JP2001113588A - 成形機の温度制御装置及びその温度制御装置に用いる制御系の設計方法 - Google Patents
成形機の温度制御装置及びその温度制御装置に用いる制御系の設計方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 非線形H∞制御理論による制御方法や制御装
置よりも優れた速応性・ロバスト性・安定性を有する成
形機の制御装置における制御系の設計方法を提供する。 【解決手段】 成形する際の諸条件にしたがってモデリ
ングを行い、システム同定によって制御対象のモデリン
グ誤差及び制御系の摂動を測定し、制御系に熱干渉が存
在するか否かを判断し、熱干渉があれば状態フィードバ
ックを導入して相互に熱干渉を生じている部分を非干渉
化させ、前記部分を独立したサブシステムに分割し、前
記制御系に不確かさがあるか否かを判断し、不確かさが
ある場合にはこれを算出し、μ設計外乱オブザーバを用
いてロバスト安定性を補償する方法とした。
置よりも優れた速応性・ロバスト性・安定性を有する成
形機の制御装置における制御系の設計方法を提供する。 【解決手段】 成形する際の諸条件にしたがってモデリ
ングを行い、システム同定によって制御対象のモデリン
グ誤差及び制御系の摂動を測定し、制御系に熱干渉が存
在するか否かを判断し、熱干渉があれば状態フィードバ
ックを導入して相互に熱干渉を生じている部分を非干渉
化させ、前記部分を独立したサブシステムに分割し、前
記制御系に不確かさがあるか否かを判断し、不確かさが
ある場合にはこれを算出し、μ設計外乱オブザーバを用
いてロバスト安定性を補償する方法とした。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、樹脂等の材料を加
熱シリンダにより溶融し、ダイから連続的に押し出し、
又はダイ内に射出して成形品を製造する成形機の温度制
御装置及びその制御系の設計方法に関し、詳しくは、成
形機の各部分の熱干渉や外気温の変化などの外的影響が
あっても内部材料の温度を所望温度に制御することがで
きる成形機の温度制御装置及びその制御系の設計方法に
関する。
熱シリンダにより溶融し、ダイから連続的に押し出し、
又はダイ内に射出して成形品を製造する成形機の温度制
御装置及びその制御系の設計方法に関し、詳しくは、成
形機の各部分の熱干渉や外気温の変化などの外的影響が
あっても内部材料の温度を所望温度に制御することがで
きる成形機の温度制御装置及びその制御系の設計方法に
関する。
【0002】
【従来の技術】加熱シリンダ内で溶融した樹脂や金属な
どの材料をダイに供給し、前記ダイから押し出し又は前
記ダイ内に射出して所望形状の製品を成形する成形装置
が一般に知られている。このような成形装置において
は、前記加熱シリンダから前記ダイに至るまでの工程の
中で、溶融した前記材料の温度を制御する必要が生じる
場合がある。
どの材料をダイに供給し、前記ダイから押し出し又は前
記ダイ内に射出して所望形状の製品を成形する成形装置
が一般に知られている。このような成形装置において
は、前記加熱シリンダから前記ダイに至るまでの工程の
中で、溶融した前記材料の温度を制御する必要が生じる
場合がある。
【0003】例えば、樹脂の押出成形機では、加熱シリ
ンダ内で溶融した樹脂を所望の温度で化学反応させるた
めに、前記加熱シリンダ内の樹脂の温度を制御する必要
がある。図16は、成形機の一例にかかり、溶融樹脂を
押し出して所定形状に成形する押出成形機の構成を説明
するための概略図である。押出成形機1は、樹脂を溶融
する加熱シリンダ10と、所望形状の製品を押し出すた
めの押出口21が形成されたダイ20と、加熱シリンダ
10内の溶融樹脂をダイ20に向けて送り出す押出機構
30と、加熱シリンダ10を外側から加熱するために加
熱シリンダ10の外周に設けられた加熱手段としてのバ
ンドヒータ41,42,43と、加熱シリンダ10内に
材料を供給する材料供給部であるホッパ50とを有す
る。
ンダ内で溶融した樹脂を所望の温度で化学反応させるた
めに、前記加熱シリンダ内の樹脂の温度を制御する必要
がある。図16は、成形機の一例にかかり、溶融樹脂を
押し出して所定形状に成形する押出成形機の構成を説明
するための概略図である。押出成形機1は、樹脂を溶融
する加熱シリンダ10と、所望形状の製品を押し出すた
めの押出口21が形成されたダイ20と、加熱シリンダ
10内の溶融樹脂をダイ20に向けて送り出す押出機構
30と、加熱シリンダ10を外側から加熱するために加
熱シリンダ10の外周に設けられた加熱手段としてのバ
ンドヒータ41,42,43と、加熱シリンダ10内に
材料を供給する材料供給部であるホッパ50とを有す
る。
【0004】加熱シリンダ10は、筒状の3つのバレル
11,12,13を直列に連結してなり、各バレル1
1,12,13ごとにバンドヒータ41,42,43が
巻き付けられている。
11,12,13を直列に連結してなり、各バレル1
1,12,13ごとにバンドヒータ41,42,43が
巻き付けられている。
【0005】押出機構30は、バレル11,12,13
を貫通してスクリュー31と、このスクリュー31を回
転させるモータ32と、スクリュー31とモータ32と
の間に介在する減速手段としてのギヤボックス33とか
ら構成される。この押出成形機30は二軸スクリュータ
イプであり、二本のスクリュー31(他方のものは図に
表れない)が加熱シリンダ10内に並設され、モータ3
2の駆動によって各スクリュー31が互いに逆方向又は
正方向に回転するようになっている。そして、加熱シリ
ンダ10内の溶融樹脂は、モータ32の駆動によるスク
リュー31の回転によってダイ20に送り出され、ダイ
20の押出口21から所定の断面形状で押し出される。
を貫通してスクリュー31と、このスクリュー31を回
転させるモータ32と、スクリュー31とモータ32と
の間に介在する減速手段としてのギヤボックス33とか
ら構成される。この押出成形機30は二軸スクリュータ
イプであり、二本のスクリュー31(他方のものは図に
表れない)が加熱シリンダ10内に並設され、モータ3
2の駆動によって各スクリュー31が互いに逆方向又は
正方向に回転するようになっている。そして、加熱シリ
ンダ10内の溶融樹脂は、モータ32の駆動によるスク
リュー31の回転によってダイ20に送り出され、ダイ
20の押出口21から所定の断面形状で押し出される。
【0006】上記した複数個(図16で示す例では3
個)のバレル11,12,13、各バレル11,12,
13ごとに設けられたバンドヒータ41,42,43
は、加熱シリンダ10内の溶融樹脂の温度を制御する温
度制御系を構成している。そして、一般には、これらは
各バレル11,12,13ごとに異なる温度設定値を有
する独立のものとして取り扱われ、各バレル11,1
2,13ごとに1ループ制御が行われている。
個)のバレル11,12,13、各バレル11,12,
13ごとに設けられたバンドヒータ41,42,43
は、加熱シリンダ10内の溶融樹脂の温度を制御する温
度制御系を構成している。そして、一般には、これらは
各バレル11,12,13ごとに異なる温度設定値を有
する独立のものとして取り扱われ、各バレル11,1
2,13ごとに1ループ制御が行われている。
【0007】ところで、ホッパ50から供給された樹脂
は、バレル11,12,13の順で溶融、攪拌されなが
らダイ20に向けて送り出されるが、各種樹脂の適切な
混練を行うために前記樹脂の溶融状態に合わせてバレル
11からバレル13に向けて温度勾配が設けられてい
る。そのため、各バレル11,12,13の相互間で熱
干渉が起こりやすく、このような熱干渉によって混練不
良による製品品質の低下やエネルギ損失の増大などの問
題が生じることがある。
は、バレル11,12,13の順で溶融、攪拌されなが
らダイ20に向けて送り出されるが、各種樹脂の適切な
混練を行うために前記樹脂の溶融状態に合わせてバレル
11からバレル13に向けて温度勾配が設けられてい
る。そのため、各バレル11,12,13の相互間で熱
干渉が起こりやすく、このような熱干渉によって混練不
良による製品品質の低下やエネルギ損失の増大などの問
題が生じることがある。
【0008】また、各バレル11,12,13内の樹脂
の温度は、相互の熱干渉による影響だけでなく、外気温
などの外的環境の変化によっても影響を受け(これら影
響を、「外乱」と称する)、さらに諸設定値の変更等
(これを「モデル変動」と称する)によっても変化す
る。そして、これら外乱やモデル変動による影響の下で
の各バレル11,12,13の温度制御は、現在でもP
ID(比例・積分・微分)制御が主流であり、かつ、P
IDパラメータの調整は、熟練作業者の経験と勘による
手作業によって行われているのが現状である。
の温度は、相互の熱干渉による影響だけでなく、外気温
などの外的環境の変化によっても影響を受け(これら影
響を、「外乱」と称する)、さらに諸設定値の変更等
(これを「モデル変動」と称する)によっても変化す
る。そして、これら外乱やモデル変動による影響の下で
の各バレル11,12,13の温度制御は、現在でもP
ID(比例・積分・微分)制御が主流であり、かつ、P
IDパラメータの調整は、熟練作業者の経験と勘による
手作業によって行われているのが現状である。
【0009】このような問題を解決するために、外乱が
ないときには制御系が目標動作を行い、外乱があるとき
には、外乱抑圧性を満たすように制御系の設計を行うH
∞制御理論を応用したPID制御方法(例えば、▲はま
▼根,横山,小野垣,岩谷:H∞外乱オブザーバによる
押出成形機非干渉化温度制御,電気学会論文誌D,Vol.1
19,pp866-872(1999))が提案されてい
る。
ないときには制御系が目標動作を行い、外乱があるとき
には、外乱抑圧性を満たすように制御系の設計を行うH
∞制御理論を応用したPID制御方法(例えば、▲はま
▼根,横山,小野垣,岩谷:H∞外乱オブザーバによる
押出成形機非干渉化温度制御,電気学会論文誌D,Vol.1
19,pp866-872(1999))が提案されてい
る。
【0010】しかしながら、上記H∞制御理論は、ス
モールゲイン定理から考えて安定化する方法の一つであ
るが、この場合、det|I−M(jw)Δm(jw)|のΔ
の最大特異値が限定される。Δ構造はフル複素行列
で、非対角要素として不確かさが存在する。混合感度
問題においては、ロバスト安定性のための重み関数は必
要以上に大きくなりすぎ、さらにロバスト制御性能は制
御特性に考慮されていない、といった問題がある。
モールゲイン定理から考えて安定化する方法の一つであ
るが、この場合、det|I−M(jw)Δm(jw)|のΔ
の最大特異値が限定される。Δ構造はフル複素行列
で、非対角要素として不確かさが存在する。混合感度
問題においては、ロバスト安定性のための重み関数は必
要以上に大きくなりすぎ、さらにロバスト制御性能は制
御特性に考慮されていない、といった問題がある。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記状況にか
んがみてなされたもので、上記H∞制御理論による問題
点を取り除き、外乱やモデル変動の影響が生じても各バ
レルの異なる目標値に対し定常偏差を微小範囲内に収め
て熱干渉問題を解決するとともに、H∞制御理論による
制御方法や制御装置よりも優れた速応性・ロバスト性・
安定性を有する成形機の温度制御装置及びその温度制御
装置に用いられる制御系の設計方法を提供することを目
的とする。
んがみてなされたもので、上記H∞制御理論による問題
点を取り除き、外乱やモデル変動の影響が生じても各バ
レルの異なる目標値に対し定常偏差を微小範囲内に収め
て熱干渉問題を解決するとともに、H∞制御理論による
制御方法や制御装置よりも優れた速応性・ロバスト性・
安定性を有する成形機の温度制御装置及びその温度制御
装置に用いられる制御系の設計方法を提供することを目
的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、μ設計法による外乱オブザーバを用いた制御系の設
計方法及び温度制御装置を前提とする。ここで、μ設計
法とは、H∞制御の特異値の代わりに構造化特異値μを
用いる設計法で、はじめから摂動に構造を持たせた構造
化摂動によってH∞制御の欠点を解決しようとするもの
である。構造化摂動とは、対角成分のみが摂動要素で、
非対角要素は0の構造を持つものをいう。なお、図15
に、摂動要素をΔ1,Δ2とした場合の構造化摂動の概念
図を示す。
に、μ設計法による外乱オブザーバを用いた制御系の設
計方法及び温度制御装置を前提とする。ここで、μ設計
法とは、H∞制御の特異値の代わりに構造化特異値μを
用いる設計法で、はじめから摂動に構造を持たせた構造
化摂動によってH∞制御の欠点を解決しようとするもの
である。構造化摂動とは、対角成分のみが摂動要素で、
非対角要素は0の構造を持つものをいう。なお、図15
に、摂動要素をΔ1,Δ2とした場合の構造化摂動の概念
図を示す。
【0013】請求項1に記載の発明は、ダイを用いて溶
融材料を所定形状の製品に成形する成形機に設けられ、
熱干渉や外乱の影響を遮断して前記溶融材料を所定温度
に維持する成形機の温度制御装置において、温度制御を
行うために前記成形機の加熱シリンダに供給される入力
値から、前記加熱シリンダから出力される出力値までの
伝達関数に基づいて前記加熱シリンダの規範モデルを求
める伝達関数演算手段と、前記規範モデルの出力と前記
所定部位の実際の出力との間に差があるかどうかを判断
する判断手段と、前記加熱シリンダに予め設定された目
標値の変動に対しては応答せず、前記判断手段により前
記規範モデルの出力と前記加熱シリンダの実際の出力と
の間に差が生じた場合に動作するμ設計補償手段とを有
する構成としてある。
融材料を所定形状の製品に成形する成形機に設けられ、
熱干渉や外乱の影響を遮断して前記溶融材料を所定温度
に維持する成形機の温度制御装置において、温度制御を
行うために前記成形機の加熱シリンダに供給される入力
値から、前記加熱シリンダから出力される出力値までの
伝達関数に基づいて前記加熱シリンダの規範モデルを求
める伝達関数演算手段と、前記規範モデルの出力と前記
所定部位の実際の出力との間に差があるかどうかを判断
する判断手段と、前記加熱シリンダに予め設定された目
標値の変動に対しては応答せず、前記判断手段により前
記規範モデルの出力と前記加熱シリンダの実際の出力と
の間に差が生じた場合に動作するμ設計補償手段とを有
する構成としてある。
【0014】本発明で用いたμ設計補償手段の概念を図
8に示す。図8において、δγ,δ T,δKは摂動要
素、Gは伝達関数、Kはゲイン、Wは重み関数である。
μ設計補償手段は具体的には、請求項2に示すように、
制御対象の入力側に加わる外乱の影響による仮想摂動
と、希望の周波数帯域で前記外乱に対して低感度とする
ための重み関数とを有する外乱抑圧問題部と、入力信号
の形と等しい形の出力信号が、ある時間だけおくれて発
生するむだ時間要素部と、おくれ伝達関数を有するおく
れ要素部と、ゲイン定数部とを有する構成としてある。
8に示す。図8において、δγ,δ T,δKは摂動要
素、Gは伝達関数、Kはゲイン、Wは重み関数である。
μ設計補償手段は具体的には、請求項2に示すように、
制御対象の入力側に加わる外乱の影響による仮想摂動
と、希望の周波数帯域で前記外乱に対して低感度とする
ための重み関数とを有する外乱抑圧問題部と、入力信号
の形と等しい形の出力信号が、ある時間だけおくれて発
生するむだ時間要素部と、おくれ伝達関数を有するおく
れ要素部と、ゲイン定数部とを有する構成としてある。
【0015】そして、このようなμ設計補償手段からな
るμ設計外乱オブザーバを、請求項3に記載するよう
に、非干渉化PID制御手段に付加して制御装置を構成
してもよい。PIDパラメータは、例えばリターンスイ
ッチやコントロールパネル等を用いることによって、稼
働中はいつでも変更が可能である。μ設計法における構
造化特異値μは、例えばD−Kイタレーションを用いて
近似的に求めることができる。
るμ設計外乱オブザーバを、請求項3に記載するよう
に、非干渉化PID制御手段に付加して制御装置を構成
してもよい。PIDパラメータは、例えばリターンスイ
ッチやコントロールパネル等を用いることによって、稼
働中はいつでも変更が可能である。μ設計法における構
造化特異値μは、例えばD−Kイタレーションを用いて
近似的に求めることができる。
【0016】また、この発明の温度制御装置に用いられ
る制御系の設計方法は、請求項5に示すように、溶融材
料をダイから押し出し又はダイに射出して所定形状の成
形品を成形する成形機に設けられ、熱干渉や外乱の影響
を遮断して前記溶融材料を所定温度に維持する成形機の
温度制御装置の設計方法において、成形する際の諸条件
にしたがってモデリングを行い、システム同定によって
制御対象のモデリング誤差及び制御系の摂動を測定し、
制御系に熱干渉が存在するか否かを判断し、熱干渉があ
れば状態フィードバックを導入して相互に熱干渉を生じ
ている部分を非干渉化させ、前記部分を独立したサブシ
ステムに分割し、前記制御系に不確かさがあるか否かを
判断し、不確かさがある場合にはこれを算出し、μ設計
外乱オブザーバを用いてロバスト安定性を補償する方法
としてある。
る制御系の設計方法は、請求項5に示すように、溶融材
料をダイから押し出し又はダイに射出して所定形状の成
形品を成形する成形機に設けられ、熱干渉や外乱の影響
を遮断して前記溶融材料を所定温度に維持する成形機の
温度制御装置の設計方法において、成形する際の諸条件
にしたがってモデリングを行い、システム同定によって
制御対象のモデリング誤差及び制御系の摂動を測定し、
制御系に熱干渉が存在するか否かを判断し、熱干渉があ
れば状態フィードバックを導入して相互に熱干渉を生じ
ている部分を非干渉化させ、前記部分を独立したサブシ
ステムに分割し、前記制御系に不確かさがあるか否かを
判断し、不確かさがある場合にはこれを算出し、μ設計
外乱オブザーバを用いてロバスト安定性を補償する方法
としてある。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施形態
を、図面にしたがって詳細に説明する。図1は、本発明
の温度制御装置における制御系の設計手順を説明する流
れ図、図2は、本発明の成形機の温度制御装置を得るた
めに用いられた溶融樹脂の押出成形機のモデル機を示す
概略図、図3は、n段連結バレル押出成形機のモデル
図、図4は、図2のモデル機における回路構成を説明す
る図である。
を、図面にしたがって詳細に説明する。図1は、本発明
の温度制御装置における制御系の設計手順を説明する流
れ図、図2は、本発明の成形機の温度制御装置を得るた
めに用いられた溶融樹脂の押出成形機のモデル機を示す
概略図、図3は、n段連結バレル押出成形機のモデル
図、図4は、図2のモデル機における回路構成を説明す
る図である。
【0018】最初に、図1にしたがって、本発明の温度
制御装置に用いる制御系の設計手順を説明する。図1に
示すように、まず、押出成形する際の諸条件にしたがっ
てモデリングを行い(ステップS1)、次にシステム同
定によって制御対象のモデリング誤差及び制御系の摂動
を実際に測定する(ステップS2)。そして、制御系の
制御対象部分の相互間で非干渉化が必要かどうか、つま
りこの実施形態の成形機1ではバレル11〜13の相互
間で熱干渉があるかどうかを判断して(ステップS
3)、熱干渉があれば、状態フィードバックHを導入し
てバレル11〜13の非干渉化を行い(ステップS
4)、各バレル11〜13を独立したサブシステムに分
割する(ステップS5)。
制御装置に用いる制御系の設計手順を説明する。図1に
示すように、まず、押出成形する際の諸条件にしたがっ
てモデリングを行い(ステップS1)、次にシステム同
定によって制御対象のモデリング誤差及び制御系の摂動
を実際に測定する(ステップS2)。そして、制御系の
制御対象部分の相互間で非干渉化が必要かどうか、つま
りこの実施形態の成形機1ではバレル11〜13の相互
間で熱干渉があるかどうかを判断して(ステップS
3)、熱干渉があれば、状態フィードバックHを導入し
てバレル11〜13の非干渉化を行い(ステップS
4)、各バレル11〜13を独立したサブシステムに分
割する(ステップS5)。
【0019】次に、制御系に不確かさがあるかどうかを
判断し(ステップS6)、不確かさがある場合にはこれ
を算出してロバスト安定性を補償する(ステップS
7)。ロバスト安定性を補償するために、本発明では、
μ設計外乱オブザーバを用いている。
判断し(ステップS6)、不確かさがある場合にはこれ
を算出してロバスト安定性を補償する(ステップS
7)。ロバスト安定性を補償するために、本発明では、
μ設計外乱オブザーバを用いている。
【0020】以下、上記ステップS1〜ステップS7の
手順にしたがって本発明の温度制御装置を説明する。ま
ず、本発明の温度制御装置に用いられる制御系を設計す
るにあたり使用された押出成形機のモデル機の構成を説
明する。なお、図2に示す押出成形機のモデル機は、各
バレル11,12,13ごとに意図的な外乱を引き起こ
すための冷却ファン61,62,63が設けられている
以外は、図16で示した押出成形機と変わりがないの
で、図16の押出成形機と同一部位、同一部材には同一
の符号を付し、詳しい説明は省略する。
手順にしたがって本発明の温度制御装置を説明する。ま
ず、本発明の温度制御装置に用いられる制御系を設計す
るにあたり使用された押出成形機のモデル機の構成を説
明する。なお、図2に示す押出成形機のモデル機は、各
バレル11,12,13ごとに意図的な外乱を引き起こ
すための冷却ファン61,62,63が設けられている
以外は、図16で示した押出成形機と変わりがないの
で、図16の押出成形機と同一部位、同一部材には同一
の符号を付し、詳しい説明は省略する。
【0021】このモデル機の制御系は、図4に示すよう
に、処理装置としての機能を有するパソコン100と、
各バレル11,12,13に設けられた図示しない温度
センサに接続された絶縁アンプ105及びAD変換器1
04と、パソコン100からの指令信号の入出力を制御
するI/Oパラレルインターフェイス101と、各バレ
ル11〜13に設けられたバンドヒータ41,42,4
3及び各ファン61,62,63のスイッチングを行う
電磁リレー103と、電磁リレー103を制御する同期
制御部のソリッド・ステート・リレー102から概略構
成される。
に、処理装置としての機能を有するパソコン100と、
各バレル11,12,13に設けられた図示しない温度
センサに接続された絶縁アンプ105及びAD変換器1
04と、パソコン100からの指令信号の入出力を制御
するI/Oパラレルインターフェイス101と、各バレ
ル11〜13に設けられたバンドヒータ41,42,4
3及び各ファン61,62,63のスイッチングを行う
電磁リレー103と、電磁リレー103を制御する同期
制御部のソリッド・ステート・リレー102から概略構
成される。
【0022】上記構成のモデル機における温度制御装置
の制御系の設計は、以下の手順で行われる。 (モデリング)まず、押出成形する際の諸条件にしたが
ってモデリングを行う。成形機1のバレル11,12,
13は鉄を主成分とする円筒状の金属で形成され、外周
からバンドヒータにより加熱される。稼働時のシステム
変更が多いため、加熱シリンダを有限要素法などを用い
て細かい単位に仮想分割し、それらの熱特性を考慮した
分布定数モデル(例えば、明石、「非干渉化の手法を用
いた射出成形機の加熱シリンダの温度制御」 計測自動
制御学会論文集 Vol,22,No2,pp230-237,1986 参照)
で解析した場合、モデリングから得られる制御特性は良
好であるものの、複雑なモデルを構築するためコストが
膨大になる欠点が存在すること、さらにロバスト制御の
適用を考慮し、バレルへの熱流出入のみを扱う集中定数
系と捉えるとモデリングが容易となる。図3に示すよう
に、左側のバレル11から順に1,2,3,・・k・・,n
と番号を付す。このとき、制御系の熱的特性を支配する
方程式は、Δt時間の間の熱エネルギー出入りを考え
て、
の制御系の設計は、以下の手順で行われる。 (モデリング)まず、押出成形する際の諸条件にしたが
ってモデリングを行う。成形機1のバレル11,12,
13は鉄を主成分とする円筒状の金属で形成され、外周
からバンドヒータにより加熱される。稼働時のシステム
変更が多いため、加熱シリンダを有限要素法などを用い
て細かい単位に仮想分割し、それらの熱特性を考慮した
分布定数モデル(例えば、明石、「非干渉化の手法を用
いた射出成形機の加熱シリンダの温度制御」 計測自動
制御学会論文集 Vol,22,No2,pp230-237,1986 参照)
で解析した場合、モデリングから得られる制御特性は良
好であるものの、複雑なモデルを構築するためコストが
膨大になる欠点が存在すること、さらにロバスト制御の
適用を考慮し、バレルへの熱流出入のみを扱う集中定数
系と捉えるとモデリングが容易となる。図3に示すよう
に、左側のバレル11から順に1,2,3,・・k・・,n
と番号を付す。このとき、制御系の熱的特性を支配する
方程式は、Δt時間の間の熱エネルギー出入りを考え
て、
【0023】
【数1】
【0024】(バレル数がn個の場合。ただし、kは1
及びnを除く自然数)で表される。k=1及びk=nの
場合は両端のバレル11又は13の場合を指し、k=1
の場合は、
及びnを除く自然数)で表される。k=1及びk=nの
場合は両端のバレル11又は13の場合を指し、k=1
の場合は、
【0025】
【数2】
【0026】で表され、k=nの場合は、
【0027】
【数3】
【0028】で表される。ただし、θkはバレルの温度
[℃],qkは単位時間にバレルに入る熱量[J/se
c],Ckはバレル11〜13の熱容量[J/℃],αkは
バレル11〜13の放熱係数[J(℃・sec)],βkは
バレル11〜13間の熱伝達率[J/(℃・sec)]を表
す。上式の両辺をΔtで割ってΔθk/Δt=θk′とおく
と上記式(1)〜(3)は、
[℃],qkは単位時間にバレルに入る熱量[J/se
c],Ckはバレル11〜13の熱容量[J/℃],αkは
バレル11〜13の放熱係数[J(℃・sec)],βkは
バレル11〜13間の熱伝達率[J/(℃・sec)]を表
す。上式の両辺をΔtで割ってΔθk/Δt=θk′とおく
と上記式(1)〜(3)は、
【0029】
【数4】
【0030】
【数5】
【0031】
【数6】
【0032】と表すことができる。これに基づいて時間
tにおける各バレル11〜13の温度を求めるための状
態方程式を作成すると、状態変数をxk=θk,入力をu
k=θqk,出力をyk=θkとして、状態方程式x′およ
び出力方程式y(t)は、それぞれ
tにおける各バレル11〜13の温度を求めるための状
態方程式を作成すると、状態変数をxk=θk,入力をu
k=θqk,出力をyk=θkとして、状態方程式x′およ
び出力方程式y(t)は、それぞれ
【0033】
【数7】
【0034】
【数8】
【0035】で表される。
【0036】(システム同定)次に、上記モデリング式
の各係数を得るために、モデリングから得られたn段連
結バレル押出成形機のモデルを、バレル両側面から熱的
干渉を有する最小単位の三連バレル小型二軸押出成形機
のモデル機に適用する。また、以下の表1に実験装置の
仕様を示す。
の各係数を得るために、モデリングから得られたn段連
結バレル押出成形機のモデルを、バレル両側面から熱的
干渉を有する最小単位の三連バレル小型二軸押出成形機
のモデル機に適用する。また、以下の表1に実験装置の
仕様を示す。
【0037】
【表1】
【0038】実験装置の構成より、サンプリング誤差は
±0.5℃であるが、絶縁アンプは出力波形より電源の
商用周波(50Hz)が乗り、約±0.4℃の誤差が生
ずる。したがって、計測系は約±1.0℃の誤差を伴
う。三連バレル押出成形機の状態方程式、出力方程式の
係数行列は7,8式においてk=3の場合であるから、
±0.5℃であるが、絶縁アンプは出力波形より電源の
商用周波(50Hz)が乗り、約±0.4℃の誤差が生
ずる。したがって、計測系は約±1.0℃の誤差を伴
う。三連バレル押出成形機の状態方程式、出力方程式の
係数行列は7,8式においてk=3の場合であるから、
【0039】
【数9】
【0040】と表すことができる。上式の各パラメータ
α,β,Cを決定するため、モデル機において3つのバ
レル11〜13のうち1つを最大制御入力で200℃ま
で加熱し、その後自然冷却を行うステップ応答実験を5
回行った。システム同定は、得られた実験波形にステッ
プ応答シミュレーション波形をプロットすることによ
り、各パラメータの変動幅を求めた。また、公称値は各
パラメータに対するヒストグラム分布の最頻値を選ん
だ。以下の表2に、システム同定より得られた各パラメ
ータを示す。
α,β,Cを決定するため、モデル機において3つのバ
レル11〜13のうち1つを最大制御入力で200℃ま
で加熱し、その後自然冷却を行うステップ応答実験を5
回行った。システム同定は、得られた実験波形にステッ
プ応答シミュレーション波形をプロットすることによ
り、各パラメータの変動幅を求めた。また、公称値は各
パラメータに対するヒストグラム分布の最頻値を選ん
だ。以下の表2に、システム同定より得られた各パラメ
ータを示す。
【0041】
【表2】
【0042】(非干渉化制御系の設計)次に、状態フィ
ードバックによる非干渉化制御系の設計について説明す
る。ここでは、三連バレル押出成形機のモデル機につい
て、状態フィードバックによりシステムの非干渉化を行
う。いま、状態フィードバック係数を
ードバックによる非干渉化制御系の設計について説明す
る。ここでは、三連バレル押出成形機のモデル機につい
て、状態フィードバックによりシステムの非干渉化を行
う。いま、状態フィードバック係数を
【0043】
【数10】
【0044】とし、むだ時間Lは無視できるものとす
る。9式よりD=0、かつ
る。9式よりD=0、かつ
【0045】
【数11】
【0046】が対角化可能であるから、非干渉化を実現
するHは次のように算出できる。
するHは次のように算出できる。
【0047】
【数12】
【0048】これより、系の伝達関数Gyvは、
【0049】
【数13】
【0050】と対角行列で表現できる。図5に状態フィ
ードバックHを用いた押出成形機三連バレルの非干渉化
制御のブロック線図を示す。図5において状態フィード
バックHを含ませない場合は、熱干渉が存在する押出成
形機三連バレルの温度制御系のブロック線図を示す。状
態フィードバックHを導入することによって、図5の状
態フィードバックHを含む非干渉化ブロック線図が得ら
れる。
ードバックHを用いた押出成形機三連バレルの非干渉化
制御のブロック線図を示す。図5において状態フィード
バックHを含ませない場合は、熱干渉が存在する押出成
形機三連バレルの温度制御系のブロック線図を示す。状
態フィードバックHを導入することによって、図5の状
態フィードバックHを含む非干渉化ブロック線図が得ら
れる。
【0051】ここで、図5におけるバレル1(P1)に
注目する。H11がA11に含まれる熱伝導量β11を、H12
がA12に含まれる熱伝導量β12を相殺するため、P1は
隣接するバレル12(P2)からの干渉を受けない独立
した一次おくれ系とみなすことができる。同様にP2に
おいても、H21がA21に含まれる熱伝導量β21を、H22
がA22に含まれる熱伝導量β22を相殺する。同じくP3
では、H31がA31に含まれる熱伝導量β31を、H32がA
32に含まれる熱伝導量β32を相殺する。したがって、各
系はそれぞれ干渉のないサブシステムに分割され、非干
渉化が成立する。
注目する。H11がA11に含まれる熱伝導量β11を、H12
がA12に含まれる熱伝導量β12を相殺するため、P1は
隣接するバレル12(P2)からの干渉を受けない独立
した一次おくれ系とみなすことができる。同様にP2に
おいても、H21がA21に含まれる熱伝導量β21を、H22
がA22に含まれる熱伝導量β22を相殺する。同じくP3
では、H31がA31に含まれる熱伝導量β31を、H32がA
32に含まれる熱伝導量β32を相殺する。したがって、各
系はそれぞれ干渉のないサブシステムに分割され、非干
渉化が成立する。
【0052】(μ設計外乱オブザーバの設計)次に、ロ
バスト安定性を補償するためのμ設計外乱オブザーバの
設計について説明する。式12より、状態フィードバッ
ク係数Hは、バレル間の熱伝達率βの公称値に基づき決
定されるため、プラントが(諸設定値の誤差に基づく)
モデル化誤差を持つとき、完全な非干渉化を行うことは
不可能である。
バスト安定性を補償するためのμ設計外乱オブザーバの
設計について説明する。式12より、状態フィードバッ
ク係数Hは、バレル間の熱伝達率βの公称値に基づき決
定されるため、プラントが(諸設定値の誤差に基づく)
モデル化誤差を持つとき、完全な非干渉化を行うことは
不可能である。
【0053】そこで、発明者らは、μ設計外乱オブザー
バを導入して、外乱やモデル変動を有する場合でもロバ
スト性能を有するようにした。以下、μ設計外乱オブザ
ーバについて説明する。図6は、μ設計外乱オブザーバ
を付加した非干渉化PID制御系のブロック線図を示
す。
バを導入して、外乱やモデル変動を有する場合でもロバ
スト性能を有するようにした。以下、μ設計外乱オブザ
ーバについて説明する。図6は、μ設計外乱オブザーバ
を付加した非干渉化PID制御系のブロック線図を示
す。
【0054】ここで、Pk(s)(k=1,2,3)は制御
対象の各バレル要素,Hは状態フィードバックによる非
干渉化クロスコントローラを表す。Pmk(s)(k=
1,2,3)は規範モデルを表し、制御対象Pk(s)
(k=1,2,3)のパラメータが公称値において非干
渉化が達成されている伝達関数、すなわち、仮想的入力
vk(k=1,2,3)から制御出力yk(k=1,
2,3)までの伝達関数と等価である。これは、非干渉
化した三連バレル小型2軸押出成形機の各バレル単位を
意味し、13式の各対角項成分となる。
対象の各バレル要素,Hは状態フィードバックによる非
干渉化クロスコントローラを表す。Pmk(s)(k=
1,2,3)は規範モデルを表し、制御対象Pk(s)
(k=1,2,3)のパラメータが公称値において非干
渉化が達成されている伝達関数、すなわち、仮想的入力
vk(k=1,2,3)から制御出力yk(k=1,
2,3)までの伝達関数と等価である。これは、非干渉
化した三連バレル小型2軸押出成形機の各バレル単位を
意味し、13式の各対角項成分となる。
【0055】K(s)はμ設計補償器であり、P
mk(s)(k=1,2,3)とPk(s)(k=1,2,
3)それぞれの出力yk−ymk(k=1,2,3)に差が
あったときに動作する。言い換えるとK(s)は各バレ
ルの目標値変動に対して不感であり、モデル化誤差や外
乱の影響によりバレル温度が変動する場合のみ動作す
る。したがって、μ設計外乱オブザーバは、P
mk(s)とK(s)とを非干渉化PID制御に付け加
えることにより構成できる。目標値の変動に対する応答
は積分器を持つPID補償器が担うため、目標値追従の
設定のし易さなどPID制御の長所を活かすことができ
る。μ設計外乱オブザーバを用いた非干渉化PID制御
系の設計手順は、次のとおりとなる。
mk(s)(k=1,2,3)とPk(s)(k=1,2,
3)それぞれの出力yk−ymk(k=1,2,3)に差が
あったときに動作する。言い換えるとK(s)は各バレ
ルの目標値変動に対して不感であり、モデル化誤差や外
乱の影響によりバレル温度が変動する場合のみ動作す
る。したがって、μ設計外乱オブザーバは、P
mk(s)とK(s)とを非干渉化PID制御に付け加
えることにより構成できる。目標値の変動に対する応答
は積分器を持つPID補償器が担うため、目標値追従の
設定のし易さなどPID制御の長所を活かすことができ
る。μ設計外乱オブザーバを用いた非干渉化PID制御
系の設計手順は、次のとおりとなる。
【0056】[STEP1]状態フィードバックによる非
干渉化PID制御を設計する [STEP2]規範モデルPmk(s)を算出する [STEP3]μ設計補償器K(s)を設計する パラメトリック変動を陽に考慮したμ設計を適用するた
めに、13式の各対角要素を、
干渉化PID制御を設計する [STEP2]規範モデルPmk(s)を算出する [STEP3]μ設計補償器K(s)を設計する パラメトリック変動を陽に考慮したμ設計を適用するた
めに、13式の各対角要素を、
【0057】
【数14】
【0058】と定義する。むだ時間の表現は一次パディ
近似とした。表2のシステム同定結果から、14式の各
パラメータ変動は表3のようになる。
近似とした。表2のシステム同定結果から、14式の各
パラメータ変動は表3のようになる。
【0059】
【表3】
【0060】ここで、13式の各対角項からゲインKK
=1/αK(k=1,2,3)、時定数TK=CK/A
K(k=1,2,3)である。むだ時間の表現は、一次
パティ近似とし、(-γKs+1)/(γKs+1)のむだ
時間要素を得る。表2のシステム同定結果から、14式
の各パラメータ変動は表3となる。但し、表3のK,
T,γは、全てバレルに関する最大及び最小値パラメー
タを基にしたもっとも大きい摂動を持つKK,TK,γK
を表す。ここで、表3におけるゲインK,時定数T,む
だ時間要素γについてそれぞれ公称値から±30%,±
65%,±85%の変動を持つと仮定し
=1/αK(k=1,2,3)、時定数TK=CK/A
K(k=1,2,3)である。むだ時間の表現は、一次
パティ近似とし、(-γKs+1)/(γKs+1)のむだ
時間要素を得る。表2のシステム同定結果から、14式
の各パラメータ変動は表3となる。但し、表3のK,
T,γは、全てバレルに関する最大及び最小値パラメー
タを基にしたもっとも大きい摂動を持つKK,TK,γK
を表す。ここで、表3におけるゲインK,時定数T,む
だ時間要素γについてそれぞれ公称値から±30%,±
65%,±85%の変動を持つと仮定し
【0061】
【数15】
【0062】と表現できる。ここで、δγ,δT,δK
は各パラメータγ,T,Kの摂動要素である。以上の条
件の下で、制御対象の入力側に冷却外乱を想定した。冷
却容量は過去の実験データより−476.4J/secであ
る。μ設計補償器K(s)を設計するにあたり、これら
パラメトリック変動と外乱の影響を陽に表現する拡大シ
ステムを設計した。
は各パラメータγ,T,Kの摂動要素である。以上の条
件の下で、制御対象の入力側に冷却外乱を想定した。冷
却容量は過去の実験データより−476.4J/secであ
る。μ設計補償器K(s)を設計するにあたり、これら
パラメトリック変動と外乱の影響を陽に表現する拡大シ
ステムを設計した。
【0063】この拡大システムのブロック線図を図7
(a)に示す。拡大システムは、制御対象の入力側に加
わる外乱の影響による仮想摂動と、希望の周波数帯域で
前記外乱に対して低感度とするための重み関数とを有す
る外乱抑圧部201と、入力信号の形と等しい形の出力
信号が、ある時間だけおくれて発生するむだ時間要素部
202と、おくれ伝達関数を有するおくれ要素部203
と、ゲイン定数部204とを有する閉ループから構成さ
れる。
(a)に示す。拡大システムは、制御対象の入力側に加
わる外乱の影響による仮想摂動と、希望の周波数帯域で
前記外乱に対して低感度とするための重み関数とを有す
る外乱抑圧部201と、入力信号の形と等しい形の出力
信号が、ある時間だけおくれて発生するむだ時間要素部
202と、おくれ伝達関数を有するおくれ要素部203
と、ゲイン定数部204とを有する閉ループから構成さ
れる。
【0064】図7(b)に、図7(a)に基づいて構成
した拡大システムの具体例を示す。図7(b)におい
て、点1から点2に対応する部分は、外乱抑圧問題(図
7(a)の外乱抑圧部201)に対応する。Δは制御対
象の入力側に加わる外乱の影響による仮想的摂動を示
し、Wr1,Wr2は周波数帯域で外乱に対して低感度とす
るための重み関数である。点2から点3の部分は、むだ
時間要素(-γs+1)/(γs+1)と等価で、図7
(a)のむだ時間要素部202に対応する。点3から点
4の部分は、遅れ要素 1/(Ts+1)と等価で、図
7(a)のおくれ要素部203に対応する。点4から点
5の部分は、ゲインKと等価で、図7(a)のゲイン定
数部204に対応する。Mγ、MT、Mkは、式15に
おけるγ,T,Kの摂動要素δγ,δT,δKを構造化
摂動として外部に取り出すための線形分数変換(LF
T)により得られる。
した拡大システムの具体例を示す。図7(b)におい
て、点1から点2に対応する部分は、外乱抑圧問題(図
7(a)の外乱抑圧部201)に対応する。Δは制御対
象の入力側に加わる外乱の影響による仮想的摂動を示
し、Wr1,Wr2は周波数帯域で外乱に対して低感度とす
るための重み関数である。点2から点3の部分は、むだ
時間要素(-γs+1)/(γs+1)と等価で、図7
(a)のむだ時間要素部202に対応する。点3から点
4の部分は、遅れ要素 1/(Ts+1)と等価で、図
7(a)のおくれ要素部203に対応する。点4から点
5の部分は、ゲインKと等価で、図7(a)のゲイン定
数部204に対応する。Mγ、MT、Mkは、式15に
おけるγ,T,Kの摂動要素δγ,δT,δKを構造化
摂動として外部に取り出すための線形分数変換(LF
T)により得られる。
【0065】図7(a)(b)の拡大システムは、LF
Tによってδγ,δT,δKを含むロバスト安定化問題
に等しく、図8のμ設計問題に置き換えられる。同図
は、制御対象の持つ複数の摂動を構造化摂動、つまり、
摂動要素がブロック対角に並んだ形で取り出して摂動の
構造を考慮する。これら全ての摂動に対し、dからeま
でのH∞ノルムを最小化する補償器を求めるロバスト安
定化問題となり、同図のμ設計問題に置き換えられる。
Tによってδγ,δT,δKを含むロバスト安定化問題
に等しく、図8のμ設計問題に置き換えられる。同図
は、制御対象の持つ複数の摂動を構造化摂動、つまり、
摂動要素がブロック対角に並んだ形で取り出して摂動の
構造を考慮する。これら全ての摂動に対し、dからeま
でのH∞ノルムを最小化する補償器を求めるロバスト安
定化問題となり、同図のμ設計問題に置き換えられる。
【0066】発明者らは近似解を見つけるために、D−
Kイタレーションを用いて制御系を設計した。D−Kイ
タレーションは、最適値への収束が保証されていない
が、実用ではよく用いられている。2回目のD−Kイタ
レーションにおいて、この系のロバスト制御性能は達成
されμ設計補償器を得た。しかし、D−Kイタレーショ
ンで求まる補償器の傾向から、μ設計補償器の次数は高
次となった。このため、ハンケルノルム近似を用いて補
償器の低次数化を図った。
Kイタレーションを用いて制御系を設計した。D−Kイ
タレーションは、最適値への収束が保証されていない
が、実用ではよく用いられている。2回目のD−Kイタ
レーションにおいて、この系のロバスト制御性能は達成
されμ設計補償器を得た。しかし、D−Kイタレーショ
ンで求まる補償器の傾向から、μ設計補償器の次数は高
次となった。このため、ハンケルノルム近似を用いて補
償器の低次数化を図った。
【0067】(シミュレーションおよびテスト機による
実験結果)各シミュレーションおよび実験において、非
干渉化やμ設計外乱オブザーバの有無による応答を比較
するため、次の3点の条件を設ける。
実験結果)各シミュレーションおよび実験において、非
干渉化やμ設計外乱オブザーバの有無による応答を比較
するため、次の3点の条件を設ける。
【0068】[条件1]目標値は、温度干渉が発生する
ように、バレル11を100℃,バレル12を125
℃、バレル13を150℃とする。 [条件2]PID制御器は位置型を用いる。PIDパラ
メータはステップ応答法を基に、比例ゲインKP=2.
8,積分時間KI=18000sec,微分時間KD=60s
ecとする。 [条件3]非干渉化を行うため、離散化は零次ホールド
法を用い、サンプリング周期は20secとする。また、
むだ時間は1次のパディ近似とする。
ように、バレル11を100℃,バレル12を125
℃、バレル13を150℃とする。 [条件2]PID制御器は位置型を用いる。PIDパラ
メータはステップ応答法を基に、比例ゲインKP=2.
8,積分時間KI=18000sec,微分時間KD=60s
ecとする。 [条件3]非干渉化を行うため、離散化は零次ホールド
法を用い、サンプリング周期は20secとする。また、
むだ時間は1次のパディ近似とする。
【0069】また、外乱はバレルの内部の吸熱を想定
し、制御対象の入力側に印加する。シミュレーションの
外乱は、開始から3時間後に一定外乱を挿入し4時間後
に挿入を止めた。一方、モデル機実験は外乱としてファ
ン61,62,63(図2参照)を用い、バレル11,
12,13の側面より1時間空冷した。なお、制御目標
は、目標値偏差が目標値に対して計測系の誤差範囲内で
ある±1℃以内とする。
し、制御対象の入力側に印加する。シミュレーションの
外乱は、開始から3時間後に一定外乱を挿入し4時間後
に挿入を止めた。一方、モデル機実験は外乱としてファ
ン61,62,63(図2参照)を用い、バレル11,
12,13の側面より1時間空冷した。なお、制御目標
は、目標値偏差が目標値に対して計測系の誤差範囲内で
ある±1℃以内とする。
【0070】(非干渉化PID制御シミュレーション)
PID制御と非干渉化PID制御のシミュレーション結
果を図10に示す。図10(a)のグラフは外乱やモデ
ル化誤差が発生していない理想的環境における制御シミ
ュレーションを示し、(b)のグラフは、途中で冷却外
乱が発生した場合の制御シミュレーション結果を示す。
ここで、点線はPID制御のみ、実線はPID制御に状
態フィードバックによる非干渉化制御を追加したときの
それぞれのシミュレーションを表す。バレル11、バレ
ル12、バレル13の順で25℃づつ目標値を高く設定
しているため、バレル11はバレル12から熱が移動し
て熱干渉が発生し、バレル13はバレル13からバレル
12に熱が移動して熱干渉が発生する。上段のグラフか
ら、PID制御のみでは8時間が経過しても目標値に整
定しないことがわかる。しかし、非干渉化制御を追加す
ると、バレル間の熱干渉を状態フィードバックにより相
殺するため、どのバレルも他のバレルからの影響を受け
ずに約1時間30分で整定していることがわかる。しか
し、下段のグラフからわかるように、外乱の影響を受け
た場合、完全な非干渉化を行うことができず、PID制
御の場合はバレル13、非干渉化制御の場合はバレル1
1と13ともに8時間経っても目標値に整定していな
い。
PID制御と非干渉化PID制御のシミュレーション結
果を図10に示す。図10(a)のグラフは外乱やモデ
ル化誤差が発生していない理想的環境における制御シミ
ュレーションを示し、(b)のグラフは、途中で冷却外
乱が発生した場合の制御シミュレーション結果を示す。
ここで、点線はPID制御のみ、実線はPID制御に状
態フィードバックによる非干渉化制御を追加したときの
それぞれのシミュレーションを表す。バレル11、バレ
ル12、バレル13の順で25℃づつ目標値を高く設定
しているため、バレル11はバレル12から熱が移動し
て熱干渉が発生し、バレル13はバレル13からバレル
12に熱が移動して熱干渉が発生する。上段のグラフか
ら、PID制御のみでは8時間が経過しても目標値に整
定しないことがわかる。しかし、非干渉化制御を追加す
ると、バレル間の熱干渉を状態フィードバックにより相
殺するため、どのバレルも他のバレルからの影響を受け
ずに約1時間30分で整定していることがわかる。しか
し、下段のグラフからわかるように、外乱の影響を受け
た場合、完全な非干渉化を行うことができず、PID制
御の場合はバレル13、非干渉化制御の場合はバレル1
1と13ともに8時間経っても目標値に整定していな
い。
【0071】(μ設計外乱オブザーバを用いた非干渉化
PID制御シミュレーション)μ設計外乱オブザーバを
非干渉化PID制御系に付加した制御系に対し、目標値
応答特性・ロバスト性・外乱応答特性の検討を行う。シ
ミュレーション条件は非干渉化PID制御の場合と同様
にした。最初に目標値応答特性・ロバスト性の検討を行
う。システム同定より求めた変動幅から各パラメータの
最大値・最小値を用いて、目標値応答特性よりロバスト
性を評価した。
PID制御シミュレーション)μ設計外乱オブザーバを
非干渉化PID制御系に付加した制御系に対し、目標値
応答特性・ロバスト性・外乱応答特性の検討を行う。シ
ミュレーション条件は非干渉化PID制御の場合と同様
にした。最初に目標値応答特性・ロバスト性の検討を行
う。システム同定より求めた変動幅から各パラメータの
最大値・最小値を用いて、目標値応答特性よりロバスト
性を評価した。
【0072】図11はプラントにモデル化誤差がある場
合の目標値応答シミュレーション結果である。(a)は
非干渉化PID制御のみの応答を示し、(b)はそれに
μ設計外乱オブザーバを付加したとき、およびH∞外乱
オブザーバを付加したときのそれぞれの応答を示してい
る。同図より、H∞外乱オブザーバまたはμ設計外乱オ
ブザーバを付加することにより、プラントがモデル変動
を起こしても規範モデルに追従し、良好な目標値応答が
実現できている。
合の目標値応答シミュレーション結果である。(a)は
非干渉化PID制御のみの応答を示し、(b)はそれに
μ設計外乱オブザーバを付加したとき、およびH∞外乱
オブザーバを付加したときのそれぞれの応答を示してい
る。同図より、H∞外乱オブザーバまたはμ設計外乱オ
ブザーバを付加することにより、プラントがモデル変動
を起こしても規範モデルに追従し、良好な目標値応答が
実現できている。
【0073】次に外乱応答を検証した。図12,図13
にシミュレーション結果を示す。図13は図12の応答
拡大波形である。図12より、μ設計およびH∞外乱オ
ブザーバを付加しない非干渉化PID制御のままでは、
外乱の影響で大きな偏差を生じ8時間後においても目標
値に収束していないことがわかる。さらに10800se
cから14400secまで外乱の大きな影響を受けてい
る。一方、μ設計外乱オブザーバおよびH∞外乱オブザ
ーバを付加した場合、外乱が印加されている最中でも外
乱値を推定して、目標値に追従しようとしていることが
わかる。
にシミュレーション結果を示す。図13は図12の応答
拡大波形である。図12より、μ設計およびH∞外乱オ
ブザーバを付加しない非干渉化PID制御のままでは、
外乱の影響で大きな偏差を生じ8時間後においても目標
値に収束していないことがわかる。さらに10800se
cから14400secまで外乱の大きな影響を受けてい
る。一方、μ設計外乱オブザーバおよびH∞外乱オブザ
ーバを付加した場合、外乱が印加されている最中でも外
乱値を推定して、目標値に追従しようとしていることが
わかる。
【0074】H∞外乱オブザーバを付加した場合は、外
乱挿入終了(14400sec)から多少のオーバーシュ
ートを生じるが、40分〜50分にて目標値の±1℃以
内に整定している。μ設計外乱オブザーバを付加した場
合はアンダーシュートおよびオーバーシュートはH∞外
乱オブザーバを付加した場合より小さい。さらに目標値
整定は27分〜30分にて目標値の±1℃以内に整定す
る。
乱挿入終了(14400sec)から多少のオーバーシュ
ートを生じるが、40分〜50分にて目標値の±1℃以
内に整定している。μ設計外乱オブザーバを付加した場
合はアンダーシュートおよびオーバーシュートはH∞外
乱オブザーバを付加した場合より小さい。さらに目標値
整定は27分〜30分にて目標値の±1℃以内に整定す
る。
【0075】μ設計外乱オブザーバは、H∞外乱オブザ
ーバより優れた性能を提供する。以上からμ設計外乱オ
ブザーバは押出成形機の熱干渉問題を解決し、外乱の影
響を低減することができる。この結果、定常偏差のない
短時間の目標値整定が得られた。
ーバより優れた性能を提供する。以上からμ設計外乱オ
ブザーバは押出成形機の熱干渉問題を解決し、外乱の影
響を低減することができる。この結果、定常偏差のない
短時間の目標値整定が得られた。
【0076】(μ設計外乱オブザーバを付加したテスト
機制御実験)図14にμ設計外乱オブザーバを付加した
ときの外乱応答特性実験結果を示す。シミュレーション
と同様な結果が得られ、全バレル11,12,13が外
乱挿入終了より短時間で目標値に整定している。μ設計
外乱オブザーバによってモデル変動および外乱による影
響を抑えられ、完全な非干渉化が実現できていることが
わかる。また、μ設計外乱オブザーバはH∞外乱オブザ
ーバを付加したときより、優れた制御性能を示している
ことがわかる。
機制御実験)図14にμ設計外乱オブザーバを付加した
ときの外乱応答特性実験結果を示す。シミュレーション
と同様な結果が得られ、全バレル11,12,13が外
乱挿入終了より短時間で目標値に整定している。μ設計
外乱オブザーバによってモデル変動および外乱による影
響を抑えられ、完全な非干渉化が実現できていることが
わかる。また、μ設計外乱オブザーバはH∞外乱オブザ
ーバを付加したときより、優れた制御性能を示している
ことがわかる。
【0077】(H∞外乱オブザーバ)μ設計外乱オブザ
ーバの有効性を検討するため、H∞外乱オブザーバと比
較する。ここで、比較検討を行ったH∞外乱オブザーバ
の設計仕様を示す。制御対象は、図9のようにノミナル
プラントの出力側に乗法的変動が存在するプラントとし
て表すことができる。ここで、H∞補償器設計仕様を以
下のように定め、混合感度問題を解く。この混合感度問
題の解法については、例えば、システム制御情報学会
編、前川他「H∞制御の基礎」第41回システム制御情
報講習会テキスト(1992年)などで知られている。
ーバの有効性を検討するため、H∞外乱オブザーバと比
較する。ここで、比較検討を行ったH∞外乱オブザーバ
の設計仕様を示す。制御対象は、図9のようにノミナル
プラントの出力側に乗法的変動が存在するプラントとし
て表すことができる。ここで、H∞補償器設計仕様を以
下のように定め、混合感度問題を解く。この混合感度問
題の解法については、例えば、システム制御情報学会
編、前川他「H∞制御の基礎」第41回システム制御情
報講習会テキスト(1992年)などで知られている。
【0078】[仕様1]ロバスト安定の観点から、5×
10-3[rad/sec]以上の高周波領域において相補感度
関数WT(s)のゲインは0[dB]とし、−20[dB/d
ec]で減衰する [仕様2]できるだけ感度関数S(s)を低周波領域で
小さくする仕様1より、変動上限の安定な相補感度関数
WT(s)を
10-3[rad/sec]以上の高周波領域において相補感度
関数WT(s)のゲインは0[dB]とし、−20[dB/d
ec]で減衰する [仕様2]できるだけ感度関数S(s)を低周波領域で
小さくする仕様1より、変動上限の安定な相補感度関数
WT(s)を
【0079】
【数16】
【0080】と決め、仕様2を満足するため、感度関数
WS(s)をパラメータρ>0を含んだ
WS(s)をパラメータρ>0を含んだ
【0081】
【数17】
【0082】とし、これを調整することによって低感度
化を図る。制御系CADのMATLAB[7]を用い、H∞
標準問題をρ=14、自由パラメータU=0で解き、H
∞補償器を得た。以上から設計されたH∞外乱オブザー
バを、μ設計外乱オブザーバとの比較対象とした。
化を図る。制御系CADのMATLAB[7]を用い、H∞
標準問題をρ=14、自由パラメータU=0で解き、H
∞補償器を得た。以上から設計されたH∞外乱オブザー
バを、μ設計外乱オブザーバとの比較対象とした。
【0083】従来、押出成形機PID温度制御は、バレ
ル間の熱干渉を考慮せずに各バレルを独立なものとして
扱うため、整定時間が大きい等の欠点があった。そこで
我々は、バレル相互に熱干渉があるn段バレル押出成形
機の汎用モデルを構築した。このモデルに基づき状態フ
ィードバックによる非干渉化を試みたが、プラントのモ
デル変動や外乱入力により定常偏差を生じ、完全な非干
渉化を実現できないことが判明した。
ル間の熱干渉を考慮せずに各バレルを独立なものとして
扱うため、整定時間が大きい等の欠点があった。そこで
我々は、バレル相互に熱干渉があるn段バレル押出成形
機の汎用モデルを構築した。このモデルに基づき状態フ
ィードバックによる非干渉化を試みたが、プラントのモ
デル変動や外乱入力により定常偏差を生じ、完全な非干
渉化を実現できないことが判明した。
【0084】それは、状態フィードバックによる非干渉
化制御がノミナルプラントに対して有効であり、ロバス
ト性が不足しているからである。それを改善するため、
規範モデルと、μ設計補償器からなるμ設計外乱オブザ
ーバを非干渉化PID制御に付加したところ、プラント
にモデル化誤差が存在したり、外乱が入力しても、目標
値から±1℃以内に収束する安定した制御性能が得られ
ることをモデル機実験で確認することができた。
化制御がノミナルプラントに対して有効であり、ロバス
ト性が不足しているからである。それを改善するため、
規範モデルと、μ設計補償器からなるμ設計外乱オブザ
ーバを非干渉化PID制御に付加したところ、プラント
にモデル化誤差が存在したり、外乱が入力しても、目標
値から±1℃以内に収束する安定した制御性能が得られ
ることをモデル機実験で確認することができた。
【0085】本発明の好適な実施形態について説明した
が、本発明は上記の実施形態により何ら限定されるもの
ではない。例えば、上記の実施形態は、溶融樹脂の押出
成形を例に挙げて説明したが、本発明は押出成形に限ら
ず射出成形にも適用が可能である。また、樹脂に限らず
金属の押出や射出成形にも適用が可能である。さらに、
加熱シリンダの温度制御を例に挙げて説明したが、本発
明は温度制御が可能な他の部位にも適用が可能である。
が、本発明は上記の実施形態により何ら限定されるもの
ではない。例えば、上記の実施形態は、溶融樹脂の押出
成形を例に挙げて説明したが、本発明は押出成形に限ら
ず射出成形にも適用が可能である。また、樹脂に限らず
金属の押出や射出成形にも適用が可能である。さらに、
加熱シリンダの温度制御を例に挙げて説明したが、本発
明は温度制御が可能な他の部位にも適用が可能である。
【0086】
【発明の効果】本発明によれば、H∞制御理論による問
題点を取り除き、外乱やモデル変動の影響が生じても各
バレルの異なる目標値に対し定常偏差を微小範囲内に収
めて熱干渉問題を解決するとともに、H∞制御理論によ
る制御方法や制御装置よりも優れた速応性・ロバスト性
・安定性を有する成形機の温度制御装置及びその設計方
法を得ることができる。
題点を取り除き、外乱やモデル変動の影響が生じても各
バレルの異なる目標値に対し定常偏差を微小範囲内に収
めて熱干渉問題を解決するとともに、H∞制御理論によ
る制御方法や制御装置よりも優れた速応性・ロバスト性
・安定性を有する成形機の温度制御装置及びその設計方
法を得ることができる。
【図1】本発明の温度制御装置における制御系の設計手
順を説明する流れ図である。
順を説明する流れ図である。
【図2】本発明の成形機の温度制御装置を得るために用
いられた溶融樹脂の押出成形機のモデル機を示す概略図
である。
いられた溶融樹脂の押出成形機のモデル機を示す概略図
である。
【図3】n段連結バレル押出成形機のモデル図である。
【図4】図2のモデル機における回路構成を説明する図
である。
である。
【図5】状態フィードバックHを用いた押出成形機三連
バレルの非干渉化制御のブロック線図である。
バレルの非干渉化制御のブロック線図である。
【図6】μ設計外乱オブザーバを付加した非干渉化PI
D制御系のブロック線図である。
D制御系のブロック線図である。
【図7】拡大システムのブロック線図である。
【図8】本発明で用いたμ設計補償手段の概念図であ
る。
る。
【図9】プラントの乗法的変動を示すグラフである。
【図10】PID制御と非干渉化PID制御のシミュレ
ーション結果を示すグラフで、(a)は外乱やモデル化
誤差が発生していない理想的環境における制御シミュレ
ーションを示し、(b)は途中で冷却外乱が発生した場
合の制御シミュレーション結果を示す。
ーション結果を示すグラフで、(a)は外乱やモデル化
誤差が発生していない理想的環境における制御シミュレ
ーションを示し、(b)は途中で冷却外乱が発生した場
合の制御シミュレーション結果を示す。
【図11】プラントにモデル化誤差がある場合の目標値
応答シミュレーション結果を示すグラフで、(a)は非
干渉化PID制御のみの応答を示し、(b)はそれにμ
設計外乱オブザーバを付加したとき、およびH∞外乱オ
ブザーバを付加したときのそれぞれの応答を示してい
る。
応答シミュレーション結果を示すグラフで、(a)は非
干渉化PID制御のみの応答を示し、(b)はそれにμ
設計外乱オブザーバを付加したとき、およびH∞外乱オ
ブザーバを付加したときのそれぞれの応答を示してい
る。
【図12】外乱応答を検証したシミュレーション結果を
示すグラフである。
示すグラフである。
【図13】図12の応答拡大波形図である。
【図14】μ設計外乱オブザーバを付加したときの外乱
応答特性実験結果を示すグラフである。
応答特性実験結果を示すグラフである。
【図15】摂動要素をΔ1,Δ2とした場合の構造化摂動
の一例を示す図である。
の一例を示す図である。
【図16】樹脂を押出成形する成形機の構成を説明する
ための概略図である。
ための概略図である。
1 押出成形機(成形機) 10 加熱シリンダ 11〜13 バレル 20 ダイ 21 押出口 30 押出機構 41〜43 ヒータベルト 61〜63 冷却ファン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岩谷 征 神奈川県川崎市幸区神明町1丁目80番地 株式会社池貝内 Fターム(参考) 4F202 AR06 CA11 CB02 CN01 CN05 4F206 AR06 JA03 JQ46 JQ48 JQ90 4F207 AR06 KA01 KK43 KM14 KM15
Claims (4)
- 【請求項1】 ダイを用いて溶融材料を所定形状の製品
に成形する成形機に設けられ、熱干渉や外乱の影響を遮
断して前記溶融材料を所定温度に維持する成形機の温度
制御装置において、 温度制御を行うために前記成形機の加熱シリンダに供給
される入力値から、前記加熱シリンダから出力される出
力値までの伝達関数に基づいて前記加熱シリンダの規範
モデルを求める伝達関数演算手段と、 前記規範モデルの出力と前記所定部位の実際の出力との
間に差があるかどうかを判断する判断手段と、 前記加熱シリンダに予め設定された目標値の変動に対し
ては応答せず、前記判断手段により前記規範モデルの出
力と前記加熱シリンダの実際の出力との間に差が生じた
場合に動作するμ設計補償手段と、 を有することを特徴とする成形機の温度制御装置。 - 【請求項2】 前記μ設計補償手段は、制御対象の入力
側に加わる外乱の影響による仮想摂動と、希望の周波数
帯域で前記外乱に対して低感度とするための重み関数と
を有する外乱抑圧問題部と、入力信号の形と等しい形の
出力信号が、ある時間だけおくれて発生するむだ時間要
素部と、おくれ伝達関数を有するおくれ要素部と、ゲイ
ン定数部とを有する拡張システムを有することを特徴と
する成形機の温度制御装置。 - 【請求項3】 前記μ設計補償手段からなるμ設計外乱
オブザーバを非干渉化PID制御手段に付加したことを
特徴とする請求項1又は2に記載の成形機の温度制御装
置。 - 【請求項4】 溶融材料をダイから押し出し又はダイに
射出して所定形状の成形品を成形する成形機に設けら
れ、熱干渉や外乱の影響を遮断して前記溶融材料を所定
温度に維持する成形機の温度制御装置に用いられる制御
系の設計方法において、 成形する際の諸条件にしたがってモデリングを行い、シ
ステム同定によって制御対象のモデリング誤差及び制御
系の摂動を測定し、制御系に熱干渉が存在するか否かを
判断し、熱干渉があれば状態フィードバックを導入して
相互に熱干渉を生じている部分を非干渉化させ、前記部
分を独立したサブシステムに分割し、前記制御系に不確
かさがあるか否かを判断し、不確かさがある場合にはこ
れを算出し、μ設計外乱オブザーバを用いてロバスト安
定性を補償すること、 を特徴とする成形機の温度制御装置の設計方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30171699A JP2001113588A (ja) | 1999-10-22 | 1999-10-22 | 成形機の温度制御装置及びその温度制御装置に用いる制御系の設計方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30171699A JP2001113588A (ja) | 1999-10-22 | 1999-10-22 | 成形機の温度制御装置及びその温度制御装置に用いる制御系の設計方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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