JP2001242204A - コンデンサの直流抵抗測定方法及びその装置 - Google Patents
コンデンサの直流抵抗測定方法及びその装置Info
- Publication number
- JP2001242204A JP2001242204A JP2000051563A JP2000051563A JP2001242204A JP 2001242204 A JP2001242204 A JP 2001242204A JP 2000051563 A JP2000051563 A JP 2000051563A JP 2000051563 A JP2000051563 A JP 2000051563A JP 2001242204 A JP2001242204 A JP 2001242204A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- capacitor
- voltage
- resistance
- charging
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Electric Double-Layer Capacitors Or The Like (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 簡単かつ迅速にしかも正確に直流抵抗を測定
できるコンデンサの直流抵抗測定方法及びその装置を提
供する。 【解決手段】 コンデンサ（４）を定電流等の充電電流
（ｉｃ）で所定電圧（Ｖｍ）まで充電させた後、コンデ
ンサ（４）を一定時間開放状態に置いて端子間電圧（Ｖ
ｎ）を測定し、前記所定電圧（Ｖｍ）から前記一定時間
経過後の端子間電圧（Ｖｎ）を減算して電圧降下（ΔＶ
＝Ｖｒ）を求め、この電圧降下を充電電流（ｉｃ）で除
すことにより、コンデンサの直流抵抗（ｒ）を算出する
直流測定方法及びその装置である。このような構成によ
れば、簡単かつ迅速にしかも正確に電気二重層コンデン
サの直流抵抗を求めることができる。
できるコンデンサの直流抵抗測定方法及びその装置を提
供する。 【解決手段】 コンデンサ（４）を定電流等の充電電流
（ｉｃ）で所定電圧（Ｖｍ）まで充電させた後、コンデ
ンサ（４）を一定時間開放状態に置いて端子間電圧（Ｖ
ｎ）を測定し、前記所定電圧（Ｖｍ）から前記一定時間
経過後の端子間電圧（Ｖｎ）を減算して電圧降下（ΔＶ
＝Ｖｒ）を求め、この電圧降下を充電電流（ｉｃ）で除
すことにより、コンデンサの直流抵抗（ｒ）を算出する
直流測定方法及びその装置である。このような構成によ
れば、簡単かつ迅速にしかも正確に電気二重層コンデン
サの直流抵抗を求めることができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電気二重層コンデ
ンサ等のコンデンサの直流抵抗の測定に用いられる直流
抵抗測定方法及びその装置に関する。
ンサ等のコンデンサの直流抵抗の測定に用いられる直流
抵抗測定方法及びその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】電気二重層コンデンサ等のコンデンサ
は、その性能を示すパラメータとして直流抵抗が存在
し、理想コンデンサと直流抵抗との直列回路がその等価
回路として知られている。コンデンサが持つ直流抵抗を
把握することは、コンデンサの品質や特性を評価するた
めに不可欠である。コンデンサの直流抵抗を測定する技
術には、例えば、特開平１０−３１９０６６号「容量性
素子の等価直列抵抗測定方法および等価直列抵抗測定装
置」が知られているが、その測定方法は極めて複雑であ
る。
は、その性能を示すパラメータとして直流抵抗が存在
し、理想コンデンサと直流抵抗との直列回路がその等価
回路として知られている。コンデンサが持つ直流抵抗を
把握することは、コンデンサの品質や特性を評価するた
めに不可欠である。コンデンサの直流抵抗を測定する技
術には、例えば、特開平１０−３１９０６６号「容量性
素子の等価直列抵抗測定方法および等価直列抵抗測定装
置」が知られているが、その測定方法は極めて複雑であ
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の電気
二重層コンデンサ等のコンデンサの直流抵抗の測定に
は、従前より各種の抵抗測定法が用いられているが、簡
単かつ迅速に測定し、しかも、短時間で正確な直流抵抗
を求めることができなかった。
二重層コンデンサ等のコンデンサの直流抵抗の測定に
は、従前より各種の抵抗測定法が用いられているが、簡
単かつ迅速に測定し、しかも、短時間で正確な直流抵抗
を求めることができなかった。
【０００４】そこで、本発明の課題は、簡単かつ迅速に
しかも正確に直流抵抗を測定できるコンデンサの直流抵
抗測定方法及びその装置を提供することにある。
しかも正確に直流抵抗を測定できるコンデンサの直流抵
抗測定方法及びその装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、コンデンサ
（４）を定電流等の所定の充電電流（ｉｃ）で所定電圧
（Ｖｍ）まで充電させた後、コンデンサ（４）を一定時
間開放状態に置いて端子間電圧（Ｖｎ）を測定し、前記
所定電圧（Ｖｍ）から前記一定時間経過後の端子間電圧
（Ｖｎ）を減算して電圧降下（ΔＶ＝Ｖｒ）を求め、こ
の電圧降下を充電電流（ｉｃ）で除すことにより、コン
デンサの直流抵抗（ｒ）を算出する直流測定方法及びそ
の装置である。このような構成によれば、簡単かつ迅速
にしかも正確に電気二重層コンデンサの直流抵抗を求め
ることができる。
（４）を定電流等の所定の充電電流（ｉｃ）で所定電圧
（Ｖｍ）まで充電させた後、コンデンサ（４）を一定時
間開放状態に置いて端子間電圧（Ｖｎ）を測定し、前記
所定電圧（Ｖｍ）から前記一定時間経過後の端子間電圧
（Ｖｎ）を減算して電圧降下（ΔＶ＝Ｖｒ）を求め、こ
の電圧降下を充電電流（ｉｃ）で除すことにより、コン
デンサの直流抵抗（ｒ）を算出する直流測定方法及びそ
の装置である。このような構成によれば、簡単かつ迅速
にしかも正確に電気二重層コンデンサの直流抵抗を求め
ることができる。
【０００６】本発明のコンデンサの直流抵抗測定方法
は、コンデンサ（４）を定電流又は定電流と同等の電流
を充電電流（ｉｃ）として充電する工程と、前記コンデ
ンサの端子間電圧を所定電圧（Ｖｍ）に到達させた後、
前記コンデンサを開放状態にする工程と、前記開放状態
で一定時間（Ｔ）が経過した後、前記コンデンサの端子
間電圧（Ｖｎ）を測定する工程と、前記所定電圧から前
記一定時間経過後の前記端子間電圧を減算して算出され
る電圧降下（ΔＶ）を前記充電電流で除して前記コンデ
ンサの直流抵抗（ｒ）を算出する工程とを備えたことを
特徴とする。
は、コンデンサ（４）を定電流又は定電流と同等の電流
を充電電流（ｉｃ）として充電する工程と、前記コンデ
ンサの端子間電圧を所定電圧（Ｖｍ）に到達させた後、
前記コンデンサを開放状態にする工程と、前記開放状態
で一定時間（Ｔ）が経過した後、前記コンデンサの端子
間電圧（Ｖｎ）を測定する工程と、前記所定電圧から前
記一定時間経過後の前記端子間電圧を減算して算出され
る電圧降下（ΔＶ）を前記充電電流で除して前記コンデ
ンサの直流抵抗（ｒ）を算出する工程とを備えたことを
特徴とする。
【０００７】ところで、コンデンサは、直流抵抗（ｒ）
と容量（Ｃ）との直列回路で構成される。このコンデン
サを定電流からなる充電電流（ｉｃ）で所定電圧（Ｖ
ｍ）まで充電すると、この所定電圧（Ｖｍ）は、直流抵
抗（ｒ）による電圧降下（Ｖｒ）と容量（Ｃ）による電
圧降下の加算値で与えられる。所定電圧（Ｖｍ）に充電
されたコンデンサを一定時間（Ｔ）だけ開放状態してコ
ンデンサの端子間電圧（Ｖｎ）を測定する。この場合、
直流抵抗（ｒ）における電圧降下が消失し、容量（Ｃ）
における電圧降下が残留するので、これが端子間電圧
（Ｖｎ）として測定される。そこで、所定電圧（Ｖｍ）
から端子間電圧（Ｖｎ）を減算すると、直流抵抗（ｒ）
における電圧降下（Ｖｒ）が電圧降下（ΔＶ）として求
められる。この電圧降下（ΔＶ）は充電電流（ｉｃ）と
直流抵抗（ｒ）の積（ΔＶ＝ｒ・ｉｃ）であるから、電
圧降下（ΔＶ）を充電電流（ｉｃ）で除すことで、コン
デンサの直流抵抗（ｒ）が算出される。
と容量（Ｃ）との直列回路で構成される。このコンデン
サを定電流からなる充電電流（ｉｃ）で所定電圧（Ｖ
ｍ）まで充電すると、この所定電圧（Ｖｍ）は、直流抵
抗（ｒ）による電圧降下（Ｖｒ）と容量（Ｃ）による電
圧降下の加算値で与えられる。所定電圧（Ｖｍ）に充電
されたコンデンサを一定時間（Ｔ）だけ開放状態してコ
ンデンサの端子間電圧（Ｖｎ）を測定する。この場合、
直流抵抗（ｒ）における電圧降下が消失し、容量（Ｃ）
における電圧降下が残留するので、これが端子間電圧
（Ｖｎ）として測定される。そこで、所定電圧（Ｖｍ）
から端子間電圧（Ｖｎ）を減算すると、直流抵抗（ｒ）
における電圧降下（Ｖｒ）が電圧降下（ΔＶ）として求
められる。この電圧降下（ΔＶ）は充電電流（ｉｃ）と
直流抵抗（ｒ）の積（ΔＶ＝ｒ・ｉｃ）であるから、電
圧降下（ΔＶ）を充電電流（ｉｃ）で除すことで、コン
デンサの直流抵抗（ｒ）が算出される。
【０００８】本発明のコンデンサの直流抵抗測定装置
は、コンデンサ（４）を定電流又は定電流と同等の電流
を充電電流として供給する充電手段（電源装置２及び充
電回路１４）と、前記コンデンサの端子間電圧を所定電
圧（Ｖｍ）に到達させた後、前記コンデンサを前記充電
手段から切り離し、開放状態にする切換手段（スイッチ
８）と、前記開放状態で一定時間が経過した後、前記コ
ンデンサの端子間電圧（Ｖｎ）を測定する測定手段（電
圧計１８）と、前記所定電圧から前記一定時間経過後の
前記端子間電圧を減算して算出される電圧降下（ΔＶ）
を前記充電電流で除して前記コンデンサの直流抵抗を算
出する演算手段（演算装置２０）とを備えたことを特徴
とする。この直流抵抗測定装置は、前記測定方法を装置
として実現したものであり、前記測定原理を以てコンデ
ンサの直流抵抗を容易かつ迅速に算出することができ
る。
は、コンデンサ（４）を定電流又は定電流と同等の電流
を充電電流として供給する充電手段（電源装置２及び充
電回路１４）と、前記コンデンサの端子間電圧を所定電
圧（Ｖｍ）に到達させた後、前記コンデンサを前記充電
手段から切り離し、開放状態にする切換手段（スイッチ
８）と、前記開放状態で一定時間が経過した後、前記コ
ンデンサの端子間電圧（Ｖｎ）を測定する測定手段（電
圧計１８）と、前記所定電圧から前記一定時間経過後の
前記端子間電圧を減算して算出される電圧降下（ΔＶ）
を前記充電電流で除して前記コンデンサの直流抵抗を算
出する演算手段（演算装置２０）とを備えたことを特徴
とする。この直流抵抗測定装置は、前記測定方法を装置
として実現したものであり、前記測定原理を以てコンデ
ンサの直流抵抗を容易かつ迅速に算出することができ
る。
【０００９】
【発明の実施の形態】図１は、本発明のコンデンサの直
流抵抗測定方法に用いられる直流抵抗測定装置の実施形
態を示している。
流抵抗測定方法に用いられる直流抵抗測定装置の実施形
態を示している。
【００１０】電源装置２は、直流抵抗を測定する試料と
してのコンデンサ４に充電電流を流す充電手段であっ
て、正側の出力端子＋OUT 、負側の出力端子−OUT 、正
側のセンス端子＋SENSE 、負側のセンス端子−SENSE を
備えている。
してのコンデンサ４に充電電流を流す充電手段であっ
て、正側の出力端子＋OUT 、負側の出力端子−OUT 、正
側のセンス端子＋SENSE 、負側のセンス端子−SENSE を
備えている。
【００１１】電源装置２の出力端子＋OUT とコンデンサ
４の正極側端子１０との間には抵抗６及び切換手段とし
てスイッチ８が接続されているとともに、電源端子２の
センス端子＋SENSE とコンデンサ４の正極側端子１０と
が直結されている。また、コンデンサ４の負極側端子１
２は、電源装置２の出力端子−OUT 及び電源装置２のセ
ンス端子−SENSE に直結されている。即ち、電源装置２
の出力端子＋OUT と出力端子−OUT との間には抵抗６、
スイッチ８及びコンデンサ４が直列に接続され、コンデ
ンサ４の充電回路１４が構成されている。
４の正極側端子１０との間には抵抗６及び切換手段とし
てスイッチ８が接続されているとともに、電源端子２の
センス端子＋SENSE とコンデンサ４の正極側端子１０と
が直結されている。また、コンデンサ４の負極側端子１
２は、電源装置２の出力端子−OUT 及び電源装置２のセ
ンス端子−SENSE に直結されている。即ち、電源装置２
の出力端子＋OUT と出力端子−OUT との間には抵抗６、
スイッチ８及びコンデンサ４が直列に接続され、コンデ
ンサ４の充電回路１４が構成されている。
【００１２】また、抵抗６の端子間には充電電流ｉｃを
測定する電流計１６が接続され、また、電源装置２のセ
ンス端子＋SENSE とセンス端子−SENSE との間にはコン
デンサ４の端子間電圧を測定する電圧計１８が接続され
ている。
測定する電流計１６が接続され、また、電源装置２のセ
ンス端子＋SENSE とセンス端子−SENSE との間にはコン
デンサ４の端子間電圧を測定する電圧計１８が接続され
ている。
【００１３】そして、電流計１６及び電圧計１８の測定
値からコンデンサ４の直流抵抗ｒを演算する演算装置２
０が設置されており、この演算装置２０はパーソナルコ
ンピュータ又は他の演算手段で構成されている。演算装
置２０は、内部又は外部に記憶手段を備えて、電流計１
６及び電圧計１８の測定値を記憶し、演算プログラムに
従って直流抵抗ｒを算出する。
値からコンデンサ４の直流抵抗ｒを演算する演算装置２
０が設置されており、この演算装置２０はパーソナルコ
ンピュータ又は他の演算手段で構成されている。演算装
置２０は、内部又は外部に記憶手段を備えて、電流計１
６及び電圧計１８の測定値を記憶し、演算プログラムに
従って直流抵抗ｒを算出する。
【００１４】次に、コンデンサ４の直流抵抗測定方法を
説明すると、充電工程では、スイッチ８を閉じてコンデ
ンサ４に充電回路１４を通して電源装置２から所定の充
電電流ｉｃを供給し、コンデンサ４を所定電圧Ｖｍまで
充電する。この充電電流ｉｃは定電流又は定電流と同等
の電流を設定すればよい。この充電電流ｉｃは、所定の
値に予め設定するとともに電流計１６で測定し、この測
定値は演算装置２０のメモリに格納される。
説明すると、充電工程では、スイッチ８を閉じてコンデ
ンサ４に充電回路１４を通して電源装置２から所定の充
電電流ｉｃを供給し、コンデンサ４を所定電圧Ｖｍまで
充電する。この充電電流ｉｃは定電流又は定電流と同等
の電流を設定すればよい。この充電電流ｉｃは、所定の
値に予め設定するとともに電流計１６で測定し、この測
定値は演算装置２０のメモリに格納される。
【００１５】次に、コンデンサ４が所定電圧Ｖｍに到達
した後、スイッチ８を開いてコンデンサ４を一定時間Ｔ
だけ開放状態とする。
した後、スイッチ８を開いてコンデンサ４を一定時間Ｔ
だけ開放状態とする。
【００１６】この開放工程を経た後、コンデンサ４の端
子間電圧Ｖｎを電圧計１８で測定し、この測定値は演算
装置２０のメモリに格納される。
子間電圧Ｖｎを電圧計１８で測定し、この測定値は演算
装置２０のメモリに格納される。
【００１７】図２において、（Ａ）はコンデンサ４の充
電電圧（Ｖ）の推移、（Ｂ）は定電流による充電電流ｉ
ｃを示しており、ｔ1 は所定の端子間電圧Ｖｍに到達
し、スイッチ８を開いた時点、ｔ2 は時点ｔ1 から一定
時間Ｔが経過した時点、即ち、コンデンサ４の端子間電
圧Ｖｎを測定する時点である。
電電圧（Ｖ）の推移、（Ｂ）は定電流による充電電流ｉ
ｃを示しており、ｔ1 は所定の端子間電圧Ｖｍに到達
し、スイッチ８を開いた時点、ｔ2 は時点ｔ1 から一定
時間Ｔが経過した時点、即ち、コンデンサ４の端子間電
圧Ｖｎを測定する時点である。
【００１８】ここで、コンデンサ４の等価回路は、図３
に示すように、直流抵抗ｒと容量Ｃとの直列回路で与ら
れる。そこで、このコンデンサ４に定電流からなる充電
電流ｉｃを流すと、図４の（Ａ）に示すように、直流抵
抗ｒには電圧降下Ｖｒ、容量Ｃには電圧降下Ｖｃが発生
し、所定電圧Ｖｍまで充電した場合、電圧Ｖｍは、 Ｖｍ＝Ｖｒ＋Ｖｃ ＝ｒ・ｉｃ＋Ｖｃ ・・・（１） である。そして、コンデンサ４を開放状態に一定時間Ｔ
放置した後、コンデンサ４の端子間電圧Ｖｎは、直流抵
抗ｒの電圧降下（ｒ・ｉｃ）は消失するので、この端子
間電圧Ｖｎは、コンデンサ４の容量Ｃで保持されている
電圧であり、式（１）から、 Ｖｎ≒Ｖｃ ・・・（２） となる。自然放電を無視すれば、Ｖｎ＝Ｖｃとなる。
に示すように、直流抵抗ｒと容量Ｃとの直列回路で与ら
れる。そこで、このコンデンサ４に定電流からなる充電
電流ｉｃを流すと、図４の（Ａ）に示すように、直流抵
抗ｒには電圧降下Ｖｒ、容量Ｃには電圧降下Ｖｃが発生
し、所定電圧Ｖｍまで充電した場合、電圧Ｖｍは、 Ｖｍ＝Ｖｒ＋Ｖｃ ＝ｒ・ｉｃ＋Ｖｃ ・・・（１） である。そして、コンデンサ４を開放状態に一定時間Ｔ
放置した後、コンデンサ４の端子間電圧Ｖｎは、直流抵
抗ｒの電圧降下（ｒ・ｉｃ）は消失するので、この端子
間電圧Ｖｎは、コンデンサ４の容量Ｃで保持されている
電圧であり、式（１）から、 Ｖｎ≒Ｖｃ ・・・（２） となる。自然放電を無視すれば、Ｖｎ＝Ｖｃとなる。
【００１９】そこで、演算工程では、演算装置２０で次
のような演算が行なわれる。即ち、端子間電圧Ｖｍから
端子間電圧Ｖｎが減算され、その結果、電圧降下ΔＶが
算出される。即ち、電圧降下ΔＶは、 ΔＶ＝Ｖｍ−Ｖｎ＝Ｖｒ ・・・（３） であり、電圧降下ΔＶは、直流抵抗ｒの電圧降下Ｖｒ
（＝ｒ・ｉｃ）である。
のような演算が行なわれる。即ち、端子間電圧Ｖｍから
端子間電圧Ｖｎが減算され、その結果、電圧降下ΔＶが
算出される。即ち、電圧降下ΔＶは、 ΔＶ＝Ｖｍ−Ｖｎ＝Ｖｒ ・・・（３） であり、電圧降下ΔＶは、直流抵抗ｒの電圧降下Ｖｒ
（＝ｒ・ｉｃ）である。
【００２０】そこで、式（１）、（２）及び（３）から Ｖｒ＝ｒ・ｉｃ＝Ｖｍ−Ｖｎ＝ΔＶ ・・・（４） となり、コンデンサ４の直流抵抗ｒは、 ｒ＝（Ｖｍ−Ｖｎ）／ｉｃ＝ΔＶ／ｉｃ ・・・（５） となる。したがって、電圧降下ΔＶを充電電流ｉｃで除
すことで、コンデンサ４の直流抵抗ｒが算出される。
すことで、コンデンサ４の直流抵抗ｒが算出される。
【００２１】このように、コンデンサ４を定電流又は定
電流と同等の電流からなる充電電流ｉｃで所定電圧Ｖｍ
まで充電した後、一定時間Ｔだけ開放状態にして端子間
電圧Ｖｎを測定し、端子間電圧Ｖｍと端子間電圧Ｖｎと
の差電圧、即ち、電圧降下ΔＶを充電電流ｉｃで除すこ
とにより、直流抵抗ｒを算出することができ、極めて簡
単かつ迅速にしかも正確にコンデンサ４の直流抵抗ｒを
求めることができる。
電流と同等の電流からなる充電電流ｉｃで所定電圧Ｖｍ
まで充電した後、一定時間Ｔだけ開放状態にして端子間
電圧Ｖｎを測定し、端子間電圧Ｖｍと端子間電圧Ｖｎと
の差電圧、即ち、電圧降下ΔＶを充電電流ｉｃで除すこ
とにより、直流抵抗ｒを算出することができ、極めて簡
単かつ迅速にしかも正確にコンデンサ４の直流抵抗ｒを
求めることができる。
【００２２】なお、実施の形態では、充電電流ｉｃを定
電流として説明したが、定電流と同等又は平均値が定電
流と見做すことができる電流を用いても同様に電気二重
層コンデンサ等のコンデンサの直流抵抗ｒを測定するこ
とができる。
電流として説明したが、定電流と同等又は平均値が定電
流と見做すことができる電流を用いても同様に電気二重
層コンデンサ等のコンデンサの直流抵抗ｒを測定するこ
とができる。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
次の効果が得られる。 ａ 簡単かつ迅速にしかも正確に電気二重層コンデンサ
等のコンデンサの直流抵抗を測定することができる。 ｂ 測定装置は定電流を発生する既存の電源装置やパー
ソナルコンピュータを用いて実現することができ、信頼
性の高い測定を行なうことができる。
次の効果が得られる。 ａ 簡単かつ迅速にしかも正確に電気二重層コンデンサ
等のコンデンサの直流抵抗を測定することができる。 ｂ 測定装置は定電流を発生する既存の電源装置やパー
ソナルコンピュータを用いて実現することができ、信頼
性の高い測定を行なうことができる。
【図１】本発明のコンデンサの直流抵抗測定方法及びそ
の装置の実施形態である直流抵抗測定装置を示すブロッ
ク図である。
の装置の実施形態である直流抵抗測定装置を示すブロッ
ク図である。
【図２】本発明のコンデンサの直流抵抗測定方法の実施
形態であるコンデンサの充電電圧の推移及び充電電流を
示す図である。
形態であるコンデンサの充電電圧の推移及び充電電流を
示す図である。
【図３】コンデンサの等価回路を示す回路図である。
【図４】コンデンサの充電時の端子間電圧の構成、コン
デンサの開放時の端子間電圧を示す回路図である。
デンサの開放時の端子間電圧を示す回路図である。
２ 電源装置（充電手段） ４ コンデンサ ８ スイッチ（切換手段） １４ 充電回路（充電手段） １６ 電流計 １８ 電圧計（測定手段） ２０ 演算装置（演算手段）
Claims (2)
- 【請求項１】 コンデンサを定電流又は定電流と同等の
電流を充電電流として充電する工程と、 前記コンデンサの端子間電圧を所定電圧に到達させた
後、前記コンデンサを開放状態にする工程と、 前記開放状態で一定時間が経過した後、前記コンデンサ
の端子間電圧を測定する工程と、 前記所定電圧から前記一定時間経過後の前記端子間電圧
を減算して算出される電圧降下を前記充電電流で除して
前記コンデンサの直流抵抗を算出する工程と、を備えた
ことを特徴とするコンデンサの直流抵抗測定方法。 - 【請求項２】 コンデンサを定電流又は定電流と同等の
電流を充電電流として供給する充電手段と、 前記コンデンサの端子間電圧を所定電圧に到達させた
後、前記コンデンサを前記充電手段から切り離し、開放
状態にする切換手段と、 前記開放状態で一定時間が経過した後、前記コンデンサ
の端子間電圧を測定する測定手段と、 前記所定電圧から前記一定時間経過後の前記端子間電圧
を減算して算出される電圧降下を前記充電電流で除して
前記コンデンサの直流抵抗を算出する演算手段と、を備
えたことを特徴とするコンデンサの直流抵抗測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000051563A JP2001242204A (ja) | 2000-02-28 | 2000-02-28 | コンデンサの直流抵抗測定方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000051563A JP2001242204A (ja) | 2000-02-28 | 2000-02-28 | コンデンサの直流抵抗測定方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001242204A true JP2001242204A (ja) | 2001-09-07 |
Family
ID=18573201
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000051563A Pending JP2001242204A (ja) | 2000-02-28 | 2000-02-28 | コンデンサの直流抵抗測定方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001242204A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003075483A (ja) * | 2001-08-31 | 2003-03-12 | Hioki Ee Corp | 蓄電装置の等価並列抵抗測定方法 |
| KR101147378B1 (ko) * | 2010-11-04 | 2012-05-23 | 김동균 | 전원 직렬 임피던스의 순간 측정 장치 |
| CN105067890A (zh) * | 2015-07-14 | 2015-11-18 | 东营市双益电气有限责任公司 | 使用零磁通法测量变压器直流电阻的方法及其测量系统 |
| CN109142872A (zh) * | 2017-06-16 | 2019-01-04 | 日本贵弥功株式会社 | 蓄电元件的电阻的测定方法以及测定装置 |
| JP2019060720A (ja) * | 2017-09-26 | 2019-04-18 | 株式会社三社電機製作所 | 検査装置 |
| JP2019062656A (ja) * | 2017-09-26 | 2019-04-18 | 株式会社三社電機製作所 | 検査装置 |
| JP2019060718A (ja) * | 2017-09-26 | 2019-04-18 | 株式会社三社電機製作所 | 検査装置 |
| JP2019060719A (ja) * | 2017-09-26 | 2019-04-18 | 株式会社三社電機製作所 | 検査装置 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54162579A (en) * | 1978-06-13 | 1979-12-24 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Measuring method of internal equivalent circuit constant of primary batteries |
| JPH01213579A (ja) * | 1988-02-22 | 1989-08-28 | Oki Electric Ind Co Ltd | 表面抵抗測定方法及びその装置 |
| JPH02154156A (ja) * | 1988-12-06 | 1990-06-13 | Matsushita Electron Corp | 電子回路の測定装置 |
| JPH07198765A (ja) * | 1993-12-28 | 1995-08-01 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | インピーダンス・メータ |
| JPH09211041A (ja) * | 1996-01-30 | 1997-08-15 | Hioki Ee Corp | 容量性素子の等価直列抵抗測定方法および等価直列抵抗測定装置 |
| JPH10319066A (ja) * | 1997-05-16 | 1998-12-04 | Hioki Ee Corp | 容量性素子の等価直列抵抗測定方法および等価直列抵抗測定装置 |
-
2000
- 2000-02-28 JP JP2000051563A patent/JP2001242204A/ja active Pending
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54162579A (en) * | 1978-06-13 | 1979-12-24 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Measuring method of internal equivalent circuit constant of primary batteries |
| JPH01213579A (ja) * | 1988-02-22 | 1989-08-28 | Oki Electric Ind Co Ltd | 表面抵抗測定方法及びその装置 |
| JPH02154156A (ja) * | 1988-12-06 | 1990-06-13 | Matsushita Electron Corp | 電子回路の測定装置 |
| JPH07198765A (ja) * | 1993-12-28 | 1995-08-01 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | インピーダンス・メータ |
| JPH09211041A (ja) * | 1996-01-30 | 1997-08-15 | Hioki Ee Corp | 容量性素子の等価直列抵抗測定方法および等価直列抵抗測定装置 |
| JPH10319066A (ja) * | 1997-05-16 | 1998-12-04 | Hioki Ee Corp | 容量性素子の等価直列抵抗測定方法および等価直列抵抗測定装置 |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003075483A (ja) * | 2001-08-31 | 2003-03-12 | Hioki Ee Corp | 蓄電装置の等価並列抵抗測定方法 |
| KR101147378B1 (ko) * | 2010-11-04 | 2012-05-23 | 김동균 | 전원 직렬 임피던스의 순간 측정 장치 |
| CN105067890A (zh) * | 2015-07-14 | 2015-11-18 | 东营市双益电气有限责任公司 | 使用零磁通法测量变压器直流电阻的方法及其测量系统 |
| CN109142872A (zh) * | 2017-06-16 | 2019-01-04 | 日本贵弥功株式会社 | 蓄电元件的电阻的测定方法以及测定装置 |
| JP2019060720A (ja) * | 2017-09-26 | 2019-04-18 | 株式会社三社電機製作所 | 検査装置 |
| JP2019062656A (ja) * | 2017-09-26 | 2019-04-18 | 株式会社三社電機製作所 | 検査装置 |
| JP2019060718A (ja) * | 2017-09-26 | 2019-04-18 | 株式会社三社電機製作所 | 検査装置 |
| JP2019060719A (ja) * | 2017-09-26 | 2019-04-18 | 株式会社三社電機製作所 | 検査装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6556019B2 (en) | Electronic battery tester | |
| CN107923943B (zh) | 高效电池测试器 | |
| US20220091062A1 (en) | System and method for anomaly detection and total capacity estimation of a battery | |
| US20100036627A1 (en) | Apparatus and method for determination of the state-of-charge of a battery when the battery is not in equilibrium | |
| JP5674783B2 (ja) | 電池を特徴付ける方法 | |
| KR20020070516A (ko) | 재충전 가능한 배터리의 남은 사용 시간뿐만 아니라 충전상태를 예측하는 방법 | |
| JPH03274479A (ja) | 鉛蓄電池の寿命判定方法 | |
| US10302706B2 (en) | Apparatus for calculating state of charge of storage battery | |
| CN101339230A (zh) | 电池内阻测量装置和方法 | |
| KR20160110221A (ko) | 전지 잔량 예측 장치 및 배터리 팩 | |
| CN110716146A (zh) | 一种动力电池开路电压的估计方法 | |
| KR101759532B1 (ko) | 배터리의 내부 임피던스를 추정하는 방법 | |
| JP2001242204A (ja) | コンデンサの直流抵抗測定方法及びその装置 | |
| CN116840688B (zh) | 一种锂离子电池荷电态的估算方法 | |
| JP4659296B2 (ja) | 蓄電装置の等価並列抵抗測定方法 | |
| JPH09211041A (ja) | 容量性素子の等価直列抵抗測定方法および等価直列抵抗測定装置 | |
| CN111025156A (zh) | 电池的状态预测方法及装置 | |
| TWI703335B (zh) | 監測電池剩餘電量的裝置及其方法 | |
| US11313915B2 (en) | Methods and system for a battery | |
| JP2008064700A (ja) | 電気二重層キャパシタの内部抵抗測定装置 | |
| JP2004117084A5 (ja) | ||
| JP4456584B2 (ja) | 電気二重層コンデンサの直流内部抵抗値の測定方法及びそのシステム | |
| JPS60625B2 (ja) | 蓄電池の性能判別方法および装置 | |
| TWI509521B (zh) | 鋰電池之電路模型建構方法 | |
| JP2001099902A (ja) | バッテリの残放電容量検出装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070118 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090729 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090804 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091005 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091110 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100108 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100209 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100510 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100521 |
|
| A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20100629 |
|
| A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20101001 |