JP2001272282A - 温度検出回路及び同回路を備えたディスク記憶装置 - Google Patents
温度検出回路及び同回路を備えたディスク記憶装置Info
- Publication number
- JP2001272282A JP2001272282A JP2000085101A JP2000085101A JP2001272282A JP 2001272282 A JP2001272282 A JP 2001272282A JP 2000085101 A JP2000085101 A JP 2000085101A JP 2000085101 A JP2000085101 A JP 2000085101A JP 2001272282 A JP2001272282 A JP 2001272282A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- resistor
- potential
- potential ratio
- ratio
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/14—Reducing influence of physical parameters, e.g. temperature change, moisture, dust
- G11B33/1406—Reducing the influence of the temperature
- G11B33/144—Reducing the influence of the temperature by detection, control, regulation of the temperature
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B2005/0002—Special dispositions or recording techniques
- G11B2005/0005—Arrangements, methods or circuits
- G11B2005/001—Controlling recording characteristics of record carriers or transducing characteristics of transducers by means not being part of their structure
Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Digital Magnetic Recording (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】電源電圧の分圧回路を２組用いるだけで、電源
電圧の変動に影響されずに高精度に且つ簡単に検出対象
温度が検出できるようにする。 【解決手段】電源電圧Ｖｃｃを、抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２と
が直列接続された電圧分圧回路２４１と、抵抗Ｒ３と感
温抵抗Ｒｓとが直列接続された電圧分圧回路２４２とに
よりそれぞれ分圧する。ＣＰＵ２５は、抵抗Ｒ１と抵抗
Ｒ２との接続点Ｐの電位Ｖ１、及び抵抗Ｒ３と感温抵抗
Ｒｓとの接続点Ｑの電位Ｖ２を、内蔵のＡＤＣ２５０に
より読み取る。ＣＰＵ２５は、読み取った電位Ｖ１，Ｖ
２の比ｒを算出し、その電位比ｒにより電位比−温度変
換テーブル２６０を参照することで、その電位比ｒに対
応する温度ｔを検出対象温度として取得する。
電圧の変動に影響されずに高精度に且つ簡単に検出対象
温度が検出できるようにする。 【解決手段】電源電圧Ｖｃｃを、抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２と
が直列接続された電圧分圧回路２４１と、抵抗Ｒ３と感
温抵抗Ｒｓとが直列接続された電圧分圧回路２４２とに
よりそれぞれ分圧する。ＣＰＵ２５は、抵抗Ｒ１と抵抗
Ｒ２との接続点Ｐの電位Ｖ１、及び抵抗Ｒ３と感温抵抗
Ｒｓとの接続点Ｑの電位Ｖ２を、内蔵のＡＤＣ２５０に
より読み取る。ＣＰＵ２５は、読み取った電位Ｖ１，Ｖ
２の比ｒを算出し、その電位比ｒにより電位比−温度変
換テーブル２６０を参照することで、その電位比ｒに対
応する温度ｔを検出対象温度として取得する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、感温抵抗素子を用
いた温度検出回路に係り、例えば磁気ディスク装置の環
境温度の高精度に測定するのに好適な温度検出回路及び
同回路を備えたディスク記憶装置に関する。
いた温度検出回路に係り、例えば磁気ディスク装置の環
境温度の高精度に測定するのに好適な温度検出回路及び
同回路を備えたディスク記憶装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】感温抵抗素子としてのサーミスタを用い
て環境温度を検出する回路として、例えば特開平７−５
５５８８号公報（以下、公知文献１と称する）に記載さ
れているような温度検出回路（温度検出器）が知られて
いる。この公知文献１記載の温度検出回路は、サーミス
タ素子と（当該サーミスタ素子の所定温度における抵抗
値を持つ）誤差補正用の基準抵抗のそれぞれに、定電流
源回路からスイッチで切り替えて電流を流し、アナログ
／デジタルコンバータ（ＡＤＣ）でその電圧を測定し、
補正することにより高精度に温度を検出するものであ
る。具体的には、所定温度２点で（つまり環境温度を変
えて）基準抵抗値との差をとり補正し、高精度を実現し
ている。
て環境温度を検出する回路として、例えば特開平７−５
５５８８号公報（以下、公知文献１と称する）に記載さ
れているような温度検出回路（温度検出器）が知られて
いる。この公知文献１記載の温度検出回路は、サーミス
タ素子と（当該サーミスタ素子の所定温度における抵抗
値を持つ）誤差補正用の基準抵抗のそれぞれに、定電流
源回路からスイッチで切り替えて電流を流し、アナログ
／デジタルコンバータ（ＡＤＣ）でその電圧を測定し、
補正することにより高精度に温度を検出するものであ
る。具体的には、所定温度２点で（つまり環境温度を変
えて）基準抵抗値との差をとり補正し、高精度を実現し
ている。
【０００３】このように、公知文献１記載の温度検出技
術は、サーミスタの温度係数等のばらつきに着目して、
そのばらつきを補正するものである。しかし、公知文献
１記載の温度検出技術では、必ず所定温度２点で補正値
を確認することが必要であり、また定電流源回路を必要
とする問題がある。しかも、近年サーミスタの精度は向
上しており（±１％以下、つまり最大で２％以下）、温
度検出における最大のばらつき要因は、サーミスタの温
度係数等のばらつきよりも装置電源より供給される電源
電圧の変動（最大１０％程度）となってきている。
術は、サーミスタの温度係数等のばらつきに着目して、
そのばらつきを補正するものである。しかし、公知文献
１記載の温度検出技術では、必ず所定温度２点で補正値
を確認することが必要であり、また定電流源回路を必要
とする問題がある。しかも、近年サーミスタの精度は向
上しており（±１％以下、つまり最大で２％以下）、温
度検出における最大のばらつき要因は、サーミスタの温
度係数等のばらつきよりも装置電源より供給される電源
電圧の変動（最大１０％程度）となってきている。
【０００４】一方、特開平５−２６７４１号公報（以
下、公知文献２と称する）には、電源電圧等の変動に影
響されずに精度良く温度を検出できる温度検出回路（温
度検出装置）が記載されている。この公知文献２記載の
温度検出技術は、第１の抵抗体とサーミスタからなる第
１の直列回路と、第２の抵抗体と所定の第１の温度のと
き上記サーミスタが示す抵抗値に等しい抵抗値を持つ第
３の抵抗体からなる第２の直列回路と、第４の抵抗体と
所定の第２の温度のとき上記サーミスタが示す抵抗値に
等しい抵抗値を持つ第５の抵抗体からなる第３の直列回
路とを並列に接続し電源回路に接続した温度検出回路を
備え、各直列回路の接続点の電位をスイッチで切り替え
てＡＤＣでデジタル値に変換し、その各デジタル値と上
記各抵抗体の抵抗値に基づきサーミスタの抵抗値を算出
することで、その抵抗値から温度を決定するものであ
る。
下、公知文献２と称する）には、電源電圧等の変動に影
響されずに精度良く温度を検出できる温度検出回路（温
度検出装置）が記載されている。この公知文献２記載の
温度検出技術は、第１の抵抗体とサーミスタからなる第
１の直列回路と、第２の抵抗体と所定の第１の温度のと
き上記サーミスタが示す抵抗値に等しい抵抗値を持つ第
３の抵抗体からなる第２の直列回路と、第４の抵抗体と
所定の第２の温度のとき上記サーミスタが示す抵抗値に
等しい抵抗値を持つ第５の抵抗体からなる第３の直列回
路とを並列に接続し電源回路に接続した温度検出回路を
備え、各直列回路の接続点の電位をスイッチで切り替え
てＡＤＣでデジタル値に変換し、その各デジタル値と上
記各抵抗体の抵抗値に基づきサーミスタの抵抗値を算出
することで、その抵抗値から温度を決定するものであ
る。
【０００５】しかし、公知文献２記載の温度検出技術で
は、第３、第４の抵抗体として、所定の第１、第２の温
度のときサーミスタが示す抵抗値に等しい抵抗値を持つ
抵抗体を選ばなければならず、また３組の直列回路（電
源電圧分圧回路）を必要とする。
は、第３、第４の抵抗体として、所定の第１、第２の温
度のときサーミスタが示す抵抗値に等しい抵抗値を持つ
抵抗体を選ばなければならず、また３組の直列回路（電
源電圧分圧回路）を必要とする。
【０００６】また、公知文献２記載の温度検出技術で
は、電源電圧の変動だけでなく、ＡＤＣのリファレンス
電圧の変動を問題にしている。しかし、ＡＤＣのリファ
レンス電圧の変動は電源電圧の変動に比べて十分小さ
く、例えば±１℃程度の温度検出精度が要求される温度
検出回路では、無視し得る。
は、電源電圧の変動だけでなく、ＡＤＣのリファレンス
電圧の変動を問題にしている。しかし、ＡＤＣのリファ
レンス電圧の変動は電源電圧の変動に比べて十分小さ
く、例えば±１℃程度の温度検出精度が要求される温度
検出回路では、無視し得る。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上記したように従来
は、例えば公知文献１記載の温度検出技術では、必ず所
定温度２点で補正値を確認することが必要であり、また
定電流源回路を必要とする問題があった。また、公知文
献２記載の温度検出技術では、電源電圧の分圧回路（直
列回路）を３組も必要とし、しかも当該回路に用いられ
る抵抗の抵抗値に制約があるという問題があった。
は、例えば公知文献１記載の温度検出技術では、必ず所
定温度２点で補正値を確認することが必要であり、また
定電流源回路を必要とする問題があった。また、公知文
献２記載の温度検出技術では、電源電圧の分圧回路（直
列回路）を３組も必要とし、しかも当該回路に用いられ
る抵抗の抵抗値に制約があるという問題があった。
【０００８】本発明は上記事情を考慮してなされたもの
でその目的は、電源電圧の分圧回路を２組用いるだけ
で、電源電圧の変動に影響されずに高精度に且つ簡単に
検出対象温度が検出できる温度検出回路及び同回路を備
えたディスク記憶装置を提供することにある。
でその目的は、電源電圧の分圧回路を２組用いるだけ
で、電源電圧の変動に影響されずに高精度に且つ簡単に
検出対象温度が検出できる温度検出回路及び同回路を備
えたディスク記憶装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の温度検出回路
は、電源電圧を分圧するための、第１の抵抗体と第２の
抵抗体とが直列接続された第１の電圧分圧回路と、上記
電源電圧を分圧するための、第３の抵抗体と感温抵抗素
子とが直列接続された第２の電圧分圧回路と、上記第１
の抵抗体と上記第２の抵抗体との接続点の第１の電位及
び上記第３の抵抗体と上記感温抵抗素子との接続点の第
２の電位の読み取りが可能なＡＤＣ（アナログ／デジタ
ルコンバータ）と、このＡＤＣにより読み取られた第１
の電位と第２の電位との電位比ｒを算出する電位比算出
手段と、この電位比算出手段により算出された電位比ｒ
と所定の電位比−温度特性とから、上記算出された電位
比ｒに対応する温度を検出温度として取得する電位比／
温度変換手段とを備えたことを特徴とする。
は、電源電圧を分圧するための、第１の抵抗体と第２の
抵抗体とが直列接続された第１の電圧分圧回路と、上記
電源電圧を分圧するための、第３の抵抗体と感温抵抗素
子とが直列接続された第２の電圧分圧回路と、上記第１
の抵抗体と上記第２の抵抗体との接続点の第１の電位及
び上記第３の抵抗体と上記感温抵抗素子との接続点の第
２の電位の読み取りが可能なＡＤＣ（アナログ／デジタ
ルコンバータ）と、このＡＤＣにより読み取られた第１
の電位と第２の電位との電位比ｒを算出する電位比算出
手段と、この電位比算出手段により算出された電位比ｒ
と所定の電位比−温度特性とから、上記算出された電位
比ｒに対応する温度を検出温度として取得する電位比／
温度変換手段とを備えたことを特徴とする。
【００１０】上記の構成において、ＡＤＣにより読み取
られた第１の電位と第２の電位との電位比ｒは、第１乃
至第３の抵抗体の（温度に依存しない）抵抗値と、感温
抵抗素子の（温度に依存する）抵抗値とによって決定さ
れる。したがって電位比−温度特性は、予め求めておく
ことが可能である。また、上記電位比ｒは、電源電圧要
素を含まないことから、電源電圧Ｖｃｃの変動の影響を
受けない測定値となる。
られた第１の電位と第２の電位との電位比ｒは、第１乃
至第３の抵抗体の（温度に依存しない）抵抗値と、感温
抵抗素子の（温度に依存する）抵抗値とによって決定さ
れる。したがって電位比−温度特性は、予め求めておく
ことが可能である。また、上記電位比ｒは、電源電圧要
素を含まないことから、電源電圧Ｖｃｃの変動の影響を
受けない測定値となる。
【００１１】よって、上記電位比ｒと所定の電位比−温
度特性とから、当該電位比ｒに対応する温度を、電源電
圧Ｖｃｃの変動の影響を受けない高精度の検出温度とし
て取得することが可能となる。
度特性とから、当該電位比ｒに対応する温度を、電源電
圧Ｖｃｃの変動の影響を受けない高精度の検出温度とし
て取得することが可能となる。
【００１２】ここで、電位比−温度特性をテーブルデー
タ形式で表す電位比−温度変換テーブルを不揮発性記憶
手段に予め格納しておくならば、上記電位比ｒにより当
該電位比−温度変換テーブルを参照するだけで、検出対
象温度を簡単に取得できる。
タ形式で表す電位比−温度変換テーブルを不揮発性記憶
手段に予め格納しておくならば、上記電位比ｒにより当
該電位比−温度変換テーブルを参照するだけで、検出対
象温度を簡単に取得できる。
【００１３】以上の構成の温度検出回路をディスク記憶
装置に持たせるならば、当該温度検出回路により高精度
に検出される温度をもとに、ディスク装置内で温度依存
性のある種々の制御対象に対する制御条件を、検出した
温度に応じて最適なものに切り替えることができる。
装置に持たせるならば、当該温度検出回路により高精度
に検出される温度をもとに、ディスク装置内で温度依存
性のある種々の制御対象に対する制御条件を、検出した
温度に応じて最適なものに切り替えることができる。
【００１４】また、上記温度検出回路をディスク記憶装
置に持たせた構成では、上記ＡＤＣとして、当該ディス
ク記憶装置全体を制御するＣＰＵに内蔵のＡＤＣを用い
るとよい。更に、このＣＰＵの処理機能を利用して、当
該ＣＰＵにより上記電位比算出手段と電位比／温度変換
手段の機能を実現するとよい。また、ディスク記憶装置
は、制御プログラム等を格納する不揮発性メモリ等の不
揮発性記憶手段を備えているため、この不揮発性記憶手
段を、上記電位比−温度変換テーブルを格納する不揮発
性記憶手段として用いるとよい。
置に持たせた構成では、上記ＡＤＣとして、当該ディス
ク記憶装置全体を制御するＣＰＵに内蔵のＡＤＣを用い
るとよい。更に、このＣＰＵの処理機能を利用して、当
該ＣＰＵにより上記電位比算出手段と電位比／温度変換
手段の機能を実現するとよい。また、ディスク記憶装置
は、制御プログラム等を格納する不揮発性メモリ等の不
揮発性記憶手段を備えているため、この不揮発性記憶手
段を、上記電位比−温度変換テーブルを格納する不揮発
性記憶手段として用いるとよい。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、本発明を磁気ディスク装置
に適用した実施の形態につき図面を参照して説明する。
に適用した実施の形態につき図面を参照して説明する。
【００１６】図１は本発明の一実施形態に係る磁気ディ
スク装置の構成を示すブロック図である。図１の磁気デ
ィスク装置（ＨＤＤ）において、１１はデータが磁気記
録される記録媒体としてのディスク（磁気ディスク）、
１２はディスク１１へのデータ書き込み（データ記録）
及びディスク１１からのデータ読み出し（データ再生）
に用いられるヘッド（磁気ヘッド）である。ヘッド１２
は、ディスク１１の各記録面に対応してそれぞれ設けら
れているものとする。なお、図１の構成では、ディスク
１１が２枚積層配置されたＨＤＤを想定しているが、デ
ィスク１１が３枚以上積層配置されたＨＤＤ、或いは単
一枚のディスク１１を備えたＨＤＤであっても構わな
い。
スク装置の構成を示すブロック図である。図１の磁気デ
ィスク装置（ＨＤＤ）において、１１はデータが磁気記
録される記録媒体としてのディスク（磁気ディスク）、
１２はディスク１１へのデータ書き込み（データ記録）
及びディスク１１からのデータ読み出し（データ再生）
に用いられるヘッド（磁気ヘッド）である。ヘッド１２
は、ディスク１１の各記録面に対応してそれぞれ設けら
れているものとする。なお、図１の構成では、ディスク
１１が２枚積層配置されたＨＤＤを想定しているが、デ
ィスク１１が３枚以上積層配置されたＨＤＤ、或いは単
一枚のディスク１１を備えたＨＤＤであっても構わな
い。
【００１７】ディスク１１の記録面には、同心円状の多
数のトラック（図示せず）が形成されている。各トラッ
クには、ヘッド１２のシーク・位置決め等に用いられる
サーボ情報が記録されたサーボ領域（図示せず）が等間
隔で配置されている。このサーボ領域間には複数の記録
単位としてのセクタ（データセクタ）が配置されてい
る。各サーボ領域は、ディスク１１上では中心から各ト
ラックを渡って放射状に等間隔で配置されている。
数のトラック（図示せず）が形成されている。各トラッ
クには、ヘッド１２のシーク・位置決め等に用いられる
サーボ情報が記録されたサーボ領域（図示せず）が等間
隔で配置されている。このサーボ領域間には複数の記録
単位としてのセクタ（データセクタ）が配置されてい
る。各サーボ領域は、ディスク１１上では中心から各ト
ラックを渡って放射状に等間隔で配置されている。
【００１８】ディスク１１はスピンドルモータ（以下、
ＳＰＭと称する）１３により高速に回転する。ヘッド１
２はヘッド移動機構としてのヘッドアクチュエータ（ロ
ータリ型ヘッドアクチュエータ）１５に取り付けられて
おり、当該アクチュエータ１５の回動（角度回転）に従
ってディスク１１の半径方向に移動する。これにより、
ヘッド１２は、目標トラック上にシーク・位置決めされ
るようになっている。ヘッドアクチュエータ１５は、当
該アクチュエータ１５の駆動源となるボイスコイルモー
タ（以下、ＶＣＭと称する）１４を有しており、当該Ｖ
ＣＭ１４により駆動される。
ＳＰＭと称する）１３により高速に回転する。ヘッド１
２はヘッド移動機構としてのヘッドアクチュエータ（ロ
ータリ型ヘッドアクチュエータ）１５に取り付けられて
おり、当該アクチュエータ１５の回動（角度回転）に従
ってディスク１１の半径方向に移動する。これにより、
ヘッド１２は、目標トラック上にシーク・位置決めされ
るようになっている。ヘッドアクチュエータ１５は、当
該アクチュエータ１５の駆動源となるボイスコイルモー
タ（以下、ＶＣＭと称する）１４を有しており、当該Ｖ
ＣＭ１４により駆動される。
【００１９】ＳＰＭ１３は、ＳＰＭドライバ（ＳＰＭ駆
動回路）１６から供給される操作電流（ＳＰＭ電流）に
より駆動される。ＶＣＭ１４を有するヘッドアクチュエ
ータ１５は、ＶＣＭドライバ（ヘッドアクチュエータ駆
動回路）１７から供給される操作電流（ＶＣＭ電流）に
より駆動される。本実施形態において、ＳＰＭドライバ
１６及びＶＣＭドライバ１７は、１チップに集積回路化
されたドライバＩＣ１８によって実現されている。ＳＰ
Ｍドライバ１６からＳＰＭ１３に、ＶＣＭドライバ１７
からＶＣＭ１４に、それぞれ供給される操作電流を決定
するための値（操作量）は、ＣＰＵ２５により決定され
る。
動回路）１６から供給される操作電流（ＳＰＭ電流）に
より駆動される。ＶＣＭ１４を有するヘッドアクチュエ
ータ１５は、ＶＣＭドライバ（ヘッドアクチュエータ駆
動回路）１７から供給される操作電流（ＶＣＭ電流）に
より駆動される。本実施形態において、ＳＰＭドライバ
１６及びＶＣＭドライバ１７は、１チップに集積回路化
されたドライバＩＣ１８によって実現されている。ＳＰ
Ｍドライバ１６からＳＰＭ１３に、ＶＣＭドライバ１７
からＶＣＭ１４に、それぞれ供給される操作電流を決定
するための値（操作量）は、ＣＰＵ２５により決定され
る。
【００２０】ヘッド１２は、目標トラック上にシーク・
位置決めされた後、ディスク１１の回転動作により、そ
のトラック上を走査する。またヘッド１２は、走査によ
りその上に等間隔を保って配置されたサーボ領域のサー
ボ情報を順に読み込む。またヘッド１２は、走査により
目標セクタに対するデータの読み書きを行う。
位置決めされた後、ディスク１１の回転動作により、そ
のトラック上を走査する。またヘッド１２は、走査によ
りその上に等間隔を保って配置されたサーボ領域のサー
ボ情報を順に読み込む。またヘッド１２は、走査により
目標セクタに対するデータの読み書きを行う。
【００２１】ヘッド１２は例えばフレキシブルプリント
配線板（ＦＰＣ）に実装されたヘッドＩＣ（ヘッドアン
プ回路）１９と接続されている。ヘッドＩＣ１９は、
（ＣＰＵ２５からの制御に従う）ヘッド１２の切り替
え、ヘッド１２との間のリード／ライト信号の入出力等
を司る。ヘッドＩＣ１９は、ヘッド１２で読み取られた
アナログ出力（ヘッド１２のリード信号）を増幅すると
共に、リード／ライトＩＣ（リード／ライト回路）２０
から送られるライトデータに所定の信号処理を施してこ
れをヘッド１２に送る。
配線板（ＦＰＣ）に実装されたヘッドＩＣ（ヘッドアン
プ回路）１９と接続されている。ヘッドＩＣ１９は、
（ＣＰＵ２５からの制御に従う）ヘッド１２の切り替
え、ヘッド１２との間のリード／ライト信号の入出力等
を司る。ヘッドＩＣ１９は、ヘッド１２で読み取られた
アナログ出力（ヘッド１２のリード信号）を増幅すると
共に、リード／ライトＩＣ（リード／ライト回路）２０
から送られるライトデータに所定の信号処理を施してこ
れをヘッド１２に送る。
【００２２】リード／ライトＩＣ２０は、ヘッド１２に
よりディスク１１から読み出されてヘッドＩＣ１９で増
幅されたアナログ出力（ヘッド１２のリード信号）を一
定の電圧に増幅するＡＧＣ（自動利得制御）機能と、こ
のＡＧＣ機能により増幅されたリード信号から例えばＮ
ＲＺコードのデータに復号するのに必要な信号処理を行
うデコード機能（リードチャネル）と、ディスク１１へ
のデータ記録に必要な信号処理を行うエンコード機能
（ライトチャネル）と、上記リード信号からのサーボ情
報抽出を可能とするために当該リード信号をパルス化し
てパルス化リードデータとして出力するパルス化機能
と、次に述べるサーボ処理回路２１からのタイミング信
号（バーストタイミング信号）に応じてサーボ情報中の
バーストデータを抽出する機能とを有している。このバ
ーストデータはＣＰＵ２５に送られて、ヘッド１２を目
標トラックの目標位置に位置決めするための位置決め制
御に用いられる。
よりディスク１１から読み出されてヘッドＩＣ１９で増
幅されたアナログ出力（ヘッド１２のリード信号）を一
定の電圧に増幅するＡＧＣ（自動利得制御）機能と、こ
のＡＧＣ機能により増幅されたリード信号から例えばＮ
ＲＺコードのデータに復号するのに必要な信号処理を行
うデコード機能（リードチャネル）と、ディスク１１へ
のデータ記録に必要な信号処理を行うエンコード機能
（ライトチャネル）と、上記リード信号からのサーボ情
報抽出を可能とするために当該リード信号をパルス化し
てパルス化リードデータとして出力するパルス化機能
と、次に述べるサーボ処理回路２１からのタイミング信
号（バーストタイミング信号）に応じてサーボ情報中の
バーストデータを抽出する機能とを有している。このバ
ーストデータはＣＰＵ２５に送られて、ヘッド１２を目
標トラックの目標位置に位置決めするための位置決め制
御に用いられる。
【００２３】サーボ処理回路２１は、リード／ライトＩ
Ｃ２０から出力されるリードパルスからサーボ情報を取
得するための、バーストタイミング信号を含む各種タイ
ミング信号を生成する機能と、サーボ情報中のシリンダ
コードを抽出する機能とを有している。このシリンダコ
ードは、ＣＰＵ２５に送られて、ヘッド１２を目標トラ
ックに移動するシーク制御に用いられる。
Ｃ２０から出力されるリードパルスからサーボ情報を取
得するための、バーストタイミング信号を含む各種タイ
ミング信号を生成する機能と、サーボ情報中のシリンダ
コードを抽出する機能とを有している。このシリンダコ
ードは、ＣＰＵ２５に送られて、ヘッド１２を目標トラ
ックに移動するシーク制御に用いられる。
【００２４】ディスクコントローラ２２は、ＨＤＤを利
用するホストシステム（以下、ホストと称する）と接続
されている。ディスクコントローラ２２は、このホスト
との間のコマンド（ライトコマンド、リードコマンド
等）、データの通信を制御するインタフェース制御機能
と、ディスク１ｌとの間のデータ転送を制御するディス
ク制御機能と、次に述べるバッファメモリ２３を制御す
るバッファ制御機能とを有する。
用するホストシステム（以下、ホストと称する）と接続
されている。ディスクコントローラ２２は、このホスト
との間のコマンド（ライトコマンド、リードコマンド
等）、データの通信を制御するインタフェース制御機能
と、ディスク１ｌとの間のデータ転送を制御するディス
ク制御機能と、次に述べるバッファメモリ２３を制御す
るバッファ制御機能とを有する。
【００２５】バッファメモリ２３は、主として、ホスト
から転送されてディスク１ｌに書き込むべきデータ（ラ
イトデータ）を一時格納するためのライトキャッシュ
と、ディスク１ｌから読み出されてホストに転送される
データ（リードデータ）を一時格納するためのリードキ
ャッシュとして用いられる。バッファメモリ２３は例え
ばＲＡＭ（Random Access Memory）を用いて構成され
る。
から転送されてディスク１ｌに書き込むべきデータ（ラ
イトデータ）を一時格納するためのライトキャッシュ
と、ディスク１ｌから読み出されてホストに転送される
データ（リードデータ）を一時格納するためのリードキ
ャッシュとして用いられる。バッファメモリ２３は例え
ばＲＡＭ（Random Access Memory）を用いて構成され
る。
【００２６】電圧検出回路２４は、装置の電源電圧を分
圧する２組の電圧分圧回路２４１，２４２を、第１の電
源端と第２の電源端との間に並列接続して構成される。
この例では、第１の電源端は電源電圧Ｖｃｃの電源端を
なし、第２の電源端は接地端をなしている。なお、第１
の電源端が正電源電圧端をなし、第２の電源端が負電源
電圧端をなす構成であっても構わない。
圧する２組の電圧分圧回路２４１，２４２を、第１の電
源端と第２の電源端との間に並列接続して構成される。
この例では、第１の電源端は電源電圧Ｖｃｃの電源端を
なし、第２の電源端は接地端をなしている。なお、第１
の電源端が正電源電圧端をなし、第２の電源端が負電源
電圧端をなす構成であっても構わない。
【００２７】電圧分圧回路２４１は、一端が第１の電源
端に接続される抵抗Ｒ１と、一端が第２の電源端に接続
される抵抗Ｒ２との直列回路からなる。電圧分圧回路２
４２は、一端が第１の電源端に接続される抵抗Ｒ３と、
一端が第２の電源端に接続されるサーミスタ等の感温抵
抗（感温抵抗素子）Ｒｓとの直列回路からなる。ここで
は便宜的に、抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒｓの抵抗値を当
該抵抗の参照符号Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒｓで表すものと
する。但し、抵抗値Ｒｓは周知のように温度によって変
化する。また、電圧分圧回路２４１内の抵抗Ｒ１，Ｒ２
の共通接続点Ｐの電位をＶ１、電圧分圧回路２４２内の
抵抗Ｒ３，Ｒｓの共通接続点Ｑの電位をＶ２で表す。
端に接続される抵抗Ｒ１と、一端が第２の電源端に接続
される抵抗Ｒ２との直列回路からなる。電圧分圧回路２
４２は、一端が第１の電源端に接続される抵抗Ｒ３と、
一端が第２の電源端に接続されるサーミスタ等の感温抵
抗（感温抵抗素子）Ｒｓとの直列回路からなる。ここで
は便宜的に、抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒｓの抵抗値を当
該抵抗の参照符号Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒｓで表すものと
する。但し、抵抗値Ｒｓは周知のように温度によって変
化する。また、電圧分圧回路２４１内の抵抗Ｒ１，Ｒ２
の共通接続点Ｐの電位をＶ１、電圧分圧回路２４２内の
抵抗Ｒ３，Ｒｓの共通接続点Ｑの電位をＶ２で表す。
【００２８】ＣＰＵ２５は、制御プログラムに従うＨＤ
Ｄ全体の制御、例えばサーボ処理回路２１により抽出さ
れたシリンダコード及びリード／ライトＩＣ２０により
抽出されたバーストデータに基づくヘッド１２のシーク
・位置決め制御、ホストからのリード／ライトコマンド
に従うディスクコントローラ２２によるディスクアクセ
ス制御（リード／ライトアクセス制御）等を実行する。
Ｄ全体の制御、例えばサーボ処理回路２１により抽出さ
れたシリンダコード及びリード／ライトＩＣ２０により
抽出されたバーストデータに基づくヘッド１２のシーク
・位置決め制御、ホストからのリード／ライトコマンド
に従うディスクコントローラ２２によるディスクアクセ
ス制御（リード／ライトアクセス制御）等を実行する。
【００２９】ＣＰＵ２５はまた、ＡＤＣ（アナログ／デ
ジタルコンバータ）２５０を内蔵しており、電圧分圧回
路２４１，２４２の接続点Ｐ，Ｑの電位Ｖ１，Ｖ２を読
み込んでデジタル値に変換し、その電位比Ｖ２／Ｖ１か
ら後述する電位比−温度変換テーブル２６０を参照して
温度に変換する温度検出（測定）処理を実行する。ここ
で取得された温度は、ヘッド１２の書き込みヘッドに供
給する書き込み電流量を決定するのに用いられる。
ジタルコンバータ）２５０を内蔵しており、電圧分圧回
路２４１，２４２の接続点Ｐ，Ｑの電位Ｖ１，Ｖ２を読
み込んでデジタル値に変換し、その電位比Ｖ２／Ｖ１か
ら後述する電位比−温度変換テーブル２６０を参照して
温度に変換する温度検出（測定）処理を実行する。ここ
で取得された温度は、ヘッド１２の書き込みヘッドに供
給する書き込み電流量を決定するのに用いられる。
【００３０】ＣＰＵ２５には、上記制御プログラムが予
め格納されている書き換え可能な不揮発性メモリとして
のフラッシュＲＯＭ（Read Only Memory）２６と、当該
ＣＰＵ２５のワーク領域等を提供するＲＡＭ（Random A
ccess Memory）２７とが接続されている。なお、フラッ
シュＲＯＭ（以下、ＦＲＯＭと称する）２６及びＲＡＭ
２７をＣＰＵ２５に内蔵させることも、またＦＲＯＭ２
６に代えてＲＯＭを用いることも可能である。
め格納されている書き換え可能な不揮発性メモリとして
のフラッシュＲＯＭ（Read Only Memory）２６と、当該
ＣＰＵ２５のワーク領域等を提供するＲＡＭ（Random A
ccess Memory）２７とが接続されている。なお、フラッ
シュＲＯＭ（以下、ＦＲＯＭと称する）２６及びＲＡＭ
２７をＣＰＵ２５に内蔵させることも、またＦＲＯＭ２
６に代えてＲＯＭを用いることも可能である。
【００３１】ＦＲＯＭ２６には、種々の電位比Ｖ２／Ｖ
１と温度ｔとの対応関係を示す図２に示すデータ構造の
テーブル（電位比−温度変換テーブル）２６０が予め格
納されている。ここでは、連続するエントリ中の温度ｔ
0，ｔ1，ｔ2，ｔ3…は１℃刻みとなっている。
１と温度ｔとの対応関係を示す図２に示すデータ構造の
テーブル（電位比−温度変換テーブル）２６０が予め格
納されている。ここでは、連続するエントリ中の温度ｔ
0，ｔ1，ｔ2，ｔ3…は１℃刻みとなっている。
【００３２】次に、図１の構成の磁気ディスク装置にお
ける、電圧検出回路２４を利用した温度検出（測定）動
作について説明する。まず、装置の電源電圧Ｖｃｃは、
電圧検出回路２４内の電圧分圧回路２４１を構成する抵
抗Ｒ１と抵抗Ｒ２とにより、その抵抗値Ｒ１とＲ２の比
で分圧される。したがって、抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２との接
続点Ｐの電位Ｖ１は、 Ｖ１＝｛Ｒ２／（Ｒ１＋Ｒ２）｝・Ｖｃｃ …（１） となる。
ける、電圧検出回路２４を利用した温度検出（測定）動
作について説明する。まず、装置の電源電圧Ｖｃｃは、
電圧検出回路２４内の電圧分圧回路２４１を構成する抵
抗Ｒ１と抵抗Ｒ２とにより、その抵抗値Ｒ１とＲ２の比
で分圧される。したがって、抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２との接
続点Ｐの電位Ｖ１は、 Ｖ１＝｛Ｒ２／（Ｒ１＋Ｒ２）｝・Ｖｃｃ …（１） となる。
【００３３】また、電源電圧Ｖｃｃは、電圧検出回路２
４内の電圧分圧回路２４２を構成する抵抗Ｒ３と感温抵
抗Ｒｓとによっても、その抵抗値Ｒ１と（そのときの温
度で決まる抵抗値）Ｒｓの比で分圧される。したがっ
て、抵抗Ｒ３と感温抵抗Ｒｓとの接続点Ｑの電位Ｖ２
は、 Ｖ２＝｛Ｒｓ／（Ｒ３＋Ｒｓ）｝・Ｖｃｃ …（２） となる。
４内の電圧分圧回路２４２を構成する抵抗Ｒ３と感温抵
抗Ｒｓとによっても、その抵抗値Ｒ１と（そのときの温
度で決まる抵抗値）Ｒｓの比で分圧される。したがっ
て、抵抗Ｒ３と感温抵抗Ｒｓとの接続点Ｑの電位Ｖ２
は、 Ｖ２＝｛Ｒｓ／（Ｒ３＋Ｒｓ）｝・Ｖｃｃ …（２） となる。
【００３４】ＣＰＵ２５は、装置の環境温度の測定が必
要な場合、上記接続点Ｐ，Ｑの電位Ｖ１，Ｖ２を内蔵の
ＡＤＣ２５０により読み取り、デジタル値に変換する。
要な場合、上記接続点Ｐ，Ｑの電位Ｖ１，Ｖ２を内蔵の
ＡＤＣ２５０により読み取り、デジタル値に変換する。
【００３５】次にＣＰＵ２５は、ＡＤＣ２５０を用いて
読み取った（測定した）接続点Ｐ，Ｑの電位Ｖ１，Ｖ２
の比（電位比）Ｖ２／Ｖ１を算出する。この電位比Ｖ２
／Ｖ１は、上記（１），（２）式から明らかなように、
次式 Ｖ２／Ｖ１＝｛Ｒｓ／（Ｒ３＋Ｒｓ）｝／｛Ｒ２／（Ｒ１＋Ｒ２）｝ ＝｛Ｒｓ（Ｒ１＋Ｒ２）｝／｛Ｒ２（Ｒ３＋Ｒｓ）｝ …（３） で表される。ここでは、抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３の抵抗値
に特に制約はない。
読み取った（測定した）接続点Ｐ，Ｑの電位Ｖ１，Ｖ２
の比（電位比）Ｖ２／Ｖ１を算出する。この電位比Ｖ２
／Ｖ１は、上記（１），（２）式から明らかなように、
次式 Ｖ２／Ｖ１＝｛Ｒｓ／（Ｒ３＋Ｒｓ）｝／｛Ｒ２／（Ｒ１＋Ｒ２）｝ ＝｛Ｒｓ（Ｒ１＋Ｒ２）｝／｛Ｒ２（Ｒ３＋Ｒｓ）｝ …（３） で表される。ここでは、抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３の抵抗値
に特に制約はない。
【００３６】上記（３）式から明らかなように、右辺に
は、電源電圧Ｖｃｃの要素は含まれていない。つまり、
電位比Ｖ２／Ｖ１は電源電圧Ｖｃｃの変動の影響を受け
ない測定値となる。また、右辺中には感温抵抗Ｒｓの抵
抗値Ｒｓが含まれている。この抵抗値Ｒｓは温度によっ
て一意に決まる。したがって、電位比Ｖ２／Ｖ１（＝
ｒ）は温度ｔによって一意に決まる測定値であるといえ
る。
は、電源電圧Ｖｃｃの要素は含まれていない。つまり、
電位比Ｖ２／Ｖ１は電源電圧Ｖｃｃの変動の影響を受け
ない測定値となる。また、右辺中には感温抵抗Ｒｓの抵
抗値Ｒｓが含まれている。この抵抗値Ｒｓは温度によっ
て一意に決まる。したがって、電位比Ｖ２／Ｖ１（＝
ｒ）は温度ｔによって一意に決まる測定値であるといえ
る。
【００３７】そこで本実施形態では、上記（３）式と、
感温抵抗Ｒｓの温度−抵抗値特性とから、例えば１℃刻
みの各温度ｔ（＝ｔ0，ｔ1，ｔ2，ｔ3…）毎の電位比ｒ
（＝ｒ0，ｒ1，ｒ2，ｒ3…）を予め算出して、図２に示
すデータ構造の電位比−温度変換テーブル２６０を作成
し、磁気ディスク装置の製造段階でＦＲＯＭ２６に格納
するようにしている。
感温抵抗Ｒｓの温度−抵抗値特性とから、例えば１℃刻
みの各温度ｔ（＝ｔ0，ｔ1，ｔ2，ｔ3…）毎の電位比ｒ
（＝ｒ0，ｒ1，ｒ2，ｒ3…）を予め算出して、図２に示
すデータ構造の電位比−温度変換テーブル２６０を作成
し、磁気ディスク装置の製造段階でＦＲＯＭ２６に格納
するようにしている。
【００３８】さてＣＰＵ２５は、ＡＤＣ２５０を用いて
読み取った接続点Ｐ，Ｑの電位Ｖ１，Ｖ２の比ｒ（＝Ｖ
２／Ｖ１）を算出すると、その電位比ｒにより電位比−
温度変換テーブル２６０を参照し、その電位比ｒに相当
する電位比ｒと温度ｔのエントリを探す。ここでは、電
位比ｒがｒi≦ｒ＜ｒi+1の範囲内にあるときは、ｒiと
対をなす温度ｔiが電位比ｒ（＝Ｖ２／Ｖ１）に対応す
る温度であるとして選択される。
読み取った接続点Ｐ，Ｑの電位Ｖ１，Ｖ２の比ｒ（＝Ｖ
２／Ｖ１）を算出すると、その電位比ｒにより電位比−
温度変換テーブル２６０を参照し、その電位比ｒに相当
する電位比ｒと温度ｔのエントリを探す。ここでは、電
位比ｒがｒi≦ｒ＜ｒi+1の範囲内にあるときは、ｒiと
対をなす温度ｔiが電位比ｒ（＝Ｖ２／Ｖ１）に対応す
る温度であるとして選択される。
【００３９】このように本実施形態においては、２つの
電圧分圧回路２４１，２４２の接続点Ｐ，Ｑの電位Ｖ
１，Ｖ２の比ｒ（＝Ｖ２／Ｖ１）を算出して、その電位
比ｒで電位比−温度変換テーブル２６０を参照するだけ
で、電源電圧Ｖｃｃの変動の影響を受けない検出対象温
度を高精度に測定（取得）することができる。
電圧分圧回路２４１，２４２の接続点Ｐ，Ｑの電位Ｖ
１，Ｖ２の比ｒ（＝Ｖ２／Ｖ１）を算出して、その電位
比ｒで電位比−温度変換テーブル２６０を参照するだけ
で、電源電圧Ｖｃｃの変動の影響を受けない検出対象温
度を高精度に測定（取得）することができる。
【００４０】これによりＣＰＵ２５は、磁気ディスク装
置内で温度依存性のある種々の制御対象に対する制御条
件を、測定した温度に応じて最適なものに切り替えるこ
とができる。例えば、磁気ディスク装置では、装置内温
度の変化、特にディスク１１の温度変化に伴って書き直
し性能（オーバーライト特性）が変化する。このよう
に、磁気ディスク装置のオーバーライト特性には温度特
性があるため、装置の温度が変化すると、予め設定した
（ヘッド１２中の書き込みヘッドに対する）書き込み電
流値は最適値とはならなくなる。そこで、例えば温度に
対する最適書き込み電流値の対応テーブル（図示せず）
をＦＲＯＭ２６内に用意しておいて、測定した温度に対
応する最適書き込み電流値を当該テーブルから取得し、
ヘッドＩＣ１９をコントロールすることで、オーバーラ
イト特性に起因するピークシフトの悪化を抑制すること
が可能となる。このような目的では、感温抵抗Ｒｓはデ
ィスク１１の近傍に配置するとよい。
置内で温度依存性のある種々の制御対象に対する制御条
件を、測定した温度に応じて最適なものに切り替えるこ
とができる。例えば、磁気ディスク装置では、装置内温
度の変化、特にディスク１１の温度変化に伴って書き直
し性能（オーバーライト特性）が変化する。このよう
に、磁気ディスク装置のオーバーライト特性には温度特
性があるため、装置の温度が変化すると、予め設定した
（ヘッド１２中の書き込みヘッドに対する）書き込み電
流値は最適値とはならなくなる。そこで、例えば温度に
対する最適書き込み電流値の対応テーブル（図示せず）
をＦＲＯＭ２６内に用意しておいて、測定した温度に対
応する最適書き込み電流値を当該テーブルから取得し、
ヘッドＩＣ１９をコントロールすることで、オーバーラ
イト特性に起因するピークシフトの悪化を抑制すること
が可能となる。このような目的では、感温抵抗Ｒｓはデ
ィスク１１の近傍に配置するとよい。
【００４１】なお、本実施形態では、電位比−温度変換
テーブル２６０における温度の刻み幅を１℃としたが、
これに限るものではなく、要求される温度測定精度に応
じて、例えば０．５℃刻み、２℃刻みなど任意に変更可
能である。
テーブル２６０における温度の刻み幅を１℃としたが、
これに限るものではなく、要求される温度測定精度に応
じて、例えば０．５℃刻み、２℃刻みなど任意に変更可
能である。
【００４２】また、本実施形態では、電圧分圧回路２４
２中の抵抗Ｒ３が第１の電源端側に接続されて、感温抵
抗Ｒｓが第２の電源端側に接続されるものとしたが、そ
の逆であっても構わない。
２中の抵抗Ｒ３が第１の電源端側に接続されて、感温抵
抗Ｒｓが第２の電源端側に接続されるものとしたが、そ
の逆であっても構わない。
【００４３】この場合、感温抵抗Ｒｓと抵抗Ｒ３との接
続点Ｑの電位Ｖ２は、 Ｖ２＝｛Ｒ３／（Ｒ３＋Ｒｓ）｝・Ｖｃｃ …（４） となる。
続点Ｑの電位Ｖ２は、 Ｖ２＝｛Ｒ３／（Ｒ３＋Ｒｓ）｝・Ｖｃｃ …（４） となる。
【００４４】したがって、電位比Ｖ２／Ｖ１は、上記
（１），（４）式から明らかなように、次式 Ｖ２／Ｖ１＝｛Ｒ３／（Ｒ３＋Ｒｓ）｝／｛Ｒ２／（Ｒ１＋Ｒ２）｝ ＝｛Ｒ３（Ｒ１＋Ｒ２）｝／｛Ｒ２（Ｒ３＋Ｒｓ）｝ …（５） で表される。
（１），（４）式から明らかなように、次式 Ｖ２／Ｖ１＝｛Ｒ３／（Ｒ３＋Ｒｓ）｝／｛Ｒ２／（Ｒ１＋Ｒ２）｝ ＝｛Ｒ３（Ｒ１＋Ｒ２）｝／｛Ｒ２（Ｒ３＋Ｒｓ）｝ …（５） で表される。
【００４５】また、以上の実施形態では、本発明を磁気
ディスク装置に適用した場合について説明したが、本発
明は、光磁気ディスク装置など、磁気ディスク装置以外
のディスク記憶装置にも同様に適用できる。更に本発明
は、ディスク記憶装置以外にも、温度検出が必要な機器
全てに適用可能である。
ディスク装置に適用した場合について説明したが、本発
明は、光磁気ディスク装置など、磁気ディスク装置以外
のディスク記憶装置にも同様に適用できる。更に本発明
は、ディスク記憶装置以外にも、温度検出が必要な機器
全てに適用可能である。
【００４６】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、２
つの抵抗体が直列接続された電源電圧の分圧回路と、抵
抗体と感温抵抗素子とが直列接続された電源電圧の分圧
回路との２組の電圧分圧回路を用いて、両回路のそれぞ
れの接続点の電位の比率を求めるだけで、その電位比率
から、検出対象温度を電源電圧の変動に影響されずに高
精度に且つ簡単に検出できる。
つの抵抗体が直列接続された電源電圧の分圧回路と、抵
抗体と感温抵抗素子とが直列接続された電源電圧の分圧
回路との２組の電圧分圧回路を用いて、両回路のそれぞ
れの接続点の電位の比率を求めるだけで、その電位比率
から、検出対象温度を電源電圧の変動に影響されずに高
精度に且つ簡単に検出できる。
【図１】本発明の一実施形態に係る磁気ディスク装置の
構成を示すブロック図。
構成を示すブロック図。
【図２】図１中の電位比−温度変換テーブル２６０のデ
ータ構造例を示す図。
ータ構造例を示す図。
１２…ヘッド １９…ヘッドＩＣ ２４…電圧検出回路 ２５…ＣＰＵ（電位比算出手段、電位比／温度変換手
段） ２６…ＦＲＯＭ（不揮発性記憶手段） ２４１…電圧分圧回路（第１の電圧分圧回路） ２４２…電圧分圧回路（第２の電圧分圧回路） ２５０…ＡＤＣ（アナログ／デジタルコンバータ） ２６０…電位比−温度変換テーブル Ｒ１…抵抗（第１の抵抗体） Ｒ２…抵抗（第２の抵抗体） Ｒ３…抵抗（第３の抵抗体） Ｒｓ…感温抵抗（感温抵抗素子）
段） ２６…ＦＲＯＭ（不揮発性記憶手段） ２４１…電圧分圧回路（第１の電圧分圧回路） ２４２…電圧分圧回路（第２の電圧分圧回路） ２５０…ＡＤＣ（アナログ／デジタルコンバータ） ２６０…電位比−温度変換テーブル Ｒ１…抵抗（第１の抵抗体） Ｒ２…抵抗（第２の抵抗体） Ｒ３…抵抗（第３の抵抗体） Ｒｓ…感温抵抗（感温抵抗素子）
Claims (4)
- 【請求項１】 電源電圧を分圧するための、第１の抵抗
体と第２の抵抗体とが直列接続された第１の電圧分圧回
路と、 前記電源電圧を分圧するための、第３の抵抗体と感温抵
抗素子とが直列接続された第２の電圧分圧回路と、 前記第１の抵抗体と前記第２の抵抗体との接続点の第１
の電位及び前記第３の抵抗体と前記感温抵抗素子との接
続点の第２の電位の読み取りが可能なアナログ／デジタ
ルコンバータと、 前記アナログ／デジタルコンバータにより読み取られた
前記第１の電位と前記第２の電位との電位比を算出する
電位比算出手段と、 前記電位比算出手段により算出された電位比と所定の電
位比−温度特性とから、前記算出された電位比に対応す
る温度を検出温度として取得する電位比／温度変換手段
とを具備することを特徴とする温度検出回路。 - 【請求項２】 前記電位比−温度特性をテーブルデータ
形式で表す電位比−温度変換テーブルが予め格納された
不揮発性記憶手段を更に具備し、 前記電位比／温度変換手段は、前記電位比算出手段によ
り算出された電位比により前記電位比−温度変換テーブ
ルを参照することで前記算出された電位比に対応する温
度を取得することを特徴とする請求項１記載の温度検出
回路。 - 【請求項３】 請求項１または請求項２記載の温度検出
回路を備えたことを特徴とするディスク記憶装置。 - 【請求項４】 前記アナログ／デジタルコンバータは装
置全体を制御するＣＰＵに内蔵されており、前記電位比
算出手段と前記電位比／温度変換手段とは前記ＣＰＵに
より実現されることを特徴とする請求項３記載のディス
ク記憶装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000085101A JP2001272282A (ja) | 2000-03-24 | 2000-03-24 | 温度検出回路及び同回路を備えたディスク記憶装置 |
| SG200101719A SG89384A1 (en) | 2000-03-24 | 2001-03-20 | An apparatus and method for detecting the temperature in a disk memory device |
| US09/816,866 US20010055231A1 (en) | 2000-03-24 | 2001-03-26 | Apparatus and method for detecting the temperature in a disk memory device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000085101A JP2001272282A (ja) | 2000-03-24 | 2000-03-24 | 温度検出回路及び同回路を備えたディスク記憶装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001272282A true JP2001272282A (ja) | 2001-10-05 |
Family
ID=18601486
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000085101A Pending JP2001272282A (ja) | 2000-03-24 | 2000-03-24 | 温度検出回路及び同回路を備えたディスク記憶装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20010055231A1 (ja) |
| JP (1) | JP2001272282A (ja) |
| SG (1) | SG89384A1 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008014774A (ja) * | 2006-07-05 | 2008-01-24 | Sharp Corp | 温度測定装置 |
| JP2008111761A (ja) * | 2006-10-31 | 2008-05-15 | Sanyo Electric Co Ltd | 温度検出装置 |
| JP2009052991A (ja) * | 2007-08-24 | 2009-03-12 | Sanyo Electric Co Ltd | 車両用の電源装置 |
| JP2010228394A (ja) * | 2009-03-28 | 2010-10-14 | Sinfonia Technology Co Ltd | サーマルヘッド温度測定装置、及びそれを備えたサーマルプリンタ |
| JP2011064507A (ja) * | 2009-09-15 | 2011-03-31 | Seiko Instruments Inc | 温度検出回路 |
| JP2016090405A (ja) * | 2014-11-05 | 2016-05-23 | 株式会社村田製作所 | 温度変換テーブル作成装置、温度変換テーブル作成方法、及び、温度測定装置 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7104684B2 (en) * | 2002-11-29 | 2006-09-12 | Sigmatel, Inc. | On-chip digital thermometer to sense and measure device temperatures |
| US7009354B2 (en) * | 2002-12-27 | 2006-03-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method for spindle bearing friction estimation for reliable disk drive startup operation |
| US7005820B2 (en) * | 2002-12-27 | 2006-02-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Apparatus for spindle bearing friction estimation for reliable disk drive startup |
| EP2617270A4 (en) | 2010-09-13 | 2017-10-04 | PST Sensors (Pty) Limited | Assembling and packaging a discrete electronic component |
| JP5806316B2 (ja) * | 2010-09-13 | 2015-11-10 | ピーエスティ・センサーズ・（プロプライエタリー）・リミテッドＰｓｔ Ｓｅｎｓｏｒｓ （Ｐｒｏｐｒｉｅｔａｒｙ） Ｌｉｍｉｔｅｄ | 印刷された温度センサ |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05137393A (ja) * | 1991-11-08 | 1993-06-01 | Victor Co Of Japan Ltd | 情報記録再生装置 |
| JPH08124235A (ja) * | 1994-10-18 | 1996-05-17 | Sanyo Electric Co Ltd | 光磁気ディスクプレーヤーのディスク温度検出回路 |
| JPH0924367A (ja) * | 1995-07-13 | 1997-01-28 | Kinichi Takahashi | 清浄水製造装置 |
| JP3457463B2 (ja) * | 1996-04-26 | 2003-10-20 | 富士通株式会社 | 光学的記憶装置 |
| US6266203B1 (en) * | 1997-06-13 | 2001-07-24 | Seagate Technology Llc | Integrated temperature sense circuit in a disc drive |
| US6405277B1 (en) * | 1998-11-06 | 2002-06-11 | International Business Machines Corporation | Method and system for writing data to a magnetic storage device in a relatively cold or hot environment |
-
2000
- 2000-03-24 JP JP2000085101A patent/JP2001272282A/ja active Pending
-
2001
- 2001-03-20 SG SG200101719A patent/SG89384A1/en unknown
- 2001-03-26 US US09/816,866 patent/US20010055231A1/en not_active Abandoned
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008014774A (ja) * | 2006-07-05 | 2008-01-24 | Sharp Corp | 温度測定装置 |
| JP2008111761A (ja) * | 2006-10-31 | 2008-05-15 | Sanyo Electric Co Ltd | 温度検出装置 |
| JP2009052991A (ja) * | 2007-08-24 | 2009-03-12 | Sanyo Electric Co Ltd | 車両用の電源装置 |
| JP2010228394A (ja) * | 2009-03-28 | 2010-10-14 | Sinfonia Technology Co Ltd | サーマルヘッド温度測定装置、及びそれを備えたサーマルプリンタ |
| JP2011064507A (ja) * | 2009-09-15 | 2011-03-31 | Seiko Instruments Inc | 温度検出回路 |
| JP2016090405A (ja) * | 2014-11-05 | 2016-05-23 | 株式会社村田製作所 | 温度変換テーブル作成装置、温度変換テーブル作成方法、及び、温度測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| SG89384A1 (en) | 2002-06-18 |
| US20010055231A1 (en) | 2001-12-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3607513B2 (ja) | ヘッドロード／アンロード方式のディスク装置に適用される速度補正値キャリブレーション方法 | |
| JP4908106B2 (ja) | 記憶装置、制御方法、制御装置及びプログラム | |
| KR100769503B1 (ko) | 기억 장치, 제어 방법, 제어 장치 및 프로그램을 기록한컴퓨터 판독가능한 기록 매체 | |
| JP4439483B2 (ja) | 記憶装置、制御装置、制御方法及びプログラム | |
| US6094320A (en) | Device and method for compensating for interhead track position offset due to the offset of tracks on disk surfaces | |
| US6943972B1 (en) | Selecting a track density for each disk surface of a disk drive based on head characteristic | |
| JP2008171520A (ja) | 制御装置、制御方法、及び記憶装置 | |
| JP4267564B2 (ja) | ボイスコイルモータの逆起電力測定装置およびその逆起電力測定方法，ボイスコイルモータのパラメータキャリブレーション方法，ボイスコイルモータ制御装置 | |
| KR20080039212A (ko) | 제어 장치, 제어 방법 및 기억 장치 | |
| JP3842516B2 (ja) | ボイスコイルモータ逆起電圧モニタ回路の温度補償機能を有するディスク記憶装置及びボイスコイルモータ逆起電圧モニタ回路温度補償方法 | |
| JP2001272282A (ja) | 温度検出回路及び同回路を備えたディスク記憶装置 | |
| US6172839B1 (en) | Technique for measuring the position error signal of a disk drive | |
| JP2009140585A (ja) | ヘッドｉｃ、リード回路、媒体記憶装置及びヘッドｉｃのアンプゲイン調整方法 | |
| JP3611752B2 (ja) | データ記憶媒体から読出される信号の相対及び絶対振幅を測定するシステム及び方法 | |
| JP3708077B2 (ja) | ディスク記憶装置及び同装置におけるヘッド位置決め方法 | |
| CN109841233B (zh) | 采用多模式传感电路用于多个头部传感器元件的数据存储设备 | |
| JP2000222837A (ja) | ディスク記憶装置 | |
| JP3550024B2 (ja) | 情報記憶装置及び情報記憶装置のサーボゲイン補正方法 | |
| KR100255189B1 (ko) | 서보제어계의 게인추정방법 | |
| JP2000222703A (ja) | ディスク記憶装置及び最適書き込み電流設定方法 | |
| US11862202B2 (en) | Data storage device with smart ISOFET threshold voltage automatic tuning | |
| JP2611054B2 (ja) | 磁気ディスク装置のデータ面サーボ信号検出感度の補正方式 | |
| JP2000222843A (ja) | 制御ゲイン最適化機能を持つディスク記憶装置 | |
| US8611041B2 (en) | Servo control method and apparatus in seek retry condition and disk drive apparatus using the same | |
| KR100688520B1 (ko) | 아날로그 디지털 컨버터의 캘리브레이션 방법 |