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JP2000294929A - Manufacture of multilayer printed wiring board and the multilayer printed wiring board - Google Patents

Manufacture of multilayer printed wiring board and the multilayer printed wiring board

Info

Publication number
JP2000294929A
JP2000294929A JP9761799A JP9761799A JP2000294929A JP 2000294929 A JP2000294929 A JP 2000294929A JP 9761799 A JP9761799 A JP 9761799A JP 9761799 A JP9761799 A JP 9761799A JP 2000294929 A JP2000294929 A JP 2000294929A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
via hole
printed wiring
wiring board
multilayer printed
roughened surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9761799A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Honchin En
本鎮 袁
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP9761799A priority Critical patent/JP2000294929A/en
Publication of JP2000294929A publication Critical patent/JP2000294929A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method for a multilayer printed wiring board, in which connection reliability of a conductor circuit to a via hole formed on a roughened face can be ensured sufficiently, even when the roughened face is formed on the conductor circuit through etching operation. SOLUTION: In this manufacturing method of a multilayer printed wiring board, conductor circuits 4 which are composed of a plurality of layers by sandwiching interlayer resin-insulating layers are formed on an insulating board by repeating a process, wherein the conductor circuits 4 are formed, a roughening treatment is executed, the conductor circuits 4 to which the roughening treatment is executed are covered with an interlayer resin-insulating layers 2 and opening for via holes are formed. Than the manufacturing method for the multilayer printed wiring board includes after the formation of the openings for the via holes, an etching treatment executed to the roughened faces 4a on the conductor circuits 4, which are exposed from the openings for the via holes.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

〔発明の詳細な説明〕[Detailed description of the invention]

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、多層配線基板に対する高密度化の
要請から、いわゆるビルドアップ多層配線基板が注目さ
れている。このビルドアップ多層配線基板は、例えば、
特公平4−55555号公報に開示されているような方
法により製造される。即ち、下層導体回路が形成された
コア基板上に、感光性樹脂からなる無電解めっき用接着
剤を塗布し、これを乾燥した後露光、現像処理すること
により、バイアホール用開口を有する層間樹脂絶縁層を
形成する。次いで、この層間樹脂絶縁層の表面を酸化剤
等による処理にて粗化した後、該感光性樹脂層に露光、
現像処理を施してめっきレジストを設け、その後、めっ
きレジスト非形成部分に無電解めっき等を施してバイア
ホールを含む導体回路パターンを形成する。そして、こ
のような工程を複数回繰り返すことにより、多層化した
ビルドアップ配線基板が製造されるのである。
2. Description of the Related Art In recent years, a so-called build-up multilayer wiring board has attracted attention due to a demand for higher density of the multilayer wiring board. This build-up multilayer wiring board, for example,
It is manufactured by a method as disclosed in Japanese Patent Publication No. 55555/1992. That is, an adhesive for electroless plating made of a photosensitive resin is applied to the core substrate on which the lower conductive circuit is formed, and then dried and exposed and developed to form an interlayer resin having an opening for a via hole. An insulating layer is formed. Next, after the surface of the interlayer resin insulating layer is roughened by a treatment with an oxidizing agent or the like, the photosensitive resin layer is exposed,
A plating resist is provided by performing a development process, and thereafter, a portion where the plating resist is not formed is subjected to electroless plating or the like to form a conductive circuit pattern including via holes. By repeating such a process a plurality of times, a multilayered build-up wiring board is manufactured.

【0003】このようなビルドアップ多層配線基板で
は、導体回路と樹脂絶縁層との密着性改善のため、特開
平7−292483号公報に記載されているように、ア
ゾール類の第二銅錯体と有機酸とを含むエッチング液で
導体回路表面の粗化処理を行い、粗化面を形成する。
In such a build-up multilayer wiring board, as described in JP-A-7-292483, a copper complex of an azole is used to improve the adhesion between the conductor circuit and the resin insulating layer. The surface of the conductor circuit is roughened with an etchant containing an organic acid to form a roughened surface.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
アゾール類の第二銅錯体と有機酸とを含むエッチング液
を用いた粗化処理により導体回路表面に粗化面を形成
し、この導体回路上にバイアホールを形成すると、加熱
時やヒートサイクル時に、バイアホールとその下の導体
回路との接触部分で破壊が発生してバイアホールの接続
信頼性が低下してしまうことがあるという新たな事実を
知見した。
However, a roughened surface is formed on the surface of the conductor circuit by a roughening treatment using an etching solution containing a cupric complex of an azole and an organic acid. If a via hole is formed on the upper surface, a breakage may occur at the point of contact between the via hole and the underlying conductive circuit during heating or heat cycling, which may lower the connection reliability of the via hole. I found the facts.

【0005】本発明の目的は、エッチングにより導体回
路に粗化面を形成した場合であっても、その上に形成す
るバイアホールとの接続信頼性を充分に確保することが
できる多層プリント配線板の製造方法および該製造方法
により製造された多層プリント配線板を提供することに
ある。
An object of the present invention is to provide a multilayer printed wiring board capable of sufficiently securing the connection reliability with via holes formed thereon even when a roughened surface is formed in a conductive circuit by etching. And a multilayer printed wiring board manufactured by the manufacturing method.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明者は上記課題に鑑
み、上記目的達成のために鋭意研究した結果、加熱時や
ヒートサイクル時に、バイアホールと導体回路の粗化面
との間で破壊が発生する原因は、粗化面が形成された部
分に脆弱層が存在しているためであり、所定のエッチン
グ液を用いると、この脆弱層のみをエッチングにより除
去することができ、これにより上述の問題を解決するこ
とができることを見い出し、以下に示す内容を要旨構成
とする本発明を完成するに至った。
Means for Solving the Problems In view of the above problems, the present inventor has conducted intensive studies to achieve the above object. As a result, during heating or heat cycle, a breakage between the via hole and the roughened surface of the conductor circuit occurred. Is caused by the presence of the fragile layer in the portion where the roughened surface is formed. With a predetermined etching solution, only the fragile layer can be removed by etching, and as a result, The present inventors have found that the above problem can be solved, and have completed the present invention having the following configuration as a gist configuration.

【0007】即ち、本発明の多層プリント配線板の製造
方法は、導体回路を形成し、粗化処理を施した後、粗化
処理が施された導体回路を層間樹脂絶縁層により被覆
し、バイアホール用開口を形成する工程を繰り返すこと
により絶縁性基板上に層間樹脂絶縁層を挟んだ複数層か
らなる導体回路を形成する多層プリント配線板の製造方
法において、層間樹脂絶縁層にバイアホール用開口を形
成した後、上記バイアホール用開口から露出した導体回
路の粗化面に、エッチング処理を施すことを特徴とす
る。
That is, according to the method of manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention, a conductor circuit is formed, subjected to a roughening treatment, and then the conductor circuit subjected to the roughening treatment is covered with an interlayer resin insulating layer. In a method for manufacturing a multilayer printed wiring board in which a conductor circuit composed of a plurality of layers sandwiching an interlayer resin insulating layer is formed on an insulating substrate by repeating a step of forming a hole opening, a via hole opening is formed in the interlayer resin insulating layer. After the formation, the roughened surface of the conductor circuit exposed from the via hole opening is subjected to an etching process.

【0008】上記多層プリント配線板の製造方法におい
ては、過硫酸塩の水溶液、もしくは、過酸化水素ー硫酸
の混合水溶液を用いて上記エッチング処理を施すことが
望ましい。また、上記導体回路の粗化処理は、第二銅錯
体および有機酸からなるエッチング液を酸素共存化で作
用させることにより行うことが望ましい。
In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board, it is desirable to perform the etching treatment using an aqueous solution of persulfate or a mixed aqueous solution of hydrogen peroxide and sulfuric acid. Further, it is desirable that the roughening treatment of the conductor circuit be performed by causing an etchant comprising a cupric complex and an organic acid to act in coexistence with oxygen.

【0009】本発明の多層プリント配線板は、粗化面を
有する導体回路が形成された基板上に層間樹脂絶縁層が
形成され、上記層間樹脂絶縁層にバイアホール用開口が
形成され、上記バイアホール用開口に導電体が形成され
てバイアホールを構成してなる多層プリント配線板にお
いて、上記バイアホール用開口から露出した導体回路の
粗化面は、粗化面を形成するためのエッチング処理が施
された後、さらに粗化面に脆弱層を除去するためのエッ
チング処理が施されていることを特徴とする。このよう
なエッチング処理を施すことにより、前記バイアホール
用開口から露出した導体回路の粗化面の粗さは、それ以
外の部分の粗化面の粗さよりも小さくなる。前記バイア
ホール用開口から露出した導体回路の粗化面は、このよ
うな形態を有するため、層間樹脂絶縁層との密着性を低
下させることなく、めっきのつきまわり性を改善してバ
イアホールの接続信頼性を確保できる。前記バイアホー
ル用開口から露出した導体回路の粗化面の粗さはそれ以
外の部分の粗化面の粗さよりも0.5〜5μm小さいこ
とが望ましい。差が大きすぎるとビアの剥離が生じやす
く、小さすぎると脆弱層を除去できないからである。
In the multilayer printed wiring board according to the present invention, an interlayer resin insulating layer is formed on a substrate on which a conductor circuit having a roughened surface is formed, and a via hole opening is formed in the interlayer resin insulating layer. In a multilayer printed wiring board in which a conductor is formed in a hole opening and a via hole is formed, a roughened surface of the conductor circuit exposed from the via hole opening is subjected to an etching process for forming a roughened surface. After being applied, the roughened surface is further subjected to an etching process for removing a fragile layer. By performing such an etching treatment, the roughness of the roughened surface of the conductor circuit exposed from the via hole opening becomes smaller than that of the other portions. Since the roughened surface of the conductor circuit exposed from the via hole opening has such a form, without reducing the adhesion with the interlayer resin insulation layer, the throwing power of the plating is improved by improving the plating throwing power. Connection reliability can be ensured. It is desirable that the roughness of the roughened surface of the conductor circuit exposed from the via hole opening is smaller by 0.5 to 5 μm than the roughness of the roughened surface of the other portions. If the difference is too large, the peeling of the via tends to occur, and if the difference is too small, the fragile layer cannot be removed.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】本発明の多層プリント配線板の製
造方法は、導体回路を形成し、粗化処理を施した後、粗
化処理が施された導体回路を層間樹脂絶縁層により被覆
し、バイアホール用開口を形成する工程を繰り返すこと
により絶縁性基板上に層間樹脂絶縁層を挟んだ複数層か
らなる導体回路を形成する多層プリント配線板の製造方
法において、層間樹脂絶縁層にバイアホール用開口を形
成した後、上記バイアホール用開口から露出した導体回
路の粗化面に、エッチング処理を施すことを特徴とす
る。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, a conductor circuit is formed, roughened, and then the roughened conductor circuit is covered with an interlayer resin insulating layer. In a method of manufacturing a multilayer printed wiring board in which a conductor circuit composed of a plurality of layers sandwiching an interlayer resin insulating layer is formed on an insulating substrate by repeating a step of forming a via hole opening, a via hole is formed in the interlayer resin insulating layer. After forming the opening for etching, the roughened surface of the conductor circuit exposed from the opening for via hole is subjected to an etching treatment.

【0011】本発明の多層プリント配線板の製造方法に
よれば、層間樹脂絶縁層に形成したバイアホール用開口
から露出した導体回路の粗化面に、脆弱層を除去するた
めのエッチング処理を施すので、粗化面が形成された部
分に脆弱層はなくなるとともに粗化面の凹凸は維持され
る。従って、導体回路上に該導体回路との密着性に優れ
たバイアホールを形成することができ、バイアホールと
導体回路との接続信頼性が充分に確保された多層プリン
ト配線板を製造することができる。
According to the method of manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention, a roughened surface of a conductor circuit exposed from a via hole opening formed in an interlayer resin insulating layer is subjected to an etching treatment for removing a fragile layer. Therefore, the fragile layer disappears at the portion where the roughened surface is formed, and the unevenness of the roughened surface is maintained. Therefore, a via hole having excellent adhesion to the conductor circuit can be formed on the conductor circuit, and a multilayer printed wiring board having sufficiently secured connection reliability between the via hole and the conductor circuit can be manufactured. it can.

【0012】導体回路に粗化処理を施して粗化面を形成
するためのエッチング処理方法としては特に限定される
ものではないが、本発明では、第二銅錯体および有機酸
からなるエッチング液を酸素共存化で作用させる方法を
採用した場合に、上述した効果が充分に得られる。この
場合、下記の式(1)および式(2)の化学反応により
エッチングが進行する。
An etching method for forming a roughened surface by subjecting a conductor circuit to a roughening process is not particularly limited. In the present invention, an etching solution containing a cupric complex and an organic acid is used. When the method of acting in the coexistence of oxygen is employed, the above-mentioned effects are sufficiently obtained. In this case, the etching proceeds by the chemical reaction of the following formulas (1) and (2).

【0013】[0013]

【化1】 Embedded image

【0014】上記第二銅錯体としては、アゾール類の第
二銅錯体が望ましい。このアゾール類の第二銅錯体は、
金属銅等を酸化する酸化剤として作用する。アゾール類
としては、例えば、ジアゾール、トリアゾール、テトラ
ゾールが挙げられる。これらのなかでも、イミダゾー
ル、2−メチルイミダゾール、2−エチルイミダゾー
ル、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニ
ルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール等が望ま
しい。上記エッチング液中のアゾール類の第二銅錯体の
含有量は、1〜15重量%が望ましい。溶解性および安
定性に優れ、また、触媒核を構成するPdなどの貴金属
をも溶解させることができるからである。
As the cupric complex, a cupric complex of an azole is desirable. This cupric complex of azoles is
It acts as an oxidizing agent that oxidizes metallic copper and the like. Examples of the azoles include diazole, triazole, and tetrazole. Among these, imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-undecylimidazole and the like are desirable. The content of the cupric complex of azoles in the etching solution is desirably 1 to 15% by weight. This is because it is excellent in solubility and stability, and can also dissolve noble metals such as Pd constituting the catalyst core.

【0015】また、酸化銅を溶解させるために、有機酸
をアゾール類の第二銅錯体に配合する。上記有機酸の具
体例としては、例えば、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、酪
酸、吉草酸、カプロン酸、アクリル酸、クロトン酸、シ
ュウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル酸、マレイン
酸、安息香酸、グリコール酸、乳酸、リンゴ酸、スルフ
ァミン酸等が挙げられる。これらは、単独で用いてもよ
く、2種以上を併用してもよい。
In order to dissolve copper oxide, an organic acid is added to a cupric complex of an azole. Specific examples of the organic acid include, for example, formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, caproic acid, acrylic acid, crotonic acid, oxalic acid, malonic acid, succinic acid, glutaric acid, maleic acid, benzoic acid, Glycolic acid, lactic acid, malic acid, sulfamic acid and the like can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more.

【0016】エッチング液中の有機酸の含有量は、0.
1〜30重量%が望ましい。酸化された銅の溶解性を維
持し、かつ溶解安定性を確保することができるからであ
る。上記式(2)に示したように、発生した第一銅錯体
は、酸の作用で溶解し、酸素と結合して第二銅錯体とな
って、再び銅の酸化に寄与する。
The content of the organic acid in the etching solution is 0.1%.
1 to 30% by weight is desirable. This is because the solubility of the oxidized copper can be maintained and the solubility stability can be ensured. As shown in the above formula (2), the generated cuprous complex dissolves under the action of an acid and combines with oxygen to form a cupric complex, which again contributes to oxidation of copper.

【0017】銅の溶解やアゾール類の酸化作用を補助す
るために、ハロゲンイオン、例えば、フッ素イオン、塩
素イオン、臭素イオン等を上記エッチング液に加えても
よい。また、塩酸、塩化ナトリウム等を添加することに
より、ハロゲンイオンを供給することができる。エッチ
ング液中のハロゲンイオンの含有量は、0.01〜20
重量%が望ましい。形成された粗化面と層間樹脂絶縁層
との密着性に優れるからである。
To aid in dissolving copper and oxidizing azoles, halogen ions, for example, fluorine ions, chlorine ions, bromine ions, etc., may be added to the etching solution. Also, halogen ions can be supplied by adding hydrochloric acid, sodium chloride, or the like. The content of halogen ions in the etching solution is 0.01 to 20.
% By weight is desirable. This is because adhesion between the formed roughened surface and the interlayer resin insulating layer is excellent.

【0018】エッチング液を調製する際には、アゾール
類の第二銅錯体と有機酸(必要に応じてハロゲンイオン
を有するものを使用)を、水に溶解する。また、上記エ
ッチング液として、市販のエッチング液、例えば、メッ
ク社製、商品名「メック エッチボンド」を使用する。
上記エッチング液を用いた場合のエッチング量(即ち粗
さ)は0.5〜10μmが望ましく、1〜5μmが最適
である。エッチング量が10μmを超えると、形成され
た粗化面とバイアホール導体との接続不良を起こし、一
方、エッチング量が0.5μm未満では、その上に形成
する層間樹脂絶縁層との密着性が不充分となるからであ
る。
In preparing the etching solution, a cupric complex of an azole and an organic acid (if necessary, having a halogen ion) are dissolved in water. As the etching solution, a commercially available etching solution, for example, “Mech Etch Bond” manufactured by Mec Co., Ltd. is used.
The etching amount (that is, roughness) when the above-mentioned etching solution is used is preferably 0.5 to 10 μm, and most preferably 1 to 5 μm. When the etching amount exceeds 10 μm, poor connection between the formed roughened surface and the via-hole conductor occurs. On the other hand, when the etching amount is less than 0.5 μm, the adhesion to the interlayer resin insulating layer formed thereon becomes poor. This is because it becomes insufficient.

【0019】上記方法により形成される粗化面は、イオ
ン化傾向が銅より大きくチタン以下である金属または貴
金属の層(以下、金属層という)で被覆されていてもよ
い。このような金属としては、例えば、チタン、アルミ
ニウム、亜鉛、鉄、インジウム、タリウム、コバルト、
ニッケル、スズ、鉛、ビスマスなどが挙げられる。ま
た、貴金属としては、例えば、金、銀、白金、パラジウ
ムなどが挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、
2種以上を併用して複数の層を形成してもよい。
The roughened surface formed by the above method may be covered with a layer of a metal or a noble metal having a higher ionization tendency than copper and not more than titanium (hereinafter, referred to as a metal layer). Such metals include, for example, titanium, aluminum, zinc, iron, indium, thallium, cobalt,
Examples include nickel, tin, lead, and bismuth. Examples of the noble metal include gold, silver, platinum, and palladium. These may be used alone,
A plurality of layers may be formed by using two or more kinds in combination.

【0020】これらの金属層は粗化層を被覆し、層間樹
脂絶縁層を粗化処理しても局部電極反応を防止して導体
回路の溶解を防止する。これらの金属の厚さは0.1〜
2μmが望ましい。
These metal layers cover the roughened layer, and even if the interlayer resin insulating layer is roughened, the local electrode reaction is prevented and the conductor circuit is prevented from melting. The thickness of these metals is 0.1-
2 μm is desirable.

【0021】上記金属層を構成する金属のなかでは、ス
ズが望ましい。スズは無電解置換めっきにより薄い層を
形成することができ、粗化層に追従することができるた
らである。スズからなる金属層を形成する場合は、ホウ
フッ化スズ−チオ尿素を含む溶液、または、塩化スズ−
チオ尿素を含む溶液を使用して置換めっきを行う。この
場合、Cu−Snの置換反応により、0.1〜2μm程
度のSn層が形成される。貴金属からなる金属層を形成
する場合は、スパッタや蒸着などの方法を採用すること
ができる。
Of the metals constituting the metal layer, tin is desirable. This is because tin can form a thin layer by electroless displacement plating and can follow the roughened layer. When forming a metal layer made of tin, a solution containing tin borofluoride-thiourea, or tin chloride-
Displacement plating is performed using a solution containing thiourea. In this case, a Sn layer having a thickness of about 0.1 to 2 μm is formed by the substitution reaction of Cu—Sn. When a metal layer made of a noble metal is formed, a method such as sputtering or vapor deposition can be employed.

【0022】上記のようにして形成した粗化面を有する
導体回路を含む基板面に後述する方法で層間樹脂絶縁層
を形成した後、バイアホール用開口を形成し、次いで、
粗化面が形成された部分の脆弱層を除去するためにエッ
チング処理を施す。
After an interlayer resin insulating layer is formed on a substrate surface including a conductor circuit having a roughened surface formed as described above by a method described later, a via hole opening is formed.
An etching process is performed to remove the fragile layer in the portion where the roughened surface is formed.

【0023】上記脆弱層を除去するためのエッチング液
は、脆弱層を除去することができるものであれば特に限
定さないが、例えば、過硫酸塩を含む水溶液が挙げられ
るが、過酸化水素−硫酸からなるエッチング液でも脆弱
層を除去することができる。
The etchant for removing the fragile layer is not particularly limited as long as it can remove the fragile layer. For example, an aqueous solution containing a persulfate may be used. The brittle layer can also be removed with an etchant made of sulfuric acid.

【0024】上記過硫酸塩としては、例えば、過硫酸ア
ンモニウム、過硫酸ナトリウム、過硫酸カリウム等が挙
げられる。これらは、単独で用いてもよく、2種以上を
併用してもよい。上記過硫酸塩の水溶液中の濃度は、2
0〜100g/lが望ましい。過硫酸塩の濃度が20g
/l未満であると、脆弱層を完全に除去することが困難
となり、一方、過硫酸塩の濃度が100g/lを超える
と、エッチングが進行しすぎて他の部分までエッチング
し、粗化面の凹凸の高さが低くなってしまう。
Examples of the above-mentioned persulfate include ammonium persulfate, sodium persulfate and potassium persulfate. These may be used alone or in combination of two or more. The concentration of the above persulfate in the aqueous solution is 2
0-100 g / l is desirable. Persulfate concentration 20g
/ L, it is difficult to completely remove the fragile layer. On the other hand, if the concentration of persulfate exceeds 100 g / l, the etching proceeds too much to etch other parts and the roughened surface The height of the unevenness is reduced.

【0025】また、エッチングの際のエッチング液の温
度は、25〜40℃が好ましく、エッチング処理の時間
は、30〜120秒程度が好ましい。
The temperature of the etching solution at the time of etching is preferably 25 to 40 ° C., and the time of the etching treatment is preferably about 30 to 120 seconds.

【0026】本発明の多層プリント配線板は、粗化面を
有する導体回路が形成された基板上に層間樹脂絶縁層が
形成され、上記層間樹脂絶縁層にバイアホール用開口が
形成され、上記バイアホール用開口に導電体が形成され
てバイアホールを構成してなる多層プリント配線板にお
いて、上記バイアホール用開口から露出した導体回路の
粗化面は、粗化面を形成するためのエッチング処理が施
された後、さらに粗化面にエッチング処理が施されてい
ることを特徴とする。
In the multilayer printed wiring board according to the present invention, an interlayer resin insulating layer is formed on a substrate on which a conductor circuit having a roughened surface is formed, and a via hole opening is formed in the interlayer resin insulating layer. In a multilayer printed wiring board in which a conductor is formed in a hole opening and a via hole is formed, a roughened surface of the conductor circuit exposed from the via hole opening is subjected to an etching process for forming a roughened surface. After the application, the roughened surface is further subjected to an etching process.

【0027】本発明の多層プリント配線板によれば、バ
イアホール用開口から露出した導体回路の粗化面は、脆
弱層を除去するためにエッチング処理が施されているの
で、粗化面が形成された部分に脆弱層はなくなり、バイ
アホールと導体回路との接続信頼性が充分に確保された
多層プリント配線板となる。また、このようなエッチン
グ処理を施すことにより、前記バイアホール用開口から
露出した導体回路の粗化面の粗さは、それ以外の部分の
粗化面の粗さよりも小さくなるため、層間樹脂絶縁層と
の密着性を低下させることなく、めっきのつきまわり性
を改善してバイアホールの接続信頼性を確保できる。
According to the multilayer printed wiring board of the present invention, the roughened surface of the conductor circuit exposed from the via hole opening is subjected to the etching treatment to remove the fragile layer, so that the roughened surface is formed. There is no fragile layer at the portion where the connection is made, and a multilayer printed wiring board with sufficient connection reliability between the via hole and the conductor circuit is obtained. Further, by performing such an etching process, the roughness of the roughened surface of the conductor circuit exposed from the via hole opening becomes smaller than the roughness of the roughened surface of the other portions. Without reducing the adhesion to the layer, the throwing power of the plating can be improved and the connection reliability of the via hole can be ensured.

【0028】次に、本発明の多層プリント配線板を製造
する方法をセミアディティブ法を例にとり説明する。 (1) まず、コア基板の表面に内層銅パターン(下層導体
回路)が形成された基板を作製する。このコア基板に対
する導体回路を形成する際には、銅張積層板を特定パタ
ーン状にエッチングする方法、ガラスエポキシ基板、ポ
リイミド基板、セラミック基板、金属基板などの基板に
無電解めっき用接着剤層を形成し、この無電解めっき用
接着剤層表面を粗化して粗化面とした後、無電解めっき
を施す方法、または、上記粗化面全体に無電解めっきを
施し、めっきレジストを形成し、めっきレジスト非形成
部分に電解めっきを施した後、めっきレジストを除去
し、エッチング処理を行って、電解めっき膜と無電解め
っき膜からなる導体回路を形成する方法(セミアディテ
ィブ法)などを用いることができる。
Next, a method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention will be described by taking a semi-additive method as an example. (1) First, a substrate having an inner copper pattern (lower conductive circuit) formed on the surface of a core substrate is prepared. When forming a conductor circuit for this core substrate, a method of etching a copper-clad laminate into a specific pattern, a method of forming an adhesive layer for electroless plating on a substrate such as a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a ceramic substrate, and a metal substrate. Forming, after roughening the surface of the adhesive layer for electroless plating to a roughened surface, a method of performing electroless plating, or performing electroless plating on the entire roughened surface to form a plating resist, Using a method (semi-additive method) of forming a conductor circuit consisting of an electrolytic plating film and an electroless plating film by applying a plating resist after removing the plating resist after applying electrolytic plating to the portion where no plating resist is formed, and performing an etching process. Can be.

【0029】通常、基板上に導体回路を形成した後、ス
ルーホールおよびコア基板の導体回路間にビスフェノー
ルF型エポキシ樹脂などの低粘度の樹脂充填剤を充填し
た後、樹脂層および導体回路を研磨することにより樹脂
層と導体回路との平滑性を確保するが、上記樹脂充填剤
を充填する前に導体回路の表面に、粗化面または粗化層
を形成する。
Normally, after a conductive circuit is formed on a substrate, a low-viscosity resin filler such as bisphenol F type epoxy resin is filled between the through hole and the conductive circuit of the core substrate, and then the resin layer and the conductive circuit are polished. By doing so, the smoothness between the resin layer and the conductor circuit is ensured, but a roughened surface or a roughened layer is formed on the surface of the conductor circuit before filling with the resin filler.

【0030】なお、コア基板には、スルーホールが形成
され、このスルーホールを介して表面と裏面の配線層が
電気的に接続されていてもよい。
Note that a through hole may be formed in the core substrate, and the wiring layers on the front and back surfaces may be electrically connected via the through hole.

【0031】上記粗化面または粗化層は、研磨処理、エ
ッチング処理、黒化還元処理およびめっき処理のうちの
いずれかの方法により形成されることが望ましい。これ
らの処理のうち、黒化還元処理を行う際には、NaOH
(20g/l)、NaClO2 (50g/l)、Na3
PO4 (15.0g/l)を含む水溶液からなる黒化浴
(酸化浴)、および、NaOH(2.7g/l)、Na
BH4 (1.0g/l)を含む水溶液からなる還元浴を
用いて粗化面を形成する方法が望ましい。
The roughened surface or the roughened layer is desirably formed by any one of a polishing treatment, an etching treatment, a blackening reduction treatment and a plating treatment. Of these processes, when performing the blackening reduction process, NaOH
(20 g / l), NaClO 2 (50 g / l), Na 3
A blackening bath (oxidizing bath) composed of an aqueous solution containing PO 4 (15.0 g / l), NaOH (2.7 g / l), Na
A method of forming a roughened surface using a reducing bath composed of an aqueous solution containing BH 4 (1.0 g / l) is desirable.

【0032】また、めっき処理により粗化層を形成する
際には、硫酸銅(1〜40g/l)、硫酸ニッケル
(0.1〜6.0g/l)、クエン酸(10〜20g/
l)、次亜リン酸ナトリウム(10〜100g/l)、
ホウ酸(10〜40g/l)、界面活性剤(日信化学工
業社製、サーフィノール465)(0.01〜10g/
l)を含むpH=9の無電解めっき浴にて無電解めっき
を施し、Cu−Ni−P合金からなる粗化層を形成する
方法が望ましい。この範囲で析出する被膜の結晶構造は
針状構造になるため、アンカー効果に優れるからであ
る。この無電解めっき浴には上記化合物に加えて錯化剤
や添加剤を加えてもよい。
When a roughened layer is formed by plating, copper sulfate (1 to 40 g / l), nickel sulfate (0.1 to 6.0 g / l), and citric acid (10 to 20 g / l) are used.
l), sodium hypophosphite (10-100 g / l),
Boric acid (10 to 40 g / l), surfactant (Surfynol 465, manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd.) (0.01 to 10 g / l)
It is preferable to form a roughened layer made of a Cu-Ni-P alloy by performing electroless plating in an electroless plating bath having a pH of 9 and containing l). This is because the crystalline structure of the film deposited in this range has a needle-like structure, and thus has an excellent anchor effect. A complexing agent or an additive may be added to the electroless plating bath in addition to the above compounds.

【0033】上記エッチング処理方法として、上述した
第二銅錯体および有機酸を含むエッチング液を酸素共存
化で作用させ、導体回路表面を粗化する方法が挙げられ
るが、この方法については詳述したので、ここではその
説明を省略する。
As the above-mentioned etching treatment method, there is a method in which the above-mentioned etching solution containing a cupric complex and an organic acid is allowed to act in the coexistence of oxygen to roughen the surface of a conductor circuit. This method has been described in detail. Therefore, the description is omitted here.

【0034】上記方法により形成した粗化面または粗化
層は、通常、側面を残して研磨され、樹脂層と導体回路
との平滑性が確保される。
The roughened surface or the roughened layer formed by the above method is usually polished while leaving the side surfaces, so that the smoothness between the resin layer and the conductor circuit is ensured.

【0035】この後、再び導体回路に粗化処理を施す
が、この際には、上述した方法、すなわち導体回路に第
二銅錯体および有機酸を含むエッチング液を酸素共存化
で作用させる方法により粗化面を形成する。なお、第二
銅錯体および有機酸を含むエッチング液を用いて導体回
路に粗化面を形成した後、研磨処理を施すことなく、層
間樹脂絶縁層を形成してもよい。
Thereafter, the conductor circuit is again subjected to a roughening treatment. In this case, the above-mentioned method, that is, a method in which an etching solution containing a cupric complex and an organic acid is caused to act on the conductor circuit by coexistence of oxygen. Form a roughened surface. Note that, after a roughened surface is formed on a conductive circuit using an etching solution containing a cupric complex and an organic acid, the interlayer resin insulating layer may be formed without performing polishing treatment.

【0036】(2) 次に、上記(1) で作製した基板の上
に、有機溶剤を含む粗化面形成用樹脂組成物を塗布、乾
燥して粗化面形成用樹脂組成物の層を設ける。
(2) Next, on the substrate prepared in (1) above, a resin composition for forming a roughened surface containing an organic solvent is applied and dried to form a layer of the resin composition for forming a roughened surface. Provide.

【0037】上記粗化面形成用樹脂組成物は、酸、アル
カリおよび酸化剤から選ばれる少なくとも1種からなる
粗化液に対して難溶性の未硬化の耐熱性樹脂マトリック
ス中に、酸、アルカリおよび酸化剤から選ばれる少なく
とも1種からなる粗化液に対して可溶性の物質が分散さ
れたものが望ましい。なお、本発明で使用する「難溶
性」「可溶性」という語は、同一の粗化液に同一時間浸
漬した場合に、相対的に溶解速度の早いものを便宜上
「可溶性」といい、相対的に溶解速度の遅いものを便宜
上「難溶性」と呼ぶ。
The above-mentioned resin composition for forming a roughened surface comprises an acid, an alkali and an acid in an uncured heat-resistant resin matrix which is hardly soluble in a roughening liquid comprising at least one selected from acids, alkalis and oxidizing agents. It is desirable that a substance that is soluble in a roughening liquid composed of at least one selected from an oxidizing agent and a oxidizing agent is dispersed. Note that the terms "poorly soluble" and "soluble" used in the present invention, when immersed in the same roughening solution for the same time, those having a relatively high dissolution rate are referred to as "soluble" for convenience, and Those with a slow dissolution rate are called "poorly soluble" for convenience.

【0038】上記耐熱性樹脂マトリックスとしては、例
えば、熱硬化性樹脂や熱硬化性樹脂(熱硬化基の一部を
感光化したものも含む)と熱可塑性樹脂との複合体など
を使用することができる。
As the heat-resistant resin matrix, for example, a thermosetting resin or a composite of a thermosetting resin (including one in which a part of the thermosetting group is sensitized) and a thermoplastic resin are used. Can be.

【0039】上記熱硬化性樹脂としては、例えば、エポ
キシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、熱硬化性
ポリオレフィン樹脂などが挙げられる。また、上記熱硬
化性樹脂を感光化する場合は、メタクリル酸やアクリル
酸などを用い、熱硬化基を(メタ)アクリル化反応させ
る。特にエポキシ樹脂の(メタ)アクリレートが最適で
ある。
The thermosetting resin includes, for example, epoxy resin, phenol resin, polyimide resin, thermosetting polyolefin resin and the like. When the thermosetting resin is exposed to light, a methacrylic acid, acrylic acid, or the like is used to cause the thermosetting group to undergo a (meth) acrylation reaction. Particularly, epoxy resin (meth) acrylate is most suitable.

【0040】上記エポキシ樹脂としては、例えば、ノボ
ラック型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂などを使用
することができる。上記熱可塑性樹脂としては、例え
ば、ポリエーテルスルフォン、ポリスルフォン、ポリフ
ェニレンスルフォン、ポリフェニレンサルファイド、ポ
リフェニルエーテル、ポリエーテルイミドなどを使用す
ることができる。
As the epoxy resin, for example, a novolak type epoxy resin, an alicyclic epoxy resin or the like can be used. As the thermoplastic resin, for example, polyether sulfone, polysulfone, polyphenylene sulfone, polyphenylene sulfide, polyphenyl ether, polyether imide, and the like can be used.

【0041】上記酸、アルカリおよび酸化剤から選ばれ
る少なくとも1種からなる粗化液に対して可溶性の物質
は、無機粒子、樹脂粒子、金属粒子、ゴム粒子、液相樹
脂および液相ゴムから選ばれる少なくとも1種であるこ
とが望ましい。
The substance soluble in the roughening liquid comprising at least one selected from the above-mentioned acids, alkalis and oxidizing agents is selected from inorganic particles, resin particles, metal particles, rubber particles, liquid resin and liquid rubber. It is desirable that it is at least one kind.

【0042】上記無機粒子としては、例えば、シリカ、
アルミナ、炭酸カルシウム、タルク、ドロマイトなどが
挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、2種以上
を併用してもよい。上記アルミナ粒子は、ふっ酸で溶解
除去することができ、炭酸カルシウムは塩酸で溶解除去
することができる。また、ナトリウム含有シリカやドロ
マイトはアルカリ水溶液で溶解除去することができる。
Examples of the inorganic particles include silica,
Examples include alumina, calcium carbonate, talc, and dolomite. These may be used alone or in combination of two or more. The alumina particles can be dissolved and removed with hydrofluoric acid, and the calcium carbonate can be dissolved and removed with hydrochloric acid. Further, sodium-containing silica and dolomite can be dissolved and removed with an alkaline aqueous solution.

【0043】上記樹脂粒子としては、例えば、アミノ樹
脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グアナミン樹脂など)、
エポキシ樹脂、ビスマレイミド−トリアジン樹脂など挙
げられる。これらは、単独で用いてもよく、2種以上を
併用してもよい。なお、上記エポキシ樹脂は、酸や酸化
剤に溶解するものや、これらに難溶解性のものを、オリ
ゴマーの種類や硬化剤を選択することにより任意に製造
することができる。例えば、ビスフェノールA型エポキ
シ樹脂をアミン系硬化剤で硬化させた樹脂はクロム酸に
非常によく溶けるが、クレゾールノボラック型エポキシ
樹脂をイミダゾール硬化剤で硬化させた樹脂は、クロム
酸には溶解しにくい。
Examples of the resin particles include amino resins (melamine resin, urea resin, guanamine resin, etc.),
Epoxy resins, bismaleimide-triazine resins and the like can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more. The epoxy resin can be arbitrarily manufactured by dissolving in an acid or an oxidizing agent or hardly dissolving in the acid or the oxidizing agent by selecting the type of the oligomer and the curing agent. For example, a resin obtained by curing a bisphenol A-type epoxy resin with an amine-based curing agent is very soluble in chromic acid, but a resin obtained by curing a cresol novolac-type epoxy resin with an imidazole curing agent is not easily dissolved in chromic acid. .

【0044】上記樹脂粒子は予め硬化処理されているこ
とが必要である。硬化させておかないと上記樹脂粒子が
樹脂マトリックスを溶解させる溶剤に溶解してしまうた
め、均一に混合されてしまい、酸や酸化剤で樹脂粒子の
みを選択的に溶解除去することができないからである。
It is necessary that the resin particles have been previously cured. If not cured, the resin particles will dissolve in the solvent that dissolves the resin matrix, so they will be uniformly mixed, and it will not be possible to selectively dissolve and remove only the resin particles with an acid or oxidizing agent. is there.

【0045】上記金属粒子としては、例えば、金、銀、
銅、スズ、亜鉛、ステンレス、アルミニウムなどが挙げ
られる。これらは、単独で用いてもよく、2種以上を併
用してもよい。上記ゴム粒子としては、例えば、アクリ
ロニトリル−ブタジエンゴム、ポリクロロプレンゴム、
ポリイソプレンゴム、アクリルゴム、多硫系剛性ゴム、
フッ素ゴム、ウレタンゴム、シリコーンゴム、ABS樹
脂などが挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、
2種以上を併用してもよい。
The metal particles include, for example, gold, silver,
Examples include copper, tin, zinc, stainless steel, and aluminum. These may be used alone or in combination of two or more. Examples of the rubber particles include acrylonitrile-butadiene rubber, polychloroprene rubber,
Polyisoprene rubber, acrylic rubber, polysulfuric rigid rubber,
Fluorine rubber, urethane rubber, silicone rubber, ABS resin and the like can be mentioned. These may be used alone,
Two or more kinds may be used in combination.

【0046】上記液相樹脂としては、上記熱硬化性樹脂
の未硬化溶液を使用することができ、このような液相樹
脂の具体例としては、例えば、未硬化のエポキシオリゴ
マーとアミン系硬化剤の混合液などが挙げられる。上記
液相ゴムとしては、例えば、上記ゴムの未硬化溶液など
を使用することができる。
As the liquid phase resin, an uncured solution of the thermosetting resin can be used. Specific examples of such a liquid phase resin include, for example, an uncured epoxy oligomer and an amine-based curing agent. And the like. As the liquid phase rubber, for example, an uncured solution of the rubber can be used.

【0047】上記液相樹脂や液相ゴムを用いて上記感光
性樹脂組成物を調製する場合には、耐熱性樹脂マトリッ
クスと可溶性の物質が均一に相溶しない(つまり相分離
するように)ように、これらの物質を選択する必要があ
る。上記基準により選択された耐熱性樹脂マトリックス
と可溶性の物質とを混合することにより、上記耐熱性樹
脂マトリックスの「海」の中に液相樹脂または液相ゴム
の「島」が分散している状態、または、液相樹脂または
液相ゴムの「海」の中に、耐熱性樹脂マトリックスの
「島」が分散している状態の感光性樹脂組成物を調製す
ることができる。
When the photosensitive resin composition is prepared using the liquid resin or the liquid rubber, the heat-resistant resin matrix and the soluble substance are not homogeneously compatible (that is, separated into phases). First, it is necessary to select these substances. By mixing a heat-resistant resin matrix and a soluble substance selected according to the above criteria, a state in which "islands" of liquid-phase resin or liquid-phase rubber are dispersed in the "sea" of the heat-resistant resin matrix Alternatively, a photosensitive resin composition in which "islands" of a heat-resistant resin matrix are dispersed in a "sea" of a liquid phase resin or a liquid phase rubber can be prepared.

【0048】そして、このような状態の感光性樹脂組成
物を硬化させた後、「海」または「島」の液相樹脂また
は液相ゴムを除去することにより粗化面を形成すること
ができる。
After the photosensitive resin composition in such a state is cured, the roughened surface can be formed by removing the "sea" or "island" liquid phase resin or liquid phase rubber. .

【0049】上記粗化液として用いる酸としては、例え
ば、リン酸、塩酸、硫酸や、蟻酸、酢酸などの有機酸な
どが挙げられるが、これらのなかでは有機酸を用いるこ
とが望ましい。粗化処理した場合に、バイアホールから
露出する金属導体層を腐食させにくいからである。上記
酸化剤としては、例えば、クロム酸、アルカリ性過マン
ガン酸塩(過マンガン酸カリウムなど)の水溶液などを
用いることが望ましい。また、アルカリとしては、水酸
化ナトリウム、水酸化カリウムなどの水溶液が望まし
い。
Examples of the acid used as the roughening liquid include phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, and organic acids such as formic acid and acetic acid. Among these, it is preferable to use an organic acid. This is because when the roughening treatment is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded. As the oxidizing agent, for example, an aqueous solution of chromic acid, an alkaline permanganate (such as potassium permanganate), or the like is desirably used. As the alkali, an aqueous solution of sodium hydroxide, potassium hydroxide or the like is desirable.

【0050】本発明において、上記無機粒子、上記金属
粒子および上記樹脂粒子を使用する場合は、その平均粒
径は、10μm以下が望ましい。また、特に平均粒径が
2μm未満であって、平均粒径の相対的に大きな粗粒子
と平均粒径が相対的に小さな微粒子との混合粒子を組み
合わせて使用することにより、無電解めっき膜の溶解残
渣をなくし、めっきレジスト下のパラジウム触媒量を少
なくし、しかも、浅くて複雑な粗化面を形成することが
できる。そして、このような複雑な粗化面を形成するこ
とにより、浅い粗化面でも実用的なピール強度を維持す
ることができる。
In the present invention, when the above-mentioned inorganic particles, the above-mentioned metal particles and the above-mentioned resin particles are used, the average particle size is desirably 10 μm or less. Further, in particular, by using a mixture of coarse particles having a relatively large average particle diameter and fine particles having a relatively small average particle diameter having an average particle diameter of less than 2 μm, the electroless plating film Dissolved residues can be eliminated, the amount of palladium catalyst under the plating resist can be reduced, and a shallow and complicated roughened surface can be formed. By forming such a complicated roughened surface, a practical peel strength can be maintained even on a shallow roughened surface.

【0051】上記粗粒子と微粒子とを組み合わせること
により、浅くて複雑な粗化面を形成することができるの
は、使用する粒子径が粗粒子で平均粒径2μm未満であ
るため、これらの粒子が溶解除去されても形成されるア
ンカーは浅くなり、また、除去される粒子は、相対的に
粒子径の大きな粗粒子と相対的に粒子径の小さな微粒子
の混合粒子であるから、形成される粗化面が複雑になる
のである。また、この場合、使用する粒子径は、粗粒子
で平均粒径2μm未満であるため、粗化が進行しすぎて
空隙を発生させることはなく、形成した層間樹脂絶縁層
は層間絶縁性に優れている。
By combining the above coarse particles and fine particles, a shallow and complicated roughened surface can be formed because the coarse particles used are coarse particles having an average particle size of less than 2 μm. The anchor formed even when dissolved is removed becomes shallow, and the particles to be removed are formed by the mixture of coarse particles having a relatively large particle diameter and fine particles having a relatively small particle diameter. The roughened surface becomes complicated. In this case, the particle diameter used is coarse and the average particle diameter is less than 2 μm, so that roughening does not proceed too much and no voids are generated, and the formed interlayer resin insulating layer has excellent interlayer insulating properties. ing.

【0052】上記粗粒子は平均粒径が0.8μmを超え
2.0μm未満であり、微粒子は平均粒径が0.1〜
0.8μmであることが望ましい。この範囲では、粗化
面の深さは概ねRmax=3μm程度となり、セミアデ
ィテイブ法では、無電解めっき膜をエッチング除去しや
すいだけではなく、無電解めっき膜下のPd触媒をも簡
単に除去することができ、また、実用的なピール強度
1.0〜1.3kg/cmを維持することができるから
である。
The coarse particles have an average particle diameter of more than 0.8 μm and less than 2.0 μm, and the fine particles have an average particle diameter of 0.1 to 0.1 μm.
Preferably, it is 0.8 μm. In this range, the depth of the roughened surface is approximately Rmax = about 3 μm. In the semi-additive method, not only the electroless plating film is easily removed by etching, but also the Pd catalyst under the electroless plating film is easily removed. And a practical peel strength of 1.0 to 1.3 kg / cm can be maintained.

【0053】上記粗化面形成用樹脂組成物中の有機溶剤
の含有量は、10重量%以下であることが望ましい。粗
化面形成用樹脂組成物の塗布を行う際には、ロールコー
タ、カーテンコータなどを使用することができる。
The content of the organic solvent in the resin composition for forming a roughened surface is desirably 10% by weight or less. When applying the resin composition for forming a roughened surface, a roll coater, a curtain coater, or the like can be used.

【0054】(3) 上記(2) で形成した粗化面形成用樹脂
組成物層を乾燥して半硬化状態とした後、バイアホール
用開口を設ける。粗化面形成用樹脂組成物層を乾燥させ
た状態では、導体回路パターン上の上記樹脂組成物層の
厚さが薄く、大面積を持つプレーン層上の層間樹脂絶縁
層の厚さが厚くなり、また導体回路と導体回路非形成部
の凹凸に起因して、層間樹脂絶縁層に凹凸が発生してい
ることが多いため、金属板や金属ロールを用い、加熱し
ながら押圧して、層間樹脂絶縁層の表面を平坦化するこ
とが望ましい。
(3) After the resin composition layer for forming a roughened surface formed in the above (2) is dried to a semi-cured state, an opening for a via hole is provided. When the resin composition layer for forming a roughened surface is dried, the thickness of the resin composition layer on the conductor circuit pattern is small, and the thickness of the interlayer resin insulation layer on the plane layer having a large area is large. In addition, since irregularities are often generated in the interlayer resin insulating layer due to irregularities in the conductor circuit and the portion where the conductor circuit is not formed, the interlayer resin insulating layer is pressed with heating using a metal plate or a metal roll. It is desirable to planarize the surface of the insulating layer.

【0055】バイアホール用開口は、粗化面形成用樹脂
組成物層に紫外線などを用いて露光した後現像処理を行
うことにより形成する。また、露光現像処理を行う場合
には、前述したバイアホール用開口に相当する部分に、
黒円のパターンが描画されたフォトマスク(ガラス基板
が好ましい)の黒円のパターンが描画された側を粗化面
形成用樹脂組成物層に密着させた状態で載置し、露光、
現像処理する。
The opening for the via hole is formed by performing a developing process after exposing the resin composition layer for forming a roughened surface to ultraviolet rays or the like. In the case of performing the exposure and development processing, a portion corresponding to the opening for the via hole described above is provided.
A photomask (preferably a glass substrate) on which a black circle pattern is drawn is placed in a state where the side on which the black circle pattern is drawn is in close contact with the resin composition layer for forming a roughened surface.
Develop.

【0056】4)次に、粗化面形成用樹脂組成物層を硬化
させて層間樹脂絶縁層とし、この層間樹脂絶縁層を粗化
する。粗化処理は、上記層間樹脂絶縁層の表面に存在す
る、無機粒子、樹脂粒子、金属粒子、ゴム粒子、液相樹
脂、液相ゴムから選ばれる少なくとも1種の可溶性の物
質を、上記した酸、酸化剤、アルカリなどの粗化液を用
いて除去することにより行う。粗化面の深さは、1〜5
μm程度が望ましい。
4) Next, the resin composition layer for forming a roughened surface is cured to form an interlayer resin insulating layer, and the interlayer resin insulating layer is roughened. In the roughening treatment, at least one soluble substance selected from inorganic particles, resin particles, metal particles, rubber particles, a liquid-phase resin, and a liquid-phase rubber, which is present on the surface of the interlayer resin insulating layer, is treated with the above-described acid. By using a roughening liquid such as an oxidizing agent or an alkali. The depth of the roughened surface is 1 to 5
About μm is desirable.

【0057】(5) 次に、粗化処理が施された基板を過硫
酸塩の水溶液に浸漬してエッチング処理を施し、バイア
ホール用開口内に露出している導体回路の粗化面の脆弱
層を除去する。この後、層間樹脂絶縁層を粗化した配線
基板に触媒核を付与する。触媒核の付与には、貴金属イ
オンや貴金属コロイドなどを用いることが望ましく、一
般的には、塩化パラジウムやパラジウムコロイドを使用
する。なお、触媒核を固定するために加熱処理を行うこ
とが望ましい。このような触媒核としてはパラジウムが
好ましい。
(5) Next, the roughened substrate is immersed in an aqueous solution of persulfate to perform an etching process, so that the roughened surface of the conductor circuit exposed in the via hole opening is fragile. Remove the layer. Thereafter, a catalyst nucleus is applied to the wiring substrate having the interlayer resin insulating layer roughened. It is desirable to use a noble metal ion or a noble metal colloid for providing the catalyst nucleus, and generally, palladium chloride or a palladium colloid is used. Note that it is desirable to perform a heat treatment to fix the catalyst core. Palladium is preferred as such a catalyst core.

【0058】(6) 次に、粗化面全面に無電解めっき膜を
形成する。上記無電解めっき液としては、上述した本発
明の無電解めっき液を用いる。めっき液組成としては、
例えば、EDTA(50 g/l)、硫酸銅(10 g
/l)、HCHO(6 ml/l)、NaOH(10
g/l)を含む水溶液が望ましい。無電解めっき膜の厚
みは0.1〜5μmが望ましく、0.5〜3μmがより
望ましい。
(6) Next, an electroless plating film is formed on the entire roughened surface. As the electroless plating solution, the above-described electroless plating solution of the present invention is used. As the plating solution composition,
For example, EDTA (50 g / l), copper sulfate (10 g
/ L), HCHO (6 ml / l), NaOH (10
g / l). The thickness of the electroless plating film is preferably from 0.1 to 5 μm, more preferably from 0.5 to 3 μm.

【0059】(7) ついで、無電解めっき膜上に感光性樹
脂フィルム(ドライフィルム)をラミネートし、めっき
レジストパターンが描画されたフォトマスク(ガラス基
板が好ましい)を感光性樹脂フィルムに密着させて載置
し、露光、現像処理することにより、めっきレジストパ
ターンを形成する。 (8) 次に、めっきレジスト非形成部に電解めっきを施
し、導体回路およびバイアホールを形成する。ここで、
上記電解めっきとしては、銅めっきを用いることが望ま
しく、その厚みは、1〜20μmが望ましい。
(7) Then, a photosensitive resin film (dry film) is laminated on the electroless plating film, and a photomask (preferably a glass substrate) on which a plating resist pattern is drawn is brought into close contact with the photosensitive resin film. A plating resist pattern is formed by mounting, exposing, and developing. (8) Next, electrolytic plating is applied to the portion where the plating resist is not formed to form a conductor circuit and a via hole. here,
As the above-mentioned electrolytic plating, it is desirable to use copper plating, and its thickness is desirably 1 to 20 μm.

【0060】(9) さらに、めっきレジストを除去した
後、硫酸と過酸化水素の混合液や過硫酸ナトリウム、過
硫酸アンモニウム、塩化第二鉄、塩化第二銅などのエッ
チング液で無電解めっき膜を溶解除去して、独立した導
体回路とする。この後、クロム酸などでパラジウム触媒
核を溶解除去する。 (10)次に、導体回路の表面に粗化面を形成するが、この
際には、上述した第二銅錯体および有機酸を含むエッチ
ング液を酸素共存化で作用させ、導体回路表面に粗化面
を形成する。
(9) Further, after the plating resist is removed, the electroless plating film is formed with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide or an etching solution such as sodium persulfate, ammonium persulfate, ferric chloride, and cupric chloride. Dissolve and remove to form an independent conductor circuit. Thereafter, the palladium catalyst core is dissolved and removed with chromic acid or the like. (10) Next, a roughened surface is formed on the surface of the conductor circuit. In this case, the etching solution containing the cupric complex and the organic acid described above is allowed to act in the coexistence of oxygen, and the surface of the conductor circuit is roughened. To form a surface.

【0061】(11)次に、この基板上に、上記粗化面形成
用樹脂組成物を用い、上述した方法と同様の方法により
層間樹脂絶縁層を形成する。
(11) Next, an interlayer resin insulating layer is formed on the substrate by using the above-described resin composition for forming a roughened surface by the same method as described above.

【0062】(12)次に、 (3)〜(9) の工程を繰り返して
さらに上層の導体回路を設け、その上にはんだパッドと
して機能する平板状の導体パッドやバイアホールなどを
形成する。最後にソルダーレジスト層およびハンダバン
プ等を形成することにより、多層多層プリント配線板の
製造を終了する。なお、以下の方法は、セミアディティ
ブ法によるものであるが、フルアディティブ法を採用し
てもよい。
(12) Next, the steps (3) to (9) are repeated to provide a further upper layer conductive circuit, on which a flat conductive pad or via hole functioning as a solder pad is formed. Finally, by forming a solder resist layer, a solder bump, and the like, the manufacture of the multilayer printed wiring board is completed. Although the following method is based on the semi-additive method, a full additive method may be adopted.

【0063】[0063]

【実施例】以下、本発明をさらに詳細に説明する。 (実施例1) A.感光性樹脂組成物の調製 クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社製、
分子量:2500)の25%アクリル化物をジエチレン
グリコールジメチルエーテル(DMDG)に溶解させた
樹脂液34重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成社
製、2E4MZ−CN)2重量部、感光性モノマーであ
るカプロラクトン変成トリス(アクロキシエチル)イソ
シアヌレート(東亜合成社製、商品名:アロニックスM
325)4重量部、光重合開始剤としてのベンゾフェノ
ン(関東化学社製)2重量部、光増感剤としてのミヒラ
ーケトン(関東化学社製)0.2重量部、感光性モノマ
ー(日本化薬社製 KAYAMER PM−21)10
重量部、および、エポキシ樹脂粒子( 三洋化成社製 ポ
リマーポール) の平均粒径1.0μmのもの15重量部
と平均粒径0.5μmのもの10重量部を混合した後、
N−メチルピロリドン(NMP)30.0重量部添加し
ながら混合し、ホモディスパー攪拌機で粘度7Pa・s
に調整し、続いて3本ロールで混練して感光性樹脂組成
物(層間樹脂絶縁材)を調製した。
The present invention will be described in more detail below. Example 1 A. Preparation of photosensitive resin composition Cresol novolak type epoxy resin (Nippon Kayaku Co., Ltd.
34 parts by weight of a resin solution prepared by dissolving 25% acrylate having a molecular weight of 2500) in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG), 2 parts by weight of an imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), and caprolactone-modified Tris as a photosensitive monomer (Acroxyethyl) isocyanurate (Toagosei Co., Ltd., trade name: Aronix M)
325) 4 parts by weight, 2 parts by weight of benzophenone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photopolymerization initiator, 0.2 parts by weight of Michler's ketone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photosensitizer, photosensitive monomer (Nippon Kayaku Co., Ltd.) KAYAMER PM-21) 10
Parts by weight, and after mixing 15 parts by weight of epoxy resin particles (Polymer Pole manufactured by Sanyo Chemical Co., Ltd.) having an average particle size of 1.0 μm and 10 parts by weight having an average particle size of 0.5 μm,
The mixture was mixed while adding 30.0 parts by weight of N-methylpyrrolidone (NMP), and the viscosity was 7 Pa · s with a homodisper stirrer.
And kneaded with three rolls to prepare a photosensitive resin composition (interlayer resin insulating material).

【0064】B.プリント配線板の製造方法 (1) 厚さ0.6mmのガラスエポキシ樹脂またはBT
(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなる基板1の両
面に18μmの銅箔8がラミネートされている銅張積層
板を出発材料とした(図1(a)参照)。まず、この銅
貼積層板をドリル削孔し、無電解めっき処理を施し、パ
ターン状にエッチングすることにより、基板1の両面に
下層導体回路4とスルーホール9を形成した。
B. Manufacturing method of printed wiring board (1) 0.6 mm thick glass epoxy resin or BT
The starting material was a copper-clad laminate in which 18 μm copper foils 8 were laminated on both sides of a substrate 1 made of (bismaleimide triazine) resin (see FIG. 1A). First, the copper-clad laminate was drilled, subjected to electroless plating, and etched in a pattern to form a lower conductor circuit 4 and through holes 9 on both surfaces of the substrate 1.

【0065】(2) スルーホール9および下層導体回路4
を形成した基板を水洗いし、乾燥した後、NaOH(1
0g/l)、NaClO2 (40g/l)、Na3 PO
4 (16g/l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とす
る黒化処理、および、NaOH(19g/l)、NaB
4 (5g/l)を含む水溶液を還元浴とする還元処理
を行い、そのスルーホール9を含む下層導体回路4の全
表面に粗化面4a、9aを形成した(図1(b)参
照)。
(2) Through-hole 9 and lower conductor circuit 4
After the substrate on which was formed was washed with water and dried, NaOH (1
0 g / l), NaClO 2 (40 g / l), Na 3 PO
4 A blackening treatment using an aqueous solution containing (16 g / l) as a blackening bath (oxidizing bath), NaOH (19 g / l), NaB
A reduction treatment was performed using an aqueous solution containing H 4 (5 g / l) as a reduction bath, and roughened surfaces 4 a and 9 a were formed on the entire surface of the lower conductor circuit 4 including the through holes 9 (see FIG. 1 (b)). ).

【0066】(3) ビスフェノールF型エポキシ樹脂を含
む樹脂充填剤10を、基板の片面にロールコータを用い
て塗布することにより、下層導体回路4間あるいはスル
ーホール9内に充填し、加熱乾燥させた後、他方の面に
ついても同様に樹脂充填剤10を導体回路4間あるいは
スルーホール9内に充填し、加熱乾燥させた(図1
(c)参照)。
(3) A resin filler 10 containing a bisphenol F type epoxy resin is applied to one surface of the substrate using a roll coater to fill the space between the lower conductor circuits 4 or the inside of the through holes 9 and heat and dry. After that, the other surface was similarly filled with the resin filler 10 between the conductor circuits 4 or in the through holes 9 and dried by heating (FIG. 1).
(C)).

【0067】(4) 上記(3) の処理を終えた基板の片面
を、#600のベルト研磨紙(三共理化学製)を用いた
ベルトサンダー研磨により、内層銅パターン4の表面や
スルーホール9のランド表面に樹脂充填剤10が残らな
いように研磨し、次いで、上記ベルトサンダー研磨によ
る傷を取り除くためのバフ研磨を行った。このような一
連の研磨を基板の他方の面についても同様に行った。次
いで、100℃で1時間、120℃で3時間、150℃
で1時間、180℃で7時間の加熱処理を行って樹脂充
填剤10を硬化した。
(4) One surface of the substrate after the treatment of the above (3) is subjected to belt sander polishing using # 600 belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku) to form the surface of the inner layer copper pattern 4 and the through holes 9. Polishing was performed so that the resin filler 10 did not remain on the land surface, and then buffing was performed to remove scratches caused by the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate. Then, at 100 ° C for 1 hour, at 120 ° C for 3 hours, at 150 ° C
For 1 hour and a heat treatment at 180 ° C. for 7 hours to cure the resin filler 10.

【0068】このようにして、スルーホール9や導体回
路非形成部に形成された樹脂充填材10の表層部および
下層導体回路4の表面を平坦化し、樹脂充填材10と下
層導体回路4の側面4aとが粗化面を介して強固に密着
し、またスルーホール9の内壁面9aと樹脂充填材10
とが粗化面を介して強固に密着した絶縁性基板を得た
(図1(d)参照)。
In this way, the surface portion of the resin filler 10 formed in the through-hole 9 and the portion where the conductor circuit is not formed and the surface of the lower conductor circuit 4 are flattened, and the resin filler 10 and the side surfaces of the lower conductor circuit 4 are flattened. 4a is firmly adhered through the roughened surface, and the inner wall surface 9a of the through hole 9 and the resin filler 10
Was obtained, thereby obtaining an insulating substrate firmly adhered through the roughened surface (see FIG. 1D).

【0069】(5) 上記基板を水洗、酸性脱脂した後、ソ
フトエッチングし、次いで、エッチング液を基板の両面
にスプレイで吹きつけて、下層導体回路4の表面とスル
ーホール9のランド表面と内壁とをエッチングすること
により、下層導体回路4の全表面に粗さ3〜4μmの粗
化面4a、9aを形成した(図2(a)参照)。エッチ
ング液として、イミダゾール銅 (II)錯体10重量部、
グリコール酸7重量部、塩化カリウム5重量部およびイ
オン交換水78重量部を混合したものを使用した。
(5) The substrate is washed with water and acid-degreased, and then soft-etched. Then, an etching solution is sprayed on both surfaces of the substrate by spraying, so that the surface of the lower conductor circuit 4, the land surface of the through hole 9 and the inner wall are formed. Thus, roughened surfaces 4a and 9a having a roughness of 3 to 4 μm were formed on the entire surface of the lower conductor circuit 4 (see FIG. 2A). As an etching solution, 10 parts by weight of an imidazole copper (II) complex,
A mixture of 7 parts by weight of glycolic acid, 5 parts by weight of potassium chloride and 78 parts by weight of ion-exchanged water was used.

【0070】(6) 上記Aに記載の方法により調製した感
光性樹脂組成物を、上記(5) の処理を終えた基板の両面
に、ロールコータを用いて塗布し、水平状態で20分間
放置してから、60℃で30分の乾燥を行い、厚さ60
μmの感光性樹脂組成物層(層間樹脂絶縁層)2を形成
した(図2(b)参照)。さらに、この感光性樹脂組成
物層2上に粘着剤を介してポリエチレンテレフタレート
フィルムを貼付した。
(6) The photosensitive resin composition prepared by the method described in A above is applied to both surfaces of the substrate after the treatment of the above (5) using a roll coater, and left in a horizontal state for 20 minutes. After drying at 60 ° C for 30 minutes,
A photosensitive resin composition layer (interlayer resin insulating layer) 2 having a thickness of μm was formed (see FIG. 2B). Further, a polyethylene terephthalate film was stuck on the photosensitive resin composition layer 2 via an adhesive.

【0071】(7) 上記(6) で感光性樹脂組成物層2を形
成した基板1の両面に、遮光インクによって厚さ5μm
の黒円が描画された厚さ5mmのソーダライムガラス基
板を黒円が描画された側を感光性樹脂組成物層2に密着
させ、超高圧水銀灯により3000mJ/cm2 強度で
露光した後、DMDG溶液でスプレー現像し、100μ
mの直径のバイアホール用開口6を形成した。この後、
100℃で1時間、150℃で5時間の加熱処理を施
し、フォトマスクフィルムに相当する寸法精度に優れた
バイアホール用開口6を有する厚さ50μmの層間樹脂
絶縁層2を形成した(図2(c)参照)。なお、バイア
ホールとなる開口には、粗化層を部分的に露出させた。
(7) On both surfaces of the substrate 1 on which the photosensitive resin composition layer 2 was formed in (6), a 5 μm thick
A 5 mm thick soda lime glass substrate on which a black circle is drawn is brought into close contact with the photosensitive resin composition layer 2 on the side where the black circle is drawn, and is exposed at 3000 mJ / cm 2 intensity using an ultra-high pressure mercury lamp, and then DMDG. Spray developed with solution, 100μ
A via hole opening 6 having a diameter of m was formed. After this,
Heat treatment was performed at 100 ° C. for 1 hour and at 150 ° C. for 5 hours to form a 50 μm-thick interlayer resin insulating layer 2 having a via hole opening 6 having excellent dimensional accuracy corresponding to a photomask film (FIG. 2). (C)). The roughened layer was partially exposed in the opening serving as the via hole.

【0072】(8) バイアホール用開口6を形成した基板
を、濃度が70g/lの過硫酸アンモニウム水溶液に1
分間浸漬して、導体回路の粗化面が形成された部分に存
在する脆弱層を除去した。粗化面の粗さは、2〜3μm
となっており、概ね1μmの脆弱層が除去されたことに
なる。水洗後、さらにクロム酸水溶液に浸漬して層間樹
脂絶縁層2の表面に存在するエポキシ樹脂粒子を溶解除
去することにより、層間樹脂絶縁層2の表面を粗面(深
さ5μm)とし、その後、中和溶液(シプレイ社製)に
浸漬してから水洗いした(図2(d)参照)。さらに、
粗面化処理した該基板の表面に、パラジウム触媒(アト
テック製)を付与することにより、層間樹脂絶縁層2の
表面およびバイアホール用開口6の内壁面に触媒核を付
着させた。
(8) The substrate in which the via hole opening 6 was formed was placed in an aqueous solution of ammonium persulfate having a concentration of 70 g / l.
By immersing for a minute, the fragile layer existing in the portion of the conductor circuit where the roughened surface was formed was removed. The roughness of the roughened surface is 2-3 μm
This means that the fragile layer of about 1 μm has been removed. After washing with water, the surface of the interlayer resin insulation layer 2 is roughened (5 μm in depth) by further immersing in a chromic acid aqueous solution to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the interlayer resin insulation layer 2. It was immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and then washed with water (see FIG. 2D). further,
By applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the roughened substrate, catalyst nuclei were attached to the surface of the interlayer resin insulating layer 2 and the inner wall surface of the via hole opening 6.

【0073】(9) 次に、以下の組成の無電解銅めっき水
溶液中に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ3μmの無電
解銅めっき膜12を形成した(図3(a)参照)。〔無
電解めっき水溶液〕 EDTA 50 g/l 硫酸銅 10 g/l HCHO 6 ml/l NaOH 10 g/l α、α’−ビピリジル 80 mg/l ポリエチレングリコール(PEG) 0.1 g/l 〔無電解めっき条件〕 70℃の液温度で30分
(9) Next, the substrate was immersed in an electroless copper plating aqueous solution having the following composition to form a 3 μm-thick electroless copper plating film 12 on the entire rough surface (see FIG. 3A). ). [Electroless plating aqueous solution] EDTA 50 g / l Copper sulfate 10 g / l HCHO 6 ml / l NaOH 10 g / l α, α'-bipyridyl 80 mg / l Polyethylene glycol (PEG) 0.1 g / l [None Electroplating conditions] 30 minutes at a liquid temperature of 70 ° C

【0074】(10)市販の感光性ドライフィルムを無電解
銅めっき膜12に熱圧着することにより貼り付け、クロ
ム層によって、めっきレジスト非形成部分がマスクパタ
ーンとして描画された厚さ5mmのソーダライムガラス
基板を、クロム層が形成された側を感光性ドライフィル
ムに密着させて、110mJ/cm2 で露光した後、
0.8%炭酸ナトリウムで現像処理し、厚さ20μmの
めっきレジスト3を設けた(図3(b)参照)。
(10) A commercially available photosensitive dry film is bonded to the electroless copper plating film 12 by thermocompression bonding, and a 5 mm-thick soda lime in which a plating resist non-formed portion is drawn as a mask pattern by a chromium layer. After exposing the glass substrate to 110 mJ / cm 2 with the chromium layer formed side in close contact with the photosensitive dry film,
It was developed with 0.8% sodium carbonate to provide a plating resist 3 having a thickness of 20 μm (see FIG. 3B).

【0075】(11)ついで、以下の条件で電解銅めっきを
施し、厚さ15μmの電解銅めっき膜13を形成した
(図3(c)参照)。 〔電解めっき水溶液〕 硫酸 180 g/l 硫酸銅 80 g/l 添加剤 1 ml/l (アトテックジャパン社製、カパラシドGL) 〔電解めっき条件〕 電流密度 1.2 A/dm2 時間 30 分 温度 室温
(11) Then, electrolytic copper plating was performed under the following conditions to form an electrolytic copper plating film 13 having a thickness of 15 μm (see FIG. 3C). [Electroplating aqueous solution] Sulfuric acid 180 g / l Copper sulfate 80 g / l Additive 1 ml / l (Capparaside GL, manufactured by Atotech Japan) [Electroplating conditions] Current density 1.2 A / dm 2 hours 30 minutes Temperature Room temperature

【0076】(12)めっきレジスト3を5%KOHで剥離
除去した後、そのめっきレジスト3下の無電解めっき膜
12を硫酸と過酸化水素の混合液でエッチング処理して
溶解除去し、無電解銅めっき膜12と電解銅めっき膜1
3からなる厚さ18μmの導体回路(バイアホール7を
含む)5を形成した。さらに、800g/lのクロム酸
を含む溶液に1〜2分間浸漬して、層間樹脂絶縁層2の
表面に残存するパラジウム触媒を除去した(図3(d)
参照)。
(12) After the plating resist 3 is peeled and removed with 5% KOH, the electroless plating film 12 under the plating resist 3 is dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide, and the electroless plating is performed. Copper plating film 12 and electrolytic copper plating film 1
A conductor circuit (including the via hole 7) 5 made of 3 and having a thickness of 18 μm was formed. Further, the substrate was immersed in a solution containing 800 g / l chromic acid for 1 to 2 minutes to remove the palladium catalyst remaining on the surface of the interlayer resin insulating layer 2 (FIG. 3D).
reference).

【0077】(13)上記 (5)〜(12)の工程を繰り返すこと
により、さらに上層の層間樹脂絶縁層と導体回路とを形
成し、多層配線板を得た。 (14)次に、ジエチレングリコールジメチルエーテル(D
MDG)に60重量%の濃度になるように溶解させた、
クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社製)
のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付与のオリ
ゴマー(分子量:4000)46.67重量部、メチル
エチルケトンに溶解させた80重量%のビスフェノール
A型エポキシ樹脂(油化シェル社製、商品名:エピコー
ト1001)6.67重量部、同じくビスフェノールA
型エポキシ樹脂(油化シェル社製、商品名:エピコート
E−1001−B80)6.67重量部、イミダゾール
硬化剤(四国化成社製、商品名:2E4MZ−CN)
1.6重量部、感光性モノマー(日本化薬社製 KAY
AMER PM−21)6重量部、アクリル酸エステル
重合物からなるレベリング剤(共栄化学社製、商品名:
ポリフローNo.75)0.36重量部を容器にとり、
攪拌、混合して混合組成物を調製し、この混合組成物に
対して光重合開始剤としてイルガキュアI−907(チ
バガイギー社製)2.0重量部、光増感剤としてのDE
TX−S(日本化薬社製)0.2重量部、DMDG0.
6重量部を加えることにより、粘度を25℃で1.4±
0.3Pa・sに調整したソルダーレジスト組成物を得
た。なお、粘度測定は、B型粘度計(東京計器社製、D
VL−B型)で60rpmの場合はローターNo.4、
6rpmの場合はローターNo.3によった。
(13) By repeating the above steps (5) to (12), an upper interlayer resin insulating layer and a conductive circuit were further formed, and a multilayer wiring board was obtained. (14) Next, diethylene glycol dimethyl ether (D
MDG) to a concentration of 60% by weight.
Cresol novolak epoxy resin (Nippon Kayaku)
46.67 parts by weight of a photosensitizing oligomer (molecular weight: 4000) in which 50% of epoxy groups are acrylated, and 80% by weight of a bisphenol A type epoxy resin dissolved in methyl ethyl ketone (trade name: Epicoat, manufactured by Yuka Shell Co., Ltd.) 1001) 6.67 parts by weight, also bisphenol A
6.67 parts by weight of a type epoxy resin (trade name: Epicoat E-1001-B80, manufactured by Yuka Shell Co., Ltd.), imidazole curing agent (trade name: 2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.)
1.6 parts by weight, a photosensitive monomer (KAY manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)
AMER PM-21) 6 parts by weight, a leveling agent composed of an acrylate polymer (manufactured by Kyoei Chemical Co., trade name:
Polyflow No. 75) Take 0.36 parts by weight in a container,
A mixed composition was prepared by stirring and mixing, and 2.0 parts by weight of Irgacure I-907 (manufactured by Ciba Geigy) as a photopolymerization initiator and DE as a photosensitizer were added to the mixed composition.
0.2 parts by weight of TX-S (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), DMDG0.
By adding 6 parts by weight, the viscosity is 1.4 ± at 25 ° C.
A solder resist composition adjusted to 0.3 Pa · s was obtained. The viscosity was measured using a B-type viscometer (manufactured by Tokyo Keiki Co., Ltd., D
VL-B) and at 60 rpm, the rotor No. 4,
In the case of 6 rpm, the rotor No. According to 3.

【0078】(15)次に、多層配線基板の両面に、上記ソ
ルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗布し、70
℃で20分間、70℃で30分間の条件で乾燥処理を行
った後、クロム層によってソルダーレジスト開口部のパ
ターンが描画された厚さ5mmのソーダライムガラス基
板を、クロム層が描画された側をソルダーレジスト層に
密着させて1000mJ/cm2 の紫外線で露光し、D
MTG溶液で現像処理し、200μmの直径の開口を形
成した。そして、さらに、80℃で1時間、100℃で
1時間、120℃で1時間、150℃で3時間の条件で
加熱処理してソルダーレジスト層を硬化させ、開口を有
し、その厚さが20μmのソルダーレジスト層14を形
成した。
(15) Next, the above-mentioned solder resist composition is applied to both sides of the multilayer wiring board in a thickness of 20 μm,
After performing a drying process at 20 ° C. for 20 minutes and at 70 ° C. for 30 minutes, a 5 mm thick soda lime glass substrate on which the pattern of the solder resist opening is drawn by the chrome layer is placed on the side where the chrome layer is drawn. Is adhered to a solder resist layer and exposed to ultraviolet light of 1000 mJ / cm 2 , and D
The film was developed with an MTG solution to form an opening having a diameter of 200 μm. Further, the solder resist layer is further cured by heating at 80 ° C. for 1 hour, 100 ° C. for 1 hour, 120 ° C. for 1 hour, and 150 ° C. for 3 hours, and has an opening. A 20 μm solder resist layer 14 was formed.

【0079】(16)次に、ソルダーレジスト層14を形成
した基板を、塩化ニッケル(30g/l)、次亜リン酸
ナトリウム(10g/l)、クエン酸ナトリウム(10
g/l)を含むpH=5の無電解ニッケルめっき液に2
0分間浸漬して、開口部に厚さ5μmのニッケルめっき
層15を形成した。さらに、その基板をシアン化金カリ
ウム(2g/l)、塩化アンモニウム(75g/l)、
クエン酸ナトリウム(50g/l)、次亜リン酸ナトリ
ウム(10g/l)を含む無電解めっき液に93℃の条
件で23秒間浸漬して、ニッケルめっき層15上に、厚
さ0.03μmの金めっき層16を形成した。
(16) Next, the substrate on which the solder resist layer 14 was formed was replaced with nickel chloride (30 g / l), sodium hypophosphite (10 g / l), and sodium citrate (10 g / l).
g / l) in the electroless nickel plating solution with pH = 5.
This was immersed for 0 minutes to form a nickel plating layer 15 having a thickness of 5 μm in the opening. Further, the substrate was subjected to potassium gold cyanide (2 g / l), ammonium chloride (75 g / l),
It was immersed in an electroless plating solution containing sodium citrate (50 g / l) and sodium hypophosphite (10 g / l) at a temperature of 93 ° C. for 23 seconds to form a 0.03 μm thick nickel plating layer 15 on the nickel plating layer 15. A gold plating layer 16 was formed.

【0080】(17)この後、ソルダーレジスト層14の開
口にはんだペーストを印刷して、200℃でリフローす
ることによりはんだバンプ(はんだ体)17を形成し、
はんだバンプ17を有する多層配線プリント基板を製造
した(図5(c)参照)。
(17) Thereafter, a solder paste is printed in the openings of the solder resist layer 14 and reflowed at 200 ° C. to form solder bumps (solder bodies) 17.
A multilayer wiring printed board having the solder bumps 17 was manufactured (see FIG. 5C).

【0081】(比較例1)上記(8) の工程において、過
硫酸アンモニウム水溶液を用いたエッチング処理を行わ
なかったほかは、実施例1と同様にして多層プリント配
線板を製造した。
Comparative Example 1 A multilayer printed wiring board was manufactured in the same manner as in Example 1 except that in the step (8), the etching treatment was not performed using an aqueous solution of ammonium persulfate.

【0082】このようにして製造した実施例1および比
較例1のプリント配線板について、−55℃で30分保
持した後、125℃で30分保持するヒートサイクルを
1000回繰り返すヒートサイクル試験を実施し、バイ
アホール部分の接続をクロスカットして顕微鏡観察する
ことにより調べた。その結果、実施例1に係る多層プリ
ント配線板では、バイアホールは下の導体回路の粗面に
しっかりと接続され、破壊等は全く観察されなかった
が、比較例1に係る多層プリント配線板では、バイアホ
ールと下の導体回路との接続部分に破壊が見られた。
With respect to the printed wiring boards thus manufactured in Example 1 and Comparative Example 1, a heat cycle test in which the heat cycle of holding at −55 ° C. for 30 minutes and then holding at 125 ° C. for 30 minutes was repeated 1,000 times was performed. Then, the connection at the via hole portion was examined by cross-cutting and microscopic observation. As a result, in the multilayer printed wiring board according to Example 1, the via hole was firmly connected to the rough surface of the lower conductive circuit, and no destruction or the like was observed, but in the multilayer printed wiring board according to Comparative Example 1, In this case, destruction was observed at the connection between the via hole and the lower conductive circuit.

【0083】[0083]

【発明の効果】以上説明したように本発明のプリント配
線板の製造方法によれば、過酷な条件下でもバイアホー
ルの接続信頼性が確保された多層プリント配線板を製造
することができる。
As described above, according to the method for manufacturing a printed wiring board of the present invention, it is possible to manufacture a multilayer printed wiring board in which connection reliability of via holes is ensured even under severe conditions.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 1A to 1D are cross-sectional views showing a part of a manufacturing process of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図2】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 2A to 2D are cross-sectional views showing a part of a manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【図3】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 3A to 3D are cross-sectional views illustrating a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図4】(a)〜(c)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 4A to 4C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【図5】(a)〜(c)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 5A to 5C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 層間樹脂絶縁層(無電解めっき用接着剤層) 4 下層導体回路 4a 粗化面 5 上層導体回路 7 バイアホール 8 銅箔 9 スルーホール 9a 粗化面 10 樹脂充填材 14 ソルダーレジスト層(有機樹脂絶縁層) 15 ニッケルめっき膜 16 金めっき膜 17 ハンダバンプ Reference Signs List 1 substrate 2 interlayer resin insulation layer (adhesive layer for electroless plating) 4 lower conductor circuit 4a roughened surface 5 upper conductor circuit 7 via hole 8 copper foil 9 through hole 9a roughened surface 10 resin filler 14 solder resist layer ( Organic resin insulation layer) 15 Nickel plating film 16 Gold plating film 17 Solder bump

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5E343 AA02 AA17 BB24 BB71 CC22 CC46 CC50 DD33 DD43 EE52 EE58 GG04 5E346 AA06 AA12 AA15 AA43 BB01 CC09 CC31 CC58 DD03 DD22 EE31 EE35 EE38 FF02 FF15 GG02 GG15 GG17 GG27 GG28 HH07  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page F term (reference) 5E343 AA02 AA17 BB24 BB71 CC22 CC46 CC50 DD33 DD43 EE52 EE58 GG04 5E346 AA06 AA12 AA15 AA43 BB01 CC09 CC31 CC58 DD03 DD22 EE31 EE35 EE38 FF02 FF15 GG02 GG15 GG15 GG15

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 導体回路を形成し、粗化処理を施した
後、粗化処理が施された導体回路を層間樹脂絶縁層によ
り被覆し、バイアホール用開口を形成する工程を繰り返
すことにより絶縁性基板上に層間樹脂絶縁層を挟んだ複
数層からなる導体回路を形成する多層プリント配線板の
製造方法において、層間樹脂絶縁層にバイアホール用開
口を形成した後、前記バイアホール用開口から露出した
導体回路の粗化面に、エッチング処理を施すことを特徴
とする多層プリント配線板の製造方法。
After forming a conductor circuit and performing a roughening treatment, the conductor circuit subjected to the roughening treatment is covered with an interlayer resin insulating layer, and a process of forming a via hole opening is repeated to thereby perform insulation. In a method for manufacturing a multilayer printed wiring board in which a conductive circuit comprising a plurality of layers sandwiching an interlayer resin insulating layer is formed on a functional substrate, a via hole opening is formed in the interlayer resin insulating layer and then exposed from the via hole opening. A method of manufacturing a multilayer printed wiring board, characterized in that a roughened surface of a conductive circuit is etched.
【請求項2】 過硫酸塩の水溶液もしくは過酸化水素お
よび硫酸の混合水溶液を用いて前記エッチング処理を施
す請求項1に記載の多層プリント配線板の製造方法。
2. The method for producing a multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein said etching treatment is performed using an aqueous solution of persulfate or a mixed aqueous solution of hydrogen peroxide and sulfuric acid.
【請求項3】 前記導体回路の粗化処理は、第二銅錯体
および有機酸からなるエッチング液を酸素共存化で作用
させることにより行う請求項1に記載の多層プリント配
線板の製造方法。
3. The method for producing a multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the roughening treatment of the conductor circuit is performed by causing an etchant comprising a cupric complex and an organic acid to act in the presence of oxygen.
【請求項4】 粗化面を有する導体回路が形成された基
板上に層間樹脂絶縁層が形成され、前記層間樹脂絶縁層
にバイアホール用開口が形成され、前記バイアホール用
開口に導電体が形成されてバイアホールを構成してなる
多層プリント配線板において、前記バイアホール用開口
から露出した導体回路の粗化面は、粗化面を形成するた
めのエッチング処理が施された後、さらに粗化面にエッ
チング処理が施されていることを特徴とする多層プリン
ト配線板。
4. An interlayer resin insulating layer is formed on a substrate on which a conductor circuit having a roughened surface is formed, a via hole opening is formed in the interlayer resin insulating layer, and a conductor is placed in the via hole opening. In the multilayer printed wiring board formed to constitute the via hole, the roughened surface of the conductor circuit exposed from the via hole opening is subjected to an etching process for forming the roughened surface, and then further roughened. A multilayer printed wiring board characterized in that an etched surface is subjected to an etching treatment.
【請求項5】 粗化面を有する導体回路が形成された基
板上に層間樹脂絶縁層が形成され、前記層間樹脂絶縁層
にバイアホール用開口が形成され、前記バイアホール用
開口に導電体が形成されてバイアホールを構成してなる
多層プリント配線板において、前記バイアホール用開口
から露出した導体回路の粗化面の粗さは、それ以外の部
分の粗化面の粗さよりも小さいことを特徴とする多層プ
リント配線板。
5. An interlayer resin insulating layer is formed on a substrate on which a conductor circuit having a roughened surface is formed, a via hole opening is formed in the interlayer resin insulating layer, and a conductor is placed in the via hole opening. In the multilayer printed wiring board formed to form the via hole, the roughness of the roughened surface of the conductor circuit exposed from the via hole opening is smaller than the roughness of the roughened surface of the other portion. Characteristic multilayer printed wiring board.
【請求項6】 前記バイアホール用開口から露出した導
体回路の粗化面の粗さはそれ以外の部分の粗化面の粗さ
よりも0.5〜5μm小さい請求項5に記載の多層プリ
ント配線板。
6. The multilayer printed wiring according to claim 5, wherein the roughness of the roughened surface of the conductor circuit exposed from the via hole opening is smaller by 0.5 to 5 μm than the roughness of the roughened surface of the other portion. Board.
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