JP2001288340A - フリップチップ型半導体装置用封止材及びフリップチップ型半導体装置 - Google Patents
フリップチップ型半導体装置用封止材及びフリップチップ型半導体装置Info
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Abstract
より硬化剤、(C)無機質充填剤、(D)上記(A),
(B)成分の合計量100重量部に対して1〜15重量
部のマイクロカプセル触媒を含有する液状エポキシ樹脂
組成物からなるフリップチップ型半導体装置用封止材。 【効果】 本発明のフリップチップ型半導体装置用封止
材は、薄膜侵入特性、保存安定性に優れており、この封
止材を用いたフリップチップ型半導体装置は非常に信頼
性の高いものが得られる。
Description
半導体装置の封止材、特にアンダーフィル材及びこの封
止材にて封止されたフリップチップ型半導体装置に関す
る。
器の小型、軽量化、高機能化に伴い、半導体の実装方法
もピン挿入タイプから表面実装が主流になっている。そ
して、ベアチップ実装の一つにフリップチップ(FC)
実装がある。FC実装とは、LSIチップの配線パター
ン面に高さ10〜100μm程度のバンプといわれる電
極を数個から数千個形成し、基板の電極を導電ペースト
或いは半田等で接合する方式である。このため、FCの
保護に用いる封止材料は、基板とLSIチップのバンプ
等による数10μm程度の隙間に浸透させる必要があ
る。従来のフリップチップ用アンダーフィル材として使
用される液状エポキシ樹脂組成物は、エポキシ樹脂と硬
化剤及び無機質充填剤を配合し、信頼性を高めるために
半導体のチップや基板、バンプと線膨張係数を一致させ
るために、多量の無機質充填剤を配合する処方が主流と
なってきている。
したフリップチップ用アンダーフィル材においては、応
力特性においては何ら問題はなくなってきているが、一
方では充填剤の高充填化により粘度が高くなり、チップ
と基板の隙間に侵入する速度が著しく低下し、生産性が
非常に悪くなるといった問題点が提示されており、この
問題点の改善が望まれる。
で、多量の無機質充填剤を配合しても、低粘度で隙間侵
入させることが可能でかつ信頼性の優れたフリップチッ
プ型半導体装置用封止材(アンダーフィル材)及びこの
封止材で封止されたフリップチップ型半導体装置を提供
することを目的とする。
発明者は、上記目的を達成するため鋭意検討を重ねた結
果、(A)液状エポキシ樹脂、(B)(任意成分とし
て)硬化剤、(C)無機質充填剤、(D)マイクロカプ
セル触媒、好ましくはイミダゾール化合物及び/又は有
機リン化合物を含有したマイクロカプセル触媒であっ
て、平均粒径が0.5〜15μmであり、かつo−クレ
ゾール中におけるマイクロカプセルからの触媒の溶出量
が30℃,15分でマイクロカプセル中に含まれる全触
媒量の70重量%以上であるマイクロカプセル触媒を、
(B)成分を配合しない場合は上記(A)成分100重
量部に対して1〜15重量部、(B)成分を配合する場
合は上記(A)及び(B)成分の合計量100重量部に
対して1〜15重量部配合することにより、高温時の安
定性に優れ、多量の無機質充填剤を配合しても、半導体
装置を高温にすることによって低粘度で隙間侵入させる
ことが可能であり、特に大型ダイサイズのフリップチッ
プ型半導体装置のアンダーフィル材として有効な封止材
が得られることを知見した。
らなるフィリップチップ型半導体装置用封止材は、特に
アンダーフィル材として薄膜侵入特性、保存安定性に優
れており、この封止材を用いた半導体装置は非常に信頼
性の高いものであることを見出し、本発明をなすに至っ
たものである。
脂、(B)(任意成分として)硬化剤、(C)無機質充
填剤、(D)上記(A)成分100重量部に対して1〜
15重量部[(B)成分を配合しない場合]、或いは上
記(A),(B)成分の合計量100重量部に対して1
〜15重量部[(B)成分を配合する場合]のマイクロ
カプセル触媒、好ましくはイミダゾール化合物及び/又
は有機リン化合物を含有したマイクロカプセル触媒であ
って、平均粒径が0.5〜15μmであり、かつo−ク
レゾール中におけるマイクロカプセルからの触媒の溶出
量が30℃,15分でマイクロカプセル中に含まれる全
触媒量の70重量%以上であるマイクロカプセル触媒を
含有する液状エポキシ樹脂組成物からなるフリップチッ
プ型半導体装置用封止材、及び、この封止材で封止され
たフリップチップ型半導体装置を提供する。
本発明のフリップチップ型半導体装置用封止材(液状エ
ポキシ樹脂組成物)において、(A)成分の液状エポキ
シ樹脂は、1分子中に2個以上のエポキシ基を有するも
のであれば、分子構造、分子量等は特に限定されない
が、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフ
ェノールF型エポキシ樹脂等のビスフェノール型エポキ
シ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾ
ールノボラック型エポキシ樹脂等のノボラック型エポキ
シ樹脂、トリフェノールメタン型エポキシ樹脂、トリフ
ェノールプロパン型エポキシ樹脂等のトリフェノールア
ルカン型エポキシ樹脂、フェノールアラルキル型エポキ
シ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、スチル
ベン型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ビフ
ェニル型エポキシ樹脂、シクロペンタジエン型エポキシ
樹脂等が挙げられる。これらのエポキシ樹脂は1種単独
で又は2種以上混合して用いることができる。
する液状エポキシ樹脂としては、1分子中に2個以上の
エポキシ基を有し、室温(例えば25℃)で液状のもの
であればいかなるものでも使用可能であるが、特にビス
フェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポ
キシ樹脂等のビスフェノール型エポキシ樹脂が望まし
い。これらのエポキシ樹脂には、下記構造で示されるエ
ポキシ樹脂を侵入性に影響を及ぼさない範囲で添加して
も何ら問題はない。
は、1,500ppm以下、望ましくは1,000pp
m以下であることが好ましい。また、100℃で50%
エポキシ樹脂濃度における20時間での抽出水塩素が1
0ppm以下であることが好ましい。全塩素含有量が
1,500ppmを超え、抽出水塩素が10ppmを超
えると、半導体素子の信頼性、特に耐湿性に悪影響を与
えるおそれがある。
(A)成分の液状エポキシ樹脂を後述する(D)成分の
マイクロカプセル触媒によって硬化させることができ、
特に硬化剤を必要とするものではない(即ち、エポキシ
自己縮合型組成物)が、場合によっては、必要に応じ
て、更に硬化剤を配合して(即ち、フェノール樹脂硬化
型、酸無水物硬化型、アミン硬化型等の組成物として)
硬化させることもできる。本発明に用いられる任意成分
としての(B)成分の硬化剤としては、(A)成分のエ
ポキシ樹脂中のエポキシ基と反応可能な官能基(例え
ば、フェノール性水酸基、アミノ基、酸無水物基など)
を2個以上(但し、酸無水物基は1個以上)有する化合
物であれば、分子構造、分子量等は特に限定されず、公
知のものを使用することができる。例えば、1分子中に
フェノール性水酸基を少なくとも2個以上有するフェノ
ール樹脂、具体的には、フェノールノボラック樹脂、ク
レゾールノボラック樹脂等のノボラック型フェノール樹
脂、パラキシリレン変性ノボラック樹脂、メタキシリレ
ン変性ノボラック樹脂、オルソキシリレン変性ノボラッ
ク樹脂等のキシリレン変性ノボラック樹脂、ビスフェノ
ールA型樹脂、ビスフェノールF型樹脂等のビスフェノ
ール型フェノール樹脂、ビフェニル型フェノール樹脂、
レゾール型フェノール樹脂、フェノールアラルキル型樹
脂、ビフェニルアラルキル型樹脂、トリフェノールメタ
ン型樹脂、トリフェノールプロパン型樹脂等のトリフェ
ノールアルカン型樹脂及びその重合体等のフェノール樹
脂、ナフタレン環含有フェノール樹脂、ジシクロペンタ
ジエン変性フェノール樹脂等のいずれのフェノール樹脂
も使用可能であるほか、アミン系、酸無水物系等の硬化
剤を使用し得る。
のアンダーフィル材などに適用される液状エポキシ樹脂
組成物に用いられる硬化剤としては、特に酸無水物が好
ましい。酸無水物としては、テトラヒドロ無水フタル
酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒ
ドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、無水メ
チルハイミック酸、ピロメリット酸二無水物、3,4−
ジメチル−6−(2−メチル−1−プロペニル)−4−
シクロヘキサン−1,2−ジカルボン酸、1−メチル−
4−(1−メチルエチル)−ビシクロ[2.2.2]オ
クト−5−エン−2,3−ジカルボン酸、マレイン化ア
ロオシメン、ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水
物、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸
二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)エー
テル二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)
メタン二無水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシ
フェニル)プロパン二無水物などの、好ましくは分子中
に脂肪族環又は芳香族環を1個又は2個有すると共に、
酸無水物基(即ち、−CO−O−CO−基)を1個又は
2個有する、炭素原子数4〜25個、好ましくは8〜2
0個程度の酸無水物が好適である。
る硬化剤としては、上記の他にジシアンジアミド、アジ
ピン酸ヒドラジド、イソフタル酸ヒドラジド等のカルボ
ン酸ヒドラジドも使用することができる。
液状エポキシ樹脂組成物を自己重合型(エポキシ自己縮
合型)のものとして硬化させる場合には配合する必要の
ないものであるが、硬化剤を配合して液状エポキシ樹脂
組成物を硬化させる場合には、上記硬化剤の配合量は、
エポキシ樹脂を硬化させる有効量であり、適宜選定され
るが、フェノール樹脂の場合、エポキシ樹脂中に含まれ
るエポキシ基1モルに対して硬化剤中に含まれるフェノ
ール性OH基のモル比が0.5〜1.5であることが好
ましい。また、硬化剤として酸無水物を用いる場合は、
エポキシ樹脂中のエポキシ基1モルに対し、硬化剤中の
酸無水物基(−CO−O−CO−基)から誘導されるカ
ルボン酸基のモル比を0.5〜1.5の範囲にすること
が好適である。0.5未満では硬化性が不十分であり、
1.5を超えると未反応の酸無水物が残存し、ガラス転
移温度の低下となるおそれがある。より好ましくは0.
8〜1.2の範囲にすることが好適である。或いは、上
記と同様の理由により、エポキシ樹脂中のエポキシ基1
モルに対して酸無水物中の酸無水物基のモル比が好まし
くは0.3〜0.7、より好ましくは0.4〜0.6の
範囲となるように配合してもよい。
係数を小さくする目的から従来より知られている各種の
無機質充填剤を使用することができる。具体的には、無
機質充填剤としては、溶融シリカ、結晶シリカ、アルミ
ナ、ボロンナイトライド、チッカアルミ、チッカ珪素、
マグネシア、マグネシウムシリケートなどが使用され
る。中でも、球状の溶融シリカが低粘度化、高侵入性の
ために望ましい。アンダーフィル部の封止材には、侵入
性の向上と低線膨張化の両立を図るためフリップチップ
ギャップ幅(基板とチップとの間隙)に対して平均粒径
が約1/10以下、最大粒径が1/2以下の充填剤をエ
ポキシ樹脂と硬化剤との合計量100重量部に対して1
00〜400重量部、望ましくは、エポキシ樹脂と硬化
剤との合計量100重量部に対して150〜250重量
部の範囲で配合することが好ましい。100重量部未満
では、膨張係数が大きく冷熱試験においてクラックの発
生を誘発させるおそれがある。400重量部を超える
と、粘度が高くなり、薄膜侵入性の低下をもたらすおそ
れがある。この無機質充填剤としては、通常は最大粒径
が50μm以下、好ましくは45μm以下、より好まし
くは30μm以下であり、平均粒径が10μm以下、通
常0.5〜10μm、好ましくは1〜5μm、より好ま
しくは1〜3μm程度のものが使用される。なお、この
最大粒径、平均粒径は、例えばレーザー光回折法による
粒度分布測定により得ることができ、平均粒径は例えば
重量平均値(又はメジアン径)等として求めることがで
きる。求めることができる。
ランカップリング剤、チタネートカップリング剤などの
カップリング剤で予め表面処理することが低吸水性、耐
衝撃性及び耐クラック性を更に向上させる点で好まし
い。
シプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロ
ピルメチルジエトキシシラン、β−(3,4−エポキシ
シクロヘキシル)エチルトリメトキシシランのようなエ
ポキシ官能性基含有アルコキシシラン、N−β(アミノ
エチル)−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、γ
−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−フェニル−
γ−アミノプロピルトリメトキシシランのようなアミノ
官能性基含有アルコキシシラン、γ−メルカプトプロピ
ルトリメトキシシランのようなメルカプト官能性基含有
アルコキシシランなどのシランカップリング剤を用いる
ことが好ましい。ここで、表面処理に用いるカップリン
グ剤量及び表面処理方法については特に制限されない。
クロカプセル触媒を配合する。これはエポキシ樹脂の硬
化促進剤(反応促進剤)として作用するもので、マイク
ロカプセル触媒としては、イミダゾール化合物及び/又
は有機リン化合物を含有したマイクロカプセル触媒であ
って、平均粒径が0.5〜15μm、望ましくは1〜1
0μm、より望ましくは2〜7μmであり、かつo−ク
レゾール中におけるマイクロカプセルからの触媒の溶出
量が30℃,15分でマイクロカプセル中に含まれる全
触媒量の70重量%以上(即ち、70〜100重量%)
であるマイクロカプセル触媒を配合することが好まし
い。
て、硬化触媒としては、イミダゾール化合物や有機リン
化合物がマイクロカプセル内の触媒として好適に使用さ
れる。
(1)で示されるものを使用することができる。
基、ヒドロキシメチル基、フェニル基等のアルキル基、
置換アルキル基、アリール基などの炭素数1〜12、好
ましくは1〜6の置換もしくは非置換の一価炭化水素
基、R3はメチル基、エチル基、フェニル基、アリル基
等のアルキル基、アルケニル基、アリール基などの炭素
数1〜12、好ましくは1〜6の置換もしくは非置換の
一価炭化水素基を示し、R4は水素原子、メチル基、エ
チル基、シアノエチル基、ベンジル基等のアルキル基、
置換アルキル基、アラルキル基などの炭素数1〜12、
好ましくは1〜6の置換もしくは非置換の一価炭化水素
基、又は下記式(2)で示される基である。なお、置換
一価炭化水素基としては、ヒドロキシ置換、シアノ置換
などのものを挙げることができる。)
−エチルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール、
2,4-ジメチルイミダゾール、2−へプタデシルイミ
ダゾール、1,2-ジメチルイミダゾール、1,2-ジエ
チルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾ
ール、2,4,5−トリフェニルイミダゾール、2−エ
チル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾ
ール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、1−
シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエ
チル−2−ウンデシルイミダゾール、1−ベンジル−2
−メチルイミダゾール、2−フェニル−4,5−ジヒド
ロキシメチルイミダゾール、2−アリール−4,5−ジ
フェニルイミダゾール、2,4−ジアミノ−6−[2’
−メチルイミダゾリル−(1)’]−エチル−S−トリ
アジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−エチル−4’
−メチルイミダゾリル−(1)’]−エチル−S−トリ
アジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダ
ゾリル−(1)’]−エチル−S−トリアジンイソシア
ヌール酸付加物、2−フェニル−4−メチル−5−ヒド
ロキシメチルイミダゾールなどが挙げられる。上記イミ
ダゾール化合物としては、2−フェニル−4−メチル−
5−ヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−
4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、2,4−ジ
アミノ−6−[2’−エチル−4’−メチルイミダゾリ
ル−(1)’]−エチル−S−トリアジン、2−メチル
イミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、
2−エチルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾー
ル、1,2−ジエチルイミダゾール、2,4−ジメチル
イミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール
が好ましい。
フェニルホスフィン、トリブチルホスフィン、トリ(p
−メチルフェニル)ホスフィン、トリ(ノニルフェニ
ル)ホスフィン、ジフェニルトリルホスフィン等のトリ
オルガノホスフィン、トリフェニルホスフィン・トリフ
ェニルボラン等のトリオルガノホスフィンとトリオルガ
ノボランとの塩、テトラフェニルホスホニウム・テトラ
フェニルボレート等のテトラオルガノホスホニウムとテ
トラオルガノボレートとの塩などのオルガノホスフィン
化合物が挙げられる。これらの中で特に下記一般式
(3)で示されるものが好ましい。
基又はアルコキシ基である。)
ル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、イソブ
チル基、tert−ブチル基等が挙げられ、アルコキシ
基としては、メトキシ基、エトキシ基等が挙げられる。
R5としては好ましくは水素原子又はメチル基である。
式(3)の化合物としては、下記のものが挙げられる。
タ)アクリル系単量体、例えばアクリル酸エステル、イ
タコン酸エステル、メタクリル酸エステル、クロトン酸
エステル等の炭素数1〜8のアルキルエステルやこのア
ルキルエステルのアルキル基がアリル基等の置換基を有
するもの、また、スチレン、α−メチルスチレン、アク
リロニトリル、メタクリロニトリル、酢酸ビニル等の単
官能性オレフィン系(又はビニル系)単量体及びエチレ
ングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリエチレング
リコールジ(メタ)アクリレート、ジビニルベンゼン、
ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、メチレンビ
ス(メタ)アクリルアミド等の多官能性オレフィン系
(又はビニル系)単量体のポリマーを殻材として、該ポ
リマー中に触媒としてのイミダゾール化合物及び/又は
有機リン化合物が閉じこめられたものである。なお、上
記ポリマーの中では、(メタ)アクリレート系単量体の
重合物が好ましい。
ン化合物等の硬化触媒を含有するマイクロカプセルの製
造方法としては様々な方法が挙げられるが、生産性及び
球状度が高いマイクロカプセルを製造するためには通常
懸濁重合法及び乳化重合法などで従来から公知の方法で
製造することができる。
分子構造から高濃度マイクロカプセル触媒を得るために
は、硬化触媒10重量部に対して使用する上記単量体の
総量は10〜200重量部程度でよく、望ましくは10
〜100重量部、更に望ましくは20〜50重量部であ
る。10重量部未満では潜在性を十分に付与することが
困難となることがあり、200重量部を超えると、触媒
の比率が低くなり、十分な硬化性を得るためには多量に
使用しなければならなくなり、経済的に不利となる場合
がある。即ち、マイクロカプセル中に含有される硬化触
媒(硬化促進剤)の濃度としては、約5〜50重量%、
好ましくは約9〜50重量%、より好ましくは約17〜
33重量%程度のものを使用することができる。
ルの平均粒径としては0.5〜15μmである。望まし
くは1〜10μm、より望ましくは2〜7μmである。
また、最大粒径は50μm以下、特に20μm以下のも
のであることが好ましい。平均粒径が0.5μm未満で
は粒径が小さすぎて(又は、比表面積が大きくなりすぎ
て)多量にマイクロカプセルを配合すると粘度が高くな
る上、場合によっては潜在性が不十分になる可能性があ
る。また、15μmを超えると、樹脂成分への分散が不
均一になり信頼性の低下を招く場合があり、また粒径が
大きすぎて成形時にゲートづまりなどを引き起こしてし
まう場合がある。
記性能を有するものを使用する。即ち、硬化触媒を含有
するマイクロカプセルを1g秤取り、これをo−クレゾ
ール30gに混合した後、30℃で放置し、溶出する触
媒をガスクロマトグラフで定量した場合、マイクロカプ
セルから溶出する触媒が30℃,15分でマイクロカプ
セル中に含まれる全触媒量の70重量%以上(即ち、7
0〜100重量%)であるものを用いる。70重量%未
満では、エポキシ樹脂組成物を用い、半導体装置を成形
する際、175℃で1分以上の成形時間が必要となり、
生産性が低下する場合がある。望ましくは、溶出量が7
5重量%以上(即ち、75〜100重量%)である。
量は、(B)成分の硬化剤を配合しない場合は、(A)
成分のエポキシ樹脂100重量部に対して、また(B)
成分の硬化剤を配合する場合は、(A)成分のエポキシ
樹脂と(B)成分の硬化剤との合計量100重量部に対
して、1〜15重量部、望ましくは2〜10重量部であ
る。1重量部未満では硬化性が低下し、15重量部より
多いと、硬化性に優れるが保存性が低下する。
ル化しない硬化触媒を必要に応じて任意に併用添加して
もよい。その場合の配合量は、マイクロカプセル触媒と
マイクロカプセル化していない触媒の合計がエポキシ樹
脂と硬化剤との合計量100重量部に対して1〜15重
量部、望ましくは2〜7重量部が好適である。1重量部
未満では硬化性が不十分となる場合があり、15重量部
より多いと、硬化性に優れるが保存性が低下するおそれ
がある。
硬化触媒(硬化促進剤)としては、上記したイミダゾー
ル化合物、有機リン系化合物や3級アミン化合物など、
エポキシ樹脂組成物の硬化触媒として従来より公知のも
の全般を使用することができる。なお、3級アミン化合
物としては、トリエチルアミン、ベンジルジメチルアミ
ン、ベンジルトリメチルアミン、α−メチルベンジルジ
メチルアミン等の窒素原子に結合する置換基としてアル
キル基やアラルキル基を有するアミン化合物、1,8−
ジアザビシクロ[5.4.0]ウンデセン−7及びその
フェノール塩、オクチル酸塩、オレイン酸塩などのシク
ロアミジン化合物やその有機酸との塩、或いは下記式の
化合物などのシクロアミジン化合物と4級ホウ素化合物
との塩又は錯塩などが挙げられる。
と、任意成分としての(E)成分のマイクロカプセル化
していない硬化触媒を併用する場合、(マイクロカプセ
ル化していない硬化触媒(E)/硬化触媒含有マイクロ
カプセル(D))の重量比が0〜0.8、好ましくは0
〜0.6、より好ましくは0〜0.4となる比率で併用
することが望ましい。
下させる目的でシリコーンゴム、シリコーンオイルや液
状のポリブタジエンゴム、メタクリル酸メチル−ブタジ
エン−スチレン共重合体といった熱可塑性樹脂などの可
撓性付与剤を配合してもよい。好ましくは、アルケニル
基含有エポキシ樹脂又はフェノール樹脂中のアルケニル
基と、下記式(4)で示される1分子中の珪素原子の数
が20〜400、好ましくは40〜200であり、Si
H基(即ち、珪素原子に結合した水素原子)の数が1〜
5個、好ましくは2〜4個、特に2個であるオルガノハ
イドロジェンポリシロキサン中のSiH基との付加反応
により得られるエポキシ樹脂又はフェノール樹脂とオル
ガノポリシロキサンとの共重合体を配合することがよ
い。
0.002〜0.1、好ましくは0.01〜0.1、b
は1.8〜2.2、好ましくは1.95〜2.05、
1.81≦a+b≦2.3、好ましくは1.96≦a+
b≦2.06を満足する正数を示す。)
数1〜10、特に1〜8のものが好ましく、メチル基、
エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、イ
ソブチル基、tert−ブチル基、ヘキシル基、シクロ
ヘキシル基、オクチル基、デシル基等のアルキル基、ビ
ニル基、アリル基、プロペニル基、ブテニル基、ヘキセ
ニル基等のアルケニル基、フェニル基、キシリル基、ト
リル基等のアリール基、ベンジル基、フェニルエチル
基、フェニルプロピル基等のアラルキル基などや、これ
らの炭化水素基の水素原子の一部又は全部を塩素、フッ
素、臭素等のハロゲン原子で置換したクロロメチル基、
ブロモエチル基、トリフルオロプロピル基等のハロゲン
置換一価炭化水素基を挙げることができる。上記共重合
体としては、中でも下記構造のものが望ましい。
数1〜4のアルキル基、R12は−CH2CH2CH2-、−
OCH2−CH(OH)−CH2−O−CH2CH2CH2
−又は−O−CH2CH2CH2−である。nは4〜19
9、好ましくは19〜99の整数、pは1〜10の整
数、qは1〜10の整数である。)
ン単位が液状エポキシ樹脂と硬化剤との合計量100重
量部に対して0〜20重量部、特には1〜15重量部含
まれるように配合することで、応力をより一層低下させ
ることができる。
物)には、更に必要に応じ、接着向上用炭素官能性シラ
ン、カーボンブラックなどの顔料、染料、酸化防止剤、
表面処理剤(γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシ
ランなど)、その他の添加剤を配合することができる。
物)は、例えば、エポキシ樹脂、硬化剤、無機質充填
剤、マイクロカプセル触媒及び必要に応じて硬化剤、マ
イクロカプセル化していない硬化触媒、可撓性付与剤な
どを同時に又は別々に必要により加熱処理を加えながら
撹拌、溶解、混合、分散させることにより製造すること
ができる。これらの混合物の混合、撹拌、分散等の装置
は特に限定されないが、撹拌、加熱装置を備えたライカ
イ機、3本ロール、ボールミル、プラネタリーミキサー
等を用いることができる。これら装置を適宜組み合わせ
て使用してもよい。
材として使用する液状エポキシ樹脂組成物の粘度は、2
5℃において10,000ポイズ以下、特に1,000
ポイズ以下であることが好ましい。
導体装置は、図1に示したように、有機基板1の配線パ
ターン面に複数個のバンプ2を介して半導体チップ3が
搭載されているものであり、上記有機基板1と半導体チ
ップ3との間の隙間(バンプ2間の隙間)にアンダーフ
ィル材4が充填され、その側部がフィレット材5で封止
されたものである。
ても使用し得るが、特にアンダーフィル材として好適に
用いることができる。
半導体装置を封止する場合の成形方法、成形条件は常法
とすることができるが、好ましくは最初に100〜12
0℃で0.5時間以上熱オーブンキュアを行い、その後
150℃で0.5時間以上熱オーブンキュアを行う。最
初のキュア条件が上記温度、時間を下まわると、硬化後
にボイドが発生するおそれがあり、またその後キュア条
件が上記温度、時間を下まわると十分な硬化物特性が得
られない場合がある。
に用いる場合、その硬化物のガラス転移温度以下の膨張
係数が20〜40ppm/℃であることが好ましい。な
お、フィレット材用の封止材は、公知のものでよく、特
には、上述したと同様の液状エポキシ樹脂組成物を用い
ることができるが、フィレット部の封止材には、エポキ
シ樹脂と硬化剤との合計量100重量部に対して、平均
粒径0.5〜40μm、好ましくは1〜20μm程度の
無機質充填剤を250〜500重量部の範囲で配合する
ことが好ましい。250重量部未満では、膨張係数が大
きく冷熱試験においてフィレットクラックの発生を誘発
させるおそれがある。500重量部を超えると、粘度が
高くなり、流動性の低下をもたらし、フィレット形成が
できない場合がある。フィレット材用の封止材は、その
硬化物のガラス転移温度以下のときの膨張係数が10〜
20ppm/℃であるものが好ましい。
的に説明するが、本発明は下記の実施例に制限されるも
のではない。
に示す成分を3本ロールで均一に混練することにより9
種のアンダーフィル材用のエポキシ樹脂組成物を得た。
これらのエポキシ樹脂組成物を用いて、以下に示す試験
を行った。その結果を表1,2に示す。 [粘度]BH型回転粘度計を用いて20rpmの回転数
で25℃における粘度を測定した。 [チキソ比]BH型回転粘度計を用いて2rpmと20
rpmの粘度の比を25℃におけるチキソ比とした。 [ゲル化時間]組成物のゲル化時間を150℃の熱板上
で測定した。 [Tg]:ガラス転移温度 5mm×5mm×15mmの硬化物サンプルを用いてT
MA(熱機械分析装置)により5℃/分の速度で昇温し
た際の値を測定した。 [CTE−1]:Tg以下の膨張係数 [CTE−2]:Tg以上の膨張係数 上記ガラス転移温度の測定において、CTE−1は50
〜80℃の温度範囲、CTE−2は200〜230℃の
温度範囲における値を求めた。 [侵入試験]図2(A),(B)に示したように、熱板
11上に下側スライドガラス12を載置し、その上にそ
れぞれ厚さ80μmの2枚のポリイミドフィルム13,
13を1cmの間隔を隔ててセットし、その上から上側
スライドガラス14を被せ、上記両スライドガラス1
2,14と2枚のポリイミドフィルム13,13とによ
り、幅1cm、高さ80μmの間隙15を形成した。上
記下側スライドガラス12上にエポキシ樹脂組成物16
を置き、熱板11を80℃,120℃に設定した時、上
記組成物16が上記間隙15に20mmの距離まで浸
透、到達するまでの時間を測定した。 [PCT剥離テスト]ポリイミドコートした10mm×
10mmのシリコンチップを30mm×30mmのFR
−4基板に約100μmのスペーサを用いて積層し、生
じた隙間にアンダーフィル材用エポキシ樹脂組成物を侵
入、硬化させ、PCT(121℃,2.1atm)の環
境下に置き、168hr後の剥離をC−SAMで確認し
た。 [熱衝撃性不良率]ポリイミドコートした10mm×1
0mmにカットした厚み0.6mmのシリコンチップを
30mm×30mmのFR−4基板に約100μmのス
ペーサを用いて積層し、生じた隙間にアンダーフィル材
用エポキシ樹脂組成物を侵入、フィレット部にフィレッ
ト材用エポキシ樹脂組成物を塗布し、150℃で4時間
硬化させ、得られた試験片を−55℃,1分/160
℃,30秒の熱サイクルを繰り返して、50,100,
250サイクル後に硬化物にクラック及び剥離が発生し
ているものを不良とし、不良率を測定した(試験数=2
0)。 [保存安定性試験]25℃の恒温室に組成物をポリビン
に密閉したサンプルの放置96時間後の粘度変化を測定
した。フィレット材用エポキシ樹脂組成物 RE310 30重量部 RE304 17重量部 MH700 45重量部 SO32H 250重量部 KBM403 1.0重量部 HX3741 2重量部 下記式で示されるジオルガノポリシロキサン 8重量部 単位を含有する共重合体フィレット材の特性 粘度(ポイズ/25℃) 300 ゲル化時間(秒/150℃) 74 Tg(℃) 130 CTE−1(ppm/℃) 18 CTE−2(ppm/℃) 65
薬製) RE304:ビスフェノールF型エポキシ樹脂(日本化
薬製) MH700:メチルテトラヒドロ無水フタル酸(新日本
理化製) SO32H:最大粒径45μm以下、平均粒径2μmの
球状シリカ(アドマテクス製) KBM403:シランカップリング剤γ−グリシドキシ
プロピルトリメトキシシラン(信越化学工業製) HX3741:イミダゾール化合物を含有するマイクロ
カプセル化触媒(旭チバ(株)製) 2E4MZ:2−エチル−4−メチルイミダゾール(室
温で液体)(四国化成製) 2E4MZのマイクロカプセル触媒:2E4MZを20
重量%含有したメタクリル酸メチルの重合体。平均粒径
が7μm。o−クレゾール中で30℃,15分間の処理
でマイクロカプセルから溶出する触媒の量は87重量
%。 トリ(p−メチルフェニル)フォスフィンのマイクロカ
プセル触媒:トリ(p−メチルフェニル)フォスフィン
を20重量%含有したメタクリル酸メチルとスチレンの
共重合体。平均粒径が5μm。o−クレゾール中で30
℃,15分間の処理でマイクロカプセルから溶出する触
媒の量は82重量%。 2P4MHZ−PW:2−フェニル−4メチル−5−ヒ
ドロキシメチルイミダゾール(四国化成製)、平均粒径
3.8μm、最大粒径15μmの室温で固体の微粉末
す成分を3本ロールで均一に混練することにより7種の
アンダーフィル材用エポキシ樹脂組成物を得た。これら
のエポキシ樹脂組成物を用いて、上記と同様の試験を行
った。その結果を表3に示す。
薬製) RE304:ビスフェノールF型エポキシ樹脂(日本化
薬製) MH700:メチルテトラヒドロ無水フタル酸(新日本
理化製) SO32H:最大粒径45μm以下、平均粒径2μmの
球状シリカ(アドマテクス製) KBM403:シランカップリング剤γ−グリシドキシ
プロピルトリメトキシシラン(信越化学工業製) TPP:トリフェニルフォスフィン(北興化学製) 2E4MZ:2−エチル−4−メチルイミダゾール(室
温で液体)(四国化成製) 2E4MZのマイクロカプセル触媒:2E4MZを20
重量%含有したメタクリル酸メチルの重合体。平均粒径
が7μm。o−クレゾール中で30℃,15分間の処理
でマイクロカプセルから溶出する触媒の量は87重量
%。 TPPのマイクロカプセル触媒:トリフェニルフォスフ
ィンを20重量%含有したメタクリル酸メチルとスチレ
ンの共重合体。平均粒径が5μm。o−クレゾール中で
30℃,15分間の処理でマイクロカプセルから溶出す
る触媒の量は82重量%。
封止材は、薄膜侵入特性、保存安定性に優れており、こ
の封止材を用いたフリップチップ型半導体装置は非常に
信頼性の高いものが得られる。
図である。
は側面図、(B)は平面図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 (A)液状エポキシ樹脂、(C)無機質
充填剤、(D)上記(A)成分100重量部に対して1
〜15重量部のマイクロカプセル触媒を含有する液状エ
ポキシ樹脂組成物からなるフリップチップ型半導体装置
用封止材。 - 【請求項2】 (A)液状エポキシ樹脂、(B)硬化
剤、(C)無機質充填剤、(D)上記(A),(B)成
分の合計量100重量部に対して1〜15重量部のマイ
クロカプセル触媒を含有する液状エポキシ樹脂組成物か
らなるフリップチップ型半導体装置用封止材。 - 【請求項3】 上記マイクロカプセル触媒が、イミダゾ
ール化合物及び/又は有機リン化合物を含有したマイク
ロカプセル触媒であって、平均粒径が0.5〜15μm
であり、かつo−クレゾール中におけるマイクロカプセ
ルからの触媒の溶出量が30℃,15分でマイクロカプ
セル中に含まれる全触媒量の70重量%以上である請求
項1又は2記載の封止材。 - 【請求項4】 上記イミダゾール化合物が、2−メチル
イミダゾール、2−エチルイミダゾール、1,2−ジメ
チルイミダゾール、1,2−ジエチルイミダゾール、2
−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニル−4
−メチルイミダゾール、2,4−ジメチルイミダゾー
ル、2,4−ジアミノ−6−[2’−エチル−4’−メ
チルイミダゾリル−(1)’]−エチル−S−トリアジ
ン、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチル
イミダゾール又は2−フェニル−4,5−ジヒドロキシ
メチルイミダゾールである請求項3記載の封止材。 - 【請求項5】 更に、(E)マイクロカプセル化してい
ない硬化触媒を含有する請求項1乃至4のいずれか1項
記載の封止材。 - 【請求項6】 請求項1乃至5のいずれか1項記載の封
止材で封止されたフリップチップ型半導体装置。
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