JP2001284179A - 固体電解コンデンサとその製造方法 - Google Patents
固体電解コンデンサとその製造方法Info
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 リフロー半田時の膨れ及び特性劣化の防止を
可能とした、表面実装用に好適な固体電解コンデンサと
その製造方法を提供する。 【解決手段】 銀メッキを施した外部接続部を有する電
極引き出し手段が接続された両極電極箔を、ビニロンか
らなるセパレータと共に巻回してコンデンサ素子を形成
し、このコンデンサ素子をリン酸二水素アンモニウム水
溶液中に5〜120分浸漬して修復化成を行う。その
後、このコンデンサ素子を175〜300℃、好ましく
は200〜270℃で、少なくとも1分以上、好ましく
は30分以上熱処理する。続いて、このコンデンサ素子
にEDT又はEDT溶液を含浸し、さらに30〜50%
のパラトルエンスルホン酸第二鉄のブタノール溶液を含
浸して、20〜180℃、30分以上加熱する。その
後、コンデンサ素子の表面を樹脂で被覆した後、有底筒
状のアルミニウムケースに挿入し、開口部を絞り加工に
よってゴム封口する。
可能とした、表面実装用に好適な固体電解コンデンサと
その製造方法を提供する。 【解決手段】 銀メッキを施した外部接続部を有する電
極引き出し手段が接続された両極電極箔を、ビニロンか
らなるセパレータと共に巻回してコンデンサ素子を形成
し、このコンデンサ素子をリン酸二水素アンモニウム水
溶液中に5〜120分浸漬して修復化成を行う。その
後、このコンデンサ素子を175〜300℃、好ましく
は200〜270℃で、少なくとも1分以上、好ましく
は30分以上熱処理する。続いて、このコンデンサ素子
にEDT又はEDT溶液を含浸し、さらに30〜50%
のパラトルエンスルホン酸第二鉄のブタノール溶液を含
浸して、20〜180℃、30分以上加熱する。その
後、コンデンサ素子の表面を樹脂で被覆した後、有底筒
状のアルミニウムケースに挿入し、開口部を絞り加工に
よってゴム封口する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、固体電解コンデン
サとその製造方法に係り、特に、リフロー半田時の膨れ
及び特性劣化の防止を図った、表面実装用として好適な
固体電解コンデンサとその製造方法に関するものであ
る。
サとその製造方法に係り、特に、リフロー半田時の膨れ
及び特性劣化の防止を図った、表面実装用として好適な
固体電解コンデンサとその製造方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】タンタルあるいはアルミニウム等のよう
な弁作用を有する金属を利用した電解コンデンサは、陽
極側対向電極としての弁作用金属を焼結体あるいはエッ
チング箔等の形状にして誘電体を拡面化することによ
り、小型で大きな容量を得ることができることから、広
く一般に用いられている。特に、電解質に固体電解質を
用いた固体電解コンデンサは、小型、大容量、低等価直
列抵抗であることに加えて、チップ化しやすく、表面実
装に適している等の特質を備えていることから、電子機
器の小型化、高機能化、低コスト化に欠かせないものと
なっている。
な弁作用を有する金属を利用した電解コンデンサは、陽
極側対向電極としての弁作用金属を焼結体あるいはエッ
チング箔等の形状にして誘電体を拡面化することによ
り、小型で大きな容量を得ることができることから、広
く一般に用いられている。特に、電解質に固体電解質を
用いた固体電解コンデンサは、小型、大容量、低等価直
列抵抗であることに加えて、チップ化しやすく、表面実
装に適している等の特質を備えていることから、電子機
器の小型化、高機能化、低コスト化に欠かせないものと
なっている。
【0003】この種の固体電解コンデンサにおいて、小
型、大容量用途としては、一般に、アルミニウム等の弁
作用金属からなる陽極箔と陰極箔をセパレータを介在さ
せて巻回してコンデンサ素子を形成し、このコンデンサ
素子に駆動用電解液を含浸し、アルミニウム等の金属製
ケースや合成樹脂製のケースにコンデンサ素子を収納
し、密閉した構造を有している。なお、陽極材料として
は、アルミニウムを初めとしてタンタル、ニオブ、チタ
ン等が使用され、陰極材料には、陽極材料と同種の金属
が用いられる。
型、大容量用途としては、一般に、アルミニウム等の弁
作用金属からなる陽極箔と陰極箔をセパレータを介在さ
せて巻回してコンデンサ素子を形成し、このコンデンサ
素子に駆動用電解液を含浸し、アルミニウム等の金属製
ケースや合成樹脂製のケースにコンデンサ素子を収納
し、密閉した構造を有している。なお、陽極材料として
は、アルミニウムを初めとしてタンタル、ニオブ、チタ
ン等が使用され、陰極材料には、陽極材料と同種の金属
が用いられる。
【0004】また、固体電解コンデンサに用いられる固
体電解質としては、二酸化マンガンや7、7、8、8−
テトラシアノキノジメタン(TCNQ)錯体が知られて
いるが、近年、反応速度が緩やかで、かつ陽極電極の酸
化皮膜層との密着性に優れたポリエチレンジオキシチオ
フェン(以下、PEDTと記す)に着目した技術(特開
平2−15611号公報)が存在している。
体電解質としては、二酸化マンガンや7、7、8、8−
テトラシアノキノジメタン(TCNQ)錯体が知られて
いるが、近年、反応速度が緩やかで、かつ陽極電極の酸
化皮膜層との密着性に優れたポリエチレンジオキシチオ
フェン(以下、PEDTと記す)に着目した技術(特開
平2−15611号公報)が存在している。
【0005】例えば、巻回型のコンデンサ素子にPED
Tからなる固体電解質層を形成するタイプの固体電解コ
ンデンサは、図2に示すように、化成→コンデンサ素子
形成→固体電解質層形成→外装ケースへの挿入→樹脂封
止→エージングという製造工程によって作製される。以
下には、この製造工程について、図3及び図4を参照し
て簡単に説明する。
Tからなる固体電解質層を形成するタイプの固体電解コ
ンデンサは、図2に示すように、化成→コンデンサ素子
形成→固体電解質層形成→外装ケースへの挿入→樹脂封
止→エージングという製造工程によって作製される。以
下には、この製造工程について、図3及び図4を参照し
て簡単に説明する。
【0006】まず、図4に示すように、アルミニウム等
の弁作用金属からなる陽極箔1の表面を塩化物水溶液中
での電気化学的なエッチング処理により粗面化して、多
数のエッチングピット8を形成した後、ホウ酸アンモニ
ウム等の水溶液中で電圧を印加して誘電体となる酸化皮
膜層4を形成する(化成)。陽極箔1と同様に、図3に
示すような陰極箔2もアルミニウム等の弁作用金属から
なるが、その表面にはエッチング処理を施すのみであ
る。また、図3に示すように、陽極箔1及び陰極箔2に
は、それぞれの電極を外部に接続するための電極引き出
し手段6、7が、ステッチ、超音波溶接等の公知の手段
により接続されている。なお、電極引き出し手段6、7
は、電極箔内に挿入される接続部11、丸棒部12及び
外部接続部(リード線)13とからなっている。
の弁作用金属からなる陽極箔1の表面を塩化物水溶液中
での電気化学的なエッチング処理により粗面化して、多
数のエッチングピット8を形成した後、ホウ酸アンモニ
ウム等の水溶液中で電圧を印加して誘電体となる酸化皮
膜層4を形成する(化成)。陽極箔1と同様に、図3に
示すような陰極箔2もアルミニウム等の弁作用金属から
なるが、その表面にはエッチング処理を施すのみであ
る。また、図3に示すように、陽極箔1及び陰極箔2に
は、それぞれの電極を外部に接続するための電極引き出
し手段6、7が、ステッチ、超音波溶接等の公知の手段
により接続されている。なお、電極引き出し手段6、7
は、電極箔内に挿入される接続部11、丸棒部12及び
外部接続部(リード線)13とからなっている。
【0007】次に、以上のようにして表面に酸化皮膜層
4が形成された陽極箔1とエッチングピット8のみが形
成された陰極箔2とを、図3に示すようにセパレータ3
を介して巻回して、コンデンサ素子10を形成する(素
子形成)。続いて、このコンデンサ素子10に3,4−
エチレンジオキシチオフェン(以下、EDTと記す)と
酸化剤を含浸し、図4に示すようなPEDTからなる固
体電解質層5を生成する(固体電解質層形成)。
4が形成された陽極箔1とエッチングピット8のみが形
成された陰極箔2とを、図3に示すようにセパレータ3
を介して巻回して、コンデンサ素子10を形成する(素
子形成)。続いて、このコンデンサ素子10に3,4−
エチレンジオキシチオフェン(以下、EDTと記す)と
酸化剤を含浸し、図4に示すようなPEDTからなる固
体電解質層5を生成する(固体電解質層形成)。
【0008】この後、コンデンサ素子10を図示してい
ない外装ケースに挿入し、外装ケース内にエポキシ樹脂
等の熱硬化性樹脂を付着して熱硬化させることによっ
て、コンデンサ素子10の外周に外装樹脂を被覆し(樹
脂封止)、固体電解コンデンサを完成する。なお、この
ように樹脂封止を行うと、酸化皮膜層4が損傷して漏れ
電流特性が低下するため、樹脂封止後に、コンデンサ定
格電圧に応じた電圧を印加して高温のエージングを行う
ことにより酸化皮膜層4を修復し、特性の向上を図って
いる。
ない外装ケースに挿入し、外装ケース内にエポキシ樹脂
等の熱硬化性樹脂を付着して熱硬化させることによっ
て、コンデンサ素子10の外周に外装樹脂を被覆し(樹
脂封止)、固体電解コンデンサを完成する。なお、この
ように樹脂封止を行うと、酸化皮膜層4が損傷して漏れ
電流特性が低下するため、樹脂封止後に、コンデンサ定
格電圧に応じた電圧を印加して高温のエージングを行う
ことにより酸化皮膜層4を修復し、特性の向上を図って
いる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところで、耐電圧特性
の向上を図るべく、上記のような従来の製造方法をさら
に改良した方法として、コンデンサ素子に適量の水分を
付与するために、固体電解質層を形成した後に、コンデ
ンサ素子を耐湿槽等に所定時間放置することにより、コ
ンデンサ素子の表面に所定量の水分を付与する方法が提
案されている。
の向上を図るべく、上記のような従来の製造方法をさら
に改良した方法として、コンデンサ素子に適量の水分を
付与するために、固体電解質層を形成した後に、コンデ
ンサ素子を耐湿槽等に所定時間放置することにより、コ
ンデンサ素子の表面に所定量の水分を付与する方法が提
案されている。
【0010】すなわち、この製造方法においては、固体
電解質層を形成した後に、水蒸気を満たした耐湿槽等に
コンデンサ素子を放置し、コンデンサ素子の表面に水分
を付着させた後、図5に示したように、コンデンサ素子
10に樹脂被覆して樹脂層14を形成し、このコンデン
サ素子10を有底筒状の金属ケース15に挿入し、開口
部を絞り加工によってゴム封口する。なお、耐湿槽とし
ては、例えば、湿度40〜95%、温度20〜85℃の
恒温恒湿槽が用いられ、この恒温恒湿槽内にコンデンサ
素子を10〜180分放置することにより、コンデンサ
素子の表面に水分を付着させている。
電解質層を形成した後に、水蒸気を満たした耐湿槽等に
コンデンサ素子を放置し、コンデンサ素子の表面に水分
を付着させた後、図5に示したように、コンデンサ素子
10に樹脂被覆して樹脂層14を形成し、このコンデン
サ素子10を有底筒状の金属ケース15に挿入し、開口
部を絞り加工によってゴム封口する。なお、耐湿槽とし
ては、例えば、湿度40〜95%、温度20〜85℃の
恒温恒湿槽が用いられ、この恒温恒湿槽内にコンデンサ
素子を10〜180分放置することにより、コンデンサ
素子の表面に水分を付着させている。
【0011】しかしながら、上記のような製造方法によ
って製造された固体電解コンデンサを、横型又は縦型の
表面実装用チップ部品とし、200〜250℃で高温リ
フロー半田付けを行うと、金属ケースや封口ゴムの膨れ
が生じ、特性も劣化するという問題点があった。
って製造された固体電解コンデンサを、横型又は縦型の
表面実装用チップ部品とし、200〜250℃で高温リ
フロー半田付けを行うと、金属ケースや封口ゴムの膨れ
が生じ、特性も劣化するという問題点があった。
【0012】本発明は、上述したような従来技術の問題
点を解決するために提案されたものであり、その目的
は、リフロー半田時の膨れ及び特性劣化の防止を可能と
した、表面実装用として好適な固体電解コンデンサとそ
の製造方法を提供することにある。
点を解決するために提案されたものであり、その目的
は、リフロー半田時の膨れ及び特性劣化の防止を可能と
した、表面実装用として好適な固体電解コンデンサとそ
の製造方法を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明者は、上記課題を
解決すべく、リフロー半田時の膨れ及び特性劣化を防止
することができる、表面実装用として好適な固体電解コ
ンデンサの製造方法について鋭意検討を重ねた結果、本
発明を完成するに至ったものである。すなわち、本発明
者は、従来の製造方法によって得られた固体電解コンデ
ンサを横型又は縦型の表面実装用チップ部品とし、20
0〜250℃で高温リフロー半田付けを行った場合に、
金属ケースや封口ゴムの膨れが生じ、特性も劣化する原
因について種々の検討を行った結果、以下の結論に達し
たものである。
解決すべく、リフロー半田時の膨れ及び特性劣化を防止
することができる、表面実装用として好適な固体電解コ
ンデンサの製造方法について鋭意検討を重ねた結果、本
発明を完成するに至ったものである。すなわち、本発明
者は、従来の製造方法によって得られた固体電解コンデ
ンサを横型又は縦型の表面実装用チップ部品とし、20
0〜250℃で高温リフロー半田付けを行った場合に、
金属ケースや封口ゴムの膨れが生じ、特性も劣化する原
因について種々の検討を行った結果、以下の結論に達し
たものである。
【0014】まず、リフロー半田付け時に膨れが生じ、
特性が劣化する原因の一つは、コンデンサ素子の表面に
付着させた水分である可能性について検討した。すなわ
ち、リフロー半田付けにおいてコンデンサ素子が200
〜250℃の高温状態に保持されると、コンデンサ素子
内に存在する水分が水蒸気となる。一方、従来の方法で
は、コンデンサ素子の表面に水分を付着させた後、樹脂
被覆を行っているが、コンデンサ素子は被覆した樹脂で
完全に密封されているわけではなく、例えば、電極引き
出し手段の丸棒部(アルミニウムからなる端子)と樹脂
との間には、微小な隙間が存在している。そのため、こ
れらの隙間から水蒸気が漏出し、その結果、ケースが膨
れ、また、この水蒸気によってPEDTが劣化し、ひい
てはコンデンサの特性が劣化した可能性があることが考
えられた。
特性が劣化する原因の一つは、コンデンサ素子の表面に
付着させた水分である可能性について検討した。すなわ
ち、リフロー半田付けにおいてコンデンサ素子が200
〜250℃の高温状態に保持されると、コンデンサ素子
内に存在する水分が水蒸気となる。一方、従来の方法で
は、コンデンサ素子の表面に水分を付着させた後、樹脂
被覆を行っているが、コンデンサ素子は被覆した樹脂で
完全に密封されているわけではなく、例えば、電極引き
出し手段の丸棒部(アルミニウムからなる端子)と樹脂
との間には、微小な隙間が存在している。そのため、こ
れらの隙間から水蒸気が漏出し、その結果、ケースが膨
れ、また、この水蒸気によってPEDTが劣化し、ひい
てはコンデンサの特性が劣化した可能性があることが考
えられた。
【0015】そこで、リフロー半田付け時に膨れが生
じ、特性が劣化する原因が水蒸気である可能性を確認す
るために、PEDTを形成したコンデンサ素子を乾燥し
た場合について検討した結果、同様にリフロー半田付け
時に膨れが生じ、特性が劣化することが判明した。この
ことから、リフロー半田付け時に膨れが生じ、特性が劣
化する真の原因は、コンデンサ素子の表面に付着させた
水分ではないことが示唆された。
じ、特性が劣化する原因が水蒸気である可能性を確認す
るために、PEDTを形成したコンデンサ素子を乾燥し
た場合について検討した結果、同様にリフロー半田付け
時に膨れが生じ、特性が劣化することが判明した。この
ことから、リフロー半田付け時に膨れが生じ、特性が劣
化する真の原因は、コンデンサ素子の表面に付着させた
水分ではないことが示唆された。
【0016】このように、PEDTを形成したコンデン
サ素子を乾燥した場合でも、リフロー半田付け時に膨れ
が生じ、特性が劣化した理由は、以下の通りであると考
えられる。すなわち、セパレータとしてビニロンを用い
た場合、ビニロンを高温保持することによって、又はコ
ンデンサ素子内に残存する酸化剤との反応によって、ビ
ニロンの−OH基等の末端の基がガス化して、コンデン
サの膨れ及び特性の劣化が生じたものと考えられる。
サ素子を乾燥した場合でも、リフロー半田付け時に膨れ
が生じ、特性が劣化した理由は、以下の通りであると考
えられる。すなわち、セパレータとしてビニロンを用い
た場合、ビニロンを高温保持することによって、又はコ
ンデンサ素子内に残存する酸化剤との反応によって、ビ
ニロンの−OH基等の末端の基がガス化して、コンデン
サの膨れ及び特性の劣化が生じたものと考えられる。
【0017】そこで、本発明者は、リフロー半田付け時
に、コンデンサ素子が200〜250℃の高温状態に保
持された場合であっても、セパレータとして用いられる
ビニロンの−OH基等の末端の基がガス化しない条件に
ついて種々検討した結果、PEDTを形成する前に、コ
ンデンサ素子を175〜300℃、好ましくは200〜
270℃で、少なくとも1分以上、好ましくは30分以
上熱処理すると良好な結果が得られることが判明した。
に、コンデンサ素子が200〜250℃の高温状態に保
持された場合であっても、セパレータとして用いられる
ビニロンの−OH基等の末端の基がガス化しない条件に
ついて種々検討した結果、PEDTを形成する前に、コ
ンデンサ素子を175〜300℃、好ましくは200〜
270℃で、少なくとも1分以上、好ましくは30分以
上熱処理すると良好な結果が得られることが判明した。
【0018】さらに、本発明者は、セパレータとしてマ
ニラ紙、クラフト紙等の通常の電解紙を用いた場合につ
いても検討した結果、280℃以上で熱処理すると、同
様に良好な結果が得られることが判明した。
ニラ紙、クラフト紙等の通常の電解紙を用いた場合につ
いても検討した結果、280℃以上で熱処理すると、同
様に良好な結果が得られることが判明した。
【0019】なお、従来から用いられている外部接続部
(リード線)は、鋼線に銅メッキを施し、さらにその上
に半田メッキあるいは錫メッキを施したものであるが、
この外部接続部(リード線)は、175〜300℃の熱
処理に耐えることができない。そのため、本発明の製造
方法においては、外部接続部(リード線)として、鋼線
に銀メッキを施したものを用いることが望ましい。な
お、丸棒部、接続部は通常アルミニウムから構成されて
いるので、175〜300℃の熱処理に耐えることがで
きるので、変更は要しない。
(リード線)は、鋼線に銅メッキを施し、さらにその上
に半田メッキあるいは錫メッキを施したものであるが、
この外部接続部(リード線)は、175〜300℃の熱
処理に耐えることができない。そのため、本発明の製造
方法においては、外部接続部(リード線)として、鋼線
に銀メッキを施したものを用いることが望ましい。な
お、丸棒部、接続部は通常アルミニウムから構成されて
いるので、175〜300℃の熱処理に耐えることがで
きるので、変更は要しない。
【0020】(固体電解コンデンサの製造方法)続い
て、本発明に係る巻回型の固体電解コンデンサの製造方
法の一例について説明する。すなわち、図1に示したよ
うに、銀メッキを施した外部接続部を有する電極引き出
し手段が接続された両極電極箔を、ビニロンからなるセ
パレータと共に巻回してコンデンサ素子を形成し、この
コンデンサ素子をリン酸二水素アンモニウム水溶液中に
5〜120分浸漬して修復化成を行う。その後、このコ
ンデンサ素子を175〜300℃、好ましくは200〜
270℃で、少なくとも1分以上、好ましくは30分以
上熱処理する。
て、本発明に係る巻回型の固体電解コンデンサの製造方
法の一例について説明する。すなわち、図1に示したよ
うに、銀メッキを施した外部接続部を有する電極引き出
し手段が接続された両極電極箔を、ビニロンからなるセ
パレータと共に巻回してコンデンサ素子を形成し、この
コンデンサ素子をリン酸二水素アンモニウム水溶液中に
5〜120分浸漬して修復化成を行う。その後、このコ
ンデンサ素子を175〜300℃、好ましくは200〜
270℃で、少なくとも1分以上、好ましくは30分以
上熱処理する。
【0021】続いて、このコンデンサ素子にEDT又は
EDT溶液を含浸し、さらに30〜50%のパラトルエ
ンスルホン酸第二鉄のブタノール溶液を含浸して、20
〜180℃、30分以上加熱する。その後、コンデンサ
素子の表面を樹脂で被覆した後、有底筒状のアルミニウ
ムケースに挿入し、開口部を絞り加工によってゴム封口
する。
EDT溶液を含浸し、さらに30〜50%のパラトルエ
ンスルホン酸第二鉄のブタノール溶液を含浸して、20
〜180℃、30分以上加熱する。その後、コンデンサ
素子の表面を樹脂で被覆した後、有底筒状のアルミニウ
ムケースに挿入し、開口部を絞り加工によってゴム封口
する。
【0022】なお、EDT及び酸化剤をコンデンサ素子
に含浸する方法としては、常温でシリンジ等により定量
注入する注入法の他、浸漬法を用いることができること
は言うまでもない。また、熱処理温度を175〜300
℃、好ましくは200〜270℃としたのは、175℃
未満だと、ビニロンの末端の基の分解が所望の効果を得
るほどには進まず、300℃を超えると、分解が進み過
ぎて、ビニロンの分子の骨格となる部分の分解も始まっ
てビニロンそのものが分解し、セパレータ繊維としての
役割を果たさなくなるからである。さらに、熱処理時間
を少なくとも1分以上、好ましくは30分以上とした理
由は、300℃に近い高温で処理すると、1分程度でビ
ニロンの末端の基を分解させることができるからであ
る。
に含浸する方法としては、常温でシリンジ等により定量
注入する注入法の他、浸漬法を用いることができること
は言うまでもない。また、熱処理温度を175〜300
℃、好ましくは200〜270℃としたのは、175℃
未満だと、ビニロンの末端の基の分解が所望の効果を得
るほどには進まず、300℃を超えると、分解が進み過
ぎて、ビニロンの分子の骨格となる部分の分解も始まっ
てビニロンそのものが分解し、セパレータ繊維としての
役割を果たさなくなるからである。さらに、熱処理時間
を少なくとも1分以上、好ましくは30分以上とした理
由は、300℃に近い高温で処理すると、1分程度でビ
ニロンの末端の基を分解させることができるからであ
る。
【0023】このように、ビニロンからなるセパレータ
を用いると共に、酸化皮膜の修復化成とPEDTを形成
する工程との間で、コンデンサ素子を175〜300
℃、好ましくは200〜270℃で熱処理することによ
り、良好な結果が得られた理由は以下の通りであると考
えられる。すなわち、200℃はビニロンの分解温度で
あり、ビニロンの−OH基等の末端の基の多くの部分
が、修復化成後の熱処理によって分解するため、リフロ
ー半田付け時にコンデンサ素子を高温に保持しても、ビ
ニロンの−OH基等の末端の基が反応して、ガス化する
ことはないためであると考えられる。
を用いると共に、酸化皮膜の修復化成とPEDTを形成
する工程との間で、コンデンサ素子を175〜300
℃、好ましくは200〜270℃で熱処理することによ
り、良好な結果が得られた理由は以下の通りであると考
えられる。すなわち、200℃はビニロンの分解温度で
あり、ビニロンの−OH基等の末端の基の多くの部分
が、修復化成後の熱処理によって分解するため、リフロ
ー半田付け時にコンデンサ素子を高温に保持しても、ビ
ニロンの−OH基等の末端の基が反応して、ガス化する
ことはないためであると考えられる。
【0024】(セパレータ)本発明で用いられるセパレ
ータは、繊維径が3.0〜12.0μmのビニロン繊維
を所定のカット長の短繊維とし、所定のバインダーを用
いて、任意の手段により不織布としたものである。な
お、このセパレータとしては、坪量が5〜30g/
m2、厚さが10〜200μm、密度が0.1〜0.5
6g/cm3であることが好ましい。
ータは、繊維径が3.0〜12.0μmのビニロン繊維
を所定のカット長の短繊維とし、所定のバインダーを用
いて、任意の手段により不織布としたものである。な
お、このセパレータとしては、坪量が5〜30g/
m2、厚さが10〜200μm、密度が0.1〜0.5
6g/cm3であることが好ましい。
【0025】(修復化成の化成液)修復化成の化成液と
しては、リン酸二水素アンモニウム、リン酸水素二アン
モニウム等のリン酸系の化成液、ホウ酸アンモニウム等
のホウ酸系の化成液、アジピン酸アンモニウム等のアジ
ピン酸系の化成液を用いることができるが、なかでも、
リン酸二水素アンモニウムを用いることが望ましい。ま
た、浸漬時間は、5〜120分が望ましい。
しては、リン酸二水素アンモニウム、リン酸水素二アン
モニウム等のリン酸系の化成液、ホウ酸アンモニウム等
のホウ酸系の化成液、アジピン酸アンモニウム等のアジ
ピン酸系の化成液を用いることができるが、なかでも、
リン酸二水素アンモニウムを用いることが望ましい。ま
た、浸漬時間は、5〜120分が望ましい。
【0026】(EDT、酸化剤)また、コンデンサ素子
に含浸するEDTとしては、EDTモノマーを用いるこ
とができるが、EDTと揮発性溶媒とを1:1〜1:3
の体積比で混合したモノマー溶液を用いることもでき
る。前記揮発性溶媒としては、ペンタン等の炭化水素
類、テトラヒドロフラン等のエーテル類、ギ酸エチル等
のエステル類、アセトン等のケトン類、メタノール等の
アルコール類、アセトニトリル等の窒素化合物等を用い
ることができるが、なかでも、メタノール、エタノー
ル、アセトン等が好ましい。また、酸化剤としては、ブ
タノールに溶解したパラトルエンスルホン酸第二鉄を用
いる。この場合、ブタノールとパラトルエンスルホン酸
第二鉄の比率は任意で良いが、本発明においては30〜
50%溶液を用いている。なお、EDTと酸化剤の配合
比は1:3〜1:6の範囲が好適である。
に含浸するEDTとしては、EDTモノマーを用いるこ
とができるが、EDTと揮発性溶媒とを1:1〜1:3
の体積比で混合したモノマー溶液を用いることもでき
る。前記揮発性溶媒としては、ペンタン等の炭化水素
類、テトラヒドロフラン等のエーテル類、ギ酸エチル等
のエステル類、アセトン等のケトン類、メタノール等の
アルコール類、アセトニトリル等の窒素化合物等を用い
ることができるが、なかでも、メタノール、エタノー
ル、アセトン等が好ましい。また、酸化剤としては、ブ
タノールに溶解したパラトルエンスルホン酸第二鉄を用
いる。この場合、ブタノールとパラトルエンスルホン酸
第二鉄の比率は任意で良いが、本発明においては30〜
50%溶液を用いている。なお、EDTと酸化剤の配合
比は1:3〜1:6の範囲が好適である。
【0027】
【実施例】以下、実施例に基づいて本発明をさらに詳細
に説明する。なお、本発明に係る固体電解コンデンサ
は、以下の実施例1のように作成した。また、比較例1
として、熱処理を行わずに固体電解質層を形成した固体
電解コンデンサを用いた。
に説明する。なお、本発明に係る固体電解コンデンサ
は、以下の実施例1のように作成した。また、比較例1
として、熱処理を行わずに固体電解質層を形成した固体
電解コンデンサを用いた。
【0028】(実施例1)表面に酸化皮膜層が形成され
た陽極箔と陰極箔に銀メッキを施した外部接続部を有す
る電極引き出し手段を接続し、両電極箔を繊維径が7.
5μmのビニロン繊維を主体とするビニロン不織布から
なるセパレータを介して巻回して、素子形状が4φ×7
Lのコンデンサ素子を形成した。そして、このコンデン
サ素子をリン酸二水素アンモニウム水溶液に40分間浸
漬して、修復化成を行った後、230℃で1時間熱処理
した。続いて、このコンデンサ素子に、注入法によりE
DTモノマーを含浸し、さらに酸化剤溶液として40%
のパラトルエンスルホン酸第二鉄のブタノール溶液を含
浸して、100℃、1時間加熱して、PEDTからなる
固体電解質層を形成した。その後、コンデンサ素子の表
面を樹脂で被覆した後、有底筒状のアルミニウムケース
に挿入し、開口部を絞り加工によってゴム封口して固体
電解コンデンサを形成した。なお、EDTモノマーと酸
化剤との配合比は、1:5とした。また、この固体電解
コンデンサの定格電圧は6.3WV、定格容量は33μ
Fである。
た陽極箔と陰極箔に銀メッキを施した外部接続部を有す
る電極引き出し手段を接続し、両電極箔を繊維径が7.
5μmのビニロン繊維を主体とするビニロン不織布から
なるセパレータを介して巻回して、素子形状が4φ×7
Lのコンデンサ素子を形成した。そして、このコンデン
サ素子をリン酸二水素アンモニウム水溶液に40分間浸
漬して、修復化成を行った後、230℃で1時間熱処理
した。続いて、このコンデンサ素子に、注入法によりE
DTモノマーを含浸し、さらに酸化剤溶液として40%
のパラトルエンスルホン酸第二鉄のブタノール溶液を含
浸して、100℃、1時間加熱して、PEDTからなる
固体電解質層を形成した。その後、コンデンサ素子の表
面を樹脂で被覆した後、有底筒状のアルミニウムケース
に挿入し、開口部を絞り加工によってゴム封口して固体
電解コンデンサを形成した。なお、EDTモノマーと酸
化剤との配合比は、1:5とした。また、この固体電解
コンデンサの定格電圧は6.3WV、定格容量は33μ
Fである。
【0029】(比較例1)実施例1と同様にして修復化
成を行った後、コンデンサ素子を100℃で1時間乾燥
した。その他の条件は実施例1と同様にして固体電解コ
ンデンサを形成した。
成を行った後、コンデンサ素子を100℃で1時間乾燥
した。その他の条件は実施例1と同様にして固体電解コ
ンデンサを形成した。
【0030】[比較結果]上記の方法により得られた実
施例1及び比較例1の固体電解コンデンサについて、初
期特性と230℃、40秒のリフロー半田を行った後の
特性を調べたところ、表1に示したような結果が得られ
た。
施例1及び比較例1の固体電解コンデンサについて、初
期特性と230℃、40秒のリフロー半田を行った後の
特性を調べたところ、表1に示したような結果が得られ
た。
【表1】
【0031】表1から明らかなように、修復化成を行っ
た後、230℃で熱処理した実施例1においては、リフ
ロー試験後のESR(等価直列抵抗)は、初期特性の
1.03倍とほぼ変化しなかった。また、静電容量の減
少率も1.5%に過ぎず、リフロー試験後に金属ケース
や封口ゴムに膨れは認められなかった。
た後、230℃で熱処理した実施例1においては、リフ
ロー試験後のESR(等価直列抵抗)は、初期特性の
1.03倍とほぼ変化しなかった。また、静電容量の減
少率も1.5%に過ぎず、リフロー試験後に金属ケース
や封口ゴムに膨れは認められなかった。
【0032】これに対し、修復化成を行った後、熱処理
を行わなかった比較例1においては、リフロー試験後の
ESR(等価直列抵抗)は、初期特性の1.19倍に増
大した。また、静電容量の減少率は5.0%と大きく、
リフロー試験後に金属ケースや封口ゴムに膨れが認めら
れた。
を行わなかった比較例1においては、リフロー試験後の
ESR(等価直列抵抗)は、初期特性の1.19倍に増
大した。また、静電容量の減少率は5.0%と大きく、
リフロー試験後に金属ケースや封口ゴムに膨れが認めら
れた。
【0033】このように、両電極箔をビニロンからなる
セパレータを介して巻回してコンデンサ素子を形成し、
修復化成を行った後、230℃で熱処理した場合には、
リフロー半田時の膨れ及び特性劣化を防止できることが
分かった。
セパレータを介して巻回してコンデンサ素子を形成し、
修復化成を行った後、230℃で熱処理した場合には、
リフロー半田時の膨れ及び特性劣化を防止できることが
分かった。
【0034】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、リ
フロー半田時の膨れ及び特性劣化の防止を可能とした、
表面実装用に好適な固体電解コンデンサとその製造方法
を提供することができる。
フロー半田時の膨れ及び特性劣化の防止を可能とした、
表面実装用に好適な固体電解コンデンサとその製造方法
を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る固体電解コンデンサの製造工程の
一例を示すフローチャート
一例を示すフローチャート
【図2】従来の固体電解コンデンサの製造工程の一例を
示すフローチャート
示すフローチャート
【図3】コンデンサ素子の巻回状態を示す斜視図
【図4】図3のコンデンサ素子の陽極箔を示す拡大断面
図
図
【図5】従来の製造方法によって得られた固体電解コン
デンサの一例を示す断面図
デンサの一例を示す断面図
1…陽極箔 2…陰極箔 3…セパレータ 4…酸化皮膜層 5…固体電解質層 6、7…電極引き出し手段 8…エッチングピット 10…コンデンサ素子 11…接続部 12…丸棒部 13…外部接続部(リード線) 14…樹脂層 15…金属ケース
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01G 9/00 H01G 9/05 C 9/24 A C B
Claims (4)
- 【請求項1】 電極引き出し手段が接続された両極電極
箔をセパレータを介して巻回すると共に、両極電極箔間
にポリエチレンジオキシチオフェンからなる固体電解質
層を形成したコンデンサ素子を備えた固体電解コンデン
サにおいて、前記電極引き出し手段が、銀メッキを施し
た外部接続部を有し、前記セパレータとしてビニロンか
らなるセパレータを用い、前記固体電解質層を形成する
前に、175〜300℃で少なくとも1分以上熱処理し
たことを特徴とする固体電解コンデンサ。 - 【請求項2】 前記ビニロンからなるセパレータが、繊
維径が3.0〜12.0μmのビニロン繊維を主体とす
る不織布により構成されていることを特徴とする請求項
1に記載の固体電解コンデンサ。 - 【請求項3】 外部接続部を有する電極引き出し手段が
接続された両極電極箔をセパレータと共に巻回してコン
デンサ素子を形成する工程と、前記コンデンサ素子に修
復化成を行う工程と、前記コンデンサ素子にエチレンジ
オキシチオフェンと酸化剤を含浸させてポリエチレンジ
オキシチオフェンからなる固体電解質層を形成する工程
を有する固体電解コンデンサの製造方法において、前記
電極引き出し手段の外部接続部に銀メッキを施し、前記
セパレータとしてビニロンからなるセパレータを用いる
と共に、前記修復化成を行う工程の後に、前記コンデン
サ素子を175〜300℃で少なくとも1分以上熱処理
する工程を備えたことを特徴とする固体電解コンデンサ
の製造方法。 - 【請求項4】 前記ビニロンからなるセパレータが、繊
維径が3.0〜12.0μmのビニロン繊維を主体とす
る不織布により構成されていることを特徴とする請求項
3に記載の固体電解コンデンサの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000091972A JP2001284179A (ja) | 2000-03-29 | 2000-03-29 | 固体電解コンデンサとその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000091972A JP2001284179A (ja) | 2000-03-29 | 2000-03-29 | 固体電解コンデンサとその製造方法 |
Publications (1)
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