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JP2001249460A - ポジ型感放射線性組成物 - Google Patents

ポジ型感放射線性組成物

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Publication number
JP2001249460A
JP2001249460A JP2000318057A JP2000318057A JP2001249460A JP 2001249460 A JP2001249460 A JP 2001249460A JP 2000318057 A JP2000318057 A JP 2000318057A JP 2000318057 A JP2000318057 A JP 2000318057A JP 2001249460 A JP2001249460 A JP 2001249460A
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group
acid
atom
compound
radiation
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JP2000318057A
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JP2001249460A5 (ja
Inventor
Shinichi Kanna
慎一 漢那
Kunihiko Kodama
邦彦 児玉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
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Publication of JP2001249460A5 publication Critical patent/JP2001249460A5/ja
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 疎密依存性と露光マージンが優れるポジ型感
放射線性組成物を提供すること。 【解決手段】 特定のアセタール構造を有する酸分解性
基を有し、酸の作用により分解し、アルカリ現像液中で
の溶解度が増大する樹脂、活性光線又は放射線の照射に
より酸を発生し、前記酸分解性基の分解反応に寄与する
化合物のうち少なくとも1種、活性光線又は放射線の照
射により酸を発生し、前記酸分解性基の分解反応に寄与
しない化合物のうち少なくとも1種、界面活性剤、溶剤
を含有するボジ型感放射線性組成物。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、平版印刷板やIC
等の半導体製造工程、液晶、サーマルヘッド等の回路基
板の製造、更にその他のフォトファブリケーション工程
に使用されるポジ型感放射線性組成物に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】遠紫外光やエキシマレーザー光を用いた
リソグラフィーのパターン形成に用いるレジストとし
て、米国特許第4,491,628 号、欧州特許第29,139号等に
記載されている化学増幅系レジスト組成物がある。化学
増幅型ポジレジスト組成物は、遠紫外光等の放射線の照
射により露光部に酸を生成させ、この酸を触媒とする反
応によって、活性放射線の照射部と非照射部の現像液に
対する溶解性を変化させパターンを基板上に形成させる
パターン形成材料である。
【0003】上記化学増幅型ポジレジスト組成物は、ア
ルカリ可溶性樹脂、放射線露光によつて酸を発生する化
合物(光酸発生剤)、及び酸分解性基を有するアルカリ
可溶性樹脂に対する溶解阻止化合物から成る3成分系
と、酸との反応により分解しアルカリ可溶となる基を有
する樹脂と光酸発生剤からなる2成分系、更に酸との反
応により分解しアルカリ可溶となる基を有する樹脂、酸
分解性基を有する低分子溶解阻止化合物、及び光酸発生
剤から成るハイブリット系に大別できる。
【0004】特開平2−19847号にはポリ(p−ヒ
ドロキシスチレン)のフェノール性ヒドロキシル基を全
部あるいは部分的にテトラヒドロピラニル基で保護した
樹脂を含有することを特徴とするレジスト組成物が開示
されている。特開平4−219757号には同様にポリ
(p−ヒドロキシスチレン)のフェノール性ヒドロキシ
ル基の20〜70%がアセタール基で置換された樹脂を
含有することを特徴とするレジスト組成物が開示されて
いる。更に特開平5−249682号にも同様のアセタ
ール保護された樹脂を用いたフォトレジスト組成物が示
されている。また特開平8−123032号にはアセタ
ール基で置換された基を含む三元共重合体を用いたフォ
トレジスト組成物が示されている。更に、特開平8−2
53534号にはアセタール基で置換された基を含む、
部分架橋ポリマーを用いたフォトレジスト組成物が示さ
れている。
【0005】また、特開平5−323590号には、光
酸発生剤を2種用いることが記載され、特開平5−18
1279号には強酸を発生する光酸発生剤と、弱酸を発
生する光酸発生剤とを用いることが記載され、特開平1
1−125907号には沸点150℃以上のカルボン酸
を発生する化合物と、カルボン酸以外の酸を発生させる
化合物を用いることが記載されている。
【0006】しかしながら、上記技術でも疎密依存性に
おいて改善の余地があった。最近のデバイスの傾向とし
て様々なパターンが含まれるためレジストには様々な性
能が求められている。その1つが疎密依存性である。デ
バイスにはラインが密集した部分と逆にラインと比較し
スペースが広いパターン、更に孤立ラインが存在する。
このため、種々のラインを高い再現性をもって解像する
ことは重要である。しかし、種々のラインを再現させる
ことは光学的な要因により必ずしも容易ではなく、レジ
ストによる解決方法が明確でないのが現状である。更
に、露光マージンにおいても更に向上させる要望が強か
った。ここで、露光マージンとは露光量が変化するとそ
れにしたがって得られるパターンの線幅が変化する現象
をいう。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、疎密依存性が優れたポジ型感放射線性組成物を提供
することである。本発明の更なる目的は、露光マージン
が優れたポジ型感放射線性組成物を提供することであ
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の上記目的は、下
記の構成によって達成された。 (1) (a)下記一般式(I)で示される酸分解性基
を有し、酸の作用により分解し、アルカリ現像液中での
溶解度が増大する樹脂、(b−1)活性光線又は放射線
の照射により酸を発生し、前記酸分解性基の分解反応に
寄与する化合物のうち少なくとも1種、(b−2)活性
光線又は放射線の照射により酸を発生し、前記酸分解性
基の分解反応に寄与しない化合物のうち少なくとも1
種、(c)界面活性剤、及び(d)溶剤を含有すること
を特徴とするボジ型感放射線性組成物。
【0009】
【化3】
【0010】一般式(I)中、R1は炭素数1〜4個の
アルキル基を表す。Wは、酸素原子、窒素原子、イオウ
原子、リン原子及び珪素原子からなる群から選択される
少なくとも1種の原子と少なくとも1つの炭素原子を含
有する有機基、アミノ基、アンモニウム基、メルカプト
基、置換あるいは無置換のアリール基、又は置換あるい
は無置換の環状アルキル基を表す。nは、1〜4の整数
を表す。
【0011】(2) 前記(a)の樹脂が、フェノール
性水酸基を含有するアルカリ可溶性樹脂における該フェ
ノール性水酸基の少なくとも一部が前記一般式(I)で
示される酸分解性基で保護されている樹脂であることを
特徴とする前記(1)に記載のボジ型感放射線性組成
物。 (3) 前記一般式(I)のWが、下記で示される置換
基の群から選択される少なくとも1種の置換基であるこ
とを特徴とする前記(1)に記載のボジ型感放射線性組
成物。
【0012】
【化4】
【0013】上記式中:R2は、水素原子、炭素数1〜
6個の直鎖状、分岐状あるいは環状のアルキル基、炭素
数2〜6個の直鎖状、分岐状あるいは環状のアルケニル
基、置換あるいは無置換のアリール基、又は置換あるい
は無置換のアラルキル基を表す。R3は、水素原子、炭
素数1〜6個の直鎖状、分岐状あるいは環状のアルキル
基、炭素数1〜6個の直鎖状、分岐状あるいは環状のア
ルコキシ基、ハロゲン原子、ニトロ基、アミノ基、水酸
基、又はシアノ基を表す。Xは、ハロゲン原子を表す。
4は、置換あるいは無置換のアリール基、又は置換あ
るいは無置換の炭素数3〜15個の環状アルキル基を表
す。mは、1〜4の自然数である。 (4) (b−1)の化合物が、活性光線又は放射線の
照射によりスルホン酸を発生する化合物であり、(b−
2)の化合物が、活性光線又は放射線の照射によりカル
ボン酸を発生する化合物であることを特徴とする前記
(1)に記載のボジ型感放射線性組成物。 (5) 有機塩基性化合物を含有することを特徴とする
前記(1)〜(4)のいずれかに記載のボジ型感放射線
性組成物。
【0014】本発明のポジ型感放射線性組成物は、酸分
解性基として末端に特定構造の置換基を有するアセター
ル基を有する酸分解性樹脂とともに、活性光線又は放射
線の照射により酸を発生する化合物として、上記特定の
酸分解性基の分解に寄与する化合物と、寄与しない化合
物を組み合わせて用いることにより、疎密依存性が見事
に改善され、且つ露光マージン(露光ラチチュード)が
優れるようになった。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明のポジ型感放射線性
組成物に含有される化合物、樹脂等の成分について詳細
に説明する。 〔I〕(a)成分の酸分解性樹脂 本発明において、酸分解性樹脂は、アルカリ可溶性基
が、上記一般式(I)で示される酸分解性基(保護基)
で保護された構造を有する樹脂である。ここで、アルカ
リ可溶性基としては、フェノール性水酸基、カルボキシ
ル基、スルホン酸基等が挙げられる。これらの中でもフ
ェノール性水酸基が好ましい。本発明における酸分解性
樹脂は、フェノール性水酸基を有するアルカリ可溶性樹
脂における該フェノール性水酸基を上記一般式(I)で
示される基で保護されたものが好ましい。
【0016】本発明に用いられるフェノール性水酸基を
有するアルカリ可溶性樹脂は、o−,m−又はp−ヒド
ロキシスチレン、あるいはo−,m−又はp−ヒドロキ
シ−α−メチルスチレンを少なくとも30モル%、好ま
しくは50モル%以上含有する共重合体又はそのホモポ
リマー、あるいは部分的に水素添加された樹脂であるこ
とが好ましく、p−ヒドロキシスチレンホモポリマーが
より好ましい。上記共重合モノマーとしては、アクリル
酸エステル類、メタクリル酸エステル類、アクリルアミ
ド類、メタクリルアミド類、アクリロニトリル、メタク
リロニトリル、無水マレイン酸、スチレン、α−メチル
スチレン、アセトキシスチレン、アルコキシスチレン類
が好ましく、スチレン、アセトキシスチレン、t−ブト
キシスチレンがより好ましい。このアルカリ可溶性樹脂
の重量平均分子量の範囲は、GPC法で測定されたポリ
スチレン換算値として、好ましくは3000〜8000
0であり、より好ましくは7000〜50000であ
る。分子量分布(Mw/Mn)の範囲は1.01〜4.
0であり、好ましくは1.05〜1.20である。この
分子量分布のポリマーを得るにはアニオン重合等の手法
を用いることが好ましい。
【0017】一般式(I)において:nは1〜4の自然
数であり、2又は3が好ましい。R1として、メチル、
エチル、n−プロピル、イソプロピル、n−ブチル、イ
ソブチル、sec−ブチル、t−ブチルが好ましく挙げ
られ、なかでもメチルがより好ましい。また、Wの有機
基は、酸素原子、窒素原子、イオウ原子、リン原子、珪
素原子のうち少なくとも1種の原子と少なくとも1つの
炭素原子より構成される。より具体的には、Wは以下に
示される基が好ましい。
【0018】
【化5】
【0019】式中:R2は、水素原子、炭素数1〜6の
直鎖状、分岐状及び環状のアルキル基、炭素数2〜6の
直鎖状、分岐状及び環状のアルケニル基、置換あるいは
無置換のアリール基、並びに置換あるいは無置換のアラ
ルキル基からなる群から選択される基を表す。R3は、
水素原子、炭素数1〜6の直鎖状、分岐状及び環状のア
ルキル基、炭素数1〜6の直鎖状、分岐状及び環状のア
ルコキシ基、ハロゲン原子、ニトロ基、アミノ基、水酸
基、並びにシアノ基からなる群から選択される基を表
す。Xは、ハロゲン原子を表す。R4は、置換あるいは
無置換のアリール基、又は置換あるいは無置換の炭素数
3〜15個の環状アルキル基を表す。mは、1〜4の自
然数であり、1又は2が好ましい。
【0020】上記R2及びR3において、炭素数1〜6の
直鎖状、分岐状及び環状のアルキル基としては、メチ
ル、エチル、n−プロピル、イソプロピル、シクロプロ
ピル、n−ブチル、イソブチル、sec−ブチル、t−
ブチル、ペンチル、イソペンチル、ネオペンチル、シク
ロペンチル、ヘキシル、シクロヘキシル等が好ましく、
メチル、エチルがより好ましい。R2における炭素数2
〜6の直鎖状、分岐状及び環状のアルケニル基としては
ビニル、1−プロペニル、アリル、イソプロペニル、1
−ブテニル、2−ブテニル、2−ペンテニル、シクロヘ
キセニル等が好ましく、ビニル、イソプロペニルがより
好ましい。
【0021】R2、R4のアリール基としては、フェニ
ル、トリル、キシリル、メシチル、クメニル等が好まし
く、フェニルがより好ましい。R2のアラルキル基とし
ては、ベンジル、フェネチル、α−メチルベンジル、ベ
ンズヒドリル等が好ましく、ベンジルがより好ましい。
4における炭素数3〜15個の環状アルキル基として
は、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシ
ル基等が好ましい。これらの、アリール、アラルキル、
環状アルキル基には、ハロゲン原子、ニトロ基、アルコ
キシ基、アセチル基、アミノ基、エステル基、アミド基
等が置換されていても良い。R3における炭素数1〜6
の直鎖状、分岐状及び環状のアルコキシ基としては、メ
トキシ、エトキシ、プロポキシ、イソプロポキシ、ブト
キシ、ペンチルオキシ、ヘキシルオキシ等が好ましく、
メトキシ基及びエトキシ基がより好ましい。
【0022】ハロゲン原子は、フッ素、塩素、臭素、ヨ
ウ素が好ましく、塩素、臭素がより好ましい。また、W
は上記に示したように、シアノ基、ホルミル基であって
もよい。
【0023】一般式(I)で表される保護基のより具体
的な例を以下に示すが、これらに限定されるものではな
い。但し、Meはメチル基、Etはエチル基、Phはフ
ェニル基を表す。
【0024】
【化6】
【0025】
【化7】
【0026】
【化8】
【0027】樹脂(a)を構成する上記保護基でフェノ
ール水酸基が保護されている樹脂は、対応するビニルエ
ーテルを合成し、テトラヒドロフラン等の適当な溶媒に
溶解したフェノール性水酸基含有アルカリ可溶性樹脂と
既知の方法により反応させることにより得ることができ
る。反応は、通常酸性の触媒、好ましくは、酸性イオン
交換樹脂や、塩酸、p−トルエンスルホン酸あるいは、
ピリジニウムトシレートのような塩の存在下実施され
る。対応するビニルエーテルは、クロロエチルビニルエ
ーテルのような活性な原科から、求核置換反応等の方法
により合成することができる。
【0028】樹脂(a)を構成する樹脂の構造を以下に
例示するが、本発明はこれらに限定されるものではな
い。Meはメチル基、Etはエチル基、Phはフェニル
基、tBuはt−ブチル基、Acはアセチル基を表す。
【0029】
【化9】
【0030】
【化10】
【0031】
【化11】
【0032】
【化12】
【0033】
【化13】
【0034】
【化14】
【0035】
【化15】
【0036】
【化16】
【0037】
【化17】
【0038】
【化18】
【0039】
【化19】
【0040】
【化20】
【0041】
【化21】
【0042】
【化22】
【0043】
【化23】
【0044】
【化24】
【0045】本発明の組成物には、フェノール水酸基が
一般式(I)で表される保護基で保護された上記樹脂が
含有される。一般式(I)で表される保護基による保護
率は、樹脂中の全フェノール性水酸基に対して好ましく
は5〜45モル%であり、より好ましくは10〜30モ
ル%である。本発明の組成物において、酸分解性樹脂
(a)の総使用量は、組成物の全重量(溶剤を除く)を
基準として10〜99.9重量%が好ましく、より好ま
しくは50〜99.5重量%、さらに好ましくは70〜
99.0重量%である。
【0046】本発明の組成物は、例えば一般式(I)で
表される保護基で例示される酸分解性基を含有していな
いアルカリ可溶性樹脂を含有することができ、これによ
り感度が向上する。酸分解性基を含有していないアルカ
リ可溶性樹脂(以下単に「アルカリ可溶性樹脂」とい
う)としては、ノボラック樹脂、ノボラック樹脂の誘導
体;ポリ(p−ヒドロキシスチレン)、p/m−ヒドロ
キシスチレン共重合体、p/o−ヒドロキシスチレン共
重合体、p−ヒドロキシスチレン−スチレン共重合体等
のp−ヒドロキシスチレンユニットを含有する共重合
体;4−ヒドロキシ−3−メチルスチレン樹脂、4−ヒ
ドロキシ−3,5−ジメチルスチレン樹脂等のアルキル
置換ヒドロキシスチレン樹脂;これらの樹脂のOH部の
アルキル化物又はアセチル化物が好ましく挙げられる。
【0047】更に上記樹脂のフェノール核の一部(全フ
ェノール核の30mol%以下)が水素添加されている
樹脂は、樹脂の透明性が向上し、感度、解像力、良好な
プロファイル形成の点で好ましい。そのような樹脂とし
て、部分水素化ノボラツク樹脂、部分水素化ポリヒドロ
キシスチレン等が挙げられる。
【0048】本発明の組成物に含有させることができる
その他のアルカリ可溶性樹脂として、アセトン−ピロガ
ロール樹脂、ヒドロキシスチレン−N−置換マレイミド
共重合体、ポリヒドロキシスチレンの一部O−アルキル
化物もしくはO−アシル化物、スチレン−無水マレイン
酸共重合体、カルボキシル基含有メタクリル系樹脂及び
その誘導体、スチレン−ポリヒドロキシスチレン共重合
体等を挙げることができるが、これらに限定されるもの
ではない。
【0049】本発明に用いられる特に好ましいアルカリ
可溶性樹脂は、ノボラック樹脂、p−ヒドロキシスチレ
ンユニットを含有するアルカリ可溶性樹脂(好ましくは
ポリ(p−ヒドロキシスチレン)、p/m−ヒドロキシ
スチレン共重合体、p/o−ヒドロキシスチレン共重合
体、p−ヒドロキシスチレン−スチレン共重合体)、4
−ヒドロキシ−3−メチルスチレン樹脂、4−ヒドロキ
シ−3,5−ジメチルスチレン樹脂のようなアルキル置
換ヒドロキシスチレン樹脂、上記樹脂のOH部のアルキ
ル化物又はアセチル化物、ポリヒドロキシスチレン樹
脂、部分水素化ノボラック樹脂、部分水素化ポリヒドロ
キシスチレン樹脂である。
【0050】本発明において、ポリヒドロキシスチレン
とは、p−ヒドロキシスチレンモノマー、m−ヒドロキ
シスチレンモノマー、o−ヒドロキシスチレンモノマー
又はそれらのオルソ位が炭素数1〜4のアルキル置換さ
れたヒドロキシスチレンモノマーの中から選ばれた少な
くとも一種類以上のモノマーを重合して得られたポリマ
ーを示す。
【0051】上記ノボラック樹脂は所定のモノマーを主
成分として、酸性触媒の存在下、アルデヒド類と付加縮
合させることにより得られる。
【0052】所定のモノマーとしては、フェノール、m
−クレゾール、p−クレゾール、o−クレゾール等のク
レゾール類、2,5−キシレノール、3,5−キシレノ
ール、3,4−キシレノール、2,3−キシレノール等
のキシレノール類、m−エチルフェノール、p−エチル
フェノール、o−エチルフェノール、p−t−ブチルフ
ェノール、p−オクチルフエノール、2,3,5−トリ
メチルフェノール等のアルキルフェノール類、p−メト
キシフェノール、m−メトキシフェノール、3,5−ジ
メトキシフェノール、2−メトキシ−4−メチルフェノ
ール、m−エトキシフェノール、p−エトキシフェノー
ル、m−プロポキシフェノール、p−プロポキシフェノ
ール、m−ブトキシフェノール、p−ブトキシフェノー
ル等のアルコキシフェノール類、2−メチル−4−イソ
プロピルフェノール等のビスアルキルフェノール類、ジ
ヒドロキシビフェニル、ビスフェノールA、フェニルフ
ェノール、レゾルシノール、ナフトール等のヒドロキシ
芳香化合物を単独もしくは2種類以上混合して使用する
ことができるが、これらに限定されるものではない。
【0053】アルデヒド類としては、例えばホルムアル
デヒド、パラホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プ
ロピルアルデヒド、ベンズアルデヒド、フェニルアセト
アルデヒド、α−フェニルプロピルアルデヒド、β−フ
ェニルプロピルアルデヒド、o−ヒドロキシベンズアル
デヒド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒドロ
キシベンズアルデヒド、o−ニトロベンズアルデヒド、
m−ニトロベンズアルデヒド、p−ニトロベンズアルデ
ヒド、o−メチルベンズアルデヒド、m−メチルベンズ
アルデヒド、p−メチルベンズアルデヒド、p−エチル
ベンズアルデヒド、p−n−ブチルベンズアルデヒド、
フルフラール及びこれらのアセタール体等を使用するこ
とができるが、これらの中で、ホルムアルデヒドを使用
するのが好ましい。
【0054】これらのアルデヒド類は、単独でもしくは
2種類以上組み合わせて用いられる。酸性触媒としては
硫酸、ギ酸、酢酸、シュウ酸等を使用することができ
る。酸分解性基を含有していないアルカリ可溶性樹脂の
含有量としては、該樹脂と酸分解性基含有樹脂との合計
に対して、50重量%以下、好ましくは30重量%以
下、更に好ましくは20重量%以下である。
【0055】(b)光酸発生剤 本発明において、光酸発生剤としては、(b−1)活性
光線又は放射線の照射により酸を発生し、前記酸分解性
基の分解反応に寄与する化合物〔(b−1)光酸発生剤
ともいう〕のうち少なくとも1種、と(b−2)活性光
線又は放射線の照射により酸を発生し、前記酸分解性基
の分解反応に寄与しない化合物〔(b−2)光酸発生剤
ともいう〕のうち少なくとも1種とを用いる。
【0056】本発明において、「分解反応に寄与する」
とは、各成分を含有した組成物膜を形成させ、そこに活
性光線又は放射線を照射した時に、光酸発生剤より生じ
た酸がアルカリ可溶性樹脂のアルカリ可溶性基を保護し
ている保護基(上記アセタール構造)を分解し、該組成
物膜の現像液に対する溶解速度を著しく増加させる作用
のことをいう。本発明において、「分解反応に寄与しな
い」とは、各成分を含有した組成物膜を形成させ、そこ
に活性光線又は放射線を照射した時に、光酸発生剤より
生じた酸がアルカリ可溶性樹脂のアルカリ可溶性基を保
護している保護基(上記アセタール構造)を分解せず、
該組成物膜の現像液に対する溶解速度を変化させない作
用のことをいう。
【0057】(b−1)光酸発生剤としては、上記特定
のアセタール構造を分解させることが可能な酸を発生さ
せる化合物であり、具体的には下記に詳述するような化
合物が挙げられる。 (b−1)活性光線又は放射線の照射により酸を発生す
る化合物としては、たとえば S. I. Schlesinger, Phot
ogr. Sci. Eng., 18, 387(1974)、T. S. Bal et al, Po
lymer, 21, 423(1980)等に記載のジアゾニウム塩、米国
特許第4,069,055号、同4,069,056号、同 Re 27,992号、
特開平3-140140号等に記載のアンモニウム塩、D. C. Ne
cker et al, Macromolecules, 17, 2468(1984)、C. S.
Wen et al, Teh, Proc. Conf. Rad. Curing ASIA, p478
Tokyo, Oct(1988)、米国特許第4,069,055号、同4,069,
056号等に記載のホスホニウム塩、J. V. Crivello et a
l,Macromorecules, 10(6), 1307(1977)、Chem. & Eng.
News, Nov. 28, p31(1988)、欧州特許第104,143号、同3
39,049号、同第410,201号、特開平2-150848号、特開平2
-296514 号等に記載のヨードニウム塩、J. V. Crivello
et al, Polymer J. 17, 73(1985)、J. V. Crivello et
al., J. Org. Chem., 43, 3055(1978)、W.R. Watt et
al, J. Polymer Sci., Polymer Chem. Ed., 22, 1789(1
984)、J. V. Crivello et al, Polymer Bull., 14, 279
(1985)、J. V. Crivello et al, Macromorecules, 14
(5), 1141(1981)、J. V. Crivello et al, J. Polymer
Sci.,Polymer Chem. Ed., 17, 2877(1979)、欧州特許第
370,693号、同161,811号、同410,201号、同339,049号、
同233,567号、同297,443号、同297,442号、米国特許第
4,933,377号、同3,902,114号、同4,760,013号、同4,73
4,444号、同2,833,827号、獨国特許第2,904,626号、同
3,604,580号、同3,604,581号等に記載のスルホニウム
塩、J. V. Crivello et al, Macromorecules, 10(6), 1
307(1977)、J. V. Crivello et al, J. Polymer Sci.,
Polymer Chem. Ed., 17, 1047(1979)等に記載のセレノ
ニウム塩、C. S. Wen et al, Teh, Proc. Conf. Rad. C
uring ASIA,p478 Tokyo, Oct(1988)等に記載のアルソニ
ウム塩等のオニウム塩、米国特許第3,905,815号、特公
昭46-4605号、特開昭48-36281号、特開昭55-32070号、
特開昭60-239736号、特開昭61-169835号、特開昭61-169
837号、特開昭62-58241号、特開昭62-212401号、特開昭
63-70243号、特開昭63-298339号等に記載の有機ハロゲ
ン化合物、K. Meier et al, J. Rad. Curing, 13(4), 2
6(1986)、T. P. Gill et al, Inorg. Chem., 19, 3007
(1980)、D. Astruc, Acc. Chem. Res., 19(12), 377(18
96)、特開平2-161445号等に記載の有機金属/有機ハロ
ゲン化物、S. Hayaseet al, J. Polymer Sci., 25, 753
(1987)、E. Reichmanis et al, J. PholymerSci., Poly
mer Chem. Ed., 23, 1(1985)、Q. Q. Zhuetal, J. Phot
ochem., 36,85, 39, 317(1987)、B. Amit et al, Tetra
hedron Lett.,(24)2205(1973)、D. H. R. Barton et a
l, J. Chem Soc., 3571(1965)、P. M. Collins et al,
J. Chem. Soc., Perkin I, 1695(1975)、M. Rudinstein
et al, Tetrahedron Lett., (17), 1445(1975)、J. W.
Walker et al, J. Am. Chem. Soc., 110, 7170(198
8)、S. C. Busman et al, J. Imaging Technol., 11
(4), 191(1985)、H. M. Houlihan et al, Macormolecul
es, 21, 2001(1988)、 P. M. Collins et al, J. Chem.
Soc., Chem. Commun., 532(1972)、S. Hayase et al,
Macromolecules, 18, 1799(1985)、E. Reichmanis et a
l, J. Electrochem. Soc., Solid State Sci. Techno
l., 130(6)、F. M. Houlihan et al, Macromolcules, 2
1, 2001(1988)、欧州特許第0290,750号、同046,083号、
同156,535号、同271,851号、同0,388,343号、米国特許
第3,901,710号、同4,181,531号、特開昭60-198538号、
特開昭53-133022号等に記載の0−ニトロベンジル型保
護基を有する光酸発生剤、M.TUNOOKA etal, Polymer Pr
eprints Japan, 35(8)、G. Berner et al, J. Rad. Cur
ing, 13(4)、 W. J. Mijs et al, Coating Technol., 5
5(697), 45(1983), Akzo、H. Adachi et al, Polymer P
reprints, Japan, 37(3)、欧州特許第0199,672号、同84
515号、同044,115号、同618,564号、同0101,122号、米
国特許第4,371,605号、同4,431,774 号、特開昭64-1814
3号、特開平2-245756号、特開平3-140109号等に記載の
イミノスルフォネ−ト等に代表される光分解してスルホ
ン酸を発生する化合物、特開昭61-166544号等に記載の
ジスルホン化合物を挙げることができる。
【0058】また、これらの光により酸を発生する基、
あるいは化合物をポリマーの主鎖又は側鎖に導入した化
合物、たとえば、M. E. Woodhouse et al, J. Am. Che
m. Soc., 104, 5586(1982)、S. P. Pappas et al, J. I
maging Sci., 30(5), 218(1986)、S. Kondo et al, Mak
romol. Chem., Rapid Commun., 9, 625(1988)、Y. Yama
da et al, Makromol. Chem., 152, 153, 163(1972)、J.
V. Crivello et al, J. Polymer Sci., Polymer Chem.
Ed., 17, 3845(1979)、米国特許第3,849,137号、獨国
特許第3914407、特開昭63-26653号、特開昭55-164824
号、特開昭62-69263号、特開昭63-146038号、特開昭63-
163452号、特開昭62-153853号、特開昭63-146029号等に
記載の化合物を用いることができる。
【0059】さらにV. N. R. Pillai, Synthesis, (1),
1(1980)、A. Abad et al, Tetrahedron Lett., (47)45
55(1971)、D. H. R. Barton et al, J. Chem. Soc.,
(C), 329(1970)、米国特許第3,779,778号、欧州特許第1
26,712号等に記載の光により酸を発生する化合物も使用
することができる。
【0060】上記(b−1)活性光線又は放射線の照射
により分解して酸を発生する化合物の中で、特に有効に
用いられるものについて以下に説明する。 (1)トリハロメチル基が置換した下記一般式(PAG
1)で表されるオキサゾール誘導体又は一般式(PAG
2)で表されるS−トリアジン誘導体。
【0061】
【化25】
【0062】式中、R201は置換もしくは未置換のアリ
ール基、アルケニル基、R202は置換もしくは未置換の
アリール基、アルケニル基、アルキル基、−C(Y)3
を示す。Yは塩素原子又は臭素原子を示す。具体的には
以下の化合物を挙げることができるがこれらに限定され
るものではない。
【0063】
【化26】
【0064】
【化27】
【0065】
【化28】
【0066】(2)下記の一般式(PAG3)で表され
るヨードニウム塩、又は一般式(PAG4)で表される
スルホニウム塩。
【0067】
【化29】
【0068】ここで式Ar1、Ar2は、各々独立、に置
換もしくは未置換のアリール基を示す。好ましい置換基
としては、アルキル基、ハロアルキル基、シクロアルキ
ル基、アリール基、アルコキシ基、ニトロ基、カルボキ
シル基、アルコキシカルボニル基、ヒロドキシ基、メル
カプト基及びハロゲン原子が挙げられる。
【0069】R203、R204、R205は、各々独立に、置
換もしくは未置換のアルキル基、アリール基を示す。好
ましくは、炭素数6〜14のアリール基、炭素数1〜8
のアルキル基及びそれらの置換誘導体である。好ましい
置換基としては、アリール基に対しては炭素数1〜8の
アルコキシ基、炭素数1〜8のアルキル基、シクロアル
キル基、ニトロ基、カルボキシル基、メルカプト基、ヒ
ロドキシ基及びハロゲン原子であり、アルキル基に対し
ては炭素数1〜8のアルコキシ基、カルボキシル基、ア
ルコシキカルボニル基である。
【0070】Zーは対アニオンを示し、例えばBF4ー、
AsF6ー、PF6ー、SbF6ー、SiF6 2ー、ClO4ー、
置換していてもよいアルカンスルホン酸アニオン、置換
していてもよいベンゼンスルホン酸アニオン、置換して
いてもよいナフタレンスルホン酸アニオン、置換してい
てもよいアントラセンスルホン酸アニオン、置換してい
てもよいカンファスルホン酸アニオン、スルホン酸基含
有染料等を挙げることができるがこれらに限定されるも
のではない。
【0071】またR203、R204、R205のうちの2つ及
びAr1、Ar2はそれぞれの単結合又は置換基を介して
結合してもよい。
【0072】また、露光後加熱処理までの経時での性能
変化(T−Top形成、線幅変化等)が少ないような光
酸発生剤が好ましい。そのような光酸発生剤としては例
えば、上記一般式(PAG3)、(PAG4)におい
て、Ar1、Ar2、R203〜R2 05が置換あるいは未置換
のアリール基を表し、Zーが、光の照射により酸として
発生したときにレジスト膜中で拡散性が比較的小さいも
のである。具体的には、Zーが、分岐状又は環状の炭素
数8個以上のアルキル基又はアルコキシ基の群の中から
選ばれる基を少なくとも1個有するか、直鎖状、分岐状
又は環状の炭素数4〜7個のアルキル基又はアルコキシ
基の群の中から選ばれる基を少なくとも2個有するか、
もしくは直鎖状又は分岐状の炭素数1〜3個のアルキル
基又はアルコキシ基の群の中から選ばれる基を少くとも
3個有するベンゼンスルホン酸、ナフタレンスルホン酸
又はアントラセンスルホン酸のアニオンを示す。
【0073】具体例としては以下に示す化合物が挙げら
れるが、これらに限定されるものではない。
【0074】
【化30】
【0075】
【化31】
【0076】
【化32】
【0077】
【化33】
【0078】
【化34】
【0079】
【化35】
【0080】
【化36】
【0081】
【化37】
【0082】
【化38】
【0083】
【化39】
【0084】一般式(PAG3)、(PAG4)で示さ
れる上記オニウム塩は公知であり、例えばJ. W. Knapcz
yk et al, J. Am. Chem. Soc., 91, 145(1969)、A. L.
Maycok et al, J. Org. Chem., 35, 2532,(1970)、E.
Goethas et al, Bull. Soc.Chem. Belg., 73, 546,(196
4)、H. M. Leicester、J. Ame. Chem. Soc., 51, 3587
(1929)、J. V. Crivello et al, J. Polym. Chem. Ed.,
18, 2677(1980)、米国特許第2,807,648号及び同4,247,
473号、特開昭53-101331号等に記載の方法により合成す
ることができる。
【0085】(3)下記一般式(PAG5)で表される
ジスルホン誘導体又は一般式(PAG6)で表されるイ
ミノスルホネート誘導体。
【0086】
【化40】
【0087】式中、Ar3、Ar4は各々独立に置換もし
くは未置換のアリール基を示す。R 206は置換もしくは
未置換のアルキル基、アリール基を示す。Aは置換もし
くは未置換のアルキレン基、アルケニレン基、アリーレ
ン基を示す。具体例としては以下に示す化合物が挙げら
れるが、これらに限定されるものではない。
【0088】
【化41】
【0089】
【化42】
【0090】
【化43】
【0091】
【化44】
【0092】
【化45】
【0093】
【化46】
【0094】(4)下記一般式(PAG7)で表される
ジアゾジスルホン誘導体。
【0095】
【化47】
【0096】ここでRは、直鎖、分岐又は環状アルキル
基、あるいは置換してもよいアリール基を表す。具体例
としては以下に示す化合物が挙げられるが、これらに限
定されるものではない。
【0097】
【化48】
【0098】本発明において、(b−1)活性光線又は
放射線の照射により酸を発生する化合物としては、オニ
ウム塩、ジアゾジスルホンであることが好ましく、これ
らの中でもスルホン酸を発生する化合物が特に好まし
い。2種以上を混合させてもよく、その場合、オニウム
塩同士のような類似構造同士を混合させても、オニウム
塩とジアゾジスルホン等異なる骨格の化合物を混合させ
てもよい。
【0099】これらの(b−1)活性光線又は放射線の
照射により分解して酸を発生する化合物の添加量は、本
発明の組成物の全重量(塗布溶媒を除く)を基準として
通常0.001〜40重量%の範囲で用いられ、好まし
くは0.01〜20重量%、更に好ましくは0.1〜5
重量%の範囲で使用される。
【0100】本発明における(b−2)光酸発生剤とし
ては、活性光線又は放射線の照射により酸は発生する
が、上記酸分解性樹脂の分解に寄与しないものである。
このような光酸発生剤としては、カルボン酸を発生する
化合物が好ましい。このような光酸発生剤としては、カ
ルボン酸のアニオンをカウンターアニオンとするヨード
ニウム塩あるいはスルホニウム塩、カルボン酸エステル
基を有するイミドカルボキシレート化合物あるいはニト
ロベンジルエステル化合物等が挙げられる。本発明に用
いることができる(b−2)光酸発生剤としては、下記
一般式(AI)〜(AV)で示される化合物が挙げられ
る。
【0101】
【化49】
【0102】上記式において、R301 〜R337は、各々
独立に水素原子、直鎖、分岐あるいは環状アルキル基、
直鎖、分岐あるいは環状アルコキシ基、ヒドロキシ基、
ハロゲン原子、または−S−R0基を表す。R0は直鎖、
分岐、環状アルキル基またはアリール基を表す。Ra、
Rbは、各々独立に水素原子、ニトロ基、ハロゲン原
子、置換基を有していてもよい、アルキル基、アルコキ
シ基を表す。Rc、Rdは、各々独立にハロゲン原子、
置換基を有していてもよい、アルキル基又はアリール基
を表す。RcとRdとが結合して芳香環、単環あるいは
多環の環状炭化水素(これらの環内には酸素原子、窒素
原子を含んでいてもよい)を形成してもよい。Y1、Y2
は、炭素原子を表し、Y1−Y2結合は、単結合でも2重
結合でもよい。上記X-は、下記式で示されるカルボン
酸化合物がアニオンになったものを表す。X1、X2は、
各々独立に、下記式で示されるカルボン酸化合物がカル
ボキシル基部分でエステル基となったものを表す。
【0103】
【化50】
【0104】
【化51】
【0105】上記式中、R338は、炭素数1〜30の直
鎖状、分岐状あるいは環状のアルキル基(ここで、アル
キル基の鎖中に酸素原子、窒素原子を含んでいてもよ
い)、炭素数1〜20の直鎖状、分岐状もしくは環状の
アルケニル基、炭素数1〜20の直鎖状、分岐状もしく
は環状のアルキニル基、炭素数1〜20の直鎖状、分岐
状あるいは環状のアルコキシル基、前記アルキル基の水
素原子の少なくとも一部がハロゲン原子および/または
水酸基で置換された基、前記アルケニル基の水素原子の
少なくとも一部がハロゲン原子および/または水酸基で
置換された基、あるいは炭素数6〜20の置換もしくは
非置換のアリール基を示す。ここで、アリール基の置換
基としてはアルキル基、ニトロ基、水酸基、アルコキシ
基、アシル基、アルコキシカルボニル基、ハロゲン原子
を挙げることができる。
【0106】R339は、単結合あるいは、炭素数1〜2
0の直鎖状、分岐状あるいは環状のアルキレン基(ここ
で、アルキレン基の鎖中に酸素原子、窒素原子を含んで
いてもよい)、炭素数1〜20の直鎖状、分岐状もしく
は環状のアルケニレン基、前記アルキレン基の水素原子
の少なくとも一部がハロゲン原子および/または水酸基
で置換された基、前記アルケニレン基の水素原子の少な
くとも一部がハロゲン原子で置換された基、あるいは炭
素数2〜20のアルコキアルキレン基を示し、複数存在
するR338、R339は相互に同一でも異なってもよい。
【0107】R340は水酸基またはハロゲン原子を示
し、複数存在するR340は相互に同一でも異なってもよ
い。m、n、pおよびqは各々独立に、0〜3の整数
で、m+n≦5、p+q≦5である。zは0または1で
ある。
【0108】前記一般式(AI)〜(AV)における、
301〜R337、Ra、Rb、Rc、Rd、R0におけ
る直鎖、分岐アルキル基としては、置換基を有してもよ
い、メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、
sec−ブチル基、t−ブチル基のような炭素数1〜4
個のものが挙げられる。環状アルキル基としては、置換
基を有してもよい、シクロプロピル基、シクロペンチル
基、シクロヘキシル基のような炭素数3〜8個のものが
挙げられる。R301〜R337、Ra、Rbのアルコキ
シ基としては、メトキシ基、エトキシ基、ヒドロキシエ
トキシ基、プロポキシ基、n−ブトキシ基、イソブトキ
シ基、sec−ブトキシ基、t−ブトキシ基のような炭
素数1〜4個のものが挙げられる。R301〜R337、
Ra、Rb、Rc、Rdのハロゲン原子としては、フッ
素原子、塩素原子、臭素原子、沃素原子を挙げることが
できる。R0、Rc、Rdのアリール基としては、フェ
ニル基、トリル基、メトキシフェニル基、ナフチル基の
ような置換基を有してもよい炭素数6〜14個のものが
挙げられる。これらの置換基として好ましくは、炭素数
1〜4個のアルコキシ基、ハロゲン原子(フッ素原子、
塩素原子、沃素原子)、炭素数6〜10個のアリール
基、炭素数2〜6個のアルケニル基、シアノ基、ヒドロ
キシ基、カルボキシ基、アルコキシカルボニル基、ニト
ロ基等が挙げられる。
【0109】RcとRdとが結合して形成する、芳香
環、単環あるいは多環の環状炭化水素(これらの環内に
は酸素原子、窒素原子を含んでいてもよい)としては、
ベンゼン構造、ナフタレン構造、シクロヘキサン構造、
ノルボルネン構造、オキサビシクロ構造等が挙げられ
る。
【0110】本発明で使用される一般式(AI)〜(A
III)で表されるスルホニウム、ヨードニウム化合物
は、その対アニオンX-として、上記式(C1)〜(C
10)で示されるカルボン酸化合物のうち少なくとも1
種の化合物のカルボキシル基(−COOH)がアニオン
(−COO-)となったものを含む。本発明で使用され
る一般式(AIV)〜(AV)で表される化合物は、置
換基X1、X2として、上記式(C1)〜(C10)で示
されるカルボン酸化合物のうち少なくとも1種の化合物
のカルボキシル基(−COOH)がエステル基(−CO
O−)となった置換基を含む。
【0111】R338における、炭素数1〜30の直鎖
状、分岐状あるいは環状のアルキル基(ここで、アルキ
ル基の鎖中に酸素原子、窒素原子を含んでいてもよい)
としては、メチル、エチル、プロピル、ブチル、ペンチ
ル、ヘキシル、シクロヘキシル、ドデシル、1−エトキ
シエチル、アダマンチル等が挙げられる。炭素数1〜2
0の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルケニル基として
は、エテニル、プロペニル、イソプロペニル、シクロヘ
キセン等が挙げられる。炭素数1〜20の直鎖状、分岐
状もしくは環状のアルキニル基としては、アセチレン、
プロペニレン等が挙げられる。炭素数1〜20の直鎖
状、分岐状あるいは環状のアルコキシ基としては、メト
キシ、エトキシ、プロピルオキシ、ブトキシ、シクロヘ
キシルオキシ、イソブトキシ、ドデシルオキシ等が挙げ
られる。炭素数6〜20の置換もしくは非置換のアリー
ル基としては、フェニル、ナフチル、アントラニル等が
挙げられる。アリール基の置換基としてはアルキル基、
ニトロ基、水酸基、アルコキシ基、アシル基、アルコキ
シカルボニル基、ハロゲン原子を挙げることができる。
【0112】R339における、炭素数1〜20の直鎖
状、分岐状あるいは環状のアルキレン基(ここで、アル
キレン基の鎖中に酸素原子、窒素原子を含んでいてもよ
い)、としては、メチレン、エチレン、プロピレン、ブ
チレン、イソブチレン、エトキシエチレン、シクロヘキ
シレン等が挙げられる。炭素数1〜20の直鎖状、分岐
状もしくは環状のアルケニレン基としては、ビニレン、
アリレン等が挙げられる。
【0113】本発明において、(b−2)光酸発生剤と
しては、ヨードニウム塩、スルホニウム塩が好ましい。
以下に、これらの(b−2)光酸発生剤の具体例を示す
が、本発明はこれらに限定されるものではない。
【0114】
【化52】
【0115】
【化53】
【0116】
【化54】
【0117】
【化55】
【0118】
【化56】
【0119】上記一般式(AI)〜(AV)で表される
化合物は、1種単独で又は2種以上を組み合わせて使用
することができる。上記(b−2)光酸発生剤、すなわ
ち一般式(AI)、一般式(AII)、一般式(AIII)
で表される化合物は、米国特許第3,734,928号
明細書に記載の方法、Macromolecules, vol. 10, 1307
(1977), Journal of Organic Chemistry, vol. 55, 422
2(1990), J. Radiat. Curing, vol. 5(1), 2(1978) に
記載の方法などを用い、更にカウンターアニオンを交換
することにより合成できる。一般式(AIV)、一般式
(AV)で表される化合物は、N−ヒドロキシイミド化
合物とカルボン酸クロリドを塩基性条件で反応させる、
あるいはニトロベンジルアルコールとカルボン酸クロリ
ドを塩基性条件下反応させることにより得られる。(b
−2)光酸発生剤の組成物中の含量は、組成物の全固形
分に対し、0.1〜20重量%が適当であり、好ましく
は0.5〜10重量%、更に好ましくは1〜7重量%で
ある。また、光酸発生剤(b−1)と(b−2)の組成
物中の使用重量比率は、(b−2)/(b−1)で、通
常0.01〜5の範囲であり、好ましくは0.05〜3
の範囲であり、更に好ましくは0.1〜2の範囲であ
る。
【0120】本発明の組成物には、有機塩基性化合物を
用いることが好ましい。本発明で用いることのできる好
ましい有機塩基性化合物は、フェノールよりも塩基性の
強い化合物である。なかでも下記(A)〜(E)で示さ
れる構造を含む含窒素塩基性化合物が好ましい。含窒素
塩基性化合物を用いることにより、露光から後加熱まで
の経時によっても性能変化が小さい。
【0121】
【化57】
【0122】ここで、R250、R251及びR252は、各々
独立に、水素原子、炭素数1〜6のアルキル基、炭素数
1〜6のアミノアルキル基、炭素数1〜6のヒドロキシ
アルキル基又は炭素数6〜20の置換もしくは非置換の
アリール基であり、ここでR 251とR252は互いに結合し
て環を形成してもよい。
【0123】
【化58】
【0124】(式中、R253、R254、R255およびR256
は、同一または異なり、炭素数1〜6のアルキル基を示
す)。好ましい具体例としては、置換もしくは未置換の
グアニジン、置換もしくは未置換のアミノピリジン、置
換もしくは未置換のアミノアルキルピリジン、置換もし
くは未置換のアミノピロリジン、置換もしくは未置換の
インダーゾル、置換もしくは未置換のピラゾール、置換
もしくは未置換のピラジン、置換もしくは未置換のピリ
ミジン、置換もしくは未置換のプリン、置換もしくは未
置換のイミダゾリン、置換もしくは未置換のピラゾリ
ン、置換もしくは未置換のピペラジン、置換もしくは未
置換のアミノモルフォリン、置換もしくは未置換のアミ
ノアルキルモルフォリン等が挙げられ、モノ、ジ、トリ
アルキルアミン、置換もしくは未置換のアニリン、置換
もしくは未置換のピペリジン、モノあるいはジエタノー
ルアミン等が挙げられる。好ましい置換基は、アミノ
基、アミノアルキル基、アルキルアミノ基、アミノアリ
ール基、アリールアミノ基、アルキル基、アルコキシ
基、アシル基、アシロキシ基、アリール基、アリールオ
キシ基、ニトロ基、水酸基、シアノ基である。
【0125】好ましい化合物として、グアニジン、1,
1−ジメチルグアニジン、1,1,3,3,−テトラメ
チルグアニジン、2−アミノピリジン、3−アミノピリ
ジン、4−アミノピリジン、2−ジメチルアミノピリジ
ン、4−ジメチルアミノピリジン、2−ジエチルアミノ
ピリジン、2−(アミノメチル)ピリジン、2−アミノ
−3−メチルピリジン、2−アミノ−4−メチルピリジ
ン、2−アミノ−5−メチルピリジン、2−アミノ−6
−メチルピリジン、3−アミノエチルピリジン、4−ア
ミノエチルピリジン、3−アミノピロリジン、ピペラジ
ン、N−(2−アミノエチル)ピペラジン、N−(2−
アミノエチル)ピペリジン、4−アミノ−2,2,6,
6−テトラメチルピペリジン、4−ピペリジノピペリジ
ン、2−イミノピペリジン、1−(2−アミノエチル)
ピロリジン、ピラゾール、3−アミノ−5−メチルピラ
ゾール、5−アミノ−3−メチル−1−p−トリルピラ
ゾール、ピラジン、2−(アミノメチル)−5−メチル
ピラジン、ピリミジン、2,4−ジアミノピリミジン、
4,6−ジヒドロキシピリミジン、2−ピラゾリン、3
−ピラゾリン、N−アミノモルフォリン、N−(2−ア
ミノエチル)モルフォリン、1,5−ジアザビシクロ
〔4,3,0〕ノナ−5−エン、1,8−ジアザビシク
ロ〔5,4,0〕ウンデカ−7−エン、2,4,5−ト
リフェニルイミダゾール、トリ(n−ブチル)アミン、
トリ(n−オクチル)アミン、N−フェニルジエタノー
ルアミン、N−ヒドロキシエチルピペリジン、2,6−
ジイソプロピルアニリン、N−シクロヘキシル−N’−
モルホリノエチルチオ尿素、N−ヒドロキシエチルモル
ホリン等が挙げられるがこれに限定されるものではな
い。
【0126】これらの中でも特に好ましい化合物として
は、1,5−ジアザビシクロ〔4,3,0〕ノナ−5−
エン、1,8−ジアザビシクロ〔5,4,0〕ウンデカ
−7−エン、2,4,5−トリフェニルイミダゾール、
トリ(n−ブチル)アミン、トリ(n−オクチル)アミ
ン、N−フェニルジエタノールアミン、N−ヒドロキシ
エチルピペリジン、2,6−ジイソプロピルアニリン、
N−シクロヘキシル−N’−モルホリノエチルチオ尿
素、N−ヒドロキシエチルモルホリンである。これらの
含窒素塩基性化合物は、単独であるいは2種以上一緒に
用いられる。含窒素塩基性化合物の使用量は、組成物の
固形分を基準として、通常、0.001〜10重量%、
好ましくは0.01〜5重量%である。0.001重量
%未満では上記含窒素塩基性化合物の添加の効果が得ら
れない。一方、10重量%を超えると感度の低下や非露
光部の現像性が悪化する傾向がある。
【0127】〔VII 〕本発明に使用されるその他の成分 本発明のポジ型感放射線性組成物には必要に応じて、更
に染料、顔料、可塑剤、界面活性剤、光増感剤、低分子
溶解阻止化合物及び現像液に対する溶解性を促進させる
フェノール性OH基を2個以上有する化合物などを含有
させることができる。
【0128】本発明で使用できるフェノール性OH基を
2個以上有する化合物は、好ましくは分子量1000以
下のフェノール化合物である。また、分子中に少なくと
も2個のフェノール性水酸基を有することが必要である
が、これが10を越えると、現像ラチチュードの改良効
果が失われる。また、フェノ−ル性水酸基と芳香環との
比が0.5未満では膜厚依存性が大きく、また、現像ラ
チチュードが狭くなる傾向がある。この比が1.4を越
えると該組成物の安定性が劣化し、高解像力及び良好な
膜厚依存性を得るのが困難となって好ましくない。
【0129】このフェノール化合物の好ましい添加量
は、アルカリ可溶性樹脂に対して2〜50重量%であ
り、更に好ましくは5〜30重量%である。50重量%
を越えた添加量では、現像残渣が悪化し、また現像時に
パターンが変形するという新たな欠点が発生して好まし
くない。
【0130】このような分子量1000以下のフェノー
ル化合物は、例えば、特開平4−122938号、特開
平2−28531号、米国特許第4916210号、欧
州特許第219294号等に記載の方法を参考にして、
当業者に於て容易に合成することが出来る。フェノール
化合物の具体例を以下に示すが、本発明で使用できる化
合物はこれらに限定されるものではない。
【0131】レゾルシン、フロログルシン、2,3,4
−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4′−
テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,3′,
4′,5′−ヘキサヒドロキシベンゾフェノン、アセト
ン−ピロガロール縮合樹脂、フロログルコシド、2,
4,2′,4′−ビフェニルテトロール、4,4′−チ
オビス(1,3−ジヒドロキシ)ベンゼン、2,2′,
4,4′−テトラヒドロキシジフェニルエーテル、2,
2′,4,4′−テトラヒドロキシジフェニルスルフォ
キシド、2,2′,4,4′−テトラヒドロキシジフェ
ニルスルフォン、トリス(4−ヒドロキシフェニル)メ
タン、1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)シクロ
ヘキサン、4,4−(α−メチルベンジリデン)ビスフ
ェノール、α,α′,α″−トリス(4−ヒドロキシフ
ェニル)−1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、
α,α′,α″−トリス(4−ヒドロキシフェニル)−
1−エチル−4−イソプロピルベンゼン、1,2,2−
トリス(ヒドロキシフェニル)プロパン、1,1,2−
トリス(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)
プロパン、2,2,5,5−テトラキス(4−ヒドロキ
シフェニル)ヘキサン、1,2−テトラキス(4−ヒド
ロキシフェニル)エタン、1,1,3−トリス(ヒドロ
キシフェニル)ブタン、パラ〔α,α,α′,α′−テ
トラキス(4−ヒドロキシフェニル)〕−キシレン等を
挙げることができる。
【0132】好適な染料としては油性染料及び塩基性染
料がある。具体的にはオイルイエロー#101、オイル
イエロー#103、オイルピンク#312、オイルグリ
ーンBG、オイルブルーBOS,オイルブルー#60
3、オイルブラックBY、オイルブラックBS、オイル
ブラックT−505(以上オリエント化学工業株式会社
製)、クリスタルバイオレット(CI42555)、メ
チルバイオレット(CI42535)、ローダミンB
(CI45170B)、マラカイトグリーン(CI42
000)、メチレンブルー(CI52015)等を挙げ
ることができる。
【0133】更に、下記に挙げるような分光増感剤を添
加し、使用する光酸発生剤が吸収を持たない遠紫外より
長波長領域に増感させることで、本発明の感光性組成物
をi又はg線に感度を持たせることができる。好適な分
光増感剤としては、具体的にはベンゾフェノン、p,
p’−テトラメチルジアミノベンゾフェノン、p,p’
−テトラエチルエチルアミノベンゾフェノン、2−クロ
ロチオキサントン、アントロン、9−エトキシアントラ
セン、アントラセン、ピレン、ペリレン、フェノチアジ
ン、ベンジル、アクリジンオレンジ、ベンゾフラビン、
セトフラビン−T、9,10−ジフェニルアントラセ
ン、9−フルオレノン、アセトフェノン、フェナントレ
ン、2−ニトロフルオレン、5−ニトロアセナフテン、
ベンゾキノン、2−クロロ−4−ニトロアニリン、N−
アセチル−p−ニトロアニリン、p−ニトロアニリ
ン、、N−アセチル−4−ニトロ−1−ナフチルアミ
ン、ピクラミド、アントラキノン、2−エチルアントラ
キノン、2−tert−ブチルアントラキノン1,2−ベン
ズアンスラキノン、3−メチル−1,3−ジアザ−1,
9−ベンズアンスロン、ジベンザルアセトン、1,2−
ナフトキノン、3,3’−カルボニル−ビス(5,7−
ジメトキシカルボニルクマリン)及びコロネン等である
がこれらに限定されるものではない。また、これらの分
光増感剤は、光源の遠紫外光の吸光剤としても使用可能
である。この場合、吸光剤は基板からの反射光を低減
し、レジスト膜内の多重反射の影響を少なくさせること
で、定在波改良の効果を発現する。
【0134】本発明の組成物は、上記各成分を溶解する
溶剤に溶かして支持体上に塗布する。ここで使用する溶
剤(d)としては、エチレンジクロライド、シクロヘキ
サノン、シクロペンタノン、2−ヘプタノン、γ−ブチ
ロラクトン、メチルエチルケトン、エチレングリコール
モノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエ
ーテル、2−メトキシエチルアセテート、エチレングリ
コールモノエチルエーテルアセテート、プロピレングリ
コールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノ
メチルエーテルアセテート、トルエン、酢酸エチル、乳
酸メチル、乳酸エチル、メトキシプロピオン酸メチル、
エトキシプロピオン酸エチル、ピルビン酸メチル、ピル
ビン酸エチル、ピルビン酸プロピル、N,N−ジメチル
ホルムアミド、ジメチルスルホキシド、N−メチルピロ
リドン、テトラヒドロフラン等が好ましく、これらの溶
媒を単独あるいは混合して使用する。
【0135】上記溶媒に界面活性剤を加えることが好ま
しい。具体的には、ポリオキシエチレンラウリルエーテ
ル、ポリオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキ
シエチレンセチルエーテル、ポリオキシエチレンオレイ
ルエーテル等のポリオキシエチレンアルキルエーテル
類、ポリオキシエチレンオクチルフェノールエーテル、
ポリオキシエチレンノニルフェノールエーテル等のポリ
オキシエチレンアルキルアリルエーテル類、ポリオキシ
エチレン・ポリオキシプロピレンブロックコポリマー
類、ソルビタンモノラウレート、ソルビタンモノパルミ
テート、ソルビタンモノステアレート、ソルビタンモノ
オレエート、ソルビタントリオレエート、ソルビタント
リステアレート等のソルビタン脂肪酸エステル類、ポリ
オキシエチレンソルビタンモノラウレート、ポリオキシ
エチレンソルビタンモノパルミテ−ト、ポリオキシエチ
レンソルビタンモノステアレート、ポリオキシエチレン
ソルビタントリオレエート、ポリオキシエチレンソルビ
タントリステアレート等のポリオキシエチレンソルビタ
ン脂肪酸エステル類等のノニオン系界面活性剤、エフト
ップEF301,EF303,EF352(新秋田化成
(株)製)、メガファックF171,F173、F17
6、F189、R08(大日本インキ(株)製)、フロ
ラ−ドFC430,FC431(住友スリーエム(株)
製)、アサヒガードAG710,サーフロンS−38
2,SC101,SC102,SC103,SC10
4,SC105,SC106(旭硝子(株)製)等のフ
ッ素系界面活性剤、オルガノシロキサンポリマーKP3
41(信越化学工業(株)製)やアクリル酸系もしくは
メタクリル酸系(共)重合ポリフローNo.75,N
o.95(共栄社油脂化学工業(株)製)、トロイゾル
S−366(トロイケミカル(株)製)等を挙げること
ができる。これらの界面活性剤の配合量は、本発明の組
成物中の固形分100重量部当たり、通常、2重量部以
下、好ましくは1重量部以下である。これらの中でも、
フッ素原子及び/又は珪素原子含有界面活性剤が好まし
い。これらの界面活性剤は単独で添加してもよいし、ま
た、いくつかの組み合わせで添加することもできる。
【0136】上記感放射線性組成物を精密集積回路素子
の製造に使用されるような基板(例:シリコン/二酸化
シリコン被覆)上にスピナー、コーター等の適当な塗布
方法により塗布後、所定のマスクを通して露光し、ベー
クを行い現像することにより良好なレジストパターンを
得ることができる。
【0137】本発明の感放射線性組成物の現像液として
は、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウ
ム、ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム、アンモ
ニア水等の無機アルカリ類、エチルアミン、n−プロピ
ルアミン等の第一アミン類、ジエチルアミン、ジ−n−
ブチルアミン等の第二アミン類、トリエチルアミン、メ
チルジエチルアミン等の第三アミン類、ジメチルエタノ
ールアミン、トリエタノールアミン等のアルコールアミ
ン類、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラ
エチルアンモニウムヒドロキシド等の第四級アンモニウ
ム塩、ピロール、ピヘリジン等の環状アミン類等のアル
カリ性水溶液を使用することができる。更に、上記アル
カリ性水溶液にアルコール類、界面活性剤を適当量添加
して使用することもできる。
【0138】
【実施例】以下、本発明を実施例により更に詳細に説明
するが、本発明がこれにより限定されるものではない。 (樹脂の合成例) p−(1−(シクロヘキシルエトキシ)エトキシ)スチ
レン/p−ヒドロキシスチレン(30/70)(樹脂P
2)の合成 p−ヒドロキシスチレン(日本曹達製VP−8000)
70gをプロピレングリコールモノメチルエーテルアセ
テート(PGMEA)320gに加熱溶解させ、減圧留
去により脱水した後20℃まで冷却した。この溶液にピ
リジニウム−p−トルエンスルホネート0.35gおよ
びシクロヘキサンエタノール22.4gを加えた。この
溶液にt−ブチルビニルエーテル17.5gをゆっくり
加え、20℃で5時間反応させた。反応液にトリエチル
アミン0.28g、酢酸エチル320mlを加え、これ
を蒸留水150mlで3回洗浄した。溶剤を留去、濃縮
した。得られたオイルをアセトン100mlに溶解させ
これを、蒸留水2Lにゆっくりと注いだ。析出した粉体
をろ取、乾燥すると目的物が54g得られた。
【0139】p−(1−(シクロヘキシルエトキシ)エ
トキシ)スチレン/p−アセトキシスチレン/p−ヒド
ロキシスチレン(30/10/60)(樹脂P3)の合
成 p−ヒドロキシスチレン(日本曹達製VP−8000)
70gをプロピレングリコールモノメチルエーテルアセ
テート(PGMEA)320gに加熱溶解させ、減圧留
去により脱水した後20℃まで冷却した。この溶液にピ
リジニウム−p−トルエンスルホネート0.35gおよ
びシクロヘキサンエタノール22.4gを加えた。この
溶液にt−ブチルビニルエーテル17.5gをゆっくり
加え、20℃で5時間反応させた。反応液にピリジン
5.53gを加え、これに無水酢酸5.9gをゆっくり
加えた。室温で1時間反応させ、この溶液に酢酸エチル
320mlを加え、これを蒸留水150mlで3回洗浄
した。溶剤を留去、濃縮した。得られたオイルをアセト
ン100mlに溶解させこれを、蒸留水2Lにゆっくり
と注いだ。析出した粉体をろ取、乾燥すると目的物が5
8g得られた。上記と同様の方法で他の樹脂も合成し
た。
【0140】(b−1)光酸発生剤の合成 化合物(PAG−A1)の合成 ジフェニルスルホキシド50gをベンゼン800ミリリ
ットルに溶解させ、これに塩化アルミニウム200gを
加え、24時間還流した。反応液を氷2リットルにゆっ
くりと注ぎ、これに濃塩酸400ミリリットルを加えて
70℃で10分加熱した。この水溶液を酢酸エチル50
0ミリリットルで洗浄し、ろ過した後に、ヨウ化アンモ
ニウム200gを水400ミリリットルに溶かしたもの
を加えた。析出した粉体をろ取、水洗した後、酢酸エチ
ルで洗浄、乾燥するとトリフェニルスルホニウムヨージ
ドが70g得られた。トリフェニルスルホニウムヨージ
ド50gをメタノール300ミリリットルに溶解し、こ
れに酸化銀31gを加えて4時間攪拌した。反応液をろ
過した後、2,4,6−トリイソプロピルベンゼンスル
ホン酸テトラメチルアンモニウム塩(2,4,6−トリ
イソンプロピルベンゼンスルホニルクロリドをテトラメ
チルアンモニウムヒドロキシド、水、メタノール中で加
熱反応させることによって得られる)45gを加えた。
この溶液を濃縮し得られた粉体を水で十分に洗浄し、酢
酸エチル/アセトンから再結晶すると化合物(PAG−
A1)が50g得られた。
【0141】化合物(PAG−A2)の合成 市販のトリアリールスルホニウムCl塩(Fluka製
トリフェニルスルホニウムクロリド50%水溶液)、ト
リフェニルスルホニウム、4,4’−ビス(ジフェニル
スルホニオ)ジフェニルスルフィドなどの混合物の水溶
液19.9g(0.030モル)をイオン交換水200
mlに溶解した。この溶液には下記構造のハード型(分
岐型)ドデシルベンゼンスルホン酸のNa塩10.5g
(0.030モル)のイオン交換水400ml溶液を室
温にて攪拌下添加した。析出した粘調個体をデカントに
て分離し、イオン交換水1リットルにて水洗した。析出
した粘調個体をアセトン100mlに溶解し、イオン交
換水500mlに攪拌下投入して再結晶させた。析出物
を真空下、50℃にて乾燥した結果、ガラス状固体1
5.5gを得た。NMR測定によりこの固体が目的物で
ある光酸発生剤(PAG−A2)であることを確認し
た。
【0142】
【化59】
【0143】(b−2)光酸発生剤の合成 (I-1)ビス(t−アミルフェニルヨードニウム)p−
トリルアセテートの合成 ビス(t−アミルフェニルヨードニウム)ヨージド91
gをメタノール2Lに溶解させ、これに酸化銀(I)4
0gを加えて、室温で4時間撹拌した。反応液をろ過し
て銀化合物を除去した後、ろ液にp−トリル酢酸30g
を加えた。溶液を濃縮し、得られた油状物を酢酸エチル
2Lに溶解させた。この溶液を2.38%テトラメチル
アンモニウムヒドロキシド水溶液500mlで2回、蒸
留水500mlで3回洗浄した。溶液を濃縮し、得られ
た固体をジイソプロピルエーテル500mlで洗浄する
と目的物が63g得られた。
【0144】(I-9)ビス(t−アミルフェニルヨード
ニウム)アセテートの合成 ビス(t−アミルフェニルヨードニウム)ヨージド50
gをメタノール2Lに溶解させ、これに酸化銀(I)2
2gを加えて、室温で4時間撹拌した。反応液をろ過し
て銀化合物を除去した後、ろ液に酢酸7.5gを加え
た。溶液を濃縮し、得られた固体をジイソプロピルエー
テル300mlで洗浄すると目的物が32g得られた。
【0145】(I-2)ビス(t−アミルフェニルヨード
ニウム)p−ニトロベンゾエートの合成 ビス(t−アミルフェニルヨードニウム)ヨージド10
gをメタノール700mlに溶解させ、これに酸化銀
(I)4.44gを加えて、室温で4時間撹拌した。反
応液をろ過して銀化合物を除去した後、ろ液にp−ニト
ロ安息香酸4.0gを加えた。溶液を濃縮し、得られた
固体を2.38%テトラメチルアンモニウムヒドロキシ
ド水溶液500mlで2回、蒸留水500mlで3回洗
浄し、乾燥すると目的物が4.2g得られた。
【0146】(II-1)トリフェニルスルホニウムp−ト
リルアセテートの合成 トリフェニルスルホニウムヨージド8.2gをメタノー
ル500mlに溶解させ、これに酸化銀(I)5.1g
を加えて、室温で4時間撹拌した。反応液をろ過して銀
化合物を除去した後、ろ液にp−トリル酢酸3.8gを
加えた。溶液を濃縮し、得られた油状物を酢酸エチル2
00mlで3回洗浄すると目的物が5.1g得られた。
【0147】(II-5)トリフェニルスルホニウムアセテ
ートの合成 トリフェニルスルホニウムヨージド20gをメタノール
500mlに溶解させ、これに酸化銀(I)12.5g
を加えて、室温で4時間撹拌した。反応液をろ過して銀
化合物を除去した後、ろ液に酢酸4.0gを加えた。溶
液を濃縮し、得られた油状物をジイソプロピルエーテル
300mlで2回洗浄すると目的物が11.2g得られ
た。
【0148】(実施例、比較例) (組成物の調整と評価)下表1に示す各成分を溶剤PGME
A(プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテー
ト)8gに溶解し、0.1μmのフィルターで濾過して
レジスト溶液を調整した。このレジスト溶液を、スピン
コーターを利用してシリコンウエハー上に塗布し、130
℃60秒間、真空吸着型のホットプレートで乾燥し、膜厚
0.4μmのレジスト膜を得た。
【0149】
【表1】
【0150】[樹脂] P1: p-(1-(エトキシ)エトキシ)スチレン/p-ヒドロキ
シスチレン(35/65) P2: p-(1-(シクロヘキシルエトキシ)エトキシ)スチレ
ン/p-ヒドロキシスチレン(30/70) P3: p-(1-(シクロヘキシルエトキシ)エトキシ)スチレ
ン/p-アセトキシスチレン/p-ヒドロキシスチレン(30
/10/60) P4: p-(1-(シクロヘキシルエトキシ)エトキシ)スチレ
ン/p-t-ブチルスチレン/p-ヒドロキシスチレン(30/1
0/60) P5: p-(1-(ベンジルオキシ)エトキシ)スチレン/p-ヒ
ドロキシスチレン(30/70) P6: p-(1-(フェネチルオキシエトキシ)エトキシ)スチ
レン/p-アセトキシスチレン/p-ヒドロキシスチレン
(30/10/60) 上記各樹脂において、保護基等を付与する前のポリヒド
ロキシスチレンの重量平均分子量(GPC法で確認され
たポリスチレン換算値)は、P1〜P3が8000であ
り、P4及びP5が15000であり、P6が2000
0である。 [光酸発生剤] PAG−A3:前述の例示化合物PAG7−3(みどり
化学社製)
【0151】界面活性剤 R08:メガファックR08 W−1:トロイゾルS−366 有機塩基性化合物
【0152】
【化60】
【0153】このレジスト膜に波長248nmのKrFエキ
シマレーザーステッパー(NA=0.63)を用いて露光を行
った。露光後、100℃ホットプレートで60秒加熱を行
い、直ちに0.26Nテトラメチルアンモニウムハイドロオ
キサイド(TMAH)水溶液に60秒間浸漬し、30秒間水でリ
ンスして乾燥した。このようにして得られたシリコンウ
エハー上のパターンを測調走査型電子顕微鏡(CD-SE
M)で観察し、表に示す様なレジスト性能(疎密依存
性、露光ラチチュード)を得た。(下表2)
【0154】疎密差ΔCDは、マスク寸法0.17μm
でL/S=1:1.5のパターンを再現する露光量において、
同一寸法でL/S=1:5のパターンの形成寸法を測長したと
きの0.17μmからの寸法差を表す。露光ラチチュー
ドΔexpは、第一にマスク寸法0.15μmでL/S=
1:1のパターンを再現する最適露光量を決定し、第二に
現像後に形成される寸法が150nmの±10%の範囲となる
露光量の範囲を決定し、その露光量範囲を最適露光量で
割った値を表す。
【0155】
【表2】
【0156】上記表2に示すように、本発明の組成物
は、疎密依存性に優れ、且つ露光ラチチュードが大き
い。
【0157】
【発明の効果】本発明のポジ型感放射線性組成物は、疎
密依存性と露光マージンが優れる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G03F 7/004 504 G03F 7/004 504 H01L 21/027 H01L 21/30 502R Fターム(参考) 2H025 AA00 AB03 AB15 AB16 AB17 AC08 AD03 BE00 BE07 BE08 BG00 CC03 CC04 CC20 FA03 FA12 FA17 4J002 AA051 BC121 BG021 BG091 BG121 CH052 EB106 EH057 EU186 EU216 EV226 EV296 FD206 FD312 FD317

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (a)下記一般式(I)で示される酸分
    解性基を有し、酸の作用により分解し、アルカリ現像液
    中での溶解度が増大する樹脂、(b−1)活性光線又は
    放射線の照射により酸を発生し、前記酸分解性基の分解
    反応に寄与する化合物のうち少なくとも1種、(b−
    2)活性光線又は放射線の照射により酸を発生し、前記
    酸分解性基の分解反応に寄与しない化合物のうち少なく
    とも1種、(c)界面活性剤、及び(d)溶剤を含有す
    ることを特徴とするボジ型感放射線性組成物。 【化1】 一般式(I)中、R1は炭素数1〜4個のアルキル基を
    表す。Wは、酸素原子、窒素原子、イオウ原子、リン原
    子及び珪素原子からなる群から選択される少なくとも1
    種の原子と少なくとも1つの炭素原子を含有する有機
    基、アミノ基、アンモニウム基、メルカプト基、置換あ
    るいは無置換のアリール基、又は置換あるいは無置換の
    環状アルキル基を表す。nは、1〜4の整数を表す。
  2. 【請求項2】 前記(a)の樹脂が、フェノール性水酸
    基を含有するアルカリ可溶性樹脂における該フェノール
    性水酸基の少なくとも一部が前記一般式(I)で示され
    る酸分解性基で保護されている樹脂であることを特徴と
    する請求項1に記載のボジ型感放射線性組成物。
  3. 【請求項3】 前記一般式(I)のWが、下記で示され
    る置換基の群から選択される少なくとも1種の置換基で
    あることを特徴とする請求項1に記載のボジ型感放射線
    性組成物。 【化2】 上記式中:R2は、水素原子、炭素数1〜6個の直鎖
    状、分岐状あるいは環状のアルキル基、炭素数2〜6個
    の直鎖状、分岐状あるいは環状のアルケニル基、置換あ
    るいは無置換のアリール基、又は置換あるいは無置換の
    アラルキル基を表す。R3は、水素原子、炭素数1〜6
    個の直鎖状、分岐状あるいは環状のアルキル基、炭素数
    1〜6個の直鎖状、分岐状あるいは環状のアルコキシ
    基、ハロゲン原子、ニトロ基、アミノ基、水酸基、又は
    シアノ基を表す。Xは、ハロゲン原子を表す。R4は、
    置換あるいは無置換のアリール基、又は置換あるいは無
    置換の炭素数3〜15個の環状アルキル基を表す。m
    は、1〜4の自然数である。
  4. 【請求項4】 (b−1)の化合物が、活性光線又は放
    射線の照射によりスルホン酸を発生する化合物であり、
    (b−2)の化合物が、活性光線又は放射線の照射によ
    りカルボン酸を発生する化合物であることを特徴とする
    請求項1に記載のボジ型感放射線性組成物。
  5. 【請求項5】 有機塩基性化合物を含有することを特徴
    とする請求項1〜4のいずれかに記載のボジ型感放射線
    性組成物。
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