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JP2001345158A - Connector terminal inspection device - Google Patents

Connector terminal inspection device

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Publication number
JP2001345158A
JP2001345158A JP2000162256A JP2000162256A JP2001345158A JP 2001345158 A JP2001345158 A JP 2001345158A JP 2000162256 A JP2000162256 A JP 2000162256A JP 2000162256 A JP2000162256 A JP 2000162256A JP 2001345158 A JP2001345158 A JP 2001345158A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
connector
conductive pin
inspection
terminal
Prior art date
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Granted
Application number
JP2000162256A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3814124B2 (en
Inventor
Hideyuki Yamamoto
英幸 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yazaki Corp
Original Assignee
Yazaki Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yazaki Corp filed Critical Yazaki Corp
Priority to JP2000162256A priority Critical patent/JP3814124B2/en
Priority to KR10-2001-0028584A priority patent/KR100384200B1/en
Priority to TW090112887A priority patent/TW510975B/en
Publication of JP2001345158A publication Critical patent/JP2001345158A/en
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    • H01R43/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
    • H01R43/002Maintenance of line connectors, e.g. cleaning
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
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    • GPHYSICS
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  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 オプション用電線の接続された電線端子が正
しく装着されて収容されているかどうかを簡単に検査で
きるコネクタ端子検査器を提供する。 【解決手段】 コネクタ保持部3と検査プローブ22が
支持手段23に支持されている検査部2との何れか一方
が他方に対して相対的に移動される。検査プローブを形
成している前方プローブ22aと後方プローブ22bと
は、常時間隙を介して後方プローブから離間されるよう
に前方プローブが少なくともコネクタの方向に付勢さ
れ、検査時前方プローブがコネクタC内の電線端子C1
に突き当たり付勢に抗して後退したとき後方プローブと
接触する。検査部2の出力手段23a3は、前方プロー
ブと後方プローブとが接触したとき、前方プローブを介
して後方プローブと電気接続される。
(57) [Problem] To provide a connector terminal inspector capable of easily inspecting whether or not an electric wire terminal to which an optional electric wire is connected is correctly mounted and accommodated. SOLUTION: One of a connector holding unit 3 and an inspection unit 2 in which an inspection probe 22 is supported by a support means 23 is moved relatively to the other. The front probe 22a and the rear probe 22b forming the inspection probe are always biased at least in the direction of the connector so as to be separated from the rear probe via a gap. Wire terminal C1
And contacts the rear probe when retracted against the bias. The output unit 23a3 of the inspection unit 2 is electrically connected to the rear probe via the front probe when the front probe contacts the rear probe.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はコネクタ端子検査器
に係り、特に、複数の電線を束ねて形成したワイヤハー
ネスの端部に取り付けられたコネクタにおいて、前記複
数の電線の一端に固着され収容された電線端子の導通性
や挿着姿勢を検査するのに使用するコネクタ端子検査器
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a connector terminal inspector, and more particularly, to a connector attached to an end of a wire harness formed by bundling a plurality of electric wires, the connector being fixed to and housed at one end of the plurality of electric wires. The present invention relates to a connector terminal inspector used to inspect the continuity and insertion posture of a wire terminal.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の検査器として、例えば特
開平6−123753号公報に記載された図5に示すよ
うな構成のものが知られている。同図において、横断面
U字状の溝形の台枠1には、その中間位置に検査部2が
溝内にその方向に移動自在に設けられるとともに、その
一端部に検査すべきコネクタCを所定位置に保持するコ
ネクタ保持部3が固定的に設けられている。コネクタ保
持部3におけるコネクタCの保持は、相手コネクタの装
着されるコネクタCのコネクタ装着面側が検査部2側に
向くように行われる。検査部2はコネクタ保持部3に保
持されたコネクタCと対向する前面側に突設された検査
プローブ22を有する。
2. Description of the Related Art Conventionally, as this type of inspection device, for example, a configuration as shown in FIG. 5 described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-123753 is known. In the figure, an inspection portion 2 is provided in a groove-shaped underframe 1 having a U-shaped cross section at an intermediate position so as to be movable in the groove in that direction, and a connector C to be inspected is provided at one end thereof. A connector holding portion 3 for holding the connector at a predetermined position is fixedly provided. The connector C is held in the connector holding unit 3 so that the connector mounting surface side of the connector C on which the mating connector is mounted faces the inspection unit 2 side. The inspection unit 2 has an inspection probe 22 protruding from the front surface facing the connector C held by the connector holding unit 3.

【0003】なお、詳細な説明は省略するが、コネクタ
保持部3は、コネクタCがコネクタ保持部3内に上方か
ら装着収納されたとき、コネクタCをがた付き無く正確
に位置決めできるような形状、構造に形成されている。
なお、コネクタ保持部3に装着収納されたコネクタC内
には、電線端が電気機械的に接続された図示しない複数
の電線端子が収容されており、コネクタ保持部3は各電
線端子から延びる電線を束ねた電線束であるワイヤハー
ネスW/Hを外部に引き出せる形状、構造にもなってい
る。
[0003] Although not described in detail, the connector holding portion 3 is shaped so that when the connector C is mounted and stored in the connector holding portion 3 from above, the connector C can be accurately positioned without play. , Is formed in the structure.
In the connector C mounted and housed in the connector holding section 3, a plurality of wire terminals (not shown) whose wire ends are electromechanically connected are housed, and the connector holding section 3 is a wire extending from each wire terminal. The wire harness W / H, which is a bundle of electric wires, is drawn out to the outside.

【0004】一方、台枠1の他端部には、検査部2を台
枠1の溝内で移動させるための操作レバー41が設けら
れており、操作レバー41はその作用点に取付けたリン
ク42を介して検査部2の後面と連結されており、操作
レバー41及びリンク42によって操作部4を構成し、
操作レバー41の前倒、起立によって、検査部1に押し
力、引き力を与え、検査部2を台枠1上で往復移動させ
ることができるようになっている。
On the other hand, an operation lever 41 for moving the inspection unit 2 in the groove of the underframe 1 is provided at the other end of the underframe 1, and the operation lever 41 is connected to a link attached to the action point thereof. The operation unit 4 is connected to the rear surface of the inspection unit 2 via an operation lever 42 and includes an operation lever 41 and a link 42.
By pushing the operating lever 41 forward and standing up, a pushing force and a pulling force are applied to the inspection unit 1, and the inspection unit 2 can be reciprocated on the underframe 1.

【0005】また、検査部2には、図6に示すように、
その前面側にコネクタCのコネクタ装着面側が僅かに嵌
入する凹部22があり、凹部22の底壁部に検査部2の
移動方向に伸びる貫通孔が穿設されて検査プローブ22
が挿入されており、貫通孔に挿入された検査プローブ2
2の頭部は凹部23内に突出されている。なお、検査プ
ローブ22はコネクタ保持部3に装着されたコネクタC
に収容されている複数の電線端子C1の位置に対応させ
て多数個配列してある。
[0005] In addition, as shown in FIG.
On the front side thereof, there is a concave portion 22 into which the connector mounting surface side of the connector C slightly fits, and a through hole extending in the moving direction of the inspection section 2 is formed in the bottom wall of the concave portion 22 so that the inspection probe 22
Is inserted, and the inspection probe 2 is inserted into the through hole.
The second head projects into the recess 23. The inspection probe 22 is connected to the connector C mounted on the connector holding unit 3.
Are arranged in a number corresponding to the positions of the plurality of electric wire terminals C1 housed therein.

【0006】そして検査プローブ22は、図示を省略す
るが、コネクタ方向に付勢され、かつ中間部で一定間隔
を介して前方プローブと後方プローブとに2分されてお
り、検査時に前方プローブがコネクタC内の電線端子と
接触して後退すると、2分されている前方プローブと後
方プローブとが接触する。
Although not shown, the inspection probe 22 is urged in the connector direction, and is divided into a front probe and a rear probe at a middle portion by a predetermined interval. When it comes into contact with the wire terminal in C and retreats, the front probe and the rear probe, which are divided into two, come into contact with each other.

【0007】したがって、コネクタCの電線端子C1
を、コネクタCが一端に接続されているワイヤハーネス
W/Hの他端に接続されているコネクタCを介して検査
回路部5に接続し、かつ後方プローブを直接に検査回路
部に接続しておくことによって、上述したように前方プ
ローブと後方プローブとが接触することで形成される閉
回路が検査回路部に接続されるようになり、この閉回路
を通じて流れる電流を検査回路部において検知すること
により導通検査が行われる。そして、閉回路が形成され
るべき電線端子について電流検知が行われないときに
は、電線端子C1が装着されていないこと、その装着姿
勢が不適当のために電線端子C1と前方プローブとの接
触が行われていないこと、又は当該電線端子に対応する
電線に断線があることが予測されるようになる。
Therefore, the wire terminal C1 of the connector C
Is connected to the inspection circuit unit 5 via the connector C connected to the other end of the wire harness W / H where the connector C is connected to one end, and the rear probe is directly connected to the inspection circuit unit. As a result, the closed circuit formed by the contact between the front probe and the rear probe as described above is connected to the test circuit unit, and the current flowing through this closed circuit is detected by the test circuit unit. Performs a continuity test. When the current detection is not performed for the wire terminal where the closed circuit is to be formed, the wire terminal C1 is not mounted, and the wire terminal C1 contacts the front probe because the mounting posture is inappropriate. It is predicted that the connection has not been made or that the wire corresponding to the wire terminal has a break.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、コネク
タのなかには、収容した電線端子に接続されている電線
としてオプション機器或いはオプション機能を働かせる
ことが必要なときのみ使用されるオプション用電線が接
続されるオプション用電線端子を有するものがある。こ
のようなオプション用電線端子を有するものにおいて
は、これに接続された電線がワイヤハーネスW/Hの他
端のコネクタまで至らず途中で切り放たれ、必要なとき
に引き出せるように、束ねられた他の電線の外周に巻き
付けられた状態になっている。
However, some of the connectors include an optional wire used only when it is necessary to operate optional devices or optional functions as wires connected to the housed wire terminals. Some have electric wire terminals. In those having such an optional wire terminal, the wires connected thereto are cut off midway without reaching the connector at the other end of the wire harness W / H, and bundled so that they can be pulled out when necessary. It is in a state of being wound around the outer circumference of another electric wire.

【0009】このようにオプション用電線がオープン回
路となっているため、上述したように、前方プローブと
後方プローブとが接触することでワイヤハーネスW/H
の電線を介して閉回路が形成されたかどうかによって
は、オプション用電線端子がコネクタCに正しく装着収
容されていることを検査することができなかった。
As described above, since the optional electric wire has an open circuit, as described above, the front probe and the rear probe come into contact with each other, so that the wire harness W / H
Depending on whether or not a closed circuit was formed through the electric wire, it was not possible to inspect that the optional electric wire terminal was correctly mounted and accommodated in the connector C.

【0010】そこで、コネクタが装着される側と反対側
の電線の引き出されている電線端子挿入口側から検査用
電線の一端を差し込み、オプション用電線の接続されて
いる電線端子に接触させ、検査用電線の他端を検査回路
部に接続し、他の電線端子と同様に導通検査を行うこと
で、オプション用電線端子がコネクタに正しい姿勢にて
挿着されているかどうかを検査することを可能にしてい
る。
Therefore, one end of the inspection wire is inserted from the wire terminal insertion port side of the wire on the side opposite to the side where the connector is mounted, and is brought into contact with the wire terminal to which the optional wire is connected. By connecting the other end of the electric wire to the inspection circuit and conducting a continuity test in the same way as other electric wire terminals, it is possible to inspect whether the optional electric wire terminal is inserted into the connector in the correct posture I have to.

【0011】しかしながら、このような検査の場合、端
子挿入口への検査用電線の挿入、及び電線端子に対する
検査用電線の接触状態の保持のために、非常に面倒な作
業を伴う他、防水コネクタのように端子挿入口が塞がれ
たものには適用できないという問題があった。
[0011] However, such an inspection involves very troublesome work for inserting the inspection wire into the terminal insertion port and maintaining the contact state of the inspection wire with the wire terminal. However, there is a problem that the method cannot be applied to a device in which the terminal insertion port is closed as described above.

【0012】よって本発明は、上述した従来の問題点に
鑑み、引き出された後切り放たれオープン回路となって
いるオプション用電線の接続された電線端子を有するコ
ネクタにおいて、オプション用電線の接続された電線端
子が正しく装着されて収容されているかどうかを簡単に
検査できるコネクタ端子検査器を提供することを課題と
している。
In view of the above-mentioned conventional problems, the present invention provides a connector having an electric wire terminal to which an optional electric wire which is drawn out and cut off to form an open circuit is connected. It is an object of the present invention to provide a connector terminal inspector which can easily inspect whether or not a wire terminal is correctly mounted and accommodated.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
なされた請求項1記載の発明は、電線の一端に固着され
収容された電線端子を有する検査すべきコネクタを保持
するコネクタ保持部と、該コネクタ保持部に保持された
前記コネクタの電線端子に電気接続されるように検査プ
ローブが支持手段に支持されてなる検査部とを備え、前
記コネクタ保持部及び前記検査部の何れか一方が他方に
対して相対的に移動するように設けられ、前記検査プロ
ーブは前方プローブと後方プローブとを有し、かつ常時
間隙を介して前記後方プローブから離間されるように前
方プローブが少なくとも前記コネクタの方向に付勢さ
れ、検査時前記前方プローブが前記コネクタ内の電線端
子に突き当たり前記付勢に抗して後退したとき前記後方
プローブと接触するようになされたコネクタ端子検査器
において、前記検査部は、前記前方プローブと前記後方
プローブとが接触したとき、前記前方プローブを介して
前記後方プローブと電気接続される出力手段を有するこ
とを特徴とするコネクタ端子検査器に存する。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a connector holding portion for holding a connector to be inspected having an electric wire terminal fixed and housed at one end of an electric wire; An inspection section in which an inspection probe is supported by supporting means so as to be electrically connected to the wire terminal of the connector held by the connector holding section, and one of the connector holding section and the inspection section is the other. The test probe has a front probe and a rear probe, and the front probe is at least in the direction of the connector such that the front probe is always separated from the rear probe via a gap. And the front probe comes into contact with the wire terminal in the connector at the time of inspection and comes into contact with the rear probe when retracted against the bias. In the connector terminal inspector configured as described above, the inspection unit has an output unit that is electrically connected to the rear probe via the front probe when the front probe contacts the rear probe. Present in connector terminal inspection device.

【0014】請求項1記載のコネクタ端子検査器におい
ては、電線の一端に固着され収容された電線端子を有す
る検査すべきコネクタを保持するコネクタ保持部と、コ
ネクタ保持部に保持されたコネクタの電線端子に電気接
続されるように検査プローブが支持手段に支持されてい
る検査部との何れか一方が他方に対して相対的に移動す
るように設けられている。検査プローブを形成している
前方プローブと後方プローブとは、常時間隙を介して後
方プローブから離間されるように前方プローブが少なく
ともコネクタの方向に付勢され、検査時前方プローブが
コネクタ内の電線端子に突き当たり付勢に抗して後退し
たとき後方プローブと接触するようになされている。そ
して、検査部の出力手段は、前方プローブと後方プロー
ブとが接触したとき、前方プローブを介して後方プロー
ブと電気接続されるようになっている。
In the connector terminal inspecting device according to the first aspect, a connector holding portion for holding a connector to be inspected having a wire terminal fixedly accommodated at one end of the wire, and an electric wire of the connector held by the connector holding portion. An inspection probe is provided so that either one of the inspection unit supported by the support means and moved relative to the other is electrically connected to the terminal. The front probe and the rear probe forming the inspection probe are always biased at least in the direction of the connector so that the front probe is separated from the rear probe via a gap. And when it retreats against the bias, it comes into contact with the rear probe. The output unit of the inspection unit is configured to be electrically connected to the rear probe via the front probe when the front probe comes into contact with the rear probe.

【0015】したがって、コネクタ内に電線端子が正常
に存在するときには、検査時前方プローブがコネクタ内
の電線端子に突き当たり付勢に抗して後退して後方プロ
ーブと接触し、検査部の出力手段が前方プローブを介し
て後方プローブと電気接続されるようになり、これに対
し、コネクタ内に電線端子が正常に存在しないときに
は、検査時前方プローブがコネクタ内の電線端子に突き
当たり付勢に抗して後退することがなく、後方プローブ
とも接触せず、検査部の出力手段が前方プローブを介し
て後方プローブと電気接続されることがないので、出力
手段と2aと後方プローブとの電気接続を確認すること
で、コネクタ内に電線端子が正常に存在するかどうかの
検査を行うことできる。
Therefore, when the wire terminals are properly present in the connector, the front probe abuts against the wire terminals in the connector during the inspection and retreats against the bias to come into contact with the rear probe, so that the output means of the inspection unit is turned off. The front probe is electrically connected to the rear probe via the front probe.On the other hand, when the wire terminal is not normally present in the connector, the front probe abuts against the wire terminal in the connector during the inspection and resists the bias. Since there is no receding, no contact with the rear probe, and the output means of the inspection unit is not electrically connected to the rear probe via the front probe, the electric connection between the output means, 2a and the rear probe is confirmed. This makes it possible to inspect whether or not the wire terminal is normally present in the connector.

【0016】請求項2記載の発明は、請求項1記載のコ
ネクタ端子検査器において、前記支持手段は前記前方プ
ローブを支持する前方ブロックと前記後方プローブを支
持する後方ブロックとを有し、前記出力手段は、前記前
方ブロックの一部を形成し外側縁部が前記支持手段の側
方に突出されたプリント基板によって形成され、前記プ
リント基板は、前記前方プローブと常時電気接続され前
記外側縁まで引き出されている配線パターンを有するこ
とを特徴とするコネクタ端子検査器に存する。
According to a second aspect of the present invention, in the connector terminal inspector according to the first aspect, the supporting means has a front block for supporting the front probe and a rear block for supporting the rear probe, and the output means. The means is formed by a printed circuit board forming a part of the front block and having an outer edge protruding to the side of the support means, wherein the printed circuit board is always electrically connected to the front probe and pulled out to the outer edge. A connector terminal inspection device characterized by having a wiring pattern that is provided.

【0017】請求項2記載のコネクタ端子検査器におい
ては、支持手段を前方プローブを支持する前方ブロック
と後方プローブを支持する後方ブロックとにより形成
し、前方ブロックの一部を形成しているプリント基板の
外側縁部を支持手段の側方に突出させて出力手段とし、
プリント基板には、前方プローブと常時電気接続され外
側縁まで引き出されている配線パターンを形成している
ので、請求項1記載の発明の作用に加え、何ら別部材を
設けなくても簡単に出力手段を構成できる。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a connector terminal inspecting device, wherein the supporting means is formed by a front block supporting the front probe and a rear block supporting the rear probe, and a part of the front block is formed. The outer edge of the projection protrudes to the side of the support means as output means,
Since the printed circuit board is formed with a wiring pattern which is always electrically connected to the front probe and is drawn out to the outer edge, in addition to the operation of the invention of claim 1, it is possible to easily output without providing any other member. Means can be configured.

【0018】請求項3記載の発明は、請求項2記載のコ
ネクタ端子検査器において、前記前方プローブは、中間
部に鍔を形成した前方導電ピンと、該前方導電ピンを前
記コネクタの方向に付勢するコイルスプリングとを有
し、前記前方ブロックは、前記前方導電ピンを移動自在
に収容するとともに、前記コイルスプリングを前記鍔と
前記プリント基板の配線パターンとの間に縮設して収容
する前方プローブ収容孔を有し、前記前方導電ピンは、
前記コイルスプリングによる付勢によってその先端部が
前記コネクタの方向に突出するように前記前方プローブ
収容孔内に保持され、前記プリント基板は、前記付勢に
抗する前記前方導電ピンの後退時にその後端部を貫通さ
せ前記後方プローブとの接触を許容する貫通孔を有する
ことを特徴とするコネクタ端子検査器に存する。
According to a third aspect of the present invention, in the connector terminal inspector according to the second aspect, the front probe biases the front conductive pin in the direction of the connector with a front conductive pin having a flange formed at an intermediate portion. A front probe that movably accommodates the front conductive pin and contracts and accommodates the coil spring between the flange and the wiring pattern of the printed circuit board. Having a receiving hole, wherein the front conductive pin is
The front end is held in the front probe accommodating hole such that the front end protrudes in the direction of the connector by the bias of the coil spring, and the printed circuit board moves rearward when the front conductive pin retreats against the bias. A connector terminal inspector characterized by having a through-hole for penetrating the portion and allowing contact with the rear probe.

【0019】請求項3記載のコネクタ端子検査器におい
ては、前方プローブを、中間部に鍔を形成した前方導電
ピンをコネクタの方向にコイルスプリングで付勢して構
成し、前方ブロックには、前方導電ピンを移動自在に収
容するとともにコイルスプリングを鍔とプリント基板の
配線パターンとの間に縮設して収容する前方プローブ収
容孔を形成し、前方導電ピンをコイルスプリングによる
付勢によってその先端部がコネクタの方向に突出するよ
うに前方プローブ収容孔内に保持し、プリント基板に
は、付勢に抗する前方導電ピンの後退時にその後端部を
貫通させ後方プローブとの接触を許容する貫通孔を形成
しているので、請求項2記載の作用に加え、出力手段を
支持ブロックの一部を形成するプリント基板と前方導電
ピンを付勢するコイルスプリングにて形成することがで
きる。
In the connector terminal inspecting device according to the third aspect, the front probe is constituted by urging a front conductive pin having a flange formed at an intermediate portion in the direction of the connector with a coil spring, and the front block includes a front block. A front probe accommodating hole for accommodating the conductive pin movably and for contracting and accommodating the coil spring between the flange and the wiring pattern of the printed circuit board is formed. Is held in the front probe receiving hole so as to protrude in the direction of the connector, and the printed circuit board has a through hole that allows the rear end of the front conductive pin to penetrate the rear end when the front conductive pin is retracted and allows contact with the rear probe. 3. In addition to the operation of claim 2, the output means is a coil for urging the printed circuit board forming a part of the support block and the front conductive pin. It can be formed in the spring.

【0020】請求項4記載の発明は、請求項3記載のコ
ネクタ端子検査器において、前記後方プローブは、中間
部に鍔を形成した後方導電ピンと、該後方導電ピンを前
記コネクタの方向に付勢するコイルスプリングとを有
し、前記後方ブロックは、前記後方導電ピンを移動自在
に収容するとともに、前記コイルスプリングを前記鍔と
の間に縮設し前記後方導電ピンをコイルスプリングによ
ってコネクタの方向に付勢して収容する後方プローブ収
容孔を有し、前記後方導電ピンは、その後端部が前記コ
ネクタと反対方向に突出されるように前記後方プローブ
収容孔内に保持されていることを特徴とするコネクタ端
子検査器に存する。
According to a fourth aspect of the present invention, in the connector terminal inspector according to the third aspect, the rear probe biases the rear conductive pin in the direction of the connector with a rear conductive pin having a flange formed at an intermediate portion. The rear block movably accommodates the rear conductive pin, contracts the coil spring between the flange and the flange, and moves the rear conductive pin in the direction of the connector by the coil spring. A rear probe accommodating hole for urging and accommodating the rear conductive pin, wherein the rear conductive pin is held in the rear probe accommodating hole such that a rear end portion protrudes in a direction opposite to the connector. Connector terminal tester.

【0021】請求項4記載のコネクタ端子検査器におい
ては、後方プローブを中間部に鍔を形成した後方導電ピ
ンをコネクタの方向にコイルスプリングで付勢して構成
し、後方ブロックには、後方導電ピンを移動自在に収容
するとともに、コイルスプリングを鍔との間に縮設し後
方導電ピンを前記コイルスプリングによってコネクタの
方向に付勢して収容する後方プローブ収容孔を形成し、
後方導電ピンをその後端部がコネクタと反対方向に突出
されるように後方プローブ収容孔内に保持しているの
で、請求項3記載の発明の作用に加え、前方導電ピンの
後退によってその後端が後方導電ピンの先端に突き当た
ったとき後方導電ピンが付勢に抗して後退でき、寸法の
バラツキを許容するとともに、前方導電ピンが電線端子
に対して最終的に及ぼす力を決定できる。
According to a fourth aspect of the present invention, the rear probe is formed by urging a rear conductive pin having a flange formed at an intermediate portion in the direction of the connector with a coil spring, and the rear block has a rear conductive pin. Along with accommodating the pin movably, a coil spring is contracted between the flange and a rear probe accommodating hole for accommodating and accommodating the rear conductive pin in the direction of the connector by the coil spring is formed.
The rear conductive pin is held in the rear probe receiving hole such that the rear end of the rear conductive pin projects in the opposite direction to the connector. When the rear conductive pin abuts against the tip of the rear conductive pin, the rear conductive pin can be retracted against the bias, allowing variation in dimensions, and determining the final force exerted on the wire terminal by the front conductive pin.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】以下、本発明によるコネクタ端子
検査器の一実施の形態を図面を参照して詳しく説明す
る。図1は本発明によるコネクタ端子検査器の要部であ
る検査部の一実施の形態を示す断面図、図2は図1の検
査部の分解斜視図であり、これらの図において、図5に
ついて上述した従来のものと同一あるいは対応する部分
には同一の符号を付してある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a connector terminal inspector according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a cross-sectional view showing an embodiment of an inspection section which is a main part of a connector terminal inspection apparatus according to the present invention, and FIG. 2 is an exploded perspective view of the inspection section shown in FIG. The same or corresponding parts as those of the above-described conventional one are denoted by the same reference numerals.

【0023】図1及び図2においては、電線が接続され
た電線端子を有する検査すべきコネクタC(図1)を保
持するコネクタ保持部については図示を省略し、検査部
2についてのみ示している。これらの図において、検査
部2は、図示しないコネクタ保持部に保持されたコネク
タCの電線端子C1の位置に対応させて配され電線端子
C1と接触して検査を行う検査プローブ22と、この検
査プローブ22を支持する支持ブロック23とを有す
る。
1 and 2, a connector holding portion for holding a connector C to be inspected (FIG. 1) having an electric wire terminal to which an electric wire is connected is not shown, and only the inspection portion 2 is shown. . In these drawings, the inspection unit 2 includes an inspection probe 22 that is arranged corresponding to the position of the wire terminal C1 of the connector C held by a connector holding unit (not shown) and performs an inspection by contacting the wire terminal C1; And a support block 23 that supports the probe 22.

【0024】検査プローブ22は2分された前方プロー
ブ22aと後方プローブ22bとを有し、図1に示すよ
うに、検査部2とコネクタ保持部に保持したコネクタC
とが離されている常時は、前方プローブ22aと後方プ
ローブ22bとが間隙gを介して離間されて保持されて
いる。前方プローブ22aは、中間部に鍔22a11を
形成した前方導電ピン22a1と、この前方導電ピン2
2a1をコネクタCの方向に付勢するコイルスプリング
22a14とを有する。また、後方プローブ22bは、
中間部に鍔22b11を形成した後方導電ピン22b1
と、この後方導電ピン22b1をコネクタCの方向に付
勢するコイルスプリング22b14とを有する。
The inspection probe 22 has a front probe 22a and a rear probe 22b that are divided into two, and as shown in FIG. 1, the inspection section 2 and the connector C held by the connector holding section.
The front probe 22a and the rear probe 22b are normally held apart from each other via the gap g. The front probe 22a includes a front conductive pin 22a1 having a collar 22a11 formed at an intermediate portion, and a front conductive pin 2a.
And a coil spring 22a14 for urging the connector 2a1 in the direction of the connector C. Also, the rear probe 22b
Rear conductive pin 22b1 having a collar 22b11 formed in the middle
And a coil spring 22b14 for urging the rear conductive pin 22b1 toward the connector C.

【0025】支持ブロック23は、図示のように、前方
プローブ22aを支持する前方ブロック23aと後方プ
ローブ22bを支持する後方ブロック23bとを有す
る。前方ブロック23aはピンブロック23a1とこの
ピンブロック23a1の前方(コネクタ側)に固着され
た前ピンストッパ板23a2とピンブロック23a1の
後方(コネクタと反対側)に固着されたプリント基板2
3a3とを有する。プリント基板23a3はその上側縁
部が支持ブロック23の上方に突出する大きさに形成さ
れている。また、後方ブロック23bはピンブロック2
3b1とこのピンブロック23b1の後方(コネクタと
反対側)に固着された後ピンストッパ板23b2とを有
する。
As shown, the support block 23 has a front block 23a for supporting the front probe 22a and a rear block 23b for supporting the rear probe 22b. The front block 23a includes a pin block 23a1, a front pin stopper plate 23a2 fixed to the front (connector side) of the pin block 23a1, and a printed circuit board 2 fixed to the rear of the pin block 23a1 (opposite to the connector).
3a3. The printed circuit board 23a3 is formed in such a size that its upper edge protrudes above the support block 23. The rear block 23b is a pin block 2
3b1 and a rear pin stopper plate 23b2 fixed to the rear of the pin block 23b1 (on the side opposite to the connector).

【0026】前方ブロック23aにおいて、ピンブロッ
ク23a1には前方導電ピン22a1の鍔22a11が
移動可能となる内径の貫通孔23a11が形成され、前
ピンストッパ板23a2には前方導電ピン22a1の先
端部22a12が移動可能であるが鍔22b11を通さ
ない内径の貫通孔23a21が形成され、プリント基板
23a3には前方導電ピン22a1の後端部22a13
が移動可能であるが鍔22a11を通さない内径の貫通
孔23a31が形成されている。ピンブロック23a1
の貫通孔23a11と前ピンストッパ板23a2の貫通
孔23a21とプリント基板23a3の貫通孔23a3
1とは、前方導電ピン22a1が移動自在に収容される
とともに、コイルスプリング22a14が鍔22a11
とプリント基板23a3との間に縮設されて収容される
前方プローブ収容孔23a4を形成している。
In the front block 23a, the pin block 23a1 is formed with a through-hole 23a11 having an inner diameter that allows the flange 22a11 of the front conductive pin 22a1 to move, and the front pin stopper plate 23a2 is provided with the tip 22a12 of the front conductive pin 22a1. A through hole 23a21 having an inner diameter that is movable but does not pass through the flange 22b11 is formed, and a rear end portion 22a13 of the front conductive pin 22a1 is formed in the printed circuit board 23a3.
Is movable, but a through hole 23a31 having an inner diameter that does not pass through the flange 22a11 is formed. Pin block 23a1
Through hole 23a11, through hole 23a21 in front pin stopper plate 23a2, and through hole 23a3 in printed circuit board 23a3.
1 means that the front conductive pin 22a1 is movably accommodated and the coil spring 22a14 is
And a printed circuit board 23a3 to form a front probe housing hole 23a4 which is contracted and housed.

【0027】前方プローブ収容孔23a4に収容された
前方導電ピン22a1は、コイルスプリング22a14
による付勢によってその先端部22a12が前ストッパ
板23a2の貫通孔23a21を通じてコネクタCの方
向に突出された状態に保持されている。プリント基板2
3a3は、前方導電ピン22a1の後端部が移動可能と
なった貫通孔23a21から上側縁部まで延びる配線パ
ターン23a32を有する。前方導電ピン22a1の鍔
22a11とプリント基板23a3との間に縮設された
コイルスプリング22a14はプリント基板23a3の
配線パターン23a32と常時接触しているので、前方
導電ピン22a1はこのコイルスプリング22a14を
介してプリント基板23a3の配線パターン23a32
と常時電気接続されるようになる。プリント基板23a
3の上側縁部には、ここまで延びた配線パターン23a
32と電気接続されるように半田付けされた出力ピン2
3a33が設けられている。
The front conductive pin 22a1 housed in the front probe housing hole 23a4 is connected to a coil spring 22a14.
Of the front stopper plate 23a2 so as to protrude toward the connector C through the through hole 23a21 of the front stopper plate 23a2. Printed circuit board 2
3a3 has a wiring pattern 23a32 extending from the through hole 23a21 in which the rear end of the front conductive pin 22a1 is movable to the upper edge. The coil spring 22a14 contracted between the flange 22a11 of the front conductive pin 22a1 and the printed board 23a3 is always in contact with the wiring pattern 23a32 of the printed board 23a3. Wiring pattern 23a32 of printed circuit board 23a3
Is always connected electrically. Printed circuit board 23a
3 has a wiring pattern 23a extending so far.
Output pin 2 soldered to be electrically connected to
3a33 is provided.

【0028】後方ブロック23bにおいて、ピンブロッ
ク23b1には後方導電ピン22b1の鍔22b11が
移動可能となる大径部23b111と後方導電ピン22
b1の先端部22b12が移動可能であるが鍔22b1
1を通さない小径部23b112とからなる貫通孔23
b11が形成され、後ピンストッパ板23b2には後方
導電ピン22b1の後端部22b13が移動可能である
が鍔22b11を通さない内径の貫通孔23b21が形
成されている。ピンブロック23b1の貫通孔23b1
1と後ピンストッパ板23b2の貫通孔23b21と
は、後方導電ピン22b1が移動自在に収容されるとと
もに、コイルスプリング22b14が鍔22b11とプ
リント基板22b12との間に縮設されて収容される後
方プローブ収容孔23b3を形成している。
In the rear block 23b, the pin block 23b1 has a large-diameter portion 23b111 in which the flange 22b11 of the rear conductive pin 22b1 is movable and the rear conductive pin 22.
The tip 22b12 of b1 is movable, but the flange 22b1
1 and a small-diameter portion 23b112 that does not pass through 1
The rear pin stopper plate 23b2 is formed with a through hole 23b21 having an inner diameter through which the rear end 22b13 of the rear conductive pin 22b1 can move but does not pass through the flange 22b11. Through-hole 23b1 of pin block 23b1
1 and the through-hole 23b21 of the rear pin stopper plate 23b2, the rear probe in which the rear conductive pin 22b1 is movably accommodated and the coil spring 22b14 is contracted and accommodated between the flange 22b11 and the printed board 22b12. The accommodation hole 23b3 is formed.

【0029】後方プローブ収容孔23b3に収容された
後方導電ピン22b1は、縮設されたコイルスプリング
22b14による付勢によってその先端部22b12が
ピンブロック23b1の貫通孔23b11に挿入され、
鍔22b11が大径部23b111と小径部23b11
2との間の段部に当接された状態に保持されている。こ
の状態で、後方導電ピン22b1の後端部22b13は
後ピンストッパ板23b2の貫通孔23b21を通じて
コネクタCと反対方向に突出されている。
The distal end 22b12 of the rear conductive pin 22b1 housed in the rear probe housing hole 23b3 is inserted into the through hole 23b11 of the pin block 23b1 by the bias of the contracted coil spring 22b14.
The flange 22b11 has a large diameter portion 23b111 and a small diameter portion 23b11.
2 is held in a state of being in contact with the step between them. In this state, the rear end 22b13 of the rear conductive pin 22b1 protrudes in the opposite direction to the connector C through the through hole 23b21 of the rear pin stopper plate 23b2.

【0030】コイルスプリング22a14により付勢さ
れた前方導電ピン22a1はその先端部22a12が前
ストッパ板23a2の貫通孔23a21を通じてコネク
タCの方向に突出されて保持され、コイルスプリング2
2b14により付勢された後方導電ピン22b1はその
鍔22b11が大径部23b111と小径部23b11
2との間の段部に当接されて保持されている状態におい
て、前方導電ピン22a1の後端と後方導電ピン22b
1の先端との間には上述した間隙gが形成されるように
各部の寸法が定められている。
The front conductive pin 22a1 urged by the coil spring 22a14 has its tip 22a12 projected and held in the direction of the connector C through the through hole 23a21 of the front stopper plate 23a2.
The rear conductive pin 22b1 urged by 2b14 has a flange 22b11 having a large diameter portion 23b111 and a small diameter portion 23b11.
2, the rear end of the front conductive pin 22a1 and the rear end of the rear conductive pin 22b
The dimensions of the respective parts are determined so that the above-mentioned gap g is formed between the first end and the front end.

【0031】なお、間隙の大きさとしては、例えば1〜
2mm程度が適当である。また、前方導電ピン22a1
の後端が半球形状に、後方導電ピン22b1の先端が平
坦形状にそれぞれされて、接触時の電気的導通の安定化
が図られている。さらに、前方導電ピン22a1の先端
が平坦形状にされてコネクタCの電線端子との当接接触
面の確保が図られている。後方導電ピン22b1の後端
が半球形状とされ、接触時の電気的導通の安定化が図ら
れている。
The size of the gap is, for example, 1 to
About 2 mm is appropriate. Also, the front conductive pin 22a1
The rear end has a hemispherical shape, and the front end of the rear conductive pin 22b1 has a flat shape, thereby stabilizing electrical conduction at the time of contact. Further, the front end of the front conductive pin 22a1 is flattened to secure a contact contact surface with the wire terminal of the connector C. The rear end of the rear conductive pin 22b1 has a hemispherical shape to stabilize electrical conduction at the time of contact.

【0032】なお、図1では図示を省略しているが、支
持ブロック23の前方ブロック23aを構成するピンブ
ロック23a1、前ピンストッパ板23a2及びプリン
ト基板23a3と、後方ブロック23bを構成するピン
ブロック23b1及び後ピンストッパ板23b2とは、
図2に示す組立枠24に横方向に順に重ねられて検査部
2として組み立てられている。また、図1には破線によ
って示されているが、前方ブロック23aのコネクタ側
には、コネクタCのコネクタ装着面側が嵌入する凹部2
5aを有する案内部材25が装着されており、検査時に
この凹部25aにコネクタCのコネクタ装着面を嵌入さ
せて検査部2に対してコネクタを案内し、両者の結合が
安定的に行われるようにしている。
Although not shown in FIG. 1, a pin block 23a1, a front pin stopper plate 23a2 and a printed circuit board 23a3 constituting the front block 23a of the support block 23, and a pin block 23b1 constituting the rear block 23b. And the rear pin stopper plate 23b2
The inspection unit 2 is superposed on the assembly frame 24 shown in FIG. Also, as shown in FIG. 1 by a broken line, a recess 2 into which the connector mounting surface side of the connector C is fitted is provided on the connector side of the front block 23a.
A guide member 25 having a connector 5a is mounted, and the connector mounting surface of the connector C is fitted into the concave portion 25a at the time of inspection to guide the connector to the inspection section 2 so that the two can be connected stably. ing.

【0033】また、図1には点線で示すように、上述し
た検査部2に対して相対的に移動可能であるコネクタ保
持部3が案内部材25と対向して設けられており、図示
しない手段によって、前方プローブの付勢方向に沿って
移動するように案内され、非検査時には検査部2から離
され、検査時に検査部2に接近される。
Further, as shown by a dotted line in FIG. 1, a connector holding portion 3 which is movable relative to the above-described inspection portion 2 is provided facing the guide member 25, and means not shown As a result, it is guided to move along the biasing direction of the front probe, is separated from the inspection unit 2 when not inspected, and approaches the inspection unit 2 during inspection.

【0034】さらに、図1及び図2には、図示を簡単に
して見易くするために、支持ブロック23に支持された
検査プローブ22は1つしか示されていないが、実際に
は、コネクタの有する端子数に相当する数の検査プロー
ブ22が電線端子に対応して支持されるとともに、検査
プローブ22を収容するための前方プローブ収容孔23
a4及び後方プローブ収容孔23b3も電線端子に対応
して前方ブロック23a及び後方ブロック23bにそれ
ぞれ形成されている。
Further, FIGS. 1 and 2 show only one test probe 22 supported by the support block 23 for the sake of simplicity and ease of viewing, but the connector actually has a connector. A number of test probes 22 corresponding to the number of terminals are supported corresponding to the wire terminals, and a front probe accommodation hole 23 for accommodating the test probe 22.
a4 and the rear probe accommodating hole 23b3 are also formed in the front block 23a and the rear block 23b, respectively, corresponding to the electric wire terminals.

【0035】また、8つの電線端子を有するコネクタC
を検査する検査部2に使用するプリント基板23a3と
しては、図3に示すように、前方導電ピン22a1の後
端部が移動可能となった8つの貫通孔23a31と、こ
の貫通孔23a31の各々から側縁部まで延びる8つの
配線パターン23a32とが予め形成されたものが使用
される。このプリント基板23a3の場合、貫通孔23
a21と配線パターン23a32がコネクタCの電線端
子に対応する数だけ設けられているので、切り放たれた
電線の接続されている電線端子に対応する配線パターン
23a32に出力ピン(図1の23a33)を設けるこ
とで、一種類のプリント基板23a3によりどの電線端
子の電線が切り放たれていても対応することができるよ
うになっている。なお、8つの配線パターン23a32
は引き回しを考慮し基板両面を使用して形成されてい
る。
A connector C having eight electric wire terminals
As shown in FIG. 3, the printed circuit board 23a3 used in the inspection unit 2 for inspecting the eight holes 23a31 in which the rear end of the front conductive pin 22a1 is movable, and each of the through holes 23a31 One in which eight wiring patterns 23a32 extending to the side edges are formed in advance is used. In the case of this printed circuit board 23a3,
Since a21 and wiring patterns 23a32 are provided in a number corresponding to the wire terminals of the connector C, output pins (23a33 in FIG. 1) are connected to the wiring patterns 23a32 corresponding to the wire terminals to which the cut wires are connected. With this arrangement, it is possible to cope with the case where the wire of any wire terminal is cut off by one type of printed circuit board 23a3. The eight wiring patterns 23a32
Are formed using both sides of the substrate in consideration of the layout.

【0036】上述した構成の端子検査器において、図1
に示すように、コネクタ保持部3の上方からコネクタ
(図示せず)を装着した後、図示しない操作手段を操作
してコネクタ保持部3に力を付与して検査部2の方向に
作動すると、図4に示すように、コネクタ保持部3に保
持されたコネクタのコネクタ装着面側が検査部2の案内
部材25の凹部25aに嵌入させる。そして、コネクタ
Cに正常な挿着姿勢の電線端子C1があると、検査プロ
ーブ22の前方導電ピン22a1は、電線端子C1と干
渉するため、コイルスプリング22a14の付勢に抗し
て後退し、その後端が後方導電ピン22b1の先端と接
触する。この前方導電ピン22a1と後方導電ピン22
b1との接触により、電線端子C1、前方導電ピン22
a1及び後方導電ピン22b1の電気的導通が図られる
とともに、出力ピン23a33、プリント基板23a3
の配線パターン23a32、コイルスプリング22a1
4、前方導電ピン22a1及び後方導電ピン22b1の
電気的導通も図られる。
In the terminal inspection device having the above configuration, FIG.
As shown in (2), after a connector (not shown) is mounted from above the connector holding section 3, a force is applied to the connector holding section 3 by operating operating means (not shown) to operate in the direction of the inspection section 2. As shown in FIG. 4, the connector mounting surface side of the connector held by the connector holding unit 3 is fitted into the recess 25 a of the guide member 25 of the inspection unit 2. When the connector C has the wire terminal C1 in a normal insertion posture, the front conductive pin 22a1 of the inspection probe 22 interferes with the wire terminal C1, so that it retreats against the bias of the coil spring 22a14. The end contacts the tip of the rear conductive pin 22b1. The front conductive pin 22a1 and the rear conductive pin 22
b1, the wire terminal C1, the front conductive pin 22
a1 and the rear conductive pin 22b1 are electrically connected, and the output pin 23a33 and the printed circuit board 23a3
Wiring pattern 23a32, coil spring 22a1
4, electrical conduction between the front conductive pin 22a1 and the rear conductive pin 22b1 is also achieved.

【0037】よって、電線端子C1に接続された電線と
後方導電ピン22b1に接続した電線とを接続すると、
電線端子C1を経由する回路が形成されて電気的導通が
図られ、その確認によって導通検査ができる。このと
き、コネクタの電線端子C1に接続されている電線に断
線或いは電線の未接続があると電気的導通が得られず、
また電線端子C1の欠品または姿勢不良があると、検査
プローブ22の前方導電ピン22a1は、電線端子C1
と正常に干渉しないため、コイルスプリング22a14
の付勢に抗して後退せず、その後端が後方導電ピン22
b1の先端と接触することもないので、導通が不能とな
って不良品が確認される。したがって、上述したコネク
タ端子検査器は、コネクタの電線端子の数に対応する数
の検査プローブ22をコネクタの電線端子の位置に対応
させて支持ブロック23に支持したものを使用すること
によって、電線端子に接続されている電線の導通検査も
行うことができる。
Thus, when the electric wire connected to the electric wire terminal C1 and the electric wire connected to the rear conductive pin 22b1 are connected,
A circuit passing through the wire terminal C1 is formed to achieve electrical continuity, and a continuity test can be performed by confirming the circuit. At this time, if the electric wire connected to the electric wire terminal C1 of the connector is disconnected or disconnected, electrical continuity cannot be obtained,
If the wire terminal C1 is missing or has a poor posture, the front conductive pin 22a1 of the inspection probe 22 is connected to the wire terminal C1.
Coil interference 22a14
Of the rear conductive pin 22
Since there is no contact with the tip of b1, conduction is disabled and defective products are confirmed. Therefore, the connector terminal inspector described above uses the one in which the number of the inspection probes 22 corresponding to the number of the wire terminals of the connector is supported by the support block 23 in correspondence with the position of the wire terminal of the connector. A continuity test of the electric wire connected to the device can also be performed.

【0038】これに対し、電線端子C1に接続された電
線が切り放たれオープン回路となっているオプション用
電線である場合には、電線端子C1を経由する回路が形
成されて電気的導通が図られることがない。したがっ
て、この種の電線端子C1について、その欠品または姿
勢不良を検査するときには、出力ピン23a33に接続
した電線と後方導電ピン22b1に接続した電線とを接
続し、このとき出力ピン23a33、プリント基板23
a3の配線パターン23a32、コイルスプリング22
a14を経由する回路が形成されて電気的導通が図られ
るかどうかの確認によって、オプション用電線の接続さ
れた電線端子C1の欠品または姿勢不良を検査できる。
On the other hand, when the electric wire connected to the electric wire terminal C1 is an optional electric wire which is cut open to form an open circuit, a circuit passing through the electric wire terminal C1 is formed, and electrical continuity is achieved. Never be. Therefore, when inspecting this type of wire terminal C1 for a missing or defective orientation, the wire connected to the output pin 23a33 and the wire connected to the rear conductive pin 22b1 are connected. 23
a3 wiring pattern 23a32, coil spring 22
By checking whether or not a circuit passing through a14 is formed to achieve electrical conduction, it is possible to inspect the wire terminal C1 to which the option wire is connected for a missing or poor posture.

【0039】なお、上述した実施の形態では、前方プロ
ーブ22aと後方プローブ22bとが接触したとき、前
方プローブを介して後方プローブと電気接続される手段
として、前方プローブを構成する前方導電ピンを付勢す
るコイルスプリングとこれが常時接触しているプリント
基板の配線パターンとを使用しているが、これに制限さ
れることなく他の構成も取りうる。例えば、前方プロー
ブに常時接触するブラッシを引き出すようにしてもよ
い。しかし、前方導電ピンを付勢するコイルスプリング
とこれが常時接触しているプリント基板の配線パターン
とを使用する構成は、電線端子の配列が同じものについ
ては、プリント基板の配線パターンを選択することで対
応することを可能とするので、より多くのコネクタの検
査に利用できる共用性が高い他、構成の単純化と高集積
度を図る上で有効な構成となっている。
In the above-described embodiment, when the front probe 22a and the rear probe 22b come into contact with each other, the front conductive pins constituting the front probe are provided as means for electrically connecting to the rear probe via the front probe. Although the energizing coil spring and the wiring pattern of the printed circuit board that is in constant contact with it are used, other configurations are possible without being limited to this. For example, a brush that constantly contacts the front probe may be drawn out. However, in the configuration using a coil spring for urging the front conductive pin and the wiring pattern of the printed circuit board which is always in contact, the wiring pattern of the printed circuit board is selected for those having the same arrangement of the wire terminals. Since it is possible to cope with the problem, the versatility is high that it can be used for testing a larger number of connectors, and the configuration is effective in simplifying the configuration and increasing the degree of integration.

【0040】[0040]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1記載の発
明によれば、コネクタ内に電線端子が正常に存在すると
きには、検査時前方プローブがコネクタ内の電線端子に
突き当たり付勢に抗して後退して後方プローブと接触
し、検査部の出力手段が前方プローブを介して後方プロ
ーブと電気接続されるようになり、これに対し、コネク
タ内に電線端子が正常に存在しないときには、検査時前
方プローブがコネクタ内の電線端子に突き当たり付勢に
抗して後退することがなく、後方プローブとも接触せ
ず、検査部の出力手段が前方プローブを介して後方プロ
ーブと電気接続されることがないので、出力手段と2a
と後方プローブとの電気接続を確認することで、コネク
タ内に電線端子が正常に存在するかどうかの検査を行う
ことできる。オプション用電線の接続された電線端子が
正しく装着されて収容されているかどうかを簡単に検査
できるコネクタ端子検査器が得られる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, when the wire terminal is normally present in the connector, the front probe abuts against the wire terminal in the connector during the inspection and resists the bias. The probe is retracted and comes into contact with the rear probe, and the output means of the inspection section is electrically connected to the rear probe via the front probe. The front probe collides with the wire terminal in the connector and does not retreat against the bias, does not contact the rear probe, and the output means of the inspection unit is not electrically connected to the rear probe via the front probe. Therefore, the output means and 2a
By checking the electrical connection between the cable and the rear probe, it is possible to check whether or not the wire terminal is normally present in the connector. A connector terminal inspector capable of easily inspecting whether or not the wire terminal connected to the optional wire is correctly mounted and accommodated is obtained.

【0041】請求項2記載の発明によれば、前方ブロッ
クの一部をプリント基板で形成して何ら別部材を設けな
くても簡単に出力手段を構成できるので、請求項1記載
の発明の効果に加え、コンパクトで安価なコネクタ端子
検査器が得られる。
According to the second aspect of the present invention, a part of the front block is formed of a printed circuit board, and the output means can be easily configured without providing any separate member. In addition, a compact and inexpensive connector terminal inspector can be obtained.

【0042】請求項3記載の発明によれば、出力手段を
支持ブロックの一部を形成するプリント基板と前方導電
ピンを付勢するコイルスプリングにて形成することがで
きるので、請求項2記載の発明の効果に加え、よりコン
パクトで安価なコネクタ端子検査器が得られる。
According to the third aspect of the present invention, the output means can be formed by the printed circuit board forming a part of the support block and the coil spring for biasing the front conductive pin. In addition to the effects of the invention, a more compact and inexpensive connector terminal inspector can be obtained.

【0043】請求項4記載の発明によれば、前方導電ピ
ンの後退によってその後端が後方導電ピンの先端に突き
当たったとき後方導電ピンが付勢に抗して後退でき、寸
法のバラツキを許容するとともに、前方導電ピンが電線
端子に対して最終的に及ぼす力を決定できるので、請求
項3記載の発明の効果に加え、検査対象のコネクタの電
線端子に無用の大きな余分の力を加え、電線端子を損な
う心配のないコネクタ端子検査器が得られる。
According to the fourth aspect of the present invention, when the rear end of the front conductive pin retreats and the rear end of the rear conductive pin abuts against the front end of the rear conductive pin, the rear conductive pin can retreat against the biasing force, thereby allowing variation in dimensions. At the same time, since the force which the front conductive pin finally exerts on the wire terminal can be determined, in addition to the effect of the invention according to claim 3, an unnecessary large extra force is applied to the wire terminal of the connector to be inspected, A connector terminal inspector that does not have to worry about damaging the terminal can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明によるコネクタ端子検査器の要部を示す
側断面図である。
FIG. 1 is a side sectional view showing a main part of a connector terminal inspector according to the present invention.

【図2】本発明によるコネクタ端子検査器の要部を分解
して示す分解斜視図である。
FIG. 2 is an exploded perspective view showing an exploded main part of the connector terminal inspector according to the present invention.

【図3】図1及び図2中のプリント基板の詳細な具体例
を示す平面図である。
FIG. 3 is a plan view showing a detailed specific example of the printed circuit board in FIGS. 1 and 2;

【図4】図1の側面図に対応する図であり、検査時の状
態を示す側断面図である。
FIG. 4 is a side sectional view corresponding to the side view of FIG. 1, showing a state at the time of inspection;

【図5】従来のコネクタ端子検査器の一例を示す斜視図
である。
FIG. 5 is a perspective view showing an example of a conventional connector terminal inspection device.

【図6】図5のコネクタ端子検査器の一部分を破断した
側面図である。
FIG. 6 is a side view in which a part of the connector terminal inspection device of FIG. 5 is cut away.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

C コネクタ C1 電線端子 2 検査部 22 検査プローブ 22a 前方プローブ 22a1 前方導電ピン 22a11 鍔 22a14 コイルスプリング 22b 後方プローブ 22b1 後方導電ピン 22b11 鍔 22b13 コイルスプリング 23 支持手段 23a 前方ブロック 23a3 出力手段 23a31 貫通孔 23a32 配線パターン 23a4 前方プローブ収容孔 23b 後方ブロック 23b3 後方プローブ収容孔 3 コネクタ保持部 C connector C1 Wire terminal 2 Inspection unit 22 Inspection probe 22a Front probe 22a1 Front conductive pin 22a11 Flange 22a14 Coil spring 22b Back probe 22b1 Rear conductive pin 22b11 Flange 22b13 Coil spring 23 Supporting means 23a Front block 23a3 Output means 23a31 Through hole 23a32 23a4 Front probe accommodation hole 23b Rear block 23b3 Rear probe accommodation hole 3 Connector holding part

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電線の一端に固着され収容された電線端
子C1を有する検査すべきコネクタを保持するコネクタ
保持部3と、該コネクタ保持部に保持された前記コネク
タの電線端子に電気接続されるように検査プローブ22
が支持手段23に支持されてなる検査部2とを備え、 前記コネクタ保持部3及び前記検査部2の何れか一方が
他方に対して相対的に移動するように設けられ、 前記検査プローブは前方プローブ22aと後方プローブ
22bとを有し、かつ常時間隙を介して後方プローブか
ら離間されるように前方プローブが少なくとも前記コネ
クタの方向に付勢され、検査時前記前方プローブ22a
が前記コネクタ内の電線端子に突き当たり前記付勢に抗
して後退したとき前記後方プローブ22bと接触するよ
うになされたコネクタ端子検査器において、 前記検査部は、前記前方プローブ22aと前記後方プロ
ーブ22bとが接触したとき、前記前方プローブを介し
て前記後方プローブと電気接続される出力手段23a3
を有することを特徴とするコネクタ端子検査器。
1. A connector holding portion 3 holding a connector to be inspected having a wire terminal C1 fixedly accommodated at one end of a wire and being electrically connected to a wire terminal of the connector held by the connector holding portion. Inspection probe 22
Is provided so that one of the connector holding unit 3 and the inspection unit 2 relatively moves with respect to the other, and the inspection probe is provided in the front. A front probe which is urged at least in the direction of the connector so as to be separated from the rear probe through a gap at all times;
A connector terminal inspector adapted to abut against the wire terminal in the connector and come into contact with the rear probe 22b when retracted against the bias, wherein the inspection unit comprises the front probe 22a and the rear probe 22b. Output means 23a3 electrically connected to the rear probe via the front probe when the
A connector terminal inspection device comprising:
【請求項2】 前記支持手段は前記前方プローブを支持
する前方ブロック23aと前記後方プローブを支持する
後方ブロック23bとを有し、 前記出力手段は、前記前方ブロックの一部を形成し外側
縁部が前記支持手段の側方に突出されたプリント基板に
よって形成され、 前記プリント基板は、前記前方プローブと常時電気接続
され前記外側縁部まで引き出されている配線パターン2
3a32を有することを特徴とする請求項1記載のコネ
クタ端子検査器。
2. The support means has a front block 23a for supporting the front probe and a rear block 23b for supporting the rear probe, and the output means forms a part of the front block and has an outer edge. Is formed by a printed circuit board protruding to the side of the support means, and the printed circuit board is always electrically connected to the front probe and is drawn out to the outer edge.
The connector terminal inspector according to claim 1, further comprising 3a32.
【請求項3】 前記前方プローブは、中間部に鍔22a
11を形成した前方導電ピン22a1と、該前方導電ピ
ンを前記コネクタの方向に付勢するコイルスプリング2
2a14とを有し、 前記前方ブロックは、前記前方導電ピンを移動自在に収
容するとともに、前記コイルスプリングを前記鍔と前記
プリント基板の配線パターンとの間に縮設して収容する
前方プローブ収容孔23a4を有し、 前記前方導電ピンは、前記コイルスプリングによる付勢
によってその先端部が前記コネクタの方向に突出するよ
うに前記前方プローブ収容孔内に保持され、 前記プリント基板は、前記付勢に抗する前記前方導電ピ
ンの後退時にその後端部を貫通させ前記後方プローブと
の接触を許容する貫通孔23a31を有することを特徴
とする請求項2記載のコネクタ端子検査器。
3. The front probe has a collar 22a at an intermediate portion.
11 and a coil spring 2 for urging the front conductive pin toward the connector.
2a14, wherein the front block accommodates the front conductive pin movably, and accommodates the coil spring by contracting and accommodating the coil spring between the flange and the wiring pattern of the printed circuit board. 23 a 4, wherein the front conductive pin is held in the front probe receiving hole such that a tip end of the front conductive pin projects in the direction of the connector by urging by the coil spring; The connector terminal inspection device according to claim 2, further comprising a through hole (23a31) that penetrates a rear end portion of the opposing front conductive pin when the front conductive pin resists, and allows contact with the rear probe.
【請求項4】 前記後方プローブは、中間部に鍔22b
11を形成した後方導電ピン22b1と、該後方導電ピ
ンを前記コネクタの方向に付勢するコイルスプリング2
2b13とを有し、 前記後方ブロックは、前記後方導電ピンを移動自在に収
容するとともに、前記コイルスプリングを前記鍔との間
に縮設し前方導電ピンをコイルスプリングによってコネ
クタの方向に付勢して収容する後方プローブ収容孔23
b3を有し、 前記後方導電ピンは、その後端部が前記コネクタと反対
方向に突出されるように前記後方プローブ収容孔内に保
持されていることを特徴とする請求項3記載のコネクタ
端子検査器。
4. The rear probe has a collar 22b at an intermediate portion.
11 and a coil spring 2 for urging the rear conductive pin toward the connector.
2b13, wherein the rear block accommodates the rear conductive pin movably, contracts the coil spring between the flange and the flange, and urges the front conductive pin toward the connector by the coil spring. Probe housing hole 23 for housing
4. The connector terminal test according to claim 3, wherein the rear conductive pin has a rear end protruding in a direction opposite to the connector. vessel.
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