JP2001207288A - 細孔内への電着方法及び構造体 - Google Patents
細孔内への電着方法及び構造体Info
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- JP2001207288A JP2001207288A JP2000019243A JP2000019243A JP2001207288A JP 2001207288 A JP2001207288 A JP 2001207288A JP 2000019243 A JP2000019243 A JP 2000019243A JP 2000019243 A JP2000019243 A JP 2000019243A JP 2001207288 A JP2001207288 A JP 2001207288A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電解液の対流や電位分布に影響されずに大面
積にわたる高い均一性を持った細孔内へ電着方法を提供
する。 【解決手段】 基板上電極表面への電着方法において、
該基板上電極表面12に細孔15を有する細孔体11を
設ける工程、該細孔15内に電解液16及び電着材料を
充填する工程、該細孔体の上に対向電極13を密閉配置
する工程、該対向電極13と基板上電極12間に電解液
を介して電位差を与えることにより電着材料を電着する
工程を有する細孔内への電着方法。
積にわたる高い均一性を持った細孔内へ電着方法を提供
する。 【解決手段】 基板上電極表面への電着方法において、
該基板上電極表面12に細孔15を有する細孔体11を
設ける工程、該細孔15内に電解液16及び電着材料を
充填する工程、該細孔体の上に対向電極13を密閉配置
する工程、該対向電極13と基板上電極12間に電解液
を介して電位差を与えることにより電着材料を電着する
工程を有する細孔内への電着方法。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、細孔内への電着方
法及び構造体に関するものであり、特に析出量を制御し
た均一電着に関する電着方法及び構造体に関する。
法及び構造体に関するものであり、特に析出量を制御し
た均一電着に関する電着方法及び構造体に関する。
【0002】
【従来の技術】金属をはじめとする様々な材料の電着方
法には今までにも各種報告が為されている。また、現代
技術の傾向として、より微細な構造体への高精度の電着
を広い面積に渡って実施することが挙げられる。
法には今までにも各種報告が為されている。また、現代
技術の傾向として、より微細な構造体への高精度の電着
を広い面積に渡って実施することが挙げられる。
【0003】例えば、スルーホールめっきと呼ばれる電
着技術が開発されている。このスルーホールめっきは、
プリント配線板の作製時によく使われる方法である。こ
のプリント配線板は、半導体集積回路の急激な発達に伴
って高密度化、多層化が進められてきた。パターン幅、
間隔は細く狭くなり、スルーホールの孔径、ランド径は
小さく、さらに多層化によりアスベクト比が増大してい
る。
着技術が開発されている。このスルーホールめっきは、
プリント配線板の作製時によく使われる方法である。こ
のプリント配線板は、半導体集積回路の急激な発達に伴
って高密度化、多層化が進められてきた。パターン幅、
間隔は細く狭くなり、スルーホールの孔径、ランド径は
小さく、さらに多層化によりアスベクト比が増大してい
る。
【0004】このスルーホールめっきを用いた製造方法
では、サブトラクティブ法で製造されることが多い。そ
の工程は、(銅張積層板)−孔明け−無電解銅めっき−
パネル銅めっき(一次電気銅)−フォトレジスト処理−
パターン銅めっき(二次電気銅)−表面めっき−エッチ
ング−端子めっき−仕上げ、である。
では、サブトラクティブ法で製造されることが多い。そ
の工程は、(銅張積層板)−孔明け−無電解銅めっき−
パネル銅めっき(一次電気銅)−フォトレジスト処理−
パターン銅めっき(二次電気銅)−表面めっき−エッチ
ング−端子めっき−仕上げ、である。
【0005】また、このスルーホール部を電着する方法
も種々報告されている。例えば、特開平10−5626
1号公報が挙げられる。その他にも、あらかじめ作製さ
れている細孔内に金属を電着する方法が種々報告されて
いる。例として、“J.Electrochem.So
c.”,Vol.144,No.6,l923頁(19
97年6月)が挙げられる。
も種々報告されている。例えば、特開平10−5626
1号公報が挙げられる。その他にも、あらかじめ作製さ
れている細孔内に金属を電着する方法が種々報告されて
いる。例として、“J.Electrochem.So
c.”,Vol.144,No.6,l923頁(19
97年6月)が挙げられる。
【0006】また、電着方法としても、色々な工夫が成
されてきた。その例としてパルス電着が挙げられる。こ
の電着方法の特徴は、カソード界面の電解液濃度の変化
が直流法に比ベて小さいことから、直流法の電着に比べ
て析出物の組成が電解液に近づくという効果が期待され
る。またこの方法で得られる電着の特徴は、核発生が高
密度になり粒子が微細になることである。粒子が微細で
欠陥密度が小さいパルス法電着皮膜の構造上の特徴は、
電着皮膜の引張強さ、延び、密度を高め、硬さや耐摩耗
性を向上させ、有効度を減少させることである。
されてきた。その例としてパルス電着が挙げられる。こ
の電着方法の特徴は、カソード界面の電解液濃度の変化
が直流法に比ベて小さいことから、直流法の電着に比べ
て析出物の組成が電解液に近づくという効果が期待され
る。またこの方法で得られる電着の特徴は、核発生が高
密度になり粒子が微細になることである。粒子が微細で
欠陥密度が小さいパルス法電着皮膜の構造上の特徴は、
電着皮膜の引張強さ、延び、密度を高め、硬さや耐摩耗
性を向上させ、有効度を減少させることである。
【0007】また、超音波及び振動をかけながら、電着
をする方法も多々報告されている。その例として、特開
平5−59594号公報が挙げられる。様々な形態で、
細孔内の電着に関して様々な分野で発展している。応用
例としては、微小アレイ電極、プリント基板、GMR、
電子源、種々のマスク等数多く挙げることができる。さ
らなる性質の向上によって、多方面への応用も期待され
ている。
をする方法も多々報告されている。その例として、特開
平5−59594号公報が挙げられる。様々な形態で、
細孔内の電着に関して様々な分野で発展している。応用
例としては、微小アレイ電極、プリント基板、GMR、
電子源、種々のマスク等数多く挙げることができる。さ
らなる性質の向上によって、多方面への応用も期待され
ている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】先に延べた細孔内への
電着方法及び電着技術に関しては、ほとんどがめっき浴
中に2電極式、もしくは3電極式の電極を溶液中に漬け
込み、電位をかけることにより細孔底等に所望の物質が
電着される方法である。この様な方法を用いたときに
は、電着量を制御する手段としてはクーロン量より算出
するか若しくは時間で制御するのが現状である。
電着方法及び電着技術に関しては、ほとんどがめっき浴
中に2電極式、もしくは3電極式の電極を溶液中に漬け
込み、電位をかけることにより細孔底等に所望の物質が
電着される方法である。この様な方法を用いたときに
は、電着量を制御する手段としてはクーロン量より算出
するか若しくは時間で制御するのが現状である。
【0009】また、細孔内の電着を行う場合は電位分布
が重要なポイントとなってくる。定常状態における電着
量はもちろん、核発生においても印加電圧が大きな影響
を及ぼし、一般的には電位が集中するエッジ部分への電
着量が多くなる傾向がある。均一な電位分布を達成する
には被電着物の周囲にフレームを設置する方法も開発さ
れているが、十分に均一な状態を作製するのは大変困難
である。
が重要なポイントとなってくる。定常状態における電着
量はもちろん、核発生においても印加電圧が大きな影響
を及ぼし、一般的には電位が集中するエッジ部分への電
着量が多くなる傾向がある。均一な電位分布を達成する
には被電着物の周囲にフレームを設置する方法も開発さ
れているが、十分に均一な状態を作製するのは大変困難
である。
【0010】また、溶液内の拡散も大きく関与してく
る。普通、電着を行うに際し、超音波による振動印加、
撹拌子による撹拌、溶液内における電着基板やその周辺
の振動など、対流をむらなく発生させる必要性がある。
しかし、この対流を制御することは困難であり、電着量
に差が出てくる間題点があった。
る。普通、電着を行うに際し、超音波による振動印加、
撹拌子による撹拌、溶液内における電着基板やその周辺
の振動など、対流をむらなく発生させる必要性がある。
しかし、この対流を制御することは困難であり、電着量
に差が出てくる間題点があった。
【0011】本発明の目的は、電解液の対流や電位分布
に影響されずに大面積にわたる高い均一性を持った細孔
内へ電着方法を提供することである。また本発明の目的
は、細孔内への極微小量の電着や積層電着の制御性の良
い電着方法を提供することである。また本発明の別の目
的は、使用電解液が少なく、また電解液の管理も容易で
ありコストダウンが可能である電着方法を提供すること
である。また本発明の別の目的は、所望の細孔に容易に
電着することができる電着方法を提供することである。
更には、これらの電着技術を適用して作製した電着部を
有するナノ構造体を提供することである。
に影響されずに大面積にわたる高い均一性を持った細孔
内へ電着方法を提供することである。また本発明の目的
は、細孔内への極微小量の電着や積層電着の制御性の良
い電着方法を提供することである。また本発明の別の目
的は、使用電解液が少なく、また電解液の管理も容易で
ありコストダウンが可能である電着方法を提供すること
である。また本発明の別の目的は、所望の細孔に容易に
電着することができる電着方法を提供することである。
更には、これらの電着技術を適用して作製した電着部を
有するナノ構造体を提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は上記したような
技術的要求に鑑みなされたものであり、その目的の―つ
はこれらの間題点を解決することにあり、基板上電極表
面への電着方法において、該基板上電極表面に細孔を有
する細孔体を設ける工程、該細孔内に電解液及び電着材
料を充填する工程、該細孔体の上に対向電極を密閉配置
する工程、該対向電極と基板上電極間に電解液を介して
電位差を与えることにより電着材料を電着する工程を有
することを特徴とする細孔内への電着方法を提供するも
のである。
技術的要求に鑑みなされたものであり、その目的の―つ
はこれらの間題点を解決することにあり、基板上電極表
面への電着方法において、該基板上電極表面に細孔を有
する細孔体を設ける工程、該細孔内に電解液及び電着材
料を充填する工程、該細孔体の上に対向電極を密閉配置
する工程、該対向電極と基板上電極間に電解液を介して
電位差を与えることにより電着材料を電着する工程を有
することを特徴とする細孔内への電着方法を提供するも
のである。
【0013】ここで前記電着材料は、対向電極に接触さ
せた固体もしくは電解液内の溶質により供給可能であ
る。また、本発明は該細孔の直径が1000μm以下で
ある構造体の場合に特に有効であり、この例として該細
孔が陽極酸化アルミナナノホールであることが挙げられ
る。また、より多くの電着量を必要とする場合や、異種
材料を逐次電着したい場合には、該電解液もしくは該電
着材料を入れ替える工程を有することが有効である。
せた固体もしくは電解液内の溶質により供給可能であ
る。また、本発明は該細孔の直径が1000μm以下で
ある構造体の場合に特に有効であり、この例として該細
孔が陽極酸化アルミナナノホールであることが挙げられ
る。また、より多くの電着量を必要とする場合や、異種
材料を逐次電着したい場合には、該電解液もしくは該電
着材料を入れ替える工程を有することが有効である。
【0014】また、特定領域へ電着する場合には、該電
解液もしくは該電着材料を細孔内への特定領域にのみ供
給することが有効であり、この方法として電解液の注入
を、液滴吐出方法で行うことが挙げられる。また、特定
領域へ電着する別の方法として、該対向電極が導電部及
び絶縁部にパターニングしておく方法がある。
解液もしくは該電着材料を細孔内への特定領域にのみ供
給することが有効であり、この方法として電解液の注入
を、液滴吐出方法で行うことが挙げられる。また、特定
領域へ電着する別の方法として、該対向電極が導電部及
び絶縁部にパターニングしておく方法がある。
【0015】また、本発明により上記電着方法により作
製した構造体がある。
製した構造体がある。
【0016】すなわち、本発明の構造細孔体に、金属、
半導体等の機能材料を埋め込むことにより、新たな電子
デバイスヘと応用できる可能性がある。本発明の構造細
孔体は、量子細線、MIM素子、分子センサー、着色、
磁気記録媒体、EL発光素子、エレクトロクロミック素
子、フォトニックバンドを始めとする光学素子、電子放
出素子、太陽電池、ガスセンサ、耐摩耗性、耐絶縁性皮
膜、フィルターをはじめとするさまざまな形態で応用す
ることが可能であり、その応用範囲を著しく広げるもの
である。
半導体等の機能材料を埋め込むことにより、新たな電子
デバイスヘと応用できる可能性がある。本発明の構造細
孔体は、量子細線、MIM素子、分子センサー、着色、
磁気記録媒体、EL発光素子、エレクトロクロミック素
子、フォトニックバンドを始めとする光学素子、電子放
出素子、太陽電池、ガスセンサ、耐摩耗性、耐絶縁性皮
膜、フィルターをはじめとするさまざまな形態で応用す
ることが可能であり、その応用範囲を著しく広げるもの
である。
【0017】
【発明の実施の形態】本発明の細孔内への電着方法は、
基体上電極表面への電着方法において、該基板上電極表
面に細孔体を設け、該細孔体の細孔内に電解液及び電着
材料を配置し、対向電極を基板上電極と細孔体を挟んで
密閉配置し、該基板上電極と対向電極間に電解液を介し
て電位差を与えることにより電着することを特徴とす
る。
基体上電極表面への電着方法において、該基板上電極表
面に細孔体を設け、該細孔体の細孔内に電解液及び電着
材料を配置し、対向電極を基板上電極と細孔体を挟んで
密閉配置し、該基板上電極と対向電極間に電解液を介し
て電位差を与えることにより電着することを特徴とす
る。
【0018】次に、本発明の概念および具体的な方法に
ついて、以下に図1、図2および図10を用いて説明す
る。ここで図1は本発明の細孔内への電着方法の工程の
一実施態様を示す断面図、および図2は図1のAA’線
平面図を示す。また、図1(a)〜(c)は図2のB
B’線断面図、図2(a)〜(c)は図1のAA’線平
面図を示す。図10は従来の電着方法を示す概略図であ
る。
ついて、以下に図1、図2および図10を用いて説明す
る。ここで図1は本発明の細孔内への電着方法の工程の
一実施態様を示す断面図、および図2は図1のAA’線
平面図を示す。また、図1(a)〜(c)は図2のB
B’線断面図、図2(a)〜(c)は図1のAA’線平
面図を示す。図10は従来の電着方法を示す概略図であ
る。
【0019】(A)電着前工程 まず、図1(a)、図2(a)に示すように、作用電極
12を設けた基板15上に細孔15を有する細孔体11
を設置する。この細孔体11は基板とは別個のフィルム
上の材料でもあってもよいし、また基板上に作製した構
造体でもよい。ここで細孔体11の表面は対向電極で密
閉できる程度に平坦であることが望ましい。
12を設けた基板15上に細孔15を有する細孔体11
を設置する。この細孔体11は基板とは別個のフィルム
上の材料でもあってもよいし、また基板上に作製した構
造体でもよい。ここで細孔体11の表面は対向電極で密
閉できる程度に平坦であることが望ましい。
【0020】(B)電着工程I 次に、図1(b)、図2(b)に示すように、細孔内に
めっき液もしくは電解液16を注入する。このとき電着
材料が電解液に溶解されている場合にはめっき液を供給
し、電着材料が固体で供給される場合には電解液を注入
する。その後、細孔体11の上に対向電極13を密閉配
置する。
めっき液もしくは電解液16を注入する。このとき電着
材料が電解液に溶解されている場合にはめっき液を供給
し、電着材料が固体で供給される場合には電解液を注入
する。その後、細孔体11の上に対向電極13を密閉配
置する。
【0021】ここで、電解液とは電気化学反応を起こす
為に支持電解質等の溶質が存在し、電気が流れる状態に
ある溶液のことを指し、めっき液とは前記電解液中の溶
質に電着されるものが含まれた溶液を意味する。
為に支持電解質等の溶質が存在し、電気が流れる状態に
ある溶液のことを指し、めっき液とは前記電解液中の溶
質に電着されるものが含まれた溶液を意味する。
【0022】原料の供給方法例を図5に詳しく示す。図
5(a)は原料を溶液で供給する場合であり、一般的な
めっき液が使用できる。但し、細孔の材料と反応しない
ようなめっき液を利用するのが好ましい。この場合電着
量は細孔内に注入するめっき液の濃度や量により制御で
きる。これは本発明ではめっき液内の電着原料をほば使
用することから可能になっている。すなわち電位分布や
電着時間、印加電圧にほとんど依存しないで均一電着が
可能になる。もちろん印加電圧は電着材料が析出する電
位である必要がある。
5(a)は原料を溶液で供給する場合であり、一般的な
めっき液が使用できる。但し、細孔の材料と反応しない
ようなめっき液を利用するのが好ましい。この場合電着
量は細孔内に注入するめっき液の濃度や量により制御で
きる。これは本発明ではめっき液内の電着原料をほば使
用することから可能になっている。すなわち電位分布や
電着時間、印加電圧にほとんど依存しないで均一電着が
可能になる。もちろん印加電圧は電着材料が析出する電
位である必要がある。
【0023】固体での供給方法を図5(b),(c)に
示す。図5(b)では固体原料34を対向電極31上
に、図5(c)では固体原料36を対向電極31に接し
た細孔体上に設けてある。この固体原料としては対向電
極の電位を印加する必要性があるので、ある程度の電気
伝導度が必要である。この電着過程では、細孔内の泡の
発生が電着過程を妨害する可能性もあるので、超音波印
加や電解液への界面活性剤の添加なども有効な手段とな
る。
示す。図5(b)では固体原料34を対向電極31上
に、図5(c)では固体原料36を対向電極31に接し
た細孔体上に設けてある。この固体原料としては対向電
極の電位を印加する必要性があるので、ある程度の電気
伝導度が必要である。この電着過程では、細孔内の泡の
発生が電着過程を妨害する可能性もあるので、超音波印
加や電解液への界面活性剤の添加なども有効な手段とな
る。
【0024】従来例である図10の様に、溶液内のめっ
き溶液83への被電着物である基板(作用電極)81、
対向電極82を浸す方法では、対流が避けられないため
電着量に分布ができやすい。また対向電極と基板上の電
極間はエッジ部分の存在の影響で不均一な電位分布が形
成され、電着量へも大きな影響を与える。
き溶液83への被電着物である基板(作用電極)81、
対向電極82を浸す方法では、対流が避けられないため
電着量に分布ができやすい。また対向電極と基板上の電
極間はエッジ部分の存在の影響で不均一な電位分布が形
成され、電着量へも大きな影響を与える。
【0025】(C)電着工程II 上記の電着工程I(B)の状態で電着を行うと、電着原
料が電極上に電着され、図1(c),図2(c)に示し
た様な電着物14が形成された構造体が得られる。電着
後に細孔部分を除去して使用することももちろん可能で
ある。
料が電極上に電着され、図1(c),図2(c)に示し
た様な電着物14が形成された構造体が得られる。電着
後に細孔部分を除去して使用することももちろん可能で
ある。
【0026】上記の電着工程I(B),II(C)の工
程を電解液を変えながら数回繰り返すことにより、図8
(b)に示した様な積層膜を得ることができる。特にG
MR膜のように1nm程度の膜厚の膜を積層する場合に
は、電着量の制御が重要なファクターとなるので、本発
明が有効である。また本発明により微小量の電着が可能
なので、図8(c)に示した様に電着の核発生部分を制
限しておけば、数nmの超微粒子の作製も可能である。
程を電解液を変えながら数回繰り返すことにより、図8
(b)に示した様な積層膜を得ることができる。特にG
MR膜のように1nm程度の膜厚の膜を積層する場合に
は、電着量の制御が重要なファクターとなるので、本発
明が有効である。また本発明により微小量の電着が可能
なので、図8(c)に示した様に電着の核発生部分を制
限しておけば、数nmの超微粒子の作製も可能である。
【0027】本発明において、細孔は上記したような直
線および均一径に限るものではなく、目的によっては図
9(a)に示したような異なる径を有する細孔17aへ
の電着や、図9(b)に示したような径が変化している
細孔17b、図9(c)に示したような細孔が直線的で
はない細孔17cにも利用可能である。
線および均一径に限るものではなく、目的によっては図
9(a)に示したような異なる径を有する細孔17aへ
の電着や、図9(b)に示したような径が変化している
細孔17b、図9(c)に示したような細孔が直線的で
はない細孔17cにも利用可能である。
【0028】また、細孔内への電着をパターニングする
には、図7(a)に示した様に電解液やめっき液51を
特定領域に注入する方法や、図7(b)に示した様に対
向電極52を電極部分と絶縁部分にパターニングしてお
く方法などが挙げられる。
には、図7(a)に示した様に電解液やめっき液51を
特定領域に注入する方法や、図7(b)に示した様に対
向電極52を電極部分と絶縁部分にパターニングしてお
く方法などが挙げられる。
【0029】また細孔と基板上電極の配置には図1およ
び図6(a)に示した以外にも、例えば図6(b)に示
したように細孔材料が導電性材料43であり、細孔が基
板上電極と対向電極と絶縁層を挟んで絶縁されている構
成が挙げられる。また別の例として、図6(c)に示し
たように、細孔内部に電極部分を有する構成も可能であ
る。
び図6(a)に示した以外にも、例えば図6(b)に示
したように細孔材料が導電性材料43であり、細孔が基
板上電極と対向電極と絶縁層を挟んで絶縁されている構
成が挙げられる。また別の例として、図6(c)に示し
たように、細孔内部に電極部分を有する構成も可能であ
る。
【0030】
【実施例】以下に実施例を挙げて本発明を具体的に説明
する。
する。
【0031】実施例1 本実施例は、下地層にPtを用いて陽極酸化アルミナナ
ノホールを作製し、その細孔内にCoを電着した実施例
を図3および図4に示す工程により説明する。石英基板
上にRFスパッタ法により厚さ100nmのTi及びP
tを成膜した後、厚さ500nmのAl膜を成膜した。
この時ガスはArとし、ガス圧は30mTorr、RF
パワーは300Wとした。
ノホールを作製し、その細孔内にCoを電着した実施例
を図3および図4に示す工程により説明する。石英基板
上にRFスパッタ法により厚さ100nmのTi及びP
tを成膜した後、厚さ500nmのAl膜を成膜した。
この時ガスはArとし、ガス圧は30mTorr、RF
パワーは300Wとした。
【0032】上記を陽極酸化装置を用い陽極酸化処理を
施した。電解液として0.3mol/l(0.3M)の
シュウ酸水溶液を使用し、恒温水槽により電解質を17
℃に保持した。ここで陽極酸化電圧はDC40Vであ
り、電流値をモニターに表示し、電流値が小さくなった
時点で下地層に貫通することを確認した。
施した。電解液として0.3mol/l(0.3M)の
シュウ酸水溶液を使用し、恒温水槽により電解質を17
℃に保持した。ここで陽極酸化電圧はDC40Vであ
り、電流値をモニターに表示し、電流値が小さくなった
時点で下地層に貫通することを確認した。
【0033】陽極酸化処理後、純粋及びイソプロピルア
ルコールによる洗浄を行った。その後、5wt%リン酸
溶液中に浸すポアワイド処理を40分行うことにより、
ナノホールの径を広げ、図3(a)に示すナノ構造体を
作製した。
ルコールによる洗浄を行った。その後、5wt%リン酸
溶液中に浸すポアワイド処理を40分行うことにより、
ナノホールの径を広げ、図3(a)に示すナノ構造体を
作製した。
【0034】上記のナノ構造体(アルミナ)21のナノ
ホール27に、硫酸コバルト1mol/l(1M)のめ
っき液23を滴下し(図3(b))、ナノホール上部を
対向電極24で密閉した(図3(c))。そして対向電
極24に対して基板上電極22を−2Vに設定して10
秒間電着を行った(図4(d))。そして、対向電極2
4をはがし(図4(e))、洗浄後、アルミナを酸で溶
解することにより、に示すナノ構造体を作製した。(図
4(f)) 上記の方法で作製したナノ構造体をFE−SEMで観察
した。規則的にハニカム状配列したCoが基板全面に渡
り均一に形成されているのが確認できた。
ホール27に、硫酸コバルト1mol/l(1M)のめ
っき液23を滴下し(図3(b))、ナノホール上部を
対向電極24で密閉した(図3(c))。そして対向電
極24に対して基板上電極22を−2Vに設定して10
秒間電着を行った(図4(d))。そして、対向電極2
4をはがし(図4(e))、洗浄後、アルミナを酸で溶
解することにより、に示すナノ構造体を作製した。(図
4(f)) 上記の方法で作製したナノ構造体をFE−SEMで観察
した。規則的にハニカム状配列したCoが基板全面に渡
り均一に形成されているのが確認できた。
【0035】実施例2 本実施例においては、実施例1と同様に陽極酸化アルミ
ナナノホールを作製した。ただし、下地層はn−Siと
し陽極酸化の終了は陽極酸化が小さくなつた時点で終了
した。そして、実施例1と同様にポアワイド処理をリン
酸を用いて20℃で40分行った。
ナナノホールを作製した。ただし、下地層はn−Siと
し陽極酸化の終了は陽極酸化が小さくなつた時点で終了
した。そして、実施例1と同様にポアワイド処理をリン
酸を用いて20℃で40分行った。
【0036】上記の試料に、Cuを約50nm斜入射の
抵抗加熱蒸着することにより成膜し、図5(c)に示す
ナノ構造体を作製した。そしてナノホール内に硫酸1m
ol/l(1M)の電解液を滴下してナノホール上部を
対向電極で密閉した。そして対向電極に対して基板上電
極を−2Vに設定して10秒間電着を行った。
抵抗加熱蒸着することにより成膜し、図5(c)に示す
ナノ構造体を作製した。そしてナノホール内に硫酸1m
ol/l(1M)の電解液を滴下してナノホール上部を
対向電極で密閉した。そして対向電極に対して基板上電
極を−2Vに設定して10秒間電着を行った。
【0037】上記の方法で作製したナノ構造体をFE−
SEMで観察した。規則的にハニカム状配列したCuが
基板全面にわたり均一に形成されているのが確認でき
た。
SEMで観察した。規則的にハニカム状配列したCuが
基板全面にわたり均一に形成されているのが確認でき
た。
【0038】実施例3 本実施例においては、細孔としてSiO2 を用いて、半
導体プロセスにより規則的細孔を作製し、その細孔内に
Coを電着した結果を説明する。
導体プロセスにより規則的細孔を作製し、その細孔内に
Coを電着した結果を説明する。
【0039】酸化層が厚さ約500nmに形成された表
面酸化Si基板をアセトン、IPAによる洗浄、乾燥の
後、スピンコート法によリレジスト膜(膜厚200n
m)を塗布、乾燥(90℃、20分)させた。
面酸化Si基板をアセトン、IPAによる洗浄、乾燥の
後、スピンコート法によリレジスト膜(膜厚200n
m)を塗布、乾燥(90℃、20分)させた。
【0040】次に、ステッパー露光装置を用いて、ハニ
カム状の周期構造(間隔230nm)を持ったレジスト
による凹凸パターンを作製した。現像液を純水で1対1
に希釈し、30秒ほど現像することで、SiO2 表面ま
で貫通したハニカム状の規則的凹凸パターンを形成し
た。そして上記の試料をCF4 ガスを用いてドライエッ
チングし、Si基板まで貫通させた。ドライエッチング
の条件は150W、5Pa、2分である。
カム状の周期構造(間隔230nm)を持ったレジスト
による凹凸パターンを作製した。現像液を純水で1対1
に希釈し、30秒ほど現像することで、SiO2 表面ま
で貫通したハニカム状の規則的凹凸パターンを形成し
た。そして上記の試料をCF4 ガスを用いてドライエッ
チングし、Si基板まで貫通させた。ドライエッチング
の条件は150W、5Pa、2分である。
【0041】上記の試料に、ある所定の位置にのみ硫酸
コバルト1mol/l(1M)のめっき液を液滴吐出方
法を用いて注入して、図7(a)に示すナノ構造体を作
製した。そしてナノホール上部を対向電極で密開し、対
向電極に対して基板上電極を−2Vに設定して10秒間
電着を行った。
コバルト1mol/l(1M)のめっき液を液滴吐出方
法を用いて注入して、図7(a)に示すナノ構造体を作
製した。そしてナノホール上部を対向電極で密開し、対
向電極に対して基板上電極を−2Vに設定して10秒間
電着を行った。
【0042】上記の方法で作製したナノ構造体をFE−
SEMで観察した。規則的に電着したCoが領域51に
均一に形成されているのが確認できた。
SEMで観察した。規則的に電着したCoが領域51に
均一に形成されているのが確認できた。
【0043】実施例4 本実施例においては、下地層にSiO2 基板を用いて、
FIB(集束イオンビーム)により規則的細孔を作製
し、その細孔内にCoを電着した実施例を説明する。
FIB(集束イオンビーム)により規則的細孔を作製
し、その細孔内にCoを電着した実施例を説明する。
【0044】SiO2 基板をアセトン、IPAによる洗
浄、乾燥させた。そしてTiを100nm、SiO2 を
500nm逐次スパッタして積層膜を形成した。そして
集束イオンビーム加工装置を用いて被加工物に集束イオ
ンビーム照射を行い、表面SiO2 層をエッチングしT
i下地層まで貫通させた。集束イオンビーム加工装置の
イオン種はGa,加速電圧は30kVである。そして図
9(b)に示したような構造体を作製した。
浄、乾燥させた。そしてTiを100nm、SiO2 を
500nm逐次スパッタして積層膜を形成した。そして
集束イオンビーム加工装置を用いて被加工物に集束イオ
ンビーム照射を行い、表面SiO2 層をエッチングしT
i下地層まで貫通させた。集束イオンビーム加工装置の
イオン種はGa,加速電圧は30kVである。そして図
9(b)に示したような構造体を作製した。
【0045】上記の試料に、硫酸コバルト1mol/l
(1M)のめっき液を滴下した。そしてナノホール上部
を絶縁体上にPt52を蒸着させてパターニングした図
7(b)の対向電極で密閉して、対向電極に対して基板
上電極を−2Vに設定して10秒間電着を行った。
(1M)のめっき液を滴下した。そしてナノホール上部
を絶縁体上にPt52を蒸着させてパターニングした図
7(b)の対向電極で密閉して、対向電極に対して基板
上電極を−2Vに設定して10秒間電着を行った。
【0046】上記の方法で作製したナノ構造体をFE−
SEMで観察した。表面にPt電極があった領域にのみ
規則的に電着したCoが均一に形成されているのが確認
できた。
SEMで観察した。表面にPt電極があった領域にのみ
規則的に電着したCoが均一に形成されているのが確認
できた。
【0047】実施例5 本実施例においては、実施例1と同様に陽極酸化アルミ
ナナノホールを作製した。ただし、基板は石英基板であ
り、基板上にTiとCuを逐次10nmスパッタ成膜し
陽極酸化した。陽極酸化はシュウ酸0.3mol/l
(0.3M)、DC40V、浴温10℃で行い、陽極酸
化電流が小さくなった時点で終了した。そして実施例1
と同様にボアワイド処理をりん酸20℃で40分間行っ
た。
ナナノホールを作製した。ただし、基板は石英基板であ
り、基板上にTiとCuを逐次10nmスパッタ成膜し
陽極酸化した。陽極酸化はシュウ酸0.3mol/l
(0.3M)、DC40V、浴温10℃で行い、陽極酸
化電流が小さくなった時点で終了した。そして実施例1
と同様にボアワイド処理をりん酸20℃で40分間行っ
た。
【0048】上記の試料に、硫酸コバルト1mol/l
(1M)のめっき液を滴下してナノホール上部を対向電
極で密閉した。そして対向電極に対して基板上電極を−
2Vに設定して10秒間電着を行った。そして対向電極
をはがして基板を洗浄した後、硫酸銅1mol/l(1
M)からなるめっき液を滴下してナノホール上部を対向
電極で密閉した。そして対向電極に対して基板上電極を
−2Vに設定して10秒間電着を行った。この作業を1
0回繰り返した後、最後にCuをナノホール上部まで電
着して図8(b)に示すナノ構造体を作製した。
(1M)のめっき液を滴下してナノホール上部を対向電
極で密閉した。そして対向電極に対して基板上電極を−
2Vに設定して10秒間電着を行った。そして対向電極
をはがして基板を洗浄した後、硫酸銅1mol/l(1
M)からなるめっき液を滴下してナノホール上部を対向
電極で密閉した。そして対向電極に対して基板上電極を
−2Vに設定して10秒間電着を行った。この作業を1
0回繰り返した後、最後にCuをナノホール上部まで電
着して図8(b)に示すナノ構造体を作製した。
【0049】この試料の断面を観察した結果、CoとC
uが各々約1nmの厚みで積層されていた。そして、本
実施例のナノ構造体の上部に電極を付け、下地の基板上
電極と上部電極間の抵抗の磁場依存性を調べたところ、
負の磁気抵抗変化を示した。以上のことから本発明がG
MR磁気センサーとして利用可能なことが分かる。
uが各々約1nmの厚みで積層されていた。そして、本
実施例のナノ構造体の上部に電極を付け、下地の基板上
電極と上部電極間の抵抗の磁場依存性を調べたところ、
負の磁気抵抗変化を示した。以上のことから本発明がG
MR磁気センサーとして利用可能なことが分かる。
【0050】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明には以下のよ
うな効果がある。 (1)本発明の電着方法は、電解液の対流や電位分布に
影響されずに容易に大面積にわたる高い均一性を持った
電着が可能である。 (2)本発明の電着方法は、細孔内への電着材料の初期
供給量で電着量を制御できるので大面積にわたる均一性
の高い電着、および極微小量の電着や積層電着の制御性
が容易になる。 (3)本発明の電着方法は、電解液を必要量細孔内部へ
供給すればよいので、使用電解液が少なく、また電解液
も管理も容易となリコストダウンが可能である。 (4)また本発明の電着構造の作成方法は、所望の電解
液を各細孔内に注入したり、対向電極をパターニングし
ておくことにより所望の細孔に容易に電着することがで
きる。また本発明は、細孔内を用いた電着に広く応用で
きるものであり、この方法で作製された電着構造体の応
用範囲も広い。
うな効果がある。 (1)本発明の電着方法は、電解液の対流や電位分布に
影響されずに容易に大面積にわたる高い均一性を持った
電着が可能である。 (2)本発明の電着方法は、細孔内への電着材料の初期
供給量で電着量を制御できるので大面積にわたる均一性
の高い電着、および極微小量の電着や積層電着の制御性
が容易になる。 (3)本発明の電着方法は、電解液を必要量細孔内部へ
供給すればよいので、使用電解液が少なく、また電解液
も管理も容易となリコストダウンが可能である。 (4)また本発明の電着構造の作成方法は、所望の電解
液を各細孔内に注入したり、対向電極をパターニングし
ておくことにより所望の細孔に容易に電着することがで
きる。また本発明は、細孔内を用いた電着に広く応用で
きるものであり、この方法で作製された電着構造体の応
用範囲も広い。
【図1】本発明の細孔内への電着方法の工程の一実施態
様を示す断面図である。
様を示す断面図である。
【図2】図1のAA’線平面図である。
【図3】本発明の細孔内への電着方法の工程の他の実施
態様の前半を示す平面図である。
態様の前半を示す平面図である。
【図4】本発明の細孔内への電着方法の工程の他の実施
態様の後半を示す平面図である。
態様の後半を示す平面図である。
【図5】本発明における固体原料供給方法を示す断面図
である。
である。
【図6】本発明における電極構成を示す断面図である。
【図7】本発明のパターニング電着方法を示す平面図で
ある。
ある。
【図8】本発明における電着状態を示す断面図である。
【図9】本発明における細孔を示す断面図である。
【図10】従来の電着方法を示す概略図である。
11 細孔体 12 作用電極 13 対向電極 14 電着物 15 細孔 16 電解液 21 アルミナ 22 電極 23 Coめっき液 24 対向電極 25 電解液 26 Co 27 ナノホール 31 対向電極 32 基板上電極 33 めっき液 34 対向電極上の固体原料 35 電解液 36 細孔上の固体原料;Cu 37 基板上電極;n−Si 38 細孔体 41 電極 42 絶縁層 43 導電性材料 44 絶縁性材料 51 Coめっき液 52 絶縁性材料上のPt対向電極 61:アルミナ 62 Co 63 Cu/Ti/石英基板 64 Cu 65 核発生部 71a,71b,71c 細孔 81 作用電極 82 対向電極 83 めっき液
フロントページの続き Fターム(参考) 4K024 AA03 AB02 AB08 BA06 BA09 BB09 BC02 CA01 CB01 CB08 CB11 DA02 DA04 DA10 DB05 GA01 5E317 AA24 BB04 CC25 CC31 GG16
Claims (11)
- 【請求項1】 基板上電極表面への電着方法において、
該基板上電極表面に細孔を有する細孔体を設ける工程、
該細孔内に電解液及び電着材料を充填する工程、該細孔
体の上に対向電極を密閉配置する工程、該対向電極と基
板上電極間に電解液を介して電位差を与えることにより
電着材料を電着する工程を有することを特徴とする細孔
内への電着方法。 - 【請求項2】 前記電着材料は固体であることを特徴と
する請求項1に記載の電着方法。 - 【請求項3】 前記電着材料は電解液内の溶質であるこ
とを特徴とする請求項1に記載の電着方法。 - 【請求項4】 該細孔の直径が1000μm以下である
ことを特徴とする請求項1記載の電着方法。 - 【請求項5】 該細孔が陽極酸化アルミナナノホールで
あることを特徴とする請求項4に記載の電着方法。 - 【請求項6】 該電解液もしくは電着材料を入れ替えて
電着する工程を有する請求項1乃至5のいずれかの項に
記載の電着方法。 - 【請求項7】 該少なくとも2種以上の電解液もしくは
該電着材料を入れ替えて電着する工程を有する請求項6
に記載の電着方法。 - 【請求項8】 該電解液もしくは該電着材料を細孔内へ
の特定領域にのみ供給することを特徴とする請求項1乃
至7のいずれかの項に記載の電着方法。 - 【請求項9】 電解液の注入を液滴吐出方法で行うこと
を特徴とする請求項8記載の電着方法。 - 【請求項10】 該対向電極が導電部及び絶縁部にパタ
ーニングされていることを特徴とする請求項1に記載の
電着方法。 - 【請求項11】 請求項1乃至10のいずれかの電着方
法により作製した構造体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000019243A JP2001207288A (ja) | 2000-01-27 | 2000-01-27 | 細孔内への電着方法及び構造体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000019243A JP2001207288A (ja) | 2000-01-27 | 2000-01-27 | 細孔内への電着方法及び構造体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001207288A true JP2001207288A (ja) | 2001-07-31 |
Family
ID=18545976
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000019243A Pending JP2001207288A (ja) | 2000-01-27 | 2000-01-27 | 細孔内への電着方法及び構造体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001207288A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003076332A1 (en) * | 2002-03-08 | 2003-09-18 | Communications Research Laboratory, Independent Administrative Institution | Production device and production method for conductive nano-wire |
| JP2008545881A (ja) * | 2005-05-18 | 2008-12-18 | サントル ナスィオナル ド ラ ルシェルシュ スィアンティフィク | 自立伝導性ナノ複合エレメントの電解製造法 |
| US7683266B2 (en) | 2005-07-29 | 2010-03-23 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Circuit board and circuit apparatus using the same |
| JP2010085722A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Toppan Printing Co Ltd | 光学素子及びパターン形成方法 |
| JP2010093292A (ja) * | 2005-07-29 | 2010-04-22 | Sanyo Electric Co Ltd | 回路装置 |
| US7713768B2 (en) | 2006-06-14 | 2010-05-11 | Kanagawa Academy Of Science And Technology | Anti-reflective film and production method thereof, and stamper for producing anti-reflective film and production method thereof |
| JP2010283056A (ja) * | 2009-06-03 | 2010-12-16 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 配線基板 |
| JP2015531816A (ja) * | 2012-06-29 | 2015-11-05 | ノースイースタン ユニバーシティ | ナノ要素の電界誘導組立てによって調製された3次元結晶性、均一および複合ナノ構造体 |
-
2000
- 2000-01-27 JP JP2000019243A patent/JP2001207288A/ja active Pending
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7918982B2 (en) | 2002-03-08 | 2011-04-05 | National Institute Of Information And Communications Technology Incorporated Administrative Agency | Production device and production method for conductive nano-wire |
| US7351313B2 (en) | 2002-03-08 | 2008-04-01 | National Institute Of Information And Communications Technology, Incorporated Administrative Agency | Production device and production method for conductive nano-wire |
| WO2003076332A1 (en) * | 2002-03-08 | 2003-09-18 | Communications Research Laboratory, Independent Administrative Institution | Production device and production method for conductive nano-wire |
| JP2008545881A (ja) * | 2005-05-18 | 2008-12-18 | サントル ナスィオナル ド ラ ルシェルシュ スィアンティフィク | 自立伝導性ナノ複合エレメントの電解製造法 |
| US7683266B2 (en) | 2005-07-29 | 2010-03-23 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Circuit board and circuit apparatus using the same |
| US8166643B2 (en) | 2005-07-29 | 2012-05-01 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Method of manufacturing the circuit apparatus, method of manufacturing the circuit board, and method of manufacturing the circuit device |
| JP2010093292A (ja) * | 2005-07-29 | 2010-04-22 | Sanyo Electric Co Ltd | 回路装置 |
| US7713768B2 (en) | 2006-06-14 | 2010-05-11 | Kanagawa Academy Of Science And Technology | Anti-reflective film and production method thereof, and stamper for producing anti-reflective film and production method thereof |
| US8062915B2 (en) | 2006-06-14 | 2011-11-22 | Kanagawa Academy Of Science And Technology | Anti-reflective film and production method thereof, and stamper for producing anti-reflective film and production method thereof |
| US8071402B2 (en) | 2006-06-14 | 2011-12-06 | Kanagawa Academy Of Science And Technology | Anti-reflective film and production method thereof, and stamper for producing anti-reflective film and production method thereof |
| US8097479B2 (en) | 2006-06-14 | 2012-01-17 | Kanagawa Academy Of Science And Technology | Anti-reflective film and production method thereof, and stamper for producing anti-reflective film and production method thereof |
| JP2010085722A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Toppan Printing Co Ltd | 光学素子及びパターン形成方法 |
| JP2010283056A (ja) * | 2009-06-03 | 2010-12-16 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 配線基板 |
| JP2015531816A (ja) * | 2012-06-29 | 2015-11-05 | ノースイースタン ユニバーシティ | ナノ要素の電界誘導組立てによって調製された3次元結晶性、均一および複合ナノ構造体 |
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