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JP2001148563A - Manufacturing equipment for electronic components with bumps - Google Patents

Manufacturing equipment for electronic components with bumps

Info

Publication number
JP2001148563A
JP2001148563A JP2000299777A JP2000299777A JP2001148563A JP 2001148563 A JP2001148563 A JP 2001148563A JP 2000299777 A JP2000299777 A JP 2000299777A JP 2000299777 A JP2000299777 A JP 2000299777A JP 2001148563 A JP2001148563 A JP 2001148563A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
head
solder balls
solder ball
electronic component
bumps
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000299777A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3436245B2 (en
Inventor
Kazuo Arikado
一雄 有門
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2000299777A priority Critical patent/JP3436245B2/en
Publication of JP2001148563A publication Critical patent/JP2001148563A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3436245B2 publication Critical patent/JP3436245B2/en
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Expired - Fee Related legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA

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  • Manipulator (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 バンプを形成するための半田ボールを複数個
のワークに作業性よく搭載できるバンプ付電子部品の製
造装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 キャリア10には4個の基板3が搭載さ
れており、基板3はキャリア10によりラインを搬送さ
れる。基板3には半田ボールが搭載される電極20がマ
トリクス状に形成されている。ヘッド部52は4つのブ
ロックA、B、C、Dに仕切られており、各ブロックA
〜Dには各基板3に搭載する半田ボールを真空吸着する
吸着孔54がそれぞれマトリクス状に開孔されている。
ヘッド部52を4つの位置a、b、c、dに移動させる
ことにより、4つのブロックA、B、C、Dにより4個
の基板3に半田ボールを連続的に搭載する。
(57) [Summary] An object of the present invention is to provide a manufacturing apparatus of an electronic component with bumps, which can mount a solder ball for forming a bump on a plurality of works with good workability. SOLUTION: Four substrates 3 are mounted on a carrier 10, and the substrates 3 are transported on a line by the carrier 10. Electrodes 20 on which solder balls are mounted are formed in a matrix on the substrate 3. The head section 52 is divided into four blocks A, B, C, and D.
In D, suction holes 54 for vacuum suction of the solder balls mounted on each substrate 3 are respectively formed in a matrix.
By moving the head unit 52 to four positions a, b, c, and d, the solder balls are continuously mounted on the four substrates 3 by the four blocks A, B, C, and D.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ワークの電極に半
田ボールを搭載してバンプを形成するバンプ付電子部品
の製造装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for manufacturing a bumped electronic component in which a solder ball is mounted on an electrode of a work to form a bump.

【0002】[0002]

【従来の技術】ワークの電極にバンプ(突出電極)を形
成してバンプ付電子部品を製造する方法として、半田ボ
ールを用いる方法が知られている。この方法は、ヘッド
の下面に多数形成された吸着孔に半田ボールを真空吸着
してワークの電極上に移送搭載した後、ワークを加熱炉
で加熱して半田ボールを溶融固化させ、バンプを生成す
る。この方法は、ワークの電極に多数個のバンプを一括
形成してバンプ付電子部品を製造できるので、作業能率
上きわめて有利である。
2. Description of the Related Art As a method of manufacturing a bumped electronic component by forming a bump (protruding electrode) on an electrode of a work, a method using a solder ball is known. In this method, after solder balls are vacuum-adsorbed into a large number of suction holes formed on the lower surface of the head, transferred and mounted on the electrodes of the work, the work is heated in a heating furnace to melt and solidify the solder balls to generate bumps I do. This method is extremely advantageous in terms of work efficiency because an electronic component with bumps can be manufactured by simultaneously forming a large number of bumps on the electrodes of the work.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、ワークは一
般にきわめて小形であり、したがってワークは複数個づ
つキャリアに装着されて製造ラインを搬送されることが
多い。ところが従来のヘッドは、ワーク1個分の半田ボ
ールしか真空吸着できなかったため、後に図11(a)
を参照して説明するように、半田ボールの供給部とキャ
リアの間を繰り返し往復移動して各々のワーク毎に半田
ボールを搭載せねばならず、したがって全体のタクトタ
イムは長くなって作業能率がはかどらないという問題点
があった。
By the way, works are generally very small, so that a plurality of works are often mounted on a carrier one by one and conveyed on a production line. However, in the conventional head, only the solder ball for one work can be vacuum-sucked.
As described with reference to, the solder ball must be repeatedly reciprocated between the supply portion of the solder ball and the carrier to mount the solder ball for each work, so that the overall tact time becomes longer and the work efficiency becomes longer. There was a problem that it did not bounce.

【0004】そこで本発明は、複数個のワークに対して
作業能率よく半田ボールを搭載できるバンプ付電子部品
の製造装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an apparatus for manufacturing a bumped electronic component which can efficiently mount solder balls on a plurality of works.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】このために本発明は、半
田ボールの供給部と、複数個のワークを位置決めするワ
ークの位置決め部と、前記半田ボールの供給部に備えら
れた半田ボールを下面に多数個開孔された吸着孔に真空
吸着してピックアップし前記ワークに移送搭載するヘッ
ドとを備えたバンプ付電子部品の製造装置であって、前
記ヘッドが複数のブロックに分割され、かつ各々のブロ
ックに互いに独立した真空吸引手段を備え、各々のブロ
ックが互いに別個に半田ボールを真空吸着するようにし
た。
SUMMARY OF THE INVENTION To this end, the present invention provides a solder ball supply unit, a work positioning unit for positioning a plurality of works, and a solder ball provided in the solder ball supply unit. A device for manufacturing a bumped electronic component, comprising: a head that is vacuum-sucked in a plurality of suction holes that are picked up, picked up, and transferred and mounted on the work, wherein the head is divided into a plurality of blocks, and Are provided with vacuum suction means independent of each other, and each block vacuum suctions a solder ball independently of each other.

【0006】上記構成によれば、ヘッドは半田ボールの
供給部において複数個のワーク分の半田ボールを一括し
てピックアップし、各ワークに対して相対的に水平移動
をしながら、各ワークに順に半田ボールを搭載するの
で、全体のタクトタイムを大巾に短縮することができ
る。
According to the above arrangement, the head collectively picks up the solder balls for a plurality of works in the solder ball supply section, and moves horizontally to each work while sequentially moving each work. Since the solder balls are mounted, the overall tact time can be greatly reduced.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を図面
を参照しながら説明する。図1は本発明の一実施の形態
におけるバンプ付電子部品の製造工程図、図2は本発明
の一実施の形態におけるバンプ付電子部品の製造装置の
平面図、図3は本発明の一実施の形態におけるバンプ付
電子部品の製造装置の側面図、図4は本発明の一実施の
形態におけるバンプ付電子部品の製造装置のヘッドとキ
ャリアの斜視図、図5は本発明の一実施の形態における
バンプ付電子部品の製造装置のヘッドの断面図、図6は
本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子部品の製造
装置の制御系のブロック図である。また図7は本発明の
一実施の形態におけるバンプ付電子部品の製造装置の半
田ボールの下面にフラックスを塗布中の要部断面図、図
8は本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子部品の
製造装置の半田ボールを基板の電極に搭載中の要部断面
図、図9は本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子
部品の製造装置のヘッドと第1の光源の正面図、図10
は本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子部品の製
造装置のヘッドと発光部および受光部の正面図である。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a manufacturing process diagram of a bumped electronic component according to one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view of a manufacturing device of a bumped electronic component according to one embodiment of the present invention, and FIG. FIG. 4 is a side view of an apparatus for manufacturing an electronic component with bumps according to an embodiment, FIG. 4 is a perspective view of a head and a carrier of the apparatus for manufacturing an electronic component with bumps according to one embodiment of the present invention, and FIG. And FIG. 6 is a block diagram of a control system of the apparatus for manufacturing an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention. FIG. 7 is a cross-sectional view of a main part of a manufacturing apparatus for an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention in which flux is applied to the lower surface of a solder ball. FIG. 8 is an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention. FIG. 9 is a cross-sectional view of a main part of a manufacturing apparatus for manufacturing a bumped electronic component according to an embodiment of the present invention, in which a solder ball is mounted on an electrode of a substrate; FIG.
1 is a front view of a head, a light emitting unit, and a light receiving unit of an apparatus for manufacturing an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention.

【0008】まず図1を参照して、バンプ付電子部品の
全製造工程を簡単に説明する。図1(a)において、3
はワークとしての基板であり、図1(b)に示すように
その上面と下面に電極20を形成するとともに、電極2
0同士を電気的に接続するスルーホール3aを形成す
る。
First, with reference to FIG. 1, a brief description will be given of the entire manufacturing process of an electronic component with bumps. In FIG. 1A, 3
Is a substrate as a work, and has electrodes 20 formed on its upper and lower surfaces as shown in FIG.
Through holes 3a are formed to electrically connect the 0s.

【0009】次に基板3の上面にチップCを搭載し(図
1(c))、チップCの上面の電極と基板3の上面の電
極20をワイヤWで接続する(図1(d))。次いでチ
ップCとワイヤWを保護するモールド体Mを合成樹脂に
より形成する(図1(e))。次いで基板3を上下反転
させて電極20の上面に半田ボール5を搭載する(図1
(f))。次いで基板3を加熱炉へ送って加熱し、半田
ボール5を溶融固化させることによりバンプ5’を形成
する(図1(g))。
Next, the chip C is mounted on the upper surface of the substrate 3 (FIG. 1C), and the electrodes on the upper surface of the chip C and the electrodes 20 on the upper surface of the substrate 3 are connected by wires W (FIG. 1D). . Next, a mold body M for protecting the chip C and the wire W is formed of a synthetic resin (FIG. 1E). Next, the substrate 3 is turned upside down, and the solder balls 5 are mounted on the upper surfaces of the electrodes 20 (FIG. 1).
(F)). Next, the substrate 3 is sent to a heating furnace where it is heated, and the solder balls 5 are melted and solidified to form bumps 5 '(FIG. 1 (g)).

【0010】以上によりバンプ付電子部品が完成する。
次に、各図を参照して、図1(f)(g)の工程、すな
わちバンプ用の電極20に半田ボール5を搭載し、バン
プ5’を形成する工程について詳しく説明する。
Thus, the electronic component with bumps is completed.
Next, the steps of FIGS. 1F and 1G, that is, the steps of mounting the solder balls 5 on the bump electrodes 20 and forming the bumps 5 'will be described in detail with reference to the drawings.

【0011】図2において、3は図1(e)に示す基板
であり、その下面にはチップCをモールドするモールド
体Mが形成されている。基板3はキャリア10に4枚搭
載されている。
In FIG. 2, reference numeral 3 denotes a substrate shown in FIG. 1 (e), and a mold body M for molding a chip C is formed on the lower surface thereof. Four substrates 3 are mounted on the carrier 10.

【0012】図2において、1はテーブルであり、その
上面中央にはガイドレール2が2本配設されている。キ
ャリア10はガイドレール2に沿って搬送され、またガ
イドレール2にクランプされて所定の位置に位置決めさ
れる。本実施の形態では、ガイドレール2によるキャリ
ア10の搬送方向をX方向、これに直交する方向をY方
向とする。テーブル1の隅部には半田ボールの供給部4
が設けられている。図3に示すように、供給部4はボッ
クスから成り、その内部には半田ボール5が大量に貯溜
されている。またガイドレール2の側部には、半田ボー
ル5の回収部19が設けられている。この回収部19は
ボックスから成っている。
In FIG. 2, reference numeral 1 denotes a table, and two guide rails 2 are provided at the center of the upper surface thereof. The carrier 10 is transported along the guide rail 2 and is clamped by the guide rail 2 to be positioned at a predetermined position. In the present embodiment, the direction in which the carrier 10 is transported by the guide rail 2 is defined as an X direction, and the direction orthogonal to the X direction is defined as a Y direction. In the corner of the table 1 is a solder ball supply unit 4
Is provided. As shown in FIG. 3, the supply section 4 is formed of a box, and a large amount of solder balls 5 are stored inside the box. A collecting portion 19 for the solder ball 5 is provided on a side portion of the guide rail 2. The collecting section 19 is made up of a box.

【0013】図2および図3において、テーブル1の他
方の隅部にはフラックスの塗布部6が設けられている。
フラックスの塗布部6は、皿状の容器7と平滑ヘッド8
を備えている。容器7にはフラックス9が浅く貯溜され
ている。平滑ヘッド8は、テーブル1にX方向へ摺動自
在に装着され、容器7の上方に架設された台板15を備
えている。台板15上にはシリンダ16が2個設置され
ており、そのロッド17の下端部にスキージ18a、1
8bが結合されている。シリンダ16のロッド17が突
没することにより、スキージ18a、18bは上下動す
る。
In FIGS. 2 and 3, a flux application section 6 is provided at the other corner of the table 1. FIG.
The flux application section 6 includes a dish-shaped container 7 and a smooth head 8.
It has. Flux 9 is stored shallowly in container 7. The smoothing head 8 is mounted on the table 1 so as to be slidable in the X direction, and includes a base plate 15 provided above the container 7. Two cylinders 16 are installed on the base plate 15, and squeegees 18a,
8b are coupled. The squeegees 18a and 18b move up and down by the rod 17 of the cylinder 16 protruding and retracting.

【0014】図2において、13は送りねじであり、モ
ータ14に駆動されて回転する。台板15の側部の下面
には送りねじ13に螺合するナット(図示せず)が設け
られており、モータ14が駆動して送りねじ13が回転
すると、平滑ヘッド8はX方向へ水平移動する。この場
合、図3に示すスキージ18aまたは18bが選択的に
フラックス9に着水して摺動し、フラックス9の上面を
平滑する。
In FIG. 2, a feed screw 13 is driven by a motor 14 to rotate. A nut (not shown) screwed to the feed screw 13 is provided on the lower surface of the side of the base plate 15, and when the motor 14 is driven to rotate the feed screw 13, the smooth head 8 is horizontally moved in the X direction. Moving. In this case, the squeegee 18a or 18b shown in FIG. 3 selectively lands on the flux 9 and slides to smooth the upper surface of the flux 9.

【0015】次に、半田ボールの移送手段としてのヘッ
ドとその移動手段について説明する。図2および図4、
図5において、ヘッド50は、箱形のヘッド本体51と
ヘッド部52から成っている。ヘッド部52は複数個の
ブロックA、B、C、Dに仕切壁53により仕切られて
おり、各々のブロックA〜Dの下面には半田ボール5を
真空吸着するための吸着孔54がマトリクス状に多数個
開孔されている。本実施の形態では、平面視して十字形
の仕切壁53により、4個の正方形のブロックA〜Dに
仕切られている。
Next, a description will be given of a head as a means for transferring the solder ball and its moving means. 2 and 4,
In FIG. 5, the head 50 comprises a box-shaped head main body 51 and a head portion 52. The head section 52 is divided into a plurality of blocks A, B, C, and D by a partition wall 53, and suction holes 54 for vacuum suction of the solder balls 5 are formed on the lower surface of each of the blocks A to D in a matrix. Many holes are opened. In the present embodiment, the partition wall 53 is divided into four square blocks A to D by a cross-shaped partition wall 53 in plan view.

【0016】各ブロックA〜Dは、互いに独立した吸引
空間Tを有しており、各々の吸引空間Tはチューブ55
を通じて真空ポンプ62やブロア63(後に図6を参照
して説明する)などの配管系に接続されている。また各
吸引空間Tの上部には、吸着孔54に真空吸着された半
田ボール5の有無を検出するための光学センサ56が設
けられている。真空ポンプ62が作動することにより、
吸引空間Tは真空引きされ、吸着孔54に半田ボール5
を真空吸着する。またブロア63を作動させて吸引空間
Tにエアを吹き込むことにより真空吸引による保持状態
は解除されて、半田ボール5は吸着孔54から落下す
る。ヘッド50の側面には、基板認識用のカメラ11が
一体的に設けられている(図2)。
Each of the blocks A to D has an independent suction space T, and each suction space T is a tube 55.
Through a piping system such as a vacuum pump 62 and a blower 63 (described later with reference to FIG. 6). An optical sensor 56 for detecting the presence or absence of the solder ball 5 vacuum-sucked in the suction hole 54 is provided above each suction space T. By operating the vacuum pump 62,
The suction space T is evacuated, and the solder balls 5
Is vacuum-adsorbed. By operating the blower 63 and blowing air into the suction space T, the holding state by vacuum suction is released, and the solder balls 5 fall from the suction holes 54. A camera 11 for board recognition is integrally provided on a side surface of the head 50 (FIG. 2).

【0017】図2において、テーブル1の上方には長尺
のフレーム24が架設されている。フレーム24には送
りねじ25とガイドレール26が平行に配設されてい
る。27は送りねじ25を回転させるモータである。ヘ
ッド50には、送りねじ25に螺合するナット28が結
合されている。したがってモータ27が駆動して送りね
じ25が回転すると、ナット28は送りねじ25に沿っ
てX方向へ水平移動し、ヘッド50もガイドレール26
に沿ってX方向へ水平移動する。
In FIG. 2, a long frame 24 is provided above the table 1. A feed screw 25 and a guide rail 26 are arranged on the frame 24 in parallel. 27 is a motor for rotating the feed screw 25. A nut 28 screwed to the feed screw 25 is connected to the head 50. Therefore, when the motor 27 is driven to rotate the feed screw 25, the nut 28 moves horizontally in the X direction along the feed screw 25, and the head 50 also moves to the guide rail 26.
Move horizontally in the X direction along.

【0018】フレーム24の両側端部は、ガイドレール
29、30上にスライド自在に設置されている。このガ
イドレール29、30は上記ガイドレール26と直交し
ている。またガイドレール29と平行に送りねじ31が
配設されている。フレーム24の下面にはこの送りねじ
31が螺合するナット(図示せず)が設けられている。
したがってモータ32が駆動して送りねじ31が回転す
ると、フレーム24およびこれに結合されたヘッド50
はガイドレール29、30に沿ってY方向に水平移動す
る。
Both ends of the frame 24 are slidably mounted on guide rails 29 and 30. The guide rails 29 and 30 are orthogonal to the guide rail 26. A feed screw 31 is provided in parallel with the guide rail 29. A nut (not shown) with which the feed screw 31 is screwed is provided on the lower surface of the frame 24.
Therefore, when the motor 32 is driven and the feed screw 31 is rotated, the frame 24 and the head 50 connected thereto are rotated.
Moves horizontally in the Y direction along the guide rails 29 and 30.

【0019】上述のように、送りねじ25、31、ガイ
ドレール26、29、30、モータ27、32などは、
ヘッド50をX方向やY方向へ水平移動させる移動手段
を構成しており、これによりヘッド50は半田ボールの
供給部4、回収部19、ガイドレール2に位置決めされ
たキャリア10の間を自由に移動する。
As described above, the feed screws 25, 31, the guide rails 26, 29, 30, the motors 27, 32, etc.
The moving means for horizontally moving the head 50 in the X direction or the Y direction is constituted, whereby the head 50 can freely move between the solder ball supply unit 4, the recovery unit 19, and the carrier 10 positioned on the guide rail 2. Moving.

【0020】次に検査手段について説明する。図2にお
いて、40は長尺の第1の光源である。この第1の光源
40は半田ボールの供給部4とフラックスの塗布部6の
間に設置されており、下方からヘッド50の下面へ向っ
て光を照射する(図9参照)。ヘッド50の内部には光
学センサ56が内蔵されている。したがってすべての吸
着孔54に半田ボール5が真空吸着されているときは、
吸着孔54は半田ボール5で完全に遮光されて光学セン
サ56には光は入射しないが、何れかの吸着孔54に半
田ボール5が真空吸着されていないときは、第1の光源
40から照射された光はその吸着孔54を通過して光学
センサ56に入射する。これにより、半田ボール5のピ
ックアップミスがあったことが判明する。すなわち第1
の光源40と光学センサ56はすべての吸着孔54に半
田ボール5が正しく真空吸着されているか否か、すなわ
ちピックアップミスの有無を検査する検査手段である。
Next, the inspection means will be described. In FIG. 2, reference numeral 40 denotes a long first light source. The first light source 40 is provided between the solder ball supply unit 4 and the flux application unit 6, and irradiates light from below to the lower surface of the head 50 (see FIG. 9). An optical sensor 56 is built in the head 50. Therefore, when the solder balls 5 are vacuum-sucked in all the suction holes 54,
The suction holes 54 are completely shielded from light by the solder balls 5 and no light enters the optical sensor 56. However, when the solder balls 5 are not vacuum-sucked in any of the suction holes 54, the light is emitted from the first light source 40. The emitted light passes through the suction hole 54 and enters the optical sensor 56. As a result, it is found that the pick-up of the solder ball 5 has occurred. That is, the first
The light source 40 and the optical sensor 56 are inspection means for inspecting whether or not the solder balls 5 are correctly vacuum-sucked in all the suction holes 54, that is, whether or not there is a pickup error.

【0021】図2において、フラックスの塗布部6とガ
イドレール2の間には、第2の光源42が設置されてい
る。第2の光源42は第1の光源40と同様に、ヘッド
50の下面へ向って光を照射し、すべての吸着孔54に
半田ボール5が正しく真空吸着されているか否か、すな
わち半田ボール5の落下の有無を検査する(図9を参
照)。
In FIG. 2, a second light source 42 is provided between the flux application section 6 and the guide rail 2. Similarly to the first light source 40, the second light source 42 emits light toward the lower surface of the head 50, and whether or not the solder balls 5 are correctly vacuum-sucked in all the suction holes 54, that is, whether the solder balls 5 Is inspected for the presence or absence of falling (see FIG. 9).

【0022】この第2の光源42の設置理由は次のとお
りである。すなわち、ヘッド50を容器7の上方で上下
動作させて、その下面に真空吸着された半田ボール5を
フラックス9に着水させ、その下面にフラックス9を付
着させるが(図7(a)(b)を参照)、フラックス9
は粘性が大きいため、半田ボール5をフラックス9に着
水させると、その粘性のために半田ボール5は吸着孔5
4から落下することがある。このように半田ボール5が
脱落したヘッド50を基板3の上方へ移動させて、半田
ボール5を基板3に搭載すると、基板3は半田ボール5
が不足する不良品となってしまう。そこでヘッド50を
基板3へ移動させる途中において、第2の光源42と光
学センサ56により、すべての吸着孔54に半田ボール
5が正しく真空吸着されているか否かを検査する。すな
わち第2の光源42と光学センサ56は、半田ボール5
の落下の有無を検査する検査手段である。
The reason for installing the second light source 42 is as follows. That is, the head 50 is moved up and down above the container 7 so that the solder balls 5 that have been vacuum-adsorbed on the lower surface of the head 50 are brought into contact with the flux 9 and the flux 9 is attached to the lower surface (FIGS. 7A and 7B). )), Flux 9
Is so viscous that when the solder ball 5 is immersed in the flux 9, the viscosity of the solder ball 5 causes the suction hole 5
4 may fall. When the head 50 from which the solder balls 5 have fallen is moved above the substrate 3 and the solder balls 5 are mounted on the substrate 3, the substrate 3
Will be defective. Therefore, during the movement of the head 50 to the substrate 3, the second light source 42 and the optical sensor 56 inspect whether or not the solder balls 5 are correctly vacuum-sucked in all the suction holes 54. That is, the second light source 42 and the optical sensor 56
This is an inspection means for inspecting the presence or absence of a fall.

【0023】図2において、ガイドレール2と供給部4
の間には発光部43と受光部44が設けられている。図
10に示すように、発光部43から受光部44へ向って
光が水平に照射される。ヘッド50は基板3に半田ボー
ル5を搭載した後、この発光部43と受光部44の間を
その光路に直交する方向へ移動して半田ボールの供給部
4上へ復帰するが、そのとき、ヘッド50の下面に半田
ボール5が残存付着していると光は遮られ、受光部44
は受光しない。また半田ボール5がすべて基板3に搭載
され、ヘッド50の下面に半田ボール5がまったく残存
付着していないと、発光部43から照射された光は受光
部44に受光される。これにより、ヘッド50の下面に
半田ボール5が残存付着して保持しているか否か、すな
わちヘッド50がすべての半田ボール5を基板3に搭載
したか否かの搭載ミスの有無を検査する。
In FIG. 2, the guide rail 2 and the supply section 4
A light emitting unit 43 and a light receiving unit 44 are provided between them. As shown in FIG. 10, light is emitted horizontally from the light emitting unit 43 to the light receiving unit 44. After the solder balls 5 are mounted on the substrate 3, the head 50 moves between the light emitting section 43 and the light receiving section 44 in a direction orthogonal to the optical path and returns to the solder ball supply section 4. If the solder ball 5 remains on the lower surface of the head 50, the light is blocked and the light receiving section 44 is blocked.
Does not receive light. If all the solder balls 5 are mounted on the substrate 3 and no solder balls 5 remain on the lower surface of the head 50, the light emitted from the light emitting unit 43 is received by the light receiving unit 44. Thus, it is checked whether or not the solder balls 5 are remaining adhered and held on the lower surface of the head 50, that is, whether or not there is a mounting error whether or not the head 50 has mounted all the solder balls 5 on the substrate 3.

【0024】次に、図6を参照して制御系の説明を行
う。各ブロックA〜Dの各吸引空間Tに接続されたチュ
ーブ55は、バルブ60、61を介して真空ポンプ62
とブロア63に接続されている。各バルブ60、61は
バルブ駆動回路64で制御される。また光学センサ56
と受光部44は検出回路65に接続されている。66は
全体を制御する制御部であって、バルブ駆動回路64、
モータ駆動回路67、カメラ11に接続された位置検出
部68が接続されている。モータ駆動回路67は上記各
モータ14、27、32を制御する。図6から明らかな
ように、各ブロックA〜Dの各吸引空間Tは、互いに独
立したチューブ55、バルブ60、61などの配管系を
備えることにより、互いに独立して吸引・吸引解除の制
御が行われる。
Next, the control system will be described with reference to FIG. A tube 55 connected to each suction space T of each of the blocks A to D is connected to a vacuum pump 62 via valves 60 and 61.
And the blower 63. Each valve 60, 61 is controlled by a valve drive circuit 64. The optical sensor 56
And the light receiving section 44 are connected to a detection circuit 65. Reference numeral 66 denotes a control unit for controlling the whole, and a valve driving circuit 64
The motor drive circuit 67 and a position detection unit 68 connected to the camera 11 are connected. The motor drive circuit 67 controls the motors 14, 27, 32. As is clear from FIG. 6, each suction space T of each of the blocks A to D is provided with a piping system such as the tube 55 and the valves 60 and 61 which are independent of each other, so that the suction and suction release can be controlled independently of each other. Done.

【0025】このバンプ付電子部品の製造装置は上記の
ように構成されており、次に図1(f)に示す半田ボー
ル搭載を行うための動作を説明する。図2において、ヘ
ッド50は半田ボールの供給部4の上方へ移動する(矢
印イ)。そこでヘッド50は上下動作を行って、その4
つのブロックA〜Dのすべての下面の吸着孔54に複数
の半田ボール5を一括して真空吸着してピックアップす
る。なおヘッド50に上下動作を行わせる機構の説明は
省略している。
The manufacturing apparatus for an electronic component with bumps is configured as described above. Next, the operation for mounting the solder balls shown in FIG. 1 (f) will be described. In FIG. 2, the head 50 moves above the solder ball supply unit 4 (arrow A). Then, the head 50 moves up and down, and
The plurality of solder balls 5 are collectively vacuum-sucked into the suction holes 54 on all lower surfaces of the blocks A to D and picked up. A description of a mechanism for causing the head 50 to perform the up-down operation is omitted.

【0026】図2において、次にヘッド50は左方(第
1の光源40の上方)へ移動し(矢印ロ)、図9を参照
しながら説明したように、半田ボール5のピックアップ
ミスの有無を検査する。ピックアップミスがあれば、ヘ
ッド50は半田ボールの供給部4の上方へ戻り(矢印
ハ)、そこで再度上下動作を行って、半田ボール5をピ
ックアップし、再度左方へ移動する(矢印ニ)。そして
第1の光源40の上方を通過してピックアップミスの有
無を再検査する。
In FIG. 2, next, the head 50 moves to the left (above the first light source 40) (arrow B), and as described with reference to FIG. To inspect. If there is a pick-up error, the head 50 returns above the solder ball supply unit 4 (arrow C), performs vertical movement again, picks up the solder ball 5, and moves leftward again (arrow d). Then, the light passes above the first light source 40 and is inspected again for the presence or absence of a pickup error.

【0027】ピックアップミスがなく、すべての吸着孔
54に半田ボール5が正しく真空吸着して保持されてい
るときは、ヘッド50は容器7の上方へ移動し、そこで
ヘッド50は上下動作を行って、その下面に真空吸着さ
れた半田ボール5の下面にフラックス9を付着させる。
図7(a)(b)は、その動作を示している。
When there is no pick-up error and the solder balls 5 are correctly held by vacuum suction in all the suction holes 54, the head 50 moves above the container 7, where the head 50 moves up and down. Then, the flux 9 is adhered to the lower surface of the solder ball 5 vacuum-adsorbed to the lower surface.
FIGS. 7A and 7B show the operation.

【0028】次に図2において、ヘッド50は容器7の
上方から第2の光源42の上方へ移動し(矢印ホ)、図
9を参照しながら説明したように、半田ボール5の落下
の有無を検査する。もし1個もしくはそれ以上の半田ボ
ール5がヘッド50の下面から落下していることが判明
したならば、ヘッド50は回収部19の上方へ移動し、
その下面に真空吸着している半田ボール5をすべて回収
部19に落下させる。すべての半田ボール5を落下させ
たヘッド50は、半田ボールの供給部4の上方へ移動
し、上述した動作をやり直す。
Next, in FIG. 2, the head 50 moves from above the container 7 to above the second light source 42 (arrow E), and as described with reference to FIG. To inspect. If it is found that one or more solder balls 5 are dropping from the lower surface of the head 50, the head 50 moves above the collecting unit 19,
All the solder balls 5 that are vacuum-adsorbed on the lower surface thereof are dropped into the collecting section 19. The head 50 having dropped all the solder balls 5 moves above the solder ball supply unit 4 and repeats the above operation.

【0029】さて、図2において、第2の光源42およ
び光学センサ56により半田ボール5の落下がなかった
ことが検出されたならば、ヘッド50は基板3の上方へ
移動し(矢印ヘ)、半田ボール5を基板3に搭載する。
次に、図4を参照して、キャリア10上の4枚の基板3
に対する半田ボール5の搭載動作を説明する。図4にお
いて、a、b、c、dは4つのブロックA〜Dにより半
田ボール5を搭載するときのキャリア10に対するヘッ
ド部52の位置を示している。すなわち、ヘッド部52
をa位置にすることにより、ブロックAの半田ボール5
を基板3の電極20上に搭載する。同様に、ヘッド部5
2をb位置、c位置、d位置にすることにより、ブロッ
クB、ブロックC、ブロックDの半田ボール5を基板3
に搭載する。この場合、ヘッド部52は矢印で示すよう
にキャリア10上をX方向やY方向へ水平移動する。勿
論、この移動はモータ27、32(図2)を駆動して行
う。
In FIG. 2, if the second light source 42 and the optical sensor 56 detect that the solder ball 5 has not fallen, the head 50 moves above the substrate 3 (arrow F), The solder balls 5 are mounted on the substrate 3.
Next, with reference to FIG.
The mounting operation of the solder ball 5 for the above will be described. 4, a, b, c, and d show the position of the head 52 with respect to the carrier 10 when the solder balls 5 are mounted by the four blocks A to D. That is, the head 52
At the position a, the solder balls 5 of the block A
Is mounted on the electrode 20 of the substrate 3. Similarly, the head part 5
The solder balls 5 of the blocks B, C, and D are placed on the substrate 3 by setting the positions 2 to the positions b, c, and d.
To be mounted on. In this case, the head section 52 moves horizontally on the carrier 10 in the X direction and the Y direction as indicated by arrows. Of course, this movement is performed by driving the motors 27 and 32 (FIG. 2).

【0030】また例えばa位置において、ブロックAの
半田ボール5を基板3に搭載するときは、図6におい
て、ブロックAに接続された真空ポンプ62側のバルブ
60を閉じるとともに、ブロア63側のバルブ61を開
いてブロックAの吸引空間Tにエアを吹き込むことによ
り、ブロックAの吸着孔54に真空吸着されていた半田
ボール5の真空吸着状態を解除する。このとき他のブロ
ックB〜Dのバルブ60,61の状態はそのまま(真空
ポンプ62側のバルブ60は開、ブロア63側のバルブ
61は閉)であり、各ブロックB〜Dは半田ボール5の
真空吸着状態を保持する。以下同様にして、他のブロッ
クB〜Dの半田ボール5を基板3に搭載するときは、ブ
ロックAの場合と同様のバルブ60,61の開閉を行っ
ていく。このように、本装置は、半田ボールの供給部4
において、4つのブロックA〜Dに半田ボール5を一括
して同時に真空吸着したうえで、4個の基板3に次々に
半田ボール5を搭載していく。なお図8は、半田ボール
5を基板3の電極20に搭載している様子を示してい
る。
For example, when the solder ball 5 of the block A is mounted on the substrate 3 at the position a, the valve 60 on the vacuum pump 62 side connected to the block A is closed and the valve on the blower 63 side is closed in FIG. By opening 61 and blowing air into the suction space T of the block A, the vacuum suction state of the solder ball 5 that has been vacuum suctioned to the suction hole 54 of the block A is released. At this time, the states of the valves 60 and 61 of the other blocks BD are unchanged (the valve 60 on the vacuum pump 62 side is open, and the valve 61 on the blower 63 side is closed). The vacuum suction state is maintained. Similarly, when the solder balls 5 of the other blocks B to D are mounted on the substrate 3, the valves 60 and 61 are opened and closed as in the case of the block A. As described above, the present apparatus is provided with the solder ball supply unit 4.
, The solder balls 5 are collectively vacuum-adsorbed simultaneously on the four blocks A to D, and then the solder balls 5 are mounted on the four substrates 3 one after another. FIG. 8 shows a state where the solder balls 5 are mounted on the electrodes 20 of the substrate 3.

【0031】図11は半田ボールの搭載動作のタイムチ
ャートであって、図11(a)は従来の半田ボールの搭
載動作のタイムチャート、図11(b)は上述した本発
明の一実施の形態における半田ボールの搭載動作のタイ
ムチャートである。図11(a)に示す従来方法では、
「基板認識」「半田ボールのピックアップ」「フラック
ス付着」「半田ボールの基板への搭載」の一連の動作
を、キャリア10上の4枚の基板3について、一枚づつ
個別に繰り返し行っていたため、全体のタクトタイムが
長くなり、作業能率があがらなかったものである。
FIG. 11 is a time chart of a solder ball mounting operation, FIG. 11 (a) is a time chart of a conventional solder ball mounting operation, and FIG. 11 (b) is an embodiment of the present invention described above. 5 is a time chart of a mounting operation of a solder ball in FIG. In the conventional method shown in FIG.
Since a series of operations of “substrate recognition”, “pickup of solder balls”, “adhesion of flux”, and “mounting of solder balls on the substrates” were repeatedly performed individually for each of the four substrates 3 on the carrier 10, The overall tact time became longer and the work efficiency did not go up.

【0032】これに対し本実施の形態では、図11
(b)に示すように、第1枚目の基板認識をした後、す
べて(4枚)の基板3についての半田ボールのピックア
ップとフラックス付着を一括して行い、第1枚目の基板
3に対する半田ボール5の搭載を行った後、第2枚目〜
4枚目の基板3については、基板認識と半田ボール5の
搭載のみを行って次々に半田ボール5を搭載するので、
図11(a)に示す従来方法よりも、タクトタイムを大
巾に短縮できる。
On the other hand, in the present embodiment, FIG.
As shown in (b), after the recognition of the first substrate, the pickup of the solder balls and the attachment of the flux to all (four) substrates 3 are collectively performed, and the first substrate 3 is After mounting the solder balls 5, the second sheet
For the fourth substrate 3, only the board recognition and the mounting of the solder balls 5 are performed, and the solder balls 5 are mounted one after another.
Tact time can be greatly reduced as compared with the conventional method shown in FIG.

【0033】以上のようにして4枚の基板3に半田ボー
ルを搭載したならば、次にヘッド50は発光部43と受
光部44の手前へ移動し(図2矢印ト)、次に供給部4
へ向って移動する(矢印イ)。このとき、図10を参照
して説明したように、ヘッド50の下面に半田ボール5
が残存付着して保持していないか否かを検査する。ここ
で、半田ボール5が残存付着しているのが検出されたな
らば、この半田ボール5は基板3に搭載し損ったもの、
すなわち搭載ミスによるものであり、ヘッド50は回収
部19の上方へ移動してこの半田ボール5を回収部19
に落下させて回収する。なお半田ボール5をヘッド50
から回収部19へ落下させる場合には、図6に示すバル
ブ60を閉じ、バルブ61を開いて、半田ボール5の吸
着状態を解除する。また上記基板3は、半田ボール5が
欠落しているので不良品であり、ライン外へ除去され
る。次に、ヘッド50は半田ボールの供給部4の上方へ
移動し(矢印イ)、上述した動作が繰り返される。また
半田ボール5が正しく搭載された基板3は、ガイドレー
ル2に沿って次の工程へ向って搬送される。
After the solder balls are mounted on the four substrates 3 as described above, the head 50 moves to a position short of the light emitting section 43 and the light receiving section 44 (arrow G in FIG. 2). 4
Move toward (arrow a). At this time, as described with reference to FIG.
It is inspected whether or not is left and adhered. Here, if it is detected that the solder ball 5 is remaining adhered, the solder ball 5 is failed to be mounted on the substrate 3,
That is, this is due to a mounting error, and the head 50 moves above the collecting section 19 and removes the solder ball 5 from the collecting section 19.
Drop and collect. Note that the solder balls 5 are connected to the head 50.
When the solder ball 5 is dropped into the collecting unit 19, the valve 60 shown in FIG. 6 is closed and the valve 61 is opened to release the suction state of the solder ball 5. The substrate 3 is defective because the solder balls 5 are missing, and is removed outside the line. Next, the head 50 moves above the solder ball supply unit 4 (arrow A), and the above-described operation is repeated. The board 3 on which the solder balls 5 are correctly mounted is transported along the guide rail 2 toward the next step.

【0034】図12は、本発明の他の実施の形態におけ
るキャリアの斜視図である。このキャリア70は多面取
り基板であって、電極20上にバンプを形成した後、鎖
線に沿って切断することにより、4枚の基板3’が得ら
れるものである。上記キャリア10に替えて、このキャ
リア70をガイドレール2に位置決めすることにより、
上述した実施の形態と同様に、電極20上に半田ボール
5を搭載する。
FIG. 12 is a perspective view of a carrier according to another embodiment of the present invention. The carrier 70 is a multiple-panel substrate. After forming bumps on the electrodes 20, the carrier 70 is cut along a chain line to obtain four substrates 3 '. By positioning the carrier 70 on the guide rail 2 instead of the carrier 10,
The solder balls 5 are mounted on the electrodes 20 as in the above-described embodiment.

【0035】以上のようにこのバンプ付電子部品の製造
装置によれば、ヘッドが供給部の半田ボールをピックア
ップし、半田ボールにフラックスを付着させて複数枚の
基板に搭載するまでの一連の作業を自動的に連続して行
うことができる。また半田ボールのピックアップミスや
途中での落下、あるいは基板への搭載ミスの有無を各工
程の間においてその都度速かに検出し、もしもこれらの
ミスがあったときには、速かにリカバリー動作を行うこ
とができる。
As described above, according to the apparatus for manufacturing an electronic component with bumps, the head picks up the solder balls in the supply section, applies a flux to the solder balls, and mounts the solder balls on a plurality of substrates. Can be automatically and continuously performed. In addition, the presence or absence of a solder ball pick-up error, a drop in the middle, or a mounting error on a substrate is quickly detected during each process, and if such a mistake is detected, a recovery operation is quickly performed. be able to.

【0036】[0036]

【発明の効果】本発明によれば、ヘッドが半田ボールの
供給部の半田ボールをピックアップしてから複数個のワ
ークに搭載するまでの全工程を作業性よく行うことがで
き、タクトタイムを大巾に短縮できる。
According to the present invention, the whole process from picking up the solder ball of the supply portion of the solder ball by the head to mounting it on a plurality of works can be performed with good workability, and the tact time can be increased. Can be shortened to width.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子部
品の製造工程図
FIG. 1 is a manufacturing process diagram of an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子部
品の製造装置の平面図
FIG. 2 is a plan view of an apparatus for manufacturing a bumped electronic component according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子部
品の製造装置の側面図
FIG. 3 is a side view of an apparatus for manufacturing an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子部
品の製造装置のヘッドとキャリアの斜視図
FIG. 4 is a perspective view of a head and a carrier of an apparatus for manufacturing an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention.

【図5】本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子部
品の製造装置のヘッドの断面図
FIG. 5 is a cross-sectional view of a head of an apparatus for manufacturing a bumped electronic component according to an embodiment of the present invention.

【図6】本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子部
品の製造装置の制御系のブロック図
FIG. 6 is a block diagram of a control system of an apparatus for manufacturing an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention.

【図7】本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子部
品の製造装置の半田ボールの下面にフラックスを塗布中
の要部断面図
FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating a main part of a manufacturing apparatus for an electronic component with bumps, according to an embodiment of the present invention, in which flux is being applied to the lower surface of a solder ball;

【図8】本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子部
品の製造装置の半田ボールを基板の電極に搭載中の要部
断面図
FIG. 8 is a cross-sectional view of a main part of a manufacturing apparatus for an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention, in which a solder ball is being mounted on an electrode of a substrate.

【図9】本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子部
品の製造装置のヘッドと第1の光源の正面図
FIG. 9 is a front view of a head and a first light source of the device for manufacturing an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention.

【図10】本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子
部品の製造装置のヘッドと発光部および受光部の正面図
FIG. 10 is a front view of a head, a light emitting unit, and a light receiving unit of a manufacturing apparatus of an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention.

【図11】(a)従来の半田ボールの搭載動作のタイム
チャート(b)本発明の一実施の形態における半田ボー
ルの搭載動作のタイムチャート
11A is a time chart of a conventional solder ball mounting operation, and FIG. 11B is a time chart of a solder ball mounting operation according to an embodiment of the present invention.

【図12】本発明の他の実施の形態におけるキャリアの
斜視図
FIG. 12 is a perspective view of a carrier according to another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 ガイドレール(ワークの位置決め部) 3、3’ 基板(ワーク) 4 半田ボールの供給部 5 半田ボール 6 フラックスの塗布部 7 容器 8 平滑ヘッド 9 フラックス 10、70 キャリア 11 ガイドレール 13 送りねじ 14 モータ 18a、18b スキージ 19 回収部 25 送りねじ 27 モータ 28 ナット 31 送りねじ 32 モータ 40 第1の光源 42 第2の光源 43 発光部 44 受光部 50 ヘッド 54 吸着孔 55 チューブ 60、61 バルブ 62 真空ポンプ 63 ブロア A、B、C、D ブロック T 吸引空間 2 Guide rail (work positioning part) 3, 3 'board (work) 4 Solder ball supply part 5 Solder ball 6 Flux application part 7 Container 8 Smooth head 9 Flux 10, 70 Carrier 11 Guide rail 13 Feed screw 14 Motor 18a, 18b Squeegee 19 Collection unit 25 Feed screw 27 Motor 28 Nut 31 Feed screw 32 Motor 40 First light source 42 Second light source 43 Light emitting unit 44 Light receiving unit 50 Head 54 Suction hole 55 Tube 60, 61 Valve 62 Vacuum pump 63 Blower A, B, C, D Block T Suction space

フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) // B23K 101:42 H01L 21/92 604H Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat II (reference) // B23K 101: 42 H01L 21/92 604H

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】半田ボールの供給部と、複数個のワークを
位置決めするワークの位置決め部と、前記半田ボールの
供給部に備えられた半田ボールを下面に多数個開孔され
た吸着孔に真空吸着してピックアップし前記ワークに移
送搭載するヘッドとを備えたバンプ付電子部品の製造装
置であって、 前記ヘッドが複数のブロックに分割され、かつ各々のブ
ロックに互いに独立した真空吸引手段を備え、各々のブ
ロックが互いに別個に半田ボールを真空吸着するように
したことを特徴とするバンプ付電子部品の製造装置。
1. A solder ball supply unit, a work positioning unit for positioning a plurality of works, and a plurality of solder balls provided in the solder ball supply unit are vacuum-adhered to suction holes formed on a lower surface thereof. An apparatus for manufacturing an electronic component with bumps, comprising: a head to be picked up and transferred to and mounted on the work, wherein the head is divided into a plurality of blocks, and each block includes independent vacuum suction means. An apparatus for manufacturing an electronic component with bumps, wherein each block separately attracts a solder ball by vacuum.
【請求項2】前記各々のブロックは、チューブとバルブ
を介して前記真空吸引手段の真空ポンプに接続されてお
り、且つ各々のバルブを制御する制御部を備えたことを
特徴とする請求項1記載のバンプ付電子部品の製造装
置。
2. The apparatus according to claim 1, wherein each of said blocks is connected to a vacuum pump of said vacuum suction means via a tube and a valve, and further comprises a control unit for controlling each valve. An apparatus for manufacturing an electronic component with a bump according to the above.
【請求項3】前記各々のブロックは、チューブとバルブ
を介してブロアに接続されており、且つ各々のバルブを
制御する制御部を備えたことを特徴とする請求項1記載
のバンプ付電子部品の製造装置。
3. The electronic component with bump according to claim 1, wherein each of said blocks is connected to a blower via a tube and a valve, and further comprises a control unit for controlling each of said valves. Manufacturing equipment.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3397051B2 (en) 1996-08-20 2003-04-14 松下電器産業株式会社 Apparatus and method for mounting conductive ball
KR101385932B1 (en) * 2013-11-21 2014-04-16 주식회사 고려반도체시스템 Solderball attach tool and method of attaching solderballs using same
WO2015083239A1 (en) * 2013-12-03 2015-06-11 東北精機工業株式会社 Workpiece transfer system
KR101653573B1 (en) * 2015-05-14 2016-09-05 (주) 에스에스피 Flux tool and ball tool improving process accuracy against material deformation

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3397051B2 (en) 1996-08-20 2003-04-14 松下電器産業株式会社 Apparatus and method for mounting conductive ball
KR101385932B1 (en) * 2013-11-21 2014-04-16 주식회사 고려반도체시스템 Solderball attach tool and method of attaching solderballs using same
CN104658932A (en) * 2013-11-21 2015-05-27 高丽半导体组织株式会社 Solderball attach tool and method of attaching solderballs using same
WO2015083239A1 (en) * 2013-12-03 2015-06-11 東北精機工業株式会社 Workpiece transfer system
JPWO2015083239A1 (en) * 2013-12-03 2017-03-16 株式会社ハッピージャパン Work transfer system
KR101653573B1 (en) * 2015-05-14 2016-09-05 (주) 에스에스피 Flux tool and ball tool improving process accuracy against material deformation

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