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JP2001044448A - 電界効果トランジスタ、該電界効果トランジスタを含むモノリシックマイクロ波集積回路、及び設計方法 - Google Patents

電界効果トランジスタ、該電界効果トランジスタを含むモノリシックマイクロ波集積回路、及び設計方法

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JP2001044448A
JP2001044448A JP11215146A JP21514699A JP2001044448A JP 2001044448 A JP2001044448 A JP 2001044448A JP 11215146 A JP11215146 A JP 11215146A JP 21514699 A JP21514699 A JP 21514699A JP 2001044448 A JP2001044448 A JP 2001044448A
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Japan
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effect transistor
field
fet
electrode
circuit
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Hitoshi Kurusu
整 久留須
Jiyunichi Udomoto
純一 宇土元
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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    • HELECTRICITY
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    • H10D64/257Source or drain electrodes for field-effect devices for lateral devices wherein the source or drain electrodes are characterised by top-view geometrical layouts, e.g. interdigitated, semi-circular, annular or L-shaped electrodes
    • H10W20/484

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  • Junction Field-Effect Transistors (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Microwave Amplifiers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 整合回路等の回路要素を設けた場合であって
も、安定化条件が変わらない安定化回路を備えたFET
を提供する。 【解決手段】 FETの内部に安定化回路を形成して、
電力増幅器の使用周波数帯域で予めFETを安定化させ
ておく。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電力増幅器に用い
られる電界効果トランジスタ(FET:Field EffectTransi
stor)に関し、特に、ゲート電極の接続部とソース電極
との間に安定化回路を備えた電界効果トランジスタに関
する。
【0002】
【従来の技術】電界効果トランジスタ(以下、「FE
T」という。)を用いて電力増幅器を設計する場合、電
力増幅器の使用周波数帯域で、FETを発振させずに安
定動作させることが必要である。このために、一般に
は、電力増幅器内に、FETを安定化させる安定化回路
が設けられる。図9は、外部安定化回路34を備えた従
来構造の電力増幅器の回路図である。図9に示すよう
に、FET31の入力側、出力側にそれぞれ入力側整合
回路32、出力側整合回路33が設けられている。FE
T31のゲート電極と入力側整合回路32との間には、
外部安定化回路34が設けられ、電力増幅器の安定化を
図っている。かかる外部安定化回路34は、FET31
のSパラメータを測定し、その測定結果を元に設計され
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、電力増幅器の
回路には、外部安定化回路34と共に入力側整合回路3
2等も形成されるため、外部安定化回路34と他の回路
要素とが接近して配置される場合もある。かかる場合に
は、FET31のSパラメータを元に設計した外部安定
化回路34が、他の回路要素との相互作用により安定化
条件を満たさないようになり、FET31が発振してし
まう場合もあった。そこで、本発明は、整合回路等の回
路要素を設けた場合であっても、安定化条件が変わらな
い安定化回路を備えたFETを提供することを目的とす
る。
【0004】
【課題を解決するための手段】そこで、発明者らは鋭意
研究の結果、FETの内部に安定化回路を形成して、電
力増幅器の使用周波数帯域で予めFETを安定化させて
おくことにより、FETの外部に他の回路要素を設けて
もFETの安定化条件が変化しないことを見出し本発明
を完成した。
【0005】即ち、本発明は、電力増幅器に用いられる
FETであって、該FETのゲート電極が、対向配置さ
れたソース電極とドレイン電極との間に挟まれたフィン
ガ部と、該ゲート電極を外部と接続する電極部と、該フ
ィンガ部と該電極部との間を接続する接続部とを含み、
該接続部と該ソース電極との間に安定化回路が設けられ
たことを特徴とするFETである。このように、ゲート
電極の接続部とソース電極との間に安定化回路を設ける
ことにより、電力増幅器を設計する場合にFETの安定
化回路の設計は不要となり、インピーダンス整合のみを
考慮して設計すれば良いこととなる。また、安定化回路
を通るマイクロ波と整合回路等を通るマイクロ波の間の
干渉を防止することができ、設計通りの高周波特性を得
ることができる。
【0006】また、本発明は、上記ゲート電極が櫛歯状
電極となるように、複数の上記接続部が上記電極部に対
して略垂直に接続され、複数の該接続部と上記ソース電
極との間に、上記安定化回路がそれぞれ設けられたこと
を特徴とするFETでもある。櫛歯状のゲート電極を有
するFETでは、それぞれの接続部とソース電極との間
に安定化回路を設けることにより、安定化回路を通るマ
イクロ波と整合回路等を通るマイクロ波の間の干渉を防
止することができる。
【0007】上記安定化回路は、抵抗と容量を含むこと
が好ましい。
【0008】上記容量は、MIMキャパシタであること
が好ましい。
【0009】上記フィンガ部は、タングステンシリサイ
ド層と金層の積層構造からなり、上記抵抗は、該タング
ステンシリサイド層と同時に形成されたタングステンシ
リサイド抵抗からなることが好ましい。かかる抵抗を使
用することにより、製造工程の簡略化が可能となる。
【0010】上記ソース電極は、該ソース電極が上面に
形成された基板を貫通するバイアホールを介して該基板
の裏面に形成された裏面電極に電気的に接続されたこと
が好ましい。それぞれのソース電極の電位を等価にする
ことができるからである。
【0011】また、本発明は、請求項1又は2に記載の
FETを含むことを特徴とするモノリシックマイクロ波
集積回路でもある。本発明にかかるFETを使用してM
MICを設計することにより、MMIC上に別途安定化
回路を設けることが不要となるからである。
【0012】また、本発明は、請求項1又は2に記載の
FETを用いた電力増幅器の設計方法であって、該電力
増幅器の使用周波数帯域で安定化するような安定化回路
を備えた該FETを準備する準備工程と、該安定化した
FETに対して、該電力増幅器の使用周波数帯域で入力
側と出力側のインピーダンスが整合するように入力側整
合回路と出力側整合回路とを設計する設計工程とを備え
ることを特徴とするFETの設計方法でもある。かかる
設計方法を用いて電力増幅器を設計することにより、安
定化回路の設計が不要となり、FETの入力側及び出力
側のインピーダンス整合のみを考慮して電力増幅器を設
計すれば良いこととなる。従って、設計工程が簡略化さ
れ、設計効率の向上を図ることができる。
【0013】上記準備工程は、ゲート幅の異なる上記F
ETをそれぞれ準備する工程であり、上記設計工程は、
ゲート幅の異なる該FETのそれぞれに対して上記設計
を行う工程であることが好ましい。
【0014】
【発明の実施の形態】実施の形態1.図lは、本願発明
にかかる内部安定化回路を備えたFETのパターンであ
る。図1のFETは、櫛歯状のゲート電極1を有するマ
ルチフィンガ型FETである。ゲート電極1は、対向配
置されたソース電極2とドレイン電極3との間に挟まれ
たフィンガ部4を有する。ゲート電極1はまた、ゲート
電極1を外部と接続する電極部5を有する。フィンガ部
4と電極部5との間は、接続部6により接続されてい
る。接続部5とソース電極2との間には、それぞれ安定
化回路7が設けられている。安定化回路7は、抵抗8と
容量9から形成されている。
【0015】図2は、図1のFETの等価回路図であ
る。図2に示すように、図1のFETは、並列に接続さ
れた複数のFETユニット11から構成される。各FE
Tユニット11は、ゲート(G)、ソース(S)、ドレ
イン(D)からなるFETを含む。各FETユニット1
1はまた、ゲートとソースとの間に接続された抵抗11
と容量12からなる内部安定化回路14を含む。
【0016】図3は、図2の等価回路に示すFETの周
波数特性である。横軸はFETに印加される周波数を示
す。また、縦軸はFETの利得を示す。利得は、FET
が発振しない周波数帯域ではMAG(Maximum Availabl
e Gain:最大有能利得)として表示され、FETが発振
する領域ではMSG(Maximum Stable Gain:最大安定
利得)として表示される。電力増幅器の設計は、利得が
MAG領域となる周波数帯域を用いて行うことが必要で
ある。従って、広い周波数帯域に渡ってMAG領域が広
がることが好ましい。
【0017】図3に示すように、図2に示すFETで
は、ほぼ全周波数帯域に渡って利得がMAG領域となっ
ている。従って、かかるFETを用いて電力増幅器を設
計する場合、FETの安定化を考慮する必要がなくな
り、FETの入力側、出力側のインピーダンス整合のみ
を考慮して設計すれば良いこととなる。なお、内部安定
化回路14を構成する抵抗11及び容量12を適当に選
択することにより、所定の使用周波数帯域において利得
(MAG)を大きくすることができる。
【0018】このように、本実施の形態では、図2の等
価回路に示すように、FETの安定化回路が、FETを
構成する各FETユニット11内に設けられている。こ
のため、FETを用いて電力増幅器を設計する場合、F
ETの安定化回路の設計は不要となり、主に、入力側、
出力側のインピーダンス整合を考慮して設計を行えば良
いこととなる。また、各FETユニットの内部に安定化
回路14が設けられているため、FETの外部に設けら
れた整合回路等との間の距離が大きくなり、安定化回路
を通るマイクロ波と整合回路等を通るマイクロ波の間の
干渉を防止することができる。このため、本実施の形態
にかかるFETを用いた電力増幅器では、設計通りの高
周波特性を得ることができる。
【0019】図4は、本実施の形態にかかるFETを用
いたモノリシックマイクロ波集積回路(MMIC:Monolithi
c Microwave IC)電力増幅器の平面図である。このよう
に、本実施の形態にかかるFETを用いることにより、
FETの外部回路として安定化回路を設ける必要がなく
なる。
【0020】一般に、電力増幅器を設計する場合、ま
ず、ゲート幅の異なる複数のFETが準備される。各F
ETには、予め、所定の周波数で安定化するように内部
安定化回路が設けられている。次に、各FETに対し
て、入力側、及び出力側の整合回路が設計、作製され
る。このように、内部安定化回路を予め形成しておくこ
とにより、従来のようなマイクロ波の干渉による発振を
防止することができる。これに加えて、設計段階でFE
Tの安定化を考慮する必要がないため、設計時間の短縮
等が可能となり設計効率が向上する。
【0021】(比較例)図5は従来構造のマルチフィン
ガ型FETの等価回路図である。図5に示すように、か
かるFETは、並列に接続されたFETユニット11’
を含み、また各FETユニット11’は、ゲート
(G)、ソース(S)、ドレイン(D)からなるFET
を含む。図2とは異なり、各FETユニットは内部安定
化回路を含まず、安定化回路は、マルチフィンガ型FE
Tの外部に設けられることとなる。
【0022】図6は、図5の等価回路に示すFETの周
波数特性である。図3と同様に、横軸はFETに印加さ
れる周波数を示し、縦軸はFETの利得を示す。図6か
ら明らかなように、図5に示すFETでは、FETが発
振しないMAG領域と、FETが発振するMSG領域と
が現れている。特に、本比較例では、MSG領域の方
が、MAG領域より広くなっている。
【0023】従って、図5の等価回路に示すFETを用
いて電力増幅器を設計する場合、電力増幅器の使用周波
数帯域において、FETの利得がMAG領域になるよう
に、FETの外部に安定化回路を設けることが必要とな
る。
【0024】しかしながら、図9に示すような外部安定
化回路34を設けた場合、例えば、入力側整合回路32
との距離が近いため、外部安定化回路34を通るマイク
ロ波と入力側整合回路32を通るマイクロ波とが干渉す
る場合がある。このようなマイクロ波の干渉が発生した
場合、電力増幅器は、設計通りの高周波特性を示さない
こととなる。
【0025】実施の形態2.図7は、本発明の実施の形
態2にかかるFETユニットの部分断面図である。図7
のFETユニットは、半導体基板21の上面にゲート電
極のフィンガ部4、ソース電極2、ドレイン電極3がそ
れぞれ設けられている。フィンガ部4は、下層のタング
ステンシリサイド(WSi)電極22と上層の金電極2
3の2層からなる。半導体基板21には、半導体基板2
1を貫通するようにバイアホール24が形成され、ま
た、半導体基板21の裏面には金の裏面電極25が設け
られている。ソース電極2と裏面電極25とはバイアホ
ール24により電気的に接続される。
【0026】図7のFETユニットが並列に接続され
て、図1に示すようなFETが構成される。従って、そ
れぞれのソース電極2が、バイアホール24を介して裏
面電極25に電気的に接続されるため、各ソース電極2
を等しい電位とすることができる。かかるFETとして
は、例えばSIVTUB(Source Island Via‐hole TU
B)構造のFETがある。なお、図7の断面図には表れ
ないが、各ゲート電極1の接続部(図示せず)とソース
電極2との間には、抵抗と容量からなる安定化回路(図
示せず)が設けられている。
【0027】実施の形態3.図8は、本発明の実施の形
態3にかかるFETのゲート電極のフィンガ部4、及び
安定化回路を構成する抵抗8の断面図である。図8のフ
ィンガ部は、半導体基板21上に形成された、タングス
テンシリサイド(WSi)下層電極22と、金(Au)
上層電極23から形成されている。また、抵抗8は、下
層電極22はタングステンシリサイド(WSi)からな
る。タングステンシリサイドは、金等に比較して抵抗率
が高いため、抵抗として機能させることができる。
【0028】抵抗8は、下層電極22の形成工程と同じ
工程で、半導体基板21上の所定の位置に、例えば、ス
パッタ法等を用いて形成される。その後、例えばレジス
トで抵抗8の上面を覆った状態で、下層電極22の上に
金の蒸着等を行い、上層電極23を形成する。本実施の
形態では、フィンガ部4の形成工程において、同時に抵
抗8が形成されるため、製造工程の簡略化を図ることが
できる。
【0029】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
にかかるFETでは、FETの内部に安定化回路を有す
るため、電力増幅器の設計工程において、安定化回路の
設計は不要となり、設計工程の簡略化が可能となる。
【0030】また、FETの外部に設けられる整合回路
等と、安定化回路との相互作用をほぼ無視することがで
き、設計通りの高周波特性を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態1にかかるFETの平面
図である。
【図2】 本発明の実施の形態1にかかるFETの等価
回路図である。
【図3】 本発明の実施の形態1にかかるFETの周波
数と利得の関係である。
【図4】 本発明の実施の形態1にかかるFETを用い
たMMICの平面図である。
【図5】 従来構造のFETの等価回路図である。
【図6】 従来構造のFETの周波数と利得の関係であ
る。
【図7】 本発明の実施の形態2にかかるFETの部分
断面図である。
【図8】 本発明の実施の形態3にかかるFETの部分
断面図である。
【図9】 従来構造の電力増幅器の回路図である。
【符号の説明】
1 ゲート電極、2 ソース電極、3 ドレイン電極、
4 フィンガ部、5電極部、6 接続部、7 内部安定
化回路、8 抵抗、9 容量、11 FETユニット。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電力増幅器に用いられる電界効果トラン
    ジスタであって、該電界効果トランジスタのゲート電極
    が、 対向配置されたソース電極とドレイン電極との間に挟ま
    れたフィンガ部と、該ゲート電極を外部と接続する電極
    部と、 該フィンガ部と該電極部との間を接続する接続部とを含
    み、 該接続部と該ソース電極との間に安定化回路が設けられ
    たことを特徴とする電界効果トランジスタ。
  2. 【請求項2】上記ゲート電極が櫛歯状電極となるよう
    に、複数の上記接続部が上記電極部に対して略垂直に接
    続され、複数の該接続部と上記ソース電極との間に、上
    記安定化回路がそれぞれ設けられたことを特徴とする請
    求項1に記載の電界効果トランジスタ。
  3. 【請求項3】 上記安定化回路が、抵抗と容量を含むこ
    とを特徴とする請求項1又は2のいずれかに記載の電界
    効果トランジスタ。
  4. 【請求項4】 上記容量が、MIMキャパシタであるこ
    とを特徴とする請求項3に記載の電界効果トランジス
    タ。
  5. 【請求項5】 上記フィンガ部が、タングステンシリサ
    イド層と金層の積層構造からなり、上記抵抗が、該タン
    グステンシリサイド層と同時に形成されたタングステン
    シリサイド抵抗からなることを特徴とする請求項3に記
    載の電界効果トランジスタ。
  6. 【請求項6】 上記ソース電極が、該ソース電極が上面
    に形成された基板を貫通するバイアホールを介して該基
    板の裏面に形成された裏面電極に電気的に接続されたこ
    とを特徴とする請求項1又は2のいずれかに記載の電界
    効果トランジスタ。
  7. 【請求項7】 請求項1又は2に記載の電界効果トラン
    ジスタを含むことを特徴とするモノリシックマイクロ波
    集積回路。
  8. 【請求項8】 請求項1又は2に記載の電界効果トラン
    ジスタを用いた電力増幅器の設計方法であって、 該電力増幅器の使用周波数帯域で該電界効果トランジス
    タが安定化するような安定化回路を備えた該電界効果ト
    ランジスタを準備する準備工程と、 該電界効果トランジスタに対して、該電力増幅器の使用
    周波数帯域で入力側と出力側のインピーダンスが整合す
    るように入力側整合回路と出力側整合回路とを設計する
    設計工程とを備えることを特徴とする電界効果トランジ
    スタの設計方法。
  9. 【請求項9】 上記準備工程が、ゲート幅の異なる複数
    の上記電界効果トランジスタをそれぞれ準備する工程で
    あり、 上記設計工程が、ゲート幅の異なる該電界効果トランジ
    スタのそれぞれに対して上記設計を行う工程であること
    を特徴とする請求項8に記載の設計方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003142952A (ja) * 2001-10-30 2003-05-16 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路の設計方法および半導体装置
JP2007027317A (ja) * 2005-07-14 2007-02-01 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
WO2013160962A1 (ja) * 2012-04-27 2013-10-31 三菱電機株式会社 Fetチップ

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6642578B1 (en) 2002-07-22 2003-11-04 Anadigics, Inc. Linearity radio frequency switch with low control voltage
JP4190931B2 (ja) * 2003-03-28 2008-12-03 三菱電機株式会社 半導体装置
CN102386170A (zh) * 2010-09-03 2012-03-21 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 场效应晶体管器件
JP6488720B2 (ja) * 2015-01-23 2019-03-27 三菱電機株式会社 半導体装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01132171A (ja) * 1987-11-17 1989-05-24 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JPH0290561A (ja) * 1988-09-28 1990-03-30 Hitachi Ltd 半導体素子
JPH07240369A (ja) * 1994-03-01 1995-09-12 Fujitsu Ltd マイクロ波・ミリ波モノリシック集積回路
JPH11103072A (ja) * 1997-09-29 1999-04-13 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置およびその製造方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3062358B2 (ja) 1992-10-08 2000-07-10 松下電子工業株式会社 マイクロ波集積回路素子
JPH09283710A (ja) 1996-04-08 1997-10-31 Oki Electric Ind Co Ltd Fetのゲートバイアス回路
JPH1083998A (ja) 1996-09-09 1998-03-31 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
US6177834B1 (en) * 1998-12-02 2001-01-23 Ericsson, Inc. Output matched LDMOS power transistor device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01132171A (ja) * 1987-11-17 1989-05-24 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JPH0290561A (ja) * 1988-09-28 1990-03-30 Hitachi Ltd 半導体素子
JPH07240369A (ja) * 1994-03-01 1995-09-12 Fujitsu Ltd マイクロ波・ミリ波モノリシック集積回路
JPH11103072A (ja) * 1997-09-29 1999-04-13 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置およびその製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003142952A (ja) * 2001-10-30 2003-05-16 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路の設計方法および半導体装置
JP2007027317A (ja) * 2005-07-14 2007-02-01 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
WO2013160962A1 (ja) * 2012-04-27 2013-10-31 三菱電機株式会社 Fetチップ

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