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JP2001160084A - 電子回路の解析装置および電子回路の解析方法 - Google Patents

電子回路の解析装置および電子回路の解析方法

Info

Publication number
JP2001160084A
JP2001160084A JP2000207278A JP2000207278A JP2001160084A JP 2001160084 A JP2001160084 A JP 2001160084A JP 2000207278 A JP2000207278 A JP 2000207278A JP 2000207278 A JP2000207278 A JP 2000207278A JP 2001160084 A JP2001160084 A JP 2001160084A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic circuit
circuit
electronic
analysis
component
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2000207278A
Other languages
English (en)
Inventor
Minoru Sudo
稔 須藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
Priority to JP2000207278A priority Critical patent/JP2001160084A/ja
Priority to CNB001288733A priority patent/CN1171160C/zh
Publication of JP2001160084A publication Critical patent/JP2001160084A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】 容易にかつ効率的に電子回路の解析を行うこ
と。 【解決手段】 複数のスイッチング・レギュレータ回路
に関するデータおよびスイッチング・レギュレータ回路
において使用する複数の電子部品に関するデータを記憶
する記憶部103と、スイッチング・レギュレータ回路
の選択、部品選択、負荷設定、解析モード選択をする入
力部102と、選択された電子部品および設定された負
荷に基づいて、選択された動作解析のモードにしたがっ
て、選択されたスイッチング・レギュレータ回路の特性
を解析するCPU101と、解析された結果を表示する
表示部104とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、スイッチングレギ
ュレータ回路等の電子回路製品の特性を解析するための
電子回路の解析装置、電子回路の解析方法、電子回路の
解析方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録
したコンピュータ読み取り可能な記録媒体および電子回
路の解析方法をコンピュータに実行させるプログラムの
供給方法に関する。
【0002】
【従来の技術】電子回路の特性は、使用する集積回路
(IC)、電子部品、電子回路全体の構成、使用する周
波数帯域等によって、大きく変化する。
【0003】例えば、スイッチング(SW)レギュレー
タ回路は、SWレギュレータ(SWレギュレータ回路を
構成すると共にSWレギュレータ回路の出力電圧を制御
するための制御ICで、スイッチング回路を内蔵しない
IC、スイッチング回路を内蔵するIC等がある。;以
下、SWレギュレータ用制御ICと称する。)及び、S
Wレギュレータ用制御ICの外部に付加する外付け電子
部品によって構成され、SWレギュレータ用制御ICの
特性は、入力電圧や出力電圧、出力電流等のユーザの使
用条件、外付け電子部品の特性によって大きく変化す
る。したがって、ユーザにとって、所望の使用条件にお
いて最適なSWレギュレータ用制御IC及びその外付け
部品を見出すということは、製品設計において重要な意
味を有する。
【0004】最適なSWレギュレータ用制御ICおよび
その外付け部品を見出すための、従来のSWレギュレー
タ用制御IC及びその外付け部品を含むSWレギュレー
タ回路の解析方法としては、実際の製品(SWレギュレ
ータ用制御IC)で実際の電子部品(コイルやコンデン
サ等)を、付け替えることでSWレギュレータ回路を構
成し、そのSWレギュレータ回路の実際の特性を評価装
置を使用して評価する方法があった。
【0005】すなわち、SWレギュレータ回路の解析を
するためには、実際の製品や実際の部品を購入し、評価
用のプリント基板を作製し、前記プリント基板に製品や
部品を半田小手を使用して付け替えて、実際の特性を評
価装置を使用して評価していた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来のSWレギュレータ回路の解析方法では、SWレギュ
レータを評価するために、製品(SWレギュレータ)や
さまざまな電子部品を購入する必要があり、また、実際
に評価するために評価用のプリント基板を作製する必要
があった。さらに、電子部品を半田小手にて付け替える
手間や、評価装置を用意し実際に評価を行うと多大な時
間を要するという問題があった。
【0007】また、実際の製品を入手できても、その製
品の性能は通常の特性の製品であり、最悪の場合にどの
ような特性になるのかを評価することができないという
問題点があった。
【0008】また、上記の如くSWレギュレータ回路の
解析は、回路構成や特性の複雑さ等の点から、特に困難
性を有するが、SWレギュレータ回路以外の電子回路を
解析する場合にも、同様の問題があった。
【0009】本発明は、上述した従来技術による問題を
解決するため、容易にかつ効率的に電子回路の解析をす
ることが可能な電子回路の解析装置、電子回路の解析方
法、電子回路の解析方法をコンピュータに実行させるプ
ログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒
体および電子回路の解析方法をコンピュータに実行させ
るプログラムの供給方法を提供することを課題としてい
る。
【0010】また、本発明は、SWレギュレータ回路を
容易にかつ効率的に解析をすることが可能なSWレギュ
レータ回路の解析装置、SWレギュレータ回路の解析方
法、、SWレギュレータ回路の解析方法をコンピュータ
に実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取
り可能な記録媒体およびSWレギュレータ回路の解析方
法をコンピュータに実行させるプログラムの供給方法を
提供することを課題としている。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、複数の
電子回路に関するデータを記憶する電子回路データ記憶
手段と、前記電子回路データ記憶手段により記憶された
データに係る電子回路の中から所望の電子回路を選択す
る電子回路選択手段と、コイル、コンデンサ等、前記電
子回路において使用する複数の電子部品に関するデータ
を記憶する部品データ記憶手段と、前記部品データ記憶
手段により記憶されたデータに係る電子部品の中から前
記電子回路において使用する1または複数の電子部品を
選択する部品選択手段と、前記電子回路の動作解析のモ
ードを指定する動作解析モード指定手段と、前記部品選
択手段により選択された電子部品に基づいて、前記動作
解析モード指定手段によって指定された動作解析モード
にしたがって、前記電子回路選択手段により選択された
電子回路の特性を解析する特性解析手段と、前記特性解
析手段により解析された結果を表示する解析結果表示手
段とを備えたことを特徴とする電子回路の解析装置が提
供される。
【0012】電子回路データ記憶手段は、複数の電子回
路に関するデータを記憶しており、電子回路選択手段
は、前記電子回路データ記憶手段により記憶されたデー
タに係る電子回路の中から所望の電子回路を選択する。
部品データ記憶手段は、コイル、コンデンサ等、前記電
子回路において使用する複数の電子部品に関するデータ
を記憶しており、部品選択手段は、前記部品データ記憶
手段により記憶されたデータに係る電子部品の中から前
記電子回路において使用する1または複数の電子部品を
選択する。動作解析モード指定手段は、前記電子回路の
動作解析のモードを指定する。特性解析手段は、前記部
品選択手段により選択された電子部品に基づいて、前記
動作解析モード指定手段によって指定された動作解析モ
ードにしたがって、前記電子回路選択手段により選択さ
れた電子回路の特性を解析する。解析結果表示手段は、
前記特性解析手段により解析された結果を表示する。こ
れにより、電子回路を選択し、部品を選択し、解析モー
ドを指定することにより、電子回路の特性を解析するこ
とができる。
【0013】ここで、前記電子回路に含まれる負荷を設
定する負荷設定手段を備え、前記解析手段は、前記部品
選択手段により選択された電子部品および前記負荷設定
手段により設定された負荷に基づいて、前記動作解析モ
ード指定手段によって指定された動作解析モードにした
がって、前記電子回路選択手段により選択された電子回
路の特性を解析するように構成してもよい。これによ
り、SWレギュレータ回路等の電子回路の動作解析を容
易に行うことができる。
【0014】また、さらに、前記電子回路選択手段によ
り選択された電子回路の回路構成に関する内容を表示
し、表示された前記電子部品が指示されることにより、
指示された電子部品として選択可能な部品の一覧を表示
する電子回路表示手段を備え、前記部品選択手段は、前
記電子回路表示手段により表示された部品一覧の中から
所望の電子部品を選択し、または前記部品一覧の中から
所望の電子部品を選択することに代えて、前記指示され
た電子部品の所望の特性の設定をするようにしてもよ
い。これにより、電子回路の回路構成を視認することが
でき、部品の選択を容易に行うことができる。
【0015】また、前記電子回路表示手段は、表示され
た電子部品の値を表示するようにしてもよい。これによ
り、電子回路を構成する電子部品の値を視認することが
できる。
【0016】また、前記動作解析モード指定手段が、動
作解析モードのうち、電源投入時の応答特性、または電
源変動時、負荷変動時等の過渡的な応答特性に関する解
析モードを指定し、前記解析結果表示手段が、前記特性
解析手段により解析された結果を、横軸を時間軸とした
応答波形出力で表示するようにしてもよい。これによ
り、過渡的な応答に関する解析を容易に行うことができ
る。
【0017】また、前記動作解析モード指定手段が、動
作解析モードのうち、負荷をパラメータとして出力電
圧、効率特性に関する解析モードを指定し、前記解析結
果表示手段が、前記特性解析手段により解析された結果
を、横軸を出力電流または負荷抵抗値として表示するよ
うにしてもよい。これにより、負荷をパラメータとして
SWレギュレータ回路等の電子回路の出力電圧、効率特
性に関する解析を容易に行うことができる。
【0018】また、前記解析結果表示手段は、前記電子
回路の動作解析中に、前記電子回路において使用する電
子部品の定格電流値を超える電流が流れる場合に、警告
を示すメッセージを表示するようにしてもよい。これに
より、電子回路において使用する部品の定格電流値を超
える電流が流れるような回路を設計することを未然に防
止することができる。
【0019】また、前記特性解析手段は、前記電子回路
選択手段により選択された電子回路の特性のうち、前記
電子回路の製造バラツキによって変化する通常の特性お
よび最悪の特性を解析するようにしてもよい。これによ
り、電子回路の通常の特性だけでなく最悪の特性も考慮
した解析を行うことができる。
【0020】また、解析する際の温度を指定する温度指
定手段を備え、前記特性解析手段は、前記温度指定手段
により指定された温度に基づいて、前記電子回路の特性
を解析するようにしてもよい。これにより、電子回路が
動作する温度を考慮した特性の解析を行うことができ
る。
【0021】また、前記部品データ記憶手段に、新たな
電子部品に関するデータを追加するための部品データ追
加手段を備えて成るようにしてもよい。これにより、新
たな電子部品に関するデータを追加することが可能にな
る。
【0022】また、前記電子回路は、スイッチングレギ
ュレータ回路であってもよく又、前記電子回路は、スイ
ッチングレギュレータ回路の制御用集積回路及び外付け
部品によって構成されているようにしてもよい。これに
より、動作解析が煩雑なスイッチングレギュレータ回路
の動作解析を容易に行うことが可能になる。
【0023】また、前記制御用集積回路の構成及び構成
部品の値に関するデータは、不正な解読を防止した形式
にして前記電子回路データ記憶手段に記憶されているよ
うにしてもよい。これにより、前記制御用集積回路の構
成及び構成部品の値に関するデータが、不正な解読から
保護される。
【0024】また、前記電子回路選択手段は、前記電子
回路データ記憶手段により記憶されたデータにかかる電
子回路の中から、複数の電子回路を組み合わせた組み合
わせ回路を選択するようにしてもよい。ここで、前記組
み合わせ回路は、複数の電子回路の直列回路、並列回路
又は直並列回路であってもよい。また、前記組み合わせ
回路は、複数のスイッチングレギュレータ回路の組み合
わせであってもよい。また、前記組み合わせ回路は、ス
イッチングレギュレータ回路とボルテージ・レギュレー
タ回路とを備える組み合わせ回路、又は、スイッチング
レギュレータ回路と電圧検出回路とを備える組み合わせ
回路であってもよい。これにより、複雑な組み合わせ回
路の動作解析を行うことが可能になる。
【0025】また、前記電子回路における寄生素子の特
性を設定するための寄生素子特性設定手段を備えて成る
ようにしてもよい。これにより、プリント基板等の寄生
素子を考慮した動作解析が可能になる。
【0026】また、本発明によれば、予め記憶された複
数の電子回路に関するデータに係る電子回路の中から所
望の電子回路を選択する電子回路選択ステップと、予め
記憶された、コイル、コンデンサ等、前記電子回路にお
いて使用する複数の電子部品に関するデータに係る電子
部品の中から前記電子回路において使用する1または複
数の電子部品を選択する部品選択ステップと、前記電子
回路に含まれる負荷を設定する負荷設定ステップと、前
記電子回路の動作解析のモードを指定する動作解析モー
ド指定ステップと、前記部品選択ステップにより選択さ
れた電子部品および前記負荷設定ステップにより設定さ
れた負荷に基づいて、前記動作解析モード指定ステップ
により指定された動作解析のモードにしたがって、前記
電子回路選択ステップにより選択された電子回路の特性
を解析する特性解析ステップと、前記特性解析ステップ
により解析された結果を表示する解析結果表示ステップ
とを備えて成ることを特徴とする電子回路の解析方法が
提供される。これにより、電子回路を選択し、部品を選
択し、負荷を設定し、解析モードを指定することによ
り、電子回路の特性を解析することができる。
【0027】また、本発明によれば、前述した電子回路
の解析方法をコンピュータに実行させるプログラムを記
録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記
録媒体が提供される。
【0028】また、前述した電子回路の解析方法をコン
ピュータに実行させるプログラムを、通信路を介して供
給するようにしたことを特徴とする電子回路の解析方法
をコンピュータに実行させるプログラムの供給方法が提
供される。また、前述した電子回路の解析方法をコンピ
ュータに実行させるプログラムを、利用者がインターネ
ットのホームページからダウンロード可能にしたことを
特徴とする電子回路の解析方法をコンピュータに実行さ
せるプログラムの供給方法が提供される。これにより、
利用者は、通信回線、あるいは、インターネットを介し
て、前記プログラムを容易に入手することが可能にな
る。
【0029】
【発明の実施の形態】以下に添付図面を参照して、この
発明に係る電子回路の解析装置、電子回路の解析方法、
電子回路の解析方法をコンピュータに実行させるプログ
ラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体お
よび電子回路の解析方法をコンピュータに実行させるプ
ログラムの供給方法の好適な実施の形態を詳細に説明す
る。
【0030】図1は、本発明の実施の形態に係る電子回
路の解析装置を示すハードウェア構成図で、スイッチン
グ(SW)レギュレータ回路に係る解析装置の例を示す
ブロック図である。図1において、周知のコンピュータ
によって構成されたSWレギュレータ回路の解析装置
(以下、解析装置と称する)100は、装置全体の制御
を司るとともに、特性の解析処理をおこなう中央処理装
置(CPU)101と、マウス等のポインティングデバ
イスやキーボード等によって構成された入力部102
と、ハードディスク等によって構成された記憶部103
と、CRT等によって構成された表示部104とを備え
ている。記憶部103には、複数のSWレギュレータ用
制御集積回路(IC)に関するデータ(製品データ)、
コイルやコンデンサ等、SWレギュレータ用制御集積回
路に外付けされてSWレギュレータ回路を構成する複数
の電子部品に関するデータ(部品データ)、及び、SW
レギュレータ回路の解析を行うためのプログラムが格納
されており、CPU101が前記プログラムを処理する
ことにより、後述する各種処理が行われる。前記プログ
ラムは、コンピュータ読み取り可能な記録媒体105に
記憶されており、記憶部103にインストールすること
によって実行可能になる。
【0031】尚、複数のSWレギュレータ用制御ICに
係る製品データは、予め、SWレギュレータ用制御IC
及び外付け部品によって構成されるSWレギュレータ回
路と関連付けられており、後述するように、前記製品デ
ータを選択することにより、前記製品データに対応する
SWレギュレータ回路が選択される。また、SWレギュ
レータ用制御ICの構成及びその構成部品の値に関する
データは、不正な解読を防止した形式にして記憶部10
3に記憶されている。
【0032】ここで、記憶部103は、複数の電子回路
に関するデータを記憶する電子回路データ記憶手段、お
よび、コイルやコンデンサ等、前記電子回路において使
用する複数の電子部品に関するデータを記憶する部品デ
ータ記憶手段を構成している。
【0033】また、入力部102は、電子回路データ記
憶手段により記憶されたデータに係る電子回路の中から
所望の電子回路を選択する電子回路選択手段、部品デー
タ記憶手段により記憶されたデータに係る電子部品の中
から前記電子回路において使用する1または複数の電子
部品の選択等を行う部品選択手段、電子回路に含まれる
負荷を設定する負荷設定手段、解析する際の温度を指定
する温度指定手段、電子回路の動作解析のモードを指定
する動作解析モード指定手段、新たな電子部品に関する
データを追加するための部品データ追加手段、電子回路
における寄生素子の特性を設定するための寄生素子特性
設定手段を構成している。
【0034】さらに、CPU101は、部品選択手段に
より選択された電子部品および前記負荷設定手段により
設定された負荷等に基づいて、前記動作解析モード指定
手段によって指定された動作解析モードにしたがって、
前記電子回路選択手段により選択された電子回路の特性
の解析を行う特性解析手段を構成している。
【0035】また、表示部104は、特性解析手段によ
り解析された結果等を表示する解析結果表示手段、電子
回路選択手段により選択された電子回路の回路構成に関
する内容を表示し、表示された前記電子部品が指示され
ることにより、指示された電子部品として選択可能な部
品の一覧等を表示する電子回路表示手段を構成してい
る。
【0036】図1において、入力部102により、解析
すべき条件に関するデータを入力する。ここで解析すべ
き条件とは、解析する製品(SWレギュレータ用制御I
C)の選択、前記製品の出力電圧の選択、前記製品の外
付け電子部品の選択、解析モードの選択であり、これら
の条件を入力部102により入力する。また、入力電
圧、負荷抵抗(出力電流)についても、実際に使用する
ユーザが条件を入力することにより設定する。
【0037】図2は、CPU101が記憶部103に記
憶された解析用プログラムを処理することにより、表示
部104に最初に表示される初期画面である。画面上部
のメニューバーには、SWレギュレータ回路を選択する
ための「File」、解析モードを選択するための「A
nalysis」、バラツキ時の特性などを選択するた
めの「Parameter」が表示されている。前記メ
ニューバーは、後述する各画面表示がなされる際にも、
それらとともに画面の上部に常時表示される。
【0038】図2において、「File」を入力部10
2のポインティングデバイスで選択すると、解析する製
品の一覧表が図3に示すような形式で表示される。5桁
のファイル名が、SWレギュレータ用制御ICの製品名
に対応する名称となっている。ファイル名をポインティ
ングデバイスで選択することにより、解析する製品を選
択する。解析する製品としては、たとえば、SWレギュ
レータ用制御ICとして製品名A−0001、A−00
02、A−0003、・・・、A−000NというN種
類が存在する場合、どの製品で解析を行うかを選択す
る。その製品のデータは、図1に示した記憶部103に
記憶されている。前記製品のデータは、適正な解析結果
が得られるように、各製品ごとに特性を合わせ込んで予
めモデル化されている。
【0039】尚、このとき、入力部102は、電子回路
データ記憶手段(記憶部103)により記憶されたデー
タに係る電子回路の中から所望の電子回路を選択する電
子回路選択手段を構成する。
【0040】前述の如くして、SWレギュレータ制御I
Cを選択することによってSWレギュレータ回路を選択
すると、表示部104の表示画面上には、図2に示した
メニューバーとともに、たとえば図4に示すような画面
が表示される。図4は、本発明の実施の形態にかかる解
析装置の表示部104に表示される回路接続図の一例を
示す図で、昇圧型のSWレギュレータ回路の例を示して
いる。
【0041】図4において、201はSWレギュレータ
用制御IC、202はコイル(L)、203はショット
キ・バリア・ダイオード(以下SBDと称する)、20
4はコンデンサ(Cout)、205は電源、206は負
荷抵抗である。
【0042】コイル(L)202、SBD203、コン
デンサ(Cout)204は、SWレギュレータ用制御I
CとともにSWレギュレータ回路を構成する外付け電子
部品であり、各電子部品の特性を決める値は、部品デー
タとして図1に示した記憶部103に記憶されている。
【0043】たとえば、コイル202であれば、そのイ
ンダクタンス値、直流抵抗値、定格電流値等のデータが
記憶されている。SBD203であれば、その順方向O
N電圧や、抵抗値、リーク電流等のデータが部品ごとに
記憶されている。また、コンデンサ204であれば、容
量値、等価直列抵抗値、許容リップル電流、リーク電流
等のデータが電子部品ごとに記憶されている。
【0044】尚、図4に示す例では、各電子部品に、各
々の値が並記されている。図4では、コイル202のイ
ンダクタンス値が100μH、コンデンサ204の容量
値が47μF、負荷抵抗206の抵抗値Routが1kΩ
であることが、各電子部品に並記されている。これによ
り、SWレギュレータ回路全体の構成を容易に把握する
ことができる。
【0045】各電子部品の選択は、図4に示した回路接
続図の各電子部品の図形を、入力部102のポインティ
ングデバイスを用いてクリックすることにより行われ
る。このとき、入力部102は、記憶部103により記
憶されたデータに係る電子部品の中から電子回路におい
て使用する1または複数の電子部品を選択する部品選択
手段を構成する。
【0046】部品選択手段としてのポインティングデバ
イスを用いて、図4に示された各電子部品をクリックす
ると、図5に示すようなプルダウン・メニュー400が
表示される。図5は、本発明の実施の形態にかかる解析
装置の表示部104に表示されるプルダウン・メニュー
の一例を示す図であり、部品選択時に表示されるもので
ある。例えば、図4のコイル202をポインティングデ
バイス102で選択すると、コイル202の部品名(コ
イルではあるが特性が異なるコイルの品名)として、A
BC〜HIJ等の部品名401が表示される。
【0047】プルダウン・メニュー400から所望の部
品名401をクリックすることにより、容易に所望の電
子部品の選択をすることができる。また、該当する製品
が見つからない場合は、プルダウンメニュー400中の
「other」402をクリックすることにより、図6
に示すボックス300が表示され、その中で電子部品の
特性値を設定することもできる。
【0048】図6は、解析装置の表示部104に表示さ
れるボックスの一例を示す図で、選択する電子部品がコ
イルの場合の例である。例えば、コイル202の特性の
設定は、部品選択手段を構成する入力部102のキーボ
ードから、インダクタンス値301、直流抵抗値30
2、および定格電流値303等の特性を入力することに
より行う。
【0049】入力電圧Vinの値は、図4に示した回路接
続図の電源205の図形をクリックすることで、その特
性値を設定するためのボックス(図示省略)が表示さ
れ、そのボックスの中で特性値を設定する。また、SW
レギュレータ回路に含まれる負荷抵抗206の値Rout
も、入力電圧Vinと同様に、図4に示した回路接続図の
負荷抵抗206の図形をクリックすることで、その特性
値を設定するためのボックス(同様に図示省略)が表示
され、そのボックスの中で特性値を設定する。このと
き、入力部102は、負荷設定手段を構成している。
【0050】つぎに、解析モードを選択する。解析モー
ドの種類としては、定常状態での解析モードのほかに、
電源投入時の応答、または電源変動時、負荷変動時等の
過渡応答の解析モード等がある。解析モードの選択は、
図2に示す「Analysis」を入力部102のポイ
ンティングデバイスによってクリックすることで、図7
に示すような、プルダウン・メニュー500が表示さ
れ、プルダウン・メニュー500の中から解析の種類を
選択することにより行う。このとき、入力部102は、
電子回路の動作解析のモードを指定する動作解析モード
指定手段を構成する。
【0051】図7は、本実施の形態にかかる解析装置の
表示部104に表示される解析モード選択のプルダウン
・メニューの一例を示す図で、解析モードを選択する際
に表示される。
【0052】図7において、たとえば、定常状態の解析
モード(「STEADY」501)を選択した場合は、
選択された条件で、定常状態での解析が実施され、たと
えば図8に示すような解析結果600が表示される。図
8は、本発明の実施の形態にかかる解析装置の表示部1
04に表示されるメッセージの一例を示す図であり、本
発明の定常解析終了時に表示されるものである。図8に
は、たとえば、効率、リップル電圧、デューティ比(D
UTY)、コイル・ピーク電流等の解析結果を表示す
る。
【0053】図8に示す解析結果(メッセージ)とは別
に、たとえば、横軸を時間、縦軸を出力電圧やコイルの
電流とした波形を表示させることも可能である。その波
形の例を図9に示す。図9は、本発明の実施の形態にか
かる解析装置の表示部104に表示される表示画面の一
例を示す図であり、定常解析終了時に表示されるもので
ある。図9には、横軸を時間として、縦軸にリップル電
圧及びコイル電流の波形を表示させている。
【0054】また、過渡応答の解析では、図7に示した
プルダウン・メニュー500において、解析モードとし
て、たとえば「START UP」502を選択する。
「START UP」502の解析では、電源投入時の
応答を解析する。その結果は、図10に示すような、横
軸を時間、縦軸を出力電圧やコイル電流とした波形を表
示させる。図10は、本発明の実施の形態にかかる解析
装置の表示部104に表示される別の表示画面の一例を
示す図であり、「START UP」502の解析後に
表示されるものである。
【0055】また、負荷をパラメータとした場合の解析
では、図7に示したプルダウン・メニュー500におい
て、解析モードとして、たとえば「Rout SWEE
P」505を選択する。「Rout SWEEP」505
の解析では、負荷抵抗値を変化させるように範囲指定を
した後、その範囲で負荷抵抗の値を変化させた解析を行
う。
【0056】その結果は、図11に示すような、横軸を
出力電流値、縦軸を出力電圧や効率として波形を表示さ
せる。図11は、本発明の実施の形態にかかる解析装置
の表示部104に表示される別の表示画面の一例を示す
図であり、「Rout SWEEP」505の解析後に表
示されるものである。
【0057】また、入力電圧Vinをパラメータとした場
合の解析では、図7に示したプルダウン・メニュー50
0において、解析モードとして、たとえば「Vin ST
EP」503を選択する。「Vin STEP」503の
解析では、入力電圧Vinをステップ状に変化させた場合
の応答特性の解析を行う。
【0058】その結果は、図12に示すような、横軸を
時間、縦軸を入力電圧Vinや出力電圧の波形が表示され
る。図12は、本発明の実施の形態にかかる解析装置の
表示部104に表示される別の表示画面の一例を示す図
であり、「Vin STEP」503の解析後に表示され
るものである。
【0059】また、負荷をパラメータとした場合の他の
解析では、図7に示したプルダウン・メニュー500に
おいて、解析モードとして、たとえば「Rout STE
P」504を選択する。「Rout STEP」504の
解析では、負荷抵抗206の抵抗値Routをステップ状
に変化させた場合の応答特性の解析を行う。
【0060】その結果は、図13に示すように、横軸を
時間、縦軸を出力電流Ioutや出力電圧として、これら
の波形を表示させる。図13は、本発明の実施の形態に
かかる解析装置の表示部104に表示される別の表示画
面の一例を示す図であり、「Rout STEP」504
の解析後に表示されるものである。
【0061】また、図1に示した表示部104には、解
析をしている途中で、コイルの最大定格電流を越えた場
合には、たとえば「警告!コイルの電流が定格電流を越
えています!」というような警告のメッセージを表示す
る。これにより、電子部品選択を再検討することをユー
ザに意識させるようにすることができる。
【0062】また、解析のパラメータ設定として、SW
レギュレータ回路の特性を通常状態(TYP)と最悪状
態(WORST)で設定できる。これは、図2のメニュ
ーバーの「Parameter」をクリックしてプルダ
ウンメニューを表示させ(図示せず)、前記プルダウン
メニューに表示される「TYP」と「WORST」のい
ずれかをクリックして選択することにより行う。このと
き、入力部102は、電子回路のバラツキを設定するた
めのバラツキ設定手段を構成する。これにより、製品の
特性値がノミナル値の場合の通常値と、製造バラツキに
よって最悪の状態にバラついた場合の最悪値を解析する
ことができる。この通常と最悪の製品のモデルは、図1
に示した記憶部103に記憶された製品データや部品デ
ータの中に記憶されている。
【0063】たとえば、定常解析で、通常品では、効率
が90%得られても、最悪品では85%しか得られない
というような解析結果が得られる。通常品と最悪品で
は、SWレギュレータ用制御ICのスイッチ素子のON
抵抗値等の特性値をモデルの中で変えている。当該解析
結果は、表示部104により表示される。
【0064】また、解析のパラメータ設定として温度を
変化させたときの解析を行うことを可能としている。温
度で変化するパラメータは図1に示した記憶部103に
記憶された製品データや部品データの中に記憶されてい
る。通常、温度に関するパラメータを指定しないときに
は25℃での解析が行われ、温度指定手段として機能す
る入力部102により温度が指定されると、指定された
温度での解析が行われる。
【0065】たとえば、定常解析で、25℃で効率が9
0%得られても、高温度(85℃)では、SWレギュレ
ータのスイッチ素子のON抵抗の温度依存性により、8
5%しか得られないというような解析結果が得られるこ
とになる。当該解析結果は、表示部104により表示さ
れる。
【0066】つぎに、解析装置の解析処理の内容につい
て説明する。図14は、本発明の実施の形態にかかる解
析装置の解析の手順を示すフローチャートである。ま
ず、最初に、入力部102のポインティングデバイスに
よって製品(SWレギュレータ用制御IC)を選択し、
これによりSWレギュレータ回路を選択する(ステップ
S1001)。つぎに、製品の出力電圧の設定、変更を
行う(ステップS1002)。
【0067】つぎに、外付け電子部品の選択や変更、お
よび、入力電圧、負荷の設定を行う(ステップS100
3)。つぎに解析モードの選択を行う(ステップS10
04)。解析モードの選択後、自動的に、その条件(外
付け電子部品、入力電圧、出力電圧、出力電流、およ
び、例えば、通常品(TYP)、温度が25℃)での解
析が開始され(ステップS1005)、解析の結果が表
示される(ステップSl006)。
【0068】そして、出力電圧の変更があるか否かを判
断し(ステップSl007)、変更がある場合(ステッ
プS1007肯定)は、ステップS1002へ移行し、
さらに製品の出力電圧の設定、変更を行う(ステップS
1002)。ステップS1007において、変更がない
場合(ステップSl007否定)は、つぎに、外付け電
子部品、入力電圧、負荷の条件の変更があるか否かを判
断する(ステップS1008)。
【0069】ステップS1008において、外付け電子
部品、入力電圧、負荷の条件の変更がある場合(ステッ
プSl008肯定)は、ステップS1003へ移行し、
さらに外付け電子部品の選択や変更、及び、入力電圧、
負荷の設定を行う(ステップS1003)。ステップS
1008において、変更がない場合(ステップS100
8否定)は、つぎに、解析モードの変更があるか否かを
判断し(ステップS1009)、解析モードの変更があ
る場合(ステップS1009肯定)は、ステップS10
04へ移行する。
【0070】一方、ステップS1009において、解析
モードの変更がない場合(ステップSl009否定)
は、すべての処理を終了する。また、ある一つの解析
後、別の解析を行う。必要に応じて、温度の設定や、製
品の通常特性、あるいは、最悪特性を選択し解析を行
う。図15は、本発明の他の実施の形態を説明するため
の図である。本実施の形態においては、SWレギュレー
タ回路において使用する複数の外付け電子部品に関する
データ(部品データ)の内容を、一般利用者が自由に、
追加、削除し変更することが可能なように構成してい
る。
【0071】即ち、図4において、部品選択手段として
のポインティングデバイスを用いて、図4に示された各
電子部品をクリックすると、図15に示すようなボック
ス1501が表示される。図15は、本実施の形態にか
かる解析装置の表示部104に表示されるボックスの一
例を示す図であり、部品選択時に表示されるものであ
る。例えば、図15においては、既登録のコイル202
の複数の部品名(Name)として、BCD、EFG〜
LMNが表示される。前記ボックス1501内の所望の
部品名をクリックすることにより、容易に所望の電子部
品の選択をすることができる。
【0072】また、所望の部品が登録されていない場合
は、「Add」をクリックすると図16のようなボック
ス1601が新たに表示され、利用者が、新たな電子部
品に関するデータを追加するための部品データ追加手段
としての入力部102のキーボードを操作することによ
り部品名や部品の特性値(本例では、特性値1〜3)を
入力して、OKをクリックすると、部品ファイルに、設
定した部品の名称及び特性が部品データとして登録され
る。前記部品ファイルは、部品データとして記憶部10
3に記憶される。特性値は、部品によって異なるが、例
えば、コイルであれば、インダクタンス値、直流抵抗
値、定格電流値等を設定する。また、部品名は、利用者
が独自につけることが可能である。また、図15、図1
6において、新たな電子部品を登録しない場合には、
「Cancel」をクリックして終了する。また、既登
録の部品データを削除する場合には、図15において、
所望の部品名を選択した後、「Delete」をクリッ
クすることにより行う。
【0073】前記部品データは、TEXT形式のファイ
ルとして、プログラムの存在するディレクトリに、ある
特定の名前の一つのファイルとして存在する。プログラ
ムは、そのファイルを部品データとして読み込み、前述
の如くして利用者が新たな部品データを追加すると、そ
のファイルに追加されることになる。
【0074】図17〜図21は、本発明に係るさらに他
の実施の形態を示す図であり、複数の電子回路の組み合
わせ回路を解析する解析装置の例を示している。
【0075】図2において、「File」を入力部10
2のポインティングデバイスで選択すると、解析する製
品の一覧表が図17に示すような形式で表示される。即
ち、図17において、直流電源Vinに接続される製品A
と、製品Aの出力に接続される製品Bを選択できるよう
になる。製品Aとして選択可能な複数のファイル名(C
DEFG.○○○〜HIJKL.○○○)、製品Bとし
て選択可能な複数のファイル名(MNOPQ.○○○〜
STUVW.○○○)が表示されている。各製品のデー
タは、図1に示した記憶部103に記憶されている。
【0076】電子回路選択手段として機能する入力部1
02のポインティングデバイスを用いて、入力直流電源
Vinに接続される製品Aを選択し、「ADD」をクリ
ックする。次に製品Aの出力部に接続される製品Bを選
択し、全ての製品の選択が終了した後、「OK」をクリ
ックする。誤って、不要な製品を選択した場合は、その
製品を選択して「DELETE」をクリックする。製品
A及び製品Bは、各々、複数選択することも可能であ
る。
【0077】例えば、入力直流電源Vinに接続される製
品Aとして昇圧型スイッチング・レギュレータの製品
(A−001)を選択すると、図18に示すように、昇
圧型スイッチング・レギュレータの製品(A−001)
及び外付け電子部品によって構成されたSWレギュレー
タ回路1801が表示部104に表示される。次に、
「ADD」をクリックした後、製品Aの出力部に直列接
続される製品Bとして、降圧型スイッチング・レギュレ
ータの製品(B−003)を選択すると、図18に示す
ように、降圧型スイッチング・レギュレータの製品(B
−003)及び外付け電子部品によって構成されたSW
レギュレータ回路1802が、SWレギュレータ回路1
801の出力部に直列接続された状態で表示される。そ
の後、「OK」をクリックして全ての製品の選択を終了
することにより、直列接続された複数のSWレギュレー
タ回路から成る組み合わせ回路を選択し、解析を行うこ
とができる。
【0078】図19は、前記同様にして、SWレギュレ
ータ回路1901の出力部に、ボルテージ・レギュレー
タ回路1902を選択して、直列接続した組み合わせ回
路である。この回路を用いて、解析が行なわれる。尚、
少なくとも1つ以上のSWレギュレータ回路と、少なく
とも1つ以上のボルテージ・レギュレータ回路を組み合
わせた回路になるようにしてもよい。
【0079】図20は、前記同様にして、SWレギュレ
ータ回路2001の出力部に、電圧検出回路2002を
選択して、直列接続した組み合わせ回路である。この回
路を用いて、解析が行なわれる。尚、少なくとも1つ以
上のSWレギュレータ回路と、少なくとも1つ以上の電
圧検出回路を組み合わせた回路になるようにしてもよ
い。
【0080】図21は、直流電源Vinに直列接続された
SWレギュレータ回路2101、2102と、直流電源
Vinに直列接続されたSWレギュレータ回路2103、
2104とを並列接続して成る組み合わせ回路の例であ
る。図21の直並列接続回路を選択する場合には、図1
7において、先ず、製品AとしてSWレギュレータ回路
2101の製品を選択した後、「ADD」をクリック
し、次に、製品BとしてSWレギュレータ回路2102
の製品を選択する。次に、SWレギュレータ回路210
1、2102の製品の選択を解除して、再び、製品Aと
してSWレギュレータ回路2103の製品を選択した
後、「ADD」をクリックし、次に、製品BとしてSW
レギュレータ回路2104の製品を選択し、「OK」を
クリックする。これにより、図21に示すような、直並
列接続された電子回路の組み合わせ回路が選択され、該
組み合わせ回路の動作解析を行うことができる。
【0081】図22〜図23は、本発明に係るさらに他
の実施の形態を示す図であり、配線による寄生素子やプ
リント基板の寄生素子を考慮した解析が可能な電子回路
の解析装置の例を示している。
【0082】図2において、「File」を入力部10
2のポインティングデバイスで選択し、解析する製品の
一覧表が表示された図3の状態で、ファイル名をポイン
ティングデバイスで選択することにより、解析する製品
を選択する。これにより、図22の回路図が表示部10
4に表示される。
【0083】図22において、A−001はSWレギュ
レータ用制御ICであり又、コイルL1、ダイオードD
1、コンデンサCout1および負荷抵抗Rout1は外付け部
品であるが、Z1〜Z12と表示されたものが、配線や
プリント配線基板の寄生素子に相当する。尚、Z1〜Z
12のデフォルトの値は、理想的に接続されたのと同等
の0Ωの抵抗である。
【0084】例えば、プリント基板上で、Z12の個所
に寄生素子が存在する場合は、寄生素子の特性を設定す
るための寄生素子特性設定手段を構成する入力部102
のポインティングデバイスを用いて、Z12をクリック
する。これにより、図23に示すようなZ12の等価回
路を選択するためのボックス、及び、図24に示すよう
な寄生素子の値を設定するための表示が同時に行われ
る。
【0085】最初に、前記複数(本例では3種類)の等
価回路のいずれかを選択することによって、Z12に係
るインピーダンスの形式を選択する。ここでは、複数の
RLCの組み合わせの中から、所望のインピーダンスを
選択するために、寄生素子特性設定手段を構成する入力
部102を用いて、いずれかの□をクリックする。クリ
ックによって選択された□内には、チェック・マーク
(レ)が表示される。その後、図24に示すように、イ
ンダクタンス(L)値、抵抗(R)値、容量(C)値を
入力して「OK」をクリックすると、そのインピーダン
スがZ12の箇所に挿入される。
【0086】これによって、プリント基板上等の寄生素
子の影響を考慮して、スイッチング・レギュレータ回路
の解析が可能となる。
【0087】図25は、上記した解析用プログラムをネ
ットワークを介して供給する方法を示す図である。図2
5において、前記プログラムを格納したサーバ2501
および利用者のコンピュータ2503a〜2503n
が、通信路としてのインターネット2502を介して接
続される。各利用者は自己の使用するコンピュータ25
03a〜2503nを用いて、インターネット2502
を経由してサーバ2501にアクセスし、サーバ250
1上に設けられたホームページから、前記プログラムを
ダウンロードして使用する。これにより、利用者は、簡
単に前記プログラムを入手し、該プログラムを実行し
て、電子回路の動作解析を行うことが可能になる。
【0088】以上説明したように、本実施の形態によれ
ば、SWレギュレータ回路を選択し、電子部品を選択
し、負荷を設定し、解析モードを指定することにより、
SWレギュレータ回路の特性を解析することができ、こ
れにより、容易にかつ効率的にSWレギュレータ回路の
解析をすることができる。
【0089】また、本実施の形態によれば、SWレギュ
レータ回路の回路構成を視認することができ、電子部品
の選択を容易に行うことができる。また、本実施の形態
によれば、過渡的な応答に関する解析を容易に行うこと
ができる。また、本実施の形態によれば、負荷をパラメ
ータとしてSWレギュレータ回路の出力電圧、効率特性
に関する解析を容易に行うことができる。
【0090】また、本実施の形態によれば、SWレギュ
レータ回路において使用する電子部品の定格電流値を超
える電流が流れるような回路を設計することを未然に防
止することができる。また、本実施の形態によれば、S
Wレギュレータ回路の通常の特性だけでなく最悪の特性
も考慮した解析を行うことができる。また、本実施の形
態によれば、SWレギュレータ回路が動作する温度を考
慮した特性の解析を行うことができる。
【0091】また、本実施の形態によれば、SWレギュ
レータ回路、ボルテージ・レギュレータ、電圧検出回路
等の直列回路、並列回路、直並列回路の動作解析を容易
に行うことが可能になる。
【0092】また、寄生素子を考慮した動作解析が可能
になる等の効果を奏する。
【0093】尚、本実施の形態で説明したSWレギュレ
ータ回路の解析方法は、予め用意されたプログラムをパ
ーソナルコンピュータやワークステーション等のコンピ
ュータで実行することにより実現される。このプログラ
ムは、ハードディスク、フロッピー(登録商標)ディス
ク、CD−ROM、MO、DVD等のコンピュータで読
み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによっ
て記録媒体から読み出されることによって実行される。
またこのプログラムは、上記記録媒体を介して、また伝
送媒体として、インターネット等のネットワークを介し
て配布することができる。
【0094】また、本実施の形態ではSWレギュレータ
回路の例で説明したが、発振回路、演算増幅回路、演算
増幅回路を用いた信号処理回路、温度・光・湿度・磁気
等のセンサ回路等、各種のデジタル・アナログ電子回路
の解析に適用することが可能になる。これらの電子回路
において、負荷がない場合には、負荷の設定は不要にな
る。
【0095】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
スイッチングレギュレータ回路等の電子回路を選択し、
電子部品を選択し、解析モードを指定することにより、
電子回路の特性を解析することができ、これにより、容
易にかつ効率的に電子回路の解析をすることが可能な解
析装置が得られるという効果を奏する。
【0096】また、前記電子回路に含まれる負荷を設定
する負荷設定手段を備え、前記解析手段は、前記部品選
択手段により選択された電子部品および前記負荷設定手
段により設定された負荷に基づいて、前記動作解析モー
ド指定手段によって指定された動作解析モードにしたが
って、前記電子回路選択手段により選択された電子回路
の特性を解析するように構成することにより、SWレギ
ュレータ回路等の電子回路の動作解析を容易に行うこと
ができる。
【0097】また、電子回路表示手段を備えることによ
り、電子回路の回路構成を視認することができ、部品の
選択を容易に行うことができる。このとき、前記電子回
路表示手段は、表示された電子部品の値を表示するよう
に構成すれば、電子回路を構成する電子部品の値を視認
することができる。
【0098】また、動作解析モード指定手段が、動作解
析モードのうち、電源投入時の応答特性、または電源変
動時、負荷変動時等の過渡的な応答特性に関する解析モ
ードを指定し、前記解析結果表示手段が、前記特性解析
手段により解析された結果を、横軸を時間軸とした応答
波形出力で表示するように構成することにより、過渡的
な応答に関する解析を容易に行うことができる。
【0099】また、動作解析モードのうち、負荷をパラ
メータとして出力電圧、効率特性に関する解析モードを
指定し、特性解析手段により解析された結果を、横軸を
出力電流または負荷抵抗値として表示するように構成す
ることにより、負荷をパラメータとしてSWレギュレー
タ回路等の電子回路の出力電圧、効率特性に関する解析
を容易に行うことができる。
【0100】また、電子回路において使用する電子部品
の定格電流値を超える電流が流れる場合に、警告を示す
メッセージを表示するように構成することにより、電子
回路において使用する部品の定格電流値を超える電流が
流れるような回路を設計することを未然に防止すること
ができる。
【0101】また、電子回路の製造バラツキによって変
化する通常の特性および最悪の特性を解析するように構
成することにより、電子回路の通常の特性だけでなく最
悪の特性も考慮した解析を行うことができる。
【0102】また、指定された温度に基づいて、電子回
路の特性を解析するように構成することにより、電子回
路が動作する温度を考慮した特性の解析を行うことがで
きる。
【0103】また、新たな電子部品に関するデータを追
加可能に構成することにより、利用の利便性が向上す
る。
【0104】また、制御用集積回路の構成及び構成部品
の値に関するデータを、不正な解読が不能な状態で記憶
すれば、制御用集積回路の構成及び構成部品の値に関す
るデータを、不正な解読から保護することが可能にな
る。
【0105】また、複数の電子回路の組み合わせ回路を
選択できるようにすることにより、多様な電子回路の解
析を容易に行うことが可能になる。
【0106】また、電子回路における寄生素子を考慮し
た動作解析が可能なように構成することにより、動作解
析の精度を向上させることが可能になる。
【0107】また、本発明によれば、容易にかつ効率的
にSWレギュレータ回路等の電子回路の解析を行うこと
が可能な解析方法が得られるという効果を奏する。
【0108】また、本発明に係る記録媒体は、電子回路
の動作解析方法をコンピュータに実行させるプログラム
を記録したことで、そのプログラムが機械読み取り可能
となり、これによって、前記解析方法の動作をコンピュ
ータによって実現することができる。
【0109】また、本発明によれば、電子回路の解析方
法をコンピュータに実行させるプログラムを、インター
ネット等の通信路を介して供給するようにしているた
め、利用者は、容易に前記プログラムを入手することが
可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係るスイッチング・レギ
ュレータ回路の解析装置のハードウエア構成を示すブロ
ック図である。
【図2】本発明の実施の形態に係るスイッチング・レギ
ュレータ回路の解析装置の表示部に表示される初期画面
の一例を示す図である。
【図3】本発明の実施の形態に係るスイッチング・レギ
ュレータ回路の解析装置の表示部に表示されるボックス
の一例を示す図である。
【図4】本発明の実施の形態に係るスイッチング・レギ
ュレータ回路の解析装置の表示部に表示される回路接続
図の一例を示す説明図である。
【図5】本発明の実施の形態に係るスイッチング・レギ
ュレータ回路の解析装置の表示部に表示されるプルダウ
ン・メニューの一例を示す図である。
【図6】本発明の実施の形態に係るスイッチング・レギ
ュレータ回路の解析装置の表示部に表示されるボックス
の一例を示す図である。
【図7】本発明の実施の形態に係るスイッチング・レギ
ュレータ回路の解析装置の表示部に表示されるプルダウ
ン・メニューの一例を示す図である。
【図8】本発明の実施の形態に係るスイッチング・レギ
ュレータ回路の解析装置の表示部に表示される解析結果
の一例を示す図である。
【図9】本発明の実施の形態に係るスイッチング・レギ
ュレータ回路の解析装置の表示部に表示される解析結果
の一例を示す図である。
【図10】本発明の実施の形態に係るスイッチング・レ
ギュレータ回路の解析装置の表示部に表示される解析結
果の一例を示す図である。
【図11】本発明の実施の形態に係るスイッチング・レ
ギュレータ回路の解析装置の表示部に表示される解析結
果の一例を示す図である。
【図12】本発明の実施の形態に係るスイッチング・レ
ギュレータ回路の解析装置の表示部に表示される解析結
果の一例を示す図である。
【図13】本発明の実施の形態に係るスイッチング・レ
ギュレータ回路の解析装置の表示部に表示される解析結
果の一例を示す図である。
【図14】本発明の実施の形態に係るスイッチング・レ
ギュレータ回路の解析装置の解析の手順を示すフローチ
ャートである。
【図15】本発明の他の実施の形態に係るスイッチング
・レギュレータ回路の解析装置の表示部に表示されるボ
ックスの一例を示す図である。
【図16】本発明の他の実施の形態に係るスイッチング
・レギュレータ回路の解析装置の表示部に表示されるボ
ックスの一例を示す図である。
【図17】本発明のさらに他の実施の形態に係るスイッ
チング・レギュレータ回路の解析装置の表示部に表示さ
れるボックスの一例を示す図である。
【図18】本発明のさらに他の実施の形態に係るスイッ
チング・レギュレータ回路の解析装置の表示部に表示さ
れる回路接続図の一例を示す説明図である。
【図19】本発明のさらに他の実施の形態に係るスイッ
チング・レギュレータ回路の解析装置の表示部に表示さ
れる回路接続図の一例を示す説明図である。
【図20】本発明のさらに他の実施の形態に係るスイッ
チング・レギュレータ回路の解析装置の表示部に表示さ
れる回路接続図の一例を示す説明図である。
【図21】本発明のさらに他の実施の形態に係るスイッ
チング・レギュレータ回路の解析装置の表示部に表示さ
れる回路接続図の一例を示す説明図である。
【図22】本発明のさらに他の実施の形態に係るスイッ
チング・レギュレータ回路の解析装置の表示部に表示さ
れる回路接続図の一例を示す説明図である。
【図23】本発明の他の実施の形態に係るスイッチング
・レギュレータ回路の解析装置の表示部に表示される等
価回路のボックスの一例を示す図である。
【図24】本発明の他の実施の形態に係るスイッチング
・レギュレータ回路の解析装置の表示部に表示される等
価回路設定用ボックスの一例を示す図である。
【図25】本発明の実施の形態に係る解析方法のプログ
ラムを供給する方法に使用するシステムの構成図であ
る。
【符号の説明】
100・・・スイッチング・レギュレータ回路の解析装
置 101・・・CPU 102・・・入力部 103・・・記憶部 104・・・表示部 201・・・スイッチング・レギュレータ(スイッチン
グ・レギュレータ用制御IC) 202・・・コイル 203・・・ショットキ・バリア・ダイオード 204・・・コンデンサ 205・・・電源 206・・・抵抗 300、1501、1601・・・ボックス 1801、1802、1901、2001、2101、
2102、2103、2104・・・SWレギュレータ
回路 400、500・・・プルダウン・メニュー 1902・・・ボルテージ・レギュレータ 2002・・・電圧検出回路 2501・・・サーバ 2502・・・通信路としてのインターネット 2503a〜2503n・・・利用者側コンピュータ

Claims (22)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の電子回路に関するデータを記憶す
    る電子回路データ記憶手段と、 前記電子回路データ記憶手段により記憶されたデータに
    係る電子回路の中から所望の電子回路を選択する電子回
    路選択手段と、 コイル、コンデンサ等、前記電子回路において使用する
    複数の電子部品に関するデータを記憶する部品データ記
    憶手段と、 前記部品データ記憶手段により記憶されたデータに係る
    電子部品の中から前記電子回路において使用する1また
    は複数の電子部品を選択する部品選択手段と、 前記電子回路の動作解析のモードを指定する動作解析モ
    ード指定手段と、 前記部品選択手段により選択された電子部品に基づい
    て、前記動作解析モード指定手段によって指定された動
    作解析モードにしたがって、前記電子回路選択手段によ
    り選択された電子回路の特性を解析する特性解析手段
    と、 前記特性解析手段により解析された結果を表示する解析
    結果表示手段と、を備えたことを特徴とする電子回路の
    解析装置。
  2. 【請求項2】 前記電子回路に含まれる負荷を設定する
    負荷設定手段を備え、前記解析手段は、前記部品選択手
    段により選択された電子部品および前記負荷設定手段に
    より設定された負荷に基づいて、前記動作解析モード指
    定手段によって指定された動作解析モードにしたがっ
    て、前記電子回路選択手段により選択された電子回路の
    特性を解析することを特徴とする電子回路の解析装置。
  3. 【請求項3】 さらに、前記電子回路選択手段により選
    択された電子回路の回路構成に関する内容を表示し、表
    示された前記電子部品が指示されることにより、指示さ
    れた電子部品として選択可能な部品の一覧を表示する電
    子回路表示手段を備え、 前記部品選択手段は、前記電子回路表示手段により表示
    された部品一覧の中から所望の電子部品を選択し、また
    は前記部品一覧の中から所望の電子部品を選択すること
    に代えて、前記指示された電子部品の所望の特性の設定
    をすることを特徴とする請求項1又は2に記載の電子回
    路の解析装置。
  4. 【請求項4】 前記電子回路表示手段は、表示された電
    子部品の値を表示することを特徴とする請求項3記載の
    電子回路の解析装置。
  5. 【請求項5】 前記動作解析モード指定手段が、動作解
    析モードのうち、電源投入時の応答特性、または電源変
    動時、負荷変動時等の過渡的な応答特性に関する解析モ
    ードを指定し、 前記解析結果表示手段が、前記特性解析手段により解析
    された結果を、横軸を時間軸とした応答波形出力で表示
    することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一に記載
    の電子回路の解析装置。
  6. 【請求項6】 前記動作解析モード指定手段が、動作解
    析モードのうち、負荷をパラメータとして出力電圧、効
    率特性に関する解析モードを指定し、 前記解析結果表示手段が、前記特性解析手段により解析
    された結果を、横軸を出力電流または負荷抵抗値として
    表示することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一に
    記載の電子回路の解析装置。
  7. 【請求項7】 前記解析結果表示手段は、前記電子回路
    の動作解析中に、前記電子回路において使用する電子部
    品の定格電流値を超える電流が流れる場合に、警告を示
    すメッセージを表示することを特徴とする請求項1〜6
    のいずれか一に記載の電子回路の解析装置。
  8. 【請求項8】 前記特性解析手段は、前記電子回路選択
    手段により選択された電子回路の特性のうち、前記電子
    回路の製造バラツキによって変化する通常の特性および
    最悪の特性を解析することを特徴とする請求項1〜7の
    いずれか一に記載の電子回路の解析装置。
  9. 【請求項9】 解析する際の温度を指定する温度指定手
    段を備え、前記特性解析手段は、前記温度指定手段によ
    り指定された温度に基づいて、前記電子回路の特性を解
    析することを特徴とする請求項1〜8のいずれか一に記
    載の電子回路の解析装置。
  10. 【請求項10】 前記部品データ記憶手段に、新たな電
    子部品に関するデータを追加するための部品データ追加
    手段を備えて成ることを特徴とする請求項1〜9のいず
    れか一に記載の電子回路の解析装置。
  11. 【請求項11】 前記電子回路は、スイッチングレギュ
    レータ回路であることを特徴とする請求項1〜10のい
    ずれか一に記載の電子回路の解析装置。
  12. 【請求項12】 前記電子回路は、スイッチングレギュ
    レータ回路の制御用集積回路及び外付け部品によって構
    成されていることを特徴とする請求項11に記載の電子
    回路の解析装置。
  13. 【請求項13】 前記制御用集積回路の構成及び構成部
    品の値に関するデータは、不正な解読を防止した形式に
    して前記電子回路データ記憶手段に記憶されていること
    を特徴とする請求項12に記載の電子回路の解析装置。
  14. 【請求項14】 前記電子回路選択手段は、前記電子回
    路データ記憶手段により記憶されたデータにかかる電子
    回路の中から、複数の電子回路を組み合わせた組み合わ
    せ回路を選択することを特徴とする請求項1〜10のい
    ずれか一に記載の電子回路の解析装置。
  15. 【請求項15】 前記組み合わせ回路は、複数の電子回
    路の直列回路、並列回路又は直並列回路であることを特
    徴とする請求項14に記載の電子回路の解析装置。
  16. 【請求項16】 前記組み合わせ回路は、複数のスイッ
    チングレギュレータ回路の組み合わせであることを特徴
    とする請求項14又は15に記載の電子回路の解析装
    置。
  17. 【請求項17】 前記組み合わせ回路は、スイッチング
    レギュレータ回路とボルテージ・レギュレータ回路とを
    備える組み合わせ回路、又は、スイッチングレギュレー
    タ回路と電圧検出回路とを備える組み合わせ回路である
    ことを特徴とする請求項14又は15に記載の電子回路
    の解析装置。
  18. 【請求項18】 前記電子回路における寄生素子の特性
    を設定するための寄生素子特性設定手段を備えて成るこ
    とを特徴とする請求項1〜17のいずれか一に記載の電
    子回路の解析装置。
  19. 【請求項19】 予め記憶された複数の電子回路に関す
    るデータに係る電子回路の中から所望の電子回路を選択
    する電子回路選択ステップと、予め記憶された、コイ
    ル、コンデンサ等、前記電子回路において使用する複数
    の電子部品に関するデータに係る電子部品の中から前記
    電子回路において使用する1または複数の電子部品を選
    択する部品選択ステップと、 前記電子回路に含まれる負荷を設定する負荷設定ステッ
    プと、 前記電子回路の動作解析のモードを指定する動作解析モ
    ード指定ステップと、 前記部品選択ステップにより選択された電子部品および
    前記負荷設定ステップにより設定された負荷に基づい
    て、前記動作解析モード指定ステップにより指定された
    動作解析のモードにしたがって、前記電子回路選択ステ
    ップにより選択された電子回路の特性を解析する特性解
    析ステップと、 前記特性解析ステップにより解析された結果を表示する
    解析結果表示ステップと、を備えて成ることを特徴とす
    る電子回路の解析方法。
  20. 【請求項20】 前記請求項19に記載された方法をコ
    ンピュータに実行させるプログラムを記録したことを特
    徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
  21. 【請求項21】 前記請求項19に記載された方法をコ
    ンピュータに実行させるプログラムを、通信路を介して
    供給するようにしたことを特徴とする電子回路の解析方
    法をコンピュータに実行させるプログラムの供給方法。
  22. 【請求項22】 前記請求項19に記載された方法をコ
    ンピュータに実行させるプログラムを、利用者がインタ
    ーネットのホームページからダウンロード可能にしたこ
    とを特徴とする電子回路の解析方法をコンピュータに実
    行させるプログラムの供給方法。
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