JP2000321690A

JP2000321690A - 放射線画像読取機の幾何学寸法検査方法、幾何学寸法検査用カセッテおよび幾何学寸法検査装置

Info

Publication number: JP2000321690A
Application number: JP11134005A
Authority: JP
Inventors: Hiroyuki Karasawa; 弘行唐澤
Original assignee: Fuji Photo Film Co Ltd
Current assignee: Fujifilm Holdings Corp
Priority date: 1999-05-14
Filing date: 1999-05-14
Publication date: 2000-11-24

Abstract

(57)【要約】【課題】放射線診断システム等の放射線画像システムに
よる読取画像の幾何学寸法の検査を行う際に、専用の検
査用蛍光体シートを用いることなく、簡易に精度よく幾
何学寸法の検査を行うことのできる放射線画像の幾何学
寸法検査方法、幾何学寸法検査用カセッテおよび幾何学
寸法検査装置を提供することを課題とする。【解決手段】カセッテの放射線の照射面に、撮影用蛍光
シートに画像として生成される、画像上の幾何学寸法が
既知のマークが予め記録されており、この記録されたマ
ークを、放射線の照射によって放射線記録媒体に画像と
して記録して、前記マークの読取画像を得、前記マーク
に関して既知の前記幾何学寸法と前記マークの読取画像
上の幾何学寸法とから前記画像読取機の幾何学寸法を検
査することで前記課題を解決する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、放射線診断等に用
いられる放射線画像読取の技術分野に属し、詳しくは、
放射線画像読取機による画像読取の幾何学的な寸法精度
を検査する検査方法、およびこの検査に好適に用いられ
る幾何学寸法検査用カセッテおよび幾何学寸法検査装置
に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＦＣＲ（富士コンピューテッドラジオグ
ラフィー）のように、蓄積性蛍光体を利用する放射線診
断システムが実用化されている。

【０００３】蓄積性蛍光体（輝尽性蛍光体）とは、放射
線（Ｘ線、α線、β線、γ線、電子線、紫外線等）の照
射を受けると、この放射線エネルギーの一部を蓄積し、
この後、蛍光体に可視光等の励起光の照射を受けると、
蓄積されたエネルギーに応じた輝尽発光を示す蛍光体で
ある。この蓄積性蛍光体を利用する放射線診断システム
では、人体等の被写体の放射線画像を、蓄積性蛍光体層
を有するシート（以下、蛍光体シートとする）に記録
し、この蛍光体シートを励起光で２次元的に走査して輝
尽発光光を生ぜしめ、この輝尽発光光を光電的に読み取
って画像信号を得、この画像信号に基づき写真感光材料
やＣＲＴ等の表示装置に被写体の放射線画像を可視像と
して出力する（特開昭５５−１２４２９号、同５６−１
１３９５号の各公報等参照）。

【０００４】また、蓄積性蛍光体を利用するシステム
は、数々の利点を有するので、医療診断の分野のみなら
ず、工業製品の探傷検査等への利用も考えられている。
例えば、丸棒や鋼管等の透過放射線画像を先と同様にし
て再生すれば、損傷部分は他の部分よりも放射線吸収率
が低いため、再生画像においては、周囲よりも黒くなる
ので、これにより、外部から観察することができない損
傷部分を検出することができる。

【０００５】このような放射線画像システムを用いて適
正な診断や検査を行うためには、画像読取機で読み取っ
た放射線画像に、画像サイズや画像位置の狂い、画像の
歪みや曲がり等がないこと、すなわち、読み取った放射
線画像の幾何学的な寸法精度が適正であることが重要で
ある。そのため、放射線画像読取機における、画像読取
の幾何学寸法を検査する方法が、各種提案されている。

【０００６】例えば、欧州特許第０７１００１３Ｂ１号
明細書には、等間隔でＸ線を透過しない定規（ルーラ
ー）を仕込んだファントム画像を記録した蛍光体シート
を用い、これを走査露光で読み取って、読み取ったルー
ラーの間隔と実際のルーラーの間隔から、画像読取の幾
何学的な歪みを検知する方法が開示されている。また、
特開平８−１７１１５３号公報には、恒久的に消せない
テストパターンを有する蛍光体シートを用いて、これを
走査露光して読み取ることにより、読取装置によって得
られる読取画像の各種のパラメータを試験する方法が開
示されている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかし、ファントム画
像を蛍光体シートに記録する方法では、例えばＸ線を透
過する矩形状の基盤にアルミニウム等のＸ線を弱める矩
形金属片を複数個を平行に張り付けた特別なファントム
用いなければならず、また幾何学寸法の検査のために所
定の位置に精度よく位置決めし、また、画像の拡大率を
考慮して蛍光体シート上に記録しなければならず、その
記録方法は煩雑となり、精度よくファントム画像を得る
ことができないという問題があった。

【０００８】また、恒久的に消せないテストパターンを
有する蛍光体シートを用いて読取画像の幾何学寸法の検
査を行なう方法では、通常使用される蛍光体シートとは
別に恒久的に消えないテストパターンを有する検査用蛍
光体シートを専用に設けなければならず、簡便な検査が
できないといった問題があった。

【０００９】さらに、画像読取機で読取画像を得る際、
画像読取機内で蛍光体シートを湾曲させながら搬送の向
きを変えるため、蛍光体シートは曲げ変形等の物理的な
変形を受ける。そのため、何度も繰り返して使用するう
ちに、この物理的な変形によって劣化が生じ、例えば、
蛍光体シート表面にひび割れが生じる場合がある。上記
検査専用の蛍光体シートでは、ひび割れ等のパタンも読
取画像に模様として形成されるため、何度も繰り返し使
用するうちに、正確な検査に支障をきたすおそれがあ
り、劣化するたびに検査専用の蓄積蛍光体シートを新た
に用意する必要があった。

【００１０】本発明の目的は、前記従来技術の問題点を
解決することにあり、放射線診断システム等の放射線画
像システムによる画像読取機の幾何学寸法の検査を行う
際に、恒久的に消えないテストパターンを有する専用の
蛍光体シートを用いることなく、簡易に精度よく幾何学
寸法の検査を行うことのできる放射線画像の幾何学寸法
検査方法、幾何学寸法検査用カセッテおよび幾何学寸法
検査装置を提供することにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明第１の態様は、放射線画像を生成する放射線
記録媒体をカセッテ内に収納して放射線を照射し、前記
放射線記録媒体に画像を生成して画像読取機で画像読取
を行なうに際し、前記放射線記録媒体に画像として生成
される、画像上の幾何学寸法が既知のマークが前記カセ
ッテの放射線の照射面に予め記録されており、この記録
されたマークを、放射線の照射によって前記放射線記録
媒体に画像として記録して、前記マークの読取画像を
得、前記マークに関して既知の前記幾何学寸法と前記マ
ークの読取画像上の幾何学寸法とから前記画像読取機の
幾何学寸法を検査することを特徴とする放射線画像読取
機の幾何学寸法検査方法を提供するものである。

【００１２】その際、前記マークは、幾何学寸法とし
て、前記マークの所定の位置からの距離、または前記マ
ークが複数の場合における前記マーク間の間隔が既知で
あるのが好ましい。また、前記カセッテに依存する前記
マークの幾何学寸法が、前記カセッテに表示されている
のが好ましく、あるいは、前記カセッテに依存する前記
マークの前記幾何学寸法に関する情報が、前記マークと
ともに前記照射面に記録され、この情報が記録されたカ
セッテを用いることで、前記幾何学寸法に関する情報
を、前記放射線記録媒体に画像として記録される前記マ
ークとともに前記読取画像に形成させ、この読取画像に
形成された前記幾何学寸法に関する情報を情報取得手段
によって自動的に認識して、前記マークの幾何学寸法を
得、この既知となった幾何学寸法と対応する前記読取画
像の幾何学寸法とから幾何学寸法を検査するのが好まし
い。また、前記マークは直線であって、平行に引かれた
複数の直線によって平行線パタンを形成するのが好まし
い。さらに、前記放射線記録媒体は、前記カセッテ内の
所定位置に固定されて画像が記録されるのが好ましい。

【００１３】また、前記幾何学寸法の検査は、画像読取
の際の前記放射線記録媒体に生成される画像の主走査方
向または副走査方向の端部近傍に記録される、前記放射
線記録媒体に生成される画像上の前記主走査方向または
副走査方向での間隔が既知の２つの前記マークを用い、
これらのマークの間隔と対応する読取画像上のマークの
間隔とから、前記主走査方向または副走査方向の読取画
像全体の長さを検査する全体縮率の検査と、前記放射線
記録媒体に生成される画像上の前記主走査方向または副
走査方向での間隔が既知の少なくとも２つの前記マーク
を用い、これらのマークの間隔と対応する読取画像上の
マークの間隔とから、読取画像の前記主走査方向または
副走査方向の部分的な長さを検査する部分縮率の検査
と、前記放射線記録媒体に生成される画像上の絶対的な
位置が既知の前記放射線記録媒体に記録される前記マー
クを用い、このマークとこのマークに対応する読取画像
上のマークの位置とから、画像の幾何学的な位置を検査
する画像位置の検査と、前記放射線記録媒体に生成され
る画像の前記主走査方向または副走査方向に平行に位置
する前記マークを用い、このマークを結ぶ理想直線上に
ある点と読取画像の前記点に対応する点の位置とから、
画像の曲がりを検査し、あるいは、前記マークが直線の
場合、この直線に対応する読取画像上の直線の曲がりを
調べ、読取画像での画像の曲がりを検査する画像曲がり
の検査と、前記放射線記録媒体に生成される画像の前記
主走査方向または副走査方向に平行に位置する前記マー
クを用い、このマークの前記放射線記録媒体に生成され
る画像の端部からの距離と前記マークに対応する読取画
像の端部からの距離とから、画像の傾きを検査し、ある
いは、前記マークが直線の場合、この直線に対応する読
取画像の直線の傾きを調べ、読取画像での画像の傾きを
検査する画像傾きの検査との中から少なくとも１つ選ば
れる検査であるのが好ましい。

【００１４】また、本発明の第２の態様は、放射線記録
媒体を収納し、放射線の照射を受ける照射面を有する筐
体と、この筐体の照射面に記録され、放射線の照射によ
って前記放射線記録媒体に生成される画像上の幾何学寸
法が既知のマークとを有することを特徴とする幾何学寸
法検査用カセッテを提供するものである。

【００１５】その際、前記マークの幾何学寸法は、前記
マークの所定の位置からの距離、または前記マークが複
数の場合における前記マーク間の間隔であるのが好まし
く、また、前記カセッテに依存する前記マークの幾何学
寸法が、前記カセッテに表示されているのが好ましく、
あるいは前記カセッテに依存する前記マークの幾何学寸
法に関する情報であって、放射線の照射によって前記放
射線記録媒体に画像として記録される情報が、前記照射
面に前記マークとともに記録されているのが好ましい。
また、前記マークは、直線であって、平行に引かれた複
数の直線によって平行線パタンを形成するのが好まし
い。さらに、前記カセッテは、放射線を照射して画像を
記録する際に、前記放射線記録媒体を前記カセッテ内の
所定位置に固定する位置決め手段を備えるのが好まし
い。

【００１６】また、本発明の第３の態様は、カセッテに
収納された放射線記録媒体に放射線を照射して生成され
る画像に走査読取を行なう画像読取機の幾何学寸法の検
査を行なう画像検査装置であって、前記放射線記録媒体
に生成される画像上の幾何学寸法が既知のマークが予め
前記カセッテの照射面に記録されたカセッテを用い、前
記放射線記録媒体に記録された画像を得、この得られた
画像から走査読取を行なって得られる読取画像に対し
て、前記マークの画像上の幾何学寸法が既知の情報と、
これに対応する読取画像上の幾何学寸法とから、読取画
像全体の長さを検査する全体縮率の検査、および読取画
像の部分的な長さを検査する部分縮率の検査、および読
取画像の幾何学的な位置を検査する画像位置の検査、お
よび読取画像での画像の曲がりを検査する画像曲がりの
検査、および画像の傾きを検査する画像傾きの検査のう
ちの少なくとも１つの検査を行なう幾何学寸法検査手段
を有することを特徴とする放射線画像読取機の幾何学寸
法検査装置。

【００１７】ここで、前記マークとともに前記カセッテ
の照射面に記録された前記マークの画像上の幾何学寸法
に関する情報が前記読取画像に形成された場合、前記幾
何学寸法に関する情報から幾何学寸法を自動的に読み取
って、前記マークの幾何学寸法を既知とする情報取得手
段が前記画像読取機に備えられているのが好ましい。

【００１８】

【発明の実施の形態】以下、本発明の放射線画像の幾何
学寸法検査方法を実施する画像検査装置およびこれに用
いられる幾何学寸法検査用カセッテについて、添付の図
面に示される好適実施例を基に詳細に説明する。

【００１９】図１に、本発明の放射線画像の幾何学寸法
検査方法の実施に好適な、蓄積性蛍光体を利用する蛍光
体シートを用いる放射線画像の幾何学寸法検査システム
の一例の概略を示す。

【００２０】図１に示される幾何学寸法検査システム１
０は、放射線画像を生成する放射線記録媒体を収納した
幾何学寸法検査用カセッテ２０と、放射線記録媒体に生
成された画像を励起光によって走査読取して読取画像を
得る、放射線画像の幾何学寸法検査の対象となる画像読
取機３０と、画像読取機によって得られた画像データに
所定の処理を施してデジタル画像を得、種々の画像処理
を行なう画像処理装置５０と、得られた画像読取機の幾
何学寸法の検査を行なう画像検査装置６０と、読取画像
を画像として出力し、また幾何学寸法の検査結果を出力
するモニタ７０とを有して構成される。

【００２１】図２に示される幾何学寸法検査用カセッテ
２０（以下、カセッテ２０とする）は、通常の撮影用カ
セッテと同様に、蛍光体シートＰを収納した状態で放射
線画像の撮影を行い、その後、蛍光体シートＰを収納し
た状態で、画像読取機３０に装填される。画像を撮影さ
れた蛍光体シートＰは、画像読取機３０内においてカセ
ッテ２０から取り出され、放射線画像の読み取りに供さ
れる。このようなカセッテ２０は、基本的に、放射線を
透過する照射面２２（図２においては下面側）を有し、
蛍光体シートＰを収納する筐体２４と、筐体２４の蓋体
２６とを有して構成される。

【００２２】筐体２４および蓋体２６すなわちカセッテ
の本体は、基本的に、通常の放射線画像システムで使用
される、蛍光体シートＰやＸ線フィルム等の放射線記録
媒体を収納するカセッテと同様でよく、以降で述べる照
射面２２を除き、例えば、各種の樹脂、アルミニウム等
の金属など、公知の各種の材料から形成されるものであ
り、蓋体２６は、ヒンジ等の公知の手段によって、その
一辺で図中矢印方向に開閉可能に構成される。両者は別
部材で構成してもよく、あるいは樹脂等の一体成型によ
って構成することにより、蓋体１４を矢印ａ方向に開閉
可能に構成したものであってよい。

【００２３】なお、本発明の幾何学寸法検査用カセッテ
において、カセッテの本体は、図示例の構成に限定はさ
れず、カセッテ２０が利用される放射線画像システムに
応じた各種の構成が、全て利用可能である。

【００２４】なお、カセッテ２０の照射面２２には、図
３に示されるように、後述する画像読取機３０で一方向
に励起光を走査して、カセッテ２０内に収納される蛍光
体シートＰを読み取る主走査方向（図中ｘの矢印方向）
とそれに直交する副走査方向（図中ｙの矢印方向）と同
一の方向に、予め等間隔で平行に引かれた複数の平行線
２８ａ〜２８ｃおよび２８ｄ〜２８ｇからなる格子状の
平行線パタンＱが記録されており、放射線の照射によっ
てカセッテ２０内に収納する蛍光体シートＰに平行線２
８ａ〜２８ｃおよび２８ｄ〜２８ｇに対応する平行線２
８ａ’〜２８ｃ’および２８ｄ’〜２８ｇ’の画像とし
て記録されるように構成される。なお、主走査方向（図
中ｘの矢印方向）と副走査方向（図中ｙの矢印方向）の
平行線の間隔は必ずしも同じである必要はない。図３に
示すカセッテ２０では、格子状の平行線パタンＱである
が格子状に限られず、一方向、例えば図３上の主走査方
向（図中ｘの矢印方向）あるいは副走査方向（図中ｙの
矢印方向）のみの平行線パタンであってもよい。

【００２５】一方、図３に示されるカセッテ２０の照射
面２２の右下側には、平行線２８ａ〜２８ｃおよび２８
ｄ〜２８ｇに対応して蛍光体シートＰに生成される画像
上の平行線２８ａ’〜２８ｃ’や２８ｄ’〜２８ｇ’の
位置の情報、例えば蛍光体シートＰ上の画像端部からの
距離、あるいは平行線２８ａ’〜２８ｃ’や２８ｄ’〜
２８ｇ’の各平行線間の間隔の幾何学寸法に関する幾何
学寸法情報２９が、バーコードの形式で記録されてお
り、放射線の照射によってカセッテ２０内に収納する蛍
光体シートＰに平行線パタンＱとともに画像として記録
されるように構成される。この幾何学寸法情報２９に基
づいて得られる各平行線の位置や各平行線の間隔は、蛍
光体シートＰに実際に生成される画像上の平行線パタン
Ｑの各平行線の位置や各平行線の間隔に相当する。

【００２６】幾何学寸法情報２９には、平行線２８ａ’
〜２８ｃ’や２８ｄ’〜２８ｇ’の位置に関する情報の
み、あるいは平行線２８ａ’〜２８ｃ’や２８ｄ’〜２
８ｇ’の各平行線間の間隔の情報のみであってもよい。
なお、パタン情報はバーコードの形式でなく、数字や符
号等であってもよい。なお、図示される例では、幾何学
寸法情報２９は照射面２２の右下側に位置するが、これ
に限られず、予め記録されるおおよその領域が判ってい
れば、右上側等の位置であってもよい。また、幾何学寸
法情報２９のかわりに、平行線パタンＱの平行線の位置
や平行線の間隔の値について、数字や文字や符号等によ
って直接表記されてもよく、その場合、オペレータがカ
セッテ２０から幾何学寸法情報２９の数字や文字や符号
等を目視して直接読み取って、後述する画像検査装置６
０にキーボードやマウスを用いて入力してもよい。その
場合、幾何学寸法情報２９のように必ずしも照射面２２
の面上に表記されている必要はなく、例えば、カセッテ
２０の照射面２２と反対の面や側面等に表記されていて
もよい。

【００２７】この格子状の平行線パタンＱの蛍光体シー
トＰに記録される幾何学寸法情報２９あるいはカセッテ
２０に直接表記されている各平行線の位置や平行線間の
間隔は、蛍光体シートＰに実際に生成される各平行線の
位置や各平行線の間隔であり、カセッテ毎に表示されて
いるので、カセッテによる画像読取時の幾何学寸法のば
らつきを抑えることができる。

【００２８】このようなカセッテ２０の照射面２２は、
放射線、例えばＸ線を透過するカーボン樹脂で形成され
ているので、Ｘ線の照射の際、Ｘ線の透過量を弱め蛍光
体シートＰに平行線パタンＱや幾何学寸法情報２９の画
像を生成できる材料、たとえば鉛やアルミニウム等の金
属を部分的にカーボン樹脂に混ぜて平行線パタンＱや幾
何学寸法情報２９をカセッテ２０の照射面２２上に記録
することができる。また、Ｘ線の透過量を弱める材料、
たとえば鉛やアルミニウム等の合金を細線化したものを
貼り付け、あるいははめ込んでもよい。また、平行線パ
タンＱや幾何学寸法情報２９に放射線の透過の良い材料
を用い、それ以外のカセッテ２０の照射面２２には放射
線の透過の悪い材料で構成して、平行線パタンＱや幾何
学寸法情報２９を画像として記録してもよい。

【００２９】さらに、本発明において、平行線パタンＱ
や幾何学寸法情報２９の線の太さには特に限定はない
が、線が細いほど高精度な検査を行うことができる反
面、線の検出が難しくなり、作業効率という点では不利
になるので、要求される検査精度や画像読取機の空間分
解能等に応じて、適宜決定すればよい。また、複数の平
行な直線によって構成される平行線パタンＱの替わり
に、例えば、蛍光体シートＰの上下あるいは左右の両端
部に、主走査方向（図中ｘの矢印方向）および副走査方
向（図中ｙ矢印方向）に平行であって、間隔が既知の相
対する点や十字等のマークが形成されるように、カセッ
テ２０の照射面２２に点、十字等のマークを記録しても
よい。すなわち、本発明においては、実際のカセッテ２
０上の位置と、読み取った放射線画像上における位置と
を、対応づけて検出できるものであれば、各種のマーク
が利用可能である。

【００３０】また、カセッテ２０には、図４に示すよう
に、蛍光体シートＰをカセッテ２０の基準面Ａ₁および
Ａ₂に沿ってぴったりと固定させる位置決め手段２７ａ
および２７ｂを備え、蛍光体シートＰが常にカセッテ２
０内の所定の位置に配置され、カセッテ２０に記録され
た平行線２８ａ〜２８ｃや２８ｄ〜２８ｇを蛍光体シー
トＰ上の定められた位置に常に記録することができるよ
うに構成される。図中の基準面Ａ₁およびＡ₂は、カセ
ッテ２０の左側面の下側底面としているが、これに限定
されず、例えば、右側面や上側上面であってもよい。位
置決め手段２７ａおよび２７ｂは、蛍光体シートＰを基
準面Ａ₁およびＡ₂に沿ってぴったりと固定させるもの
であればいずれでもよく、弾性体部材、例えばスポンジ
やゴム等の部材やバネ等であってもよい。また、弾性体
部材の配置個数は、それぞれ２個ずつであるが、これに
限定されず１個ずつあるいは３個ずつまたはそれ以上で
あってもよい。また、本発明の位置決め手段では、蛍光
体シートＰを上記基準面に沿って位置決め固定する必要
は必ずしもなく、公知の手段、たとえばフック（カギ状
引っ掛け金具）等でカセッテ２０内の所定の位置に固定
できるものであってもよい。

【００３１】画像読取機３０では、放射線画像が記録さ
れた蛍光体シートＰは、励起光を照射されると、蓄積記
録された放射線画像に応じた輝尽発光光を生じ、この発
光光を光電的に読み取り画像データを得ることができ
る。すなわち、図５に示されるように、励起光Ｂは光源
３２から射出され、ビームエクスパンダ３４によってビ
ーム径を拡径され、ガルバノメータミラー３６等の光偏
向器によって主走査方向（図中ｘの矢印方向）に一次元
的に走査される。主走査方向に走査された励起光Ｂは、
ｆθレンズ３８によって、所定の読み取り位置に所定の
ビーム径で結像される。

【００３２】一方、放射線画像を蓄積記録された蛍光体
シートＰは、ローラおよびエンドレスベルトからなる副
走査搬送手段４０によって、その表面を読み取り位置に
保たれつつ、主走査方向と直交する副走査方向（図中ｙ
の矢印方向）に副走査搬送される。前述のように、励起
光Ｂは、主走査方向に走査されているので、副走査方向
に搬送される蛍光体シートＰは、結果的に、励起光Ｂに
よって２次元的に全面を走査される。

【００３３】蛍光体シートＰの励起光Ｂによって走査さ
れた位置からは、蓄積記録された放射線画像に応じた輝
尽発光光が射出される。輝尽発光光は、光ガイド４２に
よって伝播されて、フィルタ（図示省略）によって輝尽
発光光以外の成分を除去され、フォトマルチプライヤ
（光電子増倍管）４４によって、光電的に読み取られ
る。光電的に読み取られた画像データは、画像処理装置
５０に送られる。

【００３４】画像処理装置５０では、フォトマルチプラ
イヤ４４からの出力信号が放射線画像の画像信号として
画像読取機３０から出力され、所定のピクセルクロック
周波数でサンプリングされて、増幅、シェーディング補
正、暗時補正、Ｌｏｇ変換、Ａ／Ｄ変換（アナログ／デ
ジタル変換）、アンチエリアジング処理等の処理が行わ
れて、放射線画像のデジタルの画像データとされる。こ
の画像データは、必要に応じて幾何学的寸法に変化を与
えない階調補正、シャープネス処理、コントラスト補正
等の各種の画像処理が行われ、得られた処理後の画像デ
ータは画像検査装置６０に送られる。また、必要に応じ
て画像処理前の画像データや画像処理後の画像データが
モニタ７０に送られ画像処理前あるいは画像処理後の読
取画像が表示される。

【００３５】画像検査装置６０は、図６に示されるよう
に、蛍光体シートＰに平行線パタンＱや幾何学寸法情報
２９が蓄積記録された画像から読取画像を得て読取画像
の幾何学寸法検査を行なう検査装置であり、図７に示さ
れるカセッテ２０の平行線２８ａ〜２８ｃや２８ｄ〜２
８ｇに対応する読取画像８０上の平行線パタンＱの各平
行線８２ａ〜８２ｃや８２ｄ〜８２ｇの位置を算出する
画像データ位置算出部６２と、読取画像上の幾何学寸法
情報２９の画像データを読み取って、カセッテ２０の照
射面２２に記録され、蛍光体シートＰに生成される画像
上の平行線２８ａ’〜２８ｃ’や２８ｄ’〜２８ｇ’の
各直線の位置や直線間の間隔を知る位置情報取得部６４
と、得られた読取画像上での平行線パタンＱの各直線の
位置や直線間の間隔と、位置情報取得部６４で得られた
蛍光体シートＰに生成される画像上の各直線の位置や直
線間の間隔を比較することによって読取画像の幾何学寸
法の検査を行なう画像検査部６６とを主に有して構成さ
れる。また、画像検査装置６０は、読取画像から平行線
パタンを抽出した各直線の位置の確認をし、また場合に
よっては、読取画像上の幾何学寸法情報２９の位置をオ
ペレータが指示し、また読取画像の幾何学寸法の検査方
法を指示するために用いられ、また検査の経過を表示す
るモニタ７０に接続される。

【００３６】画像データ位置算出部６２では、画像処理
装置５０から送られた読取画像８０の画像データの階調
値から平行線パタンＱを構成する平行線８２ａ〜８２ｃ
および８２ｄ〜８２ｇを自動的に抽出し、その画像デー
タの位置を自動的に算出する。

【００３７】位置情報取得部６４では、読取画像上の幾
何学寸法情報２９の位置する領域は予め知られており、
その領域の読取画像の画像データの階調値から幾何学寸
法情報２９の位置を自動的に探し出し、バーコード形式
で表示された幾何学寸法情報２９をその画像データの階
調値から解読し、解読した情報より蛍光体シートＰに生
成される画像上の平行線パタンＱの各平行線の位置や直
線の間隔を知ることができる。このようにカセッテ毎の
平行線の位置や直線の間隔を知ることができるので、カ
セッテ毎の記録された平行線パタンＱのばらつきによる
幾何学寸法検査での検査結果のばらつきはなくなる。

【００３８】画像検査部６６では、画像データ位置算出
部６２で得られた読取画像上での平行線パタンＱの各平
行線の位置と、位置情報取得部６４で得られた蛍光体シ
ートＰに生成される画像上の各平行線の位置や間隔の情
報とから読取画像の幾何学寸法の検査を行なう。すなわ
ち、モニタ７０上でオペレータの指示に応じて、読取画
像の２本の直線間の距離や直線の位置、曲がりや傾きを
調べ、蛍光体シートＰに生成される画像上の各直線の位
置や間隔等の情報と比較することによって読取画像の幾
何学寸法の検査を行なう。得られた検査結果は、画像検
査装置６０の図示されない記憶部に記憶されるととも
に、モニタ７０に表示されまた図示されないプリンタに
プリント出力される。

【００３９】幾何学寸法検査システム１０は、このよう
に構成される。以下、このシステムを用いた幾何学寸法
検査方法についての一例を説明する。なお、以下に示す
例では、幾何学寸法検査として、全体縮率、部分縮率、
画像位置、画像の曲がり、および画像の傾きの検査を例
示するが、本発明は、これに限定されない。

【００４０】画像読取機３０の読取画像の幾何学寸法検
査を行う際には、例えば、モード等の選択によって、幾
何学寸法検査を行う旨の指示を装置に出すとともに、蛍
光体シートＰを位置決め手段２７ａおよび２７ｂによっ
てカセッテ２０内の所定の位置に配置固定して、カセッ
テ２０の照射面２２に記録されている平行線パタンＱお
よび幾何学寸法情報２９をＸ線の照射によって蛍光体シ
ートＰに蓄積記録した後、カセッテ２０に挿入したま
ま、画像読取機３０の所定の位置に装填する。読み取り
開始の指示に応じて、カセッテ２０から蛍光体シートＰ
は取り出され、蛍光体シートＰは副走査搬送手段４０に
搬送され、副走査搬送手段４０によって副走査方向に搬
送されつつ、主走査方向に偏向された励起光Ｂによっ
て、全面を二次元的に走査される。

【００４１】蛍光体シートＰの励起光Ｂによって走査さ
れた位置からは、平行線パタンＱおよび幾何学寸法情報
２９の画像が蓄積記録された程度に応じて輝尽発光光が
生じる。輝尽発光光は、光ガイド４２によって伝播され
て、フォトマルチプライヤ４４によって読み取られ、画
像処理装置５０に送られる。画像処理装置５０では、画
像読取機３０から出力された出力信号は、増幅、シェー
ディング補正、暗時補正、Ｌｏｇ変換、Ａ／Ｄ変換（ア
ナログ／デジタル変換）、アンチエリアジング処理等の
処理が行われて、放射線画像のデジタルの画像データと
される。その後、階調処理や周波数処理などの画像処理
を施すようにしてもよい。ここで、蛍光体シートＰに
は、平行線パタンＱおよび幾何学寸法情報２９の画像が
記録されているので、画像処理後の読取画像には、平行
線パタンＱおよび幾何学寸法情報２９が形成される。得
られた画像処理後の画像データは、画像検査装置６０に
送られる。

【００４２】送られた読取画像８０の画像データは、画
像データ位置算出部６２において、平行線８２ａ’〜８
２ｃ’および８２ｄ’〜８２ｇ’を自動的に抽出し算出
する。すなわち、読取画像８０の画像データのうち、画
像データの階調値が設定された閾値を連続して超える画
像データを抽出することによって、平行線パタンＱを構
成する平行線８２ａ’〜８２ｃ’および８２ｄ’〜８２
ｇ’を自動的に抽出し算出する。この際、読取画像のコ
ントラストに応じて階調値の閾値をオペレータが定める
ようにしてもよく、また、画像データのヒストグラムや
最大値・最小値などの読取画像の統計的性質に基づいて
閾値を自動的に設定してもよい。また、マークが点や十
字等の場合においても同様の方法で位置を算出する。な
お、実施する幾何学寸法検査に応じて、不要な平行線
は、位置の算出を行わなくてもよい。また、画像データ
位置算出部６２において、平行線パタンＱを自動的に抽
出することなく、オペレータがマウスやキーボードを等
によって、平行線８２ａ’〜８２ｃ’および８２ｄ’〜
８２ｇ’の位置を読取画像の表示画面を見ながら指定し
てもよい。

【００４３】また、読取画像データは、位置情報取得部
６４にも送られ、読取画像上の幾何学寸法情報２９の位
置を自動的に探し出す。読取画像上の幾何学寸法情報２
９の位置は、予めその領域が知られており、その領域部
分の読取画像の画像データを上記平行線パタンＱの場合
と同様に、ある閾値で２値化して幾何学寸法情報２９を
保持する画像パタンを抽出することができる。

【００４４】探し出された幾何学寸法情報２９は、バー
コード形式で表示されているため、画像データの階調値
から幾何学寸法情報２９を容易に解読することができ
る。つまり、０または１のビットから成る幾何学寸法情
報２９を認識したのち、この情報を解読し、平行線２８
ａ’〜２８ｃ’や２８ｄ’〜２８ｇ’の位置や間隔を数
値として知る。これによって、蛍光体シートＰに生成さ
れる画像上の平行線２８ａ’〜２８ｃ’や２８ｄ’〜２
８ｇ’の位置や平行線間の間隔、例えば平行線２８ａ’
と２８ｂ’や２８ｄ’と２８ｅ’等の各間隔を取得す
る。このようにカセッテに依存する平行線の位置や平行
線間の間隔が得られるので、後述する幾何学寸法検査に
おいて、カセッテ毎の記録された平行線パタンＱのばら
つきによる検査結果のばらつきはなくなる。

【００４５】このようにして得られた読取画像上での平
行線パタンＱの各平行線（図７に示される平行線８２ａ
〜８２ｃや８２ｄ〜８２ｇ）の位置や平行線間の間隔
と、幾何学寸法情報２９から得られる、蛍光体シートＰ
に生成される画像上の各平行線２８ａ’〜２８ｃ’や２
８ｄ’〜２８ｇ’の位置および平行線の間隔とから読取
画像の幾何学寸法の検査を行なう。読取画像の幾何学的
寸法の検査とは、画像読取機３０で得られた読取画像の
主走査方向や副走査方向の長さの拡縮や読取画像の蛍光
体シートＰに対するずれや読取画像の歪みや傾き等の検
査であり、これらは、画像読取機５０の画像読取時に発
生するものである。それゆえ、読取画像の幾何学的寸法
の検査を行なうことで、画像読取機３０の幾何学寸法の
検査を行なうことになり、検査結果に応じて、読取走査
時の走査条件、例えば主走査ピクセルクロック周波数設
定条件等を微調整することができる。

【００４６】なお、上記の幾何学寸法の検査に際し、読
取画像８０上における位置や寸法は画素数で得られる
（つまり何画素目の位置か、何画素の大きさであるか
等）のに対し、カセッテ２０の表面上における既知の位
置や寸法の値は、センチメートルなどの長さの単位で設
定されるのが一般的である。従って、画素数を長さに変
換するステップ、もしくは長さを画素数に変換するステ
ップが必要となる。この変換は画像を読みとる際のサン
プリング密度および読取画像に施された画素密度変換の
拡大率がわかれば一意に定まる。このような変換に必要
な情報は読取画像の付帯情報としての幾何学寸法の検査
を行う手段である画像検査部６６に入力され、それを用
いて上記変換を行うようにするのが好ましい。

【００４７】このような幾何学寸法の検査は、以下に示
すように自動的に行う。あるいは、各平行線の位置をモ
ニタ７０に表示しオペレータが以下のような検査を行っ
てもよい。

【００４８】図７には、カセッテ２０を用いて照射さ
れ、画像読取機３０によって読みとられた読取画像８０
が示されている。この読取画像では、幾何学寸法情報２
９についての読取画像は省略されている。主走査方向の
画像読取の全体縮率、すなわち主走査方向の画像全体の
長さ（サイズ）の検査は、蛍光体シートＰの主走査方向
の端部近傍に記録される、蛍光体シートＰに生成される
画像上での主走査方向の間隔が既知の２本の平行線を用
いて行うことができる。図７の例においては、平行線２
８ａ’と２８ｃ’に対応する読取画像８０での平行線８
２ａと８２ｃとを用いて行うものであり、一例として、
読み取った平行線８２ａと８２ｃの画像における副走査
方向（図中ｙの矢印方向）の同じ位置での主走査方向
（図中ｘの矢印方向）の画素数（ピクセル数）を求め、
画素数と画像読取の画素間隔とから、読取画像上の平行
線８２ａと８２ｃの距離（読取寸法）を算出する。これ
と位置情報取得部６４で取得された蛍光体シートＰに生
成される画像上の平行線２８ａ’と２８ｃ’の距離（基
準寸法）とを用いて、下記式によって全体縮率を算出し
て行う。

【００４９】副走査方向の全体縮率も、同様に、蛍光体
シートＰの主走査方向の端部近傍に記録される、蛍光体
シートＰに生成される画像上での主走査方向の間隔が既
知の２本の平行線を用いて行うことができる。図示例に
おいては、平行線８２ｄおよび８２ｇを用いて行うもの
であり、同様に、読み取った画像における、主走査方向
（図中ｘの矢印方向）の同じ位置での平行線８２ｄおよ
び８２ｇの画素数から、平行線８２ｄおよび８２ｇの読
取寸法を算出して、これと位置情報取得部６４で取得さ
れた蛍光体シートＰに生成される画像上の平行線２８
ｄ’と２８ｇ’の基準寸法とを用いて、下記式によって
全体縮率を算出して行う全体縮率［％］＝−［１−（読取寸法／基準寸法）］×
１００

【００５０】主走査方向の全体縮率が不適性な場合に
は、画像データのサンプリング周波数の設定変更等で、
主走査ピクセルクロック周波数を微調整する等の方法に
よって、対処することができる。また、副走査方向の全
体縮率が不適性な場合には、副走査搬送手段４０のモー
タ回転速度の調整等によって、対処することができる。

【００５１】画像読取機の部分縮率（部分的な長さ）の
検査は、基本的に、全体縮率と同様に行えばよく、蛍光
体シートＰに生成される画像上での主走査方向の間隔が
既知の２本の平行線を用いて行う。例えば、主走査方向
であれば、平行線２８ａ’〜２８ｂ’、２８ｂ’〜２８
ｃ’に対応する平行線８２ａ〜８２ｂ、８２ｂ〜８２ｃ
の読取寸法を算出し、位置情報取得部６４で取得された
蛍光体シートＰに生成される画像上の平行線２８ａ’〜
２８ｂ’、２８ｂ’〜２８ｃ’の基準寸法を用いて、部
分縮率を算出する。また、３本以上の平行線を記録した
カセッテ２０において、読取画像上の隣り合う平行線間
の間隔を各々求めて、各位置での部分縮率を求めるよう
にしてもよい。なお、部分縮率の検査は、隣り合う平行
線間で行うのに限定はされず、例えば、副走査方向の場
合、平行線２８ｄ’〜２８ｆ’、２８ｅ’〜２８ｇ’に
対応する平行線８２ｄ〜８２ｆ、８２ｅ〜８２ｇの間隔
等で行ってもよい。副走査方向の部分縮率も、主走査方
向と同様に求めることができる。主走査方向の部分縮率
が不適性な場合には、光学系の調整や交換等で対処する
ことができ、副走査方向の部分縮率が不適性な場合に
は、副走査搬送手段４０のモータの交換や、副走査搬送
手段４０の交換等で対処することができる。

【００５２】画像位置の検査は、読取画像８０上の絶対
的な位置、例えば走査方向または副走査方向の端部から
の距離が既知の蛍光体シートＰに記録される直線を用い
て行うことができる。図示例においては、例えば平行線
８２ａに注目して、読み取った画像における主走査方向
の読取開始点（画像始点）から、平行線８２ａまでの画
素数から、主走査方向における平行線８２ａの位置を算
出し、位置情報取得部６４で取得された蛍光体シートＰ
に生成される画像上の平行線２８ａ’の位置と比較し
て、主走査方向における画像位置の検査を行う。また、
副走査方向の画像位置の検査も、同様に行うことができ
る。主走査方向の画像位置が適正でない場合には、画像
読取における見送り画素数の調整等によって、副走査方
向の画像位置が適正でない場合には、見送りライン数の
調整等によって、それぞれ対処することができる。ま
た、カセッテ２０内に蛍光体シートＰを所定の位置に収
納する位置決め機構が設けられている場合、この位置決
め機構を微調整して、カセッテ２０内に収納される蛍光
体シートＰの収納位置を調整することができる。

【００５３】画像の曲がり（歪曲）の検査は、主走査方
向の平行線を用いて直線を用いて行うことができる。例
えば、読取画像の平行線８２ａの曲がりを、図７に示さ
れる平行線８２ａ上の上下両端に位置する所定の点をと
り、この２点によって引かれる仮想直線から平行線８２
ａ上の上下両端の中間に位置する点が、上記仮想直線か
ら離れている距離を測定することで主走査方向の画像の
曲がりの検査を行ことができる。副走査方向の画像の曲
がりの検査も、同様に行うことができる。必要に応じ
て、複数の平行線を用いて、画像の曲がりの検査を行っ
てもよい。なお、照射面２２に記録されるマークが直線
でなく、例えば点の場合、蛍光体シートＰに生成される
画像上において、走査方向または副走査方向に平行に位
置する点を用い、この点を結ぶ理想直線上にある点と読
取画像の前記点に対応する点の位置との差を読みとっ
て、画像の曲がりを検査してもよい。副走査方向の画像
の曲がりの検査も、同様に行うことができる。画像が主
走査方向に曲がっている場合には、光学系の調整や交換
等によって、画像が副走査方向に曲がっている場合に
は、副走査搬送手段４０の部品や副走査搬送手段４０そ
のものの交換等によって、それぞれ対処することができ
る。

【００５４】画像の傾きの検査は、平行線を用いて主走
査方向または副走査方向の直線の傾きを調べ、読取画像
での画像の傾きを調べることによって行なうとができ
る。例えば、前述の例と同様にして、読み取った画像に
おける平行線８２ａの傾きを平行線８２ａ上の両端部の
点の位置から傾きを調べることに主走査方向の傾きを検
査できる。なお、照射面２２に記録されるマークが直線
でなく、例えば点の場合、蛍光体シートＰに生成される
画像の主走査方向または副走査方向に平行な２点に注目
し、この２点に対応する読取画像上の位置を算出し、こ
の２点を結ぶ仮想直線の傾きを求めることによって、主
走査方向の傾きを検査できる。この場合、用いる２点は
限定はされない。主走査方向に画像が傾いている場合に
は、光学系の調整や交換等によって、副走査方向に画像
が傾いている場合には、副走査搬送手段４０の部品や副
走査搬送手段４０そのものの交換等によって、それぞれ
対処することができる。

【００５５】このような幾何学検査の結果は、自動的に
行なうことができ、カセッテ毎の各平行線の位置やばら
つきによる検査結果のばらつきも自動的に補正される
点、有効である。なお、検査の結果は、モニタ７０への
表示、ハードコピーとして出力される。あるいは、ピク
セルクロック周波数の微調整や、副走査搬送手段２０の
モータの回転速度調整等、調整可能なものについては、
不適性の結果に応じて画像読取機３０が自動的に調整を
おこなうようにしてもよい。また、上記の幾何学寸法の
検査を実施する手段を画像読取機に設けて、画像読取か
ら検査まで自動的に行うようにしてもよく、更には上記
調整までを自動的に行うようにしてもよい。

【００５６】以上、本発明の放射線画像の幾何学寸法検
査方法、幾何学寸法検査用カセッテおよび幾何学寸法検
査装置について詳細に説明したが、本発明は、上記実施
例に限定はされず、本発明の要旨を逸脱しない範囲にお
いて、各種の改良や変更を行ってもよいのは、もちろん
である。

【００５７】

【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、放射線画像読取機によって得られた読取画像
の、全体縮率、部分縮率、画像位置、画像の歪曲、画像
の傾き等の多種の幾何学寸法検査を行なう際、放射線記
録媒体に生成される画像上の幾何学寸法が既知のマーク
が放射線の照射面に予め記録された幾何学検査用カセッ
テを用い、この記録されたマークを、放射線の照射によ
って蛍光体シート等の放射線記録媒体に画像として記録
した後、このマークの読取画像を得ることができるの
で、恒久的に消えないテストパターンを有する検査専用
の蛍光体シート等の放射線記録媒体を用いることなく通
常使用される放射線撮影用蛍光体シートを用いることが
でき、また従来のようにファントムを撮影する際の拡大
率を考慮する煩雑さがなく、より簡易に精度よく幾何学
寸法の検査を行うことができる。また、カセッテは蛍光
体シートのように劣化が生じないので、実質的に新品の
カセッテに交換する必要がなく、蛍光体シートが劣化し
た場合には、検査専用の蛍光体シートでなく、通常使用
される放射線撮影用蛍光体シートを用意するだけで済
む。さらに、この検査結果に応じて画像読取機を微調整
できるので、例えば、この検査方法を放射線診療システ
ムに利用することにより、高精度な画像を用いた正確な
診断を安定して行うことが可能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の放射線画像読取機の幾何学寸法検査
方法を実施する幾何学寸法検査装置を含む幾何学寸法検
査システムの概略を示すブロック図である。

【図２】本発明の放射線画像読取機の幾何学寸法検査
用カセッテの一例を示す斜視図である。

【図３】図２に示される幾何学寸法検査用カセッテの
照射面を示す平面図である。

【図４】本発明の幾何学寸法検査用カセッテに設けら
れる位置決め手段を説明するカセッテの断面図である。

【図５】本発明の放射線画像読取機の幾何学寸法検査
方法を実施する際に用いられる放射線画像読取機の好適
な一例の概略図である。

【図６】本発明の放射線画像読取機の幾何学寸法検査
装置の概略を示すブロック図である。

【図７】本発明の放射線画像読取機の幾何学寸法検査方
法で得られる読取画像の一例を示す説明図である。

【符号の説明】

１０幾何学寸法検査システム２０幾何学寸法検査用カセッテ２２照射面２４筐体２６蓋体２７ａ、２７ｂ位置決め手段２８ａ〜２８ｇ、２８ａ’〜２８ｇ’、８２ａ〜８２ｇ
平行線２９幾何学寸法情報３０画像読取機３２光源３４ビームエクスパンダ３６ガルバノメータミラー３８ｆθレンズ４０副走査搬送手段４２光ガイド４４フォトマルチプライヤ５０画像処理装置６０画像検査装置６２画像データ位置算出部６４位置情報取得部６６画像検査部７０モニタ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】放射線画像を生成する放射線記録媒体をカ
セッテ内に収納して放射線を照射し、前記放射線記録媒
体に画像を生成して画像読取機で画像読取を行なうに際
し、前記放射線記録媒体に画像として生成される、画像上の
幾何学寸法が既知のマークが、前記カセッテの放射線の
照射面に予め記録されており、この記録されたマークを、放射線の照射によって前記放
射線記録媒体に画像として記録して、前記マークの読取
画像を得、前記マークに関して既知の前記幾何学寸法と前記マーク
の読取画像上の幾何学寸法とから前記画像読取機の幾何
学寸法を検査することを特徴とする放射線画像読取機の
幾何学寸法検査方法。
【請求項２】前記マークは、幾何学寸法として、前記マ
ークの所定の位置からの距離、または前記マークが複数
の場合における前記マーク間の間隔が既知である請求項
１に記載の放射線画像読取機の幾何学寸法検査方法。
【請求項３】前記カセッテに依存する前記マークの幾何
学寸法が、前記カセッテに表示されている請求項１また
は２に記載の放射線画像読取機の幾何学寸法検査方法。
【請求項４】前記カセッテに依存する前記マークの前記
幾何学寸法に関する情報が、前記マークとともに前記照
射面に記録され、この情報が記録されたカセッテを用い
ることで、前記幾何学寸法に関する情報を、前記放射線
記録媒体に画像として記録される前記マークとともに前
記読取画像に形成させ、この読取画像に形成された前記幾何学寸法に関する情報
を情報取得手段によって自動的に認識して、前記マーク
の幾何学寸法を得、この既知となった幾何学寸法と対応する前記読取画像の
幾何学寸法とから幾何学寸法を検査する請求項１〜３の
いずれかに記載の放射線画像読取機の幾何学寸法検査方
法。
【請求項５】前記マークは直線であって、平行に引かれ
た複数の直線によって平行線パタンを形成する請求項１
〜４のいずれかに記載の放射線画像読取機の幾何学寸法
検査方法。
【請求項６】前記放射線記録媒体は、前記カセッテ内の
所定位置に固定されて画像が記録される請求項１〜５の
いずれかに記載の放射線画像読取機の幾何学寸法検査方
法。
【請求項７】前記幾何学寸法の検査は、画像読取の際の
前記放射線記録媒体に生成される画像の主走査方向また
は副走査方向の端部近傍に記録される、前記放射線記録
媒体に生成される画像上の前記主走査方向または副走査
方向での間隔が既知の２つの前記マークを用い、これら
のマークの間隔と対応する読取画像上のマークの間隔と
から、前記主走査方向または副走査方向の読取画像全体
の長さを検査する全体縮率の検査と、前記放射線記録媒体に生成される画像上の前記主走査方
向または副走査方向での間隔が既知の少なくとも２つの
前記マークを用い、これらのマークの間隔と対応する読
取画像上のマークの間隔とから、読取画像の前記主走査
方向または副走査方向の部分的な長さを検査する部分縮
率の検査と、前記放射線記録媒体に生成される画像上の絶対的な位置
が既知の前記放射線記録媒体に記録される前記マークを
用い、このマークとこのマークに対応する読取画像上の
マークの位置とから、画像の幾何学的な位置を検査する
画像位置の検査と、前記放射線記録媒体に生成される画像の前記主走査方向
または副走査方向に平行に位置する前記マークを用い、
このマークを結ぶ理想直線上にある点と読取画像の前記
点に対応する点の位置とから、画像の曲がりを検査し、
あるいは、前記マークが直線の場合、この直線に対応す
る読取画像上の直線の曲がりを調べ、読取画像での画像
の曲がりを検査する画像曲がりの検査と、前記放射線記録媒体に生成される画像の前記主走査方向
または副走査方向に平行に位置する前記マークを用い、
このマークの前記放射線記録媒体に生成される画像の端
部からの距離と前記マークに対応する読取画像の端部か
らの距離とから、画像の傾きを検査し、あるいは、前記
マークが直線の場合、この直線に対応する読取画像の直
線の傾きを調べ、読取画像での画像の傾きを検査する画
像傾きの検査との中から少なくとも１つ選ばれる検査で
ある、請求項１〜６のいずれかに記載の放射線画像読取
機の幾何学寸法検査方法。
【請求項８】放射線記録媒体を収納し、放射線の照射を
受ける照射面を有する筐体と、この筐体の照射面に記録
され、放射線の照射によって前記放射線記録媒体に生成
される画像上の幾何学寸法が既知のマークとを有するこ
とを特徴とする幾何学寸法検査用カセッテ。
【請求項９】前記マークの幾何学寸法は、前記マークの
所定の位置からの距離、または前記マークが複数の場合
における前記マーク間の間隔である請求項８に記載の幾
何学寸法検査用カセッテ。
【請求項１０】前記カセッテに依存する前記マークの幾
何学寸法が、前記カセッテに表示されている請求項８ま
たは９に記載の幾何学寸法検査用カセッテ。
【請求項１１】前記カセッテに依存する前記マークの幾
何学寸法に関する情報であって、放射線の照射によって
前記放射線記録媒体に画像として記録される情報が、前
記照射面に前記マークとともに記録されている請求項８
〜１０のいずれかに記載の幾何学寸法検査用カセッテ。
【請求項１２】前記マークは、直線であって、平行に引
かれた複数の直線によって平行線パタンを形成する請求
項８〜１１のいずれかに記載の幾何学寸法検査用カセッ
テ。
【請求項１３】前記カセッテは、放射線を照射して画像
を記録する際に、前記放射線記録媒体を前記カセッテ内
の所定位置に固定する位置決め手段を備える請求項８〜
１２のいずれかに記載の幾何学寸法検査用カセッテ。
【請求項１４】カセッテに収納された放射線記録媒体に
放射線を照射して生成される画像に走査読取を行なう画
像読取機の幾何学寸法の検査を行なう画像検査装置であ
って、前記放射線記録媒体に生成される画像上の幾何学寸法が
既知のマークが予め前記カセッテの照射面に記録された
カセッテを用い、前記放射線記録媒体に記録された画像
を得、この得られた画像から走査読取を行なって得られ
る読取画像に対して、前記マークの画像上の幾何学寸法が既知の情報と、これ
に対応する読取画像上の幾何学寸法とから、読取画像全
体の長さを検査する全体縮率の検査、および読取画像の
部分的な長さを検査する部分縮率の検査、および読取画
像の幾何学的な位置を検査する画像位置の検査、および
読取画像での画像の曲がりを検査する画像曲がりの検
査、および画像の傾きを検査する画像傾きの検査のうち
の少なくとも１つの検査を行なう幾何学寸法検査手段を
有することを特徴とする放射線画像読取機の幾何学寸法
検査装置。
【請求項１５】前記マークとともに前記カセッテの照射
面に記録された前記マークの画像上の幾何学寸法に関す
る情報が前記読取画像に形成された場合、前記幾何学寸法に関する情報を自動的に読み取って、前
記マークの幾何学寸法を既知とする情報取得手段が前記
画像読取機に備えられている請求項１４に記載の放射線
画像読取機の幾何学寸法検査装置。