[go: up one dir, main page]

JP2000329808A - S parameter test set and signal separator - Google Patents

S parameter test set and signal separator

Info

Publication number
JP2000329808A
JP2000329808A JP11139317A JP13931799A JP2000329808A JP 2000329808 A JP2000329808 A JP 2000329808A JP 11139317 A JP11139317 A JP 11139317A JP 13931799 A JP13931799 A JP 13931799A JP 2000329808 A JP2000329808 A JP 2000329808A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
port
path
loss
switch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11139317A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4299401B2 (en
Inventor
Kiwa Nakayama
喜和 中山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP13931799A priority Critical patent/JP4299401B2/en
Publication of JP2000329808A publication Critical patent/JP2000329808A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4299401B2 publication Critical patent/JP4299401B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To widen a dynamic range when a transmission coefficient is measured. SOLUTION: This S parameter test set 20 includes five selector switches 21, 22, 23, 24, 25, three signal separators 26, 27, 28, and two test ports 30, 32. When a transmission coefficient S21 is measured, each connection condition of the switches 21 to 23 is set on the contact (a) side, and each connection condition of the switches 24, 25 is set on the contact (b) side. A signal outputted from a signal source 12 is inputted into a port 1 on one side of a measured device 40 through the test port 30 and the signal separator 26, and a signal outputted from a port 2 on the other side is led to a receiving circuit 14 through the changeover switch 24, a signal wire 36, and the changeover switch 25, and detected to measure the transmission coefficient S21.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ネットワークアナ
ライザ等を用いてSパラメータ測定を行う場合に用いら
れるSパラメータテストセットおよび信号分離器に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an S-parameter test set and a signal separator used when measuring S-parameters using a network analyzer or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、所定の正弦波信号を入力して
線形回路網の各種のパラメータ測定を行う計測器として
ネットワークアナライザが用いられている。実際に各種
のパラメータを測定する場合には、測定するパラメータ
に適したテストセットが用意され、これをネットワーク
アナライザに取り付けることにより、被測定デバイスと
ネットワークアナライザとの間で信号の入出力が行わ
れ、これにより各種パラメータの測定が可能になる。測
定可能な項目としては、例えば、Sパラメータ、位相特
性、電圧定在波比(VSWR)等があげられる。なお、
上述したテストセットがネットワークアナライザに内蔵
されている場合もあるが、本明細書においては、ネット
ワークアナライザとは別にテストセットが用意されてい
るものとする。
2. Description of the Related Art Conventionally, a network analyzer has been used as a measuring instrument for measuring various parameters of a linear circuit network by inputting a predetermined sine wave signal. When actually measuring various parameters, a test set suitable for the parameters to be measured is prepared, and by attaching this to the network analyzer, signals are input and output between the device under test and the network analyzer. Thus, various parameters can be measured. Items that can be measured include, for example, S-parameters, phase characteristics, and voltage standing wave ratio (VSWR). In addition,
Although the above-described test set may be built in the network analyzer, it is assumed in this specification that the test set is prepared separately from the network analyzer.

【0003】上述したネットワークアナライザを用いて
被測定デバイスのSパラメータを測定する場合には、S
パラメータ測定用に用意されたSパラメータテストセッ
トが用いられる。図9は、従来のSパラメータテストセ
ットの構成を示す図であり、Sパラメータテストセット
に含まれる各構成部とネットワークアナライザおよび被
測定デバイスとの間の接続状態が示されている。
When measuring the S-parameters of a device under test using the above-described network analyzer,
An S-parameter test set prepared for parameter measurement is used. FIG. 9 is a diagram showing a configuration of a conventional S-parameter test set, and shows a connection state between each component included in the S-parameter test set, a network analyzer, and a device under test.

【0004】ネットワークアナライザ90は、1つの信
号源92と3つの受信回路94、96、98を含んで構
成されており、これらと被測定デバイス(DUT)10
0との接続状態をSパラメータテストセット80によっ
て切り替えることにより、被測定デバイス100に関す
る2つの伝送係数S21、S12と2つの反射係数S11、S
22の測定が行われる。
The network analyzer 90 includes one signal source 92 and three receiving circuits 94, 96, 98, which are connected to a device under test (DUT) 10.
By switching the connection state to 0 by the S-parameter test set 80, two transmission coefficients S 21 and S 12 and two reflection coefficients S 11 and S regarding the device under test 100 are changed.
22 measurements are made.

【0005】Sパラメータテストセット80は、信号源
92の接続先を切り替えるスイッチ82と、2つのポー
ト102、104のそれぞれを介して入出力される信号
を分離する2つの信号分離器84、86とを含んで構成
されている。例えば、伝送係数S21を測定する場合に
は、スイッチ82を接点a側に切り替えて、信号源92
から出力された信号を被測定デバイス100のポート1
に入力するとともにポート2から出力される信号を受信
回路94で受信して検波する。信号源92から出力され
る信号は、常に受信回路98に入力されて検波されてお
り、これら2つの受信回路94、98によって検出され
た信号の電力の比を求めることにより、伝送係数S21
測定が行われる。同様に、伝送係数S12を測定する場合
には、スイッチ82を接点b側に切り替えて、信号源9
2から出力された信号を被測定デバイス100のポート
2に入力するとともにポート1から出力される信号を受
信回路96で受信して検波する。そして、この受信回路
96で検出された信号の電力と信号源92に接続された
受信回路98によって検出された信号の電力との比を求
めることにより、伝送係数S12の測定が行われる。
[0005] The S-parameter test set 80 includes a switch 82 for switching a connection destination of a signal source 92 and two signal separators 84 and 86 for separating signals input and output through two ports 102 and 104, respectively. It is comprised including. For example, when measuring the transmission coefficient S 21 , the switch 82 is switched to the contact “a” and the signal source 92 is switched.
The signal output from port 1 of the device under test 100
And a signal output from the port 2 is received by the receiving circuit 94 and detected. The signal output from the signal source 92 is always input to the receiving circuit 98 and detected, and the ratio between the powers of the signals detected by the two receiving circuits 94 and 98 is calculated to obtain the transmission coefficient S 21 . A measurement is taken. Similarly, when measuring the transmission coefficient S 12 , the switch 82 is switched to the contact “b” and the signal source 9 is turned on.
The signal output from port 2 is input to port 2 of device under test 100, and the signal output from port 1 is received by reception circuit 96 for detection. Then, by obtaining the ratio of the power of the signal detected by the receiving circuit 98 connected to the power and signal source 92 of the signal detected by the receiving circuit 96, the measurement of the transmission coefficient S 12 is performed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したよ
うに従来のSパラメータテストセット80を用いて被測
定デバイス100の2つの伝送係数S21、S12を測定す
る場合に、信号源92から出力される信号の伝送経路に
2つの信号分離器84、86が含まれており、損失が生
じるため、その分だけダイナミックレンジが狭くなると
いう問題があった。例えば、一方の信号分離器84は、
信号源92と被測定デバイス100との間の接続を行う
経路の損失が小さくなるように設定されているととも
に、被測定デバイス100と受信回路96との間の経路
の損失が大きくなるように設定されているものとする。
また、他方の信号分離器86は、信号源92と被測定デ
バイス100との間の接続を行う経路の損失が小さくな
るように設定されているとともに、被測定デバイス10
0と受信回路94との間の経路の損失が大きくなるよう
に設定されているものとする。このような2つの信号分
離器84、86を用いて伝送係数S21を測定する場合に
は、被測定デバイス100のポート2から出力された信
号を受信回路94側に導く際に、信号分離器86で大き
な減衰が生じるため、受信回路94に入力される信号の
レベルが小さくなってダイナミックレンジが悪化する。
同様に、伝送係数S12を測定する場合には、被測定デバ
イス100のポート1から出力された信号を受信回路9
6に導く際に、信号分離器84で大きな減衰が生じるた
め、受信回路96に入力される信号のレベルが小さくな
ってダイナミックレンジが悪化する。
As described above, when the two transmission coefficients S 21 and S 12 of the device under test 100 are measured using the conventional S-parameter test set 80, the output from the signal source 92 is measured. Since the two signal separators 84 and 86 are included in the transmission path of the signal to be transmitted, and a loss occurs, there is a problem that the dynamic range is narrowed accordingly. For example, one signal separator 84
The path between the signal source 92 and the device under test 100 is set so as to reduce the loss of the path for connection, and the path between the device under test 100 and the receiving circuit 96 is set so as to increase the loss. It is assumed that
Further, the other signal separator 86 is set so that the loss of a path for connecting between the signal source 92 and the device under test 100 is reduced, and the device under test 10
It is assumed that the setting is made such that the loss of the path between 0 and the receiving circuit 94 increases. When the transmission coefficient S 21 is measured using the two signal separators 84 and 86, when the signal output from the port 2 of the device under test 100 is guided to the receiving circuit 94 side, the signal separator Since a large attenuation occurs at 86, the level of the signal input to the receiving circuit 94 decreases, and the dynamic range deteriorates.
Similarly, when measuring the transmission coefficient S 12 , the signal output from the port 1 of the device under test 100 is
In leading to 6, the signal separator 84 undergoes a large attenuation, so that the level of the signal input to the receiving circuit 96 decreases and the dynamic range deteriorates.

【0007】本発明は、このような点に鑑みて創作され
たものであり、その目的は、伝送係数を測定する際のダ
イナミックレンジを広げることができるSパラメータテ
ストセットおよび信号分離器を提供することにある。
[0007] The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide an S-parameter test set and a signal separator capable of expanding a dynamic range when measuring a transmission coefficient. It is in.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、本発明のSパラメータテストセットは、被測定
デバイスの各ポートと信号源および受信回路とを接続す
る複数の信号分離器を有するとともに、被測定デバイス
の伝送係数を測定する際に信号の伝送経路上に存在する
複数の信号分離器の少なくとも一つを迂回する迂回経路
が設けられている。したがって、伝送される信号の損失
が大きい信号分離器を介さずに信号を伝送することがで
き、伝送係数測定の際のダイナミックレンジを広く設定
することができる。
In order to solve the above-mentioned problems, an S-parameter test set of the present invention has a plurality of signal separators for connecting each port of a device under test to a signal source and a receiving circuit. In addition, a bypass path is provided that bypasses at least one of the plurality of signal separators existing on the signal transmission path when measuring the transmission coefficient of the device under test. Therefore, the signal can be transmitted without passing through the signal separator in which the loss of the transmitted signal is large, and the dynamic range at the time of measuring the transmission coefficient can be set wide.

【0009】また、上述した迂回経路は、スイッチと信
号線によって構成し、スイッチを切り替えることによ
り、信号分離器を介すことなく受信回路と信号源の少な
くとも一方と被測定デバイスとの間をつなぐ信号線を迂
回経路として用いることが望ましい。スイッチを操作す
るだけで信号分離器を介さない迂回経路を設定すること
ができるため、迂回経路の切り替え制御が容易となる。
Further, the above-mentioned detour path is constituted by a switch and a signal line, and by switching the switch, connects between the receiving circuit, at least one of the signal sources, and the device under test without a signal separator. It is desirable to use a signal line as a bypass route. By simply operating the switch, a detour path that does not pass through the signal separator can be set, so that the detour path switching control is facilitated.

【0010】また、上述した信号分離器は、損失が小さ
なスルーポートと損失が大きなカップリングポートを有
しており、伝送係数を測定する際にカップリングポート
を介して信号が伝送される信号分離器の代わりに迂回経
路を用いた信号の伝送を行うことが望ましい。カップリ
ングポートを介して信号の伝送を行う場合に大きな損失
が生じるため、このような場合に迂回経路を用いるよう
にすれば、伝送される信号の損失を低減することがで
き、広いダイナミックレンジを確保することができる。
Further, the above-mentioned signal separator has a through port having a small loss and a coupling port having a large loss, and the signal separation through which the signal is transmitted through the coupling port when measuring the transmission coefficient. It is desirable to perform signal transmission using a detour path instead of a device. Since a large loss occurs when transmitting a signal through the coupling port, if a bypass path is used in such a case, the loss of the transmitted signal can be reduced, and a wide dynamic range can be obtained. Can be secured.

【0011】また、本発明の信号分離器は、被測定デバ
イスの各ポートと信号源および受信回路とを接続すると
ともに、被測定デバイスの伝送係数を測定する際に信号
の伝送経路上に存在する高損失経路を迂回する低損失経
路が設けられている。したがって、この信号分離器を介
して信号を伝送する際に内部に形成された低損失経路を
用いることにより、伝送係数測定の際のダイナミックレ
ンジを広く設定することができる。
Further, the signal separator of the present invention connects each port of the device under test to a signal source and a receiving circuit, and exists on a signal transmission path when measuring a transmission coefficient of the device under test. A low loss path bypassing the high loss path is provided. Therefore, by using a low-loss path formed inside when transmitting a signal through this signal separator, a dynamic range for measuring a transmission coefficient can be set wide.

【0012】また、複数の抵抗と複数のスイッチとを有
するブリッジ回路によって信号分離器を構成し、このス
イッチを切り替えることにより、対向する2つの抵抗の
抵抗値の大小関係を反転させて、高損失経路と低損失経
路との切り替えを行うことが望ましい。あるいは、複数
の抵抗と複数のスイッチとを有するブリッジ回路によっ
て信号分離器を構成し、このスイッチを切り替えること
により、抵抗を介さずに信号の伝送を行う短絡経路とし
ての低損失経路と高損失経路との切り替えを行うことが
望ましい。スイッチを操作するだけで低損失経路を介し
た信号の伝送が可能となり、低損失経路と高損失経路と
の切り替え制御が容易となる。
Further, a signal separator is constituted by a bridge circuit having a plurality of resistors and a plurality of switches, and by switching these switches, the magnitude relationship between the resistance values of the two opposing resistors is inverted, thereby achieving high loss. It is desirable to switch between the path and the low-loss path. Alternatively, a signal separator is constituted by a bridge circuit having a plurality of resistors and a plurality of switches, and by switching these switches, a low-loss path and a high-loss path as short-circuit paths for transmitting signals without using a resistor. It is desirable to perform switching. Signals can be transmitted through the low-loss path only by operating the switch, and control of switching between the low-loss path and the high-loss path is facilitated.

【0013】また、互いに部分的に接近させた複数の伝
送用導体とスイッチとを有するカップラによって信号分
離器を構成し、このスイッチを切り替えることにより、
複数の伝送用導体の接近部分を含んで形成される高損失
経路とスイッチによって形成される短絡経路としての低
損失経路との切り替えを行うようにしてもよい。この場
合も、ブリッジ回路を用いて信号分離器を構成した場合
と同様に、カップラ内に形成された低損失経路としての
短絡経路と高損失経路との間の切り替え制御が容易とな
る。
Further, a signal separator is constituted by a coupler having a plurality of transmission conductors and a switch partially approached to each other, and by switching this switch,
Switching may be performed between a high-loss path formed including the approaching portions of the plurality of transmission conductors and a low-loss path as a short-circuit path formed by the switch. Also in this case, the switching control between the short-circuit path as the low-loss path formed in the coupler and the high-loss path becomes easy as in the case where the signal separator is configured using the bridge circuit.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、本発明を適用した一実施形
態のSパラメータテストセットおよび信号分離器につい
て、図面を参照しながら説明する。例えば、本発明が適
用される一実施形態の計測器として、2ポートデバイス
のSパラメータ測定を行うネットワークアナライザを考
えるものとする。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An S-parameter test set and a signal separator according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. For example, a network analyzer that performs S-parameter measurement of a two-port device is considered as a measuring instrument according to an embodiment to which the present invention is applied.

【0015】〔第1の実施形態〕図1は、第1の実施形
態の計測器の構成を示す図であり、ネットワークアナラ
イザに2ポートデバイス用のSパラメータテストセット
が接続された状態が示されている。
[First Embodiment] FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a measuring instrument according to a first embodiment, showing a state in which an S-parameter test set for a two-port device is connected to a network analyzer. ing.

【0016】図1に示す計測器は、信号源と複数の受信
回路を含んでSパラメータの測定を行うネットワークア
ナライザ10と、ネットワークアナライザ10に対する
被測定デバイス(DUT)40の接続状態を切り替える
Sパラメータテストセット20とを含んで構成されてい
る。
The measuring instrument shown in FIG. 1 includes a network analyzer 10 including a signal source and a plurality of receiving circuits for measuring S parameters, and an S parameter for switching a connection state of a device under test (DUT) 40 to the network analyzer 10. And a test set 20.

【0017】ネットワークアナライザ10は、信号源1
2、3つの受信回路14、16、18を含んで構成され
ている。信号源12は、所定周波数の正弦波信号を発生
する。受信回路14、16、18は、Sパラメータテス
トセット20を介して送られてくる正弦波信号に対して
ベクトル検波を行う。例えば、各受信回路14等は、高
周波の入力信号に対して所定の局部発振信号を混合する
ことにより、その差成分である低周波信号への変換を行
い、この低周波信号を所定の抵抗値(例えば50Ω)を
有する抵抗を通すことにより電圧に変換する。
The network analyzer 10 includes a signal source 1
It is configured to include a few receiving circuits 14, 16 and 18. The signal source 12 generates a sine wave signal having a predetermined frequency. The receiving circuits 14, 16, and 18 perform vector detection on the sine wave signal transmitted via the S-parameter test set 20. For example, each receiving circuit 14 or the like converts a high frequency input signal into a low frequency signal which is a difference component by mixing a predetermined local oscillation signal with the high frequency input signal, and converts the low frequency signal into a predetermined resistance value. (For example, 50Ω) is converted into a voltage by passing through a resistor.

【0018】また、Sパラメータテストセット20は、
5つの切替スイッチ21、22、23、24、25、3
つの信号分離器26、27、28、2つのテストポート
30、32を含んで構成されている。2つのテストポー
ト30、32は、2ポートデバイスとしての被測定デバ
イス40がケーブルを介して接続される接続端子であ
る。切替スイッチ21は、ネットワークアナライザ10
内の信号源12で発生した信号の出力先を2つのテスト
ポート30、32のいずれかに切り替えるためのもので
ある。また、2つの切替スイッチ22、23は、信号分
離器26をバイパスするためのものであり、それぞれを
接点b側に切り替えることにより、損失がほどんどない
信号線34が信号分離器26の迂回経路として設定され
る。同様に、2つの切替スイッチ24、25は、信号分
離器27をバイパスするためのものであり、それぞれを
接点b側に切り替えることにより、損失がほとんどない
信号線36が信号分離器27の迂回経路として設定され
る。
The S-parameter test set 20 is
Five changeover switches 21, 22, 23, 24, 25, 3
It comprises two signal separators 26, 27, 28 and two test ports 30, 32. The two test ports 30 and 32 are connection terminals to which the device under test 40 as a two-port device is connected via a cable. The changeover switch 21 is connected to the network analyzer 10.
This is for switching the output destination of the signal generated by the signal source 12 in one of the two test ports 30 and 32. Further, the two changeover switches 22 and 23 are for bypassing the signal separator 26, and by switching each of them to the contact b side, the signal line 34 with little loss is connected to the detour path of the signal separator 26. Is set as Similarly, the two changeover switches 24 and 25 are for bypassing the signal separator 27, and by switching each of them to the contact b side, the signal line 36 with almost no loss is connected to the bypass path of the signal separator 27. Is set as

【0019】2つの信号分離器26、27のそれぞれ
は、対応するテストポート30、32を介して入出力さ
れる信号を分離するためのものである。例えば、ブリッ
ジ方式やカップラ方式の信号分離器が用いられる。信号
分離器26は、テストポート30と信号源12とを接続
する側の経路が損失の小さなスルーポートに対応し、テ
ストポート30と受信回路16とを接続する側の経路が
損失の大きなカップラポートに対応する。同様に、信号
分離器27は、テストポート32と信号源12とを接続
する側の経路が損失の小さなスルーポートに対応し、テ
ストポート30と受信回路14とを接続する側の経路が
損失の大きなカップラポートに対応する。また、信号分
離器28は、信号源12から延びた伝送線路を介して伝
送される信号の一部を受信回路18に送る。
Each of the two signal separators 26 and 27 is for separating a signal input / output through the corresponding test port 30 or 32. For example, a bridge type or coupler type signal separator is used. In the signal separator 26, the path on the side connecting the test port 30 and the signal source 12 corresponds to the through port with a small loss, and the path on the side connecting the test port 30 with the reception circuit 16 has a coupler port with a large loss. Corresponding to Similarly, in the signal separator 27, the path on the side connecting the test port 32 and the signal source 12 corresponds to the through port having a small loss, and the path on the side connecting the test port 30 and the receiving circuit 14 has a loss. It corresponds to a large coupler port. The signal separator 28 sends a part of the signal transmitted through the transmission line extending from the signal source 12 to the receiving circuit 18.

【0020】本実施形態のSパラメータテストセット2
0はこのような構成を有しており、次にその動作を説明
する。図2は、Sパラメータ測定時のスイッチ(SW)
21〜25の接続状態を示す図である。図2に示すよう
に、伝送係数S21および反射係数S11を測定する場合に
は、3つのスイッチ21〜23のそれぞれの接続状態が
接点a側に設定され、残りの2つのスイッチ24、25
のそれぞれの接続状態が接点b側に設定される。したが
って、信号源12から出力された信号は、信号分離器2
6およびテストポート30を介して被測定デバイス40
の一方のポート1に入力される。そして、この一方のポ
ート1から反射される信号が再び信号分離器26を通っ
て切替スイッチ23を介して受信回路16に導かれ、検
波されて反射係数S11の測定が行われる。また、被測定
デバイス40の他方のポート2から出力される信号が切
替スイッチ24、信号線36、切替スイッチ25を介し
て受信回路14に導かれ、検波されて伝送係数S21の測
定が行われる。
S-parameter test set 2 of this embodiment
0 has such a configuration, and its operation will be described next. FIG. 2 shows a switch (SW) for S-parameter measurement.
It is a figure which shows the connection state of 21-25. As shown in FIG. 2, when measuring the transmission coefficients S 21 and the reflection coefficient S 11, each connection state of the three switches 21 to 23 are set to the contact a side, the remaining two switches 24 and 25
Are set to the contact b side. Therefore, the signal output from the signal source 12 is
6 and the device under test 40 via the test port 30
Is input to one of the ports 1. Then, signals reflected from a port 1 of the one is led to the receiving circuit 16 through the switch 23 through the signal separator 26 again, the measurement of the reflection coefficient S 11 is performed is detected. The other signal changeover switch 24 to be output from the port 2 of the DUT 40, the signal line 36, is led to the receiving circuit 14 through the switch 25, the measurement of the transmission coefficient S 21 is performed is detected .

【0021】また、伝送係数S12および反射係数S22
測定する場合には、3つのスイッチ21〜23のそれぞ
れの接続状態が接点b側に設定され、残りの2つのスイ
ッチ24、25のそれぞれの接続状態が接点a側に設定
される。したがって、信号源12から出力された信号
は、信号分離器27およびテストポート32を介して被
測定デバイス40の他方のポート2に入力される。そし
て、この他方のポート2から反射される信号が再び信号
分離器27を通って切替スイッチ25を介して受信回路
14に導かれ、検波されて反射係数S22の測定が行われ
る。また、被測定デバイス40の一方のポート1から出
力される信号が切替スイッチ22、信号線34、切替ス
イッチ23を介して受信回路16に導かれ、検波されて
伝送係数S 12の測定が行われる。
The transmission coefficient S12And reflection coefficient Stwenty twoTo
When measuring, each of the three switches 21 to 23
The connection state is set to the contact b side, and the remaining two switches
Switches 24 and 25 are set to contact a side
Is done. Therefore, the signal output from the signal source 12
Is connected via the signal separator 27 and the test port 32.
It is input to the other port 2 of the measuring device 40. Soshi
The signal reflected from the other port 2 again
A receiving circuit through a changeover switch 25 through a separator 27
14 and is detected and reflected by the reflection coefficient S.twenty twoIs measured
You. In addition, output from one port 1 of the device under test 40 is performed.
The signal to be input is the changeover switch 22, the signal line 34, the changeover switch.
The signal is guided to the receiving circuit 16 via the switch 23 and detected.
Transmission coefficient S 12Is measured.

【0022】このように、伝送係数S21、S12を測定す
る場合には、被測定デバイス40から出力される信号を
受信回路14、16に導く際に、信号分離器27、26
を介さずに迂回経路としての信号線36、34が使用さ
れる。したがって、損失が大きな各信号分離器27、2
6のカップリングポートを介した信号の伝送が行われず
に、代わりに損失が小さな信号線36、34を介した信
号の伝送が行われる。このため、受信回路14、16に
入力される信号のレベルを大きくなって、伝送係数
21、S12を測定する際のダイナミックレンジを広げる
ことができる。
As described above, when the transmission coefficients S 21 and S 12 are measured, when the signals output from the device under test 40 are guided to the receiving circuits 14 and 16, the signal separators 27 and 26 are used.
The signal lines 36 and 34 are used as detour paths without passing through. Therefore, each signal separator 27, 2
The signal is not transmitted via the coupling port 6 and the signal is transmitted via the low-loss signal lines 36 and 34 instead. For this reason, the level of the signal input to the receiving circuits 14 and 16 can be increased, and the dynamic range when measuring the transmission coefficients S 21 and S 12 can be expanded.

【0023】〔第2の実施形態〕ところで、上述した第
1の実施形態では、伝送係数を測定する際に、信号の大
きな損失が生じる信号分離器を通さずに、代わりに迂回
経路を介した信号の伝送を行うようにしたが、この迂回
経路を必要に応じて切り替える機能を信号分離器に内蔵
するようにしてもよい。
[Second Embodiment] By the way, in the first embodiment described above, when measuring the transmission coefficient, the signal is not passed through a signal separator that causes a large loss of a signal, but is instead passed through a bypass path. Although the signal is transmitted, the function of switching the detour path as necessary may be built in the signal separator.

【0024】図3は、第2の実施形態の信号分離器の詳
細構成を示す図である。また、図4は図3に示す信号分
離器50の各ポートの対応関係を示す図である。図3に
示すように、信号分離器50はブリッジ回路によって実
現されており、5つの抵抗51〜55と4つの切替スイ
ッチ56〜59とを含んで構成されている。
FIG. 3 is a diagram showing a detailed configuration of the signal separator of the second embodiment. FIG. 4 is a diagram showing the correspondence of each port of the signal separator 50 shown in FIG. As shown in FIG. 3, the signal separator 50 is realized by a bridge circuit and includes five resistors 51 to 55 and four changeover switches 56 to 59.

【0025】2つの切替スイッチ56、57に挟まれた
2つの抵抗52、54が択一的に選択される。例えば、
スイッチ56、57のそれぞれを接点a側に切り替える
ことにより抵抗値R1 を有する抵抗52が選択され、反
対に接点b側に切り替えることにより抵抗値R1 ′を有
する抵抗54が選択される。
The two resistors 52, 54 sandwiched between the two changeover switches 56, 57 are selected alternatively. For example,
By switching each of the switches 56 and 57 to the contact a side, the resistor 52 having the resistance value R 1 is selected, and conversely, by switching to the contact b side, the resistor 54 having the resistance value R 1 ′ is selected.

【0026】同様に、2つの切替スイッチ58、59に
挟まれた2つの抵抗53、55が択一的に選択される。
例えば、スイッチ58、59のそれぞれを接点a側に切
り替えることにより抵抗値R2 を有する抵抗53が選択
され、反対に接点b側に切り替えることにより抵抗値R
2 ′を有する抵抗55が選択される。
Similarly, the two resistors 53 and 55 sandwiched between the two changeover switches 58 and 59 are alternatively selected.
For example, the resistance 53 having a resistance value R 2 by switching the respective switches 58 and 59 to the contact a side is selected, the resistance value R by switching to the contact point b side opposite
The resistor 55 having 2 'is selected.

【0027】ところで、上述した信号分離器50におい
て、4つの切替スイッチ56〜59のそれぞれを接点a
側に切り替えたときに選択される2つの抵抗52、53
の各抵抗値R1 、R2 の間には、R1 <R2 の関係があ
る。このような接続状態においては、端子B、B′によ
って構成されるポートB−B′から端子A、A′によっ
て構成されるポートA−A′に至る経路を通ったときに
生じる信号の損失が小さくなるとともに、ポートB−
B′から端子C、C′によって構成されるポートC−
C′に至る経路を通ったときに生じる信号の損失が大き
くなる。したがって、ポートB−B′に対してポートA
−A′がスルーポートとして機能し、ポートB−B′に
対してポートC−C′がカップリングポートとして機能
する。
In the signal separator 50 described above, each of the four changeover switches 56 to 59 is connected to the contact a.
The two resistors 52 and 53 selected when switching to the side
Have a relationship of R 1 <R 2 between the resistance values R 1 and R 2 . In such a connection state, a signal loss that occurs when a signal passes through a path from port BB 'formed by terminals B and B' to port AA 'formed by terminals A and A' is generated. Port B-
Port C- composed of terminals C and C 'from B'
The loss of a signal that occurs when the signal passes through the path leading to C 'increases. Therefore, port A is connected to port BB '.
-A 'functions as a through port, and port CC' functions as a coupling port with respect to port BB '.

【0028】また、上述した信号分離器50において、
4つの切替スイッチ56〜59のそれぞれを接点b側に
切り替えたときに選択される2つの抵抗54、55の各
抵抗値R1 ′、R2 ′の間には、R1 ′>R2 ′の関係
がある。このような接続状態においては、ポートB−
B′からポートA−A′に至る経路を通ったときに生じ
る信号の損失が大きく、ポートB−B′からポートC−
C′に至る経路を通ったときに生じる信号の損失が小さ
くなる。したがって、ポートB−B′に対してポートA
−A′がカップリングポートとして機能し、ポートB−
B′に対してポートC−C′がスルーポートとして機能
する。
In the signal separator 50 described above,
R 1 ′> R 2 ′ between the resistance values R 1 ′ and R 2 ′ of the two resistors 54 and 55 selected when each of the four changeover switches 56 to 59 is switched to the contact b side. There is a relationship. In such a connection state, port B-
A large signal loss occurs when the signal passes through the path from B 'to port AA', and the port C-
The loss of a signal that occurs when the signal passes through the path leading to C 'is reduced. Therefore, port A is connected to port BB '.
-A 'functions as a coupling port and port B-
Port C-C 'functions as a through port for B'.

【0029】図5は、図3および図4に示した信号分離
器50を用いて構成されたSパラメータテストセットの
構成を示す図であり、ナットワークアナライザおよび被
試験デバイス(DUT)との間の接続状態が示されてい
る。図5に示すSパラメータテストセット20Aは、切
替スイッチ21と3つの信号分離器50、50Aを含ん
で構成されている。信号分離器50、50Aのそれぞれ
は、図3に示した詳細構成を有している。
FIG. 5 is a diagram showing a configuration of an S-parameter test set configured by using the signal separator 50 shown in FIGS. 3 and 4, and shows a configuration between the network analyzer and the device under test (DUT). Is shown. The S-parameter test set 20A shown in FIG. 5 includes a changeover switch 21 and three signal separators 50, 50A. Each of the signal separators 50 and 50A has the detailed configuration shown in FIG.

【0030】本実施形態の信号分離器50、50Aおよ
びこれを用いたSパラメータテストセット20Aはこの
ような構成を有しており、次にその動作を説明する。図
6は、Sパラメータ測定時のスイッチ21、56〜59
の接続状態を示す図である。
The signal separators 50 and 50A of the present embodiment and the S-parameter test set 20A using the same have such a configuration, and the operation thereof will be described below. FIG. 6 shows the switches 21, 56 to 59 when measuring the S parameter.
FIG. 4 is a diagram showing a connection state of FIG.

【0031】図6に示すように、伝送係数S21および反
射係数S11を測定する場合には、Sパラメータテストセ
ット20Aに含まれる切替スイッチ21および信号分離
器50に含まれる4つの切替スイッチ56〜59の各接
続状態が接点a側に設定され、信号分離器50Aに含ま
れる4つの切替スイッチ56〜59の各接続状態が接点
b側に設定される。したがって、信号源12から出力さ
れた信号は、低損失に設定された信号分離器50のポー
トA−A′とポートB−B′とをつなぐ経路を通った後
にテストポート30を介して被測定デバイス40の一方
のポート1に入力される。そして、この一方のポート1
から反射される信号が再び信号分離器50を通って受信
回路16に導かれ、検波されて反射係数S11の測定が行
われる。また、被測定デバイス40の他方のポート2か
ら出力される信号は、テストポート32を介して、低損
失に設定された信号分離器50AのポートB−B′とポ
ートC−C′とをつなぐ経路を通った後に受信回路14
に導かれ、検波されて伝送係数S21の測定が行われる。
As shown in FIG. 6, when measuring the transmission coefficient S 21 and the reflection coefficient S 11 , the changeover switch 21 included in the S-parameter test set 20A and the four changeover switches 56 included in the signal separator 50 are used. To 59 are set on the contact a side, and the connection states of the four changeover switches 56 to 59 included in the signal separator 50A are set on the contact b side. Therefore, the signal output from the signal source 12 is measured via the test port 30 after passing through the path connecting the ports AA 'and BB' of the signal separator 50 set to low loss. It is input to one port 1 of the device 40. And this one port 1
Signals reflected is guided to the receiving circuit 16 through the signal separator 50 again, the measurement of the reflection coefficient S 11 is performed is detected. The signal output from the other port 2 of the device under test 40 is connected via the test port 32 to the port BB 'and the port CC' of the signal separator 50A set to low loss. Receiving circuit 14 after passing the route
, Is detected, and the transmission coefficient S 21 is measured.

【0032】また、伝送係数S12および反射係数S22
測定する場合には、Sパラメータテストセット20Aに
含まれる切替スイッチ21および信号分離器50に含ま
れる4つの切替スイッチ56〜59の各接続状態が接点
b側に設定され、信号分離器50Aに含まれる4つの切
替スイッチ56〜59の各接続状態が接点a側に設定さ
れる。したがって、信号源12から出力された信号は、
低損失に設定された信号分離器50AのポートA−A′
とポートB−B′とをつなぐ経路を通った後にテストポ
ート32を介して被測定デバイス40の他方のポート2
に入力される。そして、この他方のポート2から反射さ
れる信号が再び信号分離器50Aを通って受信回路14
に導かれ、検波されて反射係数S22の測定が行われる。
また、被測定デバイス40の一方のポート1から出力さ
れる信号は、テストポート30を介して、低損失に設定
された信号分離器50のポートB−B′とポートC−
C′とをつなぐ経路を通った後に受信回路16に導か
れ、検波されて伝送係数S12の測定が行われる。
When the transmission coefficient S 12 and the reflection coefficient S 22 are measured, each connection of the changeover switch 21 included in the S-parameter test set 20A and the four changeover switches 56 to 59 included in the signal separator 50 is performed. The state is set to the contact b side, and each connection state of the four changeover switches 56 to 59 included in the signal separator 50A is set to the contact a side. Therefore, the signal output from the signal source 12 is
Ports AA 'of signal separator 50A set to low loss
And the other port 2 of the device under test 40 via the test port 32 after passing through the path connecting
Is input to Then, the signal reflected from the other port 2 passes through the signal separator 50A again, and
Is led to, the measurement of the reflection coefficient S 22 is performed is detected.
Further, the signal output from one port 1 of the device under test 40 is transmitted via the test port 30 to the ports BB ′ and C−B of the signal separator 50 set to low loss.
Is led to the receiving circuit 16 after passing through a path connecting the C ', the measurement of the transmission coefficient S 12 is performed is detected.

【0033】このように、伝送係数S21、S12を測定す
る場合には、被測定デバイス40から出力される信号を
受信回路14、16に導く際に、信号分離器50、50
A内の伝送経路が低損失に設定される。したがって、受
信回路14、16に入力される信号のレベルが大きくな
って、伝送係数S21、S12を測定する際のダイナミック
レンジを広げることができる。
As described above, when the transmission coefficients S 21 and S 12 are measured, when the signals output from the device under test 40 are guided to the receiving circuits 14 and 16, the signal separators 50 and 50 are used.
The transmission path in A is set to low loss. Therefore, the level of the signal input to the receiving circuits 14 and 16 increases, and the dynamic range when measuring the transmission coefficients S 21 and S 12 can be expanded.

【0034】〔第3の実施形態〕上述した第2の実施形
態では、信号分離器50、50A内の2つの信号伝送経
路の損失量を適宜切り替えることにより、伝送係数
21、S12測定時のダイナミックレンジを広くしたが、
透過信号が入力される側の信号分離器に着目すると、受
信回路が接続された側の伝送経路しか使用されていない
ため、この伝送経路の損失をさらに少なくしてポートB
−B′とポートC−C′とを直結するようにしてもよ
い。
[Third Embodiment] In the above-described second embodiment, the loss amounts of the two signal transmission paths in the signal separators 50 and 50A are appropriately switched to measure the transmission coefficients S 21 and S 12. Has increased the dynamic range of
Focusing on the signal separator on the side to which the transmission signal is input, since only the transmission path connected to the receiving circuit is used, the loss of this transmission path is further reduced and the port B
-B 'and the port CC' may be directly connected.

【0035】図7は、第3の実施形態の信号分離器の詳
細構成を示す図である。図7に示すように、信号分離器
60はブリッジ回路によって実現されており、3つの抵
抗61、62、63と2つのスイッチ64、65とを含
んで構成されている。
FIG. 7 is a diagram showing a detailed configuration of the signal separator of the third embodiment. As shown in FIG. 7, the signal separator 60 is realized by a bridge circuit, and includes three resistors 61, 62, 63 and two switches 64, 65.

【0036】信号分離器60を通常のブリッジ回路とし
て使用する場合には、抵抗62に直列接続された一方の
スイッチ64をオン状態にするとともに、抵抗63に並
列接続された他方のスイッチ65をオフ状態にする。ま
た、抵抗62の抵抗値R3 と抵抗63の抵抗値R4 との
間にはR3 <R4 の関係がある。したがって、ポートB
−B′からポートA−A′に至る経路を通ったときに生
じる信号の損失が小さく、ポートB−B′からポートC
−C′に至る経路を通ったときに生じる信号の損失が大
きくなる。このため、ポートB−B′に対してポートA
−A′がスルーポートとして機能し、ポートB−B′に
対してポートC−C′がカップリングポートとして機能
する。
When the signal separator 60 is used as a normal bridge circuit, one switch 64 connected in series with the resistor 62 is turned on, and the other switch 65 connected in parallel with the resistor 63 is turned off. State. Between the resistance R 3 of the resistor 62 and the resistance value R 4 of the resistors 63 a relationship of R 3 <R 4. Therefore, port B
The signal loss that occurs when the signal passes through the path from -B 'to port AA' is small,
The loss of the signal that occurs when the signal passes through the path leading to -C 'increases. For this reason, the port A
-A 'functions as a through port, and port CC' functions as a coupling port with respect to port BB '.

【0037】また、伝送係数S21、S12を測定する際
に、透過信号を受信回路に導くためにこの信号分離器6
0を使用する場合には、抵抗62に直列接続された一方
のスイッチ64をオフ状態にするとともに、抵抗63に
並列接続された他方のスイッチ65をオン状態にする。
したがって、ポートB−B′からポートC−C′に至る
経路が遮断されるとともに、ポートB−B′とポートC
−C′とが直結されるため、ポートC−C′を介して受
信回路14、16に入力される信号は、信号分離器60
内でほとんど減衰しない。このため、受信回路14、1
6に入力される信号のレベルを大きくすることができ、
伝送係数S21、S12を測定する際のダイナミックレンジ
を広げることができる。
When measuring the transmission coefficients S 21 and S 12 , the signal separator 6 is used to guide the transmitted signal to the receiving circuit.
When 0 is used, one switch 64 connected in series with the resistor 62 is turned off, and the other switch 65 connected in parallel with the resistor 63 is turned on.
Therefore, the path from port BB 'to port CC' is cut off, and port BB 'and port C
−C ′, the signals input to the receiving circuits 14 and 16 via the ports CC ′ are separated by the signal separator 60.
Hardly attenuates within Therefore, the receiving circuits 14, 1
6, it is possible to increase the level of the signal input to
It is possible to widen the dynamic range when measuring the transmission coefficients S 21 and S 12 .

【0038】〔第4の実施形態〕上述した第2および第
3の実施形態では、信号分離器50等をブリッジ回路に
よって実現したが、カップラによって実現するようにし
てもよい。図8は、第4の実施形態の信号分離器の詳細
構成を示す図である。図8に示した信号分離器70は、
マイクロストリップラインを用いたカップラによって実
現されており、誘電体基板71と、その表面に形成され
た5つの伝送用導体としての導体72−1、72−2、
74、77−1、77−2と、3つのポートA−A′、
B−B′、C−C′の相互の接続状態を切り替える4つ
のスイッチ73、75、76、78とを含んで構成され
ている。各スイッチ73等は、例えばマイクロリレース
イッチを用いる場合や、pinダイオード等の半導体ス
イッチを用いる場合などが考えられる。なお、誘電体基
板71の裏面の全面には接地用の導体が形成されてお
り、4つ目のポートD−D′には信号の反射が生じない
ように所定の抵抗値を有する終端抵抗79が接続されて
いる。
[Fourth Embodiment] In the above-described second and third embodiments, the signal separator 50 and the like are realized by a bridge circuit, but may be realized by a coupler. FIG. 8 is a diagram illustrating a detailed configuration of a signal separator according to the fourth embodiment. The signal separator 70 shown in FIG.
This is realized by a coupler using a microstrip line, and includes a dielectric substrate 71 and five conductors 72-1 and 72-2 as transmission conductors formed on the surface thereof.
74, 77-1, 77-2 and three ports AA ',
It is configured to include four switches 73, 75, 76, and 78 for switching the connection state between BB 'and CC'. Each of the switches 73 and the like may be, for example, a case using a micro relay switch or a case using a semiconductor switch such as a pin diode. Note that a grounding conductor is formed on the entire back surface of the dielectric substrate 71, and a terminating resistor 79 having a predetermined resistance value is provided at the fourth port DD ′ so that signal reflection does not occur. Is connected.

【0039】ポートB−B′とポートA−A′との間に
形成された導体72−1、72−2との間にはスイッチ
73が接続されており、このスイッチ73をオン状態に
することにより、これら2つのポートをつなぐ伝送経路
が形成される。また、ポートC−C′に接続された導体
77−1は、ポートA−A′に接続された導体72−1
に対して部分的に接近した所定位置に形成されており、
導体72−1を介して信号が伝送される際に、その一部
が導体77−1側に漏れるようになっている。したがっ
て、ポートB−B′に信号が入力された場合を考える
と、その一部が導体72−2、72−1を介してポート
A−A′から出力されるとともに、残りが導体77−1
を介してポートC−C′から出力される。通常は、導体
72−1、72−2を介してポートB−B′に直結され
たポートA−A′から出力される信号の方がポートC−
C′から出力される信号よりも大きくなるため、ポート
A−A′側がスルーポートに、ポートC−C′側がカッ
プリングポートになる。
A switch 73 is connected between the conductors 72-1 and 72-2 formed between the port BB 'and the port AA', and the switch 73 is turned on. Thereby, a transmission path connecting these two ports is formed. The conductor 77-1 connected to the port CC 'is connected to the conductor 72-1 connected to the port AA'.
Is formed at a predetermined position partially approaching the
When a signal is transmitted through the conductor 72-1, a part of the signal leaks to the conductor 77-1 side. Therefore, when a signal is input to port BB ', part of the signal is output from port AA' via conductors 72-2 and 72-1 and the rest is output from conductor 77-1.
Is output from the port C-C '. Normally, a signal output from port AA 'directly connected to port BB' via conductors 72-1 and 72-2 is output from port C-A.
Since the signal becomes larger than the signal output from C ', the port AA' side becomes a through port and the port CC 'side becomes a coupling port.

【0040】なお、このような状態で使用する場合に
は、導体77−1と導体77−2との間に接続されたス
イッチ78がオン状態に設定されており、不要な反射が
生じないようになっている。また、導体72−2と導体
74の間に設けられたスイッチ75や、導体77−2と
導体74との間に設けられたスイッチ76は、オフ状態
に設定されている。
When used in such a state, the switch 78 connected between the conductors 77-1 and 77-2 is set to the ON state, so that unnecessary reflection does not occur. It has become. The switch 75 provided between the conductor 72-2 and the conductor 74 and the switch 76 provided between the conductor 77-2 and the conductor 74 are turned off.

【0041】また、伝送係数S21、S12を測定する際
に、透過信号を受信回路に導くためにこの信号分離器7
0を使用する場合には、導体72−1、72−2の間に
形成されたスイッチ73をオフ状態に設定するととも
に、他の3つのスイッチ75、76、78をオン状態に
設定する。したがって、ポートB−B′に接続された導
体72−2とポートC−C′に接続された導体77−1
とが導体74および3つのスイッチ75、76、78を
介して短絡され、この伝送経路の損失が小さくなる。こ
のため、ポートC−C′を介して受信回路14、16に
入力される信号のレベルが大きくなって、伝送係数
21、S12を測定する際のダイナミックレンジを広げる
ことができる。
When measuring the transmission coefficients S 21 and S 12 , the signal separator 7 is used to guide the transmitted signal to the receiving circuit.
When 0 is used, the switch 73 formed between the conductors 72-1 and 72-2 is set to the off state, and the other three switches 75, 76, and 78 are set to the on state. Therefore, the conductor 72-2 connected to the port BB 'and the conductor 77-1 connected to the port CC'
Are short-circuited via the conductor 74 and the three switches 75, 76, 78, and the loss of this transmission path is reduced. For this reason, the level of the signal input to the receiving circuits 14 and 16 via the ports CC ′ increases, and the dynamic range when measuring the transmission coefficients S 21 and S 12 can be expanded.

【0042】なお、本発明は上記実施形態に限定される
ものではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施
が可能である。例えば、上述した実施形態では、ポート
用のSパラメータテストセットおよびこれに含まれる信
号分離器について説明したが、ポート数の異なる(例え
ば3ポート用)Sパラメータテストセットおよびこれに
用いる信号分離器に本発明を適用することができる。
The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made within the scope of the present invention. For example, in the above-described embodiment, the S-parameter test set for the port and the signal separator included therein have been described. However, the S-parameter test set having a different number of ports (for example, for three ports) and the signal separator used for the same are used. The present invention can be applied.

【0043】[0043]

【発明の効果】上述したように、本発明によれば、被測
定デバイスの各ポートと信号源および受信回路とを接続
する複数の信号分離器を有するSパラメータテストセッ
トにおいて、被測定デバイスの伝送係数を測定する際に
信号の伝送経路上に存在する複数の信号分離器の少なく
とも一つを迂回する迂回経路が設けられている。したが
って、伝送される信号の損失が大きい信号分離器を介さ
ずに信号を伝送することができ、伝送係数測定の際のダ
イナミックレンジを広く設定することができる。
As described above, according to the present invention, the transmission of a device under test in an S-parameter test set having a plurality of signal separators for connecting each port of the device under test to a signal source and a receiving circuit. A bypass path is provided to bypass at least one of the plurality of signal separators present on the signal transmission path when measuring the coefficient. Therefore, the signal can be transmitted without passing through the signal separator in which the loss of the transmitted signal is large, and the dynamic range at the time of measuring the transmission coefficient can be set wide.

【0044】また、本発明によれば、被測定デバイスの
各ポートと信号源および受信回路とを接続する信号分離
器において、被測定デバイスの伝送係数を測定する際に
信号の伝送経路上に存在する高損失経路を迂回する低損
失経路が設けられている。したがって、この信号分離器
を介して信号を伝送する際に内部に形成された低損失経
路を用いることにより、伝送係数測定の際のダイナミッ
クレンジを広く設定することができる。
Further, according to the present invention, in a signal separator for connecting each port of a device under test to a signal source and a receiving circuit, when a transmission coefficient of the device under test is measured, the signal exists on a signal transmission path. A low-loss path bypassing the high-loss path is provided. Therefore, by using a low-loss path formed inside when transmitting a signal through this signal separator, a dynamic range for measuring a transmission coefficient can be set wide.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】第1の実施形態の計測器の構成を示す図であ
る。
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a measuring instrument according to a first embodiment.

【図2】Sパラメータ測定時の各スイッチの接続状態を
示す図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a connection state of each switch at the time of S parameter measurement.

【図3】第2の実施形態の信号分離器の詳細構成を示す
図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a detailed configuration of a signal separator according to a second embodiment.

【図4】図3に示す信号分離器の各ポートの対応関係を
示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a correspondence relationship of each port of the signal separator shown in FIG.

【図5】図3および図4に示した信号分離器を用いて構
成されたSパラメータテストセットの構成を示す図であ
る。
5 is a diagram illustrating a configuration of an S-parameter test set configured by using the signal separator illustrated in FIGS. 3 and 4. FIG.

【図6】Sパラメータ測定時の各スイッチの接続状態を
示す図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating a connection state of each switch at the time of S parameter measurement.

【図7】第3の実施形態の信号分離器の詳細構成を示す
図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating a detailed configuration of a signal separator according to a third embodiment.

【図8】第4の実施形態の信号分離器の詳細構成を示す
図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating a detailed configuration of a signal separator according to a fourth embodiment.

【図9】従来のSパラメータテストセットの構成を示す
図である。
FIG. 9 is a diagram showing a configuration of a conventional S-parameter test set.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 ネットワークアナライザ 12 信号源 14、16、18 受信回路 20 Sパラメータテストセット 21、22、23、24、25 切替スイッチ 26、27、28、50、50A、60、70 信号分
離器
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Network analyzer 12 Signal source 14, 16, 18 Receiving circuit 20 S-parameter test set 21, 22, 23, 24, 25 Changeover switch 26, 27, 28, 50, 50A, 60, 70 Signal separator

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被測定デバイスの各ポートと信号源およ
び受信回路とを接続する複数の信号分離器を有し、前記
被測定デバイスの伝送係数を測定する際に信号の伝送経
路上に存在する前記複数の信号分離器の少なくとも一つ
を迂回する迂回経路を設けたことを特徴とするSパラメ
ータテストセット。
An apparatus has a plurality of signal separators for connecting each port of a device under test with a signal source and a receiving circuit, and exists on a signal transmission path when measuring a transmission coefficient of the device under test. An S-parameter test set, wherein a detour path bypassing at least one of the plurality of signal separators is provided.
【請求項2】 請求項1において、 前記迂回経路は、スイッチと信号線によって構成されて
おり、このスイッチを切り替えることにより、前記信号
分離器を介すことなく前記受信回路と前記信号源の少な
くとも一方と前記被測定デバイスとの間をつなぐ前記信
号線を前記迂回経路として用いることを特徴とするSパ
ラメータテストセット。
2. The signal processing device according to claim 1, wherein the detour path includes a switch and a signal line, and by switching the switch, at least one of the receiving circuit and the signal source without passing through the signal separator. An S-parameter test set, wherein the signal line connecting one side and the device under test is used as the bypass route.
【請求項3】 請求項1または2において、 前記信号分離器は、損失が小さなスルーポートと損失が
大きなカップリングポートを有しており、伝送係数を測
定する際に前記カップリングポートを介して信号が伝送
される前記信号分離器の代わりに前記迂回経路を用いた
信号の伝送を行うことを特徴とするSパラメータテスト
セット。
3. The signal separator according to claim 1, wherein the signal separator has a through port having a small loss and a coupling port having a large loss, and is connected via the coupling port when measuring a transmission coefficient. An S-parameter test set, wherein a signal is transmitted using the bypass path instead of the signal separator through which a signal is transmitted.
【請求項4】 被測定デバイスの各ポートと信号源およ
び受信回路とを接続する信号分離器において、 前記被測定デバイスの伝送係数を測定する際に信号の伝
送経路上に存在する高損失経路を迂回する低損失経路を
設けたことを特徴とする信号分離器。
4. A signal separator for connecting each port of a device under test to a signal source and a receiving circuit, wherein a high-loss path existing on a signal transmission path when a transmission coefficient of the device under test is measured. A signal separator comprising a low-loss path to bypass.
【請求項5】 請求項4において、 複数の抵抗と複数のスイッチとを有するブリッジ回路で
あって、前記スイッチを切り替えることにより、対向す
る2つの前記抵抗の抵抗値の大小関係を反転させて、前
記高損失経路と前記低損失経路との切り替えを行うこと
を特徴とする信号分離器。
5. The bridge circuit according to claim 4, wherein the bridge circuit has a plurality of resistors and a plurality of switches, and switches the switches to invert a magnitude relationship between two opposed resistors. A signal separator for switching between the high-loss path and the low-loss path.
【請求項6】 請求項4において、 複数の抵抗と複数のスイッチとを有するブリッジ回路で
あって、前記スイッチを切り替えることにより、前記抵
抗を介さずに信号の伝送を行う短絡経路としての前記低
損失経路と前記高損失経路との切り替えを行うことを特
徴とする信号分離器。
6. The bridge circuit according to claim 4, wherein the bridge circuit includes a plurality of resistors and a plurality of switches, wherein the switch is switched so that the short circuit as a short-circuit path for transmitting a signal without passing through the resistor. A signal separator for switching between a loss path and the high loss path.
【請求項7】 請求項4において、 互いに部分的に接近させた複数の伝送用導体とスイッチ
とを有するカップラであって、前記スイッチを切り替え
ることにより、前記複数の伝送用導体の接近部分を含ん
で形成される前記高損失経路と前記スイッチによって形
成される短絡経路としての前記低損失経路との切り替え
を行うことを特徴とする信号分離器。
7. The coupler according to claim 4, wherein the coupler includes a plurality of transmission conductors and a switch partially approached to each other, and includes an approaching portion of the plurality of transmission conductors by switching the switch. Switching between the high-loss path formed by the switch and the low-loss path as a short-circuit path formed by the switch.
JP13931799A 1999-05-19 1999-05-19 S-parameter test set and signal separator Expired - Fee Related JP4299401B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13931799A JP4299401B2 (en) 1999-05-19 1999-05-19 S-parameter test set and signal separator

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13931799A JP4299401B2 (en) 1999-05-19 1999-05-19 S-parameter test set and signal separator

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000329808A true JP2000329808A (en) 2000-11-30
JP4299401B2 JP4299401B2 (en) 2009-07-22

Family

ID=15242502

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13931799A Expired - Fee Related JP4299401B2 (en) 1999-05-19 1999-05-19 S-parameter test set and signal separator

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4299401B2 (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101313814B1 (en) * 2012-09-13 2013-09-30 메이어건 일렉트로닉스 코포레이션 Radial frequency measurement method
WO2018109782A1 (en) * 2016-12-13 2018-06-21 Indian Institute Of Technology Bombay Network analyzer for measuring s-parameters of rf device
CN112345854A (en) * 2020-10-30 2021-02-09 北京航天光华电子技术有限公司 Two-port component measurement and test system between any two points
KR20210041361A (en) 2019-10-07 2021-04-15 울산과학기술원 Quality measuring device, measuring method thereof and recording medium thereof
US12155296B2 (en) 2019-10-07 2024-11-26 Em Coretech Inc. Current compensation system for photovoltaic generator, quality measurement device, measurement method thereof, and recording medium thereof
CN119667303A (en) * 2025-02-19 2025-03-21 成都威频科技有限公司 A highly symmetric dynamic routing circuit supporting multi-port extension of S-parameter measurement

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101313814B1 (en) * 2012-09-13 2013-09-30 메이어건 일렉트로닉스 코포레이션 Radial frequency measurement method
WO2018109782A1 (en) * 2016-12-13 2018-06-21 Indian Institute Of Technology Bombay Network analyzer for measuring s-parameters of rf device
KR102563797B1 (en) * 2019-10-07 2023-08-07 이엠코어텍 주식회사 Quality measuring device, measuring method thereof and recording medium thereof
KR20210041361A (en) 2019-10-07 2021-04-15 울산과학기술원 Quality measuring device, measuring method thereof and recording medium thereof
KR102296971B1 (en) * 2019-10-07 2021-09-02 울산과학기술원 Quality measuring device, measuring method thereof and recording medium thereof
KR20210111201A (en) 2019-10-07 2021-09-10 이엠코어텍 주식회사 Quality measuring device, measuring method thereof and recording medium thereof
KR20230117319A (en) 2019-10-07 2023-08-08 이엠코어텍 주식회사 Quality measuring device, measuring method thereof and recording medium thereof
KR102663698B1 (en) * 2019-10-07 2024-05-08 이엠코어텍 주식회사 Quality measuring system for active current compensation device
KR20240070472A (en) 2019-10-07 2024-05-21 이엠코어텍 주식회사 Quality measuring device, measuring method thereof and recording medium thereof
US12155296B2 (en) 2019-10-07 2024-11-26 Em Coretech Inc. Current compensation system for photovoltaic generator, quality measurement device, measurement method thereof, and recording medium thereof
KR102807156B1 (en) * 2019-10-07 2025-05-16 이엠코어텍 주식회사 Method for Measuring Parameters
CN112345854A (en) * 2020-10-30 2021-02-09 北京航天光华电子技术有限公司 Two-port component measurement and test system between any two points
CN112345854B (en) * 2020-10-30 2024-05-03 北京航天光华电子技术有限公司 Two-port component measurement test system between any two points
CN119667303A (en) * 2025-02-19 2025-03-21 成都威频科技有限公司 A highly symmetric dynamic routing circuit supporting multi-port extension of S-parameter measurement

Also Published As

Publication number Publication date
JP4299401B2 (en) 2009-07-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4962359A (en) Dual directional bridge and balun used as reflectometer test set
KR0164368B1 (en) Rf power combiner
US6348804B1 (en) Vector network analyzer
US20060009165A1 (en) High frequency circuit
KR20170010728A (en) System and method for a directional coupler
GB2466028A (en) High frequency measurement system
JPH085685A (en) Method for measuring high-frequency transmission parameters of balanced twisted pair wires
US5495173A (en) Method and apparatus for characterizing a differential circuit
US4777429A (en) Test arrangement
US8130874B2 (en) By-pass arrangement of a low noise amplifier
Peterson et al. A CPW T-resonator technique for electrical characterization of microwave substrates
JP4299401B2 (en) S-parameter test set and signal separator
US7309994B2 (en) Integrated directional bridge
KR100362877B1 (en) Power divider /combiner using 3 way chebyshev matching transformer
CN108051655B (en) A Low Standing Wave Ratio High Sensitivity Millimeter Wave Detector
KR100528408B1 (en) Switchable 2way Power Divider/Combiner
JP2001272428A (en) Network analyzer, network analysis method, and recording medium recording network analysis program
Margalef-Rovira et al. mm-wave through-load switch for in-situ vector network analyzer on a 55-nm bicmos technology
Weerathunge et al. 120 ghz gaas single-balanced mixer
US5420464A (en) RF voltage/current sensor apparatus
SU951722A1 (en) Uhf balance mixer
RU2234767C1 (en) Diode switch
US4262250A (en) Microwave measuring device
KR100205374B1 (en) ESPITY switch
SU1608593A1 (en) Meter of s-parameters of nonreciprocal four-terminal networks

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060317

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20081110

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081118

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090414

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090417

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120424

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120424

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130424

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130424

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130424

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140424

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees