JP2001117112A - Liquid crystal panel and manufacturing method thereof - Google Patents
Liquid crystal panel and manufacturing method thereofInfo
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 スクライブ工程後も静電気による素子の破壊
及び特性の変化を防止できる液晶パネル及びその製造方
法を提供する。
【解決手段】 外部回路に接続する端子112a,11
2bと基板縁部との間の領域に、金属からなる低抵抗パ
ッド145を形成し、これらの低抵抗パッド145の間
をアモルファスシリコンからなる高抵抗パッド132で
電気的に接続する。これらの低抵抗パッド145及び高
抵抗パッド132は、スクライブ工程後もパネルに残
る。ハンドリング時に発生した静電気は、これらの低抵
抗パッド145及び高抵抗パッド132により分散され
る。
(57) Abstract: Provided is a liquid crystal panel and a method for manufacturing the same, which can prevent destruction of elements and changes in characteristics due to static electricity even after a scribe process. SOLUTION: Terminals 112a and 11 connected to an external circuit.
A low resistance pad 145 made of metal is formed in a region between 2b and the edge of the substrate, and these low resistance pads 145 are electrically connected by a high resistance pad 132 made of amorphous silicon. These low resistance pads 145 and high resistance pads 132 remain on the panel even after the scribe process. Static electricity generated during handling is distributed by the low-resistance pad 145 and the high-resistance pad 132.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、スクライブ工程後
も静電気による素子の破壊を防止する機能を備えた液晶
パネル及びその製造方法に関する。[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a liquid crystal panel having a function of preventing destruction of elements due to static electricity even after a scribe process, and a method of manufacturing the same.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、液晶パネルは、携帯型コンピュー
タのディスプレイだけでなく、ディスクトップ型コンピ
ュータのディスプレイやテレビ、及び携帯端末のディス
プレイなど、種々の電子機器に使用されるようになっ
た。一般的な液晶パネルでは、2枚の透明基板の間に液
晶を封入した構造を有している。それらの透明基板の相
互に対向する2つの面のうち、一方の面側には対向電
極、カラーフィルタ及び配向膜等が形成され、他方の面
側にはTFT(Thin Film Transistor:薄膜トランジス
タ)、画素電極及び配向膜等が形成されている。また、
各透明基板の対向面と反対側の面には、それぞれ偏光板
が貼り付けられている。これらの2枚の偏光板は、例え
ば偏光軸が互いに直交するように配置されており、画素
電極と対向電極との間に電圧をかけない状態では光が透
過して明表示となり、電圧を印加した状態では遮光して
暗表示となる。また、2枚の偏光板の偏光軸を互いに平
行に配置した場合は、画素電極と対向電極との間に電圧
をかけない状態では暗表示となり、電圧を印加した状態
では明表示となる。以下、TFT及び画素電極が形成さ
れた基板をTFT基板と呼び、カラーフィルタ及び対向
電極が形成された基板を対向基板と呼ぶ。2. Description of the Related Art In recent years, liquid crystal panels have been used not only in displays of portable computers but also in various electronic devices such as displays of desktop computers, televisions, and displays of portable terminals. A general liquid crystal panel has a structure in which liquid crystal is sealed between two transparent substrates. Of the two surfaces of the transparent substrate facing each other, a counter electrode, a color filter, an alignment film, and the like are formed on one surface side, and a TFT (Thin Film Transistor) and a pixel are formed on the other surface side. An electrode, an alignment film, and the like are formed. Also,
A polarizing plate is attached to a surface of the transparent substrate opposite to the opposite surface. These two polarizing plates are arranged, for example, so that the polarization axes are orthogonal to each other. When no voltage is applied between the pixel electrode and the counter electrode, light is transmitted and a bright display is performed, and a voltage is applied. In this state, light is shielded and dark display is performed. When the polarization axes of the two polarizing plates are arranged in parallel to each other, dark display is performed when no voltage is applied between the pixel electrode and the counter electrode, and bright display is performed when a voltage is applied. Hereinafter, the substrate on which the TFT and the pixel electrode are formed is called a TFT substrate, and the substrate on which the color filter and the counter electrode are formed is called a counter substrate.
【0003】図20は従来の液晶パネルのTFT基板を
示す平面図である。但し、この図20では、各画素毎に
形成されているTFT及び画素電極の図示を省略してい
る。また、図中一点鎖線はTFT基板に接合される対向
基板のエッジの位置を示し、二点鎖線はスクライブライ
ンを示している。ガラス基板50上には複数本のゲート
バスライン511及び複数本のドレインバスライン54
1が形成されている。各ゲートバスライン511は相互
に平行に配置されており、各ドレインバスライン541
はゲートバスライン511に直角に交差するように配置
されている。FIG. 20 is a plan view showing a TFT substrate of a conventional liquid crystal panel. However, in FIG. 20, illustration of TFTs and pixel electrodes formed for each pixel is omitted. Also, in the figure, the one-dot chain line indicates the position of the edge of the counter substrate joined to the TFT substrate, and the two-dot chain line indicates a scribe line. On the glass substrate 50, a plurality of gate bus lines 511 and a plurality of drain bus lines 54
1 is formed. Each gate bus line 511 is arranged in parallel with each other, and each drain bus line 541
Are arranged so as to intersect the gate bus line 511 at right angles.
【0004】ガラス基板50の縁部(この例では左側縁
部及び下側縁部)には外部の駆動制御回路と接続するた
めのTAB端子512a,512bが設けられている。
ゲートバスライン511の端部はTAB端子512aに
接続され、ドレインバスライン541の端部はつなぎ換
え部563を介してTAB端子512bに電気的に接続
されている。TAB端子512a,512bとガラス基
板50の縁部との間の領域には共通配線514a,51
4bが形成されており、各TAB端子512a,512
bは接続配線513a,513bを介して共通配線51
4a,514bに接続されている。なお、図20中の符
号515は対向基板側に設けられた対向電極と接続され
るコモンパッド(端子)である。[0004] TAB terminals 512a and 512b for connection to an external drive control circuit are provided at the edges (in this example, the left edge and the lower edge) of the glass substrate 50.
An end of the gate bus line 511 is connected to a TAB terminal 512a, and an end of the drain bus line 541 is electrically connected to a TAB terminal 512b via a reconnection portion 563. In the region between the TAB terminals 512 a, 512 b and the edge of the glass substrate 50, common wirings 514 a, 51
4b are formed, and each TAB terminal 512a, 512b is formed.
b is the common wiring 51 via the connection wirings 513a and 513b.
4a and 514b. Reference numeral 515 in FIG. 20 denotes a common pad (terminal) connected to a counter electrode provided on the counter substrate side.
【0005】以下、従来の液晶パネルの製造方法につい
て説明する。まず、TFT基板の製造方法について説明
する。スパッタ法により、ガラス基板50の上にクロム
(Cr)膜を形成する。そして、フォトリソグラフィ法
によりクロム膜をパターニングして、ゲートバスライン
511、TAB端子512a,512b、接続配線51
3a,513b及び共通配線514a,514bを形成
する。Hereinafter, a conventional method for manufacturing a liquid crystal panel will be described. First, a method for manufacturing a TFT substrate will be described. A chromium (Cr) film is formed on the glass substrate 50 by a sputtering method. Then, the chromium film is patterned by the photolithography method, and the gate bus line 511, the TAB terminals 512a and 512b, the connection wiring 51 are formed.
3a and 513b and common wirings 514a and 514b are formed.
【0006】その後、プラズマCVD法により、ガラス
基板50の上側全面に、ゲート絶縁膜となる第1のシリ
コン窒化膜(SiNx )、TFTの活性層となるα−S
i(アモルファスシリコン)膜及びチャネル保護膜とな
る第2のシリコン窒化膜を連続的に形成する。次に、第
2のシリコン窒化膜を選択的にエッチングして、TFT
のチャネル領域の上にのみ第2のシリコン窒化膜を残
し、チャネル保護膜とする。Thereafter, a first silicon nitride film (SiNx) serving as a gate insulating film and α-S serving as an active layer of the TFT are formed on the entire upper surface of the glass substrate 50 by a plasma CVD method.
An i (amorphous silicon) film and a second silicon nitride film serving as a channel protection film are continuously formed. Next, the second silicon nitride film is selectively etched to form a TFT.
The second silicon nitride film is left only on the channel region of FIG.
【0007】次に、ガラス基板50の上側全面にオーミ
ックコンタクト層となるn+ 型α−Si膜を形成し、そ
の上にTi(チタン)、Al(アルミニウム)及びTi
の3層構造の導電膜を形成する。そして、これらのα−
Si膜及び導電膜をパターニングして、ドレインバスラ
イン541、TFTのソース電極及びドレイン電極を形
成する。Next, an n + -type α-Si film serving as an ohmic contact layer is formed on the entire upper surface of the glass substrate 50, and Ti (titanium), Al (aluminum), and Ti
Is formed. And these α-
By patterning the Si film and the conductive film, a drain bus line 541 and a source electrode and a drain electrode of the TFT are formed.
【0008】次に、プラズマCVD法により、ガラス基
板50の上側全面に、保護膜として第3のシリコン窒化
膜を形成する。そして、この第3のシリコン窒化膜のソ
ース電極に整合する位置及びつなぎ変え部563に整合
する位置にコンタクト孔を形成するとともに、TAB端
子512a,512bが露出する開口部を形成する。次
いで、ガラス基板50の上側全面にITO(indium-tin
oxide:インジウム酸化スズ)膜を形成し、そのITO
膜をパターニングして、TAB端子512a,512b
の上を覆うITOカバー膜(図示せず)と、つなぎ換え
部563と、画素電極とを形成する。その後、ガラス基
板50の上側全面に配向膜を形成する。これにより、T
FT基板が完成する。Next, a third silicon nitride film is formed as a protective film over the entire upper surface of the glass substrate 50 by a plasma CVD method. Then, a contact hole is formed at a position matching the source electrode of the third silicon nitride film and a position matching the reconnection portion 563, and an opening for exposing the TAB terminals 512a and 512b is formed. Next, ITO (indium-tin) is formed on the entire upper surface of the glass substrate 50.
oxide (indium tin oxide) film is formed and its ITO
Pattern the film to form TAB terminals 512a, 512b.
An ITO cover film (not shown) covering the top, a reconnection portion 563, and a pixel electrode are formed. After that, an alignment film is formed on the entire upper surface of the glass substrate 50. This gives T
The FT substrate is completed.
【0009】以下、対向基板の製造方法について説明す
る。まず、スパッタ法により、ガラス基板上にクロム膜
を形成する。そして、フォトリソグラフィ法によりクロ
ム膜をパターニングして、ブラックマトリクスを形成す
る。その後、各画素毎に赤(R)、緑(G)又は青
(B)のいずれかの色のカラーフィルタを形成する。Hereinafter, a method for manufacturing the counter substrate will be described. First, a chromium film is formed on a glass substrate by a sputtering method. Then, the chromium film is patterned by photolithography to form a black matrix. Thereafter, a color filter of any one of red (R), green (G), and blue (B) is formed for each pixel.
【0010】次いで、ガラス基板の上側全面にITO膜
を形成し、対向電極とする。その後、対向電極の上に配
向膜を形成する。これにより、対向基板が完成する。こ
のようにして形成したTFT基板と対向基板とを接合す
る。例えば、対向基板の縁部に沿ってシール材を塗布
し、TFT基板の上にスペーサを散布して、TFT基板
の上に対向基板を重ね合わせ、両者を接合する。このと
き、後工程でTFT基板と対向基板との間に液晶を注入
するために、TFT基板と対向基板との間の空間と外部
空間とをつなぐ液晶注入口を設けておく。また、TFT
基板側のコモンパッド515と対向基板側の対向電極と
を導電スペーサにより電気的に接続する。Next, an ITO film is formed on the entire upper surface of the glass substrate to serve as a counter electrode. After that, an alignment film is formed on the counter electrode. Thereby, the counter substrate is completed. The TFT substrate thus formed and the opposing substrate are joined. For example, a sealing material is applied along the edge of the counter substrate, spacers are scattered on the TFT substrate, the counter substrate is overlapped on the TFT substrate, and the two are joined. At this time, in order to inject liquid crystal between the TFT substrate and the opposing substrate in a later step, a liquid crystal injection port for connecting a space between the TFT substrate and the opposing substrate with an external space is provided. Also, TFT
The common pad 515 on the substrate side and the counter electrode on the counter substrate side are electrically connected by a conductive spacer.
【0011】次に、図20中に二点鎖線で示す位置でT
FT基板を切断し、共通配線514a,514bを取り
除く。その後、TFT基板と対向基板との間に液晶を注
入し、液晶注入口を樹脂で封止する。これにより、液晶
パネルが完成する。上述した液晶パネルの製造工程にお
いて、ハンドリングの際に静電気が発生して表示領域内
のTFT等の素子が破壊されたり、特性が変化するおそ
れがある。これを防止するために、上述したようにガラ
ス基板50の縁部に沿って共通配線514a,514b
を形成し、各TAB端子512a,512bと共通配線
514a,514bとを電気的に接続している。これに
より、例えば製造途中でTAB端子512a,512b
の1つに静電気が印加された場合に、静電気は共通配線
514a,51bを介して各TAB端子512a,51
2bに分散され、素子の破壊や特性の変化を回避するこ
とができる。Next, at the position shown by the two-dot chain line in FIG.
The FT substrate is cut, and the common wirings 514a and 514b are removed. Thereafter, liquid crystal is injected between the TFT substrate and the counter substrate, and the liquid crystal injection port is sealed with resin. Thereby, the liquid crystal panel is completed. In the above-described liquid crystal panel manufacturing process, static electricity may be generated during handling, and elements such as TFTs in the display area may be damaged or characteristics may be changed. In order to prevent this, the common wirings 514a and 514b are formed along the edge of the glass substrate 50 as described above.
Are formed, and the TAB terminals 512a and 512b are electrically connected to the common wires 514a and 514b. Thereby, for example, the TAB terminals 512a, 512b
Is applied to one of the TAB terminals 512a, 51b via the common wires 514a, 51b.
2b, so that destruction of the element and changes in characteristics can be avoided.
【0012】[0012]
【発明が解決しようとする課題】上述したように従来の
液晶パネルの製造工程においは、TAB端子512a,
512bを共通配線514a,514bに接続し、製造
途中で発生する静電気による素子の破壊や特性の変化を
防止している。しかしながら、TFT基板をスクライブ
した後は、各ゲートバスライン511及びドレインバス
ライン541がフローティング状態となるため、何らか
の原因により発生した静電気(例えばハンドリングの際
に発生した静電気)により素子が破壊されたり、特性が
変化することがある。As described above, in the conventional liquid crystal panel manufacturing process, the TAB terminals 512a,
512b is connected to the common wires 514a and 514b to prevent destruction of the element and change in characteristics due to static electricity generated during manufacturing. However, after the TFT substrate is scribed, the gate bus lines 511 and the drain bus lines 541 are in a floating state. Characteristics may change.
【0013】本発明の目的は、スクライブ工程後も静電
気による素子の破壊及び特性の変化を防止できる液晶パ
ネル及びその製造方法を提供することである。An object of the present invention is to provide a liquid crystal panel and a method of manufacturing the same, which can prevent the destruction of the element and the change in characteristics due to static electricity even after the scribe process.
【0014】[0014]
【課題を解決するための手段】本発明の液晶パネルは、
請求項1に記載し、図1に例示するように、一対の基板
間に液晶を封入してなる液晶パネルにおいて、前記一対
の基板のうちの一方の基板10に形成されて外部回路に
接続される複数の接続端子112a,112bと、前記
一方の基板10の縁部と前記接続端子112a,112
bとの間の領域に前記基板10の縁部に沿って配列され
た導電性の複数の第1のパッド145と、前記第1のパ
ッド145に比して抵抗値が高く、前記第1のパッド1
45間を電気的に接続する第2のパッド132とを有す
ることを特徴とする。The liquid crystal panel of the present invention comprises:
2. A liquid crystal panel according to claim 1, wherein liquid crystal is sealed between a pair of substrates, wherein the liquid crystal panel is formed on one of the substrates and connected to an external circuit. A plurality of connection terminals 112a, 112b, the edge of the one substrate 10 and the connection terminals 112a, 112b.
b, and a plurality of conductive first pads 145 arranged along the edge of the substrate 10 in a region between the first pads 145 and the first pads 145, the first pads 145 having a higher resistance value than the first pads 145; Pad 1
45 and a second pad 132 for electrically connecting between the 45.
【0015】本発明の液晶パネルにおいては、抵抗値が
例えば数十Ω以下の導電性の複数の第1のパッド145
と、これらの第1のパッド145の間を電気的に接続す
る第2のパッド132とが形成されている。これらのパ
ッド145,132は基板10の縁部と接続端子112
a,112bとの間に配置されている。また、第2のパ
ッド132は例えばシリコンにより形成されており、数
kΩ〜数MΩの抵抗値を有している。ハンドリング時に
静電気が発生すると、これらのパッド145,132に
より静電気が分散され、素子の破壊や特性の変化が防止
される。In the liquid crystal panel of the present invention, the plurality of conductive first pads 145 having a resistance value of, for example, several tens Ω or less are provided.
And a second pad 132 for electrically connecting between the first pads 145 are formed. These pads 145 and 132 are connected to the edge of the substrate 10 and the connection terminal 112.
a, 112b. The second pad 132 is formed of, for example, silicon, and has a resistance of several kΩ to several MΩ. When static electricity is generated during handling, the static electricity is dispersed by these pads 145 and 132, and destruction of the element and change in characteristics are prevented.
【0016】また、第2のパッド132は抵抗値が高い
ので、各接続端子112a,112bにそれぞれリード
を接続する際に、リードが第1のパッド145に接触し
ても、リード間に存在する高抵抗の第2のパッド132
により、2つのリード間の電気的短絡の発生が防止され
る。更に、第1のパッド145をドレインバスライン1
41とともに形成し、第2のパッド132をTFTの活
性層とともに形成することにより、製造工程の増加が回
避され、製造コストの増大が防止される。Further, since the second pad 132 has a high resistance value, even when the lead contacts the first pad 145 when the lead is connected to each of the connection terminals 112a and 112b, the second pad 132 exists between the leads. High resistance second pad 132
This prevents the occurrence of an electrical short circuit between the two leads. Further, the first pad 145 is connected to the drain bus line 1
By forming the second pad 132 together with the active layer of the TFT, an increase in the number of manufacturing steps is avoided, and an increase in manufacturing cost is prevented.
【0017】この場合、図6に例示するように、基板1
0の縁部に沿って配線19を形成し、第1のパッド14
5及び第2のパッド132とともに閉ループ回路を構成
してもよい。基板10に印加された静電気は閉ループ回
路に流れ、閉ループ回路内で消滅する。また、図19に
例示するように、第1のパッド145及び第2のパッド
132は、コモンパッド117を介して対向基板の対向
電極(コモン電極)に電気的に接続するようにしてもよ
い。In this case, as shown in FIG.
0 is formed along the edge of the first pad 14.
The fifth and second pads 132 may form a closed loop circuit. The static electricity applied to the substrate 10 flows into the closed loop circuit and disappears in the closed loop circuit. As illustrated in FIG. 19, the first pad 145 and the second pad 132 may be electrically connected to a counter electrode (common electrode) of a counter substrate via a common pad 117.
【0018】[0018]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、添付の図面を参照して説明する。 (第1の実施の形態)図1は本発明の第1の実施の形態
の液晶パネルのTFT基板のスクライブ前の状態を示す
平面図、図2は同じくそのTAB端子部分を示す拡大
図、図3(a)は図2のA−A線による断面図、図3
(b)は図2のB−B線による断面図である。また、図
4は画素領域の1つを示す平面図、図5は図4のC−C
線による断面図である。なお、図1には図4に示したT
FT5及び画素電極16の図示を省略している。また、
図1において、一点鎖線はTFT基板上に接合する対向
基板のエッジの位置を示し、二点鎖線はTFT基板のス
クライブラインを示している。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. (First Embodiment) FIG. 1 is a plan view showing a state before scribing of a TFT substrate of a liquid crystal panel according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an enlarged view showing a TAB terminal portion of the same. 3A is a sectional view taken along line AA in FIG.
FIG. 3B is a sectional view taken along line BB in FIG. 2. FIG. 4 is a plan view showing one of the pixel regions, and FIG.
It is sectional drawing by a line. Note that FIG. 1 shows the T
Illustration of the FT 5 and the pixel electrode 16 is omitted. Also,
In FIG. 1, a dashed line indicates the position of the edge of the opposing substrate joined to the TFT substrate, and a dashed line indicates a scribe line of the TFT substrate.
【0019】液晶パネルは、図5に示すように、対向し
て配置されたTFT基板1及び対向基板2と、それらの
間に封入された液晶3とにより構成されている。TFT
基板1は、ガラス基板10と、このガラス基板10の一
方の面(上面)側に形成されたゲートバスライン111
(図1参照)、ドレインバスライン141、画素電極1
6及び配向膜17等により構成されている。また、対向
基板2は、ガラス基板20と、このガラス基板20の一
方の面(下面)側に形成されたブラックマトリクス2
1、カラーフィルタ22、対向電極23及び配向膜24
等により構成されている。As shown in FIG. 5, the liquid crystal panel is composed of a TFT substrate 1 and a counter substrate 2 arranged to face each other, and a liquid crystal 3 sealed between them. TFT
The substrate 1 includes a glass substrate 10 and a gate bus line 111 formed on one surface (upper surface) of the glass substrate 10.
(See FIG. 1), drain bus line 141, pixel electrode 1
6 and an alignment film 17. The opposite substrate 2 includes a glass substrate 20 and a black matrix 2 formed on one surface (lower surface) of the glass substrate 20.
1, color filter 22, counter electrode 23 and alignment film 24
And the like.
【0020】以下、TFT基板1について更に詳細に説
明する。図1に示すように、ガラス基板10上には複数
本のゲートバスライン111及び複数本のドレインバス
ライン141が形成されている。各ゲートバスライン1
11は相互に平行に配置されており、各ドレインバスラ
イン141はゲートバスライン111に直角に交差する
ように配置されている。これらのゲートバスライン11
1及びドレインバスライン141により区画された複数
の矩形状の領域がそれぞれ画素領域となる。Hereinafter, the TFT substrate 1 will be described in more detail. As shown in FIG. 1, a plurality of gate bus lines 111 and a plurality of drain bus lines 141 are formed on a glass substrate 10. Each gate bus line 1
11 are arranged in parallel with each other, and each drain bus line 141 is arranged so as to intersect the gate bus line 111 at right angles. These gate bus lines 11
A plurality of rectangular regions defined by one and the drain bus line 141 are each a pixel region.
【0021】各画素領域には、図4に示すように、TF
T5と、画素電極16とが形成されている。TFT5
は、ゲートバスライン111の上方に選択的に形成され
たα−Si(アモルファスシリコン)層131と、この
α−Si層131を挟んで形成されたソース電極142
及びドレイン電極143とにより構成される。ソース電
極142は画素電極16に電気的に接続され、ドレイン
電極143はドレインバスライン141に接続されてい
る。As shown in FIG. 4, each pixel area has a TF
T5 and the pixel electrode 16 are formed. TFT5
Is an α-Si (amorphous silicon) layer 131 selectively formed above the gate bus line 111 and a source electrode 142 formed with the α-Si layer 131 interposed therebetween.
And the drain electrode 143. The source electrode 142 is electrically connected to the pixel electrode 16, and the drain electrode 143 is connected to the drain bus line 141.
【0022】この例では、図1に示すように、各ゲート
バスライン111の左端部にそれぞれTAB端子112
aが接続されている。これらのTAB端子112aはガ
ラス基板10の左側縁部に沿って縦方向に並んで配置さ
れている。これらのTAB端子112aとガラス基板1
0の左側縁部との間の領域には共通配線114aが形成
されており、各TAB端子112aはそれぞれ接続配線
113aを介して共通配線114aに接続されている。In this example, as shown in FIG. 1, a TAB terminal 112 is provided at the left end of each gate bus line 111, respectively.
a is connected. These TAB terminals 112a are arranged vertically along the left edge of the glass substrate 10. These TAB terminals 112a and the glass substrate 1
A common line 114a is formed in a region between the left side of the line 0 and the common line 114a, and each TAB terminal 112a is connected to the common line 114a via a connection line 113a.
【0023】また、各ドレインバスライン141の下側
端部はそれぞれつなぎ換え部163に接続されており、
これらのつなぎ換え部163はそれぞれTAB端子11
2bに接続されている。これらのTAB端子112bは
ガラス基板10の下側縁部に沿って横方向に並んで配置
されている。TAB端子112bとガラス基板10の下
側縁部との間の領域には共通配線114bが形成されて
おり、各TAB端子112bは、接続配線113bを介
して共通配線114bに接続されている。この共通配線
114bは共通配線114aと電気的に接続されてい
る。なお、図1中の符号115は、対向基板の対向電極
と電気的に接続されるコモンパッドである。The lower end of each drain bus line 141 is connected to the reconnecting section 163, respectively.
These reconnection portions 163 are connected to the TAB terminals 11 respectively.
2b. These TAB terminals 112b are arranged side by side along the lower edge of the glass substrate 10. A common wiring 114b is formed in a region between the TAB terminal 112b and the lower edge of the glass substrate 10, and each TAB terminal 112b is connected to the common wiring 114b via a connection wiring 113b. The common wiring 114b is electrically connected to the common wiring 114a. Reference numeral 115 in FIG. 1 denotes a common pad that is electrically connected to a counter electrode of a counter substrate.
【0024】図2,図3に示すように、各接続配線11
3a,113bの上には絶縁膜12を介して抵抗値が数
十Ω以下の低抵抗パッド145が形成されている。ま
た、各低抵抗パッド145の間にはそれぞれ抵抗値が1
0kΩ〜10MΩ程度(実用的には数十kΩ〜数MΩ程
度)の高抵抗パッド132が形成されている。図6に示
すように、TAB端子112a,112bが配設された
部分(以下、TAB端子接続部18という)には低抵抗
パッド145と高抵抗パッド132とが交互に配置され
ており(図1参照)、各TAB端子接続部18の間及び
TAB端子接続部18が設けられていないガラス基板1
0の上側縁部及び右側縁部には金属配線19が形成され
ている。すなわち、低抵抗パッド145、高抵抗パッド
132及び金属配線19により、ガラス基板10の縁部
を一周する閉ループ回路が構成されている。As shown in FIG. 2 and FIG.
A low resistance pad 145 having a resistance value of several tens of ohms or less is formed on the insulating layers 12a and 113b. The resistance value between each low resistance pad 145 is 1
A high resistance pad 132 of about 0 kΩ to 10 MΩ (practically, about several tens kΩ to several MΩ) is formed. As shown in FIG. 6, low resistance pads 145 and high resistance pads 132 are alternately arranged in a portion where the TAB terminals 112a and 112b are arranged (hereinafter, referred to as a TAB terminal connection portion 18) (FIG. 1). ), The glass substrate 1 between the TAB terminal connecting portions 18 and without the TAB terminal connecting portion 18.
Metal wires 19 are formed on the upper edge and the right edge of 0. In other words, the low-resistance pad 145, the high-resistance pad 132, and the metal wiring 19 form a closed loop circuit that goes around the edge of the glass substrate 10.
【0025】図3に示すように、TAB端子112a,
112b及び接続配線113a,113bはガラス基板
10上の第1配線層に属するパターンであり、ゲートバ
スライン111及び共通配線114a,114b及び金
属パターン膜116も第1配線層に属している。すなわ
ち、これらのゲートバスライン111、TAB端子11
2a,112b、接続配線113a,113b、共通配
線114a,114b及び金属パターン膜116等は同
一の導電膜をパターニングして形成されたものである。As shown in FIG. 3, TAB terminals 112a,
112b and the connection wirings 113a and 113b are patterns belonging to the first wiring layer on the glass substrate 10, and the gate bus line 111, the common wirings 114a and 114b, and the metal pattern film 116 also belong to the first wiring layer. That is, these gate bus lines 111 and TAB terminals 11
The reference numerals 2a and 112b, the connection wirings 113a and 113b, the common wirings 114a and 114b, the metal pattern film 116, and the like are formed by patterning the same conductive film.
【0026】これらゲートバスライン111及びTAB
端子112a,112bの上には絶縁膜12が形成され
ており、その絶縁膜12の上に高抵抗パッド132と低
抵抗パッド145とが形成されている。低抵抗パッド1
45は第2配線層に属するパターンであり、ドレインバ
スライン141、ソース電極142及びドレイン電極1
43等も第2配線層に属するパターンである。These gate bus lines 111 and TAB
An insulating film 12 is formed on the terminals 112a and 112b, and a high resistance pad 132 and a low resistance pad 145 are formed on the insulating film 12. Low resistance pad 1
Reference numeral 45 denotes a pattern belonging to the second wiring layer, and includes a drain bus line 141, a source electrode 142, and a drain electrode 1.
43 and the like are also patterns belonging to the second wiring layer.
【0027】これらのドレインバスライン141及び低
抵抗パッド145等の上には絶縁膜15が形成されてい
る。画素電極16はこの絶縁膜15上に形成されてい
る。また、絶縁膜15にはTAB端子112a,112
b及び低抵抗パッド145に整合する位置に開口部が設
けられており、この開口部に露出したTAB端子112
a,112b及び低抵抗パッド145の表面上をITO
カバー膜161,162が覆っている。An insulating film 15 is formed on the drain bus line 141, the low resistance pad 145, and the like. The pixel electrode 16 is formed on the insulating film 15. The insulating film 15 has TAB terminals 112a and 112a.
An opening is provided at a position matching with the low resistance pad 145 and the TAB terminal 112 exposed at this opening.
a, 112b and the surface of the low resistance pad 145 are ITO
The cover films 161 and 162 cover.
【0028】図7〜図14は上記のTFT基板の製造方
法を工程順に示す断面図である。なお、図7〜図14に
おいて、(a)はTFT形成部における断面を示し、
(b)はTAB端子形成部における断面を示している。
まず、図7(a),(b)に示すように、スパッタ法に
より、ガラス基板10上にクロム(Cr)膜を150n
mの厚さに成膜し、そのクロム膜をパターニングして、
ゲートバスライン111、TAB端子112a,112
b、接続配線113a,113b共通配線114a,1
14b及び金属パターン膜116などの第1配線層の各
パターンを形成する。このうち、金属パターン膜116
は従来にないパターンであるが、ガラス基板10上の高
抵抗パッド132を形成すべき領域に形成する。FIGS. 7 to 14 are sectional views showing a method of manufacturing the above-mentioned TFT substrate in the order of steps. 7A to 14, (a) shows a cross section of a TFT forming portion,
(B) shows a cross section of the TAB terminal formation portion.
First, as shown in FIGS. 7A and 7B, a chromium (Cr) film is formed on a glass substrate 10 by sputtering to a thickness of 150 nm.
m, and pattern the chrome film.
Gate bus line 111, TAB terminals 112a, 112
b, connection wiring 113a, 113b common wiring 114a, 1
Each pattern of the first wiring layer such as 14b and the metal pattern film 116 is formed. Among them, the metal pattern film 116
Is a pattern that does not exist in the related art, but is formed in a region on the glass substrate 10 where the high resistance pad 132 is to be formed.
【0029】その後、図8(a),(b)に示すよう
に、プラズマCVD法により、ガラス基板10の上側全
面に、TFT5のゲート絶縁膜となる絶縁膜12、TF
Tの活性層となるα−Si膜131及びチャネル保護膜
となる絶縁膜135を連続的に成膜する。この場合に、
例えば絶縁膜12,135はいずれもシリコン窒化物
(SiNx )により形成し、絶縁膜12の厚さは400
nm、絶縁膜135の厚さは120nmとする。また、
α−Si膜131の厚さは30nmとする。Then, as shown in FIGS. 8A and 8B, the insulating film 12 serving as the gate insulating film of the TFT 5 and the TF are formed on the entire upper surface of the glass substrate 10 by the plasma CVD method.
An α-Si film 131 serving as an active layer of T and an insulating film 135 serving as a channel protective film are continuously formed. In this case,
For example, the insulating films 12 and 135 are both formed of silicon nitride (SiNx), and the thickness of the insulating film 12 is 400
nm, and the thickness of the insulating film 135 is 120 nm. Also,
The thickness of the α-Si film 131 is 30 nm.
【0030】次に、絶縁膜135上に感光性レジスト
(図示せず)を塗布し、ガラス基板10の裏面側から露
光(背面露光)し、更にフォトマスクを使用してガラス
基板10の表面側から露光した後、現像処理を施す。こ
れにより、ゲートバスライン111の上方の所定の位置
にレジストを残存させる。そして、このレジストをエッ
チングマスクとして絶縁膜135をエッチングする。こ
れにより、図9(a),(b)に示すように、チャネル
保護膜136がα−Si膜131上の所定の位置に形成
される。その後、レジストを除去し、表面の自然酸化膜
を除去するために希フッ酸で10秒間程度エッチングす
る。Next, a photosensitive resist (not shown) is applied on the insulating film 135, and is exposed from the back side of the glass substrate 10 (back side exposure). , And then subjected to development processing. Thereby, the resist is left at a predetermined position above the gate bus line 111. Then, the insulating film 135 is etched using the resist as an etching mask. Thus, as shown in FIGS. 9A and 9B, the channel protective film 136 is formed at a predetermined position on the α-Si film 131. Thereafter, the resist is removed, and etching is performed for about 10 seconds with dilute hydrofluoric acid in order to remove the natural oxide film on the surface.
【0031】次に、図10(a),(b)に示すよう
に、ガラス基板10の上側全面に、オーミックコンタク
ト層となるn+ 型α−Si膜133を28nmの厚さに
形成し、その上にTi(20nm)/Al(75nm)
/Ti(80nm)の3層構造からなる導電膜14を形
成する。そして、導電膜14上に所定のパターンでレジ
スト膜(図示せず)を形成し、そのレジスト膜をエッチ
ングマスクとして導電膜14及びα−Si膜133,1
31をエッチングする。これにより、図11(a)に示
すように、TFT5が完成するとともに、高抵抗パッド
132が形成される。また、このとき同時に、第2配線
層の他のパターン、すなわちデータバスライン141、
低抵抗パッド145及び金属配線19などが形成され
る。Next, as shown in FIGS. 10A and 10B, an n + type α-Si film 133 serving as an ohmic contact layer is formed on the entire upper surface of the glass substrate 10 to a thickness of 28 nm. On top of that, Ti (20 nm) / Al (75 nm)
A conductive film 14 having a three-layer structure of / Ti (80 nm) is formed. Then, a resist film (not shown) is formed in a predetermined pattern on the conductive film 14, and the conductive film 14 and the α-Si films 133, 1 are formed using the resist film as an etching mask.
31 is etched. Thereby, as shown in FIG. 11A, the TFT 5 is completed and the high-resistance pad 132 is formed. At the same time, another pattern of the second wiring layer, that is, the data bus line 141,
The low resistance pad 145 and the metal wiring 19 are formed.
【0032】次に、図12(a),(b)に示すよう
に、プラズマCVD法によりガラス基板10の上側全面
に、保護膜として窒化シリコンからなる絶縁膜15を3
30nmの厚さに形成する。そして、図13(a),
(b)に示すように、絶縁膜15のソース電極142に
整合する位置及びつなぎ変え部163を形成する位置に
コンタクト孔を形成するとともに、TAB端子112
a,112bが露出する開口部及び低抵抗パッド145
が露出する開口部を形成する。Next, as shown in FIGS. 12A and 12B, an insulating film 15 made of silicon nitride is formed as a protective film on the entire upper surface of the glass substrate 10 by a plasma CVD method.
It is formed to a thickness of 30 nm. Then, FIG.
As shown in FIG. 2B, a contact hole is formed at a position where the insulating film 15 matches the source electrode 142 and at a position where the reconnection portion 163 is formed, and the TAB terminal 112 is formed.
a and the low resistance pad 145 that exposes 112b
The opening which exposes is formed.
【0033】次に、図14(a),(b)に示すよう
に、スパッタ法によりガラス基板10の上側全面に厚さ
が70nmのITO膜を成膜し、そのITO膜をフォト
リソグラフィ法によりパターニングして、画素電極16
と、つなぎ換え部163と、TAB端子112a,11
2bの上を覆うITOカバー膜162と、高抵抗パッド
層145の上を覆うITOカバー膜161とを形成す
る。その後、ガラス基板10の上側全面に例えばポリイ
ミドからなる配向膜17を形成する。これにより、TF
T基板の製造が完成する。Next, as shown in FIGS. 14A and 14B, an ITO film having a thickness of 70 nm is formed on the entire upper surface of the glass substrate 10 by a sputtering method, and the ITO film is formed by a photolithography method. By patterning, the pixel electrode 16
, The reconnection unit 163, and the TAB terminals 112a and 112b.
An ITO cover film 162 covering the top of 2b and an ITO cover film 161 covering the high resistance pad layer 145 are formed. Thereafter, an alignment film 17 made of, for example, polyimide is formed on the entire upper surface of the glass substrate 10. Thereby, TF
The manufacture of the T substrate is completed.
【0034】一方、対向基板2は、以下に示すようにし
て形成する。すなわち、ガラス基板20の上側全面にク
ロム膜を形成し、このクロム膜をフォトリソグラフィ法
によりパターニングして、ブラックマトリクス21を形
成する(図5参照)。その後、ガラス基板20上の各画
素領域に、赤(R)、緑(G)又は青(B)のいずれか
1色のカラーフィルタ22を形成する。On the other hand, the counter substrate 2 is formed as described below. That is, a chromium film is formed on the entire upper surface of the glass substrate 20, and the chromium film is patterned by a photolithography method to form a black matrix 21 (see FIG. 5). Thereafter, a color filter 22 of any one of red (R), green (G), and blue (B) is formed in each pixel region on the glass substrate 20.
【0035】次に、ガラス基板20の上側全面にITO
をスパッタリングして、対向電極23を形成する。その
後、対向電極23の上にポリイミドからなる配向膜24
を形成する。これにより、対向基板2が完成する。この
ようにしてTFT基板1及び対向基板2を形成した後、
TFT基板1と対向基板2とをシール材で貼合わせる。
その後、TFT基板1を図1の二点鎖線で示す位置でス
クライブして共通配線114a,114bを切り離し、
TFT基板1と対向基板2との間に液晶3を注入する。
そして、液晶注入口を樹脂で封止すると、液晶パネルが
完成する。Next, the entire upper surface of the glass substrate 20 is made of ITO.
Is formed to form a counter electrode 23. Thereafter, an alignment film 24 made of polyimide is formed on the counter electrode 23.
To form Thereby, the counter substrate 2 is completed. After forming the TFT substrate 1 and the counter substrate 2 in this manner,
The TFT substrate 1 and the opposing substrate 2 are bonded with a sealing material.
Thereafter, the TFT substrate 1 is scribed at the position shown by the two-dot chain line in FIG. 1 to cut off the common wirings 114a and 114b,
Liquid crystal 3 is injected between the TFT substrate 1 and the opposing substrate 2.
Then, when the liquid crystal injection port is sealed with a resin, a liquid crystal panel is completed.
【0036】本実施の形態の液晶パネルは、ガラス基板
10の縁部に沿って高抵抗パッド132、低抵抗パッド
145及び金属配線19からなる閉ループ回路が形成さ
れている。そして、低抵抗パッド145の上を覆うIT
Oカバー膜171がガラス基板10の縁部の表面上に露
出している。このため、パネルをハンドリングする際に
静電気が発生したとしても、静電気は低抵抗パッド10
に印加され、閉ループ回路を流れて消滅する。これによ
り、TAB端子112a,112bに直接静電気が印加
されることが回避され、表示領域内の素子の破壊や特性
の変化を防止することができる。従って、液晶パネルの
製造歩留まりが向上し、製品コストを低減することがで
きる。In the liquid crystal panel of the present embodiment, a closed loop circuit including the high resistance pad 132, the low resistance pad 145, and the metal wiring 19 is formed along the edge of the glass substrate 10. Then, the IT covering the low resistance pad 145
The O cover film 171 is exposed on the surface of the edge of the glass substrate 10. For this reason, even if static electricity is generated when handling the panel, the static electricity is applied to the low-resistance pad 10.
And disappears by flowing through the closed loop circuit. This avoids applying static electricity directly to the TAB terminals 112a and 112b, thereby preventing destruction of elements in the display area and changes in characteristics. Therefore, the production yield of the liquid crystal panel is improved, and the product cost can be reduced.
【0037】また、本実施の形態においては、上述した
ように、高抵抗パッド132はTFT5の活性層となる
α−Si膜131と同時に形成し、低抵抗パッド145
及び金属配線19はドレインバスライン141と同時に
形成するので、従来に比べて工程数を増加させることな
くこれらの高抵抗パッド132、低抵抗パッド145及
び金属配線19からなる閉ループ回路を形成することが
可能であり、製造コストの上昇が回避される。In the present embodiment, as described above, the high resistance pad 132 is formed simultaneously with the α-Si film 131 serving as the active layer of the TFT 5, and the high resistance pad 145 is formed.
Since the metal wiring 19 is formed at the same time as the drain bus line 141, a closed loop circuit including the high resistance pad 132, the low resistance pad 145, and the metal wiring 19 can be formed without increasing the number of processes as compared with the related art. It is possible, and an increase in manufacturing cost is avoided.
【0038】また、各TAB端子112a,112bと
TABリードとを接続する際にTABリードが低抵抗パ
ッド145に接触することが考えられるが、各低抵抗パ
ッド145の間には抵抗値が数十kΩ〜数MΩの高抵抗
パッド132が存在するため、TABリード間が低抵抗
パッド145を介して短絡(ショート)することはな
く、低抵抗パッド145及び高抵抗パッド132を形成
したことにより障害が発生することはない。When connecting each of the TAB terminals 112a and 112b to the TAB lead, the TAB lead may contact the low-resistance pad 145. Since the high-resistance pad 132 of kΩ to several MΩ is present, a short circuit does not occur between the TAB leads via the low-resistance pad 145, and a failure occurs due to the formation of the low-resistance pad 145 and the high-resistance pad 132. It does not occur.
【0039】(第2の実施の形態)図15は本発明の第
2の実施の形態の液晶パネルのTAB端子及びその近傍
を示す平面図、図16(a)は図15のD−D線による
断面図、図16(b)はTFT基板と対向基板との接合
部における断面図である。なお、図15において、二点
鎖線はTFT基板のスクライブラインを示している。ま
た、本実施の形態が第1の実施の形態と異なる点はスク
ライブラインの位置が異なることにあり、その他の構成
は基本的に第1の実施の形態と同様であるので、重複す
る部分の説明は省略する。更に、図16(b)中の符号
4はTFT基板1と対向基板2とを接合するシール材を
示している。(Second Embodiment) FIG. 15 is a plan view showing a TAB terminal of a liquid crystal panel according to a second embodiment of the present invention and its vicinity, and FIG. 16A is a line DD of FIG. FIG. 16B is a cross-sectional view of a junction between the TFT substrate and the counter substrate. In FIG. 15, a two-dot chain line indicates a scribe line of the TFT substrate. Further, the present embodiment is different from the first embodiment in that the position of the scribe line is different, and the other configuration is basically the same as that of the first embodiment. Description is omitted. Further, reference numeral 4 in FIG. 16B indicates a sealing material for joining the TFT substrate 1 and the counter substrate 2.
【0040】本実施の形態においては、高抵抗パッド1
32及び低抵抗パッド145が共通配線114a,11
4bの近傍に配置されており、これらの高抵抗パッド1
32及び低抵抗パッド145の位置でTFT基板をスク
ライブして共通配線114a,114bを切り離す。従
って、図16(b)に示すように、スクライブ後のTF
T基板1の端面には低抵抗パッド145が露出する。こ
れにより、TFT基板1の端面に印加される静電気が低
抵抗パッド145に印加され、閉ループ回路に分散され
て消滅する。In this embodiment, the high resistance pad 1
32 and the low resistance pad 145 are connected to the common wiring 114a, 11
4b, these high-resistance pads 1
The common wirings 114a and 114b are separated by scribing the TFT substrate at the positions of the low resistance pad 32 and the low resistance pad 145. Therefore, as shown in FIG.
The low-resistance pad 145 is exposed on the end surface of the T substrate 1. As a result, static electricity applied to the end face of the TFT substrate 1 is applied to the low-resistance pad 145, and is dispersed and disappears in the closed loop circuit.
【0041】本実施の形態においては、TFT基板の表
面及び端面に印加された静電気による素子の破壊や特性
の変化を防止することができる。 (第3の実施の形態)図17(a)は本発明の第3の実
施の形態の液晶パネルのTAB端子及びその近傍を示す
平面図、図17(b)は図17(a)のE−E線による
断面図を示す。なお、図17において、図1と同一物に
は同一符号を付している。In this embodiment, it is possible to prevent the destruction of the element and the change in the characteristics due to the static electricity applied to the surface and the end face of the TFT substrate. (Third Embodiment) FIG. 17A is a plan view showing a TAB terminal of a liquid crystal panel according to a third embodiment of the present invention and the vicinity thereof, and FIG. FIG. 4 shows a cross-sectional view taken along line -E. 17, the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals.
【0042】本実施の形態においては、低抵抗パッド1
45の幅がTAB端子112a,112bの幅と同一又
はそれよりも小さく設定されている。本発明において
は、静電気を高抵抗パッド132及び低抵抗パッド14
5を介して分散させることにより素子の破壊や特性の変
化を防止するので、高抵抗パッド132又は低抵抗パッ
ド145の少なくとも一方は基板上に露出していること
が必要である。本実施の形態においては低抵抗パッド1
45を基板上に露出させているが、低抵抗パッド145
の幅を大きくすると、図18(a)に示すように、TA
B端子112a,112bに接続したTABリード26
が隣接する2つの低抵抗パッド145に同時に接続して
短絡不良が発生するおそれがある。In this embodiment, the low resistance pad 1
The width of 45 is set to be equal to or smaller than the width of the TAB terminals 112a and 112b. In the present invention, static electricity is applied to the high resistance pad 132 and the low resistance pad 14.
By dispersing through the element 5, destruction of the element and change in characteristics are prevented, so that at least one of the high resistance pad 132 and the low resistance pad 145 needs to be exposed on the substrate. In the present embodiment, the low-resistance pad 1
45 is exposed on the substrate, but the low-resistance pad 145 is exposed.
Is increased, as shown in FIG.
TAB lead 26 connected to B terminals 112a and 112b
May be simultaneously connected to two adjacent low-resistance pads 145 to cause a short circuit failure.
【0043】本実施の形態のように低抵抗パッド145
の幅をTAB端子112a,112bの幅と同じか、そ
れよりも小さくすることにより、図18(b)に示すよ
うにTAB端子112a,112bとTABリード26
との位置合わせがずれたとしても、TABリード26が
同時に2つの低抵抗パッド145に接触することがな
く、短絡不良を確実に回避できる。As in the present embodiment, the low resistance pad 145 is used.
18B is equal to or smaller than the width of the TAB terminals 112a and 112b, so that the TAB terminals 112a and 112b and the TAB leads 26 as shown in FIG.
Even if the position is shifted, the TAB lead 26 does not come into contact with the two low-resistance pads 145 at the same time, so that a short-circuit failure can be reliably avoided.
【0044】(第4の実施の形態)図19は本発明の第
4の実施の形態の液晶パネルを示す平面図である。な
お,本実施の形態が第1の実施の形態と異なる点は、ガ
ラス基板10の上側縁部及び右側縁部に金属配線が形成
されていないことにあり、その他の基本的な構成は第1
の実施の形態と同様である。(Fourth Embodiment) FIG. 19 is a plan view showing a liquid crystal panel according to a fourth embodiment of the present invention. Note that the present embodiment is different from the first embodiment in that no metal wiring is formed on the upper edge portion and the right edge portion of the glass substrate 10, and the other basic configuration is the same as that of the first embodiment.
This is the same as the embodiment.
【0045】本実施の形態では、前述の第1の実施の形
態とは異なり、ガラス基板10の上側縁部及び右側縁部
には金属配線19を形成していない。TAB端子接続部
18には,図1のように、TAB端子112a,112
bに整合する位置に配置された複数の低抵抗パッド14
5と、各低抵抗パッド145の間を接続する高抵抗パッ
ド132が形成されている。そして、TAB端子接続部
18の間を接続する金属配線19はコモンパッド117
に接続され、このコモンパッド117を介して対向基板
の対向電極と電気的に接続される。In the present embodiment, unlike the first embodiment, the metal wiring 19 is not formed on the upper edge and the right edge of the glass substrate 10. As shown in FIG. 1, TAB terminals 112a, 112a
b, a plurality of low resistance pads 14 arranged at positions matching
5 and high resistance pads 132 connecting between the low resistance pads 145 are formed. The metal wiring 19 connecting between the TAB terminal connecting portions 18 is connected to the common pad 117.
And is electrically connected to the counter electrode of the counter substrate via the common pad 117.
【0046】本実施の形態においては、低抵抗パッド1
45に印加された静電気はコモンパッド117を介して
流れるため、スクライブ工程後も素子の破壊や特性の変
化が防止されるという第1の実施の形態と同様の効果が
得られる。なお、上述の各実施の形態ではいずれもTF
T基板と対向基板とを貼合わせた後、両基板間に液晶を
注入して液晶パネルを形成する方法について説明した
が、TFT基板と対向基板とを貼合わせるときに予め一
方の基板上に液晶を滴下しておいて基板間に液晶を封入
する方法もある。このような方法においても、本発明を
適用することができる。In this embodiment, the low resistance pad 1
Since the static electricity applied to 45 flows through the common pad 117, the same effect as that of the first embodiment is obtained in that the destruction of the element and the change in the characteristics are prevented even after the scribe step. In each of the above embodiments, TF
A method of forming a liquid crystal panel by injecting liquid crystal between the two substrates after bonding the T substrate and the counter substrate has been described. However, when the TFT substrate and the counter substrate are bonded together, There is also a method in which liquid crystal is sealed between substrates by dropping the liquid crystal. The present invention can be applied to such a method.
【0047】[0047]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
基板の縁部と接続端子との間の領域に、基板の縁部に沿
って配置された導電性の複数の第1のパッドと、これら
の第1のパッド間を接続する高抵抗の第2のパッドとが
形成されているので、スクライブ工程後も静電気による
素子の破壊や特性の変化を防止することができる。これ
により、液晶パネルの製造歩留まりが向上するので、製
品コストを低減できるという効果を奏する。As described above, according to the present invention,
In a region between the edge of the substrate and the connection terminal, a plurality of conductive first pads arranged along the edge of the substrate, and a high-resistance second pad connecting between the first pads. Since these pads are formed, it is possible to prevent destruction of the element and change in characteristics due to static electricity even after the scribing step. As a result, the production yield of the liquid crystal panel is improved, so that there is an effect that the product cost can be reduced.
【0048】また、第1のパッドをドレインバスライン
と同時に形成し、第2のパッドをTFTの活性層と同時
に形成することにより、製造工程の増加が回避される。Further, by forming the first pad at the same time as the drain bus line and forming the second pad at the same time as the TFT active layer, an increase in the number of manufacturing steps can be avoided.
【図1】図1は本発明の第1の実施の形態の液晶パネル
のTFT基板のスクライブ前の状態を示す平面図であ
る。FIG. 1 is a plan view showing a state before a scribe of a TFT substrate of a liquid crystal panel according to a first embodiment of the present invention.
【図2】図2は第1の実施の形態の液晶パネルのTAB
端子部分を示す拡大図である。FIG. 2 is a TAB of the liquid crystal panel according to the first embodiment;
It is an enlarged view which shows a terminal part.
【図3】図3(a)は図2のA−A線による断面図、図
3(b)は図2のB−B線による断面図である。3A is a cross-sectional view taken along line AA of FIG. 2, and FIG. 3B is a cross-sectional view taken along line BB of FIG.
【図4】図4は画素領域の1つを示す平面図である。FIG. 4 is a plan view showing one of the pixel regions.
【図5】図5は図4のC−C線による断面図である。FIG. 5 is a sectional view taken along line CC of FIG. 4;
【図6】図6はTAB端子接続部と接続された金属配線
を示す平面図である。FIG. 6 is a plan view showing a metal wiring connected to a TAB terminal connection part.
【図7】図7は第1の実施の形態の液晶パネルの製造方
法を示す断面図(その1)である。FIG. 7 is a sectional view (part 1) illustrating the method for manufacturing the liquid crystal panel of the first embodiment.
【図8】図8は第1の実施の形態の液晶パネルの製造方
法を示す断面図(その2)である。FIG. 8 is a sectional view (part 2) illustrating the method for manufacturing the liquid crystal panel of the first embodiment.
【図9】図9は第1の実施の形態の液晶パネルの製造方
法を示す断面図(その3)である。FIG. 9 is a sectional view (part 3) illustrating the method for manufacturing the liquid crystal panel of the first embodiment.
【図10】図10は第1の実施の形態の液晶パネルの製
造方法を示す断面図(その4)である。FIG. 10 is a sectional view (part 4) illustrating the method for manufacturing the liquid crystal panel of the first embodiment.
【図11】図11は第1の実施の形態の液晶パネルの製
造方法を示す断面図(その5)である。FIG. 11 is a sectional view (part 5) illustrating the method for manufacturing the liquid crystal panel of the first embodiment.
【図12】図12は第1の実施の形態の液晶パネルの製
造方法を示す断面図(その6)である。FIG. 12 is a sectional view (part 6) illustrating the method for manufacturing the liquid crystal panel of the first embodiment.
【図13】図13は第1の実施の形態の液晶パネルの製
造方法を示す断面図(その7)である。FIG. 13 is a sectional view (part 7) illustrating the method for manufacturing the liquid crystal panel of the first embodiment.
【図14】図14は第1の実施の形態の液晶パネルの製
造方法を示す断面図(その8)である。FIG. 14 is a sectional view (part 8) illustrating the method for manufacturing the liquid crystal panel of the first embodiment.
【図15】図15は本発明の第2の実施の形態の液晶パ
ネルのTAB端子及びその近傍を示す平面図である。FIG. 15 is a plan view showing a TAB terminal of a liquid crystal panel according to a second embodiment of the present invention and the vicinity thereof.
【図16】図16(a)は図15のD−D線による断面
図、図16(b)はTFT基板と対向基板との接合部に
おける断面図である。16 (a) is a cross-sectional view taken along line DD of FIG. 15, and FIG. 16 (b) is a cross-sectional view of a junction between a TFT substrate and a counter substrate.
【図17】図17(a)は本発明の第3の実施の形態の
液晶パネルのTAB端子及びその近傍を示す平面図、図
17(b)は図17(a)のE−E線による断面図を示
す。17A is a plan view showing a TAB terminal of a liquid crystal panel according to a third embodiment of the present invention and the vicinity thereof, and FIG. 17B is a view taken along line EE in FIG. 17A. FIG.
【図18】図18(a)は高抵抗パッドの幅がTAB端
子の幅よりも大きいときの問題点を示す図、図18
(b)は高抵抗パッドの幅をTAB端子の幅よりも小さ
くしたときの効果を示す図である。18A is a diagram showing a problem when the width of a high-resistance pad is larger than the width of a TAB terminal; FIG.
(B) is a diagram showing the effect when the width of the high resistance pad is made smaller than the width of the TAB terminal.
【図19】図19は本発明の第4の実施の形態の液晶パ
ネルを示す平面図である。FIG. 19 is a plan view showing a liquid crystal panel according to a fourth embodiment of the present invention.
【図20】図20は従来の液晶パネルのTFT基板を示
す平面図である。FIG. 20 is a plan view showing a TFT substrate of a conventional liquid crystal panel.
1 TFT基板、 2 対向基板、 3 液晶、 10,20,50 ガラス基板、 111,511 ゲートバスライン、 112a,112b,512a,512b TAB端
子、 113a,113b,513a,513b 接続配線、 114a,114b,514a,514b 共通配線、 115,117,515 コモンパッド、 116 金属パターン膜、 12,15,135 絶縁膜、 131 α−Si(アモルファスシリコン)膜、 132 高抵抗パッド、 133 n+ 型α−Si膜、 14 導電膜、 141,541 ドレインバスライン、 142 ソース電極、 143 ドレイン電極、 145 低抵抗パッド、 16 画素電極、 161,162 ITOカバー膜、 17,24 配向膜、 18 TAB端子接続部、 19 金属配線、 21 ブラックマトリクス、 22 カラーフィルタ、 23 対向電極。1 TFT substrate, 2 counter substrate, 3 liquid crystal, 10, 20, 50 glass substrate, 111, 511 gate bus line, 112a, 112b, 512a, 512b TAB terminal, 113a, 113b, 513a, 513b Connection wiring, 114a, 114b, 514a, 514b common wiring, 115, 117, 515 common pad, 116 metal pattern film, 12, 15, 135 insulating film, 131 α-Si (amorphous silicon) film, 132 high resistance pad, 133 n + type α-Si film , 14 conductive film, 141,541 drain bus line, 142 source electrode, 143 drain electrode, 145 low resistance pad, 16 pixel electrode, 161,162 ITO cover film, 17,24 alignment film, 18 TAB terminal connection part, 19 metal Wiring, 21 black matrix, 22 color filter, 23 counter electrode.
フロントページの続き Fターム(参考) 2H092 GA50 GA51 JA26 JA29 JA38 JA42 JA44 JB13 JB23 JB32 JB33 JB38 JB52 JB57 JB63 JB69 JB79 KA05 KA07 KA16 KA18 KB25 MA08 MA14 MA15 MA16 MA18 MA19 MA20 MA27 MA32 MA35 MA37 MA41 NA14 NA25 PA05 PA06 5C094 AA31 AA42 AA43 AA46 AA60 BA03 BA43 CA19 CA24 DA12 DA13 DB01 DB02 DB04 DB05 EA04 EA05 EB02 EC04 ED03 FA01 FB02 FB12 FB14 GB01Continued on front page F-term (reference) 2H092 GA50 GA51 JA26 JA29 JA38 JA42 JA44 JB13 JB23 JB32 JB33 JB38 JB52 JB57 JB63 JB69 JB79 KA05 KA07 KA16 KA18 KB25 MA08 MA14 MA15 MA16 MA18 MA19 MA20 MA27 MA32 MA35 MA41 PA05 AA42 AA43 AA46 AA60 BA03 BA43 CA19 CA24 DA12 DA13 DB01 DB02 DB04 DB05 EA04 EA05 EB02 EC04 ED03 FA01 FB02 FB12 FB14 GB01
Claims (5)
パネルにおいて、 前記一対の基板のうちの一方の基板に形成されて外部回
路に接続される複数の接続端子と、 前記一方の基板の縁部と前記接続端子との間の領域に前
記基板の縁部に沿って配列された導電性の複数の第1の
パッドと、 前記第1のパッドに比して抵抗値が高く、前記第1のパ
ッド間を電気的に接続する第2のパッドとを有すること
を特徴とする液晶パネル。1. A liquid crystal panel having liquid crystal sealed between a pair of substrates, a plurality of connection terminals formed on one of the pair of substrates and connected to an external circuit, and the one substrate. A plurality of conductive first pads arranged along an edge of the substrate in a region between the edge of the connection terminal and the connection terminal; and a resistance value is higher than the first pad, A liquid crystal panel having a first pad and a second pad for electrically connecting between the first pads.
面上に露出し、前記第2のパッドが絶縁膜に覆われてい
ることを特徴とする請求項1に記載の液晶パネル。2. The liquid crystal panel according to claim 1, wherein the first pad is exposed on a surface of the one substrate, and the second pad is covered with an insulating film.
複数の接続端子に整合する位置に配置され、かつ、前記
第1のパッドの幅が前記接続端子の幅と同じ又はそれよ
りも小さいことを特徴とする請求項1に記載の液晶パネ
ル。3. The plurality of first pads are respectively arranged at positions matching the plurality of connection terminals, and the width of the first pads is equal to or smaller than the width of the connection terminals. The liquid crystal panel according to claim 1, wherein:
は、前記一対の基板のうちの他方の基板に設けられた電
極と電気的に接続されていることを特徴とする請求項1
に記載の液晶パネル。4. The device according to claim 1, wherein the first pad and the second pad are electrically connected to an electrode provided on the other of the pair of substrates.
The liquid crystal panel according to 1.
と、 前記第1の導電膜をパターニングして、複数本のゲート
バスラインと、前記基板の第1の縁部に沿って配置され
て前記複数本のゲートバスラインにそれぞれ接続される
複数の第1の接続端子と、前記基板の第2の縁部に沿っ
て配置された複数の第2の接続端子と、少なくとも前記
基板の前記第1の縁部及び前記第2の縁部に配置された
共通配線と、前記第1の接続端子及び前記第2の接続端
子と前記共通配線との間をそれぞれ接続する接続配線と
を形成する工程と、 前記基板の上側全面に第1の絶縁膜を形成する工程と、 前記ゲートバスラインの上方の所定の領域にトランジス
タの活性層となるシリコン膜を形成するとともに、前記
接続配線間の領域上にシリコンからなる高抵抗パッドを
形成する工程と、 前記第1の絶縁膜の上に第2の導電膜を形成する工程
と、 前記第2の導電膜をパターニングして、前記ゲートバス
ラインに交差し、前記複数の第2の接続端子にそれぞれ
接続される複数のドレインバスラインと、前記シリコン
膜の両端部に電気的に接続されるソース電極及びドレイ
ン電極と、前記高抵抗パッドの間を電気的に接続する低
抵抗パッドとを形成する工程と、 前記基板の上側全面に第2の絶縁膜を形成する工程と、 前記第2の絶縁膜に前記ソース電極に到達するコンタク
ト孔、及び前記低抵抗パッドに到達する開口部を形成す
る工程と、 前記第2の絶縁膜上に透明導電体膜を形成し、該透明導
電体膜を所定の形状にパターニングする工程と、 前記基板の前記共通配線が形成された部分を切断して前
記第1の接続端子及び前記第2の接続端子を相互に電気
的に分離する工程とを有することを特徴とする液晶パネ
ルの製造方法。5. A step of forming a first conductive film on a substrate, patterning the first conductive film, and arranging the plurality of gate bus lines along a first edge of the substrate. A plurality of first connection terminals respectively connected to the plurality of gate bus lines; a plurality of second connection terminals arranged along a second edge of the substrate; Forming a common wire disposed on the first edge and the second edge, and a connection wire connecting each of the first connection terminal, the second connection terminal, and the common wire; Forming a first insulating film over the entire upper surface of the substrate; forming a silicon film serving as an active layer of a transistor in a predetermined region above the gate bus line; A high resistance package made of silicon Forming a second conductive film on the first insulating film; patterning the second conductive film to intersect the gate bus line; A plurality of drain bus lines respectively connected to the two connection terminals, a source electrode and a drain electrode electrically connected to both ends of the silicon film, and a low resistance electrically connecting the high resistance pad. A step of forming a pad; a step of forming a second insulating film over the entire upper surface of the substrate; a contact hole reaching the source electrode in the second insulating film; and an opening reaching the low resistance pad. Forming a portion, forming a transparent conductor film on the second insulating film, patterning the transparent conductor film into a predetermined shape, and forming a portion of the substrate on which the common wiring is formed. Cut the first Method of manufacturing a liquid crystal panel; and a step of mutually electrically isolate the connection terminal and the second connecting terminal.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29198199A JP2001117112A (en) | 1999-10-14 | 1999-10-14 | Liquid crystal panel and manufacturing method thereof |
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| JP29198199A JP2001117112A (en) | 1999-10-14 | 1999-10-14 | Liquid crystal panel and manufacturing method thereof |
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-
1999
- 1999-10-14 JP JP29198199A patent/JP2001117112A/en active Pending
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