JP2001244581A - Wiring board and electronic device using the same - Google Patents
Wiring board and electronic device using the sameInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置を搭載
するための配線基板とそれを用いた電子装置に適用して
有効な技術に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wiring board for mounting a semiconductor device and a technique effective when applied to an electronic device using the same.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来の、半導体装置を搭載するための配
線基板を用いた電子装置の例としてメモリモジュール
(RIMM)を取り挙げて説明する。2. Description of the Related Art A memory module (RIMM) will be described as an example of a conventional electronic device using a wiring board for mounting a semiconductor device.
【0003】図7は、従来のメモリモジュールの構成を
説明するための図であり、図1(a)は立体図であり、
図1(b)は矢印方向から見た側面図である。FIG. 7 is a diagram for explaining the configuration of a conventional memory module. FIG. 1A is a three-dimensional diagram.
FIG. 1B is a side view seen from the arrow direction.
【0004】従来のメモリモジュール100は、図7
(a)、図7(b)に示すように、配線基板10に半導
体装置20を両面実装した構成をとる。A conventional memory module 100 is shown in FIG.
As shown in FIG. 7A and FIG. 7B, the semiconductor device 20 is mounted on the wiring board 10 on both sides.
【0005】図8は、従来の配線基板10の構成を説明
するための断面図である。FIG. 8 is a cross-sectional view for explaining the structure of a conventional wiring board 10. As shown in FIG.
【0006】従来の配線基板10は、図8に示すよう
に、 表層に配線層及び電源層を有する半導体装置搭載
面と、信号線層12、GND層13、及びそれら各層を
絶縁する絶縁層(例えば、ポリイミド層)15とを有す
るマイクロストリップライン構造に形成されたTABテ
ープ16を、ガラスエポキシ樹脂等で形成され、剛性を
保つ硬質基材(コア材)11の両面にそれぞれ貼り付け
た構造をとる。As shown in FIG. 8, a conventional wiring board 10 has a semiconductor device mounting surface having a wiring layer and a power supply layer on its surface, a signal line layer 12, a GND layer 13, and an insulating layer for insulating those layers. For example, a TAB tape 16 formed in a microstrip line structure having a polyimide layer 15 is attached to both surfaces of a hard base material (core material) 11 made of glass epoxy resin or the like and maintaining rigidity. Take.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】従来のメモリモジュー
ル100は、図8に示すように、硬質基材11の両面に
TABテープ16を貼り付け、その絶縁層(例えば、ポ
リイミド層)15上に半導体装置搭載面層を設け、その
上に半導体装置20を搭載する構成になっている。As shown in FIG. 8, in a conventional memory module 100, a TAB tape 16 is attached to both surfaces of a hard base material 11, and a semiconductor layer 15 is formed on an insulating layer (for example, a polyimide layer) 15 thereof. A device mounting surface layer is provided, and the semiconductor device 20 is mounted thereon.
【0008】このような構成になっているのは、硬質基
材11上には微細な配線加工ができないためである。し
たがって、硬質基材11上にはGND層13のような微
細でない配線加工を設けた図8に示すような構成になっ
ていた。The reason for this configuration is that fine wiring processing cannot be performed on the hard base material 11. Therefore, a configuration as shown in FIG. 8 is provided in which a non-fine wiring process such as the GND layer 13 is provided on the hard base material 11.
【0009】しかし、図8に示す構成では、半導体装置
20を搭載する絶縁層15に十分な剛性や平坦性がない
ために歪みが生じ、半導体装置の搭載(接合)の信頼性
にかけるため、半導体装置20の搭載後に、半導体装置
20の重さにより剥がれてきたり、半導体装置20その
ものが脱落するという問題点があった。このことから、
従来では平坦性を保つために硬質基材11の片側に3層
以上積層することが困難であった。However, in the configuration shown in FIG. 8, since the insulating layer 15 on which the semiconductor device 20 is mounted does not have sufficient rigidity and flatness, distortion occurs and the reliability of mounting (joining) of the semiconductor device is affected. After the semiconductor device 20 is mounted, there is a problem that the semiconductor device 20 peels off due to its weight or the semiconductor device 20 itself falls off. From this,
Conventionally, it has been difficult to laminate three or more layers on one side of the hard base material 11 in order to maintain flatness.
【0010】また、絶縁層15の熱膨張係数は、半導体
装置の熱膨張係数より大きいため、この絶縁層15に半
導体装置20を搭載する際に応力がかかり、絶縁層15
が反ってしまうという問題点があった。Since the thermal expansion coefficient of the insulating layer 15 is larger than the thermal expansion coefficient of the semiconductor device, stress is applied when the semiconductor device 20 is mounted on the insulating layer 15, and the insulating layer 15
However, there was a problem that it was warped.
【0011】このように、従来のメモリモジュールの多
層配線基板では、半導体装置を搭載するための十分な剛
性や平坦性が得られていないという問題点と、半導体装
置搭載時に、半導体装置と絶縁層との熱膨張係数の差に
より応力が発生し、絶縁層が反ってしまうという問題点
があった。As described above, the conventional multilayer wiring board of the memory module has a problem that sufficient rigidity and flatness for mounting the semiconductor device are not obtained. There is a problem that stress is generated due to a difference in thermal expansion coefficient between the insulating layer and the insulating layer, and the insulating layer is warped.
【0012】本発明は、上記問題点を解決するために成
されたものであり、その目的は、配線基板において、半
導体装置搭載における十分な剛性や平坦性を得ることが
可能な技術を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a technique capable of obtaining sufficient rigidity and flatness in mounting a semiconductor device on a wiring board. It is in.
【0013】また、本発明の他の目的は、絶縁層ひいて
は配線基板の反りを防止することが可能な技術を提供す
ることにある。Another object of the present invention is to provide a technique capable of preventing the insulating layer, and hence the wiring board, from warping.
【0014】[0014]
【課題を解決するための手段】本発明において開示され
る発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれ
ば、下記のとおりである。SUMMARY OF THE INVENTION Among the inventions disclosed in the present invention, typical ones will be briefly described as follows.
【0015】(1)信号線層及び一定電位層と、それら
各層の絶縁を行う絶縁層と、前記各層の絶縁と剛性を保
つための2層の硬質基材とを内部に備えた配線基板であ
って、前記信号線層を絶縁層を介して一定電位層で挟み
込むように設けたストリップライン構造の一定電位層−
信号線層−一定電位層と、前記一定電位層−信号線層−
一定電位層を挟むように設けた硬質基材とを備えたこと
を特徴とする。(1) A wiring board including a signal line layer and a constant potential layer, an insulating layer for insulating each of these layers, and two layers of a hard base material for maintaining the insulation and rigidity of each of the layers. A constant potential layer having a strip line structure in which the signal line layer is sandwiched between constant potential layers via an insulating layer;
Signal line layer-constant potential layer, and said constant potential layer-signal line layer-
And a hard substrate provided so as to sandwich the constant potential layer.
【0016】(2)n(nは自然数)層の信号線層と、
n+1層の一定電位層と、それら各層の絶縁を行う2×
n層の絶縁層と、前記各層の絶縁と剛性を保つための2
層の硬質基材とを内部に備えた配線基板であって、前記
n層の信号線層を各層毎に絶縁層を介して一定電位層で
挟み込むように設けた複数の一定電位層−信号線層−一
定電位層のパターン層と、前記複数の一定電位層−信号
線層−一定電位層のパターン層を挟むように設けた硬質
基材とを備えたことを特徴とする。(2) n (n is a natural number) signal line layers;
2 × for isolating n + 1 constant potential layers and their respective layers
n insulating layers, and 2 layers for maintaining insulation and rigidity of each layer.
A plurality of constant-potential layers-signal lines provided so as to sandwich said n-layer signal line layers for each layer with a constant-potential layer interposed therebetween through an insulating layer. And a hard base material provided so as to sandwich the pattern layers of the constant potential layer, the signal line layer, and the constant potential layer.
【0017】(3)前記複数の信号線層を各層毎に絶縁
層を介して一定電位層で挟み込むように設けた複数の一
定電位層−信号線層−一定電位層のパターン層と、該複
数の一定電位層−信号線層−一定電位層のパターン層を
挟むように設けた硬質基材とを内部に備えた配線基板
と、前記配線基板の信号線層または一定電位層と電気的
に接続されるように前記硬質基材上に設けられた半導体
装置とを備えたことを特徴とする。(3) a plurality of pattern layers of a constant potential layer, a signal line layer, and a constant potential layer provided so as to sandwich the plurality of signal line layers by a constant potential layer via an insulating layer for each layer; A wiring substrate having therein a hard substrate provided so as to sandwich the constant potential layer, the signal line layer, and the constant potential layer pattern layer, and electrically connected to the signal line layer or the constant potential layer of the wiring substrate. And a semiconductor device provided on the hard base material as described above.
【0018】[0018]
【発明の実施の形態】以下、本発明の半導体装置を搭載
するための配線基板と、それを用いた電子装置(メモリ
モジュール)を、本実施形態で図面を用いて説明してい
く。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a wiring board for mounting a semiconductor device of the present invention and an electronic device (memory module) using the same will be described with reference to the drawings.
【0019】(実施形態1)図1は、本実施形態1の配
線基板を備えたメモリモジュールの構成を説明するため
の図であり、図1(a)は立体図であり、図1(b)は
矢印方向から見た側面図である。(Embodiment 1) FIG. 1 is a view for explaining the configuration of a memory module provided with a wiring board of Embodiment 1; FIG. 1A is a three-dimensional view; FIG. () Is a side view seen from the direction of the arrow.
【0020】本実施形態1のメモリモジュール100a
は、図1(a)、図1(b)に示すように、配線基板1
0aに半導体装置20(例えば、RDRAM等)を両面
実装(片面4個、合計8個の半導体装置を搭載)した構
成をとる。また、本実施形態1のメモリモジュール10
0aでは、図1(b)に示すように、デバイスピッチと
エレクトリカルピッチを同一にするために、配線基板1
0aの表面と裏面とで半導体装置20の半分の長さをず
らして半導体装置20を搭載してある。The memory module 100a according to the first embodiment
Is a wiring board 1 as shown in FIGS.
The semiconductor device 20 (for example, RDRAM or the like) is mounted on both sides (a total of eight semiconductor devices are mounted on each side, four semiconductor devices) on Oa. In addition, the memory module 10 of the first embodiment
0a, as shown in FIG. 1 (b), to make the device pitch and the electrical pitch the same,
The semiconductor device 20 is mounted such that the length of the semiconductor device 20 is shifted by half the length between the front surface and the back surface of Oa.
【0021】図2は、本実施形態1の配線基板10aの
構成を説明するための断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view for explaining the configuration of the wiring board 10a of the first embodiment.
【0022】本実施形態1の配線基板10aは、図2に
示すように、信号線12を絶縁層(ポリイミド層)15
を介してGND層13で挟み込み、さらに、それを信号
線層12及び電源層14とが形成された絶縁性がある剛
性材(例えば、ガラスエポキシ樹脂やBTレジン等)で
ある硬質基材11(11a,11b)で挟んだ構造をと
る。As shown in FIG. 2, the wiring board 10a according to the first embodiment includes a signal line 12 formed of an insulating layer (polyimide layer) 15
, And sandwiched between the GND layer 13 and the rigid base material 11 (for example, a glass epoxy resin or a BT resin) having an insulating property on which the signal line layer 12 and the power supply layer 14 are formed. 11a, 11b).
【0023】また、図2に示すように、この信号線12
を絶縁層(ポリイミド層)15を介してGND層13で
挟み込んだ構造はストリップライン構造であり、信号線
層12及び電源層14とが形成された硬質基材11a,
11bとGND層13との構造はそれぞれマイクロスト
リップライン構造である。Further, as shown in FIG.
Is sandwiched between the GND layers 13 with the insulating layer (polyimide layer) 15 interposed therebetween, which is a strip line structure, in which the hard base material 11a on which the signal line layer 12 and the power supply layer 14 are formed,
Each of the structure of the ground layer 11b and the GND layer 13 is a microstrip line structure.
【0024】すなわち、本実施形態1の配線基板10a
は、中心位置にストリップライン構造、その上下面(裏
表面)にマイクロストリップライン構造を有する。な
お、このストリップライン構造は積層したTABテープ
により形成する。That is, the wiring board 10a of the first embodiment
Has a stripline structure at the center position and a microstripline structure on its upper and lower surfaces (back surface). This strip line structure is formed by a laminated TAB tape.
【0025】このように、本実施形態1の配線基板10
aでは、従来の半導体装置搭載面の微細加工の配線を、
ストリップライン構造のTABテープ内に設けることに
より、半導体装置搭載面上は半導体装置の接続パッド等
の微細でない配線だけにできるので、従来の配線基板と
同等の配線構造を有する配線基板を硬質基材11a,1
1bで挟む構成で実現できる。As described above, the wiring board 10 of the first embodiment
In a, conventional wiring for fine processing of a semiconductor device mounting surface is
By providing the tape in a TAB tape having a strip line structure, only non-fine wiring such as connection pads of the semiconductor device can be formed on the semiconductor device mounting surface. 11a, 1
1b.
【0026】すなわち、硬質基材11a,11bでTA
Bテープを挟む構造にしたことにより、ストリップライ
ン構造のTABテープによる配線の高密度化が可能にな
る。また、その高密度化が半導体装置搭載面上に設けら
れる配線数を軽減でき、半導体装置搭載面に微細加工の
配線を設ける必要がなくなるので、半導体装置搭載面に
微細加工できない硬質基材11a,11bを設けること
が可能になる。これにより、半導体搭載の十分な剛性と
平坦性を確保することが可能になる。That is, the hard base materials 11a and 11b
With the structure in which the B tape is interposed, it is possible to increase the density of wiring using a TAB tape having a strip line structure. In addition, the high density can reduce the number of wirings provided on the semiconductor device mounting surface, and eliminates the need for providing fine processing wiring on the semiconductor device mounting surface. 11b can be provided. This makes it possible to ensure sufficient rigidity and flatness of the semiconductor mounting.
【0027】次に、上述したストリップライン構造とマ
イクロストリップライン構造について説明する。Next, the above-described strip line structure and microstrip line structure will be described.
【0028】図3は、ストリップライン構造とマイクロ
ストリップライン構造を説明するための図である。FIG. 3 is a diagram for explaining a strip line structure and a micro strip line structure.
【0029】マイクロストリップライン構造は、図3
(a)に示すように、GND層上に絶縁層(ここでは硬
質基材11)を介して信号線12を設けた構造(信号線
層−GND層の構造)である。The microstrip line structure is shown in FIG.
As shown in (a), the structure is such that a signal line 12 is provided on a GND layer via an insulating layer (here, a hard base material 11) (a structure of a signal line layer-GND layer).
【0030】また、ストリップライン構造は、図3
(b)に示すように、信号線12を絶縁層 (ポリイミ
ド層)15を介してGND層13で挟み込むように設け
た構造(GND層−信号線層−GND層の構造)であ
る。The strip line structure is shown in FIG.
As shown in (b), the structure is such that the signal line 12 is interposed between the GND layers 13 with the insulating layer (polyimide layer) 15 interposed therebetween (the structure of GND layer-signal line layer-GND layer).
【0031】このとき、図3(a)、図3(b)に示す
絶縁層の高さを「h」,信号線幅をそれぞれ「W1」,
「W2」とすると、hが等しい場合:W2≒1/2×W
1という関係を有し、ストリップライン構造はマイクロ
ストリップライン構造より信号線幅を狭くできる。つま
り、ストリップライン構造は、高密度に信号線を配置可
能である。また、このストリップライン構造は、hの値
を小さくするほど信号線幅W2を小さくできる。At this time, the height of the insulating layer shown in FIGS. 3A and 3B is "h", the signal line width is "W1", and
If “W2”, h is equal: W2 ≒ 1/2 × W
1, the strip line structure can make the signal line width narrower than the microstrip line structure. That is, in the strip line structure, signal lines can be arranged with high density. In the strip line structure, the signal line width W2 can be reduced as the value of h is reduced.
【0032】このストリップライン構造及びマイクロス
トリップライン構造の絶縁層の高さと信号線幅における
関係についての詳細は、「プリント回路技術便覧」日刊
工業新聞社発行に開示されている。The details of the relationship between the height of the insulating layer of the strip line structure and the microstrip line structure and the signal line width are disclosed in "Printed Circuit Technology Handbook" published by Nikkan Kogyo Shimbun.
【0033】なお、本実施形態1ではGND層を用いて
ストリップライン、またはマイクロストリップライン構
造を設ける場合について説明してきたが、このGND層
の代わりに一定の電位を示す層(例えばVDD層)を設
けても同様の効果が得られる。In the first embodiment, the case where the strip line or the microstrip line structure is provided using the GND layer has been described. However, instead of the GND layer, a layer (for example, a VDD layer) showing a constant potential is provided. The same effect can be obtained even if it is provided.
【0034】次に、本実施形態1における配線基板10
aの効果について説明する。Next, the wiring board 10 according to the first embodiment will be described.
The effect of a will be described.
【0035】図4は、本実施形態1における配線基板1
0aと従来の配線基板10との比較説明するための図で
ある。FIG. 4 shows a wiring board 1 according to the first embodiment.
FIG. 9 is a diagram for explaining a comparison between the conventional wiring board 10 and a conventional wiring board 10.
【0036】従来の配線基板10は、硬質基材11を中
心にTABテープM1,M2を貼り付けた構造を有する
ため、剛性を有する硬質基材が中心部だけなので、半導
体装置20を搭載するための十分な剛性や平坦性が得ら
れていなかったが、本実施形態1の配線基板10aは、
2層の硬質基材11a,11bで挟む込み、その硬質基
材11a,11b上に半導体装置20を搭載する構造を
有するため、半導体装置20を搭載するための十分な剛
性や平坦性が得られ、その接続における信頼性が向上す
る効果がある。Since the conventional wiring board 10 has a structure in which the TAB tapes M1 and M2 are attached to the center of the hard base material 11, the rigid base material having the rigidity is provided only at the center, so that the semiconductor device 20 is mounted. Although sufficient rigidity and flatness were not obtained, the wiring board 10a of the first embodiment
Since the semiconductor device 20 has a structure in which the semiconductor device 20 is mounted on the hard substrates 11a and 11b by being sandwiched between the two hard substrates 11a and 11b, sufficient rigidity and flatness for mounting the semiconductor device 20 can be obtained. This has the effect of improving the reliability of the connection.
【0037】また、硬質基材11a,11b(ガラスエ
ポキシ樹脂)の熱膨張係数は、絶縁層15(ポリイミ
ド)の熱膨張係数より小さいため、半導体装置20との
熱膨張係数の差が少ないため、熱膨張係数の差により生
じる応力を軽減することができ、配線基板の反りを防止
可能となる。Further, since the thermal expansion coefficients of the hard base materials 11a and 11b (glass epoxy resin) are smaller than the thermal expansion coefficient of the insulating layer 15 (polyimide), the difference in the thermal expansion coefficient with the semiconductor device 20 is small. The stress caused by the difference in the coefficient of thermal expansion can be reduced, and the wiring board can be prevented from warping.
【0038】さらに、従来の配線基板10では、硬質基
材11の表裏面にマイクロストリップライン構造を有す
るTABテープM1,M2をそれぞれ貼り付けた構造を
とるため、信号線12は2層となってしまい、かつ上述
したように、それぞれの信号線12の幅は大きくなって
しまう。Furthermore, since the conventional wiring board 10 has a structure in which the TAB tapes M1 and M2 having a microstrip line structure are respectively attached to the front and back surfaces of the hard base material 11, the signal lines 12 have two layers. As a result, as described above, the width of each signal line 12 increases.
【0039】これに対して、実施形態1の配線基板10
aでは、ストリップライン構造を有するTABテープS
1を硬質基材11a,11bでそれぞれ挟んだ構造であ
るため、従来の2層の信号線層12を1層にまとめるこ
とが可能になる。On the other hand, the wiring board 10 of the first embodiment
a, a TAB tape S having a strip line structure
1 is sandwiched between the hard base materials 11a and 11b, so that the conventional two signal line layers 12 can be integrated into one layer.
【0040】これにより、本実施形態1の配線基板10
aは、厚い硬質基材11を2層設けてあっても、信号線
層12と絶縁層15の各層を削減することが可能になる
ので、従来の配線基板10より同等の厚さ、もしくはそ
れより薄くすることが可能である。なお、TABテープ
を用いることにより絶縁層15の高さを小さくできるの
で、上述したストリップライン構造により、薄型で高密
度な配線基板を提供可能である。As a result, the wiring board 10 of the first embodiment
In the case of a, even if two layers of the thick hard base material 11 are provided, each layer of the signal line layer 12 and the insulating layer 15 can be reduced. It is possible to make it thinner. Since the height of the insulating layer 15 can be reduced by using a TAB tape, a thin and high-density wiring board can be provided by the above-described strip line structure.
【0041】(実施形態2)本実施形態2では、内部に
多層のストリップライン構造の信号線12を有する配線
基板を備えたメモリモジュール100bについて説明す
る。本実施形態2では、多層のストリップライン構造を
例として2層を取り挙げる。(Embodiment 2) In Embodiment 2, a memory module 100b including a wiring board having signal lines 12 of a multilayer strip line structure therein will be described. In the second embodiment, two layers are taken as an example of a multilayer strip line structure.
【0042】本実施形態2のメモリモジュール100b
の外形構成は、図1に示す本実施形態1のメモリモジュ
ール100aの構成と同一であるため、その説明は省略
し、配線基板10bのみについて説明する。The memory module 100b according to the second embodiment
Since the external configuration is the same as the configuration of the memory module 100a according to the first embodiment shown in FIG. 1, the description is omitted, and only the wiring board 10b is described.
【0043】図5は、本実施形態2の配線基板10bの
構成を説明するための断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view for explaining the configuration of the wiring board 10b according to the second embodiment.
【0044】本実施形態2の配線基板10bは、図5に
示すように、3層のGND層13が設けられ、それらG
ND層13の間に絶縁層15を介して信号線層12が設
けられた2層のストリップライン(2層のGND層−信
号線層−GND層のパターン層)構造を有し、それらの
両面(裏表面)に信号線層12及び電源層14とが形成
された硬質基材11(11a,11b)で挟んだ構造を
とる。As shown in FIG. 5, the wiring board 10b of the second embodiment is provided with three GND layers 13,
It has a two-layer strip line (two-layer GND layer-signal line layer-GND layer pattern layer) structure in which the signal line layer 12 is provided between the ND layers 13 with the insulating layer 15 interposed therebetween. A structure in which the signal line layer 12 and the power supply layer 14 are formed on the hard substrate 11 (11a, 11b) on the (back surface).
【0045】すなわち、本実施形態2の配線基板10b
は、中心位置に2層のストリップライン構造(GND層
−信号線層−GND層−信号線層−GND層)と、その
上下面(裏表面)にマイクロストリップライン構造を有
する。なお、このとき、3層のGND層13のうち、中
心に位置するGND層は、2層のストリップライン構造
実現するための共通のGND層13となっている。That is, the wiring board 10b of the second embodiment
Has a two-layer strip line structure (GND layer-signal line layer-GND layer-signal line layer-GND layer) at the center position and a microstrip line structure on the upper and lower surfaces (back surface). At this time, of the three GND layers 13, the GND layer located at the center is a common GND layer 13 for realizing a two-layer strip line structure.
【0046】また、本実施形態1と同様に、この2層の
ストリップライン構造はTABテープの積層技術により
薄型に形成する。As in the first embodiment, the two-layer strip line structure is formed thin by a TAB tape laminating technique.
【0047】このように、本実施形態2の配線基板10
bでは、従来の半導体装置搭載面の微細加工の配線を、
多層のストリップライン構造のTABテープ内に設ける
ことにより、半導体装置搭載面上の配線加工を半導体装
置の接続パッド等(または、配線がクロスするための迂
回路の引き回し線)の微細でない配線加工だけにできる
ので、従来の配線基板と同等の配線構造を有する配線基
板を硬質基材11a,11bで挟む構成で実現できる。As described above, the wiring board 10 of the second embodiment
In b, the conventional wiring for fine processing of the semiconductor device mounting surface is
By providing the multi-layered strip line structure in the TAB tape, wiring processing on the semiconductor device mounting surface can be performed only for non-fine wiring processing of connection pads and the like of the semiconductor device (or wiring of a detour for wiring to cross). Therefore, it is possible to realize a configuration in which a wiring board having a wiring structure equivalent to that of a conventional wiring board is sandwiched between the hard substrates 11a and 11b.
【0048】すなわち、硬質基材11a,11bでTA
Bテープを挟む構造にしたことにより、TABテープの
積層技術による配線の多層化が可能になる。また、その
多層化が半導体装置搭載面上に設けられる配線数を軽減
でき、半導体装置搭載面に微細加工の配線を設ける必要
がなくなるので、半導体装置搭載面に微細加工できない
硬質基材11a,11bを設けることが可能になる。こ
れにより、半導体搭載の十分な剛性と平坦性を確保する
ことが可能になる。That is, when the hard base materials 11a and 11b are
By adopting a structure in which the B tape is sandwiched, it is possible to make the wiring multi-layered by the TAB tape lamination technology. Further, the multi-layered structure can reduce the number of wirings provided on the semiconductor device mounting surface, and eliminates the need for providing fine processing wiring on the semiconductor device mounting surface. Can be provided. This makes it possible to secure sufficient rigidity and flatness of the semiconductor mounting.
【0049】なお、本実施形態2ではGND層を用いて
ストリップライン、またはマイクロストリップライン構
造を設ける場合について説明してきたが、このGND層
の代わりに一定の電位を示す層(例えばVDD層)を設
けても同様の効果が得られる。In the second embodiment, the case where the strip line or the microstrip line structure is provided by using the GND layer has been described. However, instead of the GND layer, a layer (for example, a VDD layer) showing a constant potential is provided. The same effect can be obtained even if it is provided.
【0050】次に、本実施形態2における配線基板10
bの効果について説明する。Next, the wiring board 10 according to the second embodiment will be described.
The effect of b will be described.
【0051】図6は、本実施形態2における配線基板1
0bと従来の配線基板10との比較説明するための図で
ある。FIG. 6 shows a wiring board 1 according to the second embodiment.
FIG. 5 is a diagram for explaining a comparison between Ob and a conventional wiring board 10.
【0052】従来の配線基板10は、硬質基材11を中
心にTABテープS2,S3を貼り付けた構造を有する
ため、剛性を有する硬質基材が中心部だけなので半導体
装置20を搭載する半導体装置搭載面では十分な剛性や
平坦性が得られていなかったが、本実施形態2の配線基
板10bは、2層の硬質基材11a,11bで挟む込
み、その硬質基材11a,11b上に半導体装置20を
搭載する構造を有するため、半導体装置20を搭載する
ための十分な剛性や平坦性が得られ、その接続における
信頼性が向上する効果がある。Since the conventional wiring board 10 has a structure in which the TAB tapes S2 and S3 are attached to the center of the hard base material 11, the hard base material having rigidity is only at the center, so that the semiconductor device on which the semiconductor device 20 is mounted is mounted. Although sufficient rigidity and flatness were not obtained on the mounting surface, the wiring board 10b of the second embodiment was sandwiched between two layers of hard bases 11a and 11b, and a semiconductor was mounted on the hard bases 11a and 11b. Because of the structure for mounting the device 20, sufficient rigidity and flatness for mounting the semiconductor device 20 can be obtained, and there is an effect that the reliability of the connection is improved.
【0053】また、硬質基材11a,11bの熱膨張係
数は、絶縁層15の熱膨張係数より小さいため、半導体
装置20との熱膨張係数の差が少ないため、熱膨張係数
の差により生じる応力を軽減することができ、配線基板
の反りを防止可能となる。Since the thermal expansion coefficients of the hard bases 11a and 11b are smaller than the thermal expansion coefficient of the insulating layer 15, the difference in thermal expansion coefficient with the semiconductor device 20 is small. And the warpage of the wiring board can be prevented.
【0054】さらに、従来の配線基板10では、硬質基
材11の表裏面にストリップライン構造を有するTAB
テープS2,S3をそれぞれ貼り付けた構造をとるた
め、TABテープS1、S2は各々独立した構成とな
り、一つにまとめることができないので、GND層13
が4層必要になる。Further, in the conventional wiring board 10, a TAB having a strip line structure
Since the TAB tapes S1 and S2 have independent structures and cannot be combined into one, since the tapes S2 and S3 are bonded to each other, the GND layer 13 is used.
Need four layers.
【0055】これに対して、実施形態2の配線基板10
bでは、ストリップライン構造を有するTABテープS
4を硬質基材11a,11bでそれぞれ挟む構造である
ため、この2層のストリップライン構造を1つにまとめ
ることが可能になる。On the other hand, the wiring board 10 of the second embodiment
b, a TAB tape S having a strip line structure
4 are sandwiched between the hard base materials 11a and 11b, respectively, so that the two-layer strip line structure can be integrated into one.
【0056】これにより、本実施形態2の配線基板10
bは、厚い硬質基材11を2層設けてあっても、GND
層13とその絶縁層15の各層を削減することが可能に
なるため、従来の配線基板10より同等の厚さ、もしく
はそれより薄くすることが可能である。As a result, the wiring board 10 of the second embodiment
b is GND even if two thick hard base materials 11 are provided.
Since each layer of the layer 13 and its insulating layer 15 can be reduced, it is possible to make the thickness equal to or smaller than that of the conventional wiring board 10.
【0057】なお、本実施形態2では、信号線層12が
2層の場合を取り挙げたが、本発明はこれに限定される
ものではなく、3層以上の複数の信号線層12を有する
場合も同様に適応可能である。In the second embodiment, the case where the number of the signal line layers 12 is two has been described. However, the present invention is not limited to this, and includes three or more signal line layers 12. The case is equally applicable.
【0058】複数の信号線層12を有する場合において
は、信号線層の数をn(n自然数)とすると、絶縁層1
5の数は2×n層、GND層13の数はn+1層とな
り、n層のGND層−信号線層−GND層のパターン層
となる。In the case where a plurality of signal line layers 12 are provided, if the number of signal line layers is n (n natural number), the insulating layer 1
The number of 5 is 2 × n layers, the number of GND layers 13 is n + 1 layers, and it is an n-layer pattern layer of GND layer-signal line layer-GND layer.
【0059】以上、本実施形態1、2で説明してきたよ
うに、本発明の配線基板は、1層または複数層の信号線
層部分を2つの硬質基材で挟み込み、それら硬質基材上
に半導体装置を搭載する構造を有するため、半導体装置
を搭載するための十分な剛性や平坦性が得られ、その接
続における信頼性が向上する。As described above in Embodiments 1 and 2, the wiring board of the present invention sandwiches one or more signal line layer portions between two hard base materials, and places the signal line layer portions on the hard base materials. Since the semiconductor device has a structure in which the semiconductor device is mounted, sufficient rigidity and flatness for mounting the semiconductor device are obtained, and the reliability in connection is improved.
【0060】また、2つの硬質基材で1層または複数層
の信号線層部分を挟み込む構造であるため、信号線層を
容易にストリップライン構造にすることができ、それに
より信号線層を高密度に配置でき、信号線層を削減でき
るので、配線基板及びそれを用いた電子装置をより小型
化(薄型)できる。特に、複数層の信号線層を有する場
合は、共通のGND層を用いたストリップライン構造に
し、GND層を削減することにより、配線基板及びそれ
を用いた電子装置をより小型化(薄型)できる。Further, since one or a plurality of signal line layer portions are sandwiched between two hard base materials, the signal line layer can be easily formed into a strip line structure. Since the wiring board can be arranged at a high density and the number of signal line layers can be reduced, the wiring board and the electronic device using the same can be made smaller (thinner). In particular, when a plurality of signal line layers are provided, the wiring substrate and the electronic device using the same can be made smaller (thinner) by adopting a strip line structure using a common GND layer and reducing the number of GND layers. .
【0061】以上、本発明者によってなされた発明を、
前記実施形態に基づき具体的に説明したが、本発明は、
前記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸
脱しない範囲において種々変更可能であることは勿論で
ある。As described above, the invention made by the present inventor is:
Although specifically described based on the embodiment, the present invention
It is needless to say that the present invention is not limited to the above-described embodiment, but can be variously modified without departing from the scope of the invention.
【0062】[0062]
【発明の効果】本発明において開示される発明のうち代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。The effects obtained by the representative inventions among the inventions disclosed in the present invention will be briefly described.
It is as follows.
【0063】1層または複数層の信号線層部分を2つの
硬質基材で挟み込み、それら硬質基材上に半導体装置を
搭載する構造を有するため、半導体装置を搭載するため
の十分な剛性や平坦性が得られる。Since one or more signal line layer portions are sandwiched between two hard substrates and the semiconductor device is mounted on the hard substrates, sufficient rigidity and flatness for mounting the semiconductor device are obtained. Property is obtained.
【0064】硬質基材の熱膨張係数は、絶縁層の熱膨張
係数より小さいため、半導体装置との熱膨張係数の差が
少ないため、熱膨張係数の差により生じる応力を軽減す
ることができ、配線基板の反りを防止可能となる。Since the thermal expansion coefficient of the hard base material is smaller than the thermal expansion coefficient of the insulating layer, the difference in thermal expansion coefficient with the semiconductor device is small, so that the stress caused by the difference in thermal expansion coefficient can be reduced. The warpage of the wiring board can be prevented.
【図1】本発明の実施形態1にかかる配線基板を備えた
メモリモジュールの構成を説明するための図である。FIG. 1 is a diagram for explaining a configuration of a memory module including a wiring board according to a first embodiment of the present invention.
【図2】本実施形態1の配線基板10aの構成を説明す
るための断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a configuration of a wiring board 10a according to the first embodiment.
【図3】スリップライン構造とマイクロストリップライ
ン構造を説明するための図である。FIG. 3 is a diagram for explaining a slip line structure and a microstrip line structure.
【図4】本実施形態1における配線基板10aと従来の
配線基板10との比較説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for comparison between the wiring board 10a according to the first embodiment and the conventional wiring board 10;
【図5】本実施形態2の配線基板10bの構成を説明す
るための断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating a configuration of a wiring board 10b according to a second embodiment.
【図6】本実施形態2における配線基板10bと従来の
配線基板10との比較説明するための図である。FIG. 6 is a diagram for comparison between a wiring board 10b according to the second embodiment and a conventional wiring board 10;
【図7】従来のメモリモジュールの構成を説明するため
の図である。FIG. 7 is a diagram for explaining a configuration of a conventional memory module.
【図8】従来の配線基板10の構成を説明するための断
面図である。FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating a configuration of a conventional wiring board 10.
10,10a,10b 配線基板 11,11a,11b 硬質基材 12 信号線層 13 GND層 14 電源層 15 絶縁層 16 TABテープ 20 半導体装置 100,100a メモリモジュール 10, 10a, 10b Wiring board 11, 11a, 11b Hard base material 12 Signal line layer 13 GND layer 14 Power supply layer 15 Insulating layer 16 TAB tape 20 Semiconductor device 100, 100a Memory module
フロントページの続き (72)発明者 安田 朋 茨城県日立市助川町3丁目1番1号 日立 電線株式会社電線工場内 Fターム(参考) 5E338 AA03 AA16 BB72 BB75 CC02 CC04 CC06 EE01 EE13 EE26 EE33 Continued on the front page (72) Inventor: Tomo Yasuda 3-1-1, Sukekawa-cho, Hitachi-shi, Ibaraki F-term in the electric wire plant of Hitachi Cable, Ltd. (reference) 5E338 AA03 AA16 BB72 BB75 CC02 CC04 CC06 EE01 EE13 EE26 EE33
Claims (3)
絶縁を行う絶縁層と、前記各層の絶縁と剛性を保つため
の2層の硬質基材とを内部に備えた配線基板であって、 前記信号線層を絶縁層を介して一定電位層で挟み込むよ
うに設けたストリップライン構造の一定電位層−信号線
層−一定電位層と、 前記一定電位層−信号線層−一定電位層を挟むように設
けた硬質基材とを備えたことを特徴とする配線基板。1. A wiring board comprising a signal line layer and a constant potential layer, an insulating layer for insulating each of these layers, and two layers of a hard base material for maintaining the insulation and rigidity of each of the layers. A constant potential layer, a signal line layer, and a constant potential layer having a strip line structure provided so as to sandwich the signal line layer with a constant potential layer via an insulating layer; and the constant potential layer, the signal line layer, and the constant potential layer. And a hard substrate provided so as to sandwich the wiring substrate.
層の一定電位層と、それら各層の絶縁を行う2×n層の
絶縁層と、前記各層の絶縁と剛性を保つための2層の硬
質基材とを内部に備えた配線基板であって、 前記n層の信号線層を各層毎に絶縁層を介して一定電位
層で挟み込むように設けた複数の一定電位層−信号線層
−一定電位層のパターン層と、 前記複数の一定電位層−信号線層−一定電位層のパター
ン層を挟むように設けた硬質基材とを備えたことを特徴
とする配線基板。2. An n (n is a natural number) signal line layer, and n + 1
A fixed potential layer, a 2 × n insulating layer for insulating each of these layers, and a two-layer hard base material for maintaining the insulation and rigidity of each of the layers, and a wiring board including therein a A plurality of constant-potential layers, a signal line layer, a pattern layer of a constant-potential layer, and a plurality of constant-potential layers provided so as to sandwich the n-layer signal line layers for each layer with a constant-potential layer interposed therebetween. A wiring substrate, comprising: a signal line layer-a hard base material provided so as to sandwich a pattern layer of a constant potential layer.
一定電位層で挟み込むように設けた複数の一定電位層−
信号線層−一定電位層のパターン層と、該複数の一定電
位層−信号線層−一定電位層のパターン層を挟むように
設けた硬質基材とを内部に備えた配線基板と、 前記配線基板の信号線層または一定電位層と電気的に接
続されるように前記硬質基材上に設けられた半導体装置
とを備えたことを特徴とする電子装置。3. A plurality of constant potential layers provided so that a plurality of signal line layers are sandwiched between the constant potential layers via an insulating layer for each layer.
A wiring substrate having therein a signal layer-a constant potential layer pattern layer, and a hard base material provided so as to sandwich the plurality of constant potential layers-signal line layer-constant potential layer pattern layers; A semiconductor device provided on the hard substrate so as to be electrically connected to a signal line layer or a constant potential layer of the substrate.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000060383A JP2001244581A (en) | 1999-12-24 | 2000-03-01 | Wiring board and electronic device using the same |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11-366072 | 1999-12-24 | ||
| JP36607299 | 1999-12-24 | ||
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Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001244581A true JP2001244581A (en) | 2001-09-07 |
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| JP (1) | JP2001244581A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7411806B2 (en) | 2002-07-31 | 2008-08-12 | Elpida Memory, Inc. | Memory module and memory system |
-
2000
- 2000-03-01 JP JP2000060383A patent/JP2001244581A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US7411806B2 (en) | 2002-07-31 | 2008-08-12 | Elpida Memory, Inc. | Memory module and memory system |
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