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JP2001053448A - Printed wiring board, solder resist resin composition, and method for manufacturing printed wiring board - Google Patents

Printed wiring board, solder resist resin composition, and method for manufacturing printed wiring board

Info

Publication number
JP2001053448A
JP2001053448A JP22885299A JP22885299A JP2001053448A JP 2001053448 A JP2001053448 A JP 2001053448A JP 22885299 A JP22885299 A JP 22885299A JP 22885299 A JP22885299 A JP 22885299A JP 2001053448 A JP2001053448 A JP 2001053448A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring board
resin
printed wiring
layer
solder resist
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP22885299A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshitaka Ono
嘉隆 小野
Kenichi Shimada
憲一 島田
Teru Tsun
暉 鍾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP22885299A priority Critical patent/JP2001053448A/en
Priority to CN2006100924607A priority patent/CN1893765B/en
Priority to EP08022342A priority patent/EP2053909B1/en
Priority to DE60045173T priority patent/DE60045173D1/en
Priority to CNB2004100632489A priority patent/CN100387103C/en
Priority to CN00814075.8A priority patent/CN1378769A/en
Priority to EP00948266A priority patent/EP1211920B1/en
Priority to CN 200810086274 priority patent/CN101478861B/en
Priority to PCT/JP2000/005044 priority patent/WO2001013686A1/en
Priority to EP08020481A priority patent/EP2028915A1/en
Priority to DE60044974T priority patent/DE60044974D1/en
Priority to US10/049,270 priority patent/US7916492B1/en
Priority to CN2010102609251A priority patent/CN101925260A/en
Priority to EP08021282A priority patent/EP2053908B1/en
Priority to TW093103130A priority patent/TWI235632B/en
Priority to TW093103129A priority patent/TWI236317B/en
Priority to TW093103132A priority patent/TWI235633B/en
Priority to TW093103131A priority patent/TWI236327B/en
Priority to TW089116155A priority patent/TWI233327B/en
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Priority to US11/838,365 priority patent/US7910836B2/en
Priority to US12/685,190 priority patent/US20100163288A1/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the occurrence of cracks, etc., in a solder resist layer due to the difference between the thermal expansion of the solder resist layer and other parts by incorporating an inorganic filler in the resist layer. SOLUTION: In a printed wiring board in which at least one layer of conductor circuit is formed on a substrate and a solder resist layer 14 is formed as the uppermost layer, an inorganic filler is incorporated in the resist layer 14. Using the printed wiring board, the difference between the coefficients of linear expansion of the resist layer 14 and an interlayer resin insulating layer 2, etc., surrounding the resist layer 4 becomes smaller, because the coefficient of thermal expansion of the resist layer 14 is lowered by the inorganic filler incorporated in the layer 14. Consequently, the cracking, peeling, etc., of the solder resist layer 14 can be prevented in the manufacturing process of the printed wiring board or after electronic parts are mounted on the manufactured printed wiring board.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ソルダーレジスト
層にクラックや剥離等が発生しにくいプリント配線板、
その製造に用いるソルダーレジスト樹脂組成物、およ
び、該プリント配線板の製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed wiring board in which cracks and peeling are less likely to occur in a solder resist layer.
The present invention relates to a solder resist resin composition used for the production and a method for producing the printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】いわゆる多層ビルドアップ配線基板と呼
ばれる多層プリント配線板は、セミアディティブ法等に
より製造されており、コアと呼ばれる0.5〜1.5m
m程度のガラスクロス等で補強された樹脂基板の上に、
銅等による導体回路と層間樹脂絶縁層とを交互に積層す
ることにより作製される。この多層プリント配線板の層
間樹脂絶縁層を介した導体回路間の接続は、バイアホー
ルにより行われている。
2. Description of the Related Art A multilayer printed wiring board called a so-called multilayer build-up wiring board is manufactured by a semi-additive method or the like.
m on a resin substrate reinforced with glass cloth, etc.
It is manufactured by alternately laminating a conductor circuit made of copper or the like and an interlayer resin insulating layer. The connection between the conductor circuits via the interlayer resin insulation layer of the multilayer printed wiring board is performed by via holes.

【0003】従来、ビルドアップ多層プリント配線板
は、例えば、特開平9−130050号公報等に開示さ
れた方法により製造されている。すなわち、まず、銅箔
が貼り付けられた銅貼積層板に貫通孔を形成し、続いて
無電解銅めっき処理を施すことによりスルーホールを形
成する。続いて、基板の表面を導体パターン状にエッチ
ング処理して導体回路を形成し、この導体回路の表面
に、無電解めっきやエッチング等により粗化面を形成す
る。そして、この粗化面を有する導体回路上に樹脂絶縁
層を形成した後、露光、現像処理を行ってバイアホール
用開口を形成し、その後、UV硬化、本硬化を経て層間
樹脂絶縁層を形成する。
Conventionally, build-up multilayer printed wiring boards have been manufactured by a method disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-130050. That is, first, a through-hole is formed in the copper-clad laminate on which the copper foil is stuck, and then a through-hole is formed by performing an electroless copper plating process. Subsequently, a conductive circuit is formed by etching the surface of the substrate into a conductive pattern, and a roughened surface is formed on the surface of the conductive circuit by electroless plating, etching, or the like. Then, after forming a resin insulation layer on the conductor circuit having the roughened surface, exposure and development are performed to form an opening for a via hole, and then an interlayer resin insulation layer is formed through UV curing and main curing. I do.

【0004】さらに、層間樹脂絶縁層に酸や酸化剤など
により粗化処理を施した後、薄い無電解めっき膜を形成
し、この無電解めっき膜上にめっきレジストを形成した
後、電解めっきにより厚付けを行い、めっきレジスト剥
離後にエッチングを行って、下層の導体回路とバイアホ
ールにより接続された導体回路を形成する。この工程を
繰り返した後、最後に導体回路を保護するためのソルダ
ーレジスト層を形成し、ICチップ等の電子部品やマザ
ーボード等との接続のために開口を露出させた部分にめ
っき等を施した後、半田ペーストを印刷して半田バンプ
を形成することにより、ビルドアップ多層プリント配線
板の製造を完了する。
Further, after roughening the interlayer resin insulating layer with an acid or an oxidizing agent, a thin electroless plating film is formed, a plating resist is formed on the electroless plating film, and then electrolytic plating is performed. Thickening is performed and etching is performed after the plating resist is stripped to form a conductive circuit connected to the lower conductive circuit via holes. After repeating this process, finally, a solder resist layer for protecting the conductor circuit was formed, and a portion where an opening was exposed for connection with an electronic component such as an IC chip or a motherboard was plated. Thereafter, the solder paste is printed to form solder bumps, thereby completing the manufacture of the build-up multilayer printed wiring board.

【0005】このようにして製造された多層プリント配
線板は、ICチップを載置した後、リフローさせて、半
田バンプとICチップのパッドとを接続し、ICチップ
の下にアンダーフィル(樹脂層)を形成し、ICチップ
の上に樹脂等からなる封止層を形成することによりIC
チップが搭載された半導体装置の製造を完了する。
[0005] The multilayer printed wiring board thus manufactured is reflowed after the IC chip is mounted thereon, the solder bumps and the pads of the IC chip are connected, and an underfill (resin layer) is formed under the IC chip. ) To form an encapsulation layer made of resin or the like on the IC chip.
The manufacture of the semiconductor device on which the chip is mounted is completed.

【0006】こうようにして製造された半導体装置で
は、通常、それぞれの層の材質に起因して、それぞれの
層において膨張率(線膨張係数)が異なる。すなわち、
ICチップ、アンダーフィル、層間樹脂絶縁層の線膨張
係数は、通常、20×10-6-1以下であるが、ソルダ
ーレジスト層は使用する樹脂の違い等に起因して、線膨
張係数が60×10-6〜80×10-6-1と高く、最も
高いものでは、100×10-6-1を超えるものもあ
る。
In the semiconductor device manufactured as described above, the expansion coefficient (linear expansion coefficient) of each layer is usually different due to the material of each layer. That is,
The linear expansion coefficient of an IC chip, an underfill, and an interlayer resin insulation layer is usually 20 × 10 −6 K −1 or less. However, the solder resist layer has a low linear expansion coefficient due to a difference in resin used. It is as high as 60 × 10 −6 to 80 × 10 −6 K −1, and the highest one is more than 100 × 10 −6 K −1 .

【発明が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the invention]

【0007】このような構成の半導体装置を作動させる
と、ICチップが発熱し、この熱がアンダーフィルを経
て、ソルダーレジスト層、層間樹脂絶縁層等に伝わり、
これらの層は、温度の上昇により熱膨張する。この際、
ICチップとアンダーフィルとは、線膨張係数に殆ど差
がないため、昇温による膨張の程度は余り変わらず、両
者の熱膨張差に起因した大きな応力は発生しないが、ア
ンダーフィルや層間樹脂絶縁層と、これらに挟まれたソ
ルダーレジスト層は、互いに線膨張係数が大きく異なる
ため、熱膨張の程度も大きく異なり、それに伴ってソル
ダーレジスト層に大きな応力が発生し、場合によって
は、ソルダーレジスト層にクラックや剥離が発生してし
まう。
When the semiconductor device having such a configuration is operated, the IC chip generates heat, and this heat is transmitted to the solder resist layer, the interlayer resin insulation layer, and the like via the underfill,
These layers expand thermally with increasing temperature. On this occasion,
Since there is almost no difference in linear expansion coefficient between the IC chip and the underfill, the degree of expansion due to temperature rise does not change much, and no large stress is generated due to the difference in thermal expansion between the two. The layer and the solder resist layer sandwiched between these layers have greatly different linear expansion coefficients, so the degree of thermal expansion also differs greatly, and accordingly, a large stress occurs in the solder resist layer, and in some cases, the solder resist layer Cracks and peeling occur.

【0008】このようなクラックや剥離は、半田バンプ
を形成する際の加熱等によっても発生することがあり、
また、プリント配線板を過酷な条件にさらすヒートサイ
クル試験や高温高湿下での信頼性試験では、クラック等
がより発生しやすくなる。クラックが発生してしまう
と、ソルダーレジスト層下の導体回路と半田バンプ等と
の絶縁性を保つことができず、絶縁性や信頼性の低下を
招いてしまう。
[0008] Such cracks and peeling may also occur due to heating or the like when forming solder bumps.
In a heat cycle test in which the printed wiring board is exposed to severe conditions and a reliability test under high temperature and high humidity, cracks and the like are more likely to occur. If cracks occur, the insulation between the conductor circuit under the solder resist layer and the solder bumps or the like cannot be maintained, resulting in a decrease in insulation and reliability.

【0009】本発明は、上述の問題を解決するためにな
されたものであり、その目的は、プリント配線板の製造
工程や該プリント配線板にICチップを搭載した後にお
いて、ソルダーレジスト層と他の部分との熱膨張差に起
因するクラック等の発生のないプリント配線板、該プリ
ント配線板の製造に用いられるソルダーレジスト樹脂組
成物、および、該ソルダーレジスト樹脂組成物を用いた
プリント配線板の製造方法を提案することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a method of manufacturing a printed wiring board and a method of mounting an IC chip on the printed wiring board, and forming a solder resist layer and other parts. Printed wiring board without the occurrence of cracks or the like due to the difference in thermal expansion from the portion, the solder resist resin composition used for manufacturing the printed wiring board, and the printed wiring board using the solder resist resin composition It is to propose a manufacturing method.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記目的
の実現に向け鋭意研究した結果、プリント配線板に無機
フィラーを含有したソルダーレジスト層を形成すること
により、ソルダーレジスト層の熱膨張率を低下させ、そ
の周囲に存在する層間樹脂絶縁層等との線膨張係数の差
を小さくすることができ、その結果、プリント配線板の
製造工程や製造したプリント配線板にICチップ等の電
子部品を搭載した後におけるソルダーレジスト層のクラ
ックの発生等を防止することが可能であることを見いだ
し、以下に示す内容を要旨構成とする発明に到達した。
Means for Solving the Problems The inventors of the present invention have conducted intensive studies to achieve the above object, and as a result, by forming a solder resist layer containing an inorganic filler on a printed wiring board, the thermal expansion of the solder resist layer has been improved. And the difference in the coefficient of linear expansion from the surrounding interlayer resin insulation layer and the like can be reduced. As a result, the manufacturing process of the printed wiring board or the printed The inventors have found that it is possible to prevent the occurrence of cracks and the like in the solder resist layer after mounting components, and have arrived at the invention having the following content as a gist configuration.

【0011】即ち、本発明のプリント配線板は、基板上
に少なくとも導体回路が1層形成され、最上層にソルダ
ーレジスト層が形成されたプリント配線板であって、上
記ソルダーレジスト層は、無機フィラーを含有すること
を特徴とする。
That is, the printed wiring board of the present invention is a printed wiring board in which at least one conductive circuit is formed on a substrate and a solder resist layer is formed on the uppermost layer. It is characterized by containing.

【0012】上記プリント配線板において、上記無機フ
ィラーは、アルミニウム化合物、カルシウム化合物、カ
リウム化合物、マグネシウム化合物、および、ケイ素化
合物からなる群から選択された少なくとも1種であるこ
とが望ましい。また、上記無機フィラーは、その粒径が
0.1〜5.0μmの範囲にあることが望ましく、0.
3〜2.0μmの範囲にあることが特に望ましい。
In the printed wiring board, the inorganic filler is desirably at least one selected from the group consisting of an aluminum compound, a calcium compound, a potassium compound, a magnesium compound, and a silicon compound. The inorganic filler preferably has a particle size in the range of 0.1 to 5.0 μm.
It is particularly desirable to be in the range of 3 to 2.0 μm.

【0013】本発明のソルダーレジスト樹脂組成物は、
上記プリント配線板の製造に用いるソルダーレジスト樹
脂組成物であって、ソルダーレジスト層用樹脂を含むペ
ースト中に無機フィラーが配合されてなることを特徴と
する。
[0013] The solder resist resin composition of the present invention comprises:
A solder resist resin composition used for manufacturing the printed wiring board, wherein an inorganic filler is compounded in a paste containing a resin for a solder resist layer.

【0014】本発明のプリント配線板の製造方法は、基
板上に少なくとも導体回路が1層形成され、最上層にソ
ルダーレジスト層が形成されたプリント配線板の製造方
法であって、上記ソルダーレジスト樹脂組成物を用いる
ことを特徴とする。
The method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention is a method for manufacturing a printed wiring board in which at least one conductive circuit is formed on a substrate and a solder resist layer is formed on the uppermost layer. It is characterized by using a composition.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】本発明のプリント配線板は、基板
上に少なくとも導体回路が1層形成され、最上層にソル
ダーレジスト層が形成されたプリント配線板であって、
上記ソルダーレジスト層は、無機フィラーを含有するこ
とを特徴とする。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The printed wiring board of the present invention is a printed wiring board having at least one conductive circuit formed on a substrate and a solder resist layer formed on the uppermost layer,
The solder resist layer contains an inorganic filler.

【0016】上記プリント配線板によれば、ソルダーレ
ジスト層が無機フィラーを含有するので、上記ソルダー
レジスト層は、この無機フィラーに起因して熱膨張率が
低下し、周囲に存在する層間樹脂絶縁層やアンダーフィ
ル等との線膨張率の差が小さくなり、その結果、プリン
ト配線板の製造工程や製造したプリント配線板にICチ
ップ等の電子部品を搭載した後におけるソルダーレジス
ト層のクラックや剥離の発生等を防止することができ
る。
According to the printed wiring board, since the solder resist layer contains an inorganic filler, the thermal expansion coefficient of the solder resist layer is reduced due to the inorganic filler, and the interlayer resin insulating layer existing around the solder resist layer has a reduced thermal expansion coefficient. The difference in the coefficient of linear expansion between the solder resist layer and the underfill etc. is reduced, and as a result, cracks and peeling of the solder resist layer after the electronic component such as an IC chip is mounted on the printed wiring board manufacturing process or the manufactured printed wiring board are reduced. Generation can be prevented.

【0017】すなわち、上記無機フィラーは、線膨張係
数がソルダーレジスト層を構成する樹脂と比べて低いた
め、ソルダーレジスト層が熱により膨張し、アンダーフ
ィルや層間樹脂絶縁層等との線膨張係数の差に起因して
ソルダーレジスト層に大きな内部応力が発生した際、そ
れを緩和する役割を果たすことになる。このように、無
機フィラーにより、ソルダーレジスト層の内部応力が緩
和される結果、ソルダーレジスト層にクラックや剥離が
発生するのを防止することができる。
That is, since the above-mentioned inorganic filler has a lower linear expansion coefficient than the resin constituting the solder resist layer, the solder resist layer expands due to heat, and has a lower linear expansion coefficient than the underfill or the interlayer resin insulating layer. When a large internal stress is generated in the solder resist layer due to the difference, it plays a role of relieving it. As described above, as a result of the internal stress being relieved by the inorganic filler, cracks and peeling of the solder resist layer can be prevented from occurring.

【0018】上記無機フィラーとしては、特に限定され
るものではないが、例えば、アルミニウム化合物、カル
シウム化合物、カリウム化合物、マグネシウム化合物、
ケイ素化合物等が挙げられる。これらの化合物は、単独
で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
The inorganic filler is not particularly restricted but includes, for example, aluminum compounds, calcium compounds, potassium compounds, magnesium compounds,
And silicon compounds. These compounds may be used alone or in combination of two or more.

【0019】上記アルミニウム化合物としては、例え
ば、アルミナ、水酸化アルミニウム等が挙げられ、上記
カルシウム化合物としては、例えば、炭酸カルシウム、
水酸化カルシウム等が挙げられる。
Examples of the aluminum compound include alumina and aluminum hydroxide. Examples of the calcium compound include calcium carbonate and
Calcium hydroxide and the like.

【0020】上記カリウム化合物としては、例えば、炭
酸カリウム等が挙げられ、上記マグネシウム化合物とし
ては、例えば、マグネシア、ドロマイト、塩基性炭酸マ
グネシウム等が挙げられ、上記ケイ素化合物としては、
例えば、シリカ、ゼオライト等が挙げられる。
The potassium compound includes, for example, potassium carbonate. The magnesium compound includes, for example, magnesia, dolomite and basic magnesium carbonate. The silicon compound includes
For example, silica, zeolite and the like can be mentioned.

【0021】上記無機フィラーの形状としては、特に限
定されるものではないが、例えば、球状、楕円球状、多
面体状等が挙げられる。このなかでは、先端が尖ってい
るとクラックが発生しやすいことから、球状、楕円球状
等が望ましい。
The shape of the inorganic filler is not particularly limited, but examples include a spherical shape, an elliptical spherical shape, and a polyhedral shape. Among them, a spherical shape, an elliptical spherical shape, and the like are desirable because a sharp tip easily causes cracks.

【0022】上記無機フィラーの大きさは、最も長い部
分の長さ(または直径)が0.1〜5.0μmの範囲の
ものが望ましい。0.1μm未満では、ソルダーレジス
ト層が熱膨張した際に発生する内部応力を緩和するのが
難しく、熱膨張率が調整できず、5.0μmを超える
と、ソルダーレジスト層自体が硬く脆くなり、また、光
硬化や熱硬化を行う際に、無機フィラーが樹脂同士の反
応を阻害し、その結果、クラックが発生しやすくなって
しまう。このような点から、無機フィラーは、透明のも
のがより好ましい。
The size of the inorganic filler is desirably such that the length (or diameter) of the longest portion is in the range of 0.1 to 5.0 μm. If it is less than 0.1 μm, it is difficult to relieve the internal stress generated when the solder resist layer thermally expands, and the coefficient of thermal expansion cannot be adjusted. If it exceeds 5.0 μm, the solder resist layer itself becomes hard and brittle, In addition, when performing photo-curing or thermal curing, the inorganic filler inhibits the reaction between the resins, and as a result, cracks are likely to occur. From such a point, the inorganic filler is more preferably transparent.

【0023】上記無機フィラーとして、SiO2 を配合
する際には、その配合量は、3〜50重量%の範囲が好
ましい。3重量%未満では、ソルダーレジスト層の熱膨
張係数が低下せず、一方、50重量%を超えると解像度
が落ちて開口部に異常をきたす。より好ましくは、5〜
40重量%である。また、ソルダーレジスト層中の無機
フィラーの含有割合は、5〜40重量%が好ましい。無
機フィラーを上記含有割合で用いることにより、効果的
にソルダーレジスト層の線膨張係数を低下させることが
でき、熱膨張により発生する応力を効果的に緩和するこ
とができる。
When SiO 2 is blended as the above-mentioned inorganic filler, its blending amount is preferably in the range of 3 to 50% by weight. If the amount is less than 3% by weight, the coefficient of thermal expansion of the solder resist layer does not decrease. On the other hand, if the amount exceeds 50% by weight, the resolution is reduced and the openings are abnormal. More preferably, 5-
40% by weight. The content of the inorganic filler in the solder resist layer is preferably 5 to 40% by weight. By using the inorganic filler in the above content ratio, the coefficient of linear expansion of the solder resist layer can be effectively reduced, and the stress generated by thermal expansion can be effectively reduced.

【0024】さらに、ソルダーレジスト層には、エラス
トマーからなる樹脂を配合することが望ましい。エラス
トマー自身が柔軟性、反発弾性に富んでいるため、応力
を受けてもその応力を吸収し、または、応力が緩和され
るので、クラック、剥離を防止することができる。ま
た、海島構造とすることにより、その応力に起因するク
ラック、剥離を防止することができる。
Further, it is desirable that a resin composed of an elastomer is blended in the solder resist layer. Since the elastomer itself is rich in flexibility and rebound resilience, even if it receives stress, it absorbs the stress or relieves the stress, so that cracking and peeling can be prevented. In addition, the sea-island structure can prevent cracks and peeling due to the stress.

【0025】本発明で使用されるエラストマーとして
は、例えば、天然ゴム、合成ゴム、熱可塑性樹脂、熱硬
化性樹脂等が挙げられる。特に、応力を充分に緩和する
ことができるのは、熱硬化性樹脂からなるエラストマー
である。上記熱硬化性樹脂からなるエラストマーとして
は、例えば、ポリエステル系エラストマー、スチレン系
エラストマー、塩化ビニル系エラストマー、フッ素系エ
ラストマー、アミド系エラストマー、オレフィン系エラ
ストマー等が挙げられる。
Examples of the elastomer used in the present invention include natural rubber, synthetic rubber, thermoplastic resin, thermosetting resin and the like. In particular, an elastomer made of a thermosetting resin can sufficiently reduce stress. Examples of the elastomer composed of the thermosetting resin include a polyester elastomer, a styrene elastomer, a vinyl chloride elastomer, a fluorine elastomer, an amide elastomer, and an olefin elastomer.

【0026】本発明のプリント配線板を構成するソルダ
ーレジスト層は、上記無機フィラー、,エラストマーの
ほかに、例えば、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、熱硬化
性樹脂と熱可塑性樹脂との複合体等を含有してもよい。
このような樹脂層としては、例えば、ノボラック型エポ
キシ樹脂の(メタ)アクリレート、2官能性(メタ)ア
クリル酸エステルモノマー、分子量500〜5000程
度の(メタ)アクリル酸エステルの重合体、ビスフェノ
ール型エポキシ樹脂等からなる熱硬化性樹脂、多価アク
リル系モノマー等の感光性モノマー等からなる組成物を
重合、硬化させたもの等が挙げられる。
The solder resist layer constituting the printed wiring board of the present invention may be made of, for example, a thermosetting resin, a thermoplastic resin, a composite of a thermosetting resin and a thermoplastic resin, in addition to the above-mentioned inorganic filler and elastomer. And the like.
As such a resin layer, for example, a (meth) acrylate of a novolak type epoxy resin, a bifunctional (meth) acrylate monomer, a polymer of a (meth) acrylate having a molecular weight of about 500 to 5,000, a bisphenol type epoxy resin Examples thereof include those obtained by polymerizing and curing a composition composed of a thermosetting resin composed of a resin or the like, or a photosensitive monomer such as a polyvalent acrylic monomer.

【0027】上記2官能性(メタ)アクリル酸エステル
モノマーとしては特に限定されず、例えば、各種ジオー
ル類のアクリル酸またはメタクリル酸のエステルなどが
挙げられ、市販品としては、日本化薬社製のR−60
4、PM2、PM21などが挙げられる。
The difunctional (meth) acrylic acid ester monomer is not particularly restricted but includes, for example, acrylic acid or methacrylic acid esters of various diols, and commercially available products manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. R-60
4, PM2, PM21, and the like.

【0028】上記ノボラック型エポキシ樹脂の(メタ)
アクリレートとしては、例えば、フェノールノボラック
やクレゾールノボラックのグリシジルエーテルを、アク
リル酸やメタクリル酸などと反応させたエポキシ樹脂な
どが挙げられる。
(Meth) of the above novolak type epoxy resin
Examples of the acrylate include an epoxy resin obtained by reacting glycidyl ether of phenol novolak or cresol novolac with acrylic acid, methacrylic acid, or the like.

【0029】次に、本発明のソルダーレジスト樹脂組成
物について説明する。本発明のソルダーレジスト樹脂組
成物は、ソルダーレジスト層用樹脂を含むペースト中に
無機フィラーが配合されてなることを特徴とする。
Next, the solder resist resin composition of the present invention will be described. The solder resist resin composition of the present invention is characterized in that a paste containing a resin for a solder resist layer is mixed with an inorganic filler.

【0030】無機フィラーとしては、上述したものを用
いることができる。また、その配合量は、形成されたソ
ルダーレジスト層中の含有割合が、5〜20重量%とな
る量が好ましい。
As the inorganic filler, those described above can be used. Further, the compounding amount is preferably such that the content ratio in the formed solder resist layer is 5 to 20% by weight.

【0031】本発明のソルダーレジスト樹脂組成物は、
上記無機フィラーのほかに、上記したノボラック型エポ
キシ樹脂の(メタ)アクリレート、イミダゾール硬化
剤、2官能性(メタ)アクリル酸エステルモノマー、分
子量500〜5000程度の(メタ)アクリル酸エステ
ルの重合体、ビスフェノール型エポキシ樹脂等からなる
熱硬化性樹脂、多価アクリル系モノマー等の感光性モノ
マー、グリコールエーテル系溶剤などを含むペースト状
の流動体であることが望ましく、その粘度は25℃で1
〜10Pa・sに調整されていることが望ましい。
The solder resist resin composition of the present invention comprises:
In addition to the inorganic filler, the above-mentioned novolak-type epoxy resin (meth) acrylate, imidazole curing agent, bifunctional (meth) acrylate monomer, polymer of (meth) acrylate having a molecular weight of about 500 to 5,000, A paste-like fluid containing a thermosetting resin such as a bisphenol-type epoxy resin, a photosensitive monomer such as a polyvalent acrylic monomer, or a glycol ether-based solvent is desirable.
It is desirable that the pressure be adjusted to 10 Pa · s.

【0032】上記イミダゾール硬化剤としては特に限定
されるものではないが、25℃で液状であるイミダゾー
ル硬化剤を用いることが望ましい。粉末では均一混練が
難しく、液状の方が均一に混練できるからである。この
ような液状イミダゾール硬化剤としては、例えば、1−
ベンジル−2−メチルイミダゾール(四国化成社製、1
B2MZ)、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチ
ルイミダゾール(四国化成社製、2E4MZ−CN)、
4−メチル−2−エチルイミダゾール(四国化成社製、
2E4MZ)などが挙げられる。
The imidazole curing agent is not particularly limited, but it is desirable to use an imidazole curing agent which is liquid at 25 ° C. This is because uniform kneading is difficult with powder, and liquid can be kneaded more uniformly. As such a liquid imidazole curing agent, for example, 1-
Benzyl-2-methylimidazole (Shikoku Chemicals, 1
B2MZ), 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals),
4-methyl-2-ethylimidazole (manufactured by Shikoku Chemicals, Inc.
2E4MZ).

【0033】上記グリコールエーテル系溶剤としては、
例えば、下記の一般式(1)に示す化学構造を有するも
のが望ましく、具体的には、ジエチレングリコールジメ
チルエーテル(DMDG)およびトリエチレングリコー
ルジメチルエーテル(DMTG)から選ばれる少なくと
も1種を用いることがより望ましい。これらの溶剤は、
30〜50℃程度の加温により重合開始剤であるベンゾ
フェノン、ミヒラーケトン、エチルアミノベンゾフェノ
ンを完全に溶解させることができるからである。 CH3 O−(CH2 CH2 O)n −CH3 ・・・・(1) (上記式中、nは1〜5の整数である。)
As the above glycol ether solvent,
For example, those having the chemical structure represented by the following general formula (1) are desirable, and more specifically, it is more desirable to use at least one selected from diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) and triethylene glycol dimethyl ether (DMTG). These solvents are
This is because benzophenone, Michler's ketone, and ethylaminobenzophenone, which are polymerization initiators, can be completely dissolved by heating at about 30 to 50 ° C. CH 3 O— (CH 2 CH 2 O) n —CH 3 (1) (in the above formula, n is an integer of 1 to 5.)

【0034】このようなソルダーレジスト樹脂組成物を
用いてソルダーレジスト層を形成する際には、まず、後
述する工程により、導体回路および層間樹脂絶縁層が複
数層形成され、最上層に導体回路が形成された基板に、
上記組成を有するペーストをロールコータ法等により塗
布し、乾燥させる。この後、下の導体回路の所定位置に
相当するソルダーレジスト層の部分に、半田バンプ形成
用の開口を形成し、必要によって、硬化処理を行うこと
により、ソルダーレジスト層を形成する。
When a solder resist layer is formed using such a solder resist resin composition, first, a plurality of conductive circuits and an interlayer resin insulating layer are formed by a process described later, and the conductive circuit is formed on the uppermost layer. On the formed substrate,
A paste having the above composition is applied by a roll coater method or the like and dried. Thereafter, an opening for forming a solder bump is formed in a portion of the solder resist layer corresponding to a predetermined position of the lower conductive circuit, and if necessary, a curing process is performed to form a solder resist layer.

【0035】このソルダーレジスト層を構成する樹脂ま
たは樹脂の複合体の線膨張係数は、60×10-6〜80
×10-6-1と高いが、この層中に上記無機フィラーを
含有させることにより、線膨張係数を40〜50×10
-6-1程度まで低下させることができる。
The linear expansion coefficient of the resin or the resin composite constituting the solder resist layer is 60 × 10 -6 to 80.
× 10 −6 K −1 , but by including the inorganic filler in this layer, the coefficient of linear expansion is increased to 40 to 50 × 10
-6K- 1 can be reduced.

【0036】次に、本発明のプリント配線板の製造方法
について、簡単に説明する。 (1) 本発明のプリント配線板の製造方法においては、ま
ず、絶縁性基板の表面に導体回路が形成された基板を作
製する。
Next, the method for manufacturing a printed wiring board of the present invention will be briefly described. (1) In the method for manufacturing a printed wiring board of the present invention, first, a substrate having a conductive circuit formed on a surface of an insulating substrate is prepared.

【0037】絶縁性基板としては、樹脂基板が望まし
く、具体的には、例えば、ガラスエポキシ基板、ポリイ
ミド基板、ビスマレイミド−トリアジン樹脂基板、フッ
素樹脂基板、セラミック基板、銅貼積層板などが挙げら
れる。本発明では、この絶縁性基板にドリル等で貫通孔
を設け、該貫通孔の壁面および銅箔表面に無電解めっき
を施して表面導電膜およびスルーホールを形成する。無
電解めっきとしては銅めっきが好ましい。
As the insulating substrate, a resin substrate is desirable, and specific examples thereof include a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a bismaleimide-triazine resin substrate, a fluororesin substrate, a ceramic substrate, and a copper-clad laminate. . In the present invention, a through hole is formed in the insulating substrate by a drill or the like, and the wall surface of the through hole and the surface of the copper foil are subjected to electroless plating to form a surface conductive film and a through hole. Copper plating is preferred as the electroless plating.

【0038】この無電解めっきの後、通常、スルーホー
ル内壁および電解めっき膜表面の粗化形成処理を行う。
粗化形成処理方法としては、例えば、黒化(酸化)−還
元処理、有機酸と第二銅錯体の混合水溶液によるスプレ
ー処理、Cu−Ni−P針状合金めっきによる処理など
が挙げられる。
After the electroless plating, a roughening treatment is usually performed on the inner wall of the through hole and the surface of the electrolytic plating film.
Examples of the roughening forming treatment method include blackening (oxidation) -reduction treatment, spray treatment with a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex, treatment with Cu-Ni-P needle-like alloy plating, and the like.

【0039】(2) 次に、無電解めっきが施された基板上
に導体回路形状のエッチングレジストを形成し、エッチ
ングを行うことにより導体回路を形成する。次に、この
導体回路が形成された基板表面に樹脂充填剤を塗布、乾
燥させて半硬化状態とした後、研摩を行い、樹脂充填材
の層を研削するとともに、導体回路の上部も研削し、基
板の両主面を平坦化する。この後、樹脂充填材の層を完
全硬化する。なお、樹脂充填材の層を形成する際、導体
回路非形成部分に開口が形成されたマスクを用い、エッ
チングにより凹部が形成された導体回路非形成部分のみ
を樹脂充填剤で充填し、その後、上記した研磨処理等を
行ってもよい。
(2) Next, a conductive circuit-shaped etching resist is formed on the electroless-plated substrate, and the conductive circuit is formed by etching. Next, a resin filler is applied to the surface of the substrate on which the conductive circuit is formed, dried to a semi-cured state, then polished, the resin filler layer is ground, and the upper part of the conductive circuit is also ground. Then, both main surfaces of the substrate are flattened. Thereafter, the layer of the resin filler is completely cured. When forming the resin filler layer, using a mask having openings formed in the conductor circuit non-forming portions, only the conductor circuit non-forming portions in which the concave portions are formed by etching are filled with the resin filler, and then, The above-described polishing treatment or the like may be performed.

【0040】(3) 次に、導体回路上に粗化層または粗化
面(以下、粗化層という)を形成する。粗化処理方法と
しては、例えば、黒化(酸化)−還元処理、有機酸と第
二銅錯体の混合水溶液によるスプレー処理、Cu−Ni
−P合金めっきによる処理などが挙げられる。
(3) Next, a roughened layer or a roughened surface (hereinafter, referred to as a roughened layer) is formed on the conductor circuit. As a roughening treatment method, for example, blackening (oxidation) -reduction treatment, spray treatment with a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex, Cu-Ni
-P alloy plating.

【0041】(4) ついで、形成された粗化層表面に、必
要により、スズ、亜鉛、銅、ニッケル、コバルト、タリ
ウム、鉛等からなる被覆層を無電解めっき、蒸着などに
より形成する。上記被覆層を0.01〜2μmの範囲で
析出させることにより、層間絶縁層から露出した導体回
路を粗化液やエッチング液から保護し、内層パターンの
変色、溶解を確実に防止することができるからである。
(4) Next, a coating layer made of tin, zinc, copper, nickel, cobalt, thallium, lead, or the like is formed on the surface of the formed roughened layer, if necessary, by electroless plating, vapor deposition, or the like. By depositing the coating layer in the range of 0.01 to 2 μm, the conductor circuit exposed from the interlayer insulating layer can be protected from a roughening solution or an etching solution, and discoloration and dissolution of the inner layer pattern can be reliably prevented. Because.

【0042】(5) この後、粗化層が形成された導体回路
上に層間樹脂絶縁層を設ける。層間樹脂絶縁層の材料と
しては、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂の
一部を感光化した樹脂またはこれらの複合樹脂を使用す
ることができる。層間絶縁層は、未硬化の樹脂を塗布し
て形成してもよく、また、未硬化の樹脂フィルムを熱圧
着して形成してもよい。さらに、未硬化の樹脂フィルム
の片面に銅箔などの金属層が形成された樹脂フィルムを
貼付してもよい。このような樹脂フィルムを使用する場
合は、バイアホール形成部分の金属層をエッチングした
後、レーザ光を照射して開口を設ける。金属層が形成さ
れた樹脂フィルムとしては、樹脂付き銅箔などを使用す
ることができる。
(5) Thereafter, an interlayer resin insulating layer is provided on the conductor circuit on which the roughened layer has been formed. As a material of the interlayer resin insulating layer, a thermosetting resin, a thermoplastic resin, a resin obtained by sensitizing a part of the thermosetting resin, or a composite resin thereof can be used. The interlayer insulating layer may be formed by applying an uncured resin, or may be formed by thermocompression bonding an uncured resin film. Further, a resin film in which a metal layer such as a copper foil is formed on one surface of an uncured resin film may be attached. When such a resin film is used, an opening is formed by irradiating a laser beam after etching a metal layer in a via hole forming portion. As the resin film having the metal layer formed thereon, a resin-coated copper foil or the like can be used.

【0043】上記層間絶縁層を形成する際に、無電解め
っき用接着剤層を使用することができる。この無電解め
っき用接着剤は、硬化処理された酸あるいは酸化剤に可
溶性の耐熱性樹脂粒子が、酸あるいは酸化剤に難溶性の
未硬化の耐熱性樹脂中に分散されてなるものが最適であ
る。酸、酸化剤で処理することにより、耐熱性樹脂粒子
が溶解除去されて、表面に蛸つぼ状のアンカーからなる
粗化面を形成できるからである。
In forming the interlayer insulating layer, an adhesive layer for electroless plating can be used. The most suitable adhesive for electroless plating is one in which heat-resistant resin particles soluble in a cured acid or oxidizing agent are dispersed in an uncured heat-resistant resin hardly soluble in an acid or oxidizing agent. is there. By treating with an acid or an oxidizing agent, the heat-resistant resin particles are dissolved and removed, and a roughened surface composed of an octopus pot-shaped anchor can be formed on the surface.

【0044】上記無電解めっき用接着剤において、特に
硬化処理された上記耐熱性樹脂粒子としては、(a) 平均
粒径が10μm以下の耐熱性樹脂粉末、(b) 平均粒径が
2μm以下の耐熱性樹脂粉末を凝集させた凝集粒子、
(c) 平均粒径が2〜10μmの耐熱性粉末樹脂粉末と平
均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末との混合物、(d)
平均粒径が2〜10μmの耐熱性樹脂粉末の表面に平均粒
径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末または無機粉末のいず
れか少なくとも1種を付着させてなる疑似粒子、(e) 平
均粒径が0.1〜0.8μmの耐熱性粉末樹脂粉末と平
均粒径が0.8μmを超え、2μm未満の耐熱性樹脂粉
末との混合物、(f) 平均粒径が0.1〜1.0μmの耐
熱性粉末樹脂粉末を用いることが望ましい。これらは、
より複雑なアンカーを形成することができるからであ
る。
In the above-mentioned adhesive for electroless plating, the heat-resistant resin particles which have been particularly cured include (a) a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 10 μm or less, and (b) an average particle diameter of 2 μm or less. Aggregated particles obtained by aggregating heat-resistant resin powder,
(c) a mixture of a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 to 10 μm and a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 μm or less, (d)
Pseudo particles obtained by adhering at least one of a heat-resistant resin powder or an inorganic powder having an average particle diameter of 2 μm or less to the surface of a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 to 10 μm, A mixture of 0.1 to 0.8 μm heat-resistant powder resin powder and a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of more than 0.8 μm and less than 2 μm, (f) an average particle diameter of 0.1 to 1.0 μm It is desirable to use heat-resistant resin powder. They are,
This is because a more complicated anchor can be formed.

【0045】上記酸あるいは酸化剤に難溶性の耐熱性樹
脂としては、「熱硬化性樹脂および熱可塑性樹脂からな
る樹脂複合体」または「感光性樹脂および熱可塑性樹脂
からなる樹脂複合体」などが望ましい。前者については
耐熱性が高く、後者についてはバイアホール用の開口を
フォトリソグラフィーにより形成できるからである。
Examples of the heat-resistant resin hardly soluble in an acid or an oxidizing agent include a “resin composite composed of a thermosetting resin and a thermoplastic resin” and a “resin composite composed of a photosensitive resin and a thermoplastic resin”. desirable. This is because the former has high heat resistance, and the latter can form an opening for a via hole by photolithography.

【0046】上記熱硬化性樹脂としては、例えば、エポ
キシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂などを使用
することができる。また、感光化した樹脂としては、メ
タクリル酸やアクリル酸などと熱硬化基をアクリル化反
応させたものが挙げられる。特にエポキシ樹脂をアクリ
レート化したものが最適である。エポキシ樹脂として
は、フェノールノボラック型、クレゾールノボラック
型、などのノボラック型エポキシ樹脂、ジシクロペンタ
ジエン変成した脂環式エポキシ樹脂などを使用すること
ができる。
As the thermosetting resin, for example, epoxy resin, phenol resin, polyimide resin and the like can be used. Examples of the photosensitized resin include those obtained by subjecting a thermosetting group to methacrylic acid or acrylic acid to undergo an acrylation reaction. In particular, an acrylated epoxy resin is most suitable. As the epoxy resin, a novolak type epoxy resin such as a phenol novolak type and a cresol novolak type, and an alicyclic epoxy resin modified with dicyclopentadiene can be used.

【0047】熱可塑性樹脂としては、ポリエーテルスル
フォン(PES)、ポリスルフォン(PSF)、ポリフ
ェニレンスルフォン(PPS)、ポリフェニレンサルフ
ァイド(PPES)、ポリフェニルエーテル(PP
E)、ポリエーテルイミド(PI)、フッ素樹脂などを
使用することができる。熱硬化性樹脂(感光性樹脂)と
熱可塑性樹脂の混合割合は、熱硬化性樹脂(感光性樹
脂)/熱可塑性樹脂=95/5〜50/50が望まし
い。耐熱性を損なうことなく、高い靱性値を確保できる
からである。
As the thermoplastic resin, polyether sulfone (PES), polysulfone (PSF), polyphenylene sulfone (PPS), polyphenylene sulfide (PPES), polyphenyl ether (PP
E), polyetherimide (PI), fluororesin and the like can be used. The mixing ratio of the thermosetting resin (photosensitive resin) and the thermoplastic resin is preferably thermosetting resin (photosensitive resin) / thermoplastic resin = 95/5 to 50/50. This is because a high toughness value can be secured without impairing the heat resistance.

【0048】上記耐熱性樹脂粒子の混合重量比は、耐熱
性樹脂マトリックスの固形分に対して5〜50重量%が
望ましく、10〜40重量%がさらに望ましい。耐熱性
樹脂粒子は、アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グ
アナミン樹脂)、エポキシ樹脂などが望ましい。
The mixing ratio by weight of the heat-resistant resin particles is preferably from 5 to 50% by weight, more preferably from 10 to 40% by weight, based on the solid content of the heat-resistant resin matrix. As the heat-resistant resin particles, an amino resin (a melamine resin, a urea resin, a guanamine resin), an epoxy resin or the like is desirable.

【0049】(6) 次に、層間絶縁樹脂層を硬化する一方
で、その層間樹脂樹脂層にはバイアホ−ル形成用の開口
を設ける。層間絶縁樹脂層の開口は、無電解めっき用接
着剤の樹脂マトリックスが熱硬化樹脂である場合は、レ
−ザ−光や酸素プラズマ等を用いて行い、感光性樹脂で
ある場合には、露光現像処理にて行う。なお、露光現像
処理は、バイアホ−ル形成のための円パタ−ンが描画さ
れたフォトマスク(ガラス基板がよい)を、円パタ−ン
側を感光性の層間樹脂絶縁層の上に密着させて載置した
後、露光し、現像処理液に浸漬するか、現像処理液をス
プレーすることにより行う。充分な凹凸形状の粗化面を
有する導体回路上に形成された層間樹脂絶縁層を硬化さ
せることにより、導体回路との密着性に優れた層間樹脂
絶縁層を形成することができる。
(6) Next, while the interlayer insulating resin layer is cured, an opening for forming a via hole is provided in the interlayer resin layer. Opening of the interlayer insulating resin layer is performed using laser light or oxygen plasma when the resin matrix of the adhesive for electroless plating is a thermosetting resin, and exposed when the resin matrix is a photosensitive resin. Performed by development processing. In the exposure and development process, a photomask (preferably a glass substrate) on which a circular pattern for forming a via hole is drawn is brought into close contact with the photosensitive interlayer resin insulating layer on the circular pattern side. After mounting, the substrate is exposed and immersed in a developing solution or sprayed with the developing solution. By curing the interlayer resin insulating layer formed on the conductor circuit having a roughened surface with a sufficient unevenness, an interlayer resin insulating layer having excellent adhesion to the conductor circuit can be formed.

【0050】(7) 次に、バイアホ−ル用開口を設けた層
間樹脂絶縁層(無電解めっき用接着剤層)の表面を粗化
する。通常、粗化は、無電解めっき用接着剤層の表面に
存在する耐熱性樹脂粒子を酸または酸化剤で溶解除去す
ることにより行う。酸処理等により形成する粗化面の高
さは、Rmax=0.01〜20μmが望ましい。導体
回路との密着性を確保するためである。特にセミアディ
ティブ法では、0.1〜5μmが望ましい。密着性を確
保しつつ、無電解めっき膜を除去することができるから
である。
(7) Next, the surface of the interlayer resin insulating layer (the adhesive layer for electroless plating) having the via hole opening is roughened. Usually, the roughening is performed by dissolving and removing the heat-resistant resin particles present on the surface of the adhesive layer for electroless plating with an acid or an oxidizing agent. The height of the roughened surface formed by acid treatment or the like is desirably Rmax = 0.01 to 20 μm. This is for ensuring adhesion to the conductor circuit. In particular, in the semi-additive method, 0.1 to 5 μm is desirable. This is because the electroless plating film can be removed while ensuring adhesion.

【0051】上記酸処理を行う際には、リン酸、塩酸、
硫酸、または、蟻酸や酢酸などの有機酸を用いることが
でき、特に有機酸を用いるのが望ましい。粗化形成処理
した場合に、バイアホ−ルから露出する金属導体層を腐
食させにくいからである。上記酸化処理は、クロム酸、
過マンガン酸塩(過マンガン酸カリウム等)を用いるこ
とが望ましい。
When performing the above acid treatment, phosphoric acid, hydrochloric acid,
Sulfuric acid or an organic acid such as formic acid or acetic acid can be used, and it is particularly preferable to use an organic acid. This is because the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded when the roughening treatment is performed. The oxidation treatment is performed using chromic acid,
It is desirable to use permanganate (such as potassium permanganate).

【0052】(8) 次に、粗化した層間絶縁樹脂上の全面
に薄付けの無電解めっき膜を形成する。この無電解めっ
き膜は、無電解銅めっきが好ましく、その厚みは、1〜
5μmが望ましく、2〜3μmがより望ましい。
(8) Next, a thin electroless plating film is formed on the entire surface of the roughened interlayer insulating resin. The electroless plating film is preferably formed by electroless copper plating, and has a thickness of 1 to 3.
5 μm is desirable, and 2-3 μm is more desirable.

【0053】(9) さらに、この上にめっきレジストを配
設する。めっきレジストとしては、市販の感光性ドライ
フィルムや液状レジストを使用することができる。そし
て、感光性ドライフィルムを貼り付けたり、液状レジス
トを塗布した後、紫外線露光処理を行い、アルカリ水溶
液で現像処理する。
(9) Further, a plating resist is provided thereon. As the plating resist, a commercially available photosensitive dry film or liquid resist can be used. Then, after applying a photosensitive dry film or applying a liquid resist, an ultraviolet exposure process is performed, and a developing process is performed with an alkaline aqueous solution.

【0054】(10)ついで、上記処理を行った基板を電気
めっき液に浸漬した後、無電解めっき層をカソードと
し、めっき被着金属をアノードとして直流電気めっきを
行い、バイアホール用開口をめっき充填するとともに、
上層導体回路を形成する。電解めっきとしては、電解銅
めっきが好ましく、その厚みは、10〜20μmが好ま
しい。
(10) Then, after the substrate subjected to the above treatment is immersed in an electroplating solution, direct current electroplating is performed using the electroless plating layer as a cathode and the metal to be plated as an anode, and plating the openings for via holes. While filling
An upper conductor circuit is formed. As the electrolytic plating, electrolytic copper plating is preferable, and its thickness is preferably 10 to 20 μm.

【0055】(11)ついで、めっきレジストを強アリカリ
水溶液で剥離した後にエッチングを行い、無電解めっき
層を除去することにより、上層導体回路およびバイアホ
ールを独立パターンとする。上記エッチング液として
は、硫酸/過酸化水素水溶液、塩化第二鉄、塩化第二
銅、過硫酸アンモニウムなどの過硫酸塩の水溶液が使用
される。なお、非導体回路部分に露出したパラジウム触
媒核は、クロム酸、硫酸、過酸化水素等により溶解除去
する。
(11) Next, the plating resist is peeled off with a strong alkali aqueous solution and then etched to remove the electroless plating layer, thereby forming the upper conductor circuit and the via hole into an independent pattern. As the etching solution, a sulfuric acid / hydrogen peroxide aqueous solution, an aqueous solution of a persulfate such as ferric chloride, cupric chloride, or ammonium persulfate is used. The palladium catalyst nuclei exposed on the non-conductor circuit portion are dissolved and removed with chromic acid, sulfuric acid, hydrogen peroxide or the like.

【0056】(12)必要により、(3) 〜(11)の工程を繰り
返し、最上層の導体回路に上記(3) の工程と同様の条件
で無電解めっきやエッチング等を施し、最上層の導体回
路上に粗化層または粗化面を形成する。
(12) If necessary, the steps (3) to (11) are repeated, and the uppermost conductive circuit is subjected to electroless plating, etching, or the like under the same conditions as in the above step (3). A roughened layer or a roughened surface is formed on the conductor circuit.

【0057】次に、最上層の導体回路を含む基板面に上
述したソルダーレジスト樹脂組成物を用い、ロールコー
タ法等によりソルダーレジスト樹脂組成物を塗布し、上
述した開口処理、硬化処理等を行うことにより、ソルダ
ーレジスト層を形成する。そしてこの後、ソルダーレジ
スト層の開口部分に半田バンプを形成することによりプ
リント配線板の製造を終了する。なお、製品認識文字な
どを形成するための文字印刷工程やソルダーレジスト層
の改質のために、酸素や四塩化炭素などのプラズマ処理
を適時行ってもよい。以上の方法は、セミアディティブ
法によるものであるが、フルアディティブ法を採用して
もよい。
Next, the above-described solder resist resin composition is applied to the surface of the substrate including the uppermost conductive circuit by a roll coater method or the like, and the above-described opening treatment, curing treatment, and the like are performed. Thereby, a solder resist layer is formed. Then, after this, the manufacture of the printed wiring board is completed by forming solder bumps in the openings of the solder resist layer. In addition, a plasma treatment with oxygen, carbon tetrachloride, or the like may be performed as needed for a character printing process for forming a product recognition character or the like or for modifying a solder resist layer. Although the above method is based on the semi-additive method, a full additive method may be employed.

【0058】[0058]

【実施例】以下、本発明を実施例によりさらに詳細に説
明する。 (実施例1) A.無電解めっき用接着剤の調製(上層用接着剤) (i) クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社
製、分子量:2500)の25%アクリル化物を80重
量%の濃度でジエチレングリコールジメチルエーテル
(DMDG)に溶解させた樹脂液35重量部、感光性モ
ノマー(東亜合成社製、アロニックスM315)3.1
5重量部、消泡剤(サンノプコ社製 S−65)0.5
重量部およびN−メチルピロリドン(NMP)3.6重
量部を容器にとり、攪拌混合することにより混合組成物
を調製した。
The present invention will be described in more detail with reference to the following examples. Example 1 A. Preparation of adhesive for electroless plating (adhesive for upper layer) (i) 25% acrylate of cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) at a concentration of 80% by weight of diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) 35 parts by weight of a resin solution dissolved in water, photosensitive monomer (Aronix M315, manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.) 3.1
5 parts by weight, antifoaming agent (S-65, manufactured by San Nopco) 0.5
Parts by weight and 3.6 parts by weight of N-methylpyrrolidone (NMP) were placed in a container and mixed by stirring to prepare a mixed composition.

【0059】(ii)ポリエーテルスルフォン(PES)1
2重量部、エポキシ樹脂粒子(三洋化成社製、ポリマー
ポール)の平均粒径1.0μmのもの7.2重量部およ
び平均粒径0.5μmのもの3.09重量部を別の容器
にとり、攪拌混合した後、さらにNMP30重量部を添
加し、ビーズミルで攪拌混合し、別の混合組成物を調製
した。
(Ii) Polyether sulfone (PES) 1
2 parts by weight, 7.2 parts by weight of an epoxy resin particle (manufactured by Sanyo Kasei Co., polymer pole) having an average particle diameter of 1.0 μm and 3.09 parts by weight of an epoxy resin particle having an average particle diameter of 0.5 μm were placed in another container, After stirring and mixing, 30 parts by weight of NMP was further added and stirred and mixed with a bead mill to prepare another mixed composition.

【0060】(iii) イミダゾール硬化剤(四国化成社
製、2E4MZ−CN)2重量部、光重合開始剤(チバ
・スペシャリティ・ケミカルズ社製、イルガキュアー
I−907)2重量部、光増感剤(日本化薬社製、DE
TX−S)0.2重量部およびNMP1.5重量部をさ
らに別の容器にとり、攪拌混合することにより混合組成
物を調製した。 そして、(i) 、(ii)および(iii) で調製した混合組成物
を混合することにより無 電解めっき用接着剤を得た。
(Iii) 2 parts by weight of an imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), a photopolymerization initiator (Irgacure, manufactured by Ciba Specialty Chemicals)
I-907) 2 parts by weight, photosensitizer (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., DE
TX-S) 0.2 part by weight and 1.5 parts by weight of NMP were further placed in another container, and mixed by stirring to prepare a mixed composition. Then, an adhesive for electroless plating was obtained by mixing the mixed compositions prepared in (i), (ii) and (iii).

【0061】B.無電解めっき用接着剤の調製(下層用
接着剤) (i) クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社
製、分子量:2500)の25%アクリル化物を80重
量%の濃度でジエチレングリコールジメチルエーテル
(DMDG)に溶解させた樹脂液35重量部、感光性モ
ノマー(東亜合成社製、アロニックスM315)4重量
部、消泡剤(サンノプコ社製 S−65)0.5重量部
およびN−メチルピロリドン(NMP)3.6重量部を
容器にとり、攪拌混合することにより混合組成物を調製
した。
B. Preparation of adhesive for electroless plating (adhesive for lower layer) (i) 25% acrylate of cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) at a concentration of 80% by weight of diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) 35 parts by weight of a resin solution, 4 parts by weight of a photosensitive monomer (manufactured by Toagosei Co., Aronix M315), 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65 manufactured by Sannopco) and N-methylpyrrolidone (NMP) 3.6 parts by weight were placed in a container and mixed by stirring to prepare a mixed composition.

【0062】(ii)ポリエーテルスルフォン(PES)1
2重量部、および、エポキシ樹脂粒子(三洋化成社製、
ポリマーポール)の平均粒径0.5μmのもの14.4
9重量部を別の容器にとり、攪拌混合した後、さらにN
MP30重量部を添加し、ビーズミルで攪拌混合し、別
の混合組成物を調製した。
(Ii) Polyether sulfone (PES) 1
2 parts by weight and epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Chemical Industries,
14.4 having an average particle size of 0.5 μm
9 parts by weight were placed in another container and mixed with stirring.
30 parts by weight of MP was added and mixed by stirring with a bead mill to prepare another mixed composition.

【0063】(iii) イミダゾール硬化剤(四国化成社
製、2E4MZ−CN)2重量部、光重合開始剤(チバ
・スペシャリティ・ケミカルズ社製、イルガキュアー
I−907)2重量部、光増感剤(日本化薬社製、DE
TX−S)0.2重量部およびNMP1.5重量部をさ
らに別の容器にとり、攪拌混合することにより混合組成
物を調製した。そして、(i) 、(ii)および(iii) で調製
した混合組成物を混合することにより無電解めっき用接
着剤を得た。
(Iii) 2 parts by weight of an imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), a photopolymerization initiator (Irgacure, manufactured by Ciba Specialty Chemicals)
I-907) 2 parts by weight, photosensitizer (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., DE
TX-S) 0.2 part by weight and 1.5 parts by weight of NMP were further placed in another container, and mixed by stirring to prepare a mixed composition. Then, an adhesive for electroless plating was obtained by mixing the mixed compositions prepared in (i), (ii) and (iii).

【0064】C.樹脂充填材の調製 (i) ビスフェノールF型エポキシモノマー(油化シェル
社製、分子量:310、YL983U)100重量部、
表面にシランカップリング剤がコーティングされた平均
粒径が1.6μmで、最大粒子の直径が15μm以下の
SiO2 球状粒子(アドマテックス社製、CRS 11
01−CE)170重量部およびレベリング剤(サンノ
プコ社製 ペレノールS4)1.5重量部を容器にと
り、攪拌混合することにより、その粘度が23±1℃で
40〜50Pa・sの樹脂充填材を調製した。なお、硬
化剤として、イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2E
4MZ−CN)6.5重量部を用いた。
C. Preparation of resin filler (i) 100 parts by weight of bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell Co., molecular weight: 310, YL983U),
SiO 2 spherical particles having an average particle diameter of 1.6 μm and a maximum particle diameter of 15 μm or less (manufactured by Admatechs, CRS 11)
01-CE) 170 parts by weight and 1.5 parts by weight of a leveling agent (Perenol S4 manufactured by San Nopco) are placed in a container and mixed by stirring to obtain a resin filler having a viscosity of 23 ± 1 ° C. and 40 to 50 Pa · s. Prepared. As a curing agent, an imidazole curing agent (2E, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.)
4MZ-CN) 6.5 parts by weight.

【0065】D.プリント配線板の製造方法 (1) 厚さ1mmのガラスエポキシ樹脂またはBT(ビス
マレイミドトリアジン)樹脂からなる基板1の両面に1
8μmの銅箔8がラミネートされている銅貼積層板を出
発材料とした(図1(a)参照)。まず、この銅貼積層
板をドリル削孔し、無電解めっき処理を施し、パターン
状にエッチングすることにより、基板1の両面に下層導
体回路4とスルーホール9を形成した。
D. Manufacturing method of printed wiring board (1) 1 mm thick glass epoxy resin or BT (bismaleimide triazine) resin
A copper-clad laminate on which an 8 μm copper foil 8 was laminated was used as a starting material (see FIG. 1A). First, the copper-clad laminate was drilled, subjected to electroless plating, and etched in a pattern to form a lower conductor circuit 4 and through holes 9 on both surfaces of the substrate 1.

【0066】(2) スルーホール9および下層導体回路4
を形成した基板を水洗いし、乾燥した後、NaOH(1
0g/l)、NaClO2 (40g/l)、Na3 PO
4 (6g/l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とする
黒化処理、および、NaOH(10g/l)、NaBH
4 (6g/l)を含む水溶液を還元浴とする還元処理を
行い、そのスルーホール9を含む下層導体回路4の全表
面に粗化面4a、9aを形成した(図1(b)参照)。
(2) Through hole 9 and lower conductor circuit 4
After the substrate on which was formed was washed with water and dried, NaOH (1
0 g / l), NaClO 2 (40 g / l), Na 3 PO
4 A blackening treatment using an aqueous solution containing (6 g / l) as a blackening bath (oxidizing bath), NaOH (10 g / l), NaBH
4 A reduction treatment was performed using an aqueous solution containing (6 g / l) as a reduction bath, and roughened surfaces 4a and 9a were formed on the entire surface of the lower conductor circuit 4 including the through holes 9 (see FIG. 1 (b)). .

【0067】(3) 上記Cに記載した樹脂充填材を調製し
た後、この樹脂充填材10を、基板の片面にロールコー
タを用いて塗布することにより、下層導体回路4間ある
いはスルーホール9内に充填し、加熱乾燥させた後、他
方の面についても同様に樹脂充填剤10を導体回路4間
あるいはスルーホール9内に充填し、加熱乾燥させた
((図1(c)参照)。
(3) After the resin filler described in C above is prepared, the resin filler 10 is applied to one surface of the substrate using a roll coater, so that the resin filler 10 is provided between the lower conductor circuits 4 or in the through holes 9. After being dried by heating, the other surface was similarly filled with a resin filler 10 between the conductor circuits 4 or in the through holes 9 and dried by heating (see FIG. 1 (c)).

【0068】(4) 上記(3) の処理を終えた基板の片面
を、#600のベルト研磨紙(三共理化学社製)を用い
たベルトサンダー研磨により、導体回路外縁部に形成さ
れた樹脂充填材10の層や導体回路非形成部に形成され
た樹脂充填材10の層の上部を研磨し、ついで、上記ベ
ルトサンダー研磨による傷を取り除くためのバフ研磨を
行った。このような一連の研磨を基板の他方の面につい
ても同様に行った。なお、必要に応じて、研摩の前後に
エッチングを行い、スルーホール9のランド9aおよび
下層導体回路4に形成された粗化面4aを平坦化しても
よい。この後、100℃で1時間、150℃で1時間の
加熱処理を行い、樹脂充填材の層を完全に硬化させた。
(4) One side of the substrate after the treatment of the above (3) was subjected to belt sander polishing using # 600 belt abrasive paper (manufactured by Sankyo Rikagaku Co., Ltd.) to fill the resin formed on the outer periphery of the conductor circuit. The upper portion of the layer of the material 10 and the layer of the resin filler 10 formed on the portion where the conductive circuit was not formed were polished, and then buffing was performed to remove the scratches caused by the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate. If necessary, the lands 9a of the through holes 9 and the roughened surface 4a formed in the lower conductor circuit 4 may be planarized by etching before and after polishing. Thereafter, a heat treatment was performed at 100 ° C. for 1 hour and at 150 ° C. for 1 hour to completely cure the resin filler layer.

【0069】このようにして、スルーホール9や導体回
路非形成部に形成された樹脂充填材10の表層部および
下層導体回路4の表面を平坦化し、樹脂充填材10と下
層導体回路4の側面4aとが粗化面を介して強固に密着
し、またスルーホール9の内壁面9aと樹脂充填材10
とが粗化面を介して強固に密着した絶縁性基板を得た
(図1(d)参照)。
In this way, the surface layer of the resin filler 10 and the surface of the lower conductor circuit 4 formed in the through holes 9 and the portions where the conductor circuit is not formed are flattened, and the resin filler 10 and the side surfaces of the lower conductor circuit 4 are flattened. 4a is firmly adhered through the roughened surface, and the inner wall surface 9a of the through hole 9 and the resin filler 10
Was obtained, thereby obtaining an insulating substrate firmly adhered through the roughened surface (see FIG. 1D).

【0070】(5) 次に、上記工程により導体回路を形成
した絶縁性基板を、アルカリ脱脂してソフトエッチング
し、次いで、塩化パラジウムと有機酸とからなる触媒溶
液で処理して、Pd触媒を付与し、この触媒を活性化し
た。
(5) Next, the insulated substrate on which the conductor circuit was formed in the above-mentioned step was alkali-degreased and soft-etched, and then treated with a catalyst solution comprising palladium chloride and an organic acid to remove the Pd catalyst. To activate the catalyst.

【0071】次に、硫酸銅(3.9×10-2mol/
l)、硫酸ニッケル(3.8×10-3mol/l)、ク
エン酸ナトリウム(7.8×10-3mol/l)、次亜
リン酸ナトリウム(2.3×10-1 mol/l)、界
面活性剤(日信化学工業社製、サーフィノール465)
(1.0g/l)を含む水溶液からなるpH=9の無電
解銅めっき浴に基板を浸漬し、浸漬1分後に、4秒あた
りに1回の割合で縦および横方向に振動させて、下層導
体回路およびスルーホールのランドの表面に、Cu−N
i−Pからなる針状合金の粗化層11を設けた(図2
(a)参照)。
Next, copper sulfate (3.9 × 10 -2 mol /
l), nickel sulfate (3.8 × 10 -3 mol / l), sodium citrate (7.8 × 10 -3 mol / l), sodium hypophosphite (2.3 × 10 -1 mol / l) ), Surfactant (Sufinol 465, manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd.)
(1.0 g / l), the substrate was immersed in an electroless copper plating bath of pH = 9 consisting of an aqueous solution containing 1 g of an aqueous solution, and after 1 minute of immersion, vibrated in the vertical and horizontal directions at a rate of once per 4 seconds. Cu-N on the surface of the land of the lower conductor circuit and the through hole
A roughened layer 11 of a needle-shaped alloy made of iP was provided (FIG. 2).
(A)).

【0072】(6) さらに、ホウフッ化スズ(0.1mo
l/l)、チオ尿素(1.0mol/l)を含む温度3
5℃、pH=1.2のスズ置換めっき液を用い、浸漬時
間10分でCu−Sn置換反応させ、粗化層の表面に厚
さ0.3μmのSn層を設けた。ただし、このSn層に
ついては、図示しない。
(6) Further, tin borofluoride (0.1 mol
1 / l), temperature 3 containing thiourea (1.0 mol / l)
Using a tin-substituted plating solution at 5 ° C. and a pH of 1.2, a Cu—Sn substitution reaction was performed for 10 minutes in an immersion time to provide a 0.3 μm-thick Sn layer on the surface of the roughened layer. However, this Sn layer is not shown.

【0073】(7) 基板の両面に、上記Bにおいて記載し
た下層用の無電解めっき用接着剤(粘度:1.5Pa・
s)を調製後24時間以内にロールコータを用いて塗布
し、水平状態で20分間放置してから、60℃で30分
の乾燥を行った。次いで、上記Aにおいて記載した上層
用の無電解めっき用接着剤(粘度:7Pa・s)を調製
後24時間以内にロールコータを用いて塗布し、同様に
水平状態で20分間放置してから、60℃で30分の乾
燥を行い、厚さ35μmの無電解めっき用接着剤の層2
a、2bを形成した(図2(b)参照)。
(7) Adhesive for lower layer electroless plating described in B above (viscosity: 1.5 Pa ·
s) was applied using a roll coater within 24 hours after preparation, allowed to stand in a horizontal state for 20 minutes, and then dried at 60 ° C. for 30 minutes. Next, the adhesive for electroless plating (viscosity: 7 Pa · s) for the upper layer described in the above A was applied using a roll coater within 24 hours after preparation, and similarly left for 20 minutes in a horizontal state, After drying at 60 ° C. for 30 minutes, a 35 μm-thick electroless plating adhesive layer 2
a and 2b were formed (see FIG. 2B).

【0074】(8) 上記(7) で無電解めっき用接着剤の層
を形成した基板の両面に、直径85μmの黒円が印刷さ
れたフォトマスクフィルムを密着させ、超高圧水銀灯に
より500mJ/cm2 強度で露光した後、DMDG溶
液でスプレー現像した。この後、さらに、この基板を超
高圧水銀灯により3000mJ/cm2 強度で露光し、
100℃で1時間、120℃で1時間、150℃で3時
間の加熱処理を施し、フォトマスクフィルムに相当する
寸法精度に優れた直径85μmのバイアホール用開口6
を有する厚さ35μmの層間樹脂絶縁層2を形成した
(図2(c)参照)。なお、バイアホールとなる開口に
は、スズめっき層を部分的に露出させた。
(8) A photomask film on which a black circle having a diameter of 85 μm is printed is brought into close contact with both surfaces of the substrate on which the adhesive layer for electroless plating is formed in the above (7), and is 500 mJ / cm by an ultra-high pressure mercury lamp. After exposure at two intensities, it was spray-developed with a DMDG solution. Thereafter, the substrate was further exposed at 3000 mJ / cm 2 intensity using an ultra-high pressure mercury lamp,
A heat treatment at 100 ° C. for 1 hour, 120 ° C. for 1 hour, and 150 ° C. for 3 hours is performed.
(See FIG. 2 (c)). Note that the tin plating layer was partially exposed in the opening serving as the via hole.

【0075】(9) バイアホール用開口6を形成した基板
を、クロム酸水溶液(7500g/l)に19分間浸漬
し、層間樹脂絶縁層の表面に存在するエポキシ樹脂粒子
を溶解除去してその表面を粗化し、粗化面を得た。その
後、中和溶液(シプレイ社製)に浸漬してから水洗いし
た(図2(d)参照)。さらに、粗面化処理した該基板
の表面に、パラジウム触媒(アトテック社製)を付与す
ることにより、層間絶縁材層の表面およびバイアホール
用開口の内壁面に触媒核を付着させた。
(9) The substrate having the via hole opening 6 formed thereon is immersed in a chromic acid aqueous solution (7500 g / l) for 19 minutes to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the interlayer resin insulating layer. Was roughened to obtain a roughened surface. Then, it was immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and washed with water (see FIG. 2D). Further, by applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the substrate subjected to the surface roughening treatment, catalyst nuclei were attached to the surface of the interlayer insulating material layer and the inner wall surface of the via hole opening.

【0076】(10)次に、以下の組成の無電解銅めっき水
溶液中に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ0.6〜1.
2μmの無電解銅めっき膜12を形成した(図3(a)
参照)。 〔無電解めっき水溶液〕 EDTA 0.08 mol/l 硫酸銅 0.03 mol/l HCHO 0.05 mol/l NaOH 0.05 mol/l α、α’−ビピリジル 80 mg/l PEG 0.10 g/l (ポリエチレングリコール) 〔無電解めっき条件〕65℃の液温度で20分
(10) Next, the substrate is immersed in an aqueous solution of electroless copper plating having the following composition, and has a thickness of 0.6 to 1.
An electroless copper plating film 12 of 2 μm was formed (FIG. 3A)
reference). [Electroless plating aqueous solution] EDTA 0.08 mol / l Copper sulfate 0.03 mol / l HCHO 0.05 mol / l NaOH 0.05 mol / l α, α'-bipyridyl 80 mg / l PEG 0.10 g / L (polyethylene glycol) [Electroless plating conditions] at a liquid temperature of 65 ° C for 20 minutes

【0077】(11)市販の感光性ドライフィルムを無電解
銅めっき膜12に貼り付け、マスクを載置して、100
mJ/cm2 で露光し、0.8%炭酸ナトリウム水溶液
で現像処理することにより、厚さ15μmのめっきレジ
スト3を設けた(図3(b)参照)。
(11) A commercially available photosensitive dry film is affixed to the electroless copper plating film 12, a mask is placed thereon, and
Exposure at mJ / cm 2 and development with a 0.8% aqueous sodium carbonate solution provided a plating resist 3 having a thickness of 15 μm (see FIG. 3B).

【0078】(12)ついで、レジスト非形成部に以下の条
件で電気銅めっきを施し、厚さ15μmの電気銅めっき
膜13を形成した(図3(c)参照)。 〔電気めっき水溶液〕 硫酸 2.24 mol/l 硫酸銅 0.26 mol/l 添加剤 19.5 ml/l (アトテックジャパン社製、カパラシドHL) 〔電気めっき条件〕 電流密度 1 A/dm2 時間 65 分 温度 22±2 ℃
(12) Next, the copper-free copper plating film 13 having a thickness of 15 μm was formed on the non-resist-formed portion under the following conditions (see FIG. 3C). [Electroplating aqueous solution] sulfuric acid 2.24 mol / l copper sulfate 0.26 mol / l additive 19.5 ml / l (manufactured by Atotech Japan, capparaside HL) [electroplating conditions] current density 1 A / dm 2 hours 65 minutes Temperature 22 ± 2 ℃

【0079】(13)さらにめっきレジストを5%KOH水
溶液で剥離除去した後、そのめっきレジスト下の無電解
めっき膜を硫酸と過酸化水素の混合液でエッチング処理
して溶解除去し、独立の上層導体回路5(バイアホール
7を含む)とした(図3(d)参照)。
(13) Further, after the plating resist is peeled and removed with a 5% KOH aqueous solution, the electroless plating film under the plating resist is dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide to form an independent upper layer. The conductor circuit 5 (including the via hole 7) was used (see FIG. 3D).

【0080】(14)導体回路を形成した基板に対し、上記
(5) と同様の処理を行い、導体回路の表面に厚さ2μm
のCu−Ni−Pからなる合金粗化層11を形成した
(図4(a)参照)。 (15)続いて、上記 (6)〜(14)の工程を、繰り返すことに
より、さらに上層の導体回路を形成した。(図4(b)
〜図5(b)参照)。
(14) With respect to the substrate on which the conductor circuit is formed,
Perform the same treatment as in (5), and apply a 2 μm thick
The alloy roughened layer 11 made of Cu—Ni—P was formed (see FIG. 4A). (15) Subsequently, the above steps (6) to (14) were repeated to form a further upper layer conductive circuit. (FIG. 4 (b)
To FIG. 5 (b)).

【0081】(16)次に、ジエチレングリコールジメチル
エーテル(DMDG)に60重量%の濃度になるように
溶解させた、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日
本化薬社製)のエポキシ基50%をアクリル化した感光
性付与のオリゴマー(分子量:4000)46.67重
量部、メチルエチルケトンに溶解させた80重量%のビ
スフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル社製、商品
名:エピコート1001)15重量部、イミダゾール硬
化剤(四国化成社製、商品名:2E4MZ−CN)1.
6重量部、感光性モノマーである多官能アクリルモノマ
ー(日本化薬社製、商品名:R604)3重量部、同じ
く多価アクリルモノマー(共栄化学社製、商品名:DP
E6A)1.5重量部、無機フィラーとして、最も長い
部分の平均粒径が1.0μmの楕円球状のアルミナ粒子
12.0重量部、分散系消泡剤(サンノプコ社製、商品
名:S−65)0.71重量部を容器にとり、攪拌、混
合して混合組成物を調製し、この混合組成物に対して光
重合開始剤としてベンゾフェノン(関東化学社製)2.
0重量部、光増感剤としてのミヒラーケトン(関東化学
社製)0.2重量部を加えて、粘度を25℃で2.0P
a・sに調整したソルダーレジスト樹脂組成物を得た。
なお、粘度測定は、B型粘度計(東京計器社製、DVL
−B型)で60rpmの場合はローターNo.4、6r
pmの場合はローターNo.3によった。
(16) Next, a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) so as to have a concentration of 60% by weight was used. 46.67 parts by weight of an oligomer for imparting property (molecular weight: 4000), 15 parts by weight of a bisphenol A type epoxy resin (trade name: Epicoat 1001 manufactured by Yuka Shell Co., Ltd.) dissolved in methyl ethyl ketone, and 15 parts by weight of an imidazole curing agent ( (Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-CN)
6 parts by weight, 3 parts by weight of polyfunctional acrylic monomer (trade name: R604, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), which is a photosensitive monomer, and polyvalent acrylic monomer (trade name: DP, manufactured by Kyoei Chemical Co., Ltd.)
E6A) 1.5 parts by weight, as an inorganic filler, 12.0 parts by weight of elliptical spherical alumina particles having an average particle diameter of the longest portion of 1.0 μm, a dispersion defoaming agent (manufactured by San Nopco, trade name: S- 65) 0.71 part by weight was placed in a container, stirred and mixed to prepare a mixed composition, and benzophenone (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) was used as a photopolymerization initiator for the mixed composition.
0 parts by weight and 0.2 parts by weight of Michler's ketone (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) as a photosensitizer were added, and the viscosity was increased to 2.0 P at 25 ° C.
A solder resist resin composition adjusted to a · s was obtained.
The viscosity was measured using a B-type viscometer (DVL, manufactured by Tokyo Keiki Co., Ltd.).
-B type) and at 60 rpm, the rotor No. 4, 6r
pm, the rotor No. According to 3.

【0082】(17)次に、多層配線基板の両面に、上記ソ
ルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗布し、70
℃で20分間、70℃で30分間の条件で乾燥処理を行
った後、ソルダーレジスト開口部のパターンが描画され
た厚さ5mmのフォトマスクをソルダーレジスト層に密
着させて1000mJ/cm2 の紫外線で露光し、DM
TG溶液で現像処理し、200μmの直径の開口を形成
した。そして、さらに、80℃で1時間、100℃で1
時間、120℃で1時間、150℃で3時間の条件でそ
れぞれ加熱処理を行ってソルダーレジスト層を硬化さ
せ、半田パッド部分が開口した、その厚さが20μmの
ソルダーレジスト層(有機樹脂絶縁層)14を形成し
た。
(17) Next, the above-mentioned solder resist composition is applied to both sides of the multilayer wiring board in a thickness of 20 μm, and
After performing a drying process under the conditions of 20 ° C. for 20 minutes and 70 ° C. for 30 minutes, a 5 mm-thick photomask on which a pattern of the opening of the solder resist is drawn is brought into close contact with the solder resist layer, and an ultraviolet ray of 1000 mJ / cm 2 is applied. Exposure with DM
Development was performed with a TG solution to form an opening having a diameter of 200 μm. Then, at 80 ° C. for 1 hour, and at 100 ° C. for 1 hour.
The solder resist layer was cured by performing heat treatment under the conditions of 1 hour at 120 ° C. for 1 hour and 3 hours at 150 ° C., and a solder resist layer (organic resin insulating layer) having an opening in the solder pad portion and having a thickness of 20 μm. 14) was formed.

【0083】(18)次に、ソルダーレジスト層(有機樹脂
絶縁層)14を形成した基板を、塩化ニッケル(2.3
×10-1mol/l)、次亜リン酸ナトリウム(2.8
×10 -1mol/l)、クエン酸ナトリウム(1.6×
10-1mol/l)を含むpH=4.5の無電解ニッケ
ルめっき液に20分間浸漬して、開口部に厚さ5μmの
ニッケルめっき層15を形成した。さらに、その基板を
シアン化金カリウム(7.6×10-3mol/l)、塩
化アンモニウム(1.9×10-1mol/l)、クエン
酸ナトリウム(1.2×10-1mol/l)、次亜リン
酸ナトリウム(1.7×10-1mol/l)を含む無電
解めっき液に80℃の条件で7.5分間浸漬して、ニッ
ケルめっき層15上に、厚さ0.03μmの金めっき層
16を形成した。
(18) Next, a solder resist layer (organic resin
The substrate on which the insulating layer (14) was formed was coated with nickel chloride (2.3).
× 10-1mol / l), sodium hypophosphite (2.8
× 10 -1mol / l), sodium citrate (1.6 ×
10-1mol / l) and pH = 4.5
Immersion in a plating solution for 20 minutes, and a 5 μm thick
A nickel plating layer 15 was formed. In addition, the board
Potassium gold cyanide (7.6 × 10-3mol / l), salt
Ammonium iodide (1.9 × 10-1mol / l), quenched
Sodium acid (1.2 × 10-1mol / l), phosphorus hypophosphite
Sodium acid (1.7 × 10-1mol / l)
Immerse in a plating solution at 80 ° C for 7.5 minutes,
0.03 μm thick gold plating layer on the Kell plating layer 15
No. 16 was formed.

【0084】(19)この後、ソルダーレジスト層14の開
口に半田ペーストを印刷して、200℃でリフローする
ことにより半田バンプ17を形成し、半田バンプ17を
有する多層配線プリント基板を製造した(図5(c)参
照)。
(19) Thereafter, a solder paste is printed in the openings of the solder resist layer 14 and reflowed at 200 ° C. to form the solder bumps 17, thereby manufacturing a multilayer wiring printed board having the solder bumps 17 ( FIG. 5C).

【0085】(実施例2) A.無電解めっき用接着剤の調製(上層用接着剤)、無
電解めっき用接着剤の調製(下層用接着剤)、および、
樹脂充填材の調製は、実施例1と同様にして行った。
Example 2 A. Preparation of adhesive for electroless plating (adhesive for upper layer), preparation of adhesive for electroless plating (adhesive for lower layer), and
Preparation of the resin filler was performed in the same manner as in Example 1.

【0086】B.プリント配線板の製造方法 (1) 厚さ1.0mmのガラスエポキシ樹脂またはBT
(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなる基板1の両
面に18μmの銅箔8がラミネートされている銅張積層
板を出発材料とした(図6(a)参照)。まず、この銅
張積層板をドリル削孔し、無電解めっき処理を施し、パ
ターン状にエッチングすることにより、基板1の両面に
下層導体回路4とスルーホール9を形成した。
B. Manufacturing method of printed wiring board (1) 1.0 mm thick glass epoxy resin or BT
A starting material was a copper-clad laminate in which 18 μm copper foils 8 were laminated on both sides of a substrate 1 made of (bismaleimide triazine) resin (see FIG. 6A). First, the copper-clad laminate was drilled, subjected to an electroless plating treatment, and etched in a pattern to form a lower conductor circuit 4 and a through hole 9 on both surfaces of the substrate 1.

【0087】(2) スルーホール9および下層導体回路4
を形成した基板を水洗いし、乾燥した後、NaOH(1
0g/l)、NaClO2 (40g/l)、Na3 PO
4 (6g/l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とする
黒化処理、および、NaOH(10g/l)、NaBH
4 (6g/l)を含む水溶液を還元浴とする還元処理を
行い、そのスルーホール9を含む下層導体回路4の全表
面に粗化面4a、9aを形成した(図6(b)参照)。
(2) Through-hole 9 and lower conductor circuit 4
After the substrate on which was formed was washed with water and dried, NaOH (1
0 g / l), NaClO 2 (40 g / l), Na 3 PO
4 A blackening treatment using an aqueous solution containing (6 g / l) as a blackening bath (oxidizing bath), NaOH (10 g / l), NaBH
4 A reduction treatment was performed using an aqueous solution containing (6 g / l) as a reduction bath, and roughened surfaces 4a and 9a were formed on the entire surface of the lower conductor circuit 4 including the through holes 9 (see FIG. 6B). .

【0088】(3) 上記Cに記載した樹脂充填材を調製し
た後、下記の方法により調製後24時間以内に、スルー
ホール9内、および、基板1の片面の導体回路非形成部
と導体回路4の外縁部とに樹脂充填材10の層を形成し
た。すなわち、まず、スキージを用いてスルーホール内
に樹脂充填材を押し込んだ後、100℃、20分の条件
で乾燥させた。次に、導体回路非形成部に相当する部分
が開口したマスクを基板上に載置し、スキージを用いて
凹部となっている導体回路非形成部に樹脂充填材10の
層を形成し、100℃、20分の条件で乾燥させた(図
6(c)参照)。
(3) After preparing the resin filler described in C above, within 24 hours after the preparation by the following method, the conductive circuit non-formed portion in the through hole 9 and on one side of the substrate 1 and the conductive circuit A layer of the resin filler 10 was formed on the outer edge portion of No. 4. That is, first, the resin filler was pushed into the through holes using a squeegee, and then dried at 100 ° C. for 20 minutes. Next, a mask having an opening corresponding to the conductor circuit non-forming portion is placed on the substrate, and a layer of the resin filler 10 is formed in the conductor circuit non-forming portion having a concave portion using a squeegee. It was dried at 20 ° C. for 20 minutes (see FIG. 6C).

【0089】(4) 上記(3) の処理を終えた基板の片面
を、#600のベルト研磨紙(三共理化学製)を用いた
ベルトサンダー研磨により、内層銅パターン4の表面や
スルーホール9のランド表面に樹脂充填剤10が残らな
いように研磨し、次いで、上記ベルトサンダー研磨によ
る傷を取り除くためのバフ研磨を行った。このような一
連の研磨を基板の他方の面についても同様に行った。次
いで、100℃で1時間、120℃で3時間、150℃
で1時間、180℃で7時間の加熱処理を行って樹脂充
填剤10を硬化した。
(4) One surface of the substrate after the treatment of the above (3) is subjected to belt sander polishing using # 600 belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku) to form the surface of the inner layer copper pattern 4 and the through holes 9. Polishing was performed so that the resin filler 10 did not remain on the land surface, and then buffing was performed to remove scratches caused by the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate. Next, at 100 ° C. for 1 hour, at 120 ° C. for 3 hours, at 150 ° C.
For 1 hour and a heat treatment at 180 ° C. for 7 hours to cure the resin filler 10.

【0090】このようにして、スルーホール9や導体回
路非形成部に形成された樹脂充填材10の表層部および
下層導体回路4の表面を平坦化し、樹脂充填材10と下
層導体回路4の側面4aとが粗化面を介して強固に密着
し、またスルーホール9の内壁面9aと樹脂充填材10
とが粗化面を介して強固に密着した絶縁性基板を得た
(図6(d)参照)。
In this manner, the surface layer of the resin filler 10 and the surface of the lower conductor circuit 4 formed in the through hole 9 and the portion where the conductor circuit is not formed are flattened, and the resin filler 10 and the side surfaces of the lower conductor circuit 4 are flattened. 4a is firmly adhered through the roughened surface, and the inner wall surface 9a of the through hole 9 and the resin filler 10
Was firmly adhered via the roughened surface to obtain an insulating substrate (see FIG. 6D).

【0091】(5) 上記基板を水洗、酸性脱脂した後、ソ
フトエッチングし、次いで、エッチング液を基板の両面
にスプレイで吹きつけて、下層導体回路4の表面とスル
ーホール9のランド表面と内壁とをエッチングすること
により、下層導体回路4の全表面に粗化面4a、9aを
形成した(図7(a)参照)。エッチング液として、イ
ミダゾール銅 (II)錯体10重量部、グリコール酸7重
量部、塩化カリウム5重量部からなるエッチング液(メ
ック社製、メックエッチボンド)を使用した。
(5) The substrate is washed with water and acid-degreased, and then soft-etched. Then, an etching solution is sprayed on both surfaces of the substrate by spraying, so that the surface of the lower conductor circuit 4 and the land surface of the through hole 9 and the inner wall are formed. Thus, roughened surfaces 4a and 9a were formed on the entire surface of the lower conductive circuit 4 (see FIG. 7A). As an etching solution, an etching solution (Mec etch bond, manufactured by Mec Co.) comprising 10 parts by weight of an imidazole copper (II) complex, 7 parts by weight of glycolic acid, and 5 parts by weight of potassium chloride was used.

【0092】(6) 基板の両面に、下層用の無電解めっき
用接着剤(粘度:1.5Pa・s)を調製後24時間以
内にロールコータを用いて塗布し、水平状態で20分間
放置してから、60℃で30分の乾燥を行った。次い
で、上層用の無電解めっき用接着剤(粘度:7Pa・
s)を調製後24時間以内にロールコータを用いて塗布
し、同様に水平状態で20分間放置してから、60℃で
30分の乾燥を行い、厚さ35μmの無電解めっき用接
着剤の層2a、2bを形成した(図7(b)参照)。
(6) An adhesive for lower layer electroless plating (viscosity: 1.5 Pa · s) is applied to both sides of the substrate using a roll coater within 24 hours after preparation, and left in a horizontal state for 20 minutes After that, drying was performed at 60 ° C. for 30 minutes. Next, an adhesive for electroless plating for the upper layer (viscosity: 7 Pa ·
s) was applied using a roll coater within 24 hours after preparation, and was similarly left standing in a horizontal state for 20 minutes, followed by drying at 60 ° C. for 30 minutes to obtain a 35 μm thick adhesive for electroless plating. The layers 2a and 2b were formed (see FIG. 7B).

【0093】(7) 上記(6) で無電解めっき用接着剤の層
2a、2bを形成した基板1の両面に、遮光インクによ
って直径85μmの黒円が描画されたフォトマスクフィ
ルムを密着させ、超高圧水銀灯により3000mJ/c
2 強度で露光した。この後、100℃で1時間、12
0℃で1時間、150℃で3時間の加熱処理を施し、フ
ォトマスクフィルムに相当する寸法精度に優れた直径8
5μmのバイアホール用開口6を有する厚さ35μmの
層間樹脂絶縁層2を形成した(図7(c)参照)。な
お、バイアホールとなる開口には、スズめっき層を部分
的に露出させた。
(7) A photomask film in which a black circle with a diameter of 85 μm is drawn with light-shielding ink is brought into close contact with both surfaces of the substrate 1 on which the electroless plating adhesive layers 2a and 2b are formed in (6) above, 3000mJ / c by ultra-high pressure mercury lamp
Exposure at m 2 intensity. Then, at 100 ° C. for 1 hour, 12
A heat treatment of 1 hour at 0 ° C. and 3 hours at 150 ° C. has a diameter of 8 with excellent dimensional accuracy equivalent to a photomask film.
An interlayer resin insulating layer 2 having a thickness of 35 μm and having a via hole opening 6 of 5 μm was formed (see FIG. 7C). Note that the tin plating layer was partially exposed in the opening serving as the via hole.

【0094】(8) バイアホール用開口6を形成した基板
を、クロム酸を含む溶液に19分間浸漬し、層間樹脂絶
縁層2の表面に存在するエポキシ樹脂粒子を溶解除去す
ることにより、層間樹脂絶縁層2の表面を粗面(深さ6
μm)とし、その後、中和溶液(シプレイ社製)に浸漬
してから水洗いした(図7(d)参照)。さらに、粗面
化処理した該基板の表面に、パラジウム触媒(アトテッ
ク製)を付与することにより、層間樹脂絶縁層2の表面
およびバイアホール用開口6の内壁面に触媒核を付着さ
せた。
(8) The substrate in which the via hole opening 6 is formed is immersed in a solution containing chromic acid for 19 minutes to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the interlayer resin insulating layer 2, whereby the interlayer resin is removed. The surface of the insulating layer 2 is made rough (depth 6
μm), and then immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and washed with water (see FIG. 7D). Further, by applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the substrate subjected to the surface roughening treatment, catalyst nuclei were attached to the surface of the interlayer resin insulating layer 2 and the inner wall surface of the via hole opening 6.

【0095】(9) 次に、以下の組成の無電解銅めっき水
溶液中に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ0.6〜1.
2μmの無電解銅めっき膜12を形成した(図8(a)
参照)。 〔無電解めっき水溶液〕 NiSO4 0.003 mol/l 酒石酸 0.200 mol/l 硫酸銅 0.030 mol/l HCHO 0.050 mol/l NaOH 0.100 mol/l α、α’−ビピリジル 40 mg/l ポリエチレングリコール(PEG) 0.10 g/l 〔無電解めっき条件〕 35℃の液温で40分
(9) Next, the substrate was immersed in an electroless copper plating aqueous solution having the following composition, and the thickness of the substrate was reduced to 0.6 to 1.
An electroless copper plating film 12 of 2 μm was formed (FIG. 8A).
reference). [Electroless plating aqueous solution] NiSO 4 0.003 mol / l tartaric acid 0.200 mol / l copper sulfate 0.030 mol / l HCHO 0.050 mol / l NaOH 0.100 mol / l α, α′-bipyridyl 40 mg / l Polyethylene glycol (PEG) 0.10 g / l [Electroless plating conditions] 40 minutes at a liquid temperature of 35 ° C

【0096】(10)市販の感光性ドライフィルムを無電解
銅めっき膜12に熱圧着することにより貼り付け、マス
クを載置して、100mJ/cm2 で露光した後、0.
8%炭酸ナトリウムで現像処理し、厚さ15μmのめっ
きレジスト3を設けた(図8(b)参照)。
(10) A commercially available photosensitive dry film is adhered to the electroless copper plating film 12 by thermocompression bonding, a mask is placed thereon, and the film is exposed at 100 mJ / cm 2 .
It was developed with 8% sodium carbonate to provide a plating resist 3 having a thickness of 15 μm (see FIG. 8B).

【0097】(11)ついで、以下の条件で電解銅めっきを
施し、厚さ15μmの電解銅めっき膜13を形成した
(図8(c)参照)。 〔電解めっき水溶液〕 硫酸 2.24 mol/l 硫酸銅 0.26 mol/l 添加剤 19.5 ml/l (アトテックジャパン社製、カパラシドHL) 〔電解めっき条件〕 電流密度 1 A/dm2 時間 65 分 温度 22±2 ℃
(11) Next, electrolytic copper plating was performed under the following conditions to form an electrolytic copper plating film 13 having a thickness of 15 μm (see FIG. 8C). [Electroplating aqueous solution] sulfuric acid 2.24 mol / l copper sulfate 0.26 mol / l additive 19.5 ml / l (manufactured by Atotech Japan, Capparaside HL) [electroplating conditions] current density 1 A / dm 2 hours 65 minutes Temperature 22 ± 2 ℃

【0098】(12)めっきレジスト3を5%KOHで剥離
除去した後、そのめっきレジスト3下の無電解めっき膜
12を硫酸と過酸化水素の混合液でエッチング処理して
溶解除去し、無電解銅めっき膜12と電解銅めっき膜1
3からなる厚さ18μmの導体回路(バイアホール7を
含む)5を形成した(図8(d)参照)。
(12) After the plating resist 3 is peeled and removed with 5% KOH, the electroless plating film 12 under the plating resist 3 is dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide. Copper plating film 12 and electrolytic copper plating film 1
A conductor circuit (including the via hole 7) 5 made of 3 and having a thickness of 18 μm was formed (see FIG. 8D).

【0099】(13)上記 (5)〜(12)の工程を繰り返すこと
により、さらに上層の層間樹脂絶縁層と導体回路とを形
成し、多層配線板を得た。但し、表層の粗化面には、S
n置換などにより被覆層は形成しなかった(図9(a)
〜図10(b)参照)。 (14)次に、ジエチレングリコールジメチルエーテル(D
MDG)に60重量%の濃度になるように溶解させた、
クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社製)
のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付与のオリ
ゴマー(分子量:4000)46.67重量部、メチル
エチルケトンに溶解させた80重量%のビスフェノール
A型エポキシ樹脂(油化シェル社製、商品名:エピコー
ト1001)15.0重量部、イミダゾール硬化剤(四
国化成社製、商品名:2E4MZ−CN)1.6重量
部、感光性モノマーである多価アクリルモノマー(日本
化薬社製 R604)3重量部、同じく多価アクリルモ
ノマー(共栄社化学社製 DPE6A)1.5重量部、
無機フィラーとして、球状シリカで平均粒径1.0μm
のもの10重量部、分散系消泡剤(サンノプコ社製、S
−65)0.71重量部を容器にとり、攪拌、混合して
混合組成物を調製し、この混合組成物に対して光重合開
始剤としてベンゾフェノン(関東化学社製)2.0重量
部、光増感剤としてのミヒラーケトン(関東化学社製)
0.2重量部を加えることにより、粘度を25℃で2.
0Pa・sに調整したソルダーレジスト樹脂組成物を得
た。なお、粘度測定は、B型粘度計(東京計器社製、D
VL−B型)で60rpmの場合はローターNo.4、
6rpmの場合はローターNo.3によった。
(13) By repeating the above steps (5) to (12), a further upper interlayer resin insulating layer and a conductive circuit were formed, and a multilayer wiring board was obtained. However, the rough surface of the surface layer has S
No coating layer was formed due to n-substitution or the like (FIG. 9A)
To FIG. 10 (b)). (14) Next, diethylene glycol dimethyl ether (D
MDG) to a concentration of 60% by weight.
Cresol novolak epoxy resin (Nippon Kayaku)
46.67 parts by weight of a photosensitizing oligomer (molecular weight: 4000) in which 50% of epoxy groups are acrylated, and 80% by weight of a bisphenol A type epoxy resin dissolved in methyl ethyl ketone (trade name: Epicoat, manufactured by Yuka Shell Co., Ltd.) 1001) 15.0 parts by weight, 1.6 parts by weight of an imidazole curing agent (trade name: 2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), 3 parts by weight of a polyvalent acrylic monomer (R604, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) as a photosensitive monomer 1.5 parts by weight of a polyvalent acrylic monomer (DPE6A manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.)
As inorganic filler, spherical silica with an average particle size of 1.0 μm
10 parts by weight of a dispersion antifoaming agent (manufactured by San Nopco, S
-65) 0.71 part by weight was placed in a container, stirred and mixed to prepare a mixed composition, and 2.0 parts by weight of benzophenone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photopolymerization initiator was added to the mixed composition. Michler's ketone as sensitizer (Kanto Chemical Co., Ltd.)
By adding 0.2 parts by weight, the viscosity at 25 ° C.
A solder resist resin composition adjusted to 0 Pa · s was obtained. The viscosity was measured using a B-type viscometer (manufactured by Tokyo Keiki Co., Ltd., D
VL-B) and at 60 rpm, the rotor No. 4,
In the case of 6 rpm, the rotor No. According to 3.

【0100】(15)次に、多層配線基板の両面に、上記ソ
ルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗布し、70
℃で20分間、70℃で30分間の条件で乾燥処理を行
った後、ソルダーレジスト開口部のパターンが描画され
た厚さ5mmのフォトマスクフィルムをソルダーレジス
ト層に密着させ、1000mJ/cm2 の紫外線で露光
し、DMTG溶液で現像処理し、200μmの直径の開
口を形成した。そして、さらに、80℃で1時間、10
0℃で1時間、120℃で1時間、150℃で3時間の
条件で加熱処理してソルダーレジスト層を硬化させ、開
口を有し、その厚さが20μmのソルダーレジスト層1
4を形成した。
(15) Next, the above-mentioned solder resist composition is applied to both sides of the multilayer wiring board in a thickness of 20 μm,
After performing a drying process under the conditions of 20 ° C. for 20 minutes and 70 ° C. for 30 minutes, a 5 mm-thick photomask film on which a pattern of the solder resist opening is drawn is brought into close contact with the solder resist layer, and a thickness of 1000 mJ / cm 2 is applied. It was exposed to ultraviolet light and developed with a DMTG solution to form an opening having a diameter of 200 μm. Then, at 80 ° C. for 1 hour,
Heat treatment is performed at 0 ° C. for 1 hour, at 120 ° C. for 1 hour, and at 150 ° C. for 3 hours to cure the solder resist layer. The solder resist layer 1 has an opening and a thickness of 20 μm.
4 was formed.

【0101】(16)その後、過硫酸ナトリウムを主成分と
するエッチング液を毎分2μm程度のエッチング速度に
なるように濃度を調整した後、このエッチング液に上記
工程を経た基板を1分間浸漬し、表面の平均粗度(R
a)を1μmとした。 (17)次に、上記粗化処理を行った基板を、塩化ニッケル
(2.3×10-1 mol/l)、次亜リン酸ナトリウ
ム(2.8×10-1 mol/l)、クエン酸ナトリウ
ム(1.6×10-1 mol/l)を含むpH=4.5
の無電解ニッケルめっき液に20分間浸漬して、開口部
に厚さ5μmのニッケルめっき層15を形成した。さら
に、その基板をシアン化金カリウム(7.6×10-3
mol/l)、塩化アンモニウム(1.9×10-1
ol/l)、クエン酸ナトリウム(1.2×10-1
ol/l)、次亜リン酸ナトリウム(1.7×10-1
mol/l)を含む無電解めっき液に80℃の条件で
7.5分間浸漬して、ニッケルめっき層15上に、厚さ
0.03μmの金めっき層16を形成した。
(16) Thereafter, the concentration of the etching solution containing sodium persulfate as a main component was adjusted so as to have an etching rate of about 2 μm per minute, and the substrate subjected to the above steps was immersed in this etching solution for 1 minute. , Average surface roughness (R
a) was 1 μm. (17) Next, the substrate subjected to the above-described roughening treatment was treated with nickel chloride (2.3 × 10 -1 mol / l), sodium hypophosphite (2.8 × 10 -1 mol / l), PH = 4.5 containing sodium acidate (1.6 × 10 −1 mol / l)
Was immersed in an electroless nickel plating solution for 20 minutes to form a nickel plating layer 15 having a thickness of 5 μm in the opening. Further, the substrate was subjected to potassium potassium cyanide (7.6 × 10 −3).
mol / l), ammonium chloride (1.9 × 10 −1 m)
ol / l), sodium citrate (1.2 × 10 −1 m
ol / l), sodium hypophosphite (1.7 × 10 −1)
(mol / l) at a temperature of 80 ° C. for 7.5 minutes to form a gold plating layer 16 having a thickness of 0.03 μm on the nickel plating layer 15.

【0102】(18)この後、ソルダーレジスト層14の開
口部に半田ペーストを印刷して、200℃でリフローす
ることにより半田バンプ17を形成し、半田17を有す
る多層配線プリント基板を製造した(図10(c)参
照)。
(18) Thereafter, a solder paste is printed on the opening of the solder resist layer 14 and reflowed at 200 ° C. to form solder bumps 17, thereby manufacturing a multilayer wiring printed board having the solder 17 ( FIG. 10 (c)).

【0103】(実施例3)(16)のソルダーレジスト樹脂
組成物を調製する工程において、さらに、エラストマー
として、末端エポキシ化ポリブタジエン7重量部を添加
したほかは、実施例1と同様にして、多層プリント配線
板を製造した。
Example 3 A multilayer resist was prepared in the same manner as in Example 1, except that 7 parts by weight of an epoxidized polybutadiene was added as an elastomer in the step (16) of preparing the solder resist resin composition. A printed wiring board was manufactured.

【0104】(実施例4)(14)のソルダーレジスト樹脂
組成物を調製する工程において、さらに、エラストマー
として、末端エポキシ化ポリブタジエン7重量部を添加
したほかは、実施例2と同様にして、多層プリント配線
板を製造した。
(Example 4) In the same manner as in Example 2, except that 7 parts by weight of an epoxidized polybutadiene was added as an elastomer in the step of preparing the solder resist resin composition of (14). A printed wiring board was manufactured.

【0105】(比較例1)無機フィラーが添加されてい
ないほかは、実施例1と同様の割合で樹脂層を含むソル
ダーレジスト樹脂組成物を使用した以外は、実施例1と
同様にして、プリント配線板を得た。
Comparative Example 1 Printing was performed in the same manner as in Example 1 except that a solder resist resin composition including a resin layer was used in the same ratio as in Example 1 except that no inorganic filler was added. A wiring board was obtained.

【0106】(比較例2)無機フィラーが添加されてい
ないほかは、実施例2と同様の割合で樹脂層を含むソル
ダーレジスト樹脂組成物を使用した以外は、実施例2と
同様にして、プリント配線板を得た。以上、上記実施例
1〜4および比較例1〜2で得られたプリント配線板に
ついて、相対湿度85%、130℃の雰囲気下で300
時間放置する信頼性試験を行った後、半田バンプ部分を
顕微鏡で観察した。また、上記試験後のプリント配線板
をカッターで切断し、ソルダーレジスト層の部分を顕微
鏡で観察した。
Comparative Example 2 Printing was performed in the same manner as in Example 2 except that a solder resist resin composition containing a resin layer was used in the same ratio as in Example 2 except that no inorganic filler was added. A wiring board was obtained. As described above, the printed wiring boards obtained in Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 and 2 were subjected to a relative humidity of 85% and an atmosphere of 130 ° C. for 300 hours.
After a reliability test in which the solder bumps were left for a time, the solder bumps were observed with a microscope. The printed wiring board after the test was cut with a cutter, and the solder resist layer was observed with a microscope.

【0107】また、−65℃の雰囲気下に3分維持した
後、130℃の雰囲気下で3分維持するサイクルを20
00回繰り返すヒートサイクル試験を行い、その後、こ
れらプリント配線板をカッターで切断し、ソルダーレジ
スト層にクラック等が発生していないかを観察した。
Further, a cycle of maintaining for 3 minutes in an atmosphere of -65 ° C. and then for 3 minutes in an atmosphere of 130 ° C.
A heat cycle test was repeated 00 times, and then the printed wiring boards were cut with a cutter to observe whether cracks or the like occurred in the solder resist layer.

【0108】その結果、実施例1〜4で得られたプリン
ト配線板では、クラックや剥離の発生は見られず、半田
バンプの損傷や破壊も見られなかったが、比較例1〜2
で得られたプリント配線板では、信頼性試験後にソルダ
ーレジスト層にクラックが発生していることがわかっ
た。また、半田バンプの損傷も見られた。また、ヒート
サイクル試験に関し、実施例1〜4で得られたプリント
配線板ではクラック等が観察されなかったが、比較例1
〜2で得られたプリント配線板では、クラックが観察さ
れた。
As a result, in the printed wiring boards obtained in Examples 1 to 4, no crack or peeling was observed, and no damage or destruction of the solder bumps was observed.
It was found that cracks occurred in the solder resist layer after the reliability test in the printed wiring board obtained in (1). In addition, the solder bumps were also damaged. Regarding the heat cycle test, no cracks or the like were observed in the printed wiring boards obtained in Examples 1 to 4, but Comparative Example 1
In the printed wiring boards obtained in Nos. 1 to 2, cracks were observed.

【0109】[0109]

【発明の効果】以上説明してきたように、本発明のプリ
ント配線板によれば、プリント配線板のソルダーレジス
ト層が無機フィラーを含有しているので、線膨張係数が
低下し、プリント配線板の製造工程や該プリント配線板
にICチップ等の電子部品を搭載した後等において、ソ
ルダーレジスト層と他の部分との熱膨張差に起因するク
ラック等の発生を防止することができる。
As described above, according to the printed wiring board of the present invention, since the solder resist layer of the printed wiring board contains an inorganic filler, the coefficient of linear expansion is reduced, and In a manufacturing process or after mounting an electronic component such as an IC chip on the printed wiring board, it is possible to prevent occurrence of cracks or the like due to a difference in thermal expansion between the solder resist layer and other portions.

【0110】また、本発明のソルダーレジスト樹脂組成
物によれば、該ソルダーレジスト樹脂組成物は、無機フ
ィラーを含有しているので、このソルダーレジスト樹脂
組成物を使用することにより、プリント配線板に無機フ
ィラーを含有するソルダーレジスト層を形成することが
でき、その結果、プリント配線板の製造工程等におい
て、ソルダーレジスト層と他の部分との熱膨張差に起因
するクラック等の発生を防止することができる。
Further, according to the solder resist resin composition of the present invention, since the solder resist resin composition contains an inorganic filler, the use of the solder resist resin composition makes it possible to form a printed wiring board. A solder resist layer containing an inorganic filler can be formed, and as a result, in a manufacturing process of a printed wiring board or the like, occurrence of cracks or the like due to a difference in thermal expansion between the solder resist layer and another portion is prevented. Can be.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)〜(d)は、本発明のプリント配線板の
製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 1A to 1D are cross-sectional views illustrating a part of a manufacturing process of a printed wiring board according to the present invention.

【図2】(a)〜(d)は、本発明のプリント配線板の
製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 2A to 2D are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the printed wiring board of the present invention.

【図3】(a)〜(d)は、本発明のプリント配線板の
製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 3A to 3D are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the printed wiring board of the present invention.

【図4】(a)〜(c)は、本発明のプリント配線板の
製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 4A to 4C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the printed wiring board of the present invention.

【図5】(a)〜(c)は、本発明のプリント配線板の
製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 5A to 5C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the printed wiring board of the present invention.

【図6】(a)〜(d)は、本発明のプリント配線板の
製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 6A to 6D are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the printed wiring board of the present invention.

【図7】(a)〜(d)は、本発明のプリント配線板の
製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 7A to 7D are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the printed wiring board of the present invention.

【図8】(a)〜(d)は、本発明のプリント配線板の
製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 8A to 8D are cross-sectional views illustrating a part of the manufacturing process of the printed wiring board of the present invention.

【図9】(a)〜(c)は、本発明のプリント配線板の
製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 9A to 9C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the printed wiring board of the present invention.

【図10】(a)〜(c)は、本発明のプリント配線板
の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 10A to 10C are cross-sectional views illustrating a part of the manufacturing process of the printed wiring board of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2a、2b 無電解めっき用接着剤層 2 層間樹脂絶縁層 4 下層導体回路 4a 粗化面 5 上層導体回路 6 バイアホール用開口 7 バイアホール 8 銅箔 9 スルーホール 9a 粗化面 10 樹脂充填材 11 粗化層 12 無電解めっき層 13 電解めっき層 14 ソルダーレジスト層 15 ニッケルめっき膜 16 金めっき膜 17 ハンダバンプ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2a, 2b Adhesive layer for electroless plating 2 Interlayer resin insulating layer 4 Lower conductor circuit 4a Roughened surface 5 Upper layer conductor circuit 6 Via hole opening 7 Via hole 8 Copper foil 9 Through hole 9a Roughened surface 10 Resin filling Material 11 Roughened layer 12 Electroless plated layer 13 Electroplated layer 14 Solder resist layer 15 Nickel plated film 16 Gold plated film 17 Solder bump

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鍾 暉 岐阜県揖斐郡揖斐川町北方1−1 イビデ ン株式会社大垣北工場内 Fターム(参考) 5E314 AA32 AA42 BB02 BB06 BB11 BB12 CC01 FF05 GG08 5E346 AA06 AA12 AA15 AA17 BB01 CC08 CC09 CC16 CC32 CC33 CC37 DD03 DD22 FF04 GG02 GG15 GG17 GG27 HH11 HH16 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing from the front page (72) Inventor 1-1, northern Ibikawa-cho, Ibi-gun, Gifu Prefecture F-term in the Ogaki-kita Plant (reference) 5E314 AA32 AA42 BB02 BB06 BB11 BB12 CC01 FF05 GG08 5E346 AA06 AA12 AA15 AA17 BB01 CC08 CC09 CC16 CC32 CC33 CC37 DD03 DD22 FF04 GG02 GG15 GG17 GG27 HH11 HH16

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板上に少なくとも導体回路が1層形成
され、最上層にソルダーレジスト層が形成されたプリン
ト配線板であって、前記ソルダーレジスト層は、無機フ
ィラーを含有していることを特徴とするプリント配線
板。
1. A printed wiring board having at least one conductive circuit formed on a substrate and a solder resist layer formed on an uppermost layer, wherein the solder resist layer contains an inorganic filler. And printed wiring board.
【請求項2】 前記無機フィラーは、アルミニウム化合
物、カルシウム化合物、カリウム化合物、マグネシウム
化合物、および、ケイ素化合物からなる群から選択され
た少なくとも1種である請求項1記載のプリント配線
板。
2. The printed wiring board according to claim 1, wherein the inorganic filler is at least one selected from the group consisting of an aluminum compound, a calcium compound, a potassium compound, a magnesium compound, and a silicon compound.
【請求項3】 前記無機フィラーは、その粒径が0.1
〜5.0μmの範囲にある請求項1または2記載のプリ
ント配線板。
3. The inorganic filler has a particle size of 0.1.
The printed wiring board according to claim 1, wherein the thickness is in a range from about 5.0 μm to about 5.0 μm.
【請求項4】 前記ソルダーレジスト層には、エラスト
マーが配合されている請求項1〜3のいずれかに記載の
プリント配線板。
4. The printed wiring board according to claim 1, wherein said solder resist layer contains an elastomer.
【請求項5】 請求項1〜4のいずれかに記載のプリン
ト配線板の製造に用いるソルダーレジスト樹脂組成物で
あって、ソルダーレジスト層用樹脂を含むペースト中に
無機フィラーが配合されてなることを特徴とするソルダ
ーレジスト樹脂組成物。
5. A solder resist resin composition used for producing the printed wiring board according to claim 1, wherein an inorganic filler is compounded in a paste containing a resin for a solder resist layer. A solder resist resin composition comprising:
【請求項6】 基板上に少なくとも導体回路が1層形成
され、最上層にソルダーレジスト層が形成されたプリン
ト配線板の製造方法であって、請求項5記載のソルダー
レジスト樹脂組成物を用いることを特徴とするプリント
配線板の製造方法。
6. A method for manufacturing a printed wiring board comprising at least one conductive circuit formed on a substrate and a solder resist layer formed on the uppermost layer, wherein the solder resist resin composition according to claim 5 is used. A method for manufacturing a printed wiring board, comprising:
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