodating the infrared spectroscopy device, and air for controlling temperature and humidity is supplied to the space. According to the sixth aspect, the infrared spectroscopy device housed in the space of the protector can be installed at a site where plastics are determined without being affected by external temperature or humidity.

【0013】請求項7の発明は、請求項6に記載の赤外
線分光装置の校正装置において、前記プロテクターは、
前記赤外線分光装置を載せて前記スペースの外部に取り
出すためのスライド装置を有する。請求項7では、赤外
線分光装置は、プロテクターのスペースから必要に応じ
て取り出すことができる。
According to a seventh aspect of the present invention, in the calibration apparatus for an infrared spectrometer according to the sixth aspect, the protector comprises:
There is a slide device for mounting the infrared spectrometer and taking it out of the space. According to the seventh aspect, the infrared spectrometer can be taken out of the space of the protector as needed.

【0014】請求項8の発明は、被判別対象物のプラス
チックの種類の判別を行うプラスチックの判別装置に設
けられる赤外線分光装置であり、前記赤外線分光装置
が、一定の雰囲気を保つプロテクター内に配置された状
態で、前記被判別対象物に赤外線を照射してその反射光
を受光することで前記プラスチックの種類を正確に分析
するために前記赤外線分光装置を校正するための校正方
法であり、前記被判別対象物を搭載するための搭載部
に、前記プロテクター内の前記赤外線分光装置の前記赤
外線照射部からの赤外線を反射する校正用ユニットを配
置する配置ステップと、前記搭載部に配置された前記校
正用ユニットを、前記赤外線分光装置の赤外線照射部に
密着して、前記赤外線照射部からの赤外線を反射して前
記赤外線分光装置側に戻す校正ステップと、を含むこと
を特徴とする赤外線分光装置の校正方法である。
The invention according to claim 8 is an infrared spectrometer provided in a plastic discriminating device for discriminating the type of plastic of the object to be discriminated, wherein the infrared spectrometer is disposed in a protector that maintains a constant atmosphere. In the state of being, a calibration method for calibrating the infrared spectrometer to accurately analyze the type of the plastic by irradiating the object to be determined with infrared rays and receiving reflected light thereof, An arrangement step of arranging a calibration unit that reflects infrared rays from the infrared irradiating section of the infrared spectroscope in the protector in the mounting section for mounting the object to be determined, and the arrangement section arranged in the mounting section. The calibration unit is in close contact with the infrared irradiator of the infrared spectrometer, and reflects infrared light from the infrared irradiator to the infrared spectrometer. And it is calibrated steps, a method for calibrating an infrared spectrometer, which comprises a.

【0015】請求項8では、配置ステップにおいて、搭
載部には、プロテクター内の赤外線分光装置の赤外線照
射部からの赤外線を反射する校正用ユニットを配置す
る。そして校正ステップでは、搭載部に配置されている
校正用ユニットを、赤外線分光装置の赤外線照射部に密
着して、赤外線照射部からの赤外線を反射して赤外線分
光装置側に戻すようになっている。これにより、赤外線
分光装置をプロテクターの中から取り出さずに、プロテ
クターの中に収めた状態で、校正用ユニットが赤外線照
射部からの赤外線を反射して赤外線分光装置側に戻すこ
とができる。このようにして赤外線分光装置はプロテク
ター内に収められているので赤外線分光装置は一定の雰
囲気内で校正を正確にかつ簡単に行うことができる。
According to the present invention, in the disposing step, a calibrating unit that reflects infrared rays from an infrared irradiating unit of the infrared spectroscope in the protector is disposed on the mounting unit. Then, in the calibration step, the calibration unit arranged on the mounting portion is brought into close contact with the infrared irradiating portion of the infrared spectroscopy device, and reflects infrared rays from the infrared irradiating portion to return to the infrared spectroscopy device side. . This allows the calibration unit to reflect the infrared light from the infrared irradiator and return the infrared light to the infrared spectrometer while the infrared spectrometer is housed in the protector without being taken out of the protector. Since the infrared spectrometer is thus housed in the protector, the infrared spectrometer can accurately and easily perform calibration in a certain atmosphere.

【0016】請求項9の発明は、請求項8に記載の赤外
線分光装置の校正方法において、前記校正用ユニットの
金蒸着ミラーが、前記赤外線照射部からの赤外線を反射
して前記赤外線分光装置に戻す。請求項9では、校正用
ユニットの金蒸着ミラーが、赤外線照射部からの赤外線
を反射して赤外線分光装置に戻すようになっている。金
蒸着ミラーを用いることにより、中赤外線に対しては一
番反射率が良い。
According to a ninth aspect of the present invention, in the method for calibrating an infrared spectrometer according to the eighth aspect, the gold vapor deposition mirror of the calibration unit reflects the infrared rays from the infrared irradiating section to the infrared spectroscopy apparatus. return. According to the ninth aspect, the gold deposition mirror of the calibration unit reflects the infrared rays from the infrared irradiation unit and returns the infrared rays to the infrared spectroscope. By using a gold vapor-deposited mirror, the reflectance is best for mid-infrared rays.

【0017】請求項10の発明は、請求項7に記載の赤
外線分光装置の校正方法において、前記校正用ユニット
の前記金蒸着ミラーが、前記赤外線照射部に密着される
際に、前記赤外線照射部と前記金蒸着ミラーの密着性を
確保するために前記金蒸着ミラーは前記赤外線照射部側
に付勢されている。請求項10では、校正用ユニットの
金蒸着ミラーが、赤外線照射部に密着される際に、赤外
線照射部と金蒸着ミラーの密着性を確保するために金蒸
着ミラーは赤外線照射部側に付勢されている。これによ
り、赤外線照射部と金蒸着ミラーの密着性を確保するこ
とができるとともに、金蒸着ミラーに加わる衝撃を緩和
し、赤外線照射部と金蒸着ミラーの寸法誤差や配置位置
の誤差等を吸収することができる。
According to a tenth aspect of the present invention, in the method for calibrating an infrared spectrometer according to the seventh aspect, when the gold deposition mirror of the calibration unit is brought into close contact with the infrared irradiating unit, The gold vapor deposition mirror is urged toward the infrared irradiator to secure the adhesion between the gold vapor deposition mirror and the gold vapor deposition mirror. In claim 10, when the gold deposition mirror of the calibration unit is brought into close contact with the infrared irradiation unit, the gold deposition mirror is urged toward the infrared irradiation unit in order to ensure the adhesion between the infrared irradiation unit and the gold deposition mirror. Have been. As a result, the adhesion between the infrared irradiating unit and the gold-deposited mirror can be ensured, the shock applied to the gold-deposited mirror is reduced, and the dimensional error and the positioning error of the infrared irradiating unit and the gold-deposited mirror are absorbed. be able to.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に述
べる実施の形態は、本発明の好適な具体例であるから、
技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明
の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨
の記載がない限り、これらの形態に限られるものではな
い。
Preferred embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. The embodiment described below is a preferred specific example of the present invention,
Although various technically preferable limits are given, the scope of the present invention is not limited to these embodiments unless otherwise specified in the following description.

【0019】図1は、本発明のプラスチックの判別装置
の実施の形態を示している。このプラスチックの判別装
置は、本発明の赤外線分光装置の校正装置の好ましい実
施の形態を備えている。プラスチックの判別装置10
は、概略的には光照射部1000、位置変更設定部12
00、プラスチックの判別対象部位の再生装置12、赤
外線分光装置14および移動操作部20を有している。
このプラスチックの判別装置10は、図1に示すような
プラスチック製のたとえばキャビネット260のプラス
チックの種類を光を照射することで効率良く確実に判別
するための装置である。
FIG. 1 shows an embodiment of the plastic discriminating apparatus of the present invention. This plastic discriminating apparatus has a preferred embodiment of the calibration apparatus for an infrared spectrometer of the present invention. Plastic discrimination device 10
Schematically shows the light irradiation unit 1000 and the position change setting unit 12
The apparatus includes a playback device 12, an infrared spectroscopy device 14, and a movement operation unit 20 for determining a plastic discrimination target.
The plastic discriminating device 10 is a device for efficiently and reliably discriminating the type of plastic, for example, a cabinet 260 made of plastic as shown in FIG. 1 by irradiating light.

【0020】プラスチックの判別装置10の説明をする
前に、このキャビネット260について簡単に説明す
る。図1のキャビネット260は、プラスチックの判別
装置10における被判別対象物であるが、たとえば図2
に示すようなテレビジョン受像機240のリアのキャビ
ネットである。テレビジョン受像機240は、フロント
のキャビネット250とリアのキャビネット260およ
び陰極線管C等を有している。
Before describing the plastic discriminating apparatus 10, the cabinet 260 will be briefly described. The cabinet 260 in FIG. 1 is an object to be discriminated in the plastic discriminating apparatus 10, for example, FIG.
This is a rear cabinet of the television receiver 240 as shown in FIG. The television receiver 240 has a front cabinet 250, a rear cabinet 260, a cathode ray tube C, and the like.

【0021】図1のプラスチックの判別装置10は、フ
ロントのキャビネット250やリアのキャビネット26
0等のプラスチックの種類の判別を行うことができる。
図1では、一例としてリアのキャビネット260のプラ
スチックの種類を判別する例を示している。
The plastic discriminating apparatus 10 shown in FIG. 1 includes a front cabinet 250 and a rear cabinet 26.
The type of plastic such as 0 can be determined.
FIG. 1 shows an example in which the type of plastic of the rear cabinet 260 is determined as an example.

【0022】図1の光照射部1000は、被判別対象物
であるキャビネット260の判別対象部位に対して光1
100を照射するものである。この光1100は、好ま
しくはスポット光である。図1の位置変更設定部120
0は、光照射部1000により照射された光1100の
位置を基準としてキャビネット260における判別に良
好な判別処理基準位置を定めるものである。この位置を
定める場合、作業者が目視でキャビネット260に照射
されている光1100を基準としてキャビネット260
の判別対象部位を見て定める。光照射部1000は、た
とえばレーザ光源であったりレーザダイオード光源であ
る。
The light irradiating section 1000 shown in FIG. 1 applies a light 1 to a discrimination target portion of the cabinet 260 which is a discrimination target object.
100 is irradiated. This light 1100 is preferably a spot light. The position change setting unit 120 of FIG.
0 sets a reference position for the discrimination process excellent in the discrimination in the cabinet 260 based on the position of the light 1100 irradiated by the light irradiation unit 1000. When this position is determined, an operator visually determines the cabinet 260 based on the light 1100 illuminating the cabinet 260.
Is determined by looking at the region to be determined. The light irradiation unit 1000 is, for example, a laser light source or a laser diode light source.

【0023】図1のプラスチックの判別対象部位の再生
装置12は、キャビネット260の表面270に付着し
ている塗料やその他の種類の汚れ、付着物あるいは凹凸
部の除去と、加熱および加圧を行って、判別対象部位の
表面を再生処理(Regeneration)して、光
の反射率を向上するための装置である。図1の赤外線分
光装置(分析部ともいう)14は、プラスチックの判別
対象部位の再生装置12で再生された図4に例示する表
面270の再生部分(判別対象部位に相当する)280
を利用して、この再生部分(判別対象部位に相当する)
280に対して、測定用の赤外線を照射してその戻り光
(反射光)を得ることにより、再生部分(判別対象部
位)280におけるプラスチックの種類を分析して判別
する機能を有している。
The plastic discrimination target reproducing apparatus 12 shown in FIG. 1 removes paint and other types of dirt, adhered substances, or irregularities adhered to the surface 270 of the cabinet 260, and performs heating and pressurization. This is an apparatus for improving the light reflectance by regenerating the surface of the determination target portion. An infrared spectrometer (also referred to as an analysis unit) 14 in FIG. 1 is a reproduction portion (corresponding to a discrimination target portion) 280 of the surface 270 illustrated in FIG.
By using this playback part (corresponding to the part to be discriminated)
It has a function of analyzing and discriminating the type of plastic in the reproduction portion (determination target portion) 280 by irradiating infrared light for measurement to the 280 and obtaining its return light (reflected light).

【0024】図1の移動操作部20は、キャビネット2
60を光照射部1000と、プラスチックの判別対象部
位の再生装置12と、赤外線分光装置14のそれぞれの
位置に移動して位置決めする機能を有している。移動操
作部20についてさらに詳しく説明する。移動操作部2
0は、テーブル22、台座24、ベース26等を有して
いる。テーブル22は、被判別対象物であるキャビネッ
ト260のための位置変更設定部1200を搭載する部
分である。テーブル22は、クランパー30、2つの固
定用のブロック32およびモータ34を有している。ク
ランパー30は、テーブル22の端部22A側に垂直に
立てて設けられている。ブロック32では、クランパー
30が軸36を中心としてT方向に回転できるようにな
っている。このクランパー30のT方向への回転は、モ
ータ34を作動することで行う。クランパー30は、キ
ャビネット260の表面270を内側からブロック32
に対して突き当てて着脱可能に固定するようになってい
る。これによりキャビネット260の表面270はテー
ブル22の上に置かれた状態でブロック32の内面側に
突き当てられて固定される。ブロック32とブロック3
2の間には開口部Pが形成されている。
The moving operation unit 20 shown in FIG.
It has a function of moving and positioning the light source 60 to the respective positions of the light irradiating part 1000, the reproduction device 12 of the plastic discrimination target portion, and the infrared spectroscopy device 14. The movement operation unit 20 will be described in more detail. Movement operation unit 2
0 has a table 22, a pedestal 24, a base 26 and the like. The table 22 is a portion on which the position change setting unit 1200 for the cabinet 260 as the object to be determined is mounted. The table 22 has a clamper 30, two fixing blocks 32, and a motor 34. The clamper 30 is provided upright on the end 22 </ b> A side of the table 22. The block 32 allows the clamper 30 to rotate in the T direction about the axis 36. The rotation of the clamper 30 in the T direction is performed by operating the motor 34. The clamper 30 blocks the surface 270 of the cabinet 260
And is detachably fixed. As a result, the surface 270 of the cabinet 260 abuts on the inner surface side of the block 32 while being placed on the table 22 and is fixed. Block 32 and Block 3
An opening P is formed between the two.

【0025】テーブル22は、台座24の上に載ってい
る。台座24はレール40を有している。台座24はモ
ータ42と送りネジ44を有しており、モータ42が作
動すると送りネジ44が回転して、テーブル22は台座
24のレール40に沿って、X方向に移動して位置決め
可能である。台座24は、ベース26の上に載ってい
る。ベース26はレール50、モータ52、送りネジ5
4を有している。モータ52が作動して送りネジ54が
回転すると、台座24はレール50に沿ってY方向に移
動して位置決め可能である。図1において、光照射部1
000、位置変更設定部1200、プラスチックの判別
対象部位の再生装置12、赤外線分光装置14およびモ
ータ34,42,52は、制御部100からの指令によ
り動作する。
The table 22 rests on a pedestal 24. The pedestal 24 has a rail 40. The pedestal 24 has a motor 42 and a feed screw 44. When the motor 42 is operated, the feed screw 44 rotates, and the table 22 moves in the X direction along the rail 40 of the pedestal 24 and can be positioned. . The pedestal 24 rests on a base 26. The base 26 includes a rail 50, a motor 52, and a feed screw 5.
Four. When the motor 52 operates and the feed screw 54 rotates, the pedestal 24 moves in the Y direction along the rail 50 and can be positioned. In FIG. 1, the light irradiation unit 1
000, the position change setting unit 1200, the playback device 12, the infrared spectroscopy device 14, and the motors 34, 42, 52 of the plastic discrimination target part operate according to instructions from the control unit 100.

【0026】図9と図10は、光照射部1000と位置
変更設定部1200の一例を示している。図9はこの光
照射部1000と位置変更設定部1200の概略的構造
を示す正面図である。図8は、光照射部1000、位置
変更設定部1200を含む工程図であり、光照射部10
00は、プラスチックの判別対象部位の再生装置12の
前段部分に位置している。
FIGS. 9 and 10 show an example of the light irradiation unit 1000 and the position change setting unit 1200. FIG. 9 is a front view showing a schematic structure of the light irradiation unit 1000 and the position change setting unit 1200. FIG. 8 is a process diagram including the light irradiation unit 1000 and the position change setting unit 1200.
Reference numeral 00 denotes a portion of the plastic discrimination target portion, which is located at the front stage of the reproducing device 12.

【0027】図9と図10に示すように、光照射部10
00の光源1003は、上述したようにレーザ光源やレ
ーザダイオード光源を使用することができる。光源10
03が発生する光は上述したように、作業者がキャビネ
ット260の位置を定め易くするためにスポット光であ
るのが望ましい。光1100は、プリズム1120を介
して、キャビネット260の側面260Aの内面260
B側に照射されるようになっている。すなわち光110
0はプリズム1120により180°折り曲げられて、
キャビネット260の内面260Bに照射される。この
ように光1100を内面260Bに照射する理由として
は、被判別対象物の外面を再生する際、作業者の作業位
置によっては回転切削刃の位置が見えず、どこを切削す
るか見当が付かない。依って作業者からよく見える被判
別対象物の内面にスポット光を当てる事により、被判別
対象物と回転切削刃との位置関係を知ることができ、作
業者が被判別対象物に於いて最適な再生場所を選定でき
るからである。
As shown in FIG. 9 and FIG.
As the light source 1003, a laser light source or a laser diode light source can be used as described above. Light source 10
As described above, it is desirable that the light generated by 03 is spot light so that the operator can easily determine the position of the cabinet 260. The light 1100 is transmitted through the prism 1120 to the inner surface 260A of the side surface 260A of the cabinet 260.
Irradiation is performed on the B side. That is, light 110
0 is bent 180 ° by the prism 1120,
The light is applied to the inner surface 260B of the cabinet 260. The reason for irradiating the inner surface 260B with the light 1100 in this way is that when reproducing the outer surface of the object to be discriminated, the position of the rotary cutting blade cannot be seen depending on the work position of the operator, and there is a general idea of where to cut. No Therefore, by illuminating a spotlight on the inner surface of the object to be distinguished, which is easily seen by the worker, it is possible to know the positional relationship between the object to be distinguished and the rotary cutting blade. This is because a suitable reproduction place can be selected.

【0028】位置変更設定部1200は、図10に示す
ようにテーブル22の上に設けられている。位置変更設
定部1200は昇降台1210とアクチュエータ122
0を有している。キャビネット260の底面はこの昇降
台1210の上に搭載される。昇降台1210はアクチ
ュエータ1220の作動によりZ方向に沿って移動して
位置決め可能である。光源1003及びアクチュエータ
1220の作動は、制御部100の指令により行う。光
源1003はテーブル22と位置関係が保たれている状
態になっている。
The position change setting section 1200 is provided on the table 22 as shown in FIG. The position change setting unit 1200 includes a lift 1210 and an actuator 122.
It has 0. The bottom surface of the cabinet 260 is mounted on the lift 1210. The elevating table 1210 can be moved and positioned along the Z direction by the operation of the actuator 1220. The operation of the light source 1003 and the actuator 1220 is performed according to a command from the control unit 100. The light source 1003 is in a state where the positional relationship with the table 22 is maintained.

【0029】昇降台1210はテーブル22と一体にな
って移動し、X方向とY方向に移動して位置決め可能で
もある。昇降台1210がアクチュエータ1220の作
動によりZ方向(上下方向)に沿って昇降動作される場
合に、光源1003の光1100がプリズム1120を
介してキャビネット260の内面260Bに照射され
る。この光1100の位置を基準として、位置変更設定
部1200のアクチュエータ1220がZ方向にキャビ
ネット260を上下動することで、作業者は光の位置を
基準としてキャビネット260における判別に良好な判
別処理基準位置1300を選定することができる。この
ようにあらかじめ判別に良好な判別処理基準位置130
0を光1100の位置を基準として選定する場合には、
作業者が目視で判別処理基準位置1300としてなるべ
くキャビネット260の凹凸、塗料等の付着あるいはそ
の他の種類の汚れの付着が少ないあるいはない部分を選
択するのが望ましい。このようにすることで、図1に示
すプラスチックの判別対象部位の再生装置12でキャビ
ネット260の表面270の表面処理を行う場合に、判
別処理基準位置1300に対応する表面の状態を再生す
ることにより、効率良くかつ確実に表面の状態を再生す
ることができるという大きなメリットがある。
The elevating table 1210 moves integrally with the table 22, and can also be moved and positioned in the X and Y directions. When the lifting table 1210 is moved up and down in the Z direction (vertical direction) by the operation of the actuator 1220, the light 1100 of the light source 1003 is emitted to the inner surface 260B of the cabinet 260 via the prism 1120. With the position of the light 1100 as a reference, the actuator 1220 of the position change setting unit 1200 moves the cabinet 260 up and down in the Z direction. 1300 can be selected. In this way, the reference position 130 for the discrimination process which is good for
When 0 is selected based on the position of the light 1100,
It is desirable for the operator to visually select, as the discrimination processing reference position 1300, a portion where the unevenness of the cabinet 260, adhesion of paint or the like, or other types of dirt is reduced or not. In this way, when the plastic discriminating target portion reproducing apparatus 12 shown in FIG. 1 performs the surface treatment of the front surface 270 of the cabinet 260, the surface state corresponding to the discriminating process reference position 1300 is reproduced. There is a great merit that the state of the surface can be efficiently and reliably reproduced.

【0030】次に、図1のプラスチックの判別対象部位
の再生装置12の例についてより詳しく説明する。図3
は、このプラスチックの判別対象部位の再生装置12の
構造例を示している。図3のプラスチックの判別対象部
位の再生装置12は、本体12A、機械加工部12M、
加熱加圧部2500およびストッパー12Bを有してい
る。機械加工部12Mは、判別対象部位である再生部分
280の表面を削って表面状態の改善を行うことで、プ
ラスチックの表面に付着している塗料やその他の種類の
汚れ、付着物あるいは凹凸部の除去を行い、光照射によ
る判別精度の低下を防ぐためのものである。また加熱加
圧部2500は機械加工部12Mで削られたプラスチッ
クの判別対象部位の表面の粗さが大きいと、光の反射率
が低下してしまうために、光の反射率の低下を改善する
目的から、判別対象部位の表面を瞬時に加熱して軟化さ
せて、加圧することにより、平坦状態にする。これによ
って判別対象部位の表面に光照射を行った場合に、光の
反射率が向上する。
Next, an example of the reproducing apparatus 12 for the portion to be discriminated from plastic shown in FIG. 1 will be described in more detail. FIG.
Shows an example of the structure of the reproducing device 12 at the portion to be discriminated from plastic. The playback device 12 of the plastic discrimination target portion in FIG. 3 includes a main body 12A, a machined portion 12M,
It has a heating / pressing unit 2500 and a stopper 12B. The machined portion 12M cuts the surface of the reproduction portion 280, which is the portion to be discriminated, to improve the surface state, thereby removing paint or other types of dirt, adhered matter, or irregularities on the plastic surface. The removal is performed to prevent a decrease in the discrimination accuracy due to light irradiation. In addition, if the surface roughness of the part to be discriminated from the plastic shaved by the mechanical processing unit 12M is large, the heating / pressing unit 2500 reduces the light reflectance, and thus improves the reduction in the light reflectance. For the purpose, the surface of the discrimination target portion is instantaneously heated and softened, and the surface is flattened by pressing. This improves the light reflectance when the surface of the determination target portion is irradiated with light.

【0031】機械加工部12Mは、図1のキャビネット
260の表面270を、たとえば図4に示すように切削
することにより再生部分(判別対象部位)280を形成
するようになっている。図3の例では、円板型の回転切
削刃60を有しており、この回転切削刃60はモータ6
2によりR方向に連続回転する。図3の本体64はこの
モータ62と回転切削刃60を有しており、本体64は
アクチュエータ66によりX2方向に沿って所定ストロ
ーク移動可能である。アクチュエータ66としては、油
圧シリンダや空気圧シリンダ等を用いることができる。
アクチュエータ66とモータ62は、制御部100によ
りその動作が制御される。プラスチックの判別対象部位
の再生装置12の筐体12Aは、ストッパー12Bを有
している。
The machined portion 12M is configured to form a reproduction portion (determination target portion) 280 by cutting the surface 270 of the cabinet 260 shown in FIG. 1, for example, as shown in FIG. In the example of FIG. 3, a rotary cutting blade 60 of a disk type is provided.
2 continuously rotates in the R direction. The main body 64 in FIG. 3 has the motor 62 and the rotary cutting blade 60, and the main body 64 can be moved by a predetermined stroke in the X2 direction by an actuator 66. As the actuator 66, a hydraulic cylinder, a pneumatic cylinder, or the like can be used.
The operations of the actuator 66 and the motor 62 are controlled by the control unit 100. The housing 12A of the playback device 12 at the portion to be discriminated from plastic has a stopper 12B.

【0032】図4では、この回転切削刃60がキャビネ
ット260の表面270側に付着している塗料やその他
の種類の汚れのような付着物Bを切削により除去してい
る例を示している。回転切削刃60がR方向に回転する
ことで、表面270の付着物Bを除去して、表面270
に再生部分280を形成する。図3と図4では、プラス
チックの判別対象部位の再生装置12が回転切削刃60
を用いている例を示しているが、これに限らずたとえば
図5と図6に示すような他の例を採用することもでき
る。
FIG. 4 shows an example in which the rotary cutting blade 60 removes deposits B such as paint and other types of dirt adhering to the surface 270 of the cabinet 260 by cutting. By rotating the rotary cutting blade 60 in the R direction, the deposit B on the surface 270 is removed, and the surface 270 is removed.
Then, a reproduction portion 280 is formed. In FIGS. 3 and 4, the regenerating device 12 for the plastic discrimination target portion includes the rotary cutting blade 60.
However, the present invention is not limited to this, and other examples as shown in FIGS. 5 and 6 may be employed.

【0033】図5では、回転切削刃60に代えて、切削
用のバイト600を用いた例を示している。この場合で
は、バイト600がたとえばZ1方向に移動すること
で、表面270側に付着している付着物Bを除去して表
面270に再生部分280を形成する。図6は、シゴキ
により研摩することで、再生部分280を形成する例を
示している。球状ピン工具700を、Z方向に移動する
ことで、表面270に付着している付着物Bを研摩して
除去して、表面270の再生部分280を形成する。
FIG. 5 shows an example in which a cutting tool 600 is used in place of the rotary cutting blade 60. In this case, when the cutting tool 600 moves in, for example, the Z1 direction, the attached matter B adhering to the surface 270 side is removed, and the reproduction portion 280 is formed on the surface 270. FIG. 6 shows an example in which a reproduction portion 280 is formed by polishing with a sword. By moving the spherical pin tool 700 in the Z direction, the deposit B adhering to the surface 270 is polished and removed, and a reclaimed portion 280 of the surface 270 is formed.

【0034】図3の加熱加圧部2500は、図15に示
すような使用の方法で用いられ、図18のような断面構
造を有している。図18の加熱加圧部2500は、ホッ
トプレスヘッダー部等とも呼んでおり、ヘッダー250
1、カートリッジヒータ2503、ホルダー2505、
基部2507、断熱材2509、ボルト2510、温度
センサーとしての熱電対2513およびリード線251
5,2517を有している。基部2507は、ボルト2
519により図3の本体12A側に固定されている。ホ
ルダー2505は、ボルト2510により着脱可能に基
部2507に対して固定されている。ホルダー2505
は、カートリッジヒータ2503、ヘッダー2501お
よび熱電対2513を保持している。円柱状のホルダー
2505の中心の穴2521には、たとえば円柱状のカ
ートリッジヒータ2503が通っている。
The heating / pressing unit 2500 shown in FIG. 3 is used in a method as shown in FIG. 15, and has a sectional structure as shown in FIG. The heating / pressing unit 2500 in FIG. 18 is also called a hot press header unit or the like, and includes a header 250
1, cartridge heater 2503, holder 2505,
Base 2507, thermal insulator 2509, bolt 2510, thermocouple 2513 as temperature sensor, and lead 251
5,2517. Base 2507 is bolt 2
519 is fixed to the main body 12A side of FIG. The holder 2505 is detachably fixed to the base 2507 by bolts 2510. Holder 2505
Holds a cartridge heater 2503, a header 2501 and a thermocouple 2513. For example, a cylindrical cartridge heater 2503 passes through a center hole 2521 of the cylindrical holder 2505.

【0035】カートリッジヒータ2503の一端部はリ
ード線2517に接続されており、カートリッジヒータ
2503の中間部分から他端部にかけては、ヘッダー2
501の穴2523の中に入り込んでいる。ヘッダー2
501は円柱状の部材であり、ヘッダー2501の別の
穴2525の中には熱電対2513が挿入されている。
熱電対2513は、リード線2515に接続されてい
る。リード線2515とリード線2517は、制御部1
00に接続されている。
One end of the cartridge heater 2503 is connected to a lead wire 2517. From the middle portion of the cartridge heater 2503 to the other end, a header 2
501 has entered the hole 2523. Header 2
Reference numeral 501 denotes a columnar member. A thermocouple 2513 is inserted into another hole 2525 of the header 2501.
Thermocouple 2513 is connected to lead wire 2515. The lead 2515 and the lead 2517 are connected to the control unit 1
00 is connected.

【0036】制御部100がリード線2517を通じて
通電することで、カートリッジヒータ2503はヘッダ
ー2501を加熱する。その時のヘッダー2501の温
度は熱電対2513により検出することで、制御部10
0に対してヘッダー2501の温度情報を伝える。制御
部100はこの温度情報に基づいて、カートリッジヒー
タ2503に対する通電量を変えることで、ヘッダー2
501の加熱温度をたとえば100℃〜180℃の間で
保つことができる。図18に示すようにヘッダー250
1の先端部2531は平坦面になっており、この先端部
2531が図15に示すように判別対象部位である再生
部分280に対して突き当てられるようになっている。
The cartridge heater 2503 heats the header 2501 when the control unit 100 supplies power through the lead wire 2517. The temperature of the header 2501 at that time is detected by the thermocouple 2513, so that the
For 0, the temperature information of the header 2501 is transmitted. The control unit 100 changes the amount of current supplied to the cartridge heater 2503 based on the temperature information, thereby controlling the header 2.
The heating temperature of 501 can be kept, for example, between 100 ° C and 180 ° C. As shown in FIG.
The front end portion 2531 of the first device is a flat surface, and the front end portion 2531 is brought into contact with a reproduction portion 280 which is a portion to be determined as shown in FIG.

【0037】次に、図1の赤外線分光装置14の例につ
いて説明する。赤外線分光装置14は、筐体14Aとス
トッパー14Bを有している。赤外線分光装置14は、
モニター装置14Cに接続されており、分析結果はモニ
ター装置14Cを通じて作業者が確認できたりあるいは
プリントアウトすることができる。図7は赤外線分光装
置14の光学的な構成例を示している。この赤外線分光
装置14は、一例として中赤外線を用いる赤外線分光装
置の例であり、赤外線分光装置14は、赤外線発生部8
0、移動ミラー82、ビームスプリッタ84、ミラー8
6,88、検出器90、ミラー92等を有している。こ
の赤外線分光装置14は、赤外線発生部80から発生す
る中赤外線のような赤外線94を用いて、キャビネット
260の再生部分280のプラスチックの種類を光学的
に判別するいわゆるフーリエ・インターフェロメータ
(Fourier Interferometer)で
ある。
Next, an example of the infrared spectrometer 14 of FIG. 1 will be described. The infrared spectroscopy device 14 has a housing 14A and a stopper 14B. The infrared spectroscopy device 14
The analysis result is connected to the monitor device 14C, and the operator can confirm or print out the analysis result through the monitor device 14C. FIG. 7 shows an optical configuration example of the infrared spectroscopy device 14. The infrared spectroscopy device 14 is an example of an infrared spectroscopy device that uses mid-infrared rays as an example.
0, moving mirror 82, beam splitter 84, mirror 8
6, 88, a detector 90, a mirror 92, and the like. The infrared spectrometer 14 uses a so-called Fourier Interferometer that optically determines the type of plastic of the reproducing portion 280 of the cabinet 260 using infrared rays 94 such as mid-infrared rays generated from the infrared ray generating section 80. ).

【0038】赤外線発生部80から発生する赤外線94
は、たとえば2.5〜25μmの波長を採用することが
できる。赤外線94は、ビームスプリッタ84で、移動
ミラー82と固定側のミラー92に分けて送られる。移
動ミラー82からの赤外線96とミラー92からの赤外
線98がミラー86に達する。ミラー86で反射した赤
外線は、キャビネット260の再生部分280に対して
入力ビームIBとして照射される。この入力ビームIB
が戻りビームRBとして再生部分280からミラー88
に戻り、戻りビームRBはミラー88で反射して検出器
90に入射される。ミラー86とミラー88は分析ヘッ
ド(測定ヘッド)99を構成している。
Infrared ray 94 generated from infrared ray generating section 80
For example, a wavelength of 2.5 to 25 μm can be adopted. The infrared light 94 is sent by the beam splitter 84 to the movable mirror 82 and the fixed-side mirror 92 separately. Infrared light 96 from the moving mirror 82 and infrared light 98 from the mirror 92 reach the mirror 86. The infrared light reflected by the mirror 86 is emitted as an input beam IB to a reproduction portion 280 of the cabinet 260. This input beam IB
From the reproducing portion 280 to the mirror 88 as the return beam RB.
The return beam RB is reflected by the mirror 88 and is incident on the detector 90. The mirror 86 and the mirror 88 constitute an analysis head (measurement head) 99.

【0039】この赤外線分光装置14で得られたスペク
トルの波形を、内蔵してあるコンピュータにデータとし
て送り、このスペクトル波形と既に登録してあるスペク
トル波形を照合して、プラスチックの材質と難燃剤の種
類を特定する。このようにすることで、再生部分280
を利用して、図1のキャビネット260のプラスチック
の材質の種類を判別することができる。このような構成
を有する赤外線分光装置14は、図7と図1に示すよう
にプロテクター4000に収容されている。このプロテ
クター4000は、赤外線分光装置14を、外部からの
温度や湿度に影響されない除湿された一定の雰囲気下に
保つためのいわゆる容器の一種である。このようにプロ
テクター4000の中に赤外線分光装置14を収めるの
は、赤外線分光装置に組み込まれている部品の内の、た
とえば図7に示すビームスプリッタ84に使用している
KBr(臭化カリウム)が湿度に対して非常にデリケー
トな為と、赤外線の光路間に関しては温度変化、気圧変
化によって微妙に狂うことがあり、赤外線分光によるプ
ラスチックの種類の分析能力が低下してしまう恐れがあ
るからである。
The spectrum waveform obtained by the infrared spectrometer 14 is sent as data to a built-in computer, and the spectrum waveform is compared with the already registered spectrum waveform to check the plastic material and the flame retardant. Specify the type. By doing so, the reproduction portion 280
Can be used to determine the type of plastic material of the cabinet 260 in FIG. The infrared spectroscopic device 14 having such a configuration is housed in the protector 4000 as shown in FIGS. This protector 4000 is a kind of so-called container for keeping the infrared spectrometer 14 in a constant dehumidified atmosphere that is not affected by external temperature or humidity. The reason why the infrared spectroscope 14 is housed in the protector 4000 is that, for example, KBr (potassium bromide) used in the beam splitter 84 shown in FIG. Because it is very sensitive to humidity, and between the optical paths of infrared rays, there is a possibility that the temperature and pressure changes may cause slight fluctuations, and the analytical ability of plastics by infrared spectroscopy may decrease. .

【0040】図20と図21は、プロテクター4000
の構造例を示している。プロテクター4000の中に
は、赤外線分光装置14が収められている。赤外線分光
装置14は、スライド装置4001により、図20に示
すようにE方向に沿ってプロテクター4000の中から
プロテクター4000の外にスライドして取り出すこと
ができるようになっている。プロテクター4000の前
側には分析ヘッド(測定ヘッド)99が外部に出る様な
穴4040が空いている前面カバー4003が設けられ
ている。プロテクター4000の上にはモニター装置1
4Cが載せてあり、プロテクター4000の中の下部に
は中央処理部4004が収められている。
FIGS. 20 and 21 show the protector 4000.
2 shows an example of the structure. In the protector 4000, the infrared spectrometer 14 is housed. As shown in FIG. 20, the infrared spectroscopy device 14 can be taken out of the protector 4000 by sliding it out of the protector 4000 along the direction E as shown in FIG. On the front side of the protector 4000, a front cover 4003 having a hole 4040 through which an analysis head (measurement head) 99 is exposed is provided. Monitor device 1 on protector 4000
4C, a central processing unit 4004 is housed in the lower part of the protector 4000.

【0041】図20と図21において、赤外線分光装置
14を収納するスペース6002の周囲には、前面カバ
ー4003と、側面カバー6004と、後面には赤外線
分光装置14を単独でメンテナンスできる様に、スライ
ド装置4001に依って収納スペース6002から引出
せる様に、開閉扉6006が付いている。収納スペース
6008は中央処理装置4004を収納するスペースで
あり、この収納スペース6008とスペース6002は
中間プレート6009により仕切ってある。この収納ス
ペース6002には、上部の側面からドライエアー注入
口6010が設けてあり、この注入口6010からドラ
イエアーまたは温度及び湿度をコントロールしたエアー
を注入する様になっている。
20 and 21, a front cover 4003 and a side cover 6004 are provided around a space 6002 for accommodating the infrared spectroscopy device 14, and a slide is provided on the rear surface so that the infrared spectroscopy device 14 can be independently maintained. An opening / closing door 6006 is provided so that the door can be pulled out of the storage space 6002 by the device 4001. The storage space 6008 is a space for storing the central processing unit 4004, and the storage space 6008 and the space 6002 are separated by an intermediate plate 6009. The storage space 6002 is provided with a dry air injection port 6010 from the upper side, and dry air or air whose temperature and humidity are controlled is injected from the injection port 6010.

【0042】前面カバー4003には赤外線分光装置1
4の分析ヘッド(測定ヘッド)99を外部へ出す為に、
穴4040が開いている。この穴4040は、開いてい
ても収納スペース6002の内部の圧力が密閉構造の為
に、加圧状態になり、ホコリや外部からの温度、湿度の
影響を受けない。また密閉状態に依り、赤外線分光装置
14は単独のメンテナンスをし易くする為、後面の開閉
扉6006を開いてスライド装置4001に依り収納ス
ペース6002の後方に引き出すことができる。
The front cover 4003 has an infrared spectrometer 1
In order to take out the analysis head (measurement head) 99 of 4 to the outside,
Hole 4040 is open. Even if the hole 4040 is open, the pressure inside the storage space 6002 is in a pressurized state due to the closed structure, and is not affected by dust or temperature and humidity from outside. Also, depending on the hermetically closed state, the infrared spectroscopy device 14 can be pulled out to the rear of the storage space 6002 by opening the opening / closing door 6006 on the rear surface and using the slide device 4001 to facilitate independent maintenance.

【0043】更に微振動の対策としては、赤外線分光装
置14とスライド装置4001の間に、弾力性フォーム
4013(たとえばネオプレン(登録商標)ゴム/厚さ
10mm/硬度60)を入れて、緩衝材としている。こ
の弾力性フォーム4013はスライド装置4001と赤
外線分光装置14との相互位置を保つ様にする為に、弾
力性フォーム4013の外形部4014と赤外線分光装
置14の脚部4015とが規定の寸法値になる様にして
ある。また図26に示すように、スライド装置4001
は、キャビネット260を固定しているテーブル22の
ブロック32の面とも位置関係が保たれている。
As a countermeasure against micro-vibration, an elastic foam 4013 (for example, neoprene (registered trademark) rubber / thickness 10 mm / hardness 60) is inserted between the infrared spectroscopy device 14 and the slide device 4001 as a cushioning material. I have. In order to maintain the mutual position between the sliding device 4001 and the infrared spectroscopic device 14, the elastic foam 4013 has the outer dimensions 4014 of the elastic foam 4013 and the leg portions 4015 of the infrared spectroscopic device 14 set to specified dimensions. It has become. Also, as shown in FIG.
Is maintained in a positional relationship with the surface of the block 32 of the table 22 to which the cabinet 260 is fixed.

【0044】なお、図8および図1に示すようにベース
26の最も後端部には、赤外線分光装置14の隣におい
て赤外線分光装置14で分析により得られたキャビネッ
ト260のプラスチックの種類の判別結果を読み取る読
取装置2000が設けられている。
As shown in FIGS. 8 and 1, at the rearmost end of the base 26, next to the infrared spectroscope 14, the result of the discrimination of the plastic type of the cabinet 260 obtained by the analysis by the infrared spectroscope 14 is shown. Is provided.

【0045】図22および図23は、図20と図21に
示す赤外線分光装置14のための校正装置の校正用ユニ
ットの好ましい実施の形態を示している。図24に示す
ように校正装置5060は校正用のユニット5000と
搭載部5030を有している。図22と図23の校正用
のユニット5000は、本体5014、金蒸着ミラー器
5002、保持部5013、および付勢部材であるコイ
ルスプリング5015等を有している。本体5014は
リング状のフランジ部5017を有している。本体50
14の中には、保持部5013およびコイルスプリング
5015が収容されている。コイルスプリング5015
は本体5014の部分5018と保持部5013のフラ
ンジ部5013Aの間に配置されている。保持部501
3の一端部側には、ねじ5089を用いて金蒸着ミラー
器5002が固定されている。
FIGS. 22 and 23 show a preferred embodiment of the calibration unit of the calibration device for the infrared spectrometer 14 shown in FIGS. 20 and 21. As shown in FIG. 24, the calibration device 5060 has a calibration unit 5000 and a mounting unit 5030. The calibration unit 5000 shown in FIGS. 22 and 23 has a main body 5014, a gold vapor deposition mirror device 5002, a holding portion 5013, a coil spring 5015 as an urging member, and the like. The main body 5014 has a ring-shaped flange portion 5017. Body 50
14 houses a holding portion 5013 and a coil spring 5015. Coil spring 5015
Is disposed between the portion 5018 of the main body 5014 and the flange portion 5013A of the holding portion 5013. Holder 501
A gold vapor deposition mirror device 5002 is fixed to one end side of 3 using a screw 5089.

【0046】図22において、金蒸着ミラー器5002
は図24に示すように赤外線照射部5020の分析ヘッ
ド99に密着する時に、金蒸着ミラー器5002が図2
2に示すG方向に押された時に、コイルスプリング50
15がその金蒸着ミラー器5002と保持部5013の
F方向の移動操作を弾性力を以て受けることができるも
のである。このようにコイルスプリング5015が設け
られていることにより、図24に示す分析ヘッド99と
金蒸着ミラー器5002の密着性を高めるとともに、金
蒸着ミラー器5002に対してG方向に加わる衝撃を吸
収することができる。またコイルスプリング5015が
設けられていることにより、分析ヘッド99と金蒸着ミ
ラー器5002の寸法誤差や位置の誤差等も吸収するこ
とができる。
In FIG. 22, a gold vapor deposition mirror device 5002
When the gold vapor deposition mirror device 5002 is brought into close contact with the analysis head 99 of the infrared irradiation unit 5020 as shown in FIG.
When the coil spring 50 is pushed in the direction G shown in FIG.
Numeral 15 indicates that the gold vapor deposition mirror device 5002 and the holding portion 5013 can be moved in the F direction with elastic force. By providing the coil spring 5015 in this manner, the adhesion between the analysis head 99 and the gold vapor deposition mirror device 5002 shown in FIG. 24 is improved, and the shock applied to the gold vapor deposition mirror device 5002 in the G direction is absorbed. be able to. Further, the provision of the coil spring 5015 can absorb a dimensional error and a position error between the analysis head 99 and the gold vapor deposition mirror device 5002.

【0047】図24の赤外線照射部5020は、図7に
示すように分析ヘッド99および検出器90を含む。図
22と図23に示すフランジ部5017は、図24に示
すようにクランパー30によりブロック32の内側32
aに対して突き当てて固定するための部分である。この
ようにフランジ部5017を用いて校正用のユニット5
000がブロック32,32に固定された状態では、開
口部Pの中に金蒸着ミラー器5002が位置される。テ
ーブル22と昇降台1210は、図1に示すキャビネッ
ト260の搭載に代えて校正用のユニット5000を搭
載するための搭載部5030を構成している。
24 includes an analysis head 99 and a detector 90 as shown in FIG. As shown in FIG. 24, the flange portion 5017 shown in FIGS.
This is a part for abutting and fixing against a. As described above, the calibration unit 5 using the flange portion 5017 is used.
In a state where 000 is fixed to the blocks 32, 32, the gold deposition mirror device 5002 is located in the opening P. The table 22 and the lift 1210 constitute a mounting unit 5030 for mounting the calibration unit 5000 instead of mounting the cabinet 260 shown in FIG.

【0048】一方、赤外線分光装置のプロテクター40
00は、赤外線照射部5020の分析ヘッド99に対応
する位置に小さな穴(開口部)4040を有している。
この穴4040の中には、分析ヘッド99が位置してい
る。穴4040は、分析ヘッド99が外部に露出するこ
とができればよい大きさであり、穴4040があって
も、プロテクター4000内の一定の雰囲気を保持でき
る。
On the other hand, the protector 40 of the infrared spectroscopy
No. 00 has a small hole (opening) 4040 at a position corresponding to the analysis head 99 of the infrared irradiation unit 5020.
The analysis head 99 is located in the hole 4040. The hole 4040 has a size as long as the analysis head 99 can be exposed to the outside. Even if the hole 4040 is provided, a certain atmosphere in the protector 4000 can be maintained.

【0049】次に、図25を参照しながら赤外線分光装
置の校正方法の例について説明する。図25に示す配置
ステップS1では、図24の搭載部5030の上に校正
用のユニット5000を配置する。この搭載部5030
と校正用のユニット5000が、校正装置5060を構
成している。校正用のユニット5000のフランジ部5
017が、クランパー30により保持されることによ
り、フランジ部5017はブロック32の内側部32a
に対して突き当てられる。この状態では、金蒸着ミラー
器5002はブロック32の開口部Pから突き出てい
る。テーブル22をX1方向に移動することにより金蒸
着ミラー器5002は赤外線照射部5020の分析ヘッ
ド99に密着する。この時に、金蒸着ミラー器5002
は、分析ヘッド99から力を受ける場合があるが、図2
2に示す金蒸着ミラー器5002は保持部5013を介
してコイルスプリング5015によりそのG方向の力を
吸収することができる。従って、金蒸着ミラー器500
2に加わる衝撃を緩和して金蒸着ミラー器5002の損
傷を防ぐことができる。また図24に示す分析ヘッド9
9と金蒸着ミラー器5002のそれぞれの寸法誤差や位
置の誤差をもコイルスプリング5015の存在により吸
収することができる。
Next, an example of a method for calibrating an infrared spectrometer will be described with reference to FIG. In the arrangement step S1 shown in FIG. 25, the calibration unit 5000 is arranged on the mounting section 5030 in FIG. This mounting part 5030
And the calibration unit 5000 constitute a calibration device 5060. Flange part 5 of unit 5000 for calibration
177 is held by the clamper 30, so that the flange portion 5017 becomes the inner portion 32 a of the block 32.
Hit against. In this state, the gold vapor deposition mirror device 5002 protrudes from the opening P of the block 32. By moving the table 22 in the X1 direction, the gold deposition mirror device 5002 comes into close contact with the analysis head 99 of the infrared irradiation unit 5020. At this time, the gold evaporation mirror device 5002
May be subject to force from the analysis head 99, FIG.
2 can absorb the force in the G direction by the coil spring 5015 via the holding portion 5013. Therefore, the gold deposition mirror device 500
2 can be mitigated to prevent damage to the gold vapor deposition mirror device 5002. The analysis head 9 shown in FIG.
The presence of the coil spring 5015 can also absorb the dimensional errors and positional errors of the mirror 9 and the gold vapor deposition mirror device 5002.

【0050】次に、図25の校正ステップS2に移る。
校正ステップS2では、校正用のユニット5000が分
析ヘッド99に密着された状態で、図7に示す分析ヘッ
ド99から出射される赤外線の入力ビームIBが金蒸着
ミラー器5002により反射されることで図7のミラー
88を介して検出器90に戻る。これにより検出器90
は、図7の赤外線発生部80が発生する赤外線94の校
正もしくは検定を行うことができる。すなわち赤外線分
光装置の初期状態を計る目的として、温度の変化、気圧
の変化によって生じる要因を修正する。また、このよう
に金蒸着器ミラー器5002を用いるのは、中赤外線に
対しては一番反射率が良いからである。
Next, the process proceeds to the calibration step S2 in FIG.
In the calibration step S2, while the calibration unit 5000 is in close contact with the analysis head 99, the infrared input beam IB emitted from the analysis head 99 shown in FIG. 7, and returns to the detector 90 via the mirror 88. This allows the detector 90
Can perform calibration or verification of the infrared ray 94 generated by the infrared ray generating section 80 in FIG. That is, for the purpose of measuring the initial state of the infrared spectrometer, the factors caused by changes in temperature and pressure are corrected. The reason why the gold vapor deposition mirror device 5002 is used in this way is that the reflectance is the best for mid-infrared rays.

【0051】以上のようにして赤外線分光装置14の校
正は、搭載部5030に搭載された校正用のユニット5
000により、赤外線分光装置14をプロテクター40
00の中に収めた状態で正確に行うことができる。赤外
線分光装置14がプロテクター4000の中に収容され
ているのて、従来と異なり外部からの温度や湿度に影響
されない除湿された一定の雰囲気下において、赤外線分
光装置の赤外線の射出に関する校正を正確に行うことが
できるのである。従って赤外線分光装置の校正時には湿
度の高い使用条件下でも温度や湿度の影響を受けないの
で、いつでも赤外線分光装置を正確に動作させることが
できる。校正作業が終ると、図25の判別ステップS3
において図19に示す判別作業を行う。上述したような
赤外線分光装置の校正方法は、図19に示すプラスチッ
クの判別方法を行う前に実施したり、プラスチックの判
別を行っている途中に適宜実施しても勿論構わない。
As described above, the calibration of the infrared spectrometer 14 is performed by the calibration unit 5 mounted on the mounting unit 5030.
000, the infrared spectroscopy device 14
It is possible to perform the operation accurately in a state of being stored in 00. Since the infrared spectroscopy device 14 is housed in the protector 4000, it is possible to accurately calibrate the infrared spectroscopy device for infrared emission under a constant dehumidified atmosphere that is not affected by external temperature or humidity unlike the related art. You can do it. Therefore, when the infrared spectrometer is calibrated, it is not affected by the temperature and humidity even under a humid use condition, so that the infrared spectrometer can be operated accurately at any time. When the calibration work is completed, the determination step S3 in FIG.
In FIG. 19, the determination operation shown in FIG. 19 is performed. The method of calibrating the infrared spectrometer as described above may be performed before performing the method of determining plastic shown in FIG. 19, or may be performed as needed during the determination of plastic.

【0052】次に、図26と図27を参照して、本発明
の別の実施の形態を説明する。図26と図27の校正用
のユニット5000と、搭載部5030は、校正装置5
070を構成している。校正用のユニット5000のフ
ランジ部5017は、図27に示すようにブロック32
の外側部32dに対してたとえばねじ5090を用いて
着脱可能に固定されている。図26と図27の校正用の
ユニット5000のその他の要素については、図22〜
図24の校正用のユニット5000と同じであるのでそ
の説明を用いる。
Next, another embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 26 and 27. The calibrating unit 5000 and the mounting unit 5030 of FIGS.
070. The flange portion 5017 of the calibration unit 5000 is connected to the block 32 as shown in FIG.
Is removably fixed to the outer portion 32d of the second member using, for example, a screw 5090. The other elements of the calibration unit 5000 of FIGS. 26 and 27 are shown in FIGS.
Since it is the same as the calibration unit 5000 of FIG. 24, its description will be used.

【0053】次に、図11〜図17および図19を参照
して、プラスチックの判別対象部位の再生方法とプラス
チックの種類の判別方法について説明する。まず図19
の光照射ステップST1−1に示すように、図10の昇
降台1210の上にキャビネット260を載せて、キャ
ビネット260の表面270をブロック32の内面32
aに突き当てる。そして、図9と図10の光源1003
から光1100を照射して、プリズム1120を介して
キャビネット260の内面260Bに光1100を照射
する。作業者はこの光1100の位置により判別処理基
準位置1300をキャビネット260の内面260Bに
おいて選定する。
Next, with reference to FIGS. 11 to 17 and FIG. 19, a description will be given of a method of regenerating a plastic discrimination target portion and a method of discriminating the type of plastic. First, FIG.
As shown in the light irradiation step ST1-1, the cabinet 260 is placed on the elevator 1210 in FIG.
hit a. Then, the light source 1003 shown in FIGS.
Irradiates light 1100 to the inner surface 260B of the cabinet 260 through the prism 1120. The operator selects the discrimination processing reference position 1300 on the inner surface 260B of the cabinet 260 based on the position of the light 1100.

【0054】次に図19の判別処理基準位置設定ステッ
プST1−1においては、作業者がスポット光のような
光1100の位置を見ながら、昇降台1210をZ方向
に上下動することで、判別に良好もしくは最適なキャビ
ネット260の判別処理基準位置1300を定める。つ
まり判別処理基準位置1300では、できる限りキャビ
ネット260の外面260Aにおいて塗料やその他の種
類の汚れ、付着物あるいは凹凸がない部分を光1100
の位置を基準として選択するのである。以上の作業が、
図19の光照射ステップST1−1と判別処理基準位置
設定ステップST1−2である。
Next, in the reference processing reference position setting step ST1-1 in FIG. 19, the worker moves the elevating platform 1210 up and down in the Z direction while looking at the position of the light 1100 such as a spot light. The determination processing reference position 1300 of the cabinet 260 that is good or optimal is determined. In other words, at the discrimination processing reference position 1300, a portion of the outer surface 260A of the cabinet 260 where there is no paint or other types of dirt, deposits, or irregularities is light 1100 as much as possible.
The position is selected as a reference. The above work,
This is a light irradiation step ST1-1 and a determination processing reference position setting step ST1-2 in FIG.

【0055】図19の表面再生ステップST2は、機械
加工ステップST2−2と、加熱加圧ステップST2−
2を含んでいる。機械加工ステップST2−1は、判別
対象部位である再生部分280の表面を削って表面状態
の改善を行うことで、プラスチックの表面に付着してい
る塗料やその他の種類の汚れ、付着物あるいは凹凸部等
を機械的に即座に除去する。これによって、赤外線を再
生部分280に照射した時にプラスチックの種類の判別
精度の低下を防ぐ。加熱加圧ステップST2−2は、機
械加工ステップST2−1において機械加工された再生
部分280において機械加工による凹凸(表面粗さ)が
発生している場合がある。この機械加工による凹凸は赤
外線の反射率の低下を招くので、赤外線の反射率の低下
を防ぐために、加熱加圧部2500を用いて再生部分2
80の表面を瞬時に軟化させ、及び加圧プレスすること
により平坦な状態にする。これによって赤外線を照射し
た場合の赤外線の反射率の向上を図るのである。
The surface regeneration step ST2 in FIG. 19 includes a machining step ST2-2 and a heating / pressing step ST2-
Contains 2. In the machining step ST2-1, the surface of the reproduction portion 280, which is the determination target portion, is scraped to improve the surface condition, so that paint or other types of dirt, deposits, or irregularities adhered to the plastic surface. Parts are immediately removed mechanically. This prevents the accuracy of discriminating the type of plastic from being reduced when the reproducing portion 280 is irradiated with infrared rays. In the heating and pressurizing step ST2-2, unevenness (surface roughness) due to machining may occur in the reproduced portion 280 machined in the machining step ST2-1. Since the irregularities due to the mechanical processing cause a decrease in the reflectivity of infrared rays, in order to prevent the reflectivity of infrared rays from decreasing, the reproducing portion 2 is formed by using the heating / pressing section 2500.
The surface of 80 is instantaneously softened and flattened by pressing under pressure. Thereby, the reflectance of the infrared ray when the infrared ray is irradiated is improved.

【0056】次に、図19の表面再生ステップST2に
おいては、モータ34を作動して図11のクランパー3
0がキャビネット260の内面270Aをクランプして
いる。これにより、キャビネット260は昇降台121
0の上でブロック32,32に固定されている。図12
のテーブル22をX1方向に移動した後に、プラスチッ
クの判別対象部位の再生装置12の本体64をX2の方
向に移動する。この時に、ストッパー12Bがテーブル
22の端面22Aを止めるので、テーブル22が表面再
生部12側に突き出ず、本体64とキャビネット260
を破損してしまうようなことがなく、しかも加熱加圧部
2500がブロック32に当たることもない。そして、
図3のモータ62を作動して回転切削刃60をR方向に
回転することで、たとえば図4に示すような要領で表面
270のたとえば塗料やその他の種類の汚れ、付着物B
あるいは凹凸部を除去して再生部分280を新たに形成
する。この後、回転切削刃60が図13に示すようにX
1方向に後退した後、テーブル22がY1方向にさらに
移動する。
Next, in the surface regeneration step ST2 of FIG. 19, the motor 34 is operated to operate the clamper 3 of FIG.
0 clamps the inner surface 270A of the cabinet 260. As a result, the cabinet 260 is moved up and down
It is fixed to the blocks 32, 32 on 0. FIG.
After moving the table 22 in the X1 direction, the main body 64 of the playback device 12 at the portion to be determined of plastic is moved in the X2 direction. At this time, since the stopper 12B stops the end face 22A of the table 22, the table 22 does not protrude toward the surface reproducing unit 12, and the main body 64 and the cabinet 260
And the heating / pressing unit 2500 does not hit the block 32. And
By rotating the rotary cutting blade 60 in the R direction by operating the motor 62 shown in FIG. 3, for example, paint or other types of stains or deposits B on the surface 270 in the manner shown in FIG.
Alternatively, the reproduction portion 280 is newly formed by removing the uneven portion. Thereafter, the rotary cutting blade 60 is moved to X as shown in FIG.
After retreating in one direction, the table 22 moves further in the Y1 direction.

【0057】次に、表面再生ステップST2の加熱加圧
ステップST2−2を行う。このステップST2−2で
は、図13に示すように加熱加圧部2500がキャビネ
ット260の再生部分280に対面している。キャビネ
ット260はクランパー30によりブロック32,32
に固定された状態である。この状態で加熱加圧部250
0が図3のアクチュエータ2566を作動することによ
り、X2の方向に移動して、図15に示すようにヘッダ
ー2501が判別対象部位である再生部分280に突き
当たる。ヘッダー2501は図18のカートリッジヒー
タ2503により一定温度に加熱されている。従ってヘ
ッダー2501は、図15の再生部分280を瞬時に加
熱して軟化させ、更に加圧を加えることにより、軟化し
た再生部分280はヘッダー2501の先端部により平
坦化される。従って、機械加工ステップST2−1にお
いて機械加工による微小な凹凸が発生していても、その
凹凸を軟化および加圧プレスにより平坦化することがで
きる。
Next, a heating and pressing step ST2-2 of the surface regeneration step ST2 is performed. In this step ST2-2, as shown in FIG. 13, the heating / pressing unit 2500 faces the reproduction unit 280 of the cabinet 260. The cabinet 260 is divided into blocks 32, 32 by the clamper 30.
The state is fixed to. In this state, the heating and pressing unit 250
When 0 operates the actuator 2566 shown in FIG. 3, the header 2501 moves in the direction of X2, and the header 2501 hits the reproduction portion 280, which is the determination target portion, as shown in FIG. The header 2501 is heated to a constant temperature by the cartridge heater 2503 in FIG. Therefore, the header 2501 instantaneously heats and softens the reproducing portion 280 of FIG. 15, and further applies pressure, so that the softened reproducing portion 280 is flattened by the tip of the header 2501. Therefore, even if minute irregularities are generated by machining in the machining step ST2-1, the irregularities can be flattened by softening and pressing.

【0058】このことから、平坦化された対象部位であ
る再生部分280に対して後工程で赤外線を照射して
も、その赤外線の反射率を高めることができ、赤外線に
よるキャビネット260のプラスチックの種類の判別を
確実に行うことができる。このようにして再生部分28
0の平坦化を行った後に、図15のアクチュエータ25
66を作動して加熱加圧部2500をX1方向に後退さ
せる。加熱加圧部2500が後退した後に、次の分析判
別ステップST0に移る。
Accordingly, even if the reproducing portion 280, which is the flattened target portion, is irradiated with infrared rays in a later step, the reflectance of the infrared rays can be increased, and the type of plastic of the cabinet 260 due to the infrared rays can be increased. Can be reliably determined. In this way, the reproduction part 28
After the flattening of the actuator 25 shown in FIG.
66 is operated to retreat the heating / pressing unit 2500 in the X1 direction. After the heating and pressurizing unit 2500 retreats, the process proceeds to the next analysis determination step ST0.

【0059】図19の分析判別ステップST0のステッ
プST3に移ると、図13に示すようにテーブル22は
X2の方向に移動するとともに、本体64はX1方向に
移動する。そして図1のモータ52が作動して、テーブ
ル22はY1方向に移動して図14の状態になる。すな
わち、テーブル22およびキャビネット260は赤外線
分光装置14に対面する。この時にテーブル22の開口
部Pは赤外線分光装置14の分析ヘッド99に対応して
位置決めされている。
When the process proceeds to step ST3 of the analysis determination step ST0 in FIG. 19, the table 22 moves in the X2 direction and the main body 64 moves in the X1 direction as shown in FIG. Then, the motor 52 shown in FIG. 1 is operated, and the table 22 is moved in the Y1 direction to reach the state shown in FIG. That is, the table 22 and the cabinet 260 face the infrared spectroscopy device 14. At this time, the opening P of the table 22 is positioned corresponding to the analysis head 99 of the infrared spectroscope 14.

【0060】図19の分析判別ステップST0のステッ
プST4では、図16に示すように、テーブル22がX
1方向に移動して、開口部Pを通ってキャビネット26
0の再生部分280を分析ヘッド99に対面させる。こ
の時にストッパー14Bがテーブル22の端部22Aを
止めるので、分析ヘッド99とキャビネット260の位
置関係が保たれていて、分析ヘッド99がキャビネット
260に当たらないので、分析ヘッド99とキャビネッ
ト260が壊れてしまうようなことがない。同時に、図
示しないが近接スイッチもしくは接触スイッチあるいは
その他の手動によるスイッチで、赤外線分光装置である
赤外線分光装置14が作動して、キャビネット260の
判別対象部位である再生部分280に赤外線を照射して
プラスチックの種類の判別を行う。
In step ST4 of analysis determination step ST0 in FIG. 19, as shown in FIG.
Moving in one direction, through the opening P
The reproduction portion 280 of 0 faces the analysis head 99. At this time, since the stopper 14B stops the end 22A of the table 22, the positional relationship between the analysis head 99 and the cabinet 260 is maintained, and the analysis head 99 does not hit the cabinet 260. There is no such thing. At the same time, although not shown, a proximity switch, a contact switch, or another manual switch activates the infrared spectroscopy device 14 which is an infrared spectroscopy device, and irradiates the reproduction portion 280 of the cabinet 260, which is a determination target portion, with infrared rays. Is determined.

【0061】図19の分析判別ステップST0のステッ
プST5において、キャビネット260の再生部分28
0に対して図7に示す入力ビームIBを照射して、戻り
ビームRBを検出器90により検出する。これによって
検出器90で得られるスペクトルに基づいて、既にコン
ピュータに登録してあるスペクトルと、被判別対象物で
あるキャビネット260から測定して得たスペクトルと
を照合して、プラスチック及び難燃剤の種類を判別す
る。以上のようにしてキャビネット260のプラスチッ
クの材質の種類を分析して判別することができる。
At step ST5 of the analysis determination step ST0 of FIG.
0 is irradiated with the input beam IB shown in FIG. 7 and the return beam RB is detected by the detector 90. Thus, based on the spectrum obtained by the detector 90, the spectrum already registered in the computer is compared with the spectrum measured from the cabinet 260, which is the object to be determined, and the types of the plastic and the flame retardant are compared. Is determined. As described above, the type of the plastic material of the cabinet 260 can be analyzed and determined.

【0062】図19の分析判別ステップST0のステッ
プST6では、図17に示すようにテーブル22がX2
の方向に移動することで、キャビネット260およびテ
ーブル22が分析ヘッド99から離すことができる。こ
の時点で、図1のモータ52を作動してクランパー30
を解除することで、キャビネット260をテーブル22
の上から取り除いて、図19のステップST7で分別工
程に移る。そしてテーブル22は図17のY2の方向に
移動して、図8の状態に戻し、そのテーブル22の上に
新たな判別対象であるキャビネット260を載せてクラ
ンパー30により固定して、上述したような要領で再び
キャビネット260の再生部分を形成してプラスチック
の種類の判別を行う。
In step ST6 of analysis determination step ST0 in FIG. 19, as shown in FIG.
Move the cabinet 260 and the table 22 away from the analysis head 99. At this time, the motor 52 of FIG.
Is released, the cabinet 260 is moved from the table 22
Then, the process proceeds to the sorting process in step ST7 of FIG. Then, the table 22 moves in the direction of Y2 in FIG. 17 and returns to the state of FIG. 8, and a cabinet 260 to be newly discriminated is placed on the table 22 and fixed by the clamper 30, and as described above. The reproduction part of the cabinet 260 is formed again in the same manner, and the type of plastic is determined.

【0063】プラスチックを用いた商品のプラスチック
をリサイクルするに当たり、赤外線分光装置(FTI
R)を使ってそのプラスチックの素材を判別する時に、
プラスチック表面に塗料・汚れ・凹凸による判別精度の
低下を防ぐために、プラスチックの表面をフライバック
カッターのような機械加工部で切削して再生処理を行
う。そのプラスチックの表面が削られて赤外線の反射率
が低下したのを改善させるため、切削後約100〜18
0℃に保った加熱加圧部で瞬時にプラスチックの表面を
軟化させて加圧プレスすることにより、より光の反射率
のよいプラスチック表面の再生を実現する。
In recycling plastics of products using plastics, an infrared spectrometer (FTI)
R) to determine the plastic material,
In order to prevent the accuracy of discrimination from being reduced due to paint, dirt, and irregularities on the plastic surface, the plastic surface is cut by a machined part such as a flyback cutter and regenerated. In order to improve the reduction of infrared reflectance due to the shaving of the plastic surface, about 100 to 18
By instantaneously softening and press-pressing the surface of the plastic with the heating and pressurizing unit kept at 0 ° C., the plastic surface with higher light reflectance can be reproduced.

【0064】切削による再生処理の後、加熱加圧部によ
りホットプレスすることにより赤外線の反射率を向上さ
せ、プラスチックの種類の判別精度を上げることができ
る。被判別対象物であるキャビネットを固定することに
より分析ポイントが定まり、依って再生処理から分析ま
でが同一基準で作業できるため、プラスチック材の判別
作業が大変効率よくできる。この判別装置では黒色系プ
ラスチックの判別もできる。この判別装置ではプラスチ
ックに含まれている難燃剤の種類及び含有量を特定でき
る。
After the regenerating process by cutting, the reflectance of infrared rays can be improved by hot pressing with a heating and pressing unit, and the accuracy of discriminating the type of plastic can be improved. By fixing the cabinet which is the object to be determined, the analysis point is determined, and since the work from the reproduction process to the analysis can be performed on the same basis, the work of determining the plastic material can be performed very efficiently. This determination device can also determine black plastic. With this determination device, the type and content of the flame retardant contained in the plastic can be specified.

【0065】上述したような図1のテーブル22は、図
1に示すように軸36を中心としてT方向に回転するこ
とで開閉できるクランパー30を備えているので、キャ
ビネット260のサイズや形に関わらずキャビネット2
60をブロック32に対して確実に固定することができ
る。またクランパー30はキャビネットに代えて校正用
ユニット5000を固定できる。またブロック32,3
2の間に開口部Pを設けることにより、キャビネット2
60のサイズに関わらなく、キャビネット260の表面
270において再生部分280を形成することができ
る。また、図24のように開口部Pから校正用ユニット
5000の金蒸着ミラー器5002を分析ヘッド99に
接触できる。
The table 22 shown in FIG. 1 as described above includes the clamper 30 which can be opened and closed by rotating in the T direction about the shaft 36 as shown in FIG. Cabinet 2
60 can be securely fixed to the block 32. Further, the clamper 30 can fix the calibration unit 5000 instead of the cabinet. Blocks 32 and 3
By providing an opening P between the cabinet 2
Regardless of the size of the 60, a playback portion 280 can be formed on the surface 270 of the cabinet 260. 24, the gold vapor deposition mirror device 5002 of the calibration unit 5000 can be brought into contact with the analysis head 99 from the opening P.

【0066】本発明の実施の形態では、プラスチックを
用いた商品のプラスチックをリサイクルするに当たり、
赤外線分光装置(FTIR:Fourier Tran
sport Infrared Rays)を使ってそ
のプラスチックの素材を判別する時に、プラスチック表
面に塗料、汚れ、凹凸部分による判別精度の低下を防ぐ
ために、プラスチックの表面を切削・研削・研磨・加
熱、加圧加工等で表面再生処理を行う機構を設けてい
る。
In the embodiment of the present invention, when recycling plastic of a product using plastic,
Infrared spectrometer (FTIR: Fourier Tran)
When discriminating the plastic material using sport Infrared Rays, the plastic surface is cut, ground, polished, heated, pressed, etc. in order to prevent the accuracy of the discrimination due to paint, dirt, and unevenness on the plastic surface. A mechanism for performing a surface regeneration treatment is provided.

【0067】この場合に、図19の光照射ステップST
1−1および判別処理基準位置設定ステップST1−2
において、表面処理ステップST2を行う前に、キャビ
ネット260における判別に良好な判別処理基準位置1
300を作業者が選定する。このように後工程の表面処
理ステップST2と分析判別ステップST0を行う前に
あらかじめキャビネット260における判別に良好な判
別処理基準位置1300を定めることにより、リサイク
ル品であるキャビネット260に付着している塗料やそ
の他の種類の汚れ、付着物あるいは凹凸部分をできる限
り避けて、より良好なキャビネット260の表面260
Aの判別対象部位を探して表面処理位置および分析判別
位置として定めることができる。このことから表面処理
を行いそして分析判別処理を行うプラスチックの判別工
程において、その作業効率を高めそして判別作業を確実
に行うことができるという大きなメリットがある。
In this case, the light irradiation step ST in FIG.
1-1 and determination processing reference position setting step ST1-2
Before performing the surface treatment step ST2, the discrimination processing reference position 1 which is favorable for discrimination in the cabinet 260
The operator selects 300. As described above, before performing the surface treatment step ST2 and the analysis determination step ST0 in the post-process, the determination reference position 1300 that is favorable for the determination in the cabinet 260 is determined in advance, so that the paint adhered to the cabinet 260, which is a recycled product, Avoid other types of dirt, deposits or bumps as much as possible to provide a better cabinet 260 surface 260
A part to be discriminated in A can be searched for and determined as the surface treatment position and the analysis discrimination position. Therefore, in the plastic discriminating step of performing the surface treatment and the analysis discriminating process, there is a great merit that the work efficiency can be improved and the discriminating work can be reliably performed.

【0068】本発明のプラスチック判別装置と判別方法
により、たとえば黒色系プラスチック材の判別及びプラ
スチック材に含まれている難燃剤の種類の特定がたとえ
ば99%以上の確率で可能となる。
According to the plastic discriminating apparatus and the discriminating method of the present invention, it is possible to discriminate, for example, a black plastic material and to specify the type of the flame retardant contained in the plastic material with a probability of, for example, 99% or more.

【0069】本発明のプラスチック判別装置では、プラ
スチックに含まれている難燃剤の種類及び含有量を特定
できる。プラスチックに含まれている難燃剤を特定でき
るため、従来行なわれている判別方法である「作業者自
身がプラスチックを燃やして臭いを嗅ぎ難燃剤の有無を
判断する」等の大変危険な作業は無くなる。プラスチッ
クの専門知識が無くてもプラスチック材のリサイクル化
事業ができる。
The plastic discriminating apparatus of the present invention can specify the type and content of the flame retardant contained in plastic. Since the flame retardant contained in plastic can be specified, very dangerous work such as "the worker himself burns the plastic and smells to judge the presence or absence of the flame retardant", which is a conventional determination method, is eliminated. . A plastic recycling business can be conducted without plastic expertise.

【0070】本発明の実施の形態では、一日に2〜3回
程の赤外線分光装置(FTIR)の校正(Calibr
ation)をするに当り、プラスチック判別装置シス
テムの移動パレットの固定ブロック部に金蒸着を施した
ミラー器を組込んだ治具を装着することにより、赤外線
分光装置(FTIR)の校正作業を正確かつ簡単にでき
る。本発明の実施の形態では、赤外線分光装置(FTI
R)そのものが温度、気圧、湿度に対して非常にデリケ
ートのため、外部からの温度/湿度に影響されない除湿
された雰囲気下のプロテクターの中に収めてある。その
様な構造において校正装置を使用すると、校正作業を行
う際にプロテクターから赤外線分光装置(FTIR)を
出さなくて済み、湿度の高い使用条件下でも温度/湿度
の影響を受けない。
In the embodiment of the present invention, calibration (Calibr) of an infrared spectrometer (FTIR) is performed about two or three times a day.
In order to carry out the calibration work of the infrared spectroscopy (FTIR) accurately and accurately, a jig incorporating a mirror device coated with gold is mounted on the fixed block portion of the moving pallet of the plastic discriminating system. Easy to do. In the embodiment of the present invention, an infrared spectrometer (FTI)
R) itself is very sensitive to temperature, pressure and humidity, so it is housed in a protector in a dehumidified atmosphere that is not affected by external temperature / humidity. When the calibration device is used in such a structure, the infrared spectroscopy device (FTIR) does not need to be output from the protector when performing the calibration operation, and is not affected by temperature / humidity even under a high-humidity use condition.

【0071】本発明の実施の形態では、赤外線分光装置
を頻繁に外部環境下にさらすことなく、赤外線分光装置
の最適な設置環境維持ができる。本発明の実施の形態で
は、ワンタッチ式で金蒸着を施したミラー器を、赤外線
分光装置にセッティングできるため、作業効率がよい。
According to the embodiment of the present invention, it is possible to maintain an optimum installation environment of the infrared spectroscopy without frequently exposing the infrared spectroscopy to an external environment. In the embodiment of the present invention, the mirror device on which one-touch gold deposition is performed can be set in the infrared spectrometer, so that the working efficiency is high.

【0072】赤外線分光装置が周囲の環境、例えば温度
変化/湿度変化/微振動等に依って、その分析結果に影
響が出ない様にする為に、本発明におけるプロテクター
は次のような工夫が施されている。赤外線分光装置(F
TIR)を収納するプロテクターのボックスを密閉構造
とする。外部からの温度/湿度の影響を排除させる為
に、ドライエアーまたは温度及び湿度をコントロールし
たエアーを収納構造に供給する。収納構造体内部にエア
ーを供給する事により、外部に対して加圧状態とする事
で、分析ヘッド部を外部へ出すことを可能としている。
また密閉した収納構造であるが故に生じる赤外線分光装
置単体でのメンテナンスの低下を防ぐ為に、赤外線分光
装置収納構造の後面に開閉扉を設け、更に赤外線分光装
置そのものをスライド装置に依って後面方向に引き出せ
る。
In order to prevent the infrared spectrometer from affecting the analysis result due to the surrounding environment, for example, temperature change / humidity change / micro vibration, etc., the protector in the present invention has the following arrangement. It has been subjected. Infrared spectrometer (F
TIR) is housed in a closed box. In order to eliminate the influence of temperature / humidity from outside, dry air or air whose temperature and humidity are controlled is supplied to the storage structure. By supplying air to the inside of the storage structure, a pressurized state is applied to the outside, so that the analysis head section can be taken out.
In order to prevent the maintenance of the infrared spectroscopy unit from being reduced due to the closed storage structure, an opening / closing door is provided on the back of the infrared spectroscopy storage structure, and the infrared spectroscopy itself is moved in the rear direction by a slide device. Can be pulled out.

【0073】微振動の影響を防ぐ為に、赤外線分光装置
とスライド装置との間に弾力性フォーム製のシートを入
れる。これにより周囲からの微振動をウレタンフォーム
で吸収し、赤外線分光装置自体に振動が伝わる事を防止
する。弾力性フォームに赤外線分光装置とスライド装置
との位置関係を保つ為に、スライド装置との位置関係が
合った外形寸法を基準として、その基準と赤外線分光装
置の脚部分との相互寸法が規定の寸法になる様にしてあ
る。スライド装置と被分析物を固定する移動操作部のブ
ロック内面側とも位置関係が保たれる。
In order to prevent the influence of micro-vibration, a sheet made of elastic foam is inserted between the infrared spectroscopy device and the slide device. This absorbs microvibrations from the surroundings with the urethane foam, and prevents the vibrations from being transmitted to the infrared spectroscopy itself. In order to maintain the positional relationship between the infrared spectroscopy device and the slide device on the elastic foam, the mutual dimensions between the reference and the leg portion of the infrared spectroscopy device are defined based on the external dimensions that match the positional relationship with the slide device. It is made to have dimensions. The positional relationship is maintained between the slide device and the moving operation unit that fixes the analyte on the inner surface side of the block.

【0074】本発明においてプロテクターを用いること
により、赤外線分光装置を組込んだプラスチック判別装
置全体は、完全空調された部屋でなく、外気温にさらさ
れる環境下でも設置できる。スポット的な空調設備の為
に、大幅な設備投資の低減ができる。微振動に対して、
大掛かりな床振動対策をしなくてよい。
By using the protector in the present invention, the entire plastic discriminating apparatus incorporating the infrared spectrometer can be installed not only in a completely air-conditioned room but also in an environment exposed to the outside air temperature. Due to the spot-like air conditioning equipment, the equipment investment can be greatly reduced. For micro vibration
It is not necessary to take large-scale floor vibration countermeasures.

【0075】ところで本発明は上記実施の形態に限定さ
れるものではない。上述した実施の形態では、被判別対
象物として、テレビジョン受像機やコンピュータのディ
スプレイ装置のキャビネットの例を示している。しかし
これに限らず、他の電子機器あるいは他の分野の機器の
プラスチック製の部分あるいは部材のプラスチックの種
類の判別に、本発明のプラスチックの判別装置を適用で
きるのは勿論である。また分析部は、たとえば中赤外線
(Mid IR)を用いてプラスチックの種類を判別す
る以外に、他の波長の赤外線や他の種類の波長の光を用
いてもよい。
The present invention is not limited to the above embodiment. In the above-described embodiment, examples of the object to be determined include a television receiver and a cabinet of a display device of a computer. However, the present invention is not limited to this, and it goes without saying that the plastic discriminating apparatus of the present invention can be applied to discriminating the type of plastic of plastic parts or members of other electronic devices or devices in other fields. The analyzing unit may use infrared light of another wavelength or light of another type of wavelength in addition to determining the type of plastic using, for example, mid-infrared (Mid IR).

【0076】[0076]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
プラスチックの種類の判別を行う際に、赤外線分光装置
の校正を正確にかつ簡単に行うことができる。
As described above, according to the present invention,
When the type of plastic is determined, the calibration of the infrared spectrometer can be performed accurately and easily.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の赤外線分光装置の校正装置を含むプラ
スチックの判別装置の実施の形態を示す斜視図。
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a plastic discriminating apparatus including a calibration apparatus for an infrared spectrometer of the present invention.

【図2】図1のプラスチックの判別装置で判別される被
判別対象物を含むテレビジョン受像機の分解斜視図。
FIG. 2 is an exploded perspective view of a television receiver including an object to be determined which is determined by the plastic determining apparatus of FIG. 1;

【図3】図1のプラスチックの判別対象部位の再生装置
の構成例を示す斜視図。
FIG. 3 is a perspective view showing an example of the configuration of a playback device for a plastic discrimination target portion in FIG. 1;

【図4】図3のプラスチックの判別対象部位の再生装置
の回転切削刃により再生部分を形成する例を示す図。
FIG. 4 is a diagram showing an example in which a regenerated portion is formed by a rotary cutting blade of a regenerating device for a plastic discrimination target portion in FIG. 3;

【図5】回転切削刃に代えて切削用のバイトを用いて再
生部分を形成する例を示す図。
FIG. 5 is a diagram showing an example in which a reproduction portion is formed using a cutting tool instead of a rotary cutting blade.

【図6】球状ピンの工具を用いてシゴキ加工により再生
部分を形成する例を示す図。
FIG. 6 is a diagram showing an example in which a reproduction portion is formed by squeezing using a tool with a spherical pin.

【図7】分析部の光学系の一例を示す図。FIG. 7 is a diagram illustrating an example of an optical system of an analysis unit.

【図8】プラスチックの判別装置の全体構成を示す平面
図。
FIG. 8 is a plan view showing the entire configuration of a plastic discriminating apparatus.

【図9】光照射部と位置変更設定部等を示す正面図。FIG. 9 is a front view showing a light irradiation unit, a position change setting unit, and the like.

【図10】光照射部および位置変更設定部等を示す斜視
図。
FIG. 10 is a perspective view showing a light irradiation unit, a position change setting unit, and the like.

【図11】プラスチックの判別工程において最初の状態
を示す図。
FIG. 11 is a diagram showing an initial state in a plastic discriminating step.

【図12】キャビネットの判別対象部位の表面に対して
再生装置の機械加工部が近づいた状態を示す図。
FIG. 12 is a diagram showing a state in which a machined part of the reproducing apparatus is close to a surface of a determination target portion of the cabinet.

【図13】キャビネットの判別対象部位の表面に再生装
置の加熱加圧部が対面した状態を示す図。
FIG. 13 is a view showing a state in which the heating and pressing unit of the reproducing apparatus faces the surface of the discrimination target portion of the cabinet.

【図14】テーブルおよびキャビネットが分析部側に移
動した状態を示す図。
FIG. 14 is a diagram showing a state in which the table and the cabinet have moved to the analysis unit side.

【図15】再生装置の加熱加圧部が判別対象部位を加熱
して加圧している状態を示す図。
FIG. 15 is a diagram showing a state in which a heating / pressing unit of the reproducing apparatus heats and pressurizes a determination target portion.

【図16】分析部の分析ヘッドに対して再生部分が近接
もしくは接触している状態を示す図。
FIG. 16 is a diagram showing a state in which a reproduction portion is close to or in contact with an analysis head of the analysis unit.

【図17】分析後テーブルとキャビネットが分析部から
離れた様子を示す図。
FIG. 17 is a diagram showing a state in which a table and a cabinet are separated from an analysis unit after analysis.

【図18】加熱加圧部の構造例を示す断面図。FIG. 18 is a cross-sectional view illustrating a structural example of a heating and pressing unit.

【図19】プラスチックの判別対象部位の再生方法を含
むプラスチックの判別方法の一例を示すフロー図。
FIG. 19 is a flowchart showing an example of a plastic discriminating method including a plastic discriminating target portion reproducing method.

【図20】赤外線分光装置のプロテクターの例を示す側
面図。
FIG. 20 is a side view showing an example of a protector of the infrared spectrometer.

【図21】プロテクターの正面図。FIG. 21 is a front view of the protector.

【図22】校正用のユニットの例を示す断面図。FIG. 22 is a sectional view showing an example of a calibration unit.

【図23】校正用のユニットの正面図。FIG. 23 is a front view of a calibration unit.

【図24】校正用のユニットが搭載部に着脱可能に固定
された状態で、赤外線照射部の分析ヘッドと金蒸着ミラ
ー器が密着した状態を示す図。
FIG. 24 is a diagram showing a state in which the analysis head of the infrared irradiation unit and the gold vapor deposition mirror device are in close contact with each other in a state where the calibration unit is detachably fixed to the mounting unit.

【図25】赤外線分光装置の校正方法の一例を示すフロ
ー図。
FIG. 25 is a flowchart showing an example of a method for calibrating an infrared spectrometer.

【図26】本発明の赤外線分光装置の校正装置の別の実
施の形態を示す図。
FIG. 26 is a diagram showing another embodiment of the calibration device for the infrared spectrometer of the present invention.

【図27】図26の校正装置の校正用のユニットの取り
付け例を示す図。
FIG. 27 is a diagram showing an example of mounting a calibration unit of the calibration device of FIG. 26;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10・・・プラスチックの判別装置、12・・・プラス
チックの判別対象部位の再生装置、12M・・・再生装
置の機械加工部、14・・・赤外線分光装置、20・・
・移動操作部、22・・・テーブル、30・・・クラン
パー、260・・・キャビネット(被判別対象物)、2
70・・・キャビネットの表面、280・・・キャビネ
ットの再生部分(判別対象部位に相当)、1000・・
・光照射部、1200・・・位置変更設定部、1210
・・・昇降台、1300・・・判別処理基準位置、25
00・・・再生装置の加熱加圧部、4000・・・プロ
テクター、4040・・・プロテクターの開口部、50
00・・・校正用のユニット、5002・・・金蒸着ミ
ラー器、5013・・・保持部、5014・・・本体、
5015・・・コイルスプリング(付勢部材)、501
7・・・フランジ部、5020・・・赤外線照射部、5
030・・・搭載部、5060,5070・・・赤外線
分光装置の校正装置、P・・・開口部
Reference numeral 10: plastic discrimination device, 12: reproduction device for plastic discrimination target portion, 12M: machined part of the reproduction device, 14: infrared spectroscopy device, 20 ...
・ Move operation unit, 22 ・ ・ ・ Table, 30 ・ ・ ・ Clamper, 260 ・ ・ ・ Cabinet (object to be determined), 2
70... Cabinet surface, 280... Cabinet reproduction part (corresponding to the discrimination target part), 1000.
A light irradiator 1200; a position change setting unit 1210
... Elevating stand, 1300 ... Reference processing reference position, 25
00: heating / pressing unit of the reproducing apparatus, 4000: protector, 4040: opening of the protector, 50
00: Unit for calibration, 5002: Mirror device for gold deposition, 5013: Holder, 5014: Body,
5015: coil spring (biasing member), 501
7 ... Flange part, 5020 ... Infrared irradiation part, 5
030: mounting unit, 5060, 5070: calibration device for infrared spectrometer, P: opening

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被判別対象物のプラスチックの種類の判
別を行うプラスチックの判別装置に設けられる赤外線分
光装置であり、前記赤外線分光装置が、一定の雰囲気を
保つプロテクター内に配置された状態で、前記被判別対
象物に赤外線を照射してその反射光を受光することで前
記プラスチックの種類を正確に分析するために前記赤外
線分光装置を校正するための校正装置であり、 前記被判別対象物を搭載する搭載部と、 前記搭載部に着脱自在に配置されて、前記プロテクター
内の前記赤外線分光装置の赤外線照射部に密着されて前
記赤外線照射部からの赤外線を反射して前記赤外線分光
装置側に戻す校正用ユニットと、を備えることを特徴と
する赤外線分光装置の校正装置。
1. An infrared spectroscopy device provided in a plastic discriminating device for discriminating a type of plastic of an object to be discriminated, wherein the infrared spectroscopy device is disposed in a protector that maintains a constant atmosphere. A calibration device for calibrating the infrared spectrometer to accurately analyze the type of the plastic by irradiating infrared light to the object to be determined and receiving the reflected light thereof, wherein the object to be determined is A mounting part to be mounted, and is detachably disposed on the mounting part, is closely attached to an infrared irradiating part of the infrared spectrometer in the protector, reflects infrared light from the infrared irradiating part, and returns to the infrared spectrometer side. A calibration unit for an infrared spectrometer, comprising: a returning calibration unit.
【請求項2】 前記校正用ユニットは、 本体と、 前記赤外線照射部からの赤外線を反射する金蒸着ミラー
と、 前記本体内に移動自在に配置され、前記金蒸着ミラーを
保持する保持部と、 前記赤外線分光装置の前記赤外線照射部を前記金蒸着ミ
ラーに密着する際に、密着性を確保するために、前記保
持部と前記本体の間に配置されて前記保持部の移動を受
けるための付勢部材と、を有する請求項1に記載の赤外
線分光装置の校正装置。
2. The calibration unit includes: a main body; a gold vapor deposition mirror that reflects infrared rays from the infrared irradiation unit; and a holding unit that is movably disposed in the main body and holds the gold vapor deposition mirror. When the infrared irradiating unit of the infrared spectroscopy device is brought into close contact with the gold vapor deposition mirror, in order to secure the adhesion, an attachment is provided between the holding unit and the main body to receive the movement of the holding unit. The calibration device for an infrared spectrometer according to claim 1, further comprising a biasing member.
【請求項3】 前記本体は、前記搭載部の開口部内に前
記金蒸着ミラーを配置した状態で前記本体を前記搭載部
に固定するためのフランジ部を有する請求項2に記載の
赤外線分光装置の校正装置。
3. The infrared spectrometer according to claim 2, wherein the main body has a flange portion for fixing the main body to the mounting portion in a state where the gold vapor deposition mirror is arranged in an opening of the mounting portion. Calibration device.
【請求項4】 前記搭載部は、前記搭載部に対して前記
本体を着脱自在にクランプするためのクランプを有する
請求項3に記載の赤外線分光装置の校正装置。
4. The calibration apparatus for an infrared spectrometer according to claim 3, wherein the mounting section has a clamp for detachably clamping the main body to the mounting section.
【請求項5】 前記本体は、前記搭載部に対してねじに
より着脱自在に固定される請求項3に記載の赤外線分光
装置の校正装置。
5. The calibration device for an infrared spectrometer according to claim 3, wherein the main body is detachably fixed to the mounting portion with a screw.
【請求項6】 前記プロテクターは、前記赤外線分光装
置を収納する密閉構造のスペースを有し、前記スペース
には温度と湿度をコントロールするためのエアーが供給
される請求項1に記載の赤外線分光装置の校正装置。
6. The infrared spectrometer according to claim 1, wherein the protector has a space having a closed structure for accommodating the infrared spectrometer, and the space is supplied with air for controlling temperature and humidity. Calibration equipment.
【請求項7】 前記プロテクターは、前記赤外線分光装
置を載せて前記スペースの外部に取り出すためのスライ
ド装置を有する請求項6に記載の赤外線分光装置の校正
装置。
7. The calibration device for an infrared spectrometer according to claim 6, wherein the protector has a slide device for mounting the infrared spectrometer and taking it out of the space.
【請求項8】 被判別対象物のプラスチックの種類の判
別を行うプラスチックの判別装置に設けられる赤外線分
光装置であり、前記赤外線分光装置が、一定の雰囲気を
保つプロテクター内に配置された状態で、前記被判別対
象物に赤外線を照射してその反射光を受光することで前
記プラスチックの種類を正確に分析するために前記赤外
線分光装置を校正するための校正方法であり、 前記被判別対象物を搭載するための搭載部に、前記プロ
テクター内の前記赤外線分光装置の前記赤外線照射部か
らの赤外線を反射する校正用ユニットを配置する配置ス
テップと、 前記搭載部に配置された前記校正用ユニットを、前記赤
外線分光装置の赤外線照射部に密着して、前記赤外線照
射部からの赤外線を反射して前記赤外線分光装置側に戻
す校正ステップと、を含むことを特徴とする赤外線分光
装置の校正方法。
8. An infrared spectrometer provided in a plastic discriminating device for discriminating the type of plastic of an object to be discriminated, wherein the infrared spectrometer is disposed in a protector that maintains a constant atmosphere. A calibration method for calibrating the infrared spectrometer to accurately analyze the type of plastic by irradiating infrared light to the object to be determined and receiving the reflected light thereof, wherein the object to be determined is A mounting section for mounting, an arrangement step of arranging a calibration unit that reflects infrared rays from the infrared irradiation section of the infrared spectroscope in the protector, and the calibration unit arranged in the mounting section. Calibration step in which the infrared spectroscope is brought into close contact with the infrared irradiator, reflects infrared light from the infrared irradiator and returns the infrared spectrometer to the infrared spectrometer. Method of calibrating an infrared spectrometer, which comprises a.
【請求項9】 前記校正用ユニットの金蒸着ミラーが、
前記赤外線照射部からの赤外線を反射して前記赤外線分
光装置に戻す請求項8に記載の赤外線分光装置の校正方
法。
9. The gold deposition mirror of the calibration unit,
9. The method for calibrating an infrared spectrometer according to claim 8, wherein the infrared light from the infrared irradiator is reflected and returned to the infrared spectrometer.
【請求項10】 前記校正用ユニットの前記金蒸着ミラ
ーが、前記赤外線照射部に密着される際に、前記赤外線
照射部と前記金蒸着ミラーの密着性を確保するために前
記金蒸着ミラーは前記赤外線照射部側に付勢されている
請求項9に記載の赤外線分光装置の校正方法。
10. The gold-deposited mirror of the calibration unit, when the gold-deposited mirror is in close contact with the infrared irradiating part, the gold-deposited mirror is formed by The method for calibrating an infrared spectrometer according to claim 9, wherein the method is biased toward the infrared irradiator.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2013539859A (en) * 2010-09-18 2013-10-28 ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル.ピー. Optical measurement device calibration
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CN110018124A (en) * 2018-01-08 2019-07-16 高利通科技(深圳)有限公司 Argoshield spectral analysis device and spectrochemical analysis for gases system

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