JP2001053761A - Testing method for atm switch - Google Patents
Testing method for atm switchInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、統合サービスディ
ジタル通信網 (integrated services digital network)
等の伝送または交換システムに多用されるATMスイッ
チの機能を試験するための、ATMスイッチの試験方法
に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an integrated services digital network.
The present invention relates to a test method of an ATM switch for testing the function of an ATM switch frequently used in a transmission or switching system.
【0002】[0002]
【従来の技術】ATMスイッチは、多重化された通信路
からセルを受信し、セルヘッダの表示する情報に従っ
て、そのセルを指定された通信路に送り出すスイッチン
グ機能を持つ。このATMスイッチは、ISDN網の運
営に極めて重要な役割を持ち、その機能の保守点検と評
価は、ネットワーク管理サービス業務に欠くことができ
ない。ATMスイッチには、多数の入力ポートと出力ポ
ートが設けられている。ATMスイッチの機能を評価す
る場合には、試験対象となるポートに試験機を接続し、
この試験機から入力されたセルを指定された出力ポート
で受信し、出力セルの品質を評価するようにしている。2. Description of the Related Art An ATM switch has a switching function of receiving a cell from a multiplexed communication path and sending the cell to a specified communication path according to information indicated by a cell header. The ATM switch plays an extremely important role in the operation of the ISDN network, and maintenance and inspection and evaluation of its functions are indispensable to the network management service business. The ATM switch is provided with a number of input ports and output ports. When evaluating the function of the ATM switch, connect a tester to the port to be tested,
The cell input from this tester is received at a designated output port, and the quality of the output cell is evaluated.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
な従来の技術には次のような解決すべき課題があった。
多数の入力ポートや出力ポートを持つATMスイッチの
試験に当たっては、例えば入力ポートの数だけATM試
験機を用意し、全ての出力ポートについて、それぞれ出
力されるセルの品質等を評価する作業が必要になる。入
力ポートと出力ポート間は、内部リンクを通じて相互に
自由に接続できるから、組み合わせの数も多く、全ての
スイッチング機能の試験や評価には膨大な試験時間を要
していた。また、ATMスイッチの内部には、トラヒッ
ク制御のために多数のキュー(待ち行列)やセルバッフ
ァ機能が内蔵されている。これらの性能を個別に評価す
るための実用的な手段の開発が望まれている。However, the above-mentioned prior art has the following problems to be solved.
In testing an ATM switch having a large number of input ports and output ports, it is necessary to prepare ATM test machines for the number of input ports, for example, and to evaluate the quality of output cells for all output ports. Become. Since the input port and the output port can be freely connected to each other through the internal link, the number of combinations is large, and the testing and evaluation of all the switching functions required enormous test time. The ATM switch has many queues (queues) and cell buffer functions for traffic control. It is desired to develop a practical means for individually evaluating these performances.
【0004】[0004]
【課題を解決するための手段】本発明は以上の点を解決
するため次の構成を採用する。 〈構成1〉ATMスイッチの入力ポートと出力ポートと
の間を接続する外部物理リンクと、上記ATMスイッチ
の内部で上記入力ポートと出力ポートとの間に形成され
た内部パスとにより、予め設定した試験用のコネクショ
ンを実現し、予め設定した入力ポートから試験用セルを
入力し、予め設定した出力ポートから出力される上記試
験用セルを監視して評価し、上記ATMスイッチの機能
を試験することを特徴とするATMスイッチの試験方
法。The present invention employs the following structure to solve the above problems. <Configuration 1> An external physical link connecting the input port and the output port of the ATM switch and an internal path formed between the input port and the output port inside the ATM switch are set in advance. To realize a test connection, input a test cell from a preset input port, monitor and evaluate the test cell output from a preset output port, and test the function of the ATM switch. A test method for an ATM switch, characterized in that:
【0005】〈構成2〉構成1に記載のATMスイッチ
の試験方法において、入力ポートから入力された複数の
試験用セルが、それぞれ別々に、互いに異なる内部パス
と外部物理リンクとを1回ずつ順に通過して出力ポート
に出力されるように、コネクションを設定することを特
徴とするATMスイッチの試験方法。<Configuration 2> In the test method for an ATM switch described in Configuration 1, a plurality of test cells input from an input port are individually and sequentially subjected to different internal paths and external physical links once each. A test method for an ATM switch, wherein a connection is set so as to pass through and output to an output port.
【0006】〈構成3〉構成1に記載のATMスイッチ
の試験方法において、入力ポートから入力された複数の
試験用セルが、いずれかの入力ポートと出力ポートとの
間に形成された複数の内部パスのいずれかを経由して出
力ポートに出力されるように、コネクションを設定する
ことを特徴とするATMスイッチの試験方法。<Structure 3> In the method of testing an ATM switch described in Structure 1, a plurality of test cells input from an input port are provided in a plurality of internal cells formed between any of the input ports and the output port. A method for testing an ATM switch, wherein a connection is set so as to be output to an output port via one of paths.
【0007】〈構成4〉構成1に記載のATMスイッチ
の試験方法において、全ての出力ポートから出力された
セルがいずれかの入力ポートに入力するように、外部物
理リンクによって入力ポートと出力ポートとを相互に接
続し、入力ポートから入力されたセルが、全ての外部物
理リンクと内部パスとをそれぞれ1回ずつ通過して出力
ポートに出力されるように、コネクションを設定するこ
とを特徴とするATMスイッチの試験方法。<Structure 4> In the test method for an ATM switch described in Structure 1, the input port and the output port are connected by an external physical link such that cells output from all output ports are input to any of the input ports. Are connected to each other, and a connection is set such that cells input from an input port pass through all external physical links and internal paths once each and are output to an output port. Test method for ATM switch.
【0008】〈構成5〉構成1に記載のATMスイッチ
の試験方法において、いずれかの入力ポートから入力さ
れた妨害用セルがいずれかの内部パスと外部物理リンク
とを通過するように、妨害ルートを形成して、予め設定
した入力ポートから入力した試験用のセルが上記妨害ル
ートの全部または一部を通過して出力ポートに出力され
るように、コネクションを設定することを特徴とするA
TMスイッチの試験方法。<Structure 5> In the test method of the ATM switch described in Structure 1, the jamming route is set so that the jamming cell input from any input port passes through any internal path and external physical link. And a connection is set such that a test cell input from a preset input port passes through all or a part of the interference route and is output to an output port.
Test method for TM switch.
【0009】〈構成6〉構成1に記載のATMスイッチ
の試験方法において、いずれかの入力ポートから入力さ
れた妨害用セルがいずれかの内部パスと外部物理リンク
とを通過して元の入力ポートに戻るように、リング状の
妨害ルートを形成して、予め設定した入力ポートから入
力した試験用のセルが上記妨害ルートの全部または一部
を通過して出力ポートに出力されるように、コネクショ
ンを設定することを特徴とするATMスイッチの試験方
法。<Structure 6> In the test method for an ATM switch described in Structure 1, a disturbing cell input from any input port passes through any internal path and external physical link and returns to the original input port. To form a ring-shaped jamming route so that a test cell input from a preset input port passes through all or part of the jamming route and is output to an output port. A test method for an ATM switch, characterized in that:
【0010】〈構成7〉構成1に記載のATMスイッチ
の試験方法において、いずれかの入力ポートと出力ポー
トとの間に形成された内部パスの数を増減させることに
より、内部パスの多重度を予め設定したとおりに時間的
に変化させて、予め設定した出力ポートから出力される
セルを監視して、上記ATMスイッチの機能を試験する
ことを特徴とするATMスイッチの試験方法。<Structure 7> In the test method of the ATM switch described in Structure 1, the multiplicity of the internal paths is increased by increasing or decreasing the number of internal paths formed between any of the input ports and the output ports. A test method for an ATM switch, characterized in that the function of the ATM switch is tested by monitoring cells output from a preset output port while changing over time as set in advance.
【0011】〈構成8〉構成1に記載のATMスイッチ
の試験方法において、任意の内部パスの伝送容量を予め
設定したとおりに時間的に変化させて、予め設定した出
力ポートから出力されるセルを監視して、上記ATMス
イッチの機能を試験することを特徴とするATMスイッ
チの試験方法。<Configuration 8> In the test method for an ATM switch described in Configuration 1, the transmission capacity of an arbitrary internal path is changed with time as set in advance, and cells output from a preset output port are changed. A method for testing an ATM switch, comprising monitoring and testing the function of the ATM switch.
【0012】[0012]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を具体
例を用いて説明する。 〈具体例〉図1は、本発明の試験方法説明図である。こ
の発明によって試験をされるATMスイッチ1は、例え
ばこの図に示すように、8個の入力ポートp1〜p8
と、同じく8個の出力ポートP1〜P8を備えている。
入力ポートp1には、試験用セルジェネレータ3が接続
されている。また、出力ポートP8には、ディテクタ4
と評価装置5が接続されている。また、各出力ポートと
入力ポートとは、互いに通信用ケーブル等から成る外部
物理リンク7によって接続されている。従って、この例
では、全ての出力ポートから出力されたセルが隣の入力
ポートに入力し、全ての入力ポートと出力ポートが相互
に1列に直列接続されるように構成されている。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below using specific examples. <Specific Example> FIG. 1 is an explanatory view of a test method of the present invention. The ATM switch 1 tested according to the present invention has, for example, eight input ports p1 to p8 as shown in FIG.
And eight output ports P1 to P8.
The test cell generator 3 is connected to the input port p1. Further, the detector 4 is connected to the output port P8.
And the evaluation device 5 are connected. Each output port and input port are connected to each other by an external physical link 7 composed of a communication cable or the like. Therefore, in this example, the cells output from all the output ports are input to the adjacent input ports, and all the input ports and the output ports are connected to each other in series in a line.
【0013】試験用セルジェネレータ3からは、ATM
スイッチ1の評価をするための試験用セルが出力され
る。例えば、この試験用セルは、一定の時間間隔をおい
て繰り返しATMスイッチ1の入力ポートp1に入力さ
れる。また、例えば各試験用セルのセルヘッダには、出
力順に一連番号が付加される。そして、この試験用セル
が、ATMスイッチ1を通じて出力ポートP8から出力
され、ディテクタ4に検出されるようにコネクションが
設定されている。An ATM from the test cell generator 3
A test cell for evaluating the switch 1 is output. For example, the test cell is repeatedly input to the input port p1 of the ATM switch 1 at regular time intervals. For example, a serial number is added to the cell header of each test cell in the order of output. The connection is set so that the test cell is output from the output port P8 through the ATM switch 1 and detected by the detector 4.
【0014】ディテクタ4は、出力ポートP8から出力
されるセルを検出するための装置である。また、評価装
置5は、ディテクタ4が検出したセルを解析して、後で
説明する品質等の評価を行うための装置である。この評
価装置5は、例えばパーソナルコンピュータ等により構
成し、評価の結果を出力したり、動作制御信号を試験用
セルジェネレータ3やATMスイッチ1に向けて出力す
ることができる。例えば、評価装置5は、試験用セルジ
ェネレータ3に対し、試験用セルの種類やヘッダの構成
を変更するよう要求できる。また、ATMスイッチ1に
対し、その内部リンクの変更や各ポートの属性データ変
更等を要求することができる。The detector 4 is a device for detecting a cell output from the output port P8. The evaluation device 5 is a device for analyzing a cell detected by the detector 4 and evaluating quality and the like described later. The evaluation device 5 is configured by, for example, a personal computer or the like, and can output a result of the evaluation or output an operation control signal to the test cell generator 3 or the ATM switch 1. For example, the evaluation device 5 can request the test cell generator 3 to change the type of the test cell and the configuration of the header. Further, it is possible to request the ATM switch 1 to change its internal link, change the attribute data of each port, and the like.
【0015】図2に、ATMスイッチの構成例説明図を
示す。一般のATMスイッチは、例えばこの図に示すよ
うな内部構成になっている。即ち、所定数の入力ポート
群PINを収容するセル判定部11と、キュー制御部1
2と、このキュー制御部12に接続されてセルを出力す
る出力ポート群POUから構成される。FIG. 2 is a diagram illustrating an example of the configuration of an ATM switch. A general ATM switch has, for example, an internal configuration as shown in FIG. That is, the cell determination unit 11 that accommodates a predetermined number of input port groups PIN, and the queue control unit 1
2 and an output port group POU connected to the queue control unit 12 to output cells.
【0016】セル判定部11は、入力ポート群PINか
ら入力するセルのセルヘッダを認識し、どのポートに出
力するか、どのような帯域のパスを通過させるか、とい
った判定を行う。その判定の結果、適切なキューが選択
される。キュー制御部12には、出力ポートに対応した
キュー(セルの待ち行列)を形成するための多数のセル
バッファが設けられている。キュー制御部12は、各キ
ューの先頭から順にセルを取り出して、対応するセルポ
ートへ送り出す機能を持つ。各キューはそれぞれ優先度
が定められており、優先度の高いキューの先頭のセルが
最も優先的に出力ポートへ出力される。大容量のパスほ
ど、優先度の高いキューが利用される。The cell determination unit 11 recognizes a cell header of a cell input from the input port group PIN, and determines which port to output to and what band path to pass. As a result of the determination, an appropriate queue is selected. The queue control unit 12 is provided with a large number of cell buffers for forming a queue (cell queue) corresponding to the output port. The queue control unit 12 has a function of sequentially taking out cells from the head of each queue and sending out the cells to the corresponding cell port. The priority of each queue is determined, and the head cell of the queue with the higher priority is output to the output port with the highest priority. The higher the capacity of the path, the higher the priority of the queue.
【0017】図2に示すようなATMスイッチでは、例
えばセル判定部11におけるセルの判定機能、即ちセル
ヘッダを正しく認識して適切なセルバッファへそのセル
を転送するかどうか、といった機能の試験が必要にな
る。また、キュー制御部12は、各セルバッファに保持
したセルを障害なく出力ポートに送り出す機能を持つか
どうかが試験の対象になる。また、キュー制御部12
が、キュー制御部12に保持されたセルを障害なく規定
以上の伝送遅延が生じないように出力ポート群に送り出
す機能を持つかどうかが試験の対象になる。In the ATM switch as shown in FIG. 2, for example, it is necessary to test a function of determining a cell in the cell determination section 11, that is, a function of correctly recognizing a cell header and transferring the cell to an appropriate cell buffer. become. In addition, it is an object of the test whether the queue control unit 12 has a function of sending out the cells held in each cell buffer to the output port without any trouble. Also, the queue control unit 12
It is an object of the test to determine whether or not there is a function of sending out the cells held in the queue control unit 12 to the output port group without causing a transmission delay exceeding a specified level without any trouble.
【0018】また、入力ポート群PINのどのポートか
ら入力したセルについても、誤り無く該当する所定の出
力ポートに出力されるかどうかといった試験も必要にな
る。図1に示した方法は、こうした評価試験をより少な
い試験用セルジェネレータを用いて確実に詳細に行う。Further, it is necessary to perform a test on whether a cell input from any port of the input port group PIN is output to a corresponding predetermined output port without error. The method shown in FIG. 1 reliably performs such an evaluation test in detail using fewer test cell generators.
【0019】図3には、パスの態様説明図を示す。図1
に示したATMスイッチ1中に設けられる内部パス8と
しては、例えばこの図に示すようなものがある。(a)
は、ポートP1とポートP7とを大容量のパスH1で接
続し、ポートP1とポートP8とを小容量のパスH2で
接続した例を示す。大容量のパスH1は、セルを高速転
送する。通常、ATMスイッチの出力ポートは例えば1
50MHzの伝送容量を持ち、1本の出力ポートを使用
するパスは、この伝送容量を最大値とした任意の容量に
設定が可能である。FIG. 3 is a diagram for explaining a mode of a path. FIG.
The internal path 8 provided in the ATM switch 1 shown in FIG. (A)
Shows an example in which port P1 and port P7 are connected by a large-capacity path H1, and port P1 and port P8 are connected by a small-capacity path H2. The large-capacity path H1 transfers cells at high speed. Usually, the output port of the ATM switch is, for example, 1
A path having a transmission capacity of 50 MHz and using one output port can be set to an arbitrary capacity with this transmission capacity being the maximum value.
【0020】図3(b)に示す例は、入力ポートp1〜
出力ポートP8に対し大容量のパスH1と小容量のパス
H2とを形成している。即ち、同じ入力ポートと出力ポ
ート間で自由に任意の数の複数のパスを設定することも
可能である。In the example shown in FIG. 3B, the input ports p1 to p1
A large-capacity path H1 and a small-capacity path H2 are formed for the output port P8. That is, any number of paths can be freely set between the same input port and output port.
【0021】図3(c)には、高品質のパスH3と低品
質のパスH4を設定した例を示した。ポートP1とポー
トP7の間は高品質のパスH3で接続される。また、ポ
ートP1とポートP8の間は低品質のパスH4で接続さ
れる。高品質のパスというのは、いわゆるセル廃棄率や
セル遅延の十分に少ないパスである。また、低品質のパ
スは、セル廃棄率やセル遅延を大きくしても問題のない
信号のパスである。図1に示すATMスイッチ1を試験
する場合に、その内部パス8は、このような様々な種類
のものを単数あるいは複数組み合わせて設定できる。FIG. 3C shows an example in which a high quality path H3 and a low quality path H4 are set. The port P1 and the port P7 are connected by a high-quality path H3. The port P1 and the port P8 are connected by a low-quality path H4. A high quality path is a path with a sufficiently low cell loss rate and cell delay. A low-quality path is a signal path that does not cause any problem even if the cell loss rate or the cell delay is increased. When testing the ATM switch 1 shown in FIG. 1, the internal path 8 can be set by a single or a plurality of such various types.
【0022】図4に、リング式のコネクション説明図を
示す。図4と図5を用いて、外部物理リンクの具体的な
例を説明する。図4に示した例は、図1に示した外部物
理リンク7の構成を模式的に図解したものである。白丸
は各一対の入力ポートと出力ポートを示し、白丸の中に
示した破線は、例えば入力ポートp1と出力ポートP1
とを結ぶ内部リンクである。FIG. 4 is an explanatory diagram of a ring-type connection. A specific example of the external physical link will be described with reference to FIGS. The example shown in FIG. 4 schematically illustrates the configuration of the external physical link 7 shown in FIG. Open circles indicate a pair of input ports and output ports, and dashed lines inside the white circles indicate, for example, the input port p1 and the output port P1.
This is an internal link that connects
【0023】図4に示した例では、図1のように、出力
ポートP1と入力ポートp2とが接続され、出力ポート
P2と入力ポートp3とが接続され、出力ポートP3と
入力ポートp4とが接続される、といった順序で各ポー
トが順番に直列接続されている。なお、各ポート間は、
それぞれ予め試験用に設定された内部パスを用いて相互
に接続される。実線の例は、リング状の外部物理リンク
の一例である。この他に、この図4の出力ポートP8と
入力ポートp1とを外部物理リンクで接続して、ループ
バック状にすることも可能である。In the example shown in FIG. 4, as shown in FIG. 1, the output port P1 is connected to the input port p2, the output port P2 is connected to the input port p3, and the output port P3 is connected to the input port p4. Each port is connected in series in that order. In addition, between each port,
Each is connected to each other using an internal path set in advance for the test. The example of the solid line is an example of a ring-shaped external physical link. In addition, the output port P8 and the input port p1 in FIG. 4 can be connected by an external physical link to form a loopback.
【0024】図5には、ポート対向式のコネクション説
明図を示す。この例では、例えばポートP1とP8、ポ
ートP2とP3、ポートP4とP5、ポートP6とP7
を、それぞれ対向させ、図4とは異なったコネクション
を形成している。これをポート対向式と呼ぶ。本発明に
おいては、いずれの場合にも、外部物理リンクと内部パ
スとを用いて様々な複雑なコネクションを自由に実現す
ることができる。内部パスもリング状、メッシュ状、ポ
ート対向式等、様々な接続が考えられる。FIG. 5 is an explanatory view of the connection of the port facing type. In this example, for example, ports P1 and P8, ports P2 and P3, ports P4 and P5, ports P6 and P7
Are opposed to each other to form a connection different from that in FIG. This is called a port facing type. In any case, in the present invention, various complicated connections can be freely realized using the external physical link and the internal path. Various connections such as a ring shape, a mesh shape, and a port facing type are also conceivable for the internal path.
【0025】図6には、本発明による試験方法に採用さ
れるコネクションの具体的な例説明図を示す。まず、図
6(a)は、最も簡単な例で、例えば入力ポートp1か
ら出力ポートP1まで内部リンクを形成し、出力ポート
P1から入力ポートp2まで外部物理リンクを形成し、
入力ポートp2から出力ポートP2まで内部パスを形成
して試験用セルをこの順に伝送させている。FIG. 6 is a diagram illustrating a specific example of a connection employed in the test method according to the present invention. First, FIG. 6A shows the simplest example, for example, an internal link is formed from the input port p1 to the output port P1, and an external physical link is formed from the output port P1 to the input port p2.
An internal path is formed from the input port p2 to the output port P2, and the test cells are transmitted in this order.
【0026】例えば、同一の入力ポートから入力された
複数の試験用セルが、それぞれ別々に互いに異なる内部
パスや外部物理リンクを順に通過して、ディテクタが設
けられた一つの出力ポートに出力されるようにすれば、
一挙に多数のコネクションについて、ATMスイッチの
機能試験を行うことができる。図6の(a)に示したよ
うなコネクションを複数設定すればそれが実現する。こ
れにより、試験用セルジェネレータ3とディテクタ4と
をそれぞれ多数台使用したり、あるいは試験用セルジェ
ネレータ3やディテクタ4を接続するポートを試験中に
順番に切り替えたりする作業が不要になり、効率的な試
験ができる。For example, a plurality of test cells input from the same input port separately pass through different internal paths and external physical links in order, and are output to one output port provided with a detector. By doing so,
The function test of the ATM switch can be performed for a large number of connections at a time. This can be realized by setting a plurality of connections as shown in FIG. This eliminates the need to use a large number of the test cell generators 3 and the detectors 4 or to sequentially switch the ports connecting the test cell generators 3 and the detectors 4 during the test, which is efficient. Test.
【0027】図6(b)は、入力ポートp1と出力ポー
トP1との間と入力ポートp2と出力ポートP2との間
に、それぞれ複数の内部パスを形成した例を示す。ここ
では、入力ポートp1と出力ポートP1との間に、第1
パス、第2パス、第3パスの3つのパスを設けている。
また、入力ポートp2と出力ポートP2との間に、第1
パス、第2パス、第3パスの3つのパスを設けている。
なお、ここでは、一対の入出力ポートp1P1の入力側
のポートを入力ポートp1と呼び、出力側のポートを出
力ポートP1と呼ぶことにする。FIG. 6B shows an example in which a plurality of internal paths are formed between the input port p1 and the output port P1 and between the input port p2 and the output port P2. Here, the first port is provided between the input port p1 and the output port P1.
There are three paths, a path, a second path, and a third path.
The first port is provided between the input port p2 and the output port P2.
There are three paths, a path, a second path, and a third path.
Here, the port on the input side of the pair of input / output ports p1P1 is called an input port p1, and the port on the output side is called an output port P1.
【0028】入力ポートp1から入力されたセルは、例
えば最初に入出力ポートp1P1の第1パスと入出力ポ
ートp2P2の第1パスとを通り、外部物理リンク7を
通じて再び入力ポートp1に戻る。そして、入出力ポー
トp1P1の第2パスと入出力ポートp2P2の第2パ
スを通じて出力され、もう一度外部物理リンク7を通じ
て入力ポートp1に戻る。最後は、入出力ポートp1P
1の第3パスと入出力ポートp2P2の第3パスを通じ
て出力される。その出力をディテクタが受信する。The cell input from the input port p1 first passes through the first path of the input / output port p1P1 and the first path of the input / output port p2P2, and returns to the input port p1 again via the external physical link 7. Then, the signal is output through the second path of the input / output port p1P1 and the second path of the input / output port p2P2, and returns to the input port p1 through the external physical link 7 again. Finally, input / output port p1P
1 and the third path of the input / output port p2P2. The output is received by the detector.
【0029】このようにして、内部パスを多重化すれ
ば、特定のポート間の多重度や負荷率に応じたATMス
イッチの特性を試験し評価できる。なお、セルをこのよ
うに所定の順に循環させるには、セルヘッダや入出力ポ
ートの属性データ制御すればよい。各第1パス、第2パ
ス、第3パスの容量を変更したり、パスの数を増減させ
たりして、多重度や負荷率を増減し、ATMスイッチの
動的な特性を測定することが可能になる。By multiplexing the internal paths in this manner, the characteristics of the ATM switch according to the degree of multiplexing between specific ports and the load factor can be tested and evaluated. In order to circulate the cells in a predetermined order in this manner, the attribute data of the cell header and the input / output ports may be controlled. It is possible to change the capacity of each of the first path, the second path, and the third path, or to increase or decrease the number of paths to increase or decrease the multiplicity or load factor, and to measure the dynamic characteristics of the ATM switch. Will be possible.
【0030】例えば入力ポートp1−出力ポートP2−
外部物理リンク−入力ポートp3−出力ポートP5とい
ったコネクションにしたい場合を考える。ATMスイッ
チのセル判定部11(図2)は、従来よりセルヘッダの
書き換え機能を備えているので、これを利用する。最初
に入力ポートp1に入力するセルのセルヘッダには、
「入力ポートp1−出力ポートP2」という情報が書き
込まれている。このセルが入力ポートp1−出力ポート
P2−外部物理リンクという経路を経て入力ポートp3
に入力すると、セル判定部11は、そのセルヘッダの情
報を「入力ポートp3−出力ポートP5」というように
書き換える。こうして、そのセルは出力ポートP5に送
られる。このような処理を繰り返せば、自由なコネクシ
ョンを実現できる。どういったセルがどの入力ポートに
入力した場合にそのセルのセルヘッダをどう書き換える
かと言う手順を示す情報を、予めセル判定部11に与え
ておけば、このような制御ができる。For example, input port p1-output port P2-
It is assumed that a connection such as an external physical link-input port p3-output port P5 is desired. Since the cell determination unit 11 (FIG. 2) of the ATM switch has a cell header rewriting function conventionally, it utilizes this function. The cell header of the cell first input to the input port p1 includes:
Information "input port p1-output port P2" is written. This cell is connected to the input port p3 via the path of the input port p1, the output port P2 and the external physical link.
, The cell determination unit 11 rewrites the information of the cell header as “input port p3−output port P5”. Thus, the cell is sent to output port P5. By repeating such processing, a free connection can be realized. Such control can be performed by providing information indicating the procedure of rewriting the cell header of the cell when the cell is input to which input port to the cell determination unit 11 in advance.
【0031】これらの条件は、試験開始から終了まで固
定しておいてもよいし、試験を開始してから、順に条件
を切り替える動的な制御を行ってもよい。即ち、内部パ
スの多重度等を予め設定した通り時間的に変化させ、出
力されるセルの評価を行うようにしてもよい。上記のよ
うなコネクションによって、セルがATMスイッチの内
部を様々なルートをたどって出力する際の評価が可能に
なる。更に、ATMスイッチにおいては、トラヒックの
大きな場合、セルがセルバッファ内で適正なキューを形
成しているかどうかの評価をしたい。These conditions may be fixed from the start to the end of the test, or dynamic control for sequentially changing the conditions after the start of the test may be performed. That is, the multiplicity of the internal path or the like may be changed over time as set in advance, and the output cells may be evaluated. The connection as described above makes it possible to evaluate when a cell outputs various routes inside the ATM switch. Further, in an ATM switch, when traffic is large, it is desired to evaluate whether or not cells form an appropriate queue in a cell buffer.
【0032】図6(c)は、このような試験を可能にす
る例を示す。この例では、入出力ポートp1P1間に所
定の内部パスを形成する一方、入力ポートp1には、試
験用セルと共に妨害用セルを入力する。妨害用セルは、
入出力ポートp1P1間を通り、更に別に設定したコネ
クションによって再び入力ポートp1に戻る。即ち、入
出力ポートp1P1間を何度も繰り返し通過するように
妨害用セルのコネクションを設定する。その一方で、試
験用セルを入出力ポートp1P1間を通過させて出力さ
せる。もちろん、別の複雑なコネクションを設定しても
よい。FIG. 6C shows an example which enables such a test. In this example, a predetermined internal path is formed between the input / output ports p1P1, and a disturbing cell is input to the input port p1 together with the test cell. The jamming cell is
After passing between the input / output ports p1 and P1, the connection returns to the input port p1 again by the connection set up separately. That is, the connection of the interfering cell is set so as to repeatedly pass between the input / output ports p1P1. On the other hand, the test cell passes between the input / output ports p1P1 and is output. Of course, another complicated connection may be set.
【0033】このように試験用セルが通過するルートに
妨害用セルを通過させることによって、背景トラヒック
負荷が可能になる。即ち、実際に評価対象となるフォア
グラウンドのトラヒックに対し背景トラヒック負荷を加
え、伝送特性をよりダイナミックに評価することができ
る。こうして、試験用セルが正しく取り出されたかどう
かの分離特性等を評価できる。As described above, by passing the obstructing cell on the route through which the test cell passes, the background traffic load becomes possible. That is, the background traffic load is applied to the foreground traffic that is actually evaluated, and the transmission characteristics can be more dynamically evaluated. Thus, it is possible to evaluate the separation characteristics and the like as to whether or not the test cell has been correctly taken out.
【0034】妨害用セルのためのジェネレータとして
は、CBR(Constant Bit Rate)、VBR(Variable
Bit Rate)等を用いることができる。これによって、バ
ースト応答特性や動的負荷変動等の諸特性を評価するこ
とができる。特にCBRを用いれば、近似的にランダム
到着の背景負荷条件で性能評価が可能になる。ATMス
イッチには、既に説明したように、VCキュー、Qos
制御用クラスキュー等、コネクション単位あるいはコネ
クション群単位のセルバッファが多数配備されている。
これらのセルバッファとセルスケジューリング制御の適
合性を個別に試験するには、この図6(c)に示したよ
うな構成が適する。As generators for the interfering cell, CBR (Constant Bit Rate), VBR (Variable
Bit Rate) or the like can be used. As a result, various characteristics such as burst response characteristics and dynamic load fluctuation can be evaluated. In particular, if CBR is used, performance evaluation can be performed under approximately random arrival background load conditions. As described above, the ATM switch has a VC queue, a QoS,
Many cell buffers, such as control class queues, are provided for each connection or each connection group.
The configuration shown in FIG. 6C is suitable for individually testing the suitability of the cell buffer and the cell scheduling control.
【0035】また、セルがATMスイッチ内の全てのキ
ューを通過するように上記コネクションを設定し、セル
を循環させることによって、全てのキューの正常性をリ
アルタイムで試験することも可能になる。Further, by setting the connection so that the cells pass through all the queues in the ATM switch and circulating the cells, the normality of all the queues can be tested in real time.
【0036】図7には、試験設備の具体的な結線図を示
す。この図に示すように、ATMスイッチ1の入力ポー
トに接続した試験用セルジェネレータ3からは、一定の
時間間隔で多数の試験用セル10が出力される。この試
験用セルは、ATMスイッチ1の内部パス81,82や
外部物理リンク71,72を通じて伝送され、最後にデ
ィテクタ4に向けて出力される。ディテクタ4では、こ
のセルの損失率、破壊率、伝送遅延、その他を観察し、
ATMスイッチ1の性能評価を行う。出力されるべきセ
ルの内容は試験用セルジェネレータ3が決定し、セル遅
延や廃棄率は設定したコネクションによって予め論理的
に想定できるから、その想定した値と実際に出力された
セルとを比較すれば、定性的、定量的な評価が可能にな
る。FIG. 7 shows a specific connection diagram of the test equipment. As shown in this figure, a large number of test cells 10 are output from the test cell generator 3 connected to the input port of the ATM switch 1 at regular time intervals. The test cell is transmitted through the internal paths 81 and 82 of the ATM switch 1 and the external physical links 71 and 72, and is finally output to the detector 4. Detector 4 observes the loss rate, destruction rate, transmission delay, etc. of this cell,
The performance of the ATM switch 1 is evaluated. The contents of the cells to be output are determined by the test cell generator 3, and the cell delay and the discard rate can be logically assumed in advance by the set connection. Therefore, the estimated value is compared with the actually output cells. This will enable qualitative and quantitative evaluations.
【0037】図8には、試験設備の結線図(その2)を
示す。この例では、ATMスイッチ1に試験用セルジェ
ネレータ3と、妨害用セルジェネレータ6とを接続し
た。妨害用セルジェネレータ6は、ATMスイッチ1に
外付けされるものでもよいし、またATMスイッチ1の
内部に既に組み込まれた一定のセルを一定の周期で出力
するプリセット回路等から構成してもよい。このような
妨害用セルジェネレータ6から出力された妨害用セル
は、この図に示す内部パス84、外部物理リンク73、
内部パス85、外部物理リンク74、内部パス86、外
部物理リンク75を通じて、ATMスイッチ1の内部を
繰り返し循環する。こうして、所定の背景トラヒックが
形成される。FIG. 8 shows a connection diagram (No. 2) of the test equipment. In this example, a test cell generator 3 and a jamming cell generator 6 are connected to the ATM switch 1. The jamming cell generator 6 may be externally attached to the ATM switch 1, or may be constituted by a preset circuit or the like that outputs a fixed cell already incorporated in the ATM switch 1 at a fixed cycle. . The interfering cell output from such an interfering cell generator 6 includes an internal path 84, an external physical link 73,
Through the internal path 85, the external physical link 74, the internal path 86, and the external physical link 75, the ATM switch 1 is repeatedly circulated. Thus, a predetermined background traffic is formed.
【0038】この状態で、試験用セルジェネレータ3か
ら試験用セルをATMスイッチ1に供給する。試験用セ
ルは、内部パス84、外部物理リンク73、内部パス8
5、外部物理リンク74、内部パス86を通じてディテ
クタ4に送り込まれる。こうして、既に説明した背景ト
ラヒック中でのATMスイッチのセル伝送特性を試験で
きる。In this state, test cells are supplied from the test cell generator 3 to the ATM switch 1. The test cell includes the internal path 84, the external physical link 73, and the internal path 8
5, sent to the detector 4 via the external physical link 74 and the internal path 86. In this manner, the cell transmission characteristics of the ATM switch in the background traffic described above can be tested.
【図1】本発明の試験方法説明図である。FIG. 1 is an explanatory view of a test method of the present invention.
【図2】ATMスイッチの構成例説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of a configuration example of an ATM switch.
【図3】パスの態様説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram of a pass mode.
【図4】リング式のコネクション説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of a ring connection.
【図5】ポート対向式のコネクション説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of a port-facing connection.
【図6】本発明によるコネクション例説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram of a connection example according to the present invention.
【図7】試験設備の結線図(その1)である。FIG. 7 is a connection diagram (1) of a test facility.
【図8】試験設備の結線図(その2)である。FIG. 8 is a connection diagram (part 2) of the test equipment.
1 ATMスイッチ 3 試験用セルジェネレータ 4 ディテクタ 5 評価装置 7 外部物理リンク 8 内部パス Reference Signs List 1 ATM switch 3 Test cell generator 4 Detector 5 Evaluation device 7 External physical link 8 Internal path
Claims (8)
トとの間を接続する外部物理リンクと、前記ATMスイ
ッチの内部で前記入力ポートと出力ポートとの間に形成
された内部パスとにより、予め設定した試験用のコネク
ションを実現し、 予め設定した入力ポートから試験用セルを入力し、 予め設定した出力ポートから出力される前記試験用セル
を監視して評価し、 前記ATMスイッチの機能を試験することを特徴とする
ATMスイッチの試験方法。1. An external physical link connecting between an input port and an output port of an ATM switch and an internal path formed between the input port and the output port inside the ATM switch. A test cell is input from a preset input port, the test cell output from a preset output port is monitored and evaluated, and the function of the ATM switch is tested. A test method for an ATM switch, characterized in that:
方法において、入力ポートから入力された複数の試験用
セルが、それぞれ別々に、互いに異なる内部パスと外部
物理リンクとを1回ずつ順に通過して出力ポートに出力
されるように、コネクションを設定することを特徴とす
るATMスイッチの試験方法。2. The test method for an ATM switch according to claim 1, wherein the plurality of test cells input from the input port individually and sequentially pass through different internal paths and external physical links once each. A method for testing an ATM switch, characterized in that a connection is set such that the connection is output to an output port.
方法において、入力ポートから入力された複数の試験用
セルが、いずれかの入力ポートと出力ポートとの間に形
成された複数の内部パスのいずれかを経由して出力ポー
トに出力されるように、コネクションを設定することを
特徴とするATMスイッチの試験方法。3. The ATM switch test method according to claim 1, wherein the plurality of test cells input from the input port are formed between a plurality of internal paths formed between any of the input ports and the output port. A method for testing an ATM switch, wherein a connection is set so as to be output to an output port via any one of the above.
方法において、 全ての出力ポートから出力されたセルがいずれかの入力
ポートに入力するように、外部物理リンクによって入力
ポートと出力ポートとを相互に接続し、 入力ポートから入力されたセルが、全ての外部物理リン
クと内部パスとをそれぞれ1回ずつ通過して出力ポート
に出力されるように、コネクションを設定することを特
徴とするATMスイッチの試験方法。4. The test method for an ATM switch according to claim 1, wherein the input port and the output port are connected by an external physical link such that cells output from all output ports are input to any one of the input ports. ATM connection characterized in that the connection is established so that cells input from an input port pass through all external physical links and internal paths once each and are output to an output port. Switch test method.
方法において、いずれかの入力ポートから入力された妨
害用セルがいずれかの内部パスと外部物理リンクとを通
過するように、妨害ルートを形成して、 予め設定した入力ポートから入力した試験用のセルが前
記妨害ルートの全部または一部を通過して出力ポートに
出力されるように、コネクションを設定することを特徴
とするATMスイッチの試験方法。5. The test method for an ATM switch according to claim 1, wherein the jamming route is set such that the jamming cell input from any input port passes through any internal path and external physical link. An ATM switch, wherein the connection is set so that a test cell input from a preset input port passes through all or a part of the interference route and is output to an output port. Test method.
方法において、 いずれかの入力ポートから入力された妨害用セルがいず
れかの内部パスと外部物理リンクとを通過して元の入力
ポートに戻るように、リング状の妨害ルートを形成し
て、 予め設定した入力ポートから入力した試験用のセルが前
記妨害ルートの全部または一部を通過して出力ポートに
出力されるように、コネクションを設定することを特徴
とするATMスイッチの試験方法。6. The ATM switch test method according to claim 1, wherein a jamming cell input from any one of the input ports passes through any one of the internal paths and the external physical link and returns to the original input port. In order to return, a ring-shaped interference route is formed, and a connection is established so that a test cell input from a preset input port passes through all or a part of the interference route and is output to an output port. A test method of an ATM switch characterized by setting.
方法において、 いずれかの入力ポートと出力ポートとの間に形成された
内部パスの数を増減させることにより、内部パスの多重
度を予め設定したとおりに時間的に変化させて、 予め設定した出力ポートから出力されるセルを監視し
て、 前記ATMスイッチの機能を試験することを特徴とする
ATMスイッチの試験方法。7. The ATM switch test method according to claim 1, wherein the number of internal paths formed between any one of the input ports and the output ports is increased or decreased, thereby preliminarily increasing the multiplicity of the internal paths. A test method for an ATM switch, characterized in that a function of the ATM switch is tested by monitoring cells output from a preset output port while changing the time as set.
方法において、 任意の内部パスの伝送容量を予め設定したとおりに時間
的に変化させて、 予め設定した出力ポートから出力されるセルを監視し
て、 前記ATMスイッチの機能を試験することを特徴とする
ATMスイッチの試験方法。8. A method for testing an ATM switch according to claim 1, wherein the transmission capacity of an arbitrary internal path is temporally changed as set in advance, and a cell output from a preset output port is monitored. And testing the function of the ATM switch.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11229178A JP2001053761A (en) | 1999-08-13 | 1999-08-13 | Testing method for atm switch |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11229178A JP2001053761A (en) | 1999-08-13 | 1999-08-13 | Testing method for atm switch |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001053761A true JP2001053761A (en) | 2001-02-23 |
Family
ID=16888027
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11229178A Pending JP2001053761A (en) | 1999-08-13 | 1999-08-13 | Testing method for atm switch |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001053761A (en) |
-
1999
- 1999-08-13 JP JP11229178A patent/JP2001053761A/en active Pending
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