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JP2001034351A - 電圧安定化回路およびそれを用いた半導体装置 - Google Patents

電圧安定化回路およびそれを用いた半導体装置

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JP2001034351A
JP2001034351A JP11205606A JP20560699A JP2001034351A JP 2001034351 A JP2001034351 A JP 2001034351A JP 11205606 A JP11205606 A JP 11205606A JP 20560699 A JP20560699 A JP 20560699A JP 2001034351 A JP2001034351 A JP 2001034351A
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Japan
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circuit
current
differential amplifier
voltage
amplifier circuit
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JP11205606A
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Hitoshi Tanaka
田中  均
Takashi Ebihara
隆 海老原
Takeshi Sakata
健 阪田
Yasushi Nagashima
靖 永島
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Hitachi Ltd
Hitachi Solutions Technology Ltd
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Hitachi Ltd
Hitachi ULSI Systems Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 負荷電流が小さい領域と大きい領域とで差動
アンプ回路電流を制御することで、消費電流を小さくし
ながら、応答速度を速くすることができる電圧安定化回
路およびそれを用いた半導体装置を提供する。 【解決手段】 負荷電流の帰還量を制限した負荷電流帰
還型レギュレータ回路であって、差動アンプ回路1、出
力回路2、電流比例/制限回路3などから構成され、電
流比例/制限回路3は、pMOS型のトランジスタM
8,M10、nMOS型のトランジスタM9からなり、
出力回路2の負荷電流ILに基づいて制御し、負荷電流
ILが小さい領域では、この負荷電流ILに比例した差
動アンプ回路電流Isを差動アンプ回路1に流し、負荷
電流ILが大きい領域では、電流制限用のトランジスタ
M10により一定値に制限した差動アンプ回路電流Is
を差動アンプ回路1に流すように構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電圧安定化回路技
術に関し、特にCMOSロジック、SRAM、DRAM
などに搭載されるレギュレータの低消費電力化と安定化
に好適な電圧安定化回路およびそれを用いた半導体装置
に適用して有効な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】たとえば、本発明者が検討した技術とし
て、半導体装置の一例としてのDRAMなどにおいて
は、外部から供給される電源電圧を内部電圧発生回路を
介して所定の電圧に降圧したり、あるいは所定の電圧に
昇圧して所望の内部電圧を発生し、この発生された各種
の内部電圧はメモリアレー用、周辺回路用などとして、
各内部回路の動作電圧として用いられる。
【0003】このようなDRAMなどの内部電圧発生回
路に関する技術としては、たとえば特開平3−1589
12号公報に記載されるボルテージレギュレータなどが
挙げられる。この公報の技術は、負荷電流に比例した電
流を差動アンプ回路に流すように構成した負荷電流帰還
型レギュレータ回路である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記特開平
3−158912号公報の技術について、本発明者が検
討した結果、以下のようなことが明らかとなった。図
5、後述する図2を用いて説明する。図5は前記公報の
負荷電流帰還型レギュレータ回路の概要を説明するため
の回路図であり、図2は負荷電流に対する差動アンプ回
路電流の依存性を示す特性図である。
【0005】図5のように、負荷電流帰還型レギュレー
タ回路は、基準電圧との電圧差に比例した電圧を出力す
るためのトランジスタM1〜M6からなる差動アンプ回
路1と、この差動アンプ回路1からの出力電圧により制
御され、これに対応した負荷電流による電圧を出力し、
かつこの負荷電流を差動アンプ回路1に帰還するための
トランジスタM7からなる出力回路2と、この出力回路
2の負荷電流に比例した電流を差動アンプ回路1に流す
ためのトランジスタM8,M9からなる電流比例回路1
1などから構成されている。
【0006】このレギュレータ回路の動作は、まず、負
荷電流ILが増加すると出力電圧VCLが基準電圧VC
LRより低下するので、トランジスタM7のゲート電圧
が低下する。一方、トランジスタM8はトランジスタM
7とゲート、ソースが共通なので、トランジスタM8に
は負荷電流ILに比例した電流が流れる。この電流はト
ランジスタM9を流れ、それとカレントミラー回路を構
成するトランジスタM6には負荷電流ILに比例した差
動アンプ回路電流Isが流れる。
【0007】ここで、トランジスタのサイズをW(M
7):W(M8)=l:h、W(M9):W(M6)=
i:nとすれば、Is=h/l×n/i×ILで表され
る。Isが大きくなると差動アンプ回路1はより高速に
トランジスタM7のゲートを引き下げることができるの
で、出力電圧VCLはもとの基準電圧VCLRのレベル
に復帰する。ここで、Is/IL=h/l×n/iを大
きくすれば、負荷電流ILに対する差動アンプ回路電流
Isの増加量はより大きくなり、より高速動作が可能に
なる。
【0008】しかしながら、高速動作のため、その増加
量を大きくすると、負荷の動作全体にわたって見たとき
に差動アンプ回路1で消費する差動アンプ回路電流Is
が大きくなり(図2の比較例2)、また小さくすると負
荷電流ILの平均電流以下の領域での帰還の応答する速
度が遅くなる(図2の比較例1)。すなわち、差動アン
プ回路電流Isと負荷電流ILとの比例係数が大きいと
消費電流が大きくなり、差動アンプ回路電流Isと負荷
電流ILとの比例係数が小さいと応答速度が遅くなると
いう問題が発生することが考えられる。
【0009】そこで、本発明の目的は、前記のような差
動アンプ回路電流と負荷電流との比例係数に対する消費
電流と応答速度との相反する関係に着目し、負荷電流が
小さい領域と大きい領域とで差動アンプ回路電流を制御
することで、消費電流を小さくしながら、応答速度を速
くすることができる電圧安定化回路およびそれを用いた
半導体装置を提供するものである。
【0010】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0011】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
次のとおりである。
【0012】すなわち、本発明による電圧安定化回路
は、基準電圧との電圧差に比例した電圧を出力する差動
アンプ回路と、この差動アンプ回路からの出力電圧によ
り制御され、これに対応した負荷電流による電圧を出力
し、かつこの負荷電流を差動アンプ回路に帰還する出力
回路と、この出力回路の負荷電流に基づいて制御し、負
荷電流が小さい領域では、この負荷電流に比例した電流
を差動アンプ回路に流し、負荷電流が大きい領域では、
一定値に制限した電流を差動アンプ回路に流す電流比例
/制限回路とを有するものである。
【0013】よって、差動アンプ回路電流と負荷電流と
の比例係数を大きくし、負荷電流を差動アンプ回路に伝
達するカレントミラー構成に電流制限回路を入れること
により、負荷電流が小さい領域で、それに比例し、大き
い領域で一定になる電流を差動アンプ回路に流すことが
できるので、スタンバイ時の消費電流を小さくすること
ができ、かつ過渡変動量を小さくすることができる。こ
の結果、半導体装置のスタンバイ電流を小さくし、高速
化を図ることができる。
【0014】この構成において、さらなる安定化を実現
するために、差動アンプ回路のカレントミラー回路に並
列に接続され、負荷電流に比例した電流の値の半分の大
きさの値の電流をカレントミラー回路の各トランジスタ
に流す同相利得キャンセル回路を有するものである。よ
り出力電圧変動を小さくするために、差動アンプ回路か
らの出力電圧が基準電圧より低下したことを検出し、出
力回路から差動アンプ回路への帰還よりも速く応答して
電圧を出力する過渡変動量検出回路と、この過渡変動量
検出回路からの出力電圧に基づいて差動アンプ回路の電
流を制御する電流制御回路とを有するものである。これ
らの回路は、MOSトランジスタから構成するようにし
たものである。
【0015】また、本発明による半導体装置は、前記電
圧安定化回路を含む内部電圧発生回路と、この内部電圧
発生回路からの出力電圧により動作する所定の内部回路
とがチップ上に搭載されて構成されるものである。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明す
るための全図において同一の部材には同一の符号を付
し、その繰り返しの説明は省略する。
【0017】(実施の形態1)図1は本発明の電圧安定
化回路の実施の形態1であるレギュレータ回路を示す回
路図、図2は本実施の形態1のレギュレータ回路におい
て、負荷電流に対する差動アンプ回路電流の依存性を示
す特性図である。
【0018】まず、図1により、本実施の形態1のレギ
ュレータ回路の構成の一例を説明する。
【0019】本実施の形態1のレギュレータ回路は、た
とえば負荷電流の帰還量を制限した負荷電流帰還型レギ
ュレータ回路であって、基準電圧との電圧差に比例した
電圧を出力する差動アンプ回路1と、この差動アンプ回
路1からの出力電圧により制御され、これに対応した負
荷電流による電圧を出力し、かつこの負荷電流を差動ア
ンプ回路1に帰還する出力回路2と、この出力回路2の
負荷電流に基づいて制御し、負荷電流が小さい領域で
は、この負荷電流に比例した電流を差動アンプ回路1に
流し、負荷電流が大きい領域では、一定値に制限した電
流を差動アンプ回路1に流す電流比例/制限回路3など
から構成されている。
【0020】差動アンプ回路1は、たとえばpMOS型
のトランジスタM1,M2、nMOS型のトランジスタ
M3,M4,M5,M6などからなり、基準電圧VCL
Rと出力電圧VCLとを比較し、この電圧差に比例した
電圧をトランジスタM1とトランジスタM3との共通接
続されたドレインから出力回路2、電流比例/制限回路
3に出力するように構成されている。トランジスタM
1,M2はカレントミラー構成となっており、各ソース
が電源電圧VDDに、各ドレインがトランジスタM3,
M4の各ドレインにそれぞれ接続され、またゲート同士
が接続されてトランジスタM2のドレインに接続され、
さらにトランジスタM1のドレインが出力回路2のトラ
ンジスタM7、電流比例/制限回路3のトランジスタM
8の各ゲートにそれぞれ接続されている。トランジスタ
M3,M4は、各ドレインがトランジスタM1,M2の
各ドレインに、各ソースが共通にトランジスタM5,M
6の各ドレインにそれぞれ接続され、またトランジスタ
M3のゲートが基準電圧VCLRに、トランジスタM4
のゲートが出力回路2のトランジスタM7のドレインに
それぞれ接続されている。トランジスタM5,M6は、
各ドレインが共通にトランジスタM3,M4の各ソース
に、各ソースが接地電圧にそれぞれ接続され、またトラ
ンジスタM5のゲートが電源電圧VDDに、トランジス
タM6のゲートが電流比例/制限回路3のトランジスタ
M9のゲートにそれぞれ接続されている。
【0021】出力回路2は、たとえばpMOS型のトラ
ンジスタM7などからなり、差動アンプ回路1からの出
力電圧によりゲート制御され、これに対応した負荷電流
ILによる出力電圧VCLを出力し、かつこの負荷電流
ILを差動アンプ回路1に帰還するように構成されてい
る。トランジスタM7は、ソースが電源電圧VDDに、
ドレインが差動アンプ回路1のトランジスタM4のゲー
トにそれぞれ接続され、またゲートが差動アンプ回路1
のトランジスタM1のドレインに接続されている。
【0022】電流比例/制限回路3は、たとえばpMO
S型のトランジスタM8,M10、nMOS型のトラン
ジスタM9などからなり、出力回路2の負荷電流ILに
基づいて制御し、負荷電流ILが小さい領域では、この
負荷電流ILに比例した差動アンプ回路電流Isを差動
アンプ回路1に流し、負荷電流ILが大きい領域では、
電流制限用のトランジスタM10(電流リミッタ)によ
り一定値に制限した差動アンプ回路電流Isを差動アン
プ回路1に流すように構成されている。トランジスタM
8は、ソースが電源電圧VDDに、ドレインがトランジ
スタM10のソースにそれぞれ接続され、またゲートが
差動アンプ回路1のトランジスタM1のドレインに接続
されている。トランジスタM10は、ソースがトランジ
スタM8のドレインに、ドレインがトランジスタM9の
ドレインにそれぞれ接続され、またゲートが接地電圧に
接続されている。トランジスタM9は、差動アンプ回路
1のトランジスタM6とカレントミラー構成となってお
り、ドレインおよびゲートが共通にトランジスタM6の
ゲートに、ソースが接地電圧にそれぞれ接続されてい
る。
【0023】次に、本実施の形態1の作用について、レ
ギュレータ回路の動作を説明する。合わせて、負荷電流
ILに対する差動アンプ回路電流Isの依存性を図2に
示す。
【0024】まず、負荷電流ILが増加すると出力電圧
VCLが基準電圧VCLRより低下するので、トランジ
スタM7のゲート電圧が低下する。一方、トランジスタ
M8はトランジスタM7とゲート、ソースが共通なの
で、トランジスタM8には負荷電流ILに比例した電流
が流れる。この電流は電流制限用のトランジスタM10
を介してトランジスタM9を流れ、それとカレントミラ
ー回路を構成するトランジスタM6には負荷電流ILに
比例した差動アンプ回路電流Isが流れる。
【0025】たとえば、前記図5の比較例では、差動ア
ンプ回路電流Isと負荷電流ILとの関係において、比
例係数が大きいと差動アンプ回路1で消費する差動アン
プ回路電流Isが大きくなり、逆に小さいと負荷電流I
Lの平均電流以下の領域での帰還の応答する速度が遅く
なるという、消費電流と応答速度との間で相反する問題
が発生する。
【0026】これに対して、本実施の形態1において
は、差動アンプ回路電流Isと負荷電流ILとの関係
を、その比例係数を大きくして、さらに負荷電流ILの
帰還ループに電流制限用のトランジスタM10を加える
ことで、負荷電流ILと差動アンプ回路電流Isとの関
係を図2の実線で示す特性にする。これにより、負荷電
流ILが、平均値(av)以下の最小値(min)付近
では負荷電流ILに比例して十分に大きな差動アンプ回
路電流Isを差動アンプ回路1に流すことができ、かつ
平均値(av)付近ではその差動アンプ回路電流Isを
一定値に制限できるので、高速応答性を維持しながら、
差動アンプ回路1の消費電流を低減することができる。
【0027】ここで、トランジスタM5は負荷電流IL
が小さいときでも、負荷電流ILの帰還ループに、ある
程度の応答速度を確保するためのトランジスタである。
ここに流れる電流Ibは、レギュレータ回路の用途によ
っても変わるが、差動アンプ回路電流Isの最大値の1
/5〜1/2が適当である。
【0028】従って、本実施の形態1のレギュレータ回
路によれば、pMOS型のトランジスタM8,M10、
nMOS型のトランジスタM9などからなる電流比例/
制限回路3を有し、差動アンプ回路電流Isと負荷電流
ILとの比例係数を大きくできるので、負荷電流ILの
帰還速度が速くでき、この結果、過渡変動量が減る。よ
って、スタンバイ時の消費電流を小さくすることがで
き、かつ過渡変動量を小さくすることができる。この結
果、半導体装置のスタンバイ電流を小さくし、高速化を
図ることができる。
【0029】(実施の形態2)図3は本発明の電圧安定
化回路の実施の形態2であるレギュレータ回路を示す回
路図である。
【0030】本実施の形態2のレギュレータ回路は、前
記実施の形態1と同様に、たとえば負荷電流の帰還量を
制限した負荷電流帰還型レギュレータ回路であって、前
記実施の形態1との相違点は、差動アンプ回路1のカレ
ントミラー回路に並列に接続され、負荷電流ILに比例
した差動アンプ回路電流Isの値の半分の大きさの値の
電流をカレントミラー回路の各トランジスタに流す同相
利得キャンセル回路を追加して有する点である。
【0031】すなわち、本実施の形態2のレギュレータ
回路は、図3に示すように、pMOS型のトランジスタ
M1,M2、nMOS型のトランジスタM3,M4,M
5,M6からなる差動アンプ回路1と、pMOS型のト
ランジスタM7からなる出力回路2と、pMOS型のト
ランジスタM8,M10、nMOS型のトランジスタM
9からなる電流比例/制限回路3と、トランジスタM
1,M2と並列に接続し、それぞれに差動アンプ回路電
流Isの半分の電流を流すようにしたpMOS型のトラ
ンジスタM11,M12からなる同相利得キャンセル回
路4と、バイアスを整合するためのpMOS型のトラン
ジスタM13、nMOS型のトランジスタM14,M1
5からなるバイアス整合回路5などから構成されてい
る。
【0032】たとえば、前記実施の形態1のレギュレー
タ回路(図1)において、差動アンプ回路電流Isと負
荷電流ILとの比を大きくし過ぎると、正帰還量が大き
くなり回路は不安定になる。すなわち、この回路では、
負荷電流ILが増加し、差動アンプ回路電流Isが増加
すると、トランジスタM7のゲート、すなわちノードA
の電位が下がり、トランジスタM8の電流が増加し、さ
らに差動アンプ回路電流Isが増加し、ノードAの電位
が下がる、といった正帰還がかかっている。よって、差
動アンプ回路電流Isと負荷電流ILとの比が大きくな
ると、この正帰還量が増えて回路は不安定になる。
【0033】そこで、本実施の形態2のように、トラン
ジスタM1,M2と並列にトランジスタM11,M12
を接続し、それぞれに差動アンプ回路電流Isの半分の
電流を流すようにすると、差動アンプ回路電流Isが増
加したとき、トランジスタM3,M4の電流もその分増
加するが、それと同じ量の電流がトランジスタM11,
M12から流し込まれるので、ノードAの電位は変化せ
ずに正帰還はかからなくなる。
【0034】ここで、トランジスタM14はトランジス
タM15のドレイン−ソース間の電位差を小さくし、ト
ランジスタM15のドレインコンダクタンスによる電流
の増加を抑える働きをしている。これにより、正確なI
s/2の電流をトランジスタM11,M12に供給する
ことができる。もし、これがなければ、トランジスタM
11,M12にはIs/2より大きな電流が流れ、負帰
還がかかり、ノードAの電位の降下が抑えられ、出力電
圧VCLの過渡変動量は増加する。
【0035】従って、本実施の形態2のレギュレータ回
路によれば、pMOS型のトランジスタM11,M12
からなる同相利得キャンセル回路4と、pMOS型のト
ランジスタM13、nMOS型のトランジスタM14,
M15からなるバイアス整合回路5とを有し、トランジ
スタM1,M2は同相利得が低減して位相余裕が増加す
るので、前記実施の形態1の特徴である低消費電力化と
高速化に加えて、さらなる安定化を実現することができ
る。これは言い換えると、通常レギュレータの出力端に
付ける安定化容量をより小さくすることができることを
意味している。
【0036】(実施の形態3)図4は本発明の電圧安定
化回路の実施の形態3であるレギュレータ回路を示す回
路図である。
【0037】本実施の形態3のレギュレータ回路は、前
記実施の形態1と同様に、たとえば負荷電流の帰還量を
制限した負荷電流帰還型レギュレータ回路であって、前
記実施の形態1との相違点は、差動アンプ回路1からの
出力電圧が基準電圧VCLRより低下したことを検出
し、出力回路2から差動アンプ回路1への帰還よりも速
く応答して電圧を出力する過渡変動量検出回路と、この
過渡変動量検出回路からの出力電圧に基づいて差動アン
プ回路1の電流を制御する電流制御回路とを追加して有
する点である。
【0038】すなわち、本実施の形態3のレギュレータ
回路は、図4に示すように、pMOS型のトランジスタ
M1,M2、nMOS型のトランジスタM3,M4,M
5,M6からなる差動アンプ回路1と、pMOS型のト
ランジスタM7からなる出力回路2と、pMOS型のト
ランジスタM8,M10、nMOS型のトランジスタM
9からなる電流比例/制限回路3と、pMOS型のトラ
ンジスタM11,M12からなる同相利得キャンセル回
路4と、pMOS型のトランジスタM13、nMOS型
のトランジスタM14,M15からなるバイアス整合回
路5と、サイズが小さく高速なpMOS型のトランジス
タM16〜M19、nMOS型のトランジスタM20〜
M24からなる過渡変動量検出回路6と、この過渡変動
量検出回路6の出力電圧により差動アンプ回路1の電流
を制御するようにしたnMOS型のトランジスタM25
〜M28からなる電流制御回路7などから構成されてい
る。
【0039】この過渡変動量検出回路6は、出力電圧V
CLが基準電圧VCLRより低下したとき、レギュレー
タ回路本体の帰還ループよりも速く応答し、その出力端
子となるトランジスタM16とトランジスタM22との
共通接続されたドレインにハイレベルを出力する。トラ
ンジスタM25はその出力を受け、差動アンプ回路1の
電流Is2を制御する。また、トランジスタM26は、
前記実施の形態2で述べた正帰還キャンセル回路に並列
に接続され、負荷電流帰還回路のトランジスタM15と
同様、その電流を制御する。ここで、トランジスタM2
7,M28は、トランジスタM10と同様、差動アンプ
回路1の電流を制御するための電流リミッタである。
【0040】なおここで、図4では、トランジスタM1
0,M27,M28はエンハンスメント型のpMOSお
よびnMOSの使用を想定しているが、ゲートとソース
を接続したデプレッション型のpMOSまたはnMOS
を使用してもよい。この場合には、よりよい電流リミッ
タ特性が得られる。
【0041】従って、本実施の形態3のレギュレータ回
路によれば、pMOS型のトランジスタM16〜M1
9、nMOS型のトランジスタM20〜M24からなる
過渡変動量検出回路6と、nMOS型のトランジスタM
25〜M28からなる電流制御回路7とを有し、出力が
低下したときの差動アンプ回路電流Is2を増加させて
過渡変動量を低減できるので、前記実施の形態1の特徴
である低消費電力化と高速化に加えて、出力電圧VCL
の変動に対してより高速に差動アンプ回路1の電流Is
2を増加させることができるので、よりその出力電圧変
動を小さくすることができる。これは言い換えると、通
常レギュレータの出力端に付ける安定化容量を前記実施
の形態2よりもさらに小さくすることができることを意
味している。
【0042】以上、本発明者によってなされた発明をそ
の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前
記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸
脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもな
い。
【0043】たとえば、前記実施の形態のレギュレータ
回路は、CMOSロジック、SRAM、DRAMなどの
アクティブ時とスタンバイ時の電流の比が大きい製品に
適用して効果的であり、内部電圧発生回路として降圧電
源回路を含んだ製品全般に広く適用可能である。この半
導体装置は、レギュレータ回路を含む内部電圧発生回
路、この内部電圧発生回路からの出力電圧により動作す
る所定の内部回路とがチップ上に搭載されて構成され
る。
【0044】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0045】(1).負荷電流が小さい領域では、この負荷
電流に比例した電流を差動アンプ回路に流し、負荷電流
が大きい領域では、一定値に制限した電流を差動アンプ
回路に流す電流比例/制限回路を有することで、負荷電
流の帰還量を制限し、スタンバイ時の消費電流を小さく
することができ、かつ過渡変動量を小さくすることがで
きるので、半導体装置のスタンバイ電流を小さくし、高
速化を図ることが可能となる。
【0046】(2).負荷電流に比例した電流の値の半分の
大きさの値の電流を差動アンプ回路のカレントミラー回
路の各トランジスタに流す同相利得キャンセル回路を有
することで、各トランジスタは同相利得が低減して位相
余裕が増加するので、さらなる安定化を実現することが
可能となる。
【0047】(3).差動アンプ回路からの出力電圧が基準
電圧より低下したことを検出し、出力回路から差動アン
プ回路への帰還よりも速く応答して電圧を出力する過渡
変動量検出回路と、この過渡変動量検出回路からの出力
電圧に基づいて差動アンプ回路の電流を制御する電流制
御回路とを有することで、出力電圧の変動に対してより
高速に差動アンプ回路の電流を増加させることができる
ので、より一層、出力電圧変動を小さくすることが可能
となる。
【0048】(4).前記(1) 〜(3) により、CMOSロジ
ック、SRAM、DRAMなどの降圧電源回路を含んだ
半導体装置において、消費電流を小さくしながら、応答
速度を速くすることができるので、低消費電力化と高速
化、さらなる安定化、より一層の出力電圧変動の低減を
実現することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電圧安定化回路の実施の形態1である
レギュレータ回路を示す回路図である。
【図2】本発明の実施の形態1のレギュレータ回路にお
いて、負荷電流に対する差動アンプ回路電流の依存性を
示す特性図である。
【図3】本発明の電圧安定化回路の実施の形態2である
レギュレータ回路を示す回路図である。
【図4】本発明の電圧安定化回路の実施の形態3である
レギュレータ回路を示す回路図である。
【図5】本発明の前提となるレギュレータ回路を示す回
路図である。
【符号の説明】
1 差動アンプ回路 2 出力回路 3 電流比例/制限回路 4 同相利得キャンセル回路 5 バイアス整合回路 6 過渡変動量検出回路 7 電流制御回路 11 電流比例回路 M1〜M28 トランジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 海老原 隆 東京都小平市上水本町5丁目22番1号 株 式会社日立超エル・エス・アイ・システム ズ内 (72)発明者 阪田 健 東京都国分寺市東恋ヶ窪一丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 永島 靖 東京都青梅市新町六丁目16番地の3 株式 会社日立製作所デバイス開発センタ内 Fターム(参考) 5H430 BB01 BB05 BB09 BB11 BB12 BB13 EE06 EE12 FF07 FF11 GG11 HH03 JJ03

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基準電圧との電圧差に比例した電圧を出
    力する差動アンプ回路と、前記差動アンプ回路からの出
    力電圧により制御され、これに対応した負荷電流による
    電圧を出力し、かつこの負荷電流を前記差動アンプ回路
    に帰還する出力回路と、前記出力回路の負荷電流に基づ
    いて制御し、前記負荷電流が小さい領域では、この負荷
    電流に比例した電流を前記差動アンプ回路に流し、前記
    負荷電流が大きい領域では、一定値に制限した電流を前
    記差動アンプ回路に流す電流比例/制限回路とを有する
    ことを特徴とする電圧安定化回路。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の電圧安定化回路であっ
    て、前記差動アンプ回路のカレントミラー回路に並列に
    接続され、前記負荷電流に比例した電流の値の半分の大
    きさの値の電流を前記カレントミラー回路の各トランジ
    スタに流す同相利得キャンセル回路を有することを特徴
    とする電圧安定化回路。
  3. 【請求項3】 請求項1記載の電圧安定化回路であっ
    て、前記差動アンプ回路からの出力電圧が前記基準電圧
    より低下したことを検出し、前記出力回路から前記差動
    アンプ回路への帰還よりも速く応答して電圧を出力する
    過渡変動量検出回路と、前記過渡変動量検出回路からの
    出力電圧に基づいて前記差動アンプ回路の電流を制御す
    る電流制御回路とを有することを特徴とする電圧安定化
    回路。
  4. 【請求項4】 請求項1、2または3記載の電圧安定化
    回路であって、前記差動アンプ回路、前記出力回路、前
    記電流比例/制限回路、前記同相利得キャンセル回路、
    前記過渡変動量検出回路、前記電流制御回路は、MOS
    トランジスタから構成されることを特徴とする電圧安定
    化回路。
  5. 【請求項5】 請求項1、2、3または4記載の電圧安
    定化回路を用いた半導体装置であって、前記電圧安定化
    回路を含む内部電圧発生回路と、前記内部電圧発生回路
    からの出力電圧により動作する所定の内部回路とがチッ
    プ上に搭載されていることを特徴とする半導体装置。
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