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JP2000223460A - Wafer cleaning apparatus - Google Patents

Wafer cleaning apparatus

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Publication number
JP2000223460A
JP2000223460A JP11019666A JP1966699A JP2000223460A JP 2000223460 A JP2000223460 A JP 2000223460A JP 11019666 A JP11019666 A JP 11019666A JP 1966699 A JP1966699 A JP 1966699A JP 2000223460 A JP2000223460 A JP 2000223460A
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JP
Japan
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cleaning
substrate
holding
brush
base member
Prior art date
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Granted
Application number
JP11019666A
Other languages
Japanese (ja)
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JP4086398B2 (en
Inventor
Masami Otani
正美 大谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP01966699A priority Critical patent/JP4086398B2/en
Publication of JP2000223460A publication Critical patent/JP2000223460A/en
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  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable suitably cleaning both the surface and the back of a wafer. SOLUTION: The peripheral part of a wafer W is held in a state in which a base member 2 and the wafer W are isolated with a holding member 6 installed on the base member 2. A first cleaning brush 21 for cleaning a first cleaning surface WF1 of a side facing the base member 2, out of the surface of the wafer W held with the holding member 6 is movably arranged and retained between the wafer W and the base member 2 by a first cleaning apparatus retaining arm 22, along a first cleaning surface WF1. While a wafer holding mechanism 1 and the wafer W held with the mechanism 1 are rotated by a rotating motor 11 via a hollow rotating shaft 9 linked with the base member 2, the first cleaning brush 21 is moved along the first cleaning surface WF1, by the moving power of a rotating motor 16. The first cleaning surface WF1 of the wafer W is cleaned with the first cleaning brush 21.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハや液
晶表示器用のガラス基板、フォトマスク用のガラス基
板、光ディスク用の基板などの基板に洗浄処理を施す基
板洗浄装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate cleaning apparatus for cleaning substrates such as semiconductor wafers, glass substrates for liquid crystal displays, glass substrates for photomasks, and substrates for optical disks.

【0002】[0002]

【従来の技術】この種の基板洗浄装置は、スピンチャッ
クで基板を水平姿勢に保持して鉛直方向の軸芯周りで回
転させながら、その基板の洗浄面を洗浄ブラシなどの洗
浄具で洗浄するように構成されている。
2. Description of the Related Art In a substrate cleaning apparatus of this type, a substrate to be cleaned is cleaned with a cleaning tool such as a cleaning brush while the substrate is held in a horizontal position by a spin chuck and rotated around a vertical axis. It is configured as follows.

【0003】ここで、例えば、真空吸着式のスピンチャ
ックの場合、基板の一方側の面(通常は下面)の中央部
に密着される吸着面を有するベース部材を備えており、
また、メカニカル式のスピンチャックの場合は、基板の
周縁部を保持する保持部材を有し、支持するための基板
の一方側の面(通常は下面)に近接配置されるベース部
材を備えている。
Here, for example, in the case of a vacuum chuck type spin chuck, there is provided a base member having a suction surface which is in close contact with the center of one surface (usually the lower surface) of the substrate,
Further, in the case of a mechanical spin chuck, the spin chuck has a holding member for holding a peripheral portion of the substrate, and includes a base member disposed close to one surface (usually, a lower surface) of the substrate for supporting. .

【0004】このスピンチャックのベース部材は、基板
の洗浄面を洗浄ブラシなどの洗浄具で洗浄する上で邪魔
になるので、スピンチャックに保持された基板の面のう
ち、ベース部材に向く側の面(通常は下面)の洗浄を行
うことができなかった。そのため、従来の基板洗浄装置
は、スピンチャックに保持された基板の面のうち、ベー
ス部材に向く側の面と反対側の面(通常は上面)のみを
洗浄面とした洗浄を行うように構成されている。
The base member of the spin chuck hinders the cleaning of the cleaning surface of the substrate with a cleaning tool such as a cleaning brush. Therefore, of the surface of the substrate held by the spin chuck, the base member facing the base member. The surface (usually the lower surface) could not be cleaned. Therefore, the conventional substrate cleaning apparatus is configured to perform cleaning using only the surface (usually the upper surface) opposite to the surface facing the base member among the surfaces of the substrate held by the spin chuck. Have been.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。例えば、基板の表面と裏面の両面を洗浄する場
合、従来は、基板の表面を上にしてスピンチャックに保
持して基板の表面を洗浄する基板洗浄装置(表面洗浄装
置)と、基板の裏面を上にしてスピンチャックに保持し
て基板の裏面を洗浄する基板洗浄装置(裏面洗浄装置)
と、上を向く基板の面を表面と裏面とで反転させる基板
反転装置とが必要になる。
However, the prior art having such a structure has the following problems. For example, when cleaning both the front surface and the back surface of a substrate, conventionally, a substrate cleaning device (front surface cleaning device) that cleans the front surface of the substrate by holding the substrate with the front surface up and holding it on a spin chuck, Substrate cleaning device (back surface cleaning device) for cleaning the back surface of the substrate while holding it on the spin chuck
Then, a substrate reversing device for reversing the surface of the substrate facing upward on the front surface and the back surface is required.

【0006】そして、まず、一方の基板洗浄装置、例え
ば、裏面洗浄装置で基板の裏面を洗浄し、裏面の洗浄を
終えると、裏面洗浄装置から基板反転装置に基板を搬送
し、基板反転装置で上を向く基板の面を裏面から表面に
反転させた後、基板反転装置から表面洗浄装置に基板を
搬送し、基板の表面を洗浄する工程が必要になる。
[0006] First, the back surface of the substrate is cleaned by one substrate cleaning device, for example, a back surface cleaning device, and when the back surface cleaning is completed, the substrate is transported from the back surface cleaning device to the substrate reversing device, and the substrate reversing device is used. After reversing the surface of the substrate facing upward from the back surface to the front surface, a step of transporting the substrate from the substrate reversing device to the front surface cleaning device and cleaning the surface of the substrate is required.

【0007】すなわち、従来は、基板の表裏両面を洗浄
する際に必要な装置数が多くなり、それに応じて装置の
設置面積(フットプリント)が大きくなるとともに、基
板の表裏両面の洗浄に要する時間が長くなり、スループ
ットが低下するという問題がある。
That is, conventionally, the number of devices required for cleaning the front and back surfaces of a substrate increases, and accordingly the installation area (footprint) of the device increases, and the time required for cleaning the front and back surfaces of the substrate increases. And the throughput is reduced.

【0008】また、例えば、表面を上に向けた状態で多
数の基板が水平姿勢で収容されたカセットから基板を取
り出し、基板の表裏両面を洗浄した後、表面を上に向け
た状態で再びカセットに戻す場合には、さらに、裏面洗
浄装置で行う基板の裏面洗浄の前にも基板の面を表面か
ら裏面に反転させる必要があり、スループットの一層の
低下を招くことになる。しかも、上を向く基板の面を表
面から裏面に反転させる基板反転装置と、上を向く基板
の面を裏面から表面に反転させる基板反転装置とを個別
に備える場合には、フットプリントの一層の増大を招く
ことになる。
Further, for example, a substrate is taken out of a cassette in which a large number of substrates are housed in a horizontal posture with the surface facing upward, the front and rear surfaces of the substrate are washed, and then the cassette is again placed with the surface facing upward. In the case of returning to the above, it is necessary to reverse the surface of the substrate from the front surface to the back surface even before cleaning the back surface of the substrate by the back surface cleaning apparatus, which further lowers the throughput. Moreover, when a substrate reversing device for reversing the surface of the substrate facing upward from the front surface to the rear surface and a substrate reversing device for reversing the surface of the substrate facing upward from the rear surface to the front surface are separately provided, a further increase in the footprint is required. This will lead to an increase.

【0009】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、装置のフットプリントを小さくし、ス
ループットを向上させて基板の表裏両面の洗浄が可能な
基板洗浄装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such circumstances, and provides a substrate cleaning apparatus capable of cleaning the front and rear surfaces of a substrate with a reduced footprint and improved throughput. With the goal.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項1に記載の発明は、基板に洗浄処理を施す基
板洗浄装置であって、ベース部材に設けられた保持部材
によって前記ベース部材と基板とが離間された状態で基
板の周縁部を保持する基板保持手段と、前記ベース部材
に連結された中空状の回転軸を介して前記基板保持手段
を回転させる回転駆動手段と、前記保持部材に保持され
た基板の面のうち、前記ベース部材に向く側の面(以
下、この面を「第1洗浄面」と言う)を洗浄するための
第1洗浄具と、前記保持部材に保持された基板と前記ベ
ース部材との間に前記第1洗浄具を配置させて、前記第
1洗浄面に沿って前記第1洗浄具を移動可能に支持する
第1洗浄具支持手段と、前記ベース部材を挟んで、前記
保持部材に保持された基板が配置される空間と反対側の
空間に配設され、前記第1洗浄面に沿った前記第1洗浄
具の移動を駆動する移動駆動手段と、前記回転軸内の中
空部を介して前記移動駆動手段による移動動力を伝達す
る移動動力伝達手段と、を備えたことを特徴とするもの
である。
The present invention has the following configuration in order to achieve the above object. That is, the invention according to claim 1 is a substrate cleaning apparatus for performing a cleaning process on a substrate, wherein the peripheral portion of the substrate is separated from the base member in a state where the base member and the substrate are separated by a holding member provided on the base member. Substrate holding means for holding, rotation driving means for rotating the substrate holding means via a hollow rotary shaft connected to the base member, and the base member of the surface of the substrate held by the holding member A first cleaning tool for cleaning a surface facing the surface (hereinafter, this surface is referred to as a “first cleaning surface”), and the first cleaning tool between the substrate held by the holding member and the base member. A first cleaning tool supporting means for disposing a cleaning tool and movably supporting the first cleaning tool along the first cleaning surface; and a substrate held by the holding member with the base member interposed therebetween. Located in the space opposite to the space where it is located Moving drive means for driving the movement of the first cleaning tool along the first cleaning surface; moving power transmitting means for transmitting the moving power by the moving drive means via a hollow portion in the rotating shaft; It is characterized by having.

【0011】請求項2に記載の発明は、上記請求項1に
記載の基板洗浄装置において、前記第1洗浄具が洗浄ブ
ラシであることを特徴とするものである。
According to a second aspect of the present invention, in the substrate cleaning apparatus of the first aspect, the first cleaning tool is a cleaning brush.

【0012】請求項3に記載の発明は、上記請求項2に
記載の基板洗浄装置において、前記洗浄ブラシを回転さ
せるブラシ回転手段をさらに備えたことを特徴とするも
のである。
According to a third aspect of the present invention, there is provided the substrate cleaning apparatus according to the second aspect, further comprising brush rotating means for rotating the cleaning brush.

【0013】請求項4に記載の発明は、上記請求項3に
記載の基板洗浄装置において、前記ブラシ回転手段は、
前記ベース部材を挟んで、前記保持部材に保持された基
板が配置される空間と反対側の空間に配設され、前記洗
浄ブラシを回転駆動するブラシ回転駆動手段と、前記回
転軸内の中空部を介して前記ブラシ回転駆動手段による
回転動力を伝達する回転動力伝達手段と、を備えている
ことを特徴とするものである。
According to a fourth aspect of the present invention, in the substrate cleaning apparatus according to the third aspect, the brush rotating means includes:
Brush rotation driving means disposed in a space opposite to a space in which the substrate held by the holding member is disposed with the base member interposed therebetween, for rotating and driving the cleaning brush, and a hollow portion in the rotation shaft. And a rotary power transmitting means for transmitting the rotary power by the brush rotary driving means via the rotary power transmission means.

【0014】請求項5に記載の発明は、上記請求項1な
いし4のいずれかに記載の基板洗浄装置において、前記
保持部材に保持された基板の面のうち、前記第1洗浄面
と反対側の面を洗浄するための第2洗浄具をさらに備え
たことを特徴とするものである。
According to a fifth aspect of the present invention, in the substrate cleaning apparatus according to any one of the first to fourth aspects, the surface of the substrate held by the holding member, the side opposite to the first cleaning surface. And a second cleaning tool for cleaning the surface.

【0015】請求項6に記載の発明は、上記請求項5に
記載の基板洗浄装置において、前記第2洗浄具が洗浄ブ
ラシであることを特徴とするものである。
According to a sixth aspect of the present invention, in the substrate cleaning apparatus of the fifth aspect, the second cleaning tool is a cleaning brush.

【0016】[0016]

【作用】請求項1に記載の発明の作用は次のとおりであ
る。基板保持手段を構成するベース部材に設けられた保
持部材によってベース部材と基板とが離間された状態で
基板の周縁部が保持される。保持部材に保持された基板
の面のうち、ベース部材に向く側の第1洗浄面を洗浄す
るための第1洗浄具は、第1洗浄具支持手段によって、
保持部材に保持された基板とベース部材との間に第1洗
浄面に沿って移動可能に配置支持される。
The operation of the first aspect of the invention is as follows. The peripheral portion of the substrate is held in a state where the base member and the substrate are separated by a holding member provided on the base member constituting the substrate holding means. Among the surfaces of the substrate held by the holding member, a first cleaning tool for cleaning the first cleaning surface on the side facing the base member is provided by first cleaning tool support means.
It is movably disposed and supported between the substrate held by the holding member and the base member along the first cleaning surface.

【0017】そして、回転駆動手段によってベース部材
に連結された中空状の回転軸を介して基板保持手段及び
それに保持された基板を回転させながら、移動駆動手段
による移動動力によって、第1洗浄面に沿って第1洗浄
具を移動させ、第1洗浄具により基板の第1洗浄面を洗
浄する。
Then, while rotating the substrate holding means and the substrate held thereon through a hollow rotary shaft connected to the base member by the rotary driving means, the moving power of the moving driving means causes the first cleaning surface to be moved. The first cleaning tool is moved along, and the first cleaning surface of the substrate is cleaned by the first cleaning tool.

【0018】また、移動駆動手段は、ベース部材を挟ん
で、保持部材に保持された基板が配置される空間と反対
側の空間に配設され、移動駆動手段による移動動力は移
動動力伝達手段によって回転軸内の中空部を介して伝達
される。
The moving driving means is disposed in a space opposite to the space in which the substrate held by the holding member is disposed with the base member interposed therebetween, and the moving power by the moving driving means is transmitted by the moving power transmitting means. It is transmitted through a hollow part in the rotating shaft.

【0019】請求項2に記載の発明によれば、保持部材
に保持された基板の第1洗浄面を洗浄ブラシで洗浄す
る。
According to the second aspect of the present invention, the first cleaning surface of the substrate held by the holding member is cleaned by the cleaning brush.

【0020】請求項3に記載の発明によれば、第1洗浄
面の洗浄の際、さらに、ブラシ回転手段によって洗浄ブ
ラシ(第1洗浄具)が回転させられる。
According to the third aspect of the present invention, when cleaning the first cleaning surface, the cleaning brush (first cleaning tool) is further rotated by the brush rotating means.

【0021】請求項4に記載の発明によれば、洗浄ブラ
シを回転駆動するブラシ回転駆動手段が、ベース部材を
挟んで、保持部材に保持された基板が配置される空間と
反対側の空間に配設され、ブラシ回転駆動手段による回
転動力は回転動力伝達手段によって回転軸内の中空部を
介して伝達される。
According to the fourth aspect of the present invention, the brush rotation driving means for rotatingly driving the cleaning brush is provided in the space opposite to the space where the substrate held by the holding member is disposed with the base member interposed therebetween. The rotating power provided by the brush rotating drive means is transmitted by the rotating power transmitting means via a hollow portion in the rotating shaft.

【0022】請求項5に記載の発明によれば、保持部材
に保持された基板の第1洗浄面が第1洗浄具で洗浄され
るとともに、保持部材に保持された基板の第1洗浄面と
反対側の面が第2洗浄具で洗浄される。
According to the fifth aspect of the present invention, the first cleaning surface of the substrate held by the holding member is cleaned by the first cleaning tool, and the first cleaning surface of the substrate held by the holding member is cleaned. The opposite surface is cleaned with a second cleaning tool.

【0023】請求項6に記載の発明によれば、保持部材
に保持された基板の第1洗浄面と反対側の面を洗浄ブラ
シで洗浄する。
According to the sixth aspect of the present invention, the surface of the substrate held by the holding member, opposite to the first cleaning surface, is cleaned with the cleaning brush.

【0024】[0024]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。図1は本発明の一実施例に係る基
板洗浄装置の全体的な構成を示す縦断面図であり、図2
はその平面図、図3は第1洗浄具支持アーム内の拡大縦
断面図、図4は保持部材による基板の保持とその解除と
の切り替えの原理を説明するための図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing the overall configuration of a substrate cleaning apparatus according to one embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a plan view thereof, FIG. 3 is an enlarged vertical sectional view of the inside of the first cleaning tool support arm, and FIG. 4 is a view for explaining the principle of switching between holding and release of the substrate by the holding member.

【0025】基板Wを保持する基板保持手段に相当する
基板保持機構1は、円板状のベース部材2と、このベー
ス部材2の周縁に沿って等間隔に立設された複数(例え
ば、図2に示すように6つ)の保持機構3とが備えられ
ている。なお、図1では、図面が煩雑になるのを避ける
ために、保持機構3を2つだけ描いている。
A substrate holding mechanism 1 corresponding to a substrate holding means for holding a substrate W has a disk-shaped base member 2 and a plurality of (e.g., FIG. 2 as shown in FIG. 2). In FIG. 1, only two holding mechanisms 3 are illustrated in order to avoid complicating the drawing.

【0026】各保持機構3は、鉛直方向の軸芯H周りに
回転可能にベース部材2に立設された支軸4の上端部に
保持用磁石5と保持部材6とを設けて構成されている。
各保持部材6は、基板Wの周縁部を載置支持する支持部
7と支持部7に支持された基板Wの外周端縁を押圧付勢
して保持する保持部8とを備えている。このような構成
により、保持部材6によってベース部材2と基板Wとの
間に洗浄ブラシなどを配設するのに十分な空間が形成さ
れるようにベース部材2と基板Wとが離間された状態で
基板Wの周縁部が保持される。なお、保持部材6(保持
部8)による基板Wの保持とその解除の切替えは後で詳
述するように保持用磁石5の変動によって実現される。
Each holding mechanism 3 is provided with a holding magnet 5 and a holding member 6 at the upper end of a support shaft 4 erected on the base member 2 so as to be rotatable around a vertical axis H. I have.
Each holding member 6 includes a support portion 7 for placing and supporting the peripheral portion of the substrate W and a holding portion 8 for pressing and holding the outer peripheral edge of the substrate W supported by the support portion 7. With such a configuration, the base member 2 and the substrate W are separated from each other so that a space sufficient for disposing a cleaning brush or the like is formed between the base member 2 and the substrate W by the holding member 6. Holds the peripheral portion of the substrate W. The switching between the holding of the substrate W by the holding member 6 (holding portion 8) and the release thereof is realized by the fluctuation of the holding magnet 5 as described later in detail.

【0027】ベース部材2には、回転可能に立設された
中空状の回転軸9が連結されている。この回転軸9は、
ベルト伝動機構10によって回転駆動手段に相当する回
転モーター11に連動連結されている。回転モーター1
1を回転駆動させることにより、回転軸9を介して基板
保持機構1及びそれによって水平姿勢に保持された基板
Wが鉛直方向の軸芯J周りで回転されるように構成され
ている。
The base member 2 is connected to a hollow rotary shaft 9 which is rotatably provided upright. This rotating shaft 9 is
A belt transmission mechanism 10 is operatively connected to a rotation motor 11 corresponding to a rotation drive unit. Rotary motor 1
By rotating the substrate 1, the substrate holding mechanism 1 and the substrate W held in a horizontal position by the rotation shaft 9 are rotated around a vertical axis J.

【0028】回転軸9の中空部には、回転可能に立設さ
れた中空状の第1の伝達軸12、回転可能に立設された
中空状の第2の伝達軸13、供給管14がその順に、互
いに干渉せずに各軸9、12、13が軸芯J周りで独立
して回転できるように、同芯状に設けられている。
In the hollow portion of the rotary shaft 9, a first hollow transmission shaft 12 rotatably provided, a second hollow transmission shaft 13 rotatably provided, and a supply pipe 14 are provided. In this order, the shafts 9, 12, and 13 are provided concentrically so that the shafts 9, 12, and 13 can rotate independently around the axis J without interfering with each other.

【0029】回転軸9の内側に遊挿された第1の伝達軸
12は、ベルト伝動機構15によって移動駆動手段に相
当する回転モーター16に連動連結され、回転モーター
16を回転駆動させることにより、軸芯J周りで回転さ
れるように構成されている。
The first transmission shaft 12 loosely inserted inside the rotation shaft 9 is linked to a rotation motor 16 corresponding to a movement driving means by a belt transmission mechanism 15 and drives the rotation motor 16 to rotate. It is configured to be rotated around the axis J.

【0030】第1の伝達軸12の内側に遊挿された第2
の伝達軸13は、ベルト伝動機構17によってブラシ回
転駆動手段に相当する回転モーター18に連動連結さ
れ、回転モーター18を回転駆動させることにより、軸
芯J周りで回転されるように構成されている。
The second transmission shaft 12 inserted inside the first transmission shaft 12
The transmission shaft 13 is connected to a rotation motor 18 corresponding to a brush rotation driving means by a belt transmission mechanism 17 so as to rotate around the axis J by driving the rotation motor 18 to rotate. .

【0031】なお、各回転モーター11、16、18
は、例えば、電動モーターやエアモーターなどで構成さ
れている。
The rotary motors 11, 16, 18
Is composed of, for example, an electric motor or an air motor.

【0032】第2の伝達軸13の内側に遊挿された供給
管14及びその上端部に設けられたノズル支持部19に
は、不活性ガス(窒素ガスなど)などの気体と、薬液や
純水などの洗浄液を供給する図示しない供給路が形成さ
れていて、図示しない気体供給源や薬液供給源、純水供
給源から、ノズル支持部19に配設された気体供給ノズ
ル20a、薬液供給ノズル20b、純水供給ノズル20
cへ気体、薬液、純水を個別に供給できるようになって
いる。各ノズル20a、20b、20cは、保持部材6
に保持された基板Wの面のうち、ベース部材2に向く側
の面である第1洗浄面WF1(本実施例では下面)の回
転中心付近に向けて気体、薬液、純水を噴出供給するよ
うに構成されている。
The supply pipe 14 inserted inside the second transmission shaft 13 and the nozzle support 19 provided at the upper end thereof are provided with a gas such as an inert gas (such as nitrogen gas), A supply path (not shown) for supplying a cleaning liquid such as water is formed, and a gas supply nozzle 20a and a chemical supply nozzle arranged on the nozzle support portion 19 are provided from a gas supply source, a chemical supply source, and a pure water supply source (not shown). 20b, pure water supply nozzle 20
Gas, chemical solution, and pure water can be individually supplied to c. Each nozzle 20a, 20b, 20c is provided with a holding member 6
Of the surface of the substrate W held on the surface of the substrate W, a gas, a chemical solution, and pure water are spouted and supplied toward the vicinity of the rotation center of the first cleaning surface WF1 (the lower surface in this embodiment) which is the surface facing the base member 2. It is configured as follows.

【0033】保持部材6に保持された基板Wとベース部
材2との間には、保持部材6に保持された基板Wの第1
洗浄面WF1を洗浄するための第1洗浄具に相当する、
基板Wの裏面洗浄用の、例えばナイロンブラシなどの第
1洗浄ブラシ21が、保持部材6に保持された基板Wの
第1洗浄面WF1に接触する程度の高さ位置に配置され
ている。この第1洗浄ブラシ21は、第1洗浄具支持手
段に相当する第1洗浄具支持アーム22によって、第1
洗浄面WF1に沿って移動可能に支持されている。
Between the substrate W held by the holding member 6 and the base member 2, the first of the substrate W held by the holding member 6
Corresponds to a first cleaning tool for cleaning the cleaning surface WF1;
A first cleaning brush 21 for cleaning the back surface of the substrate W, such as a nylon brush, for example, is arranged at a height enough to contact the first cleaning surface WF <b> 1 of the substrate W held by the holding member 6. The first cleaning brush 21 is provided with a first cleaning tool support arm 22 corresponding to a first cleaning tool support means.
It is movably supported along the cleaning surface WF1.

【0034】第1洗浄具支持アーム22は、先端部に第
1洗浄ブラシ21を支持する第1アームセグメント22
aと、基端部側が第1の伝達軸12の上端部に一体回転
可能に連結支持された第2アームセグメント22bとを
備えている。第1アームセグメント22aは、その基端
部が、第2アームセグメント22bの先端部に回動可能
に連結されている。
The first cleaning tool support arm 22 has a first arm segment 22 that supports the first cleaning brush 21 at the tip.
a, and a second arm segment 22b whose base end is connected to and supported by the upper end of the first transmission shaft 12 so as to be integrally rotatable. The proximal end of the first arm segment 22a is rotatably connected to the distal end of the second arm segment 22b.

【0035】図3に示すように、第1洗浄具支持アーム
22内には、第1の動力伝達機構23と第2の動力伝達
機構24とが設けられている。
As shown in FIG. 3, a first power transmission mechanism 23 and a second power transmission mechanism 24 are provided in the first cleaning tool support arm 22.

【0036】第1の動力伝達機構23は、第2アームセ
グメント22b内の基端部側に第2の伝達軸13を遊挿
させた状態で第2アームセグメント22bに固定された
プーリ30と、第1アームセグメント22aの基端部に
垂設固定された回動支軸31と、回動支軸31の下端に
固定されたプーリ32と、プーリ30、32との間に架
け渡されたタイミングベルト33とを備えている。
The first power transmission mechanism 23 includes a pulley 30 fixed to the second arm segment 22b with the second transmission shaft 13 loosely inserted into the base end of the second arm segment 22b. Timing that is bridged between the rotation support shaft 31 vertically fixed to the base end of the first arm segment 22a, the pulley 32 fixed to the lower end of the rotation support shaft 31, and the pulleys 30, 32 And a belt 33.

【0037】そして、第1の伝達軸12の回転によっ
て、平面視で、第2のアームセグメント22bが軸芯J
を支点に所定方向(例えば、反時計周り)に所定角度
(θとする)揺動されると、第1のアームセグメント2
2aが回動支軸31の回動軸芯Kを支点にその反対方向
(時計周り)に2倍の角度(θ×2)揺動されるよう
に、プーリ30、32の径やタイミングベルト33の架
け渡しなどが設計されている。
Then, the rotation of the first transmission shaft 12 causes the second arm segment 22b to move in the plane J
Is pivoted about a fulcrum in a predetermined direction (for example, counterclockwise) by a predetermined angle (θ), the first arm segment 2
The diameter of the pulleys 30 and 32 and the timing belt 33 are set so that 2a swings about the rotation axis K of the rotation support shaft 31 in the opposite direction (clockwise) by twice the angle (θ × 2). And the like are designed.

【0038】また、第1洗浄ブラシ21の中心軸Q1と
軸芯Kとの間の長さ(第1アームセグメント22aの有
効長)と、軸芯Kと軸芯Jとの間の長さ(第2アームセ
グメント22bの有効長)とを同じ長さLに設定してい
る。
The length between the center axis Q1 of the first cleaning brush 21 and the axis K (effective length of the first arm segment 22a) and the length between the axis K and the axis J ( (The effective length of the second arm segment 22b) is set to the same length L.

【0039】これにより、第1、第2アームセグメント
22a、22bを屈伸させながら、図2の軌跡Cに示す
ように、第1洗浄ブラシ21を第1洗浄面WF1に沿っ
て水平1軸方向(図1、図2のX方向)に直線状に移動
させることができる。なお、第1アームセグメント22
aと第2アームセグメント22bとが一直線状に延びた
状態で、第1洗浄ブラシ21が保持機構3の外側の待機
位置(図1、図2の二点鎖線で示す位置)に配置できる
ように、第1、第2アームセグメント22a、22bの
有効長Lが決められている。
Thus, while bending the first and second arm segments 22a and 22b, the first cleaning brush 21 is moved along the first cleaning surface WF1 in one horizontal axis (see the locus C in FIG. 2). It can be moved linearly in the X direction (FIGS. 1 and 2). The first arm segment 22
a so that the first cleaning brush 21 can be arranged at a standby position outside the holding mechanism 3 (a position indicated by a two-dot chain line in FIGS. 1 and 2) in a state where the first arm a and the second arm segment 22b extend linearly. , The effective length L of the first and second arm segments 22a and 22b is determined.

【0040】上記第1の動力伝達機構23と第1の伝達
軸12とベルト伝動機構15は、本発明における移動動
力伝達手段に相当し、ベース部材2を挟んで、保持部材
6に保持された基板Wが配置される空間と反対側の空間
に配設された回転モーター16による第1洗浄ブラシ2
1の移動動力を回転軸9の中空部を介して伝達するよう
に構成されている。
The first power transmission mechanism 23, the first transmission shaft 12, and the belt transmission mechanism 15 correspond to the moving power transmission means in the present invention, and are held by the holding member 6 with the base member 2 interposed therebetween. First cleaning brush 2 by rotating motor 16 disposed in a space opposite to the space in which substrate W is disposed
1 is configured to be transmitted via the hollow portion of the rotating shaft 9.

【0041】第2の動力伝達機構24は、第2アームセ
グメント22b内の基端部側に供給管14を遊挿させた
状態で第2の伝達軸13の上端部に一体回転可能に連結
支持されたプーリ40と、第2アームセグメント22b
内の先端部側に回動支軸31を遊挿させた状態で回動可
能に支持されたプーリ41と、プーリ40、41の間に
架け渡されたタイミングベルト42と、第1アームセグ
メント22a内の基端部側に回動支軸31を遊挿させた
状態で回動可能に支持されたプーリ43と、回動支軸3
1を遊挿させた状態でプーリ41、43を一体回転可能
に連結する中空状の連結軸44と、第1アームセグメン
ト22a内の先端部側に回動軸芯を第1洗浄ブラシ21
の中心軸Q1と一致させた状態で回動可能に支持された
プーリ45と、プーリ43、45の間に架け渡されたタ
イミングベルト46と、プーリ45と第1洗浄ブラシ2
1とを連結する連結部47とを備えている。
The second power transmission mechanism 24 is rotatably connected to the upper end of the second transmission shaft 13 in a state where the supply pipe 14 is loosely inserted into the base end of the second arm segment 22b. Pulley 40 and second arm segment 22b
A pulley 41 rotatably supported in a state in which the rotation support shaft 31 is loosely inserted into the front end side of the inside, a timing belt 42 bridged between the pulleys 40 and 41, and a first arm segment 22a. A pulley 43 rotatably supported in a state in which the rotation support shaft 31 is loosely inserted into the base end of the rotation support shaft 31;
The first cleaning brush 21 has a hollow connecting shaft 44 for connecting the pulleys 41 and 43 so as to be integrally rotatable with the first cleaning brush 21 inserted therein, and a rotating shaft center at a tip end side in the first arm segment 22a.
A pulley 45 rotatably supported in a state of being aligned with the center axis Q1, a timing belt 46 bridged between the pulleys 43, 45, the pulley 45 and the first cleaning brush 2
1 and a connecting portion 47 connecting the first and second connecting portions 1 and 2 to each other.

【0042】そして、第2の伝達軸13を回転させるこ
とにより、タイミングベルト42、連結軸44、タイミ
ングベルト46を介してプーリ40、41、43、45
が回転され、連結部47を介して、第1洗浄ブラシ21
が中心軸Q1周りで回転されるようになっている。
Then, by rotating the second transmission shaft 13, the pulleys 40, 41, 43, 45 are passed through the timing belt 42, the connecting shaft 44, and the timing belt 46.
Is rotated, and the first cleaning brush 21 is
Are rotated about the central axis Q1.

【0043】この第2の動力伝達機構24と第2の伝達
軸13とベルト伝動機構17は、本発明におけるブラシ
回転動力伝達手段に相当し、ベース部材2を挟んで、保
持部材6に保持された基板Wが配置される空間と反対側
の空間に配設された回転モーター18による第1洗浄ブ
ラシ21の回転動力を回転軸9の中空部を介して伝達す
るように構成されている。
The second power transmission mechanism 24, the second transmission shaft 13 and the belt transmission mechanism 17 correspond to the brush rotation power transmission means in the present invention, and are held by the holding member 6 with the base member 2 interposed therebetween. The rotation power of the first cleaning brush 21 by the rotation motor 18 disposed in a space opposite to the space where the substrate W is disposed is transmitted through the hollow portion of the rotation shaft 9.

【0044】基板保持機構1及びそれに保持された基板
Wの周囲には、カップ50が配置されている。このカッ
プ50は、固定された下カップ51と、エアシリンダな
どのアクチュエーター52によって昇降可能に構成され
た上カップ53とに分離されている。
A cup 50 is arranged around the substrate holding mechanism 1 and the substrate W held by the mechanism. The cup 50 is separated into a fixed lower cup 51 and an upper cup 53 which can be moved up and down by an actuator 52 such as an air cylinder.

【0045】上カップ53には、円環状の操作磁石54
と円環状の補助操作磁石55とが高さ位置を違えて設け
られている。上カップ53を昇降させて、保持用磁石5
に対する各操作磁石54、55の配置関係を変更し、そ
の配置関係に応じた各操作磁石54、55からの磁力の
保持用磁石5への作用によって、保持部材6(保持部
8)による基板Wの保持とその解除とが切替えられるよ
うになっている。この原理を図4を参照して説明する。
An annular operating magnet 54 is provided on the upper cup 53.
And the annular auxiliary operation magnet 55 are provided at different height positions. The upper cup 53 is moved up and down to hold the holding magnet 5.
Of the operating magnets 54 and 55 with respect to the position, and the magnetic force from the operating magnets 54 and 55 on the holding magnet 5 according to the positional relationship causes the substrate W by the holding member 6 (holding portion 8). Can be switched between holding and releasing. This principle will be described with reference to FIG.

【0046】保持部8は、軸芯Hに対して偏芯して支持
部7上に設けられている。そして、軸芯H周りで保持部
材6が回転されて、軸芯Hからの距離が長い側の側面
(保持側側面)8aが内側(軸芯J側)を向いたとき、
保持部8が基板Wの外周端縁を押圧付勢して基板Wを保
持し(図4(b))、一方、軸芯Hからの距離が短い側
の側面(解除側側面)8bが内側(軸芯J側)を向いた
とき、保持部8による基板Wの保持が解除されるように
なっている(図4(c))。
The holding section 8 is provided on the supporting section 7 eccentrically with respect to the axis H. Then, when the holding member 6 is rotated around the axis H, and the side surface (holding side surface) 8a on the long side from the axis H faces inward (the axis J side),
The holding portion 8 presses and urges the outer peripheral edge of the substrate W to hold the substrate W (FIG. 4B), while the side surface (release side surface) 8b on the short side from the axis H is on the inside. When the substrate W faces (the axis J side), the holding of the substrate W by the holding unit 8 is released (FIG. 4C).

【0047】保持用磁石5は、例えば、棒状の永久磁石
で構成され、保持側側面8aがN極になるように配置さ
れている。保持用磁石5と保持部材6とは、支軸4によ
って軸芯H周りに一体的に回動されるようになってい
る。
The holding magnet 5 is formed of, for example, a bar-shaped permanent magnet, and is arranged such that the holding side surface 8a has the N pole. The holding magnet 5 and the holding member 6 are integrally rotated around the axis H by the support shaft 4.

【0048】一方、操作磁石54及び補助操作磁石55
は、円環状の永久磁石や、環状に配設された電磁石など
で構成され、操作磁石54は内側(軸芯J側)がN極に
なるように配置され、補助操作磁石55は内側(軸芯J
側)がS極になるように配置されている。
On the other hand, the operating magnet 54 and the auxiliary operating magnet 55
Is constituted by an annular permanent magnet, an electromagnet arranged in an annular shape, and the like. The operating magnet 54 is arranged so that the inner side (the axis J side) is the N-pole, and the auxiliary operating magnet 55 is the inner side (shaft). Core J
Side) is arranged to be an S pole.

【0049】以上の構成により、図1に示すように、上
カップ53が上昇され、図1、図4(b)に示すよう
に、操作磁石54が保持用磁石5の側方に位置したと
き、保持用磁石5が操作磁石54から大きな磁力の作用
を受けることになる。従って、図4(b)に示す状態で
は、操作磁石54のN極に保持用磁石のS極は引き寄せ
られるように支軸4、保持用磁石5、保持部材6が軸芯
H周りで回転し、保持用磁石5のN極側の保持側側面8
aが操作磁石54と反対側の軸芯J側に向けられ、基板
Wが保持される。
With the above structure, as shown in FIG. 1, the upper cup 53 is raised, and as shown in FIGS. 1 and 4 (b), when the operating magnet 54 is located on the side of the holding magnet 5. Thus, the holding magnet 5 receives a large magnetic force from the operating magnet 54. Accordingly, in the state shown in FIG. 4B, the support shaft 4, the holding magnet 5, and the holding member 6 rotate around the axis H so that the S pole of the holding magnet is attracted to the N pole of the operating magnet 54. , Holding side surface 8 on the N pole side of holding magnet 5
a is directed toward the axis J opposite to the operation magnet 54, and the substrate W is held.

【0050】また、上カップ53が下降されると、図4
(c)に示すように、操作磁石54が保持用磁石5より
下方の高さ位置に位置されるとともに、補助操作磁石5
5が保持用磁石5の側方に位置される。このとき、操作
磁石54の磁力線は矢印Mに示すようにN極から軸芯J
方向に向かって進んだ後、向きを変えて保持用磁石5の
位置で略軸芯から上カップ54に向かって進むことにな
る。従って、図4(c)に示す状態では、図4(b)に
示す状態とは逆に、保持用磁石5のS極が軸芯J側を向
くようになる。さらに、この実施例では、補助操作磁石
55が保持用磁石5に対してS極を向けて配置されてい
るので、保持用磁石5のS極が軸芯J側を向くように一
層強い力を受けることになる。これにより、支軸4、保
持用磁石5、保持部材6は、保持用磁石5のS極が軸芯
J側に向くように、軸芯H周りで確実に回転し、保持用
磁石5のS極側の解除側側面8bが軸芯J側に向けら
れ、基板Wの保持が解除される。
When the upper cup 53 is lowered, FIG.
As shown in (c), the operating magnet 54 is positioned at a height lower than the holding magnet 5 and the auxiliary operating magnet 5
5 is located beside the holding magnet 5. At this time, the magnetic line of force of the operating magnet 54 moves from the N pole to the axis J as shown by the arrow M.
After proceeding in the direction, the direction is changed and the vehicle travels from the substantially axial center toward the upper cup 54 at the position of the holding magnet 5. Therefore, in the state shown in FIG. 4C, the S pole of the holding magnet 5 is directed toward the axis J, contrary to the state shown in FIG. 4B. Furthermore, in this embodiment, since the auxiliary operation magnet 55 is disposed with the S pole facing the holding magnet 5, a stronger force is applied so that the S pole of the holding magnet 5 faces the axis J. Will receive it. As a result, the support shaft 4, the holding magnet 5, and the holding member 6 are surely rotated around the axis H so that the S pole of the holding magnet 5 faces the axis J, and the S magnet of the holding magnet 5 is rotated. The release side surface 8b on the pole side is directed toward the axis J, and the holding of the substrate W is released.

【0051】以上のように、上カップ53を昇降させる
ことで、基板Wの保持とその解除とが切り替えられる。
As described above, by raising and lowering the upper cup 53, the holding and release of the substrate W can be switched.

【0052】なお、以上の説明から明らかなように、補
助操作磁石55は、基板Wの保持の解除をより確実に行
うために設けているので、操作磁石54だけで基板Wの
保持とその解除が確実に行えるときには、補助操作磁石
55を省略してもよい。
As is apparent from the above description, the auxiliary operation magnet 55 is provided to more reliably release the holding of the substrate W, so that the operation magnet 54 alone holds and releases the substrate W. May be omitted, the auxiliary operation magnet 55 may be omitted.

【0053】図2に示すように、カップ50の側方に
は、第1洗浄ブラシ21を洗浄するための洗浄液を供給
する洗浄液供給ノズル60を支持する支持アーム61が
配設されている。支持アーム61は、駆動機構62によ
り昇降可能で、かつ、鉛直方向の軸芯Sを支点として揺
動可能に構成されている。これにより、洗浄液供給ノズ
ル60を、上カップ50を乗り越え、図2の矢印Rに示
すように移動させて、カップ50の内側であって、保持
機構3の外側の待機位置で待機している第1洗浄ブラシ
21の上方に移動させ、待機中の第1洗浄ブラシ21を
洗浄液で洗浄することができるようになっている。
As shown in FIG. 2, a support arm 61 for supporting a cleaning liquid supply nozzle 60 for supplying a cleaning liquid for cleaning the first cleaning brush 21 is provided beside the cup 50. The support arm 61 can be moved up and down by a drive mechanism 62 and can swing about a vertical axis S as a fulcrum. This moves the cleaning liquid supply nozzle 60 over the upper cup 50 and moves as shown by the arrow R in FIG. 2, and waits at the standby position inside the cup 50 and outside the holding mechanism 3. The first cleaning brush 21 can be moved above the first cleaning brush 21 and the standby first cleaning brush 21 can be cleaned with the cleaning liquid.

【0054】以上の構成で、保持部材6に保持された基
板Wの面のうち、ベース部材2に向く側の第1洗浄面W
F1を第1洗浄ブラシ21で洗浄することができるが、
本実施例では、さらに、保持部材6に保持された基板W
の面のうち、ベース部材2に向く側の第1洗浄面WF1
と反対側の面(本実施例では上面であり、以下、この面
を第2洗浄面と言う)WF2を洗浄するための第2洗浄
面洗浄機構100も備えている。
With the above structure, the first cleaning surface W on the side facing the base member 2 among the surfaces of the substrate W held by the holding member 6
F1 can be cleaned with the first cleaning brush 21,
In this embodiment, the substrate W held by the holding member 6 is further provided.
Of the first cleaning surface WF1 facing the base member 2
A second cleaning surface cleaning mechanism 100 for cleaning the surface WF2 opposite to the surface (the upper surface in the present embodiment, hereinafter, this surface is referred to as a second cleaning surface).

【0055】この第2洗浄面洗浄機構100は以下のよ
うに構成されている。まず、保持部材6に保持された基
板Wの第2洗浄面WF2を洗浄するための第2洗浄具に
相当する、基板Wの表面洗浄用の、例えば、PVAブラ
シなどの第2洗浄ブラシ101を備えている。
The second cleaning surface cleaning mechanism 100 is configured as follows. First, a second cleaning brush 101, such as a PVA brush, for cleaning the surface of the substrate W, which corresponds to a second cleaning tool for cleaning the second cleaning surface WF2 of the substrate W held by the holding member 6, is used. Have.

【0056】この第2洗浄ブラシ101は、支持部10
2を介して第2洗浄具支持アーム103に支持されてい
る。支持部102内には、回転モーター104が設けら
れ、第2洗浄ブラシ101をその中心Q2周りで回転可
能に構成されている。
The second cleaning brush 101 is
2 and is supported by the second cleaning tool support arm 103 through the second cleaning tool support arm 103. A rotation motor 104 is provided in the support section 102, and is configured to be able to rotate the second cleaning brush 101 around its center Q2.

【0057】また、第2洗浄具支持アーム103内に
は、コンベアなどの1軸方向移動機構105が設けられ
ている。この1軸方向駆動機構105により、支持部1
02とともに第2洗浄ブラシ101を、保持部材6に保
持された基板Wの第2洗浄面WF2に沿って、水平1軸
方向(図1、図2のX方向)に直線状に移動させること
ができるように構成されている。
In the second cleaning tool supporting arm 103, a one-axis direction moving mechanism 105 such as a conveyor is provided. The support unit 1 is driven by the one-axis direction driving mechanism 105.
02, the second cleaning brush 101 can be moved linearly in the horizontal one axis direction (the X direction in FIGS. 1 and 2) along the second cleaning surface WF2 of the substrate W held by the holding member 6. It is configured to be able to.

【0058】第2洗浄具支持アーム103は、駆動機構
106により、昇降可能で、かつ、図2のY方向に移動
可能に構成されている。これにより、第2洗浄ブラシ1
01を、上カップ53を乗り越えて、カップ50の外側
の待機位置と保持部材6に保持された基板Wを洗浄する
位置との間で移動させることができるようになってい
る。
The second cleaning tool support arm 103 is configured to be able to move up and down by a drive mechanism 106 and to be movable in the Y direction in FIG. Thereby, the second cleaning brush 1
01 can move over the upper cup 53 between a standby position outside the cup 50 and a position where the substrate W held by the holding member 6 is washed.

【0059】第2洗浄ブラシ101の待機位置には、待
機ポット107が設けられ、待機中の第2洗浄ブラシ1
01を洗浄できるように構成されている。
At a standby position of the second cleaning brush 101, a standby pot 107 is provided.
01 can be cleaned.

【0060】また、カップ50の外側には、保持部材6
に保持された基板Wの第2洗浄面WF2の回転中心付近
に向けて、不活性ガス(窒素ガスなど)などの気体、薬
液、純水を噴出供給する気体供給ノズル108a、薬液
供給ノズル108b、純水供給ノズル108cも配設さ
れている。
The holding member 6 is provided outside the cup 50.
A gas supply nozzle 108a, a chemical solution supply nozzle 108b, which ejects a gas such as an inert gas (such as a nitrogen gas), a chemical solution, and pure water toward the vicinity of the rotation center of the second cleaning surface WF2 of the substrate W held by the nozzle W. A pure water supply nozzle 108c is also provided.

【0061】次に、上記構成を有する実施例装置の動作
を説明する。基板Wに対する洗浄処理を行っていない非
処理中は、第1洗浄ブラシ21は、カップ50の内側で
あって、保持機構3の外側の待機位置に位置されるとと
もに、洗浄液供給部ノズル60が、その第1洗浄ブラシ
21の上方に位置され、洗浄液供給部ノズル60から供
給される洗浄液で第1洗浄ブラシ21が洗浄されてい
る。また、第2洗浄ブラシ101は、待機ポット107
内に収容されて洗浄されている。なお、本実施例では、
基板保持機構1を所定の位置で回転を停止させるため
の、周知の回転制御機構(図示せず)を備えていて、常
に、保持機構3が図2に示す位置関係で基板保持機構1
の回転が停止されるようになっており、保持機構3と干
渉せずに第1洗浄ブラシ21を保持機構3の外側と内側
との間で移動させられるようになっている。
Next, the operation of the embodiment apparatus having the above configuration will be described. During the non-processing in which the cleaning process is not performed on the substrate W, the first cleaning brush 21 is located at the standby position inside the cup 50 and outside the holding mechanism 3 and the cleaning liquid supply unit nozzle 60 is The first cleaning brush 21 is located above the first cleaning brush 21 and is cleaned with the cleaning liquid supplied from the cleaning liquid supply nozzle 60. In addition, the second cleaning brush 101 includes a standby pot 107.
It is housed in and washed. In this embodiment,
A well-known rotation control mechanism (not shown) for stopping the rotation of the substrate holding mechanism 1 at a predetermined position is provided, and the holding mechanism 3 is always in the positional relationship shown in FIG.
Is stopped, so that the first cleaning brush 21 can be moved between the outside and the inside of the holding mechanism 3 without interfering with the holding mechanism 3.

【0062】基板Wに対する洗浄処理を行うときには、
洗浄液供給ノズル60をカップ50の外側に退避させ、
第1洗浄ブラシ21を保持機構3の内側の所定位置に移
動させる。この所定位置は、例えば、第1洗浄ブラシ2
1の中心軸Q1が軸芯Jに一致する位置とする。そし
て、上カップ53を下降させて、各保持部材6を上カッ
プ53の上方に突出させる。この状態で、図示しない基
板搬送装置によって洗浄処理前の基板Wが搬入されて、
基板Wの周縁部が各保持部材6の支持部7に載置され、
表面を上に向けた状態で各保持部材6に基板Wが受け渡
される。
When performing the cleaning process on the substrate W,
The cleaning liquid supply nozzle 60 is retracted outside the cup 50,
The first cleaning brush 21 is moved to a predetermined position inside the holding mechanism 3. The predetermined position is, for example, the first cleaning brush 2
1 is a position where the central axis Q1 coincides with the axis J. Then, the upper cup 53 is lowered to make each holding member 6 protrude above the upper cup 53. In this state, the substrate W before the cleaning process is carried in by a substrate transport device (not shown),
The peripheral portion of the substrate W is placed on the support portion 7 of each holding member 6,
The substrate W is delivered to each holding member 6 with the surface facing upward.

【0063】基板Wの受渡しを終えて、基板搬送装置が
退避すると、上カップ53を上昇させる。これにより、
上述したように基板Wは、各保持部材6によって保持さ
れる(図1、図4(b)参照)。
When the transfer of the substrate W is completed and the substrate transfer device is retracted, the upper cup 53 is raised. This allows
As described above, the substrate W is held by each holding member 6 (see FIGS. 1 and 4B).

【0064】次に、第2洗浄ブラシ101を待機ポット
107から引き上げて、保持部材6に保持された基板W
の第2洗浄面WF2上の所定位置に移動させる。この所
定位置は、例えば、第2洗浄ブラシ101の中心軸Q2
が軸芯Jに一致する位置とする。
Next, the second cleaning brush 101 is pulled up from the standby pot 107 and the substrate W held by the holding member 6 is lifted.
Is moved to a predetermined position on the second cleaning surface WF2. The predetermined position is, for example, the center axis Q2 of the second cleaning brush 101.
Is a position that coincides with the axis J.

【0065】そして、回転モーター11を回転駆動し
て、回転軸9を介して基板保持機構1及びそれに保持さ
れた基板Wを軸芯J周りで回転させ、各ノズル20a、
20b、20c、108a、108b、108cから予
め決められた手順に従って、洗浄液(薬液、純水)や気
体を基板Wの表裏両面に供給しながら、第1洗浄ブラシ
21を第1洗浄面WF1に接触させた状態で第1洗浄面
WF1に沿って第1洗浄面WF1の中心と周縁部との間
を往復移動させるとともに、第2洗浄ブラシ101を第
2洗浄面WF2に接触させた状態で第2洗浄面WF2に
沿って第2洗浄面WF2の中心と周縁部との間を往復移
動させて、基板Wの表裏両面を同時に洗浄する。この
際、第1洗浄ブラシ21または/および第2洗浄ブラシ
101を、Q1、Q2周りに回転させるようにしてもよ
い。
Then, the rotation motor 11 is driven to rotate, and the substrate holding mechanism 1 and the substrate W held thereby are rotated around the axis J via the rotation shaft 9, and each nozzle 20 a,
The first cleaning brush 21 is brought into contact with the first cleaning surface WF1 while supplying a cleaning liquid (chemical solution, pure water) or gas to both the front and back surfaces of the substrate W according to a predetermined procedure from 20b, 20c, 108a, 108b, 108c. In this state, the first cleaning surface WF1 is reciprocated between the center and the peripheral portion thereof along the first cleaning surface WF1, and the second cleaning brush 101 is brought into contact with the second cleaning surface WF2. By reciprocating between the center and the peripheral edge of the second cleaning surface WF2 along the cleaning surface WF2, the front and back surfaces of the substrate W are simultaneously cleaned. At this time, the first cleaning brush 21 and / or the second cleaning brush 101 may be rotated around Q1 and Q2.

【0066】なお、第1、第2洗浄面WF1、WF2の
回転中心付近に供給された洗浄液は、遠心力によって第
1、第2洗浄面WF1、WF2の全面にひろげられる。
このとき、第1、第2洗浄面WF1、WF2の回転中心
は周速が「0」であるので、そこに洗浄液が残留し易く
なるが、気体供給ノズル20a、108aから噴出され
た気体により、第1、第2洗浄面WF1、WF2の回転
中心に残留する洗浄液が周囲に吹き飛ばされ、第1、第
2洗浄面WF1、WF2の回転中心に洗浄液が残留する
のを防止することができる。
The cleaning liquid supplied near the center of rotation of the first and second cleaning surfaces WF1 and WF2 is spread over the entire first and second cleaning surfaces WF1 and WF2 by centrifugal force.
At this time, since the peripheral speed of the rotation center of the first and second cleaning surfaces WF1 and WF2 is “0”, the cleaning liquid tends to remain there, but the gas ejected from the gas supply nozzles 20a and 108a causes The cleaning liquid remaining at the rotation centers of the first and second cleaning surfaces WF1 and WF2 is blown off to the periphery, and the cleaning liquid remaining at the rotation centers of the first and second cleaning surfaces WF1 and WF2 can be prevented.

【0067】また、上記洗浄において、第1、第2洗浄
ブラシ21、101の中心Q1、Q2が同じ移動軌跡
(図2に示す軌跡C)に沿って移動させるようにすると
ともに、第1、第2洗浄ブラシ21、101を同じ移動
開始位置(第1、第2洗浄ブラシ21、101の中心Q
1、Q2が軸芯Jと一致する位置)から同じ移動速度で
移動させて、基板Wを挟んで第1、第2洗浄ブラシ2
1、101が対向した状態を常時維持しつつ、第1、第
2洗浄ブラシ21、101を移動させるようにしてもよ
い。このように第1、第2洗浄ブラシ21、101を移
動させることにより、基板Wのたわみを抑制でき、各洗
浄ブラシ21、101の基板Wに対する押込み量を基板
全面にわたって均一化でき、基板表面、裏面ともその全
面にわたって均一に洗浄することができる。
In the above-mentioned cleaning, the centers Q1 and Q2 of the first and second cleaning brushes 21 and 101 are moved along the same moving locus (trajectory C shown in FIG. 2). 2 Move the cleaning brushes 21 and 101 to the same movement start position (the center Q of the first and second cleaning brushes 21 and 101).
1 and 2 at the same moving speed from the position where Q2 coincides with the axis J), and the first and second cleaning brushes 2 sandwich the substrate W.
The first and second cleaning brushes 21 and 101 may be moved while always maintaining the state in which the first and second cleaning devices 101 face each other. By moving the first and second cleaning brushes 21 and 101 in this manner, the deflection of the substrate W can be suppressed, and the amount of pressing of the cleaning brushes 21 and 101 with respect to the substrate W can be made uniform over the entire surface of the substrate. The entire back surface can be uniformly cleaned.

【0068】基板Wへの洗浄を終えるときには、第1、
第2洗浄ブラシ21、101の中心Q1、Q2が基板W
の周縁に一致する位置で第1、第2洗浄ブラシ21、1
01の移動を停止させ、ノズル20a、20b、20
c、108a、108b、108cからの洗浄液や気体
の供給を停止し、基板保持機構1(基板W)の回転を停
止させる。そして、第2洗浄ブラシ101を待機ポット
107に戻す。
When the cleaning of the substrate W is completed, first,
The center Q1, Q2 of the second cleaning brush 21, 101 is the substrate W
The first and second cleaning brushes 21 and 1
01 is stopped and the nozzles 20a, 20b, 20
The supply of the cleaning liquid or gas from c, 108a, 108b, and 108c is stopped, and the rotation of the substrate holding mechanism 1 (substrate W) is stopped. Then, the second cleaning brush 101 is returned to the standby pot 107.

【0069】その後、上カップ53を下降させる。これ
によって、上述したように、保持部材6による基板Wの
保持が解除される(図4(c)参照)。そして、基板搬
送装置によって、洗浄処理済の基板Wが、保持部材6か
ら受け取られ、装置の外へ搬出される。
Thereafter, the upper cup 53 is lowered. This releases the holding of the substrate W by the holding member 6 as described above (see FIG. 4C). Then, the substrate W subjected to the cleaning process is received from the holding member 6 by the substrate transport device, and is carried out of the device.

【0070】以上のように本実施例によれば、基板Wの
表裏両面の洗浄を1つの装置で行うことができるので、
基板Wの表裏両面を洗浄する際に従来必要であった基板
反転装置を必要とせず、また、従来、表面洗浄装置と裏
面洗浄装置の2つの装置で行っていた基板Wの表裏両面
の洗浄を1つの装置だけで行うことができ、基板Wの表
裏両面を洗浄するために必要な装置数を大幅に削減する
ことができ、フットプリントを極めて小さくすることが
できる。また、本実施例によれば、基板Wの表裏両面の
洗浄を同時に行うこともできるので、基板Wの表面と裏
面とを反転する工程を省略できるとともに、2回に分け
て片面ずつ洗浄していた工程をまとめて行うことがで
き、さらに、複数の装置への基板の搬送も省略すること
もできるので、基板Wの表裏両面を洗浄する処理時間を
大幅に短縮することができ、スループットを大幅に向上
させることができる。
As described above, according to the present embodiment, both the front and back surfaces of the substrate W can be cleaned by one apparatus.
When cleaning both the front and back surfaces of the substrate W, a substrate reversing device, which is conventionally required, is not required. In addition, cleaning of the front and back surfaces of the substrate W, which is conventionally performed by two devices, a front surface cleaning device and a back surface cleaning device, is performed. This can be performed by only one apparatus, and the number of apparatuses required for cleaning both the front and back surfaces of the substrate W can be greatly reduced, and the footprint can be extremely reduced. Further, according to the present embodiment, since the cleaning of the front and back surfaces of the substrate W can be performed at the same time, the step of inverting the front surface and the back surface of the substrate W can be omitted, and the cleaning is performed twice for each side. Steps can be performed at the same time, and the transfer of the substrate to a plurality of apparatuses can be omitted. Therefore, the processing time for cleaning the front and back surfaces of the substrate W can be greatly reduced, and the throughput can be greatly reduced. Can be improved.

【0071】さらに、本実施例によれば、基板Wの表裏
両面に対して、各面に適した洗浄ブラシで同時に洗浄す
ることもできる。
Further, according to the present embodiment, both the front and back surfaces of the substrate W can be simultaneously cleaned with a cleaning brush suitable for each surface.

【0072】また、本実施例によれば、第1洗浄面WF
1に沿った第1洗浄ブラシ21の移動を駆動する回転モ
ーター16を、ベース部材2を挟んで、保持部材6に保
持された基板Wが配置される空間と反対側の空間に配設
し、回転モーター16による移動動力をベルト伝動機構
15、第1の伝達軸12、第1の動力伝達機構23によ
って回転軸9内の中空部を介して伝達するように構成し
たので、保持部材6に保持された基板Wとベース部材2
との間の空間に配置する部材を削減でき、その空間が煩
雑になることを避けることができるとともに、パーティ
クルの発生源となる回転モーター16を被洗浄基板Wか
ら遠ざけることができ、基板Wの汚染を防止することも
できる。
Further, according to the present embodiment, the first cleaning surface WF
A rotating motor 16 for driving the movement of the first cleaning brush 21 along the first member 1 is disposed in a space opposite to the space where the substrate W held by the holding member 6 is arranged with the base member 2 interposed therebetween; Since the moving power of the rotary motor 16 is transmitted by the belt transmission mechanism 15, the first transmission shaft 12, and the first power transmission mechanism 23 through the hollow portion in the rotation shaft 9, the moving power is held by the holding member 6. Substrate W and base member 2
Can be reduced, and the space can be prevented from being complicated, and the rotating motor 16 serving as a source of particles can be kept away from the substrate W to be cleaned. Pollution can also be prevented.

【0073】さらに、本実施例によれば、回転モーター
11による基板保持機構1の回転を、基板保持機構1を
構成するベース部材2に連結された回転軸9を介して行
うように構成したので、パーティクルの発生源となる回
転モーター11を被洗浄基板Wから遠ざけることがで
き、基板Wの一層の汚染防止を図ることもできる。
Further, according to this embodiment, the rotation of the substrate holding mechanism 1 by the rotary motor 11 is performed via the rotary shaft 9 connected to the base member 2 constituting the substrate holding mechanism 1. In addition, the rotating motor 11 serving as a source of particles can be kept away from the substrate W to be cleaned, and the contamination of the substrate W can be further prevented.

【0074】また、本実施例によれば、第1洗浄ブラシ
21を回転駆動する回転モーター18を、ベース部材2
を挟んで、保持部材6に保持された基板Wが配置される
空間と反対側の空間に配設し、回転モーター18による
回転動力をベルト伝動機構17、第2の伝達軸13、第
2の動力伝達機構24によって回転軸9内の中空部を介
して伝達するように構成したので、保持部材6に保持さ
れた基板Wとベース部材2との間の空間が煩雑になるこ
とを避けることができ、パーティクルの発生源となる回
転モーター18を被洗浄基板Wから遠ざけて、基板Wの
さらなる汚染防止を図ることもできる。
According to the present embodiment, the rotary motor 18 for rotating the first cleaning brush 21 is connected to the base member 2.
Is disposed in a space opposite to the space in which the substrate W held by the holding member 6 is arranged, and the rotation power of the rotation motor 18 is transmitted by the belt transmission mechanism 17, the second transmission shaft 13, and the second transmission shaft 13. Since the power transmission mechanism 24 is configured to transmit the power via the hollow portion in the rotating shaft 9, it is possible to prevent the space between the substrate W held by the holding member 6 and the base member 2 from becoming complicated. In addition, the rotation motor 18 serving as a particle generation source can be kept away from the substrate W to be cleaned to further prevent contamination of the substrate W.

【0075】さらに、本実施例によれば、第1、第2洗
浄ブラシ21、101を回転可能に構成したので、第
1、第2洗浄面WF1、WF2の洗浄を第1、第2洗浄
ブラシ21、101を回転させながら行うこともでき、
第1、第2洗浄面WF1、WF2に対する多様で高精度
な洗浄を行うことができる。
Further, according to the present embodiment, the first and second cleaning brushes 21 and 101 are configured to be rotatable, so that the first and second cleaning surfaces WF1 and WF2 are cleaned by the first and second cleaning brushes. It can be performed while rotating 21, 101,
Various and high-precision cleaning of the first and second cleaning surfaces WF1 and WF2 can be performed.

【0076】なお、上記実施例では、基板Wの表面を上
に向けた状態で保持して洗浄するように構成したが、第
1洗浄ブラシ21を基板Wの表面洗浄用の洗浄ブラシで
構成し、第2洗浄ブラシ101を基板Wの裏面洗浄用の
洗浄ブラシで構成すれば、基板Wの裏面を上に向けた状
態で保持して洗浄することも可能である。
In the above-described embodiment, the cleaning is performed by holding the substrate W with the surface thereof facing upward, but the first cleaning brush 21 is configured by a cleaning brush for cleaning the surface of the substrate W. If the second cleaning brush 101 is constituted by a cleaning brush for cleaning the rear surface of the substrate W, it is also possible to perform cleaning while holding the rear surface of the substrate W upward.

【0077】また、ノズル20a〜20c、108a〜
108cの本数や供給流体の種類は適宜に変更してもよ
い。
The nozzles 20a-20c, 108a-
The number of 108c and the type of supply fluid may be appropriately changed.

【0078】さらに、上記実施例では、第1洗浄ブラシ
21を回転駆動する回転モーター18を、ベース部材2
を挟んで、保持部材6に保持された基板Wが配置される
空間と反対側の空間に配設し、回転モーター18による
回転動力を回転軸9内の中空部を介して伝達するように
構成したが、例えば、この回転モーター18を第1洗浄
具支持アーム22内に設け、ベルト伝動機構などによっ
て回転動力を伝達するように構成してもよい。
Further, in the above embodiment, the rotation motor 18 for rotating the first cleaning brush 21 is connected to the base member 2.
Is arranged in a space opposite to the space where the substrate W held by the holding member 6 is arranged, and the rotation power of the rotation motor 18 is transmitted through a hollow portion in the rotation shaft 9. However, for example, the rotation motor 18 may be provided in the first cleaning tool support arm 22 so that the rotation power is transmitted by a belt transmission mechanism or the like.

【0079】また、上記実施例では、第1洗浄具支持ア
ーム22を多関節型のアーム22a、2bで構成して、
この多関節型のアーム22a、22bを屈伸させること
で、第1洗浄ブラシ21を第1洗浄面WF1に沿って移
動させるように構成したが、例えば、図5、図6に示す
ような機構で第1洗浄ブラシ21を移動させることも可
能である。
In the above embodiment, the first cleaning tool supporting arm 22 is constituted by articulated arms 22a and 2b.
The first cleaning brush 21 is moved along the first cleaning surface WF1 by bending and extending the articulated arms 22a and 22b. For example, a mechanism as shown in FIGS. 5 and 6 is used. It is also possible to move the first cleaning brush 21.

【0080】図5(a)は、第1洗浄具支持アーム22
内に、第1の伝達軸12と回転可能に連結された主動プ
ーリ70と、従動プーリ71と、これらプーリ70、7
1との間に架け渡されたコンベア72とを備え、連結部
47を介して、コンベア72と第1洗浄ブラシ21とを
連結し、第1の伝達軸12を軸芯J周りに回転させるこ
とで、第1洗浄ブラシ21を水平1軸方向に移動させる
ように構成している。
FIG. 5A shows the first cleaning tool support arm 22.
, A driven pulley 70 rotatably connected to the first transmission shaft 12, a driven pulley 71, and these pulleys 70 and 7.
1 and the conveyor 72 and the first cleaning brush 21 are connected via the connecting portion 47 to rotate the first transmission shaft 12 around the axis J. Thus, the first cleaning brush 21 is configured to be moved in one horizontal axis direction.

【0081】図5(b)は、第1の伝達軸12の上端部
にウォームギア80を取り付けるとともに、第1洗浄具
支持アーム22内に、ウォームギア80に歯合するネジ
軸81を水平方向に配設し、それと平行にガイド軸82
を配設している。また、第1洗浄ブラシ21を支持する
連結部47に設けたナット83をネジ軸81に螺合さ
せ、連結部47に設けたガイド部84をガイド軸82に
摺動可能に挿通させている。そして、第1の伝達軸12
を軸芯J周りに回転させることで、ウォームギア80に
よって鉛直方向の軸芯J周りの回転が水平方向の軸芯周
りの回転に変換されてネジ軸81が回転され、第1洗浄
ブラシ21を水平1軸方向に移動させるように構成して
いる。
FIG. 5B shows a state in which a worm gear 80 is attached to the upper end of the first transmission shaft 12, and a screw shaft 81 meshing with the worm gear 80 is horizontally arranged in the first cleaning tool support arm 22. And a guide shaft 82
Is arranged. Further, a nut 83 provided on the connecting portion 47 supporting the first cleaning brush 21 is screwed to the screw shaft 81, and a guide portion 84 provided on the connecting portion 47 is slidably inserted through the guide shaft 82. Then, the first transmission shaft 12
Is rotated about the axis J, the rotation about the vertical axis J is converted by the worm gear 80 into rotation about the horizontal axis, and the screw shaft 81 is rotated, so that the first cleaning brush 21 is moved horizontally. It is configured to move in one axis direction.

【0082】図6は、第1洗浄具支持アーム22を、ベ
ースアーム22cと、ベースアーム22cの先端部に回
動軸芯90を介して揺動アーム22dの基端部を連結
し、軸芯Jから外れた鉛直方向の軸芯Pを支点として、
先端部に第1洗浄ブラシ21を支持した揺動アーム22
dを揺動させるように構成している。ベースアーム22
c内には、第1の伝達軸12の回転を回動支軸90に伝
達するベルト伝動機構91が設けられている。これによ
り、第1の伝達軸12を軸芯J周りに回転させると、軸
芯P周りで揺動アーム22dが揺動され、図6(b)の
矢印Fに示すように第1洗浄ブラシ21を第1洗浄面W
F1に沿って(第1洗浄面WF1の中心と周辺部との間
を)円弧状に移動させることができる。
FIG. 6 shows that the first cleaning tool support arm 22 is connected to the base arm 22c, and the base end of the swing arm 22d is connected to the distal end of the base arm 22c via the rotating shaft 90. With the vertical axis P deviated from J as the fulcrum,
Swing arm 22 supporting first cleaning brush 21 at the tip
It is configured to swing d. Base arm 22
A belt transmission mechanism 91 that transmits the rotation of the first transmission shaft 12 to the rotation support shaft 90 is provided in c. Accordingly, when the first transmission shaft 12 is rotated around the axis J, the swing arm 22d is swung around the axis P, and the first cleaning brush 21 is rotated as shown by an arrow F in FIG. To the first cleaning surface W
It can be moved in an arc along F1 (between the center and the peripheral portion of the first cleaning surface WF1).

【0083】その他の機構で第1洗浄ブラシ21を移動
させることも可能である。
The first cleaning brush 21 can be moved by another mechanism.

【0084】また、第2洗浄ブラシ101も上記実施例
で示した構成以外で第2洗浄面WF2に沿って移動させ
ることが可能である。
The second cleaning brush 101 can also be moved along the second cleaning surface WF2 except for the configuration shown in the above embodiment.

【0085】例えば、駆動機構106による第2洗浄具
支持アーム103のY方向の水平移動を利用して、第2
洗浄ブラシ101を第2洗浄面WF2に沿ってY方向に
移動させることも可能である。この構成によれば、1軸
方向駆動機構105を省略することができる。
For example, utilizing the horizontal movement of the second cleaning tool support arm 103 in the Y direction by the drive mechanism 106, the second
It is also possible to move the cleaning brush 101 in the Y direction along the second cleaning surface WF2. According to this configuration, the one-axis direction driving mechanism 105 can be omitted.

【0086】また、第2洗浄具支持アーム103を、昇
降可能で、かつ、カップ50の外側の位置における鉛直
方向の軸芯周りで基端部を回動させて、その軸芯周りで
揺動可能に構成し、その第2洗浄具支持アーム103の
先端部に第2洗浄ブラシ101を支持させれば、第2洗
浄具支持アーム103の揺動により第2洗浄ブラシ10
1を第2洗浄面WF2に沿って(第2洗浄面WF2の中
心と周辺部との間を)円弧状に移動させることもでき
る。
Further, the second cleaning tool support arm 103 can be moved up and down, and the base end is rotated around a vertical axis at a position outside the cup 50 to swing around the axis. If the second cleaning brush 101 is supported at the tip of the second cleaning tool support arm 103, the second cleaning brush 10
1 can be moved in an arc along the second cleaning surface WF2 (between the center and the peripheral portion of the second cleaning surface WF2).

【0087】また、上記実施例では、回転モーター11
の回転動力をベルト伝動機構10によって伝達するよう
に構成したが、例えば、図7に示すような回転モーター
160によって回転軸9を回転させるように構成しても
よい。この回転モーター160は、円環状のステーター
161の内側に、ステーター161に対して回転可能な
円環状の回転子162を同芯状に配設している。そし
て、回転子162の中心の中空部内に回転軸9を挿入し
て、回転子102と回転軸9とを一体回転可能に連結し
ている。これにより、ベルト伝動機構を用いずに、回転
モーター160の回転動力を回転軸9に直接伝達するこ
とができる。
In the above embodiment, the rotation motor 11
Is transmitted by the belt transmission mechanism 10, but the rotation shaft 9 may be rotated by a rotation motor 160 as shown in FIG. 7, for example. In the rotary motor 160, an annular rotor 162 rotatable with respect to the stator 161 is provided concentrically inside the annular stator 161. Then, the rotating shaft 9 is inserted into a hollow portion at the center of the rotor 162, and the rotor 102 and the rotating shaft 9 are connected so as to be integrally rotatable. Thus, the rotation power of the rotation motor 160 can be directly transmitted to the rotation shaft 9 without using the belt transmission mechanism.

【0088】また、同様の構成により、第1の伝達軸1
2や第2の伝達軸13を回転させるように構成してもよ
い。
Also, with the same configuration, the first transmission shaft 1
The second and second transmission shafts 13 may be configured to rotate.

【0089】また、上記実施例では、カップ50を下カ
ップ51と上カップ53とに分けて、上カップ53だけ
を昇降可能に構成したが、例えば、図8に示すように、
カップ50を一体もので構成し、このカップ50全体を
昇降させるように構成してもよい。
Further, in the above embodiment, the cup 50 is divided into the lower cup 51 and the upper cup 53, and only the upper cup 53 can be moved up and down. For example, as shown in FIG.
The cup 50 may be formed as a single unit, and the entire cup 50 may be moved up and down.

【0090】また、図1や図8などにおいて、カップ5
0(上カップ53)側を固定し、基板保持機構1側を昇
降させるように構成してもよい。
In FIGS. 1 and 8, etc.
The configuration may be such that the 0 (upper cup 53) side is fixed and the substrate holding mechanism 1 side is moved up and down.

【0091】また、例えば、カップ50全体と基板保持
機構1とを相対的に昇降可能に構成した場合、例えば、
図8に示すように、保持機構3の支軸4をベース部材2
に回転可能に貫通させ、ベース部材2の下方に保持用磁
石5を設け、操作磁石54を保持用磁石5よりも軸芯J
側に配置させてもよい。
Further, for example, when the entire cup 50 and the substrate holding mechanism 1 are configured to be able to move up and down relatively, for example,
As shown in FIG. 8, the support shaft 4 of the holding mechanism 3 is connected to the base member 2.
The holding magnet 5 is provided below the base member 2 so that the operating magnet 54 can be more axially centered than the holding magnet 5.
It may be arranged on the side.

【0092】図8の構成では、保持用磁石5の極性を上
記実施例と逆(保持部8の保持側側面8a側をS極す
る)にし、操作磁石54に極性を軸芯J側をS極とすれ
ば、カップ50全体と基板保持機構1とを相対的に昇降
させることで、保持部材6がカップ50の上方に突出さ
れたとき、基板Wの保持を解除し、基板保持機構1がカ
ップ50の中に収容されたとき、基板Wを保持させるこ
とができる。
In the configuration shown in FIG. 8, the polarity of the holding magnet 5 is reversed from that in the above embodiment (the holding side surface 8a side of the holding portion 8 is set to S pole), and the polarity of the operation magnet 54 is set to S axis on the axis J side. If it is a pole, the entire cup 50 and the substrate holding mechanism 1 are moved up and down relatively to release the holding of the substrate W when the holding member 6 is projected above the cup 50, and the substrate holding mechanism 1 When housed in the cup 50, the substrate W can be held.

【0093】また、上記構成において、カップ50全体
と基板保持機構1とを相対的に昇降させて、保持部材6
がカップ50の上方に突出されたときに、保持用磁石5
の側方に位置されるように補助操作磁石55を設けても
よい。この場合の補助操作磁石55の極性は、軸芯J側
をN極とすればよい。
In the above configuration, the entire cup 50 and the substrate holding mechanism 1 are moved up and down relative to each other so that the holding member 6
Is projected above the cup 50, the holding magnet 5
Auxiliary operation magnet 55 may be provided so as to be located on the side of. In this case, the polarity of the auxiliary operation magnet 55 may be such that the side of the axis J is the N pole.

【0094】また、上記実施例では、磁力を利用して保
持部材6による基板Wの保持と解除を切り替えるように
構成したが、その他の機構により保持部材6による基板
Wの保持と解除を切り替えるように構成してもよい。
In the above embodiment, the holding and release of the substrate W by the holding member 6 are switched by using the magnetic force. However, the holding and release of the substrate W by the holding member 6 are switched by another mechanism. May be configured.

【0095】また、上記実施例では、6つの保持機構3
(保持部材6)を備えているが、保持部材の個数はそれ
に限定されず、3個以上の保持部材6を備えていれば基
板Wを保持することができる。
In the above embodiment, the six holding mechanisms 3
Although the (holding member 6) is provided, the number of holding members is not limited thereto, and the substrate W can be held if three or more holding members 6 are provided.

【0096】また、上記実施例では、全ての保持部材6
を可動式、すなわち、姿勢を変動(軸芯H周りに回動)
させて、基板Wの保持と解除とを切り替える構成とした
が、複数の保持部材6のうち、少なくとも1つの保持部
材6が可動式であればよく、残りの保持部材6は固定
式、すなわち、ベース部材2に固定されて変動しない構
成であってもよい。この固定式の保持部材6は、例え
ば、図8に示すように、ベース部材2に固定された支軸
4の上端部に、基板Wの周縁部を支持する支持部7と支
持部7に支持された基板Wの外周端縁に当接する当接部
600とを備えた保持部材6を取り付けて構成される。
そして、可動式の保持部材6の保持部8に基板Wが押圧
付勢されることで、可動式の保持部材6の保持部8と固
定式の保持部材6の当接部600とで基板Wを挟持して
保持する。
In the above embodiment, all the holding members 6
Is movable, that is, the posture is changed (rotated around the axis H)
Thus, the configuration is such that switching between holding and release of the substrate W is performed. However, among the plurality of holding members 6, at least one holding member 6 only needs to be movable, and the remaining holding members 6 are fixed, that is, A configuration that is fixed to the base member 2 and does not change may be used. For example, as shown in FIG. 8, the fixed holding member 6 includes a support portion 7 that supports the peripheral portion of the substrate W on an upper end portion of the support shaft 4 fixed to the base member 2 and a support portion 7 that supports A holding member 6 having an abutting portion 600 that abuts on the outer peripheral edge of the substrate W is attached.
When the substrate W is pressed against the holding portion 8 of the movable holding member 6, the substrate W is held between the holding portion 8 of the movable holding member 6 and the contact portion 600 of the fixed holding member 6. And hold it.

【0097】また、保持部材6の構成は上記実施例のも
のに限定させず、例えば、上下に接離可能に構成された
上爪と下爪により基板Wの周縁部を挟持するようなもの
であってもよい。
The structure of the holding member 6 is not limited to that of the above-described embodiment. For example, the holding member 6 may be configured such that an upper claw and a lower claw configured to be vertically movable can hold the peripheral portion of the substrate W therebetween. There may be.

【0098】また、ベース部材2は、円板状のものに限
らず、例えば、星型のもので形成し、周囲に放射状に延
びた部分の先端部に保持機構3を設けるように構成して
もよい。
The base member 2 is not limited to a disk-shaped member, but is formed, for example, in a star shape, and is configured so that a holding mechanism 3 is provided at a distal end portion of a portion extending radially around the base member. Is also good.

【0099】また、上記実施例では、第1洗浄具を洗浄
ブラシで構成したが、洗浄ブラシに代えて、例えば、超
音波洗浄ノズルや高圧噴射ノズルなどのその他の洗浄具
を第1洗浄面WF1に沿わせて移動させてその洗浄具で
第1洗浄面WF1を洗浄するように構成してもよい。第
2洗浄具も同様に、洗浄ブラシ以外の洗浄具で構成して
もよい。さらに、第1洗浄具と第2洗浄具とは同じ種類
であってもよいし、異なる種類、例えば、第1洗浄具を
洗浄ブラシで構成し、第2洗浄具を超音波洗浄ノズルで
構成するようにしてもよい。
In the above embodiment, the first cleaning tool is constituted by the cleaning brush. However, instead of the cleaning brush, another cleaning tool such as an ultrasonic cleaning nozzle or a high-pressure jet nozzle may be used as the first cleaning surface WF1. And the cleaning tool may be used to clean the first cleaning surface WF1. Similarly, the second cleaning tool may be constituted by a cleaning tool other than the cleaning brush. Further, the first cleaning tool and the second cleaning tool may be of the same type, or different types, for example, the first cleaning tool is configured by a cleaning brush, and the second cleaning tool is configured by an ultrasonic cleaning nozzle. You may do so.

【0100】また、上記実施例やその変形例では、第2
洗浄面洗浄機構100を備えて、基板Wの表裏両面を同
時に洗浄するように構成したが、第2洗浄面洗浄機構1
00を省略して、保持部材6に保持された基板Wの第1
洗浄面WF1だけを洗浄できる装置としてもよい。この
ような装置によれば、従来、ベース部材が邪魔になって
洗浄具で洗浄することができなかったベース部材2に向
く側の基板Wの第1洗浄面WF1を第1洗浄具により洗
浄することが可能にある。
In the above embodiment and its modifications, the second embodiment
Although the cleaning surface cleaning mechanism 100 is provided to simultaneously clean both the front and back surfaces of the substrate W, the second cleaning surface cleaning mechanism 1 is used.
00, the first of the substrate W held by the holding member 6
A device that can clean only the cleaning surface WF1 may be used. According to such an apparatus, the first cleaning surface WF1 of the substrate W facing the base member 2 which has conventionally been unable to be cleaned by the cleaning tool because the base member is in the way is cleaned by the first cleaning tool. It is possible.

【0101】従って、そのような構成の基板洗浄装置
と、従来の基板洗浄装置とを備えれば、基板Wの面を反
転することなく、基板Wの表裏両面の洗浄を行うことが
できる。よって、基板Wの表裏両面を洗浄する場合に基
板反転装置を省略することができ、基板Wの表裏両面の
洗浄に必要な装置数を従来より削減でき、それに応じて
従来よりもフットプリントを小さくすることができる。
また、基板Wの面を反転する工程を省略することができ
るとともに、基板反転装置に対する基板の搬送が不要に
なるので、基板Wの表裏両面の洗浄に要する時間を従来
より短縮することができ、従来よりもスループットを向
上させることもできる。
Therefore, if the substrate cleaning apparatus having such a configuration and the conventional substrate cleaning apparatus are provided, it is possible to clean the front and back surfaces of the substrate W without reversing the surface of the substrate W. Therefore, when cleaning the front and back surfaces of the substrate W, the substrate reversing device can be omitted, the number of devices required for cleaning the front and back surfaces of the substrate W can be reduced, and the footprint can be reduced accordingly. can do.
In addition, the step of inverting the surface of the substrate W can be omitted, and the transfer of the substrate to the substrate inverting device is not required. Throughput can be improved as compared with the conventional case.

【0102】また、上記実施例や変形例では、ベース部
材2の上方で基板Wを保持するように構成しているが、
ベース部材2の下方で基板Wを保持するような構成であ
ってもよい。
In the above-described embodiment and the modification, the substrate W is held above the base member 2.
A configuration in which the substrate W is held below the base member 2 may be employed.

【0103】[0103]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1に記載の発明によれば、基板保持手段を構成するベー
ス部材に設けられた保持部材によってベース部材と基板
とが離間された状態で基板の周縁部を保持し、保持部材
に保持された基板の面のうち、ベース部材に向く側の第
1洗浄面を洗浄するための第1洗浄具を、第1洗浄具支
持手段によって保持部材に保持された基板とベース部材
との間に第1洗浄面に沿って移動可能に配置支持し、回
転駆動手段によってベース部材に連結された中空状の回
転軸を介して基板保持手段及びそれに保持された基板を
回転させながら、移動駆動手段による移動動力によっ
て、第1洗浄面に沿って第1洗浄具を移動させるように
構成したので、従来、ベース部材が邪魔になって洗浄具
で洗浄することができなかったベース部材に向く側の基
板の面(第1洗浄面)を第1洗浄具により洗浄すること
が可能となった。
As is apparent from the above description, according to the first aspect of the present invention, the state in which the base member and the substrate are separated by the holding member provided on the base member constituting the substrate holding means. The first cleaning tool for cleaning the first cleaning surface on the side facing the base member of the surface of the substrate held by the holding member is held by the first cleaning tool support means. The substrate holding means and the substrate holding means are movably disposed and supported between the substrate held by the member and the base member along the first cleaning surface, and are connected to the base member by a rotation driving means via a hollow rotary shaft. Since the first cleaning tool is moved along the first cleaning surface by the moving power of the moving driving unit while rotating the held substrate, the cleaning is conventionally performed by the cleaning tool because the base member is in the way. Can do Surface on the side of the substrate facing never been a base member (the first cleaning surface) has become possible to clean the first cleaning member.

【0104】従って、この請求項1に記載の発明に係る
基板洗浄装置と、従来の基板洗浄装置とを備えれば、基
板の面を反転することなく、基板の表裏両面の洗浄を行
うことができる。よって、基板の表裏両面を洗浄する場
合に基板反転装置を省略することができ、基板の表裏両
面の洗浄に必要な装置数を削減でき、それに応じてフッ
トプリントを小さくすることができる。また、基板の面
を反転する工程を省略することができるとともに、基板
反転装置に対する基板の搬送が不要になるので、基板の
表裏両面の洗浄に要する時間を短縮することができ、ス
ループットを向上させることもできる。
Therefore, if the apparatus for cleaning a substrate according to the first aspect of the present invention and the conventional apparatus for cleaning a substrate are provided, the front and back surfaces of the substrate can be cleaned without reversing the surface of the substrate. it can. Therefore, when cleaning both the front and back surfaces of the substrate, the substrate reversing device can be omitted, the number of devices required for cleaning the front and back surfaces of the substrate can be reduced, and the footprint can be reduced accordingly. In addition, the step of inverting the surface of the substrate can be omitted, and the transfer of the substrate to the substrate inverting device becomes unnecessary, so that the time required for cleaning both the front and back surfaces of the substrate can be reduced, and the throughput can be improved You can also.

【0105】また、請求項1に記載の発明によれば、第
1洗浄面に沿った第1洗浄具の移動を駆動する移動駆動
手段を、ベース部材を挟んで、保持部材に保持された基
板が配置される空間と反対側の空間に配設し、移動駆動
手段による移動動力を移動動力伝達手段によって回転軸
内の中空部を介して伝達するように構成したので、保持
部材に保持された基板とベース部材との間の空間に配置
する部材を削減でき、その空間が煩雑になることを避け
ることができるとともに、パーティクルの発生源となる
移動駆動手段を被洗浄基板から遠ざけることができ、基
板の汚染を防止することもできる。
According to the first aspect of the present invention, the movement driving means for driving the movement of the first cleaning tool along the first cleaning surface is provided on the substrate held by the holding member with the base member interposed therebetween. Is arranged in the space on the opposite side of the space in which is disposed, and the moving power by the moving driving means is transmitted by the moving power transmitting means through the hollow portion in the rotating shaft, so that the moving power is held by the holding member. The number of members arranged in the space between the substrate and the base member can be reduced, and the space can be prevented from being complicated, and the movement driving means serving as a source of particles can be kept away from the substrate to be cleaned, Substrate contamination can also be prevented.

【0106】さらに、請求項1に記載の発明によれば、
回転駆動手段による基板保持手段の回転を、基板保持手
段を構成するベース部材に連結された回転軸を介して行
うように構成したので、パーティクルの発生源となる回
転駆動手段を被洗浄基板から遠ざけることができ、基板
の一層の汚染防止を図ることもできる。
Further, according to the first aspect of the present invention,
Since the rotation of the substrate holding means by the rotation driving means is performed via the rotation shaft connected to the base member constituting the substrate holding means, the rotation driving means serving as a source of particles is kept away from the substrate to be cleaned. It is possible to further prevent contamination of the substrate.

【0107】請求項2に記載の発明によれば、保持部材
に保持された基板の第1洗浄面を洗浄ブラシで洗浄する
ことができる。
According to the second aspect of the present invention, the first cleaning surface of the substrate held by the holding member can be cleaned with the cleaning brush.

【0108】請求項3に記載の発明によれば、洗浄ブラ
シ(第1洗浄具)を回転させるブラシ回転手段をさらに
備えたので、第1洗浄面の洗浄を洗浄ブラシを回転させ
ながら行うこともでき、第1洗浄面に対する多様で高精
度な洗浄を行うことができる。
According to the third aspect of the present invention, a brush rotating means for rotating the cleaning brush (first cleaning tool) is further provided, so that the cleaning of the first cleaning surface can be performed while rotating the cleaning brush. Therefore, various and high-precision cleaning of the first cleaning surface can be performed.

【0109】請求項4に記載の発明によれば、洗浄ブラ
シを回転駆動するブラシ回転駆動手段を、ベース部材を
挟んで、保持部材に保持された基板が配置される空間と
反対側の空間に配設し、ブラシ回転駆動手段による回転
動力を回転動力伝達手段によって回転軸内の中空部を介
して伝達するように構成したので、保持部材に保持され
た基板とベース部材との間の空間が煩雑になることを避
けることができ、パーティクルの発生源となるブラシ回
転駆動手段を被洗浄基板から遠ざけて、基板のさらなる
汚染防止を図ることができる。
According to the fourth aspect of the present invention, the brush rotation driving means for rotating and driving the cleaning brush is disposed in a space opposite to the space where the substrate held by the holding member is disposed with the base member interposed therebetween. The rotating power transmitted by the brush rotation driving means is arranged to be transmitted through the hollow portion in the rotating shaft by the rotating power transmission means, so that the space between the substrate held by the holding member and the base member is reduced. The complexity can be avoided, and the brush rotation driving means, which is a source of particles, can be kept away from the substrate to be cleaned, thereby further preventing contamination of the substrate.

【0110】請求項5に記載の発明によれば、保持部材
に保持された基板の第1洗浄面と反対側の面を洗浄する
ための第2洗浄具をさらに備えたので、1つの装置内
で、基板の表裏両面を同時に洗浄することができる。従
って、基板の表裏両面の洗浄に必要な装置数を一層削減
でき、それに応じてフットプリントをさらに小さくする
ことができるとともに、基板の表裏両面の洗浄に要する
時間を一層短縮することができ、スループットをさらに
向上させることもできる。
According to the fifth aspect of the present invention, the apparatus further includes the second cleaning tool for cleaning the surface of the substrate held by the holding member on the side opposite to the first cleaning surface. Thus, both the front and back surfaces of the substrate can be cleaned at the same time. Therefore, the number of devices required for cleaning the front and back surfaces of the substrate can be further reduced, the footprint can be further reduced accordingly, the time required for cleaning the front and back surfaces of the substrate can be further reduced, and the throughput can be reduced. Can be further improved.

【0111】請求項6に記載の発明によれば、保持部材
に保持された基板の第1洗浄面と反対側の面を洗浄ブラ
シで洗浄することができる。従って、基板の表裏両面を
洗浄ブラシで同時洗浄することも可能であるし、基板の
一方の面を洗浄ブラシで、他方の面を洗浄ブラシ以外の
洗浄具で洗浄することも可能であり、基板の表裏両面に
対する多様な洗浄を行うことができる。
According to the sixth aspect of the present invention, the surface of the substrate held by the holding member, opposite to the first cleaning surface, can be cleaned with the cleaning brush. Therefore, it is possible to simultaneously clean the front and back surfaces of the substrate with a cleaning brush, or to clean one surface of the substrate with a cleaning brush and the other surface with a cleaning tool other than the cleaning brush. Various cleanings can be performed on the front and back surfaces of the device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例に係る基板洗浄装置の全体的
な構成を示す縦断面図である。
FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing an overall configuration of a substrate cleaning apparatus according to one embodiment of the present invention.

【図2】実施例装置の平面図である。FIG. 2 is a plan view of the apparatus according to the embodiment.

【図3】第1洗浄具支持アーム内の拡大縦断面図であ
る。
FIG. 3 is an enlarged vertical sectional view of the inside of a first cleaning tool support arm.

【図4】保持部材による基板の保持とその解除との切り
替えの原理を説明するための図である。
FIG. 4 is a diagram for explaining the principle of switching between holding and release of a substrate by a holding member.

【図5】第1洗浄面に沿って第1洗浄ブラシを移動させ
る機構の変形例の概略構成を示すを示す縦断面図であ
る。
FIG. 5 is a longitudinal sectional view showing a schematic configuration of a modification of the mechanism for moving the first cleaning brush along the first cleaning surface.

【図6】第1洗浄面に沿って第1洗浄ブラシを移動させ
る機構の別の変形例の概略構成を示す縦断面図と平面図
である。
FIG. 6 is a longitudinal sectional view and a plan view showing a schematic configuration of another modification of the mechanism for moving the first cleaning brush along the first cleaning surface.

【図7】回転軸を回転させる回転モーターの変形例の概
略構成を示す縦断面図である。
FIG. 7 is a longitudinal sectional view illustrating a schematic configuration of a modified example of a rotation motor that rotates a rotation shaft.

【図8】カップ、保持部材、基板の保持と解除の切替え
機構などの変形例の概略構成を示す縦断面図である。
FIG. 8 is a longitudinal sectional view showing a schematic configuration of a modified example of a cup, a holding member, a switching mechanism for holding and releasing a substrate, and the like.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:基板保持機構 2:ベース部材 6:保持部材 9:回転軸 10、15、17:ベルト伝動機構 11、16、18:回転モーター 12:第1の伝達軸 13:第2の伝達軸 21:第1洗浄ブラシ 22:第1洗浄具支持アーム 23:第1の動力伝達機構 24:第2の動力伝達機構 101:第2洗浄ブラシ W:基板 WF1:第1洗浄面 WF2:第2洗浄面 1: substrate holding mechanism 2: base member 6: holding member 9: rotating shaft 10, 15, 17: belt transmission mechanism 11, 16, 18: rotating motor 12: first transmission shaft 13: second transmission shaft 21: First cleaning brush 22: First cleaning tool support arm 23: First power transmission mechanism 24: Second power transmission mechanism 101: Second cleaning brush W: Substrate WF1: First cleaning surface WF2: Second cleaning surface

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板に洗浄処理を施す基板洗浄装置であ
って、 ベース部材に設けられた保持部材によって前記ベース部
材と基板とが離間された状態で基板の周縁部を保持する
基板保持手段と、 前記ベース部材に連結された中空状の回転軸を介して前
記基板保持手段を回転させる回転駆動手段と、 前記保持部材に保持された基板の面のうち、前記ベース
部材に向く側の面(以下、この面を「第1洗浄面」と言
う)を洗浄するための第1洗浄具と、 前記保持部材に保持された基板と前記ベース部材との間
に前記第1洗浄具を配置させて、前記第1洗浄面に沿っ
て前記第1洗浄具を移動可能に支持する第1洗浄具支持
手段と、 前記ベース部材を挟んで、前記保持部材に保持された基
板が配置される空間と反対側の空間に配設され、前記第
1洗浄面に沿った前記第1洗浄具の移動を駆動する移動
駆動手段と、 前記回転軸内の中空部を介して前記移動駆動手段による
移動動力を伝達する移動動力伝達手段と、 を備えたことを特徴とする基板洗浄装置。
1. A substrate cleaning apparatus for performing a cleaning process on a substrate, comprising: a substrate holding unit configured to hold a peripheral portion of the substrate in a state where the base member and the substrate are separated by a holding member provided on the base member. A rotation driving unit that rotates the substrate holding unit via a hollow rotary shaft connected to the base member; and a surface of the substrate held by the holding member that faces the base member ( Hereinafter, this surface is referred to as a “first cleaning surface”), and the first cleaning device is disposed between the base member and the substrate held by the holding member. A first cleaning tool supporting means movably supporting the first cleaning tool along the first cleaning surface; and a space opposite to a space where the substrate held by the holding member is disposed with the base member interposed therebetween. The first cleaning surface is disposed in the side space, Moving drive means for driving the movement of the first cleaning tool along; and moving power transmitting means for transmitting moving power by the moving driving means via a hollow portion in the rotating shaft. Substrate cleaning equipment.
【請求項2】 請求項1に記載の基板洗浄装置におい
て、 前記第1洗浄具が洗浄ブラシであることを特徴とする基
板洗浄装置。
2. The substrate cleaning apparatus according to claim 1, wherein the first cleaning tool is a cleaning brush.
【請求項3】 請求項2に記載の基板洗浄装置におい
て、 前記洗浄ブラシを回転させるブラシ回転手段をさらに備
えたことを特徴とする基板洗浄装置。
3. The substrate cleaning apparatus according to claim 2, further comprising brush rotating means for rotating said cleaning brush.
【請求項4】 請求項3に記載の基板洗浄装置におい
て、 前記ブラシ回転手段は、 前記ベース部材を挟んで、前記保持部材に保持された基
板が配置される空間と反対側の空間に配設され、前記洗
浄ブラシを回転駆動するブラシ回転駆動手段と、 前記回転軸内の中空部を介して前記ブラシ回転駆動手段
による回転動力を伝達する回転動力伝達手段と、 を備えていることを特徴とする基板洗浄装置。
4. The substrate cleaning apparatus according to claim 3, wherein the brush rotating unit is disposed in a space opposite to a space where the substrate held by the holding member is arranged with the base member interposed therebetween. A brush rotation driving means for rotating and driving the cleaning brush; and a rotation power transmission means for transmitting rotation power by the brush rotation driving means through a hollow portion in the rotation shaft. Substrate cleaning equipment.
【請求項5】 請求項1ないし4のいずれかに記載の基
板洗浄装置において、 前記保持部材に保持された基板の面のうち、前記第1洗
浄面と反対側の面を洗浄するための第2洗浄具をさらに
備えたことを特徴とする基板洗浄装置。
5. The substrate cleaning apparatus according to claim 1, wherein, of the surfaces of the substrate held by the holding member, a surface of the substrate opposite to the first cleaning surface is cleaned. 2. A substrate cleaning apparatus further comprising a cleaning tool.
【請求項6】 請求項5に記載の基板洗浄装置におい
て、 前記第2洗浄具が洗浄ブラシであることを特徴とする基
板洗浄装置。
6. The substrate cleaning apparatus according to claim 5, wherein the second cleaning tool is a cleaning brush.
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