JP2001021451A - 光パルス試験器 - Google Patents
光パルス試験器Info
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 49
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 27
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 24
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- 230000000881 depressing effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 5
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- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
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- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/02—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
- G01R13/029—Software therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- G01D7/02—Indicating value of two or more variables simultaneously
-
- G—PHYSICS
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- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3145—Details of the optoelectronics or data analysis
-
- G—PHYSICS
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- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 同一階層で選択可能なメニューを一画面上で
視認でき、画面の階層数及びキーの操作数を低減して操
作性の向上を図る。 【解決手段】 操作パネル1の主画面2上には、メニュ
ーキー4の押下によって副画面3がポップアップ表示さ
れる。副画面3は、通常の測定以外の応用機能に関する
項目が配置された大項目メニュー10のウインドゥと、
大項目メニュー10毎に選択可能な項目がファンクショ
ンキー5(F1〜F5)に対応して配置された小項目メ
ニュー11のウインドゥからなる。副画面3が表示され
た状態で、ファンクションキーのいずれかが押下される
と、そのキーに対応する小項目メニュー11の機能の画
面が主画面2上に表示される。
視認でき、画面の階層数及びキーの操作数を低減して操
作性の向上を図る。 【解決手段】 操作パネル1の主画面2上には、メニュ
ーキー4の押下によって副画面3がポップアップ表示さ
れる。副画面3は、通常の測定以外の応用機能に関する
項目が配置された大項目メニュー10のウインドゥと、
大項目メニュー10毎に選択可能な項目がファンクショ
ンキー5(F1〜F5)に対応して配置された小項目メ
ニュー11のウインドゥからなる。副画面3が表示され
た状態で、ファンクションキーのいずれかが押下される
と、そのキーに対応する小項目メニュー11の機能の画
面が主画面2上に表示される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被測定光ファイバ
に対して光源から光パルスを入射し、この光パルスの入
射に伴って被測定光ファイバから戻ってくる反射光(後
方散乱光、フレネル反射光)を光−電気変換し、信号処
理して波形表示することにより、被測定光ファイバの損
失や障害点等の各種測定を行う光パルス試験器に関す
る。
に対して光源から光パルスを入射し、この光パルスの入
射に伴って被測定光ファイバから戻ってくる反射光(後
方散乱光、フレネル反射光)を光−電気変換し、信号処
理して波形表示することにより、被測定光ファイバの損
失や障害点等の各種測定を行う光パルス試験器に関す
る。
【0002】
【従来の技術】被測定光ファイバに対して光源から光パ
ルスを入射し、この光パルスの入射に伴って被測定光フ
ァイバから戻ってくる反射光を光−電気変換し、信号処
理して波形表示することにより、被測定光ファイバの損
失や障害点等の各種測定を行う装置として光パルス試験
器は既に知られている。
ルスを入射し、この光パルスの入射に伴って被測定光フ
ァイバから戻ってくる反射光を光−電気変換し、信号処
理して波形表示することにより、被測定光ファイバの損
失や障害点等の各種測定を行う装置として光パルス試験
器は既に知られている。
【0003】図5はこの種の光パルス試験器の概略構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【0004】図5に示すように、光パルス試験器31
は、タイミング発生部32、発光部(光源)33、光結
合器34、受光部35、増幅部36、A/Dコンバータ
部37、加算回路部38、演算制御部39、表示部40
を備えて構成される。
は、タイミング発生部32、発光部(光源)33、光結
合器34、受光部35、増幅部36、A/Dコンバータ
部37、加算回路部38、演算制御部39、表示部40
を備えて構成される。
【0005】光パルス試験器31では、タイミング発生
部32からの信号で駆動される発光部33より出射され
た光パルスが光結合器34を介して被測定光ファイバW
に入射される。そして、この光パルスの入射に伴って被
測定光ファイバWから反射して戻ってくる反射光を再び
光結合器34を介して受光部35で受光し、増幅部36
で所定の増幅率で増幅してA/Dコンバータ部37に導
く。A/Dコンバータ部37では、増幅部36の出力を
所定のサンプリング周期でサンプリングした後、このサ
ンプリングされた各データを加算回路部38に供給す
る。加算回路部38では、サンプリングされた各データ
を所定時間加算してアベレージング処理する。このアベ
レージング処理された各データは演算制御部39に供給
される。演算制御部39では、アベレージング処理され
た各データに基づいて各種測定に関する演算を行い、そ
の結果が波形データや数値データとして表示部40に表
示される。
部32からの信号で駆動される発光部33より出射され
た光パルスが光結合器34を介して被測定光ファイバW
に入射される。そして、この光パルスの入射に伴って被
測定光ファイバWから反射して戻ってくる反射光を再び
光結合器34を介して受光部35で受光し、増幅部36
で所定の増幅率で増幅してA/Dコンバータ部37に導
く。A/Dコンバータ部37では、増幅部36の出力を
所定のサンプリング周期でサンプリングした後、このサ
ンプリングされた各データを加算回路部38に供給す
る。加算回路部38では、サンプリングされた各データ
を所定時間加算してアベレージング処理する。このアベ
レージング処理された各データは演算制御部39に供給
される。演算制御部39では、アベレージング処理され
た各データに基づいて各種測定に関する演算を行い、そ
の結果が波形データや数値データとして表示部40に表
示される。
【0006】ところで、図6及び図7は特開平10−1
85959号公報に開示される上記光パルス試験器等の
測定装置の各種項目選択時の画面表示を示している。
85959号公報に開示される上記光パルス試験器等の
測定装置の各種項目選択時の画面表示を示している。
【0007】この測定装置では、機器本体に設けられた
選択キーを押下することにより、図6に示すようなウイ
ンドゥ51がポップアップ表示され、このウインドゥ5
1とは別の表示領域に設けられたポインティング・デバ
イス(矢印キー)52及びセレクトキー53を操作する
ことにより、ポップアップ表示されたウインドゥ51内
のサブメニュー54の一つが選択されると、図7に示す
ような下層のウインドゥ55に移行できるようになって
いる。
選択キーを押下することにより、図6に示すようなウイ
ンドゥ51がポップアップ表示され、このウインドゥ5
1とは別の表示領域に設けられたポインティング・デバ
イス(矢印キー)52及びセレクトキー53を操作する
ことにより、ポップアップ表示されたウインドゥ51内
のサブメニュー54の一つが選択されると、図7に示す
ような下層のウインドゥ55に移行できるようになって
いる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の測定装置では、図7に示すウインドゥ55が表
示されている場合、そのウインドゥ55内で図6に示す
ウインドゥ51の内容(サブメニュー54の項目内容)
を確認することができなかった。
た従来の測定装置では、図7に示すウインドゥ55が表
示されている場合、そのウインドゥ55内で図6に示す
ウインドゥ51の内容(サブメニュー54の項目内容)
を確認することができなかった。
【0009】このため、誤って図7のウインドゥ55を
開くと、図6のウインドゥ51に戻るためには、図7の
ウインドゥ55が表示されている状態でポインティング
・デバイス52を操作してカーソル56を「CANCE
L」に位置させた後、セレクトキー53を押下するとい
う作業が必要不可欠となり、その分だけキーの操作作業
が増え、操作性に欠けるという問題があった。
開くと、図6のウインドゥ51に戻るためには、図7の
ウインドゥ55が表示されている状態でポインティング
・デバイス52を操作してカーソル56を「CANCE
L」に位置させた後、セレクトキー53を押下するとい
う作業が必要不可欠となり、その分だけキーの操作作業
が増え、操作性に欠けるという問題があった。
【0010】ところで、近年における光パルス試験器で
は、携帯用機器として持ち運びが便利なように機器本体
自体の小型化が図られている。しかも、所望の地点での
被測定光ファイバの損失や障害点等の特性測定を基本測
定として実行する以外に、基本測定で得たデータを処理
するための項目を任意に選択して種々の設定が行えるよ
うになっている。
は、携帯用機器として持ち運びが便利なように機器本体
自体の小型化が図られている。しかも、所望の地点での
被測定光ファイバの損失や障害点等の特性測定を基本測
定として実行する以外に、基本測定で得たデータを処理
するための項目を任意に選択して種々の設定が行えるよ
うになっている。
【0011】しかしながら、上記基本測定以外の項目に
よる設定は、基本測定の設定とは異なり、必要に応じて
利用されるものなので、操作性を加味した上で、基本測
定の測定項目とは別に振り分けて各種項目の選択が行え
ることが望まれている。
よる設定は、基本測定の設定とは異なり、必要に応じて
利用されるものなので、操作性を加味した上で、基本測
定の測定項目とは別に振り分けて各種項目の選択が行え
ることが望まれている。
【0012】そこで、本発明は、上記問題点に鑑みてな
されたものであり、同一階層で選択可能なメニューを一
画面上で視認でき、画面の階層数及びキーの操作数を低
減して操作性の向上を図ることができる光パルス試験器
を提供することを目的としている。
されたものであり、同一階層で選択可能なメニューを一
画面上で視認でき、画面の階層数及びキーの操作数を低
減して操作性の向上を図ることができる光パルス試験器
を提供することを目的としている。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1の発明は、被測定光ファイバWに光パルス
を入射し、この光パルスの入射に伴って前記被測定光フ
ァイバから戻ってくる反射光を光−電気変換して信号処
理することにより、所望の地点での前記被測定光ファイ
バの損失や障害点等の特性測定を基本測定として実行す
る光パルス試験器31において、少なくとも前記基本測
定で得たデータを処理するための項目が配置された大項
目メニュー10と、該大項目メニュー毎に選択可能な項
目が機器本体に設けられたファンクションキー5に対応
して配置された小項目メニュー11とを、前記機器本体
に設けられたキーの押下により一つの副画面3として表
示画面上にポップアップ表示する手段を備えたことを特
徴とする。
め、請求項1の発明は、被測定光ファイバWに光パルス
を入射し、この光パルスの入射に伴って前記被測定光フ
ァイバから戻ってくる反射光を光−電気変換して信号処
理することにより、所望の地点での前記被測定光ファイ
バの損失や障害点等の特性測定を基本測定として実行す
る光パルス試験器31において、少なくとも前記基本測
定で得たデータを処理するための項目が配置された大項
目メニュー10と、該大項目メニュー毎に選択可能な項
目が機器本体に設けられたファンクションキー5に対応
して配置された小項目メニュー11とを、前記機器本体
に設けられたキーの押下により一つの副画面3として表
示画面上にポップアップ表示する手段を備えたことを特
徴とする。
【0014】請求項2の発明は、請求項1の光パルス試
験器において、現在選択されている大項目メニュー及び
該大項目メニューの実行可能な小項目メニューと、実行
不可能な小項目メニューとを識別表示することを特徴と
する。
験器において、現在選択されている大項目メニュー及び
該大項目メニューの実行可能な小項目メニューと、実行
不可能な小項目メニューとを識別表示することを特徴と
する。
【0015】請求項3の発明は、請求項1又は2の光パ
ルス試験器において、前記ファンクションキー5よりも
小項目メニュー11が多いときに、前記小項目メニュー
を前記ファンクションキーに対応して複数列で表示する
とともに、前記ファンクションキーによって選択可能な
列の小項目メニューを切り替えるための切替メニューを
当該小項目メニューと対応するファンクションキー以外
のファンクションキーに割り当てて表示することを特徴
とする。
ルス試験器において、前記ファンクションキー5よりも
小項目メニュー11が多いときに、前記小項目メニュー
を前記ファンクションキーに対応して複数列で表示する
とともに、前記ファンクションキーによって選択可能な
列の小項目メニューを切り替えるための切替メニューを
当該小項目メニューと対応するファンクションキー以外
のファンクションキーに割り当てて表示することを特徴
とする。
【0016】請求項4の発明は、請求項1〜3のいずれ
かの光パルス試験器において、前記大項目メニュー10
の項目は、波形データのセーブ、リコール、プリントに
関する項目、波形データの比較や前記基本測定を連続し
て行う連続測定に関する項目、波形表示画面におけるイ
ベントコメントやランドマーク入力に関する項目を含む
ことを特徴とする。
かの光パルス試験器において、前記大項目メニュー10
の項目は、波形データのセーブ、リコール、プリントに
関する項目、波形データの比較や前記基本測定を連続し
て行う連続測定に関する項目、波形表示画面におけるイ
ベントコメントやランドマーク入力に関する項目を含む
ことを特徴とする。
【0017】
【発明の実施の形態】図1は本発明による光パルス試験
器の操作パネルの正面図である。なお、本例の光パルス
試験器における測定に関する構成及び動作は、図5に示
す光パルス試験器31とほぼ同等なので、その説明を省
略している。
器の操作パネルの正面図である。なお、本例の光パルス
試験器における測定に関する構成及び動作は、図5に示
す光パルス試験器31とほぼ同等なので、その説明を省
略している。
【0018】本実施の形態による光パルス試験器は、図
1に示すような操作パネル1を有している。操作パネル
1は、被測定光ファイバの測定結果を示す波形表示やデ
ータ表示を含め、各種機能の画面表示を行う主画面2を
備えている。
1に示すような操作パネル1を有している。操作パネル
1は、被測定光ファイバの測定結果を示す波形表示やデ
ータ表示を含め、各種機能の画面表示を行う主画面2を
備えている。
【0019】本例における光パルス試験器では、予め機
器に設定された情報に基づいて所望の地点での被測定光
ファイバの損失や障害点等の特性を測定する基本測定以
外の項目に関する設定を行う場合、上記主画面2上に副
画面3をポップアップ表示させている。
器に設定された情報に基づいて所望の地点での被測定光
ファイバの損失や障害点等の特性を測定する基本測定以
外の項目に関する設定を行う場合、上記主画面2上に副
画面3をポップアップ表示させている。
【0020】ここで言う基本測定以外の項目に関する設
定とは、例えば基本設定を変えずに同一条件で異なる光
ファイバの測定を行ったり、1本の光ファイバに入射さ
れる光パルスの波長を順次変えて測定を行うといった連
続測定や、波形データの比較、ファイルのセーブやリコ
ール等を行う際の設定である。
定とは、例えば基本設定を変えずに同一条件で異なる光
ファイバの測定を行ったり、1本の光ファイバに入射さ
れる光パルスの波長を順次変えて測定を行うといった連
続測定や、波形データの比較、ファイルのセーブやリコ
ール等を行う際の設定である。
【0021】図1に示すように、操作パネル1の本体に
おける主画面2の右側には、メニューキー4、ファンク
ションキー(以下、Fキーと略称する)5(F1〜F
5)、矢印キー6、エンコーダ7、スタートキー8、セ
レクトキー9などの各種入力キーが配設されている。
おける主画面2の右側には、メニューキー4、ファンク
ションキー(以下、Fキーと略称する)5(F1〜F
5)、矢印キー6、エンコーダ7、スタートキー8、セ
レクトキー9などの各種入力キーが配設されている。
【0022】メニューキー4は、主画面2のみが表示さ
れている状態で押下されたときに、副画面3がポップア
ップ表示され、副画面3が表示されている状態で押下さ
れたときには副画面3が閉じるようになっている。な
お、被測定光ファイバの測定中(波形掃引中)にメニュ
ーキー4が押下されたときには、その押下情報が無効と
して処理されるようになっている。なお、何かの設定中
にメニューキー4が押下されたとき、それまでの設定を
キャンセルし、副画面3をポップアップ表示することも
できる。
れている状態で押下されたときに、副画面3がポップア
ップ表示され、副画面3が表示されている状態で押下さ
れたときには副画面3が閉じるようになっている。な
お、被測定光ファイバの測定中(波形掃引中)にメニュ
ーキー4が押下されたときには、その押下情報が無効と
して処理されるようになっている。なお、何かの設定中
にメニューキー4が押下されたとき、それまでの設定を
キャンセルし、副画面3をポップアップ表示することも
できる。
【0023】Fキー5(F1〜F5)は、操作パネル1
における主画面2の右側に縦に5つ並んで配置されてい
る。各FキーF1〜F5は、主画面2又は副画面3に表
示される項目メニューと対応付けして機能が割り当てら
れており、押下されたときにその機能に対応する画面が
表示されるようになっている。
における主画面2の右側に縦に5つ並んで配置されてい
る。各FキーF1〜F5は、主画面2又は副画面3に表
示される項目メニューと対応付けして機能が割り当てら
れており、押下されたときにその機能に対応する画面が
表示されるようになっている。
【0024】Fキー5は、主画面2のみの状態で、例え
ばF1が測定条件を設定するためのSetup画面を表
示させるために機能し、F2が更に下層の選択画面を表
示させるために機能し、F3が測定種類の画面を表示さ
せるために機能し、F4が測定を行う際に用いられる近
似曲線の設定変更のために機能し、F5が主画面2の波
形画面上に配置されて測定点を決めるためのマーカの配
置設定(自動又は手動)の画面を表示させるために機能
する。
ばF1が測定条件を設定するためのSetup画面を表
示させるために機能し、F2が更に下層の選択画面を表
示させるために機能し、F3が測定種類の画面を表示さ
せるために機能し、F4が測定を行う際に用いられる近
似曲線の設定変更のために機能し、F5が主画面2の波
形画面上に配置されて測定点を決めるためのマーカの配
置設定(自動又は手動)の画面を表示させるために機能
する。
【0025】矢印キー6は、上下左右の4方向のキーか
らなり、主画面2や副画面3において所望の項目を選択
するときに操作される。特に、副画面3が表示されてい
る状態では、上キー6aを押下すると、副画面3の後述
する大項目メニュー10の選択項目が上から下に移動
し、選択されていない項目と識別表示される。これに対
し、下キー6bが押下されると、副画面3の大項目メニ
ュー10の選択項目が下から上に移動し、選択されてい
ない項目と識別表示される。
らなり、主画面2や副画面3において所望の項目を選択
するときに操作される。特に、副画面3が表示されてい
る状態では、上キー6aを押下すると、副画面3の後述
する大項目メニュー10の選択項目が上から下に移動
し、選択されていない項目と識別表示される。これに対
し、下キー6bが押下されると、副画面3の大項目メニ
ュー10の選択項目が下から上に移動し、選択されてい
ない項目と識別表示される。
【0026】ノブ形状のエンコーダ7は、矢印キー6と
同等に機能するものである。特に、副画面3が表示され
ている状態では、エンコーダ7を時計廻り方向に回転さ
せると、副画面3の大項目メニュー10の選択項目が上
から下に移動し、選択されていない項目と識別表示され
る。これに対し、エンコーダ7を反時計廻り方向に回転
させると、副画面3の大項目メニュー10の選択項目が
下から上に移動し、選択されていない項目と識別表示さ
れる。
同等に機能するものである。特に、副画面3が表示され
ている状態では、エンコーダ7を時計廻り方向に回転さ
せると、副画面3の大項目メニュー10の選択項目が上
から下に移動し、選択されていない項目と識別表示され
る。これに対し、エンコーダ7を反時計廻り方向に回転
させると、副画面3の大項目メニュー10の選択項目が
下から上に移動し、選択されていない項目と識別表示さ
れる。
【0027】上記選択項目と選択されていない項目との
識別表示は、例えば表示器がモノクロで構成される場合
は選択項目を反転表示する。また、表示器がフルカラー
で構成される場合は同系色の濃淡、すなわち、選択項目
の表示色を濃くし、選択されていない項目の表示色を薄
くする。
識別表示は、例えば表示器がモノクロで構成される場合
は選択項目を反転表示する。また、表示器がフルカラー
で構成される場合は同系色の濃淡、すなわち、選択項目
の表示色を濃くし、選択されていない項目の表示色を薄
くする。
【0028】スタートキー8は、設定された条件の下に
被測定光ファイバの測定を開始するときに押下される。
また、セレクトキー9は、副画面3の後述する小項目メ
ニュー11の中から所定の項目がFキー5の押下により
選択され、この選択された項目の機能の画面が主画面2
に表示された状態で、上記矢印キー6やエンコーダ7と
併用して所望の項目を選択する際に用いられる。
被測定光ファイバの測定を開始するときに押下される。
また、セレクトキー9は、副画面3の後述する小項目メ
ニュー11の中から所定の項目がFキー5の押下により
選択され、この選択された項目の機能の画面が主画面2
に表示された状態で、上記矢印キー6やエンコーダ7と
併用して所望の項目を選択する際に用いられる。
【0029】副画面3は、メニューキー4の押下により
主画面2上のFキー5と近接した位置にポップアップ表
示される。副画面3には、基本測定以外の項目として選
択可能な複数の大項目メニュー10が表示されるととも
に、各大項目メニュー10毎に選択可能な小項目メニュ
ー11が一つ一つFキー5と機能の対応付けがなされて
表示される。大項目メニュー10及び小項目メニュー1
1は、各々矩形状のウインドゥからなり、ウインドゥ内
に項目名が表示される。
主画面2上のFキー5と近接した位置にポップアップ表
示される。副画面3には、基本測定以外の項目として選
択可能な複数の大項目メニュー10が表示されるととも
に、各大項目メニュー10毎に選択可能な小項目メニュ
ー11が一つ一つFキー5と機能の対応付けがなされて
表示される。大項目メニュー10及び小項目メニュー1
1は、各々矩形状のウインドゥからなり、ウインドゥ内
に項目名が表示される。
【0030】図1の例における大項目メニュー10は、
波形データのセーブ、リコール、プリントを行うための
「File」大項目メニュー10A、波形データの比較や連
続測定を行うための「Application 」大項目メニュー1
0B、波形表示画面においてイベントコメントやランド
マーク入力を行うための「Event 」大項目メニュー10
C、各種設定を行うための「Configuration 」大項目メ
ニュー10D、表示設定を行うための「Display 」大項
目メニュー10Eの5つからなる。
波形データのセーブ、リコール、プリントを行うための
「File」大項目メニュー10A、波形データの比較や連
続測定を行うための「Application 」大項目メニュー1
0B、波形表示画面においてイベントコメントやランド
マーク入力を行うための「Event 」大項目メニュー10
C、各種設定を行うための「Configuration 」大項目メ
ニュー10D、表示設定を行うための「Display 」大項
目メニュー10Eの5つからなる。
【0031】上記5つの大項目メニュー10A〜10E
は、副画面3の左側に縦に並んで一列に表示され、現在
選択されている一つの大項目メニュー10が選択されて
いない他の大項目メニューと識別表示される。図1の例
では、斜線の施された「File」大項目メニュー10Aが
選択項目であり、他の大項目メニュー10B〜10Eと
識別表示される。同時に副画面3上には、選択された大
項目メニュー10で更に選択可能な小項目メニュー11
が各Fキー5の位置に対応して表示される。
は、副画面3の左側に縦に並んで一列に表示され、現在
選択されている一つの大項目メニュー10が選択されて
いない他の大項目メニューと識別表示される。図1の例
では、斜線の施された「File」大項目メニュー10Aが
選択項目であり、他の大項目メニュー10B〜10Eと
識別表示される。同時に副画面3上には、選択された大
項目メニュー10で更に選択可能な小項目メニュー11
が各Fキー5の位置に対応して表示される。
【0032】更に説明すると、「File」大項目メニュー
10Aが選択項目として識別表示されているときには、
ファイルメニューに関する5つの選択候補項目が小項目
メニューとしてF1〜F5に割り当てられて表示され
る。
10Aが選択項目として識別表示されているときには、
ファイルメニューに関する5つの選択候補項目が小項目
メニューとしてF1〜F5に割り当てられて表示され
る。
【0033】「File」大項目メニュー10Aの小項目メ
ニュー11は、ファイルセーブ機能の画面を表示させる
ための「Save」小項目メニュー、ファイルリコール機能
の画面を表示させるための「Recall」小項目メニュー、
プリント機能の画面を表示させるための「Print 」小項
目メニュー、連続プリント機能の画面を表示させるため
の「Continuous Print」小項目メニュー、ファイルユー
ティリティの画面を表示させるための「File Utility」
小項目メニューからなる。
ニュー11は、ファイルセーブ機能の画面を表示させる
ための「Save」小項目メニュー、ファイルリコール機能
の画面を表示させるための「Recall」小項目メニュー、
プリント機能の画面を表示させるための「Print 」小項
目メニュー、連続プリント機能の画面を表示させるため
の「Continuous Print」小項目メニュー、ファイルユー
ティリティの画面を表示させるための「File Utility」
小項目メニューからなる。
【0034】そして、「File」大項目メニュー10Aが
選択項目として識別表示されているときには、F1が
「Save」小項目メニュー、F2が「Recall」小項目メニ
ュー、F3が「Print 」小項目メニュー、F4が「Cont
inuous Print」小項目メニュー、F5が「File Utilit
y」小項目メニューにそれぞれ対応している。
選択項目として識別表示されているときには、F1が
「Save」小項目メニュー、F2が「Recall」小項目メニ
ュー、F3が「Print 」小項目メニュー、F4が「Cont
inuous Print」小項目メニュー、F5が「File Utilit
y」小項目メニューにそれぞれ対応している。
【0035】「Application 」大項目メニュー10Bが
選択項目として識別表示されているときには、アプリケ
ーションメニューに関する2つの選択候補項目が小項目
メニューとしてF1,F2に割り当てられて表示され
る。
選択項目として識別表示されているときには、アプリケ
ーションメニューに関する2つの選択候補項目が小項目
メニューとしてF1,F2に割り当てられて表示され
る。
【0036】「Application 」大項目メニュー10Bの
小項目メニュー11は、連続測定機能の画面を表示させ
るための「Repeat task 」小項目メニュー、波形比較機
能の画面を表示させるための「Wave Compare」小項目メ
ニューからなる。
小項目メニュー11は、連続測定機能の画面を表示させ
るための「Repeat task 」小項目メニュー、波形比較機
能の画面を表示させるための「Wave Compare」小項目メ
ニューからなる。
【0037】そして、「Application 」大項目メニュー
10Bが選択項目として識別表示されているときには、
F1が「Repeat task 」小項目メニュー、F2が「Wave
Compare」小項目メニューにそれぞれ対応している。
10Bが選択項目として識別表示されているときには、
F1が「Repeat task 」小項目メニュー、F2が「Wave
Compare」小項目メニューにそれぞれ対応している。
【0038】「Event 」大項目メニュー10Cが選択項
目として識別表示されているときには、イベント情報入
力確認メニューに関する2つの選択候補項目が小項目メ
ニューとしてF1,F2に割り当てられて表示される。
目として識別表示されているときには、イベント情報入
力確認メニューに関する2つの選択候補項目が小項目メ
ニューとしてF1,F2に割り当てられて表示される。
【0039】「Event 」大項目メニュー10Cの小項目
メニュー11は、F1がイベントコメントを入力を行う
ための「Event comment 」小項目メニューに対応し、F
2がランドマークを入力するための「Land mark 」小項
目メニューに対応している。
メニュー11は、F1がイベントコメントを入力を行う
ための「Event comment 」小項目メニューに対応し、F
2がランドマークを入力するための「Land mark 」小項
目メニューに対応している。
【0040】「Configuration 」大項目メニュー10D
が選択項目として識別表示されているときには、各種設
定に関する5つの選択候補項目が小項目メニューとして
F1〜F5に割り当てられて表示される。
が選択項目として識別表示されているときには、各種設
定に関する5つの選択候補項目が小項目メニューとして
F1〜F5に割り当てられて表示される。
【0041】「Configuration 」大項目メニュー10D
の小項目メニュー11は、機器の設定(時刻設定など)
の画面を表示させるための「System」小項目メニュー、
プリンタ機種設定の画面を表示させるための「Printer
setting 」小項目メニュー、通信用インターフェースで
あるRS232C設定の画面を表示させるための「Seri
al port 」小項目メニュー、光スイッチ設定の画面を表
示させるための「Optical switch」小項目メニュー、機
器の自己診断を行うための「Self test 」小項目メニュ
ーからなる。
の小項目メニュー11は、機器の設定(時刻設定など)
の画面を表示させるための「System」小項目メニュー、
プリンタ機種設定の画面を表示させるための「Printer
setting 」小項目メニュー、通信用インターフェースで
あるRS232C設定の画面を表示させるための「Seri
al port 」小項目メニュー、光スイッチ設定の画面を表
示させるための「Optical switch」小項目メニュー、機
器の自己診断を行うための「Self test 」小項目メニュ
ーからなる。
【0042】そして、「Configuration 」大項目メニュ
ー10Dが選択項目として識別表示されているときに
は、F1が「System」小項目メニュー、F2が「Printe
r setting 」小項目メニュー、F3が「Serial port 」
小項目メニュー、F4が「Optical switch」小項目メニ
ュー、F5が「Self test 」小項目メニューにそれぞれ
対応している。
ー10Dが選択項目として識別表示されているときに
は、F1が「System」小項目メニュー、F2が「Printe
r setting 」小項目メニュー、F3が「Serial port 」
小項目メニュー、F4が「Optical switch」小項目メニ
ュー、F5が「Self test 」小項目メニューにそれぞれ
対応している。
【0043】本例において、「Display 」大項目メニュ
ー10Eが選択項目として識別表示されているときに
は、選択可能な小項目メニューがFキー5の数以上ある
ため、図2(a),(b)に示すような表示形態が採用
される。
ー10Eが選択項目として識別表示されているときに
は、選択可能な小項目メニューがFキー5の数以上ある
ため、図2(a),(b)に示すような表示形態が採用
される。
【0044】「Display 」大項目メニュー10Eの小項
目メニュー11は、横軸オフセットの設定の画面を表示
させるための「Horizontal offset 」小項目メニュー
(図では「Hoffset 」と省略している)、距離単位の設
定の画面を表示させるための「Distance unit 」小項目
メニュー、自動縦軸シフトのオン・オフの画面を表示さ
せるための「Vshift ON 」小項目メニュー、近似直線イ
メージのオン・オフの画面を表示させるための「Approx
i image ON」小項目メニュー、反射率測定法の設定の画
面を表示させるための「Reflective Item 」小項目メニ
ュー、FullView画面の表示位置設定の画面を表
示させるための「Full View window」小項目メニューか
らなる。また、この他、選択可能な小項目メニューを切
り替えるための切替メニュー12(「More」メニュー1
2a、「Back」メニュー12b)が設けられている。
目メニュー11は、横軸オフセットの設定の画面を表示
させるための「Horizontal offset 」小項目メニュー
(図では「Hoffset 」と省略している)、距離単位の設
定の画面を表示させるための「Distance unit 」小項目
メニュー、自動縦軸シフトのオン・オフの画面を表示さ
せるための「Vshift ON 」小項目メニュー、近似直線イ
メージのオン・オフの画面を表示させるための「Approx
i image ON」小項目メニュー、反射率測定法の設定の画
面を表示させるための「Reflective Item 」小項目メニ
ュー、FullView画面の表示位置設定の画面を表
示させるための「Full View window」小項目メニューか
らなる。また、この他、選択可能な小項目メニューを切
り替えるための切替メニュー12(「More」メニュー1
2a、「Back」メニュー12b)が設けられている。
【0045】そして、図2(a)に示すように、「Disp
lay 」大項目メニュー10Eが選択項目として識別表示
されている場合には、副画面3の左右2列に並んで小項
目メニュー11が表示され、Fキー5によって選択可能
なFキー5側に近接した右側の小項目メニュー11が選
択候補項目として識別表示(大項目メニュー10の識別
表示と同様の識別表示、例えば反転表示、同系色による
濃淡表示)される。
lay 」大項目メニュー10Eが選択項目として識別表示
されている場合には、副画面3の左右2列に並んで小項
目メニュー11が表示され、Fキー5によって選択可能
なFキー5側に近接した右側の小項目メニュー11が選
択候補項目として識別表示(大項目メニュー10の識別
表示と同様の識別表示、例えば反転表示、同系色による
濃淡表示)される。
【0046】具体的に、F1については、図2(a)に
示すように、F1に対応して「Hoffset 」小項目メニュ
ーが選択項目として識別表示されると、F1による「Ho
ffset 」小項目メニューの選択実行が可能となる。その
際、「Hoffset 」小項目メニューの左側のウインドゥ内
には、「Reflective Item 」小項目メニューの項目名が
表示されるが、F1による「Reflective Item 」小項目
メニューの選択実行は禁止される。
示すように、F1に対応して「Hoffset 」小項目メニュ
ーが選択項目として識別表示されると、F1による「Ho
ffset 」小項目メニューの選択実行が可能となる。その
際、「Hoffset 」小項目メニューの左側のウインドゥ内
には、「Reflective Item 」小項目メニューの項目名が
表示されるが、F1による「Reflective Item 」小項目
メニューの選択実行は禁止される。
【0047】図2(a)に示すように、F2について
は、F2に対応して「Distance unit」小項目メニュー
が選択項目として識別表示されると、F2による「Dist
ance unit 」小項目メニューの選択実行が可能となる。
その際、「Distance unit 」小項目メニューの左側のウ
インドゥ内には、「Full View window」小項目メニュー
の項目名が表示されるが、F2による「Full View wind
ow」小項目メニューの選択実行は禁止される。
は、F2に対応して「Distance unit」小項目メニュー
が選択項目として識別表示されると、F2による「Dist
ance unit 」小項目メニューの選択実行が可能となる。
その際、「Distance unit 」小項目メニューの左側のウ
インドゥ内には、「Full View window」小項目メニュー
の項目名が表示されるが、F2による「Full View wind
ow」小項目メニューの選択実行は禁止される。
【0048】図2(a)に示すように、F3について
は、F3に対応して「Vshift ON 」小項目メニューが選
択項目として識別表示されると、F3による「Vshift O
N 」小項目メニューの選択実行が可能となる。その際、
「Vshift ON 」小項目メニューの左側のウインドゥはブ
ランク表示となる。
は、F3に対応して「Vshift ON 」小項目メニューが選
択項目として識別表示されると、F3による「Vshift O
N 」小項目メニューの選択実行が可能となる。その際、
「Vshift ON 」小項目メニューの左側のウインドゥはブ
ランク表示となる。
【0049】図2(a)に示すように、F4について
は、F4に対応して「Approxi imageON」小項目メニュ
ーが選択項目として識別表示されると、F4による「Ap
proxiimage ON」小項目メニューの選択実行が可能とな
る。その際、「Approxi imageON」小項目メニューの左
側のウインドゥはブランク表示となる。
は、F4に対応して「Approxi imageON」小項目メニュ
ーが選択項目として識別表示されると、F4による「Ap
proxiimage ON」小項目メニューの選択実行が可能とな
る。その際、「Approxi imageON」小項目メニューの左
側のウインドゥはブランク表示となる。
【0050】図2(a)に示すように、F5について
は、F5に対応して「More」メニュー12aが選択項目
として識別表示されると、F5による「More」メニュー
12aの選択実行が可能となる。この「More」メニュー
12aが選択項目として識別表示されている状態で、F
5が押下されると、図2(b)に示すように、F1に対
応して「Reflective Item 」小項目メニューが選択項目
として識別表示され、F1による「Reflective Item 」
小項目メニューの選択実行が可能となる。その際、「Re
flective Item 」小項目メニューの左側のウインドゥ内
には、「Hoffset」小項目メニューの項目名が表示され
るが、F1による「Hoffset 」小項目メニューの選択実
行は禁止される。
は、F5に対応して「More」メニュー12aが選択項目
として識別表示されると、F5による「More」メニュー
12aの選択実行が可能となる。この「More」メニュー
12aが選択項目として識別表示されている状態で、F
5が押下されると、図2(b)に示すように、F1に対
応して「Reflective Item 」小項目メニューが選択項目
として識別表示され、F1による「Reflective Item 」
小項目メニューの選択実行が可能となる。その際、「Re
flective Item 」小項目メニューの左側のウインドゥ内
には、「Hoffset」小項目メニューの項目名が表示され
るが、F1による「Hoffset 」小項目メニューの選択実
行は禁止される。
【0051】図2(b)に示すように、F2について
は、F2に対応して「Full View window」小項目メニュ
ーが選択項目として識別表示されると、F2による「Fu
ll View window」小項目メニューの選択実行が可能とな
る。その際、「Full View window」小項目メニューの左
側のウインドゥ内には、「Distance Unit 」小項目メニ
ューの項目名が表示されるが、F2による「Distance U
nit 」小項目メニューの選択実行は禁止される。
は、F2に対応して「Full View window」小項目メニュ
ーが選択項目として識別表示されると、F2による「Fu
ll View window」小項目メニューの選択実行が可能とな
る。その際、「Full View window」小項目メニューの左
側のウインドゥ内には、「Distance Unit 」小項目メニ
ューの項目名が表示されるが、F2による「Distance U
nit 」小項目メニューの選択実行は禁止される。
【0052】図2(b)に示すように、F3について
は、F3に対応する右側のウインドゥがブランク表示さ
れる。その際、F3に対応する左側のウインドゥ内に
は、「Vshift ON 」小項目メニューの項目名が表示され
るが、F3による「Vshift ON 」小項目メニューの選択
実行は禁止される。
は、F3に対応する右側のウインドゥがブランク表示さ
れる。その際、F3に対応する左側のウインドゥ内に
は、「Vshift ON 」小項目メニューの項目名が表示され
るが、F3による「Vshift ON 」小項目メニューの選択
実行は禁止される。
【0053】図2(b)に示すように、F4について
は、F4に対応する右側のウインドゥがブランク表示さ
れる。その際、F4に対応する左側のウインドゥ内に
は、「Approxi image ON」小項目メニューの項目名が表
示されるが、F4による「Approxi image ON」小項目メ
ニューの選択実行は禁止される。
は、F4に対応する右側のウインドゥがブランク表示さ
れる。その際、F4に対応する左側のウインドゥ内に
は、「Approxi image ON」小項目メニューの項目名が表
示されるが、F4による「Approxi image ON」小項目メ
ニューの選択実行は禁止される。
【0054】図2(b)に示すように、F5について
は、F5に対応して「Back」メニュー12bが選択項目
として識別表示される。その際、「Back」メニュー12
bの左側のウインドゥはブランク表示される。上記「Ba
ck」メニュー12bが選択項目として識別表示されてい
る状態で、FキーのF5が押下されると上述した図2
(a)に示す副画面3に戻る。
は、F5に対応して「Back」メニュー12bが選択項目
として識別表示される。その際、「Back」メニュー12
bの左側のウインドゥはブランク表示される。上記「Ba
ck」メニュー12bが選択項目として識別表示されてい
る状態で、FキーのF5が押下されると上述した図2
(a)に示す副画面3に戻る。
【0055】なお、上記構成は他の大項目メニュー10
A〜10Dに採用することもできる。また、「Display
」大項目メニュー10Eの選択可能な小項目メニュー
がFキー5の数以下であれば、他の大項目メニュー10
A〜10Dと同様に、選択可能な小項目メニューが一つ
ずつFキー5に対応して表示することができる。
A〜10Dに採用することもできる。また、「Display
」大項目メニュー10Eの選択可能な小項目メニュー
がFキー5の数以下であれば、他の大項目メニュー10
A〜10Dと同様に、選択可能な小項目メニューが一つ
ずつFキー5に対応して表示することができる。
【0056】次に、図3は上述した副画面の処理に関わ
る制御部の機能ブロック図である。図3に示すように、
制御部(CPU)21は、動作状態判別手段21a、選
択項目制限処理手段21b、表示項目判別処理手段21
c、選択項目判別表示処理手段21d、主画面表示制御
手段21e、副画面表示制御手段21fを備えて構成さ
れる。
る制御部の機能ブロック図である。図3に示すように、
制御部(CPU)21は、動作状態判別手段21a、選
択項目制限処理手段21b、表示項目判別処理手段21
c、選択項目判別表示処理手段21d、主画面表示制御
手段21e、副画面表示制御手段21fを備えて構成さ
れる。
【0057】なお、図3における入力部22は、上述し
たメニューキー4、Fキー5(F1〜F5)、矢印キー
6、エンコーダ7、スタートキー8、セレクトキー9で
ある。また、図3における記憶部23には、副画面3の
大項目メニュー10のデータ及び各大項目メニュー10
毎に各Fキー5(F1〜F5)と対応付けされた小項目
メニュー11のデータが記憶されている。
たメニューキー4、Fキー5(F1〜F5)、矢印キー
6、エンコーダ7、スタートキー8、セレクトキー9で
ある。また、図3における記憶部23には、副画面3の
大項目メニュー10のデータ及び各大項目メニュー10
毎に各Fキー5(F1〜F5)と対応付けされた小項目
メニュー11のデータが記憶されている。
【0058】動作状態判別手段21aは、例えば被測定
光ファイバの測定中か、主画面2での設定中か、測定中
で主画面がSetup画面を開いている状態か等の動作
状態を判別し、この判別信号を出力するとともに、動作
状態に応じてメニューキー4を押下したときの入力情報
の有効又は無効を示す旨の信号を出力している。
光ファイバの測定中か、主画面2での設定中か、測定中
で主画面がSetup画面を開いている状態か等の動作
状態を判別し、この判別信号を出力するとともに、動作
状態に応じてメニューキー4を押下したときの入力情報
の有効又は無効を示す旨の信号を出力している。
【0059】具体的に、スタートキー8が押下され、被
測定光ファイバの測定中のときにメニューキー4が押下
されたと判別したときには、メニューキー4の入力情報
を無効にする旨の信号を副画面表示制御手段21fに出
力している。主画面2での設定中のときにメニューキー
4が押下されたと判別したときには、メニューキー4の
入力情報を有効にする旨の信号を副画面表示制御手段2
1fに出力している。スタートキー4が押下されて被測
定光ファイバの測定中となり、主画面2にSetup画
面が開いている状態でメニューキー4が押下されたと判
別したときには、その判別信号を選択項目制限処理手段
21bに出力するとともに、メニューキー4の入力情報
を有効にする旨の信号を副画面表示制御手段21fに出
力している。
測定光ファイバの測定中のときにメニューキー4が押下
されたと判別したときには、メニューキー4の入力情報
を無効にする旨の信号を副画面表示制御手段21fに出
力している。主画面2での設定中のときにメニューキー
4が押下されたと判別したときには、メニューキー4の
入力情報を有効にする旨の信号を副画面表示制御手段2
1fに出力している。スタートキー4が押下されて被測
定光ファイバの測定中となり、主画面2にSetup画
面が開いている状態でメニューキー4が押下されたと判
別したときには、その判別信号を選択項目制限処理手段
21bに出力するとともに、メニューキー4の入力情報
を有効にする旨の信号を副画面表示制御手段21fに出
力している。
【0060】選択項目制限処理手段21bは、動作状態
判別手段21aからの判別信号に基づいて副画面3で選
択可能な小項目メニュー11を制限するように項目制限
情報を副画面表示制御手段21fに出力している。具体
的に、動作状態判別手段21aから測定中でSetup
画面を開いている旨の判別信号が入力されると、副画面
3で選択可能な小項目メニューを「Print 」小項目メニ
ューのみに制限するように項目制限情報を副画面表示制
御手段21fに出力している。
判別手段21aからの判別信号に基づいて副画面3で選
択可能な小項目メニュー11を制限するように項目制限
情報を副画面表示制御手段21fに出力している。具体
的に、動作状態判別手段21aから測定中でSetup
画面を開いている旨の判別信号が入力されると、副画面
3で選択可能な小項目メニューを「Print 」小項目メニ
ューのみに制限するように項目制限情報を副画面表示制
御手段21fに出力している。
【0061】表示項目判別処理手段21cは、記憶部2
3から大項目メニュー10及び小項目メニュー11のデ
ータを読み出し、矢印キー6又はエンコーダ7からの入
力情報に基づいて選択表示の対象となるメニューの判別
を行い、該当する大項目メニュー10及びその小項目メ
ニュー11のウインドゥが他のメニューと識別表示され
るように表示情報を副画面表示制御手段21fに出力し
ている。
3から大項目メニュー10及び小項目メニュー11のデ
ータを読み出し、矢印キー6又はエンコーダ7からの入
力情報に基づいて選択表示の対象となるメニューの判別
を行い、該当する大項目メニュー10及びその小項目メ
ニュー11のウインドゥが他のメニューと識別表示され
るように表示情報を副画面表示制御手段21fに出力し
ている。
【0062】なお、表示項目判別処理手段21cは、矢
印キー6又はエンコーダ7から入力情報がなければ、
「File」大項目メニュー10A及びその小項目メニュー
11Aが選択項目として識別表示されるように表示情報
を副画面表示制御手段21fに出力している。
印キー6又はエンコーダ7から入力情報がなければ、
「File」大項目メニュー10A及びその小項目メニュー
11Aが選択項目として識別表示されるように表示情報
を副画面表示制御手段21fに出力している。
【0063】選択項目判別表示処理手段21dは、記憶
部23から大項目メニュー10及び小項目メニュー11
のデータを読み出し、Fキー5からの入力情報に基づい
て選択された項目の判別を行い、該当する選択項目の機
能の画面が主画面2に表示され、副画面3のプップポッ
プアップ表示が消えるように表示処理情報を主画面表示
制御手段21e及び副画面表示制御手段21fに出力し
ている。
部23から大項目メニュー10及び小項目メニュー11
のデータを読み出し、Fキー5からの入力情報に基づい
て選択された項目の判別を行い、該当する選択項目の機
能の画面が主画面2に表示され、副画面3のプップポッ
プアップ表示が消えるように表示処理情報を主画面表示
制御手段21e及び副画面表示制御手段21fに出力し
ている。
【0064】主画面表示制御手段21eは、入力部22
からの入力情報、選択項目判別表示処理手段21dから
表示処理情報に基づいて主画面2の表示を制御してい
る。
からの入力情報、選択項目判別表示処理手段21dから
表示処理情報に基づいて主画面2の表示を制御してい
る。
【0065】副画面表示制御手段21fは、入力部22
からの入力情報、動作状態判別手段21aからの判別信
号及びメニューキー4の有効又は無効の旨の信号、選択
項目制限処理手段21bからの項目制限情報、表示項目
判別処理手段21cからの表示情報、選択項目判別表示
処理手段21dからの表示処理情報に基づいて大項目メ
ニュー10及び小項目メニュー11の識別表示を含む副
画面3の表示(点灯・消灯)を制御している。
からの入力情報、動作状態判別手段21aからの判別信
号及びメニューキー4の有効又は無効の旨の信号、選択
項目制限処理手段21bからの項目制限情報、表示項目
判別処理手段21cからの表示情報、選択項目判別表示
処理手段21dからの表示処理情報に基づいて大項目メ
ニュー10及び小項目メニュー11の識別表示を含む副
画面3の表示(点灯・消灯)を制御している。
【0066】次に、上記制御部により実行される副画面
の表示処理動作を図4のフローチャートに基づいて説明
する。
の表示処理動作を図4のフローチャートに基づいて説明
する。
【0067】操作パネル1のメニューキー4が押下され
ると(ST1−Yes)、選択可能な「File」大項目メ
ニュー10A及びその小項目メニュー11を他の選択不
可能なメニューと識別表示して副画面3をポップアップ
表示する(ST2)。
ると(ST1−Yes)、選択可能な「File」大項目メ
ニュー10A及びその小項目メニュー11を他の選択不
可能なメニューと識別表示して副画面3をポップアップ
表示する(ST2)。
【0068】副画面3がポップアップ表示されている状
態で、矢印キー6又はエンコーダ7が操作されず(ST
3−No)、Fキー5が押下されると(ST4−Ye
s)、押下されたFキー5に対応する小項目メニュー1
1が選択される。例えばF3が押下されると、F3に対
応する「Print 」小項目メニューが選択される。そし
て、この選択された小項目メニューの画面に移動し、副
画面3のポップアップ表示が消える(ST5)。
態で、矢印キー6又はエンコーダ7が操作されず(ST
3−No)、Fキー5が押下されると(ST4−Ye
s)、押下されたFキー5に対応する小項目メニュー1
1が選択される。例えばF3が押下されると、F3に対
応する「Print 」小項目メニューが選択される。そし
て、この選択された小項目メニューの画面に移動し、副
画面3のポップアップ表示が消える(ST5)。
【0069】矢印キー6又はエンコーダ7が操作され
(ST3−Yes)、選択された大項目メニュー10が
「Display 」大項目メニュー10Eでなければ(ST6
−No)、該当する大項目メニュー10及びその小項目
メニュー11を識別表示する(ST7)。例えば矢印キ
ー6の操作により「Event 」大項目メニュー10Cが選
択されると、「Event 」大項目メニュー10C及びその
小項目メニュー11を選択可能に識別表示する。その
後、ST4に移行する。なお、Fキー5が押下されなけ
れば(ST4−No)、ST3に戻る。
(ST3−Yes)、選択された大項目メニュー10が
「Display 」大項目メニュー10Eでなければ(ST6
−No)、該当する大項目メニュー10及びその小項目
メニュー11を識別表示する(ST7)。例えば矢印キ
ー6の操作により「Event 」大項目メニュー10Cが選
択されると、「Event 」大項目メニュー10C及びその
小項目メニュー11を選択可能に識別表示する。その
後、ST4に移行する。なお、Fキー5が押下されなけ
れば(ST4−No)、ST3に戻る。
【0070】選択された大項目メニュー10が「Displa
y 」大項目メニュー10Eであれば(ST6−Ye
s)、「Display 」大項目メニュー10Eを選択可能に
識別表示するとともに、小項目メニューをFキーに対応
して2列表示し、図2(a)に示すように、選択可能な
小項目メニュー11及び切替メニュー12aを右側のウ
インドゥに識別表示する(ST8)。その際、左側のウ
インドゥには、選択不可能な小項目メニュー11の項目
名が表示される。
y 」大項目メニュー10Eであれば(ST6−Ye
s)、「Display 」大項目メニュー10Eを選択可能に
識別表示するとともに、小項目メニューをFキーに対応
して2列表示し、図2(a)に示すように、選択可能な
小項目メニュー11及び切替メニュー12aを右側のウ
インドゥに識別表示する(ST8)。その際、左側のウ
インドゥには、選択不可能な小項目メニュー11の項目
名が表示される。
【0071】この状態で、「More」メニュー12aに対
応するFキー5のF5が押下されなければ(ST9−N
o)、ST4に移行する。「More」メニュー12aに対
応するFキー5のF5が押下されると(ST9−Ye
s)、図2(b)に示すように、選択可能な小項目メニ
ュー11及び切替メニュー12bを右側のウインドゥに
入れ替えて識別表示する(ST10)。その際、左側の
ウインドゥには、選択不可能な小項目メニュー11の項
目名が表示される。この状態で、「Back」メニュー12
bに対応するFキー5のF5が押下されなければ(ST
11−No)、ST4に移行する。「Back」メニュー1
2bに対応するFキー5のF5が押下されると(ST1
1−Yes)、ST8の副画面3に戻る。
応するFキー5のF5が押下されなければ(ST9−N
o)、ST4に移行する。「More」メニュー12aに対
応するFキー5のF5が押下されると(ST9−Ye
s)、図2(b)に示すように、選択可能な小項目メニ
ュー11及び切替メニュー12bを右側のウインドゥに
入れ替えて識別表示する(ST10)。その際、左側の
ウインドゥには、選択不可能な小項目メニュー11の項
目名が表示される。この状態で、「Back」メニュー12
bに対応するFキー5のF5が押下されなければ(ST
11−No)、ST4に移行する。「Back」メニュー1
2bに対応するFキー5のF5が押下されると(ST1
1−Yes)、ST8の副画面3に戻る。
【0072】なお、図4のフローチャートには図示しな
いが、副画面3が表示されている状態で、メニューキー
4が押下されると、副画面3のポップアップ表示が消え
るようになっている。
いが、副画面3が表示されている状態で、メニューキー
4が押下されると、副画面3のポップアップ表示が消え
るようになっている。
【0073】また、被測定光ファイバの測定中(波形掃
引中)にメニューキー4が押下されたときには、メニュ
ーキー4の入力情報が無効となり、メニューキー4を押
下しても副画面3がポップアップ表示されないようにな
っている。但し、被測定光ファイバの測定中でも、主画
面2でSetup画面を開いている場合には、メニュー
キー4が押下されると、副画面3がポップアップ表示さ
れるようになっている。その際、Fキー5によって選択
可能な小項目メニュー11は「Print 」小項目メニュー
のみに限定される。
引中)にメニューキー4が押下されたときには、メニュ
ーキー4の入力情報が無効となり、メニューキー4を押
下しても副画面3がポップアップ表示されないようにな
っている。但し、被測定光ファイバの測定中でも、主画
面2でSetup画面を開いている場合には、メニュー
キー4が押下されると、副画面3がポップアップ表示さ
れるようになっている。その際、Fキー5によって選択
可能な小項目メニュー11は「Print 」小項目メニュー
のみに限定される。
【0074】なお、主画面2で所望の設定を行っている
途中でメニューキー4が押下されると、そのときの設定
内容がキャンセルされ、副画面3がポップアップ表示さ
れるようになっている。
途中でメニューキー4が押下されると、そのときの設定
内容がキャンセルされ、副画面3がポップアップ表示さ
れるようになっている。
【0075】このように、本実施の形態によれば、頻繁
に使用される被測定光ファイバの基本測定に関する画面
と、基本測定以外の項目に関する画面とを振り分けて表
示することができる。そして、基本測定以外の項目を選
択して設定を行うにあたっては、最下層の画面に行くま
での作業を簡単に済ませることができる。しかも、複数
の大項目メニュー10と、各大項目メニュー10毎にF
キー5(F1〜F5)と対応付けして最下層の画面に移
行するための小項目メニュー11とが、主画面2上にポ
ップアップ表示される一つの副画面3内に表示されるの
で、画面の階層数だけでなく、矢印キーやエンコーダの
操作回数も減少させることができる。さらには、大項目
メニュー10に含まれる項目が一目で判り、目的の機能
を素早く見つけて画面の切り換えを行うことができる。
に使用される被測定光ファイバの基本測定に関する画面
と、基本測定以外の項目に関する画面とを振り分けて表
示することができる。そして、基本測定以外の項目を選
択して設定を行うにあたっては、最下層の画面に行くま
での作業を簡単に済ませることができる。しかも、複数
の大項目メニュー10と、各大項目メニュー10毎にF
キー5(F1〜F5)と対応付けして最下層の画面に移
行するための小項目メニュー11とが、主画面2上にポ
ップアップ表示される一つの副画面3内に表示されるの
で、画面の階層数だけでなく、矢印キーやエンコーダの
操作回数も減少させることができる。さらには、大項目
メニュー10に含まれる項目が一目で判り、目的の機能
を素早く見つけて画面の切り換えを行うことができる。
【0076】また、現在選択されている大項目メニュー
10が選択不可能なメニューと区別されて識別表示され
るとともに、その小項目メニュー11のうち実行可能な
小項目メニューが選択不可能なメニューと区別されて識
別表示され、更に、実行不可能な小項目メニューについ
てはウインドゥがブランク表示又は項目名の文字色が変
更して表示されるので、現在の表示状況を一目で確認す
ることができ、誤操作の低減を図ることができる。
10が選択不可能なメニューと区別されて識別表示され
るとともに、その小項目メニュー11のうち実行可能な
小項目メニューが選択不可能なメニューと区別されて識
別表示され、更に、実行不可能な小項目メニューについ
てはウインドゥがブランク表示又は項目名の文字色が変
更して表示されるので、現在の表示状況を一目で確認す
ることができ、誤操作の低減を図ることができる。
【0077】ところで、上記実施の形態では、副画面3
に表示される大項目メニュー10が5つの場合を例にと
って説明したが、更に多くの大項目メニュー10を配置
することも可能である。また、副画面3に大項目メニュ
ー10を配置する表示領域が確保できなければ、操作パ
ネル1の矢印キー6又はエンコーダ7を用いて大項目メ
ニューをスクロールしてウインドゥ内に表示することも
可能である。
に表示される大項目メニュー10が5つの場合を例にと
って説明したが、更に多くの大項目メニュー10を配置
することも可能である。また、副画面3に大項目メニュ
ー10を配置する表示領域が確保できなければ、操作パ
ネル1の矢印キー6又はエンコーダ7を用いて大項目メ
ニューをスクロールしてウインドゥ内に表示することも
可能である。
【0078】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明の
光パルス試験器によれば、頻繁に使用される被測定光フ
ァイバの基本測定に関する画面と、基本測定以外の項目
に関する画面とを振り分けて表示することができる。そ
して、基本測定以外の項目を選択して設定を行うにあた
っては、最下層の画面に行くまでの作業を簡単に済ませ
ることができる。しかも、複数の大項目メニューと、各
大項目メニュー毎にFキーと対応付けして最下層の画面
に移行するための小項目とが、主画面上にポップアップ
表示される一つの副画面内に表示されるので、画面の階
層数だけでなく、他のキー(例えば矢印キーやエンコー
ダ)の操作回数も減少させることができる。さらには、
大項目メニューに含まれる項目が一目で判り、目的の機
能を素早く見つけて画面の切り換えを行うことができ
る。
光パルス試験器によれば、頻繁に使用される被測定光フ
ァイバの基本測定に関する画面と、基本測定以外の項目
に関する画面とを振り分けて表示することができる。そ
して、基本測定以外の項目を選択して設定を行うにあた
っては、最下層の画面に行くまでの作業を簡単に済ませ
ることができる。しかも、複数の大項目メニューと、各
大項目メニュー毎にFキーと対応付けして最下層の画面
に移行するための小項目とが、主画面上にポップアップ
表示される一つの副画面内に表示されるので、画面の階
層数だけでなく、他のキー(例えば矢印キーやエンコー
ダ)の操作回数も減少させることができる。さらには、
大項目メニューに含まれる項目が一目で判り、目的の機
能を素早く見つけて画面の切り換えを行うことができ
る。
【0079】特に、請求項2の光パルス試験器によれ
ば、現在選択されている大項目メニューのウインドゥが
識別表示されるとともに、その小項目メニューのうち実
行可能な小項目メニューのウインドゥが識別表示され、
実行不可能な小項目メニューのウインドゥがブランク表
示又は項目名の文字色が変更して表示されるので、現在
の表示状況を一目で確認することができ、誤操作の低減
を図ることができる。
ば、現在選択されている大項目メニューのウインドゥが
識別表示されるとともに、その小項目メニューのうち実
行可能な小項目メニューのウインドゥが識別表示され、
実行不可能な小項目メニューのウインドゥがブランク表
示又は項目名の文字色が変更して表示されるので、現在
の表示状況を一目で確認することができ、誤操作の低減
を図ることができる。
【図1】本発明による光パルス試験器の操作パネルの正
面図
面図
【図2】(a),(b)「Display 」大項目メニューが
選択項目として識別表示されているときの副画面を示す
図
選択項目として識別表示されているときの副画面を示す
図
【図3】副画面の表示処理に関わる制御部の機能ブロッ
ク図
ク図
【図4】副画面の表示処理動作を示すフローチャート
【図5】光パルス試験器の概略構成を示すブロック図
【図6】特開平10−185959号公報に開示される
測定装置の各種項目選択時の画面表示を示す図
測定装置の各種項目選択時の画面表示を示す図
【図7】特開平10−185959号公報に開示される
測定装置の各種項目選択時の画面表示を示す図であっ
て、図6の下階層の画面表示を示す図
測定装置の各種項目選択時の画面表示を示す図であっ
て、図6の下階層の画面表示を示す図
1…操作パネル、2…主画面、3…副画面、4…メニュ
ーキー、5(F1〜F5)…Fキー、10(10A〜1
0E)…大項目メニュー、11…小項目メニュー、12
(12a,12b)…切替メニュー、21…制御部、2
2…入力部、23…記憶部。
ーキー、5(F1〜F5)…Fキー、10(10A〜1
0E)…大項目メニュー、11…小項目メニュー、12
(12a,12b)…切替メニュー、21…制御部、2
2…入力部、23…記憶部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 堀 重雄 東京都港区南麻布五丁目10番27号 アンリ ツ株式会社内 (72)発明者 玉腰 政昭 東京都港区南麻布五丁目10番27号 アンリ ツ株式会社内 Fターム(参考) 2G086 CC03 2H038 AA02 AA41
Claims (4)
- 【請求項1】 被測定光ファイバ(W)に光パルスを入
射し、この光パルスの入射に伴って前記被測定光ファイ
バから戻ってくる反射光を光−電気変換して信号処理す
ることにより、所望の地点での前記被測定光ファイバの
損失や障害点等の特性測定を基本測定として実行する光
パルス試験器(31)において、 少なくとも前記基本測定で得たデータを処理するための
項目が配置された大項目メニュー(10)と、該大項目
メニュー毎に選択可能な項目が機器本体に設けられたフ
ァンクションキー(5)に対応して配置された小項目メ
ニュー(11)とを、前記機器本体に設けられたキーの
押下により一つの副画面(3)として表示画面上にポッ
プアップ表示する手段を備えたことを特徴とする光パル
ス試験器。 - 【請求項2】 現在選択されている大項目メニュー及び
該大項目メニューの実行可能な小項目メニューと、実行
不可能な小項目メニューとを識別表示することを特徴と
する請求項1記載の光パルス試験器。 - 【請求項3】 前記ファンクションキー(5)よりも小
項目メニュー(11)が多いときに、前記小項目メニュ
ーを前記ファンクションキーに対応して複数列で表示す
るとともに、前記ファンクションキーによって選択可能
な列の小項目メニューを切り替えるための切替メニュー
を当該小項目メニューと対応するファンクションキー以
外のファンクションキーに割り当てて表示することを特
徴とする請求項1又は2記載の光パルス試験器。 - 【請求項4】 前記大項目メニュー(10)の項目は、
波形データのセーブ、リコール、プリントに関する項
目、波形データの比較や前記基本測定を連続して行う連
続測定に関する項目、波形表示画面におけるイベントコ
メントやランドマーク入力に関する項目を含むことを特
徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の光パルス試験
器。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11197658A JP2001021451A (ja) | 1999-07-12 | 1999-07-12 | 光パルス試験器 |
| US09/613,327 US6460000B1 (en) | 1999-07-12 | 2000-07-10 | Measurement data display apparatus |
| DE60045461T DE60045461D1 (de) | 1999-07-12 | 2000-07-11 | Messdaten-Anzeigevorrichtung |
| EP00114864A EP1069409B1 (en) | 1999-07-12 | 2000-07-11 | Measurement data display apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11197658A JP2001021451A (ja) | 1999-07-12 | 1999-07-12 | 光パルス試験器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001021451A true JP2001021451A (ja) | 2001-01-26 |
Family
ID=16378177
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11197658A Pending JP2001021451A (ja) | 1999-07-12 | 1999-07-12 | 光パルス試験器 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6460000B1 (ja) |
| EP (1) | EP1069409B1 (ja) |
| JP (1) | JP2001021451A (ja) |
| DE (1) | DE60045461D1 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| WO2003012613A1 (fr) * | 2001-08-01 | 2003-02-13 | Anritsu Corporation | Appareil de mesure electronique disposant d'une fonction permettant d'afficher un menu de fonctions sur une pluralite de pages dans une liste, et procede d'affichage de menu des fonctions |
| JP2005038391A (ja) * | 2003-07-18 | 2005-02-10 | Samsung Electronics Co Ltd | 性能測定システム(systemformeasuringperformance) |
| JP2007282271A (ja) * | 2007-06-20 | 2007-10-25 | Mitsubishi Electric Corp | 携帯通信端末 |
| JP2011180127A (ja) * | 2010-02-08 | 2011-09-15 | Anritsu Corp | 測定パラメータ入力制御装置及び方法 |
| JP2015185861A (ja) * | 2014-03-20 | 2015-10-22 | アンリツ株式会社 | 測定装置及び測定方法 |
| JP2016057119A (ja) * | 2014-09-08 | 2016-04-21 | 横河電機株式会社 | 光パルス試験器 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20030052924A1 (en) * | 2001-09-18 | 2003-03-20 | Carlson Gary David | User interface with simultaneous display of menu tree levels |
| US6907365B2 (en) * | 2001-12-11 | 2005-06-14 | Lecroy Corporation | Context sensitive toolbar |
| DE10360657A1 (de) * | 2003-12-23 | 2005-07-21 | Daimlerchrysler Ag | Bediensystem für ein Kraftfahrzeug |
| JP4546525B2 (ja) * | 2005-11-04 | 2010-09-15 | アンリツ株式会社 | オプチカルタイムドメインリフレクトメータ及びそれを用いる光ファイバ測定方法及び光ファイバ測定システム |
| US7750825B2 (en) * | 2007-03-09 | 2010-07-06 | Adobe Systems Incorporated | System and method for navigation of display data |
| JP6891913B2 (ja) * | 2019-03-25 | 2021-06-18 | カシオ計算機株式会社 | 電子表示装置及び表示制御方法 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0477098B1 (en) * | 1990-09-18 | 1996-06-26 | Fujitsu Limited | Cursor displacement control device for a computer display |
| US5801943A (en) | 1993-07-23 | 1998-09-01 | Condition Monitoring Systems | Traffic surveillance and simulation apparatus |
| US5592606A (en) * | 1993-07-30 | 1997-01-07 | Myers; Allen | Method and apparatus for storage and display of hierarchally organized data |
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| BE1008958A3 (fr) * | 1994-12-05 | 1996-10-01 | Awax Progettazione | Appareil pour effectuer, y compris avec des liaisons a distance, des mesures, tests, essais, operations d'entretien et le releve de donnees et de statistiques sur des machines automatiques et/ou des organes de telles machines. |
| JPH09103407A (ja) * | 1995-10-12 | 1997-04-22 | Nikon Corp | 自覚式検眼装置 |
| JPH09304074A (ja) * | 1996-03-11 | 1997-11-28 | Asahi Optical Co Ltd | 電子測量機 |
| EP0829729B1 (en) * | 1996-06-21 | 2004-05-12 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Measuring apparatus and method for the adjustment of test/measurement parameters |
| EP0854360B1 (en) * | 1996-07-25 | 2006-12-27 | Anritsu Corporation | Optical fiber monitor using optical time domain reflectometer and monitoring method |
-
1999
- 1999-07-12 JP JP11197658A patent/JP2001021451A/ja active Pending
-
2000
- 2000-07-10 US US09/613,327 patent/US6460000B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-07-11 EP EP00114864A patent/EP1069409B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-07-11 DE DE60045461T patent/DE60045461D1/de not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1069409B1 (en) | 2011-01-05 |
| DE60045461D1 (de) | 2011-02-17 |
| EP1069409A3 (en) | 2005-12-07 |
| EP1069409A2 (en) | 2001-01-17 |
| US6460000B1 (en) | 2002-10-01 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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