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JP2001242084A - Illumination device and granular object detection device - Google Patents

Illumination device and granular object detection device

Info

Publication number
JP2001242084A
JP2001242084A JP2000054087A JP2000054087A JP2001242084A JP 2001242084 A JP2001242084 A JP 2001242084A JP 2000054087 A JP2000054087 A JP 2000054087A JP 2000054087 A JP2000054087 A JP 2000054087A JP 2001242084 A JP2001242084 A JP 2001242084A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
spacer
mirror
detecting
reflected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2000054087A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Naoto Yokoyama
直人 横山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2000054087A priority Critical patent/JP2001242084A/en
Publication of JP2001242084A publication Critical patent/JP2001242084A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 スペーサからの散乱光と、配線パターンから
の反射光とのコントラストを大きくすることによって、
スペーサと背景との2値化による分離を容易にする、照
明装置および粒状体検出装置を提供する。 【解決手段】 光供給手段としてのライトガイド1と、
ライトガイド1からの光を反射するように保持されたミ
ラー2とを備える。この照明装置は、粒状体としてのス
ペーサ7を検出するために、所望の検出位置に対して、
上方から見て配線パターンのいずれの直線部分に対して
も略垂直でない少なくとも2方向であって、ガラス基板
6の上面となす角度が3°以下となるような照射方向
で、光5を照射する。
(57) [Problem] To increase the contrast between scattered light from a spacer and reflected light from a wiring pattern,
Provided are an illumination device and a granular object detection device which facilitate separation of a spacer and a background by binarization. SOLUTION: A light guide 1 as light supply means,
A mirror 2 held so as to reflect light from the light guide 1. This illuminating device is used to detect a spacer 7 as a granular body, with respect to a desired detection position.
The light 5 is irradiated in at least two directions that are not substantially perpendicular to any linear portion of the wiring pattern when viewed from above, and in an irradiation direction such that an angle formed with the upper surface of the glass substrate 6 is 3 ° or less. .

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、たとえば液晶を駆
動するためのスイッチング素子として薄膜トランジスタ
(TFT:Thin Film Transistor)を備える液晶パネル
などのガラス基板間の間隙を形成するのに用いるスペー
サの計数や凝集検査、ガラス基板上の異物を検出する異
物検査を行なう粒状体検出装置およびこれに使用する照
明装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for counting spacers used for forming a gap between glass substrates such as a liquid crystal panel having a thin film transistor (TFT) as a switching element for driving a liquid crystal. The present invention relates to a particulate matter detection device for performing a cohesion test and a foreign material test for detecting a foreign material on a glass substrate, and a lighting device used for the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】(液晶パネルの製造工程)液晶パネル
は、液晶を駆動するための電極を備え、一定の間隔で平
行に配置された一対のガラス基板とその一対のガラス基
板の間に形成された液晶層とを備える。この液晶パネル
は、次に示すような方法によって製造される。
2. Description of the Related Art (Manufacturing process of liquid crystal panel) A liquid crystal panel has electrodes for driving liquid crystal, and is formed between a pair of glass substrates arranged in parallel at a predetermined interval and between the pair of glass substrates. Liquid crystal layer. This liquid crystal panel is manufactured by the following method.

【0003】一対のガラス基板のうち、一方のガラス基
板に熱硬化型のシール剤を塗布し、他方のガラス基板に
基板間隔を均一にするためのスペーサを散布する。ここ
でいうスペーサは、通常、球径の均一なプラスチックビ
ーズが用いられる。この後、この一対のガラス基板の位
置合わせを行い、仮止めを行う。
[0003] Among the pair of glass substrates, a thermosetting sealing agent is applied to one of the glass substrates, and spacers for uniforming the distance between the substrates are sprayed on the other glass substrate. As the spacer here, plastic beads having a uniform sphere diameter are usually used. Thereafter, the pair of glass substrates is aligned and temporarily fixed.

【0004】このガラス基板をプレスして基板間隔がス
ペーサ径と同じになるようにする。加熱することでシー
ル剤を硬化させ貼合せを行う。貼り合わせた基板を所望
の液晶パネルの大きさに切断する。真空チャンバ内にお
いて、ガラス基板間の間隙に液晶を注入する。液晶注入
終了後、注入口に紫外線硬化型の封止剤を塗布して紫外
線照射し、注入ロの封止を行う。
The glass substrate is pressed so that the distance between the substrates is equal to the diameter of the spacer. Heating cures the sealant and performs lamination. The bonded substrate is cut into a desired liquid crystal panel size. In a vacuum chamber, liquid crystal is injected into a gap between glass substrates. After the liquid crystal injection, an injection-curable sealing agent is applied to the injection port and irradiated with ultraviolet light to seal the injection hole.

【0005】以上の方法により、一対のガラス基板間の
間隙を液晶によって充填した液晶パネルを製造すること
ができる。
According to the above method, a liquid crystal panel in which a gap between a pair of glass substrates is filled with liquid crystal can be manufactured.

【0006】(スペーサ)上述の液晶パネルの製造工程
の中で、液晶パネルのガラス基板間の間隙を均一に形成
するために配置されるスペーサは、散布される個数や分
布が重要となる。スペーサの数が少なすぎると、ガラス
基板間の間隙が狭くなり、所定の間隙を形成できず、表
示品位が劣化する。また、スペーサの数が多すぎると、
スペーサ周辺でのいわゆる光りぬけが多くなる。「光り
ぬけ」とは、スペーサ周辺の液晶が配向乱れを起こした
り、スペーサが透明である場合にスペーサ自体が光を透
過してしまったりすることによって、光を遮断すること
で黒表示をしようとしたときにその箇所だけ光が透過し
てしまい正しく黒表示にならない現象をいう。このよう
な光りぬけの発生は、コントラストの低下をもたらし、
表示品位が劣化する。
(Spacer) In the above-described manufacturing process of the liquid crystal panel, the number and distribution of the spacers that are arranged to uniformly form the gap between the glass substrates of the liquid crystal panel are important. If the number of the spacers is too small, the gap between the glass substrates becomes narrow, a predetermined gap cannot be formed, and the display quality deteriorates. Also, if there are too many spacers,
So-called light loss around the spacer increases. `` Light loss '' means that the liquid crystal around the spacer causes disorder in alignment, or if the spacer is transparent, the spacer itself transmits light, so that it tries to black display by blocking the light. In this case, the light is transmitted only at that point, and the black display is not correctly performed. Occurrence of such glare causes a decrease in contrast,
The display quality deteriorates.

【0007】このため、スペーサを散布した後にスペー
サの個数や分布を測定して,スペーサの散布状態を監視
することが必要となる。スペーサの計数を行う方法とし
て次のような方法が用いられる。図6に示すようなリン
グライト41を用いた反射照明によってスペーサに照明
光を当ててスペーサから散乱光を発生させる。スペーサ
からの散乱光をCCDカメラを用いて取り込む。取込ん
だ画像に対して2値化を行うことでスペーサと背景とを
分離し、スペーサの計数を行う。
Therefore, it is necessary to measure the number and distribution of the spacers after dispersing the spacers and monitor the dispersal state of the spacers. The following method is used as a method for counting the number of spacers. Illumination light is applied to the spacer by reflection illumination using a ring light 41 as shown in FIG. 6 to generate scattered light from the spacer. The scattered light from the spacer is captured using a CCD camera. By binarizing the captured image, the spacer and the background are separated, and the number of spacers is counted.

【0008】スペーサが散布されているガラス基板がT
FTを形成したガラス基板である場合、ゲートラインや
ソースラインといった配線パターンは、Ta、Alなど
といった、高い反射率を有する金属膜によって形成され
ている。配線パターンの凹凸が大きい場合、リングライ
トによる照明では配線パターンのエッジも反射光を発生
する。このため,ガラス基板に形成された配線パターン
とスペーサとの2値化による分離が困難となる。
The glass substrate on which the spacers are scattered is T
In the case of a glass substrate on which an FT is formed, a wiring pattern such as a gate line and a source line is formed of a metal film having a high reflectance, such as Ta or Al. When the unevenness of the wiring pattern is large, the edge of the wiring pattern also generates reflected light by illumination with a ring light. Therefore, it is difficult to separate the wiring pattern formed on the glass substrate and the spacer by binarization.

【0009】これに対して、特開平8−148025号
公報では、ガラス基板に形成された配線パターンからの
反射光を低減するため、図6に示す構造において、リン
グライトの照明部分のうち、ゲートラインとソースライ
ンの配線パターンに対して直交して照射する部分を遮光
するという技術が提案されている。これにより、配線パ
ターンからの反射光を低減でき、スペーサと背景との2
値化による分離が容易となる。
On the other hand, in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 8-148525, in order to reduce the reflected light from the wiring pattern formed on the glass substrate, in the structure shown in FIG. A technique has been proposed in which a portion irradiated at right angles to the wiring pattern of the source line is shielded from light. As a result, the reflected light from the wiring pattern can be reduced, and the distance between the spacer and the background can be reduced.
Separation by quantification becomes easy.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】同公報において提案さ
れた技術では、スペーサの計数を行なう際には、測定対
象である基板を移動させながら任意の測定箇所における
計数を行なう。その実現のため、同公報において提案さ
れた照明装置においては、リングライト41は、ガラス
基板6を移動させてもガラス基板6と接触しない程度の
クリアランスだけ浮かせて設置される。
According to the technique proposed in the publication, when counting the spacers, the counting is performed at an arbitrary measuring point while moving the substrate to be measured. In order to realize this, in the lighting device proposed in the publication, the ring light 41 is installed so as to float only by a clearance that does not make contact with the glass substrate 6 even when the glass substrate 6 is moved.

【0011】このとき、図6に示したリングライト41
の光ファイバ投光口42は、リングライト41の底面よ
りも若干上の位置に配置されている。光ファイバ投光口
42より下の部分を、プレート43と呼ぶこととする
と、光ファイバ投光口42から光をできるだけ水平に近
づけるには、プレート43はできるだけ薄くすることが
望ましいが、プレート43をあまり薄くすると、リング
ライト41の強度を保つことができなくなる。しかし、
プレート43を厚くすると、光ファイバ投光口42から
光は測定箇所に対して斜め上方から入射することとなっ
てしまう。
At this time, the ring light 41 shown in FIG.
Is disposed at a position slightly above the bottom surface of the ring light 41. If the portion below the optical fiber projector 42 is referred to as a plate 43, it is desirable to make the plate 43 as thin as possible in order to make the light from the optical fiber projector 42 as horizontal as possible. If the thickness is too thin, the strength of the ring light 41 cannot be maintained. But,
If the plate 43 is made thick, light from the optical fiber light emitting port 42 enters the measurement location from obliquely above.

【0012】したがって、測定箇所における配線パター
ンの凹凸が大きい場合には、リングライトの非遮光部分
からの照射光が、配線パターン部分に対して略垂直に照
射される箇所において、上方のCCDカメラに向かう向
きの反射光を多量に発生させることとなる。
Therefore, when the unevenness of the wiring pattern at the measurement location is large, the irradiation light from the non-light-shielded portion of the ring light is directed to the upper CCD camera at a location where the illumination light is applied substantially perpendicularly to the wiring pattern portion. A large amount of reflected light in the direction is generated.

【0013】あるいは、プレート43が多少厚くても、
リングライト41の直径を大きくすることで、測定箇所
への光の入射を水平に近づけることも可能ではあるが、
その場合、光ファイバ投光口42から測定箇所までの距
離が長くなり、照度が低下してしまう。
Alternatively, even if the plate 43 is slightly thicker,
By increasing the diameter of the ring light 41, it is possible to make the incidence of light on the measurement location nearly horizontal,
In that case, the distance from the optical fiber light emitting port 42 to the measurement location becomes longer, and the illuminance decreases.

【0014】結局、この照明装置によれば、ゲートライ
ン、ソースラインの配線パターンでの反射光は低減され
るが、リングライトの遮光しない部分からの照射光が、
配線パターンに垂直に照射される箇所において、反射光
を発生させる場合があるため、スペーサと背景との2値
化による分離が困難となるという問題点があった。
After all, according to this illuminating device, the reflected light from the wiring pattern of the gate line and the source line is reduced, but the illuminating light from the unshielded portion of the ring light is reduced.
In some cases, reflected light is generated at a portion irradiated perpendicularly to the wiring pattern, so that there is a problem that it is difficult to separate the spacer and the background by binarization.

【0015】本発明は、上述の課題を解決するためにな
されたものであり、液晶パネルのガラス基板に形成され
た配線パターンからの反射光を低減し、スペーサからの
散乱光と、配線パターンからの反射光とのコントラスト
を大きくすることによって、スペーサと背景との2値化
による分離を容易にする、照明装置および粒状体検出装
置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problem, and reduces reflected light from a wiring pattern formed on a glass substrate of a liquid crystal panel, and reduces scattered light from a spacer and the wiring pattern. It is an object of the present invention to provide an illumination device and a granular object detection device that facilitate separation of a spacer and a background by binarization by increasing the contrast with reflected light.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に基づく照明装置においては、上面に直交し
て設けられたマトリックス状の線状パターンを有する基
板上面の所望の検出位置に存在する粒状体の検出を行な
うために、上記所望の検出位置に対して、上方から見て
上記線状パターンのいずれの直線部分に対しても略垂直
でない少なくとも2方向であって、基板上面となす角度
が3°以下となるような照射方向で、光を照射する。こ
の構成を採用することにより、線状パターンの各構成要
素の直線部分に対して、上方から見て光が略垂直に照射
することはなく、また、基板上面となす角度が、実験に
よっても良好な結果が得られた3°以下であるので、こ
れらの各構成要素のエッジなどから上方へ向かう反射光
を低減することができる。
In order to achieve the above object, in an illumination device according to the present invention, a lighting device is provided at a desired detection position on an upper surface of a substrate having a matrix linear pattern provided orthogonally to the upper surface. In order to detect the granular material to be detected, at least two directions that are not substantially perpendicular to any linear portion of the linear pattern when viewed from above with respect to the desired detection position, and form the upper surface of the substrate. Light is irradiated in an irradiation direction such that the angle is 3 ° or less. By adopting this configuration, the linear portion of each component of the linear pattern is not irradiated with light substantially vertically when viewed from above, and the angle formed with the upper surface of the substrate is good even in experiments. Since the obtained result is 3 ° or less, reflected light upward from the edge of each of these components can be reduced.

【0017】上記発明において好ましくは、光供給手段
と、上記光供給手段からの光を上記照射方向に反射する
ように保持されたミラーとを備える。この構成を採用す
ることにより、ミラーの下端で反射させることが可能な
ため、基板にきわめて近接した位置で反射をさせること
ができ、その結果、基板上面となす角度が3°以下とな
るような照射方向で、十分な照度で光を照射すること
が、確実かつ容易に可能となる。
In the above invention, preferably, there is provided a light supply means, and a mirror held so as to reflect the light from the light supply means in the irradiation direction. By adopting this configuration, the light can be reflected at the lower end of the mirror, so that the light can be reflected at a position very close to the substrate. As a result, the angle formed with the upper surface of the substrate is 3 ° or less. Irradiation of light with sufficient illuminance in the irradiation direction can be performed reliably and easily.

【0018】上記発明において好ましくは、上記光供給
手段および上記ミラーを保持し、下面を有するホルダを
備え、上記下面には、上記照射方向に進行する光を妨げ
ないように凹部が設けられている。
Preferably, in the above invention, a holder having the lower surface for holding the light supply means and the mirror is provided, and the lower surface is provided with a concave portion so as not to hinder the light traveling in the irradiation direction. .

【0019】上記構成を採用することにより、ホルダの
存在により、光供給手段とミラーの位置関係がより確実
に固定され、照明装置の取り扱いが容易となる。また、
ホルダの下面には凹部があるため、ミラーから反射した
光が、拡散したり、進行方向がずれたりしても、一定の
範囲内であれば、ホルダの下面で妨げられることなく、
測定箇所に到達することができ、十分な照度で照射する
ことができる。さらに、凹部の深さを一定以上深くしな
いことによって、測定箇所に対して基板上面となす角度
が所望の角度より大きくなるような照射方向で向かう光
を遮断する役割を持たせることもできる。
By adopting the above configuration, the positional relationship between the light supply means and the mirror is more reliably fixed due to the presence of the holder, and the handling of the illumination device is facilitated. Also,
Since there is a concave portion on the lower surface of the holder, even if the light reflected from the mirror is diffused or the traveling direction is shifted, if it is within a certain range, it is not hindered by the lower surface of the holder,
It is possible to reach the measurement point and irradiate with sufficient illuminance. Further, by making the depth of the concave portion not deeper than a certain value, it is possible to have a role of blocking light traveling in the irradiation direction such that the angle formed between the concave portion and the upper surface of the substrate is larger than a desired angle.

【0020】上記発明において好ましくは、上記光供給
手段から出た光を集光し、上記ミラーに導くレンズを備
える。この構成を採用することにより、光供給手段から
供給された光を効率良くミラーで反射することができ
る。また、集光された光が反射して、測定箇所に向かう
ため、測定箇所の照度を上げることができる。
In the above invention, preferably, a lens is provided which condenses the light emitted from the light supply means and guides the light to the mirror. By employing this configuration, the light supplied from the light supply means can be efficiently reflected by the mirror. Further, since the collected light is reflected and travels to the measurement location, the illuminance at the measurement location can be increased.

【0021】本発明に基づく粒状体検出装置において
は、上述の照明装置を含む照明手段と、上記照明手段で
照射した上記所望の測定箇所からの反射光を検出する光
検出手段と、上記光検出手段で検出した結果から、上記
粒状体に起因する情報を分離抽出する抽出手段とを備え
る。
In the granular object detecting apparatus according to the present invention, an illuminating means including the above-mentioned illuminating device, a light detecting means for detecting a reflected light from the desired measurement site irradiated by the illuminating means, and a light detecting means Extracting means for separating and extracting information derived from the granular material from the result detected by the means.

【0022】上記構成を採用することにより、照射され
た光のうち、線状パターンで反射して光検出手段に向か
う成分は少なくなる一方、粒状体で散乱する光は光検出
手段に向かうため、光検出手段で検出した画像は、粒状
体の像と背景の像とのコントラストが大きくなってお
り、2値化して粒状体に起因するものと背景に起因する
ものとを分離することが容易となる。さらに、この粒状
体検出装置は、抽出手段を備えているため、粒状体の計
数や分布把握を容易に高精度で行なうことができる。
By adopting the above configuration, of the irradiated light, the component reflected by the linear pattern and traveling toward the light detecting means decreases, while the light scattered by the granular material travels toward the light detecting means. In the image detected by the light detecting means, the contrast between the image of the granular material and the image of the background is large, and it is easy to binarize and separate the image due to the granular material from the image due to the background. Become. Further, since the granular material detection device includes the extracting means, it is possible to easily count and grasp the distribution of the granular material with high accuracy.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】(実施の形態1) (構成)図1に、本実施の形態における照明装置を示
す。この照明装置は、光源(図示省略)からの光を照射
する光供給手段であるライトガイド1と、ライトガイド
1からの照射光をガラス基板6に対して反射するミラー
2と、ライトガイド1とミラー2を保持するホルダ3を
備えている。測定対象であるガラス基板6を水平面に置
き、この照明装置をガラス基板6の上方に設置して測定
を行なうものとしたとき、ライトガイド1は、鉛直上方
から鉛直下方に向けて光を出射するように固定されてお
り、ミラー2は、その反射面の水平面となす角度が46
°となるようにホルダ3に固定されている。ミラー2の
反射面が水平面となす角度はここでは46°としたが、
このようにしたのは、図2に示すように、ミラー2が鉛
直上方のライトガイド1から照射される光を反射したと
きに、反射光が、水平面との間でなす角度が2°となる
照射方向で、測定箇所に向かうようにするためである。
ホルダ3が、下面を有しない構造である場合は、ホルダ
3の下面が光の進行を妨げるおそれがないが、ホルダ3
は強度を維持するためには、下面を有する構造である場
合が考えられ、その場合、その下面には、測定箇所に向
かって進行する光を妨げないように凹部が設けられてい
ることが望ましい。図1の構造においては、そのような
凹部として、溝4が設けられている。なお、溝4の深さ
を一定以上深くしないことによって、測定箇所に対して
基板上面となす角度が所望の角度より大きくなるような
照射方向で向かう光を遮断する役割を持たせることもで
きる。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS (Embodiment 1) (Configuration) FIG. 1 shows a lighting device according to the present embodiment. The illumination device includes a light guide 1 that is a light supply unit that irradiates light from a light source (not shown), a mirror 2 that reflects irradiation light from the light guide 1 to a glass substrate 6, A holder 3 for holding the mirror 2 is provided. When the glass substrate 6 to be measured is placed on a horizontal surface and the illumination device is installed above the glass substrate 6 to perform the measurement, the light guide 1 emits light from vertically upward to vertically downward. The mirror 2 has an angle of 46 with respect to the horizontal plane of the reflection surface.
° and is fixed to the holder 3. The angle formed by the reflection surface of the mirror 2 with the horizontal plane was 46 ° here,
This is because, as shown in FIG. 2, when the mirror 2 reflects the light emitted from the light guide 1 vertically above, the angle between the reflected light and the horizontal plane is 2 °. This is because the irradiation direction is directed to the measurement location.
When the holder 3 has a structure having no lower surface, there is no possibility that the lower surface of the holder 3 hinders the progress of light.
In order to maintain the strength, it is conceivable that the structure has a lower surface, in which case it is preferable that a concave portion is provided on the lower surface so as not to hinder light traveling toward the measurement location . In the structure of FIG. 1, a groove 4 is provided as such a concave portion. By making the depth of the groove 4 not deeper than a certain value, it is possible to have a role of blocking light traveling in the irradiation direction such that the angle formed between the groove 4 and the upper surface of the substrate is larger than a desired angle.

【0024】図3に、この照明装置でガラス基板6につ
いての測定を行なう状態を上方から見たところを示す。
ガラス基板6は、その上面に直交して設けられたマトリ
ックス状の線状パターンとして、ゲートライン11とソ
ースライン12とが直交する配線パターンを有し、その
マトリックス状に区切られた各区画の隅にはTFT素子
13を有する。各区画内の透明電極14の中央を測定箇
所として以下、説明する。
FIG. 3 shows a state in which the measurement of the glass substrate 6 is performed by the illumination device as viewed from above.
The glass substrate 6 has a wiring pattern in which the gate line 11 and the source line 12 are orthogonal to each other as a matrix linear pattern provided on the upper surface thereof at right angles. Has a TFT element 13. The following description will be made with the center of the transparent electrode 14 in each section as a measurement point.

【0025】図3を参照して、測定箇所に対する光の照
射方向について注目すると、光は、線状パターンの方向
から約45°回転させた方向の、直交する4方向からの
光5として照射されるように、ライトガイド1、ミラー
2および溝4は配置されている。
Referring to FIG. 3, focusing on the direction of light irradiation on the measurement point, the light is irradiated as light 5 from four orthogonal directions which are rotated by about 45 ° from the direction of the linear pattern. As described above, the light guide 1, the mirror 2 and the groove 4 are arranged.

【0026】(作用・効果)ライトガイド1から照射さ
れた光はミラー2で反射し、溝4を通過して、光5とし
て測定箇所に向かう。光5は、上述の直交する4方向か
ら、ガラス基板6上面(水平面)となす角度が2°とな
るような照射方向で、照射される。光5は、スペーサ7
に当たって散乱する。この照明装置の上方に何らかの光
検出手段を設置すれば、スペーサ7からの散乱光を検出
し、検査のための情報として利用することができる。
(Operation / Effect) The light emitted from the light guide 1 is reflected by the mirror 2, passes through the groove 4, and travels as a light 5 toward the measurement location. The light 5 is irradiated in an irradiation direction such that the angle formed with the upper surface (horizontal plane) of the glass substrate 6 is 2 ° from the above four orthogonal directions. Light 5 is applied to spacer 7
Scatters on hit. If some kind of light detecting means is installed above this lighting device, scattered light from the spacer 7 can be detected and used as information for inspection.

【0027】一方、光5のガラス基板6の上面とのなす
角度が2°と小さいため、ガラス基板6に形成された配
線パターンに起因する反射光は、上方に反射する成分を
少なく抑えることができ、上方に光検出手段を配置した
ときに検出される光は、スペーサ7に起因する散乱光が
支配的となるようにすることができる。
On the other hand, since the angle between the light 5 and the upper surface of the glass substrate 6 is as small as 2 °, the reflected light caused by the wiring pattern formed on the glass substrate 6 can be reduced in a component reflected upward. The scattered light caused by the spacer 7 can be dominant in the light detected when the light detecting means is disposed above.

【0028】4方向からの光5は、上方から見てゲート
ライン11およびソースライン12のいずれの直線部分
に対しても約45°回転させた方向から照射されている
ため、ゲートライン11、ソースライン12、TFT素
子13などの直線部分に光が略垂直に照射することはな
く、これらの配線パターンなどのエッジなどからの反射
光で上方に向かう成分は低減できる。
The light 5 from the four directions irradiates the straight line portions of the gate line 11 and the source line 12 from the direction rotated by about 45 ° when viewed from above. Light does not irradiate straight lines such as the line 12 and the TFT element 13 substantially perpendicularly, and the upward component of light reflected from the edges of these wiring patterns can be reduced.

【0029】(実施の形態2) (構成)図4に、本実施の形態における照明装置を示
す。基本的には、実施の形態1で説明したもの(図1,
図3参照)と同じであるが、光供給手段としてのライト
ガイド21から出た光を集光し、ミラー22に導くため
のレンズとして集光レンズ26を備える。集光レンズ2
6はライトガイド21とともに集光レンズホルダ27に
保持されている。
(Embodiment 2) (Structure) FIG. 4 shows a lighting device according to the present embodiment. Basically, those described in the first embodiment (FIG. 1,
3), but includes a condenser lens 26 as a lens for condensing light emitted from a light guide 21 as a light supply unit and guiding the light to a mirror 22. Condensing lens 2
Reference numeral 6 is held by the condenser lens holder 27 together with the light guide 21.

【0030】(作用・効果)このように集光レンズ26
を設けることで、ライトガイド21から供給された光を
効率良くミラー22で反射することができる。また、集
光された光が反射して、光25として測定箇所に向かう
ため、測定箇所の照度を上げることができる。
(Operation and Effect) As described above, the condenser lens 26
Is provided, the light supplied from the light guide 21 can be efficiently reflected by the mirror 22. In addition, since the collected light is reflected and travels to the measurement location as light 25, the illuminance at the measurement location can be increased.

【0031】なお、上記各実施の形態では、ミラー2の
反射面が水平面となす角度は46°とし、反射光が水平
面との間でなす角度が2°となるようにしたが、これら
の組合せは、これら以外の値であってもよい。角度を何
通りか変えて実験を行なったところ、反射光が水平面と
の間でなす角度が3°より大きい場合には、上方に光検
出手段を配置したときに検出される配線パターンからの
反射光は、画像の2値化によってスペーサと配線パター
ンとの分離が困難なほどに多くなったが、3°以下とな
るようにすれば、配線パターンからの反射光は著しく少
なくすることができ、分離が容易となった。よって、反
射光が水平面との間でなす角度は、3°以下であること
が望ましい。
In each of the above embodiments, the angle between the reflecting surface of the mirror 2 and the horizontal plane is 46 °, and the angle between the reflected light and the horizontal plane is 2 °. May be a value other than these. The experiment was conducted by changing the angle several times. When the angle between the reflected light and the horizontal plane was greater than 3 °, the reflection from the wiring pattern detected when the light detection means was placed above The light increased to such an extent that it was difficult to separate the spacer and the wiring pattern due to the binarization of the image. However, if the angle was set to 3 ° or less, the reflected light from the wiring pattern could be significantly reduced. Separation became easy. Therefore, it is desirable that the angle between the reflected light and the horizontal plane is 3 ° or less.

【0032】これは、スペーサは、基板面の上に大きく
突出する形で載っているのに対し、配線パターンは基板
面からの高さがスペーサに比べて低いため、水平に一定
以上近い角度で光を当てたときには、スペーサには光が
当たって散乱するものの、配線パターンに当たる光が著
しく小さくなることによる。
This is because the spacer is mounted so as to protrude greatly above the substrate surface, whereas the wiring pattern is lower than the spacer surface compared to the spacer, so that the wiring pattern is formed at an angle close to a horizontal angle or more. When light is applied, the light impinges on the spacers and is scattered, but the light impinging on the wiring pattern is significantly reduced.

【0033】なお、特開平8−148025号公報に開
示された技術でも、「ほぼ水平方向に」照射する旨の記
載があるが、同公報に開示された照明装置では、光ファ
イバ投光口を基板近くに設ける必要があり、かつ光ファ
イバ投光口の下側のプレートによってリングライト自体
の強度も維持しなければならないという制約から、照射
方向と水平面とのなす角度は、現実には3°より大きな
値となっていた。すなわち、「ほぼ水平方向に」とは、
実質的に3°より大きな角度の中で選択された、比較的
水平方向に近い照射方向にすぎなかった。これに対し
て、本発明は、実験によって、3°以下である場合が、
特に好ましいことを見出し、また一方、上記制約を解消
することによって、実際に3°以下の方向での照射が可
能な照明装置を提供したものである。
The technique disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 8-148,025 also discloses that the light is emitted "almost in the horizontal direction". The angle between the irradiation direction and the horizontal plane must be less than 3 ° because of the restriction that it must be provided near the substrate and that the strength of the ring light itself must be maintained by the plate below the optical fiber light outlet. It was a large value. That is, "almost horizontally"
Substantially only a relatively horizontal illumination direction selected within an angle of greater than 3 °. On the other hand, according to the present invention, when it is 3 ° or less,
The present invention has been found to be particularly preferable, and on the other hand, has provided an illuminating device capable of actually irradiating in a direction of 3 ° or less by eliminating the above-mentioned restriction.

【0034】なお、上記各実施の形態では、上方から見
て、光は、線状パターンの方向から約45°回転させた
方向の、直交する4方向から照射されるように、構成し
たが、この回転角度は約45°に限られるものでなく、
線状パターンのいずれの直線部分に対しても略垂直でな
い方向であれば、上から見たときの線状パターンに対す
る角度に関しては、他の角度からの照射であってもよ
い。また、直交する4方向からの照射であることは、測
定箇所の照度を上げ、スペーサにおける散乱の向きのバ
ランスを整え、スペーサからの散乱光を増すためには特
に好ましいが、必須ではなく、少なくとも2方向からの
照射であってもよい。
In each of the above embodiments, when viewed from above, the light is emitted from four orthogonal directions which are rotated by about 45 ° from the direction of the linear pattern. This rotation angle is not limited to about 45 °,
As long as it is a direction that is not substantially perpendicular to any linear portion of the linear pattern, the angle with respect to the linear pattern when viewed from above may be irradiation from another angle. In addition, the irradiation from four orthogonal directions is particularly preferable in order to increase the illuminance of the measurement location, adjust the balance of the scattering direction in the spacer, and increase the scattered light from the spacer, but it is not essential, but at least Irradiation from two directions may be used.

【0035】(実施の形態3) (構成)図5に、本実施の形態における粒状体検出装置
を示す。この粒状体検出装置は、基板上面の所望の検出
位置に存在する粒状体の検出を行なうためのものであっ
て、照明手段として、実施の形態1または2に述べた照
明装置32を備える。さらに、この粒状体検出装置は、
照明装置32で照射した所望の測定箇所からの反射光を
検出する光検出手段として、CCDカメラ34を備え
る。さらに、この粒状体検出装置は、CCDカメラ34
で検出した結果から、粒状体に起因する情報を分離抽出
する抽出手段として、画像処理装置35を備える。
(Embodiment 3) (Structure) FIG. 5 shows a granular object detecting apparatus according to the present embodiment. This granular material detection device is for detecting a granular material present at a desired detection position on the upper surface of a substrate, and includes the illumination device 32 described in Embodiment 1 or 2 as illumination means. Furthermore, this granular object detection device
A CCD camera 34 is provided as light detection means for detecting reflected light from a desired measurement location irradiated by the illumination device 32. Further, the granular object detecting device is provided with a CCD camera 34.
An image processing device 35 is provided as an extracting unit for separating and extracting information derived from the granular material from the result detected in step (1).

【0036】照明装置32のライトガイド31は、光源
装置33から光の供給を受けている。ライトガイド31
が、複数ある場合であっても接続を分岐させることで1
台の光源装置33でまかなうことができる。光源装置3
3は、たとえばハロゲンランプを用いることができる
が、これに限られず、同様の光を発するものであればよ
い。照明装置32は、スペーサ7の散布されたガラス基
板6を移動させても接触しないように一定のクリアラン
スだけガラス基板6から浮かせて保持されている。
The light guide 31 of the lighting device 32 receives light from a light source device 33. Light guide 31
However, even if there are a plurality of nodes,
It can be covered by the light source device 33. Light source device 3
For 3, a halogen lamp can be used, for example, but not limited thereto, and any lamp that emits similar light may be used. The illuminating device 32 is held floating above the glass substrate 6 by a certain clearance so that the illuminating device 32 does not come into contact with the glass substrate 6 on which the spacers 7 are scattered.

【0037】(作用・効果)スペーサの検出は、以下に
述べる手順で行なわれる。スペーサ7が散布されたガラ
ス基板6の所望の測定箇所がCCDカメラ34の真下に
来るように、ガラス基板6を移動させる。照明装置32
によって測定箇所に対する照射を行なう。
(Operation / Effect) The detection of the spacer is performed in the following procedure. The glass substrate 6 is moved so that a desired measurement position of the glass substrate 6 on which the spacers 7 are scattered is directly below the CCD camera 34. Lighting device 32
Is applied to the measurement location.

【0038】照明装置32からの照射光は、配線パター
ンに対して、実施の形態1で述べたような直交する4方
向から、ガラス基板6上面(水平面)となす角度が2°
となるような照射方向で、照射される。その結果、実施
の形態1で述べたように、照射された光は、スペーサ7
に当たって散乱するものの、配線パターンなどのエッジ
などからの反射光で上方のCCDカメラ34に向かって
反射する成分は低減することができる。すなわち、CC
Dカメラ34に検出される光としては、スペーサ7から
の散乱光が支配的となる。したがって、CCDカメラ3
4で取込んだ画像を画像処理装置35で処理する際に
は、スペーサ7の像と背景の像とのコントラストが大き
くなっており、2値化してスペーサ7に起因するものと
背景に起因するものとを分離することが容易となる。そ
の結果、スペーサの検出精度が上がり、スペーサの計数
や分布把握を高精度に行なうことができるようになる。
The irradiation light from the illumination device 32 makes an angle of 2 ° with the upper surface (horizontal plane) of the glass substrate 6 from the four orthogonal directions as described in the first embodiment with respect to the wiring pattern.
Irradiation is performed in such an irradiation direction as follows. As a result, as described in Embodiment 1, the irradiated light is applied to the spacer 7.
However, components reflected toward the upper CCD camera 34 by reflected light from edges of a wiring pattern or the like can be reduced. That is, CC
As light detected by the D camera 34, scattered light from the spacer 7 becomes dominant. Therefore, the CCD camera 3
When the image captured in step 4 is processed by the image processing device 35, the contrast between the image of the spacer 7 and the background image is large, and the image is binarized and is caused by the spacer 7 and the background. It is easy to separate them. As a result, the detection accuracy of the spacer is increased, and the counting and distribution of the spacer can be performed with high accuracy.

【0039】なお、上記各実施の形態では、スペーサを
検出対象としてきたが、スペーサの凝集を検出対象とし
てもよく、ガラス基板上のごみやほこりなどの異物を検
出対象としてもよい。すなわち、スペーサ以外の粒状体
の検出に用いることもできる。
In each of the above embodiments, the spacer is detected, but the aggregation of the spacer may be detected, or a foreign substance such as dust or dust on the glass substrate may be detected. That is, it can be used for detection of a granular material other than the spacer.

【0040】なお、今回開示した上記実施の形態はすべ
ての点で例示であって制限的なものではない。本発明の
範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって
示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内での
すべての変更を含むものである。
The above-described embodiment disclosed herein is illustrative in all aspects and is not restrictive. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, rather than the description above, and includes any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

【0041】[0041]

【発明の効果】本発明によれば、光をミラーで反射する
ことによって、基板上面となす角度が3°以下となるよ
うな照射方向で、光を照射するため、線状パターンから
上方への反射光を低減することができる。そのため、上
方に設けた光検出手段で検出した画像は、粒状体の像と
背景の像とのコントラストが大きくなる。したがって、
2値化して粒状体に起因するものと背景に起因するもの
とを分離することが容易となる。
According to the present invention, since the light is reflected by the mirror to irradiate the light in the irradiation direction in which the angle formed with the upper surface of the substrate is 3 ° or less, the light is reflected upward from the linear pattern. The reflected light can be reduced. Therefore, in the image detected by the light detecting means provided above, the contrast between the image of the granular material and the image of the background increases. Therefore,
It is easy to binarize and separate the one caused by the granular material from the one caused by the background.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明に基づく実施の形態1における照明装
置の断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view of a lighting device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 本発明に基づく実施の形態1における光路に
ついての説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram of an optical path according to the first embodiment based on the present invention.

【図3】 本発明に基づく実施の形態1における照明装
置の平面図である。
FIG. 3 is a plan view of the lighting device according to the first embodiment based on the present invention.

【図4】 本発明に基づく実施の形態2における照明装
置の断面図である。
FIG. 4 is a sectional view of a lighting device according to a second embodiment of the present invention.

【図5】 本発明に基づく実施の形態3における粒状体
検出装置の側面図である。
FIG. 5 is a side view of a granular object detection device according to a third embodiment of the present invention.

【図6】 従来技術に基づく照明装置の斜視図である。FIG. 6 is a perspective view of a lighting device according to the related art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,21,31 ライトガイド、2,22 ミラー、
3,23 ホルダ、4,24 溝、5,25 光、6
ガラス基板、7 スペーサ、11 ゲートライン、12
ソースライン、13 TFT素子、14 透明電極、
26 集光レンズ、27 集光レンズホルダ、32 照
明装置、33 光源装置、34 CCDカメラ、35
画像処理装置、41 リングライト、42 光ファイバ
投光口、43 プレート。
1,21,31 light guide, 2,22 mirror,
3,23 holder, 4,24 groove, 5,25 light, 6
Glass substrate, 7 spacer, 11 gate line, 12
Source line, 13 TFT element, 14 transparent electrode,
26 condenser lens, 27 condenser lens holder, 32 illumination device, 33 light source device, 34 CCD camera, 35
Image processing device, 41 ring light, 42 optical fiber light emitting port, 43 plate.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 上面に直交して設けられたマトリックス
状の線状パターンを有する基板上面の所望の検出位置に
存在する粒状体の検出を行なうために、前記所望の検出
位置に対して、上方から見て前記線状パターンのいずれ
の直線部分に対しても略垂直でない少なくとも2方向で
あって、基板上面となす角度が3°以下となるような照
射方向で、光を照射する、照明装置。
1. A method for detecting a granular material present at a desired detection position on a top surface of a substrate having a matrix-shaped linear pattern provided orthogonally to the top surface, with respect to the desired detection position. An illumination device that irradiates light in at least two directions that are not substantially perpendicular to any straight line portion of the linear pattern as viewed from above, and in an irradiation direction such that an angle formed with the upper surface of the substrate is 3 ° or less. .
【請求項2】 光供給手段と、前記光供給手段からの光
を前記照射方向に反射するように保持されたミラーとを
備えた、請求項1に記載の照明装置。
2. The lighting device according to claim 1, further comprising a light supply unit, and a mirror held so as to reflect light from the light supply unit in the irradiation direction.
【請求項3】 前記光供給手段および前記ミラーを保持
し、下面を有するホルダを備え、前記下面には、前記照
射方向に進行する光を妨げないように凹部が設けられて
いる、請求項2に記載の照明装置。
3. A holder for holding the light supply means and the mirror and having a lower surface, wherein the lower surface is provided with a concave portion so as not to hinder light traveling in the irradiation direction. The lighting device according to claim 1.
【請求項4】 前記光供給手段から出た光を集光し、前
記ミラーに導くレンズを備える、請求項2または3に記
載の照明装置。
4. The lighting device according to claim 2, further comprising a lens that collects light emitted from the light supply unit and guides the light to the mirror.
【請求項5】 請求項1から4に記載の照明装置を含む
照明手段と、前記照明手段で照射した前記所望の測定箇
所からの反射光を検出する光検出手段と、前記光検出手
段で検出した結果から、前記粒状体に起因する情報を分
離抽出する抽出手段とを備えた、粒状体検出装置。
5. An illuminating device including the illuminating device according to claim 1, a light detecting device for detecting reflected light from the desired measurement location irradiated by the illuminating device, and a detecting device for detecting the reflected light. An extraction unit for separating and extracting information resulting from the granular material based on the result obtained.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011013081A (en) * 2009-07-01 2011-01-20 Atom Kosan Kk Luminaire for fine dust observation

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