JP2001267391A - Cassette storing equipment and substrate cleaning system - Google Patents
Cassette storing equipment and substrate cleaning systemInfo
- Publication number
- JP2001267391A JP2001267391A JP2000073502A JP2000073502A JP2001267391A JP 2001267391 A JP2001267391 A JP 2001267391A JP 2000073502 A JP2000073502 A JP 2000073502A JP 2000073502 A JP2000073502 A JP 2000073502A JP 2001267391 A JP2001267391 A JP 2001267391A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- cassette
- carrier
- cleaning
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 332
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 title claims abstract description 195
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 174
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 76
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 37
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 35
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 123
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 34
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 10
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 7
- 238000013461 design Methods 0.000 description 6
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 6
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 5
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 4
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 3
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 3
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 3
- 241000282472 Canis lupus familiaris Species 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 2
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 230000002079 cooperative effect Effects 0.000 description 1
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明はキャリアカセット
ストック装置および基板洗浄システムに関し、さらに詳
細には、前工程からキャリアカセットに収納して搬入さ
れる半導体基板や液晶ガラス基板等の薄板状の基板を複
数枚一括して洗浄処理した後、再びキャリアカセットと
共に次工程へ搬出する方式の基板洗浄システムにおい
て、キャリアカセットを一時的に保管するカセット保管
技術に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a carrier cassette stock apparatus and a substrate cleaning system, and more particularly, to a thin substrate such as a semiconductor substrate or a liquid crystal glass substrate which is stored in a carrier cassette and carried in from a previous process. The present invention relates to a cassette storage technique for temporarily storing a carrier cassette in a substrate cleaning system of a type in which a plurality of sheets are collectively cleaned and then carried out together with a carrier cassette to the next step.
【0002】[0002]
【従来の技術】この種の基板洗浄システム、例えば、従
来の半導体基板(以下、「ウエハ」と称する。)の洗浄
システムの一般的構成は、基板洗浄部が複数の洗浄槽を
横方向へ一列に配設されてなり、その一端側に基板搬入
部が設けられるとともに、その他端側に基板搬出部が設
けられ、基板搬送処理装置が、上記洗浄槽の配列方向へ
洗浄槽と平行に移動可能とされてなる。2. Description of the Related Art A general structure of a substrate cleaning system of this kind, for example, a conventional cleaning system for a semiconductor substrate (hereinafter, referred to as a "wafer") has a plurality of cleaning tanks arranged in a row in a horizontal direction. The substrate carrying-in section is provided at one end side, and the substrate carrying-out section is provided at the other end side, and the substrate transfer processing device can be moved in the arrangement direction of the cleaning tank in parallel with the cleaning tank. It is supposed to be.
【0003】また、前工程から上記基板搬入部に供給さ
れるウエハは、複数枚のウエハ(例えば、25枚程度)
が一組として一つの搬送用キャリアカセット内に収納さ
れており、基板搬入部において上記基板搬送処理装置に
移し替えられる構成とされている。この基板搬送処理装
置の構造としては、上記ウエハを処理用キャリアカセッ
トに収納して洗浄処理するカセットタイプのものと、上
記ウエハを直接保持して洗浄処理するカセットレスタイ
プのものとがあり、近時は、ウエハの洗浄効率を高める
とともに洗浄液の汚染を防止するため、後者のカセット
レスタイプが一般的になりつつある。Further, a plurality of wafers (for example, about 25 wafers) are supplied from the previous process to the substrate loading section.
Are housed as a set in a single carrier carrier cassette, and are transferred to the substrate transport processing apparatus in the substrate loading section. As the structure of the substrate transfer processing apparatus, there are a cassette type in which the wafer is stored in a processing carrier cassette for cleaning, and a cassetteless type in which the wafer is directly held and cleaned. In order to increase the cleaning efficiency of the wafer and prevent contamination of the cleaning liquid, the latter cassetteless type is becoming popular.
【0004】そして、このカセットレスタイプの基板洗
浄システムにおいては、上記基板搬入部で搬送用キャリ
アカセットから基板搬送処理装置に移し替えられたウエ
ハは、この基板搬送処理装置により、順次上記洗浄槽に
浸漬されて洗浄処理された後、上記基板搬出部におい
て、上記搬送用キャリアカセットに再び収納されて次工
程へ搬出される。この場合、ウエハが取り出された空の
キャリアカセットは、洗浄処理後のウエハを再び収納す
るため、基板洗浄システムの外側に配置されたカセット
保管場所に一時的に保管待機させられる。In this cassetteless type substrate cleaning system, the wafers transferred from the transport carrier cassette to the substrate transport processing device in the substrate loading section are sequentially transferred to the cleaning tank by the substrate transport processing device. After being immersed and cleaned, the substrate is again stored in the carrier cassette for transport at the substrate unloading section and is unloaded to the next step. In this case, the empty carrier cassette from which the wafer has been taken out is temporarily stored in a cassette storage place arranged outside the substrate cleaning system in order to store the cleaned wafer again.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の構成では、次のような問題点があり、さらな
る改良が要望されていた。However, such a conventional configuration has the following problems, and further improvements have been demanded.
【0006】すなわち、上記のように基板洗浄システム
の外側に配置されたカセット保管場所に一時的に保管待
機させられる構成では、システム自体の設置スペースの
ほかに、上記カセット保管場所およびキャリアカセット
の搬入搬出設備等の周辺設備の設置スペースを確保する
必要性があり、狭い工場スペースでは設置不可能であっ
た。That is, in the configuration in which the cassette is temporarily stored in the cassette storage place disposed outside the substrate cleaning system as described above, in addition to the installation space of the system itself, the cassette storage place and the loading of the carrier cassette are carried out. It is necessary to secure a space for installation of peripheral equipment such as unloading equipment, and installation was not possible in a small factory space.
【0007】一方、ウエハの洗浄処理工程と同期した効
率の良い空キャリアカセットの搬送が困難であることに
鑑み、空のキャリアカセットをウエハの洗浄処理に先行
して基板搬出部に予め待機させるためのカセット保管ス
ペースをシステム内に設けた構成も採用される場合があ
る。On the other hand, in view of the difficulty in efficiently transporting an empty carrier cassette in synchronization with a wafer cleaning process, an empty carrier cassette is required to wait in a substrate unloading section prior to a wafer cleaning process. In some cases, a configuration in which the cassette storage space is provided in the system may be adopted.
【0008】ところが、従来のこの種の保管スペース
は、カセットの移載設備との関係もあって平面的に設け
られるところ、カセット自体の形状寸法が比較的大きい
ことから、システム自体の大型化を招き、やはりシステ
ムの設置スペースを大きく確保する必要があり、さらな
る改良が要望されていた。However, such a conventional storage space is provided in a plane in relation to the cassette transfer equipment. However, since the cassette itself has a relatively large shape and size, the size of the system itself must be increased. As a result, it was necessary to secure a large installation space for the system, and further improvement was demanded.
【0009】本発明はかかる従来の問題点に鑑みてなさ
れたものであって、その主たる目的とするところは、カ
セット保管スペースを立体的に構成することによって、
基板洗浄システム自体の大型化を招くことなく、システ
ム内にキャリアカセットを一時的に保管することができ
るカセット保管装置を提供することにある。The present invention has been made in view of such a conventional problem, and a main object thereof is to form a cassette storage space three-dimensionally.
An object of the present invention is to provide a cassette storage device capable of temporarily storing a carrier cassette in a substrate cleaning system without increasing the size of the substrate cleaning system itself.
【0010】また、本発明のさらなる目的とするところ
は、上記カセット保管装置を備えたコンパクトな構成の
基板洗浄システムを提供することにある。A further object of the present invention is to provide a substrate cleaning system having a compact structure provided with the cassette storage device.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明のカセット保管装置は、前工程からキャリア
カセットに収納して搬入されるウエハを洗浄処理した
後、再びキャリアカセットと共に次工程へ搬出する方式
の基板洗浄システムに装置されて、上記キャリアカセッ
トを一時的に保管するカセット保管装置であって、上記
キャリアカセットを載置するカセット載置部が上下方向
へ複数段に積層配置されてなる立体型のカセットストッ
カと、このカセットストッカのカセット載置部に対して
キャリアカセットを移載する移載ロボットとを備えてな
ることを特徴とする。In order to achieve this object, a cassette storage device according to the present invention performs a cleaning process on a wafer stored in a carrier cassette and carried in from a previous process, and then returns to the next process together with the carrier cassette. A cassette storage device that is provided in a substrate cleaning system of a carry-out type and temporarily stores the carrier cassette, wherein a cassette mounting portion for mounting the carrier cassette is stacked and arranged in a plurality of stages in a vertical direction. And a transfer robot for transferring a carrier cassette to a cassette mounting portion of the cassette stocker.
【0012】好適な実施態様として、上記カセットスト
ッカは、上下方向へ垂直に延びた支持フレームに、前記
カセット載置部が所定の高さ方向間隔をもって水平状態
で複数段積層状に設けられてなる。In a preferred embodiment, the cassette stocker is configured such that the cassette mounting portions are provided in a plurality of stacked layers in a horizontal state at predetermined intervals in a height direction on a support frame extending vertically in a vertical direction. .
【0013】また、上記移載ロボットは、上記カセット
載置部の配列方向に昇降動作する昇降手段の昇降台に、
キャリアカセットを一つずつ移載するスカラ型ロボット
が一体的に取り付けられてなる。上記移載ロボットの昇
降手段としては、上記カセット載置部の配列方向へ延び
て設けられた単軸ロボットが好適に採用され、この単軸
ロボットの移動部に前記スカラ型ロボットが一体的に設
置される。また、上記スカラ型ロボットは、その作動ア
ームの作動軸が水平状とされた横軸式とされ、上記作動
アームは、少なくとも2つのアーム部材が上記作動軸を
介して駆動連接されてなるとともに、この作動アームの
先端に、上記キャリアカセットをチャッキングするチャ
ック部が設けられ、これにより、上記作動アームが垂直
平面内において伸縮動作する構成とされている。Further, the transfer robot is provided on a lift table of lifting means which moves up and down in the direction in which the cassette mounting sections are arranged.
A SCARA-type robot for transferring carrier cassettes one by one is integrally attached. As the elevating means of the transfer robot, a single-axis robot extending in the direction in which the cassette mounting portions are arranged is preferably employed, and the SCARA robot is integrally mounted on the moving portion of the single-axis robot. Is done. Further, the SCARA type robot is a horizontal axis type in which the operation axis of the operation arm is horizontal, and the operation arm includes at least two arm members that are drivingly connected via the operation axis. A chuck portion for chucking the carrier cassette is provided at a distal end of the operation arm, whereby the operation arm expands and contracts in a vertical plane.
【0014】また、本発明の基板洗浄システムは、上記
カセット保管装置を含むものであって、キャリアカセッ
トに収納されたウエハが搬入搬出される基板搬入出部
と、この基板搬入出部のキャリアカセットが一時的に待
機される上記カセット保管装置と、複数枚のウエハをカ
セットレスで一括して洗浄処理する基板洗浄部と、上記
基板待機部および基板洗浄部の間に配置されて、基板待
機部のキャリアカセットと基板洗浄部との間でウエハを
移し替える基板移載部とを備えるとともに、上記基板搬
入出部、基板待機部、基板移載部および基板洗浄部が上
記オペレータゾーンに面する側から順次連続して直列配
置されてなり、これにより、基板処理経路は、ウエハが
オペレータゾーン側からオペレータゾーン反対側への往
路を通じて洗浄処理を施された後、再びその復路を通じ
てオペレータゾーン側から搬出されるように構成されて
いることを特徴とする。Further, the substrate cleaning system of the present invention includes the above-mentioned cassette storage device, and includes a substrate loading / unloading section for loading / unloading wafers stored in a carrier cassette, and a carrier cassette of the substrate loading / unloading section. A cassette storage device in which a plurality of wafers are washed in a batch without a cassette; a substrate standby unit disposed between the substrate standby unit and the substrate cleaning unit; And a substrate transfer unit for transferring wafers between the carrier cassette and the substrate cleaning unit, and the substrate loading / unloading unit, the substrate standby unit, the substrate transfer unit, and the substrate cleaning unit facing the operator zone. From the operator zone to the substrate processing path. After having been subjected, characterized in that it is configured to be carried out again from the operator zone side through the return path.
【0015】好適な実施態様として、上記基板搬入出
部、カセット保管装置、基板移載部および基板洗浄部を
互いに同期させて駆動制御する制御部を備え、この制御
部は、前工程からキャリアカセットに収納されて搬入さ
れるウエハを、上記基板搬送処理装置に移し替えてカセ
ットレスで洗浄処理するとともに、再び搬入時と同一の
キャリアカセットに戻して次工程へ搬出する一連の洗浄
工程を実行するように構成されている。[0015] As a preferred embodiment, there is provided a control section for controlling the drive of the substrate loading / unloading section, the cassette storage device, the substrate transfer section and the substrate cleaning section in synchronization with each other. The wafers stored and carried in the wafer are transferred to the above-mentioned substrate transfer processing apparatus and subjected to a cleaning process without using a cassette, and a series of cleaning steps of returning the wafer to the same carrier cassette as that at the time of carrying in and carrying out the wafer to the next step are executed. It is configured as follows.
【0016】本発明において、キャリアカセットを載置
するカセット載置部が上下方向へ複数段に積層配置され
てなる立体型のカセットストッカと、このカセットスト
ッカのカセット載置部に対してキャリアカセットを移載
する移載ロボットとを備えてなることにより、基板洗浄
システムの内部に立体的で省スペース構造のカセット保
管スペースを確保することができ、基板洗浄システム外
部の必要スペースを可及的に小さく設定することを可能
とする。In the present invention, a three-dimensional cassette stocker having a plurality of vertically stacked cassette mounting portions for mounting a carrier cassette, and a carrier cassette mounted on the cassette mounting portion of the cassette stocker. By providing a transfer robot for transferring, a three-dimensional and space-saving cassette storage space can be secured inside the substrate cleaning system, and the required space outside the substrate cleaning system is made as small as possible. It is possible to set.
【0017】また、上記カセット保管装置を備えた本発
明の基板洗浄システムにおいては、基板処理経路は、ウ
エハがオペレータゾーン側からオペレータゾーン反対側
への往路を通じて洗浄処理を施された後、再びその復路
を通じてオペレータゾーン側から搬出されるように構成
されており、これにより、カセット保管装置のコパクト
設計とも相まって、洗浄システムの片側にのみオペレー
タゾーンを必要とするコンパクトな構成とされて、シス
テムの設置スペースの縮小化が図られている。Further, in the substrate cleaning system of the present invention provided with the above-mentioned cassette storage device, the substrate processing path is such that after the wafer is subjected to the cleaning processing through the outward path from the operator zone side to the opposite side of the operator zone, the substrate processing path is again performed. It is configured to be carried out from the operator zone side through the return path, and this, combined with the compact design of the cassette storage device, makes it a compact configuration that requires an operator zone only on one side of the cleaning system, and installs the system Space is being reduced.
【0018】[0018]
【実施の形態】以下、本発明の実施形態を、図面に基づ
いて詳細に説明する。本発明に係るカセット保管装置を
図1および図2に示し、このカセット保管装置は、具体
的には、図6ないし図8に示す基板洗浄システムの基板
待機部Bを構成するものである。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIGS. 1 and 2 show a cassette storage device according to the present invention. Specifically, this cassette storage device constitutes a substrate standby section B of the substrate cleaning system shown in FIGS.
【0019】すなわち、上記基板洗浄システムは、複数
枚(例えば52枚)のウエハW,W,…をカセットレス
で一括して行うバッチ式のものであり、基板搬入出部
A、上記基板待機部B、基板移載部C、基板洗浄部Dお
よび制御装置(制御部)Eを主要部として構成されると
ともに、これら基板搬入出部A、基板待機部B、基板移
載部Cおよび基板洗浄部DがオペレータゾーンOに面す
る側から順次連続して直列配置されてなるコンパクト設
計とされている。That is, the substrate cleaning system is of a batch type in which a plurality of (for example, 52) wafers W, W,... B, a substrate transfer section C, a substrate cleaning section D, and a control device (control section) E. The substrate transfer section A, the substrate standby section B, the substrate transfer section C, and the substrate cleaning section. D is of a compact design in which D is sequentially arranged in series from the side facing the operator zone O.
【0020】基板待機部Bは、上記基板搬入出部Aと基
板移載部Cとの間に配置されて、基板搬入出部Aのキャ
リアカセット1が一時的に待機される部位で、具体的に
は、カセットストッカ2と移載ロボット3を主要部とし
て構成されている。The substrate standby section B is disposed between the substrate loading / unloading section A and the substrate transfer section C, and is a section where the carrier cassette 1 of the substrate loading / unloading section A is temporarily on standby. Is mainly composed of a cassette stocker 2 and a transfer robot 3.
【0021】カセットストッカ2は、キャリアカセット
1を載置するカセット載置部5が上下方向へ複数段に積
層配置されてなる立体型のもので、図示の実施形態にお
いては、基板搬入部2側に併設された二つの搬入側スト
ッカ部2A,2Aと、基板搬出部3側に併設された二つ
の搬出側ストッカ部2B,2Bとからなる。The cassette stocker 2 is of a three-dimensional type in which a plurality of cassette mounting portions 5 for mounting the carrier cassette 1 are vertically stacked in a plurality of layers. In the illustrated embodiment, the cassette stocker 2 has a substrate loading portion 2 side. And two unloading side stocker units 2B, 2B attached to the substrate unloading unit 3 side.
【0022】搬入側および搬出側ストッカ部2A,2B
は、そのストック対象が処理前のウエハW,W,…を収
納したキャリアカセット1である(搬入側ストッカ部2
A)のか、処理後のウエハW,W,…を収納する空のキ
ャリアカセット1である(搬出側ストッカ部2B)のか
を除いて、いずれも同一構造とされている。Carry-in side and carry-out side stocker sections 2A, 2B
Is a carrier cassette 1 in which the unprocessed wafers W, W,... Are stored (the loading-side stocker unit 2).
A), except that it is an empty carrier cassette 1 (unloading side stocker unit 2B) for storing processed wafers W, W,...
【0023】例えば、搬入側ストッカ部2Aは、図1お
よび図2に示すように、処理前のウエハW,W,…を収
納したキャリアカセット1を載置するカセット載置部5
が上下方向へ3段に積層配置されてなる。For example, as shown in FIGS. 1 and 2, the loading side stocker section 2A includes a cassette mounting section 5 for mounting the carrier cassette 1 containing the wafers W, W,.
Are arranged in three layers vertically.
【0024】上記カセット載置部5は、具体的には平坦
な載置面を有する載置棚の形態とされ、上下方向へ垂直
に延びた支持フレーム6に、所定の高さ方向間隔つま
り、ウエハW,W,…を収納したキャリアカセット1の
最大高さよりも若干大きな間隔をもって水平状態で3段
積層状に取付け支持されてなる。The cassette mounting portion 5 is specifically in the form of a mounting shelf having a flat mounting surface, and is mounted on a support frame 6 extending vertically in a vertical direction at a predetermined interval in the height direction. The carrier cassette 1 containing the wafers W, W,... Is mounted and supported in a three-tiered state in a horizontal state with an interval slightly larger than the maximum height.
【0025】また、カセット載置部5の載置面の平面形
状寸法は、キャリアカセット1の平面輪郭寸法よりも若
干大きな面積を有する矩形状、つまり、後述する移載ロ
ボット3により、そのチャック部17にチャックされた
キャリアカセット1の出し入れが可能な必要最小限の大
きさに設定されて、平面スペースが可及的に小さくなる
設計とされている。The planar shape of the mounting surface of the cassette mounting portion 5 is a rectangular shape having an area slightly larger than the planar contour size of the carrier cassette 1, that is, the chuck portion is provided by the transfer robot 3 described later. The carrier cassette 1 chucked at 17 is designed to have a minimum necessary size that can be taken in and out, and the plane space is designed to be as small as possible.
【0026】さらに、最下部のカセット載置部5は、基
板搬入出部Aのキャリアカセット1の載置部位の高さよ
りも一段つまりキャリアカセット1の載置高さ分だけ高
い位置に配置されている。そして、基板搬入出部A側に
近い側の搬入側ストッカ部2Aは、上記載置部位つまり
ターンテーブル機構2bのターンテーブルの真上位置に
積層状に位置するように配列されて4段構成とされ、こ
の点でも、この部位の平面設置スペースが可及的に小さ
くなる構成とされている。以上の構成は、搬出側ストッ
カ部2Bについても同様である。Further, the lowermost cassette mounting portion 5 is arranged at a position one step higher than the height of the mounting portion of the carrier cassette 1 in the substrate loading / unloading portion A, that is, at a position higher by the mounting height of the carrier cassette 1. I have. The loading-side stocker unit 2A on the side closer to the substrate loading / unloading unit A side is arranged so as to be positioned in a stacked manner just above the placement site, that is, the position directly above the turntable of the turntable mechanism 2b, and has a four-stage configuration. In this regard, also in this respect, the configuration is such that the plane installation space of this portion is as small as possible. The above configuration is the same for the unloading side stocker unit 2B.
【0027】移載ロボット3は、カセットストッカ2の
カセット載置部5と上記基板搬入出部Aまたは基板移載
部Cとの間でキャリアカセット1を移載するもので、図
示の実施形態においては、3台の移載ロボット、つま
り、図6に示すように、処理前のウエハW,W,…を収
納したキャリアカセット1を移載処理する第1の移載ロ
ボット3Aと、処理後のウエハW,W,…を収納したキ
ャリアカセット1を移載処理する第2の移載ロボット3
Bと、上記カセットストッカのカセット載置部5と基板
移載部との間でキャリアカセット1を移載処理する第3
の移載ロボット3Cとが使用されている。The transfer robot 3 transfers the carrier cassette 1 between the cassette mounting portion 5 of the cassette stocker 2 and the substrate carry-in / out portion A or the substrate transfer portion C. 6, three transfer robots, that is, as shown in FIG. 6, a first transfer robot 3A for transferring a carrier cassette 1 containing wafers W, W,. A second transfer robot 3 for transferring the carrier cassette 1 containing the wafers W, W,.
B, and a third process for transferring the carrier cassette 1 between the cassette mounting portion 5 of the cassette stocker and the substrate transfer portion.
Of the transfer robot 3C.
【0028】これら移載ロボット3(3A,3B,3
C)はいずれも、図1ないし図4に示すように、上下方
向へ昇降動作する昇降手段7に、キャリアカセット1を
一つずつ移載するスカラ型ロボット8が一体的に組み合
されて構成されている。These transfer robots 3 (3A, 3B, 3
1C to 4C, a SCARA type robot 8 for transferring the carrier cassettes 1 one by one is integrally combined with an elevating means 7 which moves up and down in the vertical direction, as shown in FIGS. Have been.
【0029】上記昇降手段7は、具体的には上下方向へ
昇降動作可能な単軸ロボットが用いられている。この単
軸ロボット7は、図1および図2に示すように、上記支
持フレーム6に、カセット載置部5の配列方向つまり上
下垂直方向へ延びて設けられており、この単軸ロボット
7の移動部7aが上下垂直方向へ往復移動つまり昇降可
能な昇降台とされ、この昇降台7aに、上記スカラ型ロ
ボット8が取付ブラケット9を介して一体的に設置され
ている。As the elevating means 7, a single-axis robot capable of elevating vertically is used. As shown in FIGS. 1 and 2, the single-axis robot 7 is provided on the support frame 6 so as to extend in the direction in which the cassette mounting portions 5 are arranged, that is, in the vertical and vertical directions. The section 7a is a lift that can reciprocate vertically, that is, can move up and down. The SCARA robot 8 is integrally installed on the lift 7a via a mounting bracket 9.
【0030】上記支持フレーム6のカセット載置部5,
5,…に対応する高さ方向位置には、図1に示すよう
に、位置センサ10aがそれぞれ設けられており、これ
が移載ロボット3A,3Bに設けられたドグ10bを検
知して、その高さ方向位置を検出する。The cassette mounting portions 5 of the support frame 6
As shown in FIG. 1, position sensors 10a are provided at height positions corresponding to 5,..., Which detect dogs 10b provided on the transfer robots 3A and 3B, and detect the height of the dogs 10b. The position in the vertical direction is detected.
【0031】スカラ型ロボット8は、図1ないし図3に
示すように、ロボット本体12に作動アーム13が駆動
連接されてなり、この作動アーム13の作動軸が水平状
態とされた横軸式とされて、作動アーム13が垂直平面
内において伸縮動作する構成とされている。As shown in FIGS. 1 to 3, the SCARA type robot 8 has an operation arm 13 which is connected to the robot body 12 by driving, and the operation axis of the operation arm 13 is horizontal. Then, the operating arm 13 is configured to extend and contract in a vertical plane.
【0032】作動アーム13は、2つのアーム部材1
4,15が作動軸16a,16bを介して上記ロボット
本体12に駆動連接されてなるとともに、この作動アー
ム13の先端に、キャリアカセット1をチャッキングす
るチャック部17が作動軸16cを介して設けられてい
る。なお、作動アーム13を構成するアーム部材14,
15の数は、洗浄システムの大きさ等、目的に応じて適
宜増設可能である。The operating arm 13 includes two arm members 1
4 and 15 are drivingly connected to the robot body 12 via operating shafts 16a and 16b, and a chuck portion 17 for chucking the carrier cassette 1 is provided at an end of the operating arm 13 via an operating shaft 16c. Have been. Note that the arm members 14 constituting the operation arm 13,
The number of 15 can be appropriately increased according to the purpose such as the size of the cleaning system.
【0033】作動アーム13内部の具体的な駆動連結機
構は、従来周知の縦軸式のものと基本的に同様であっ
て、図4に示すように、ロボット本体12に水平状態で
内蔵された駆動モータ20の駆動軸に、減速機構21を
介して、第1の作動軸16aが接続され、この第1の作
動軸16aの先端部に、第1のアーム部材14の基端部
14aが取付け固定されている。The specific drive connection mechanism inside the operation arm 13 is basically the same as that of the conventionally known longitudinal axis type, and is built in the robot body 12 in a horizontal state as shown in FIG. A first operating shaft 16a is connected to a drive shaft of the drive motor 20 via a speed reduction mechanism 21, and a proximal end 14a of the first arm member 14 is attached to a distal end of the first operating shaft 16a. Fixed.
【0034】一方、上記ロボット本体12には、中空円
筒軸22が上記作動軸16aと同心状に取付け固定され
ており、この中空円筒軸22に第1プーリ23が取付け
固定されている。この第1プーリ23には、第1ベルト
24を介して、第2の作動軸16bに取付け固定された
第2プーリ25が駆動連結されている。On the other hand, a hollow cylindrical shaft 22 is mounted and fixed to the robot body 12 concentrically with the operating shaft 16a, and a first pulley 23 is mounted and fixed to the hollow cylindrical shaft 22. A second pulley 25 attached and fixed to the second operating shaft 16b is drivingly connected to the first pulley 23 via a first belt 24.
【0035】上記第2の作動軸16bは、上記第1のア
ーム部材14の先端部14bに回転可能に軸支されると
ともに、その先端部に、第2のアーム部材15の基端部
15aが取付け固定されている。The second operating shaft 16b is rotatably supported by a distal end portion 14b of the first arm member 14, and has a proximal end portion 15a of a second arm member 15 at its distal end portion. It is mounted and fixed.
【0036】一方、上記第1のアーム部材14の先端部
14bには、中空円筒軸26が上記第2の作動軸16b
と同心状に取付け固定されており、この中空円筒軸26
に第3プーリ27が取付け固定されている。この第3プ
ーリ27には、第2ベルト28を介して、第3の作動軸
16cに取付け固定された第4プーリ29が駆動連結さ
れている。On the other hand, a hollow cylindrical shaft 26 is attached to the tip 14b of the first arm member 14 by the second operating shaft 16b.
The hollow cylindrical shaft 26 is mounted and fixed concentrically with
A third pulley 27 is attached and fixed to the second pulley. A fourth pulley 29 attached and fixed to the third operating shaft 16c is drivingly connected to the third pulley 27 via a second belt 28.
【0037】上記第3の作動軸16cは、上記第2のア
ーム部材15の先端部15bに回転可能に軸支されると
ともに、その先端部に、上記チャック部17が取付け固
定されている。The third operating shaft 16c is rotatably supported by a distal end 15b of the second arm member 15, and the chuck 17 is mounted and fixed to the distal end.
【0038】そして、駆動モータ20の回転駆動によ
り、上記一連の駆動連結機構を介して、第1および第2
のアーム部材14,15が回動し、これにより、作動ア
ーム13が先端のチャック部17を水平に保ちながら水
平方向へ伸縮動作することとなる。Then, the first and second motors are rotated by the drive motor 20 via the above-described series of drive connection mechanisms.
The arm members 14 and 15 rotate, whereby the operating arm 13 expands and contracts in the horizontal direction while keeping the chuck portion 17 at the tip end horizontal.
【0039】上記チャック部17は、キャリアカセット
1の側部両側を挟持状に把持する一対のチャックアーム
30,30と、これらチャックアーム30,30を開閉
動作(チャッキング動作)させるチャックシリンダ(シ
リンダ装置)31とからなる。The chuck section 17 includes a pair of chuck arms 30, 30 for gripping both sides of the carrier cassette 1 in a sandwiching manner, and a chuck cylinder (cylinder) for opening and closing (chucking) these chuck arms 30, 30. (Device) 31.
【0040】上記チャックシリンダ31は、具体的に作
動圧を空気圧とするエアシリンダからなり、図外の空気
圧回路を介して空気圧源に連通されている。このチャッ
クシリンダ31は、上記第3の作動軸16cに取付け固
定されたチャック部本体17aに水平状態で装着されて
おり、そのシリンダロッド31a,31aの先端に上記
両チャックアーム30,30がそれぞれ取付け固定され
ている。The chuck cylinder 31 is specifically formed of an air cylinder whose operating pressure is air pressure, and is connected to an air pressure source via an air pressure circuit (not shown). The chuck cylinder 31 is mounted in a horizontal state on a chuck body 17a fixedly mounted on the third operating shaft 16c, and the chuck arms 30, 30 are mounted on tips of the cylinder rods 31a, 31a, respectively. Fixed.
【0041】これら両チャックアーム30,30は、上
記作動アーム13の伸縮方向に垂直な水平方向へ延びて
設けられており、そのチャック内面には、キャリアカセ
ット1の側面部分を把持するチャック部材30a、30
aが設けられている。The chuck arms 30, 30 extend in a horizontal direction perpendicular to the direction in which the operating arm 13 expands and contracts. On the inner surface of the chuck, a chuck member 30a for gripping the side surface of the carrier cassette 1 is provided. , 30
a is provided.
【0042】そして、上記チャックシリンダ31の進退
動作により、両チャックアーム30,30が水平方向へ
開閉して、キャリアカセット1に対するチャッキング動
作を行う。The chuck arms 31 and 30 are opened and closed in the horizontal direction by the reciprocating operation of the chuck cylinder 31, and the chucking operation for the carrier cassette 1 is performed.
【0043】また、第3の移載ロボット3Cは、図9に
示すように、水平方向へ(図6において矢符(1),(4) 方
向)へ往復直線移動する移動装置35上にスカラ型ロボ
ット8が一体的に組み合されて構成されており、この移
動装置35により、カセットストッカ5の搬入側ストッ
カ部5Aと搬出側ストッカ部5Bとの間で移動可能とさ
れている。As shown in FIG. 9, the third transfer robot 3C mounts a scalar on a moving device 35 which reciprocates linearly in the horizontal direction (the directions of arrows (1) and (4) in FIG. 6). The mold robot 8 is integrally combined, and is movable by the moving device 35 between the carry-in side stocker section 5A and the carry-out side stocker section 5B of the cassette stocker 5.
【0044】そして、第1ないし第3の移載ロボット3
(3A,3B,3C)は、単軸ロボット7の昇降動作ま
たは移動装置35の水平往復動作と、スカラ型ロボット
8の水平方向の伸縮動作との協働作用により、以下のご
とく機能する。Then, the first to third transfer robots 3
(3A, 3B, 3C) function as follows by the cooperative action of the vertical movement of the single-axis robot 7 or the horizontal reciprocating operation of the moving device 35 and the horizontal expansion and contraction operation of the SCARA robot 8.
【0045】すなわち、第1の移載ロボット3Aは、後
述する基板搬入部42のターンテーブル機構42bのタ
ーンテーブル上に待機する処理前のウエハW,W,…を
収納したキャリアカセット1を、チャッキング保持し
て、搬入側ストッカ部2Aのいずれかのカセット載置部
5上に移載するとともに、この搬入側ストッカ部2Aに
最初にストックされている処理前のウエハW,W,…を
収納したキャリアカセット1を、チャッキング保持し
て、第3の移載ロボット3Cとの搬入側受渡し位置14
4に移載する。That is, the first transfer robot 3A chucks the carrier cassette 1 containing the unprocessed wafers W, W,... Waiting on a turntable of a turntable mechanism 42b of the substrate carrying-in section 42 described later. While holding the king, the wafer W is transferred onto one of the cassette mounting sections 5 of the loading side stocker section 2A, and the unprocessed wafers W, W,. The transported carrier cassette 1 is chucked and held, and the transfer side transfer position 14 with the third transfer robot 3C is set.
Transfer to 4.
【0046】一方、第2の移載ロボット3Bは、第3の
移載ロボット3Cからの搬出側受渡し位置145に待機
する空のキャリアカセット1を、チャッキング保持し
て、搬出側ストッカ部5Bのいずれかのカセット載置部
5上に移載するとともに、同じく上記搬出側受渡し位置
145に待機する処理後のウエハW,W,…を収納した
キャリアカセット1を、チャッキング保持して、基板搬
出部3のターンテーブル機構43bのターンテーブル上
に移載する。On the other hand, the second transfer robot 3B chucks and holds the empty carrier cassette 1 waiting at the unloading side transfer position 145 from the third transfer robot 3C, and holds the empty carrier cassette 1 in the unloading side stocker section 5B. The carrier cassette 1 containing the processed wafers W, W,..., Which has been transferred to any one of the cassette mounting portions 5 and also waits at the unloading side transfer position 145, is chucked and held, and the substrate is unloaded. It is mounted on the turntable of the turntable mechanism 43b of the unit 3.
【0047】また、第3の移載ロボット3Cは、上記搬
入側受渡し位置144に待機する処理前のウエハW,
W,…を収納したキャリアカセット1を、チャッキング
保持して、基板移載部Cに移載する一方、この基板移載
部Cで空にされたキャリアカセット1または処理後のウ
エハW,W,…を収納したキャリアカセット1を、チャ
ッキング保持して、上記搬出側受渡し位置145に移載
する。Further, the third transfer robot 3C is configured to wait for the unprocessed wafers W and W waiting at the transfer side transfer position 144.
The carrier cassette 1 containing the wafers W,... Is chucked and transferred to the substrate transfer unit C, while the carrier cassette 1 emptied in the substrate transfer unit C or the processed wafers W, W Are transported to the delivery side transfer position 145 while being chucked and held.
【0048】次に、前記基板洗浄システムを構成する他
の構成部について説明する。Next, other components constituting the substrate cleaning system will be described.
【0049】基板搬入出部Aは、キャリアカセット1に
収納されたウエハW,W,…が搬入搬出される部位で、
具体的には、前工程からキャリアカセット1に収納され
たウエハW,W,…が搬入される基板搬入部42と、洗
浄処理が終了したウエハW,W,…をキャリアカセット
1に収納して次工程へ搬出される基板搬出部43とが上
記オペレータゾーンOに面して並列配置されてなる。The substrate loading / unloading section A is a section where the wafers W, W,... Stored in the carrier cassette 1 are loaded and unloaded.
Specifically, the substrate loading section 42 into which the wafers W, W,... Stored in the carrier cassette 1 from the previous process are loaded, and the wafers W, W,. The substrate unloading section 43 to be unloaded to the next step is arranged in parallel with the operator zone O.
【0050】基板搬入部42は、基板搬入出部Aの基板
搬入側に配置されて、図6に示すように、キャリアカセ
ット1をタクト送りするタクト送り機構42aとキャリ
アカセット1の水平方向の向きを変換するターンテーブ
ル機構42bを備えてなる。The substrate loading section 42 is disposed on the substrate loading side of the substrate loading / unloading section A, and as shown in FIG. 6, a tact feeding mechanism 42a for feeding the carrier cassette 1 in a takt manner and a horizontal direction of the carrier cassette 1. Is provided with a turntable mechanism 42b for converting.
【0051】上記タクト送り機構42aは、具体的には
図示しないが、例えば特開平6−252126号公報に
記載されているように、水平方向へ延びて設けられた走
行用のラックと、このラック上にピニオンを介して自走
可能に装置された駆動モータ、およびこの駆動モータ上
に上向きに設けられたシリンダ装置を備えてなる。ま
た、上記ターンテーブル機構42bは、上記キャリアカ
セット1が載置されるターンテーブルと、このターンテ
ーブルを水平回転させる駆動モータを備えてなる。Although not specifically shown, the tact feeding mechanism 42a is provided with a traveling rack extending in the horizontal direction, as described in, for example, JP-A-6-252126. A drive motor is provided on the top so as to be capable of self-running via a pinion, and a cylinder device provided upward on the drive motor. Further, the turntable mechanism 42b includes a turntable on which the carrier cassette 1 is mounted, and a drive motor for horizontally rotating the turntable.
【0052】そして、基板搬入部42の搬入口42cか
ら搬入されたキャリアカセット1は、上記シリンダ装置
により突き上げられて上昇し、この状態のまま上記駆動
モータの自走により矢符(1)方向へタクト送りされた
後、再び上記シリンダ装置により下降して、上記ターン
テーブル機構42bのターンテーブル142上へ供給載
置され、このターンテーブル142の水平回転により、
上記キャリアカセット1つまりここに収納されたウエハ
W,W,…の水平方向姿勢が、搬入姿勢から洗浄姿勢へ
90度水平回転されて姿勢変換され、基板待機部Bへの
移送を待機する。なお、本実施形態においては、一つの
キャリアカセット1に26枚のウエハW,W,…が収納
されている。Then, the carrier cassette 1 carried in from the carry-in port 42c of the substrate carry-in section 42 is pushed up by the cylinder device and rises, and in this state, the drive motor is self-propelled and moves in the direction of the arrow (1). After being tact-fed, it is lowered again by the cylinder device and supplied and placed on the turntable 142 of the turntable mechanism 42b.
The horizontal posture of the carrier cassette 1, that is, the wafers W, W,... Stored in the carrier cassette 1 is horizontally rotated by 90 degrees from the carry-in posture to the cleaning posture, and the posture is changed. In this embodiment, 26 wafers W, W,... Are stored in one carrier cassette 1.
【0053】一方、基板搬出部43は、基板搬入出部A
の基板搬出側に配置されて、上記基板搬入部42と同
様、キャリアカセット1をタクト送りするタクト送り機
構43aとキャリアカセット1の水平方向の向きを変換
するターンテーブル機構43bを備えてなり、これら機
構の具体的構成は基板搬入部42と同様である。On the other hand, the substrate unloading section 43 is
And a tact feeding mechanism 43a for tact-feeding the carrier cassette 1 and a turntable mechanism 43b for changing the horizontal direction of the carrier cassette 1 in the same manner as the substrate loading section 42. The specific configuration of the mechanism is the same as that of the substrate loading section 42.
【0054】そして、後述する基板待機部Bから上記タ
ーンテーブル機構43bのターンテーブル143上に移
送載置されたキャリアカセット1は、ターンテーブル1
43の水平回転により水平方向姿勢を、上記洗浄姿勢か
ら搬出姿勢に90度水平回転されて姿勢変換された後、
上記タクト送り機構43aのシリンダ装置により突き上
げられて上昇し、この状態のまま上記駆動モータの自走
により矢符(4) 方向へタクト送りされた後、再び上記シ
リンダ装置により下降して、搬出位置へ供給載置され、
搬出口43cからの次工程への搬出を待機する。Then, the carrier cassette 1 transferred and mounted from the substrate standby section B, which will be described later, onto the turntable 143 of the turntable mechanism 43b is turned on.
After the horizontal posture of the 43 is rotated horizontally by 90 degrees from the washing posture to the carry-out posture by the horizontal rotation of 43, and the posture is changed,
After being lifted up by the cylinder device of the tact feeding mechanism 43a, the tactile feed is carried out in the direction of the arrow (4) by the self-propelled drive motor in this state, and then lowered again by the cylinder device to the unloading position. Supplied to
It waits for the carry-out from the carry-out port 43c to the next process.
【0055】基板移載部Cは、基板待機部Bのキャリア
カセット1と基板洗浄部Dの基板搬送処理装置50との
間でウエハW,W,…を移し替えるもので、上記基板待
機部Bおよび基板洗浄部Dの間に配置されている。The substrate transfer section C transfers wafers W, W,... Between the carrier cassette 1 of the substrate standby section B and the substrate transfer processing device 50 of the substrate cleaning section D. And between the substrate cleaning section D.
【0056】この基板移載部Cは、具体的には図示しな
いが、キャリアカセット1を2個並列して載置するカセ
ット置台55と、このカセット置台55上のキャリアカ
セット1,1に対してウエハW,W,…を突上げ昇降さ
せる二つの基板突上げ機構56,57とを備えてなり、
2つのキャリアカセット1,1に収納されるウエハW,
W,…(図示の実施形態においては52枚)を一括して
基板搬送処理装置50に移載する構成とされている。Although not specifically shown, the substrate transfer section C includes a cassette table 55 on which two carrier cassettes 1 are mounted in parallel, and a carrier cassette 1, 1 on the cassette table 55. Are provided with two substrate push-up mechanisms 56 and 57 for raising and lowering the wafers W, W,.
The wafers W stored in the two carrier cassettes 1, 1
(In the illustrated embodiment, 52 sheets) are collectively transferred to the substrate transfer processing apparatus 50.
【0057】また、上記突上げ機構56,57は、具体
的には図示しないが、キャリアカセット1と基板洗浄部
Dの基板搬送処理装置50との間でウエハW,W,…を
移し替えるに際して、基板搬送処理装置50の基板チャ
ックアーム61,61と協働して、ウエハW,W,…の
配列方向を変換する配列変換手段としても機能する。つ
まり、突き上げ機構56,57は、ウエハW,W,…を
移し替えるに際して、全ウエハW,W,…が同一方向へ
向けて配列される搬送配列方向と、隣接するウエハW,
W同士の表面と表面、裏面と裏面がそれぞれ対向して配
列される洗浄配列方向との間で配列方向を変換する。Although not specifically shown, the push-up mechanisms 56 and 57 are used when transferring wafers W, W,... Between the carrier cassette 1 and the substrate transfer processing device 50 of the substrate cleaning section D. , In cooperation with the substrate chuck arms 61 of the substrate transfer processing apparatus 50, also functions as an array conversion means for changing the array direction of the wafers W, W,. In other words, when transferring the wafers W, W,..., The push-up mechanisms 56, 57 transfer the wafers W, W,.
The arrangement direction is changed between the cleaning arrangement direction in which the front surfaces and the back surfaces of the Ws are arranged opposite to each other.
【0058】これに関連して、上記基板搬送処理装置5
0の基板チャックアーム61,61は、図11に示すよ
うに、52枚のウエハW,W,…を下側から保持する保
持溝61a,61bを備えるとともに、隣接する保持溝
61aと61bは、図11(a) および(b) にそれぞれ示
すような構造とされている。つまり、これらの保持溝6
1a,61bは、基板チャックアーム61,61の回転
操作位置により、ウエハWのチャッキング動作(チャッ
キング(ウエハ保持)、チャッキング解除(ウエハ上下
通過可能))を行うように構成されている。In connection with this, the substrate transfer processing device 5
As shown in FIG. 11, the substrate chuck arms 61 have holding grooves 61a and 61b for holding 52 wafers W, W,... From below, and the adjacent holding grooves 61a and 61b The structure is as shown in FIGS. 11 (a) and 11 (b). That is, these holding grooves 6
1a and 61b are configured to perform a chucking operation (chucking (wafer holding) and a chucking release (wafer up-and-down passing)) of the wafer W according to the rotational operation position of the substrate chuck arms 61 and 61.
【0059】そして、上記基板搬送処理装置50が基板
移載部Cの上方位置に位置決め待機した状態で、上記突
上げ機構56,57と基板チャックアーム61,61の
協働作用により、二つのキャリアカセット1,1の52
枚のウエハW,W,…が、同一方向へ向けて配列される
搬送配列方向から、隣接するウエハW,W同士の表面と
表面、裏面と裏面がそれぞれ対向して配列される洗浄配
列方向に配列方向を変換されて、基板搬送処理装置50
の基板チャックアーム61,61上に移載されることと
なる。In a state where the substrate transfer processing device 50 is positioned above the substrate transfer section C and is on standby, the two carriers are cooperated by the push-up mechanisms 56, 57 and the substrate chuck arms 61, 61. 52 of cassettes 1, 1
Are arranged in the cleaning arrangement direction in which the front and back surfaces of the adjacent wafers W, W, and the back and back surfaces are arranged to face each other, from the transfer arrangement direction in which the wafers W, W,. The arrangement direction is changed, and the substrate transfer processing device 50 is changed.
Are transferred onto the substrate chuck arms 61, 61.
【0060】これと逆に、基板搬送処理装置50から二
つの空のキャリアカセット1,1への処理後のウエハ
W,W,…の移載も同様に行われる。この場合、これら
空のキャリアカセット1,1は、後述するように、処理
前のウエハW,W,…が搬入時に収納されていたのとそ
れぞれ同一のものである。Conversely, the transfer of the processed wafers W, W,... From the substrate transfer processing apparatus 50 to the two empty carrier cassettes 1, 1 is performed in the same manner. In this case, these empty carrier cassettes 1, 1 are the same as those in which the unprocessed wafers W, W,.
【0061】基板洗浄部Dは、52枚のウエハW,W,
…をカセットレスで一括して洗浄処理する部位で、高清
浄度雰囲気に維持される洗浄室内に、複数の洗浄槽から
なる洗浄槽列65と、この洗浄槽列65の側部に配設さ
れた上記基板搬送処理装置50を主要部として備えてな
る。The substrate cleaning section D includes 52 wafers W, W,
Are collectively cleaned in a cassette-less manner, and are disposed in a cleaning chamber maintained in a high cleanliness atmosphere in a cleaning tank row 65 including a plurality of cleaning tanks and on the side of the cleaning tank row 65. The above-described substrate transfer processing device 50 is provided as a main part.
【0062】洗浄槽列65は、図6に示すように、オペ
レータゾーンOに面する側からオペレータゾーンO反対
側へ直線状に延びて設けられている。つまり、ウエハ
W,W,…の処理経路は、オペレータゾーンO側端から
オペレータゾーンO反対側端への往路(矢符(2) 方向)
を通じて洗浄処理を施された後、再びその復路(矢符
(3) 方向)を通じてオペレータゾーンO側端から搬出さ
れるように構成されている。As shown in FIG. 6, the cleaning tank row 65 is provided to extend linearly from the side facing the operator zone O to the side opposite to the operator zone O. That is, the processing path of the wafers W, W,... Is the outward path from the end of the operator zone O to the end opposite to the operator zone O (in the direction of the arrow (2)).
After the cleaning process, the return route (arrow)
(3) direction) and is carried out from the end of the operator zone O side.
【0063】これに対応して、図示の実施形態の基板洗
浄部Dは、二台の基板搬送処理装置、つまり、基板洗浄
用の基板搬送処理装置50Aと、基板搬出用の基板搬送
処理装置50Bとを備える。後述するように、基板洗浄
用の基板搬送処理装置50Aは、基板移載部Cで受け取
ったウエハW,W,…を矢符(2) 方向へ搬送して、洗浄
槽列65の洗浄槽65aと65bとの間で移載処理し、
一方、基板搬出用の基板搬送処理装置50Bは、洗浄槽
65bで受け取ったウエハW,W,…を矢符(2) 方向へ
搬送して、乾燥部65dとの間で移載処理するととも
に、さらに矢符(3) 方向へ搬送して、基板移載部Cにウ
エハW,W,…を受け渡すように機能する。Correspondingly, the substrate cleaning section D of the illustrated embodiment comprises two substrate transport processing apparatuses, namely, a substrate transport processing apparatus 50A for cleaning the substrate and a substrate transport processing apparatus 50B for unloading the substrate. And As will be described later, the substrate transfer processing apparatus 50A for cleaning the substrate transfers the wafers W, W,... Received by the substrate transfer section C in the direction of the arrow (2), and cleans the cleaning tank 65a of the cleaning tank row 65. And transfer processing between 65b
On the other hand, the substrate transfer processing device 50B for unloading the substrate transfers the wafers W, W,... Received in the cleaning tank 65b in the direction of the arrow (2) and performs transfer processing with the drying unit 65d. Further, the wafer W is transferred in the direction of the arrow (3), and functions to transfer the wafers W, W,.
【0064】これら両基板搬送処理装置50A,50B
は互いに同一構造とされ、図10〜図12に示すよう
に、移動機構66により、洗浄槽列65の洗浄槽の配設
方向(矢符(2) ,(3) 方向)へ水平かつ直線状に延びる
同一移動案内部67上を移動可能とされるとともに、互
いの移動動作が干渉しないように駆動制御される構成と
されている。These two substrate transfer processing devices 50A, 50B
Have the same structure as each other, and as shown in FIGS. 10 to 12, are horizontally and linearly arranged by the moving mechanism 66 in the direction in which the cleaning tanks of the cleaning tank row 65 are arranged (the directions of arrows (2) and (3)). , And can be driven on the same movement guide 67 extending so as not to interfere with each other's movement.
【0065】具体的には、図6に示すように、上記移動
案内部67のオペレータゾーンO側端において、基板洗
浄用の基板搬送処理装置50Aが基板待機部Bの第3の
移載ロボット3Cと対向する位置まで移動可能とされて
いる。これにより、基板搬出用の基板搬送処理装置50
Bは、基板移載部Cと対向する位置まで移動できること
となる。一方、上記移動案内部67のオペレータゾーン
O反対側端において、基板搬出用の基板搬送処理装置5
0Bが洗浄槽列65の乾燥部65dと対向する位置まで
移動可能とされている。これにより、基板洗浄用の基板
搬送処理装置50Aは、洗浄槽列65のチャック洗浄槽
65cと対向する位置まで移動できることとなる。Specifically, as shown in FIG. 6, at the end of the movement guide section 67 on the operator zone O side, the substrate transfer processing apparatus 50A for cleaning the substrate is moved by the third transfer robot 3C of the substrate standby section B. It is possible to move to a position opposite to. Thereby, the substrate transfer processing device 50 for unloading the substrate
B can be moved to a position facing the substrate transfer section C. On the other hand, at the end of the movement guide section 67 opposite to the operator zone O, the substrate transport processing device 5
OB is movable to a position facing the drying section 65d of the cleaning tank row 65. Thus, the substrate transfer processing apparatus 50A for cleaning the substrate can be moved to a position facing the chuck cleaning tank 65c of the cleaning tank row 65.
【0066】これら両基板搬送処理装置50A,50B
は、前述したように、52枚のウエハW,W,…を直接
カセットレスで把持する構造を備えた一対の基板チャッ
クアーム61,61を備える。These two substrate transfer processing devices 50A, 50B
Is provided with a pair of substrate chuck arms 61, 61 having a structure for directly holding the 52 wafers W, W,... Without a cassette.
【0067】これら一対の基板チャックアーム61,6
1は、開閉機構68により、その軸心まわりに互いに同
期して回転し、前述した基板移載部Cの基板突上げ機構
56、57との協働による基板移載動作に加えて、後述
する洗浄槽列65の洗浄槽65a,65bの基板保持部
70との協働によるウエハW,W,…の移載動作、およ
び乾燥部65dとの協働によるウエハW,W,…の移載
動作を行う構成とされている。The pair of substrate chuck arms 61 and 6
1 is rotated by an opening / closing mechanism 68 around its axis in synchronization with each other, and in addition to the above-described substrate transfer operation in cooperation with the substrate push-up mechanisms 56 and 57 of the substrate transfer portion C, will be described later. The transfer operation of the wafers W, W,... In cooperation with the substrate holding unit 70 of the cleaning tanks 65a, 65b of the cleaning tank row 65, and the transfer operation of the wafers W, W,. Is performed.
【0068】洗浄槽列65は複数の洗浄槽を備えてな
り、上述したように、2つの洗浄槽65a,65bが設
けられるとともに、これら洗浄槽に連続して、基板搬送
処理装置50の基板チャックアーム61を洗浄するチャ
ック洗浄槽65cと、ウエハW,W,…を乾燥させる乾
燥部65dが設けられている。The cleaning tank array 65 includes a plurality of cleaning tanks. As described above, the two cleaning tanks 65a and 65b are provided, and the substrate chuck of the substrate transfer processing apparatus 50 is connected to these cleaning tanks. A chuck cleaning tank 65c for cleaning the arm 61 and a drying unit 65d for drying the wafers W are provided.
【0069】図示の実施形態においては、上記洗浄槽6
5aは薬液としてSPM(H2 SO 4 +H2 O2 +H2
O)液を用いる洗浄槽であり、また洗浄槽65bは薬液
としてAPM(NH4 OH+H2 O2 +H2 O)液を用
いる洗浄槽である。これら洗浄槽65a,65bはいず
れも、薬液を槽の上部から溢れさせて上昇流を形成する
オーバフロー槽の形態とされ、また薬液処理後には薬液
に替えて純水を満たしてウエハW,W,…を濯ぐ構成と
されている。In the illustrated embodiment, the cleaning tank 6
5a is SPM (HTwoSO Four+ HTwoOTwo+ HTwo
O) A cleaning tank using a liquid, and the cleaning tank 65b is a chemical tank.
APM (NHFourOH + HTwoOTwo+ HTwoO) Use liquid
Cleaning tank. These cleaning tanks 65a and 65b are not needed
In this case, the chemical liquid overflows from the top of the tank and forms an upward flow
It is in the form of an overflow tank, and after chemical treatment,
Rinsing the wafers W, W,... With pure water instead of
Have been.
【0070】また、上記洗浄槽65a,65bには、基
板搬送処理装置50からウエハW,W,…を受け取って
保持する基板保持部70が設けられている。この基板保
持部70は、図12に示すように、ウエハW,W,…の
下側部分を所定の配列ピッチ(例えば6.35mmピッ
チ)をもって保持する保持溝を備えるとともに、昇降機
構71により、洗浄槽65aまたは65b槽内において
昇降可能で、上記基板搬送処理装置50からウエハW,
W,…を受取り保持する。Further, the cleaning tanks 65a and 65b are provided with a substrate holding section 70 for receiving and holding the wafers W, W,... From the substrate transfer processing apparatus 50. As shown in FIG. 12, the substrate holding unit 70 has a holding groove for holding the lower portions of the wafers W, W,... At a predetermined arrangement pitch (for example, a pitch of 6.35 mm). The wafer W can be moved up and down in the cleaning tank 65a or 65b.
W, ... are received and held.
【0071】そして、この洗浄槽65a, 65bにおけ
る基板搬送処理装置50からのウエハW,W,…の受渡
し(移載)動作は、基板搬送処理装置50が洗浄槽65
a,65bの上方位置に位置した状態で、基板保持部7
0の昇降動作と基板搬送処理装置50の基板チャックア
ーム61,61の回転動作との協働作用により行われ
る。The transfer (transfer) of wafers W, W,... From the substrate transfer processing apparatus 50 in the cleaning tanks 65a and 65b is performed by the substrate transfer processing apparatus 50.
a, 65b, the substrate holding portion 7
0 and the rotation of the substrate chuck arms 61 of the substrate transfer processing apparatus 50 are performed in cooperation with each other.
【0072】すなわち、具体的には図示しないが、基板
保持部70が上昇して、基板チャックアーム61,61
の保持溝61a,61bに保持されているウエハW,
W,…を下側から保持して持ち上げる。That is, although not specifically shown, the substrate holding section 70 is lifted and the substrate chuck arms 61 and 61 are moved.
Wafers W held in the holding grooves 61a and 61b of
Hold W, ... from below and lift.
【0073】ウエハW,W,…が基板チャックアーム6
1,61と干渉しない上方位置まで持ち上げられたら、
左右基板チャックアーム61,61が所定方向へ所定角
度だけ回転して、これらアーム61,61の保持溝61
a, 61bをチャッキング解除(ウエハ上下通過可能)
状態とし、この状態において、基板保持部70が下降す
ると、ウエハW,W,…が洗浄槽65a, 65b内の薬
液に浸漬される。The wafers W, W,...
When lifted to an upper position that does not interfere with 1,61,
The left and right substrate chuck arms 61 are rotated in a predetermined direction by a predetermined angle, and the holding grooves 61 of these arms 61, 61 are rotated.
Release chucking of a and 61b (wafer can pass vertically)
In this state, when the substrate holding unit 70 is lowered, the wafers W, W,... Are immersed in the chemical solution in the cleaning tanks 65a and 65b.
【0074】また、洗浄槽65a, 65bにおけるウエ
ハW,W,…の洗浄工程が完了すると、上記と逆に、こ
の洗浄槽65a, 65bから基板搬送処理装置50への
ウエハW,W,…の移載が行われるが、この一連の移載
動作は上記と逆の要領で行われることとなる。When the cleaning process of the wafers W, W,... In the cleaning tanks 65a, 65b is completed, the wafers W, W,. Transfer is performed, and this series of transfer operations is performed in a manner reverse to that described above.
【0075】乾燥部65dは、具体的には、ウエハW,
W,…をスピンさせて水を遠心分離しながら乾燥させる
スピンドライヤからなる。The drying section 65d specifically includes the wafer W,
W,... Are spun and dried while centrifuging water.
【0076】図示の実施形態のスピンドライヤ65d
は、図15に示すような構造を備えた横軸式もので、密
閉可能な略円筒状のチャンバ81内に高速回転するロー
タ82が内装されてなる。The spin dryer 65d of the illustrated embodiment
Is a horizontal axis type having a structure as shown in FIG. 15, in which a rotor 82 which rotates at high speed is housed in a substantially cylindrical chamber 81 which can be sealed.
【0077】チャンバ81には、HEPAフィルタ83
を介してチャンバ81外に開放連通されている吸気口8
1aと、図外の負圧源を介して工場排気設備へ連通され
ている排気口81bが設けられており、HEPAフィル
タ83および吸気口81aを介してチャンバ81内へ導
入される清浄空気は、排気口81bから工場排気設備へ
強制排気される構成とされている。The HEPA filter 83 is provided in the chamber 81.
The intake port 8 which is openly communicated with the outside of the chamber 81 through the
1a, and an exhaust port 81b communicating with a factory exhaust system through a negative pressure source (not shown) is provided. Clean air introduced into the chamber 81 through the HEPA filter 83 and the intake port 81a is: The exhaust port 81b is configured to be forcibly exhausted to a factory exhaust facility.
【0078】ロータ82は、上記チャンバ81内に水平
状態で回転可能に軸支されてなるとともに、図外の駆動
モータに駆動連結されている。また、ロータ82には、
ウエハW,W,…を直接保持する基板保持部85が設け
られており、この基板保持部85は、これらウエハW、
W、…を所定の配列ピッチをもって保持する櫛歯形状の
保持溝を備えた保持杆85a,85bから構成されてい
る。The rotor 82 is rotatably supported in the chamber 81 so as to be rotatable in a horizontal state, and is drivingly connected to a drive motor (not shown). The rotor 82 has
A substrate holder 85 for directly holding the wafers W, W,... Is provided.
.. Are held at predetermined arrangement pitches, and are composed of holding rods 85a and 85b having holding grooves in the form of comb teeth.
【0079】そして、チャンバ81内が密封状態とされ
た後、強制排気が行われながら、ロータ82の高速回転
により、ロータ82の基板保持部85に保持されたウエ
ハW、W、…の水切りおよびスピン乾燥が行われる。After the inside of the chamber 81 is sealed, the wafers W, W,... Held on the substrate holding portion 85 of the rotor 82 are drained and drained by the high-speed rotation of the rotor 82 while forced evacuation is performed. Spin drying is performed.
【0080】また、上記チャンバ81の底部には、ロー
タ82の基板保持部85に対してウエハW、W、…を搬
入搬出するための基板搬入搬出部86が設けられてい
る。A substrate loading / unloading section 86 for loading / unloading wafers W, W,... With respect to the substrate holding section 85 of the rotor 82 is provided at the bottom of the chamber 81.
【0081】この基板搬入搬出部86は、ウエハW,
W,…を保持する基板保持部87を備える。この基板保
持部87は、ロータ82の基板保持部85と同様、ウエ
ハW、W、…の下側部分を所定の配列ピッチをもって保
持する櫛歯形状の保持溝を備えた一対の保持杆87a,
87aからなる。The substrate loading / unloading section 86 includes wafers W,
And a substrate holding portion 87 for holding W,. Like the substrate holding portion 85 of the rotor 82, the substrate holding portion 87 has a pair of holding rods 87a, having a comb-shaped holding groove for holding the lower portions of the wafers W, W,.
87a.
【0082】また、基板保持部87は、昇降機構88に
より、チャンバ81の底部から、開閉可能な開口81c
を介して、チャンバ81の外部上方まで昇降可能で、上
記基板搬送処理装置50からウエハW,W,…を受取り
保持する。The substrate holding portion 87 is opened and closed by a lifting mechanism 88 from the bottom of the chamber 81.
Can be moved up and down to the outside of the chamber 81 via the substrate transfer processing device 50 to receive and hold the wafers W, W,.
【0083】そして、このスピンドライヤ65dにおけ
る基板搬送処理装置50からのウエハW,W,…の受渡
し(移載)動作は、基板搬送処理装置50がスピンドラ
イヤ65dの上方位置に位置した状態で、基板保持部8
7の昇降動作と基板搬送処理装置50の基板チャックア
ーム61,61の回転動作との協働作用により行われ
る。The transfer (transfer) of the wafers W, W,... From the substrate transfer processing device 50 in the spin dryer 65d is performed with the substrate transfer processing device 50 positioned above the spin dryer 65d. Substrate holder 8
7 and the rotating operation of the substrate chuck arms 61 of the substrate transfer processing apparatus 50.
【0084】すなわち、具体的には図示しないが、基板
保持部87がスピンドライヤ65dの上方まで上昇し
て、基板チャックアーム61,61の保持溝61a,6
1bに保持されているウエハW,W,…を下側から保持
して持ち上げる。That is, although not specifically shown, the substrate holding portion 87 is raised above the spin dryer 65d, and the holding grooves 61a, 6 of the substrate chuck arms 61, 61 are moved.
Are held from below and lifted.
【0085】続いて、ウエハW,W,…が基板チャック
アーム61,61と干渉しない上方位置まで持ち上げら
れたら、左右基板チャックアーム61,61が所定方向
に所定角度だけ回転して、これらアーム61,61の保
持溝61a, 61bをチャッキング解除(ウエハ上下通
過可能)状態とし、この状態において、基板保持部37
が下降すると、ウエハW,W,…がスピンドライヤ65
dのチャンバ81内へ搬入されて、ロータ82の基板保
持部85に移載保持される。When the wafers W, W,... Are lifted to an upper position where they do not interfere with the substrate chuck arms 61, 61, the left and right substrate chuck arms 61, 61 rotate in a predetermined direction by a predetermined angle, and these arms 61, 61 are rotated. The holding grooves 61a and 61b of the first and second chucks 61 are released from the chucking state (allowing the wafer to pass up and down).
Move down, the wafers W, W,.
d, is carried into the chamber 81, and is transferred and held by the substrate holding portion 85 of the rotor 82.
【0086】また、スピンドライヤ65dにおけるウエ
ハW,W,…のスピン乾燥工程が完了すると、上記と逆
に、このスピンドライヤ65dから基板搬送処理装置5
0へのウエハW,W,…の搬出移載が行われるが、この
一連の移載動作は上記と逆の要領で行われることとな
る。When the spin drying process of the wafers W, W,... In the spin dryer 65d is completed, the substrate transfer processing device 5
Are carried out and transferred to 0, and this series of transfer operations is performed in a manner reverse to that described above.
【0087】また、洗浄槽65bとスピンドライヤ65
dとの間に配置されたチャック洗浄槽65cは、図13
および図14に示すように、基板搬送処理装置50の基
板チャックアーム61を洗浄する洗浄部90を備える。
この洗浄部90は、図14に示すように、基板チャック
アーム61の左右両側を覆うような凹部形状とされると
とともに、基板チャックアーム61に対して洗浄液を噴
射する噴射ノズル91が複数設けられている。The washing tank 65 b and the spin dryer 65
13d, the chuck cleaning tank 65c disposed between
As shown in FIG. 14, a cleaning section 90 for cleaning the substrate chuck arm 61 of the substrate transfer processing apparatus 50 is provided.
As shown in FIG. 14, the cleaning unit 90 has a concave shape that covers the left and right sides of the substrate chuck arm 61, and is provided with a plurality of injection nozzles 91 that inject a cleaning liquid to the substrate chuck arm 61. ing.
【0088】図示の実施形態においては、図13および
図14に示すように、基板チャックアーム61のすべて
の保持溝61a,61b,…に対して左右両側から洗浄
液を噴射するべく、5つの噴射ノズル91,91,…の
組からなる噴射ノズル列92が上下および左右に2列、
つまり合計20個(5×4=20)の噴射ノズル91,
91,…が配設されている。In the illustrated embodiment, as shown in FIGS. 13 and 14, five spray nozzles are used to spray the cleaning liquid to all the holding grooves 61a, 61b,. The injection nozzle row 92 composed of a set of 91, 91,.
That is, a total of 20 (5 × 4 = 20) injection nozzles 91,
91,... Are provided.
【0089】また、洗浄部90は、昇降機構93によ
り、チャック洗浄槽65c内において昇降可能で、回転
する上記基板チャックアーム61の保持溝61a,61
b,…に対して、昇降動作しながら洗浄液を噴射して洗
浄するとともに、同時に乾燥を行う構成とされている。
実際にはこの洗浄工程を、一対の基板チャックアーム6
1,61に対してそれぞれ行うことになる。The cleaning section 90 can be moved up and down in the chuck cleaning tank 65c by an elevating mechanism 93, and the holding grooves 61a and 61 of the rotating substrate chuck arm 61 are rotated.
With respect to b,..., a cleaning liquid is sprayed while moving up and down, and cleaning is performed at the same time.
In practice, this cleaning step is performed by a pair of substrate chuck arms 6.
1 and 61 respectively.
【0090】制御装置(制御部)Eは、上記基板搬入出
部A、基板待機部B、基板移載部Cおよび基板洗浄部D
を互いに同期させて駆動制御するもので、この制御装置
Eにより、以下の洗浄処理工程がウエハW,W,…の搬
入時から搬出時まで全自動で行われることとなる。The control unit (control unit) E includes the substrate loading / unloading unit A, substrate standby unit B, substrate transfer unit C, and substrate cleaning unit D.
Are controlled in synchronism with each other, and the following cleaning processing steps are automatically performed by the control device E from the time when the wafers W, W,.
【0091】I.ウエハW,W,…の搬入: (1) 前工程の終了したウエハW,W,…はキャリアカセ
ット3内に収納された状態で、図示しない無人搬送車
(AGV)や搬入コンベア等の自動搬入手段あるいはオ
ペレータにより手作業で基板搬入出部Aの基板搬入部4
2に搬入される。I. Loading of wafers W, W,... (1) The wafers W, W,... Which have been subjected to the preceding process are stored in the carrier cassette 3, and are automatically loaded into an unillustrated automatic guided vehicle (AGV) or a loading conveyor. The board loading / unloading section 4 of the board loading / unloading section A is manually operated by means or an operator.
It is carried into 2.
【0092】(2) 搬入されたキャリアカセット1,1,
…は、タクト送り機構42aにより前述のごとく順次矢
符(1) の経路でタクト送りされた後、ターンテーブル機
構42bにより水平回転されて、ウエハW,W,…の水
平方向姿勢が、搬入姿勢から洗浄姿勢へ姿勢変換され
て、基板待機部Bへの移送を待機する。(2) Carrier cassettes 1, 1, carried in
Are successively fed by the tact feeding mechanism 42a along the path indicated by the arrow (1) as described above, and then horizontally rotated by the turntable mechanism 42b, so that the horizontal attitude of the wafers W, W,. Then, the posture is changed to the cleaning posture, and the transfer to the substrate standby unit B is awaited.
【0093】(3) 基板待機部Bの第1の移載ロボット3
Aにより、ターンテーブル機構42b上に待機する処理
前のウエハW,W,…を収納したキャリアカセット1
は、順次搬入側ストッカ部2Aのいずれかのカセット載
置部5上に移載され、ストックされる。(3) First transfer robot 3 in substrate standby section B
A, the carrier cassette 1 storing the unprocessed wafers W, W,... Waiting on the turntable mechanism 42b.
Are sequentially transferred onto one of the cassette mounting sections 5 of the loading side stocker section 2A and are stocked.
【0094】(4) 一方、第1の移載ロボット3Aによ
り、既にこの搬入側ストッカ部2Aに最初にストックさ
れている処理前のウエハW,W,…を収納したキャリア
カセット1が、第3の移載ロボット3Cへの搬入側受渡
し位置144に移載される。(4) On the other hand, by the first transfer robot 3A, the carrier cassette 1 containing the unprocessed wafers W, W,. Is transferred to the transfer side transfer position 144 to the transfer robot 3C.
【0095】この搬入側受渡し位置144の処理前のウ
エハW,W,…を収納したキャリアカセット1は、第3
の移載ロボット3Cにより、基板移載部Cに移載され
る。The carrier cassette 1 in which the unprocessed wafers W, W,...
Is transferred to the substrate transfer section C by the transfer robot 3C.
【0096】(5) 基板移載部Cのカセット置台55上に
キャリアカセット1が2個載置されると、突上げ機構5
6,57により、キャリアカセット1,1内に収納され
た処理前のウエハW,W,…は、基板洗浄部Dの基板洗
浄用の基板搬送処理装置50Aに移し替えられ、この際
に、全ウエハW,W,…が同一方向へ向けて配列される
搬送配列方向から、隣接するウエハW,W同士の表面と
表面、裏面と裏面がそれぞれ対向して配列される洗浄配
列方向に配列方向を変換される。(5) When two carrier cassettes 1 are placed on the cassette table 55 of the substrate transfer section C, the push-up mechanism 5
6 and 57, the unprocessed wafers W, W,... Stored in the carrier cassettes 1 and 1 are transferred to the substrate transfer processing apparatus 50A for cleaning the substrate in the substrate cleaning section D. .. Are arranged in the cleaning arrangement direction in which the front and back surfaces and the back and back surfaces of the adjacent wafers W and W are arranged to face each other, from the transfer arrangement direction in which the wafers W are arranged in the same direction. Is converted.
【0097】(6) これらウエハW,W,…が取り出され
た空カセット1、1は、再び、基板待機部Bの第3の移
載ロボット3Cにより、搬出側受渡し位置145に移載
され、さらに第2の移載ロボット3Bにより、搬出側ス
トッカ部2Bのいずれかのカセット載置部5上に移載さ
れ、ストックされる。(6) The empty cassettes 1, 1 from which the wafers W, W,... Have been taken out are again transferred to the unloading side transfer position 145 by the third transfer robot 3C of the substrate standby section B. Further, the second transfer robot 3B transfers and stocks any one of the cassette mounting sections 5 of the unloading side stocker section 2B.
【0098】II.ウエハW,W,…の洗浄: (7) 基板洗浄用の基板搬送処理装置50Aにカセットレ
スで保持されたウエハW,W,…は、洗浄槽列65の二
つの洗浄槽65a,65bの基板保持部70に順次受け
渡されて、それぞれの薬液中に順次浸漬されて、洗浄処
理が施される。II. Cleaning of wafers W, W,...: (7) The wafers W, W,... Held in the substrate transfer processing apparatus 50A for substrate cleaning without a cassette are the substrates of the two cleaning tanks 65a, 65b of the cleaning tank row 65. It is sequentially delivered to the holding unit 70 and is sequentially immersed in each of the chemicals, and is subjected to a cleaning process.
【0099】(8) 二つの洗浄槽65a,65bによる洗
浄処理を完了したウエハW,W,…は、基板搬出用の基
板搬送処理装置50Bにより、スピンドライヤ65dま
で搬送されて受け渡され、ここでスピン乾燥処理され
る。(8) The wafers W, W,... Which have been subjected to the cleaning processing by the two cleaning tanks 65a, 65b are transferred to the spin dryer 65d by the substrate transfer processing apparatus 50B for unloading the substrate, and are transferred. For spin drying.
【0100】III.ウエハW,W,…の搬出: (9) 乾燥処理後のウエハW,W,…は、再びスピンドラ
イヤ65dから基板搬出用の基板搬送処理装置50Bに
受け渡された後、基板移載部Cまで搬送される。このと
き、基板洗浄用の基板搬送処理装置50Aは基板待機部
Bの第3の移載ロボット3Cと対向する位置まで移動し
て退避している。III. Unloading of Wafers W, W,... (9) The wafers W, W,... After the drying process are transferred again from the spin dryer 65d to the substrate transfer processing device 50B for unloading the substrate. It is transported to the substrate transfer section C. At this time, the substrate transport processing apparatus 50A for cleaning the substrate has moved to the position facing the third transfer robot 3C in the substrate standby section B and has been retracted.
【0101】(10)これと同時あるいは予め、基板移載部
Cのカセット置台55上には、基板待機部Bの第3の移
載ロボット3Cにより、処理前の上記ウエハW,W,…
が搬入時に収納されていたのと同一の空のキャリアカセ
ット1,1が移載される。(10) Simultaneously or in advance, the wafers W, W,... Before processing are placed on the cassette table 55 of the substrate transfer section C by the third transfer robot 3C of the substrate standby section B.
The same empty carrier cassette 1, 1 that was stored at the time of loading is transferred.
【0102】(11)上記カセット置台55上にキャリアカ
セット1が2個載置されると、突上げ機構56,57に
より、基板搬送処理装置50Bの基板チャックアーム6
1,61に保持された処理後のウエハW,W,…は、前
述した要領で、二つのキャリアカセット1,1内に26
枚ずつ移し替えられて収納される。この際に、ウエハ
W,W,…の配列方向は、隣接するウエハW,W同士の
表面と表面、裏面と裏面がそれぞれ対向して配列される
洗浄配列方向から全ウエハW,W,…が同一方向へ向け
て配列される搬送配列方向に変換される。(11) When two carrier cassettes 1 are placed on the cassette mounting table 55, the push-up mechanisms 56 and 57 cause the substrate chuck arm 6 of the substrate transfer processing apparatus 50B to move.
The processed wafers W, W,... Held in the two carrier cassettes 1, 1 are stored in the two carrier cassettes 1, 1 in the manner described above.
They are transferred and stored one by one. At this time, the arrangement direction of the wafers W, W,... Is such that all the wafers W, W,. The images are converted in the transport arrangement direction arranged in the same direction.
【0103】(12)基板待機部Bの第3の移載ロボット3
Cにより、上記カセット置台55上に待機する処理後の
ウエハW,W,…を収納したキャリアカセット1,1
は、順次上記搬出側受渡し位置145に移載される。(12) Third transfer robot 3 in substrate standby section B
C, the carrier cassettes 1, 1 storing the processed wafers W, W,... Waiting on the cassette table 55.
Are sequentially transferred to the delivery side delivery position 145.
【0104】(14)この搬出側受渡し位置145に移載さ
れた処理後のウエハW,W,…を収納したキャリアカセ
ット1,1は、第2の移載ロボット3Bにより、順次基
板搬入出部Aの基板搬出部43のターンテーブル機構4
3bに移載される。(14) The carrier cassettes 1, 1 storing the processed wafers W, W,... Transferred to the transfer side transfer position 145 are sequentially transferred to the substrate transfer section by the second transfer robot 3B. Turntable mechanism 4 of substrate unloading section 43 of A
3b.
【0105】(15)ターンテーブル機構42bに移載され
たキャリアカセット1は、ターンテーブル機構42bに
より水平回転されて、ウエハW,W,…の水平方向姿勢
が、洗浄姿勢から搬出姿勢へ姿勢変換される。(15) The carrier cassette 1 transferred to the turntable mechanism 42b is horizontally rotated by the turntable mechanism 42b, and the horizontal attitude of the wafers W is changed from the cleaning attitude to the unloading attitude. Is done.
【0106】(16)姿勢変換されたキャリアカセット1,
1,…は、タクト送り機構43aにより前述のごとく順
次矢符(4) の経路でタクト送りされた後、搬出口43c
から図示しないAGVや搬出コンベア等の搬出手段によ
り次の工程へ向けて搬送される。(16) Carrier cassette 1 whose posture has been changed
Are sequentially tact-fed by the tact feeding mechanism 43a along the path indicated by the arrow (4) as described above,
Then, the wafer is conveyed to the next process by unloading means such as an unillustrated AGV or unloading conveyor.
【0107】IV. 基板搬送処理装置50の基板チャック
アーム61を洗浄:基板洗浄用の基板搬送処理装置50
Aと基板搬出用の基板搬送処理装置50Bの基板チャッ
クアーム61,61は、ウエハW,W,…を搬送処理し
ていない時に、所定のインターバルをもって、または適
宜チャック洗浄槽65cへ移動して、洗浄部90により
洗浄乾燥処理される。IV. Substrate Chuck of Substrate Transfer Processing Apparatus 50
Cleaning arm 61: substrate transfer processing device 50 for substrate cleaning
A and the substrate chuck arms 61 of the substrate transfer processing apparatus 50B for unloading the substrate are moved to the chuck cleaning tank 65c at predetermined intervals or when appropriate, when the wafers W, W,. The cleaning and drying process is performed by the cleaning unit 90.
【0108】しかして、本発明において、キャリアカセ
ット1を載置するカセット載置部5が上下方向へ複数段
に積層配置されてなる立体型のカセットストッカ2と、
このカセットストッカ2のカセット載置部5,5,…に
対してキャリアカセット1を移載する移載ロボット3
(3A,3B,3C)とを備えてなることにより、基板
洗浄システムの内部に立体的で省スペース構造のカセッ
ト保管スペースを確保することができ、基板洗浄システ
ム外部の必要スペースを可及的に小さく設定することが
可能となる。According to the present invention, the three-dimensional cassette stocker 2 in which the cassette mounting portions 5 for mounting the carrier cassettes 1 are vertically stacked in a plurality of stages,
The transfer robot 3 transfers the carrier cassette 1 to the cassette mounting portions 5, 5,... Of the cassette stocker 2.
(3A, 3B, 3C), a three-dimensional, space-saving cassette storage space can be secured inside the substrate cleaning system, and the necessary space outside the substrate cleaning system is reduced as much as possible. It can be set smaller.
【0109】また、本基板洗浄システムにおいては、ウ
エハ処理経路は、ウエハW,W,…がオペレータゾーン
O側からオペレータゾーンO反対側への往路を通じて洗
浄処理を施された後、再びその復路を通じてオペレータ
ゾーンO側から搬出されるように構成されており、これ
により、上記基板待機部Bのコパクト設計とも相まっ
て、洗浄システムの片側にのみオペレータゾーンOを必
要とするコンパクトな構成とされており、この点でもシ
ステムの設置スペースの縮小化が可能となる。In the present substrate cleaning system, the wafer processing path is such that the wafers W, W,... Are subjected to the cleaning processing through the outward path from the operator zone O side to the opposite side of the operator zone O, and then through the return path again. It is configured to be carried out from the operator zone O side, and thus, in combination with the compact design of the substrate standby unit B, the cleaning system has a compact configuration that requires the operator zone O on only one side of the cleaning system. In this respect, the installation space of the system can be reduced.
【0110】さらに、基板搬入出部A、基板待機部B、
基板移載部Cおよび基板洗浄部Dを互いに同期させて駆
動制御する制御装置Eを備えて、前工程からキャリアカ
セット1に収納され搬入されるウエハW,W,…を、基
板搬送処理装置50(50A,50B)に移し替えてカ
セットレスで洗浄処理するとともに、再び搬入時と同一
のキャリアカセット1に戻して次工程へ搬出する一連の
洗浄工程の完全自動化が実現している。しかも、搬出時
にウエハW,W,…が収納されるキャリアカセット1
が、搬入時に収納されていたのと同一になるようにシス
テム全体が駆動制御されるため、ウエハW,W,…の保
管・管理、さらにはその工程履歴の管理も自動で確実に
行われる。Further, the substrate loading / unloading section A, the substrate standby section B,
Is provided with a control device E that drives and controls the substrate transfer section C and the substrate cleaning section D in synchronization with each other, and transfers the wafers W, W,... (50A, 50B), the cleaning process is performed without a cassette, and a series of cleaning processes of returning to the same carrier cassette 1 as that at the time of carrying in and carrying out to the next process are completely automated. Moreover, the carrier cassette 1 in which the wafers W, W,.
However, since the entire system is driven and controlled to be the same as that stored at the time of loading, the storage and management of the wafers W, W,... And the management of the process history thereof are automatically and reliably performed.
【0111】なお、上述した実施形態はあくまでも本発
明の好適な実施態様を示すためのものであって、本発明
はこれに限定して解釈されるべきでなく、本発明の範囲
内で種々設計変更可能である。例えば、以下のような改
変が可能である。The above-described embodiments are merely intended to show preferred embodiments of the present invention, and the present invention should not be construed as being limited thereto, and various designs may be made within the scope of the present invention. Can be changed. For example, the following modifications are possible.
【0112】(1)図示の実施形態においては、カセッ
トストッカ2は、搬入出側に共有の構造とされている
が、対象となる洗浄システムの構成に応じて、搬入側あ
るいは搬出側に専用の構造とされても良く、この場合
は、移載ロボット3の設置数も対応して設定される。(1) In the illustrated embodiment, the cassette stocker 2 has a structure shared by the loading and unloading sides. However, the cassette stocker 2 is dedicated to the loading or unloading side depending on the configuration of the target cleaning system. In this case, the number of transfer robots 3 to be installed is set correspondingly.
【0113】(2)本発明のカセット保管装置は、図示
の実施形態のようなウエハW,W,…をキャリアカセッ
ト1から取り出して洗浄処理するカセットレスタイプの
洗浄システムのほか、ウエハW,W,…をキャリアカセ
ット1に収納したまま洗浄処理するカセットタイプの洗
浄システムにも採用可能である。(2) The cassette storage device according to the present invention includes a cassetteless type cleaning system for taking out wafers W, W,. ,.. Can be adopted in a cassette type cleaning system for performing a cleaning process while being stored in the carrier cassette 1.
【0114】(3)また、図示の実施形態にける基板洗
浄システムを構成する各構成装置の具体的構造について
は、図示例に限定されることなく種々設計変更可能であ
る。一例として、基板洗浄部Cの具体的構成について
も、その洗浄目的および方法等に応じて洗浄槽を増加す
る等、種々設計変更される。(3) The specific structure of each component constituting the substrate cleaning system in the illustrated embodiment can be variously changed without being limited to the illustrated example. As an example, the design of the specific configuration of the substrate cleaning section C is also variously changed, for example, the number of cleaning tanks is increased in accordance with the purpose and method of cleaning.
【0115】[0115]
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
キャリアカセットを載置するカセット載置部が上下方向
へ複数段に積層配置されてなる立体型のカセットストッ
カと、このカセットストッカのカセット載置部に対して
キャリアカセットを移載する移載ロボットとを備えてな
るから、基板洗浄システムの内部に立体的で省スペース
構造のカセット保管スペースを確保することができ、基
板洗浄システム外部の必要スペースを可及的に小さく設
定することを可能とするカセット保管装置を提供するこ
とができる。As described in detail above, according to the present invention,
A three-dimensional cassette stocker in which a plurality of cassette mounting portions for mounting a carrier cassette are vertically stacked, and a transfer robot for transferring a carrier cassette to the cassette mounting portion of the cassette stocker; A cassette storage space in a three-dimensional, space-saving structure can be secured inside the substrate cleaning system, and the required space outside the substrate cleaning system can be set as small as possible. A storage device can be provided.
【0116】また、上記カセット保管装置を備えた本発
明の基板洗浄システムにおいては、基板処理経路は、ウ
エハがオペレータゾーン側からオペレータゾーン反対側
への往路を通じて洗浄処理を施された後、再びその復路
を通じてオペレータゾーン側から搬出されるように構成
されており、これにより、カセット保管装置のコパクト
設計とも相まって、洗浄システムの片側にのみオペレー
タゾーンを必要とするコンパクトな構成とされて、シス
テムの設置スペースの縮小化を図ることができる。Further, in the substrate cleaning system of the present invention provided with the cassette storage device, the substrate processing path is such that after the wafer is subjected to the cleaning processing through the outward path from the operator zone side to the opposite side of the operator zone, the substrate processing path is again performed. It is configured to be carried out from the operator zone side through the return path, and this, combined with the compact design of the cassette storage device, makes it a compact configuration that requires an operator zone only on one side of the cleaning system, and installs the system Space can be reduced.
【0117】さらに、本発明の基板洗浄システムは、上
記構成に加えて、キャリアカセットに収納されたウエハ
が搬入搬出される基板搬入出部と、複数枚のウエハをカ
セットレスで一括して洗浄処理する基板洗浄部と、上記
カセット保管装置および基板洗浄部の間に配置されて、
基板待機部のキャリアカセットと基板洗浄部との間でウ
エハを移し替える基板移載部とを備えるとともに、上記
基板搬入出部、カセット保管装置、基板移載部および基
板洗浄部が上記オペレータゾーンに面する側から順次連
続して直列配置されてなり、これにより、基板処理経路
は、ウエハがオペレータゾーン側からオペレータゾーン
反対側への往路を通じて洗浄処理を施された後、再びそ
の復路を通じてオペレータゾーン側から搬出されるよう
に構成されているから、限られた工場スペースを有効利
用することができる基板洗浄システムを提供することが
できる。Further, in addition to the above configuration, the substrate cleaning system of the present invention further includes a substrate loading / unloading section for loading / unloading wafers stored in a carrier cassette, and a cleaning process for cleaning a plurality of wafers collectively without a cassette. A substrate cleaning unit to be disposed between the cassette storage device and the substrate cleaning unit,
A substrate transfer unit that transfers wafers between a carrier cassette of a substrate standby unit and a substrate cleaning unit; and the substrate loading / unloading unit, the cassette storage device, the substrate transfer unit, and the substrate cleaning unit are located in the operator zone. After the wafer is subjected to the cleaning process through the outward path from the operator zone side to the opposite side of the operator zone, the substrate processing path is successively arranged in series from the facing side. Since it is configured to be carried out from the side, it is possible to provide a substrate cleaning system capable of effectively utilizing a limited factory space.
【図1】本発明の一実施形態であるカセット保管装置を
示す正面図である。FIG. 1 is a front view showing a cassette storage device according to an embodiment of the present invention.
【図2】同じく同カセット保管装置を示す側面図であ
る。FIG. 2 is a side view showing the same cassette storage device.
【図3】同カセット保管装置の移載ロボットを示す平面
図である。FIG. 3 is a plan view showing a transfer robot of the cassette storage device.
【図4】同じく同移載ロボットを一部断面で示す平面図
である。FIG. 4 is a plan view showing the transfer robot in a partial cross section.
【図5】同移載ロボットのスカラ型ロボットを示す側面
図である。FIG. 5 is a side view showing a scalar robot of the transfer robot.
【図6】本発明の一実施形態である基板洗浄システムを
一部切開して示す概略平面図である。FIG. 6 is a schematic plan view showing a substrate cleaning system according to an embodiment of the present invention by partially cutting out the substrate cleaning system.
【図7】同基板洗浄システムを示す正面図である。FIG. 7 is a front view showing the substrate cleaning system.
【図8】同じく同基板洗浄システムを示す側面図であ
る。FIG. 8 is a side view showing the same substrate cleaning system.
【図9】同基板洗浄システムの基板待機部を示す図7の
IX-IX線に沿った断面図である。FIG. 9 is a diagram showing a substrate standby unit of the substrate cleaning system of FIG. 7;
It is sectional drawing along the IX-IX line.
【図10】同基板洗浄システムの基板洗浄部における基
板搬送処理装置を一部断面で示す側面図である。FIG. 10 is a side view showing, in partial cross section, a substrate transfer processing device in a substrate cleaning section of the substrate cleaning system.
【図11】同基板搬送処理装置の基板チャックアームを
示し、図11(a) は平面図、図11(b) は図11(a) に
おけるB−B線に沿った拡大断面図、図11(c) は図1
1(a) におけるC−C線に沿った拡大断面図である。11 (a) is a plan view, FIG. 11 (b) is an enlarged sectional view taken along line BB in FIG. 11 (a), and FIG. (c) Fig. 1
It is an expanded sectional view along CC line in 1 (a).
【図12】同基板搬送処理装置の基板洗浄部における基
板搬送処理装置と洗浄槽との関係を一部切開して示す側
面図である。FIG. 12 is a side view, partially cut away, showing the relationship between the substrate transport processing apparatus and the cleaning tank in the substrate cleaning section of the substrate transport processing apparatus.
【図13】同基板洗浄システムの基板洗浄部における基
板搬送処理装置とチャック洗浄槽との関係を一部切開し
て示す側面図である。FIG. 13 is a side view partially cut away showing a relationship between a substrate transfer processing apparatus and a chuck cleaning tank in a substrate cleaning section of the substrate cleaning system.
【図14】同じく同基板洗浄部における基板搬送処理装
置とチャック洗浄槽との関係を一部切開して示す正面図
である。FIG. 14 is a front view partially cut away showing the relationship between the substrate transport processing apparatus and the chuck cleaning tank in the substrate cleaning unit.
【図15】同基板洗浄システムの基板洗浄部におけるス
ピンドライヤを一部切開して示す正面図である。FIG. 15 is a front view in which a spin dryer in the substrate cleaning section of the substrate cleaning system is partially cut away.
W ウエハ A 基板搬入出部 B 基板待機部 C 基板移載部 D 基板洗浄部 E 制御装置(制御部) O オペレータゾーン 1 キャリアカセット 2 カセットストッカ 2A 搬入側ストッカ部 2B 搬出側ストッカ部 3 移載ロボット 3A 第1の移載ロボット 3B 第2の移載ロボット 3C 第3の移載ロボット 5 カセット載置部 7 単軸ロボット 8 スカラ型ロボット 42 基板搬入部 43 基板搬出部 50 基板搬送処理装置 61 基板チャックアーム 61a,61b 保持溝 65 洗浄槽列 65a,65b 洗浄槽 65c チャック洗浄槽 65d スピンドライヤ W Wafer A Substrate loading / unloading section B Substrate standby section C Substrate transfer section D Substrate cleaning section E Control device (control section) O Operator zone 1 Carrier cassette 2 Cassette stocker 2A Loading stocker section 2B Loading stocker section 3 Transfer robot 3A First Transfer Robot 3B Second Transfer Robot 3C Third Transfer Robot 5 Cassette Placement Unit 7 Single Axis Robot 8 SCARA Robot 42 Substrate Loading Unit 43 Substrate Unloading Unit 50 Substrate Transfer Processing Unit 61 Substrate Chuck Arms 61a, 61b Holding groove 65 Cleaning tank array 65a, 65b Cleaning tank 65c Chuck cleaning tank 65d Spin dryer
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 飯田 康義 東京都青梅市今井3丁目9番18号 エス・ イー・エス株式会社内 Fターム(参考) 5F031 CA02 CA05 DA01 FA03 FA09 FA15 GA12 GA45 GA49 LA13 MA23 PA30 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Yasuyoshi Iida 3-9-18 Imai, Ome-shi, Tokyo FSM term in SES Co., Ltd. (reference) 5F031 CA02 CA05 DA01 FA03 FA09 FA15 GA12 GA45 GA49 LA13 MA23 PA30
Claims (14)
搬入される基板を洗浄処理した後、再びキャリアカセッ
トと共に次工程へ搬出する方式の基板洗浄システムに装
置されて、前記キャリアカセットを一時的に保管するカ
セット保管装置であって、 前記キャリアカセットを載置するカセット載置部が上下
方向へ複数段に積層配置されてなる立体型のカセットス
トッカと、 このカセットストッカのカセット載置部に対してキャリ
アカセットを移載する移載ロボットとを備えてなること
を特徴とするカセット保管装置。1. A substrate cleaning system of a type in which a substrate stored in a carrier cassette and carried in from a previous process is subjected to a cleaning process and then carried out again to the next process together with the carrier cassette. A three-dimensional cassette stocker in which a cassette mounting part for mounting the carrier cassette is vertically stacked in a plurality of stages, and a cassette storage device for storing the carrier cassette. A cassette storage device comprising a transfer robot for transferring a carrier cassette.
直に延びた支持フレームに、前記カセット載置部が所定
の高さ方向間隔をもって水平状態で複数段積層状に設け
られてなることを特徴とする請求項1に記載のカセット
保管装置。2. The cassette stocker is characterized in that the cassette mounting portions are provided in a plurality of stacked layers in a horizontal state at predetermined intervals in a height direction on a support frame extending vertically in a vertical direction. The cassette storage device according to claim 1.
部の配列方向に昇降動作する昇降手段の昇降台に、キャ
リアカセットを一つずつ移載するスカラ型ロボットが一
体的に取り付けられてなることを特徴とする請求項1ま
たは2に記載のカセット保管装置。3. The transfer robot according to claim 1, wherein a SCARA type robot for transferring the carrier cassettes one by one is integrally attached to a lifting table of a lifting unit that moves up and down in an array direction of the cassette mounting unit. The cassette storage device according to claim 1 or 2, wherein:
セット載置部の配列方向へ延びて設けられた単軸ロボッ
トであり、この単軸ロボットの移動部に前記スカラ型ロ
ボットが一体的に設置されていることを特徴とする請求
項3に記載のカセット保管装置。4. The moving means of the transfer robot is a single-axis robot provided so as to extend in the direction in which the cassette mounting portions are arranged, and the SCARA-type robot is integrated with a moving portion of the single-axis robot. The cassette storage device according to claim 3, wherein the cassette storage device is provided.
は、その作動アームの作動軸が水平状とされた横軸式と
され、 前記作動アームは、少なくとも2つのアーム部材が前記
作動軸を介して駆動連接されてなるとともに、この作動
アームの先端に、前記キャリアカセットをチャッキング
するチャック部が設けられ、 これにより、前記作動アームが垂直平面内において伸縮
動作する構成とされていることを特徴とする請求項4に
記載のカセット保管装置。5. A scalar type robot of the transfer robot, wherein the operation axis of the operation arm is a horizontal axis, and the operation arm has at least two arm members via the operation shaft. In addition to being driven and connected, a chuck portion for chucking the carrier cassette is provided at a tip of the operation arm, whereby the operation arm is configured to extend and contract in a vertical plane. The cassette storage device according to claim 4, wherein
セットの側部両側を挟持状に把持する一対のチャックア
ームと、これらチャックアーム開閉動作シリンダ装置と
を備えてなることを特徴とする請求項5に記載のカセッ
ト保管装置。6. The transfer chuck section includes a pair of chuck arms for holding both sides of the carrier cassette in a sandwiching manner, and a chuck arm opening / closing operation cylinder device. 6. The cassette storage device according to 5.
セットに収納された基板が搬入搬出される基板搬入出部
と、複数枚の基板を一括して洗浄処理する基板洗浄部と
の間に配置されて、 前記カセットストッカは、処理前の基板を収納したキャ
リアカセットを載置するカセット載置部が上下方向へ複
数段に積層配置されてなる搬入側ストッカ部と、処理後
の基板を収納するキャリアカセットを載置するカセット
載置部が上下方向へ複数段に積層配置されてなる搬出側
ストッカ部とを備えてなることを特徴とする請求項1に
記載のカセット保管装置。7. A substrate cleaning system, comprising: a substrate loading / unloading unit for loading / unloading a substrate accommodated in a carrier cassette; and a substrate cleaning unit for cleaning a plurality of substrates collectively. The cassette stocker includes a loading side stocker section in which a cassette mounting section for mounting a carrier cassette storing a substrate before processing is vertically arranged in a plurality of stages, and a carrier cassette for storing a processed substrate. 2. The cassette storage device according to claim 1, further comprising an unloading-side stocker unit in which a plurality of cassette mounting units are vertically stacked.
セットに収納された基板が搬入搬出される基板搬入出部
と、複数枚の基板を一括して洗浄処理する基板洗浄部と
の間に配置されて、 前記移載ロボットは、処理前の基板を収納したキャリア
カセットを移載処理する第1の移載ロボットと、処理後
の基板を収納したキャリアカセットを移載処理する第2
の移載ロボットと、前記カセットストッカのカセット載
置部と基板移載部との間でキャリアカセットを移載処理
する第3の移載ロボットとを備えてなることを特徴とす
る請求項1に記載のカセット保管装置。8. A substrate cleaning system, comprising: a substrate loading / unloading unit for loading / unloading a substrate stored in a carrier cassette; and a substrate cleaning unit for cleaning a plurality of substrates collectively. The transfer robot includes a first transfer robot that transfers a carrier cassette containing substrates before processing, and a second transfer robot that transfers a carrier cassette that stores substrates after processing.
And a third transfer robot for transferring a carrier cassette between a cassette mounting portion and a substrate transferring portion of the cassette stocker. The cassette storage device according to the above.
て搬入される基板を、カセットレスで一括して洗浄処理
を行うとともに、再びキャリアカセットに収納して次工
程へ搬出する方式の基板洗浄システムであって、 キャリアカセットに収納された基板が搬入搬出される基
板搬入出部と、 この基板搬入出部のキャリアカセットが一時的に待機さ
れる請求項1から10のいずれか一つに記載のカセット
保管装置と、 複数枚の基板をカセットレスで一括して洗浄処理する基
板洗浄部と、 前記基板待機部および基板洗浄部の間に配置されて、基
板待機部のキャリアカセットと基板洗浄部との間で基板
を移し替える基板移載部とを備えるとともに、 前記基板搬入出部、基板待機部、基板移載部および基板
洗浄部が前記オペレータゾーンに面する側から順次連続
して直列配置されてなり、 これにより、基板処理経路は、基板がオペレータゾーン
側からオペレータゾーン反対側への往路を通じて洗浄処
理を施された後、再びその復路を通じてオペレータゾー
ン側から搬出されるように構成されていることを特徴と
する基板洗浄システム。9. A substrate cleaning system of a type in which substrates stored in a carrier cassette and carried in from a previous process are collectively cleaned without a cassette, and stored again in a carrier cassette and carried out to the next process. The cassette according to any one of claims 1 to 10, further comprising: a substrate loading / unloading unit for loading / unloading the substrates stored in the carrier cassette; and a carrier cassette of the substrate loading / unloading unit being temporarily on standby. A storage device, a substrate cleaning unit that collectively performs a cleaning process on a plurality of substrates without using a cassette, a substrate cleaning unit disposed between the substrate standby unit and the substrate cleaning unit, and a carrier cassette and a substrate cleaning unit of the substrate standby unit. And a substrate transfer unit for transferring a substrate between the substrate loading / unloading unit, the substrate standby unit, the substrate transfer unit, and the substrate cleaning unit on the side facing the operator zone. In this manner, the substrate processing path is carried out from the operator zone side through the return path after the substrate is subjected to the cleaning processing through the outward path from the operator zone side to the opposite side of the operator zone. A substrate cleaning system characterized by being configured as follows.
ッカは、処理前の基板を収納したキャリアカセットを載
置するカセット載置部が上下方向へ複数段に積層配置さ
れてなる搬入側ストッカ部と、処理後の基板を収納する
空のキャリアカセットを載置するカセット載置部が上下
方向へ複数段に積層配置されてなる搬出側ストッカ部と
を備えてなることを特徴とする請求項9に記載の基板洗
浄システム。10. A cassette stocker of the cassette storage device, comprising: a loading side stocker section having a plurality of vertically stacked cassette mounting sections for mounting a carrier cassette storing substrates before processing; 10. The unloading-side stocker section, in which a cassette mounting section for mounting an empty carrier cassette for storing a later substrate is vertically stacked in a plurality of stages. Substrate cleaning system.
のカセット載置部のうち最下部のカセット載置部が、前
記基板搬入出部のキャリアカセットの載置部位の高さよ
りも一段高い位置に配置されるとともに、この載置部位
の真上に前記複数段のカセット載置部が配列されている
ことを特徴とする請求項9または10に記載の基板洗浄
システム。11. The cassette stocker is arranged such that the lowest one of the plurality of cassette mounting portions is one step higher than the height of a carrier cassette mounting portion of the substrate loading / unloading portion. 11. The substrate cleaning system according to claim 9, wherein the plurality of cassette mounting sections are arranged right above the mounting portion. 12.
収納したキャリアカセットを移載処理する第1の移載ロ
ボットと、処理後の基板を収納したキャリアカセットを
移載処理する第2の移載ロボットと、前記カセットスト
ッカのカセット載置部と基板移載部との間でキャリアカ
セットを移載処理する第3の移載ロボットとを備えてな
ることを特徴とする請求項9に記載の基板洗浄システ
ム。12. The transfer robot according to claim 1, wherein the transfer robot is configured to transfer a carrier cassette storing the unprocessed substrate and a second transfer robot configured to transfer the carrier cassette storing the processed substrate. 10. The transfer robot according to claim 9, further comprising a transfer robot, and a third transfer robot that transfers a carrier cassette between the cassette mounting portion and the substrate transfer portion of the cassette stocker. Substrate cleaning system.
リアカセットに収納された基板が搬入される基板搬入部
と、洗浄処理が終了した基板をキャリアカセットに収納
して次工程へ搬出される基板搬出部とが前記オペレータ
ゾーンに面して並列配置されていることを特徴とする請
求項9に記載の基板洗浄システム。13. The substrate loading / unloading section, wherein a substrate loading section into which a substrate stored in a carrier cassette from a previous process is loaded, and a substrate after the cleaning process is stored in a carrier cassette and transported to the next step. The substrate cleaning system according to claim 9, wherein a substrate unloading section is arranged in parallel facing the operator zone.
移載部および基板洗浄部を互いに同期させて駆動制御す
る制御部を備え、 この制御部は、前工程からキャリアカセットに収納され
て搬入される基板を、前記基板搬送処理装置に移し替え
てカセットレスで洗浄処理するとともに、再び搬入時と
同一のキャリアカセットに戻して次工程へ搬出する一連
の洗浄工程を実行するように構成されていることを特徴
とする請求項9から13のいずれか一つに記載の基板洗
浄システム。14. A control unit for controlling the drive of the substrate loading / unloading unit, the substrate standby unit, the substrate transfer unit, and the substrate cleaning unit in synchronization with each other, and the control unit is housed in a carrier cassette from a previous process. The transported substrate is transferred to the substrate transport processing apparatus to perform a cleaning process without using a cassette, and a series of cleaning processes of returning to the same carrier cassette as that at the time of loading and transporting the substrate to the next process are performed. The substrate cleaning system according to any one of claims 9 to 13, wherein:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000073502A JP2001267391A (en) | 2000-03-16 | 2000-03-16 | Cassette storing equipment and substrate cleaning system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000073502A JP2001267391A (en) | 2000-03-16 | 2000-03-16 | Cassette storing equipment and substrate cleaning system |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001267391A true JP2001267391A (en) | 2001-09-28 |
Family
ID=18591736
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000073502A Withdrawn JP2001267391A (en) | 2000-03-16 | 2000-03-16 | Cassette storing equipment and substrate cleaning system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001267391A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115188871A (en) * | 2022-09-13 | 2022-10-14 | 昆山鸿仕达智能科技股份有限公司 | Microminiature LED transfer device, transfer method and bearing frame |
-
2000
- 2000-03-16 JP JP2000073502A patent/JP2001267391A/en not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115188871A (en) * | 2022-09-13 | 2022-10-14 | 昆山鸿仕达智能科技股份有限公司 | Microminiature LED transfer device, transfer method and bearing frame |
| CN115188871B (en) * | 2022-09-13 | 2022-12-09 | 昆山鸿仕达智能科技股份有限公司 | Microminiature LED transferring device and transferring method |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5054218B2 (en) | Substrate processing equipment | |
| JP4180787B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
| JP4999487B2 (en) | Substrate processing equipment | |
| JP2002324828A (en) | Substrate double-side processing equipment | |
| JP4401285B2 (en) | Substrate processing equipment | |
| CN111383952B (en) | Substrate processing device and substrate transport method | |
| JP3162704B2 (en) | Processing equipment | |
| JP3562748B2 (en) | Substrate processing equipment | |
| JPH11345858A (en) | Substrate transfer equipment | |
| JP5279554B2 (en) | Substrate processing equipment | |
| JP5330031B2 (en) | Substrate processing equipment | |
| JP4688533B2 (en) | Substrate processing equipment | |
| JP2001298011A (en) | Substrate cleaning device | |
| JP2000049215A (en) | Processing system | |
| JP2001267391A (en) | Cassette storing equipment and substrate cleaning system | |
| CN117747475A (en) | Substrate processing apparatus | |
| JP2001259543A (en) | Substrate cleaning system | |
| CN119856271A (en) | Substrate processing apparatus | |
| JP2000036527A (en) | Substrate transfer processing apparatus and method therefor | |
| JP2001286831A (en) | Device for cleaning substrate chuck, device for conveying and treating substrate and method of cleaning substrate chuck | |
| JP2006147779A (en) | Processing system | |
| JP4522295B2 (en) | Substrate processing equipment | |
| JPH07297154A (en) | Substrate carrying system | |
| JP2001257247A (en) | Semiconductor wafer processing equipment | |
| JP2598364B2 (en) | Substrate cleaning system |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20070605 |